JP6322117B2 - 局所ドライエッチング装置 - Google Patents
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- 238000001312 dry etching Methods 0.000 title claims description 85
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 109
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims description 35
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims description 35
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 31
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 17
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 10
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 9
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 5
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 3
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 claims 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 39
- 239000000463 material Substances 0.000 description 13
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 9
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/3244—Gas supply means
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
- H01J37/32192—Microwave generated discharge
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
- H01J37/32321—Discharge generated by other radiation
- H01J37/32339—Discharge generated by other radiation using electromagnetic radiation
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
- H01J37/32366—Localised processing
- H01J37/32376—Scanning across large workpieces
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/32733—Means for moving the material to be treated
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/32—Processing objects by plasma generation
- H01J2237/33—Processing objects by plasma generation characterised by the type of processing
- H01J2237/334—Etching
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- Plasma & Fusion (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
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Description
Claims (10)
- ワークの表面をドライエッチングにより局所的に加工を行う局所ドライエッチング装置であって、
単一の真空チャンバー、
それぞれが上記真空チャンバー内に開口する噴射口を有する放電管からなる複数のガス導入手段、
上記真空チャンバー内に配置され、ワークを載置するための単一のワークテーブル、
上記ワークテーブルを駆動するテーブル駆動装置、
上記テーブル駆動装置を制御するためのテーブル駆動制御装置、
上記ガス導入手段に原料ガスを供給するためのガス供給装置、
単一の電磁波発振器、
上記ガス導入手段のそれぞれの放電管に形成されたプラズマ発生部、
上記プラズマ発生部のひとつに上記単一の電磁波発振器で発振された電磁波を照射するように切り替えることが可能な電磁波切替手段が備えられた電磁波伝達手段を有し、さらに、
上記ガス導入手段のそれぞれが異なる加工特性を有することを特徴とする局所ドライエッチング装置。 - 請求項1に記載された局所ドライエッチング装置において、
上記噴射口のそれぞれとワークとの間の距離を異なるものとすることにより、上記ガス導入手段のそれぞれが異なる加工特性を有することを特徴とする局所ドライエッチング装置。 - 請求項1または請求項2のいずれかに記載された局所ドライエッチング装置において、
異なる排気条件をもった排気手段を上記噴射口の周囲に配置することにより、上記ガス導入手段のそれぞれが異なる加工特性を有することを特徴とする局所ドライエッチング装置。 - 請求項3に記載された局所ドライエッチング装置において、
上記排気手段は、上記噴射口の周囲に配設された排気ダクトおよび排気ダクトに接続された排気機構からなり、上記排気ダクトの上記放電管の軸に直交する方向の幅または上記放電管の軸と同方向の高さの少なくとも一つを上記噴射口毎に異なるものとすることにより、上記ガス導入手段のそれぞれが異なる加工特性を有することを特徴とする局所ドライエッチング装置。 - 請求項3または請求項4のいずれかに記載された局所ドライエッチング装置において、
上記排気手段は、上記噴射口の周囲に配設された排気ダクトおよび排気ダクトに接続された排気機構からなり、上記排気機構によりドライエッチング加工時に生じる反応生成ガスを排出する排出量を上記噴射口毎に異なるものとすることにより、上記ガス導入手段のそれぞれが異なる加工特性を有することを特徴とする局所ドライエッチング装置。 - 請求項1に記載された局所ドライエッチング装置において、
上記噴射口の径または形状を異なるものとすることにより、上記ガス導入手段のそれぞれが異なる加工特性を有することを特徴とする局所ドライエッチング装置。 - 請求項1に記載された局所ドライエッチング装置において、
上記プラズマ発生部から上記ワークテーブルに載置されたワーク表面までの距離を異なるものとすることにより、上記ガス導入手段のそれぞれが異なる加工特性を有することを特徴とする局所ドライエッチング装置。 - 請求項1に記載された局所ドライエッチング装置において、
上記放電管内にそれぞれ異なる種類のガスを供給することにより、上記ガス導入手段のそれぞれが異なる加工特性を有することを特徴とする局所ドライエッチング装置。 - 請求項1から請求項8までのいずれかに記載された局所ドライエッチング装置において、
ワークの加工領域および/または上記排気ダクトの周囲に、不活性ガスおよび/または上記ガス導入手段に供給される非活性の原料ガスを供給することを特徴とする局所ドライエッチング装置。 - 請求項1から請求項9のいずれかに記載された局所ドライエッチング装置において、
上記ガス導入手段の少なくとも一部を加熱および冷却するための温度調整手段が備えられていることを特徴とする局所ドライエッチング装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014208630A JP6322117B2 (ja) | 2014-10-10 | 2014-10-10 | 局所ドライエッチング装置 |
US14/876,573 US20160104601A1 (en) | 2014-10-10 | 2015-10-06 | Local dry etching apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014208630A JP6322117B2 (ja) | 2014-10-10 | 2014-10-10 | 局所ドライエッチング装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016081948A JP2016081948A (ja) | 2016-05-16 |
JP6322117B2 true JP6322117B2 (ja) | 2018-05-09 |
Family
ID=55655940
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014208630A Active JP6322117B2 (ja) | 2014-10-10 | 2014-10-10 | 局所ドライエッチング装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20160104601A1 (ja) |
JP (1) | JP6322117B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102016927B1 (ko) * | 2017-11-01 | 2019-10-21 | 한국기초과학지원연구원 | 원자층 연마 방법 및 이를 위한 연마 장치 |
JP6986582B2 (ja) * | 2020-02-06 | 2021-12-22 | Nttエレクトロニクス株式会社 | 局所エッチングによる光デバイス製造方法、及び製造装置 |
JP7396668B2 (ja) * | 2020-07-02 | 2023-12-12 | スピードファム株式会社 | エッチング装置、およびエッチング方法 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4943345A (en) * | 1989-03-23 | 1990-07-24 | Board Of Trustees Operating Michigan State University | Plasma reactor apparatus and method for treating a substrate |
JPH03245522A (ja) * | 1990-02-22 | 1991-11-01 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体製造装置及び半導体装置の製造方法 |
US5273609A (en) * | 1990-09-12 | 1993-12-28 | Texas Instruments Incorporated | Method and apparatus for time-division plasma chopping in a multi-channel plasma processing equipment |
JP3799144B2 (ja) * | 1997-09-16 | 2006-07-19 | キヤノンマーケティングジャパン株式会社 | マイクロ波プラズマ処理装置 |
JPH11214196A (ja) * | 1998-01-29 | 1999-08-06 | Mitsubishi Electric Corp | プラズマ発生装置 |
JP2000133639A (ja) * | 1998-10-22 | 2000-05-12 | Kemitoronikusu:Kk | プラズマエッチング装置およびこれを用いたエッチングの方法 |
JP2000208487A (ja) * | 1999-01-11 | 2000-07-28 | Speedfam-Ipec Co Ltd | 局部エッチング装置及び局部エッチング方法 |
US20020007912A1 (en) * | 1999-04-12 | 2002-01-24 | Mohammad Kamarehi | Coolant for plasma generator |
JP2002151478A (ja) * | 2000-11-14 | 2002-05-24 | Sekisui Chem Co Ltd | ドライエッチング方法及びその装置 |
JP2004047559A (ja) * | 2002-07-09 | 2004-02-12 | Shibaura Mechatronics Corp | ドライエッチング装置 |
JP3908990B2 (ja) * | 2002-07-22 | 2007-04-25 | スピードファム株式会社 | 局所ドライエッチング方法 |
JP2004134661A (ja) * | 2002-10-11 | 2004-04-30 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | プラズマエッチング装置及び半導体ウエーハの加工方法 |
JP2005129323A (ja) * | 2003-10-23 | 2005-05-19 | Shibaura Mechatronics Corp | プラズマ発生装置及びプラズマ処理装置 |
JP2007267083A (ja) * | 2006-03-29 | 2007-10-11 | Noritsu Koki Co Ltd | サーキュレータ、プラズマ発生装置、及びワーク処理装置 |
JP6046580B2 (ja) * | 2013-09-09 | 2016-12-21 | スピードファム株式会社 | 局所ドライエッチング装置及び局所ドライエッチング加工方法 |
-
2014
- 2014-10-10 JP JP2014208630A patent/JP6322117B2/ja active Active
-
2015
- 2015-10-06 US US14/876,573 patent/US20160104601A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20160104601A1 (en) | 2016-04-14 |
JP2016081948A (ja) | 2016-05-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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