JP5912156B2

JP5912156B2 - 発電出力測定用治具

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Publication number: JP5912156B2
Application number: JP2014178478A
Authority: JP
Inventors: 水良一清; 山雄二遠; 宮敏二
Original assignee: NPC Inc
Current assignee: NPC Inc
Priority date: 2014-07-28
Filing date: 2014-09-02
Publication date: 2016-04-27
Anticipated expiration: 2034-09-02
Also published as: JP2016033506A

Description

本発明は発電出力測定用治具に関するものである。

一般に、太陽光発電システムにおいては、複数の太陽電池モジュールを直列に電気接続してモジュールストリングを形成し、さらにこれらのモジュールストリングの複数を並列に接続して太陽電池アレイを構成している。太陽電池アレイの出力は例えばパワーコンディショナ等に送られる。太陽電池モジュールの寿命は20年程度といわれるが、実際には、環境の影響や時間の経過によりそれよりも早く発電能力が低下し、場合によっては設置後数年で、期待した発電量を得られなくなることもある。それだけでなく、太陽電池モジュールの一部やそれらによって構成されたモジュールストリングの一部等に異常や故障が生じた場合、太陽光発電システム全体としての発電出力が低下するのが避けられない。このため、発電出力測定等の検査により太陽光発電システムの状態を把握し、その結果に応じてメンテナンスを行う必要がある。発電出力測定の１つとして、モジュールストリングの出力側の電流電圧の値を測定し、最大出力値と理論出力値を比較して太陽電池としての良否を判定することが行われる。

このような太陽光発電システムとパワーコンディショナ等を結ぶいわゆる中継箱内に設けられる中継端子台のなかには、端子同士の間隔が著しく狭く、使用勝手の良いワニ口クリップ等のクランプ式のプローブを使用できないものもある。このようなものにあって複数のモジュールストリングを測定するには、例えば次のようにして行われていた。即ち、針状のプローブをひとつひとつ手作業でモジュールストリングの出力端子に押し当てて測定し、測定が終了すれば、また、ひとつひとつ手作業で接続を解除する。この作業を複数のモジュールストリングについて順次繰り返して行う。このように、前記端子同士の間隔の狭いものにあっては、このような手作業による煩雑で時間がかかり習熟度も必要な測定を全てのモジュールストリングに対して繰り返して行わなければならない。

前記モジュールストリングの測定の一例が特許文献１に、より具体的に示されている。

即ち、この特許文献１は、太陽光発電システムにおけるモジュールストリングの発電出力測定装置を記載したものである。この発電出力測定装置は、例えばその特許文献１の図１８に示すように、負荷としての一対のプローブ２０ａ、２０ｂを有する発電出力測定装置１４を備えている。操作者はこれら一対のプローブ２０ａ、２０ｂを手に持って手動操作により測定対象としてのストリングＳ１乃至Ｓ４を測定する。つまり、操作者は手動により先ずストリングＳ１の測定箇所に一対のプローブ２０ａ、２０ｂを押圧接続してストリングＳ１の測定を行う。同様の測定をその他のストリングＳ２乃至Ｓ４について行う。

特開２０１３−２１８４３８号公報

従来は、例えば、上述のように、測定対象とする複数のモジュールストリング毎に、操作者が手作業で、一対のプローブを用いて、発電出力を測定していた。しかしながら、この測定作業は、先にも簡単に述べたように、モジュールストリング毎に行わなければならず、且つ、この作業自体が煩瑣で手間と時間がかかるもので且つ操作者の熟練度も必要で、さらには測定対象が多い場合には操作者も複数名必要であった。

本発明は、上記の問題を解消しようとするもので、その目的は、太陽光発電システムにおける複数のモジュールストリングの発電出力の測定を同時に、高効率で確実に行うための治具を提供することにある。

複数のモジュールストリングのそれぞれの発電出力を同時に測定するための発電出力測定用治具であって、
第１の方向に長いスライドガイドと、前記スライドガイドに摺動可能に且つ位置を固定可能に取り付けられた複数のプローブアセンブリと、を備え、
前記各プローブアセンブリは、
前記スライドガイドに対し摺動可能に且つ位置を固定可能に取り付けられた基体と、
前記基体に対し、前記スライドガイドと交差する第２の方向に摺動可能に取り付けられたプローブ本体と、
を有し、
前記プローブ本体は、
前記モジュールストリングの出力端に繋がる端子に押圧されて電気的に接続される導電材製のチップと、
前記基体に対し前記第２の方向に摺動可能に取り付けられて前記チップを保持する絶縁材製のチップ保持体と、
を有し、
さらに、前記基体と前記プローブ本体との間にばねを介在させ、
前記ばねにより、
−待機時においては、前記ばねの付勢力により、前記プローブ本体に、前記基体から前
記第２の方向に沿って先端方向に突出する力が与えられた、待機位置を採らせ、
−測定時においては、前記チップが前記端子に押し付けられる押圧力により前記プロー
ブ本体が前記ばねの付勢力を増大させながら前記基体に対し基端方向へ後退させる、
測定位置を採らせ、
−測定終了後に前記チップが前記端子から離された場合には、前記ばねの付勢力により
前記プローブ本体を前記待機位置に復帰させる、
測定待機動作を行わせ、
前記測定待機動作を前記各プローブアセンブリにおいて互いに独立的に行わせることにより、複数のモジュールストリングについての発電出力測定を同時に行い得るようにした、
ものとして構成される。

本発明によれば、太陽光発電システムにおける複数のモジュールストリングの発電出力の測定を同時に高効率で確実に行うための治具を提供することが出来る。

本発明の実施形態の発電出力測定用治具の平面説明図。その正面図。図１のIII−III線に沿って切断した、特にハンドル、スライドフレーム及び側板を示すための、端面図。図１のIV−IV線に沿って切断した、特に待機時のプローブアセンブリを示すための、端面図。本発明の実施形態におけるスライドブロックの全体斜視図。（ａ）は本発明の実施形態におけるプローブ本体の側面図、（ｂ）はその分離状態の側面図。図４において、プローブ本体がスライドブロックに対して後退させられた、測定時を示す、断面説明図。図４及び図７に示すプローブアセンブリの各部材を分離した、組み立て過程を示すための、説明図。（ａ）は本発明の実施形態における測定装置の正面図であり、特にピッチスケールの変形例を示すものであり、（ｂ）、（ｃ）はそれぞれさらに異なるピッチスケールの変形例を示す説明図である。本発明の第２の実施形態におけるプローブアセンブリを示す部分断面図。本発明の第３の実施形態における発電出力測定用治具の平面説明図。その正面図。そのハンドル、スライドフレーム及び側板を示すための部分断面図。その側板とスライドフレームを示す斜視図。そのスライドブロックの全体斜視図。その待機時のプローブアセンブリの部分断面図。その動作時のプローブアセンブリの部分断面図。そのプローブアセンブリの各部材を分離した、組み立て過程を示すための、説明図。本発明の第４実施形態におけるプローブアセンブリを示す部分断面図。本発明の第５の実施形態におけるプローブアセンブリを示す部分断面図。

次に、本発明の実施形態の発電出力測定用治具を説明する。

公知の太陽光発電システムは、太陽電池アレイ、端子箱及びパワーコンディショナ等を有している。この太陽電池アレイは複数のモジュールストリングを備え、各モジュールストリングの出力は前記端子箱内の端子台を介してパワーコンディショナ等に送られる。つまり、例えば、各モジュールストリングの正負一対の出力端が、端子台の正負一対の端子に接続されている。

図１に、本発明の実施形態の発電出力測定用治具とそれが測定対象とする端子台ＴＢの概略的平面図を示している。

図１に示す端子台ＴＢは都合８つの端子Ｔ（例えば、４組の正負の端子Ｔ）を有するものとして構成されている。各端子Ｔは具体的にはモジュールストリングの出力側の配線を固定するねじとして示されている。一般にこのねじにはドライバで駆動するための＋／−のねじ溝ＴＧが切られている。而して、従来の手作業による測定においては、測定装置のプローブの先端の導電性チップを例えば前記ねじ溝ＴＧに押圧して、ねじ溝ＴＧでプローブの先端の位置決めをしつつ電気的に接触させて測定を行っていた。図示の本発明の実施形態も、手作業で各モジュールストリングの出力測定を行おうとするものであるが、本実施形態は、一度に複数（ここでは８つ）の端子（ねじ）Ｔについての測定を同時に行い得るように構成したものである。

具体的には、図１（平面図）、図２（正面図）、図３（図１のIII―III線端面図）に示される本発明の実施形態の発電出力測定用治具は、操作者が後述のハンドル３を手に持って、いわゆるプローブ（チップ１２Ｂ）を前記端子Ｔに押し当てて測定を行うものであるが、上述のように従来と異なるところは、一度に複数のプローブを複数の端子Ｔに適正に押圧可能として、確実に複数の端子についての測定を可能としたところにある。後述するところからも分かるように、本実施形態によれば、図中横方向（第１の方向）に一列に並ぶ複数の端子Ｔに、縦方向（第２の方向）に移動させた複数のプローブを同時に的確に押圧して、複数の端子Ｔに対して確実に電気的な接続を採って測定することが、操作者の特別な熟練を必要とすること無く、可能である。

より詳しくは、本実施形態は、特に図２の正面図から分かるように、左右一対の側板１Ａ、１Ｂを有する。これらの側板１Ａ、１Ｂは特に図１の平面図から分かるように、図中左右（第１の方向）に走るスライドフレーム２によって一体に固定されている。スライドフレーム２にはこの装置を把持し測定操作するためのハンドル３が取り付けられている。

さらに、特に図２から分かるように、スライドフレーム２の前側の側面にピッチスケール７が設けられている。このピッチスケール７は、図１に示す前記第１の方向と交差する図中上下方向（第２の方向）に長尺なものとして構成されているプローブアセンブリ１０間の左右の間隔を調整する際に使用するためのものである。

前記側板１Ａ、１Ｂは、実質的に同一の構成を有し、特に図３から分かるように、紙面に垂直な厚さ方向に穿けられた一対の貫通孔１ａ，１ｂを有する。これらの貫通孔１ａ，１ｂには、円柱状のスライドガイド４Ａ，４Ｂの両端が挿入固定されている（図２）。この固定の手段としては各種のものを採用することができるが、この実施形態ではねじ５Ａ，５Ｂを締め付けるという手段を採っている。つまりねじ５Ａ，５Ｂを締め付けてスリット１ａ１，１ｂ１及び貫通孔１ａ，１ｂを狭めることにより、スライドガイド４Ａ，４Ｂを側板１Ａ、１Ｂと一体化している。

本実施形態の測定装置の実際の組立の手順については後述するが、図１及び図２から分かるように、前記一対のスライドガイド４Ａ，４Ｂに対して、複数（ここでは８つ）のプローブアセンブリ１０が、互いに横方向に摺動可能に嵌合されている。且つ、各プローブアセンブリ１０は一対のスライドガイド４Ａ，４Ｂに対してその位置を固定可能とされている。つまり、各プローブアセンブリ１０は、ボルト１５を緩めることにより、スライドガイド４Ａ、４Ｂが被挿された状態で図中左右に移動可能とされ、且つ、ボルト１５を締め付けることによりスライドガイド４Ａに対しその位置を固持可能とされている。これにより、被測定対象とする図１中の前記各端子Ｔ間のピッチに応じて、前記ピッチスケール７を参照しながら、複数のプローブアセンブリ１０間のピッチを調整し、その位置を保持可能としている。

つまり、図１において、各プローブアセンブリ１０には、図中左右に走る一対のスライドガイド４Ａ，４Ｂを相対的に摺動可能に貫通させている。これにより、プローブアセンブリ１０を、２本の前記スライドガイド４Ａ，４Ｂが被挿された状態で左右に位置調節可能とし、前記端子台ＴＢの端子Ｔの間隔に合った位置（ピッチ）を採り得るようにしている。

次に、前記各プローブアセンブリ１０の構成について説明する。前記各プローブアセンブリ１０は同じ構造のものであるため、その１つについて説明する。

図４は、図１のIV−IV線端面図である。図４からわかるように、このプローブアセンブリ１０は、むくの矩形体状のスライドブロック（基体）１１、そのスライドブロック１１を貫通する長尺状のプローブ本体１２及びそのプローブ本体１２の先端側を支える横断面がほぼＬ型のプローブガイド１３を備える。

スライドブロック１１の全体斜視図が図５に示される。スライドブロック１１は基本的には樹脂等の絶縁材料で作られた矩形体である。この矩形体に対し、第２の方向に走るプローブ本体１２が貫通するプローブ穴１１ａが穿けられ、第１の方向に前記一対のスライドガイド４Ａ，４Ｂが貫通する２つのガイド穴１１ｂＡ,１１ｂＢが穿けられている。さらに、天面から下方に向けて上側の前記ガイド穴１１ｂＡに交差連通する固定用ねじ穴１１ｃが切られている。この固定用ねじ穴１１ｃにねじ込まれた固定用の前記ボルト１５の下端が、前記ガイド穴１１ｂＡ内を貫通する前記スライドガイド４Ａの側面に当接押圧し、スライドブロック１１をスライドガイド４Ａに対し固定状態に位置決めする。

図４に示すように、前記スライドブロック１１の底面には前記Ｌ型のプローブガイド１３が固定されている。このプローブガイド１３はほぼ直角に交わる立板部１３ａと底板部１３ｂを有する。立板部１３ａには、プローブ本体１２の後述の先端側保持部１２Ａ２が貫通するプローブ案内穴１３Ａ１が穿けられている。底板部１３ｂはスライドブロック１１の底面にボルト１４により固定されている。

前記プローブ本体１２は図６（ａ）にその全体が示される。このプローブ本体１２は、絶縁材性のチップ保持体１２Ａとその先端に取り付けられた導電材性のチップ１２Ｂを有する。チップ保持体１２Ａは、実際は、装置としての組立の都合上等から、図６（ｂ）から分かるように、基端側保持部１２Ａ１と先端側保持部１２Ａ２の２つの部材を有し、両者を引き抜き可能に且つ固定状態に挿入固定して一体化したものである。これにより、チップ保持体１２Ａは１つの部材として把握される。よって、以下には、チップ保持体１２Ａを一体的な１つの部材として説明する。なお、チップ保持体１２Ａの前記２つの部材（１２Ａ１，１２Ａ２）の構造や組立方については追ってその都度順次説明する。

図６（ａ）において、チップ保持体１２Ａは概略的には筒状に構成されており、その内部にはチップ１２Ｂに繋がる所望の構成の内部配線が構成されている。その内部配線によって先端のチップ１２Ｂで得た端子Ｔからの電気信号がチップ保持体１２Ａの基端側の配線１２Ａ３に導かれていわゆる各種測定装置に送られる。

図６（ａ）から分かるように、チップ保持体１２Ａのやや中央部分が、２段構成ではあるが、小径に構成されて、前記スライドブロック１１及び前記ばね１７を貫通状態に保持する保持部１２Ａ２３とされている。この保持の状態は特に図４に示される。特に図６（ａ）から分かるように、この保持部１２Ａ２３の図中左右両端には、この保持部１２Ａ２３を区画する、フランジ状のばねストッパ１２Ａ２２とブロックストッパ１２Ａ１２とが、保持部１２Ａ２３より大径なものとして構成されている。ばねストッパ１２Ａ２２は前記先端側保持部１２Ａ２に形成されたものであり、ブロックストッパ１２Ａ１２は（特に後述する図６（ｂ）からも分かるように）基端側保持部１２Ａ１に構成されたものである。ブロックストッパ１２Ａ１２は、後述するように、プローブ本体１２がスライドブロック１１から抜け出ないようにするためのものであり、この趣旨を満たせば上記以外の構成を採用することもできる。

この保持部１２Ａ２３へのばね１７とスライドブロック１１の取り付け状態を示す図４において、ばね１７は若干圧縮され付勢力を蓄えた状態で前記ばねストッパ１２Ａ２２とスライドブロック１１の間に挿入状態に取り付けられている。これにより、スライドブロック１１を基準としてみれば、プローブ本体１２はスライドブロック１１から図中左方へ飛び出ようとする付勢力をため込んだ状態になっている。つまり、プローブ本体１２はばね１７の付勢力で図中左方向へ突出しようとするが、その突出は、前記ブロックストッパ１２Ａ１２がスライドブロック１１の図中右側面に当接することにより、阻止された状態にある。よって、プローブ本体１２は、図７から分かるように、ばね１７の付勢力に抗して、このばね１７を圧縮しつつ図中右方へ後退移動可能である。この動きを、実際の測定動作との関連で説明すれば以下の通りである。

即ち、この図４の状態において、操作者がハンドル３を持ってこのプローブアセンブリ１０（スライドブロック１１）を手動にて測定対象である静止系としての端子Ｔに押し当てる。これにより、プローブ本体１２は、図７に示すように、ばね１７を圧縮しながら、スライドブロック１１に対し図中右方へ後退摺動する。これによりさらに増大したばね１７の付勢力で先端のチップ１２Ｂが端子Ｔに押圧させられ、両者は確実に電気的に接続される。測定後は、この状態から、再び手動にて、装置全体を、つまりプローブアセンブリ１０を図中右方へ移動させれば、チップ１２Ｂは端子Ｔから離間し、プローブアセンブリ１０はばね１７の付勢力により図４の状態に復帰する。

即ち、上記プローブアセンブリ１０は次のように動作する。つまり、操作者がハンドル３を持って装置全体を、つまりスライドブロック１１を端子台ＴＢに近づけると、それにつれてプローブ本体１２のチップ１２Ｂが端子（ねじ）Ｔの頭に押し当てられる。この後は、プローブ本体１２はばね１７を圧縮しながら、端子（ねじ）Ｔの頭の高さ位置に応じただけスライドブロック１１内を後退する。これにより増大するばね１７の付勢力により、チップ１２Ｂは端子（ねじ）Ｔに確実に当接し、電気的に導通し、測定が可能となる。

つまり、以上の動作（測定動作）は次のようにも説明される。即ち、前記ばね１７により、
−待機時においては、前記ばね１７の付勢力により前記チップ保持体１２Ａに前記スラ
イドブロック（基体）１１から先端方向に突出する力が与えられた待機位置を採り、 −測定時においては、前記チップ１２Ｂが前記端子Tに押し付けられる押圧力によりそ
の押圧力に応じた距離だけ前記チップ保持体１２Ａが前記ばね１７の付勢力を増大さ
せながら前記基体１１に対し基端方向へ後退させる測定位置を採り、
−前記押圧力の消失時には前記ばね１７の付勢力により前記チップ保持体１２Ａを前記
待機位置に復帰する。

以上に説明した上記の動作（測定待機動作）は１つのプローブアセンブリ１０についてのものであるが、特に図１から明らかなように、前記プローブアセンブリ１０は複数備えられている。このため、１つ１つのプローブアセンブリ１０は互いに独立に上記の動作を行うことになる。つまり、個々のプローブアセンブリ１０はそれ自体が、隣のプローブアセンブリ１０とは無関係に、自己が押し当てられる端子（ねじ）Ｔの頭の高さ（標高）に応じただけ後退し、チップ１２Ｂと端子（ねじ）Ｔとは電気的に確実に接続する。

つまり、本発明の実施形態の発電出力測定用治具においては、前記測定動作を前記各プローブアセンブリ１０において互いに独立的に行わせることにより、複数のモジュールストリングについての発電出力測定を同時に行い得るようにした。

而して、太陽光発電システム全体を見た場合、図１に示したような端子台ＴＢは複数存在している。その１つの端子台ＴＢを見た場合、複数（ここでは８つ）の端子（ねじ）Ｔの頭の位置の標高位置は必ずしも完全に揃っているとは限らない。つまり、簡単に言えば、８つの端子（ねじ）Ｔの頭はチップ１２Ｂに向けて出たり、引っ込んだりして高さが一様ではないこともある。つまり、チップ１２Ｂ（１）―１２Ｂ（８）の先端と、端子（ねじ）Ｔ（１）―Ｔ（８）の頭と、の距離Ｄ１−Ｄ８は一様とは限らない。たとえ各端子台ＴＢの複数の端子Ｔがこのようなものであっても、複数の端子Ｔに本実施形態の測定装置を手動で押し当てた場合、８つのプローブアセンブリ１０におけるプローブ本体１２はそれぞれ独立的に必要な量だけスライドブロック１１から後退し、全てのプローブ本体１２のチップ１２Ｂが各端子Ｔに適正に当接し、電気的に導通する。つまり、本実施形態によれば、複数の端子Ｔの頭の高さのばらつきを吸収するマージンを有するという特徴を有する。

また、本実施形態によれば、上記のように操作対象とする端子台ＴＢの端子Ｔの頭の高さが揃っていない場合だけでなく、操作者の操作に起因して複数のチップ１２Ｂが複数の端子Ｔに対して正確に平行でない場合でも、正確な測定が可能である。

即ち、図１から分かるように、端子Ｔは複数のものが図中横一列に並んでいる。これらの端子Ｔの頭を結ぶ線をＬ１とする。前記測定時に手動操作により複数の前記プローブ本体１２のチップ１２Ｂが複数の端子（ねじ）Ｔに押し当てられるが、押し当てられる直前の複数のチップ１２Ｂの先端を結ぶ線をＬ２とする。これら２つの線Ｌ１，Ｌ２が実質的に平行であれば問題はない。つまり、両者が平行であれば全てのチップ１２Ｂが全ての端子Ｔに対して適正に確実に当接し、測定は正しく行われる。しかしながら、手動操作では、両者がいつも必ずしも厳密に相対的に平行になるとは限らない。しかしながら、この実施形態では、両者の平行性が崩れた場合でも、そのずれを吸収して、的確に測定を行うことができる。つまり、前述のように、本実施形態は、２つの線Ｌ１、Ｌ２の平行性のずれに、マージンを持たせていると言える。より詳しくは、図１において、操作者がハンドル３の持ち方に起因して、２つの線Ｌ１，Ｌ２が平行でなくても、本実施形態によれば適正に測定できる。つまり、例えば、左端のチップ１２Ｂ（１）と端子Ｔ（１）の距離Ｄ１が小さく、右端のチップ１２Ｂ（８）と端子Ｔ（８）の距離Ｄ８が大きいように、線Ｌ２が傾いているとする。このような場合にあっても、スライドブロック１１を複数の端子Ｔにさらに近づけると、複数のプローブ本体１２のうち図中左側のプローブ本体１２ほど大きく後退し、右側のプローブ本体１２ほど小さく後退し、その結果、その傾きは吸収されて、８組全部のチップ１２Ｂと端子Ｔのペアの適正な電気的な接触がなされる。つまり、必ずしも操作者が手動操作の際に、細心の注意を払い、両者が適正に互いに平行になるようにしなくても良い。つまり、実際の測定箇所が複数あるため、全部の測定箇所についてそのようにするには熟練度が必要なだけでなく、たとえ熟練していても、そのようにするのは測定作業の効率が著しく下がるのが避けられず、現実的ではない。しかしながら、本発明の実施形態によれば、操作者の操作に起因して、前記線Ｌ１，Ｌ２が平行ではなく傾きがあっても、その傾きは測定時に自動的に吸収されるため、つまり各プローブ本体１２がそれが対応するスライドブロック１１に対しての後退量が自動的に制御されるため、極めて高効率で且つ迅速且つ確実に測定作業を行うことができる。

次に、前記プローブ本体１２の構造について、つまり２つの部材としての基端側保持部１２Ａ１と先端側保持部１２Ａ２の組み付けについて説明する。

例えば図６（ａ）を参照するに、プローブ本体１２においては、先端のチップ１２Ｂは所望の内部配線によって後端の配線１２Ａ３と電気的に繋がっている。而して、前に簡単に述べたが、プローブ本体１２の保持部１２Ａは、図６（ｂ）に示すところから分かるように、２つの部材（基端側保持部１２Ａ１、先端側保持部１２Ａ２）を分解、組み立て可能に一体化したものである。より詳しくは、先端側保持部１２Ａ２においては、その基端部分からわかるように、導電性のチップ１２Ｂと電気的に繋がる配線の一部としての導電体（導電膜）１２Ａ２１が筒状の先端側保持部１２Ａ２の内面に形成されて、一方のコネクタを構成している。また、基端側保持部１２Ａ１においては、前記配線１２Ａ３等に繋がる導電性ピン１２Ａ１１を筒状の基端側保持部１２Ａ１の中心軸付近に位置させて、他方のコネクタを構成している。先端側保持部１２Ａ２の基端（一方のコネクタ）を基端側保持部１２Ａ１の先端（他方のコネクタ）に、図６（ａ）に示すように、挿入する。これにより、両者が入れ子状に互いに係合して機械的に結合されると共に、前記導電性ピン１２Ａ１１と前記導電膜１２Ａ２１とが互いに電気的に接続される。これにより、導電性のチップ１２Ｂと配線１２Ａ３とが電気的に接続される。なお、基端側保持部１２Ａ１と先端側保持部１２Ａ２との機械的且つ電気的な接続は、上記の構成に限るものではなく、他の構成も採用可能である。

また、図４に示すプローブアセンブリ１０は、実際には以下のようにして組み立てられる。即ち、図８に示すように、プローブ本体１２を基端側保持部１２Ａ１と先端側保持部１２Ａ２とに切り離した状態とし、これらの間にスライドブロック１１とばね１７とを位置させる。また、先端側保持部１２Ａ２の先端側にプローブガイド１３を位置させる。

この状態で、先端側保持部１２Ａ２の基端側（一方のコネクタ）を、ばね１７を貫通させ、次いでスライドブロック１１のプローブ穴１１ａを貫通させ、その後に、基端側保持部１２Ａ１の先端側（他方のコネクタ）に接続させる。これと同時に、先端側保持部１２Ａ２をプローブガイド１３のプローブ案内穴１３Ａ１に通す。これにより、図４に示すプローブアセンブリ１０が得られる。

なお、前記チップ１２Ｂの前記端子Ｔへの当接力を適当なものに設定することは、複数のチップ１２Ｂによる測定を同時に適正に行うために非常に重要である。本発明では、この点に着目して、以下の構成を採用している。

即ち、前記ばね１７として付勢力の異なる複数のものを準備しておく。さらに、チップ１２Ｂの端子（ねじ）Ｔへの当接力が適当なものとなり測定が適正に行われるように、適宜交換して用いることもできる。つまり、前記プローブ本体１２は、前述のように、先端に前記チップ１２Ｂを有する先端側保持部１２Ａ２と、前記先端側保持部に分離可能に結合される基端側保持部１２Ａ１と、により、測定を行う結合状態と、前記ばね１７を交換可能な分離状態と、を採りうるものとして構成されている。

また、ばね１７を交換することなくその付勢力を調節することもできる。即ち、前記先端側保持部１２Ａ２と前記基端側保持部１２Ａ１とをねじ機構で接続し、相対的に螺回することにより両者を軸方向に接離する構成を採用することもできる。これにより、特に図４から分かるように、ばねストッパ１２Ａ２２とスライドブロック１１の面との距離が変わり、前記ばね１７の圧縮量が変わってばね１７の付勢力が変わる。これにより、チップ１２Ｂの端子Ｔへの接触圧を連続的に変化させて、適正に測定を行い得る接触圧を得ることもできる。

さらに、前記先端側保持部１２Ａ２として、チップ１２Ｂの形状を変えた複数のものを用意しておき、測定対象とする端子Ｔの先端の形状に応じたものを交換して使用することもできる。

なお、図２には、ピッチスケール７として汎用の物差しのように目盛りを刻んだものを示したが、これ以外の態様で目盛りしたものも用いることができる。例えば、図９（ａ）は目盛りの数字の形態を変えたもの、（ｂ）、（ｃ）は被測定対象としての端子Ｔ間のピッチに予め合わせて目盛りを刻んだものをそれぞれ示す。

図１０は本発明の第２の実施形態を示す。この第２の実施形態が先に説明した図１，図４等に示した第１の実施形態との違いは以下の通りである。第１の実施形態では、特に図４等から分かるように、スライドガイド４Ａ，４Ｂが図中上下に重なる位置関係で設けられている。これに対し、第２の実施形態では、図１０から分かるように、スライドガイド４Ａ，４Ｂが、図１０において左右に並ぶ位置関係で設けられている。さらに、この第２の実施形態のスライドブロック１１Ａにおいては、図４等に示される縦断面がＬ型のプローブガイド１３に代えて、平板としてのプローブガイド１３Ａをスライドブロック１１Ａの後ろ側（基端側）に用いている。このプローブガイド１３Ａはスライドブロック１１Ａにボルト１４で固定されている。このプローブガイド１３Ａとスライドブロック１１Ａに対しプローブ本体１２が図中左右に摺動可能に挿嵌されている。さらに、この平板のプローブガイド１３Ａと前記ばねストッパ１２Ａ２２との間にばね１７を圧縮した状態で保持している。より詳しくは、プローブ本体１２の先端側保持部１２Ａ２がスライドブロック１１Ａに左右に摺動可能に挿嵌され、基端側保持部１２Ａ１も前記プローブガイド１３Ａに左右に摺動可能に挿嵌されている。これにより、スライドブロック１１Ａ、プローブガイド１３Ａを被測定対象としての端子Ｔに向けて前進させれば、チップ１２Ｂが端子Ｔに押圧し、さらに前進させれば、プローブ本体１２は、図１０の静止状態から、ばね１７を圧縮しながらスライドブロック１１Ａ、プローブガイド１３Ａに対し図中右方向に後退動する。このときの圧縮されるばね１７の付勢力により、先端のチップ１２Ｂは被測定端子に確実に圧接される。測定後、スライドブロック１１Ａ、プローブガイド１３Ａを端子Ｔから遠ざければ、チップ１２Ｂは端子Ｔから離間し、プローブ本体１２はばね１７の付勢力により図１０の状態に復帰する。図中第１の実施形態と同等の部材には同一の符号を付して詳しい説明は省略する。

次に、図１１乃至図１８を参照しながら第３の実施形態について説明する。前記第１及び第２の実施形態では、プローブ本体１２のスライドブロック１１に対する直進性は、プローブ本体１２とスライドブロック１１自体によって達成されていた。これに対し、第３の実施形態では、プローブ本体１２のスライドブロック１１Ｂに対する直進性を補完し向上させるために、別途新たに直進性を保持するための機構を設けたところにある。つまり、追って詳しく説明するように、例えば図１６において、プローブ本体１２にスライドシャフト３３をいくつかの部材を介して一体的に取り付け、このスライドシャフト３３をスライドブロック１１Ｂに対して高精度に直進摺動するようにして、プローブ本体１２がスライドブロック１１Ｂに対し高精度に直進摺動するようにしたところにある。また、スライドガイド４Ａ，４Ｂは、第１の実施形態では特に図３からわかるように図中上下に設けているが、第３の実施形態では特に図１６等から分かるように図中横並びに設けている。なお、第３の実施形態において第１の実施形態と同等の部材には同一の符号を付して詳しい説明は省略する。

以下にこの第３の実施形態を詳細に説明する。

本発明の第３の実施形態の全体の平面図は図１１に、正面図は図１２にそれぞれ示される。特に図１１において、一対の側板４１Ａ、４１Ｂとそれらに挟まれるスライドフレーム４２は、分解斜視図として図１４に示される。この図１４から分かるように、側板４１Ａ、４１Ｂは、同一の構成を有し、共に、基部４１ａとそれから上方に突出した上部４１ｂとを有する。一対の側板４１Ａ、４１Ｂの上部４１ｂ、４１ｂ間に前記スライドフレーム４２が貫通穴４１ｂ１、４１ｂ１を貫通するボルト（図示せず）等によって固定される。前記ボルトの頭は座ぐりによって側板４１Ａ、４１Ｂ内に埋め込まれ、面一となるようにしている。このスライドフレーム４２は、基部４２ａとそれから図中左方向に延成する棚部４２ｂを有する。この棚部４２ｂの上面に、第１の実施形態におけると同様の各種のピッチスケール７が載置状態に固定される。前記基部４２ａには、その両端から内側に長手方向に向けて、前記側板４１Ａ、４１Ｂの貫通穴４１ｂ１、４１ｂ１に対応する位置において、ねじ穴４２ａ１が切ってあり、前記ボルト（図示せず）等によって左右から固定される。また、図１１に示されるハンドル３はスライドフレーム４２に上記と同様に埋め込み状態とするボルト（図示せず）等によって取り付けられている。

前記側板４１Ａ、４１Ｂと前記スライドフレーム４２の組み立て状態は図１３に示される。この図１３は図１１のＸIII―ＸIII線断面図である。この図１３においては、組み立て用のボルトや締め付け用のボルトの図示は省略してある。

例えば図１１，図１２から分かるように、前記一対のスライドガイド４Ａ，４Ｂには、第１の実施形態の図１，図２と同様に、複数のプローブアセンブリ１０Ａがスライドガイド４Ａ，４Ｂに沿って図中左右に摺動可能に且つ位置調節可能に、さらに任意の位置に固定可能なように被挿されている。

前記プローブアセンブリ１０Ａの詳細は図１６に示される。この第３の実施形態においては、プローブアセンブリ１０Ａは、プローブ本体１２と、ばね１７と、スライドブロック１１Ｂの３つから構成される。つまり、プローブ本体１２は、第１の実施形態におけるプローブ本体の他に、後述するスライドシャフト保持体３１と、これに圧入されるスライドシャフト３３とを有する。而して、このように構成されたプローブ本体１２を、ばね１７の付勢力により、スライドブロック１１Ｂに対し付勢するようにしている。

より詳しくは、前記プローブアセンブリ１０Ａはスライドブロック１１Ｂを有するが、その詳細は図１５に示される。この図１５から分かるように、スライドブロック１１Ｂは、基部１１Ｂ１とそれより図中下向きに延びる延成部１１Ｂ２とを有する。基部１１Ｂ１には、厚さ方向に、前記一対のスライドガイド４Ａ，４Ｂを摺動可能に被挿するガイド穴１１ｂＡ,１１ｂＢが形成されている。前記延成部１１Ｂ２には、図中左右方向つまり幅方向に、２つの貫通穴が形成されている。１つは、プローブ本体１２を摺動可能に貫通状態に被挿するプローブ穴１１ａである。もう１つは、シャフト摺動穴１１Ｂ２ｂである。このシャフト摺動穴１１Ｂ２ｂの内表面には、摺動案内用の銅合金製等のスライドブッシュ３５を挿入固定してスライドシャフト摺動案内穴を形成してある。これにより、スライドシャフト３３が、摺動性良く且つ傾かないで高精度に出退摺動可能とされている。むろん、このスライドブッシュ３５の材質はこれに限るものではなく、スライドシャフト３３を傾かせずに図中左右に摺動させ得るものであれば良い。また、スライドシャフト３３をスライドブロック１１Ｂで上記と同様に摺動可能に支持するに当たり、例えば含油軸受機構やそれに準じた機構等で支持することもできる。

図１６からわかるように、このように構成したスライドブロック１１Ｂの前記プローブ穴１１ａには、前記プローブ本体１２が図中左右に摺動可能に挿嵌されている。且つ、前記シャフト摺動穴１１Ｂ２ｂ（スライドブッシュ３５）には後述するスライドシャフト３３が抜き差しされる。このスライドシャフト３３にはばね１７が被挿され、後述するスライドシャフト保持体３１とスライドブロック１１Ｂとの間に圧縮状態に保持されている。つまり、ばね１７により、プローブ本体１２はスライドブロック１１Ｂから飛び出る方向に常時付勢力が加わっている。この付勢力が存在していても、第１の実施形態と同様に、プローブ本体１２のブロックストッパ１２Ａ１２がスライドブロック１１Ｂの図中右側面に押当しているため、プローブ本体１２がスライドブロック１１Ｂから飛び出ることはない。

また、図１６から分かるように、前記プローブ本体１２の先端側（先端側保持部１２Ａ２）がスライドシャフト保持体３１に貫通状態に挿嵌されている。このプローブ本体１２とスライドシャフト保持体３１とはねじ３６，３６によって一体に固定されている。また、このスライドシャフト保持体３１には、前記チップ保持体１２Ａと平行となるように、スライドシャフト３３の一端が圧入等の手段により固定されている。スライドシャフト３３の他端（自由端）は、前述のように前記スライドブッシュ３５内に摺動可能に挿入されている。スライドシャフト３３は各デメンジョンに高精度を持たせて作製されており、例えば外径においては±０．０５mmの精度で作製したものを用いている。これにより、スライドシャフト３３とスライドブッシュ３５の協働により、実質的にスライドシャフト３３の傾きがない状態、あるいは傾きが無視できるほどに極力抑えられた状態で、相互に摺動する。これにより、プローブ本体１２はスライドブロック１１Ｂに対し傾くことなく図１６中左右に摺動する。これにより、例えば、ハンドル３を持って、本発明の実施形態における装置を、図１に示すような端子台ＴＢに近づければ、複数のプローブ本体１２の複数のチップ１２Ｂの全てを実質的にずれることなく、複数の端子Ｔに同時に的確に当接、圧接することができ、高効率な測定が可能である。

このような測定時におけるプローブ本体１２がスライドブロック１１Ｂに対して後退した状態の一例が図１７に示される。測定時には、第１の実施形態の図７と同様に、プローブ本体１２は、ばね１７を圧縮しながら、スライドブロック１１Ｂに対し図中右方へ後退する。この時の増大する付勢力によりチップ１２Ｂが端子Ｔに適正に押圧されるのは第１の実施形態と同様である。この状態からスライドブロック１１Ｂ（ハンドル３）を図１７において右方へ後退させれば、ばね１７の付勢力により、プローブ本体１２がスライドブロック１１Ｂに対し図１６の状態に戻るのも第１の実施形態の場合と同様である。

図１８は、プローブアセンブリ１０Ａの組み立て過程を説明するための各部材の分離状態を示す図である。即ち、図１６に示すプローブアセンブリ１０Ａは、実際には以下のようにして組み立てられる。即ち、概念的には、図１８に示すように、プローブ本体１２（チップ保持体１２Ａ）を基端側保持部１２Ａ１と先端側保持部１２Ａ２とに切り離した状態とし、且つ各部材を図示のような位置関係に位置させる。この概念的な状態において、順不同ではあるが、スライドブロック１１Ｂにスライドブッシュ３５を固定状態に嵌め込み、スライドシャフト３３をスライドシャフト保持体３１に圧入し、スライドシャフト３３にばね１７を被挿し、スライドシャフト保持体３１に先端側保持部１２Ａ２の先端部分を挿入してねじ３６で固定する。この状態とした後、基端側保持部１２Ａ１と先端側保持部１２Ａ２とを互いに挿嵌により一体化する。これにより、図１６に示すプローブアセンブリ１０Ａが得られる。

この第３の実施形態においても前記第１の実施形態におけると同様の各種の変形例が適用できるのは当然である。

また、以上に説明した第３の実施形態では、ばね１７をスライドシャフト３３に被挿する構成としたが、これに代え、第１の実施形態と同様にチップ保持体１２に被挿することもでき、さらにはスライドシャフト３３とチップ保持体１２Ａの両方にそれぞればね１７に被挿することもできる。ばねとしての付勢力をどうするか等の観点からいくつのばねをどこに設けるかを決めることができる。また、前記第１の実施形態と同様に付勢力の異なる複数のばね１７を準備しておき、用途等に応じて適宜交換して用いることもできる。さらに、スライドシャフト保持体３１をチップ保持体１２Ａにおける前記スライドブロック１１Ｂよりも先端側に設けたが、スライドブロック１１Ｂの基端側に設けることもできる。この場合には対応する部材を設計変更する必要があるのは当然である。

図１９及び図２０はそれぞれ第４の実施形態及び第５の実施形態を示す。

図１９の第４の実施形態が、図１６の第３の実施形態と異なる点は、両図の比較から分かるように、スライドシャフト３３を基端側保持部１２Ａ１及び先端側保持部１２Ａ２よりも図中下側に設けた点等である。図２０の実施形態は、スライドシャフト３３を２本設けた例を示す。なお、図１９，図２０の実施形態ではばね１７は第１の実施形態と同様にプローブ本体１２に被挿しているが、スライドシャフト３３に被挿することも、複数のばね１７を同時に用いることもできる。これら図１９，図２０の実施形態とも、その基本的な構造、動作は、第１の実施形態のものとほぼ同様であるため、詳しい説明は省略する。

Claims

複数のモジュールストリングのそれぞれの発電出力を同時に測定するための発電出力測定用治具であって、
第１の方向に長いスライドガイドと、前記スライドガイドに摺動可能に且つ位置を固定可能に取り付けられた複数のプローブアセンブリと、を備え、
前記各プローブアセンブリは、
前記スライドガイドに対し摺動可能に且つ位置を固定可能に取り付けられたスライドブロックと、
前記スライドブロックに対し、前記スライドガイドと交差する第２の方向に摺動可能に取り付けられたプローブ本体と、
を有し、
前記プローブ本体は、
前記モジュールストリングの出力端に繋がる端子に押圧されて電気的に接続される導電材製のチップと、
前記スライドブロックに対し前記第２の方向に摺動可能に取り付けられて前記チップを保持する絶縁材製のチップ保持体と、
を有し、
さらに、前記スライドブロックと前記プローブ本体との間にばねを介在させ、
前記ばねにより、
−待機時においては、前記ばねの付勢力により、前記プローブ本体に、前記スライドブ
ロックから前記第２の方向に沿って先端方向に突出する力が与えられた、待機位置を
採らせ、
−測定時においては、前記チップが前記端子に押し付けられる押圧力により前記プロー
ブ本体が前記ばねの付勢力を増大させながら前記スライドブロックに対し基端方向へ
後退させる、測定位置を採らせ、
−測定終了後に前記チップが前記端子から離された場合には、前記ばねの付勢力により
前記プローブ本体を前記待機位置に復帰させる、
測定待機動作を行わせ、
前記測定待機動作を前記各プローブアセンブリにおいて互いに独立的に行わせることにより、複数のモジュールストリングについての発電出力測定を同時に行い得るようにしており、
前記プローブ本体は、前記プローブ本体と一体に動作する、前記チップ保持体と平行なスライドシャフトを有し、前記スライドシャフトを前記スライドブロックに互いに相対的に往復摺動可能に挿嵌した、
ことを特徴とする発電出力測定用治具。
複数のモジュールストリングのそれぞれの発電出力を同時に測定するための発電出力測定用治具であって、
第１の方向に長いスライドガイドと、前記スライドガイドに摺動可能に且つ位置を固定可能に取り付けられた複数のプローブアセンブリと、を備え、
前記各プローブアセンブリは、
前記スライドガイドに対し摺動可能に且つ位置を固定可能に取り付けられたスライドブロックと、
前記スライドブロックに対し、前記スライドガイドと交差する第２の方向に摺動可能に取り付けられたプローブ本体と、
を有し、
前記プローブ本体は、
前記モジュールストリングの出力端に繋がる端子に押圧されて電気的に接続される導電材製のチップと、
前記スライドブロックに対し前記第２の方向に摺動可能に取り付けられて前記チップを保持する絶縁材製のチップ保持体と、
を有し、
さらに、前記スライドブロックと前記プローブ本体との間にばねを介在させ、
前記ばねにより、
−待機時においては、前記ばねの付勢力により、前記プローブ本体に、前記スライドブ
ロックから前記第２の方向に沿って先端方向に突出する力が与えられた、待機位置を
採らせ、
−測定時においては、前記チップが前記端子に押し付けられる押圧力により前記プロー
ブ本体が前記ばねの付勢力を増大させながら前記スライドブロックに対し基端方向へ
後退させる、測定位置を採らせ、
−測定終了後に前記チップが前記端子から離された場合には、前記ばねの付勢力により
前記プローブ本体を前記待機位置に復帰させる、
測定待機動作を行わせ、
前記測定待機動作を前記各プローブアセンブリにおいて互いに独立的に行わせることにより、複数のモジュールストリングについての発電出力測定を同時に行い得るようにしており、
前記ばねは前記チップ保持体に被挿され、前記チップ保持体と前記スライドブロックとの間に前記ばねの前記付勢力が作用するようにした、
ことを特徴とする発電出力測定用治具。
複数のモジュールストリングのそれぞれの発電出力を同時に測定するための発電出力測定用治具であって、
第１の方向に長いスライドガイドと、前記スライドガイドに摺動可能に且つ位置を固定可能に取り付けられた複数のプローブアセンブリと、を備え、
前記各プローブアセンブリは、
前記スライドガイドに対し摺動可能に且つ位置を固定可能に取り付けられたスライドブロックと、
前記スライドブロックに対し、前記スライドガイドと交差する第２の方向に摺動可能に取り付けられたプローブ本体と、
を有し、
前記プローブ本体は、
前記モジュールストリングの出力端に繋がる端子に押圧されて電気的に接続される導電材製のチップと、
前記スライドブロックに対し前記第２の方向に摺動可能に取り付けられて前記チップを保持する絶縁材製のチップ保持体と、
を有し、
さらに、前記スライドブロックと前記プローブ本体との間にばねを介在させ、
前記ばねにより、
−待機時においては、前記ばねの付勢力により、前記プローブ本体に、前記スライドブ
ロックから前記第２の方向に沿って先端方向に突出する力が与えられた、待機位置を
採らせ、
−測定時においては、前記チップが前記端子に押し付けられる押圧力により前記プロー
ブ本体が前記ばねの付勢力を増大させながら前記スライドブロックに対し基端方向へ
後退させる、測定位置を採らせ、
−測定終了後に前記チップが前記端子から離された場合には、前記ばねの付勢力により
前記プローブ本体を前記待機位置に復帰させる、
測定待機動作を行わせ、
前記測定待機動作を前記各プローブアセンブリにおいて互いに独立的に行わせることにより、複数のモジュールストリングについての発電出力測定を同時に行い得るようにしており、
前記プローブ本体には、その中央部分に、両端が、ばねストッパとブロックストッパとにより区画される保持部が設けられ、前記保持部と前記スライドブロックとが互いに摺動可能に嵌合され、これにより前記待機時には、前記ばねの付勢力により、前記プローブ本体に前記第２の方向に沿って前記スライドブロックから突出する方向へ付勢するとともに前記ブロックストッパを前記スライドガイドに当接させて前記プローブ本体に待機位置を採らせ、前記測定時には、前記端子により前記チップが押圧されることに伴う前記プローブ本体の前記スライドブロックからの後退を前記ばねの変形により許容する、
ことを特徴とする発電出力測定用治具。
複数のモジュールストリングのそれぞれの発電出力を同時に測定するための発電出力測定用治具であって、
第１の方向に長いスライドガイドと、前記スライドガイドに摺動可能に且つ位置を固定可能に取り付けられた複数のプローブアセンブリと、を備え、
前記各プローブアセンブリは、
前記スライドガイドに対し摺動可能に且つ位置を固定可能に取り付けられたスライドブロックと、
前記スライドブロックに対し、前記スライドガイドと交差する第２の方向に摺動可能に取り付けられたプローブ本体と、
を有し、
前記プローブ本体は、
前記モジュールストリングの出力端に繋がる端子に押圧されて電気的に接続される導電材製のチップと、
前記スライドブロックに対し前記第２の方向に摺動可能に取り付けられて前記チップを保持する絶縁材製のチップ保持体と、
を有し、
さらに、前記スライドブロックと前記プローブ本体との間にばねを介在させ、
前記ばねにより、
−待機時においては、前記ばねの付勢力により、前記プローブ本体に、前記スライドブ
ロックから前記第２の方向に沿って先端方向に突出する力が与えられた、待機位置を
採らせ、
−測定時においては、前記チップが前記端子に押し付けられる押圧力により前記プロー
ブ本体が前記ばねの付勢力を増大させながら前記スライドブロックに対し基端方向へ
後退させる、測定位置を採らせ、
−測定終了後に前記チップが前記端子から離された場合には、前記ばねの付勢力により
前記プローブ本体を前記待機位置に復帰させる、
測定待機動作を行わせ、
前記測定待機動作を前記各プローブアセンブリにおいて互いに独立的に行わせることにより、複数のモジュールストリングについての発電出力測定を同時に行い得るようにしており、
前記プローブ本体を、先端に前記チップを有する先端側保持部と、前記先端側保持部に分離可能に結合される基端側保持部と、を互いにねじ機構により接離可能に接続し、前記接離により前記ばねの圧縮量を変化させ得るようにした、
ことを特徴とする発電出力測定用治具。
前記プローブ本体は前記チップ保持体に固定されたスライドシャフト保持体を有し、前記スライドシャフト保持体に対し前記スライドシャフトが固定されている、ことを特徴とする請求項１記載の発電出力測定用治具。
前記ばねは前記スライドシャフトに被挿され、前記スライドシャフト保持体と前記スライドブロックとの間に前記ばねの前記付勢力が作用するようにしたことを特徴とする請求項１又は５記載の発電出力測定用治具。
前記ばねは前記チップ保持体に被挿され、前記チップ保持体と前記スライドブロックとの間に前記ばねの前記付勢力が作用するようにしたことを特徴とする請求項１又は５記載の発電出力測定用治具。
前記ばねとして２つのばねを有し、１つのばねは前記スライドシャフトに被挿され、もう一つのばねは前記チップ保持体に被挿され、前記チップ保持体と前記スライドブロックとの間に前記２つのばねの２つの付勢力が作用するようにしたことを特徴とする請求項１又は５記載の発電出力測定用治具。
前記スライドシャフト保持体に前記スライドシャフトの一端が取り付けられ、前記スライドシャフトの他端側の自由端が、前記スライドブロックにおけるスライドシャフト摺動案内穴に、抜き差し摺動可能に挿嵌されている、ことを特徴とする請求項３記載の発電出力測定用治具。
前記スライドシャフト摺動案内穴は、前記スライドブロックに穿けた穴の内部に挿嵌した摺動案内用ブッシュによって構成されていることを特徴とする請求項９記載の発電出力測定用治具。
前記プローブ本体には、その中央部分に、両端が、ばねストッパとブロックストッパとにより区画される保持部が設けられ、前記保持部と前記スライドブロックとが互いに摺動可能に嵌合され、これにより前記待機時には、前記ばねの付勢力により、前記プローブ本体に前記第２の方向に沿って前記スライドブロックから突出する方向へ付勢するとともに前記ブロックストッパを前記スライドガイドに当接させて前記プローブ本体に待機位置を採らせ、前記測定時には、前記端子により前記チップが押圧されることに伴う前記プローブ本体の前記スライドブロックからの後退を前記ばねの変形により許容する、ことを特徴とする請求項７記載の発電出力測定用治具。
前記プローブ本体は、前記プローブ本体と一体に動作する、前記チップ保持体と平行なスライドシャフトを有し、前記スライドシャフトを前記スライドブロックに互いに相対的に往復摺動可能に挿嵌した、ことを特徴とする請求項２乃至４の１つに記載の発電出力測定用治具。
前記スライドブロックに取り付けられ、前記プローブ本体の前記保持部よりも先端側を支持案内する、プローブガイドを有することを特徴とする請求項２乃至４の１つに記載の発電出力測定用治具。
前記スライドガイドに沿って、前記複数のプローブアセンブリ間のピッチを調節するための目盛りを刻んだピッチスケールを設けたことを特徴とする請求項１乃至１３の１つに記載の発電出力測定用治具。
前記プローブ本体を、先端に前記チップを有する先端側保持部と、前記先端側保持部に分離可能に結合される基端側保持部と、により、測定を行う結合状態と、前記ばねを着脱可能な分離状態と、を採りうるものとして構成した、ことを特徴とする請求項１乃至１４の１つに記載の発電出力測定用治具。
前記スライドガイドと一体的に把持用のハンドルが設けられていることを特徴とする請求項１乃至１５の１つに記載の発電出力測定用治具。