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JP6977721B2 - 直流回路 - Google Patents

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JP6977721B2 JP2018523572A JP2018523572A JP6977721B2 JP 6977721 B2 JP6977721 B2 JP 6977721B2 JP 2018523572 A JP2018523572 A JP 2018523572A JP 2018523572 A JP2018523572 A JP 2018523572A JP 6977721 B2 JP6977721 B2 JP 6977721B2
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Description

本開示は、直流回路、移動体及び電力供給システムに関する。
直流給電でも交流給電でも、電力の切断時にはアーク放電が発生する。交流の場合、所定の時間毎(例えば10ミリ秒毎)に電圧がゼロとなる瞬間があるので、アーク放電は少なくとも上記所定の時間内(例えば10ミリ秒以内)に自然に止まる。しかし直流給電では、ゼロ電圧となる瞬間がないため、アーク放電は自然には止まらない。
そのため、直流給電の場合に電力の切断時にアーク放電の発生を抑えることを目的とした技術が開示されている(特許文献1,2等参照)。
特開2003−203721号公報 特表2014−522088号公報
直流給電の場合に電力の切断時にアーク放電の発生を抑えることはもちろんであるが、アーク放電の発生を抑えるための構成が大規模なものになるのは好ましくなく、またアーク放電の発生を抑えるための構成を加えることで直流給電の最中に電力供給効率を低下させるのも好ましくない。従って、直流電力供給時の電力効率を低下させずに、直流電力の切断時にアーク放電の発生を小規模の構成で抑制することが望ましい。
そこで本開示では、直流電力供給時の電力効率を低下させずに直流電力の切断時にアーク放電の発生を小規模の構成で抑制するとともに、アーク放電の抑制に半導体スイッチを用いた際に当該半導体スイッチの劣化時による短絡が発生しても安全を確保することが可能な、新規かつ改良された直流回路、移動体及び電力供給システムを提案する。
本開示によれば、直流が流れる経路において並列に設けられる第1の電流経路及び第2の電流経路と、前記第1の電流経路上に設けられる第1のスイッチを用いて前記第2の電流経路における直流の遮断時に所定期間パルス状の電流を流す回路と、前記第1のスイッチの前段に設けられるヒューズと、前記ヒューズと前記回路との間に設けられる抵抗体と、を備え、前記ヒューズは、前記回路の定格通電時間における定格通電電流が流れることによる前記抵抗体の温度では溶断しない定格を有する、直流回路が提供される。
また本開示によれば、直流が流れる経路において並列に設けられる第1の電流経路及び第2の電流経路と、前記第1の電流経路上に設けられる第1の電流ヒューズと、前記第1の電流経路上に、前記第1の電流ヒューズと並列に設けられる少なくとも2つの熱ヒューズと、前記第1の電流ヒューズ及び前記少なくとも2つの熱ヒューズの後段に互い違いに並列に設けられる2つのダイオードと、前記2つの熱ヒューズと、前記第2の電流経路における直流の遮断時に所定期間パルス状の電流を流す回路との間に設けられる抵抗体と、前記抵抗体と並列に設けられる第2の電流ヒューズと、を備え、前記第2の電流ヒューズは、前記回路の定格通電時間における定格通電電流が流れることによる前記抵抗体の温度では溶断しない定格を有する、直流回路が提供される。
また本開示によれば、直流が流れる経路において並列に設けられる第1の電流経路及び第2の電流経路と、前記第1の電流経路上に設けられる第1のスイッチを用いて前記第2の電流経路における直流の遮断時に所定期間パルス状の電流を流す回路と、前記第1のスイッチの前段に設けられ、ヒューズの張力により接続が保持される第2のスイッチと、を備え、前記ヒューズが溶断すると前記第2のスイッチが開放状態となり、前記ヒューズは、前記回路の定格通電時間における定格通電電流では溶断しない定格を有する、直流回路が提供される。
また本開示によれば、上記直流回路を備える、移動体が提供される。
また本開示によれば、直流電力を供給するバッテリと、前記バッテリから供給される直流電力による駆動する駆動部と、前記バッテリと前記駆動部との間に設けられる、少なくとも1つの、上記直流回路と、を備える、電力供給システムが提供される。
以上説明したように本開示によれば、直流電力供給時の電力効率を低下させずに直流電力の切断時にアーク放電の発生を小規模の構成で抑制するとともに、アーク放電の抑制に半導体を用いた際に当該半導体の劣化時による短絡が発生しても安全を確保することが可能な、新規かつ改良された直流回路、移動体及び電力供給システムを提供することが出来る。
なお、上記の効果は必ずしも限定的なものではなく、上記の効果とともに、または上記の効果に代えて、本明細書に示されたいずれかの効果、または本明細書から把握され得る他の効果が奏されてもよい。
本開示の一実施形態に係る直流回路の構成例を示す説明図である。 ヒューズF1が溶断した状態の直流回路100を示す説明図である。 ヒューズF1に流れる電流の時間変化をグラフで示す説明図である。 正常時におけるスイッチFS1及びヒューズF1の状態を示す説明図である。 ヒューズF1が溶断した場合のスイッチFS1及びヒューズF1の状態を示す説明図である。 正常時におけるスイッチFS1及びヒューズF1の状態を示す説明図である。 ヒューズF1が溶断した場合のスイッチFS1及びヒューズF1の状態を示す説明図である。 正常時におけるスイッチFS1及びスイッチFS1及びヒューズF1、F2の状態を示す説明図である。 ヒューズF1、F2が溶断した場合のスイッチFS1及びヒューズF1、F2の状態を示す説明図である。 正常時におけるスイッチFS1、ヒューズF1及びキャパシタC11の状態を示す説明図である。 ヒューズF1及びキャパシタC11に流れる電流の時間変化をグラフで示す説明図である。 本開示の一実施形態に係る直流回路の別の構成例を示す説明図である。 図12に示した直流回路100のヒューズF1に流れる電流の時間変化をグラフで示す説明図である。 スイッチFS1、ヒューズF1、F2の接続例を示す説明図である。 スイッチFS1、ヒューズF1、F2の接続例を示す説明図である。 本開示の一実施形態に係る直流回路の別の構成例を示す説明図である。 本開示の一実施形態に係る直流回路の別の構成例を示す説明図である。 本開示の一実施形態に係る直流回路の別の構成例を示す説明図である。 本開示の一実施形態に係る直流回路の動作を説明する説明図である。 直流回路100を備えた移動体40の機能構成例を示す説明図である。
以下に添付図面を参照しながら、本開示の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
<1.本開示の一実施形態>
[1.1.背景]
本開示の一実施形態について詳細に説明する前に、まず本開示の一実施形態の背景について説明する。
直流給電でも交流給電でも、電力の切断時には、電圧と電流がある所定の値以上になると、電極間の電位差によるスパークやアーク放電が発生する。交流の場合、所定の時間毎(例えば10ミリ秒毎)に電圧がゼロとなる瞬間があるので、アーク放電は少なくとも上記所定の時間内(例えば10ミリ秒以内)に自然に止まる。
しかし直流給電では、交流給電と違って電圧がゼロとなる瞬間がないため、アーク放電は自然には止まらない。アーク放電は、金属の溶断、溶着といった接点の劣化を発生させ、電力給電の信頼性が低下するおそれがある。
そのため、直流給電の場合に電力の切断時にアーク放電の発生を抑えることを目的とした技術が開示されている。例えば、コンデンサと抵抗とを用いたスナバ回路を揺動接触子の間に接続して回避する技術が従来から提案されている。
しかし、直流給電の場合にスナバ回路を用いてアーク放電を防ぐためには、容量の大きなコンデンサと小さな抵抗を用いなければ十分な効果が得られず、十分な効果を得ようとするとスナバ回路が大型化してしまう。また、スナバ回路を用いてアーク放電を防ぐ場合、直流電力の切断後に直流電源に再度接続しようとすると、容量の大きなコンデンサにチャージされた電荷によるショート電流が大きくなり、接点が溶着してしまう。
また差込プラグをプラグ受けに抜き差しすることによって直流給電を行う場合において、アーク放電の発生を防ぐために差込プラグに機械的スイッチを設け、差込プラグをプラグ受けから抜去する際にその機械的スイッチを操作することでアーク放電の発生を防ぐ技術もある。しかし、この技術では差込プラグの抜去時に機械的スイッチの操作という煩雑な操作を利用者に強いる必要が生じる。
機械的にアーク放電を除去する方法もある。しかし機械的にアーク放電を除去するためには、接点の引き剥がし速度を上げたり、磁気回路によってアークを引き剥がしたりするなどの構造が必要となり、アーク放電を除去するための回路が大型化してしまう。
直流給電の場合に電力の切断時にアーク放電の発生を抑えることを目的とした技術として、他に上記特許文献1,2等がある。
上記特許文献1は、直流給電時に電流が流れる経路上にスイッチング素子を設け、プラグ受けからの差込プラグの抜去時にスイッチング素子をオフにすることで、アーク放電の発生を抑える技術を開示している。
しかし、特許文献1に開示されている技術では、直流給電時に電流がスイッチング素子を流れるために、直流給電時にスイッチング素子において電力が消費されるとともに、直流給電時にスイッチング素子が発熱する。
上記特許文献2も、直流給電時に電流が流れる経路上にスイッチング素子を備えるアーク吸収回路を設け、プラグ受けからの差込プラグの抜去時にスイッチング素子をオフにすることで、アーク放電の発生を抑える技術を開示している。
しかし、特許文献2で開示されている技術では、アーク吸収回路として2つのスイッチング素子や、スイッチング素子をオフにするためのタイマを設けており、アーク電力を一時的に蓄えて、その蓄えた電力を放出するための回路が必要になり、回路が大型化する。
そこで本件開示者は、上述した背景に鑑み、直流電力供給時の電力効率を低下させずに直流電力の切断時にアーク放電の発生を小規模の構成で抑制することが可能な技術について鋭意検討を行った。その結果、本件開示者は、以下で説明するように、正極側の電極に2つの接点を設け、受電側の電極との接点の切り替え時に直流電力の切断時に電極間で生じる電圧を抑制することで、直流電力供給時の電力効率を低下させずに直流電力の切断時にアーク放電の発生を小規模の構成で抑制することが可能な技術を考案するに至った。
さらに、本件開示者は、アーク放電の抑制に半導体スイッチを用いた際に当該半導体スイッチの劣化時による短絡が発生しても安全を確保することが可能な技術について鋭意検討を行った。その結果、本件開示者は、以下で説明するように、アーク放電の抑制に半導体スイッチを用いた際に当該半導体スイッチの劣化時による短絡が発生しても安全を確保できる技術を考案するに至った。
以上、本開示の一実施形態の背景について説明した。続いて、本開示の実施の形態について詳細に説明する。
[1.2.構成例]
図1は、本開示の一実施形態に係る直流回路の構成例を示す説明図である。図1に示したのは、直流電源から供給される直流電力を遮断する際にアーク放電を抑制することを目的とした直流回路の構成例である。以下、図1を用いて本開示の一実施形態に係る直流回路の構成例について説明する。
図1に示した直流回路100は、直流電源(図示せず)から負荷10へ直流電力が供給される経路上に設けられている。直流電源は所定の電圧Vsの直流電力を出力する。そして図1に示した直流回路100は、直流電源の正極側と負荷10との間に備えられている。直流回路100は、直流電源からの直流電流を遮断する際にアーク放電の発生を抑制する構成を有している。
直流回路100は、MOSFET T1と、コンデンサC1と、抵抗R1と、ダイオードD1と、スイッチSW1と、スイッチ回路110と、を含んで構成される。またスイッチ回路110は、スイッチFS1と、ヒューズF1と、を含んで構成される。直流回路100は、直流が流れる経路において並列である主系統と副系統とで電流を流す。スイッチSW1が設けられている系統を主系統とし、MOSFET T1が設けられている系統を副系統とする。また、MOSFET T1と、コンデンサC1と、抵抗R1と、ダイオードD1と、は電圧積分回路として機能する。
MOSFET T1は、本実施形態ではn型のMOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor) を用いている。コンデンサC1は、MOSFET T1のドレイン端子とゲート端子との間に設けられる。また抵抗R1は、MOSFET T1のゲート端子とソース端子との間に設けられる。そしてコンデンサC1と抵抗R1とは直列に接続されている。MOSFET T1、コンデンサC1、抵抗R1、及びダイオードD1からなる回路は、スイッチSW1がオン状態からオフ状態へ切り替わる際に、直流電源から負荷10へ流れる電流を抑制するために設けられる回路である。
直流回路100の動作について説明する。スイッチSW1の状態がオフ状態になっている場合にMOSFET T1もオフ状態であり、従って直流電源から負荷10に電流は流れない。その後、スイッチSW1が操作されて、スイッチSW1の状態がオン状態に移行すると、直流電源から負荷10に電流が流れるが、この状態ではMOSFET T1は引き続きオフ状態になっており、MOSFET T1には電流が流れない。
さらにその後、スイッチSW1が操作されて、スイッチSW1の状態がオフ状態になると、直流電源から負荷10に電流が流れなくなる。この際にスイッチSW1がオフ状態になったことによって(スイッチSW1の両端が切り離されたことによって)生じるスイッチSW1の両端の電圧は、コンデンサC1を介してMOSFET T1のゲート電圧を誘起させて、MOSFET T1をオン状態にする。MOSFET T1がオン状態になると、直流電源から負荷10へ向けて、スイッチSW1の両端の電圧を低下させる方向に電流が流れる。
MOSFET T1がオン状態になり、直流電源から負荷10へ向けて、スイッチSW1の両端の電圧を低下させる方向に電流が流れることにより、スイッチSW1の両端の電圧が低減される。スイッチSW1の両端の電圧が低減されることによって、スイッチSW1がオフ状態になっても、スイッチSW1はアーク放電の発生に至ることはない。
MOSFET T1のドレイン端子とソース端子との間の電圧は、FETのゲート電圧による伝達関数に沿った電圧に収まる。スイッチSW1がオフ状態になり、スイッチSW1の両端に発生した電圧によってコンデンサC1の充電が進むと、MOSFET T1のゲート電圧が低下し、MOSFET T1はオフ状態に移行することでMOSFET T1に電流が流れなくなる。
直流回路100の抵抗R1に並列に接続されたダイオードD1は、スイッチSW1がオフ状態からオン状態に移行した場合に、抵抗R1を介さずコンデンサC1に蓄積された電荷を短時間に放電するために設けられる。
直流回路100において、ダイオードD1が抵抗R1と並列に設けられることで、例えばスイッチSW1の接続がチャタリングなどの現象を起こしても、直流回路100の電圧積分機能が短時間で復帰できるようにしている。抵抗R1は、MOSFET T1のゲート端子に電圧を供給するが、電圧の供給時間はコンデンサC1の容量と抵抗R1の抵抗値との積の関係で決まる。
そして、直流回路100には、図1に示したように、スイッチFS1及びヒューズF1を有する。スイッチFS1は、正常時(ヒューズF1が溶断していない状態をいう)には共通端子である端子a1と、固定接点である端子a2とが、可動接点により電気的に接続される状態となっている。スイッチFS1の可動接点は、弾性力を有しており、後述するようにヒューズF1が溶断すると、端子a1と端子a2とが電気的に接続されなくなる。
ヒューズF1は、MOSFET T1が設けられている副系統で過大な電流が流れると溶断する。ヒューズF1が溶断すると、スイッチFS1は、ヒューズF1による保持力を失い、端子a1と端子a2とを電気的に開放状態にする。
図2は、ヒューズF1が溶断した状態の直流回路100を示す説明図である。ヒューズF1に過大な電流が流れ、ヒューズF1が溶断すると、図2に示したようにスイッチFS1はヒューズF1による保持力を失い、端子a1と端子a2とを電気的に開放状態にする。
図1に示した直流回路100において、正常な状態、すなわち、スイッチSW1がオン状態からオフ状態に切り替わり、MOSFET T1がオン状態となってから、ヒューズF1の定格通電時間(溶断するまでの時間)より短い時間でMOSFET T1がオフ状態になれば、ヒューズF1は溶断することはない。
しかし、異常な状態、すなわちMOSFET T1が故障するなどして、スイッチSW1がオン状態からオフ状態に切り替わり、MOSFET T1がオン状態となってから、ヒューズF1の溶断時間より短い時間でMOSFET T1がオフ状態にならなければ、ヒューズF1に電流が流れ続け、ヒューズF1が溶断する。
図3は、ヒューズF1に流れる電流の時間変化をグラフで示す説明図である。図3には、直流回路100が正常な状態における、ヒューズF1に流れる電流I1の時間変化と、直流回路100が異常な状態における、ヒューズF1に流れる電流I2の時間変化と、が示されている。
直流回路100が正常な状態では、定格電流を上回る電流が流れても、ヒューズF1の定格通電時間(溶断するまでの時間)より短い時間で電流I1が低下する。従って直流回路100が正常な状態ではヒューズF1は溶断しない。しかし、直流回路100が異常な状態では、MOSFET T1がオフ状態にならず電流が流れ続け、定格通電時間を超えて定格電流を上回る電流が流れると、最終的にヒューズF1が溶断してようやく電流I2が低下する。
すなわち直流回路100は、定格電流を上回る電流が流れても定格通電時間より短い時間であればヒューズF1は溶断しないことを利用して、スイッチSW1がオン状態からオフ状態に切り替わってもスイッチSW1のアーク放電の発生を抑えることができる。また、直流回路100は、MOSFET T1が故障するなどして正常な状態では無くなった場合に、ヒューズF1の溶断によってスイッチFS1が開放状態となり、直流電源からの主系統及び副系統での再通電を抑止することができる。
図4は、正常時におけるスイッチFS1及びヒューズF1の状態を示す説明図である。また図5は、ヒューズF1が溶断した場合のスイッチFS1及びヒューズF1の状態を示す説明図である。
図4に示したように、ヒューズF1が溶断していない状態では、ヒューズF1によってスイッチFS1は、端子a1と端子a2との間が電気的に接続されている。しかし、ヒューズF1が溶断すると、スイッチFS1はヒューズF1による保持力を失い、端子a1と端子a2とを電気的に開放状態にする。
なお、スイッチFS1の可動接点は、図4等に示したように、中間付近で曲げられた構造を有していても良い。このように曲げられた構造を有することで、スイッチFS1はヒューズF1が溶断した際に端子a1と端子a2とを電気的に開放状態にしやすく出来る。
図6は、正常時におけるスイッチFS1及びヒューズF1の状態を示す説明図である。また図7は、ヒューズF1が溶断した場合のスイッチFS1及びヒューズF1の状態を示す説明図である。
図6及び図7に示したように、ヒューズF1は、スイッチFS1の可動接点のさらに先に接続されていても良い。このように、スイッチFS1の可動接点のさらに先にヒューズF1が接続されるよう構成されることで、ヒューズF1に掛かる保持力を弱め、ヒューズF1の材料として柔らかいものを利用可能とすることができる。
スイッチFS1の固定接点側の端子a1とヒューズF1の一端との間に、ヒューズF1と並列になるように別のヒューズが設けられても良い。
図8は、正常時におけるスイッチFS1及びスイッチFS1及びヒューズF1、F2の状態を示す説明図である。また図9は、ヒューズF1、F2が溶断した場合のスイッチFS1及びヒューズF1、F2の状態を示す説明図である。
ヒューズは、使用される金属によって抵抗が変化する。図8のようにヒューズF1、F2を設けることで、スイッチFS1の可動接点の保持力を強化しつつ、ヒューズF1の大型化を回避している。このように2つのヒューズを設けることで、電圧積分回路の許容遮断電流を変更しても、ヒューズF2の変更のみで済むので、構成の変更が最小限で済むという効果がある。なお、ヒューズF2は、ヒューズF1と同じ定格通電時間を有しても良いが、異なる定格通電時間を有していてもよい。
スイッチFS1の固定接点側の端子a1とヒューズF1の一端との間に、ヒューズF1と並列になるようにキャパシタが設けられても良い。
図10は、正常時におけるスイッチFS1、ヒューズF1及びキャパシタC11の状態を示す説明図である。
キャパシタC11は、スイッチSW1がオフ状態になった際に流れるパルス状の電流の一部を分流させて電荷を蓄積させるために設けられる。キャパシタC11に蓄積された電荷は、ヒューズF1を介して徐々に放出される。
図11は、ヒューズF1及びキャパシタC11に流れる電流の時間変化をグラフで示す説明図である。図11には、直流回路100が正常な状態における、ヒューズF1及びキャパシタC11に流れる電流I11、I13の時間変化と、直流回路100が異常な状態における、ヒューズF1に流れる電流I12の時間変化と、が示されている。
直流回路100が正常な状態では、ヒューズF1には符号I11で示した量の電流が流れ、キャパシタC11には符号I13で示した量の電流が流れる。図3に示した電流の推移と比較すると、キャパシタC11を設けることでヒューズF1に流れる電流の量が少なくなっていることが分かる。すなわち、キャパシタC11を設けることでヒューズF1の劣化を抑制することができる。
図12は、本開示の一実施形態に係る直流回路の別の構成例を示す説明図である。図12に示したのは、ソリッドステートリレー(SSR、半導体リレー)に機械式リレーを組み合わせて、機械式リレーのオン、オフによって直流電力の供給と遮断とを切り替えることを目的とした直流回路100の構成例である。
図12に示した直流回路100は、SSR130と、機械式リレーRY1と、ダイオードD21、D22、D23と、コンデンサC21、C22と、抵抗R21と、を備える。直流回路100は、直流が流れる経路において並列である主系統と副系統とで電流を流す。SSR130が設けられている系統を主系統とし、機械式リレーRY1が設けられている系統を副系統とする。
機械式リレーRY1は、端子V+から端子V−へ流れる電流によって発生する電磁力を用いて接点を切り替えるよう動作する。機械式リレーRY1は、端子V+から端子V−へ電流が流れていない場合は接点1bと接続し、端子V+から端子V−へ電流が流れている場合は電磁力を用いて接点1aと接続する。なお図12には図示していないが、端子V+へ直流電力を供給する直流電源が設けられていても良い。
SSR130は、端子Aから端子Bへの電力供給経路上に設けられている。本実施形態では、SSR130は、制御端子にハイ状態の電圧が印加されるとオン状態になり、制御端子にロー状態の電圧が印加されるとオフ状態となるように構成されている。
端子V+から端子V−へ電流が流れていない場合は、機械式リレーRY1に電流が流れていないので、機械式リレーRY1は接点1bと接続している。従って機械式リレーRY1の接点1bはクローズ状態であり、接点1aはオープン状態である。
その後、端子V+に電圧が印加されて端子V+から端子V−へ電流が流れると、機械式リレーRY1は徐々に電磁力を発生させる。機械式リレーRY1が発生させた電磁力がある程度まで達すると、機械式リレーRY1は接点1bとの接続を解除する。
さらに電磁力が上昇すると、機械式リレーRY1は接点1aと接続するが、その接点1aとの接続の際にはチャタリングが生じる。また端子V+に電圧が印加されると、その電圧がSSR130の制御端子に印加される、SSR130はオン状態になる。そして端子V+から端子V−へ電流が流れると、ダイオードD21を通じてコンデンサC21に電荷が蓄積される。
さらにその後、端子V+に電圧が印加されなくなり、端子V+から端子V−へ電流が流れなくなると、機械式リレーRY1は徐々に電磁力を減少させる。機械式リレーRY1が発生させた電磁力が減少を始めると、機械式リレーRY1は接点1aとの接続を解除する。さらに電磁力が減少すると、機械式リレーRY1は接点1bと接続するが、その接点1bとの接続の際にはチャタリングが生じる。
この際、コンデンサC21は、機械式リレーRY1は接点1bと接続するまでの間、SSR130をオン状態とさせるだけの電力を蓄積できることが望ましい。またこの際、ダイオードD22が逆バイアスから解放されて導通し、コンデンサC22が機械式リレーRY1のコイルを通して動作する。
すなわち、コンデンサC22は、機械式リレーRY1が接点1bと接続する際のチャタリングを吸収する。またコンデンサC22は、ダイオードD23を通してコンデンサC21の放電回路も形成するとともに機械式リレーRY1のサージを吸収させている。
従って図12に示した直流回路100は、端子V+から端子V−へ電流が流れなくなり、機械式リレーRY1が接点1aとの接続を解除してもアークの発生を抑え、サージを吸収することが出来る。また図12に示した直流回路100は、端子の数を4つにして、一般的なリレーと同じような接続を可能にしたことで、既存のリレーから置き換えて使用することができる。
図12に示した直流回路100は、スイッチFS1及びヒューズF1を備えている。SSR130の半導体スイッチが故障して正常にオフ状態に移行しなくなると、端子Aから流れる電流によっていずれヒューズF1が溶断する。ヒューズF1が溶断すると、機械式リレーRY1の接点1a側の経路上の、スイッチFS1がオフ状態となる。
機械式リレーRY1の接点1a側の経路上の、スイッチFS1がオフ状態となると、機械式リレーRY1が接点1a側に接続したとしても電流は端子Aから端子Bへ流れることはなくなる。従って、図12に示した直流回路100は、SSR130の半導体スイッチが故障するなどして正常にオフ状態に移行しなくなったとしても、機械式リレーRY1による再通電を抑止することができる。
図13は、図12に示した直流回路100のヒューズF1に流れる電流の時間変化をグラフで示す説明図である。図13には、直流回路100が正常な状態における、ヒューズF1に流れる電流I21の時間変化と、直流回路100が異常な状態における、ヒューズF1に流れる電流I22の時間変化と、が示されている。
直流回路100が正常な状態では、定格電流を上回る電流が流れても、ヒューズF1の定格通電時間(溶断するまでの時間)より短い時間で電流I21が低下する。従って直流回路100が正常な状態ではヒューズF1は溶断しない。しかし、直流回路100が異常な状態では、SSR130がオフ状態にならず電流が流れ続け、定格通電時間を超えて定格電流を上回る電流が流れると、最終的にヒューズF1が溶断してようやく電流I2が低下する。
すなわち直流回路100は、定格電流を上回る電流が流れても定格通電時間より短い時間であればヒューズF1は溶断しないことを利用して、スイッチSW1がオン状態からオフ状態に切り替わってもスイッチSW1のアーク放電の発生を抑えることができる。また、直流回路100は、SSR130が故障するなどして正常な状態では無くなった場合に、ヒューズF1の溶断によってスイッチFS1が開放状態となり、直流電源からの主系統及び副系統での再通電を抑止することができる。
図14は、スイッチFS1、ヒューズF1、F2の接続例を示す説明図である。図14に示したように、スイッチFS1の共通端子側の端子a1と、固定接点側の端子a2との間に、スイッチFS1と並列にヒューズF2が設けられても良い。MOSFET T1が故障するなどして正常な状態では無くなった場合に、ヒューズF1に一時的に過大な電流が流れることでヒューズF1が溶断する。図14に示した構成は、ヒューズF1が溶断してスイッチFS1が開放状態となる際のアークの発生を、ヒューズF2に電力を流すことで抑えていることを特徴としている。
図15は、図14に示したヒューズF1、F2がいずれも溶断した状態を示す説明図である。ヒューズF1に一時的に過大な電流が流れることでヒューズF1が溶断して、スイッチFS1が開放状態となる際にさらにヒューズF2に電流が流れ、ヒューズF2も溶断する。このようにヒューズF1、F2動作することで、ヒューズF1が溶断してスイッチFS1が開放状態となる際のアークの発生を抑えることができる。
図14には、スイッチFS1と並列にヒューズF2が設けられている例を示した。この例において、ヒューズF1は、図6に示したように、スイッチFS1の可動接点の先から接続されていても良い。また図10に示したように、スイッチFS1の固定接点側の端子a1とヒューズF1の一端との間に、ヒューズF1と並列になるようにキャパシタが設けられている構成に加え、スイッチFS1と並列にヒューズF2が設けられる構成であっても良い。
図16は、本開示の一実施形態に係る直流回路の別の構成例を示す説明図である。図16に示したのは、電圧積分回路を構成するMOSFET T1がショート状態で故障した場合であってもオープン状態で故障した場合であってもアークの発生を抑える構成とした直流回路100の例である。
図16には、直流電流を遮断するスイッチSW1の一方の接点、例えば固定接点側に、温度ヒューズF1を使った抵抗体付きサーモプロテクタTHP1を接続した直流回路100が示されている。
図16に示した直流回路100の動作を説明する。スイッチSW1の状態がオフ状態になっている場合ではMOSFET T1もオフ状態であり、従って直流電源側(IN)から負荷側(OUT)に電流は流れない。その後、スイッチSW1が操作されて、スイッチSW1の状態がオン状態に移行すると、直流電源側(IN)から負荷側(OUT)に電流が流れるが、この状態ではMOSFET T1は引き続きオフ状態になっており、MOSFET T1には電流が流れない。
さらにその後、スイッチSW1が操作されて、スイッチSW1の状態がオフ状態になると、直流電源側(IN)から負荷側(OUT)に電流が流れなくなる。この際にスイッチSW1がオフ状態になったことによって(スイッチSW1の両端が切り離されたことによって)生じるスイッチSW1の両端の電圧は、コンデンサC1を介してMOSFET T1のゲート電圧を誘起させて、MOSFET T1をオン状態にする。MOSFET T1がオン状態になると、直流電源から負荷10へ向けて、スイッチSW1の両端の電圧を低下させる方向に電流が流れる。
MOSFET T1がオン状態になり、直流電源側(IN)から負荷側(OUT)へ向けて、スイッチSW1の両端の電圧を低下させる方向に電流が流れることにより、スイッチSW1の両端の電圧が低減される。スイッチSW1の両端の電圧が低減されることによって、スイッチSW1がオフ状態になっても、スイッチSW1はアーク放電の発生に至ることはない。
MOSFET T1のドレイン端子とソース端子との間の電圧は、FETのゲート電圧による伝達関数に沿った電圧に収まる。スイッチSW1がオフ状態になり、スイッチSW1の両端に発生した電圧によってコンデンサC1の充電が進むと、MOSFET T1のゲート電圧が低下し、MOSFET T1はオフ状態に移行することでMOSFET T1に電流が流れなくなる。
直流回路100の抵抗R2に並列に接続されたダイオードDZ1は、スイッチSW1がオフ状態からオン状態に移行した場合に、抵抗R2を介さずコンデンサC1に蓄積された電荷を短時間に放電するために設けられる。
ここで、MOSFET T1がショート状態で故障した場合、抵抗体付きサーモプロテクタTHP1の抵抗R3に電流が流れ続け、抵抗R3が発熱する。そして抵抗R3の温度が所定の溶断温度以上になると、温度ヒューズF1が溶断する。温度ヒューズF1が溶断すると、スイッチSW1に電圧が掛かることが抑止される。
また、MOSFET T1がオープン状態で故障した状態で、スイッチSW1をオフにすると、MOSFET T1に電流が流れない。しかし、温度ヒューズF1を設けていることで、スイッチSW1をオフにした際に発生するアーク熱で温度ヒューズF1が溶断する。従って図16に示した直流回路100は、MOSFET T1がオープン状態で故障した状態で、スイッチSW1をオフにしても、安全に直流電流を遮断することが出来る。
図17は、本開示の一実施形態に係る直流回路の別の構成例を示す説明図である。図17に示したのは、図16に示した直流回路100における抵抗R3と並列にヒューズF2が備えられた直流回路100の構成例である。このように、抵抗R3と並列にヒューズF2が備えられることで、MOSFET T1がショート状態で故障した場合にまずヒューズF2を溶断させる。図17に示した直流回路100は、ヒューズF2を溶断させることでスイッチSW1に電圧が掛かることが抑止される。
図18は、スイッチ回路110の別の構成例を示す説明図である。図18に示したのは、端子a、bの間に設けられる電流ヒューズFc1と、端子aと端子b、cとの間に設けられるサーモプロテクタFtp1と、ダイオードD31、D32と、を備えたスイッチ回路である。サーモプロテクタFtp1は、直列に接続される温度ヒューズFt1、Ft2と、温度ヒューズFt1、Ft2の間と、端子cとの間に設けられ、抵抗R1と、を備える。抵抗R1は、温度ヒューズFt1、Ft2を加熱させるために設けられている。なお、端子cには、例えば上述の電圧積分回路のような、正常時には短期間だけ電流が流れる回路が接続される。
電流ヒューズFc1と、抵抗R1に並列に接続される電流ヒューズFc2とは、直流ヒューズであり、溶断時のアークはヒューズ筐体の内部でのみ発生し、アークの発生後は消弧剤により消化される構造となっているものを利用する。
温度ヒューズFt1、Ft2と電流ヒューズFc1を並列に接続するだけでは、それぞれの抵抗値に従って常時電流が分流する。常時電流が分流することで、電流ヒューズFc1の劣化が早まる可能性がある。一般的な温度ヒューズの内部抵抗は1.5mΩ〜15mΩ程度であり、また1A定格の場合では電流ヒューズの内部抵抗は120mΩ、5A定格の場合では16mΩとなる。従って、ヒューズの組み合わせによっては半分が電流ヒューズに流れる場合もありうる。
そこで、図18に示したスイッチ回路の構成例では、2つのダイオードD31、D32を設けている。2つのダイオードD31、D32は、図18に示したように電流を流す方向が異なっている。なお、2つのダイオードD31、D32は、双方向性を有するダイオードに置き換えられても良い。
2つのダイオードD31、D32を設けることで、2つのダイオードD31、D32の順方向電圧(例えば、おおよそ0.65V)以上の電圧が温度ヒューズFt1、Ft2の抵抗によって発生した場合にのみ、電流ヒューズFc1に電流が流れ始める。そのため、温度ヒューズFt1、Ft2の内部抵抗が例えば15mΩの場合は、40A以上の電流が流れる必要があり、通常使用では電流ヒューズFc1側に流れることはなく、温度ヒューズFt1、Ft2が溶断する。
2つのダイオードD31、D32を設けることにより温度ヒューズFt1、Ft2の内部抵抗値が変化ししたときにのみ電流ヒューズFc1に分流されるようにして電流ヒューズFc1の劣化を防ぐことができる。
図19は、図18に示した回路の端子a−b間に流れる電流と、端子cに流れる電流の例を示す説明図である。図18の端子cには、端子a−b間に流れる電流量と同レベルの電流値を持つパルス状の電流が流れる。その電流が間欠的に流れる状態では電流ヒューズFc2は溶断しない容量を持ち、またその分流によるによる抵抗R1の発熱では温度ヒューズFt1、Ft2は溶断しない熱容量としている。
しかし、何らかの異常が発生するなどして、時刻t1より端子cに定常的に電流が流れると、時刻t2の時点で電流ヒューズFc2が溶断する。電流ヒューズFc2が溶断すると、抵抗R1に分流した電流による発熱で、やがて時刻t3において温度ヒューズFt1、Ft2が溶断する。温度ヒューズFt1、Ft2が溶断すると、端子a−b間の電流が遮断され、その電流が電流ヒューズFc1に分流する。そして、やがて端子a−b間の電流により時刻t4において電流ヒューズFc1が溶断する。
なお、図19に示したそれぞれの時刻t1、t2、t3、t4の関係は一例であり、それぞれのヒューズが溶断する時刻は係る例に限定されるものではない。
電流ヒューズFc1は、その特性上、温度ヒューズFt1,Ft2の抵抗値の総和よりもよりも大きい抵抗値を持つ。図18に示した回路は、通常は電流ヒューズFc1に流れる電流は微小なため、溶断しないことを利用している。例えば、電流ヒューズFc1は、1Aで溶断するヒューズを選択している。
端子a−b間に通常流れる電流が2Aであるとすると、温度ヒューズFt1,Ft2の溶断時にアークが発生するが、そのアークエネルギーは電流ヒューズFc1に吸収される。そしてそのアークエネルギーは電流ヒューズFc1の溶断に形を変えるため、図18に示した回路は、端子cに定常的に電流が流れるような場合であってもアークの発生を抑えることができる。
図20は、直流回路100を備えた移動体40の機能構成例を示す説明図である。移動体40は、例えば、ガソリン車のようにガソリンを動力源とする移動体であってもよく、電気自動車、ハイブリッド車、電気オートバイ等の、充放電可能なバッテリを主な動力源とする移動体であってもよい。図20には、移動体40に、バッテリ210と、バッテリから供給される電力により駆動する駆動部220と、が備えられた場合の例が示されている。駆動部220には、例えばワイパー、パワーウィンドウ、ライト、カーナビゲーションシステム、エアーコンディショナのような車両に備えられる装備品や、モーター等の移動体40を駆動させる装置などが含まれうる。
そして図20に示した移動体40には、バッテリ210から駆動部220へ直流電力が供給される経路の途中に、直流回路100が設けられている。図20に示した移動体40は、バッテリ210から駆動部220へ直流電力が供給される経路上に、直流回路100が設けられることで、例えばバッテリ210を一時着脱させる際等にアーク放電の発生を抑えることが出来る。
なお図20には、直流回路100が1つだけ備えられている移動体40の例を示したが、本開示は係る例に限定されるものではない。すなわち、直流回路100は直流電力が供給される経路の途中に複数設けられても良い。また直流回路100は、バッテリ210から駆動部220へ直流電力が供給される経路の途中だけでなく、他の場所、例えばバッテリ210を直流電力で充電する際の経路の途中に設けられても良い。移動体40は、バッテリ210を直流電力で充電する際の経路の途中に直流回路100を設けることで、安全にバッテリ210を直流電力で充電することができる。
<2.まとめ>
以上説明したように本開示の実施の形態によれば、直流電力の切断時に電極間で生じる電圧を抑制することで、直流電力供給時の電力効率を低下させずに直流電力の切断時にアーク放電の発生を小規模の構成で抑制することが可能な直流回路100が提供される。
本開示の実施の形態に係る直流回路100は、MOSFET T1が故障するなどして正常な状態では無くなった場合に、ヒューズF1の溶断によってスイッチFS1が開放状態となり、直流電源からの主系統及び副系統での再通電を抑止することができる。
以上、添付図面を参照しながら本開示の好適な実施形態について詳細に説明したが、本開示の技術的範囲はかかる例に限定されない。本開示の技術分野における通常の知識を有する者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、これらについても、当然に本開示の技術的範囲に属するものと了解される。
また、本明細書に記載された効果は、あくまで説明的または例示的なものであって限定的ではない。つまり、本開示に係る技術は、上記の効果とともに、または上記の効果に代えて、本明細書の記載から当業者には明らかな他の効果を奏しうる。
なお、以下のような構成も本開示の技術的範囲に属する。
(1)
直流が流れる経路において並列に設けられる第1の電流経路及び第2の電流経路と、
前記第1の電流経路上に設けられる第1のスイッチを用いて前記第2の電流経路における直流の遮断時に所定期間パルス状の電流を流す回路と、
前記第1のスイッチの前段に設けられるヒューズと、
前記ヒューズと前記回路との間に設けられる抵抗体と、
を備え、
前記ヒューズは、前記回路の定格通電時間における定格通電電流が流れることによる前記抵抗体の温度では溶断しない定格を有する、直流回路。
(2)
前記回路は、前記第1の電流経路を流れる直流の量を抑制する回路である、請求項1に記載の直流回路。
(3)
前記回路は、
前記第1の電流経路上に設けられ、前記第2の電流経路で直流が供給されなくなった時点でオン状態になってソース側へ流れる電流を減少させるスイッチング素子と、
前記第1の電流経路で直流が供給されなくなった時点で充電が開始され、前記第2の電流経路で直流が供給されなくなった後に前記スイッチング素子のゲート電圧を上昇させる容量素子と、
前記スイッチング素子のゲート端子に電圧を印加する時間を、前記容量素子と共に設定する抵抗素子と、
を備える、請求項2に記載の直流回路。
(4)
直流が流れる経路において並列に設けられる第1の電流経路及び第2の電流経路と、
前記第1の電流経路上に設けられる第1の電流ヒューズと、
前記第1の電流経路上に、前記第1の電流ヒューズと並列に設けられる少なくとも2つの熱ヒューズと、
前記第1の電流ヒューズ及び前記少なくとも2つの熱ヒューズの後段に互い違いに並列に設けられる2つのダイオードと、
前記2つの熱ヒューズと、前記第2の電流経路における直流の遮断時に所定期間パルス状の電流を流す回路との間に設けられる抵抗体と、
前記抵抗体と並列に設けられる第2の電流ヒューズと、
を備え、
前記第2の電流ヒューズは、前記回路の定格通電時間における定格通電電流が流れることによる前記抵抗体の温度では溶断しない定格を有する、直流回路。
(5)
直流が流れる経路において並列に設けられる第1の電流経路及び第2の電流経路と、
前記第1の電流経路上に設けられる第1のスイッチを用いて前記第2の電流経路における直流の遮断時に所定期間パルス状の電流を流す回路と、
前記第1のスイッチの前段に設けられ、ヒューズの張力により接続が保持される第2のスイッチと、
を備え、
前記ヒューズが溶断すると前記第2のスイッチが開放状態となり、
前記ヒューズは、前記回路の定格通電時間における定格通電電流では溶断しない定格を有する、直流回路。
(6)
前記回路は、前記第1の電流経路を流れる直流の量を抑制する回路である、前記(5)に記載の直流回路。
(7)
前記回路は、
前記第1の電流経路上に設けられ、前記第2の電流経路で直流が供給されなくなった時点でオン状態になってソース側へ流れる電流を減少させるスイッチング素子と、
前記第1の電流経路で直流が供給されなくなった時点で充電が開始され、前記第2の電流経路で直流が供給されなくなった後に前記スイッチング素子のゲート電圧を上昇させる容量素子と、
前記スイッチング素子のゲート端子に電圧を印加する時間を、前記容量素子と共に設定する抵抗素子と、
を備える、前記(6)に記載の直流回路。
(8)
前記回路は、
前記第1の電流経路上に設けられ、直流電源からの直流電流の供給及び遮断を切り替える半導体リレーと、
前記第2の電流経路上に設けられ、前記半導体リレーと並列に接続されて前記直流電源からの直流電流の供給及び遮断を切り替える機械式リレーと、
を備え、
前記機械式リレーによる直流の遮断時に該機械式リレーのチャタリングを抑制する回路である、前記(6)に記載の直流回路。
(9)
前記ヒューズは、溶断していない状態では、前記第2のスイッチの可動接点と前記回路とを接続する、前記(5)〜(9)のいずれかに記載の直流回路。
(10)
前記ヒューズは、前記第2のスイッチの共通端子と可動接点との間から前記回路に接続される、前記(9)に記載の直流回路。
(11)
前記ヒューズは、前記第2のスイッチの共通端子と可動接点との間の先から前記回路に接続される、前記(9)に記載の直流回路。
(12)
前記第2のスイッチの共通端子と前記回路との間に、さらに第2のヒューズを備える、前記(9)〜(11)のいずれかに記載の直流回路。
(13)
前記第2のヒューズは、前記ヒューズと異なる定格特性を有する、前記(12)に記載の直流回路。
(14)
前記第2のスイッチの共通端子と前記回路との間にキャパシタを備える、前記(9)に記載の直流回路。
(15)
前記第2のスイッチと並列に第2のヒューズを備える、前記(5)に記載の直流回路。
(16)
前記(1)〜(15)のいずれかに記載の直流回路を備える、移動体。
(17)
直流電力を供給するバッテリと、
前記バッテリから供給される直流電力による駆動する駆動部と、
前記バッテリと前記駆動部との間に設けられる、少なくとも1つの、前記(1)〜(15)のいずれかに記載の直流回路と、
を備える、電力供給システム。
100 直流回路

Claims (12)

  1. 直流が流れる経路において並列に設けられる第1の電流経路及び第2の電流経路と、
    前記第1の電流経路上に設けられる第1のスイッチを用いて前記第2の電流経路における直流の遮断時に所定期間パルス状の電流を流す回路と、
    前記第1のスイッチの前段に設けられるヒューズと、
    前記ヒューズと前記回路との間に設けられる抵抗体と、
    を備え、
    前記ヒューズは、前記回路の定格通電時間における定格通電電流が流れることによる前記抵抗体の温度では溶断しない定格を有する、直流回路。
  2. 前記回路は、前記第1の電流経路を流れる直流の量を抑制する回路である、請求項1に記載の直流回路。
  3. 前記回路は、
    前記第1の電流経路上に設けられ、前記第2の電流経路で直流が供給されなくなった時点でオン状態になってソース側へ流れる電流を減少させるスイッチング素子と、
    前記第1の電流経路で直流が供給されなくなった時点で充電が開始され、前記第2の電流経路で直流が供給されなくなった後に前記スイッチング素子のゲート電圧を上昇させる容量素子と、
    前記スイッチング素子のゲート端子に電圧を印加する時間を、前記容量素子と共に設定する抵抗素子と、
    を備える、請求項2に記載の直流回路。
  4. 直流が流れる経路において並列に設けられる第1の電流経路及び第2の電流経路と、
    前記第1の電流経路上に設けられる第1の電流ヒューズと、
    前記第1の電流経路上に、前記第1の電流ヒューズと並列に設けられる少なくとも2つの熱ヒューズと、
    前記第1の電流ヒューズ及び前記少なくとも2つの熱ヒューズの後段に互い違いに並列に設けられる2つのダイオードと、
    前記2つの熱ヒューズと、前記第2の電流経路における直流の遮断時に所定期間パルス状の電流を流す回路との間に設けられる抵抗体と、
    前記抵抗体と並列に設けられる第2の電流ヒューズと、
    を備え、
    前記第2の電流ヒューズは、前記回路の定格通電時間における定格通電電流が流れることによる前記抵抗体の温度では溶断しない定格を有する、直流回路。
  5. 直流が流れる経路において並列に設けられる第1の電流経路及び第2の電流経路と、
    前記第1の電流経路上に設けられる第1のスイッチを用いて前記第2の電流経路における直流の遮断時に所定期間パルス状の電流を流す回路と、
    前記第1のスイッチの前段に設けられ、ヒューズの張力により接続が保持される第2のスイッチと、
    を備え、
    前記ヒューズが溶断すると前記第2のスイッチが開放状態となり、
    前記ヒューズは、前記回路の定格通電時間における定格通電電流では溶断しない定格を有し、
    前記回路は、前記第1の電流経路を流れる直流の量を抑制する回路であり、
    前記回路は、
    前記第1の電流経路上に設けられ、前記第2の電流経路で直流が供給されなくなった時点でオン状態になってソース側へ流れる電流を減少させるスイッチング素子と、
    前記第1の電流経路で直流が供給されなくなった時点で充電が開始され、前記第2の電流経路で直流が供給されなくなった後に前記スイッチング素子のゲート電圧を上昇させる容量素子と、
    前記スイッチング素子のゲート端子に電圧を印加する時間を、前記容量素子と共に設定する抵抗素子と、
    を備える、直流回路。
  6. 直流が流れる経路において並列に設けられる第1の電流経路及び第2の電流経路と、
    前記第1の電流経路上に設けられる第1のスイッチを用いて前記第2の電流経路における直流の遮断時に所定期間パルス状の電流を流す回路と、
    前記第1のスイッチの前段に設けられ、ヒューズの張力により接続が保持される第2のスイッチと、
    を備え、
    前記ヒューズが溶断すると前記第2のスイッチが開放状態となり、
    前記ヒューズは、前記回路の定格通電時間における定格通電電流では溶断しない定格を有し、
    前記ヒューズは、溶断していない状態では、前記第2のスイッチの可動接点と前記回路とを接続する、直流回路。
  7. 前記ヒューズは、前記第2のスイッチの共通端子と可動接点との間から前記回路に接続される、請求項に記載の直流回路。
  8. 前記ヒューズは、前記第2のスイッチの共通端子と可動接点との間の先から前記回路に接続される、請求項に記載の直流回路。
  9. 前記第2のスイッチの共通端子と前記回路との間に、さらに第2のヒューズを備える、請求項のいずれか1項に記載の直流回路。
  10. 前記第2のヒューズは、前記ヒューズと異なる定格特性を有する、請求項に記載の直流回路。
  11. 前記第2のスイッチの共通端子と前記回路との間にキャパシタを備える、請求項に記載の直流回路。
  12. 直流が流れる経路において並列に設けられる第1の電流経路及び第2の電流経路と、
    前記第1の電流経路上に設けられる第1のスイッチを用いて前記第2の電流経路における直流の遮断時に所定期間パルス状の電流を流す回路と、
    前記第1のスイッチの前段に設けられ、ヒューズの張力により接続が保持される第2のスイッチと、
    を備え、
    前記ヒューズが溶断すると前記第2のスイッチが開放状態となり、
    前記ヒューズは、前記回路の定格通電時間における定格通電電流では溶断しない定格を有し、
    前記第2のスイッチと並列に第2のヒューズを備える、直流回路。
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