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JP7531087B2 - ブレード診断方法、装置及びダイシング装置 - Google Patents

ブレード診断方法、装置及びダイシング装置 Download PDF

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JP7531087B2 JP2019088482A JP2019088482A JP7531087B2 JP 7531087 B2 JP7531087 B2 JP 7531087B2 JP 2019088482 A JP2019088482 A JP 2019088482A JP 2019088482 A JP2019088482 A JP 2019088482A JP 7531087 B2 JP7531087 B2 JP 7531087B2
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Description

本発明はブレード診断方法、装置及びダイシング装置に係り、特にブレードの状態を検出するブレード診断方法、装置及びダイシング装置に関する。
円盤状のブレードを回転させることにより半導体ウェーハ等のワークを切削加工(ダイシング加工)する装置が知られている。このようなダイシング装置では、ダイシング加工に用いられるブレードの磨耗及び破損を検出することが行われている。
特許文献1には、回転しつつ被加工物に切り込むことで被加工物を切削する円盤状の切削ブレードの先端形状を検出する切削ブレード先端形状検出方法が開示されている。特許文献1では、切削ブレードで被加工物の一部を切削して、少なくとも一端が行き止まりの検出用溝を形成し、この検出用溝の一端を撮像した撮像画像から切削ブレードの先端形状を検出するようになっている。
特開2010-240776号公報
ところで、ブレードによってワークに検出用溝を形成した場合、例えば、水滴、砥粒、ワークの研削屑その他のパーティクル等がワーク及びブレードに付着することがある。ワークに付着した水滴が乾燥すると、ワークに水の痕が残る。また、研削屑が溝から排出される際等に研削屑がブレードによってワークに押しつけられると、ワークに圧痕が形成される。
特許文献1のように、検出用溝の画像を撮像する場合、ワーク上の水の痕及び圧痕並びにワークに付着したパーティクル等(以下、コンタミネーションという。)が画像に含まれる。そして、画像処理の過程において、コンタミネーションを検出用溝から分離することができず、検出用溝の形状の誤認識を招くおそれがある。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、ワークに形成された溝の形状を正確に測定することができ、ブレードの先端形状を正確に検出することが可能なブレード診断方法、装置及びダイシング装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明の第1の態様に係るブレード診断方法は、ブレードを被溝形成部材に当接させて形成した溝の画像から少なくとも2枚の端部画像を取得する画像取得工程と、少なくとも2枚の端部画像から、溝の領域を強調した溝画像を作成する画像処理工程と、取得した画像から溝の寸法を測定する測定工程と、測定した寸法からブレードの先端形状を算出する算出工程とを含む。
第1の態様によれば、少なくとも2枚の端部画像に平均化処理及び二値化処理を施すことにより、コンタミネーションの影響を除去することができるので、検出用溝の形状を正確に測定することができ、ブレードの先端形状を正確に検出することができる。
本発明の第2の態様に係るブレード診断方法は、第1の態様において、ワークに溝を形成する溝形成工程と、溝を撮像する撮像工程とをさらに含み、画像取得工程では、溝形成工程と撮像工程とを少なくとも2回繰り返して得られた2枚の画像から少なくとも2枚の端部画像を取得する。
本発明の第3の態様に係るブレード診断方法は、第2の態様において、溝形成工程を繰り返す際に、溝を形成する位置を変更する。
本発明の第4の態様に係るブレード診断方法は、第2の態様において、溝形成工程を繰り返す際に、溝を同一箇所に深さを変えて形成する。
本発明の第5の態様に係るブレード診断方法は、第1の態様において、ワークに溝を1つ形成する溝形成工程と、溝を撮像する撮像工程とをさらに含み、画像取得工程では、溝の画像の両端の画像のうちの一方を反転させることにより2枚の端部画像を取得する。
本発明の第6の態様に係るブレード診断方法は、第1から第5の態様のいずれかの画像処理工程において、少なくとも2枚の端部画像に平均化処理を施して得られた平均画像に二値化処理あるいはエッジ検出処理を施して溝の画像を作成する。
本発明の第7の態様に係るブレード診断装置は、ブレードを被溝形成部材に当接させて形成した溝の画像から少なくとも2枚の端部画像を取得し、少なくとも2枚の端部画像から、溝の領域を強調した溝画像を作成する画像処理部と、取得した画像から溝の寸法を測定する測定部と、測定した寸法からブレードの先端形状を算出する算出部とを備える。
本発明の第8の態様に係るダイシング装置は、円盤状のブレードと、ブレードによってワークをダイシング加工する制御部と、第7の態様に係る記載のブレード診断装置とを備える。
本発明によれば、少なくとも2枚の端部画像に平均化処理及び二値化処理を施すことにより、コンタミネーションの影響を除去することができるので、溝の形状を正確に測定することができ、ブレードの先端形状を正確に検出することができる。
ダイシング装置の外観を示す斜視図 加工部の構成を示す斜視図 ブレード診断装置に係るシステム構成を示すブロック図 ブレード診断方法の処理を示すフローチャート カーフ画像作成工程の第1の例を示すフローチャート チョップ加工の様子を示す概略図 チョップ加工の様子を示す概略図 端部画像の例を示す図 端部画像の例を示す図 図8及び図9の端部画像の平均画像の例を示す図 図10の平均画像に二値化処理を施した例 カーフ画像作成工程の第2の例を示すフローチャート 端部画像の例を示す図 端部画像の例を示す図 図14の端部画像から作成された反転画像の例を示す図 図13の端部画像及び図15の反転画像の平均画像の例を示す図 図16の平均画像に二値化処理を施した例を示す図 ワークWに形成されたカーフの平面視の画像の一例 ワークWに形成されたカーフの平面視の画像の他の例
以下、添付図面に従って本発明に係るブレード診断方法、装置及びダイシング装置の実施の形態について説明する。
〔ダイシング装置の構成〕
図1は、本実施形態に係るブレード診断装置を含むダイシング装置1の外観を示す斜視図である。ダイシング装置1は、互いに対向配置され、先端に円盤状のブレード21とホイールカバー(不図示)が取り付けられた高周波モータ内蔵型のスピンドル22、22、ダイシング加工される平板状の半導体ウェーハW(ワークの一例)の表面を撮像するカメラ23、ワークWをXY平面に平行な面に吸着保持するワークテーブル31を有する加工部2、加工済みの半導体ウェーハWをスピン洗浄する洗浄部52、多数枚の半導体ウェーハWを収納したカセットを載置するロードポート51、半導体ウェーハWを搬送する搬送手段53、及びダイシング装置1の架台内部に組み込まれ、各部の動作を統括制御するコントローラ10等から構成されている。
図2は、加工部2の構成を示す斜視図である。加工部2は、Xベース36に設けられたXガイド34、34でガイドされ、リニアモータ35(XY方向駆動部の一例)によって図のX-Xで示すX方向に駆動されるXテーブル33を有し、Xテーブル33にはθ方向に回転する回転テーブル32を介してワークテーブル31が設けられている。
一方、リニアモータ35を跨ぐように設けられたYベース44の側面には、Yガイド42、42でガイドされ、図示しないステッピングモータとボールネジによって図2にY-Yで示すY方向に駆動されるYテーブル41、41が設けられている。
また、Yテーブル41、41には各々図示しない駆動手段によってZ方向に駆動されるZテーブル43、43が設けられている。Zテーブル43、43の各々には、スピンドル22、22が対向した状態で固定され、スピンドル22、22の各々の先端(回転軸)にブレード21、21が取り付けられ、それらのブレード21、21が対向配置されている。
Zテーブル43の各々には、図示しない高さ検出手段が設けられている。高さ検出手段は、ワークテーブル31に吸着保持されたワークWに対してチョップ加工を行い、スピンドル22の振動等によりワークWとブレード21の刃先とが接触するZ方向高さを検出する。
かかる加工部2の構造により、ブレード21はY方向に平行な回転軸を中心にスピンドル22によって6000rpm~80000rpmで高速回転される。このブレード21は、Y方向にインデックス送りされるとともにZ方向に切込み送りされ、ワークテーブル31はX方向に切削送りされる。即ち、スピンドル22とワークテーブル31とはXY平面に平行な方向に相対的に移動し、スピンドル22はXY平面に垂直なZ方向に移動する。このX、Y、Z方向の送り量は、リニアモータ35、図示しないステッピングモータ及びサーボモータを図1に示したコントローラ10(制御部の一例)によって制御することによって調整される。
Zテーブル43に固定されたカメラ23は、レンズ及び撮像素子を含み、ワークWの表面を撮像する。カメラ23によって撮像されたワークWの表面の画像は、コントローラ10に入力され、コントローラ10において各種解析が行われる。
〔ブレード診断装置〕
図3は、ダイシング装置1のうちブレード診断装置に係るシステム構成を示すブロック図である。ダイシング装置1は、前述のブレード21、スピンドル22、カメラ23、ワークテーブル31、Zテーブル43を含む加工部2、及びコントローラ10等を備えている。
ブレード診断を行う際には、ワークWをブレード21においてチョップ加工する。このチョップ加工は、ワークWの加工前に実施される高さ検出で行うチョップ加工と同様に、加工部2(溝形成部の一例)において、スピンドル22によって回転させたブレード21をZテーブル43によってZ方向に下降させ、ブレード21の刃先(先端)をワークWに垂直に当接させて、ワークWにワークWを貫通しない所定深さの溝(カーフ)を形成した後、ブレード21をZテーブル43によってZ方向に上昇させる。この間、ワークテーブル31のX方向送り及びY方向送りは行わない。
カメラ23は、ワークWに形成されたカーフを撮像し、撮像したカーフの画像をコントローラ10に入力する。
コントローラ10は、画像処理部11、測定部12、算出部13、診断部14、及び出力部15等を備えている。
画像処理部11は、カメラ23が撮像したカーフの画像を取得する。測定部12は、カーフの画像からカーフの寸法を測定する。算出部13は、測定したカーフの寸法からブレード21の先端形状を算出する。また、診断部14は、算出したブレード21の先端形状に基づいて、ブレード21の異常の有無を診断する。出力部15は、ディスプレイ等を含み、診断部14の診断結果を出力する。これらの処理の詳細は、後述する。
〔ブレード診断方法〕
次に、ダイシング装置1に用いるブレード21の異常を検出するためのブレード診断方法について説明する。図4は、ブレード診断方法の処理を示すフローチャートである。
(カーフ画像作成工程)
最初に、ステップS1において、ダイシング装置1の加工部2にワークWをセットし、ブレード21を用いてワークWのチョップ加工を行う。そして、チョップ加工によってワークWに形成されたカーフの平面視の画像を撮像し、撮像画像からカーフ画像を作成する。
(カーフ画像作成工程の第1の例)
図5は、カーフ画像作成工程の第1の例を示すフローチャートである。第1の例では、カーフの形成及び撮像を2回行って2枚の画像を取得する(ステップS10からS20:溝形成及び撮像工程)。そして、この2枚の画像に対して後述の画像処理を行うことにより、コンタミネーションの影響を抑制して、カーフを抽出したカーフ画像(溝画像)を作成する(ステップS22からS28:画像処理工程)。
まず、溝形成及び撮像工程(ステップS10からS20)について説明する。1枚目の画像の撮像では(i=1。ステップS10)、ダイシング装置1の加工部2にワークWをセットし、ブレード21を用いてワークWのチョップ加工を行い、カーフを形成する(ステップS12:溝形成工程)。そして、チョップ加工によってワークWに形成されたカーフの平面視の画像を撮像する(ステップS14:撮像工程)。
次に、2枚目の画像の撮像では(ステップS16のYes)、i=i+1として(ステップS18)、加工条件を変更し、チョップ加工を行う位置を変更する(ステップS20)。そして、ブレード21を用いてワークWのチョップ加工を行ってカーフを形成し(ステップS12)、カーフの平面視の画像を撮像する(ステップS14)。溝形成及び撮像工程において撮像された2枚の画像は、コントローラ10に入力される。なお、カーフの形成と撮像を2回以上繰り返し行ってもよい。
なお、ステップS20では、例えば、チョップ加工を行う位置を変更して、カーフを2つ形成するようにしたが、本発明はこれに限定されない。例えば、チョップ加工を同一箇所で深さを変えて実行してもよい。
図6は、チョップ加工の様子を示す概略図であり、XZ平面における断面図である。ここでは、ブレード21の半径はRであり、ワークWに切り込み深さD0のカーフ100を形成している。チョップ加工の切り込み深さ(カーフ100の深さ)は、図示しない高さ検出手段の検出結果とZテーブル43のZ方向の駆動量から制御することができる。すなわち、切り込み深さD0は、ワークWにブレード21の刃先(先端)が触れた位置から、さらにスピンドル22をZ方向に下降させた量に等しい。
また、図7は、チョップ加工の様子を示す概略図であり、ブレード21の先端付近のYZ平面における断面図である。ここでは、ブレード21の厚み方向(図7においてY方向)の中心Yから厚み方向にY1(所定距離の一例)だけ離れた位置におけるカーフ100の深さ、すなわちワークWの上面からブレード21の端部までの距離をD1、ブレード21の厚み方向の中心から厚み方向にY2だけ離れた位置におけるワークWの上面からブレード21の端部までの距離をD2とする。なお、図6に示したブレード21の半径Rは、ブレード21の厚み方向の中心Yにおける設計値であるが、中心Yにおける半径を公知の方法により測定した値を用いてもよい。
次に、図5に戻って、画像処理工程(ステップS22からS28)について説明する。画像処理工程では、コントローラ10において、ステップS10からS20で取得した2枚の画像に対して画像処理が行われ、コンタミネーションの影響を抑制したカーフ画像が作成される。
まず、画像処理部11は、溝形成及び撮像工程において撮像された2枚の画像からカーフの端部を含む端部近傍の画像(以下、端部画像IMG及びIMGという。)を抽出する(ステップS22)。そして、画像処理部11は、端部画像IMG及びIMGから平均画像IMGを作成する(ステップS24)。
次に、画像処理部11は、平均画像IMGに対して二値化処理を行い(ステップS26)、画像認識処理(例えば、エッジ検出処理)を行って、得られた画像IMGからコンタミネーション200Dを除去することによりカーフ画像を作成する(ステップS28)。ステップS28では、例えば、閾値処理を行ってもよい。
ステップS24では、画像処理部11は、例えば、端部画像IMG及びIMGのカーフ100A及び100Bが重なり合うように位置合わせを行う。そして、画像処理部11は、重なり合う画素の画素値の加算平均を算出することにより平均画像IMGを作成する。
ステップS26では、平均画像IMGにおいて、画素値が閾値以上の画素の画素値を1、画素値が閾値未満の画素の画素値をゼロにする処理を行う。
図8及び図9は端部画像の例を示す図である。また、図10は図8及び図9の端部画像の平均画像の例を示す図であり、図11は図10の平均画像に二値化処理を施した例を示す図である。
図8及び図9に示す端部画像IMG及びIMGには、溝形成及び撮像工程で形成されたカーフ100A及び100Bの画像と、水滴が乾燥することにより形成された水の痕、研削屑等による圧痕等のコンタミネーション200A及び200Bの画像がそれぞれ含まれている。カーフ100A及び100Bでは、Y方向の中央ほど、すなわち、溝の深さに対応して画像が明るく(画素値が低く)なっている。
カーフ100A及び100Bは、溝形成及び撮像工程において、同一のブレード21を用いて連続して形成されたものであるため、図8及び図9に示すように、端部画像IMG及びIMGにおけるカーフ100A及び100Bの形状は略同一である。一方、コンタミネーション200A及び200Bはランダムに発生するため、コンタミネーション200A及び200Bの形成位置、サイズ及び形状は相互に異なる。
したがって、カーフ100A及び100Bを基準として端部画像IMG及びIMGの位置合わせを行って平均をとると、図10に示すように、カーフ100Cの画素値はほぼ変化しないが、コンタミネーション200Cの画素値を下げることができる。これにより、カーフ100Cとコンタミネーション200Cとの間の画素値の差を拡大することが可能になる。
次に、平均画像IMGに対して二値化処理を施して、画素値が閾値未満の画素の画素値をゼロにする。これにより、図11に示すように、二値化処理後の画像IMGでは、平均化処理によって画素値が小さくなったコンタミネーション200Dの少なくとも一部が除去されるので、カーフ100Dとコンタミネーション200Dとを容易に分離することができる。
なお、端部画像IMG及びIMGにおいて、コンタミネーション200A及び200Bのうちの位置が重なっている部分については、平均画像の二値化処理後の画像IMGにコンタミネーション200Dの一部が残る場合があり得るが、重なっていない部分は除去される。このため、画像認識により、画像IMGのカーフ100Dからコンタミネーション200Dを容易に分離することができる。
また、図5から図11に示す第1の例では、平均画像IMGに対して二値化処理を行うようにしたが、本発明はこれに限定されない。一般に、カーフ100A及び100Bよりもコンタミネーション200A及び200Bの方が画素値が低いと考えられるので、端部画像IMG及びIMGに二値化処理を施した後に平均画像を作成するようにしてもよい。また、端部画像IMG及びIMGに多値化処理(例えば、三値化)を施した後に平均画像を作成するようにしてもよい。さらに、二値化又は多値化処理後に作成された平均画像に対して二値化処理を施すようにしてもよい。また、二値化処理を省略して、画像認識処理(例えば、エッジ検出処理)を行うようにしてもよい。
また、ステップS24では、重なり合う画素の画素値の相乗平均を算出することにより平均画像IMGを作成するようにしてもよい。例えば、カーフ100Aと100Bの中央の画素値を等しくして相乗平均をとることにより、カーフ100Cとコンタミネーション200Cとの間の画素値の差をより拡大することができる。
ステップS26の二値化処理における閾値は、例えば、画像IMGを観察しながら、使用者が手動操作により変化させることができるようにしてもよい。また、この閾値は、例えば、平均画像IMGからカーフ100Cのうち、コンタミネーション200Cの影響を受けにくい中央の画素値が1になるように、画像処理部11により自動的に設定されるようにしてもよい。
(カーフ画像作成工程の第2の例)
図12は、カーフ画像作成工程の第2の例を示すフローチャートである。第2の例では、カーフの形成と撮像を1回行って1枚の画像を取得する(ステップS50及びS52:溝形成及び撮像工程)。そして、この1枚の画像の両端の画像に対して後述の画像処理を行うことにより、コンタミネーションの影響を抑制したカーフ画像を作成する(ステップS54からS62:画像処理工程)。
まず、ダイシング装置1の加工部2にワークWをセットし、ブレード21を用いてワークWのチョップ加工を行い、カーフを形成する(ステップS50)。そして、チョップ加工によってワークWに形成されたカーフの平面視の画像を撮像する(ステップS52)。溝形成及び撮像工程において撮像された画像は、コントローラ10に入力される。
次に、画像処理部11は、溝形成及び撮像工程において撮像された画像の両端からカーフの端部を含む端部近傍の画像(以下、端部画像IMG及びIMGという。)を抽出する(ステップS54)。そして、画像処理部11は、端部画像IMGの向きを変更して、反転画像IMGRRを作成する(ステップS56)。ステップS56では、端部画像IMGをY軸に対称に反転させるか、又は180度回転させることにより、反転画像IMGRRを作成することができる。
次に、端部画像IMG及び反転画像IMGRRから平均画像IMGを作成する(ステップS58)。画像処理部11は、平均画像IMGに対して二値化処理を行い(ステップS60)、画像認識処理(例えば、エッジ検出処理)を行って、得られた画像IMGからコンタミネーション200Fを除去することによりカーフ画像を作成する(ステップS62)。
図13及び図14は端部画像の例を示す図であり、図15は図14の端部画像から作成された反転画像の例を示す図である。図16は図13の端部画像及び図15の反転画像の平均画像の例を示す図であり、図17は図16の平均画像に二値化処理を施した例を示す図である。
図13及び図14に示す端部画像IMG及びIMGには、溝形成及び撮像工程で形成されたカーフ100L及び100Rの画像と、水滴が乾燥することにより形成された水の痕、研削屑等による圧痕等のコンタミネーション200L及び200Rの画像がそれぞれ含まれている。
図15は、端部画像IMGをY軸対称に左右反転させた反転画像IMGRRである。カーフ100L及び100RRを基準として端部画像IMG及び反転画像IMGRRの位置合わせを行って平均をとると、図16に示すように、カーフ100Cの画素値はほぼ変化しないが、コンタミネーション200Eの画素値を下げることができる。
次に、平均画像IMGに対して二値化処理を施して、画素値が閾値未満の画素の画素値をゼロにする。これにより、図17に示すように、二値化処理後の画像IMGでは、平均化処理によって画素値が小さくなったコンタミネーション200Fの少なくとも一部が除去されるので、カーフ100Fとコンタミネーション200Fとを容易に分離することができる。
(測定工程)
続いて、ステップS3(測定工程の一例)において、コントローラ10は、取得したワークWの画像から、カーフ100の寸法を測定する。
ここでは、ブレード21の幅方向に相当する方向(図18においてY方向、以下カーフ100の幅方向という)におけるカーフ100の中心をY、ブレード21の幅方向に直交する回転方向に相当する方向(図18においてX方向、以下カーフ100の長さ方向という)の中心をXとし、中心Yに対してY方向に距離Y1だけ離れた位置における中心Xとカーフ100の端部までの距離(長さ)をL1とする。同様に、中心Yに対してY方向に距離Y2だけ離れた位置における中心Xとカーフ100の端部までの距離をL2とする。
なお、カメラ23における撮像倍率は予めわかっており、上記の距離Y1、Y2、L1、L2は、画像上の寸法を実際のカーフの寸法に換算した値である。
次に、ステップS4(算出工程の一例)において、ステップS3で測定した寸法からブレード21の先端形状を算出する。ここで、カーフ100の形状からブレード21のあるY位置におけるZ位置が算出できれば、ブレード21の先端形状を決定することができる。すなわち、以下の式が成り立つ。
Figure 0007531087000001
Figure 0007531087000002
また、カーフ100の幅方向の中心YからYだけ離れた位置におけるカーフ100の長さ方向の中心Xとカーフ100の端部までの距離(長さ)をLn、ブレード21の厚み方向の中心から厚み方向にYだけ離れた位置におけるカーフ100の深さをDnとし、式1、式2を一般化すると、以下の式を導くことができる。
Figure 0007531087000003
したがって、ステップS3において任意の数だけカーフ100をY方向に分割し、分割した数だけX方向の距離を算出することで、分割した数だけカーフ100の深さDn、すなわちブレード21の端部の位置を算出することができる。そして、各端部の位置を外挿及び内挿することで、ブレード21の先端形状を算出することができる。
次に、ステップS5において、診断部14は、ステップS4で算出したブレード21の先端形状に基づいてブレード21の異常の有無を診断する。
最後に、ステップS6(出力工程の一例)において、出力部15は、この診断結果(先端形状に関する情報の一例)をディスプレイに表示し、診断処理を終了する。
なお、ステップS4で算出したブレード21の先端形状に基づいて、ブレード診断装置の使用者がブレード21の異常の有無を診断してもよい。この場合は、算出部13が算出したブレード21の先端形状や寸法(先端形状に関する情報の一例)を、出力部15から出力すればよい。
図19(A)~(C)は、それぞれワークWに形成されたカーフ102、104,106の平面視の画像の例を示す図である。算出部13は、これらの画像からブレード21の片摩耗の量や中摩耗の量を算出することができる。すなわち、カーフ102を形成したブレード21は正常であり、カーフ104を形成したブレード21は片摩耗しており、カーフ106を形成したブレード21は中摩耗していることがわかる。したがって、診断部14においてブレード21の異常状態を検出することができる。
このように、ブレード21の半径Rとカーフ100の切り込み深さD0に基づいてブレードの先端形状を算出することで、不良原因となるブレード21の状態を事前に検出することができ、裏面チッピングの発生等を防止することができる。カーフ100の深さDnの演算は、ブレード21の半径Rではなく、半径Rと相関のあるブレード21の直径や円周を用いてもよい。
なお、本実施形態では、カーフ100の切り込み深さD0を、図示しない高さ検出手段の検出結果とZテーブル43のZ方向の駆動量から制御したが、カーフ100の平面視の画像を用いて算出してもよい。例えば、図18に示すように、カーフ100の幅方向の中心Yにおける長さ方向の中心Xとカーフ100の端部までの距離L0を求めれば、切り込み深さD0は、以下の式で算出することができる。
Figure 0007531087000004
また、本実施形態では、ブレード診断装置がダイシング装置1に組み込まれていたが、複数の装置からブレード診断装置を構成してもよい。例えば、ダイシング装置1に取り付けられたブレード21によってワークWにカーフ100を形成し、ダイシング装置1とは異なるカメラ23によってカーフ100の画像を撮像し、ダイシング装置1及びカメラ23とは異なる画像処理装置によってブレード21の先端形状を算出し、ブレード21の異常を診断してもよい。
なお、本実施形態では、カーフを明視野観察する場合について説明したが、暗視野観察する場合であっても、例えば、撮像画像を反転させることにより本実施形態を適用することが可能である。
また、ワークWとは別にチョップ加工用のワークを設けてもよい。ここで、チョップ加工用のワークは、例えば、表面が鏡面仕上げされたもの(ミラーワーク)又はガラスプレート等の表面の反射率が高いものを用いることができる。また、チョップ加工用のワークは、例えば、ワークテーブル31とは別のサブテーブルに配置されるようにしてもよい。なお、チョップ加工は、ワークWではなく、ブレード21をドレッシングするためのドレス部材に対して行うようにしてもよい。ここで、ワークW、チョップ加工用のワーク及びドレス部材は被溝形成部材の一例である。
本実施形態に係るブレード診断方法は、コンピュータに上記の各工程を実行させるためのプログラムとして構成し、当該プログラムを記憶したCD-ROM(Compact Disk-Read Only Memory)等の非一時的な記録媒体を構成することも可能である。
本発明の技術的範囲は、上記の実施形態に記載の範囲には限定されない。各実施形態における構成等は、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、各実施形態間で適宜組み合わせることができる。
1…ダイシング装置、2…加工部、10…コントローラ、21…ブレード、22…スピンドル、31…ワークテーブル、32…回転テーブル、33…Xテーブル、35…リニアモータ、36…Xベース、41…Yテーブル、42…Yガイド、43…Zテーブル、44…Yベース、51…ロードポート、52…洗浄部、53…搬送手段、W…ワーク

Claims (11)

  1. 制御部の画像処理部により、回転する円板状のブレードを被溝形成部材に略径方向に当接させて形成した少なくとも2つの溝をそれぞれ撮像した平面視の画像の各々から前記溝の端部を含む少なくとも2枚の端部画像を取得する画像取得工程と、
    前記画像処理部により、前記少なくとも2枚の端部画像を平均化処理することで、前記溝の領域を強調した溝画像を作成する画像処理工程と、
    前記制御部の測定部により、前記溝画像から前記溝の幅及び前記幅に直交する長さの寸法を測定する測定工程と、
    前記制御部の算出部により、前記測定した寸法から前記ブレードの先端形状を算出する算出工程と、
    を含むブレード診断方法。
  2. 前記制御部により、前記被溝形成部材に前記溝を形成する溝形成工程と、カメラにより、前記溝を撮像する撮像工程とをさらに含み、
    前記画像取得工程では、前記溝形成工程と前記撮像工程とを少なくとも2回繰り返して得られた2枚の画像から前記少なくとも2枚の端部画像を取得する、請求項1記載のブレード診断方法。
  3. 前記溝形成工程を繰り返す際に、前記溝を形成する位置を変更する、請求項2記載のブレード診断方法。
  4. 前記溝形成工程を繰り返す際に、前記溝を同一箇所に深さを変えて形成する、請求項2記載のブレード診断方法。
  5. 前記画像処理工程では、前記少なくとも2枚の端部画像に平均化処理を施して得られた平均画像に二値化処理あるいはエッジ検出処理を施して前記溝画像を作成する、請求項1から4のいずれか1項記載のブレード診断方法。
  6. 制御部の画像処理部により、回転する円板状のブレードを被溝形成部材に略径方向に当接させて形成した1つの溝を撮像した平面視の画像から、前記溝の一方の端部と他方の端部とをそれぞれ含む2枚の端部画像を取得する画像取得工程と、
    前記画像処理部により、前記2枚の端部画像のうち一方の端部画像と他方の端部画像を反転させた反転画像とを平均化処理することで、前記溝の領域を強調した溝画像を作成する画像処理工程と、
    前記制御部の測定部により、前記溝画像から前記溝の幅及び前記幅に直交する長さの寸法を測定する測定工程と、
    前記制御部の算出部により、前記測定した寸法から前記ブレードの先端形状を算出する算出工程と、
    を含むブレード診断方法。
  7. 前記制御部により、前記被溝形成部材に前記溝を1つ形成する溝形成工程と、カメラにより、前記溝を撮像する撮像工程とをさらに含む、請求項6記載のブレード診断方法。
  8. 前記画像処理工程では、前記一方の端部画像及び前記反転画像に平均化処理を施して得られた平均画像に二値化処理あるいはエッジ検出処理を施して前記溝画像を作成する、請求項6又は7に記載のブレード診断方法。
  9. 回転する円板状のブレードを被溝形成部材に略径方向に当接させて形成した少なくとも2つの溝をそれぞれ撮像した平面視の画像の各々から前記溝の端部を含む少なくとも2枚の端部画像を取得し、前記少なくとも2枚の端部画像を平均化処理することで、前記溝の領域を強調した溝画像を作成する画像処理部と、
    前記溝画像から前記溝の幅及び前記幅に直交する長さの寸法を測定する測定部と、
    前記測定した寸法から前記ブレードの先端形状を算出する算出部と、
    を備えたブレード診断装置。
  10. 回転する円板状のブレードを被溝形成部材に略径方向に当接させて形成した1つの溝を撮像した平面視の画像から、前記溝の一方の端部と他方の端部とをそれぞれ含む2枚の端部画像を取得し、前記2枚の端部画像のうち一方の端部画像と他方の端部画像を反転させた反転画像とを平均化処理することで、前記溝の領域を強調した溝画像を作成する画像処理部と、
    前記溝画像から前記溝の幅及び前記幅に直交する長さの寸法を測定する測定工程と、
    前記測定した寸法から前記ブレードの先端形状を算出する算出工程と、
    を含むブレード診断装置。
  11. 円盤状のブレードと、
    前記ブレードによってワークをダイシング加工する制御部と、
    請求項9又は10に記載のブレード診断装置と、
    を備えたダイシング装置。
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