JP6071010B2 - 溶接方法 - Google Patents
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Description
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、その目的は、ボイドの発生を抑制することでかかるボイドに起因する溶接強度の低下を抑制し、高い溶接強度を安定して実現し得る溶接方法を提供することである。
第1レーザ光1は、第1部材10の幅広面に照射される高輝度(高出力密度)レーザ光であって、主として第1部材10を溶融するのに用いられる。かかる第1レーザ光1は、第1部材10に対してキーホールを発生させ得るレーザ強度(出力密度)を有している。出力密度の高いレーザ光により被溶接部材を溶融する場合は、溶融池ではレーザ光の照射と同時に被溶接部材の蒸発が始まり、その蒸気によって材料表面に反発力が生じて溶融池にくぼみが生じる。かかるくぼみにおいてレーザ光が乱反射を繰り返すことにより、このくぼみは急速に深まって空洞が形成される。この空洞をキーホールといい、第1レーザ光1は、かかるキーホールが形成されるような出力密度のレーザ光により構成されることが肝要である。そしてこの第1レーザ光1は、第1接合面12に沿って第1部材10のレーザ照射面(幅広面)に照射され、溶接進行方向Gに進行する。図1におけるLW1は、かかる第1レーザ光1の軌道を例示している。
第2レーザ光2は、第2部材20の側面部に照射される低輝度(低出力密度)レーザ光であって、主として第2部材20を溶融するとともに、第1レーザ光1による溶融を補助する目的で用いられる。かかる第2レーザ光2は、第2部材20に対してキーホールを発生させ得るよりも低いレーザ強度を有している。かかる出力密度のレーザ光を被溶接部材に照射すると、レーザ光はその表面で吸収され、吸収された光が熱に変換される。そして、かかる熱エネルギーが伝導した領域において、被溶接部材が溶融されて溶融池を形成する。この熱伝導型の溶融形態においては、キーホールは形成されない。この第2レーザ光2は、第2接合面22に沿って第2部材20のレーザ照射面(側面部)に照射され、溶接進行方向Gに進行する。図1におけるLW2は、かかる第2レーザ光2の軌道を例示している。
第1レーザ光1は、第1部材10の幅広面(表面)に、例えば、上記の接合面から所定の間隔をおいた位置に照射される。そして、第1部材10の第1接合面12に沿って、溶接進行方向Gに移動される。つまり、第1レーザ光1の光軸は、図1のLW1に示されるように、第1部材10の表面の、接合面から所定の間隔をおいた位置を、接合面に沿って移動する。また、第2レーザ光2は、第2部材20の側面部(表面)に、例えば、上記の接合面から所定の間隔をおいた位置に照射される。そして、第2部材20の第2接合面22に沿って、溶接進行方向Gに移動される。つまり、第2レーザ光2の光軸は、図1のLW2に示されるように、第2部材20の表面の、接合面から所定の間隔をおいた位置を、接合面に沿って移動する。
ここで、第1レーザ光1は、本質的には、例えば図2Bに示したとおり、キーホール型の第1溶融池14’を形成する。したがって、第1溶融池14’の接合面(溶接進行方向)に直交する断面は、先端部Tが鋭角の扇形に似た形状を含み得る。ここで、第1レーザ光1を第1接合面12により近い位置に照射することで、第1レーザ光1による接合面深さDw’をより深くとることができる。そしてかかる第1溶融池14’に、第2レーザ光2による第2溶融池24が重畳されることで、キーホール型の溶接部の対称性が乱れ、例えば図2Aに示したとおり、より深い接合面深さDwを簡便に実現することができる。
また、第2レーザ光2によると熱伝導型の第2溶融池24が形成されるため、第2部材20においてはボイド等の溶接欠陥は形成され難い。これにより、第2部材20における溶接部30の強度を高く維持することができる。
以上のように、ここに開示された溶接方法では、出力密度の高い第1レーザ光1により十分な溶け込み深さを確保するようにしている。そして、出力密度の低い第2レーザ光2により所定の接合面深さDwを安定して得られるように、溶接金属の形状を制御するようにしている。このため、多少の溶接軌道のずれが発生したり、第1部材10および第2部材20間に隙間が生じたりしている場合であっても、接合面深さDwを十分かつ安定して確保することができる。加えて、第2部材20については熱伝導型の溶融が施されるため、ボイドの発生が抑制され、かかるボイドに起因する溶接強度の低下が解消され得る。
ここに開示される溶接方法で用いることができるレーザ光としては、そのレーザ発生機構等に因ることなく、目的に応じて各種のものを用いることができる。例えば、被溶接部材の寸法などに応じて、上記のキーホール型および熱伝導型の溶融が実現可能な各種のレーザ光を採用することができる。かかるレーザ光の種類としては、例えば、具体的には、CO2レーザ、YAGレーザ、半導体レーザ(Laser Diode;LD等ともいう。)、LD励起固体レーザ、ファイバーレーザ等であってよい。
(例1)
[ケース本体の溶接]
以下に説明する手順で、リチウムイオン電池100のケース130の封口処理を行った。図5は、かかるリチウムイオン電池の構成を示す部分切欠き正面図であって、図6はその上面図である。かかるケース130は、これらの図に示されるように、奥行き寸法の小さい直方体形状の角型ケースである。そして上面が開口面とされたケース本体132と、かかる開口に対応した横方向に長い略長方形状の蓋部材134とから構成されている。ケース本体132は、厚みが0.4mmのJISで規定される合金番号がA3003のアルミニウム合金から構成されている。蓋部材134は、厚みが1.4mmのJISで規定される合金番号がA1050のアルミニウム合金から構成されている。蓋部材134には、図6に示されるように、正負の外部端子142,144、注入孔146、安全弁148等が設けられている。これらの部位には製造および使用に際して外力が加わり得ることから、蓋部材134はより厚めの板材から構成されている。ケース本体132は、蓋部材134よりもやや強度が高いながらも、より薄肉で軽量化を可能とする板材から構成されている。
溶接には高出力ファイバーレーザ溶接機を用い、かかる溶接機から発振されるレーザ光を光学回折素子(DOE)レンズにより分岐させることで、高出力密度レーザ光(第1レーザ光)と低出力密度レーザ光(第2レーザ光)とを発生させた。
なお、本実施形態における高出力密度レーザ光と低出力密度レーザ光の発振条件は、それぞれ下記の表1に示す5通りとした。そして、これら第1レーザ光と第2レーザ光との発振条件をそれぞれ組み合わせることで、計25通りの溶接条件で溶接を行った。
溶接には高出力ファイバーレーザ溶接機を用い、かかる溶接機から発振されるレーザ光を光学回折素子(DOE)レンズにより分岐させることで、第一高出力密度レーザ光(第1レーザ光)と、第二高出力密度レーザ光(第2レーザ光)と、低出力密度レーザ光(第3レーザ光)とを発生させた。
なお、本実施形態における上記レーザ光の発振条件は以下のとおりとした。
スポット径:φ0.04mm,
レーザ出力:800W
レーザ出力密度:6.4×107W/cm2
スポット径:φ0.04mm,
レーザ出力:540W
レーザ出力密度:4.3×107W/cm2
スポット径:φ0.5mm,
レーザ出力:1000W
レーザ出力密度:5.1×105W/cm2
溶接方法1(25通り)および溶接方法2(1通り)により封口したケースの溶接部を、下記の[1]〜[6]の評価項目について評価した。そしてそれらの結果から、溶接部全体としての品質を評価した。
図3に、(1)溶接方法1(溶接条件;1c×2c)および(2)溶接方法2によりケース本体に形成された溶接部の様子を示す、溶接進行方向に沿った断面像を示した。さらに、溶接方法2については、ケース本体において観察された比較的大きめのボイドを示す溶接進行方向に直交する断面観察図を図4に示した。図4において、○で囲んだ部分がボイドである。
このように溶接部の断面のX線透視画像を画像処理することにより、溶接割れの有無と、ケース本体部分でのボイド発生の状況とを調べた。
その結果を、溶接割れの有無については下記の表2の評価項目[1]の欄に示した。なお、ボイド数については、強度低下をもたらし得ると考えられる直径が0.1mm以上の大きさのボイドが確認された場合、その数を数えた。その結果から、溶接距離1mmあたりのボイド数を算出して表2の評価項目[2]の欄に、電池(ケース)1個あたりのボイド数を算出して表2の評価項目[3]の欄に示した。
上記のとおり封口したケースの溶接部の数カ所を切断し、断面観察により取得した各例の溶接部断面画像をもとにして、第一部材としての蓋部材と、第2部材としてのケース本体との溶け込み形状を観察した。
その結果、蓋部材の溶け込み深さが浅かった(すなわち、キーホールが形成されなかった)場合を「浅い」、蓋部材を貫通した場合を「貫通」、良好な溶け込み形状であった場合を「○」として、表2の評価項目[4]の欄に示した。
また、ケース本体の溶け込み形状について、溶け込み深さが深くボイドが発生していた場合を「ボイド」、良好な溶け込み形状であって接合面とは反対側の面近傍で深さ方向に凸部が形成されなかった場合を「凸なし」、良好な溶け込み形状で凸部が形成された場合を「○」として、表2の評価項目[5]の欄に示した。
溶接方法1および2において使用した、第1レーザ光と第2レーザ光との出力密度の比(I1/I2)を算出し、表2の評価項目[6]の欄に示した。
[総合]総合評価
上記の評価項目[1]〜[6]の結果から、各溶接条件により形成される溶接部の品質が良好であるか否かを総合的に評価した。その結果、良好であると判断された場合を「○」、特に良好であると判断された場合を「◎」、良好ではないと判断された場合を「×」として、表2の評価項目[総合]の欄に示した。この総合評価において、記号○および◎は、ここに開示される技術に求められる要件を満たしていることを意味する。
これに対し、従来の溶接方法2により溶接を行うと、溶接方法1において好適であった第1レーザ照射条件が1cであっても、第2および第3レーザの条件が適切でなく、薄肉のケース本体に0.1mm以上のボイドが高頻度で発生しているのが確認された。薄肉の部材においてかかる大きなボイドが発生することは、溶接部に不測の外力が加わった場合にこのボイドでケース本体が破損し得ることを意味する。すなわち、溶接強度が低下し、溶接品質および溶接部の信頼性が損なわれる結果となった。
第1レーザ光および第2レーザ光の発振条件を、それぞれ下記の表3に示す3通りとした。そして、これら第1レーザ光と第2レーザ光との発振条件をそれぞれ組み合わせることで、計9通りの溶接条件とした。また、第1および第2レーザ光は、9m/分の速度で併走させるようにし、その他の条件は上記例1の溶接方法1と同様にして、リチウムイオン電池のケースの封口溶接を行った。
また、上記例1と同様に、評価項目[1]〜[6]について溶接部を評価し、溶接部全体の品質評価を行った。その結果を、表4に示した。
2 第2レーザ光
10 第1部材
12 第1接合面
14,14’ 第1溶融池
16,16’ 第1溶接部
20 第2部材
22 第2接合面
24 第2溶融池
26 第2溶接部
30 溶接部
Claims (8)
- 板状の第1部材と、板状の第2部材とをレーザ溶接する方法であって、
前記第1部材と前記第2部材とを、互いの幅広面が直交する方向で、かつ、前記第1部材の幅広面に対して前記第2部材の側面部が略面一となるよう、前記第1部材の側面部と前記第2部材の幅広面端部とを突き合わせること、ここで前記第2部材に対向する前記第1部材の側面部を第1接合面とし、前記第1部材に対向する前記第2部材の幅広面端部を第2接合面としたとき、前記第1部材の前記第1接合面に直交する方向における寸法は、前記第2部材の前記第2接合面に直交する方向における寸法よりも大きい;
前記第1部材の幅広面に、キーホールを発生させ得る強度の第1レーザ光を前記第1接合面に沿って照射し、前記第1レーザ光により溶融されてなる第1溶融池を形成すること、ここで前記第1溶融池は前記第2部材に亘って形成される;および
前記第2部材の側面部に、キーホールを発生させ得るよりも低い強度の第2レーザ光を前記第2接合面に沿って照射し、前記第2レーザ光により溶融されてなる第2溶融池を形成すること、ここで前記第2溶融池は前記第1部材に亘って形成される;
を包含し、
前記第1溶融池と前記第2溶融池とは、互いに一体化されて溶融池を形成し、前記溶融池が凝固してなる溶接部により前記第1部材と前記第2部材とを溶接する、溶接方法。 - 前記第1レーザ光の出力密度I1が、5.6×106W/cm2≦I1<1.1×108W/cm2である、請求項1に記載の溶接方法。
- 前記第2レーザ光の出力密度I2が、2.8×106W/cm2≦I2<5.6×106W/cm2である、請求項1または2に記載の溶接方法。
- 前記第2レーザ光の出力密度I2が3.8×106W/cm2以上5.6×106W/cm2未満であるとき、
前記第1レーザ光および前記第2レーザ光の走査速度を20m/分以上とする、請求項3に記載の溶接方法。 - 前記第2レーザ光の出力密度I2が2.8×106W/cm2以上3.8×106W/cm2未満であるとき、
前記第1レーザ光および前記第2レーザ光の走査速度を20m/分未満とする、請求項3に記載の溶接方法。 - 前記第1レーザ光の出力密度I1と前記第2レーザ光の出力密度I2とが、I1≧5×I2を満たす、請求項1〜5のいずれか1項に記載の溶接方法
- 前記第1レーザ光の照射径d1と前記第2レーザ光の照射径d2とが、d1<d2を満たす、請求項1〜6のいずれか1項に記載の溶接方法。
- 前記第1または第2の接合面に直交する断面における前記接合面の溶接部の深さDwと、前記第2部材の前記第2接合面に直交する方向の寸法L2とが、Dw≧L2を満たす、請求項1〜7のいずれか1項に記載の溶接方法。
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