JP7270990B2 - バルブ装置、流体制御装置、流体制御方法、半導体製造装置及び半導体製造方法 - Google Patents
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Description
引用文献1は、小型化されるとともに処理ガスをより大きな流量で安定的に供給可能なダイヤフラム弁について開示している。このダイヤフラム弁の本体の凹所は、開口に近い大径部および段差部を介して大径部の下方に連なる小径部からなる。凹所に流路形成ディスクが嵌め合わせられている。流路形成ディスクは、凹所大径部に嵌め合わせられている大径円筒部と、凹所段差部に受け止められている連結部と、凹所小径部の内径よりも小さい外径を有し下端が凹所の底面で受け止められている小径円筒部とからなる。流路形成ディスクの連結部に、小径円筒部外側環状空間と大径円筒部内側環状空間とを連通する複数の貫通孔が形成されている。流体流入通路は流路形成ディスクの小径円筒部下端に、流体流出通路は小径円筒部外側環状空間にそれぞれ通じている。
前記収容凹部内に設けられ、第1の流路と連通する流路を画定する筒状部材と、
前記筒状部材の上端部で支持される環状のバルブシートと、
前記収容凹部の底面の前記第1の流路の開口周囲と前記筒状部材の下端部との間に介在する環状のシール部材と、
外周縁部が前記バルブボディの収容凹部の内周面に形成された環状の支持部に気密又は液密に固定され、内周縁部が前記筒状部材の外周面に形成された環状の支持部に気密又は液密に固定され、前記収容凹部を通じて前記第2の流路と連通する複数の開口を有し、かつ、可撓性を有する環状プレートと、
前記筒状部材上のバルブシートおよび前記環状プレートを覆い、前記バルブシートに対して接触しない開位置及び接触する閉位置の間で移動することにより前記第1の流路と前記第2の流路との連通及び遮断を行うダイヤフラムと、を有する。
前記筒状部材は、前記環状プレートにより片持ち梁状に支持されることにより、前記ダイヤフラムから前記バルブシートを通じて受ける力を、前記シール部材を前記収容凹部の底面に向けて押圧する力として伝達可能となっている。
前記支持リング上に前記ダイヤフラムの外周縁部が配置され、
前記ダイヤフラムの外周縁部の前記支持リングの側とは反対側の面が押えアダプタによって押圧されて、前記支持リングの外周縁部および前記ダイヤフラムの外周縁部が前記支持部に固定される、構成とすることができる。
前記収容凹部の内周面に形成された支持部および前記筒状部材の外周面に形成された支持部に固定される際に、前記屈曲部を反らせるように固定されることで、前記筒状部材を前記収容凹部の底面に向けて付勢して、前記シール部材を当該底面に押圧する弾性付勢力を発揮する、構成を採用できる。
前記バルブシートは、前記バルブシート凹部に保持され、
前記バルブシートは、前記シール部材と同じ材料及び形状からなる、構成を採用できる。
以下、本開示の実施形態について図面を参照して説明する。説明において同様の要素には同一の符号を付して、重複する説明を適宜省略する。
先ず、図12を参照して、本発明が適用される流体制御装置の一例を説明する。
図12に示す流体制御装置には、幅方向W1,W2に沿って配列され長手方向G1,G2に延びる金属製のベースプレートBSが設けられている。なお、W1は背面側、W2は正面側,G1は上流側、G2は下流側の方向を示している。ベースプレートBSには、複数の流路ブロック992を介して各種流体機器991A~991Eが設置され、複数の流路ブロック992によって、上流側G1から下流側G2に向かって流体が流通する図示しない流路がそれぞれ形成されている。
なお、図中の矢印A1,A2は上下方向であってA1が上方向、A2が下方向を示すものとする。
ケーシング6内部の空間を形成する内周面とピストン81との間、及び操作部材7とピストン81との間はOリング91が配置され、気密性が確保されている。
シール部材49は、筒状部材3のバルブボディ2側において、筒状部材3の内側と外側との間を遮断し、気密性を確保する。
バルブシート48は、PFA、PA、PI、PCTFE、PTFE等の合成樹脂で形成され、シール部材49もバルブシート48と同じ材料及び形状からなるものとすることができる。この構成によれば、バルブシート48およびシール部材49を装着した筒状部材3を上下いずれの向きでも使用可能となる。部品を共通化して製品コストを低減することも可能となる。なお、バルブシート48およびシール部材49を筒状部材3に固定しない構成も採用でき、バルブシート48およびシール部材49を同一材料、同一形状にしない構成を採用することもできる。
なお、図7は環状プレート11が支持部24に固定された状態を示しているが、ダイヤフラム41およびボンネット5の記載を省略している。
環状プレート11の外周縁部は、バルブボディ2の支持部24の平坦面および支持リング10の平坦面により挟持されており、筒状部材3は環状プレート11により片持ち梁状に支持されている。環状プレート11は、矢印B1,B2の方向に撓むことが可能であり、環状プレート11が撓めば筒状部材3は収容凹部23の底面に対して上下方向A1,A2に移動可能となる。
図示しないダイヤフラム41が下方向A2に押圧されてバルブシート48に密着すると、バルブシート48には下方向A2に向かう力Fが作用する。これにより、筒状部材3の下端部に設けられたシール部材49は、収容凹部23の第1の流路21の開口周囲のシール面23sからダイヤフラム41から受ける力Fの反力Rを受ける。反力Rがシール面23sからシール部材49に作用することで、シール部材49がシール面23sに密着し、収容凹部23の底面において、筒状部材3の内周と外周との間が確実にシールされる。
すなわち、バルブ装置1が図1に示した閉鎖状態において、筒状部材3と収容凹部23の底面との間のリークを確実に防ぐことができる。
図8A~図8Cに、本発明の第2の実施形態に係るバルブ装置に用いられる環状プレート11Aの構造を示す。なお、第2の実施形態に係るバルブ装置は、環状プレート11Aの構造以外については、第1の実施形態に係るバルブ装置1と同様の構成である。
図8Aに示す環状プレート11Aは、中心部に貫通孔11aを有する可撓性の円環状の板材であり、ステンレス等の金属で形成され、周方向に複数の開口11bが形成されている。加えて、環状プレート11Aは、内周縁部11cと外周縁部11dとの間に屈曲部11eを有する。
図8Cから分かるように、環状プレート11Aは、内周縁部11cの屈曲部11eよりも内周側の部分が環状プレート11Aの中心軸線方向下方に向くように、内周縁部11cの一部(半径方向の中途)を環状プレート11Aと同心の円に沿って予め塑性変形させてある。
この状態から、図9Bに示すように、固定リング12を筒状部材3の上端部の外周面に圧入し、固定リング12の平坦な端面と、段差部37の平坦な支持面とで、環状プレート11Aの内周縁部11cを挟持すると、環状プレート11Aは、水平面HPに対して下方に向かうように反る。
この状態から、支持リング10を環状プレート11A上に配置し、さらに、図示しないダイヤフラム41および押えアダプタ13を支持リング10上に配置し、ボンネット5の下端面により押えアダプタ13を下方向A2に向けて押圧することで、支持部24とボンネット5の下端面との間で環状プレート11Aの外周縁部およびダイヤフラム41の外周縁部が気密又は液密に固定される。
図10Bに示す状態では、環状プレート11Aは水平方向にのびているが、筒状部材3の上端部には、環状プレート11Aから下方向A2に向かう曲げモーメントMが常時作用している。すなわち、収容凹部23の支持部24および筒状部材3の外周面に形成された段差部(支持部)37に固定される際に、環状プレート11Aの屈曲部11eを反らせるように固定されることで、環状プレート11Aは、筒状部材3を収容凹部23の底面に向けて付勢して、シール部材49をシール面23sに押圧する弾性付勢力を発揮する。シール部材49には、シール面23sから反力R1が常時作用する。このような構成とすることで、バルブ装置が開状態にあり、流体が流通している際に、流体に脈動(圧力変動)があると、筒状部材3がシール面23sに対して上下動するいわゆるチャタリングを起こす可能性がある。しかし、付勢機構として、環状プレート11Aにシール部材49をシール面23sに押圧する弾性付勢力を発揮させることで、チャタリングを抑制することができる。筒状部材3を収容凹部23の底面に向けて付勢する付勢機構を環状プレート11Aとは別に設けることも可能であるが、環状プレート11Aに付勢機能を併せ持たせることで、構造を簡素化できる。
図11に示す半導体製造装置980は、ALD法による半導体製造プロセスを実行するための装置であり、981はプロセスガス供給源、982はガスボックス、983はタンク、984は制御部、985は処理チャンバ、986は排気ポンプを示している。
ALD法による半導体製造プロセスでは、処理ガスの流量を精密に調整する必要があるとともに、基板の大口径化により、処理ガスの流量をある程度確保する必要もある。
ガスボックス982は、正確に計量したプロセスガスを処理チャンバ985に供給するために、開閉バルブ、レギュレータ、マスフローコントローラ等の各種の流体制御機器を集積化してボックスに収容した集積化ガスシステム(流体制御装置)である。
タンク983は、ガスボックス982から供給される処理ガスを一時的に貯留するバッファとして機能する。
制御部984は、バルブ装置1への操作ガスの供給制御による流量調整制御を実行する。
処理チャンバ985は、ALD法による基板への膜形成のための密閉処理空間を提供する。
排気ポンプ986は、処理チャンバ985内を真空引きする。
2 :バルブボディ
2a :上面
2b :側面
2c :側面
3 :筒状部材
3a :流路
5 :ボンネット
5a :上面
6 :ケーシング
6a :上面
7 :操作部材
8 :アクチュエータ
10 :支持リング
11 :環状プレート
11A :環状プレート
11a :貫通孔
11b :開口
11c :内周縁部
11d :外周縁部
11e :屈曲部
12 :固定リング
12a :上下端面
13 :押えアダプタ
21 :第1の流路
22 :第2の流路
23 :収容凹部
23s :シール面
24 :支持部
25 :ネジ穴
26 :円筒状部
35 :保持凹部
36 :保持凹部
37 :段差部
41 :ダイヤフラム
42 :ダイヤフラム押え
43 :押えホルダ
44 :ステム
45 :コイルばね
46 :コイルばね
48 :バルブシート
49 :シール部材
54 :円孔
61 :操作ガス供給口
62 :通気路
64 :円孔
71 :操作部材流通路
81 :ピストン
82 :バルクヘッド
83 :シリンダ
91 :Oリング
980 :半導体製造装置
981 :プロセスガス供給源
982 :ガスボックス
983 :タンク
984 :制御部
985 :処理チャンバ
986 :排気ポンプ
991A :開閉弁(流体機器)
991B :レギュレータ(流体機器)
991C :プレッシャーゲージ(流体機器)
991D :開閉弁(流体機器)
991E :マスフローコントローラ(流体機器)
992 :流路ブロック
993 :導入管
A :円
A1 :上方向
A2 :下方向
BS :ベースプレート
CL :中心軸線
F :力
G1 :長手方向(上流側)
G2 :長手方向(下流側)
HP :水平面
M :曲げモーメント
R :反力
W1,W2:幅方向
Claims (12)
- 収容凹部と、前記収容凹部の底面で開口する第1の流路と、前記収容凹部に接続された第2の流路とを画定するバルブボディと、
前記収容凹部内に設けられ、前記
第1の流路と連通する流路を画定する筒状部材と、
前記筒状部材の上端部で支持される環状のバルブシートと、
前記収容凹部の底面の前記第1の流路の開口周囲と前記筒状部材の下端部との間に介在する環状のシール部材と、
外周縁部が前記バルブボディの収容凹部の内周面に形成された環状の支持部に気密又は液密に固定され、内周縁部が前記筒状部材の外周面に形成された環状の支持部に気密又は液密に固定され、前記収容凹部を通じて前記第2の流路と連通する複数の開口を有し、かつ、可撓性を有する環状プレートと、
前記筒状部材上のバルブシートおよび前記環状プレートを覆い、前記バルブシートに対して接触しない開位置及び接触する閉位置の間で移動することにより前記第1の流路と前記第2の流路との連通及び遮断を行うダイヤフラムと、を有し、
前記筒状部材は、前記環状プレートにより片持ち梁状に支持されることにより、前記ダイヤフラムから前記バルブシートを通じて受ける力を、前記シール部材を前記収容凹部の底面に向けて押圧する力として伝達可能となっている、バルブ装置。 - 収容凹部と、前記収容凹部の底面で開口する第1の流路と、前記収容凹部に接続された第2の流路とを画定するバルブボディと、
前記収容凹部内に設けられ、前記
第1の流路と連通する流路を画定する筒状部材と、
前記筒状部材の上端部で支持される環状のバルブシートと、
前記収容凹部の底面の前記第1の流路の開口周囲と前記筒状部材の下端部との間に介在する環状のシール部材と、
外周縁部が前記バルブボディの収容凹部の内周面に形成された環状の支持部に気密又は液密に固定され、内周縁部が前記筒状部材の外周面に形成された環状の支持部に気密又は液密に固定され、前記収容凹部を通じて前記第2の流路と連通する複数の開口を有し、かつ、可撓性を有する環状プレートと、
前記筒状部材上のバルブシートおよび前記環状プレートを覆い、前記バルブシートに対して接触しない開位置及び接触する閉位置の間で移動することにより前記第1の流路と前記第2の流路との連通及び遮断を行うダイヤフラムと、を有し、
前記環状プレートの外周縁部は、前記収容凹部の内周面に形成された支持部と当該支持部に対向するように前記内周面に挿入された支持リングに接触し、
前記支持リング上に前記ダイヤフラムの外周縁部が配置され、
前記ダイヤフラムの外周縁部の前記支持リングの側とは反対側の面が押えアダプタによって押圧されて、前記支持リングの外周縁部および前記ダイヤフラムの外周縁部が前記支持部に固定される、バルブ装置。 - 収容凹部と、前記収容凹部の底面で開口する第1の流路と、前記収容凹部に接続された第2の流路とを画定するバルブボディと、
前記収容凹部内に設けられ、前記
第1の流路と連通する流路を画定する筒状部材と、
前記筒状部材の上端部で支持される環状のバルブシートと、
前記収容凹部の底面の前記第1の流路の開口周囲と前記筒状部材の下端部との間に介在する環状のシール部材と、
外周縁部が前記バルブボディの収容凹部の内周面に形成された環状の支持部に気密又は液密に固定され、内周縁部が前記筒状部材の外周面に形成された環状の支持部に気密又は液密に固定され、前記収容凹部を通じて前記第2の流路と連通する複数の開口を有し、かつ、可撓性を有する環状プレートと、
前記筒状部材上のバルブシートおよび前記環状プレートを覆い、前記バルブシートに対して接触しない開位置及び接触する閉位置の間で移動することにより前記第1の流路と前記第2の流路との連通及び遮断を行うダイヤフラムと、を有し、
前記環状プレートの内周縁部は、前記筒状部材の外周面に形成された支持部と対向するように前記筒状部材の外周面に挿入され、前記環状プレートの内周縁部を介して当該支持部に対向するように前記外周面に圧入された固定リングにより前記筒状部材の外周面に形成された支持部に固定されている、バルブ装置。 - 収容凹部と、前記収容凹部の底面で開口する第1の流路と、前記収容凹部に接続された第2の流路とを画定するバルブボディと、
前記収容凹部内に設けられ、前記
第1の流路と連通する流路を画定する筒状部材と、
前記筒状部材の上端部で支持される環状のバルブシートと、
前記収容凹部の底面の前記第1の流路の開口周囲と前記筒状部材の下端部との間に介在する環状のシール部材と、
外周縁部が前記バルブボディの収容凹部の内周面に形成された環状の支持部に気密又は液密に固定され、内周縁部が前記筒状部材の外周面に形成された環状の支持部に気密又は液密に固定され、前記収容凹部を通じて前記第2の流路と連通する複数の開口を有し、かつ、可撓性を有する環状プレートと、
前記筒状部材上のバルブシートおよび前記環状プレートを覆い、前記バルブシートに対して接触しない開位置及び接触する閉位置の間で移動することにより前記第1の流路と前記第2の流路との連通及び遮断を行うダイヤフラムと、を有し、
前記環状プレートは、金属製であり、半径方向の中途に屈曲した屈曲部を有し、
前記収容凹部の内周面に形成された支持部および前記筒状部材の外周面に形成された支持部に固定される際に、前記屈曲部を反らせるように固定されることで、前記筒状部材を前記収容凹部の底面に向けて付勢して、前記シール部材を当該底面に押圧する弾性付勢力を発揮する、バルブ装置。 - 前記筒状部材を前記収容凹部の底面に向けて付勢して、前記シール部材を当該底面に押圧する付勢機構をさらに有する、請求項1~3のいずれかに記載のバルブ装置。
- 前記環状プレートは、当該環状プレートが発揮する弾性復元力により前記付勢機構を兼ねている、請求項5に記載のバルブ装置。
- 前記シール部材は、前記筒状部材の前記バルブボディ側に形成されたシール凹部に保持される、請求項1ないし6のいずれかに記載のバルブ装置。
- 前記筒状部材は、前記ダイヤフラム側に形成されたバルブシート凹部を有し、
前記バルブシートは、前記バルブシート凹部に保持され、
前記バルブシートは、前記シール部材と同じ材料及び形状からなる、請求項7に記載のバルブ装置。 - 複数の流体機器が配列された流体制御装置であって、
前記複数の流体機器は、請求項1ないし8のいずれかに記載のバルブ装置を含む流体制御装置。 - 請求項1ないし8のいずれかに記載のバルブ装置を用いて、流体の制御を行う流体制御方法。
- 密閉されたチャンバ内においてプロセスガスによる処理工程を要する半導体装置の製造プロセスにおいて、前記プロセスガスの制御に請求項1ないし8のいずれかに記載のバルブ装置を用いる半導体製造装置。
- 密閉されたチャンバ内においてプロセスガスによる処理工程を要する半導体装置の製造プロセスにおいて、前記プロセスガスの制御に請求項1ないし8のいずれかに記載のバルブ装置を用いる半導体製造方法。
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