JP6377335B2 - 検出装置におけるデータ検出方法および検出装置 - Google Patents
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Description
にマグネットを設け、固定体の側に磁気抵抗素子やホール素子を備えた磁気センサ装置(検出装置)が設けられる。かかる磁気センサ装置のうち、例えば、磁気抵抗素子を備えた磁気センサ装置では、基板の一方面に磁気抵抗膜が形成されており、磁気抵抗膜によって構成した2相(A相およびB相)のブリッジ回路から出力された2つの出力に基づいて、回転体の角度速度や角度位置等を検出する(例えば、特許文献1参照)。
図1は、本発明を適用したロータリエンコーダ1の説明図である。図2は、本発明を適用したロータリエンコーダ1に用いた磁気抵抗素子4の磁気抵抗膜41〜44の電気的な接続構造の説明図である。図3は、本発明を適用したロータリエンコーダ1の原理を示す説明図であり、図3(a)、(b)は、磁気抵抗素子4から出力される信号等の説明図、およびかかる信号と回転体2の角度位置(電気角)との関係を示す説明図である。
図4は、本発明を適用したロータリエンコーダ1で実施されるデータ検出方法を示すフローチャートである。図5は、本発明を適用したロータリエンコーダ1で実施されるオーバーサンプリングの内容を模式的に示す説明図である。
本形態では、図4に示すように、ロータリエンコーダ1において、第1制御パルスP1(図5参照)によってデータ検出期間Tになると、以下のデータ取得工程S10が開始する。まず、ステップS1において、予め外部指令部99から指令された内容に基づいて、データ取得総回数Nを設定し、ステップS2では、変数nを1とする。データ取得総回数Nは、3回以上の奇数回、好ましくは5回以上の奇数回として設定される。本形態においては、説明の簡略化のために、データ取得総回数Nを5回に設定したものとして説明する。このため、本形態では、1回のデータ検出期間Tでは、制御パルスP2(図5参照)に基づいて、一定時間毎に計5回のタイミングで、第1検出部4aからの第1データDSINの取得と、第2検出部4bからの第2データDCOSの取得とが行われる。
ステップS7での判断において、変数nがNであると判断された場合、ステップS8において検出値決定工程が実施される。かかる検出値決定工程において、図1に示す第1検出値決定部97aは、第1データDSIN(第1データDSIN1、DSIN2、DSIN3)に基づいて今回のデータ検出期間Tにおける第1検出値ESINを決定し、図1に示す第2検出値決定部97bは、第2データDCOS(第2データDCOS1、DCOS2)に基づいて第2検出値ECOSを決定する。例えば、第1検出値決定部97aは、第1データDSIN1、DSIN2、DSIN3の相加平均を今回のデータ検出期間Tにおける第1検出値ESINと決定し、第2検出値決定部97bは、第2データDCOS1、DCOS2の相加平均を今回のデータ検出期間Tにおける第2検出値ECOSと決定する。
次に、ステップS9においては、第1検出値ESINと第2検出値ECOSとを用いて今回のデータ検出期間における逆正接(θ=TAN-1(ESIN/ECOS))を求める。その結果、図1に示す位置決定部96は、逆正接(θ=TAN-1(ESIN/ECOS))の演算結果、第1ホール素子61での検出結果、および第2ホール素子62での検出結果に基づいて回転体2の今回のデータ検出期間Tにおける絶対角度位置を決定する。そして、変数nを0とし、データ取得総回数Nを0に初期化して、今回のデータ検出期間Tが終了する。
図6は、本発明を適用したロータリエンコーダ1においてオーバーサンプリングを実施した効果を示す説明図である。
上記実施の形態において、検出値決定工程では、相加平均を用いて第1検出値ESINおよび第2検出値ECOSを決定したが、第1データDSINを加算して第1検出値ESINの算出を行い、第2データDCOSを加算して第2検出値ECOSの算出を行ってもよい。この場合、第1検出値ESINの算出および第2検出値ECOSの算出の少なくとも一方では、データ検出期間Tの中央に対して前側および後側で対称な係数を乗じた加重加算を行うことにより、第1検出値ESINのビット長と第2検出値ECOSのビット長とを一致させる。また、係数として、データ検出期間Tの中央に近い時間に得たデータに対してデータ検出期間Tの中央から遠い時間に得たデータより大の係数を乗じた加重加算を行うことにより、第1検出値のビット長と第2検出値のビット長とを一致させる。
係数(21)×第1データDSIN2
係数(20)×第1データDSIN3
これに対して、第2データDCOSを加算して第2検出値ECOSの算出を行う際、以下の係数を乗じた値を加算した値を第2検出値ECOSとする。
係数(21)×第2データDCOS2
なお、第1データDSINの取得回数と第2データDCOSの取得回数の和を9回とし、計5つの第1データDSIN1〜DSIN5と、計4つの第2データDCOS1〜COS4が得られた場合、係数は以下の条件1、2、3のように設定して、第1検出値ESINおよび第2検出値ECOSを決定してもよい。
第1検出値ESIN
係数(20)×第1データDSIN1
係数(21)×第1データDSIN2
係数(21)×第1データDSIN3
係数(21)×第1データDSIN4
係数(20)×第1データDSIN5
第2検出値ECOS
係数(21)×第2データDCOS1
係数(21)×第2データDCOS2
係数(21)×第2データDCOS3
係数(21)×第2データDCOS4
条件2
第1検出値ESIN
係数(20)×第1データDSIN1
係数(20)×第1データDSIN2
係数(21)×第1データDSIN3
係数(20)×第1データDSIN4
係数(20)×第1データDSIN5
第2検出値ECOS
係数(20)×第2データDCOS1
係数(21)×第2データDCOS2
係数(21)×第2データDCOS3
係数(20)×第2データDCOS4
条件3
第1検出値ESIN
係数(20)×第1データDSIN1
係数(20)×第1データDSIN2
係数(21)×第1データDSIN3
係数(20)×第1データDSIN4
係数(20)×第1データDSIN5
第2検出値ECOS
係数(21)×第2データDCOS1
係数(20)×第2データDCOS2
係数(20)×第2データDCOS3
係数(21)×第2データDCOS4
図1に示す外部指令部99等からタイミング制御部95での条件を切り換えて、今回のデータ検出期間Tでは、複数回のタイミングのうち、奇数回目のタイミングで第1データDSINを得、偶数回目で第2データDCOSを得、次回のデータ検出期間Tでは、複数回のタイミングのうち、奇数回目のタイミングで第2データDCOSを得、偶数回目で第1データDSINを得てもよい。奇数回目でのデータ取得は偶数回目のデータ取得に比して1回多いことになるが、かかる構成によれば、奇数回目でのデータ取得と偶数回目のデータ取得とが入れ替わるので、第1データDSINの取得数と第2データDCOSの取得数とを同等とすることができる。
上記実施の形態では、ロータリエンコーダ1を例示したが、2つの検出部を有する検出装置において、交互にデータの取得を行う装置であれば、他のセンサ装置等に本発明を適用してもよい。
2・・回転体
4・・磁気抵抗素子
4a・・第1検出部
4b・・第2検出部
41、43・・磁気抵抗膜(第1磁気抵抗膜)
42、44・・磁気抵抗膜(第2磁気抵抗膜)
90・・制御部
93・・A/Dコンバータ
95・・タイミング制御部
96・・位置決定部
98・・演算部
SIN・・第1アナログデータ
COS・・第2アナログデータ
DSIN・・第1データ
DCOS・・第2データ
ESIN・・第1検出値
ECOS・・第2検出値
Claims (9)
- 一定時間毎に複数回のタイミングが設定されたデータ検出期間内において、第1検出部からの第1データを得るとともに、第2検出部からの第2データを得るデータ取得工程と、
前記第1データに基づいて前記データ検出期間における第1検出値を決定し、前記第2データに基づいて前記データ検出期間内における第2検出値を決定する検出値決定工程と、
を有し、
前記データ取得工程では、前記データ検出期間内における前記第1データの取得回数と前記第2データの取得回数の和を5回以上の奇数回とし、
前記データ検出期間は連続して設定されており、
今回の前記データ検出期間では、前記複数回のタイミングのうち、奇数回目のタイミングで前記第1データを得、偶数回目のタイミングで前記第2データを得、
次回の前記データ検出期間では、前記複数回のタイミングのうち、偶数回目のタイミングで前記第1データを得、奇数回目のタイミングで前記第2データを得ることを特徴とする検出装置におけるデータ検出方法。 - 前記第1検出部は第1アナログデータを連続して出力するとともに、前記第2検出部は第2アナログデータを連続して出力し、
前記第1アナログデータと前記第2アナログデータとを交互にデジタルデータに変換するA/Dコンバータを設けておき、
前記データ取得工程では、前記A/Dコンバータによって、前記第1アナログデータをデジタルデータに変換した結果を前記第1データとし、前記第2アナログデータをデジタルデータに変換した結果を前記第2データとすることを特徴とする請求項1に記載の検出装置におけるデータ検出方法。 - 前記検出値決定工程では、前記第1データの相加平均により前記第1検出値を決定し、前記第2データの相加平均により前記第2検出値を決定することを特徴とする請求項1または2に記載の検出装置におけるデータ検出方法。
- 前記検出値決定工程では、前記第1データを加算して前記第1検出値の算出を行い、前
記第2データを加算して前記第2検出値の算出を行い、
前記第1検出値の算出および前記第2検出値の算出の少なくとも一方では、前記データ検出期間の中央に対して前側および後側で対称な係数を乗じた加重加算を行うことにより、前記第1検出値のビット長と前記第2検出値のビット長とを一致させることを特徴とする請求項1または2に記載の検出装置におけるデータ検出方法。 - 前記係数として、前記データ検出期間の中央に近い時間に得たデータに対して前記データ検出期間の中央から遠い時間に得たデータより大の係数を乗じた加重加算を行うことを特徴とする請求項4に記載の検出装置におけるデータ検出方法。
- 前記係数は、2のべき乗であることを特徴とする請求項4または5に記載の検出装置におけるデータ検出方法。
- 前記第1検出部は磁気抵抗素子の第1磁気抵抗膜であり、
前記第2検出部は前記磁気抵抗素子の第2磁気抵抗膜であり、
前記第1磁気抵抗膜は、前記磁気抵抗素子に対して相対回転する磁石からの磁界変化に基づいて、SIN波からなる前記第1アナログデータを出力し、
前記第2磁気抵抗膜は、前記磁石からの磁界変化に基づいてCOS波からなる前記第2アナログデータを出力し、
前記検出値決定工程の後、前記第1検出値および前記第2検出値に対応する逆正接に基づいて前記磁気抵抗素子に対する前記磁石の角度位置を算出することを特徴とする請求項2に記載の検出装置におけるデータ検出方法。 - 前記複数回のタイミングは、前記データ検出期間内における前記第1データの取得回数と前記第2データの取得回数との和によって前記データ検出期間を除した時間毎に設定されていることを特徴とする請求項1乃至7の何れか一項に記載の検出装置におけるデータ検出方法。
- 第1検出部と、
第2検出部と、
一定時間毎に複数回のタイミングが設定されたデータ検出期間内において、前記第1検出部からの第1データを得るとともに、前記第2検出部からの第2データを得るデータ取得部と、
前記第1データに基づいて前記データ検出期間における第1検出値を決定し、前記第2データに基づいて前記データ検出期間内における第2検出値を決定する検出値決定部と、
を有し、
前記データ取得部では、前記データ検出期間内における前記第1データの取得回数と前記第2データの取得回数の和が5回以上の奇数回に設定され、
前記データ検出期間は連続して設定されており、
今回の前記データ検出期間では、前記複数回のタイミングのうち、奇数回目のタイミングで前記第1データを得、偶数回目のタイミングで前記第2データを得、
次回の前記データ検出期間では、前記複数回のタイミングのうち、偶数回目のタイミングで前記第1データを得、奇数回目のタイミングで前記第2データを得ることを特徴とする検出装置。
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