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JP5962922B2 - プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 - Google Patents

プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 Download PDF

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JP5962922B2 JP2013108814A JP2013108814A JP5962922B2 JP 5962922 B2 JP5962922 B2 JP 5962922B2 JP 2013108814 A JP2013108814 A JP 2013108814A JP 2013108814 A JP2013108814 A JP 2013108814A JP 5962922 B2 JP5962922 B2 JP 5962922B2
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Description

本発明は、プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法に関するものであり、特に環状フレームと保持シートからなる搬送キャリアに保持されたウエハのプラズマ処理に有効な技術に関するものである。
プラズマ処理装置として、特許文献1に開示されたものが知られている。このプラズマ処理装置は、環状フレームと保持シートからなる搬送キャリアに保持されたウエハを処理対象とするものである。このプラズマ処理装置では、ウエハをプラズマにてダイシングする際、カバーリングで環状フレームを覆うことにより、環状フレームがプラズマに晒されないようにしている。
特開2012−248741号公報
ところで、前記プラズマ処理装置では、カバーリング自体もプラズマに曝されて高温となる。このため、カバーリングによって覆われた空間から放熱されにくくなり、搬送キャリアが加熱されてしまう。この結果、保持シートが熱影響により変形したり、カバーリングに貼り付いて搬送トラブルを発生させたりする恐れがある。
そこで、本発明は、プラズマ処理を施す場合であっても保持シートが悪影響を受けることのないようにしたプラズマ処理装置およびプラズマ処理方法を提供することを課題とする。
本発明の第1の態様は、
環状のフレームと保持シートからなる搬送キャリアに保持された基板にプラズマ処理を施すプラズマ処理装置であって、
減圧可能な内部空間を有するチャンバと、
前記チャンバ内にプラズマを発生させるプラズマ源と、
前記チャンバ内に設けられ、前記搬送キャリアが載置されるステージと、
前記ステージの上方に配置されて前記搬送キャリアを覆い、底面と、厚み方向に貫通するように形成された窓部とを有するカバーと、
前記ステージに対する前記カバーの相対的な位置を、ステージから離れ、ステージに対する搬送キャリアの載せ降ろしを許容する第1の位置と、前記カバーがステージに載置された搬送キャリアを覆い、前記窓部が保持シートに保持された基板を露出させる第2の位置とに変更する駆動機構と、
前記ステージを冷却する冷却手段と、
を備えたプラズマ処理装置であって、
前記ステージは、高周波電源に接続された電極部と前記電極部を取り囲むと共に前記第2の位置に位置する前記カバーの底面が接触する外装部とを有し、
前記冷却手段は、前記電極部と前記外装部とを冷却するものである。
この構成により、搬送キャリアをステージの第2電極部を介して冷却できるだけでなく、ステージの外装部を介してカバーをも冷却することができる。したがって、プラズマに曝されて高温となったカバーからの熱影響を受けて、搬送キャリアの保持シートが変形したり、付着したりする等の不具合を生じさせることがない。
前記冷却手段は、前記ステージの前記電極部に形成される第1冷媒流路と、前記ステージの外装部に形成される第2冷媒流路と、前記各冷媒流路に冷媒を供給して循環させる冷媒循環装置と、を備えるようにすればよい。
この構成により、第1冷媒流路と第2冷媒流路を形成しただけの簡単な構成で、第2電極部のみならず外装体を介してカバーをも冷却することができる。
前記冷媒循環装置は、前記第1冷媒流路に冷媒を供給して循環させる第1冷媒循環装置と、前記第2冷媒循環流路に冷媒を供給して循環させる第2冷却装置とから構成するのが好ましい。
この構成により、ステージの第2電極部と外装部とを個別に温調することができる。したがって、プラズマ処理中やその後の状況に応じて適切なタイミングで、第2電極部と、外装部を介してカバーとを冷却することができる。したがって、搬送キャリア、特に、保持シートの熱による悪影響を効果的に排除することが可能となる。
前記プラズマ源による前記チャンバ内でのプラズマ発生時、前記第2冷媒循環装置による前記外装体の冷却を停止するのが好ましい。
この構成により、第2冷媒循環装置によって外装体を介してカバーが冷却され過ぎて、プラズマ処理に悪影響が及ぶのを防止することができる。
本発明の第2の態様は、
環状のフレームと保持シートからなる搬送キャリアに保持された基板にプラズマ処理を施すプラズマ処理方法であって、
前記搬送キャリアの保持シートに基板を保持させ、
前記基板を保持した搬送キャリアをプラズマ処理装置のチャンバ内に搬入してステージ上に載置し、
前記ステージの上方に配置されるカバーで搬送キャリアを覆い、
前記チャンバ内にプラズマを発生させて、前記カバーに形成した窓部を介して前記基板にプラズマ処理を施し、
前記ステージの電極部を介して前記搬送キャリアを冷却すると共に、前記ステージの電極部を取り囲む外装部を介して前記カバーを冷却するものである。
本発明によれば、外装部を介してカバーを冷却することができるので、搬送キャリア、特に、高温に加熱されたカバーからの輻射熱による保持シートの変形を防止することが可能となる。
本実施形態に係るドライエッチング装置の概略正面断面図である。 図1に示すドライエッチング装置のカバーの平面図である。 図2のA−A線断面図(上昇位置)である。 図2のA−A線断面図(降下位置)である。
以下、本発明に係る実施形態を添付図面に従って説明する。なお、以下の説明では、必要に応じて特定の方向や位置を示す用語(例えば、「上」、「下」、「側」、「端」を含む用語)を用いるが、それらの用語の使用は図面を参照した発明の理解を容易にするためであって、それらの用語の意味によって本発明の技術的範囲が限定されるものではない。また、以下の説明は、本質的に例示に過ぎず、本発明、その適用物、あるいは、その用途を制限することを意図するものではない。
図1は、本発明の実施形態に係るプラズマ処理装置の一例であるドライエッチング装置1を示す。本実施形態では、このドライエッチング装置1で、ウエハ(基板)2にプラズマダイシングとそれに続くアッシングを施す。プラズマダイシングとは、複数のIC部(半導体装置)が形成されたウエハを、境界線(ストリート)でドライエッチングを用いて切断し、個々のIC部に分割する工法である。図3Aおよび図3Bを参照すると、本実施形態では円形であるウエハ2は、図示しないIC部等が形成された表面2aと、この表面2aとは反対側の裏面2b(IC部等は形成されていない。)とを備える。また、ウエハ2の表面2aにはプラズマダイシングのためのパターンで、マスク3が形成されている。
ドライエッチング装置1は、減圧可能なチャンバ11を備える。このチャンバ11では、図示しない出入口を介して搬送キャリア5を内部空間に収納することができる。搬送キャリア5は、ウエハ2を着脱可能に保持する保持シート6を備える。保持シート6としては、例えば、弾性的に伸展可能であって粘着力によりウエハ2を保持するが、紫外線の照射によって化学的特性が変化して粘着力が大幅に減少するいわゆるUVテープを使用できる。図3Aに示すように、一方の面が粘着性を有する面(粘着面6a)で他方が粘着性を有しない面(非粘着面6b)である。保持シート6は柔軟でそれ自体のみでは容易に撓んで一定形状を維持できない。このため、保持シート6の外周縁付近の粘着面6aには、概ねリング状で厚みの薄いフレーム(環状フレーム)7が貼着されている。フレーム7は例えば金属からなり、保持シート6と共に形状を保持できる剛性を有する。
搬送キャリア5の保持シート6には、粘着面6aに裏面2bを貼着することでウエハ2が保持されている。図2に示すように、保持シート6の粘着面6aのうちフレーム7で囲まれた円形領域6cの中央にウエハ2が配置されている。具体的には、円形領域6cの中心Csとウエハ2の中心Cw(ウエハ2を表面2a又は裏面2bから見たときの中心)とが概ね一致するように、保持シート6に対するウエハ2の位置が設定されている。ウエハ2を円形領域6cの中央に配置したことにより、保持シート6のウエハ2とフレーム7との間には一定幅で幅広の環状領域6dが形成される。
図1から図3Bを参照すると、ドライエッチング装置1のチャンバ(真空容器)11の頂部を閉鎖する誘電体壁12の上方には、上部電極としてアンテナ(プラズマ源)13が配置されている。アンテナ13は第1の高周波電源部14Aに電気的に接続されている。一方、チャンバ11内の底部側には、前述のようにウエハ2を保持した搬送キャリア5が載置されるステージ部16が配置されている。チャンバ11のガス導入口11aにはプロセスガス源17とアッシングガス源18とが接続され、排気口11bにはチャンバ11内を真空排気するための真空ポンプを含む減圧機構19が接続されている。
ステージ部16は、第2の高周波電源部14Bに電気的に接続された電極部21と、電極部21の外周を取り囲む外装部とを備える。外装部は、第1外装部22Aと、第1外装部22Aの外周を取り囲む第2外装部22Bとからなる。電極部21は後述するように静電吸着用電極26が内蔵される上端面21a付近、つまり最上部は誘電体で構成されているが、他の部分は金属製である。電極部21の上端面21aと第1外装部22Aの上端面22aは、ウエハ2を保持した搬送キャリア5が載置される一つの水平面である載置面23を構成する。第1外装部22Aは誘電体や絶縁体からなり、第2外装部22Bはアースシールド材(導電性および耐エッチング性を有する金属)からなる。したがって、電極部21は、第2外装部22B及び第1外装部22Aによって周囲から絶縁された状態となる。搬送キャリア5は、保持シート6のウエハ2を保持している面(粘着面6a)が上向きの姿勢でステージ部16に載置され、保持シート6の非粘着面6bがステージ部16の載置面23上に載置される。搬送キャリア5は、図示しない搬送機構によってステージ部16の載置面23に対して予め定められた位置および姿勢(保持シート6の円形領域6cの中心Cs回りに回転角度位置を含む)で載置される。以下、この予め定められた位置および姿勢を正規位置と記載する。
ドライエッチング装置1は、ステージ部16に第1冷却装置24Aと第2冷却装置24Bをそれぞれ備える。第1冷却装置24Aは、電極部21内に形成された第1冷媒流路21bと、温調された冷媒を第1冷媒流路21bに循環させる第1冷媒循環装置25Aとを備える。第2冷却装置24Bは、第2外装部22B内に形成された第2冷媒流路22bと、温調された冷媒を第2冷媒流路22bに循環させる第2冷媒循環装置25Bとを備える。
電極部21の上端面21a付近には、本実施形態では双極型である静電吸着用電極26が内蔵されている。この静電吸着用電極26には直流電源27が電気的に接続されている。
チャンバ11内にはステージ部16の載置面23の上方で昇降可能なカバー31を備える。
カバー31は外形輪郭が円形であって一定の薄い厚みを有し、プラズマ処理中に搬送キャリア5の保持シート6とフレーム7を覆ってプラズマから保護する。このため、カバー31は搬送キャリア5の外形輪郭よりも十分に大きく形成されている。なお、本実施形態では、カバー31は例えばセラミックのような誘電体で構成され、第2外装部22Bから外側にはみ出したサイズとされている。
図3Aおよび図3Bに示すように、カバー31には、上面に中央部に向かって徐々に低くなるテーパ状窪み32cが形成されている。テーパ状窪み32cの中央部には、上面32aから下面32bまで厚み方向に貫通する窓部33が形成されている。窓部33は、搬送キャリア5上の保持シート6が、直接、後述するようにして発生させたプラズマに曝されないようなサイズおよび形状とされている。
また、カバー31は、下面32bに、外周部から内周の開口部に向かって、まず、駆動ロッド37A、37Bの上端面に載置して固定される載置面36aを備える。ロッド37A、37Bは、ステージ部16の第2外装部22Bを貫通し、カバー31を昇降させる。カバー31は後述する降下位置で、その載置面36aが第2外装部22Bの上面に面接触する。この面接触状態では、カバー31は第2冷却装置24Bによって冷却された第2外装部22Bを介して冷却される。また、載置面36aの内周縁から上方に内周面が延び、その上端からフレーム7の内周部上方側に向かって、フレーム7の上面と平行に延びる天井面36bを備える。さらに、天井面36bからテーパ状窪み32cに対応する部分で、厚さをほぼ変更することなく斜め下方へと延びる傾斜面36cを備える。さらにまた、傾斜面36cから搬送キャリア5の上面に最も接近して平行に延びる対向面36dを備える。
駆動ロッド37A,37Bは図1にのみ概念的に示す駆動機構38により昇降駆動される。駆動ロッド37A,37Bの昇降によりカバー31が昇降する。具体的には、カバー31は、図3Aに示す上昇位置(第1の位置)と、図3Bに示す降下位置(第2の位置)とに移動可能である。
図3Aに示すように、上昇位置のカバー31は十分に間隔を隔ててステージ部16の載置面23の上方に位置している。従って、カバー31が上昇位置にあれば、載置面23に搬送キャリア5(ウエハ2を保持している。)を載せる搬入作業と、載置面23から搬送キャリア5を降ろす搬出作業とが可能である。
図3Bに示すように、カバー31が降下位置にあると、正規位置にある搬送キャリア5の保持シート6(ウエハ2を保持している部分は除く)とフレーム7はカバー31で覆われる。また、フレーム7はカバー31の下面32bに形成された収容凹溝36内に収容され、カバー31には接触しない。そして、カバー31の下面32bがステージ部16の載置面23に当接することにより、プラズマに曝されて温度上昇したカバー31からステージ部16側へと放熱される。
図1にのみ模式的に示す制御装置40は、第1および第2の高周波電源部14Aおよび14B、プロセスガス源17、アッシングガス源18、減圧機構19、冷却装置24、直流電源27、および駆動機構38を含むドライエッチング装置1を構成する各要素の動作を制御する。
次に、本実施形態のドライエッチング装置1の動作を説明する。
まず、保持シート6の円形領域6cの中央にウエハ2を貼着した搬送キャリア5を、図示しない搬送機構によってチャンバ11内に搬入し、ステージ部16の載置面23上の正規位置に配置する。このとき、カバー31は上昇位置(図3A)にある。
そして、駆動機構38により駆動ロッド37A,37Bを駆動し、カバー31を上昇位置(図3A)から降下位置(図3B)に降下させる。カバー31が降下位置となると、搬送キャリア5の保持シート6とフレーム7はカバー31で覆われ、その窓部33からウエハ2が露出する。
続いて、直流電源27から静電吸着用電極26に直流電圧を印加し、ウエハ2をステージ部16の載置面23(電極部21の上端面21a)に静電吸着により保持する。
さらに、プロセスガス源17からチャンバ11内にプラズマダイシング用のプロセスガスを導入しつつ、減圧機構19により排気し、処理室15を所定圧力に維持する。その後、アンテナ13に対して高周波電源部14Aから高周波電力を供給してチャンバ11内にプラズマPを発生させてカバー31の窓部33から露出しているウエハ2に照射する。このとき、ステージ部16の電極部21には高周波電源部14Bからバイアス電圧が印加される。これにより、ウエハ2のマスク3から露出している部分(ストリート)では、プラズマP中のラジカルとイオンの物理化学的作用よって表面2aから裏面2bまで除去され、ウエハ2は個別のチップに分割される。
このとき、第1冷却装置24Aのみを駆動し、電極部21内に形成した第1冷媒流路21bのみに温調した冷媒を流動させる。これにより、ステージ部16の載置面23に載置された搬送キャリア5上のウエハ2が冷却される。但しこの段階では、第2冷却装置24Bは駆動させてはいるものの、積極的な冷却は行わないようにしている。この場合、冷媒の冷却は止めずに冷媒の循環を停止する方法と、冷媒の循環は続行するが、冷媒の冷却を停止する方法のいずれを採用することもできる。これにより、カバー31が冷却され過ぎてプラズマ処理に悪影響が及ぶことを防止することができる。また、カバー31が適度に冷却されるので、保持シート6への熱による悪影響を排除することができる。
プラズマダイシング完了後、アッシングが実行される。アッシングガス源18からチャンバ11内にアッシング用のプロセスガス(例えば、酸素ガス)を導入しつつ、減圧機構19により排気し、処理室15を所定圧力に維持する。その後、アンテナ13に対して高周波電源部14Aから高周波電力を供給してチャンバ11内にプラズマPを発生させてカバー31の窓部33から露出しているウエハ2に照射する。酸素プラズマPの照射によりウエハ2の表面2aからマスク3が完全に除去される。
この間、第2冷却装置24Bも駆動し、第2外装部22Bに形成した第2冷媒流路22bにも温調した冷媒を流動させる。これにより、第2外装部22Bを介して、プラズマの影響を受けて加熱されたカバー31をも冷却することができる。
またアッシング後、チャンバ11内の残留ガスを排気し、代わりに不活性ガスである窒素ガスを供給することによりウエハ2やカバー31等を冷却する。供給した窒素ガスは排気する。これにより、第1冷却装置24Aと第2冷却装置24Bによっても冷却し切れていない箇所をも確実に冷却することができる。そして、駆動機構38により駆動ロッド37A,37Bを駆動してカバー31を降下位置から上昇位置へ移動させる。その後、図示しない搬送機構によって搬送キャリア5をチャンバ11から搬出する。
このように、前記実施形態では、第1冷却装置24Aによりステージ部16の電極部21を冷却するだけでなく、第2冷却装置24Bによりステージ部16の第2外装部22Bを冷却してそこに載置されたカバー31をも冷却可能としている。したがって、搬送キャリア5、特に、保持シート6に与える熱影響を効果的に排除することができる。また、アッシング後、チャンバ11内に窒素ガスを供給することにより、チャンバ11内を冷却しているので、第1冷却装置24Aおよび第2冷却装置24Bでは不十分な箇所の冷却をも行うことができ、保護シート6の変形をより一層効果的に防止することができる。
なお、本発明は、前記実施形態に記載された構成に限定されるものではなく、種々の変更が可能である。
例えば、前記実施形態では、第1冷却装置24Aによる冷却開始時期と、第2冷却装置24Bによる冷却開始時期をずらせるようにしたが、同時期に冷却を開始させるようにしてもよいし、その時期は自由に設定することができる。
また、前記実施形態では、ステージ部16の電極部21と第2外装部22Bとをそれぞれ別々の冷却装置24A、24Bによって冷却するようにしたが、第1冷媒流路21bと第2冷媒流路22bとを直列接続することにより、単一の冷媒装置によって温調した冷媒を循環させることもできる。これによれば、構成を簡略化して安価に制作することが可能となる。
また、前記実施形態では、カバー31の全体をセラミックの単一材料で構成したが、他の材料(例えば、カーボン材)で構成してもよいし、単一材料ではなく、複数の材料を組み合わせた構成としてもよい。
また、前記実施形態では、静電吸着用電極を双極型としたが、これに限定されず、単極型としてもよい。
さらに、前記実施形態では、ドライエッチング装置1で実行される処理はプラズマダイシングとアッシングの例について説明したが、これに限定されず、例えば通常のドライエッチングであってもよい。また、ドライエッチング装置は実施形態のようなICP型に限定されず平行平板型であってもよい。さらに、本発明はドライエッチング装置に限定されずCVD装置等の他のプラズマ処理装置にも適用できる。
1 ドライエッチング装置
2 ウエハ(基板)
2a 表面
2b 裏面
3 マスク
5 搬送キャリア
6 保持シート
6a 粘着面
6b 非粘着面
6c 円形領域
6d 環状領域
7 フレーム
11 チャンバ
11a ガス導入口
11b 排気口
12 誘電体壁
13 アンテナ(プラズマ源)
14A,14B 高周波電源
15 処置室
16 ステージ部(ステージ)
17 プロセスガス源
18 アッシングガス源
19 減圧機構
21 電極部
21a 上端面
21b 第1冷媒流路
22A 第1外装部
22B 第2外装部
22a 上端面
22b 第2冷媒流路
23 載置面
24A 第1冷却装置
24B 第2冷却装置
25A 第1冷媒循環装置
25B 第2冷媒循環装置
26 静電吸着用電極
27 直流電源
31 カバー
32a 上面
32b 下面
32c テーパ状窪み
33 窓部
36 収納凹溝
36a 載置面
36b 天井面
36c 傾斜面
36d 対向面
37A,37B 駆動ロッド
38 駆動機構
40 制御装置

Claims (5)

  1. 環状のフレームと保持シートからなる搬送キャリアに保持された基板にプラズマ処理を施すプラズマ処理装置であって、
    減圧可能な内部空間を有するチャンバと、
    前記チャンバ内にプラズマを発生させるプラズマ源と、
    前記チャンバ内に設けられ、前記搬送キャリアが載置されるステージと、
    前記ステージの上方に配置されて前記搬送キャリアを覆い、底面と、厚み方向に貫通するように形成された窓部とを有するカバーと、
    前記ステージに対する前記カバーの相対的な位置を、ステージから離れ、ステージに対する搬送キャリアの載せ降ろしを許容する第1の位置と、前記カバーがステージに載置された搬送キャリアを覆い、前記窓部が保持シートに保持された基板を露出させる第2の位置とに変更する駆動機構と、
    前記ステージを冷却する冷却手段と、
    を備えたプラズマ処理装置であって、
    前記ステージは、高周波電源に接続された電極部と前記電極部を取り囲むと共に前記第2の位置に位置する前記カバーの底面が接触する外装部とを有し、
    前記冷却手段は、前記電極部と前記外装部とを冷却することを特徴とするプラズマ処理装置。
  2. 前記冷却手段は、前記ステージの前記電極部に形成される第1冷媒流路と、前記ステージの外装部に形成される第2冷媒流路と、前記各冷媒流路に冷媒を供給して循環させる冷媒循環装置と、を備えたことを特徴とする請求項1に記載のプラズマ処理装置。
  3. 前記冷媒循環装置は、前記第1冷媒流路に冷媒を供給して循環させる第1冷媒循環装置と、前記第2冷媒流路に冷媒を供給して循環させる第2冷媒循環装置とから構成したことを特徴とする請求項2に記載のプラズマ処理装置。
  4. 前記プラズマ源による前記チャンバ内でのプラズマ発生時、前記第2冷媒循環装置による前記外装体の冷却を停止することを特徴とする請求項3に記載のプラズマ処理装置。
  5. 環状のフレームと保持シートからなる搬送キャリアに保持された基板にプラズマ処理を施すプラズマ処理方法であって、
    前記搬送キャリアの保持シートに基板を保持させ、
    前記基板を保持した搬送キャリアをプラズマ処理装置のチャンバ内に搬入してステージ上に載置し、
    前記ステージの上方に配置されるカバーで搬送キャリアを覆い、
    前記チャンバ内にプラズマを発生させて、前記カバーに形成した窓部を介して前記基板にプラズマ処理を施し、
    前記ステージの電極部を介して前記搬送キャリアを冷却すると共に、前記ステージの電極部を取り囲む外装部を介して前記カバーを冷却することを特徴とするプラズマ処理方法。
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