JP7148114B2 - 眼科装置 - Google Patents

Description

本明細書に開示する技術は、眼科装置に関する。詳細には、被検眼の前眼部の断層画像を撮影する眼科装置に関する。

被検眼の前眼部の断層画像を撮影する眼科装置が開発されている。例えば、眼科装置は、光源からの光を被検眼の内部に照射すると共にその反射光を導く測定光学系と、光源からの光を参照面に照射すると共にその反射光を導く参照光学系を備えている。測定の際には、測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた反射光とを合成した干渉光から、被検眼の前眼部の断層画像を生成する。例えば、特許文献１には、眼科装置の一例が開示されている。

特開２０１６－４１１６２号公報

この種の眼科装置では、被検眼の前眼部の断層画像を生成するため、前眼部の各部位（例えば、水晶体等）の状態を観察できる。しかしながら、前眼部の各部位は、それぞれ複数の組織によって構成されている。被検眼を診断するために、前眼部の各部位の組織の状態を把握することが求められている。本明細書は、前眼部の各部位の組織の状態を容易に把握可能な画像を生成することができる眼科装置を提供する。

本明細書に開示する眼科装置は、被検眼の前眼部の断層画像を撮影する撮影部と、演算部と、を備えている。演算部は、撮影部で撮影された被検眼の前眼部の断層画像における組織間の境界を検出する境界検出処理と、被検眼の前眼部の断層画像から、境界検出処理によって検出された境界によって画定される組織又は当該組織の近傍に設定された特定領域を抽出する抽出処理と、抽出処理によって抽出された特定領域の画像データを用いて、特定領域の正面画像を生成する正面画像生成処理と、を実行可能に構成されている。

上記の眼科装置では、組織間の境界を検出することによって、検出された境界によって画定される組織や検出された境界付近等の特定領域のみを抽出することができる。また、抽出された特定領域の画像データのみを用いて正面画像を生成することができる。これによって、例えば、水晶体を構成する組織（例えば、皮質や嚢等）といった特定の領域のみから構成される正面画像が生成される。このため、通常の正面画像では特定領域以外の領域の存在によって認識にくくなっている部分が観察しやすくなり、特定領域の状態を精度よく観察することができる。

実施例に係る眼科装置の光学系の概略構成を示す図。 スキャニング－アライメント光学系の概略構成を示す図。 実施例に係る眼科装置の制御系を示すブロック図。 通常の被検眼（眼内レンズが挿入されていない被検眼）の前眼部を測定する処理の一例を示すフローチャート。 ラジアルスキャン方式を説明するための図。 ラスタースキャン方式を説明するための図。 断層画像において水晶体の組織間の境界を検出した状態を示す模式図。 前側皮質のＥｎ－ｆａｃｅ画像を作成する手順を説明するための図であり、（ａ）は水晶体の断層画像を示し、（ｂ）は前側皮質のＥｎ－ｆａｃｅ画像を示す。 彩色された核の２次元断層画像を示す模式図。 タッチパネルに表示される画像の一例を示す図。 トーリック眼内レンズが挿入された被検眼の前眼部を測定する処理の一例を示すフローチャート。 被検眼の角膜形状に基づいて、ラスタースキャン方式で前眼部の断層画像を撮影する処理を説明するための図であり、（ａ）は被検眼の角膜形状マップを示し、（ｂ）は角膜形状マップから算出される被検眼の強主径線に沿ったスキャン方向を示す。 被検眼内の組織とトーリック眼内レンズとの間の境界を検出した状態を示す断層画像。 トーリック眼内レンズの表面近傍の領域のみで構成されるＥｎ－ｆａｃｅ画像。 タッチパネルに表示される解析結果の一例を示す図。

以下に説明する実施例の主要な特徴を列記しておく。なお、以下に記載する技術要素は、それぞれ独立した技術要素であって、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時の請求項に記載の組合せに限定されるものではない。

（特徴１）本明細書に開示する眼科装置は、撮影部で撮影された被検眼の前眼部の断層画像を表示する表示部と、検査者によって操作され、表示部に表示された断層画像において特定領域を設定する特定領域設定部と、をさらに備えていてもよい。演算部は、特定領域設定部で設定された特定領域の正面画像を生成してもよい。このような構成によると、検査者が特定領域を設定することによって、検査者が観察したい部位を抽出することができ、検査者の所望の部位のみから構成される正面画像を生成することができる。これによって、検査者の所望の部位を精度よく観察することができる。

（特徴２）本明細書に開示する眼科装置では、演算部は、正面画像生成処理によって生成された正面画像に基づいて、特定領域内の状態を解析する解析処理をさらに実行可能に構成されていてもよい。このような構成によると、演算部は、特定領域のみで構成される正面画像を用いて特定領域の状態を解析する。生成された正面画像では特定領域以外の領域が存在しないため、例えば、特定領域内の混濁の状態等を精度よく解析することができる。

（特徴３）本明細書に開示する眼科装置では、境界検出処理は、トーリック眼内レンズが挿入された被検眼の断層画像における挿入されたトーリック眼内レンズと被検眼の組織との境界を検出してもよい。抽出処理は、挿入されたトーリック眼内レンズと被検眼の組織との境界の近傍に設定された特定領域を抽出してもよい。演算部は、正面画像生成処理によって生成された正面画像に基づいてトーリック眼内レンズのトーリック軸方向を算出するトーリック軸方向算出処理をさらに実行可能に構成されていてもよい。このような構成によると、被検眼の組織とトーリック眼内レンズとの境界の近傍に設定された特定領域を抽出することによって、トーリック眼内レンズの表面付近の領域のみで構成される正面画像が生成される。これによって、トーリック眼内レンズの表面を精度よく観察することができる。また、トーリック眼内レンズの表面付近の領域のみで構成される正面画像を用いることによって、例えば、トーリック眼内レンズのトーリック軸方向を示すマーク等を容易に検出することができ、トーリック眼内レンズのトーリック軸方向を容易に算出することができる。これによって、トーリック眼内レンズの挿入位置を正確に把握することができる。

（特徴４）本明細書に開示する眼科装置では、撮影部は、被検眼の角膜形状に基づいてスキャン方向を設定して、境界検出処理に用いる前記被検眼の前眼部の断層画像を撮影してもよい。このような構成によると、被検眼の角膜形状に基づいて断層画像を撮影する際のスキャン方向を設定することによって、例えば、被検眼の乱視等の状態等に合わせて被検眼を撮影することができる。これによって、トーリック眼内レンズのトーリック軸方向をより精度よく算出することができる。

（特徴５）本明細書に開示する眼科装置では、撮影部は、ラスタースキャン方式で被検眼の前眼部の断層画像を撮影してもよい。ラスタースキャン方式のスキャン方向は、被検眼の角膜の強主径線と略平行な方向であってもよい。このような構成によると、スキャン方向を被検眼の角膜の強主径線と略平行な方向に設定することによって、トーリック眼内レンズのトーリック軸に対してもスキャン方向が略一致する。このため、トーリック軸方向を示すマーク等がずれることを抑制することができ、眼内レンズの軸方向をより精度よく算出することができる。

（特徴６）本明細書に開示する眼科装置は、角膜形状を示す角膜形状マップと、トーリック軸方向算出処理によって算出されたトーリック眼内レンズのトーリック軸方向を示す画像とを重ねて表示する表示部をさらに備えていてもよい。このような構成によると、挿入されているト－リック眼内レンズのトーリック軸方向のずれを容易に把握することができる。

以下、実施例に係る眼科装置１について説明する。眼科装置１は、光干渉断層法（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ）を用いて被検眼Ｅの前眼部の断層画像を撮影する。図１に示すように、眼科装置１は、光源１０と、被検眼Ｅから反射される反射光と参照光とを干渉させる干渉光学系１４と、Ｋ－ｃｌｏｃｋ信号を生成するＫ－ｃｌｏｃｋ発生装置５０を備えている。

光源１０は、波長掃引型の光源であり、出射される光の波長が所定の周期で変化するようになっている。光源１０から出射される光の波長が変化すると、出射される光の波長に対応して、被検眼Ｅの深さ方向の各部位から反射される光のうち参照光と干渉を生じる反射光の反射位置が被検眼Ｅの深さ方向に変化する。このため、出射される光の波長を変化させながら干渉光を測定することで、被検眼Ｅの内部の各部位（例えば、角膜や水晶体等）の位置を特定することが可能となる。

光源１０から出力された光は、光ファイバを通ってファイバカプラ１２に入力される。ファイバカプラ１２に入力された光は、ファイバカプラ１２において分波され、光ファイバを通ってファイバカプラ１６及びＫ－ｃｌｏｃｋ発生装置５０に出力される。なお、Ｋ－ｃｌｏｃｋ発生装置５０については後述する。

干渉光学系１４は、光源１０の光を被検眼Ｅの内部に照射すると共にその反射光を生成する測定光学系と、光源１０の光から参照光を生成する参照光学系と、測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた参照光とを合成した干渉光を検出するバランス検出器４０によって構成されている。

測定光学系は、ファイバカプラ１６と、サーキュレータ１８と、スキャニング－アライメント光学系２０によって構成されている。光源１０から出力され、ファイバカプラ１２を介してファイバカプラ１６に入力された光は、ファイバカプラ１６において測定光と参照光に分波されて出力される。ファイバカプラ１６から出力された測定光は、光ファイバを通ってサーキュレータ１８に入力される。サーキュレータ１８に入力された測定光は、スキャニング－アライメント光学系２０に出力される。スキャニング－アライメント光学系２０は、サーキュレータ１８から出力された測定光を被検眼Ｅに照射すると共に、被検眼Ｅからの反射光をサーキュレータ１８に出力する。サーキュレータ１８に入力された反射光は、ファイバカプラ３８の一方の入力部に入力される。なお、スキャニング－アライメント光学系２０については、後に詳述する。

参照光学系は、ファイバカプラ１６と、サーキュレータ２２と、参照部２４によって構成されている。ファイバカプラ１６から出力された参照光は、光ファイバを通ってサーキュレータ２２に入力される。サーキュレータ２２に入力された参照光は、参照部２４に出力される。参照部２４は、コリメータレンズ２６、２８及び参照ミラー３０によって構成されている。参照部２４に出力された参照光は、コリメータレンズ２６、２８を介して参照ミラー３０で反射され、再びコリメータレンズ２６、２８を介して参照部２４から出力される。参照部２４から出力された参照光は、サーキュレータ２２に出力される。コリメータレンズ２８及び参照ミラー３０は、第２駆動装置５４（図３参照）によってコリメータレンズ２６に対して進退動するように構成されている。第２駆動装置５４がコリメータレンズ２８及び参照ミラー３０を移動させることによって、参照光学系の光路長が変化する。これによって、参照光学系の光路長を、測定光学系の光路長と略一致するように調整することができる。サーキュレータ２２に入力された参照光は、偏波コントローラ３６を介してファイバカプラ３８の他方の入力部に入力される。偏波コントローラ３６は、ファイバカプラ３８に入力される参照光の偏光を制御する素子である。偏波コントローラ３６は、パドル型やインライン型等の公知の眼科装置に用いられているものを用いることができるため、その詳細な説明は省略する。

ファイバカプラ３８は、入力された被検眼Ｅからの反射光と参照光を合波して干渉光を生成する。ファイバカプラ３８は、生成した干渉光を、位相が１８０度異なる２つの干渉光に分岐して、バランス検出器４０に入力する。バランス検出器４０は、ファイバカプラ３８から入力する位相が１８０度異なる２つの干渉光に対して、差動増幅及びノイズ低減処理を実施し、電気信号（干渉信号）に変換する。バランス検出器４０は、干渉信号を演算装置６０に出力する。

ここで、図２を参照して、スキャニング－アライメント光学系２０の構成について説明する。スキャニング－アライメント光学系２０は、スキャニング光学系と、前眼部撮影系と、固視標光学系と、アライメント光学系を備えている。

図２に示すように、スキャニング光学系は、コリメータレンズ１０２と、ガルバノスキャナ１０４と、ホットミラー１０６と、対物レンズ１０８を備えている。サーキュレータ１８（図１参照）から出力された測定光は、コリメータレンズ１０２を介してガルバノスキャナ１０４に出射される。ガルバノスキャナ１０４は、第１駆動装置５２（図３参照）によって傾動するように構成されており、第１駆動装置５２がガルバノスキャナ１０４を傾動することで、被検眼Ｅへの測定光の照射位置が走査される。ガルバノスキャナ１０４から出射された測定光は、ホットミラー１０６に照射され、９０度の角度で反射される。ホットミラー１０６に照射された測定光は、対物レンズ１０８を介して、被検眼Ｅに照射される。被検眼Ｅからの反射光は、上記とは逆に、対物レンズ１０８、ホットミラー１０６、ガルバノスキャナ１０４及びコリメータレンズ１０２を介してサーキュレータ１８に入力される。

前眼部撮影系は、２つの照明光源１１０と、対物レンズ１０８と、ホットミラー１０６と、コールドミラー１１２と、結像レンズ１１４と、ＣＣＤカメラ１１６と、光学制御部１１８を備えている。２つの照明光源１１０は、被検眼Ｅの正面に可視光領域の照明光を照射する。被検眼Ｅからの反射光は、対物レンズ１０８、ホットミラー１０６、コールドミラー１１２及び結像レンズ１１４を通過し、ＣＣＤカメラ１１６に入力される。これにより、被検眼Ｅの正面画像が撮影される。撮影された画像データは、光学制御部１１８によって画像処理され、タッチパネル５６に表示される。

固視標光学系は、固視標光源１２０と、コールドミラー１２２、１２４と、リレーレンズ１２６と、ハーフミラー１２８と、コールドミラー１１２と、ホットミラー１０６と、対物レンズ１０８を備えている。固視標光源１２０からの光は、コールドミラー１２２、１２４、リレーレンズ１２６及びハーフミラー１２８を通過し、コールドミラー１１２で反射される。コールドミラー１１２で反射された光は、ホットミラー１０６及び対物レンズ１０８を通過して被検眼Ｅに照射される。被検者に固視標光源１２０からの光を固視させることで、眼球（すなわち、被検眼Ｅ）を極力動かさないようにさせることができる。

アライメント光学系は、ＸＹ方向位置検出系とＺ方向位置検出系によって構成されている。ＸＹ方向位置検出系は、被検眼Ｅ（詳細には、角膜頂点）のＸＹ方向の位置（すなわち、眼科装置１に対する上下左右の位置ずれ）を検出するために用いられる。Ｚ方向位置検出系は、被検眼Ｅの角膜頂点の前後方向（Ｚ方向）の位置を検出するために用いられる。

ＸＹ方向位置検出系は、ＸＹ位置検出光源１３０と、コールドミラー１２４と、リレーレンズ１２６と、ハーフミラー１２８と、コールドミラー１１２と、ホットミラー１０６と、対物レンズ１０８と、結像レンズ１３２と、位置センサ１３４を備えている。ＸＹ位置検出光源１３０は、位置検出用のアライメント光を照射する。ＸＹ位置検出光源１３０から照射されたアライメント光は、コールドミラー１２４で反射され、リレーレンズ１２６及びハーフミラー１２８を通過し、コールドミラー１１２で反射される。コールドミラー１１２で反射された光は、ホットミラー１０６及び対物レンズ１０８を通過して被検眼Ｅの前眼部（角膜）に照射される。

被検眼Ｅの角膜表面は球面状であるため、アライメント光は、被検眼Ｅの角膜頂点の内側で輝点像を形成するように角膜表面で反射される。この角膜表面からの反射光が対物レンズ１０８に入射され、ホットミラー１０６を介してコールドミラー１１２で反射される。コールドミラー１１２で反射された反射光は、ハーフミラー１２８で反射され、結像レンズ１３２を介して位置センサ１３４に入力される。位置センサ１３４が輝点の位置を検出することによって、角膜頂点の位置（すなわち、Ｘ方向及びＹ方向の位置）が検出される。

位置センサ１３４の検出信号は、光学制御部１１８を介して演算装置６０に入力される。この場合、位置センサ１３４と前眼部撮影系との間でのアライメントが取られていると共に、角膜頂点の所定（正規）の画像取得位置（断層画像取得時に追従させるべき位置）が設定されている。角膜頂点の正規の画像取得位置としては、例えば、ＣＣＤカメラ１１６の撮影画像の中心位置と一致する点である。演算装置６０は、位置センサ１３４の検出に基づいて、正規の画像取得位置に対する検出された角膜頂点（輝点）のＸ方向及びＹ方向の位置ずれ量を算出する。

Ｚ方向位置検出系は、Ｚ位置検出光源１４０と、結像レンズ１４２と、ラインセンサ１４４を備えている。Ｚ位置検出光源１４０は、被検眼Ｅに対して斜め方向から検出用の光（スリット光又はスポット光）を照射する。被検眼Ｅの角膜からの斜め方向の反射光は、結像レンズ１４２を介してラインセンサ１４４に入射される。このとき、眼科装置１に対する被検眼Ｅの前後方向（Ｚ方向）の位置によって、ラインセンサ１４４に入射される反射光の入射位置が異なる。このため、反射光の入射位置を検出することで、被検眼Ｅの眼科装置１に対するＺ方向の位置が検出される。ラインセンサ１４４の検出信号は、演算装置６０に入力される。

Ｋ－ｃｌｏｃｋ発生装置５０（図１参照）は、等間隔周波数（光の周波数に対して均等な周波数間隔）にて干渉信号のサンプリングを行うために、光源１０の光からサンプルクロック（Ｋ－ｃｌｏｃｋ）信号を光学的に生成する。そして、生成されたＫ－ｃｌｏｃｋ信号は、演算装置６０に向けて出力される。これにより、演算装置６０がＫ－ｃｌｏｃｋ信号に基づいて干渉信号をサンプリングすることで、干渉信号の歪みが抑えられ、分解能が悪化することが防止される。なお、本実施例では、演算装置６０には、Ｋ－ｃｌｏｃｋ信号が規定するタイミングでサンプリングされた干渉信号が入力されるが、このような構成に限定されない。例えば、演算装置６０は、あらかじめ判明している掃引時間に対する周波数を示す関数や同時に取得した掃引プロファイルに対して、一定時間間隔でサンプリングされたデータをスケーリングする処理を施してもよい。なお、干渉光学系１４及びＫ－ｃｌｏｃｋ発生装置５０は、「撮影部」の一例である。

次に、本実施例の眼科装置１の制御系の構成を説明する。図３に示すように、眼科装置１は演算装置６０によって制御される。演算装置６０は、ＣＰＵ，ＲＯＭ，ＲＡＭ等からなるマイクロコンピュータ（マイクロプロセッサ）によって構成されている。演算装置６０には、光源１０と、第１駆動装置５２と、第２駆動装置５４と、照明光源１１０と、固視標光源１２０と、ＸＹ位置検出光源１３０と、Ｚ位置検出光源１４０と、光学制御部１１８と、ラインセンサ１４４と、バランス検出器４０と、Ｋ－ｃｌｏｃｋ発生装置５０と、タッチパネル５６が接続されている。

演算装置６０は、光源１０のオン／オフを制御すると共に、第１駆動装置５２及び第２駆動装置５４を制御することでガルバノスキャナ１０４及び参照部２４を駆動する。また、演算装置６０には、バランス検出器４０で検出される干渉光の強度に応じた干渉信号が入力すると共に、Ｋ－ｃｌｏｃｋ発生装置５０で生成されたＫ－ｃｌｏｃｋ信号が入力する。演算装置６０は、バランス検出器４０からの干渉信号をＫ－ｃｌｏｃｋ信号に基づいてサンプリングする。そして、演算装置６０は、サンプリングされた干渉信号をフーリエ変換することによって、被検眼Ｅの各部位（例えば、角膜、前房、水晶体等）や組織（例えば、水晶体の核、皮質、嚢等）の位置を特定する。演算装置６０に入力されたデータや算出結果は、メモリ（図示省略）に記憶される。

また、演算装置６０は、照明光源１１０、固視標光源１２０、ＸＹ位置検出光源１３０のオン／オフを制御する。演算装置６０は、ＣＣＤカメラ１１６で撮影され光学制御部１１８で処理された被検眼Ｅの正面画像を入力すると共に、光学制御部１１８を介して位置センサ１３４で検出された角膜頂点（輝点）の位置を入力する。演算装置６０は、入力された被検眼Ｅの正面画像及び角膜頂点（輝点）の位置に基づいて、角膜頂点（輝点）のＸＹ方向のずれ量を算出する。演算装置６０は、ラインセンサ１４４の検出信号を入力し、被検眼Ｅの眼科装置１に対するＺ方向のずれ量を算出する。演算装置６０は、ＸＹ方向位置検出系により検出された角膜頂点（輝点）のＸ方向及びＹ方向の位置ずれ量と、Ｚ方向位置検出系により検出された被検眼ＥのＺ方向の位置ずれ量に基づいて、それらの位置ずれ量を全て０にするように、本体駆動部（図示省略）を制御し、眼科装置１本体を保持台（図示省略）に対して移動させる。

さらに、演算装置６０は、タッチパネル５６を制御している。タッチパネル５６は、被検眼Ｅの計測結果や解析結果に関する各種の情報を検査者に提供する表示装置であると共に、検査者からの指示や情報を受け付けるユーザインターフェースである。例えば、タッチパネル５６は、演算装置６０で生成された被検眼Ｅの水晶体の各組織又は眼内レンズの画像や解析結果等を表示することができる。また、タッチパネル５６は、眼科装置１の各種設定を入力することができる。なお、本実施例の眼科装置１はタッチパネル５６を備えているが、このような構成に限定されない。上記の情報の表示及び入力が可能な構成であればよく、モニタと入力装置（例えば、マウスやキーボード等）を備えていてもよい。

図４～図１５を参照して、眼科装置１を用いて被検眼Ｅの前眼部を測定する処理について説明する。眼科装置１は、被検眼Ｅの前眼部を測定し、前眼部の各組織（例えば、水晶体を構成する各組織等）について解析することができる。例えば、水晶体について組織毎に解析することによって、水晶体の混濁の状態を詳細に解析することができる。また、眼科装置１は、眼内レンズ（Ｉｎｔｒａｏｃｕｌａｒ ｌｅｎｓ：ＩＯＬ、以下「ＩＯＬ」ともいう）が挿入された被検眼Ｅの前眼部を測定し、ＩＯＬの挿入位置等について解析することができる。以下では、ＩＯＬが挿入されている眼と区別するため、ＩＯＬが挿入されていない水晶体を有する被検眼を「通常の被検眼」と称することがある。以下に、眼科装置１による被検眼Ｅの測定例として、通常の被検眼Ｅの前眼部を測定する処理と、ＩＯＬが挿入された被検眼Ｅの前眼部を測定する処理について説明する。

まず、図４～図１０を参照して、通常の被検眼Ｅの前眼部を測定する処理の一例について説明する。詳細には、通常の被検眼Ｅの水晶体について組織毎に解析し、水晶体の混濁の状態を詳細に把握するための処理について説明する。

図４に示すように、まず、演算装置６０は、被検眼Ｅの前眼部の断像画像を取得する（Ｓ１２）。被検眼Ｅの前眼部の断層画像を取得する処理は、以下の手順で実行する。まず、検査者がタッチパネル５６から検査開始の指示を入力すると、演算装置６０は被検眼Ｅと眼科装置１のアライメントを行う。アライメントは、アライメント光学系で検出されるＸＹ方向及びＺ方向のずれ量に基づいて実行される。具体的には、演算装置６０は、ＸＹ方向位置検出系により検出された角膜頂点（輝点）のＸ方向及びＹ方向の位置ずれ量と、Ｚ方向位置検出系により検出された被検眼ＥのＺ方向の位置ずれ量がそれぞれ０になるように、眼科装置１本体を保持台（図示省略）に対して移動させる。

アライメントが完了すると、演算装置６０は、被検眼Ｅの前眼部の断層画像を撮影する。本実施例において、ステップＳ１２における被検眼Ｅの前眼部の測定は、ラジアルスキャン方式により実行される。これにより、前眼部の断層画像が全領域に亘って取得される。つまり、図５に示すように、Ｂスキャン方向を被検眼Ｅの角膜頂点から放射方向に設定し、Ｃスキャン方向を円周方向として断層画像の取込みが行われる。本実施例では、ラジアルスキャン方式で放射状に１２８方向（具体的には、周方向に等間隔に１２８方向）の断層画像を撮影する。演算装置６０は、取得（撮影）された断層画像のデータを、メモリに取込む。なお、水晶体の断層画像の撮影方法は、ラジアルスキャン方式に限定されない。水晶体の断層画像が全領域に亘って取得できればよく、例えば、図６に示すように、ラスタースキャン方式によって撮影されてもよい。すなわち、Ｂスキャン方向を被検眼Ｅに対して水平方向に設定し、Ｃスキャン方向を垂直方向として断層画像の取込みが行われてもよい。

ステップＳ１２において被検眼Ｅの前眼部の断層画像を取得すると、演算装置６０は、各干渉信号情報が備える輝度情報に基づいて、水晶体の組織間の境界を検出する（Ｓ１４）。図７に示すように、演算装置６０は、水晶体について、前嚢と前房との境界Ｌ１（すなわち、水晶体の前面）と、前嚢と皮質との境界Ｌ２と、皮質と核との境界Ｌ３、Ｌ４と、皮質と後嚢との境界Ｌ５と、後嚢と硝子体との境界Ｌ６（すなわち、水晶体の後面）を検出する。すなわち、測定光が水晶体の内部を通過する際、各組織の境界Ｌ１～Ｌ６のそれぞれにおいて一部が反射される。干渉信号情報には、これらの境界Ｌ１～Ｌ６において反射された反射光の成分が含まれている。ステップＳ１４では、干渉信号情報に含まれるこれらの信号成分に基づいて、水晶体内の組織間の境界Ｌ１～Ｌ６を検出する。

次に、演算装置６０は、ステップＳ１４で検出された水晶体の組織間の境界Ｌ１～Ｌ６によって画定される各組織を抽出する（Ｓ１６）。水晶体の各組織としては、前嚢、皮質、核、後嚢がある。なお、断層画像では、皮質は核によって前房側（図７では上方）と硝子体側（図７では下方）に分割されることが多い。このため、以下では、核によって分割された皮質のうち、前房側に位置するものを「前側皮質」と称し、硝子体側に位置するものを「後側皮質」と称することがある。したがって、水晶体の各組織として、前房側から硝子体側に向かって、前嚢、前側皮質、核、後側皮質、後嚢を特定することができる。ステップＳ１６では、演算装置６０は、境界Ｌ１とＬ２によって画定される領域を前嚢として抽出し、境界Ｌ２とＬ３によって画定される領域を前側皮質として抽出し、境界Ｌ３とＬ４によって画定される領域を核として抽出し、境界Ｌ４とＬ５の間の領域を後側皮質として抽出し、境界Ｌ５とＬ６によって画定される領域を後嚢として抽出する。

次に、演算装置６０は、ステップＳ１６で抽出された組織について、当該組織毎の２次元画像を作成する（Ｓ１８）。２次元画像は、上述の各組織のうち、前嚢、前側皮質、後側皮質、後嚢については、その組織のみを抽出した正面画像として作成する。一方、核については、断層画像として作成する。従来の細隙灯顕微鏡を用いて観察する方法では、検査者は、スリットランプを用いて核の状態を観察していた。この場合、検査者は、核を断層画像に近い状態で観察することになる。一方、従来の方法では、核以外の組織（前嚢、前側皮質、後側皮質、後嚢）については、照明光を被検眼Ｅの眼底に照射し、眼底からの反射光によって観察する徹照法によって観察していた。この場合、検査者は、核以外の組織（前嚢、前側皮質、後側皮質、後嚢）を正面画像に近い状態で観察することになる。組織毎の２次元画像を作成する際に、核については２次元画像を断層画像とし、その他の組織（前嚢、前側皮質、後側皮質、後嚢）については２次元画像を正面画像とすることによって、検査者は、従来の観察方法に近い状態で各組織を診断することができる。

ここで、正面画像の作成について、前側皮質を例に説明する。演算装置６０は、各断層画像から抽出された前側皮質を特定する領域（境界Ｌ２とＬ３の間の領域）を用いて、前側皮質のみで構成される正面画像を作成する。正面画像は、例えば、Ｅｎ－ｆａｃｅ（エンファス）画像である。具体的には、３次元データについて、Ａスキャン毎に深さ方向で最大値や平均値などを算出し、３次元データを２次元のＥｎ－ｆａｃｅ画像に圧縮する。

例えば、図８（ａ）に示すように、演算装置６０は、前側皮質を特定する境界Ｌ２とＬ３との間の領域において、矢印で示す深さ方向の輝度をＡスキャン毎に平均化する。そして、図８（ｂ）に示すように、演算装置６０は、平均化した輝度を点として表示し、Ｅｎ－ｆａｃｅ画像を作成する。前嚢、後側皮質、後嚢についても、演算装置６０は、前側皮質と同様の手順で、前嚢、後側皮質又は後嚢のみを表示するＥｎ－ｆａｃｅ画像を作成する。特定の組織（例えば、前側皮質）のみで構成されるＥｎ－ｆａｃｅ画像を構築するため、Ｅｎ－ｆａｃｅ画像において当該組織（例えば、前側皮質）以外の組織（例えば、前嚢、核、後側皮質及び後嚢）が重畳して表示されない。このため、検査者は、当該組織の状態を容易にかつ精度よく把握することができる。

次いで、核の２次元断層画像の作成について説明する。演算装置６０は、核の断層画像を輝度情報に基づいて複数種類の色を用いて彩色する。このとき用いる断層画像は、水平方向の断層画像と、当該断層画像から周方向に隣接する複数の断層画像（本実施例では、当該断層画像に対して±１．４度と±２．８度の方向で撮影された計４枚の断層画像）とについて加算平均処理を実行し、スペックルノイズを除去してもよい。例えば、核において混濁が生じている部位では、断層画像の輝度が高く、混濁の度合いが大きいほど輝度が高くなる。そこで、輝度が高くなるにつれて色が変化するように、各画素の輝度情報を色相に置き換える。例えば、輝度が低い画素を緑色で彩色し、輝度が高くになるにつれて徐々に緑色から黄色になるように彩色する。そして、さらに輝度が高くなるにつれて黄色から赤色になるように彩色する。例えば、白内障が進行している場合（例えば、ＷＨＯ分類のグレード４以上の場合）、当該画素は赤色に置き換えられる。このように核の断層画像を彩色することによって、断層画像において同じ輝度情報を有する画素は同色で彩色される。

核では、断面において外周部分より中央部分のほうが混濁が生じやすい。このため、白内障が進行している被検眼Ｅの断層画像において、各画素を上述した色相に置き換えると、核の中心部分は赤色に彩色され、中心部分から外周部分に向かって徐々に緑色に近い色に彩色される。例えば、図９に示すように、核において白内障が進行している場合には、断層画像において、最も中央に位置する領域Ｒ１は赤色で彩色され、領域Ｒ１の外側に隣接する領域Ｒ２は橙色で彩色され、領域Ｒ２の外側に隣接する領域Ｒ３は黄色で彩色され、最も外周に位置する領域Ｒ４は緑色で彩色される。

従来の細隙灯顕微鏡を用いて観察した場合、白内障の進行状況に応じて、核は異なる色で観察される。すなわち、白内障の進行の程度が低い状態では、核は白色に近い色として観察され、白内障の進行の程度が高くなるに従い、白色から黄色に近くなり、さらには茶色に近い色として観察される。上記のように輝度情報に基づいて核を彩色することによって、検査者は、従来の観察方法に近い色で核の状態を把握することができる。なお、本実施例では、各画素の輝度情報を色相に置き換えているが、各画素についてその画素の周囲の輝度情報を含む輝度情報の平均値に基づいて、当該画素を設定した色相に置き換えてもよい。また、本実施例では、緑色から赤色に変化する色相を用いて各画素を彩色しているが、輝度情報を置き換える際に使用する色は特に限定されない。例えば、従来の細隙灯顕微鏡を用いて観察される色（すなわち、白色、黄色、茶色）に置き換えることで、細隙灯顕微鏡を用いて観察される画像と同等の画像に変換してもよい。

なお、本実施例では、演算装置６０は、前嚢、前側皮質、核、後側皮質、後嚢を抽出し、それぞれの２次元画像（Ｅｎ－ｆａｃｅ画像、彩色された断層画像）を生成しているが、このような構成に限定されない。演算装置６０は、上記の各組織のうち、検査者が指定した組織のみを抽出し、指定された組織の２次元画像のみを生成してもよい。

次に、ステップＳ１８で作成された２次元画像に基づいて各組織のグレーディングを行う（Ｓ２０）。例えば、ＷＨＯ分類に基づいてグレーディングを行う。

具体的には、皮質（前側皮質及び後側皮質）については、Ｅｎ－ｆａｃｅ画像において円周に占める混濁の割合（％）に基づいて皮質を分類する。また、瞳孔中心から３ｍｍ以内の範囲の混濁の有無によって皮質の中心の混濁を分類する。例えば、前側皮質のＥｎ－ｆａｃｅ画像７４（図１０参照）において、円周に占める混濁の割合が約３０％と算出されたとする。ＷＨＯ分類では、皮質において円周に占める混濁の割合が２５％以上かつ５０％未満である場合、グレード２と分類される。また、前側皮質のＥｎ－ｆａｃｅ画像７４において、瞳孔中心３ｍｍ以内の範囲に混濁があると判定されたとする。この場合、ステップＳ２０において、前側皮質はグレード２と分類されると共に、前側皮質の中心に混濁ありと分類される。

また、核については、ＷＨＯ分類の基準写真との比較によって判定するグレーディング方法に対応するように核を分類する。詳細には、断層画像における核の輝度情報（すなわち、ステップＳ１８で彩色する色）がＷＨＯ分類のどの基準写真に対応するのかに基づいて、核をグレーディングする。例えば、彩色された核の断層画像８２（図１０参照）において、核の中心部分が黄色で彩色されたとする。断層画像において核が黄色で彩色された場合、当該画素がＷＨＯ分類の基準写真において、基準写真２（グレード１）における混濁部位の色に対応するとする。この場合、ステップＳ２０において、核はグレード１と分類される。

また、後嚢については、混濁の大きさ（ｍｍ）に基づいて後嚢を分類する。例えば、後嚢のＥｎ－ｆａｃｅ画像７８（図１０参照）において、混濁の大きさが約４ｍｍと算出されたとする。ＷＨＯ分類では、混濁の大きさが３ｍｍ以上である場合、グレード３と分類される。したがって、ステップＳ２０において、後嚢はグレード３と分類される。

最後に、演算装置６０は、ステップＳ１８で生成した２次元画像をタッチパネル５６に出力する（Ｓ２２）。例えば、図１０は、タッチパネル５６に表示される２次元画像の一例を示している。図１０に示すように、タッチパネル５６には、前嚢のＥｎ－ｆａｃｅ画像７２と、前側皮質のＥｎ－ｆａｃｅ画像７４と、後側皮質のＥｎ－ｆａｃｅ画像７６と、後嚢のＥｎ－ｆａｃｅ画像７８と、核が彩色された断層画像８２が表示されている。また、図１０に示すように、タッチパネル５６には、ステップＳ１８で作成した２次元画像７２～７８、８２と共に、ステップＳ１２で取得した断層画像８０を併せて表示してもよい。このように、組織毎に作成された２次元画像を表示することによって、水晶体の状態を詳細かつ精度よく観察することができる。

次に、図１１～図１５を参照して、ＩＯＬが挿入された被検眼Ｅの前眼部を測定する処理の一例について説明する。詳細には、トーリックＩＯＬが挿入された被検眼Ｅの前眼部を解析し、挿入されているトーリックＩＯＬのトーリック軸角度を把握するための処理について説明する。トーリックＩＯＬの表面には、トーリック軸の位置を示すマークＭ（以下、軸マークＭともいう）が、トーリックＩＯＬの弱主径線上の両端部（すなわち、トーリックＩＯＬの周縁部）に印されている（図１４参照）。トーリックＩＯＬを用いて被検眼Ｅの乱視を矯正するためには、トーリックＩＯＬの弱主径線が被検眼Ｅの強主径線と略一致するようにトーリックＩＯＬを被検眼Ｅ内に固定する必要がある。すなわち、挿入されているトーリックＩＯＬの２箇所の軸マークＭが、被検眼Ｅの強主径線上に位置している必要がある。そこで、被検眼Ｅ内に挿入されているトーリックＩＯＬの軸マークＭを検出し、トーリックＩＯＬが正確な位置に固定されているか否かを解析する。

図１１に示すように、まず、演算装置６０は、被検眼Ｅの角膜形状を計測する（Ｓ４２）。被検眼Ｅの角膜形状の計測は、種々の方法で実行することができる。例えば、被検眼Ｅの角膜形状は、被検眼Ｅの前眼部の断層画像から取得する。すなわち、上述のステップＳ１２と同様に、被検眼Ｅの前眼部の断層画像を取得する。なお、角膜形状の計測に用いる断層画像は、ステップＳ１２と同様に、ラジアルスキャン方式で撮影してもよいし、ラスタースキャン方式で撮影してもよい。次いで、演算装置６０は、被検眼Ｅの断層画像（例えば、１６枚）のそれぞれから、被検眼Ｅの角膜形状を算出する。具体的には、各断層画像から角膜前面の形状を算出し、算出した角膜前面の形状から角膜前面の各位置における曲率半径を算出し、その曲率半径から各位置における屈折力を算出する。これによって、被検眼Ｅの角膜屈折力の分布を示す角膜屈折力マップ（図１２（ａ）参照）を算出する。なお、上記の例では、角膜前面の形状から曲率半径を算出したが、角膜前後面の形状から曲率半径を算出してもよい。また、被検眼Ｅの角膜形状は、被検眼Ｅの角膜表面に投影したパターン光の反射像から取得してもよい。すなわち、演算装置６０は、同心円状のパターン光を被検眼Ｅの角膜表面に投影し、角膜表面からの反射像を撮影する。次いで、演算装置６０は、撮影された反射像に基づいて、被検眼Ｅの角膜形状を計測する。上記の例では、被検眼Ｅの前眼部の断層画像を取得し、取得した断層画像から角膜形状を算出しているが、このような構成に限定されない。被検眼Ｅの角膜形状は短期間ではほとんど変化することがないため、例えば、同じ被検眼Ｅについて算出された角膜形状マップを取得してもよい。演算装置６０は、計測（又は取得）した角膜形状マップに基づいて、被検眼Ｅの強主径線９０（図１３参照）を算出する。

次に、演算装置６０は、ラスタースキャン方式で被検眼Ｅの断層画像を撮影する（Ｓ４４）。上述したように、ラスタースキャン方式では、Ｂスキャン方向を被検眼Ｅに対して水平方向に設定する（図６参照）。図１２（ｂ）に示すように、ステップＳ４４では、ラスタースキャン方式で被検眼Ｅの断層画像を撮影する際に、Ｂスキャン方向をステップＳ４２で算出した被検眼Ｅの強主径線９０と平行な方向に設定する。

トーリックＩＯＬが被検眼Ｅ内の正しい位置で固定されている場合、すなわち、トーリックＩＯＬのトーリック軸が被検眼Ｅの強主径線９０と略一致するようにトーリックＩＯＬが固定されている場合、２箇所に印される軸マークＭはいずれも、被検眼Ｅの強主径線９０上に位置する。また、トーリックＩＯＬは、軸マークＭが被検眼Ｅの強主径線９０上に位置するように固定されるため、トーリックＩＯＬのトーリック軸がずれた状態で固定されていたとしても、軸マークＭは、被検眼Ｅの強主径線９０に近い位置に位置する可能性が高い。Ｂスキャン方向を被検眼Ｅの強主径線９０と平行な方向に設定して断層画像を撮影することによって、２箇所に印される軸マークＭの両方は、１枚の断層画像内に撮影されるか、又は時間的に近い間隔で撮影された複数の画像に亘って撮影される。被検眼Ｅ全体の断層画像を撮影する際には複数枚の画像を撮影するため、撮影開始から終了までに時間を要する。この間に、被検眼Ｅが動いてしまうことがある。このため、例えば、Ｂスキャン方向を被検眼Ｅの強主径線９０と垂直な方向に設定して断層画像を撮影した場合、一端に印される軸マークＭが撮影される時間から他端に印される軸マークＭが撮影される時間までの間の時間差が大きくなり、その間に被検眼Ｅが動く可能性が高くなる。２箇所の軸マークＭを撮影する間に被検眼Ｅが動くと、トーリックＩＯＬのトーリック軸方向を正確に把握することができない。２箇所の軸マークＭを同時に撮影するか、又は２箇所の軸マークＭの撮影の時間差を小さくすることによって、２箇所の軸マークＭの両方を撮影するまでの間に被検眼Ｅが動くことを抑制することができ、トーリックＩＯＬのトーリック軸方向を正確に把握することができる。

次に、演算装置６０は、被検眼Ｅ内の組織とトーリックＩＯＬとの間の境界を検出する（Ｓ４６）。ＩＯＬを挿入する際には、前嚢、皮質、核が取り除かれるため、ＩＯＬが挿入された眼の前眼部には、前側から後側に向かって、角膜、前房、ＩＯＬ、後嚢が存在している。図１３に示すように、演算装置６０は、前房とトーリックＩＯＬとの境界Ｌ７（すなわち、トーリックＩＯＬの前面）と、トーリックＩＯＬと後嚢との境界Ｌ８（すなわち、トーリックＩＯＬの後面）を検出する。測定光が挿入されたトーリックＩＯＬを通過する際、トーリックＩＯＬの前面と後面のそれぞれにおいて一部が反射される。干渉信号情報には、これらの境界Ｌ７、Ｌ８において反射された反射光の成分が含まれている。したがって、ステップＳ４６では、干渉信号情報に含まれるこれらの信号成分に基づいて、被検眼Ｅの組織とトーリックＩＯＬとの境界Ｌ７、Ｌ８を検出する。

次に、演算装置６０は、ステップＳ４６で検出された境界Ｌ７、Ｌ８の近傍の領域をそれぞれ抽出する（Ｓ４８）。このとき、抽出される領域内にトーリックＩＯＬの表面が含まれるように、領域の範囲を予め設定する。具体的には、演算装置６０は、ステップＳ４６で検出された境界Ｌ７の各画素について、所定の長さ分だけ前面側の位置から所定の長さ分だけ後面側の位置までの範囲を抽出する。これによって、トーリックＩＯＬの表面を含む領域を抽出できる。境界Ｌ８の近傍の領域についても同様に抽出する。トーリックＩＯＬの表面が含まれるように抽出する領域を設定することによって、トーリックＩＯＬの表面に印された軸マークＭが、抽出した領域内に含まれる。なお、本実施例では、トーリックＩＯＬの前面側の表面近傍の領域と、後面側の表面近傍の領域を抽出しているが、このような構成に限定されない。例えば、トーリックＩＯＬ全体の状態を解析するために、ステップＳ４６で検出された境界Ｌ７，Ｌ８との間の領域を抽出してもよい。ステップＳ４８で抽出する領域は、検査者によって予め設定できるように構成されており、これによって、検査者の所望の領域を抽出することができる。

次に、演算装置６０は、ステップＳ４８で抽出された領域について、当該領域毎の正面画像（例えば、Ｅｎ－ｆａｃｅ画像）を作成する（Ｓ５０）。すなわち、トーリックＩＯＬの前面側の表面近傍の領域のみで構成されるＥｎ－ｆａｃｅ画像（図１４参照）と、トーリックＩＯＬの後面側の表面近傍の領域のみで構成されるＥｎ－ｆａｃｅ画像が作成される。なお、Ｅｎ－ｆａｃｅ画像の作成方法は、上述のステップＳ１８で用いた方法と同様であるため、詳細な説明は省略する。ステップＳ５０では、トーリックＩＯＬの前面側の表面近傍の領域のみで構成されるＥｎ－ｆａｃｅ画像と、トーリックＩＯＬの後面側の表面近傍の領域のみで構成されるＥｎ－ｆａｃｅ画像を作成する。このため、各Ｅｎ－ｆａｃｅ画像において、当該領域以外の部位（例えば、被検眼Ｅの組織（前房、後嚢、硝子体等）やトーリックＩＯＬの当該表面以外の部分）が重畳して表示されない。このため、検査者は、トーリックＩＯＬの表面を容易にかつ精度よく観察することができる。また、トーリックＩＯＬの軸マークＭは、前面側の表面又は後面側の表面のいずれかに印されている。トーリックＩＯＬの前面側の表面近傍の領域とトーリックＩＯＬの後面側の表面近傍の領域を別個に作成することによって、軸マークＭをより精度よく検出することができる。

次に、演算装置６０は、トーリックＩＯＬのトーリック軸について解析する（Ｓ５２）。上述したように、ステップＳ５０で作成されたトーリックＩＯＬの前面側の表面近傍の領域のみで構成されるＥｎ－ｆａｃｅ画像とトーリックＩＯＬの後面側の表面近傍の領域のみで構成されるＥｎ－ｆａｃｅ画像のいずれかにおいて、軸マークＭが表示される。演算装置６０は、ステップＳ５０で作成されたＥｎ－ｆａｃｅ画像からトーリックＩＯＬの２箇所の軸マークＭを検出し、被検眼Ｅ内に挿入されたトーリックＩＯＬのトーリック軸の角度を算出する。なお、ステップＳ５０で作成されたトーリックＩＯＬの前面側の表面近傍の領域のみで構成されるＥｎ－ｆａｃｅ画像とトーリックＩＯＬの後面側の表面近傍の領域のみで構成されるＥｎ－ｆａｃｅ画像のいずれにおいても軸マークＭが検出されなかった場合には、トーリックＩＯＬのハプティクス９４（図１５参照）の位置を検出してもよい。ハプティクス９４は、ＩＯＬを固定するためにＩＯＬの周縁部から突出している部分である。ハプティクス９４の位置を検出することによって、軸マークＭの位置を予測することができる。したがって、ステップＳ５０で作成された正面画像から軸マークＭが検出できなかった場合には、ハプティクス９４の位置を検出し、検出されたハプティクス９４の位置から予測される軸マークＭの位置に基づいて、トーリックＩＯＬのトーリック軸の角度を算出してもよい。また、演算装置６０は、被検眼Ｅの強主径線９０に対するトーリックＩＯＬのトーリック軸のずれ量（角度）を算出する。

最後に、演算装置６０は、タッチパネル５６に解析結果を出力する（Ｓ５４）。例えば、図１５は、タッチパネル５６に表示される解析結果の一例を示している。図１５に示すように、タッチパネル５６には、ステップＳ４２で取得した被検眼Ｅの角膜形状マップと、トーリックＩＯＬのトーリック軸９２とを重ねて表示した画像が表示されている。このように、被検眼Ｅの角膜形状マップとトーリックＩＯＬのトーリック軸９２を重ねて表示することによって、被検眼Ｅ内に挿入されたトーリックＩＯＬのトーリック軸９２の角度のずれ量を容易に評価することができる。

なお、本実施例では、ステップＳ４４において、角膜形状に基づいてラスタースキャン方式のＢスキャン方向を設定したが、このような構成に限定されない。例えば、被検眼Ｅの中間透光体の乱視軸に基づいてラスタースキャン方式のＢスキャン方向を設定してもよい。具体的には、被検眼Ｅの全屈折力を算出又は取得し、被検眼Ｅの全屈折力の乱視成分を算出する。そして、被検眼Ｅの全屈折力から角膜乱視成分を除去して、被検眼Ｅの中間透光体の乱視軸を算出する。演算装置６０は、算出された被検眼Ｅの中間透光体の乱視軸と略一致するようにラスタースキャン方式のＢスキャン方向を設定し、被検眼Ｅの断層画像を撮影する。トーリックＩＯＬが挿入された被検眼Ｅでは、全屈折力から角膜乱視成分を除去するとトーリックＩＯＬのトーリック軸と略一致する。すなわち、トーリックＩＯＬが挿入された被検眼Ｅでは、中間透光体の乱視軸とトーリック軸とが略一致することになる。トーリックＩＯＬのトーリック軸が角膜の強主径線に対して大きくずれた状態でトーリックＩＯＬが被検眼Ｅ内に固定されている場合、Ｂスキャン方向を被検眼Ｅの強主径線９０と平行な方向に設定すると、トーリック軸方向とＢスキャン方向が大きくずれてしまう。中間透光体の乱視軸に基づいてＢスキャン方向を設定することによって、トーリックＩＯＬのトーリック軸と略一致する方向でスキャンすることができる。このため、トーリック軸が角膜の強主径線に対してずれていても、トーリックＩＯＬの乱視トーリック軸方向を正確に把握することができる。

以上、本明細書に開示の技術の具体例を詳細に説明したが、これらは例示に過ぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。また、本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。

１０：光源
１４：干渉光学系
２０：スキャニング－アライメント光学系
２４：参照部
４０：バランス検出器
５０：Ｋ－ｃｌｏｃｋ発生装置
５２：第１駆動装置
５４：第２駆動装置
５６：タッチパネル
６０：演算装置
９０：被検眼の強主径線
９２：トーリックＩＯＬのトーリック軸
Ｅ：被検眼
Ｍ：軸マーク

Claims (6)

1. 被検眼の前眼部の断層画像を撮影する撮影部と、
   演算部と、を備えており、
   前記演算部は、
   前記撮影部で撮影された前記被検眼の前眼部の断層画像における組織間の境界を検出する境界検出処理と、
   前記被検眼の前眼部の断層画像から、前記境界検出処理によって検出された境界によって画定される組織又は当該組織の近傍に設定された特定領域を抽出する抽出処理と、
   前記抽出処理によって抽出された前記特定領域の画像データを用いて、前記特定領域の正面画像を生成する正面画像生成処理と、を実行可能に構成されており、
   前記境界検出処理は、トーリック眼内レンズが挿入された被検眼の断層画像における挿入されたトーリック眼内レンズと被検眼の組織との境界を検出し、
   前記抽出処理は、前記挿入されたトーリック眼内レンズと前記被検眼の組織との境界の近傍に設定された特定領域を抽出し、
   前記特定領域は、前記トーリック眼内レンズの表面を含んでおり、
   前記演算部は、前記正面画像生成処理によって生成された正面画像に基づいてトーリック眼内レンズのトーリック軸方向を算出するトーリック軸方向算出処理をさらに実行可能に構成されている、眼科装置。
2. 前記撮影部で撮影された前記被検眼の前眼部の断層画像を表示する表示部と、
   検査者によって操作され、前記表示部に表示された前記断層画像において前記特定領域を設定する特定領域設定部と、をさらに備えており、
   前記演算部は、前記特定領域設定部で設定された前記特定領域の正面画像を生成する、請求項１に記載の眼科装置。
3. 前記演算部は、前記正面画像生成処理によって生成された正面画像に基づいて、前記特定領域内の状態を解析する解析処理をさらに実行可能に構成されている、請求項１又は２に記載の眼科装置。
4. 前記撮影部は、前記被検眼の角膜形状に基づいてスキャン方向を設定して、前記境界検出処理に用いる前記被検眼の前眼部の断層画像を撮影する、請求項１～３のいずれか一項に記載の眼科装置。
5. 前記撮影部は、ラスタースキャン方式で前記被検眼の前眼部の断層画像を撮影し、
   ラスタースキャン方式のスキャン方向は、前記被検眼の角膜の強主径線と略平行な方向である、請求項４に記載の眼科装置。
6. 前記角膜形状を示す角膜形状マップと、前記トーリック軸方向算出処理によって算出されたトーリック眼内レンズのトーリック軸方向を示す画像とを重ねて表示する表示部をさらに備える、請求項４又は５に記載の眼科装置。
   

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