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JP7119267B2 - Terminal materials for connectors - Google Patents

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JP7119267B2 JP2021015188A JP2021015188A JP7119267B2 JP 7119267 B2 JP7119267 B2 JP 7119267B2 JP 2021015188 A JP2021015188 A JP 2021015188A JP 2021015188 A JP2021015188 A JP 2021015188A JP 7119267 B2 JP7119267 B2 JP 7119267B2
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Description

本発明は、大電流、高電圧が印加される自動車や民生機器等の電気配線の接続に使用される有用な皮膜が設けられたコネクタ用端子材に関する。 TECHNICAL FIELD The present invention relates to a terminal material for a connector provided with a useful film, which is used for connecting electrical wiring in automobiles, consumer appliances, etc., to which large currents and high voltages are applied.

従来、自動車等の電気配線の接続に用いられる車載用コネクタが知られている。車載用コネクタ(車載用端子)は、メス端子に設けられた接触片とメス端子内に挿入されたオス端子とが所定の接触圧で接触することで、電気的に接続されるように設計された端子対を備える。 2. Description of the Related Art In-vehicle connectors used for connecting electrical wiring in automobiles and the like have been conventionally known. An in-vehicle connector (in-vehicle terminal) is designed to be electrically connected when a contact piece provided on a female terminal and a male terminal inserted into the female terminal come into contact with each other with a predetermined contact pressure. terminal pairs.

このようなコネクタ(端子)として、一般的に銅または銅合金板上に錫めっきを施し、リフロー処理を行った錫めっき付き端子が多く用いられていた。しかし、近年、自動車の大電流・高電圧化に伴い、銀等の貴金属めっきを施され、より大きな電流を流すことができ耐熱性及び耐摩耗性に優れた端子の用途が増加している。 As such connectors (terminals), tin-plated terminals, which are obtained by plating a copper or copper alloy plate with tin and performing a reflow treatment, have generally been used. However, in recent years, with the increase in current and voltage in automobiles, the use of terminals plated with a precious metal such as silver, which allows a larger current to flow and is excellent in heat resistance and wear resistance, is increasing.

耐熱性及び耐摩耗性が求められる車載用端子として、例えば、特許文献1に記載のコネクタ用銀めっき端子が知られている。この特許文献1に記載のコネクタ用銀めっき端子は、銅又は銅合金からなる母材の表面が銀めっき層により被覆されている。 BACKGROUND ART For example, a silver-plated connector terminal described in Patent Literature 1 is known as an in-vehicle terminal that requires heat resistance and wear resistance. In the silver-plated connector terminal described in Patent Document 1, the surface of a base material made of copper or a copper alloy is coated with a silver-plated layer.

この銀めっき層は、下層側(母材側)に位置する第1の銀めっき層と、第1の銀めっき層の上層側に位置する第2の銀めっき層を有し、第1の銀めっき層の結晶粒径が第2の銀めっき層の結晶粒径よりも大きく形成されている。すなわち、特許文献1の構成では、第1の銀めっき層の結晶粒径を第2の銀めっき層の結晶粒径よりも大きく形成することで、母材からの銅が第2の銀めっき層に拡散するのを抑制している。 This silver plating layer has a first silver plating layer located on the lower layer side (base material side) and a second silver plating layer located on the upper layer side of the first silver plating layer. The crystal grain size of the plated layer is larger than the crystal grain size of the second silver plated layer. That is, in the configuration of Patent Document 1, by forming the crystal grain size of the first silver plating layer larger than the crystal grain size of the second silver plating layer, the copper from the base material becomes the second silver plating layer. It prevents the spread of

特許文献2には、母材としての銅又は銅合金部材の表面の少なくとも一部にアンチモン濃度が0.1質量%以下の銀又は銀合金層が形成され、この銀又は銀合金層の上に最表層としてアンチモン濃度が0.5質量%以上のビッカース硬度HV140以上の銀合金層が形成された銅又は銅合金部材が開示されている。すなわち、特許文献2の構成では、アンチモンを銀又は銀合金層に添加することで硬度を上昇させて、銅又は銅合金部材の耐摩耗性を向上させている。 In Patent Document 2, a silver or silver alloy layer having an antimony concentration of 0.1% by mass or less is formed on at least part of the surface of a copper or copper alloy member as a base material, and a silver or silver alloy layer is formed on the silver or silver alloy layer. A copper or copper alloy member is disclosed in which a silver alloy layer having an antimony concentration of 0.5% by mass or more and a Vickers hardness of HV140 or more is formed as the outermost layer. That is, in the configuration of Patent Document 2, antimony is added to the silver or silver alloy layer to increase the hardness, thereby improving the wear resistance of the copper or copper alloy member.

特開2008-169408号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2008-169408 特開2009-79250公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2009-79250

特許文献1の構成では、母材の表面を被覆する銀めっき層は、経時変化および高温環境下での使用によって銀の結晶粒径が大きくなる(粗大化)に伴い硬度が低下するので、長時間の使用および高温環境下での耐摩耗性が低下する。この耐摩耗性の低下を補うために、銀めっき層の膜厚を厚くすることが考えられるが、コスト面での問題がある。特許文献2の構成では、加熱によってアンチモンがめっき層最表面に拡散し、濃化後、酸化して接触抵抗が増大する問題がある。 In the structure of Patent Document 1, the hardness of the silver plating layer covering the surface of the base material decreases as the silver crystal grain size increases (coarsening) due to aging and use in a high-temperature environment. Abrasion resistance decreases with use of time and high temperature environment. In order to compensate for this decrease in wear resistance, it is conceivable to increase the film thickness of the silver plating layer, but there is a problem in terms of cost. In the structure of Patent Document 2, there is a problem that antimony diffuses to the outermost surface of the plating layer due to heating and is oxidized after concentrating, resulting in an increase in contact resistance.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、耐摩耗性及び耐熱性を向上できるコネクタ用端子材を提供することを目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a terminal material for connectors capable of improving wear resistance and heat resistance.

本発明のコネクタ用端子材は、少なくとも表面が銅又は銅合金からなる基材と、前記基材の上の少なくとも一部に形成された銀ニッケルカリウム合金めっき層と、を備え、前記銀ニッケルカリウム合金めっき層は、膜厚が0.5μm以上20.0μm以下で、平均結晶粒径が150μm以下であり、かつ、ニッケル含有量が0.02質量%以上0.60質量%以下、カリウム含有量が0.03質量%以上1.00質量%以下である。 A terminal material for a connector of the present invention comprises a base material having at least a surface made of copper or a copper alloy, and a silver-nickel-potassium alloy plating layer formed on at least a part of the base material. The alloy plating layer has a film thickness of 0.5 μm or more and 20.0 μm or less, an average crystal grain size of 150 μm or less, a nickel content of 0.02 mass % or more and 0.60 mass % or less, and a potassium content is 0.03% by mass or more and 1.00% by mass or less.

本発明では、基材の表面に形成された銀ニッケルカリウム合金めっき層が銀とともにニッケルとカリウムを共析していることで、銀ニッケルカリウム合金めっき層の結晶粒を微細化することができる。また、ニッケルとカリウムの共析により、硬度が高められ、耐摩耗性が向上する。さらに、ニッケルとカリウムは熱拡散しにくいため、高温環境下での銀ニッケルカリウム合金めっき層の結晶粒の粗大化を抑制できる。
この場合、銀ニッケルカリウム合金めっき層はニッケル及びカリウムを含有しているため高温環境下にさらされても結晶粒の粗大化が抑制され、高温環境下での耐摩耗性の低下も少ない。銀ニッケルカリウム合金めっき層を形成する際に、ニッケル及びカリウムが共析されない、あるいは共析量が低い場合、銀ニッケルカリウム合金めっき層の平均結晶粒径が150nmを超えることがある。この場合、ニッケルとカリウムの共析量が少なく、純銀の特性に近いめっき層となるため、高温環境下で結晶粒が粗大化して、耐摩耗性が低下するおそれがある。
In the present invention, since the silver-nickel-potassium alloy plating layer formed on the surface of the base material co-deposits nickel and potassium together with silver, the crystal grains of the silver-nickel-potassium alloy plating layer can be made finer. In addition, co-precipitation of nickel and potassium increases hardness and improves wear resistance. Furthermore, since nickel and potassium are difficult to thermally diffuse, coarsening of the crystal grains of the silver-nickel-potassium alloy plating layer in a high-temperature environment can be suppressed.
In this case, since the silver-nickel-potassium alloy plating layer contains nickel and potassium, coarsening of crystal grains is suppressed even when exposed to a high-temperature environment, and deterioration of wear resistance in a high-temperature environment is small. When the silver-nickel-potassium alloy plating layer is formed, the average grain size of the silver-nickel-potassium alloy plating layer may exceed 150 nm if nickel and potassium are not codeposited or the amount of codeposition is low. In this case, the amount of nickel and potassium eutectoid is small, and the plating layer has properties close to those of pure silver. Therefore, the crystal grains may become coarse in a high-temperature environment, and wear resistance may decrease.

この場合、ニッケル含有量が0.02質量%未満、あるいはカリウム含有量が0.03質量%未満であると、銀ニッケルカリウム合金めっき層の平均結晶粒径が大きくなり、結晶粒の粗大化に伴う摩擦係数の増加をもたらす。ニッケル含有量が0.60質量%を超え、あるいはカリウム含有量が1.00質量%を超えると、銀ニッケルカリウム合金めっき層の析出状態が悪化して平滑性が失われ、摩擦係数が増加する。また、この場合、ニッケルとカリウム自体の電気伝導率が悪いので、ニッケルとカリウムの共析量が多くなると電気伝導率が低下し、接触抵抗が大きくなる。また、高温環境下で接触抵抗がさらに増加する。 In this case, if the nickel content is less than 0.02% by mass or the potassium content is less than 0.03% by mass, the average crystal grain size of the silver-nickel-potassium alloy plating layer increases, and the crystal grains coarsen. resulting in an associated increase in the coefficient of friction. If the nickel content exceeds 0.60% by mass or the potassium content exceeds 1.00% by mass, the deposition state of the silver-nickel-potassium alloy plating layer deteriorates, the smoothness is lost, and the friction coefficient increases. . Also, in this case, since the electrical conductivity of nickel and potassium themselves is poor, the electrical conductivity decreases and the contact resistance increases as the co-deposited amount of nickel and potassium increases. Moreover, the contact resistance further increases in a high temperature environment.

銀ニッケルカリウム合金めっき層の膜厚が0.5μm未満では、耐熱性及び耐摩耗性を向上できず、20.0μmを超えると、銀ニッケルカリウム合金めっき層が厚すぎて曲げ加工等により割れが生じる。 If the thickness of the silver-nickel-potassium alloy plating layer is less than 0.5 μm, the heat resistance and wear resistance cannot be improved. occur.

このコネクタ用端子材において、銀ニッケルカリウム合金めっき層の平均結晶粒径は10nm以上であるとよい。 In this connector terminal material, the silver-nickel-potassium alloy plating layer preferably has an average crystal grain size of 10 nm or more .

銀ニッケルカリウム合金めっき層の平均結晶粒径は小さい方が好ましいが、10nm未満の結晶粒径を測定する場合、測定結果の信頼性が低く現実的でない。 It is preferable that the average crystal grain size of the silver-nickel-potassium alloy plating layer is small, but when measuring the crystal grain size of less than 10 nm, the reliability of the measurement result is low and not practical.

コネクタ用端子材の他の一つの態様としては、前記銀ニッケルカリウム合金めっき層の上の少なくとも一部に、ガス成分であるC、H、S、O、Nを除く銀の純度が99質量%以上、膜厚0.1μm以上5.0μm以下の銀めっき層をさらに備えていてもよい。 In another aspect of the connector terminal material, at least a portion of the silver-nickel-potassium alloy plating layer has a silver purity of 99% by mass excluding gas components C, H, S, O, and N. As described above, a silver plating layer having a film thickness of 0.1 μm or more and 5.0 μm or less may be further provided.

表面に比較的軟らかい銀めっき層が形成されるので、その潤滑効果により、耐摩耗性が向上する。銀めっき層は、膜厚が0.1μm未満では薄すぎるため、耐摩耗性向上の効果に乏しく、早期に摩耗して消失し易い。5.0μmを超える厚さでは、軟らかい銀めっき層が厚いため、摩擦係数が増大する傾向にある。 Since a relatively soft silver plating layer is formed on the surface, its lubricating effect improves wear resistance. If the thickness of the silver plating layer is less than 0.1 μm, the silver plating layer is too thin. A thickness exceeding 5.0 μm tends to increase the coefficient of friction because the soft silver plating layer is thick.

コネクタ用端子材のさらに他の一つの態様としては、前記基材と前記銀ニッケルカリウム合金めっき層との間に、膜厚が0.2μm以上5.0μm以下のニッケル又はニッケル合金からなるニッケルめっき層が形成されているとよい。 In still another aspect of the connector terminal material, a nickel plating made of nickel or a nickel alloy having a thickness of 0.2 μm or more and 5.0 μm or less is provided between the base material and the silver-nickel-potassium alloy plating layer. Layers are preferably formed.

ニッケルめっき層は基材から銅が銀ニッケルカリウム合金めっき層内に拡散することを防止する。このニッケルめっき層の膜厚が0.2μm未満であると、高温環境下では基材から銅が銀ニッケルカリウム合金めっき層内に拡散するおそれがある。銀ニッケルカリウム合金めっき層内に拡散した銅がめっき膜の表面まで拡散すると、銅が酸化して接触抵抗が大きくなり、耐熱性が低下する可能性がある。一方、ニッケルめっき層の膜厚が5.0μmを超えると、曲げ加工時等に割れが発生する可能性がある。 The nickel plating layer prevents copper from diffusing from the substrate into the silver-nickel-potassium alloy plating layer. If the thickness of the nickel plating layer is less than 0.2 μm, copper may diffuse from the base material into the silver-nickel-potassium alloy plating layer in a high-temperature environment. If the copper diffused into the silver-nickel-potassium alloy plating layer diffuses to the surface of the plating film, the copper may be oxidized to increase the contact resistance and reduce the heat resistance. On the other hand, if the thickness of the nickel plating layer exceeds 5.0 μm, cracks may occur during bending or the like.

本発明によれば、コネクタ用端子材の耐摩耗性及び耐熱性を向上できる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the abrasion resistance and heat resistance of the terminal material for connectors can be improved.

本発明の第1実施形態に係るコネクタ用端子材を模式的に示す断面図である。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is sectional drawing which shows typically the terminal material for connectors which concerns on 1st Embodiment of this invention. 本発明の第2実施形態に係るコネクタ用端子材を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically the terminal material for connectors which concerns on 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3実施形態に係るコネクタ用端子材を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically the terminal material for connectors which concerns on 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第4実施形態に係るコネクタ用端子材を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically the terminal material for connectors which concerns on 4th Embodiment of this invention. 試料5における加熱前のコネクタ用端子材の断面のSIM(Scanning Ion Microscope)像である。5 is a SIM (Scanning Ion Microscope) image of a cross section of the connector terminal material before heating in Sample 5. FIG.

以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。 An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

[第1実施形態]
第1実施形態のコネクタ用端子材1は、図1に断面を模式的に示したように、少なくとも表面が銅又は銅合金からなる板状の基材2と、基材2の上に形成された銀ニッケルカリウム合金めっき層3と、を備えている。
[First embodiment]
As shown schematically in cross section in FIG. 1, the connector terminal material 1 of the first embodiment is formed on a plate-shaped base material 2 whose at least surface is made of copper or a copper alloy and on the base material 2. and a silver-nickel-potassium alloy plating layer 3.

基材2は、表面が銅または銅合金からなるものであれば、特に、その組成が限定されるものではない。本実施形態では、図1に示すように、基材2は無酸素銅(C10200)やCu-Mg系銅合金(C18665)等の銅又は銅合金からなる板材により構成されているが、銅または銅合金ではない母材の表面に銅めっき又は銅合金めっきが施されためっき材により構成されてもよい。この場合、母材としては、銅以外の金属板を適用できる。 The composition of the substrate 2 is not particularly limited as long as the surface is made of copper or a copper alloy. In this embodiment, as shown in FIG. 1, the base material 2 is made of a plate material made of copper or copper alloy such as oxygen-free copper (C10200) or Cu—Mg copper alloy (C18665). It may be composed of a plated material in which the surface of a base material that is not a copper alloy is plated with copper or a copper alloy. In this case, a metal plate other than copper can be applied as the base material.

銀ニッケルカリウム合金めっき層3は、後述するように基材2の上に銀ストライクめっき処理を施した後に銀ニッケルカリウム合金めっき処理を施すことにより形成される。銀ニッケルカリウム合金めっき層3は、母相の銀にニッケルとカリウムとが共析することにより形成される。 The silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 is formed by applying a silver-nickel-potassium alloy plating treatment after applying a silver strike plating treatment on the substrate 2 as described later. The silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 is formed by co-deposition of nickel and potassium in silver of the mother phase.

この銀ニッケルカリウム合金めっき層は、銀とともにニッケルとカリウムを共析していることで、銀ニッケルカリウム合金めっき層の結晶粒を微細化することができる。また、ニッケルとカリウムの共析により、硬度が高められ、耐摩耗性が向上する。さらに、ニッケルとカリウムは熱拡散しにくいため、高温環境下での銀ニッケルカリウム合金めっき層の結晶粒の粗大化を抑制できる。 This silver-nickel-potassium alloy plating layer co-deposits nickel and potassium together with silver, so that the crystal grains of the silver-nickel-potassium alloy plating layer can be made finer. In addition, co-precipitation of nickel and potassium increases hardness and improves wear resistance. Furthermore, since nickel and potassium are difficult to thermally diffuse, coarsening of the crystal grains of the silver-nickel-potassium alloy plating layer in a high-temperature environment can be suppressed.

銀ニッケルカリウム合金めっき層3のニッケル含有量は、0.02質量%以上0.60質量%以下、カリウム含有量は0.03質量%以上1.00質量%以下である。これらの範囲のニッケル及びカリウムを含んでいるため、接触抵抗が増大せず、表面の硬度が高められ、耐摩耗性が向上する。 The silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 has a nickel content of 0.02% by mass or more and 0.60% by mass or less, and a potassium content of 0.03% by mass or more and 1.00% by mass or less. Since nickel and potassium are contained within these ranges, the contact resistance does not increase, the hardness of the surface increases, and the wear resistance improves.

ニッケル含有量が0.02質量%未満、あるいはカリウム含有量が0.03質量%未満であると、銀ニッケルカリウム合金めっき層3の平均結晶粒径が大きくなり、結晶粒の粗大化に伴う摩擦係数の増加をもたらす。 When the nickel content is less than 0.02% by mass or the potassium content is less than 0.03% by mass, the average crystal grain size of the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 increases, resulting in coarsening of the crystal grains. result in an increase in the modulus.

ニッケル含有量が0.60質量%を超え、あるいはカリウム含有量が1.00質量%を超えると、銀ニッケルカリウム合金めっき層3の析出状態が悪化して平滑性が失われ、摩擦係数が増加する。また、この場合、ニッケルとカリウム自体の電気伝導率が悪いので、ニッケルとカリウムの共析量が多くなると電気伝導率が低下し、接触抵抗が大きくなる。また、後述のめっき処理において銀ニッケルカリウム合金めっき層3に巻き込んだめっき液中の不純物やニッケル及びカリウムが、高温環境下で酸化し、接触抵抗がさらに増加する。また、ニッケル及びカリウムは銀よりも電気伝導率が低いので、ニッケル含有量が0.60質量%を超え、あるいはカリウム含有量が1.00質量%を超えると、銀ニッケルカリウム合金めっき層3の接触抵抗が高くなる。 If the nickel content exceeds 0.60% by mass or the potassium content exceeds 1.00% by mass, the deposition state of the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 deteriorates, losing smoothness and increasing the friction coefficient. do. Further, in this case, since the electrical conductivity of nickel and potassium themselves is poor, the electrical conductivity decreases and the contact resistance increases as the co-deposited amount of nickel and potassium increases. In addition, the impurities, nickel, and potassium in the plating solution caught in the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 in the plating process, which will be described later, are oxidized in a high-temperature environment, further increasing the contact resistance. In addition, since nickel and potassium have lower electrical conductivity than silver, if the nickel content exceeds 0.60% by mass or the potassium content exceeds 1.00% by mass, the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 Contact resistance increases.

なお、ニッケル及びカリウムは銀の母相中で熱拡散しにくいので、高温環境下でも最表面に濃化しがたい。このため、高温環境下での接触抵抗の増大を抑え、結晶粒径を小さいまま保つことができ、摩擦係数を低く維持し、耐摩耗性を保持できる。 Since nickel and potassium are difficult to thermally diffuse in the matrix of silver, they are difficult to concentrate on the outermost surface even in a high-temperature environment. Therefore, it is possible to suppress an increase in contact resistance in a high-temperature environment, keep the crystal grain size small, maintain a low coefficient of friction, and maintain wear resistance.

このニッケル含有量の好ましい範囲は0.56質量%以下、より好ましくは0.30質量%以下であり、カリウム含有量の好ましい範囲は、0.60質量%以下である。 The nickel content is preferably 0.56% by mass or less, more preferably 0.30% by mass or less, and the potassium content is preferably 0.60% by mass or less.

銀ニッケルカリウム合金めっき層3の平均結晶粒径は、10nm以上150nm以下と微細であり、ニッケル及びカリウムを含有しているため高温環境下にさらされても結晶粒の粗大化が抑制され、高温環境下での耐摩耗性の低下も少ない。銀ニッケルカリウム合金めっき層3を形成する際に、ニッケル及びカリウムが共析されない、あるいは共析量が低い場合、銀ニッケルカリウム合金めっき層3の平均結晶粒径が150nmを超えることがある。この場合、ニッケルとカリウムの共析量が少なく、純銀の特性に近いめっき層となるため、高温環境下で結晶粒が粗大化して、耐摩耗性が低下するおそれがある。平均結晶粒径は小さい方が好ましいが、10nm未満の結晶粒径を測定する場合、測定結果の信頼性が低く現実的ではない。 The average crystal grain size of the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 is as fine as 10 nm or more and 150 nm or less. There is little decrease in wear resistance under the environment. When the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 is formed, the average crystal grain size of the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 may exceed 150 nm if nickel and potassium are not codeposited or the amount of codeposition is low. In this case, the amount of nickel and potassium eutectoid is small, and the plating layer has properties close to those of pure silver. Therefore, the crystal grains may become coarse in a high-temperature environment, and wear resistance may decrease. A smaller average crystal grain size is preferable, but when measuring a crystal grain size of less than 10 nm, the reliability of the measurement result is low and it is not practical.

銀ニッケルカリウム合金めっき層3の膜厚は、0.5μm以上20.0μm以下に設定される。銀ニッケルカリウム合金めっき層3の膜厚が0.5μm未満であると、耐熱性及び耐摩耗性を向上できず、20.0μmを超えると、銀ニッケルカリウム合金めっき層3が厚すぎて、曲げ加工等により割れが生じる。この銀ニッケルカリウム合金めっき層の好ましい膜厚は1.0μm以上10.0μm以下である。 The film thickness of the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 is set to 0.5 μm or more and 20.0 μm or less. If the thickness of the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 is less than 0.5 μm, the heat resistance and wear resistance cannot be improved. Cracking occurs due to processing or the like. A preferable film thickness of the silver-nickel-potassium alloy plating layer is 1.0 μm or more and 10.0 μm or less.

次に、このコネクタ用端子材1の製造方法について説明する。コネクタ用端子材1の製造方法は、基材2となる少なくとも表面が銅又は銅合金からなる板材を洗浄する前処理工程と、基材2の上に銀ストライクめっき処理を施す銀ストライクめっき工程と、銀ストライクめっき処理の後に銀ニッケルカリウム合金めっき処理を施して銀ニッケルカリウム合金めっき層3を形成する銀ニッケルカリウム合金めっき層形成工程と、を備える。 Next, a method for manufacturing the connector terminal material 1 will be described. A method for manufacturing the connector terminal material 1 includes a pretreatment step of washing a plate material whose surface is at least made of copper or a copper alloy, which serves as the base material 2, and a silver strike plating step of applying silver strike plating to the base material 2. and a silver-nickel-potassium alloy plating layer forming step of forming the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 by applying a silver-nickel-potassium alloy plating treatment after the silver strike plating treatment.

[前処理工程]
まず、基材2として、少なくとも表層面銅又は銅合金からなる板材を用意し、この板材を脱脂、酸洗等をすることによって表面を清浄する前処理を行う。
[Pretreatment process]
First, a plate made of at least a surface layer of copper or a copper alloy is prepared as the substrate 2, and pretreatment is performed to clean the surface of the plate by degreasing, pickling, or the like.

[銀ストライクめっき工程]
基材2に対して5~10質量%のシアン化カリウム水溶液を用いて活性化処理を行った後、基材2上に銀ストライクめっき処理を短時間施して薄い銀めっき層を形成する。
[Silver strike plating process]
After the base material 2 is subjected to activation treatment using a 5 to 10% by mass potassium cyanide aqueous solution, the base material 2 is subjected to silver strike plating treatment for a short period of time to form a thin silver plating layer.

この銀ストライクめっき処理を施すための銀めっき浴の組成は、特に限定されないが、例えば、シアン化銀(AgCN)1g/L~5g/L、シアン化カリウム(KCN)80g/L~120g/Lからなる。この銀めっき浴に対してアノードとしてステンレス鋼(SUS316)を用いて、浴温25℃、電流密度1.5A/dmの条件下で銀ストライクめっき処理を30秒程度施すことにより、銀ストライクめっき層が形成される。この銀ストライクめっき層は、その後に銀ニッケルカリウム合金めっき層3が形成されることにより、層としての識別は困難になる。 The composition of the silver plating bath for performing this silver strike plating treatment is not particularly limited, but for example, it consists of silver cyanide (AgCN) of 1 g/L to 5 g/L and potassium cyanide (KCN) of 80 g/L to 120 g/L. . Using stainless steel (SUS316) as an anode for this silver plating bath, silver strike plating was performed for about 30 seconds under the conditions of a bath temperature of 25° C. and a current density of 1.5 A/dm 2 . A layer is formed. Since the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 is subsequently formed on this silver strike plating layer, it becomes difficult to distinguish it as a layer.

[銀ニッケルカリウム合金めっき層形成工程]
銀ストライクめっき処理後に銀ニッケルカリウム合金めっき処理を施して、銀ニッケルカリウム合金めっき層3を形成する。銀ニッケルカリウム合金めっき層3を形成するためのめっき浴は、例えば、シアン化銀(AgCN)30g/L~50g/L、シアン化カリウム(KCN)120g/L~200g/L、炭酸カリウム(KCO)15g/L~30g/L、テトラシアノニッケル(II)酸カリウム・一水和物(K[Ni(CN)]・HO)120g/L~200g/L、および銀ニッケルカリウム合金めっき層3を平滑に析出させるための添加剤からなる組成のシアン浴を利用できる。この添加剤は、アンチモンを含まないものであれば、一般的な添加剤で構わない。
[Silver-nickel-potassium alloy plating layer forming step]
After silver strike plating, silver-nickel-potassium alloy plating is applied to form a silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 . The plating bath for forming the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 contains, for example, silver cyanide (AgCN) 30 g/L to 50 g/L, potassium cyanide (KCN) 120 g/L to 200 g/L, potassium carbonate (K CO 3 ) 15 g/L to 30 g/L, potassium tetracyanonickel(II) monohydrate (K 2 [Ni(CN) 4 ].H 2 O) 120 g/L to 200 g/L, and silver nickel potassium A cyan bath having a composition containing additives for depositing the alloy plating layer 3 smoothly can be used. This additive may be a general additive as long as it does not contain antimony.

このめっき浴に対してアノードとして純銀板を用いて、浴温25℃、電流密度4A/dm~12A/dmの条件下で銀ニッケルカリウム合金めっきを施すことにより膜厚0.5μm以上20.0μm以下の銀ニッケルカリウム合金めっき層3が形成される。 Using a pure silver plate as an anode for this plating bath, a silver-nickel-potassium alloy plating is applied at a bath temperature of 25°C and a current density of 4 A/dm 2 to 12 A/dm 2 to form a film thickness of 0.5 μm or more and 20 A silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 of 0 μm or less is formed.

銀ニッケルカリウム合金めっき処理の電流密度が4A/dm未満であると、ニッケル及びカリウムの共析が妨げられ、電流密度が12A/dmを超えると、銀ニッケルカリウム合金めっき層3の外観が損なわれる。銀ニッケルカリウム合金めっき層3を形成するためのめっき浴は、上記組成に限定されず、シアン化カリウム浴であり、かつ添加剤にアンチモンが含まれていなければ、その組成は特に限定されない。 If the current density in the silver-nickel-potassium alloy plating treatment is less than 4 A/dm 2 , codeposition of nickel and potassium is prevented, and if the current density exceeds 12 A/dm 2 , the appearance of the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 becomes poor. undermined. The plating bath for forming the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 is not limited to the above composition, and the composition is not particularly limited as long as it is a potassium cyanide bath and does not contain antimony as an additive.

このようにして基材2の表面に銀ニッケルカリウム合金めっき層3が形成されたコネクタ用端子材1が形成される。そして、コネクタ用端子材1に対してプレス加工等を施すことにより、表面に銀ニッケルカリウム合金めっき層3を備えるコネクタ用端子が形成される。 In this way, the connector terminal material 1 having the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 formed on the surface of the base material 2 is formed. Then, a connector terminal having a silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 on its surface is formed by subjecting the connector terminal material 1 to press working or the like.

本実施形態のコネクタ用端子材1は、基材2の最表面に形成された銀ニッケルカリウム合金めっき層3がニッケル及びカリウムを共析しているので、銀ニッケルカリウム合金めっき層3の粒子を微細化することができ、高温環境下においても、硬質の銀アンチモンめっき層に比べて、接触抵抗の上昇を抑制することができる。また、端子材1の最表面の硬度を高め、耐摩耗性を向上できる。 In the connector terminal material 1 of the present embodiment, since the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 formed on the outermost surface of the substrate 2 co-deposits nickel and potassium, the particles of the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 are It can be miniaturized, and even in a high-temperature environment, it is possible to suppress an increase in contact resistance compared to a hard silver-antimony plating layer. Moreover, the hardness of the outermost surface of the terminal material 1 can be increased, and the wear resistance can be improved.

[第2実施形態]
図2は本発明の第2実施形態を示している。この実施形態のコネクタ用端子材11は、基材2と銀ニッケルカリウム合金めっき層3との間にニッケル又はニッケル合金からなるニッケルめっき層4が形成されている。
[Second embodiment]
FIG. 2 shows a second embodiment of the invention. In the connector terminal material 11 of this embodiment, a nickel plating layer 4 made of nickel or a nickel alloy is formed between the substrate 2 and the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 .

ニッケルめっき層4は、基材2上にニッケル又はニッケル合金からなるニッケルめっき処理を施すことにより形成され、基材2を被覆する。ニッケルめっき層4は、ニッケルめっき層4を被覆する銀ニッケルカリウム合金めっき層3への基材2からの銅の拡散を抑制する機能を有する。 The nickel plating layer 4 is formed by subjecting the base material 2 to a nickel plating process made of nickel or a nickel alloy, and covers the base material 2 . The nickel plating layer 4 has a function of suppressing diffusion of copper from the substrate 2 into the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 covering the nickel plating layer 4 .

ニッケルめっき層4の厚さ(膜厚)は、0.2μm以上5.0μm以下であることが好ましく、より好ましくは0.3μm以上2.0μm以下であるとよい。ニッケルめっき層4の厚さが0.2μm未満であると、高温環境下では基材2から銅が銀ニッケルカリウム合金めっき層3内に拡散するおそれがある。銀ニッケルカリウム合金めっき層3内に拡散した銅がめっき膜の表面まで拡散すると、銅が酸化して銀ニッケルカリウム合金めっき層3の接触抵抗値が大きくなり、耐熱性が低下する可能性がある。 The thickness (film thickness) of the nickel plating layer 4 is preferably 0.2 μm or more and 5.0 μm or less, more preferably 0.3 μm or more and 2.0 μm or less. If the thickness of the nickel plating layer 4 is less than 0.2 μm, copper may diffuse from the substrate 2 into the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 in a high-temperature environment. When the copper that has diffused into the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 diffuses to the surface of the plating film, the copper is oxidized and the contact resistance value of the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 increases, possibly reducing the heat resistance. .

一方、ニッケルめっき層4の厚さが5.0μmを超えると、曲げ加工時に割れが発生する可能性がある。なお、ニッケルめっき層4は、ニッケル又はニッケル合金からなるものであれば、特に、その組成が限定されるものではない。 On the other hand, if the thickness of the nickel plating layer 4 exceeds 5.0 μm, cracks may occur during bending. The composition of the nickel plating layer 4 is not particularly limited as long as it is made of nickel or a nickel alloy.

このコネクタ用端子材11を製造する場合、前処理工程と、ニッケルめっき層形成工程と、銀ストライクめっき工程と、銀ニッケルカリウム合金めっき層形成工程と、を順に実施する。前処理工程、銀ストライクめっき工程、及び銀ニッケルカリウム合金めっき工程は第1実施形態と同様であるので説明を省略する。 When manufacturing this connector terminal material 11, a pretreatment process, a nickel plating layer forming process, a silver strike plating process, and a silver-nickel-potassium alloy plating layer forming process are carried out in this order. Since the pretreatment process, the silver strike plating process, and the silver-nickel-potassium alloy plating process are the same as those in the first embodiment, description thereof is omitted.

[ニッケルめっき層形成工程]
前処理を施した基材2の表面に、ニッケルめっき処理を施して、ニッケルめっき層4を基材2に形成する。具体的には例えば、スルファミン酸ニッケル350g/L、塩化ニッケル・六水和物10g/L、及びホウ酸30g/Lを含むニッケルめっき浴を用いて、浴温45℃、電流密度5A/dmの条件下でニッケルめっき処理を施す。なお、ニッケルめっき層4を形成するニッケルめっき処理は、緻密なニッケル主体の膜が得られるものであれば特に限定されず、公知のワット浴を用いる電気めっき処理であってもよい。
[Nickel plating layer forming step]
A nickel plating process is performed on the surface of the pretreated base material 2 to form a nickel plating layer 4 on the base material 2 . Specifically, for example, using a nickel plating bath containing 350 g/L of nickel sulfamate, 10 g/L of nickel chloride hexahydrate, and 30 g/L of boric acid, the bath temperature is 45° C. and the current density is 5 A/dm 2 . Nickel plating is applied under the following conditions. The nickel plating process for forming the nickel plating layer 4 is not particularly limited as long as a dense nickel-based film can be obtained, and may be an electroplating process using a known Watt bath.

このコネクタ用端子材11は、基材2の表面がニッケルめっき層4によって覆われているので、基材2から銅が銀ニッケルカリウム合金めっき層3内に拡散することが防止され、銀ニッケルカリウム合金めっき層3の耐摩耗性、耐熱性を長期に維持できる。 In this connector terminal material 11, the surface of the base material 2 is covered with the nickel plating layer 4, so that the diffusion of copper from the base material 2 into the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 is prevented. The wear resistance and heat resistance of the alloy plating layer 3 can be maintained for a long period of time.

[第3実施形態]
図3は本発明の第3実施形態を示している。このコネクタ用端子材12は、銀ニッケルカリウム合金めっき層3の上にさらに銀めっき層5が形成されている。図3には基材2と銀ニッケルカリウム合金めっき層3との間に、基材2からの銅の拡散を防止するためのニッケルめっき層4が形成された例を示している。ただし、本発明においてはニッケルめっき層4は必ずしも必要ではない。
[Third Embodiment]
FIG. 3 shows a third embodiment of the invention. This connector terminal material 12 has a silver-plated layer 5 formed on the silver-nickel-potassium alloy-plated layer 3 . FIG. 3 shows an example in which a nickel plating layer 4 for preventing diffusion of copper from the substrate 2 is formed between the substrate 2 and the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 . However, the nickel plating layer 4 is not necessarily required in the present invention.

銀めっき層5は、高温環境下においても表面が酸化しにくく、接触抵抗の増大を抑制できる。銀めっき層5は、C、H、S、O、Nなどのガス成分を除く純度が99質量%以上、好ましくは99.9質量%以上の純銀からなる。「C、H、S、O、Nなどのガス成分を除く」とは、ガス成分の元素を除外する趣旨である。純度が99質量%以上としたのは、銀めっき層5の銀の純度が99質量%未満であると不純物が多く含まれ、接触抵抗が高くなる傾向にあるからである。 The surface of the silver plating layer 5 is not easily oxidized even in a high-temperature environment, and an increase in contact resistance can be suppressed. The silver plating layer 5 is made of pure silver with a purity of 99% by mass or more, preferably 99.9% by mass or more, excluding gas components such as C, H, S, O, and N. "Excluding gas components such as C, H, S, O, and N" means excluding elements of gas components. The reason why the purity is set to 99% by mass or more is that if the purity of silver in the silver plating layer 5 is less than 99% by mass, a large amount of impurities are contained, and the contact resistance tends to increase.

[銀めっき層形成工程]
この銀めっき層5を形成するための銀めっき浴の組成は、特に限定されないが、例えば、シアン化銀(AgCN)40g/L~50g/L、シアン化カリウム(KCN)110g/L~130g/L、炭酸カリウム(KCO)10g/L~20g/L、添加剤からなる。この銀めっき浴に対してアノードとして純銀板を用いて、浴温が常温(25℃~30℃)で、電流密度2A/dm~4A/dmの条件下でめっき処理を施すことにより、銀めっき層5が形成される。
[Silver plating layer forming step]
The composition of the silver plating bath for forming the silver plating layer 5 is not particularly limited. Potassium carbonate (K 2 CO 3 ) 10 g/L to 20 g/L, and additives. Using a pure silver plate as an anode for this silver plating bath, plating is performed at a bath temperature of room temperature (25° C. to 30° C.) and a current density of 2 A/dm 2 to 4 A/dm 2 , A silver plating layer 5 is formed.

銀めっき層5は、比較的軟質であるが、その下の硬い銀ニッケルカリウム合金めっき層3により支持されるので、潤滑効果に優れ、耐摩耗性が向上する。銀めっき層5の膜厚は0.1μm以上5.0μm以下が好ましい。銀めっき層5の膜厚が0.1μm未満では薄すぎるため、早期に摩耗して消失し易い。5.0μmを超える膜厚では、軟らかい銀めっき層5が厚くなるため、摩擦係数が増大するおそれがある。銀めっき層5の好ましい膜厚は、0.25μm以上3.0μm以下である。 Although the silver plating layer 5 is relatively soft, it is supported by the underlying hard silver-nickel-potassium alloy plating layer 3, so that it has an excellent lubricating effect and improves wear resistance. The film thickness of the silver plating layer 5 is preferably 0.1 μm or more and 5.0 μm or less. If the film thickness of the silver plating layer 5 is less than 0.1 μm, it is too thin and is likely to be worn away early. If the film thickness exceeds 5.0 μm, the soft silver plating layer 5 becomes thick, which may increase the coefficient of friction. A preferable film thickness of the silver plating layer 5 is 0.25 μm or more and 3.0 μm or less.

その他、細部構成は実施形態の構成のものに限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。 In addition, detailed configurations are not limited to those of the embodiments, and various modifications can be made without departing from the scope of the present invention.

例えば、上記実施形態では、基材2の上面全域に銀ニッケルカリウム合金めっき層3が形成されているが、これに限らず、例えば、基材2の上面の一部に銀ニッケルカリウム合金めっき層3が形成されていてもよい。ニッケルめっき層4を形成する場合は、基材2の上面の一部にニッケルめっき層4が形成され、そのニッケルめっき層4の上に銀ニッケルカリウム合金めっき層3が形成されていてもよいし、基材2の上面の全域に形成したニッケルめっき層4の上面の一部に、銀ニッケルカリウム合金めっき層3が形成されていてもよい。端子に形成された際に少なくとも接点となる部分の表面が銀ニッケルカリウム合金めっき層3であればよい。 For example, in the above-described embodiment, the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 is formed on the entire upper surface of the substrate 2. However, the present invention is not limited to this. 3 may be formed. When forming the nickel plating layer 4, the nickel plating layer 4 may be formed on a part of the upper surface of the substrate 2, and the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 may be formed on the nickel plating layer 4. A silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 may be formed on part of the upper surface of the nickel plating layer 4 formed on the entire upper surface of the substrate 2 . The silver-nickel-potassium alloy plated layer 3 may be formed on the surface of at least the portion that becomes the contact when the terminal is formed.

銀めっき層5を形成する場合は、これらのいずれの形態においても、銀ニッケルカリウム合金めっき層3の上面の全面又はその一部に形成すればよく、コネクタの接点となる部位に形成されていればよい。図4に示す第4実施形態のコネクタ用端子材13は、基材2の全面にニッケルめっき層4が形成され、そのニッケルめっき層4の一部に銀ニッケルカリウム合金めっき層3が形成され、その銀ニッケルカリウム合金めっき層3の上に銀めっき層5が形成された例である。 When the silver plating layer 5 is formed, in any of these forms, it may be formed on the entire upper surface of the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 or on a part of it, and it may be formed on the portion that will be the contact of the connector. Just do it. A connector terminal material 13 of the fourth embodiment shown in FIG. This is an example in which a silver plating layer 5 is formed on the silver-nickel-potassium alloy plating layer 3 .

銅合金板からなる厚さ0.25mmの基材を用意し、この基材に脱脂、酸洗等をすることによって表面を清浄する前処理を行った(前処理工程)後、基材の表面にニッケルめっき処理を施してニッケルめっき層を形成した(ニッケルめっき層形成工程)。 A base material made of a copper alloy plate with a thickness of 0.25 mm was prepared, and the base material was subjected to pretreatment (pretreatment step) for cleaning the surface by degreasing, pickling, etc. After that, the surface of the base material was subjected to nickel plating treatment to form a nickel plating layer (nickel plating layer forming step).

そして、10質量%のシアン化カリウム水溶液を用いてニッケルめっき表面に活性化処理を行った後に、ニッケルめっき層が被覆された基材に対して、銀ストライクめっき処理を施した(銀ストライクめっき工程)。 Then, after performing activation treatment on the nickel plating surface using a 10% by mass potassium cyanide aqueous solution, the base material coated with the nickel plating layer was subjected to silver strike plating treatment (silver strike plating process).

その上に銀ニッケルカリウム合金めっき処理を施し(銀ニッケルカリウム合金めっき層形成工程)、その上に銀めっき処理を施し(銀めっき層形成工程)、表1、表2に示す試料を作製した。なお、表1、表2では、ニッケルめっき層をNi層、銀ニッケルカリウム合金めっき層をAgNiK層、銀めっき層をAg層と記載した。銀ニッケルカリウム合金めっき層におけるニッケル含有量(Ni含有量と表記)及びカリウム含有量(K含有量と表記)は、めっき処理のテトラシアノニッケル(II)酸カリウム・一水和物の量(表1中には「Ni-CN」と記載)とめっき処理時の電流密度とによって調整した。
なお、銀ニッケルカリウム合金めっき層を形成せずに、ニッケルめっき層の上に銀めっき層を形成したもの(比較例14)、ニッケルめっき層の上に銀アンチモン合金めっき層を形成したもの(比較例15)も作製した。
A silver-nickel-potassium alloy plating process was applied thereon (silver-nickel-potassium alloy plating layer forming process), and a silver plating process was applied thereon (silver-plating layer forming process) to prepare samples shown in Tables 1 and 2. In Tables 1 and 2, a nickel plating layer is indicated as a Ni layer, a silver-nickel-potassium alloy plating layer is indicated as an AgNiK layer, and a silver plating layer is indicated as an Ag layer. The nickel content (expressed as Ni content) and potassium content (expressed as K content) in the silver-nickel-potassium alloy plating layer are determined by the amount of potassium tetracyanonickel(II) monohydrate in the plating process (Table 1) and current density during plating.
A silver-plated layer was formed on the nickel-plated layer without forming the silver-nickel-potassium alloy-plated layer (Comparative Example 14), and a silver-antimony alloy-plated layer was formed on the nickel-plated layer (Comparative Example 14). Example 15) was also made.

各めっきの条件は以下のとおりとした。
<ニッケルめっき条件>
・めっき浴組成
スルファミン酸ニッケル:350g/L
塩化ニッケル・六水和物:10g/L
ホウ酸:30g/L
・浴温:45℃
・電流密度:5A/dm
・pH:4
The conditions for each plating were as follows.
<Nickel plating conditions>
・Plating bath composition Nickel sulfamate: 350 g/L
Nickel chloride hexahydrate: 10g/L
Boric acid: 30g/L
・Bath temperature: 45℃
・Current density: 5 A/dm 2
・pH: 4

<銀ストライクめっき条件>
・めっき浴組成
シアン化銀:2g/L
シアン化カリウム:100g/L
・アノード:SUS316
・浴温:25℃
・電流密度:1.5A/dm
<Silver strike plating conditions>
・Plating bath composition silver cyanide: 2 g / L
Potassium cyanide: 100g/L
・Anode: SUS316
・Bath temperature: 25℃
・Current density: 1.5 A/dm 2

<銀ニッケルカリウム合金めっき条件>
・めっき浴組成
シアン化銀:45g/L
シアン化カリウム:180g/L
炭酸カリウム:20g/L
テトラシアノニッケル(II)酸カリウム・一水和物:120g/L~200g/L
添加剤:5ml/L
・アノード:純銀板
・浴温:25℃
・電流密度:4A/dm~14A/dm
<Silver-nickel-potassium alloy plating conditions>
・Plating bath composition Silver cyanide: 45 g / L
Potassium cyanide: 180g/L
Potassium carbonate: 20g/L
Potassium tetracyanonickel(II) monohydrate: 120 g/L to 200 g/L
Additive: 5ml/L
・Anode: Pure silver plate ・Bath temperature: 25℃
・Current density: 4 A/dm 2 to 14 A/dm 2

<銀めっき条件>
・めっき浴組成
シアン化銀:45g/L
シアン化カリウム:115g/L
炭酸カリウム:15g/L
光沢剤:
(DDPスペシャルティ・プロダクツ・ジャパン株式会社製)SILVER GLO 3K:15ml/L
(同)SILVER GLO TY:5ml/L
・浴温:25℃
・電流密度:4A/dm
・アノード:純銀板
<Silver plating conditions>
・Plating bath composition Silver cyanide: 45 g / L
Potassium cyanide: 115g/L
Potassium carbonate: 15g/L
Brightener:
(manufactured by DDP Specialty Products Japan Co., Ltd.) SILVER GLO 3K: 15 ml / L
(same) SILVER GLO TY: 5ml/L
・Bath temperature: 25℃
・Current density: 4A/dm 2
・Anode: pure silver plate

各試料について、銀ニッケルカリウム合金めっき層の膜厚、銀ニッケルカリウム合金めっき層中のニッケル含有量、カリウム含有量、及び銀ニッケルカリウム合金めっき層の平均結晶粒径、銀めっき層及びニッケルめっき層の膜厚を測定した。 For each sample, the film thickness of the silver-nickel-potassium alloy plating layer, the nickel content and potassium content in the silver-nickel-potassium alloy plating layer, the average grain size of the silver-nickel-potassium alloy plating layer, the silver plating layer and the nickel plating layer was measured.

[各めっき層の膜厚の測定]
銀ニッケルカリウム合金めっき層、銀めっき層及びニッケルめっき層の膜厚は、以下のように測定した。セイコーインスツル株式会社製の集束イオンビーム装置:FIB(型番:SMI3050TB)を用いて各試料に断面加工を行い、形成した断面を走査イオン顕微鏡(SIM:Scanning Ion Microscop)で観察し、傾斜角60°の断面SIM像における任意の3箇所の膜厚を測長し、その平均を求めた後、実際の長さに変換した。
[Measurement of film thickness of each plating layer]
The film thicknesses of the silver-nickel-potassium alloy plating layer, the silver plating layer and the nickel plating layer were measured as follows. A focused ion beam device manufactured by Seiko Instruments Inc.: FIB (model number: SMI3050TB) is used to perform cross-section processing on each sample, and the formed cross-section is observed with a scanning ion microscope (SIM: Scanning Ion Microscop), with an inclination angle of 60. The film thickness was measured at three arbitrary points in the cross-sectional SIM image of 10°, and after obtaining the average, it was converted into the actual length.

[銀ニッケルカリウム合金めっき層の平均結晶粒径の測定]
銀ニッケルカリウム合金めっき層を形成しためっき材をFIBを使用して、厚さが50nm程度の断面試料に加工した。その断面試料の加工面の銀ニッケルカリウム合金めっき層をEBSD((Electron Back Scatter Diffraction)装置付透過型電子顕微鏡(TEM:Transmission Electron Microscope:TEM)を用いて、加速電圧200kVで電子線を照射しながら、測定範囲200nm×400nm、測定ステップ2nmで結晶方位を2回測定した。次いで、この結晶方位のデータを解析ソフトを用いて解析し、隣接する測定点間の方位差が5°以上となる測定点間を結晶粒界とみなして、銀ニッケルカリウム合金めっき層の結晶粒径(双晶を含む)を測定した。
[Measurement of average grain size of silver-nickel-potassium alloy plating layer]
The plated material on which the silver-nickel-potassium alloy plated layer was formed was processed into a cross-sectional sample having a thickness of about 50 nm using FIB. A transmission electron microscope (TEM) equipped with an EBSD (Electron Back Scatter Diffraction) device was used to irradiate the silver-nickel-potassium alloy plating layer on the processed surface of the cross-sectional sample with an electron beam at an acceleration voltage of 200 kV. Meanwhile, the crystal orientation was measured twice with a measurement range of 200 nm × 400 nm and a measurement step of 2 nm.Then, the crystal orientation data was analyzed using analysis software, and the orientation difference between adjacent measurement points was 5° or more. The grain size (including twin crystals) of the silver-nickel-potassium alloy plated layer was measured by regarding the space between the measurement points as grain boundaries.

測定に用いた装置、解析ソフトは次のとおりである。
EBSD装置:EDAX/TSL社製OIM Data Collection
解析ソフト:EDAX/TSL社製OIM Data Analysis ver.5.2
The equipment and analysis software used for the measurements are as follows.
EBSD device: OIM Data Collection manufactured by EDAX/TSL
Analysis software: EDAX/TSL OIM Data Analysis ver. 5.2

なお、銀ニッケルカリウム合金めっき層中のニッケルとカリウムの含有量が下限以下のサンプル(比較例10)については、結晶粒径が大きいと予想されるため、下記方法で測定を行った。 As for the sample (Comparative Example 10) in which the contents of nickel and potassium in the silver-nickel-potassium alloy plating layer were below the lower limits, the crystal grain size was expected to be large, so the measurement was performed by the following method.

銀ニッケルカリウム合金めっき層の電析の成長方向(基材の板厚方向)に沿った断面をイオンミリング法によって加工し、EBSD装置付き電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM:Field Emission-Scanning Electron Microscope(日本電子株式会社製JSM-7001FA)を用いて、加速電圧15kV、測定範囲25μm×3.0μm、測定ステップ0.02μmで結晶方位を測定した。そして、隣接するピクセル間の方位差が5°以上である境界を結晶粒界とみなして、銀ニッケルカリウム合金めっき層の結晶粒径(双晶を含む)を測定した。
測定に用いた装置、解析ソフトは前述と同一である。
A cross-section along the growth direction of electrodeposition of the silver-nickel-potassium alloy plating layer (thickness direction of the substrate) was processed by the ion milling method, and a field emission scanning electron microscope (FE-SEM: Field Emission-Scanning) equipped with an EBSD device was processed. Using an Electron Microscope (JSM-7001FA manufactured by JEOL Ltd.), the crystal orientation was measured at an acceleration voltage of 15 kV, a measurement range of 25 μm×3.0 μm, and a measurement step of 0.02 μm. The grain size (including twins) of the silver-nickel-potassium alloy plated layer was measured, considering the boundary of 5° or more as the grain boundary.
The apparatus and analysis software used for measurement are the same as those described above.

得られた結晶粒径を面積円に近似し、面積で重み付けをした加重平均によって平均結晶粒径を算出した。 The obtained crystal grain size was approximated to an area circle, and the average crystal grain size was calculated by a weighted average weighted by the area.

[ニッケル含有量(Ni含有量)及びカリウム含有量(K含有量)の測定]
各試料に対して、GD-MS(Glow Discharge-Mass Spectrometry:グロー放電質量分析法)で銀ニッケルカリウム合金めっき層中のニッケルおよびカリウムの含有量(質量%)を測定した。
[Measurement of nickel content (Ni content) and potassium content (K content)]
For each sample, the contents (% by mass) of nickel and potassium in the silver-nickel-potassium alloy plating layer were measured by GD-MS (Glow Discharge-Mass Spectrometry).

測定には、Nu Instruments社製のGD-MS装置であるAstrum(商品名)を使用し、主成分についてファラデーカップ、不純物についてICマルチプライヤで検出した。検出条件は以下の通りである。
・グロー放電:定電流モード
・放電電流:0.7mA
・放電電圧:0.5kV
・放電ガス:Ar(>99.9999%)
・深さ方向分解能:0.05μm/スキャン
For the measurement, Astrum (trade name), which is a GD-MS apparatus manufactured by Nu Instruments, was used to detect the main component with a Faraday cup and the impurities with an IC multiplier. The detection conditions are as follows.
・Glow discharge: constant current mode ・Discharge current: 0.7mA
・Discharge voltage: 0.5 kV
・Discharge gas: Ar (>99.9999%)
・Depth direction resolution: 0.05 μm/scan

これらの測定結果を表1に示す。なお、試料11は、接触抵抗の測定のためのインデント加工時にクラックが入ったため、銀ニッケルカリウム合金めっき層の結晶粒径、接触抵抗、摩擦係数の測定を行わなかった。これら測定を行わなかったものについては、表1に「-」を記した。 These measurement results are shown in Table 1. Since sample 11 had cracks during indentation for measuring contact resistance, the crystal grain size, contact resistance, and coefficient of friction of the silver-nickel-potassium alloy plating layer were not measured. "-" is shown in Table 1 for those for which these measurements were not performed.

Figure 0007119267000001
Figure 0007119267000001

[接触抵抗の測定]
各試料を、60mm×30mmの試験片αと60mm×10mmの試験片βとに切り出し、平板の試験片αをオス端子の代用(オス端子試験片)とし、平板に曲率半径5mmの半球状の凸部を形成するインデント加工を行った試験片βをメス端子の代用(メス端子試験片)とした。
[Measurement of contact resistance]
Each sample is cut into a test piece α of 60 mm × 30 mm and a test piece β of 60 mm × 10 mm, the flat plate test piece α is used as a substitute for the male terminal (male terminal test piece), and a hemispherical shape with a curvature radius of 5 mm is formed on the flat plate. A test piece β that was indented to form a convex portion was used as a substitute for the female terminal (female terminal test piece).

これらの試験片について、加熱前及び180℃で500時間加熱後に、それぞれ接触抵抗(mΩ)を測定した。測定に際しては、ブルカー・エイエックスエス株式会社の摩擦摩耗試験機(UMT-Tribolab)を用い、水平に設置したオス端子試験片にメス端子試験片の凸部の凸面を接触させ、10Nの荷重をかけた時のオス端子試験片の接触抵抗値を4端子法により測定した。 The contact resistance (mΩ) of these test pieces was measured before heating and after heating at 180° C. for 500 hours. For the measurement, a friction wear tester (UMT-Tribolab) manufactured by Bruker AXS Co., Ltd. was used, and the male terminal test piece placed horizontally was brought into contact with the convex surface of the female terminal test piece, and a load of 10 N was applied. The contact resistance value of the male terminal test piece when applied was measured by the four-probe method.

[摩擦係数の測定、耐摩耗性試験(摺動試験)]
耐摩耗性を評価するために次のようにして摩擦係数を測定した。
接触抵抗の測定に用いた試験片と同じ形状の試験片α、βを用意した。試験片βの凸部の凸面と試験片αとを荷重5Nで相互に押圧して、摺動速度1.33mm/secの条件で、10mmの距離を移動させ、摩擦係数の変化を測定した。移動距離5mmから10mmの間で得られた摩擦係数の平均値を摩擦係数とした。
[Measurement of friction coefficient, wear resistance test (sliding test)]
In order to evaluate wear resistance, the coefficient of friction was measured as follows.
Test pieces α and β having the same shape as the test piece used for measuring the contact resistance were prepared. The convex surface of the convex portion of the test piece β and the test piece α were pressed against each other with a load of 5 N, and moved over a distance of 10 mm at a sliding speed of 1.33 mm/sec to measure changes in the coefficient of friction. An average value of the friction coefficients obtained over a moving distance of 5 mm to 10 mm was taken as the friction coefficient.

なお、摩擦係数はめっき膜厚に依存する。そのため、銀めっき層と銀ニッケルカリウム合金めっき層との合計の膜厚が大きくなると、薄い膜厚の試料と同じ条件での摩擦係数と比較することにならないため、銀めっき層と銀ニッケルカリウム合金めっき層との膜厚の合計が8.0μmを超えている試料については、摩擦係数測定に代えて、摺動試験を実施した。 Note that the coefficient of friction depends on the film thickness of the plating. Therefore, when the total thickness of the silver plating layer and the silver-nickel-potassium alloy plating layer is large, it is not possible to compare the friction coefficient under the same conditions as the sample with a thin film thickness. A sliding test was carried out instead of the friction coefficient measurement for the samples whose total film thickness with the plating layer exceeded 8.0 μm.

この摺動試験では、ブルカー・エイエックスエス株式会社の摩擦摩耗試験機(UMT-Tribolab)において、水平に設置した試験片αに試験片βの凸部の凸面を接触させ、5Nの荷重を負荷した状態で、オス端子試験片を水平に移動距離5mmで50回繰り返し摺動させた。摺動試験後に試験片の下地のニッケルめっき層が露出しているか否かで耐摩耗性を判定した。この際、摺動試験後に下地のニッケルめっき層が露出していないものを良好「A」、摺動試験後に下地のニッケルめっき層が露出しているものを不可「B」とした。 In this sliding test, in a friction and wear tester (UMT-Tribolab) of Bruker AXS Co., Ltd., the convex surface of the convex part of the test piece β is brought into contact with the horizontally installed test piece α, and a load of 5 N is applied. In this state, the male terminal test piece was slid horizontally at a moving distance of 5 mm repeatedly 50 times. After the sliding test, the wear resistance was determined by whether or not the underlying nickel plating layer of the test piece was exposed. At this time, the case where the underlying nickel plating layer was not exposed after the sliding test was rated as good "A", and the case where the underlying nickel plating layer was exposed after the sliding test was rated as failing "B".

これらの結果を表2に示す。 These results are shown in Table 2.

Figure 0007119267000002
Figure 0007119267000002

表1及び表2からわかるように、銀ニッケルカリウム合金めっき層の膜厚が0.5μm以上20.0μm以下で、ニッケル含有量が0.02質量%以上0.60質量%以下、カリウム含有量が0.03質量%以上1.00質量%以下である試料1~9は、加熱前後の接触抵抗が低く安定しており、摩擦係数も低い値であった。 As can be seen from Tables 1 and 2, the film thickness of the silver-nickel-potassium alloy plating layer is 0.5 µm or more and 20.0 µm or less, the nickel content is 0.02 mass% or more and 0.60 mass% or less, and the potassium content is Samples 1 to 9 with a content of 0.03% by mass or more and 1.00% by mass or less exhibited low and stable contact resistance before and after heating, and a low coefficient of friction.

ただし、試料1は試料2より銀ニッケルカリウム合金めっき層が薄いにもかかわらず、摩擦係数が高い数値を示した。これは、試料1は、試料2とは異なり銀めっき層がないため、銀めっき層の潤滑効果がないことが理由である。 However, sample 1 exhibited a higher coefficient of friction than sample 2, although the silver-nickel-potassium alloy plating layer was thinner. This is because, unlike sample 2, sample 1 does not have a silver plating layer, so the silver plating layer does not have a lubricating effect.

試料6は、銀ニッケルカリウム合金めっき層中のニッケルやカリウムの含有量が低いために銀ニッケルカリウム合金めっき層が軟らかく、また銀めっき層が厚いので、摩擦係数がやや高めになった。 Sample 6 had a low content of nickel and potassium in the silver-nickel-potassium alloy plating layer, so that the silver-nickel-potassium alloy plating layer was soft, and since the silver-plating layer was thick, the coefficient of friction was slightly high.

試料9は銀ニッケルカリウム合金めっき層におけるニッケル及びカリウムの含有量が高いので、析出がやや荒くなっているが、その分、銀ニッケルカリウム合金めっき層が硬くなっているため、摩擦係数はそれほど高くなかった。 Sample 9 has a high content of nickel and potassium in the silver-nickel-potassium alloy plating layer, so the precipitation is somewhat rough. I didn't.

これらの中でも、試料2,4,5,8は、接触抵抗が加熱後であっても0.41mΩ以下と低く、摩擦係数も0.89以下と低く抑えられており、良好である。 Among these, Samples 2, 4, 5, and 8 are good because the contact resistance is as low as 0.41 mΩ or less even after heating, and the friction coefficient is suppressed as low as 0.89 or less.

図5は、試料5の断面SIM像であり、基材表面のニッケルめっき層(Niと表記)の上に、銀ニッケルカリウム合金めっき層(AgNiKと表記)、銀めっき層(Agと表記)が形成されていることが示されている。銀ニッケルカリウム合金めっき層中の結晶粒径が小さいことがわかる。 FIG. 5 is a cross-sectional SIM image of Sample 5, in which a silver-nickel-potassium alloy plating layer (denoted as AgNiK) and a silver plating layer (denoted as Ag) are formed on the nickel plating layer (denoted as Ni) on the substrate surface. are shown to be formed. It can be seen that the crystal grain size in the silver-nickel-potassium alloy plating layer is small.

以上の試料に比べて、試料10は銀ニッケルカリウム合金めっき層中のニッケル及びカリウムの含有量が低いために、銀ニッケルカリウム合金めっき層の平均結晶粒径が大きくなり、その結果、摩擦係数が高くなった。試料12は、銀ニッケルカリウム合金めっき層が薄く、軟らかい銀めっき層が厚いので、これら両方の膜厚の合計として膜厚が近い試料8と比較すると摩擦係数は高くなった。また、試料13は銀ニッケルカリウム合金めっき層のニッケルやカリウムの含有量が多かったことから、その析出が荒くなり、摩擦係数が高くなった。また、加熱後の接触抵抗も高く、耐熱性が劣っている。試料14は、銀ニッケルカリウム合金めっき層を形成せず、銀めっき層のみであるため、耐摩耗性が劣っており、摺動試験後、下地のニッケルめっき層が露出した。銀めっき層の膜厚が試料14と近い試料7は、摺動試験後、下地のニッケルめっき層は露出していない。試料15は、銀ニッケルカリウム合金めっき層ではなく、銀アンチモン合金めっき層を形成した試料であり、摩擦係数は低いが、耐熱性に劣っている。 Compared to the above samples, Sample 10 has a lower content of nickel and potassium in the silver-nickel-potassium alloy plating layer, so that the silver-nickel-potassium alloy plating layer has a larger average crystal grain size, resulting in a lower coefficient of friction. got higher Sample 12 has a thin silver-nickel-potassium alloy plated layer and a thick soft silver plated layer, so that the sum of these two film thicknesses has a higher coefficient of friction than sample 8, which has a similar film thickness. In addition, since the content of nickel and potassium in the silver-nickel-potassium alloy plating layer of sample 13 was large, the precipitation was rough and the coefficient of friction was high. Moreover, the contact resistance after heating is high, and the heat resistance is poor. Sample 14 did not form a silver-nickel-potassium alloy plating layer, but had only a silver plating layer. Therefore, the abrasion resistance was inferior, and the underlying nickel plating layer was exposed after the sliding test. In Sample 7, whose silver plating layer has a film thickness similar to that of Sample 14, the underlying nickel plating layer was not exposed after the sliding test. Sample 15 is a sample in which a silver-antimony alloy plating layer is formed instead of a silver-nickel-potassium alloy plating layer, and has a low coefficient of friction, but is inferior in heat resistance.

本発明によれば、耐摩耗性及び耐熱性を向上したコネクタ用端子材を提供できる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the terminal material for connectors which improved abrasion resistance and heat resistance can be provided.

1,11,12,13 コネクタ用端子材
2 基材
3 銀ニッケルカリウム合金めっき層
4 ニッケルめっき層
5 銀めっき層
1, 11, 12, 13 Connector terminal material 2 Base material 3 Silver nickel potassium alloy plating layer 4 Nickel plating layer 5 Silver plating layer

Claims (4)

少なくとも表面が銅又は銅合金からなる基材と、
前記基材の上の少なくとも一部に形成された銀ニッケルカリウム合金めっき層と、
を備え、
前記銀ニッケルカリウム合金めっき層は、膜厚が0.5μm以上20.0μm以下で、平均結晶粒径が150μm以下であり、かつ、ニッケル含有量が0.02質量%以上0.60質量%以下、カリウム含有量が0.03質量%以上1.00質量%以下であることを特徴とするコネクタ用端子材。
a base material at least the surface of which is made of copper or a copper alloy;
a silver-nickel-potassium alloy plating layer formed on at least a portion of the substrate;
with
The silver-nickel-potassium alloy plating layer has a film thickness of 0.5 µm or more and 20.0 µm or less, an average crystal grain size of 150 µm or less, and a nickel content of 0.02 mass% or more and 0.60 mass% or less. and a terminal material for a connector having a potassium content of 0.03% by mass or more and 1.00% by mass or less.
銀ニッケルカリウム合金めっき層の平均結晶粒径は10nm以上であることを特徴とする請求項1に記載のコネクタ用端子材。 2. The connector terminal material according to claim 1, wherein the silver-nickel-potassium alloy plating layer has an average crystal grain size of 10 nm or more . 前記銀ニッケルカリウム合金めっき層の上の少なくとも一部に、ガス成分であるC、H、S、O、Nを除く銀の純度が99質量%以上、膜厚0.1μm以上5.0μm以下の銀めっき層をさらに備えることを特徴とする請求項1または2に記載のコネクタ用端子材。 At least part of the silver-nickel-potassium alloy plating layer has a silver purity of 99% by mass or more, excluding gas components C, H, S, O, and N, and a film thickness of 0.1 μm or more and 5.0 μm or less. 3. The connector terminal material according to claim 1, further comprising a silver plating layer. 前記基材と前記銀ニッケルカリウム合金めっき層との間に、膜厚が0.2μm以上5.0μm以下のニッケル又はニッケル合金からなるニッケルめっき層が形成されていることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載のコネクタ用端子材。 2. A nickel plating layer made of nickel or a nickel alloy and having a thickness of 0.2 μm or more and 5.0 μm or less is formed between the base material and the silver-nickel-potassium alloy plating layer. 4. The connector terminal material according to any one of 3.
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