JP6557131B2 - Splitting device - Google Patents
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Description
本発明は、表面に複数の分割予定ラインが格子状に形成され該複数の分割予定ラインによって区画された複数の領域を備えた被加工物を複数の分割予定ラインに沿って分割する分割装置に関する。 The present invention relates to a dividing apparatus that divides a workpiece having a plurality of regions formed on a surface in a lattice shape and having a plurality of regions partitioned by the plurality of scheduled division lines along the plurality of scheduled division lines. .
半導体デバイス製造工程においては、略円板形状である半導体ウエーハの表面に格子状に配列された多数の領域にIC、LSI等の回路を形成し、該回路が形成された各領域を所定のストリートと呼ばれる分割予定ラインに沿って切断することにより個々の半導体チップを製造している。このようにして分割された半導体チップは、パッケージングされて携帯電話やパソコン等の電気機器に広く利用されている。 In the semiconductor device manufacturing process, circuits such as ICs and LSIs are formed in a large number of regions arranged in a lattice pattern on the surface of a substantially disc-shaped semiconductor wafer, and each region where the circuits are formed is defined on a predetermined street. Individual semiconductor chips are manufactured by cutting along the division lines called. The semiconductor chip thus divided is packaged and widely used in electric devices such as mobile phones and personal computers.
携帯電話やパソコン等の電気機器はより軽量化、小型化が求められており、半導体チップのパッケージもチップサイズパッケージ(CSP)と呼ばれる小型化できるパッケージ技術が開発されている。CSP技術の一つとして、Quad Flat Non−lead Package(QFN)と呼ばれるパッケージ技術が実用化されている。このQFNと称するパッケージ技術は、半導体チップの接続端子に対応した接続端子が複数形成されているとともに半導体チップ毎に区画する分割予定ラインが格子状に形成された銅板等の電極板に複数個の半導体チップをマトリックス状に配設し、半導体チップの裏面側から樹脂をモールディングした樹脂部によって電極板と半導体チップを一体化することによりパッケージ基板を形成する。このパッケージ基板を分割予定ラインに沿って切断することにより、個々にパッケージされたチップサイズパッケージ(CSP)に分割する。 Electrical devices such as mobile phones and personal computers are required to be lighter and smaller, and a package technology capable of reducing the size of a semiconductor chip package called a chip size package (CSP) has been developed. As one of the CSP technologies, a package technology called Quad Flat Non-lead Package (QFN) has been put into practical use. This package technology called QFN is a method in which a plurality of connection terminals corresponding to the connection terminals of a semiconductor chip are formed and a plurality of electrode plates such as a copper plate are formed in a grid pattern with division lines divided for each semiconductor chip. A semiconductor substrate is arranged in a matrix, and a package substrate is formed by integrating the electrode plate and the semiconductor chip by a resin portion obtained by molding resin from the back side of the semiconductor chip. The package substrate is cut along a division line to divide the package substrate into individually packaged chip size packages (CSP).
上記パッケージ基板を分割予定ラインに沿って切断することにより、個々にパッケージされたチップサイズパッケージ(CSP)に分割する分割装置は、分割予定ラインと対応する領域に切削ブレードの切れ刃を逃がす逃がし溝が格子状に形成されるとともに逃がし溝によって区画された複数の領域にそれぞれ吸引孔が設けられた保持テーブルと、該保持テーブルに吸引保持されたパッケージ基板を分割予定ラインに沿って切断する切削ブレードを備えた切削手段と、該切削手段によって個々に分割された複数のチップサイズパッケージ(CSP)をトレーに並べて収容する収容機構を具備した分割装置が知られている(例えば特許文献1を参照。)。 A dividing device that divides the package substrate along the planned division line to divide the package substrate into individually packaged chip size packages (CSPs) has a relief groove that allows the cutting blade of the cutting blade to escape in an area corresponding to the planned division line. Is formed in a lattice shape, and holding tables each provided with suction holes in a plurality of regions partitioned by escape grooves, and a cutting blade that cuts the package substrate sucked and held by the holding table along a planned division line There is known a dividing device including a cutting means provided with a receiving mechanism and a storage mechanism for storing a plurality of chip size packages (CSP) individually divided by the cutting means in a tray (see, for example, Patent Document 1). ).
また、格子状に形成された複数の分割予定ラインによって区画され複数の領域を備えた被加工物を分割予定ラインに沿って分割する分割装置であって、複数の分割予定ラインと対応する領域に切削ブレードの切れ刃の逃がし溝が格子状に形成されるとともに、逃がし溝によって区画された複数の領域にそれぞれ吸引孔を備えた被加工物の吸引保持テーブルと、保持テーブルに吸引保持された加工前の被加工物を切削する切削ブレードを備えた切削手段と、該切削手段によって個々に分割された複数のチップを乾燥する乾燥手段と、乾燥された複数のチップを収容する収容手段と、乾燥手段によって乾燥された複数のチップを収容手段に落とし込むチップ落とし込み手段と、を具備した切削手段によって個々に分割された複数のチップを収容することができ、かつ小型化が可能な分割装置も知られている(例えば特許文献2を参照。)。 Further, a dividing device that divides a workpiece having a plurality of areas divided by a plurality of division lines formed in a lattice shape along the division lines, and corresponding to the plurality of division lines. Workpiece suction holding table having suction holes formed in a plurality of areas partitioned by the escape grooves, and the work held by suction holding by the holding table, while the cutting grooves of the cutting blade are formed in a lattice shape. Cutting means provided with a cutting blade for cutting a previous workpiece, drying means for drying a plurality of chips individually divided by the cutting means, storage means for storing the plurality of dried chips, and drying A chip dropping means for dropping a plurality of chips dried by the means into the accommodating means, and a plurality of chips divided individually by the cutting means It can be, and are also known division device which can be downsized (see, for example, Patent Document 2.).
上記したような分割装置において、加工前の被加工物を個々のチップに分割すると、各チップの外周に、いわゆるバリと呼ばれる分割加工によって除去しきれなかった欠片が残存し、製品の見栄えを悪くして品質を低下させるという問題があり、従来ではトレーに収容された後に各チップから手作業により当該バリを除去する方法がとられていた。また、分割装置に対して当該トレーに収容された後の各チップからバリを除去する工程を別途追加するにしても、当該バリ取り作業を自動化するためには複雑な装置構成を追加せねばならず、分割装置が高額となってしまうという問題があった。 In the dividing apparatus as described above, when the workpiece before processing is divided into individual chips, fragments that could not be removed by dividing processing called so-called burrs remain on the outer periphery of each chip, which deteriorates the appearance of the product. Therefore, there is a problem that the quality is lowered, and conventionally, a method of manually removing the burr from each chip after being accommodated in the tray has been adopted. Further, even if a separate process for removing burrs from each chip after being accommodated in the tray is added to the dividing apparatus, a complicated apparatus configuration must be added to automate the deburring operation. However, there was a problem that the dividing device would be expensive.
本発明は、上記事実に鑑みてなされたものであり、その主たる技術課題は、切削手段によって個々に分割されたチップのバリを、生産効率を悪化させることなく、また、複雑な構成を追加することなく除去すると共に、バリが除去された該チップを確実に収容手段に収容する分割装置を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above-mentioned facts, and its main technical problem is to add a complicated configuration to the burrs of the chips individually divided by the cutting means without deteriorating the production efficiency. It is an object of the present invention to provide a dividing device that removes the chip without any burrs and securely accommodates the chip from which the burrs have been removed in the accommodating means.
上記主たる技術課題を解決するため、本発明によれば、板状物を切断し、チップに分割する分割装置であって、切削ブレードを回転可能に備えた切削手段と、切削ブレードの逃げ溝によって区画されチップの大きさに対応した複数の吸引領域を表面に備えた保持面に板状物を保持する保持手段と、該保持手段に保持された個々のチップに分割された板状物を該保持手段から搬出し乾燥手段まで搬送する搬送手段と、該乾燥手段で乾燥された複数のチップを容器に収容し、該容器内に収容されたチップを振動させチップの外周からバリを除去するバリ除去手段と、該バリが除去されたチップを収容する収容手段と、該バリ除去手段にチップの残留がないかを確認する残留確認手段と、から少なくとも構成される分割装置が提供される。 In order to solve the above-mentioned main technical problem, according to the present invention, there is provided a dividing device for cutting a plate-like object and dividing it into chips, by a cutting means provided with a cutting blade so as to be rotatable, and a relief groove of the cutting blade. A holding means for holding a plate-like object on a holding surface having a plurality of suction areas corresponding to the size of the chip on the surface, and a plate-like object divided into individual chips held by the holding means A conveying means for conveying from the holding means to the unloading drying means, and a plurality of chips dried by the drying means are accommodated in a container, and the chips accommodated in the container are vibrated to remove burrs from the outer periphery of the chips. There is provided a dividing apparatus comprising at least removal means, accommodation means for accommodating the chips from which the burrs have been removed, and residual confirmation means for confirming whether or not chips remain in the burr removal means.
また、本発明の分割装置における残留確認手段としては、レーザーセンサーによってチップの残留を確認する、撮像カメラによってチップの残留を確認する、該収容手段の重さに収容すべきバリ除去後のチップの重さを加えた所定重量と、収容手段の重さを計測する重量計測器により実際に計測された該収容手段の重量とを比較することにより、バリ除去手段におけるチップの残留を確認する、等の手段から適宜選択することができる。 Further, as the residual confirmation means in the dividing apparatus of the present invention, the residual of the chip is confirmed by a laser sensor, the residual of the chip is confirmed by an imaging camera, and the chip after removal of burrs to be accommodated in the weight of the accommodation means By comparing the predetermined weight plus the weight with the weight of the housing means actually measured by the weight measuring device that measures the weight of the housing means, the residue of the chip in the burr removing means is confirmed, etc. It is possible to appropriately select from these means.
さらに、本発明の分割装置における該バリ除去手段は、残留チップ解消手段として、超音波振動によって該収容手段へのチップの移動を促進させる、エアーブローによって該収容手段へのチップの移動を促進させる等の手段を備えることができる。さらにいえば、該残留確認手段は、板状物のロット単位で作動するように構成されることが好ましい。 Further, the burr removing means in the dividing apparatus of the present invention promotes the movement of the chip to the accommodating means by ultrasonic vibration as the residual chip eliminating means, and promotes the movement of the chip to the accommodating means by air blow. Etc. can be provided. Furthermore, it is preferable that the residual confirmation means is configured to operate in units of lots of plate-like objects.
本発明による分割装置は上記のように構成され、個々のチップに分割された板状物を該保持手段から搬出し乾燥手段まで搬送する搬送手段と、該乾燥手段で乾燥された複数のチップを容器に収容し、該容器内に収容されたチップを振動させチップの外周からバリを除去するバリ除去手段と、該バリが除去されたチップを収容する収容手段と、該バリ除去手段にチップの残留がないかを確認する残留確認手段と、から少なくとも構成されるので、板状部材を切断してチップに分割する分割装置において、作業者の手作業等に頼ることなくバリを除去することができると共に、残留確認手段を備えていることによりバリ除去手段に残留するチップを監視して全てのチップを確実に収容容器に移動させて次工程に移送することができ、生産性を向上させることができる。 The dividing apparatus according to the present invention is configured as described above, and transports a plate-like object divided into individual chips from the holding means to the drying means, and a plurality of chips dried by the drying means. A burr removing means for removing the burr from the outer periphery of the chip by vibrating the chip accommodated in the container and removing the burr from the outer periphery of the chip; a housing means for accommodating the chip from which the burr has been removed; Since it is composed at least of a residue confirmation means for confirming whether there is any residue, it is possible to remove burrs without relying on the operator's manual work or the like in a dividing device that cuts a plate-like member and divides it into chips. In addition, it is possible to monitor the chips remaining on the deburring means by moving the remaining chips to the receiving container and transfer them to the next process by improving the productivity. It can be.
以下、本発明によって構成された分割装置の好適な実施形態について、添付図面を参照して、更に詳細に説明する。 Hereinafter, a preferred embodiment of a dividing apparatus constructed according to the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.
図1の(a)、(b)には、被加工物としてのパッケージ基板の斜視図および断面図が示されている。図1の(a)、(b)に示すパッケージ基板1は電極板11を具備し、電極板11の表面11aに所定の方向に延びる複数の第1の分割予定ライン111と、該第1の分割予定ライン111と直交する方向に延びる第2の分割予定ライン112が格子状に形成されている。第1の分割予定ライン111と第2の分割予定ライン112によって区画された複数の領域にそれぞれチップサイズパッケージ(CSP)113が配置されており、このチップサイズパッケージ(CSP)113は電極板11の裏面側から合成樹脂部12によってモールディングされている。このように形成されたパッケージ基板1は、第1の分割予定ライン111および第2の分割予定ライン112に沿って切断され個々にパッケージされたチップサイズパッケージ(CSP)113に分割される。 1A and 1B show a perspective view and a cross-sectional view of a package substrate as a workpiece. A package substrate 1 shown in FIGS. 1A and 1B includes an electrode plate 11, a plurality of first division lines 111 extending in a predetermined direction on a surface 11 a of the electrode plate 11, and the first Second division planned lines 112 extending in a direction orthogonal to the planned division lines 111 are formed in a lattice shape. A chip size package (CSP) 113 is arranged in each of a plurality of regions partitioned by the first planned division line 111 and the second planned division line 112, and this chip size package (CSP) 113 is arranged on the electrode plate 11. Molded by the synthetic resin portion 12 from the back side. The package substrate 1 formed in this way is divided into chip size packages (CSP) 113 which are cut along the first planned dividing line 111 and the second planned divided line 112 and individually packaged.
図2には、上記パッケージ基板1を第1の分割予定ライン111および第2の分割予定ライン112に沿って切断するための本発明に従って構成された分割装置の斜視図が示されている。
図2に示された分割装置は、装置ハウジング2を具備している。この装置ハウジング2の中央部には、被加工物を保持する被加工物保持機構3と、該被加工物保持機構3に保持された被加工物を切削するための切削手段4が配設されている。被加工物保持機構3は、上記パッケージ基板1を吸引保持する保持テーブル31と、該保持テーブル31を支持する保持テーブル支持手段32とを具備している。保持テーブル31は、図3に示すように矩形状に形成され表面中央部に上記パッケージ基板1を吸引保持する吸引保持部310が突出して設けられている。吸引保持部310の上面(保持面)にはパッケージ基板1に形成された第1の分割予定ライン111および第2の分割予定ライン112と対応する領域に後述する切削ブレードの切れ刃を逃がす逃がし溝311および312が格子状に形成されている。また、吸引保持部310には、第1の分割予定ライン111および第2の分割予定ライン112によって区画された複数の領域にそれぞれ吸引孔313が形成されており、この吸引孔313が図示しない吸引手段に連通されている。
FIG. 2 is a perspective view of a dividing apparatus configured according to the present invention for cutting the package substrate 1 along the first planned dividing line 111 and the second planned dividing line 112.
The dividing apparatus shown in FIG. 2 includes an apparatus housing 2. A workpiece holding mechanism 3 for holding the workpiece and a cutting means 4 for cutting the workpiece held by the workpiece holding mechanism 3 are disposed at the center of the apparatus housing 2. ing. The workpiece holding mechanism 3 includes a holding table 31 that holds the package substrate 1 by suction and holding table support means 32 that supports the holding table 31. As shown in FIG. 3, the holding table 31 is formed in a rectangular shape, and a suction holding portion 310 that sucks and holds the package substrate 1 is provided at the center of the surface. On the upper surface (holding surface) of the suction holding unit 310, a relief groove for letting off a cutting blade of a cutting blade described later in a region corresponding to the first division planned line 111 and the second division planned line 112 formed on the package substrate 1. 311 and 312 are formed in a lattice shape. In addition, suction holes 313 are formed in the suction holding unit 310 in a plurality of regions partitioned by the first scheduled division line 111 and the second scheduled division line 112, and the suction holes 313 are not shown. Communicated with the means.
図2に戻って説明を続けると、被加工物保持機構3を構成する保持テーブル支持手段32は、保持テーブル31を上面である保持面に対して垂直な軸周りに回動せしめる図示しない回転駆動手段を備えている。このように構成された保持テーブル支持手段32は、保持テーブル31を図2に示す被加工物を搬入および搬出する搬入・搬出領域と切削手段4による加工領域に移動可能に構成されており、図示しないX軸方向移動手段によって矢印Xで示す加工送り方向(X軸方向)に移動せしめられるようになっている。 Returning to FIG. 2, the description will be continued. The holding table support means 32 constituting the workpiece holding mechanism 3 rotates the holding table 31 around an axis perpendicular to the holding surface which is the upper surface (not shown). Means. The holding table support means 32 configured as described above is configured so that the holding table 31 can be moved between a loading / unloading area for loading and unloading the workpiece shown in FIG. The X-axis direction moving means does not move in the machining feed direction (X-axis direction) indicated by the arrow X.
切削手段4は、X軸方向と直交する矢印Yで示す割り出し送り方向(Y軸方向)に沿って配設されたスピンドルハウジング41と、該スピンドルハウジング41に回転可能に支持された回転スピンドル42と、回転スピンドル42の先端部に装着された切削ブレード43と、該切削ブレード43の両側に配設された切削水供給ノズル44を具備している。スピンドルハウジング41は、図示しないY軸方向移動手段によってY軸方向に沿って移動せしめられるように構成されている。回転スピンドル42は、図示しないサーボモータ等の駆動源によって回転駆動せしめられる。切削ブレード43は、図示の実施形態においてはアルミニウムによって円盤状に形成されたブレード基台にダイヤモンド砥粒をニッケルメッキで固めた電鋳ブレードが用いられている。切削水供給ノズル44は、図示しない切削水供給手段に接続されており、切削水を切削ブレード43による切削部に供給する。 The cutting means 4 includes a spindle housing 41 disposed along an index feed direction (Y-axis direction) indicated by an arrow Y orthogonal to the X-axis direction, and a rotating spindle 42 rotatably supported by the spindle housing 41. A cutting blade 43 attached to the tip of the rotary spindle 42 and cutting water supply nozzles 44 disposed on both sides of the cutting blade 43 are provided. The spindle housing 41 is configured to be moved along the Y-axis direction by a Y-axis direction moving means (not shown). The rotary spindle 42 is driven to rotate by a drive source such as a servo motor (not shown). In the illustrated embodiment, the cutting blade 43 is an electroformed blade in which diamond abrasive grains are hardened by nickel plating on a blade base formed of aluminum in a disk shape. The cutting water supply nozzle 44 is connected to a cutting water supply means (not shown), and supplies the cutting water to the cutting portion by the cutting blade 43.
上述した切削手段4による加工領域と搬入・搬出領域との間には、加工領域において切削加工され個々のチップに分割された被加工物の上面を洗浄するための上面洗浄手段5が配設されている。この上面洗浄手段5は、被加工物保持機構3を構成する保持テーブル31の移動経路の上側に配設されており、保持テーブル31上に保持され切削手段4に切削加工された被加工物の上面に洗浄水を噴射せしめる。 Between the processing area by the cutting means 4 and the carry-in / out area, an upper surface cleaning means 5 for cleaning the upper surface of the workpiece that has been cut in the processing area and divided into individual chips is disposed. ing. The upper surface cleaning means 5 is disposed on the upper side of the movement path of the holding table 31 constituting the workpiece holding mechanism 3, and holds the workpiece that is held on the holding table 31 and cut by the cutting means 4. Spray cleaning water on top.
上記被加工物保持機構3のY軸方向における一方の側には、加工前の被加工物を収容したカセットを載置するカセット載置領域6aが設けられており、カセット載置領域6aには図示しない昇降手段によって上下方向に移動せしめられるカセットテーブル60が配設されている。このカセットテーブル60上に被加工物である上記パッケージ基板1が複数枚収容されたカセット6が載置される。カセット載置領域6aの前側には、カセット6に収容されたパッケージ基板1を仮置きするとともに位置合わせを行う仮置き手段7と、カセット6に収容されたパッケージ基板1を仮置き手段7に搬出する被加工物搬出手段8が配設されている。 On one side of the workpiece holding mechanism 3 in the Y-axis direction, there is provided a cassette placement area 6a for placing a cassette that accommodates a workpiece to be processed before the cassette placement area 6a. A cassette table 60 that is moved up and down by a lifting means (not shown) is provided. On the cassette table 60, a cassette 6 in which a plurality of the package substrates 1 as workpieces are accommodated is placed. On the front side of the cassette placement area 6a, the package substrate 1 accommodated in the cassette 6 is temporarily placed and temporarily placed, and the package substrate 1 accommodated in the cassette 6 is carried out to the temporary placement means 7. A workpiece unloading means 8 is disposed.
上記仮置き手段7と搬入・搬出領域との間には、仮置き手段7に搬出され位置合わせが行われた加工前の被加工物である上記パッケージ基板1を搬入・搬出領域に位置付けられている被加工物保持機構3を構成する保持テーブル31の上面である保持面上に搬送する被加工物搬入手段9が配設されている。この被加工物搬入手段9は、パッケージ基板1の上面を吸引保持する吸引保持パッド91と、該吸引保持パッド91を支持し吸引保持パッド91を上下方向に移動するエアシリンダ機構92と、該エアシリンダ機構92を支持する作動アーム93と、該作動アーム93をY軸方向に移動せしめる図示しない移動手段とからなっている。 Between the temporary placement means 7 and the loading / unloading area, the package substrate 1, which is a workpiece before being processed and aligned with the temporary placement means 7, is positioned in the loading / unloading area. A workpiece carry-in means 9 for conveying onto a holding surface which is the upper surface of a holding table 31 constituting the workpiece holding mechanism 3 is provided. The workpiece carrying means 9 includes a suction holding pad 91 for sucking and holding the upper surface of the package substrate 1, an air cylinder mechanism 92 for supporting the suction holding pad 91 and moving the suction holding pad 91 in the vertical direction, and the air The working arm 93 supports the cylinder mechanism 92 and moving means (not shown) for moving the working arm 93 in the Y-axis direction.
図示の実施形態における分割装置は、上記被加工物搬入手段9のエアシリンダ機構92に装着され搬入・搬出領域に位置付けられている保持テーブル31に保持された被加工物であるパッケージ基板1の加工すべき領域を検出する撮像手段12を具備している。この撮像手段12は、顕微鏡やCCDカメラ等の光学手段からなっており、撮像した画像信号を後述する制御手段に送る。 The dividing apparatus in the illustrated embodiment processes the package substrate 1 which is a workpiece held on a holding table 31 mounted on the air cylinder mechanism 92 of the workpiece loading means 9 and positioned in the loading / unloading area. An imaging means 12 for detecting a region to be detected is provided. The image pickup means 12 is composed of optical means such as a microscope and a CCD camera, and sends the picked up image signal to a control means described later.
上記被加工物保持機構3のY軸方向における他方の側には、加工領域において切削加工され個々のチップに分割された加工後の被加工物の下面を洗浄するための下面洗浄手段13が配設されている。この下面洗浄手段13は、回転可能に構成されたスポンジ等からなる洗浄ローラ131と、該洗浄ローラ131に洗浄水を供給する図示しない洗浄水供給手段とからなっている。 On the other side of the workpiece holding mechanism 3 in the Y-axis direction, lower surface cleaning means 13 for cleaning the lower surface of the processed workpiece that has been cut in the processing region and divided into individual chips is arranged. It is installed. The lower surface cleaning unit 13 includes a cleaning roller 131 made of a sponge or the like configured to be rotatable, and a cleaning water supply unit (not shown) that supplies cleaning water to the cleaning roller 131.
また、図示の実施形態における分割装置は、上記下面洗浄手段13に隣接して配設され個々のチップに分割された加工後の被加工物の下面を乾燥する下面乾燥手段14を具備えている。この下面乾燥手段14は、図4および図5に示すように乾燥テーブル141を備えている。乾燥テーブル141は、矩形状のテーブル本体142と、該テーブル本体142の上面に配設された吸引保持部材143とからなっている。テーブル本体142は、金属板によって形成され、上面に矩形状の浅い凹部からなる吸引部142aが形成されており、該吸引部142aには上記パッケージ基板1の複数のチップサイズパッケージ(CSP)113と対応する複数の領域にそれぞれ吸引通路142bが形成されている。吸引保持部材143は、耐熱性を有するフッ素系ゴムによって上記テーブル本体142に形成された浅い凹部からなる吸引部142aと対応する大きさに形成されており、吸引部142aに嵌合される。このように形成された吸引保持部材143には、上記パッケージ基板1の複数のチップサイズパッケージ(CSP)113と対応する複数の領域にそれぞれ吸引孔143aが形成されており、この吸引孔143aがテーブル本体142に形成された吸引通路142bと連通する。なお、吸引保持部材143を形成する耐熱性を有するフッ素系ゴムとしては、デュポン株式会社によって製造販売されている「ザラック」を用いることができる。 Further, the dividing apparatus in the illustrated embodiment includes a lower surface drying means 14 that is disposed adjacent to the lower surface cleaning means 13 and that dries the lower surface of the processed workpiece divided into individual chips. The bottom surface drying means 14 includes a drying table 141 as shown in FIGS. The drying table 141 includes a rectangular table main body 142 and a suction holding member 143 disposed on the upper surface of the table main body 142. The table body 142 is formed of a metal plate, and has a suction portion 142a formed of a rectangular shallow recess on the upper surface. The suction portion 142a includes a plurality of chip size packages (CSP) 113 of the package substrate 1 and A suction passage 142b is formed in each of a plurality of corresponding regions. The suction holding member 143 is formed in a size corresponding to the suction portion 142a formed of a shallow concave portion formed in the table main body 142 by heat-resistant fluorine-based rubber, and is fitted into the suction portion 142a. In the suction holding member 143 formed in this way, suction holes 143a are formed in a plurality of regions corresponding to the plurality of chip size packages (CSPs) 113 of the package substrate 1, and the suction holes 143a are formed in the table. The suction passage 142b formed in the main body 142 communicates. In addition, as the heat-resistant fluorine-based rubber forming the suction holding member 143, “Zarak” manufactured and sold by DuPont can be used.
上記乾燥テーブル141を構成するテーブル本体142の下面には、吸引通路142bが連通する吸引室を形成するための吸引室形成部材144が装着されている。この吸引室形成部材144は金属板によって矩形状に形成され、上面に凹部144aが設けられており、この凹部144aとテーブル本体142の下面によって吸引通路142bが連通する吸引室144bが形成される。また、吸引室形成部材144には、凹部144aに開口する連通路144cが形成されており、この連通路144cが図示しない吸引手段に連通されている。このように構成された吸引室形成部材144の下側には、加熱手段としての加熱ヒーター145が配設されている。 A suction chamber forming member 144 for forming a suction chamber communicating with the suction passage 142b is mounted on the lower surface of the table main body 142 constituting the drying table 141. The suction chamber forming member 144 is formed in a rectangular shape by a metal plate, and a recess 144a is provided on the upper surface. A suction chamber 144b in which the suction passage 142b communicates with the recess 144a and the lower surface of the table body 142 is formed. The suction chamber forming member 144 is formed with a communication path 144c that opens to the recess 144a. The communication path 144c communicates with a suction means (not shown). A heater 145 as a heating unit is disposed below the suction chamber forming member 144 configured as described above.
図2に戻って説明を続けると、図示の実施形態における分割装置は、上記下面乾燥手段14に隣接して配設され個々に分割された複数のチップを収容するとともに、振動させることにより複数のチップの外周に残存するバリを除去するためのバリ除去手段15と、チップ落とし部材19、収容手段としてのチップ収容容器156を備えている。該チップ落とし部材19は、バリ除去手段15の上方で、下面乾燥手段14に隣接して開口する開口部19aを備え、該チップ落とし部材19は、開口部19aから下方に向けてロート状に形成されている。このよう構成されたチップ落とし部材19の下側には、バリ除去手段15のバリ取り容器152が配設されている。さらに、該バリ取り容器152の下方には、バリが除去された後の複数のチップを収容するチップ収容容器156(収容手段)が配設され、図2に示すように該チップ収容容器156は、バリ除去手段15が配設された装置ハウジング2の前壁から出し入れ可能に設けられている。 Returning to FIG. 2 and continuing the description, the dividing apparatus in the illustrated embodiment accommodates a plurality of chips that are arranged adjacent to the lower surface drying means 14 and are divided individually, and a plurality of chips are vibrated to vibrate. A burr removing unit 15 for removing burrs remaining on the outer periphery of the chip, a chip dropping member 19, and a chip storage container 156 as a storage unit are provided. The chip dropping member 19 includes an opening 19a that is opened above the burr removing means 15 and adjacent to the lower surface drying means 14, and the chip dropping member 19 is formed in a funnel shape downward from the opening 19a. Has been. A deburring container 152 of the deburring unit 15 is disposed below the chip dropping member 19 configured as described above. Further, below the deburring container 152, a chip storage container 156 (accommodating means) for storing a plurality of chips after removal of the burr is disposed. As shown in FIG. The burr removing means 15 is provided so that it can be taken in and out from the front wall of the apparatus housing 2.
図6を参照しながら、該バリ除去手段15についてさらに説明する。該バリ除去手段15のバリ取り容器152は、上下方向が開放された円筒状に形成されており、その上下開口は、開閉アーム154b、155bに支持された上方閉鎖部材154、下方閉鎖部材155により開閉可能に形成されている。該上方閉鎖部材154、下方閉鎖部材155の平坦部154a、155aは網目状に形成され外部から外気を取り入れ可能になっている。後述するようにバリ取り容器152内には、排気ダクト158に連通させられた排気口152aが設けられており(図12を参照)、図2に記載されたような排気ダクト158上に配置された排気ファン18を作動させることにより、上方、下方閉鎖部材154、155から取り入れられた空気は、該排気口152a、排気ダクト158を通じてクリーンルームの外部に排出される。上方、下方閉鎖部材の該網目の粗さは、バリ取り容器152に収容される個々に分割されたチップが当該網目の隙間から外部にこぼれ出ないように小さく設定されている。バリ取り容器152は、支持ケース153を介してバリ取り容器揺動手段151に支持されており、後述するように、バリ取り容器152、および支持ケース153は、バリ取り容器揺動手段151内部に収納された揺動機構に対して長穴157を介して連結され、長穴157に沿って上下方向に往復運動しつつ、垂直方向に対して周期的にその角度が変化するように構成され、当該動作を連続的にバリ取り容器に作用させて、バリ取り容器152に収容された複数のチップを振動させることにより該チップのバリが除去される。 The burr removing means 15 will be further described with reference to FIG. The deburring container 152 of the deburring means 15 is formed in a cylindrical shape opened in the vertical direction, and the vertical opening is formed by an upper closing member 154 and a lower closing member 155 supported by the opening / closing arms 154b and 155b. It can be opened and closed. The flat portions 154a and 155a of the upper closing member 154 and the lower closing member 155 are formed in a mesh shape so that outside air can be taken in from the outside. As will be described later, in the deburring container 152, an exhaust port 152a communicated with the exhaust duct 158 is provided (see FIG. 12), and is disposed on the exhaust duct 158 as described in FIG. By operating the exhaust fan 18, the air taken in from the upper and lower closing members 154 and 155 is discharged to the outside of the clean room through the exhaust port 152 a and the exhaust duct 158. The roughness of the mesh of the upper and lower closing members is set to be small so that the individually divided chips accommodated in the deburring container 152 do not spill out from the gap of the mesh. The deburring container 152 is supported by the deburring container swinging means 151 via the support case 153. As will be described later, the deburring container 152 and the support case 153 are disposed inside the deburring container swinging means 151. It is connected to the stored swing mechanism through a long hole 157, and is configured such that its angle periodically changes with respect to the vertical direction while reciprocating in the vertical direction along the long hole 157, The operation is continuously applied to the deburring container, and the plurality of chips housed in the deburring container 152 are vibrated to remove the burrs from the chips.
図2を参照して説明を続けると、図示の実施形態における分割装置は、上記下面乾燥手段14に載置された個々のチップに分割された加工後の被加工物の上面を乾燥するとともに下面乾燥手段14に載置され上面および下面が乾燥された複数のチップを、チップ落とし部材19の開口部19aに落とし込むための上面乾燥手段兼チップ落とし込み手段16を備えている。この上面乾燥手段兼チップ落とし込み手段16は、温風を噴出する温風噴出ノズル161と、温風噴出ノズル161に装着され下方に突出するチップ落とし込みブラシ162と、温風噴出ノズル161を支持し温風噴出ノズル161を上下方向に移動するエアシリンダ機構163と、該エアシリンダ機構163を支持する作動アーム164と、該作動アーム164をY軸方向に移動せしめる図示しない移動手段とからなっている。 Continuing the description with reference to FIG. 2, the dividing apparatus in the illustrated embodiment dries the upper surface of the processed workpiece divided into the individual chips placed on the lower surface drying means 14 and lowers the lower surface. An upper surface drying means / chip dropping means 16 for dropping a plurality of chips placed on the drying means 14 and whose upper and lower surfaces are dried into the opening 19a of the chip dropping member 19 is provided. The upper surface drying means / chip dropping means 16 supports the warm air blowing nozzle 161 for blowing warm air, the tip dropping brush 162 attached to the hot air blowing nozzle 161 and protruding downward, and the hot air blowing nozzle 161. It comprises an air cylinder mechanism 163 that moves the air blowing nozzle 161 in the vertical direction, an operating arm 164 that supports the air cylinder mechanism 163, and a moving means (not shown) that moves the operating arm 164 in the Y-axis direction.
図示の実施形態における分割装置は、搬入・搬出領域に位置付けられている被加工物保持機構3を構成する保持テーブル31に載置されている個々のチップに分割された加工後の被加工物を、上記下面洗浄手段13を経由して下面乾燥手段14に搬送する被加工物搬送手段17を備えている。この被加工物搬送手段17は、保持テーブル31に載置されている個々のチップに分割された加工後の被加工物の上面を吸引保持する吸引保持パッド171と、該吸引保持パッド171を支持し吸引保持パッド171を上下方向に移動するエアシリンダ機構172と、該エアシリンダ機構172を支持する作動アーム173と、該作動アーム173をY軸方向に移動せしめる図示しない移動手段とからなっている。なお、吸引保持パッド171には、図7に示すように下面である吸引保持面171aにおける上記パッケージ基板1の複数のチップサイズパッケージ(CSP)113と対応する複数の領域にそれぞれ吸引孔171bが形成されており、この吸引孔171bが図示しない吸引手段に連通されている。 In the illustrated embodiment, the dividing apparatus is configured to process a processed workpiece divided into individual chips placed on a holding table 31 constituting the workpiece holding mechanism 3 positioned in the carry-in / out region. A workpiece conveying means 17 for conveying to the lower surface drying means 14 via the lower surface cleaning means 13 is provided. The workpiece conveying means 17 supports a suction holding pad 171 for sucking and holding the upper surface of the processed workpiece divided into individual chips placed on the holding table 31, and the suction holding pad 171. And an air cylinder mechanism 172 that moves the suction holding pad 171 in the vertical direction, an operating arm 173 that supports the air cylinder mechanism 172, and a moving means (not shown) that moves the operating arm 173 in the Y-axis direction. . As shown in FIG. 7, suction holes 171b are formed in a plurality of regions corresponding to the plurality of chip size packages (CSPs) 113 of the package substrate 1 on the suction holding surface 171a, which is the lower surface, in the suction holding pad 171. The suction hole 171b communicates with a suction means (not shown).
図示の実施形態における分割装置は、図8に示す制御手段20を具備している。制御手段20はコンピュータによって構成されており、制御プログラムに従って演算処理する中央処理装置(CPU)201と、制御プログラム等を格納するリードオンリメモリ(ROM)202と、演算結果等を格納する読み書き可能なランダムアクセスメモリ(RAM)203と、入力インターフェース204および出力インターフェース205とを備えている。このように構成された制御手段20の入力インターフェース204には、上記撮像手段12、後述するレーザーセンサー200、収容容器の重量計測器220等からの検出信号が入力される。そして、制御手段20の出力インターフェース205からは、上記被加工物保持機構3、切削手段4、上面洗浄手段5、被加工物搬出手段8、被加工物搬入手段9、下面洗浄手段13、下面乾燥手段14、バリ除去手段15、上面乾燥手段兼チップ落とし込み手段16、被加工物搬送手段17、排気ファン18、後述するエアーブロー発生器210、超音波振動発生器230等に制御信号を出力する。 The dividing apparatus in the illustrated embodiment includes the control means 20 shown in FIG. The control means 20 is configured by a computer, and a central processing unit (CPU) 201 that performs arithmetic processing according to a control program, a read-only memory (ROM) 202 that stores control programs and the like, and a read / write that stores arithmetic results and the like. A random access memory (RAM) 203, an input interface 204, and an output interface 205 are provided. To the input interface 204 of the control means 20 configured in this way, detection signals from the imaging means 12, a laser sensor 200, which will be described later, a weight measuring instrument 220 for the container, and the like are input. From the output interface 205 of the control means 20, the workpiece holding mechanism 3, the cutting means 4, the upper surface cleaning means 5, the workpiece unloading means 8, the workpiece loading means 9, the lower surface cleaning means 13, and the lower surface drying. Control signals are output to the means 14, the burr removing means 15, the upper surface drying means / chip dropping means 16, the workpiece conveying means 17, the exhaust fan 18, the air blow generator 210, the ultrasonic vibration generator 230, which will be described later, and the like.
図示の実施形態における分割装置は以上のように構成されており、以下その作用について説明する。
カセット6に収容されているパッケージ基板1は、仮置手段7上に搬出され、被加工物搬出手段8、被加工物搬入手段9を作動して、搬入・搬出領域に位置付けられている被加工物保持機構3を構成する保持テーブル31の吸引保持部310の保持面上に搬送される(被加工物搬入工程)。なお、上記被加工物搬入工程を実施する前に、撮像手段12を作動して保持テーブル31の吸引保持部310の上面である保持面の逃がし溝を撮像し、制御手段20に入力した画像信号に基づいて吸引保持部310の上面である保持面に形成された逃がし溝311および312の位置を求め(逃がし溝検出工程)xy座標値をランダムアクセスメモリ(RAM)203に格納しておく。
The dividing apparatus in the illustrated embodiment is configured as described above, and the operation thereof will be described below.
The package substrate 1 accommodated in the cassette 6 is unloaded onto the temporary placement means 7, and the workpiece unloading means 8 and the workpiece unloading means 9 are actuated to be positioned in the loading / unloading area. The workpiece holding mechanism 3 is conveyed onto the holding surface of the suction holding unit 310 of the holding table 31 (workpiece loading step). The image signal input to the control means 20 is obtained by operating the image pickup means 12 to pick up the relief groove on the holding surface, which is the upper surface of the suction holding portion 310 of the holding table 31, before performing the workpiece carrying-in step. Based on the above, the positions of the escape grooves 311 and 312 formed on the holding surface which is the upper surface of the suction holding unit 310 are obtained (relief groove detecting step), and the xy coordinate values are stored in the random access memory (RAM) 203.
上述した被加工物搬入工程を実施したならば、該撮像手段12を用いて、保持テーブル31の保持面に載置されているパッケージ基板1の第1の分割予定ライン111および第2の分割予定ライン112を撮像し、撮像した画像信号を制御手段20に入力する(分割予定ライン検出工程)。そして、制御手段20は吸引保持テーブル31の保持部310の上面である保持面に形成された逃がし溝311および312の位置と保持テーブル31上に載置されたパッケージ基板1に形成された第1の分割予定ライン111および第2の分割予定ライン112の位置とのズレ量を求め(ズレ量検出工程)、制御手段20は、ズレ量検出工程によって求めたズレ量をランダムアクセスメモリ(RAM)203に格納する。 If the workpiece carrying-in process described above is performed, the first division planned line 111 and the second division planned of the package substrate 1 placed on the holding surface of the holding table 31 using the imaging means 12. The line 112 is imaged, and the captured image signal is input to the control means 20 (division planned line detection step). Then, the control unit 20 positions the escape grooves 311 and 312 formed on the holding surface which is the upper surface of the holding unit 310 of the suction holding table 31 and the first formed on the package substrate 1 placed on the holding table 31. The amount of deviation between the division planned line 111 and the position of the second division planned line 112 is obtained (deviation amount detection step), and the control means 20 uses the amount of deviation obtained in the deviation amount detection step as a random access memory (RAM) 203. To store.
上述したズレ量検出工程を実施したならば、パッケージ基板1の上面を吸引保持パッド91によって吸引保持するとともに、保持テーブル31の保持面から上方に退避させる。次に、制御手段20は保持テーブル支持手段32を回動する図示しない回転駆動手段を制御するとともに保持テーブル31をX軸方向、Y軸方向に移動制御して保持テーブル31の位置を、上記ズレ量で補正した位置に位置付ける。次に制御手段20は吸引保持パッド91に吸引保持されているパッケージ基板1を保持テーブル31の保持面上に載置し直す(被加工物置き直し工程)。この結果、保持面に形成された逃がし溝311および312とパッケージ基板1に形成された第1の分割予定ライン111および第2の分割予定ライン112が一致することになる。このようにして被加工物置き直し工程を実施したならば、図示しない吸引手段を作動することにより、図9に示すように保持テーブル31の保持部310の上面である保持面にパッケージ基板1が吸引保持される。 If the above-described deviation amount detection step is performed, the upper surface of the package substrate 1 is sucked and held by the suction holding pad 91 and is retreated upward from the holding surface of the holding table 31. Next, the control unit 20 controls a rotation driving unit (not shown) that rotates the holding table support unit 32 and controls the movement of the holding table 31 in the X-axis direction and the Y-axis direction so that the position of the holding table 31 is shifted. Position at the position corrected by the amount. Next, the control means 20 remounts the package substrate 1 sucked and held by the suction holding pad 91 on the holding surface of the holding table 31 (workpiece replacement step). As a result, the escape grooves 311 and 312 formed on the holding surface coincide with the first scheduled division line 111 and the second scheduled division line 112 formed on the package substrate 1. When the workpiece repositioning step is performed in this way, the package substrate 1 is placed on the holding surface, which is the upper surface of the holding portion 310 of the holding table 31, by operating a suction means (not shown). Suction hold.
上述したように逃がし溝検出工程と分割予定ライン検出工程とズレ量検出工程および被加工物置き直し工程とを実施することにより、保持テーブル31の保持面に形成された逃がし溝2と保持テーブル31上のパッケージ基板1に形成された各分割予定ラインとを一致させ、保持テーブル31の保持面にパッケージ基板1を吸引保持したならば、撮像手段12を保持テーブル31に保持されたパッケージ基板1に位置付ける。次に、制御手段20は、撮像手段12を作動してパッケージ基板1に形成された第1、2の分割予定ライン111、112を撮像し、第1の分割予定ライン111および第2の分割予定ライン112が、X軸方向およびY軸方向と平行であるか否かを確認、調整するアライメント作業を実施する(アライメント工程)。 As described above, the escape groove 2 formed on the holding surface of the holding table 31 and the holding table 31 by performing the escape groove detecting step, the division planned line detecting step, the shift amount detecting step, and the workpiece repositioning step. When the division planned lines formed on the upper package substrate 1 are made to coincide with each other and the package substrate 1 is sucked and held on the holding surface of the holding table 31, the imaging means 12 is placed on the package substrate 1 held on the holding table 31. Position. Next, the control unit 20 operates the imaging unit 12 to image the first and second division planned lines 111 and 112 formed on the package substrate 1, and the first division planned line 111 and the second division planned An alignment operation for confirming and adjusting whether or not the line 112 is parallel to the X-axis direction and the Y-axis direction is performed (alignment process).
上述したようにアライメント工程を実施したならば、保持テーブル31を加工領域に移動し、図10の(a)に示すように、第1の分割予定ライン111の一端を切削ブレード43の直下より僅かに右側に位置付ける。次に、切削ブレード43を2点鎖線で示す退避位置から、切削水供給ノズル44(図2参照)から切削水を供給しつつ、矢印Z1で示す方向に所定量切り込み送りする。そして、図示しないX軸方向移動手段を作動して保持テーブル31を矢印X1で示す方向に所定の切削送り速度で移動し、パッケージ基板1に形成された第1の分割予定ライン111の他端が切削ブレード43の直下より僅かに左側に達したら(図10の(b)を参照)保持テーブル31の移動を停止するとともに、切削ブレード43を矢印Z2で示す方向の2点鎖線で示す退避位置まで上昇させる。そして、全ての切削すべき第1の分割予定ライン111に対し上記したような切削を繰り返し、パッケージ基板1は、第1の分割予定ライン111に沿って切断される(切削工程)。 When the alignment process is performed as described above, the holding table 31 is moved to the machining area, and one end of the first scheduled dividing line 111 is slightly below the cutting blade 43 as shown in FIG. To the right. Next, the cutting blade 43 is cut and fed in a direction indicated by an arrow Z1 while supplying cutting water from a cutting water supply nozzle 44 (see FIG. 2) from a retracted position indicated by a two-dot chain line. Then, the X-axis direction moving means (not shown) is operated to move the holding table 31 in the direction indicated by the arrow X1 at a predetermined cutting feed speed, and the other end of the first scheduled dividing line 111 formed on the package substrate 1 is When it reaches the left side slightly below the cutting blade 43 (see FIG. 10B), the movement of the holding table 31 is stopped and the cutting blade 43 is moved to the retracted position indicated by the two-dot chain line in the direction indicated by the arrow Z2. Raise. Then, the above-described cutting is repeated for all the first division lines 111 to be cut, and the package substrate 1 is cut along the first division lines 111 (cutting process).
上述した切削工程をパッケージ基板1に所定方向に形成された全ての第1の分割予定ライン111に沿って実施したならば、保持テーブル31を90度回動し、保持テーブル31に上記所定方向と直交する方向に形成された全ての第2の分割予定ライン112に沿って上述した切削工程を実施する。この結果、パッケージ基板1は個々にパッケージされたチップサイズパッケージ(CSP)113に分割される。該切削工程を実施したならば、パッケージ基板1を保持している保持テーブル31を加工領域から搬入・搬出領域に向けて移動させる。このとき、保持テーブル31の移動経路の上側に配設された上面洗浄手段5を作動して、保持テーブル31に保持されている個々のチップサイズパッケージ(CSP)113に分割されたパッケージ基板1の上面を洗浄する(上面洗浄工程)。 If the above-described cutting process is performed along all the first division planned lines 111 formed in the package substrate 1 in a predetermined direction, the holding table 31 is rotated by 90 degrees, and the holding table 31 is moved to the predetermined direction. The above-described cutting process is performed along all the second division planned lines 112 formed in the orthogonal direction. As a result, the package substrate 1 is divided into individually packaged chip size packages (CSP) 113. When the cutting process is performed, the holding table 31 holding the package substrate 1 is moved from the processing area toward the carry-in / out area. At this time, the upper surface cleaning means 5 disposed on the upper side of the moving path of the holding table 31 is operated, and the package substrate 1 divided into individual chip size packages (CSP) 113 held on the holding table 31 is operated. The upper surface is cleaned (upper surface cleaning step).
該上面洗浄工程を実施しつつ、保持テーブル31が図2に示す搬入・搬出領域に達したならば、保持テーブル31の移動を停止し、個々のチップサイズパッケージ(CSP)113に分割されたパッケージ基板1の吸引保持を解除する。 When the holding table 31 reaches the loading / unloading area shown in FIG. 2 while performing the upper surface cleaning step, the movement of the holding table 31 is stopped and the package divided into individual chip size packages (CSP) 113. The suction holding of the substrate 1 is released.
次に、被加工物搬送手段17の図7に示す吸引保持パッド171を分割されたパッケージ基板1の直上に位置付けるとともに、エアシリンダ機構172を作動して吸引保持面171aを分割されたパッケージ基板1の上面に接触させ、個々に分割されたチップサイズパッケージ(CSP)113を吸引孔171bの作用により吸引保持する(チップ吸引保持工程)。 Next, the suction holding pad 171 shown in FIG. 7 of the workpiece conveying means 17 is positioned immediately above the divided package substrate 1 and the air cylinder mechanism 172 is operated to divide the suction holding surface 171a. The chip size package (CSP) 113 that is divided and brought into contact with the upper surface is sucked and held by the action of the suction holes 171b (chip suction holding process).
上述したチップ吸引保持工程を実施したならば、制御手段20は個々に分割されたチップサイズパッケージ(CSP)113を下面洗浄手段13の直上に位置付けるとともに、エアシリンダ機構172を作動して吸引保持パッド171を下降させ洗浄ローラ131に接触させる。このとき、下面洗浄手段13は洗浄ローラ131を回転するとともに洗浄水を供給する。この結果、吸引保持パッド171に吸引保持された個々に分割されたチップサイズパッケージ(CSP)113の下面が洗浄される(下面洗浄工程)。 When the above-described chip suction and holding process is performed, the control unit 20 positions the individually divided chip size package (CSP) 113 directly above the lower surface cleaning unit 13 and operates the air cylinder mechanism 172 to perform the suction holding pad. 171 is lowered and brought into contact with the cleaning roller 131. At this time, the lower surface cleaning means 13 rotates the cleaning roller 131 and supplies cleaning water. As a result, the lower surface of the individually divided chip size package (CSP) 113 sucked and held by the suction holding pad 171 is cleaned (lower surface cleaning step).
上述したように下面洗浄工程を実施したならば、制御手段20は被加工物搬送手段17を作動して、図11に示すように吸引保持パッド171に吸引保持されたチップサイズパッケージ(CSP)113を、下面乾燥手段14の乾燥テーブル141を構成するフッ素系ゴムからなる吸引保持部材143の上面に位置付け、下面乾燥手段14の図示しない吸引手段を作動するとともに吸引保持パッド171による吸引保持を解除する。この結果、図示しない吸引手段から吸引室形成部材144に形成された連通路144c、吸引室144b、テーブル本体142に形成された吸引通路142b、吸引保持部材143に形成された吸引孔143aを介して個々に分割されたチップサイズパッケージ(CSP)113の下面に負圧が作用して、個々に分割されたチップサイズパッケージ(CSP)113が吸引保持部材143の上面に吸引保持される。また、下面乾燥手段14の加熱ヒーター145が附勢(ON)されることにより、分割されたチップサイズパッケージ(CSP)113の下面が加熱されて乾燥する。 When the lower surface cleaning process is performed as described above, the control unit 20 operates the workpiece transfer unit 17 and the chip size package (CSP) 113 sucked and held by the suction holding pad 171 as shown in FIG. Is positioned on the upper surface of a suction holding member 143 made of fluorine-based rubber constituting the drying table 141 of the lower surface drying means 14, and the suction means (not shown) of the lower surface drying means 14 is operated and suction holding by the suction holding pad 171 is released. . As a result, from a suction means (not shown) through the communication passage 144c formed in the suction chamber forming member 144, the suction chamber 144b, the suction passage 142b formed in the table body 142, and the suction hole 143a formed in the suction holding member 143. Negative pressure acts on the lower surface of the individually divided chip size package (CSP) 113, and the individually divided chip size package (CSP) 113 is sucked and held on the upper surface of the suction holding member 143. Further, when the heater 145 of the lower surface drying means 14 is energized (ON), the lower surface of the divided chip size package (CSP) 113 is heated and dried.
また、これと同時に、制御手段20は、上面乾燥手段兼チップ落とし込み手段16を作動して温風噴出ノズル161から温風を噴出すると共に、チップサイズパッケージ(CSP)113の範囲で往復する動作を複数回実施する。この結果、下面乾燥手段14の上面に載置され個々に分割されたチップサイズパッケージ(CSP)113の下面および上面が乾燥される(チップ乾燥工程)。 At the same time, the control unit 20 operates the upper surface drying unit / chip dropping unit 16 to eject hot air from the hot air ejection nozzle 161 and to reciprocate in the range of the chip size package (CSP) 113. Conduct multiple times. As a result, the lower surface and upper surface of the chip size package (CSP) 113 placed on the upper surface of the lower surface drying means 14 and individually divided are dried (chip drying process).
上述したチップ乾燥工程を実施したならば、チップサイズパッケージ(CSP)113の吸引保持を解除する。次に、制御手段20は上面乾燥手段兼チップ落とし込み手段16の図示しない移動手段を作動して温風噴出ノズル161に装着されたチップ落とし込みブラシ162を下面洗浄手段13と下面乾燥手段14との間に移動するとともに、エアシリンダ機構163を作動してチップ落とし込みブラシ162の先端を、乾燥テーブル141を構成する吸引保持部材143の上面に接触する位置に位置付ける。そして、制御手段20は上面乾燥手段兼チップ落とし込み手段16の図示しない移動手段を作動して、チップ落とし込みブラシ162を、チップ落とし部材19の開口部19aに向けて移動させる。この際、バリ取り容器15の上方閉鎖部材154は、図12に示すように、制御手段20の出力信号により開動作されており、この結果、下面乾燥手段14の上面に載置されたチップサイズパッケージ(CSP)113は、開口部19aを通してバリ取り容器152に収容される。このとき、個々に分割されたチップサイズパッケージ(CSP)113が載置されている吸引保持部材143は耐熱性を有するフッ素系ゴムからなり摩擦係数が低いので、個々に分割されたチップサイズパッケージ(CSP)113を円滑に移動することができる。なお、バリ除去手段15は、上記したように装置ハウジング2の内部に収容されているものであるが、図6、12〜15は、説明の都合上、装置ハウジング2を省略している。 If the above-described chip drying process is performed, the suction holding of the chip size package (CSP) 113 is released. Next, the control unit 20 operates a moving unit (not shown) of the upper surface drying unit / chip dropping unit 16 to move the chip dropping brush 162 mounted on the hot air jet nozzle 161 between the lower surface cleaning unit 13 and the lower surface drying unit 14. And the air cylinder mechanism 163 is operated to position the tip of the tip dropping brush 162 at a position in contact with the upper surface of the suction holding member 143 constituting the drying table 141. Then, the control unit 20 operates a moving unit (not shown) of the upper surface drying unit / chip dropping unit 16 to move the chip dropping brush 162 toward the opening 19 a of the chip dropping member 19. At this time, as shown in FIG. 12, the upper closing member 154 of the deburring container 15 is opened by the output signal of the control means 20, and as a result, the chip size placed on the upper surface of the lower surface drying means 14 The package (CSP) 113 is accommodated in the deburring container 152 through the opening 19a. At this time, the suction holding member 143 on which the individually divided chip size package (CSP) 113 is placed is made of heat-resistant fluorine-based rubber and has a low coefficient of friction. CSP) 113 can be moved smoothly. The burr removing means 15 is housed inside the apparatus housing 2 as described above, but the apparatus housing 2 is omitted in FIGS. 6 and 12 to 15 for convenience of explanation.
上記したように、個々に分割されたチップサイズパッケージ(CSP)113が、チップ落とし部材19を通してバリ取り容器152に収容されると、制御手段20により、開閉アーム154bが作動させられ、バリ取り容器15の上部開口が、上方閉鎖部材154により閉鎖される。バリ取り容器15の上部開口が、上方閉鎖部材154により閉鎖されると、制御手段20により、バリ取り容器152内に収容されたチップサイズパッケージ(CSP)113を振動させるバリ取り工程が実施させられる。以下に本発明のバリ取り工程についてさらに詳細に説明する。 As described above, when the individually divided chip size package (CSP) 113 is accommodated in the deburring container 152 through the chip dropping member 19, the control means 20 activates the opening / closing arm 154b, and the deburring container 15 upper openings are closed by an upper closing member 154. When the upper opening of the deburring container 15 is closed by the upper closing member 154, the control means 20 causes the deburring process to vibrate the chip size package (CSP) 113 accommodated in the deburring container 152. . Hereinafter, the deburring process of the present invention will be described in more detail.
制御手段20によるバリ取り工程の実施に先立ち、図2に示されている排気ダクト158上に設置された排気ファン18を作動させる。図12に示すように、バリ取り容器152には排気口152aが設けられており、上方、下方閉鎖部材154、155の各平坦部154a、155aからバリ取り容器152内部に取り入れられた外気は、バリ取り容器152の排気口152aから排出され、バリ取り容器152を支持する支持ケース153内部、バリ取り容器揺動手段151内部を経由して排気ダクト158に導入され、排気ファン18を経由してクリーンルームの外部に排出される。なお、排気ダクト158上には、図示しないフィルタが配置されていてもよい。 Prior to the deburring process performed by the control means 20, the exhaust fan 18 installed on the exhaust duct 158 shown in FIG. As shown in FIG. 12, the deburring container 152 is provided with an exhaust port 152a, and the outside air taken into the deburring container 152 from the flat portions 154a and 155a of the upper and lower closing members 154 and 155, It is discharged from the exhaust port 152 a of the deburring container 152, introduced into the exhaust duct 158 via the support case 153 supporting the deburring container 152 and the deburring container swinging means 151, and via the exhaust fan 18. It is discharged outside the clean room. A filter (not shown) may be disposed on the exhaust duct 158.
排気ファン18が作動させられた後、制御手段20によりバリ取り容器揺動手段151が作動させられる。より具体的には、図13(a)、(b)に示すように、バリ取り容器152を支持する支持部材153が、図示しない駆動手段により、長穴157に沿って上下に往復動させられる。また、当該往復動させられるのと同時に、支持ケース153の中心軸線(図中P)を中心に下降動作に合わせて時計回りに30度程度、及び上昇時に合わせて反時計回りに30度程度回転するように作動させられる。このような上下、回転しながらの往復動を1分間で100回程度繰り返し、1分の動作後に停止する。このような動作により、バリ取り容器152に収容された複数のチップサイズパッケージ(CSP)113が振動させられ、互いに擦れて、各チップサイズパッケージ(CSP)113に残存していたバリが除去される。 After the exhaust fan 18 is actuated, the deburring container swinging means 151 is actuated by the control means 20. More specifically, as shown in FIGS. 13A and 13B, the support member 153 that supports the deburring container 152 is reciprocated up and down along the elongated hole 157 by a driving means (not shown). . Simultaneously with the reciprocating motion, the support case 153 rotates about 30 degrees clockwise around the central axis (P in the figure) in accordance with the lowering operation and about 30 degrees counterclockwise along with the ascent. Operated to do. Such reciprocation while rotating up and down is repeated about 100 times per minute, and stopped after one minute of operation. By such an operation, the plurality of chip size packages (CSP) 113 accommodated in the deburring container 152 are vibrated and rubbed with each other to remove burrs remaining in each chip size package (CSP) 113. .
上記揺動動作中、排気ファン18の作用により、バリ取り容器152の上方、下方閉鎖部材154、155を介して外気が強力に吸引されているため、チップサイズパッケージ(CSP)113から離脱した微細なバリは、上方、下方閉鎖部材154、155から導入される外気とともに、排気口152aから吸い出され、支持ケース153、バリ取り容器揺動手段151の内部を経由して、排気ダクト158側に排出され、図示しない排気ダクト158上のフィルタに捕捉される。 During the swinging operation, since the outside air is strongly sucked through the upper and lower closing members 154 and 155 of the deburring container 152 by the action of the exhaust fan 18, the fine air separated from the chip size package (CSP) 113 is removed. The burr is sucked out from the exhaust port 152a together with the outside air introduced from the upper and lower closing members 154 and 155, and passes through the inside of the support case 153 and the deburring container swinging means 151 to the exhaust duct 158 side. It is discharged and captured by a filter on an exhaust duct 158 (not shown).
上記容器揺動手段151の作動が停止され、当該動作により個々のチップサイズパッケージ(CSP)113からバリが除去された後、排気ファン18の動作が停止される。さらに、当該排気ファン18が停止した後、図14に示すように、バリ取り容器152の下方閉鎖部材155を、開閉アーム155bを作動させて開放する。当該下方閉鎖部材155を開放すると、バリ取り容器152の下方側が解放され、そのバリ取り容器152の下方に位置付けられている収容手段を構成するチップ収容容器156にチップサイズパッケージ(CSP)が収容される。 After the operation of the container swinging means 151 is stopped and burrs are removed from the individual chip size package (CSP) 113 by this operation, the operation of the exhaust fan 18 is stopped. Furthermore, after the exhaust fan 18 stops, as shown in FIG. 14, the lower closing member 155 of the deburring container 152 is opened by operating the opening / closing arm 155b. When the lower closing member 155 is opened, the lower side of the deburring container 152 is released, and the chip size package (CSP) is accommodated in the chip accommodating container 156 constituting the accommodating means positioned below the deburring container 152. The
ここで、本実施形態においては、図14に示されているように、バリ除去手段15を構成するバリ取り容器152の下方から、バリ取り容器152の内部にバリが除去されたチップサイズパッケージ(CSP)113が残留していないか確認するための残留確認手段としてのレーザーセンサー200と、該レーザーセンサー200と一体化されて形成されバリ取り容器152内部に高圧エアーを噴出し、該バリ取り容器152内部に付着して残留しているチップサイズパッケージ(CSP)113を離脱させることにより、下方に位置するチップ収容容器156に落下させる残留チップ解消手段としてのエアーブロー手段210が進退自在に配置されている。このレーザーセンサー200と、エアーブロー手段210は、通常は、バリを除去するためのチップ収容容器156の上下、回転運動の邪魔にならないように、該バリ取り容器152に隣接した位置に退避させられている。 Here, in this embodiment, as shown in FIG. 14, a chip size package in which burrs are removed from the inside of the deburring container 152 from below the deburring container 152 constituting the deburring means 15 ( CSP) 113 as a residual confirmation means for confirming whether or not it remains, and high-pressure air is jetted into the deburring container 152 formed integrally with the laser sensor 200, and the deburring container By removing the chip size package (CSP) 113 that remains attached inside 152, an air blow unit 210 as a residual chip elimination unit that drops into a chip receiving container 156 located below is disposed so as to be able to advance and retreat. ing. The laser sensor 200 and the air blowing means 210 are normally retracted to a position adjacent to the deburring container 152 so as not to disturb the rotational movement of the chip storage container 156 for removing burrs. ing.
そして、記容器揺動手段151の動作により個々のチップサイズパッケージ(CSP)113からバリが除去された後、バリ取り容器152の下方閉鎖部材155を、開閉アーム155bを作動させて開放すると共に、退避させられていた該レーザーセンサー200と、エアーブロー手段210とを、図14に示すように、バリ取り容器152の下方に位置付ける。 After the burr is removed from each chip size package (CSP) 113 by the operation of the container swinging means 151, the lower closing member 155 of the deburring container 152 is opened by operating the opening / closing arm 155b. The retracted laser sensor 200 and air blow means 210 are positioned below the deburring container 152 as shown in FIG.
ここで、残留確認手段として機能する該エアーブロー手段210の先端部に配設されたレーザーセンサー200は、例えば、図示しないHe−Neレーザー発振器(633nm)と、受光部を備えており、該レーザー発振器から発振されたレーザー光線が、レーザーセンサー200の照射口に配置された図示しないガルバノミラーにより、該バリ取り容器152の下方から内側面全体に走査するように構成されている。そして、該受光部により該レーザー光線を照射した際の散乱光を測定し、該測定信号を該制御手段20に送るようになっている。そして、該測定信号が、バリ取り後のチップがバリ取り容器152内部に全く残留していない場合の予め記憶された特性を示しているのか、チップがバリ取り容器152の内壁等に残留していた場合の散乱光を含む特性を示しているのかによって、バリ取り容器152内部にチップが残留しているか否かを確認することができるようになっている。 Here, the laser sensor 200 disposed at the tip of the air blowing unit 210 functioning as a residual confirmation unit includes, for example, a He-Ne laser oscillator (633 nm) and a light receiving unit (not shown). The laser beam oscillated from the oscillator is configured to scan the entire inner surface from below the deburring container 152 by a galvanometer mirror (not shown) disposed at the irradiation port of the laser sensor 200. And the scattered light at the time of irradiating this laser beam with this light-receiving part is measured, and this measurement signal is sent to this control means 20. The measurement signal indicates a pre-stored characteristic when the chip after deburring does not remain in the deburring container 152 at all, or the chip remains on the inner wall of the deburring container 152 or the like. Whether or not the chip remains in the deburring container 152 can be confirmed depending on whether the characteristics including scattered light are exhibited.
該制御手段20に記憶された制御プログラムにより、該バリ取り容器152内部にバリ取り後のチップが残留していると判定がなされた場合は、該制御手段20から該エアーブロー手段に対して駆動信号が出力され、図示しない高圧エアー供給源から高圧エアーが供給されて残留しているチップの存在を解消するための高圧エアーがバリ取り容器152内に噴射される。これにより、バリ取り容器152内部に付着する等して残留していたチップが離脱させられ、下方に位置付けられているチップ収容容器156に移動させられる。なお、当該残留チップ解消手段を実行した後、そのまま制御を終了してもよいが、当該高圧エアーの供給後、再度該残留確認手段を実行し、チップが残留していないとの判定がなされるまで、繰り返し残留チップ解消手段を実行するようにしてもよい。 When it is determined by the control program stored in the control means 20 that the deburred chips remain in the deburring container 152, the control means 20 drives the air blowing means. A signal is output, and high-pressure air is supplied from a high-pressure air supply source (not shown) to inject high-pressure air into the deburring container 152 to eliminate the remaining chips. As a result, the chips remaining in the deburring container 152 or the like are detached and moved to the chip storage container 156 positioned below. The control may be terminated as it is after executing the residual chip eliminating means. However, after supplying the high-pressure air, the residual confirmation means is executed again, and it is determined that no chip remains. Until then, the residual chip elimination means may be repeatedly executed.
本実施形態における上記残留確認手段、残留チップ解消手段は、被加工物である板状物のロット単位ごとに実行されるが、被加工物の最小単位である板状物1枚ごとに実行されるようにしてもよい。 In the present embodiment, the residual confirmation unit and the residual chip eliminating unit are executed for each lot of the plate-like object that is the workpiece, but are executed for each plate-like object that is the minimum unit of the workpiece. You may make it do.
本発明における残留確認手段、残留チップ解消手段は、上記した実施形態に限定されるものではない。例えば、レーザーセンサー200に代えて撮像カメラを設置することができる。その場合は、バリ取り後のチップをチップ収容容器156に収容する作業を実施した後に、該撮像カメラによりバリ取り容器152の内部を撮像して、図2に示す操作モニターMに表示させて、チップが残留していないか、該分割装置のオペレーターによって確認することが可能になる。その際、バリ取り容器152内にチップが残留していることが確認された場合は、オペレーターの指示により、残留チップ解消手段が実行される。 The residual confirmation means and residual chip elimination means in the present invention are not limited to the above-described embodiments. For example, an imaging camera can be installed in place of the laser sensor 200. In that case, after carrying out the work of storing the deburred chips in the chip storage container 156, the inside of the deburring container 152 is imaged by the imaging camera and displayed on the operation monitor M shown in FIG. It can be checked by the operator of the dividing device whether chips remain. At that time, if it is confirmed that chips remain in the deburring container 152, the remaining chip eliminating means is executed according to the instruction of the operator.
また、他の実施形態としては、図15に示すような構成とすることもできる。すなわち、チップ収容容器156の重さを計測する重量計測器220を備え、チップ収容容器156の重量に、1ロットの板状物を加工して得られる全チップの重さを加えた所定重量と、実際に計測される該チップ収容容器156の重量とを比較することにより、バリ除去手段におけるチップの残留を確認することができる。そして、実際に計測される重量が該所定重量よりも軽い場合は、バリ取り容器にチップが付着していることが想定されるため、残留チップ解消手段が実行される。なお、図15に示す実施形態では、残留チップ解消手段として、該バリ取り容器152に対して振動を与える超音波振動付与手段230が備えられており、制御手段20からの駆動信号により、バリ取り容器152に振動が付与されて、例えばバリ取り容器152の内壁に付着するバリ取り後のチップを振るい落とすことができ、チップ収容容器に移動させることができる。 Moreover, as another embodiment, it can also be set as a structure as shown in FIG. That is, a weight measuring device 220 that measures the weight of the chip container 156 is provided, and a predetermined weight obtained by adding the weight of all chips obtained by processing one lot of plate-like material to the weight of the chip container 156; By comparing the actually measured weight of the chip storage container 156, it is possible to confirm the remaining chip in the burr removing means. When the actually measured weight is lighter than the predetermined weight, it is assumed that the chip is attached to the deburring container, and therefore the residual chip eliminating means is executed. In the embodiment shown in FIG. 15, an ultrasonic vibration applying unit 230 that applies vibration to the deburring container 152 is provided as the residual chip eliminating unit, and deburring is performed by a drive signal from the control unit 20. Vibration is applied to the container 152, for example, the chip after deburring attached to the inner wall of the deburring container 152 can be shaken off and moved to the chip storage container.
そして、上記チップ収容容器156は、図2、14に示すように、装置ハウジング2の前面側から引き出すことが可能になっており、上記バリ取り工程を経たチップサイズパッケージ(CSP)113を容易に装置内から取り出すことが可能になっている。よって、切削、バリ取り工程を終えたチップサイズパッケージ(CSP)113は、該チップ収容容器156に収容され、次の工程へと運ばれる。 The chip container 156 can be pulled out from the front side of the apparatus housing 2 as shown in FIGS. 2 and 14, and the chip size package (CSP) 113 that has undergone the deburring process can be easily obtained. It can be taken out from the inside of the apparatus. Therefore, the chip size package (CSP) 113 that has finished the cutting and deburring process is accommodated in the chip accommodating container 156 and is carried to the next process.
なお、本発明に基づく残留確認手段、残留チップ解消手段は、上記の実施形態に限定されず、適宜組み合わせを変更することもできる。例えば、残留確認手段としてレーザーセンサー200を備えると共に、残留チップ解消手段として超音波振動付与手段230を組み合わせることも可能であり、本発明により特定される技術的範囲内において、適宜変形させることができる。 Note that the residual confirmation unit and the residual chip elimination unit based on the present invention are not limited to the above-described embodiment, and the combination can be changed as appropriate. For example, it is possible to provide the laser sensor 200 as the residual confirmation means and to combine the ultrasonic vibration applying means 230 as the residual chip elimination means, which can be appropriately modified within the technical scope specified by the present invention. .
1:パッケージ基板
2:装置ハウジング
3:被加工物保持機構
31:保持テーブル
4:切削手段
43:切削ブレード
5:上面洗浄手段
6:カセット
6a:カセット載置領域
7:仮置き手段
8:被加工物搬送手段
9:被加工物搬入手段
12:撮像手段
13:下面洗浄手段
14:下面乾燥手段
15:バリ除去手段
151:容器揺動手段
152:バリ取り容器
156:チップ収容容器(収容手段)
16:上面乾燥手段兼チップ落とし込み手段
17:被加工物搬送手段
19:チップ落とし部材
20:制御手段
200:レーザーセンサー
210:エアーブロー手段
220:重量計測器
230:超音波振動付与手段
1: Package substrate 2: Device housing 3: Workpiece holding mechanism 31: Holding table 4: Cutting means 43: Cutting blade 5: Upper surface cleaning means 6: Cassette 6a: Cassette placement area 7: Temporary placing means 8: Workpiece Object conveying means 9: Workpiece carrying means 12: Imaging means 13: Lower surface cleaning means 14: Lower surface drying means 15: Deburring means 151: Container swinging means 152: Deburring container 156: Chip container (accommodating means)
16: Upper surface drying means / chip dropping means 17: Workpiece conveying means 19: Chip dropping member 20: Control means 200: Laser sensor 210: Air blow means 220: Weight measuring device 230: Ultrasonic vibration applying means
Claims (7)
切削ブレードを回転可能に備えた切削手段と、
切削ブレードの逃げ溝によって区画されチップの大きさに対応した複数の吸引領域を表面に備えた保持面に板状物を保持する保持手段と、
該保持手段に保持された個々のチップに分割された板状物を該保持手段から搬出し乾燥手段まで搬送する搬送手段と、
該乾燥手段で乾燥された複数のチップを容器に収容し、該容器内に収容されたチップを振動させチップの外周からバリを除去するバリ除去手段と、
該バリが除去されたチップを収容する収容手段と、
該バリ除去手段にチップの残留がないかを確認する残留確認手段と、
から少なくとも構成される分割装置。 A dividing device for cutting a plate-like object and dividing it into chips,
A cutting means having a cutting blade rotatably;
A holding means for holding a plate-like object on a holding surface having a plurality of suction areas corresponding to the size of the chip, which is partitioned by a relief groove of the cutting blade, on the surface;
Conveying means for conveying the plate-like material divided into individual chips held by the holding means from the holding means to the drying means;
A plurality of chips dried by the drying means are housed in a container, and the chips housed in the container are vibrated to remove burrs from the outer periphery of the chips;
Storage means for storing the chip from which the burr has been removed;
A residue confirmation means for confirming whether or not the chip remains in the burr removing means;
A dividing device composed of at least.
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JP7479764B2 (en) | 2020-08-07 | 2024-05-09 | 株式会社ディスコ | Cutting Equipment |
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Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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