JP6757629B2 - 基板加熱装置、基板加熱方法及び赤外線ヒータ - Google Patents
基板加熱装置、基板加熱方法及び赤外線ヒータ Download PDFInfo
- Publication number
- JP6757629B2 JP6757629B2 JP2016167793A JP2016167793A JP6757629B2 JP 6757629 B2 JP6757629 B2 JP 6757629B2 JP 2016167793 A JP2016167793 A JP 2016167793A JP 2016167793 A JP2016167793 A JP 2016167793A JP 6757629 B2 JP6757629 B2 JP 6757629B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- infrared heater
- heating
- infrared
- bend
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 358
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 title claims description 311
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 13
- 230000006837 decompression Effects 0.000 claims description 23
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 claims description 8
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 49
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 32
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 23
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 23
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 21
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 18
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 17
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 16
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 12
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 12
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 12
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 11
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 11
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 8
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 7
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 7
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 5
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 5
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 4
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 4
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 4
- 229920005575 poly(amic acid) Polymers 0.000 description 4
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 2
- 238000007872 degassing Methods 0.000 description 2
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 2
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002966 varnish Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02002—Preparing wafers
- H01L21/02005—Preparing bulk and homogeneous wafers
- H01L21/02008—Multistep processes
- H01L21/0201—Specific process step
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
- H01L21/67115—Apparatus for thermal treatment mainly by radiation
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08G—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
- C08G73/00—Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing nitrogen with or without oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule, not provided for in groups C08G12/00 - C08G71/00
- C08G73/06—Polycondensates having nitrogen-containing heterocyclic rings in the main chain of the macromolecule
- C08G73/10—Polyimides; Polyester-imides; Polyamide-imides; Polyamide acids or similar polyimide precursors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/31—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
- H01L21/3105—After-treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
- H01L21/67248—Temperature monitoring
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Polymers & Plastics (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Resistance Heating (AREA)
- Drying Of Solid Materials (AREA)
- Furnace Details (AREA)
Description
この構成によれば、カバー部が複数のベンド部を外方から覆うように第二方向に直線状に延びていることで、複数のベンド部が露出することを一括して回避することができるため、複数のベンド部が他の部分よりも降温することを一括して抑制することができる。すなわち、複数のベンド部をカバー部によって外方から一括して加熱することができるため、複数のベンド部と他の部分とで温度差が生じることを抑制することができる。したがって、赤外線ヒータの温度分布のバランスを効率よく向上することができる。加えて、赤外線ヒータが第一方向に長手を有するとともに第一方向と交差する第二方向に並んで配置された複数のストレート部を更に含むことで、複数のストレート部が互いに隣り合うことにより互いの発熱温度を高め合うことができるため、赤外線ヒータの温度分布のバランスを高い温度で向上することができる。
この構成によれば、カバー部とベンド部との間の間隔を隣り合う2つのストレート部の間の間隔以上とした場合と比較して、ベンド部が露出することをより確実に回避することができるため、ベンド部が他の部分よりも降温することをより確実に抑制することができる。すなわち、ベンド部の少なくとも一部をカバー部によって外方からより確実に加熱することができるため、ベンド部と他の部分とで温度差が生じることをより確実に抑制することができる。したがって、赤外線ヒータの温度分布のバランスをより確実に向上することができる。
ところで、第一導入部と第二導入部とが近すぎると、その部分の温度が他の部分の温度よりも降温する傾向がある。しかし、この構成によれば、第一導入部と第二導入部とがある程度離反するため、赤外線ヒータが局所的に降温することを抑制することができる。したがって、赤外線ヒータの温度分布のバランスを向上することができる。
この構成によれば、第一導入部と第二導入部とをある程度離反するため、赤外線ヒータが局所的に降温することを抑制することができる。したがって、赤外線ヒータの温度分布のバランスを向上することができる。
この構成によれば、赤外線ヒータのうち第一導入部又は第二導入部のいずれか一方からベンド部に至るまでの部分が2箇所で折り曲げられたU字管状(すなわち、赤外線ヒータの前記一辺を除く三辺に沿う形状)となるため、直管状及びL字管状の場合と比較して、赤外線ヒータの柔軟性を高くすることができる。したがって、赤外線ヒータの前記一辺が熱膨張又は熱収縮したとしても、赤外線ヒータの柔軟性によって前記一辺の膨張又は収縮を許容することができる。
この構成によれば、第一導入部及び第二導入部の配置位置が平面視で赤外線ヒータの中心を基準に点対称となるとともに、第一導入部及び第二導入部が遠く離反する。これにより、第一導入部及び第二導入部が他の部分よりも降温した場合であっても、互いの降温温度を低め合うことはなく、赤外線ヒータが局所的に過度に降温することを回避することができるため、赤外線ヒータの温度分布のバランスを可及的に向上することができる。
この構成によれば、赤外線ヒータが平面視で非対称形状をなした場合と比較して、赤外線ヒータの温度分布のバランスをより確実に向上することができる。
この構成によれば、第一導入部と第二導入部との間の距離が最小になるため、赤外線ヒータが熱膨張又は熱収縮することを可及的に抑制することができる。
この構成によれば、赤外線ヒータを配置する際に、第一導入部及び第二導入部が邪魔になることを回避することができるため、レイアウトの自由度を高めることができる。例えば、複数の赤外線ヒータを一面に敷き詰める際に、隣り合う2つの赤外線ヒータが第一導入部及び第二導入部において干渉することを回避することができるため、複数の赤外線ヒータを整然と敷き詰めることができる。
この構成によれば、上記赤外線ヒータを備えているため、ヒータユニットの温度分布のバランスを向上することができる。加えて、複数の赤外線ヒータを個別に制御可能とした場合には、一部の赤外線ヒータの出力を他の赤外線ヒータの出力よりも大きくすることができるため、基板に対して温度分布のよい加熱を行うことができる。例えば、基板の四隅の温度が低い場合には、その部分にあたる位置に配置された赤外線ヒータの出力を、他の赤外線ヒータの出力よりも大きくすることによって、その部分だけ温度を高くして基板全体の温度分布を向上させることができる。
この構成によれば、第一赤外線ヒータの温度分布と第二赤外線ヒータの温度分布とを互いに補完することができるため、ヒータユニットの温度分布のバランスをより一層向上することができる。
この構成によれば、第二赤外線ヒータが平面視で第一赤外線ヒータと異なる形状を有した場合と比較して、ヒータユニットの温度分布のバランスをより確実に向上することができる。加えて、基板サイズを変えたとしても、赤外線ヒータの個数を変えて赤外線ヒータを等間隔に配置することによって、基板に対して温度分布のよい加熱を行うことができる。ところで、赤外線ヒータが単純なストレート管の場合は、基板サイズが大きくなるとストレート管の長さを伸ばす必要があるため、赤外線ヒータの熱膨張を許容することが困難になる可能性がある。しかし、この構成によれば、基板サイズが大きくなっても赤外線ヒータのサイズは変わらないため、赤外線ヒータの熱膨張を容易に許容することができる。
この構成によれば、赤外線ヒータの形状に起因する温度分布を第一赤外線ヒータと第二赤外線ヒータとで互いに補完することができるため、ヒータユニットの温度分布のバランスをより一層向上することができる。
この構成によれば、加熱部による加熱と赤外線ヒータによる加熱とが相まって、基板をより一層効果的に加熱することができる。
この構成によれば、チャンバ内で基板の加熱温度を管理することができるため、基板を効果的に加熱することができる。
この構成によれば、共通のチャンバ内で基板への加熱部による加熱処理と赤外線ヒータによる加熱処理とを一括して行うことができる。すなわち、加熱部及び赤外線ヒータが互いに異なるチャンバに収容された場合のように、異なる2つのチャンバ間で基板を搬送させるための時間を要しない。したがって、基板の加熱処理をより一層効率良く行うことができる。加えて、異なる2つのチャンバを備えた場合と比較して、装置全体を小型化することができる。
この構成によれば、加熱部から発せられた熱が、基板の第二面の側から第一面の側に向けて伝わるようになるため、基板を効果的に加熱することができる。加えて、加熱部で基板を加熱している間に、基板に塗布された溶液の揮発又はイミド化(例えば、成膜中のガス抜き)を効率良く行うことができる。
この構成によれば、加熱部及び赤外線ヒータが基板を一定の温度でのみ加熱可能な場合と比較して、基板に塗布された溶液の成膜条件に適合するように、基板を効率良く加熱することができる。したがって、基板に塗布された溶液を段階的に乾燥させ、良好に硬化させることができる。
この構成によれば、前記位置調整部を備えない場合と比較して、基板の加熱温度を調整し易くなる。例えば、基板の加熱温度を高くする場合には加熱部及び赤外線ヒータと基板とを近接させ、基板の加熱温度を低くする場合には加熱部及び赤外線ヒータと基板とを離反させることができる。したがって、基板を段階的に加熱し易くなる。
この構成によれば、基板を加熱部と赤外線ヒータとの間で移動させることによって、加熱部及び赤外線ヒータの少なくとも一方を定位置に配置した状態で、基板の加熱温度を調整することができる。したがって、加熱部及び赤外線ヒータの少なくとも一方を移動可能とする装置を別途設ける必要がないため、簡素な構成で基板の加熱温度を調整することができる。
この構成によれば、基板を加熱部と赤外線ヒータとの間で移動させる場合に、通過部を通過させることができるため、搬送部を迂回して基板を移動させる必要がない。したがって、搬送部を迂回して基板を移動させるための装置を別途設ける必要がないため、簡素な構成で基板の移動をスムーズに行うことができる。
この構成によれば、基板を安定して支持した状態で、基板を加熱することができるため、基板に塗布された溶液を安定して成膜させることができる。
この構成によれば、複数のピンと加熱部との間での基板の受け渡しを短時間で行うことができるため、基板の加熱温度を効率良く調整することができる。
この構成によれば、基板の加熱温度を基板の面内で均一化させることができるため、膜特性を向上させることができる。例えば、ホットプレートの一面と基板の第二面とを当接させた状態で基板を加熱することによって、基板の加熱温度の面内均一性を高めることができる。
この構成によれば、基板の温度をリアルタイムで把握することができる。例えば、温度検知部の検知結果に基づいて基板を加熱することによって、基板の温度が目標値からずれることを抑制することができる。
この構成によれば、溶液から揮発した溶媒が工場側へ排出されることを防ぐことができる。また、回収部を減圧部(真空ポンプ)のラインに接続した場合には、溶液から揮発した溶媒が再び液化して真空ポンプ内に逆流することを防ぐことができる。さらに、溶液から揮発した溶媒を、洗浄液として再利用することができる。例えば、洗浄液は、ノズル先端の洗浄、ノズルに付着した液をかき取る部材に付着した液の洗浄等に用いることができる。
<基板加熱装置>
図1は、第一実施形態に係る基板加熱装置1の斜視図である。
図1に示すように、基板加熱装置1は、チャンバ2、減圧部3、ガス供給部4、加熱部5、赤外線ヒータ6、位置調整部7、搬送部8、温度検知部9、回収部11、揺動部12及び制御部15を備えている。制御部15は、基板加熱装置1の構成要素を統括制御する。便宜上、図1においては、チャンバ2、減圧部3及びガス供給部4を二点鎖線で示している。
チャンバ2は、基板10、加熱部5及び赤外線ヒータ6を収容可能である。基板10、加熱部5及び赤外線ヒータ6は、共通のチャンバ2に収容されている。チャンバ2は、直方体の箱状に形成されている。具体的に、チャンバ2は、矩形板状の天板21と、天板21と対向する矩形板状の底板22と、天板21及び底板22の外周縁に繋がる矩形枠状の周壁23とによって形成されている。例えば、周壁23の−X方向側には、チャンバ2に対して基板10の搬入及び搬出をするための基板搬出入口23aが設けられている。
減圧部3は、底板22の−Y方向側の基板搬出入口23a寄りの角部に接続されている。減圧部3は、チャンバ2内を減圧可能である。例えば、減圧部3は、ポンプ機構等の減圧機構を備えている。減圧機構は、真空ポンプ13を備えている。なお、減圧部3の接続部位は、底板22の−Y方向側の基板搬出入口23a寄りの角部に限定されない。減圧部3は、チャンバ2に接続されていればよい。
ガス供給部4は、周壁23の+X方向側の天板21寄りの角部に接続されている。ガス供給部4は、チャンバ2の内部雰囲気の状態を調整可能である。ガス供給部4は、窒素(N2)、ヘリウム(He)、アルゴン(Ar)等の不活性ガスをチャンバ2内へ供給する。なお、ガス供給部4の接続部位は、周壁23の+X方向側の天板21寄りの角部に限定されない。ガス供給部4は、チャンバ2に接続されていればよい。また、基板降温時にガスを供給することで基板冷却に使用してもよい。
例えば、後述のように、基板10に塗布されたポリイミド形成用液を硬化するときの雰囲気において、このように酸素濃度を好ましい上限以下とすることにより、ポリイミド形成用液の硬化を進行しやすくすることができる。
加熱部5は、チャンバ2内の下方に配置されている。加熱部5は、基板10を第一の温度で加熱可能である。加熱部5は、基板10を段階的に加熱可能である。例えば、第一の温度を含む温度範囲は、20℃以上かつ300℃以下の範囲である。加熱部5は、基板10の第一面10aとは反対側の第二面10b(下面)の側に配置されている。
赤外線ヒータ6は、チャンバ2内の上方に配置されている。赤外線ヒータ6は、第一の温度よりも高い第二の温度で基板10を加熱可能である。赤外線ヒータ6は、加熱部5とは別個独立して設けられている。赤外線ヒータ6は、基板10を段階的に加熱可能である。例えば、第二の温度を含む温度範囲は、200℃以上かつ600℃以下の範囲である。赤外線ヒータ6は、基板10の第一面10aの側に配置されている。
図2に示すように、赤外線ヒータ6は、複数個所で折り曲げられた管状をなしている。赤外線ヒータ6の外形は、平面視で矩形状をなしている。例えば、赤外線ヒータ6の外形の一辺の長さは、225mm程度とされている。例えば、赤外線ヒータ6の全長(管路全長)は、2475mm程度とされている。例えば、赤外線ヒータ6は、石英管で形成されている。
ストレート部群30は、複数(例えば、本実施形態では9つ)のストレート部30a〜30iを備えている。ストレート部30a〜30iは、第一方向V1に長手を有する直管状をなしている。ストレート部30a〜30iは、第一方向V1と直交(交差)する第二方向V2に並んで複数配置されている。複数のストレート部30a〜30iは、第二方向V2に実質的に同じ間隔S1(中心軸間のピッチ)をあけて配置されている。例えば、隣り合う2つのストレート部30a〜30iの間の間隔S1は、25mm程度とされている。なお、ストレート部30a,30b,30c,30d,30e,30f,30g,30h,30iは、第二方向V2の一方側から他方側に向けてこの順に配置されている。
図1に示すように、位置調整部7は、チャンバ2の下方に配置されている。位置調整部7は、加熱部5及び赤外線ヒータ6と基板10との相対位置を調整可能である。位置調整部7は、移動部7aと駆動部7bとを備える。移動部7aは、上下(Z方向)に延びる柱状の部材である。移動部7aの上端は、加熱部5の下面に固定されている。駆動部7bは、移動部7aを上下に移動可能とする。移動部7aは、基板10を加熱部5と赤外線ヒータ6との間で移動可能とする。具体的に、移動部7aは、基板10が加熱部5の上面に載置された状態で、駆動部7bの駆動によって、基板10を上下に移動させる(図5及び図6参照)。
搬送部8は、チャンバ2内において、加熱部5と赤外線ヒータ6との間に配置されている。搬送部8は、基板10を搬送可能である。搬送部8には、移動部7aを通過可能とする通過部8hが形成されている。搬送部8は、基板10の搬送方向であるX方向に沿って配置された複数の搬送ローラ8aを備えている。
図3において、符号L1は、周壁23の+Y方向側の搬送ローラ8aと、周壁23の−Y方向側の搬送ローラ8aとが離反する間隔(以下「ローラ離反間隔」という。)である。また、符号L2は、基板10のY方向の長さ(以下「基板長さ」という。)である。また、符号L3は、加熱部5のY方向の長さ(以下「加熱部長さ」という。)である。
図1に示すように、温度検知部9は、チャンバ2外に配置されている。温度検知部9は、基板10の温度を検知可能である。具体的に、温度検知部9は、天板21の上部に設置されている。天板21には、不図示の窓が取り付けられている。温度検知部9は、天板21の窓越しに基板10の温度を検知する。例えば、温度検知部9は、放射温度計等の非接触温度センサである。なお、図1では温度検知部9を1つのみ図示しているが、温度検知部9の数は1つに限らず、複数であってもよい。例えば、複数の温度検知部9を天板21の中央部及び四隅に配置することが好ましい。
回収部11は、減圧部3(真空ポンプ13)のラインに接続されている。回収部11は、基板10に塗布されたポリイミド形成用液から揮発した溶媒を回収可能である。
揺動部12は、チャンバ2内において、基板10の−X方向側に配置されている。揺動部12は、基板10を揺動可能である。例えば、揺動部12は、基板10が加熱されている状態において、基板10をXY平面に沿う方向又はZ方向に沿う方向に揺動させる。なお、揺動部12の配置位置は、チャンバ2内における基板10の−X方向側に限定されない。例えば、揺動部12は、位置調整部7に設けられていてもよい。
次に、本実施形態に係る基板加熱方法を説明する。本実施形態では、上記の基板加熱装置1を用いて基板10を加熱する。基板加熱装置1の各部で行われる動作は、制御部15によって制御される。
便宜上、図4〜図6においては、基板加熱装置1の構成要素のうち、減圧部3、ガス供給部4、温度検知部9、回収部11、揺動部12及び制御部15の図示を省略する。
減圧工程では、ポリイミド形成用液が塗布された基板10の収容空間の雰囲気を減圧する。
図4に示すように、減圧工程では、基板10が搬送ローラ8aに配置されている。また、減圧工程では、加熱部5は、底板22寄りに位置している。減圧工程において、加熱部5及び基板10は、加熱部5の熱が基板10に伝わらない程度に離反している。減圧工程において、加熱部5の電源はオンになっている。例えば、加熱部5の温度は、250℃程度になっている。一方、減圧工程において、赤外線ヒータ6の電源はオフになっている。
図5に示すように、第一加熱工程では、加熱部5を上方に移動させて、基板10を加熱部5の上面に載置させる。これにより、加熱部5は基板10の第二面10bに当接するため、加熱部5の熱が基板10に直接伝わるようになる。例えば、第一加熱工程において、加熱部5の温度は、250℃を維持している。そのため、基板温度は、250℃まで上昇可能とされている。一方、第一加熱工程において、赤外線ヒータ6の電源はオフのままとなっている。
次に、第一実施形態の第一変形例について、図7を用いて説明する。
図7は、第一実施形態に係る赤外線ヒータの第一変形例を示す平面図である。
第一変形例では、第一実施形態に対して、赤外線ヒータの形状が特に異なる。図7において、第一実施形態と同様の構成には同一符号を付し、その詳細な説明は省略する。
図7に示すように、本変形例に係る赤外線ヒータ6Aの外形の一辺の長さ及び全長は、第一実施形態に係る赤外線ヒータ6(図2参照)におけるものよりも短い。例えば、赤外線ヒータ6Aの外形の一辺の長さは、210mm程度とされている。例えば、赤外線ヒータ6Aの全長は、1890mm程度とされている。
次に、第一実施形態の第二変形例について、図8を用いて説明する。
図8は、第一実施形態に係る赤外線ヒータの第二変形例を示す平面図である。
第二変形例では、第一変形例に対して、赤外線ヒータの形状が特に異なる。図8において、第一変形例と同様の構成には同一符号を付し、その詳細な説明は省略する。
図8に示すように、本変形例に係る赤外線ヒータ6Bの全長は、第一変形例に係る赤外線ヒータ6A(図7参照)におけるものよりも長い。例えば、赤外線ヒータ6Bの全長は、2070mm程度とされている。なお、赤外線ヒータ6Bの外形の一辺の長さは、210mm程度とされている。
次に、本発明の第二実施形態について、図9〜図12を用いて説明する。
図9は、第二実施形態に係る赤外線ヒータ206の平面図である。
第二実施形態では、第一実施形態に対して、赤外線ヒータの形状が特に異なる。図9において、第一実施形態と同様の構成には同一符号を付し、その詳細な説明は省略する。
図9に示すように、赤外線ヒータ206の外形は、平面視で矩形状をなしている。赤外線ヒータ206は、平面視で点対称形状(2回対称の形状)をなしている。
第二カバー部233は、第二方向V2の他方側のストレート部30iの一端部に連結されている。第二カバー部233は、第二方向V2に長手を有する直管状をなしている。
第二導入部35は、前記一角部の対角部に配置されている。具体的に、第二導入部35は、第二カバー部233の一端に設けられている。すなわち、第二導入部35は、第一方向V1及び第二方向V2において第一導入部34とは反対側に配置されている。
便宜上、図10〜図12においては、基板加熱装置201の構成要素のうち、減圧部3、ガス供給部4、搬送部8、温度検知部9、回収部11、揺動部12及び制御部15の図示を省略する。
図10に示すように、位置調整部207は、収容部270、移動部275及び駆動部279を備えている。
収容部270は、チャンバ2の下側に配置されている。収容部270は、移動部275及び駆動部279を収容可能である。収容部270は、直方体の箱状に形成される。具体的に、収容部270は、矩形板状の第一支持板271と、第一支持板271と対向する矩形板状の第二支持板272と、第一支持板271及び第二支持板272の外周縁に繋がるとともに移動部275及び駆動部279の周囲を囲むように覆う囲い板273とによって形成されている。なお、囲い板273は設けられていなくてもよい。すなわち、位置調整部207は、少なくとも第一支持板271、移動部275及び駆動部279を備えていればよい。例えば、装置全体を覆う外装カバーが設けられていてもよい。
ピン276は、基板10の第二面10bを支持可能かつ第二面10bの法線方向(Z方向)に移動可能である。ピン276は、上下に延びる棒状の部材である。ピン276の先端(上端)は、基板10の第二面10bに当接可能かつ基板10の第二面10bから離反可能とされている。
次に、本実施形態に係る基板加熱方法を説明する。本実施形態では、上記の基板加熱装置201を用いて基板10を加熱する。基板加熱装置201の各部で行われる動作は、制御部15によって制御される。なお、第一実施形態と同様の工程については、その詳細な説明は省略する。
減圧工程では、ポリイミド形成用液が塗布された基板10を減圧する。
図10に示すように、減圧工程では、基板10が加熱部205から離反している。具体的に、各伸縮管277の内部空間及び加熱部205の各挿通孔205hを介して複数のピン276の先端を基板10の第二面10bに当接させるとともに、基板10を上昇させることによって、基板10を加熱部205から離反させている。減圧工程において、加熱部205及び基板10は、加熱部205の熱が基板10に伝わらない程度に離反している。減圧工程において、加熱部205の電源はオンになっている。例えば、加熱部205の温度は、250℃程度になっている。一方、減圧工程において、赤外線ヒータ206の電源はオフになっている。
図11に示すように、第一加熱工程では、複数のピン276の先端を基板10の第二面10bから離反させることによって、基板10を加熱部205に当接させる。すなわち、基板10を加熱部205の上面に載置させる。これにより、加熱部205は基板10の第二面10bに当接するため、加熱部5の熱が基板10に直接伝わるようになる。例えば、第一加熱工程において、加熱部205の温度は、250℃を維持している。そのため、基板温度は、250℃まで上昇可能とされている。一方、第一加熱工程において、赤外線ヒータ206の電源はオフのままとなっている。
図12に示すように、第二加熱工程では、基板10を第一加熱工程時の位置よりも更に上昇させることによって、基板10を赤外線ヒータ206に近接させる。例えば、第二加熱工程において、加熱部205の温度は、250℃を維持している。また、第二加熱工程において、赤外線ヒータ206の電源はオンとされる。例えば、赤外線ヒータ206は、450℃で基板10を加熱可能である。そのため、基板温度は、450℃まで上昇可能とされている。第二加熱工程では、第一加熱工程時よりも基板10が赤外線ヒータ206に近づくため、赤外線ヒータ206の熱が基板10に十分に伝わるようになる。
次に、本発明の第三実施形態について、図13を用いて説明する。
図13は、第三実施形態に係る赤外線ヒータ306の平面図である。
第三実施形態では、第一実施形態に対して、赤外線ヒータの形状が特に異なる。図13において、第一実施形態と同様の構成には同一符号を付し、その詳細な説明は省略する。
図13に示すように、赤外線ヒータ306の外形は、平面視で矩形状をなしている。
第一カバー部32は、第二方向V2の一方側のストレート部30aの一端部に連結されている。第一カバー部32は、第二方向V2に長手を有する直管状をなしている。
第二カバー部333は、第二方向V2の他方側のストレート部30iの一端部に連結されている。第二カバー部333は、U字管状をなしている。すなわち、第二カバー部333は、第二方向V2に長手を有するカバー本体333aと、カバー本体333aの一端部に連結されるとともに第一方向V1に長手を有する第一延在部333bと、第一延在部333bの一端部に連結されるとともに第一カバー部32を外方から覆うように第二方向V2に長手を有する第二延在部333cと、を備えている。なお、第二カバー部333におけるカバー本体333aとベンド部31a,31c,31e,31gとの間の間隔S3は、第二カバー部333における第二延在部333cと第一カバー部32との間の間隔S4と実質的に同じ大きさとされている。
次に、本発明の第四実施形態について、図14を用いて説明する。
図14は、第四実施形態に係るヒータユニット560の平面図である。
第四実施形態では、第一実施形態に対して、赤外線ヒータの配置態様が特に異なる。図14において、第一実施形態と同様の構成には同一符号を付し、その詳細な説明は省略する。
図14に示すように、本実施形態に係る基板加熱装置は、複数(例えば、本実施形態では11台)の赤外線ヒータ6を敷き詰めて構成したヒータユニット560を備えている。
ヒータユニット560は、第一赤外線ヒータ群561、第二赤外線ヒータ群562及び第三赤外線ヒータ群563を備えている。
さらに、第二赤外線ヒータ562a〜562cが隣り合う2つの第三赤外線ヒータ563a〜563dの境界部に隣接するように第二方向V2で第三赤外線ヒータ563a〜563dと敷き詰めて配置されていることで、第三赤外線ヒータ563a〜563dの温度分布と第二赤外線ヒータ562a〜562cの温度分布とを互いに補完することができるため、ヒータユニット560の温度分布のバランスをより一層向上することができる。
次に、本発明の第五実施形態について、図15を用いて説明する。
図15は、第五実施形態に係るヒータユニット660の平面図である。
第五実施形態では、第四実施形態に対して、赤外線ヒータの配置態様が特に異なる。図15において、第四実施形態と同様の構成には同一符号を付し、その詳細な説明は省略する。
図15に示すように、本実施形態に係るヒータユニット660は、第一赤外線ヒータ群561、第二赤外線ヒータ群662及び第三赤外線ヒータ群563を備えている。
また、上記実施形態においては、基板、加熱部及び赤外線ヒータが共通のチャンバに収容されているが、これに限らない。例えば、加熱部及び赤外線ヒータが互いに異なるチャンバに収容されていてもよい。
比較例の赤外線ヒータは、ストレート部及びベンド部のみを備えたものを用いた。すなわち、比較例は、カバー部を備えていない。
実施例の赤外線ヒータは、ストレート部、ベンド部及びカバー部を備えたものを用いた。すなわち、実施例の赤外線ヒータは、比較例に対して更にカバー部を備えている。なお、実施例の赤外線ヒータは、第一実施形態に係る赤外線ヒータ6(図2参照)に相当する。
以下、比較例及び実施例における赤外線ヒータよる加熱時の基板の温度分布の評価条件を説明する。
基板はガラス基板を用いた。基板は、赤外線ヒータの直下に配置した。基板温度は450℃とした。
基板において、ストレート部の長手方向中央部にあたる部分(すなわち、基板の法線方向で重なる部分)の温度(以下「ストレート部温度」という。)を測定した。また、基板において、ベンド部にあたる部分(すなわち、基板の法線方向で重なる部分)の温度(以下「ベンド部温度」という。)を測定した。そして、ストレート部温度とベンド部温度との差(以下「温度差」という。)を算出した。
比較例の場合、ベンド部はストレート部よりも暗くなった。これにより、ベンド部温度はストレート部温度よりも低いことが分かった。比較例の場合、温度差は5.8℃であった。
以上により、赤外線ヒータがベンド部を外方から覆うように配置されたカバー部を含むことによって、赤外線ヒータの温度分布のバランスを向上することができることが分かった。加えて、基板の温度分布を向上することができることが分かった。
Claims (12)
- 溶液を塗布した基板の収容空間の雰囲気を減圧する減圧部と、
前記基板を赤外線によって加熱可能な赤外線ヒータと、を含み、
前記赤外線ヒータは、複数箇所で折り曲げられた管状をなすとともに、
外方に凸をなすように折り曲げられたベンド部と、前記ベンド部の少なくとも一部を外方から覆うように配置されたカバー部と、を含み、
前記ベンド部は、第一方向の両側に配置されるとともに、前記第一方向と交差する第二方向に並んで複数配置され、
複数の前記ベンド部は、前記赤外線ヒータ自体の前記カバー部により前記第一方向の両側の外方から覆われている
基板加熱装置。 - 前記赤外線ヒータは、前記第一方向に長手を有するとともに、前記第二方向に並んで配置された複数のストレート部を更に含み、
前記ベンド部は、隣り合う2つの前記ストレート部の端部を連結し、
前記カバー部は、複数の前記ベンド部を外方から覆うように前記第二方向に直線状に延びている
請求項1に記載の基板加熱装置。 - 前記赤外線ヒータは、前記赤外線ヒータの一端に設けられた第一導入部と、前記赤外線ヒータの他端に設けられた第二導入部と、を更に含み、
前記第一導入部及び前記第二導入部の少なくとも一方は、前記カバー部の端部に設けられている
請求項1又は2に記載の基板加熱装置。 - 複数の前記赤外線ヒータを一面に敷き詰めて構成したヒータユニットを更に含む
請求項1から3の何れか一項に記載の基板加熱装置。 - 前記ヒータユニットは、一方向に敷き詰めて配置された複数の第一赤外線ヒータと、前記一方向と平行な方向に敷き詰めて配置された複数の第二赤外線ヒータと、を含み、
前記第二赤外線ヒータは、隣り合う2つの前記第一赤外線ヒータの境界部に隣接するように前記一方向と交差する方向で前記第一赤外線ヒータと敷き詰めて配置されている
請求項4に記載の基板加熱装置。 - 前記第二赤外線ヒータは、平面視で前記第一赤外線ヒータと同じ形状を有する
請求項5に記載の基板加熱装置。 - 前記基板を挟んで前記赤外線ヒータとは反対側に配置されるとともに、前記基板を加熱可能な加熱部を更に含む
請求項1から6の何れか一項に記載の基板加熱装置。 - 前記基板、前記加熱部及び前記赤外線ヒータを収容可能なチャンバを更に含む
請求項7に記載の基板加熱装置。 - 前記基板の温度を検知可能な温度検知部を更に含む
請求項1から8の何れか一項に記載の基板加熱装置。 - 溶液を塗布した基板の収容空間の雰囲気を減圧する減圧工程と、
前記基板を赤外線によって加熱する加熱工程と、を含み、
前記加熱工程では、複数箇所で折り曲げられた管状をなすとともに、
外方に凸をなすように折り曲げられたベンド部と、前記ベンド部の少なくとも一部を外方から覆うように配置されたカバー部と、を含む赤外線ヒータを用いて前記基板を赤外線によって加熱し、
前記ベンド部は、第一方向の両側に配置されるとともに、前記第一方向と交差する第二方向に並んで複数配置され、
複数の前記ベンド部は、前記赤外線ヒータ自体の前記カバー部により前記第一方向の両側の外方から覆われている
基板加熱方法。 - 基板を赤外線によって加熱可能な赤外線ヒータであって、
複数箇所で折り曲げられた管状をなすとともに、
外方に凸をなすように折り曲げられたベンド部と、
前記ベンド部の少なくとも一部を外方から覆うように配置されたカバー部と、を含み、
前記ベンド部は、第一方向の両側に配置されるとともに、前記第一方向と交差する第二方向に並んで複数配置され、
複数の前記ベンド部は、前記赤外線ヒータ自体の前記カバー部により前記第一方向の両側の外方から覆われている
赤外線ヒータ。 - 溶液を塗布した基板の収容空間の雰囲気を減圧する減圧部と、
前記基板を赤外線によって加熱可能な赤外線ヒータと、を含み、
前記赤外線ヒータは、複数箇所で折り曲げられた管状をなすとともに、
外方に凸をなすように折り曲げられたベンド部と、
前記ベンド部の少なくとも一部を外方から覆うように配置されたカバー部と、
第一方向に長手を有するとともに、第二方向に並んで配置された複数のストレート部と、を含み、
前記ベンド部は、隣り合う2つの前記ストレート部の端部を連結し、
前記カバー部は、複数の前記ベンド部を外方から覆うように前記第二方向に直線状に延びており、
前記カバー部と前記ベンド部との間の間隔は、隣り合う2つの前記ストレート部の間の間隔よりも小さい
基板加熱装置。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016167793A JP6757629B2 (ja) | 2016-08-30 | 2016-08-30 | 基板加熱装置、基板加熱方法及び赤外線ヒータ |
CN201710573155.8A CN107785240B (zh) | 2016-08-30 | 2017-07-14 | 基板加热装置、基板加热方法以及红外线加热器 |
TW106123574A TWI729167B (zh) | 2016-08-30 | 2017-07-14 | 基板加熱裝置、基板加熱方法以及紅外線加熱器 |
TW110100792A TWI762146B (zh) | 2016-08-30 | 2017-07-14 | 基板加熱裝置、基板加熱方法以及紅外線加熱器 |
KR1020170096211A KR102336748B1 (ko) | 2016-08-30 | 2017-07-28 | 기판 가열 장치, 기판 가열 방법 및 적외선 히터 |
KR1020210102169A KR20210100054A (ko) | 2016-08-30 | 2021-08-03 | 기판 가열 장치, 기판 가열 방법 및 적외선 히터 |
KR1020220091268A KR20220109367A (ko) | 2016-08-30 | 2022-07-22 | 기판 가열 장치, 기판 가열 방법 및 적외선 히터 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016167793A JP6757629B2 (ja) | 2016-08-30 | 2016-08-30 | 基板加熱装置、基板加熱方法及び赤外線ヒータ |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018242542A Division JP6718950B2 (ja) | 2018-12-26 | 2018-12-26 | 基板加熱装置及びポリイミド膜の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018037191A JP2018037191A (ja) | 2018-03-08 |
JP6757629B2 true JP6757629B2 (ja) | 2020-09-23 |
Family
ID=61437446
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016167793A Active JP6757629B2 (ja) | 2016-08-30 | 2016-08-30 | 基板加熱装置、基板加熱方法及び赤外線ヒータ |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6757629B2 (ja) |
KR (3) | KR102336748B1 (ja) |
CN (1) | CN107785240B (ja) |
TW (2) | TWI762146B (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111383944A (zh) * | 2018-12-29 | 2020-07-07 | 东京应化工业株式会社 | 基板加热装置、基板处理系统以及基板加热方法 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3060663B2 (ja) * | 1991-11-15 | 2000-07-10 | 井関農機株式会社 | トラクタの伝動ケース接続構造 |
JP3060633U (ja) * | 1998-12-28 | 1999-09-07 | アイリスオーヤマ株式会社 | 組立式チェスト |
JP3060663U (ja) * | 1998-12-29 | 1999-09-07 | クリーン・テクノロジー株式会社 | 加熱装置 |
KR100457189B1 (ko) * | 1999-12-27 | 2004-11-16 | 마쯔시다덴기산교 가부시키가이샤 | 액정표시장치 및 그 구동방법 |
JP2001210632A (ja) | 2000-01-28 | 2001-08-03 | Sharp Corp | ポリイミド膜の形成方法 |
JP3798674B2 (ja) * | 2001-10-29 | 2006-07-19 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 熱処理装置および熱処理方法 |
JP4033809B2 (ja) * | 2003-06-16 | 2008-01-16 | 東京エレクトロン株式会社 | 熱処理装置及び熱処理方法 |
JP4380236B2 (ja) * | 2003-06-23 | 2009-12-09 | 東京エレクトロン株式会社 | 載置台及び熱処理装置 |
JP2006170524A (ja) | 2004-12-15 | 2006-06-29 | Tdk Corp | 焼成炉 |
US8573836B2 (en) * | 2006-10-26 | 2013-11-05 | Tokyo Electron Limited | Apparatus and method for evaluating a substrate mounting device |
US8216876B2 (en) | 2008-02-20 | 2012-07-10 | Sharp Kabushiki Kaisha | Method for manufacturing flexible semiconductor substrate |
CN101962759B (zh) * | 2009-07-21 | 2012-07-25 | 深圳市宇光高科新能源技术有限公司 | 一种带有内加热器的pecvd系统 |
JP5428811B2 (ja) * | 2009-12-04 | 2014-02-26 | 凸版印刷株式会社 | 基板乾燥方法、基板乾燥装置、基板の製造方法、及びフラットパネルディスプレイ |
JP2012250230A (ja) * | 2011-06-02 | 2012-12-20 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 加熱装置、塗布装置及び加熱方法 |
JP5622701B2 (ja) * | 2011-10-13 | 2014-11-12 | 東京エレクトロン株式会社 | 減圧乾燥装置 |
JP2015133444A (ja) * | 2014-01-15 | 2015-07-23 | 株式会社東芝 | 半導体製造装置および半導体装置の製造方法 |
JP2015141965A (ja) * | 2014-01-28 | 2015-08-03 | 東京応化工業株式会社 | 回収装置及び基板処理装置 |
-
2016
- 2016-08-30 JP JP2016167793A patent/JP6757629B2/ja active Active
-
2017
- 2017-07-14 CN CN201710573155.8A patent/CN107785240B/zh active Active
- 2017-07-14 TW TW110100792A patent/TWI762146B/zh active
- 2017-07-14 TW TW106123574A patent/TWI729167B/zh active
- 2017-07-28 KR KR1020170096211A patent/KR102336748B1/ko active IP Right Grant
-
2021
- 2021-08-03 KR KR1020210102169A patent/KR20210100054A/ko not_active Application Discontinuation
-
2022
- 2022-07-22 KR KR1020220091268A patent/KR20220109367A/ko active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI762146B (zh) | 2022-04-21 |
TW202129767A (zh) | 2021-08-01 |
KR20220109367A (ko) | 2022-08-04 |
CN107785240A (zh) | 2018-03-09 |
KR20210100054A (ko) | 2021-08-13 |
KR102336748B1 (ko) | 2021-12-07 |
TW201807756A (zh) | 2018-03-01 |
TWI729167B (zh) | 2021-06-01 |
JP2018037191A (ja) | 2018-03-08 |
KR20180025177A (ko) | 2018-03-08 |
CN107785240B (zh) | 2023-06-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6789040B2 (ja) | 基板加熱装置及び基板加熱方法 | |
TWI703688B (zh) | 基板加熱裝置及基板加熱方法 | |
TWI781978B (zh) | 基板加熱裝置、基板處理系統及基板加熱方法 | |
JP6757629B2 (ja) | 基板加熱装置、基板加熱方法及び赤外線ヒータ | |
JP4638931B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP6718950B2 (ja) | 基板加熱装置及びポリイミド膜の製造方法 | |
JP7178823B2 (ja) | 基板加熱装置および基板処理システム | |
JP7154046B2 (ja) | ポリイミド焼成方法およびポリイミド焼成装置 | |
KR102469840B1 (ko) | 기판 가열 장치, 기판 처리 시스템 및 기판 가열 방법 | |
JP7236284B2 (ja) | 基板加熱装置および基板処理システム | |
CN111383944A (zh) | 基板加热装置、基板处理系统以及基板加热方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20160831 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190513 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200212 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200212 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200325 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200804 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200831 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6757629 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |