JP6144584B2 - 破損検査装置 - Google Patents

Description

本発明は、破損検査装置に関する。

従来、例えば、特許文献１（特開２００５−３１０６９号公報）に示すように、物品に対してＸ線を照射することにより物品の破損を検査する方法が提案されていた。具体的には、物品を透過したＸ線に基づきＸ線画像が生成され、さらに、Ｘ線画像が二値化される。二値化画像に基づき、物品の面積または物品の周長が求められ、得られた面積または周長と、基準値とを比較することにより、物品の破損の有無の判定が行われる。

ところで、従来の破損検査装置では、物品の種類によって、物品の破損が正確に判定できない場合があった。具体的には、物品が、ガラス製の容器（瓶）や金属製の容器（缶）に詰められた液体または流動性のある物体である場合、容器の割れや欠けが正確に判定できない場合があった。例えば、瓶の先端に僅かな割れや欠けがある物品（破損物品）に対して得られるＸ線画像と、正常な物品に対して得られるＸ線画像とは、面積または周長に殆ど差が無い。その結果、従来の破損検査装置では、このような破損物品と正常な物品とを識別することが困難な場合があった。

本発明の課題は、物品の破損検査の精度を向上させることにある。

本発明に係る破損検査装置は、照射源と、検知部と、検査画像生成部と、を備え、物品の破損の有無を検査する。照射源は、物品に対して放射光を照射する。検知部は、放射光を検知する。検査画像生成部は、検知部によって検知された放射光に基づいて検査画像を生成する。ここで、破損検査装置は、エッジ検出部と判定部とを備えることを特徴とする。エッジ検出部は、検査画像に基づいて物品のエッジを検出する。判定部は、エッジが閉鎖されている場合には物品を正常と判定し、エッジが閉鎖されていない場合には物品を不良と判定する。

本発明に係る破損検査装置では、検査画像に基づいて物品のエッジが検出される。また、エッジが閉鎖されているか否かが判定される。エッジが閉鎖されている場合には、物品は正常であると判定され、閉鎖されていない場合には、不良と判定される。これにより、物品の破損検査の精度を向上させることができる。

また、エッジ検出部は、検出した物品のエッジを示すエッジ画像を生成する。判定部は、エッジ画像を構成する複数のエッジ対応画素に、複数のエッジ対応画素に沿って移動する移動点の起点を設定する。判定部は、移動点が複数のエッジ対応画素を一巡し起点に戻る場合に、エッジが閉鎖されていると判定することが好ましい。これにより、エッジの連続性の有無に基づき、物品の欠けを判定することができる。

さらに、本発明に係る破損検査装置は、切り出し部を備えることが好ましい。切り出し部は、切り出し処理を実行する。切り出し処理は、複数の物品に対応する複数のエッジを示すエッジ画像から、一の物品に対応する一のエッジを切り出す。また、判定部は、切り出し処理によって得られた一の物品に対応する一のエッジに基づいて、物品が正常か否かを判定することが好ましい。これにより、複数物品のそれぞれについて、精度よく破損検査を行うことができる。

本発明によれば、物品の破損検査の精度を向上させることができる。

本発明の一実施形態に係る破損検査装置の斜視図である。 破損検査装置が組み込まれた生産ラインを説明するための図である。 破損検査装置のシールドボックス内部の簡易構成図である。 破損検査装置の原理を示す図である。 制御装置のブロック構成図である。 Ｘ線画像の例を示す図である。 エッジ画像の例を示す図である。 切り出し処理を説明するための図である。 第２判定処理を説明するための図である。 第２判定処理を説明するための図である。 第２判定処理を説明するための図である。 第２判定処理を説明するための図である。

以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態について説明する。なお、以下の実施形態は、本発明の一つの具体例であって、本発明の技術的範囲を限定するものではない。

（１）全体構成
図１に、本発明の一実施形態に係る破損検査装置１０の外観を示す。図２は、破損検査装置１０が組み込まれた生産ライン１００を示す。本実施形態では、破損検査装置１０として、Ｘ線検査装置を用いる。図２に示すように、破損検査装置１０は、生産ライン１００に組み込まれて物品Ｇの品質検査（破損検査）を行う装置の１つである。破損検査装置１０は、連続的に搬送されてくる物品Ｇに対してＸ線を照射することにより物品Ｇの良否判断を行う。検体である物品Ｇは、前段コンベア６０によって破損検査装置１０まで運ばれてくる。物品Ｇは、破損検査装置１０において良品または不良品に分類される。破損検査装置１０での検査結果は、破損検査装置１０の下流側に配置されている振分機構７０（図２ではアーム式を示している）に送られる。振分機構７０は、破損検査装置１０において良品と判断された物品Ｇを、良品（正常品）を排出するコンベア８０へと送り、破損検査装置１０において不良品と判断された物品Ｇを、不良品排出方向９０，９１へと振分ける。

なお、破損検査装置１０の検査対象となる物品Ｇは、ガラス製の容器や金属製の容器に詰められた液体または流動性のある物体である。ガラス製の容器は、例えば、ガラス瓶であり、金属製の容器は、例えば、缶である。瓶や缶は、密閉状態で液体または流動性のある物体を包含する。また、破損検査装置１０には、箱詰めされた複数の物品Ｇが送られるものとする。具体的に、本実施形態では、瓶詰めされた薬剤（アンプル）（物品Ｇ）が複数個、カートンＢに詰められた状態で、破損検査装置１０に送られる（図６参照）。本実施形態に係る破損検査装置１０は、カートンに詰められた複数のアンプルのそれぞれについて、破損（割れおよび／または欠け）の有無を判定する。

（２）破損検査装置の構成
破損検査装置１０は、図１、図３、または図５に示すように、主として、シールドボックス１１と、コンベア１２と、Ｘ線照射器（照射源）１３と、Ｘ線ラインセンサ（検知部）１４と、タッチパネル機能付きのモニタ３０と、制御装置２０とから構成されている。

（２−１）シールドボックス
シールドボックス１１は、破損検査装置１０のケーシングである。シールドボックス１１は、両側面に、物品Ｇを搬出入するための開口１１ａを有する。開口１１ａは、物品Ｇをシールドボックス１１の内外に搬入および搬出させるために用いられる。開口１１ａは、図１には図示していないが、遮蔽ノレンにより塞がれている。遮蔽ノレンは、シールドボックス１１の外部へのＸ線の漏洩を抑える。遮蔽ノレンは、鉛を含むゴムから成形される。遮蔽ノレンは、物品Ｇが搬出入されるときに物品Ｇによって押しのけられる。

シールドボックス１１の中に、コンベア１２、Ｘ線照射器１３、Ｘ線ラインセンサ１４、制御装置２０などが収容される。また、シールドボックス１１の正面上部には、モニタ３０の他、キーの差し込み口や電源スイッチが配置されている。

（２−２）コンベア
コンベア１２は、シールドボックス１１内で物品Ｇを搬送する。コンベア１２は、図１に示すように、シールドボックス１１の両側面に形成された開口１１ａを貫通するように配置されている。コンベア１２は、主として、無端状のベルトと、コンベアローラと、コンベアモータ１２ａ（図５参照）とから構成されている。コンベアローラは、コンベアモータ１２ａによって駆動される。コンベアローラの駆動により、ベルトが回転され、ベルト上の物品Ｇが下流に搬送される。コンベア１２による物品Ｇの搬送速度は、オペレータによって入力された設定速度に応じて変動する。制御装置２０は、設定速度に基づいてコンベアモータ１２ａをインバータ制御し、物品Ｇの搬送速度を細かく制御する。また、コンベアモータ１２ａには、コンベア１２による搬送速度を検出して制御装置２０に送るエンコーダ１２ｂ（図５参照）が装着されている。

（２−３）Ｘ線照射器
Ｘ線照射器１３は、図３に示すように、コンベア１２の上方に配置されている。Ｘ線照射器１３は、物品Ｇの下方に位置するＸ線ラインセンサ１４に向けて扇状のＸ線（放射光）を照射する。具体的に、照射範囲Ｘは、図３に示すように、コンベア１２の搬送面に対して垂直に延びる。また、照射範囲Ｘは、コンベア１２の搬送方向に対して交差する方向に広がる。すなわち、Ｘ線照射器１３から照射されるＸ線は、ベルトの幅方向に広がる。

（２−４）Ｘ線ラインセンサ
Ｘ線ラインセンサ１４は、物品Ｇやコンベア１２を透過してくるＸ線を検出する。Ｘ線ラインセンサ１４は、図３に示すように、コンベア１２の下方に配置されている。Ｘ線ラインセンサ１４は、主として、多数のＸ線検出素子１４ａから構成されている。Ｘ線検出素子１４ａは、コンベア１２による搬送方向に直交する向きに一直線に水平配置されている。

Ｘ線ラインセンサ１４は、物品Ｇやコンベア１２を透過したＸ線量（透過Ｘ線量）を検出し、透過Ｘ線量に基づくＸ線透過信号を出力する。言い換えると、Ｘ線透過信号は、透過したＸ線の強度に応じたＸ線透過信号を出力する。透過したＸ線の強度は、透過Ｘ線量の大小に依存する。Ｘ線透過信号により、Ｘ線画像の明るさ（濃淡値）が決定される（図４参照）。図４は、Ｘ線ラインセンサ１４のＸ線検出素子１４ａによって検出される透過Ｘ線量（検出量）の例を示すグラフである。グラフの横軸は、各Ｘ線検出素子１４ａの位置に対応する。また、グラフの横軸は、コンベア１２の搬送方向に直交する方向の距離に対応する。また、グラフの縦軸は、Ｘ線検出素子１４ａで検出されたＸ線の透過量（検出量）を示す。すなわち、検出量の多いところが明るい（淡い）Ｘ線画像として表示され、検出量が少ないところが暗い（濃い）Ｘ線画像として表示される。すなわち、Ｘ線画像の明暗（濃淡）は、Ｘ線の検出量に対応する。

さらに、Ｘ線ラインセンサ１４は、物品Ｇが扇状のＸ線の照射範囲Ｘ（図３参照）を通過するタイミングを検知するためのセンサとしても機能する。すなわち、Ｘ線ラインセンサ１４は、コンベア１２によって搬送される物品ＧがＸ線ラインセンサ１４の上方位置（照射範囲Ｘ）に来たとき、所定の閾値以下の電圧を示すＸ線透過信号（第１信号）を出力する。一方、Ｘ線ラインセンサ１４は、物品Ｇが照射範囲Ｘを通過すると所定の閾値を上回る電圧を示すＸ線透過信号（第２信号）を出力する。第１信号および第２信号が後述の制御装置２０に入力されることにより、照射範囲Ｘにおける物品Ｇの有無が検出される。

（２−５）モニタ
モニタ３０は、表示部および入力部として機能する。具体的に、モニタ３０は、フルドット表示の液晶ディスプレイである。モニタ３０には、物品Ｇの検査結果が表示される。また、モニタ３０には、初期設定や不良判断に関するパラメータ入力などを促す画面が表示される。さらに、モニタ３０は、タッチパネル機能を有する。したがって、モニタ３０は、オペレータによる検査パラメータおよび動作設定情報等の入力を受け付ける。

（２−６）制御装置
制御装置２０は、主として、ＣＰＵおよびメモリ等によって構成されている。制御装置２０は、図示しない表示制御回路、キー入力回路、通信ポートなども備えている。表示制御回路は、モニタ３０でのデータ表示を制御する回路である。キー入力回路は、モニタ３０のタッチパネルを介してオペレータにより入力されたキー入力データを取り込む回路である。通信ポートは、プリンタ等の外部機器やＬＡＮ等のネットワークとの接続を可能にする。

また、制御装置２０は、上述のコンベアモータ１２ａ、エンコーダ１２ｂ、Ｘ線照射器１３、Ｘ線ラインセンサ１４、およびモニタ３０等に電気的に接続されている。制御装置２０は、エンコーダ１２ｂからコンベアモータ１２ａの回転数に関するデータを取得し、当該データに基づき、物品Ｇの移動距離を把握する。また、制御装置２０は、上述したように、Ｘ線ラインセンサ１４から出力された信号を受信することにより、コンベア１２のベルト上の物品Ｇが照射範囲Ｘに来たタイミングを検出する。

なお、制御装置２０は、図５に示すように、主として、記憶部２１および制御部２２として機能する。

（２−６−１）記憶部
記憶部２１は、破損検査に必要な各種プログラムを記憶する。また、記憶部２１は、図５に示すように、主として、基準値記憶領域２１ａ、画像記憶領域２１ｂ、および検査結果記憶領域２１ｃを有する。

（ａ）基準値記憶領域
基準値記憶領域２１ａには、後述する割れ検査に用いられる基準値が記憶される。基準値は、物品Ｇの種類に応じて設けられる。基準値は、例えば、基準周囲長や基準面積である。

（ｂ）画像記憶領域
画像記憶領域２１ｂには、後述する制御部２２によって生成された物品Ｇに関する画像が記憶される。具体的に、画像記憶領域２１ｂでは、物品ＧのＸ線画像（検査画像）、二値化画像、およびエッジ画像が、それぞれ対応付けて記憶される。Ｘ線画像は、後述のＸ線画像生成部２２ａによって生成される画像である。二値化画像は、後述の二値化画像生成部２２ｂによって生成される画像である。また、エッジ画像は、後述のエッジ検出部２２ｄによって生成される画像である。

（ｃ）検査結果記憶領域
検査結果記憶領域２１ｃには、後述する第１破損判定部２２ｃおよび第２破損判定部２２ｆによる一時的な判定結果（良／不良の結果）や、良否判定部２２ｇによる物品Ｇの最終的な良否判定の結果等が記憶される。

（２−６−２）制御部
制御部２２は、図５に示すように、主として、Ｘ線画像生成部（検査画像生成部）２２ａ、二値化画像生成部２２ｂ、第１破損判定部２２ｃ、エッジ検出部２２ｄ、切り出し部２２ｅ、第２破損判定部（判定部）２２ｆ、および良否判定部２２ｇとして機能する。

（ａ）Ｘ線画像生成部
Ｘ線画像生成部２２ａは、Ｘ線ラインセンサ１４によって検出された透過Ｘ線量に基づいてＸ線画像（検査画像）を作成する。具体的に、Ｘ線画像生成部２２ａは、Ｘ線ラインセンサ１４の各Ｘ線検出素子１４ａから出力されるＸ線透過信号を細かい時間間隔で取得し、取得したＸ線透過信号の強度（輝度）に基づいてＸ線画像を生成する。すなわち、Ｘ線画像生成部２２ａは、扇状のＸ線の照射範囲Ｘ（図３参照）を物品Ｇが通過する際に各Ｘ線検出素子１４ａから出力されるＸ線透過信号に基づいて、物品Ｇを含む二次元画像を生成する。Ｘ線画像には、物品ＧおよびカートンＢが含まれる（図６参照）。

なお、照射範囲Ｘにおける物品Ｇの有無は、上述したように、Ｘ線ラインセンサ１４が出力する信号（第１信号および第２信号）により判断される。Ｘ線画像生成部２２ａは、各Ｘ線検出素子１４ａから得られるＸ線の強度（輝度）に関する細かい時間間隔毎のデータをマトリクス状に時系列につなぎ合わせて、物品ＧについてのＸ線画像を生成する。Ｘ線画像生成部２２ａによって生成されたＸ線画像は、画像記憶領域２１ｂに記憶される。

（ｂ）二値化画像生成部
二値化画像生成部２２ｂは、Ｘ線画像の二値化画像を生成する。二値化画像生成部２２ｂは、Ｘ線画像に対して二値化処理を行うことによって、背景と背景以外とを識別可能な画像を生成する。さらに、二値化画像生成部２２ｂは、物品Ｇを識別するための新たな閾値を準備し、物品Ｇと物品Ｇ以外（カートンＢ）とを識別可能な画像を生成する。

具体的に、二値化画像生成部２２ｂは、所定の閾値と、Ｘ線画像を構成する各画素の濃淡値とを比較して、Ｘ線画像を構成する各画素の濃淡値が所定の閾値以下かどうかを判断し、二値化処理を実行する。ここで、所定の閾値には、背景と背景以外とを識別するための閾値、および、物品Ｇと物品Ｇ以外の部分（カートン）とをそれぞれ識別するための閾値が含まれる。

二値化画像生成部２２ｂは、Ｘ線画像を構成する全画素のうち、透過Ｘ線の輝度（強度）が所定の閾値を上回る画素については、例えば、白に対応する諧調（２５５）で表し、所定の閾値を以下の画素については、例えば、黒に対応する諧調（０）で表すように、Ｘ線画像に対してフィルタ処理を行う。

なお、二値化画像生成部２２ｂによって生成された二値化画像は、二値化処理を行う前のＸ線画像と関連付けて、上述した画像記憶領域２１ｂに記憶される。

（ｃ）第１破損判定部
第１破損判定部２２ｃは、二値化画像に基づいて、物品Ｇに破損があるか否かを判定する（第１判定処理）。具体的に、第１破損判定部２２ｃは、二値化画像に含まれる複数の物品Ｇの画像をそれぞれ識別し、各物品Ｇの画像の面積および周囲長に基づいて物品Ｇに破損があるか否かを判定する。第１判定処理によって判定される破損は、後述する第２判定処理に対して、比較的大きな割れや欠けである。

より具体的に、第１破損判定部２２ｃは、各物品Ｇの画像の面積および周囲長と、基準面積および基準周囲長とを比較し、各物品Ｇの画像の面積および周囲長が、基準面積および基準周囲長に一致するか否かに基づいて、物品Ｇの割れの有無を判定する。ここで、基準面積とは、当該物品Ｇが良品である場合の画像の面積であり、基準周囲長とは、当該物品Ｇが良品である場合の画像の周囲長である。すなわち、第１破損判定部２２ｃは、各物品Ｇの画像の面積および周囲長が、基準面積および基準周囲長に一致する場合には、物品Ｇに割れはないと判定する。一方、第１破損判定部２２ｃは、各物品Ｇの画像の面積および周囲長が、基準面積および基準周囲長に一致しない場合には、物品Ｇに割れがあると判定する。なお、第１判定処理に用いられる基準面積および基準周囲長は、幅を持たせた値（範囲）であってもよい。

第１破損判定部２２ｃによる判定結果は、判定に用いた二値化画像と関連付けて、上述の検査結果記憶領域２１ｃに記憶される。

（ｄ）エッジ検出部
エッジ検出部２２ｄは、Ｘ線画像に基づいて、複数の物品Ｇそれぞれについてのエッジ検出を行う（図７参照）。すなわち、エッジ検出部２２ｄは、Ｘ線画像において、明るさが鋭敏に変化している箇所（エッジ）を検出する。これにより、物品Ｇと物品Ｇ以外（カーボンＢおよび背景）との境界部分が検出される。すなわち、エッジ検出部２２ｄは、Ｘ線画像に基づいて物品Ｇの輪郭を検出する。エッジ検出部２２ｄは、エッジを検出すると、検出結果に基づいて、エッジ画像を生成する。

エッジ検出部２２ｄは、図７に示すように、Ｘ線画像から各物品Ｇのエッジｅ１〜ｅ１０のみが検出されるように、Ｘ線画像に対してフィルタをかける。言い換えると、エッジ画像には、物品Ｇのエッジｅ１〜ｅ１０のみが表され、カートンのエッジは表れないように、Ｘ線画像に対してフィルタ処理が行なわれるものとする。

エッジ画像を構成する複数の画素には、物品Ｇのエッジｅ１〜ｅ１０に対応する画素（エッジ対応画素）と、それ以外の画素（非エッジ対応画素）とが含まれる。エッジ画像では、エッジ対応画素が、例えば、白に対応する諧調（２５５）で表され、非エッジ対応画素については、例えば、黒に対応する諧調（０）で表される。エッジ画像には、複数の物品Ｇのそれぞれに対応するエッジｅ１〜ｅ１０が含まれる。複数のエッジｅ１〜ｅ１０のそれぞれは、複数のエッジ対応画素によって構成されている（図９〜図１２参照）。

エッジ検出部２２ｄによってエッジ画像が生成されると、当該エッジ画像は、エッジ処理を行う前のＸ線画像に関連付けて、上述した画像記憶領域２１ｂに記憶される。

（ｅ）切り出し部
切り出し部２２ｅは、エッジ画像に対して切り出し処理を実行する。切り出し処理とは、エッジ画像に表された複数のエッジｅ１〜ｅ１０から、各エッジを順番に切り出す処理である。上述したように、複数のエッジｅ１〜ｅ１０は、複数の物品Ｇそれぞれに対応する。すなわち、一のエッジ画像には、複数の物品Ｇのそれぞれに対応するエッジｅ１〜ｅ１０が含まれる。切り出し部２２ｅは、後述する第２破損判定部２２ｆによる各物品Ｇの判定処理が可能なように、切り出し処理によって、エッジ画像から一の物品Ｇに対応するエッジを切り出す。

より具体的に、切り出し部２２ｅは、図８に示すように、エッジ画像において所定の選択領域Ｒに含まれる部分を、一の物品Ｇに対応するエッジとして、エッジ画像から切り出す。所定の選択領域Ｒは、物品Ｇの種類に応じて予め設定された所定のサイズを有する。切り出し部２２ｅは、エッジ画像に含まれる複数のエッジ対応画素のうち、左上端のエッジ対応画素に選択領域Ｒの左上端を位置決めし、エッジ画像から選択領域Ｒで囲われる一の物品Ｇに対応するエッジを切り出す。切り出し部２２ｅによる切り出し処理によって、一の物品Ｇのエッジを示す切り出し画像が生成される。

（ｆ）第２破損判定部
第２破損判定部２２ｆは、切り出し画像に基づいて、物品Ｇに破損があるか否かの判定（第２判定処理）を実行する。第２判定処理では、切り出し画像に表されるエッジが閉鎖されているか否かを判定することにより、物品Ｇの破損の有無を判定する。

第２判定処理によって判定される破損は、上述した第１判定処理に対して、比較的小さな割れや欠けである。言い換えると、第２判定処理では、第１判定処理によって判定される割れよりも小さな割れと、第１判定処理では検出できないような小さな欠けが検出され得る。エッジが閉鎖されている状態とは、すなわち、エッジに連続性がある状態を意味する。第２破損判定部２２ｆは、エッジの連続性の有無に基づいて、物品Ｇの破損の有無を判定する。

以下、第２破損判定部２２ｆによる第２判定処理について、図９から図１４を参照しながら、説明する。なお、図９から図１４は、切り出し画像の一部を示す図である。すなわち、図９から図１４には、一の物品Ｇのエッジを構成する複数のエッジ対応画素のうち、一部のエッジ対応画素が示されている。

第２破損判定部２２ｆは、切り出し画像に含まれる複数のエッジ対応画素に基づいて、エッジの連続性の有無を判定する。エッジの連続性がある状態とは、複数のエッジ対応画素が連続している状態を意味する。具体的に、第２破損判定部２２ｆは、複数のエッジ対応画素に移動点Ａ１０１の起点を設定し、移動点Ａ１０１が複数のエッジ対応画素に沿って起点から移動し、複数のエッジ対応画素を一巡して起点に戻るか否かで、エッジの連続性を判定する。ここで、移動点Ａ１０１は、図９および図１０で示すように、複数のエッジ対応画素に沿って、隣接するエッジ対応画素に移動する点である。

移動点Ａ１０１は、複数のエッジ対応画素に沿って反時計回りに移動する（図１１および図１２参照）。第２破損判定部２２ｆは、起点から移動する移動点Ａ１０１が複数のエッジ対応画素を一巡して起点に戻る場合に、エッジが閉鎖されていると判定する。一方、第２破損判定部２２ｆは、移動点Ａ１０１が起点に戻らない場合には、エッジが閉鎖されていないと判定する。すなわち、第２破損判定部２２ｆは、エッジ対応画素は連続性を有さず、エッジが部分的に開放されていると判定する。

例えば、第２破損判定部２２ｆは、複数のエッジ対応画素のうち左上端のエッジ対応画素を起点（第１番目の対象画素）として指定する（図９参照）。また、第２破損判定部２２ｆは、第１番目の対象画素の周囲画素にエッジ対応画素が含まれるかどうかを探す（図１０参照）。ここで、周囲画素とは、対象画素の周囲の画素である。より詳細に、周囲画素とは、対象画素を取り囲む画素のうち、対象画素に隣接する画素である。第２破損判定部２２ｆは、反時計回りに移動点Ａ１０１を移動させて、周囲画素に別のエッジ対応画素が存在するかどうかを判定する。周囲画素に別のエッジ対応画素が存在する場合には、移動点Ａ１０１をさらに移動させて、当該別のエッジ対応画素の周囲画素に、さらに別のエッジ対応画素が存在するかどうかを判定する（図１１参照）。すなわち、第２破損判定部２２ｆは、起点となる画素（第1番目の対象画素）を基準に、移動点Ａ１０１を反時計回りで移動させ、周囲画素にエッジ対応画素が含まれるかどうかを順次判定していく。

その結果、図１１に示すように、最終的に、途切れることなくエッジ対応画素が存在し、起点（第１番目の対象画素）までエッジ対応画素が連続する場合、第２破損判定部２２ｆは、エッジが閉鎖されているものと判定する。エッジが閉鎖されていると判定されたとき、第２破損判定部２２ｆは、物品Ｇに破損が無いと判定する。すなわち、第２破損判定部２２ｆは、物品Ｇが良品（正常物品）であると判定する。一方、図１２に示すように、エッジ対応画素が起点まで続かない場合、第２破損判定部２２ｆは、エッジが閉鎖されていない（すなわち、開放されている）ものと判定する（図７の部分Ｐ参照）。エッジが開放されていると判定されたとき、第２破損判定部２２ｆは、物品Ｇに破損があると判定する。すなわち、第２破損判定部２２ｆは、物品Ｇが不良（破損物品）であると判定する。

詳細に、第２破損判定部２２ｆは、切り出し画像を構成する複数の白い画素（エッジ対応画素）のうち左上の画素を、移動点Ａ１０１の起点として設定する。すなわち、複数のエッジ対応画素の左上の画素が第１番目の対象画素に設定され、その座標が記憶される。例えば、縦横の２次元に配列された画素について、図９に示すように座標が設定されている場合、移動点Ａ１０１の起点となる画素（第１の対象画素）は「ｅ２４」の座標にある画素となる。

次に、起点に隣接する画素（周囲画素）を反時計回りに調べ（図１１の矢印Ａ１参照）、白い画素の有無を判定する。ここで、「ｅ２４」の座標にある起点を基準に反時計回りで移動点Ａ１０１を移動させたとき、図１０に示されるように、座標「ｅ２４」の周囲画素（「ｆ２３」の座標）に、白い画素（エッジ対応画素）がある。したがって、第２破損判定部２２ｆは、座標「ｆ２３」のエッジ対応画素を、第２番目の対象画素として設定し、その座標を記憶する。

その次に、第２番目の対象画素である「ｆ２３」の座標にある画素を基準に移動点Ａ１０１を反時計回りに移動させ（図１１の矢印Ａ２参照）、「ｆ２３」の画素に隣接する画素（周囲画素）に同じく白い画素があるか否かを判定する。ここでは、座標「ｆ２３」の周囲（「ｇ２２」の座標）に、白い画素（エッジ対応画素）がある。したがって、第２破損判定部２２ｆは、座標「ｇ２２」のエッジ対応画素を、第３番目の対象画素として設定し、その座標を記憶する。

このように、第２破損判定部２２ｆは、対象画素の周囲画素の中にエッジ対応画素があるか否かの判定を繰り返す。物品Ｇに破損がない場合には、移動点Ａ１０１が最終的に第１番目の対象画素（起点）に戻る（図１１の矢印Ａｎ−１参照）。例えば、図１１に示すように、対象画素が、「ｅ２４」、「ｆ２３」、「ｇ２２」、「ｈ２２」、「ｉ２１」、「ｊ２１」、「ｋ２１」、「ｌ２１」、・・・「ｅ２９」、「ｅ２８」、「ｅ２７」、「ｅ２６」、「ｅ２５」のそれぞれの座標へと連続し、最終的に、「ｅ２４」の座標に戻る。

一方、物品Ｇに破損がある場合には、図１２に示すように、移動点Ａ１０１が起点の座標「ｅ２４」に戻らず、途中で移動できなくなる。すなわち、エッジ対応画素の連続性が途絶える。図１２では、対象画素が、「ｌ４４」、「ｋ４４」、「ｊ４４」、「ｉ４４」、「ｈ４３」、「ｇ４３」、「ｆ４２」、「ｅ４１」、「ｅ４０」、「ｅ３９」、「ｅ３８」、「ｅ３７」のそれぞれの座標へと続くが、「ｅ３７」の座標の画素の周囲画素は、エッジ対応画素がない。その結果、移動点Ａ１０１が、第１番目の対象画素（起点）に戻らない。

第２破損判定部２２ｆは、エッジ画像に含まれる全てのエッジｅ１〜ｅ１０についての連続性の有無をそれぞれ判定する。すなわち、第２破損判定部２２ｆは、エッジ画像に表れる全ての物品Ｇについて破損の有無を判定する。第２破損判定部２２ｆは、一のエッジ画像に含まれるいずれかのエッジｅ１〜ｅ１０に連続性がなかった場合には、当該エッジ画像に係る物品Ｇの全体を破損物品（不良品）と判定する。一方、第２破損判定部２２ｆは、エッジ画像に含まれる全てのエッジｅ１〜ｅ１０に連続性があった場合には、当該エッジ画像に係る物品Ｇの全体を正常物品（良品）であると判定する。

第２破損判定部２２ｆによる判定結果は、判定に用いたエッジ画像と関連付けて、上述の検査結果記憶領域２１ｃに記憶される。

（ｇ）良否判定部
良否判定部２２ｇは、検査結果記憶領域２１ｃに記憶されている検査結果に基づき、物品Ｇの良／不良を判定する。具体的に、良否判定部２２ｇは、第１破損判定部２２ｃによる検査結果および第２破損判定部２２ｆの両方の検査結果で良品と判定されている物品Ｇを良品と判定する。一方、良否判定部２２ｇは、第１破損判定部２２ｃによる検査結果および第２破損判定部２２ｆのいずれか一方の検査結果で不良品と判定されている物品Ｇは不良品と判定する。

良否判定部２２ｇによって物品Ｇの良／不良が判定されると、その結果が対応する物品Ｇのデータに関連付けて検査結果記憶領域２１ｃに記憶される。また、良否判定部２２ｇによって判定された結果は、モニタ３０に出力される。

（３）特徴
（３−１）
上記実施形態に係る破損検査装置１０は、Ｘ線照射器（照射源）１３と、Ｘ線ラインセンサ（検知部）１４と、Ｘ線画像生成部（検査画像生成部）２２ａとを備え、物品Ｇの破損の有無を検査する。Ｘ線照射器１３は、物品Ｇに対してＸ線（放射光）を照射する。Ｘ線ラインセンサ１４は、物品Ｇを透過したＸ線（放射光）を検知する。Ｘ線画像生成部２２ａは、Ｘ線ラインセンサ１４によって検知された透過Ｘ線に基づいて検査画像を生成する。ここで、破損検査装置１０は、エッジ検出部２２ｄと第２破損判定部（判定部）２２ｆとを備えることを特徴とする。エッジ検出部２２ｄは、Ｘ線画像（検査画像）に基づいて物品Ｇのエッジを検出する。第２破損判定部２２ｆは、エッジが閉鎖されている場合には物品Ｇを正常と判定し、エッジが閉鎖されていない場合には物品Ｇを不良と判定する。

従来の破損検査装置では、物品について得られたＸ線画像を二値化処理し、二値化画像が生成されていた。また、従来の破損検査装置では、二値化画像に基づいて物品Ｇの面積または物品の周長を求め、求めた面積または周長と基準値（基準面積または基準周長）とを比較することにより、物品の破損の有無の判定を行っていた。このような破損検査装置で、物品Ｇの破損検査を行った場合、検査対象となる物品の種類によっては十分に正確な検査結果を得ることができない場合があった。例えば、検査対象の物品が、ガラス製の容器や金属製の容器に詰められた液体または流動性の場合が想定される。ガラス製の容器は、例えば、ガラス瓶であり、金属製の容器は、例えば、缶である。瓶や缶は、密閉状態で液体または流動性のある物体を包含する。このような物品は、容器の先端に僅かな割れや欠けがあったとしても、割れや欠けの部分がＸ線画像上で明確に表れない。すなわち、破損容器に詰められた物品（破損物品）に対して得られるＸ線画像と、正常な容器に詰められた物品（正常物品）に対して得られるＸ線画像とでは、当該割れや欠け部分に対応するＸ線画像の部分の明るさに大きな差異がない。そのため、破損物品のＸ線画像と正常物品のＸ線画像とでは、Ｘ線画像に表れる物品の面積または周長に殆ど差が無くなる。具体的に、面積で判定すると、破損部分による面積の差は、誤差範囲にすぎず、周長では、破損部分が埋められた状態で検知され、差異が表れない。その結果、従来の破損検査装置では、このような破損物品と正常物品とを識別することが困難であった。

しかし、上記実施形態に係る破損検査装置１０では、Ｘ線画像に基づいて物品Ｇのエッジが検出される。また、破損検査装置１０は、エッジが閉鎖されているか否かに基づいて物品の破損の有無を判定する。破損検査装置１０は、エッジが閉鎖されている場合には、物品を正常物品（正常）として判定し、エッジが閉鎖されていない場合には、破損物品（不良）として判定する。これにより、瓶や缶等の僅かな破損についても検出することができる。その結果、瓶や缶等に詰められた物品Ｇの破損検査の精度を向上させることができる。

（３−２）
また、上記実施形態に係る破損検査装置１０では、エッジ検出部２２ｄは、検出した物品Ｇのエッジｅ１〜ｅ１０を示すエッジ画像を生成する。第２破損判定部（判定部）２２ｆは、エッジ画像を構成する複数のエッジ対応画素に、複数のエッジ対応画素に沿って移動する移動点Ａ１０１の起点を設定する。第２破損判定部２２ｆは、移動点Ａ１０１が複数のエッジ対応画素を一巡し起点に戻る場合に、エッジが閉鎖されていると判定する。移動点Ａ１０１が起点から移動して複数のエッジ対応画素を一巡し起点に戻る場合、エッジｅ１〜ｅ１０は連続性を有する。エッジｅ１〜ｅ１０が連続性を有するとは、エッジが途中で途切れておらず、物品Ｇの輪郭を表す画素（複数のエッジ対応画素）が、連続して隣接配置されていることを意味する。言い換えると、物品Ｇの輪郭（すなわち、物品Ｇを詰めた瓶や缶の表面）に破損が無いことを意味する。

二値化画像に表された物品Ｇの面積や周長は、正常物品および破損物品のいずれの場合であっても大きな差がない。したがって、物品Ｇの破損の有無を正確に判定することができない。しかし、上記実施形態に係る破損検査装置１０は、エッジの連続性の有無に基づき、物品Ｇの破損を判定することができる。そのため、複雑な構成を用いることなく、確実に破損の有無を判定することが可能になる。

（３−３）
また、上記実施形態に係る破損検査装置１０は、制御装置２０において、切り出し部２２ｅを備える。切り出し部２２ｅは、切り出し処理を実行する。切り出し処理は、複数の物品Ｇに対応する複数のエッジｅ１〜ｅ１０を示すエッジ画像から、一の物品Ｇに対応する一のエッジを切り出す。また、第２破損判定部２２ｆは、切り出し処理によって得られた一の物品Ｇに対応する一のエッジに基づいて、物品Ｇが正常か否かを判定する。

例えば、アンプルのような物品Ｇは、取引時、複数個が一つの箱（カートン）Ｂに詰められた状態で扱われる（図６参照）。このように、一つの箱Ｂに詰められた複数の物品Ｇについて破損検査を行う場合、複数の物品Ｇの全てに破損が無いことが要求される。すなわち、箱詰めされた複数の物品Ｇのいずれか一つに破損があった場合であっても、不良物品（破損物品）として扱われることが好ましい。

上記実施形態に係る破損検査装置１０では、一つの箱Ｂに詰められた複数の物品Ｇが上流から搬送されてきた場合に、複数の物品Ｇのそれぞれについて破損の有無を検査する。具体的には、第２破損判定部２２ｆによる第２判定処理の前に、複数の物品Ｇのそれぞれに対応する複数のエッジｅ１〜ｅ１０から、一の物品Ｇに対応するエッジを順番に切り出していく。第２破損判定部２２ｆは、切り出し部２２ｅによって切り出された切り出し画像に基づいて、物品Ｇの破損の有無を判定する。これにより、複数物品Ｇのそれぞれについて、精度よく破損検査を行うことができる。

（４）変形例
（４−１）変形例Ａ
上記実施形態では、物品Ｇがアンプルであり、破損検査装置１０には、複数の物品Ｇが詰められたカートンＢが送られた。すなわち、破損検査装置１０は、カートンＢに詰められた複数の物品Ｇについて、破損の有無を判定する。

ここで、破損検査装置１０の検査対象となる物品Ｇは、カートンＢに詰められていなくてもよい。また、破損検査装置１０は、物品Ｇが一つずつ送られる構成であってもよい。

この場合、第２破損判定部２２ｆは、切り出し処理を実行せずに、エッジの連続性を判定できる。

（４−２）変形例Ｂ
上記実施形態に係る破損検査装置１０は、物品Ｇの破損の有無を検査するが、破損検査装置１０は、物品Ｇの破損検査に加えて、異物混入検査を行ってもよい。すなわち、破損検査装置１０は、物品ＧのＸ線画像を画像処理し、複数の判断方式によって異物の混入の有無を判断してもよい。

例えば、判断方式には、トレース検出方式、二値化検出方式、マスク二値化検出方式などがある。トレース検出方式及び二値化検出方式は、画像のマスクされていない領域に対して判断を行う。一方、マスク二値化方式は、画像のマスクされている領域に対して判断を行う。マスクは、物品Ｇの容器部分などに対して設定される。トレース検出方式は、被検出物の大まかな厚さに沿って基準レベル（閾値）を設定し、像がそれよりも暗くなったときに物品Ｇ内に異物が混入していると判断する方式である。この方式では、比較的小さな異物を検出することができる。二値化検出方式およびマスク二値化方式は、一定の明るさに基準レベルを設定し、像がそれよりも暗くなったときに物品Ｇ内に異物が混入していると判断する方式である。この二値化検出方式は、比較的大きい異物を検出するために設定されている。

破損検査装置１０は、これらの判断方式で物品Ｇに対する異物混入の有無を判断した結果、１つでも異物混入があると判断するものがあれば、その物品Ｇは不良品と判断してもよい。なお、各判断方式における基準レベルやマスク領域については、モニタ３０のタッチパネル機能を使った使用者からの入力によって、設定および変更が可能であるものとする。

（４−３）変形例Ｃ
上記実施形態に係る破損検査装置１０では、第２破損判定部２２ｆが、対象画素の周囲にある周囲画素に、エッジ対応画素があるかどうかで判定する。このとき、必ずしも周囲画素は、対象画素に隣接する画素でなくてもよい。例えば、周囲画素は、対象画素の近傍の座標の画素であれば、対象画素に隣接する画素でなくてもよい。例えば、一のエッジ対応画素と他のエッジ対応画素との間に黒色の画素があったとしても、黒色の画素の数に基づいて、連続性があるものと判定されるように構成してもよい。

（４−４）変形例Ｄ
上記実施形態に係る破損検査装置１０では、破損検査装置１０としてＸ線検査装置を例に挙げて説明した。Ｘ線検査装置では、物品ＧにＸ線を照射し、物品Ｇを透過したＸ線に基づいて検査画像としてのＸ線画像を生成する。上記実施形態では、Ｘ線画像に基づいて生成されたエッジ画像を生成し、エッジ画像に基づいてエッジの連続性を判定する。破損検査装置１０は、エッジの連続性の判定の結果に基づいて、物品Ｇの破損の有無を判定する。

しかし、破損検査装置１０は、Ｘ線検査装置に限られるものではない。例えば、破損検査装置１０は、物品Ｇに放射光を照射する照射源１３は、Ｘ線照射器１３でなくてもよい。例えば、物品ＧにＸ線を照射する代わりに、他の電磁波（例えば、近赤外線、可視光等）を照射する構成であってもよい。

また、上記実施形態に係る破損検査装置１０では、物品Ｇを透過したＸ線ラインセンサ１４としての検知部で検知する。さらに、Ｘ線ラインセンサ１４によって検出された透過Ｘ線に基づいて検査画像（Ｘ線画像）が生成され、検査画像に基づいてエッジ画像が生成された。ここで、Ｘ線ラインセンサ１４によって透過Ｘ線が検出される構成に代えて、物品Ｇの反射光に基づいてエッジ画像が生成される構成であってもよい。

すなわち、破損検査装置１０は、物品Ｇのエッジを検出できる構成を有していれば、どのような構成であってもよい。

（４−５）変形例Ｅ
上記実施形態に係る破損検査装置１０は、制御装置２０において第１破損判定部２２ｃおよび第２破損判定部２２ｆの両方の機能を有する構成とした。ここで、破損検査装置１０は、制御装置２０において第２破損判定部２２ｆのみの機能を有する構成としてもよい。

（４−６）変形例Ｆ
上記実施形態に係る破損検査装置１０では、第２破損判定部２２ｆは、指定した対象画素の周囲画素にエッジ対応画素が含まれるかどうかを判定することにより、エッジの連続性の有無を判定する。

ここで、エッジの連続性を判定する際に設定した起点（第1番目の対象画素）は、非エッジ対応画素に隣接するエッジ対応画素とする。また、起点の次に移動点Ａ１０１を移動させる場所（画素）は、起点の周囲画素のうち、非エッジ対応画素に隣接するエッジ対応画素とする。

具体的に、起点（第１番目の対象画素）は、エッジを構成する複数のエッジ対応画素のうち、非エッジ対応画素（黒い画素）に隣接するエッジ対応画素（白い画素）である。上記実施形態では、複数のエッジ対応画素のうち左上端のエッジ対応画素（「ｅ２４」の座標の画素）を選択することにより、隣に黒い画素（「ｅ２３」の座標の画素）を有する白い画素を起点に指定している。起点は、左上端のエッジ対応画素でなくとも、隣に非エッジ対応画素（黒い画素）を有するエッジ対応画素（白い画素）であればよい。

移動点Ａ１０１を移動させる画素もまた、非エッジ対応画素（黒い画素）に隣接するエッジ対応画素（白い画素）である。上記実施形態でも、起点となった座標「ｅ２４」の周囲画素から、隣に非エッジ対応画素（黒い画素）を有する対応画素（白い画素）（「ｆ２３」の座標の画素）を判定し、判定された画素に移動点Ａ１０１を移動させている。

移動点Ａ１０１をエッジ対応画素に沿って移動させる際に、周囲にエッジ対応画素のみが隣接するエッジ対応画素に移動点Ａ１０１を移動させてしまうと、エッジの連続性を正確に判定することはできない。すなわち、エッジは、物品Ｇと物品Ｇ以外（カーボンＢおよび背景）との境界部分を示すものであるが、移動点Ａ１０１を、周囲にエッジ対応画素のみが隣接するエッジ対応画素に移動させてしまうと、境界部分を正確に判定していることにならない。

そこで、エッジの連続性を、周囲画素に含まれる、エッジ対応画素および非エッジ対応画素（白い画素＋白い画素の隣にある黒い画素）からなる一組の画素の連続性に基づいて判定する。これにより、確実にエッジを検出することが可能になり、検査の精度を向上させることができる。

（４−７）変形例Ｇ
上記実施形態に係るエッジ検出部２２ｄは、上記実施形態で説明した処理に代えて、次のような処理を行うことによりエッジ画像（処理後エッジ画像）を生成してもよい。

まず、エッジ検出部２２ｄは、上記実施形態と同様、Ｘ線画像において、明るさが鋭敏に変化している箇所（エッジ）を検出する。これにより、物品Ｇと物品Ｇ以外（カーボンＢおよび背景）との境界部分が検出される。すなわち、エッジ検出部２２ｄは、Ｘ線画像に基づいて物品Ｇの輪郭を検出する。エッジ検出部２２ｄは、検出結果に基づき、処理前エッジ画像を生成する。

その後、エッジ検出部２２ｄは、処理前エッジ画像に対して二値化処理を行い、二値化エッジ画像を生成する。すなわち、Ｘ線画像を構成する複数のエッジ対応画素を、例えば、白に対応する諧調（２５５）で表し、Ｘ線画像を構成する複数の非エッジ対応画素を、例えば、黒に対応する諧調（０）で表す。

その後、エッジ検出部２２ｄは、二値化エッジ画像に基づき、エッジのスムージング処理を行い、スムージング画像を生成する。すなわち、エッジ検出部２２ｄは、スムージング処理によって、二値化エッジ画像に表れるエッジ対応画素の極端な凹凸部分を解消し、エッジを滑らかにする。

エッジ検出部２２ｄは、スムージング画像を生成すると、その後、スムージング画像に表れるエッジ対応画素について、外側から内側に向けて１画素ずつ削り、１画素削除画像を生成する。

その後、エッジ検出部２２ｄは、さらに、スムージング画像と１画素削除画像との差分を取り、当該差分に基づき、処理後エッジ画像を生成する。すなわち、エッジ検出部２２ｄは、処理後エッジ画像において、物品Ｇのエッジ（輪郭）を、１画素の連続によって表す。

これにより、切り出し部２２ｅは、処理後エッジ画像に対して切り出し処理を実行し、第２破損判定部２２ｆは、処理後エッジ画像から切り出された各物品Ｇに対応する画像に基づいて、物品Ｇに破損があるか否かの判定を実行することになる。

上記実施形態においてエッジ検出部２２ｄによって生成されたエッジ画像では、物品Ｇのエッジ（輪郭）が、１画素の連続ではなく、複数画素の連続によって表される。図９を用いて説明すると、縦方向に延びる部分（例えば、ｉ行〜ｌ行）については、エッジの各点が、横方向に並ぶ複数のエッジ対応画素で表される。具体的に、ｉ行およびｊ行は、横方向に３つのエッジ対応画素、ｋ行およびｌ行は、横方向に２つのエッジ対応画素が連続する。また、縦方向に延びる部分（例えば、２６列〜２９列）については、エッジの各点が、縦方向に並ぶ複数のエッジ対応画素で表される。具体的に、２６列〜２９列は、いずれも縦方向に２つのエッジ対応画素が並ぶ。このように、複数画素によってエッジの各点を表した場合、エッジの一点を表す複数のエッジ対応画素に沿って移動点Ａ１０１が移動可能になり、実際にはエッジが連続していない場合にも、誤ってエッジに連続性があると判定されてしまう可能性がある。

そこで、変形例Ｇにおいて示すように、エッジ検出部２２ｄによって、スムージング画像と１画素削除画像との差分を取り、当該差分に基づき、処理後エッジ画像を生成する。また、第２破損判定部２２ｆは、処理後エッジ画像から切り出された各物品Ｇに対応する画像に基づいて、物品Ｇに破損があるか否かの判定を実行する。

これにより、物品Ｇのエッジの各点は一画素によって表され、また、物品Ｇのエッジの全体は、一画素の連続によって表される。第２破損判定部２２ｆは、起点（あるいは、対象画素）の周辺にエッジ対応画素があるか否かを判定する。物品Ｇの輪郭は、一画素の連続によって表されるため、一画素の連続性が途切れたときに、連続性がないと判定される。その結果、エッジの連続性についての誤った判定を回避することができ、判定の精度を向上させることができる。

１０ Ｘ線検査装置（破損検査装置）
１１ シールドボックス
１２ コンベア
１３ Ｘ線照射器（照射源）
１４ Ｘ線ラインセンサ（検知部）
２０ 制御装置
２１ 記憶部
２１ａ 基準値記憶領域
２１ｂ 画像記憶領域
２１ｃ 検査結果記憶領域
２２ 制御部
２２ａ Ｘ線画像生成部（検査画像生成部）
２２ｂ 二値化画像生成部
２２ｃ 第１破損判定部
２２ｄ エッジ検出部
２２ｅ 切り出し部
２２ｆ 第２破損判定部（判定部）
２２ｇ 良否判定部
３０ モニタ
１００ 生産ライン

特開２００５−３１０６９号公報

Claims (3)

1. 物品に対して放射光を照射する照射源と、
   前記放射光を検知する検知部と、
   前記検知部によって検知された前記放射光に基づいて検査画像を生成する検査画像生成部と、
   を備え、物品の破損の有無を検査する破損検査装置において、
   前記検査画像に基づいて前記物品のエッジを検出するエッジ検出部と、
   前記エッジが閉鎖されている場合には前記物品を正常と判定し、前記エッジが閉鎖されていない場合には前記物品を不良と判定する判定部と、
   を備えることを特徴とする、
   破損検査装置。
2. 前記エッジ検出部は、検出した前記物品のエッジを示すエッジ画像を生成し、
   前記判定部は、
   前記エッジ画像を構成する複数のエッジ対応画素に、前記複数のエッジ対応画素に沿って移動する移動点の起点を設定し、前記移動点が前記複数のエッジ対応画素を一巡し前記起点に戻る場合に、前記エッジが閉鎖されていると判定する、
   請求項１に記載の破損検査装置。
3. 前記複数の前記物品に対応する複数の前記エッジを示す前記エッジ画像から、一の物品に対応する一のエッジを切り出す、切り出し処理を実行する切り出し部をさらに備え、
   前記判定部は、
   前記切り出し処理によって得られた前記一の物品に対応する前記一のエッジに基づいて、前記物品が正常か否かを判定する、
   請求項２に記載の破損検査装置。

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