JP6724847B2 - 制御装置、制御プログラム、制御システム、および制御方法 - Google Patents
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Description
好ましくは、制御装置は、解析手段による解析処理に比較して、制御演算手段による制御演算およびデータ生成手段によるデータの生成を高い優先度で実行させる実行管理手段をさらに含む。
まず、本実施の形態に係る制御装置を含む制御システム1の全体構成例について説明する。
次に、本実施の形態に係る制御装置100のハードウェア構成例について説明する。
次に、制御装置100における優先度に応じた処理の実行について説明する。
次に、本実施の形態に係る制御装置100が提供する解析処理の概要について説明する。典型的には、制御装置100のプロセッサ102が、二次記憶装置108に格納されているシステムプログラムおよび/またはユーザプログラムを読出して主記憶装置106に展開して実行することで、制御装置100は解析手段として動き、解析処理が提供される。以下の説明においては、解析処理の一例として、解析対象のデータに基づいて、当該解析対象のデータを収集した制御対象において何らかの異常が生じているか否かを判定する処理(以下、「異常判定処理」とも称す。)について説明するが、本発明に係る解析処理としては、どのような処理を採用してもよい。
次に、本実施の形態に係る制御装置100のソフトウェア構成例について説明する。
次に、本実施の形態に係る解析処理の処理手順について説明する。
次に、本実施の形態に係る解析処理についてより詳細に説明する。上述したように、本実施の形態に係る解析処理においては、解析対象データの部分に相当する区間データの単位で、異常の有無または異常の可能性を判定する。それぞれの区間データに対する判定に基づいて、解析対象データの挙動を評価する必要がある。
制御対象の製造装置や生産ラインなどにおいて、各ワークに対して何らかの検査を行うように構成されている場合には、そのワークに対する検査結果と、当該ワークから取得された特徴量(サンプル)とを関連付けることで、ラベル付けされたサンプル群を取得できる。このラベル付けされたサンプル群に対して、任意のクラスタリング手法を適用することで、評価基準(正常範囲または異常範囲)を決定することができる。すなわち、クラスタリングによって得られる正常範囲または異常範囲に基づいて、評価基準であるしきい範囲を決定できる。このような評価基準を決定する処理は、制御装置100またはサポート装置200で実行されてもよいし、上位の製造管理サーバなどで実行されてもよい。
何らかの方法で決定された評価基準に基づいて異常検出処理を実行するとともに、その異常検出処理によって異常であると判定されたサンプルについての検出結果の適否をフィードバックして、評価基準を学習してもよい。例えば、異常であると判定されたサンプルを実際にユーザが確認した上で、その判定の適否を入力するようにしてもよい。正しく判定されていないサンプルが特定され、その特定されたサンプルに基づいて、評価基準を更新できる。この手法は、試行結果を評価した上で、評価基準を学習させるようなアプローチに相当する。
予めラベル付けした複数のサンプルに対して、乖離度あるいは異常度(例えば、LOF(local outlier factor)による外れ度やマハラノビス距離など)を評価できる評価関数を適用するとともに、評価関数により算出されるスコアに基づいて、しきい値を自動的に設定できる。設定されたしきい値をそのまま評価基準とすることもできるし、設定されたしきい値により規定される範囲を評価基準とすることもできる。
上述したように、本実施の形態に係る解析処理においては、異常監視期間を複数の区間に分割し、各区間において収集される解析対象データの部分をそれぞれ評価する。以下、区間数の決定方法の一例について説明する。
例えば、正常状態における解析対象データの挙動の変化が激しい場合には、分割数をより多く設定し、逆に、正常状態における解析対象データの挙動の変化が緩やかである場合には、分割数をより少なく設定してもよい。このような分割数の決定は、予め定められたロジックに基づいて制御装置100またはサポート装置200などが決定してもよい。あるいは、ユーザが正常状態における解析対象データの挙動の変化を確認しつつ、分割数を決定するようにしてもよい。このように、分割数(区間の数)は、正常状態における制御対象に関連付けられた値の時間変化に基づいて決定されてもよい。
例えば、後述するような解析対象データの挙動を可視化した場合には、解析対象データについての位置の時間変化を視認できるような粒度に設定することが好ましい。この視認できるような粒度については、予め定められたロジックに基づいて制御装置100またはサポート装置200などが決定してもよい。あるいは、ユーザが実際に解析対象データの挙動を視認した結果に基づいて、適宜調整するようにしてもよい。このように、分割数(区間の数)は、制御対象に関連付けられた値の時間変化を視認できるように決定されてもよい。
システム的な設定としては、装置出荷時に予め定められたデフォルト値を固定的に定めておいてもよいし、ユーザが任意に設定できるようにしておいてもよい。
次に、本実施の形態に係る制御装置100が提供する解析処理による解析結果の出力例について説明する。
統計情報350は、異常判定処理の通算実行回数を示す異常判定回数352と、異常が生じていると判定された回数を示す異常発生回数354と、異常が生じているとの判定についていずれの区間において最終的な判断がなされたかの分布を示す異常判定区間356とを含む。ユーザは、統計情報350の内容を確認しながら、しきい値や分割数の調整を行うこともできる。
PLC等の制御装置では、制御対象への高速かつ高精度な制御を実現するための制御演算を高い優先度でサイクリック実行する一方で、制御演算以外の付加的な処理については、低い優先度で空き時間に実行するというスケジューリングが行われる。
Claims (10)
- 制御対象を制御するための制御演算をサイクリック実行する制御演算手段と、
前記制御対象に関連付けられた値の時間変化を示すデータを生成するデータ生成手段と、
前記データ生成手段により生成されるデータに対して解析処理を実行して、予め定められた解析対象期間の単位で解析結果を繰り返し出力する解析手段とを備え、
前記データ生成手段は、前記解析対象期間に設定される複数の区間毎に、各区間における値の時間変化を示す区間データを順次出力し、
前記複数の区間についての区間データに対する解析処理に用いられるそれぞれの判定指標を格納する記憶手段を備え、
前記解析手段は、順次出力される区間データ毎に対応する判定指標を用いて解析処理を実行するとともに、前記複数の区間のうちいずれかの区間についての区間データに対する解析処理が予め定められた結果を示したときに、対象の解析対象期間に含まれる当該区間以後の区間についての区間データに対する解析処理を省略するとともに、前記データ生成手段による当該区間以後の区間についての区間データの生成を停止させる、制御装置。 - 前記解析手段は、対象の解析対象期間に含まれる先の区間についての区間データに対する解析処理の結果を利用して、当該解析対象期間に含まれる後続の区間についての区間データに対する解析処理を実行する、請求項1に記載の制御装置。
- 前記解析手段は、対象の解析対象期間に含まれる各区間についての区間データに対するそれぞれの解析処理の結果を統合したものが予め定められた評価基準に適合しているか否かを判定する、請求項2に記載の制御装置。
- 前記評価基準の設定を受付ける設定受付手段をさらに備える、請求項3に記載の制御装置。
- 前記解析手段による解析処理に比較して、前記制御演算手段による制御演算および前記データ生成手段によるデータの生成を高い優先度で実行させる実行管理手段をさらに備える、請求項1〜4のいずれか1項に記載の制御装置。
- 前記複数の区間は、正常状態における前記制御対象に関連付けられた値の時間変化に基づいて決定される、請求項1〜5のいずれか1項に記載の制御装置。
- 前記複数の区間は、前記制御対象に関連付けられた値の時間変化を視認できるように決定される、請求項1〜5のいずれか1項に記載の制御装置。
- 制御装置で実行される制御プログラムであって、前記制御プログラムは前記制御装置に 制御対象を制御するための制御演算をサイクリック実行するステップと、
前記制御対象に関連付けられた値の時間変化を示すデータを生成するステップと、
前記生成されるデータに対して解析処理を実行して、予め定められた解析対象期間の単位で解析結果を繰り返し出力するステップとを実行させ、
前記データを生成するステップは、前記解析対象期間に設定される複数の区間毎に、各区間における値の時間変化を示す区間データを順次出力するステップを含み、
前記制御装置の記憶手段には、前記複数の区間についての区間データに対する解析処理に用いられるそれぞれの判定指標が格納されており、
前記解析結果を出力するステップは、順次出力される区間データ毎に対応する判定指標を用いて解析処理を実行するとともに、前記複数の区間のうちいずれかの区間についての区間データに対する解析処理が予め定められた結果を示したときに、対象の解析対象期間に含まれる当該区間以後の区間についての区間データに対する解析処理を省略するとともに、当該区間以後の区間についての区間データの生成を停止させるステップを含む、制御プログラム。 - 制御対象を制御するための制御装置と、
前記制御装置に接続され、前記制御対象からデータを収集する入出力装置とを備え、
前記制御装置は、
前記制御対象を制御するための制御演算をサイクリック実行する制御演算手段と、
前記制御対象に関連付けられた値の時間変化を示すデータを生成するデータ生成手段と、
前記データ生成手段により生成されるデータに対して解析処理を実行して、予め定められた解析対象期間の単位で解析結果を繰り返し出力する解析手段とを備え、
前記データ生成手段は、前記解析対象期間に設定される複数の区間毎に、各区間における値の時間変化を示す区間データを順次出力し、
前記制御装置は、前記複数の区間についての区間データに対する解析処理に用いられるそれぞれの判定指標を格納する記憶手段を備え、
前記解析手段は、順次出力される区間データ毎に対応する判定指標を用いて解析処理を実行するとともに、前記複数の区間のうちいずれかの区間についての区間データに対する解析処理が予め定められた結果を示したときに、対象の解析対象期間に含まれる当該区間以後の区間についての区間データに対する解析処理を省略するとともに、前記データ生成手段による当該区間以後の区間についての区間データの生成を停止させる、制御システム。 - 制御装置で実行される制御方法であって、
制御対象を制御するための制御演算をサイクリック実行するステップと、
前記制御対象に関連付けられた値の時間変化を示すデータを生成するステップと、
前記生成されるデータに対して解析処理を実行して、予め定められた解析対象期間の単位で解析結果を繰り返し出力するステップとを備え、
前記データを生成するステップは、前記解析対象期間に設定される複数の区間毎に、各区間における値の時間変化を示す区間データを順次出力するステップを含み、
前記制御装置の記憶手段には、前記複数の区間についての区間データに対する解析処理に用いられるそれぞれの判定指標が格納されており、
前記解析結果を出力するステップは、順次出力される区間データ毎に対応する判定指標を用いて解析処理を実行するとともに、前記複数の区間のうちいずれかの区間についての区間データに対する解析処理が予め定められた結果を示したときに、対象の解析対象期間に含まれる当該区間以後の区間についての区間データに対する解析処理を省略するとともに、当該区間以後の区間についての区間データの生成を停止させるステップを含む、制御方法。
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Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP7103214B2 (ja) * | 2018-12-28 | 2022-07-20 | オムロン株式会社 | サポート装置および支援プログラム |
JP7080841B2 (ja) * | 2019-03-15 | 2022-06-06 | 株式会社東芝 | 推定装置、表示制御装置、推定システム、推定方法、プログラム、及び記憶媒体 |
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CN111060703B (zh) * | 2019-12-02 | 2023-08-04 | 苏州纽艾健康科技有限公司 | 一种试纸传感器分析方法、设备及系统 |
CN111166347B (zh) * | 2020-01-17 | 2022-02-08 | 燕山大学 | 预判脑卒中的系统、方法以及控制器和介质 |
JP7532075B2 (ja) * | 2020-04-21 | 2024-08-13 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理装置の制御方法およびプログラム |
US20220103831A1 (en) * | 2020-09-30 | 2022-03-31 | Alibaba Group Holding Limited | Intelligent computing resources allocation for feature network based on feature propagation |
JP2022158225A (ja) * | 2021-04-01 | 2022-10-17 | 株式会社キーエンス | 分析装置、その制御方法、および分析システム |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60186717A (ja) * | 1984-03-06 | 1985-09-24 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 設備状態監視方法 |
JPS61223906A (ja) * | 1985-03-29 | 1986-10-04 | Toshiba Corp | プラントの異常診断装置 |
JP3186360B2 (ja) * | 1993-07-27 | 2001-07-11 | ソニー株式会社 | アクティブマトリクス液晶パネルの検査方法及び検査装置 |
JPH07176575A (ja) * | 1993-12-21 | 1995-07-14 | Fujitsu Ltd | 半導体装置の検査方法及び検査装置 |
JP3219116B2 (ja) * | 1993-12-27 | 2001-10-15 | 横河電機株式会社 | 異常診断方法 |
US6026348A (en) | 1997-10-14 | 2000-02-15 | Bently Nevada Corporation | Apparatus and method for compressing measurement data correlative to machine status |
JP2003296851A (ja) * | 2002-02-01 | 2003-10-17 | Shimadzu System Solutions Co Ltd | 遠隔異常監視システム |
JP3674707B1 (ja) * | 2004-06-10 | 2005-07-20 | 有限会社山口ティー・エル・オー | 防災事業計画支援システムとその方法 |
JP3780299B1 (ja) * | 2005-06-24 | 2006-05-31 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 対象設備の診断方法、コンピュータプログラム、及び、対象設備を診断するための装置 |
US10180809B2 (en) * | 2006-05-17 | 2019-01-15 | Richard Fetik | Secure application acceleration system, methods and apparatus |
US7783442B2 (en) * | 2007-10-31 | 2010-08-24 | Medtronic Minimed, Inc. | System and methods for calibrating physiological characteristic sensors |
JP5401070B2 (ja) * | 2008-10-08 | 2014-01-29 | 株式会社アルバック | 処理装置の管理システム |
JP2010165242A (ja) * | 2009-01-16 | 2010-07-29 | Hitachi Cable Ltd | 稼動体の異常検出方法及び異常検出システム |
JP2010250383A (ja) | 2009-04-10 | 2010-11-04 | Omron Corp | 原単位算出装置、原単位算出装置の制御方法、および制御プログラム |
JP4729137B1 (ja) * | 2011-03-03 | 2011-07-20 | 株式会社データ・テック | 移動体に搭載される運行管理装置、携帯情報端末、運行管理サーバ、コンピュータプログラム |
KR101497290B1 (ko) | 2012-06-26 | 2015-02-27 | 도시바 미쓰비시덴키 산교시스템 가부시키가이샤 | 데이터 관리 장치, 데이터 관리 방법, 및 데이터 관리 프로그램이 기록된 기록 매체 |
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