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JP5814806B2 - Optical waveguide type measuring system, measuring method, and optical waveguide type sensor chip - Google Patents

Optical waveguide type measuring system, measuring method, and optical waveguide type sensor chip Download PDF

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JP5814806B2 JP2012011456A JP2012011456A JP5814806B2 JP 5814806 B2 JP5814806 B2 JP 5814806B2 JP 2012011456 A JP2012011456 A JP 2012011456A JP 2012011456 A JP2012011456 A JP 2012011456A JP 5814806 B2 JP5814806 B2 JP 5814806B2
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Description

後述する実施形態は、概ね、光導波路型測定システム、測定方法及び光導波路型センサチップに関する。   Embodiments described below generally relate to an optical waveguide measurement system, a measurement method, and an optical waveguide sensor chip.

従来、測定対象物質と特異的に結合する抗体を固定化した微粒子と、測定対象物質と特異的に結合する抗体を固定化した光導波路とを用い、抗原抗体反応によって光導波路の表面に測定対象物質を介して微粒子を結合させる光導波路型センサチップが開示されている。抗原抗体反応によって光導波路の表面に結合した微粒子のみに起因する吸光度を光導波路表面近傍のエバネッセント光によって検出するので、余剰の検体や二次抗体を洗浄する手順を含まずに測定対象物質を定量することが可能である。しかしながら、微粒子が抗原抗体反応によらず光導波路の表面に吸着することがあり、これらの抗原抗体反応によらずに吸着した微粒子によっても光が吸収・散乱されるため、高い検出感度を要する測定において測定誤差が生じる場合がある。   Conventionally, a measurement target is formed on the surface of an optical waveguide by an antigen-antibody reaction using a fine particle on which an antibody that specifically binds to the measurement target substance is immobilized and an optical waveguide on which an antibody that specifically binds to the measurement target substance is immobilized. An optical waveguide sensor chip that binds fine particles via a substance is disclosed. Absorbance caused only by fine particles bound to the surface of the optical waveguide due to the antigen-antibody reaction is detected by evanescent light near the surface of the optical waveguide, so the measurement target substance can be quantified without including the procedure for washing excess specimens and secondary antibodies. Is possible. However, microparticles may be adsorbed on the surface of the optical waveguide regardless of the antigen-antibody reaction, and light is absorbed and scattered by the microparticles adsorbed regardless of the antigen-antibody reaction. In some cases, measurement errors may occur.

そこで、より高感度な検出が必要とされる検査項目を想定すると、測定対象物質の検出感度をより高精度に向上させる技術の開発が望まれている。   Thus, assuming an inspection item that requires detection with higher sensitivity, development of a technique for improving the detection sensitivity of the measurement target substance with higher accuracy is desired.

特開2009−133842号公報JP 2009-133842 A

本発明が解決しようとする課題は、測定対象物質の検出感度をより高精度に向上させることが可能な光導波路型測定システム、測定方法及び光導波路型センサチップを提供することである。   The problem to be solved by the present invention is to provide an optical waveguide measurement system, a measurement method, and an optical waveguide sensor chip capable of improving the detection sensitivity of a measurement target substance with higher accuracy.

実施形態に係る光導波路型測定システムは、測定対象物質と特異的に結合する第1物質が固定化されたセンシングエリアを有する光導波路と、前記測定対象物質と特異的に結合する第2物質が固定化され、粒径が0.2μm以上、20μm以下であり、第1のコアと、前記第1のコアを覆うように設けられ、磁性ナノ微粒子を含み、前記第1のコアの屈折率よりも高い屈折率を有するシェルと、を有する磁性微粒子と、前記磁性微粒子を移動させる磁場を生成する磁場印加部と、前記光導波路に光を入射させる光源と、前記光導波路から出射される光を受光する受光素子と、を備えている。 The optical waveguide type measurement system according to the embodiment includes an optical waveguide having a sensing area in which a first substance that specifically binds to a measurement target substance is fixed, and a second substance that specifically binds to the measurement target substance. It is fixed and has a particle size of 0.2 μm or more and 20 μm or less, is provided so as to cover the first core and the first core, includes magnetic nanoparticles, and has a refractive index of the first core A magnetic fine particle having a high refractive index, a magnetic field applying unit for generating a magnetic field for moving the magnetic fine particle, a light source for causing light to enter the optical waveguide, and light emitted from the optical waveguide. A light receiving element for receiving light.

第1の実施形態に係る光導波路型測定システムの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the optical waveguide type measuring system which concerns on 1st Embodiment. 磁性微粒子の形態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the form of a magnetic microparticle. (a)〜(c)は、検体溶液中の測定対象物質を測定する方法を示す工程図である。(A)-(c) is process drawing which shows the method of measuring the measuring object substance in a sample solution. 検出信号強度比の経時変化の例を示す図である。It is a figure which shows the example of a time-dependent change of detection signal intensity ratio. 測定結果の検量線を示す図である。It is a figure which shows the calibration curve of a measurement result. 第2の実施形態に係る光導波路型測定システムの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the optical waveguide type measuring system which concerns on 2nd Embodiment. (a)〜(c)は、検体溶液中の測定対象物質を測定する方法を示す工程図である。(A)-(c) is process drawing which shows the method of measuring the measuring object substance in a sample solution. 第3の実施形態に係る光導波路型測定システムの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the optical waveguide type measuring system which concerns on 3rd Embodiment. (a)〜(c)は、検体溶液中の測定対象物質を測定する方法を示す工程図である。(A)-(c) is process drawing which shows the method of measuring the measuring object substance in a sample solution. (a)は磁場印加部の構成を例示するための模式図、(b)は(a)におけるA−A矢視図、(c)は模式斜視図である。(A) is a schematic diagram for illustrating the structure of a magnetic field application part, (b) is an AA arrow directional view in (a), (c) is a schematic perspective view. (a)は磁場印加部の構成を例示するための模式図、(b)は(a)におけるB−B矢視図、(c)は模式斜視図である。(A) is a schematic diagram for illustrating the structure of a magnetic field application part, (b) is a BB arrow line view in (a), (c) is a schematic perspective view. 磁場印加部の作用、効果を例示するためのグラフ図である。(a)は、磁場印加部によりノイズとなりうる磁性微粒子を除去する工程を有する場合、(b)は、磁場印加部により磁性微粒子の分散液と検体溶液とを攪拌する工程をさらに有する場合である。It is a graph for demonstrating the effect | action and effect of a magnetic field application part. (A) has a step of removing magnetic fine particles that may be noise by the magnetic field application unit, and (b) is a case of further having a step of stirring the magnetic fine particle dispersion and the sample solution by the magnetic field application unit. . 磁場印加部の作用、効果を例示するためのグラフ図である。(a)は、磁場印加部による上部磁場の印加のみを行う場合、(b)、(c)は、磁場印加部による下部磁場の印加と、磁場印加部による上部磁場の印加とを組み合わせて行う場合である。It is a graph for demonstrating the effect | action and effect of a magnetic field application part. (A) performs only application of the upper magnetic field by the magnetic field application unit, and (b) and (c) perform combination of application of the lower magnetic field by the magnetic field application unit and application of the upper magnetic field by the magnetic field application unit. Is the case. (a)〜(d)は、検体溶液中の測定対象物質を測定する方法を示す工程図である。(A)-(d) is process drawing which shows the method of measuring the measuring object substance in a sample solution.

以下、図面を参照しつつ、実施の形態について例示をする。なお、各図面中、同様の構成要素には同一の符号を付して詳細な説明は適宜省略する。
また、本明細書において、「上部」、「上方」、「上方向」とは重力方向における「上部」、「上方」、「上方向」とし、「下部」、「下方」、「下方向」とは重力方向における「下部」、「下方」、「下方向」としている。
Hereinafter, embodiments will be illustrated with reference to the drawings. In addition, in each drawing, the same code | symbol is attached | subjected to the same component and detailed description is abbreviate | omitted suitably.
In this specification, “upper”, “upward”, and “upward” are “upper”, “upward”, and “upward” in the direction of gravity, and “lower”, “lower”, and “downward”. And “lower”, “lower” and “down” in the direction of gravity.

[第1の実施形態]
図1は本実施形態に係る光導波路型測定システムの構成を示す図である。本実施形態に係る光導波路型測定システム30は、光導波路型センサチップ100と、光源7と、受光素子8と、磁場印加部10(第1の磁場印加部の一例に相当する)とを備える。
[First embodiment]
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an optical waveguide measurement system according to the present embodiment. The optical waveguide measurement system 30 according to the present embodiment includes an optical waveguide sensor chip 100, a light source 7, a light receiving element 8, and a magnetic field application unit 10 (corresponding to an example of a first magnetic field application unit). .

また、本実施形態に係る光導波路型センサチップ100は、基板1と、グレーティング2と、測定対象物質14と特異的に反応する第1物質6が表面に固定化された光導波路3と、保護膜4と、枠5と、前記測定対象物質14と特異的に反応する第2物質13が固定化された磁性微粒子9とを備える。   Further, the optical waveguide sensor chip 100 according to the present embodiment includes the substrate 1, the grating 2, the optical waveguide 3 on which the first substance 6 that specifically reacts with the measurement target substance 14 is immobilized, and the protection. A film 4, a frame 5, and magnetic fine particles 9 on which a second substance 13 that specifically reacts with the measurement target substance 14 is immobilized.

光導波路3は、例えば平面光導波路を用いることができる。この光導波路3は、例えばフェノール樹脂、エポキシ樹脂、アクリル樹脂のような熱硬化性樹脂または光硬化性樹脂、あるいは無アルカリガラスから形成することができる。詳細には、ここで用いる材料とは、所定の光に対する透過性を有する材料であって、例えば、基板1より高い屈折率を有する樹脂等であることが好ましい。検出面であるセンシングエリア101における検体溶液中の測定対象物質14と特異的に反応する第1物質6の固定化は、例えば、光導波路3の表面であるセンシングエリア101との疎水性相互作用や化学結合により行うことができる。   As the optical waveguide 3, for example, a planar optical waveguide can be used. The optical waveguide 3 can be formed of, for example, a thermosetting resin or photocurable resin such as phenol resin, epoxy resin, or acrylic resin, or non-alkali glass. Specifically, the material used here is a material having transparency to predetermined light, and is preferably a resin having a higher refractive index than that of the substrate 1, for example. The immobilization of the first substance 6 that specifically reacts with the measurement target substance 14 in the sample solution in the sensing area 101 that is the detection surface is, for example, a hydrophobic interaction with the sensing area 101 that is the surface of the optical waveguide 3. This can be done by chemical bonding.

第1物質6は、例えば検体溶液中の測定対象物質14が抗原の場合、抗体(一次抗体)を用いることができる。   As the first substance 6, for example, when the measurement target substance 14 in the sample solution is an antigen, an antibody (primary antibody) can be used.

磁性微粒子9は、センシングエリア101上に分散状態で保持されているか、別の空間または容器等(図示せず)に保持されている。ここで「センシングエリア上に磁性微粒子が分散状態で保持される」とは、磁性微粒子9がセンシングエリア101の上方に直接的または間接的に分散状態で保持されることを意味する。「磁性微粒子がセンシングエリア101上方に間接的に分散する」形態は、例えば、磁性微粒子9がセンシングエリア101の表面にブロッキング層を介して分散される形態が挙げられる。ブロッキング層は、例えばポリビニルアルコール、ウシ血清アルブミン(BSA)、ポリエチレングリコール、リン脂質ポリマー、ゼラチン、カゼイン、糖類(例えばスクロース、トレハロース)のような水溶性物質を含む。別の例として、磁性微粒子9がセンシングエリア101の上方に空間を空けて配置される形態が挙げられる。例えば、センシングエリア101に対向する支持板(図示せず)が配置され、その支持板のセンシングエリア101と対向する面に、磁性微粒子9が分散状態で保持されていてもよい。この場合には、磁性微粒子9は乾燥または半乾燥状態で保持されていることが望ましい。なお、検体溶液などの分散媒と接した際に容易に再分散することが望ましいが、乾燥または半乾燥状態で保持されている形態が必ずしも完全な分散状態である必要は無い。別の空間または容器等に保持される場合には、乾燥または半乾燥状態の他に分散液中で分散したの状態、分散媒中で沈降した状態などでも差し支えない。   The magnetic fine particles 9 are held in a dispersed state on the sensing area 101 or are held in another space or a container (not shown). Here, “the magnetic fine particles are held in a dispersed state on the sensing area” means that the magnetic fine particles 9 are held in a dispersed state directly or indirectly above the sensing area 101. Examples of the form “the magnetic fine particles are indirectly dispersed above the sensing area 101” include a form in which the magnetic fine particles 9 are dispersed on the surface of the sensing area 101 via a blocking layer. The blocking layer includes a water-soluble substance such as polyvinyl alcohol, bovine serum albumin (BSA), polyethylene glycol, phospholipid polymer, gelatin, casein, and sugars (for example, sucrose and trehalose). As another example, there is a form in which the magnetic fine particles 9 are arranged above the sensing area 101 with a space therebetween. For example, a support plate (not shown) facing the sensing area 101 may be arranged, and the magnetic fine particles 9 may be held in a dispersed state on the surface of the support plate facing the sensing area 101. In this case, it is desirable that the magnetic fine particles 9 be held in a dry or semi-dry state. Although it is desirable to easily re-disperse when it comes into contact with a dispersion medium such as a sample solution, the form held in a dry or semi-dry state does not necessarily need to be in a completely dispersed state. When it is held in another space or container, it may be in a state of being dispersed in a dispersion, a state of being settled in a dispersion medium, etc. in addition to a dry or semi-dry state.

図2は、磁性微粒子9の形態を示す模式図である。
図2(a)は磁性微粒子の外観を例示するための模式図、図2(b)、(c)は微粒子の断面を例示するための模式図である。
図2(a)に示すように、磁性微粒子9は、微粒子12の表面に、第2物質13が固定化されたものである。第2物質13は、例えば検体溶液中の測定対象物質14が抗原の場合、抗体(二次抗体)を用いることができる。
この場合、図2(b)のように、磁性ナノ微粒子12aを高分子材料でくるんだ微粒子12bや、図2(c)のように、コア12cと、コア12cを覆うように設けられたシェルと、を有する微粒子12dとすることができる。
コア12cは、高分子材料から形成されるものとすることができる。シェルは、高分子材料から形成され、磁性ナノ微粒子12aを含むものとすることができる。
あるいは、磁性体からなる微粒子そのものでもよく、この場合には微粒子表面に測定対象認識物質を結合させる官能基を有するものが望ましい。微粒子12に用いられる磁性体材料としては、例えばγ-Fe2O3等の各種フェライト類などが挙げられる。この場合、磁場の印加を停止すると速やかに磁性を失う超常磁性を有する材料を用いることが好ましい。
一般に超常磁性は、数10nm以下のナノ微粒子で起こる現象である。一方で、光の散乱が起きるためには微粒子の大きさは数100nm以上である必要がある。そのため、本実施形態における磁性微粒子9としては、図2(b)または図2(c)に示したような、磁性ナノ微粒子12aを高分子材料などでくるんだものが適している。
また、一般的に屈折率は、高分子材料では1.5〜1.6程度のものが多く、フェライト類では3.0程度である。また、磁性微粒子9が光導波路3の表面近くにあるとき、屈折率が高いものほど光を散乱しやすくなる。そのため、エバネッセント光のあたる微粒子12の表面近くに磁性ナノ微粒子12aが分布しているものの方が、より高感度に検出できると考えられる。
ここで、図2(b)のように、単に磁性ナノ微粒子12aを高分子材料でくるんだ微粒子12bは、磁性ナノ微粒子12aが微粒子全体に分布してしまう。そのため、検出感度の観点からは、図2(c)のように、コア−シェル型の微粒子12dとし、シェルに磁性ナノ粒子12aを高密度に含ませた構造が適している。
微粒子12の粒径は、0.05μm以上、200μm以下であることが望ましいが、更に望ましくは0.2μm以上、20μm以下である。この粒径を用いることによって光の散乱効率が高まるので、光を用いて測定対象物質14を検出する光導波路型測定システム30においては検出感度を向上することが可能となる。
FIG. 2 is a schematic diagram showing the form of the magnetic fine particles 9.
FIG. 2A is a schematic diagram for illustrating the appearance of magnetic fine particles, and FIGS. 2B and 2C are schematic diagrams for illustrating a cross section of the fine particles.
As shown in FIG. 2A, the magnetic fine particles 9 are obtained by fixing the second substance 13 on the surface of the fine particles 12. As the second substance 13, for example, when the measurement target substance 14 in the sample solution is an antigen, an antibody (secondary antibody) can be used.
In this case, as shown in FIG. 2B, fine particles 12b in which the magnetic nanoparticles 12a are wrapped with a polymer material, or as shown in FIG. 2C, a core 12c and a shell provided so as to cover the core 12c. Thus, the fine particles 12d can be obtained.
The core 12c can be formed from a polymer material. The shell is formed of a polymer material and can include the magnetic nanoparticle 12a.
Alternatively, it may be a fine particle itself made of a magnetic material, and in this case, it is desirable to have a functional group that binds the substance to be measured to the fine particle surface. Examples of the magnetic material used for the fine particles 12 include various ferrites such as γ-Fe 2 O 3. In this case, it is preferable to use a material having superparamagnetism that quickly loses magnetism when the application of the magnetic field is stopped.
In general, superparamagnetism is a phenomenon that occurs in nanoparticles of several tens of nm or less. On the other hand, in order for light scattering to occur, the size of the fine particles needs to be several hundred nm or more. Therefore, as the magnetic fine particles 9 in the present embodiment, those in which magnetic nanoparticles 12a are wrapped with a polymer material or the like as shown in FIG. 2B or FIG. 2C are suitable.
In general, the refractive index is often about 1.5 to 1.6 for polymer materials, and about 3.0 for ferrites. Further, when the magnetic fine particles 9 are near the surface of the optical waveguide 3, the higher the refractive index, the easier it is to scatter light. For this reason, it is considered that the magnetic nanoparticles 12a distributed near the surface of the fine particles 12 to which the evanescent light is applied can be detected with higher sensitivity.
Here, as shown in FIG. 2B, in the fine particles 12b in which the magnetic nanoparticles 12a are simply wrapped with a polymer material, the magnetic nanoparticles 12a are distributed throughout the fine particles. Therefore, from the viewpoint of detection sensitivity, as shown in FIG. 2C, a structure in which the core-shell type fine particles 12d are included and the magnetic nanoparticles 12a are included in the shell at a high density is suitable.
The particle size of the fine particles 12 is preferably 0.05 μm or more and 200 μm or less, more preferably 0.2 μm or more and 20 μm or less. Since the light scattering efficiency is increased by using this particle size, detection sensitivity can be improved in the optical waveguide measurement system 30 that detects the measurement target substance 14 using light.

測定対象物質14および測定対象物質14と特異的に結合する第1物質あるいは第2物質の組み合わせは、抗原と抗体の組み合わせに限るものではない。他には例えば、糖とレクチン、ヌクレオチド鎖とそれに相補的なヌクレオチド鎖、リガンドと受容体等が挙げられる。   The combination of the measurement target substance 14 and the first substance or the second substance that specifically binds to the measurement target substance 14 is not limited to a combination of an antigen and an antibody. Other examples include sugars and lectins, nucleotide chains and complementary nucleotide chains, ligands and receptors, and the like.

基板1の主面の両端部には、入射側グレーティング2aおよび出射側グレーティング2bが設けられている。基板1は例えば、無アルカリガラスである。グレーティング2a、2bは、基板よりも高い屈折率を有する材料で形成される。平面を有する光導波路3は、グレーティング2a、2bを含む基板1主面に形成されている。保護膜4は、光導波路3上に被覆されている。保護膜4は、例えば低屈折率を有する樹脂膜である。保護膜4には、グレーティング2a、2b間に位置する光導波路3の表面の一部が露出する開口部が設けられている。開口部は、例えば、矩形状とすることができ、この開口部に露出する光導波路3の表面がセンシングエリア101となる。枠5は、センシングエリア101を囲むように保護膜4上に形成されている。   At both ends of the main surface of the substrate 1, an incident side grating 2a and an emission side grating 2b are provided. The substrate 1 is, for example, alkali-free glass. The gratings 2a and 2b are formed of a material having a higher refractive index than the substrate. The optical waveguide 3 having a flat surface is formed on the main surface of the substrate 1 including the gratings 2a and 2b. The protective film 4 is coated on the optical waveguide 3. The protective film 4 is a resin film having a low refractive index, for example. The protective film 4 is provided with an opening through which a part of the surface of the optical waveguide 3 located between the gratings 2a and 2b is exposed. The opening can be, for example, rectangular, and the surface of the optical waveguide 3 exposed in the opening serves as the sensing area 101. The frame 5 is formed on the protective film 4 so as to surround the sensing area 101.

検体溶液中の測定対象物質14と特異的に反応する第1物質6は、センシングエリア101に、例えばシランカップリング剤による疎水化処理により固定化されている。あるいは、センシングエリア101に官能基を形成し、適当なリンカー分子を作用させて化学結合によって固定化してもよい。検体溶液中の測定対象物質14と特異的に反応する第2物質13は、微粒子12の表面に、例えば物理吸着、あるいはカルボキシル基やアミノ基等を介した化学結合により固定化されている。第2物質13が固定化された磁性微粒子9は、前記第1物質6が固定化されたセンシングエリア101に分散、保持されている。この磁性微粒子9の分散、保持は、例えば磁性微粒子9および水溶性物質を含むスラリをセンシングエリア101、または、センシングエリア101に対向する面等(図示せず)に塗布、乾燥することにより形成される。あるいは、磁性微粒子9は液体に分散させて反応空間102とは別の空間あるいは容器等(図示せず)に保持してもよい。   The first substance 6 that specifically reacts with the measurement target substance 14 in the sample solution is immobilized in the sensing area 101 by, for example, a hydrophobization process using a silane coupling agent. Alternatively, a functional group may be formed in the sensing area 101, and an appropriate linker molecule may act to immobilize the sensing area 101 by chemical bonding. The second substance 13 that specifically reacts with the measurement target substance 14 in the sample solution is immobilized on the surface of the fine particle 12 by, for example, physical adsorption or chemical bonding via a carboxyl group, an amino group, or the like. The magnetic fine particles 9 on which the second substance 13 is immobilized are dispersed and held in the sensing area 101 on which the first substance 6 is immobilized. The dispersion and holding of the magnetic fine particles 9 are formed by, for example, applying and drying a slurry containing the magnetic fine particles 9 and a water-soluble substance on the sensing area 101 or a surface (not shown) facing the sensing area 101 and the like. The Alternatively, the magnetic fine particles 9 may be dispersed in a liquid and held in a space different from the reaction space 102 or a container (not shown).

光源7は、前述の光導波路型センサチップ100に光を照射する。光源7は、例えば赤色レーザダイオードである。光源7から入射された光は、入射側グレーティング2aにより回折され、光導波路3内を伝播する。その後、出射側グレーティング2bにより回折されて出射される。出射側グレーティング2bから出射された光は、受光素子8により受光され、光強度が測定される。受光素子8は、例えばフォトダイオードである。入射した光と出射された光との強度を比較し、光の吸収率を測定することで、磁性微粒子9の量を測定する。そして、測定された磁性微粒子9の量に基づいて検体溶液中の抗原濃度を求める。なお、測定された磁性微粒子9の量に基づいて検体溶液中の抗原濃度を求めることに関する詳細は後述する。   The light source 7 irradiates the above-described optical waveguide sensor chip 100 with light. The light source 7 is, for example, a red laser diode. The light incident from the light source 7 is diffracted by the incident side grating 2 a and propagates through the optical waveguide 3. Thereafter, the light is diffracted and emitted by the emission side grating 2b. The light emitted from the emission side grating 2b is received by the light receiving element 8, and the light intensity is measured. The light receiving element 8 is, for example, a photodiode. The amount of the magnetic fine particles 9 is measured by comparing the intensity of the incident light and the emitted light and measuring the light absorption rate. Then, the antigen concentration in the sample solution is obtained based on the measured amount of the magnetic fine particles 9. Details regarding the determination of the antigen concentration in the sample solution based on the measured amount of the magnetic fine particles 9 will be described later.

磁場印加部10は、光導波路型センサチップ100に対して磁場を印加する。磁場印加部10は、磁場を生成し、生成した磁場を光導波路型センサチップ100に印加することで、磁場に応じて磁性微粒子9を移動させる。磁場印加部10は、磁性微粒子9から見て光導波路3が存在する方向とは反対の方向に配置される。本実施形態においては、磁場印加部10は、図1における上方向に設置される。磁場印加部10は、例えば、磁石あるいは電磁石である。磁場強度を動的に調整するため、電磁石を用いて電流で調整する方法が望ましいが、フェライト磁石などを用いて、磁石そのものの強さや光導波路型センサチップ100からの距離によって磁場強度を調整してもよい。
例えば、フェライト磁石を光導波路センサチップ100の上方に配置し、磁石と光導波路センサチップ100との間にスペーサを介してその厚さを変えることによって磁場強度を調整することができる。また、リニアモータなどのアクチュエータを用いて、フェライト磁石と光導波路センサチップ100との相対的な位置を変化させて磁場強度を調整することもできる。
電磁石を用いる場合には、コイルを磁性微粒子9から見て沈降方向(光導波路3の方向)とは反対側に配置し、そのコイルに電流を印加すればよく、電流値を変えることによって磁場強度を調整することができる。
The magnetic field application unit 10 applies a magnetic field to the optical waveguide sensor chip 100. The magnetic field application unit 10 generates a magnetic field and applies the generated magnetic field to the optical waveguide sensor chip 100 to move the magnetic fine particles 9 according to the magnetic field. The magnetic field application unit 10 is disposed in a direction opposite to the direction in which the optical waveguide 3 exists when viewed from the magnetic fine particles 9. In the present embodiment, the magnetic field application unit 10 is installed in the upward direction in FIG. The magnetic field application unit 10 is, for example, a magnet or an electromagnet. In order to dynamically adjust the magnetic field strength, a method of adjusting with an electric current using an electromagnet is desirable, but using a ferrite magnet or the like, the magnetic field strength is adjusted according to the strength of the magnet itself or the distance from the optical waveguide sensor chip 100. May be.
For example, the magnetic field strength can be adjusted by disposing a ferrite magnet above the optical waveguide sensor chip 100 and changing the thickness of the ferrite magnet through a spacer between the magnet and the optical waveguide sensor chip 100. In addition, the magnetic field strength can be adjusted by changing the relative position of the ferrite magnet and the optical waveguide sensor chip 100 using an actuator such as a linear motor.
When an electromagnet is used, the coil is disposed on the side opposite to the settling direction (the direction of the optical waveguide 3) when viewed from the magnetic fine particles 9, and a current is applied to the coil. Can be adjusted.

本実施形態では、磁場印加部10により、磁性微粒子9に対して磁場を印加することで、抗原抗体反応によらずにセンシングエリア101に吸着した磁性微粒子9を、センシングエリア101から引き剥がすことができる。これにより、抗原抗体反応により測定対象物質14を介してセンシングエリア101に結合した磁性微粒子9のみに起因する吸光度を測定することができ、測定誤差を低減することができる。   In this embodiment, by applying a magnetic field to the magnetic fine particles 9 by the magnetic field application unit 10, the magnetic fine particles 9 adsorbed on the sensing area 101 can be peeled off from the sensing area 101 without depending on the antigen-antibody reaction. it can. As a result, it is possible to measure the absorbance due to only the magnetic fine particles 9 bound to the sensing area 101 via the measurement target substance 14 by the antigen-antibody reaction, and reduce measurement errors.

このとき、磁性微粒子9の微粒子12として、磁場の印加を停止すると速やかに磁化を失う超常磁性を有するものを用いることが好ましい。これにより、磁場を印加した際に磁性微粒子9同士が磁化により凝集しても、磁場の印加を停止することで再分散させることができる。例えば、検体溶液中に測定対象物質14が存在しない場合に磁場を印加しても、磁性微粒子9の凝集物が生成されてセンシングエリア101から剥がれにくくなる場合がある。この様な磁性微粒子9の凝集物は、測定誤差の要因となる。この場合、微粒子12が超常磁性を有するようにすれば、磁性微粒子9の凝集を抑制することができるので、測定誤差の発生を抑制することができる。   At this time, as the fine particles 12 of the magnetic fine particles 9, it is preferable to use those having superparamagnetism that quickly loses magnetization when the application of the magnetic field is stopped. Thereby, even if the magnetic fine particles 9 aggregate due to magnetization when a magnetic field is applied, they can be redispersed by stopping the application of the magnetic field. For example, even if a magnetic field is applied when the measurement target substance 14 is not present in the sample solution, an aggregate of the magnetic fine particles 9 may be generated and hardly peeled off from the sensing area 101 in some cases. Such agglomerates of magnetic fine particles 9 cause measurement errors. In this case, if the fine particles 12 have superparamagnetism, aggregation of the magnetic fine particles 9 can be suppressed, so that generation of measurement errors can be suppressed.

また、磁場の印加を停止した際の再分散性を更に向上させるため、微粒子12の表面に正または負の電荷を持たせてもよい。あるいは、磁性微粒子9の分散媒に界面活性剤などの分散剤を添加してもよい。   Further, in order to further improve the redispersibility when the application of the magnetic field is stopped, the surface of the fine particles 12 may have a positive or negative charge. Alternatively, a dispersant such as a surfactant may be added to the dispersion medium of the magnetic fine particles 9.

さらに、本実施形態では、自然沈降した磁性微粒子9を磁場印加部10により上方向に引き戻すことができる。磁性微粒子9の自然沈降と磁場印加部10による上方向への引き戻しを繰り返すことで、検体溶液と磁性微粒子9を攪拌することができる。これにより、検体溶液に含まれる抗原(測定対象物質14)を介した磁性微粒子9とセンシングエリア101との抗原抗体反応による結合が促進され、より短時間で高い検出感度を得ることができる。そのため、測定対象物質14が低濃度である場合に、検出感度を高めることが可能である。   Furthermore, in the present embodiment, the naturally settled magnetic fine particles 9 can be pulled back upward by the magnetic field application unit 10. By repeating the natural sedimentation of the magnetic fine particles 9 and the upward pulling back by the magnetic field applying unit 10, the sample solution and the magnetic fine particles 9 can be stirred. Thereby, the coupling | bonding by the antigen antibody reaction of the magnetic microparticle 9 and the sensing area 101 via the antigen (measuring target substance 14) contained in the sample solution is promoted, and high detection sensitivity can be obtained in a shorter time. Therefore, when the measurement target substance 14 has a low concentration, the detection sensitivity can be increased.

微粒子12の表面に正または負の電荷を持たせたり、界面活性剤などの分散剤を添加したりすれば、磁場の印加を停止した際に磁性微粒子9を再分散させ易くし、攪拌を更に促進させることができる。これにより、検出感度を更に向上させることが可能である。   If the surface of the fine particles 12 is positively or negatively charged, or a dispersant such as a surfactant is added, the magnetic fine particles 9 can be easily redispersed when the application of the magnetic field is stopped, and stirring is further performed. Can be promoted. Thereby, it is possible to further improve the detection sensitivity.

図3は、検体溶液中の測定対象物質を測定する方法を示す工程図である。
ここでは、前述した光導波路型測定システム30を用いて測定対象物質14の量を測定する方法を図3の(a)〜(c)を参照して説明する。
なお、反応空間102における状態を説明する。
FIG. 3 is a process diagram showing a method for measuring a substance to be measured in a sample solution.
Here, a method for measuring the amount of the measurement target substance 14 using the optical waveguide type measurement system 30 described above will be described with reference to FIGS.
The state in the reaction space 102 will be described.

まず、図1に示す光導波路型測定システム30を用意する。次いで、図3(a)に示すように、磁性微粒子9が分散、保持されている光導波路3上に、検体溶液を導入し、磁性微粒子9を再分散させる。磁性微粒子9が光導波路3上以外の空間や別容器等に保持されている場合には、検体溶液と磁性微粒子9との混合分散液を導入する。あるいは、まず磁性微粒子9の分散液を導入した後、検体溶液を導入して混合するといったように、磁性微粒子9の分散液と検体溶液を別々に導入してもよい。
すなわち、測定対象物質14を含む検体溶液と、測定対象物質14と特異的に結合する第2物質13が固定化され磁性を有する磁性微粒子9と、が光導波路型センサチップ30に設けられ測定対象物質14と特異的に結合する第1物質6が固定化されたセンシングエリア101に接するようにすればよい。
導入の方法は、例えば滴下や流入が考えられる。
First, an optical waveguide type measurement system 30 shown in FIG. 1 is prepared. Next, as shown in FIG. 3A, the sample solution is introduced onto the optical waveguide 3 in which the magnetic fine particles 9 are dispersed and held, and the magnetic fine particles 9 are redispersed. When the magnetic fine particles 9 are held in a space other than the optical waveguide 3 or in a separate container, a mixed dispersion of the sample solution and the magnetic fine particles 9 is introduced. Alternatively, the dispersion of the magnetic fine particles 9 and the sample solution may be introduced separately, such as first introducing the dispersion of the magnetic fine particles 9 and then introducing and mixing the sample solution.
That is, the sample solution containing the measurement target substance 14 and the magnetic fine particles 9 having magnetism in which the second substance 13 that specifically binds to the measurement target substance 14 is immobilized are provided in the optical waveguide sensor chip 30 and the measurement target. The first substance 6 that specifically binds to the substance 14 may be in contact with the immobilized sensing area 101.
As an introduction method, for example, dripping or inflow can be considered.

次に、図3(b)に示すように、磁性微粒子9が自重によってセンシングエリア101に向けて沈降していく。この際、センシングエリア101に固定化された第1物質6(例えば、一次抗体)と、微粒子12の表面に固定化された第2物質13(例えば、二次抗体)とが測定対象物質14(例えば、抗原)を介して抗原抗体反応により結合する。これにより、磁性微粒子9がセンシングエリア101に結合される。   Next, as shown in FIG. 3B, the magnetic fine particles 9 settle toward the sensing area 101 by their own weight. At this time, the first substance 6 (for example, a primary antibody) immobilized on the sensing area 101 and the second substance 13 (for example, a secondary antibody) immobilized on the surface of the fine particles 12 are measured substances 14 ( For example, it binds by antigen-antibody reaction via antigen). Thereby, the magnetic fine particles 9 are coupled to the sensing area 101.

次いで、図3(c)に示すように、磁性微粒子9から見て沈降方向とは異なる方向(例えば上方向)から磁場を印加することによって、測定対象物質14を介さずにセンシングエリア101に吸着した磁性微粒子9を沈降方向とは異なる方向(例えば上方向)に移動させることで、センシングエリア101から除去する。   Next, as shown in FIG. 3C, a magnetic field is applied from a direction different from the settling direction as viewed from the magnetic fine particles 9 (for example, upward), thereby adsorbing to the sensing area 101 without passing through the measurement target substance 14. The magnetic fine particles 9 are removed from the sensing area 101 by moving in a direction (for example, upward) different from the settling direction.

このとき、磁場強度を適切な値とすることで、抗原抗体反応により測定対象物質14を介してセンシングエリア101に結合された磁性微粒子9は引き剥がさず、測定対象物質14を介さずにセンシングエリア101に吸着した磁性微粒子9のみを除去することができる。   At this time, by setting the magnetic field strength to an appropriate value, the magnetic fine particles 9 bound to the sensing area 101 through the measurement target substance 14 by the antigen-antibody reaction are not peeled off, and the sensing area is not passed through the measurement target substance 14. Only the magnetic fine particles 9 adsorbed on 101 can be removed.

本実施形態において、適切な磁場強度を、以下のように求めることが考えられる。エバネッセント光などの近接場光により検出できる磁性微粒子9の状態は、センシングエリア101との相互作用の強さの違いによって次の(状態1)〜(状態3)に分類することができる。相互作用が強い順番に記載すると、(状態1)は抗原抗体結合など、測定対象物質14と、それと特異的に結合する分子との結合によってセンシングエリア101と結合した磁性微粒子9の状態、(状態2)は分子間力や疎水性相互作用などによって、非特異的にセンシングエリア101に吸着した磁性微粒子9の状態、(状態3)はセンシングエリア101近傍で浮遊している磁性微粒子9の状態、である。(状態1)の磁性微粒子9は、測定対象物質14の濃度検出に寄与すべき磁性微粒子9であり、(状態2)または(状態3)の磁性微粒子9は、測定の誤差要因(ノイズ)となりうる磁性微粒子9である。 なお、(状態1)にある磁性微粒子9をセンシングエリア101に結合した磁性微粒子9と適宜称することにする。
また、(状態2)にある磁性微粒子9をセンシングエリア101に吸着した磁性微粒子9と適宜称することにする。
In the present embodiment, it is conceivable to obtain an appropriate magnetic field strength as follows. The states of the magnetic fine particles 9 that can be detected by near-field light such as evanescent light can be classified into the following (State 1) to (State 3) depending on the strength of interaction with the sensing area 101. Stated in the order of strong interaction, (State 1) is the state of the magnetic fine particles 9 bound to the sensing area 101 by binding of the measurement target substance 14 and the molecule that specifically binds to it, such as antigen-antibody binding, (State 2) is a state of the magnetic fine particles 9 non-specifically adsorbed on the sensing area 101 due to intermolecular force or hydrophobic interaction, and (state 3) is a state of the magnetic fine particles 9 floating in the vicinity of the sensing area 101, It is. The magnetic fine particles 9 in (State 1) are magnetic fine particles 9 that should contribute to the concentration detection of the measurement target substance 14, and the magnetic fine particles 9 in (State 2) or (State 3) become a measurement error factor (noise). Magnetic fine particles 9 that can be obtained. The magnetic fine particles 9 in (State 1) will be appropriately referred to as magnetic fine particles 9 combined with the sensing area 101.
Further, the magnetic fine particles 9 in (state 2) will be appropriately referred to as magnetic fine particles 9 adsorbed on the sensing area 101.

ここで、近接場光で検出されうる光導波路3の「表面近傍」とは、例えば全反射で光が伝播する際に伝播体表面に染み出すエバネッセント光の場合、染み出し距離dは下記の式(1)によって求められる。式(1)より染み出し距離dは、概ね測定に用いる光の波長の数分の1程度であることがわかる。   Here, “the vicinity of the surface” of the optical waveguide 3 that can be detected by near-field light is, for example, evanescent light that permeates the surface of the propagation body when light propagates by total reflection, and the permeation distance d is expressed by It is calculated | required by (1). From formula (1), it can be seen that the bleed distance d is approximately a fraction of the wavelength of the light used for the measurement.

d=λ/{2π(n sinθ−n )1/2}・・・(1)
ここで、dはエバネッセント光の染み出し距離、λは測定に用いる光の波長、n1は光導波路3の屈折率、n2は磁性微粒子9を分散させる分散媒の屈折率、θは全反射角である。
そのため、磁場印加部10は、磁性微粒子9がセンシングエリア101から以下の式(2)を満足する距離Lだけ離れるような磁場強度を有する磁場を印加する。
L>λ/{2π(n sinθ−n )1/2}・・・(2)
ここで、Lは磁性微粒子9がセンシングエリア101から離れる距離、λは測定に用いる光の波長、n1は光導波路3の屈折率、n2は磁性微粒子9を分散させる分散媒の屈折率、θは全反射角である。
例えば、λ=635nm、n1=1.58、n2=1.33(分散媒が水の場合)、θ=78°とするとL>130nmとなる。従って、磁場を印加して(状態2)や(状態3)の磁性微粒子9を、センシングエリア101から僅かに数100nm程度遠ざけるだけで、測定誤差を充分に低減させることが可能となる。従って、検出感度の誤差とならない距離まで(状態2)や(状態3)の磁性微粒子9をセンシングエリア101から遠ざけるために要する時間はわずかな時間ですむ。また、時間が許容範囲内であれば、多少の時間を要しても、より弱い磁場強度で(状態2)や(状態3)の磁性微粒子9を測定誤差の要因とならない距離にまで移動させることが可能となる。これにより、(状態1)の測定に必要とされる磁性微粒子9が余分に引き剥がされる可能性を低減できる。つまり、測定に寄与すべき(状態1)の磁性微粒子9をセンシングエリア101から引き剥がすことなく、測定のノイズとなりうる(状態2)や(状態3)の磁性微粒子9をセンシングエリア101から測定に影響を与えない距離にまで引き剥がすことができるので、S/N比を改善することが可能である。



d = λ / {2π (n 1 2 sin 2 θ−n 2 2 ) 1/2 } (1)
Where d is the evanescent light penetration distance, λ is the wavelength of light used for measurement, n1 is the refractive index of the optical waveguide 3, n2 is the refractive index of the dispersion medium in which the magnetic fine particles 9 are dispersed, and θ is the total reflection angle. is there.
Therefore, the magnetic field application unit 10 applies a magnetic field having such a magnetic field strength that the magnetic fine particles 9 are separated from the sensing area 101 by a distance L that satisfies the following expression (2).
L> λ / {2π (n 1 2 sin 2 θ−n 2 2 ) 1/2 } (2)
Here, L is the distance that the magnetic fine particles 9 are separated from the sensing area 101, λ is the wavelength of light used for measurement, n1 is the refractive index of the optical waveguide 3, n2 is the refractive index of the dispersion medium that disperses the magnetic fine particles 9, and θ is The total reflection angle.
For example, if λ = 635 nm, n1 = 1.58, n2 = 1.33 (when the dispersion medium is water), and θ = 78 °, L> 130 nm. Therefore, the measurement error can be sufficiently reduced by applying the magnetic field and moving the magnetic fine particles 9 in (State 2) and (State 3) from the sensing area 101 by only a few hundred nm. Therefore, the time required to move the magnetic fine particles 9 in (State 2) or (State 3) away from the sensing area 101 to a distance that does not cause an error in detection sensitivity is very short. If the time is within an allowable range, the magnetic fine particles 9 in (State 2) and (State 3) are moved to a distance that does not cause measurement error even with a weak magnetic field strength, even if some time is required. It becomes possible. Thereby, the possibility that the magnetic fine particles 9 required for the measurement of (state 1) are excessively peeled off can be reduced. That is, the magnetic fine particles 9 (state 2) and (state 3) that can contribute to measurement without causing the magnetic fine particles 9 in (state 1) to be removed from the sensing area 101 to be measured from the sensing area 101 are measured from the sensing area 101. Since it can be peeled off to a distance that does not affect, the S / N ratio can be improved.



このように、適切な磁場強度とは、測定に寄与すべき(状態1)の磁性微粒子9をセンシングエリア101から引き剥がすことなく、測定のノイズとなりうる(状態2)や(状態3)の磁性微粒子9をセンシングエリア101から測定に影響を与えない距離にまで引き剥がすのに適切な磁場強度である。前述したように、電磁石を用いて電流で磁場強度を最適に調整する方法が望ましいが、フェライト磁石などを用いて、磁石そのものの強さや、光導波路型センサチップ100と磁石との相対的な位置を変化させて磁場強度を調整してもよい。電磁石を用いる場合には、コイルを磁性微粒子9から見て沈降方向(光導波路3の方向)とは反対側に配置し、そのコイルに電流を印加すればよく、電流値を変えることによって磁場強度を調整することができる。   Thus, the appropriate magnetic field strength means that the magnetic fine particles 9 in (state 1) that should contribute to the measurement do not peel off from the sensing area 101, and can cause noise in the measurement (state 2) or (state 3). The magnetic field intensity is appropriate for peeling the fine particles 9 from the sensing area 101 to a distance that does not affect the measurement. As described above, a method of optimally adjusting the magnetic field intensity with an electric current using an electromagnet is desirable. However, using a ferrite magnet or the like, the strength of the magnet itself, or the relative position between the optical waveguide sensor chip 100 and the magnet. May be changed to adjust the magnetic field strength. When an electromagnet is used, the coil is disposed on the side opposite to the settling direction (the direction of the optical waveguide 3) when viewed from the magnetic fine particles 9, and a current is applied to the coil. Can be adjusted.

また、磁場強度を最適に調整するために、本実施形態の光導波路型測定システム30は、磁場印加部10にて印加される磁場の磁場強度を制御する制御部20(第2の制御部の一例に相当する)をさらに備えていてもよい。この制御部20により、前述のような制御を行うことで、磁場強度が適切な強度となるように調整することができる。例えば、測定に寄与すべき(状態1)の磁性微粒子9をセンシングエリア101から引き剥がすことなく、測定のノイズとなりうる(状態2)や(状態3)の磁性微粒子9をセンシングエリア101から測定に影響を与えない距離にまで引き剥がすことができる磁場強度となるように調整することができる。
また、磁場強度を随時調整する場合には、制御部20で調整することにより、動的に制御することができる。
例えば、磁場印加部10にて磁場を印加するタイミング及び時間の長さの少なくともいずれかを制御する制御部20(第1の制御部の一例に相当する)とすることもできる。
In order to optimally adjust the magnetic field strength, the optical waveguide measurement system 30 according to the present embodiment includes a control unit 20 (a second control unit) that controls the magnetic field strength of the magnetic field applied by the magnetic field application unit 10. (Corresponding to an example). By performing the control as described above by the control unit 20, the magnetic field strength can be adjusted to an appropriate strength. For example, the magnetic particles 9 (state 2) and (state 3) that can contribute to the measurement without causing the magnetic particles 9 in (state 1) to be removed from the sensing area 101 can be measured from the sensing area 101. The magnetic field strength can be adjusted so that the magnetic field can be peeled to a distance that does not affect the magnetic field.
Further, when the magnetic field intensity is adjusted as needed, it can be dynamically controlled by adjusting the control unit 20.
For example, the control unit 20 (corresponding to an example of the first control unit) that controls at least one of the timing and the length of time of applying the magnetic field by the magnetic field application unit 10 may be used.

そして、受光素子8における検出信号強度比の差分を計測することで、検体溶液中の測定対象物質14の量(例えば、抗原濃度)を測定できる。具体的には、図1において、光源7からレーザ光を入射側グレーティング2aから光導波路3に入射させ、その光導波路3を伝播させて表面(センシングエリア101での露出表面)付近にエバネッセント光などの近接場光を発生させる。この状態で検体溶液と磁性微粒子9との混合分散液をセンシングエリア101上に導入すると、磁性微粒子9は、その直後(図3(a))から沈降してセンシングエリア101近傍、例えば、エバネッセント光領域に達する(図3(b))。磁性微粒子9がエバネッセント光の吸収や散乱に関与するため、反射光の強度が減衰する。その結果、出射側グレーティング2bから出射されるレーザ光を受光素子8で受光すると、出射されるレーザ光強度は、結合された磁性微粒子9の影響によって時間の経過に伴って低下する。その後、磁場印加部10により上部磁場を印加すると、(状態2)や(状態3)となっている磁性微粒子9がエバネッセント光領域外に移動する(図3(c))ので、受光強度が所定の値まで回復する。この時の受光強度を図3(a)の状態、すなわち混合分散液導入直後における受光強度と比較し、例えば低下率として数値化することができる。 また、検体溶液などを光導波路型センサチップ100に導入した後であって磁場の印加前に、光導波路型センサチップ100から出射される光の光強度(第1の光強度の一例に相当する)を測定する。また、磁場の印加後に、光導波路型センサチップ100から出射される光の光強度(第2の光強度の一例に相当する)を測定する。そして、これらの光強度の差分に基づいて測定対象物質14を定量することができる。   Then, by measuring the difference in the detection signal intensity ratio in the light receiving element 8, the amount (for example, antigen concentration) of the measurement target substance 14 in the sample solution can be measured. Specifically, in FIG. 1, laser light is incident from the light source 7 to the optical waveguide 3 from the incident side grating 2a, propagates through the optical waveguide 3, and evanescent light or the like near the surface (exposed surface in the sensing area 101). Of near-field light. In this state, when a mixed dispersion of the sample solution and the magnetic fine particles 9 is introduced onto the sensing area 101, the magnetic fine particles 9 settle immediately after (FIG. 3 (a)) and near the sensing area 101, for example, evanescent light. The region is reached (FIG. 3 (b)). Since the magnetic fine particles 9 are involved in the absorption and scattering of the evanescent light, the intensity of the reflected light is attenuated. As a result, when the laser beam emitted from the emission side grating 2b is received by the light receiving element 8, the intensity of the emitted laser beam decreases with time due to the influence of the combined magnetic fine particles 9. Thereafter, when the upper magnetic field is applied by the magnetic field application unit 10, the magnetic fine particles 9 in (state 2) and (state 3) move out of the evanescent light region (FIG. 3 (c)). Recovers to the value of. The received light intensity at this time is compared with the received light intensity in the state shown in FIG. In addition, the light intensity of light emitted from the optical waveguide sensor chip 100 (corresponding to an example of the first light intensity) after the sample solution or the like is introduced into the optical waveguide sensor chip 100 and before the magnetic field is applied. ). Further, after application of the magnetic field, the light intensity of light emitted from the optical waveguide sensor chip 100 (corresponding to an example of the second light intensity) is measured. Then, the measurement target substance 14 can be quantified based on the difference between these light intensities.

受光素子8で受光したレーザ光強度の低下率は、センシングエリア101に対して主に抗原抗体反応等によって結合した磁性微粒子9の量に依存する。つまり、抗原抗体反応に関与する検体溶液中の抗原濃度に比例する。したがって、抗原濃度が既知の検体溶液において時間の経過に伴うレーザ光強度の変動曲線を求め、この変動曲線の上部磁場の印加後の所定の時間でのレーザ光強度の低下率を求め、抗原濃度とレーザ光強度の低下率との関係を示す検量線を予め作成する。次に、抗原濃度が未知の検体溶液において前記方法で測定した時間とレーザ光強度の変動曲線から所定の時間でのレーザ光強度の低下率を求め、このレーザ光強度の低下率を前記検量線と照合させることにより、検体溶液中の抗原濃度を測定できる。   The decreasing rate of the intensity of the laser beam received by the light receiving element 8 depends on the amount of the magnetic fine particles 9 bound to the sensing area 101 mainly by an antigen-antibody reaction. That is, it is proportional to the antigen concentration in the sample solution involved in the antigen-antibody reaction. Therefore, obtain a fluctuation curve of laser light intensity over time in a sample solution with a known antigen concentration, obtain the rate of decrease in laser light intensity at a predetermined time after application of the upper magnetic field of this fluctuation curve, and determine the antigen concentration And a calibration curve showing the relationship between the laser beam intensity reduction rate and the laser beam intensity reduction rate. Next, a decrease rate of the laser light intensity at a predetermined time is obtained from the time measured by the above method in a sample solution with an unknown antigen concentration and a fluctuation curve of the laser light intensity, and the decrease rate of the laser light intensity is calculated using the calibration curve. Can be used to measure the antigen concentration in the sample solution.

次に、実験により本実施形態の測定を実施した例を説明する。以下の具体的数値や材料は一例であり、これらの数値や材料に限定されるものではない。   Next, an example in which the measurement of the present embodiment is performed by experiment will be described. The following specific numerical values and materials are examples, and are not limited to these numerical values and materials.

実験においては、ガラス等の透光性を有する基板1に、屈折率が2.2〜2.4である酸化チタン膜をスパッタリング法により50nmの厚さに成膜し、リソグラフィー法とドライエッチング法によりグレーティング2a、2bを形成した。グレーティング2a、2bが形成された基板1に、膜厚約10μmの紫外線硬化性アクリル樹脂膜をスピンコート法と紫外線照射により形成し、光導波路3とした。硬化後の屈折率は1.58である。   In the experiment, a titanium oxide film having a refractive index of 2.2 to 2.4 is formed on a light-transmitting substrate 1 such as glass to a thickness of 50 nm by a sputtering method, and a lithography method and a dry etching method are performed. Thus, gratings 2a and 2b were formed. An ultraviolet curable acrylic resin film having a film thickness of about 10 μm was formed on the substrate 1 on which the gratings 2 a and 2 b were formed by a spin coating method and ultraviolet irradiation to obtain an optical waveguide 3. The refractive index after curing is 1.58.

低屈折率樹脂膜である保護膜4は、光導波路3の表面に、グレーティング2a、2bの上方に相当する領域を含み、センシングエリア101である抗体固定化領域を囲むように、スクリーン印刷法を用いて形成した。保護膜4の乾燥後の屈折率は1.34である。検体溶液等を保持する為の液溜を形成する為、樹脂製の枠5を両面テープで固定化した。グレーティングの間の保護膜を形成しない領域の表面に、測定対象物質14に対する第1物質6を共有結合法によって固定化した。   The protective film 4, which is a low refractive index resin film, includes a region corresponding to the upper side of the gratings 2 a and 2 b on the surface of the optical waveguide 3, and screen printing is performed so as to surround the antibody immobilization region that is the sensing area 101. Formed using. The refractive index after drying of the protective film 4 is 1.34. In order to form a liquid reservoir for holding the sample solution and the like, the resin frame 5 was fixed with double-sided tape. The first substance 6 for the measurement target substance 14 was immobilized on the surface of a region where no protective film was formed between the gratings by a covalent bond method.

本実施形態では測定対象物質14としてラットインスリンを用い、センシングエリア101に固定化する第1物質6として抗ラットインスリン抗体を用いた。また、磁性微粒子9は、シェルに磁性ナノ微粒子12aを高密度に含むコア−シェル型の微粒子12dを有するものとした。微粒子12dの平均粒径は、1.1μmとした。微粒子12dの表面には、第2物質13として抗ラットインスリン抗体を共有結合法で固定化した。そして、この様な磁性微粒子9を含む分散液を別途調製した。   In the present embodiment, rat insulin is used as the measurement target substance 14, and an anti-rat insulin antibody is used as the first substance 6 immobilized on the sensing area 101. In addition, the magnetic fine particles 9 have core-shell type fine particles 12d containing a high density of magnetic nanoparticles 12a in the shell. The average particle diameter of the fine particles 12d was 1.1 μm. On the surface of the fine particles 12d, an anti-rat insulin antibody was immobilized as the second substance 13 by a covalent bond method. A dispersion containing such magnetic fine particles 9 was separately prepared.

次いで、入射側のグレーティング2aから、発光ダイオード7による中心波長635nmの光を入射し、出射側のグレーティング2bから出射された光の光強度をフォトダイオード8で測定しつつ、検体溶液と、磁性微粒子9の分散液とを混合後、センシングエリア101(枠5の内部)に導入した。その後、前述した測定手順に従って測定を実施した。   Next, light having a central wavelength of 635 nm from the light emitting diode 7 is incident from the grating 2a on the incident side, and the light intensity of the light emitted from the grating 2b on the emitting side is measured by the photodiode 8, while the sample solution and the magnetic fine particles are measured. After mixing with 9 dispersion liquid, it was introduced into the sensing area 101 (inside the frame 5). Thereafter, measurement was performed according to the measurement procedure described above.

なお、本実施形態では、フェライト磁石を光導波路型センサチップ100の上方に配置し、フェライト磁石と光導波路型センサチップ100との間にスペーサを設け、スペーサの厚みを変えることによって磁場強度を変化させた。   In this embodiment, the ferrite magnet is disposed above the optical waveguide sensor chip 100, a spacer is provided between the ferrite magnet and the optical waveguide sensor chip 100, and the magnetic field strength is changed by changing the thickness of the spacer. I let you.

図4は、検出信号強度比の経時変化の例を示す図である。
図4は、本実施形態に係る測定方法における検出信号強度比の経時変化の一例を示すものである。
図5は、測定結果の検量線を示す図である。
図4に示すように、まず磁性微粒子9の分散液と検体溶液とを混合しセンシングエリア101に導入すると、磁性微粒子9の沈降によるセンシングエリア101近傍の微粒子密度上昇に応じて検出信号強度比が低下する。その後、磁場印加部10により上部磁場を印加すると、センシングエリア101に吸着したノイズとなりうる磁性微粒子9が除去されるので、再び検出信号強度比が上昇し、初期の検出信号強度比より低い値で飽和する。この段階における検出信号強度比と初期の検出信号強度比との差分を初期の検出信号強度比に対する比率、すなわち信号低下率とする。信号低下率とラットインスリン濃度との関係を表したものが図5に示す検量線となる。
FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a change over time in the detection signal intensity ratio.
FIG. 4 shows an example of the change over time of the detection signal intensity ratio in the measurement method according to the present embodiment.
FIG. 5 is a diagram showing a calibration curve of measurement results.
As shown in FIG. 4, when the dispersion of magnetic fine particles 9 and the sample solution are first mixed and introduced into the sensing area 101, the detection signal intensity ratio increases according to the increase in fine particle density in the vicinity of the sensing area 101 due to sedimentation of the magnetic fine particles 9. descend. After that, when the upper magnetic field is applied by the magnetic field application unit 10, the magnetic fine particles 9 that can become noise adsorbed to the sensing area 101 are removed, so that the detection signal intensity ratio rises again and is lower than the initial detection signal intensity ratio. Saturates. The difference between the detection signal intensity ratio and the initial detection signal intensity ratio at this stage is defined as the ratio to the initial detection signal intensity ratio, that is, the signal decrease rate. A calibration curve shown in FIG. 5 represents the relationship between the signal decrease rate and the rat insulin concentration.

図4及び図5より、本実施形態の測定方法を用いると、ノイズとして測定誤差の要因となる非特異吸着による磁性微粒子9を適切な磁場でエバネッセント波領域から除去することによって、極低濃度のラットインスリンを検出できることを確認した。   4 and 5, when the measurement method of the present embodiment is used, by removing the magnetic fine particles 9 due to non-specific adsorption that cause measurement errors as noise from the evanescent wave region with an appropriate magnetic field, an extremely low concentration can be obtained. It was confirmed that rat insulin could be detected.

本実施形態によれば、磁性微粒子9に対して沈降方向とは異なる方向において磁場を印加することで、抗原抗体反応などによらずにセンシングエリア101に吸着したノイズとなりうる磁性微粒子9を、センシングエリア101から引き剥がすことができる。これにより、抗原抗体反応などにより測定対象物質14を介してセンシングエリア101に結合した磁性微粒子9に起因する吸光度を測定することができるので、測定誤差を低減することができる。   According to the present embodiment, by applying a magnetic field to the magnetic fine particles 9 in a direction different from the settling direction, the magnetic fine particles 9 that may become noise adsorbed on the sensing area 101 without depending on the antigen-antibody reaction or the like are sensed. It can be peeled off from the area 101. Thereby, since the light absorbency resulting from the magnetic fine particle 9 couple | bonded with the sensing area 101 via the measurement object substance 14 by antigen antibody reaction etc. can be measured, a measurement error can be reduced.

また、磁場印加によりノイズとなりうる磁性微粒子9を除去することが可能なので、このような磁性微粒子9を洗浄により除去する作業が不要となる。   In addition, since the magnetic fine particles 9 that can become noise by applying a magnetic field can be removed, the work of removing such magnetic fine particles 9 by washing becomes unnecessary.

本実施形態によれば、光導波路型センサチップ100を用い、エバネッセント光などの近接場光によって測定するので、センシングエリア101から測定に影響を与えない範囲にまで磁性微粒子9を引き剥がす距離が短くてすむ。これにより、上部磁場の印加によりセンシングエリア101から磁性微粒子9を引き剥がすために要する時間が短くてすむ。あるいは、より弱い磁場により、センシングエリア101から測定に影響を与えない範囲にまで磁性微粒子9を引き剥がすことが可能となる。   According to the present embodiment, since the optical waveguide sensor chip 100 is used and measurement is performed by near-field light such as evanescent light, the distance for peeling the magnetic fine particles 9 from the sensing area 101 to a range that does not affect the measurement is short. Tesumu. Thereby, the time required for peeling off the magnetic fine particles 9 from the sensing area 101 by applying the upper magnetic field can be shortened. Alternatively, the magnetic fine particles 9 can be peeled from the sensing area 101 to a range that does not affect the measurement by a weaker magnetic field.

また、本実施形態によれば、磁場強度を制御することが可能なので、測定に寄与すべき磁性微粒子9をセンシングエリア101から引き剥がすことなく、測定のノイズとなりうる磁性微粒子9をセンシングエリア101から測定に影響を与えない距離にまで引き剥がすことができる。これにより、S/N比を改善することが可能となる。   In addition, according to the present embodiment, since the magnetic field strength can be controlled, the magnetic fine particles 9 that can be measurement noise can be removed from the sensing area 101 without peeling the magnetic fine particles 9 that should contribute to the measurement from the sensing area 101. It can be peeled to a distance that does not affect the measurement. As a result, the S / N ratio can be improved.

また、本実施形態によれば、制御部20により動的に磁場強度を制御することで、測定精度を高く保つことができる。   Moreover, according to the present embodiment, the control accuracy can be kept high by dynamically controlling the magnetic field intensity by the control unit 20.

また、磁性微粒子9の微粒子12として、磁場の印加を停止すると速やかに磁化を失う超常磁性を有するものを用いるようにすれば、磁場の印加を停止した際に磁性微粒子9を容易に再分散させることができる。そのため、検体溶液中に測定対象物質14が存在しない場合においても磁性微粒子9の凝集物が生成されることが抑制されるので、測定誤差の発生を抑制することができる。
さらに、磁性微粒子9として、シェルに磁性ナノ微粒子12aを含むコア−シェル型の微粒子12dを有するものを用いることで、エバネッセント光の散乱強度を高くすることができる。その結果、高感度な検出を行うことができる。
Further, if the magnetic fine particles 9 have superparamagnetism that quickly loses magnetization when the application of the magnetic field is stopped, the magnetic fine particles 9 can be easily redispersed when the application of the magnetic field is stopped. be able to. For this reason, even when the measurement target substance 14 does not exist in the sample solution, the generation of aggregates of the magnetic fine particles 9 is suppressed, so that generation of measurement errors can be suppressed.
Further, by using the magnetic fine particles 9 having the core-shell type fine particles 12d including the magnetic nano fine particles 12a in the shell, the scattering intensity of the evanescent light can be increased. As a result, highly sensitive detection can be performed.

さらに、磁性微粒子9における微粒子12の表面に正または負の電荷を持たせたり、界面活性剤などの分散剤を添加したりすることにより、磁場の印加を停止した際に磁性微粒子9を再分散させ易くし、測定誤差を低減させることも可能である。   Further, by adding a positive or negative charge to the surface of the fine particles 12 in the magnetic fine particles 9 or adding a dispersant such as a surfactant, the magnetic fine particles 9 are redispersed when the application of the magnetic field is stopped. It is also possible to reduce the measurement error.

また、本実施形態によれば、自然沈降した磁性微粒子9を、沈降方向とは異なる方向において磁場を印加することにより引き戻すことができる。磁性微粒子9の自然沈降と磁場印加部10による上方向への引き戻しを繰り返すことで、検体溶液と磁性微粒子9とが攪拌されるため、検体溶液に含まれる測定対象物質14(例えば、抗原)と磁性微粒子9との抗原抗体反応が促進され、より短時間で高い検出感度を得ることができる。そのため、測定対象物質14が低濃度である場合に、検出感度を高めることが可能である。   Further, according to the present embodiment, the naturally settled magnetic fine particles 9 can be pulled back by applying a magnetic field in a direction different from the settling direction. By repeating the natural sedimentation of the magnetic fine particles 9 and the upward pulling back by the magnetic field applying unit 10, the sample solution and the magnetic fine particles 9 are agitated, so that the measurement target substance 14 (for example, an antigen) contained in the sample solution and The antigen-antibody reaction with the magnetic fine particles 9 is promoted, and high detection sensitivity can be obtained in a shorter time. Therefore, when the measurement target substance 14 has a low concentration, the detection sensitivity can be increased.

このときさらに、磁性微粒子9における微粒子12の表面に正または負の電荷を持たせたり、界面活性剤などの分散剤を添加したりすることにより、磁場の印加を停止した際に磁性微粒子9を再分散させ易くし、攪拌を促進し、検出感度を向上させることが可能である。   At this time, further, the surface of the fine particles 12 in the magnetic fine particles 9 is given a positive or negative charge, or a dispersing agent such as a surfactant is added, so that the magnetic fine particles 9 are removed when the application of the magnetic field is stopped. It is possible to facilitate redispersion, promote stirring, and improve detection sensitivity.

また、本実施形態によれば、光導波路型センサチップ100を用い、エバネッセント光などの近接場光によって測定対象物質14の量や濃度などを測定する。この場合、0.05μm以上、200μm以下、好ましくは0.2μm以上、20μm以下の粒径の磁性微粒子9を用いるようにすれば、光の散乱効率を高めることができるので、測定対象物質14の検出感度を向上させることができる。   In addition, according to the present embodiment, the optical waveguide sensor chip 100 is used to measure the amount and concentration of the measurement target substance 14 using near-field light such as evanescent light. In this case, if the magnetic fine particles 9 having a particle diameter of 0.05 μm or more and 200 μm or less, preferably 0.2 μm or more and 20 μm or less are used, the light scattering efficiency can be increased. Detection sensitivity can be improved.

[第2の実施形態]
第1の実施形態では、磁性微粒子9から見て光導波路3の方向とは反対の方向に磁場を印加する場合を説明したが、第2の実施形態では、磁性微粒子9から見て光導波路3の方向及びその反対の方向の双方に磁場を印加する場合を説明する。
[Second Embodiment]
In the first embodiment, the case where a magnetic field is applied in a direction opposite to the direction of the optical waveguide 3 as viewed from the magnetic fine particles 9 has been described. However, in the second embodiment, the optical waveguide 3 as viewed from the magnetic fine particles 9 is described. A case where a magnetic field is applied in both the direction and the opposite direction will be described.

図6は第2の実施形態に係る光導波路型測定システムの構成を示す図である。本実施形態に係る光導波路型測定システム30aは、図1に示す第1の実施形態の光導波路型測定システム30に、磁場印加部11(第2の磁場印加部の一例に相当する)を更に加えたものである。それ以外の構成は、第1の実施形態と同様であるので、説明を省略する。   FIG. 6 is a diagram illustrating a configuration of an optical waveguide measurement system according to the second embodiment. The optical waveguide measurement system 30a according to the present embodiment further includes a magnetic field application unit 11 (corresponding to an example of a second magnetic field application unit) in addition to the optical waveguide measurement system 30 of the first embodiment shown in FIG. It is added. Since the other configuration is the same as that of the first embodiment, the description thereof is omitted.

磁場印加部11は、光導波路型センサチップ100に対して、磁性微粒子9から見て光導波路3の方向において磁場を印加する。これにより、光導波路3の方向へ磁性微粒子9を移動させることができる。   The magnetic field application unit 11 applies a magnetic field to the optical waveguide sensor chip 100 in the direction of the optical waveguide 3 when viewed from the magnetic fine particles 9. Thereby, the magnetic fine particles 9 can be moved in the direction of the optical waveguide 3.

磁場印加部11は、磁性微粒子9から見て光導波路3が存在する方向に設けられる。本実施形態においては、磁場印加部11は、センサチップ100の下方向に設けられる。   The magnetic field application unit 11 is provided in the direction in which the optical waveguide 3 exists as viewed from the magnetic fine particles 9. In the present embodiment, the magnetic field application unit 11 is provided in the downward direction of the sensor chip 100.

磁場印加部11は、磁場印加部10と同様に、磁石あるいは電磁石である。磁場強度を動的に調整するため、電磁石を用いて電流で調整する方法が望ましいが、フェライト磁石などを用いて、磁石そのものの強さや光導波路センサチップ100と磁石との相対的な位置を変化させて磁場強度を調整してもよい。例えば、フェライト磁石を光導波路センサチップ100の下方に配置し、磁石と光導波路センサチップ100との間にスペーサを介してその厚さを変えることによって磁場強度を調整することができる。電磁石を用いる場合には、コイルを磁性微粒子から見て光導波路3の方向に配置し、そのコイルに電流を印加すればよく、電流値を変えることによって磁場強度を調整することができる。   Similar to the magnetic field application unit 10, the magnetic field application unit 11 is a magnet or an electromagnet. In order to dynamically adjust the magnetic field strength, a method of adjusting the current by using an electromagnet is desirable, but using a ferrite magnet or the like, the strength of the magnet itself or the relative position of the optical waveguide sensor chip 100 and the magnet is changed. To adjust the magnetic field strength. For example, the magnetic field strength can be adjusted by disposing a ferrite magnet below the optical waveguide sensor chip 100 and changing the thickness of the ferrite magnet through a spacer between the magnet and the optical waveguide sensor chip 100. In the case of using an electromagnet, the coil is disposed in the direction of the optical waveguide 3 when viewed from the magnetic fine particles, and a current is applied to the coil. The magnetic field strength can be adjusted by changing the current value.

ここで、本実施形態の光導波路型測定システム30aは、制御部20aをさらに備えていてもよい。制御部20aは、磁場印加部10及び磁場印加部11、あるいはいずれか片方により印加する磁場の強度を制御する。この場合、例えば、図6に示すように、磁場印加部10及び磁場印加部11に対して共通の制御部20aと、切り替えスイッチ20a1とを設けるようにすることができる。また、磁場印加部10及び磁場印加部11に対してそれぞれ独立の制御部を設けるようにすることもできる。また、磁場印加部10及び磁場印加部11に対して同時に磁場強度の制御を行う制御部を設けるようにすることもできる。また、磁場強度を随時制御することで、動的に適切な磁場強度となるように制御する制御部20aとしてもよい。   Here, the optical waveguide type measurement system 30a of the present embodiment may further include a control unit 20a. The control unit 20a controls the strength of the magnetic field applied by the magnetic field application unit 10, the magnetic field application unit 11, or one of them. In this case, for example, as shown in FIG. 6, a common control unit 20 a and a changeover switch 20 a 1 can be provided for the magnetic field application unit 10 and the magnetic field application unit 11. In addition, independent control units may be provided for the magnetic field application unit 10 and the magnetic field application unit 11, respectively. In addition, a control unit that controls the magnetic field strength at the same time for the magnetic field application unit 10 and the magnetic field application unit 11 may be provided. Moreover, it is good also as the control part 20a which controls so that it may become an appropriate magnetic field strength dynamically by controlling a magnetic field strength as needed.

また、制御部20aは、磁場印加部10と磁場印加部11のそれぞれにおいて磁場を印加するタイミングを制御しても良い。これにより、磁場印加部10と磁場印加部11が所定の条件(例えば、所定の時刻あるいは所定の磁場を印加し続ける時間など)に従って、交互に磁場を印加することができる。   Further, the control unit 20a may control the timing of applying the magnetic field in each of the magnetic field applying unit 10 and the magnetic field applying unit 11. Thereby, the magnetic field application unit 10 and the magnetic field application unit 11 can alternately apply a magnetic field according to a predetermined condition (for example, a predetermined time or a time during which a predetermined magnetic field is continuously applied).

図7は、検体溶液中の測定対象物質を測定する方法を示す工程図である。
ここでは、前述した光導波路型測定システム30aを用いて測定対象物質14の量を測定する方法を図7の(a)〜(c)を参照して説明する。
なお、センシングエリア101における状態を説明する。
また、図7の(a)、(c)は、図3に示す第1の実施形態と同様なので、説明を省略する。
また、受光素子8における検出信号強度比の差分を計測することで、検体溶液中の抗原濃度を測定することも第1の実施形態の場合と同様のため説明を省略する。
FIG. 7 is a process diagram showing a method for measuring a substance to be measured in a sample solution.
Here, a method of measuring the amount of the measurement target substance 14 using the optical waveguide type measurement system 30a described above will be described with reference to FIGS.
The state in the sensing area 101 will be described.
7A and 7C are the same as those in the first embodiment shown in FIG.
Further, the measurement of the antigen concentration in the sample solution by measuring the difference in the detection signal intensity ratio in the light receiving element 8 is the same as in the first embodiment, and thus the description thereof is omitted.

図7の(b)は図3に示す第1の実施形態と異なるので、以下に説明する。図7の(b)において、磁場印加部11により磁性微粒子9から見て沈降方向(光導波路3の方向、例えば、図6における下方向)において下部磁場印加を行う。これにより、磁性微粒子9がセンシングエリア101に引き寄せられる。この際、センシングエリア101に固定化された第1物質6(例えば、一次抗体)と、磁性微粒子9の微粒子12に固定化された第2物質13(例えば、二次抗体)とが測定対象物質14(例えば、抗原)を介して抗原抗体反応により結合する。これにより、磁性微粒子9がセンシングエリア101に結合される。   FIG. 7B is different from the first embodiment shown in FIG. 3 and will be described below. In FIG. 7B, the magnetic field application unit 11 applies a lower magnetic field in the settling direction (the direction of the optical waveguide 3, for example, the lower direction in FIG. 6) as viewed from the magnetic fine particles 9. Thereby, the magnetic fine particles 9 are attracted to the sensing area 101. At this time, the first substance 6 (for example, primary antibody) immobilized on the sensing area 101 and the second substance 13 (for example, secondary antibody) immobilized on the fine particles 12 of the magnetic fine particles 9 are measured substances. It binds by antigen-antibody reaction via 14 (for example, antigen). Thereby, the magnetic fine particles 9 are coupled to the sensing area 101.

本実施形態においては、図7(b)に示す下方向への磁場印加と、図7(c)に示す上方向への磁場印加を交互に繰り返しても良い。   In the present embodiment, the downward magnetic field application shown in FIG. 7B and the upward magnetic field application shown in FIG. 7C may be alternately repeated.

図7(b)に示す下方向への磁場印加により磁性微粒子9を光導波路3に引き寄せた際には、検体溶液中には測定対象物質14が第1物質6及び第2物質13のいずれとも結合しない状態、あるいは微粒子12の表面に固定化された第2物質13と結合しているがセンシングエリア101に固定化された第1物質6とは結合していない状態で残存している。また、センシングエリア101には非特異的に吸着した磁性微粒子9が存在する。   When the magnetic fine particles 9 are attracted to the optical waveguide 3 by applying a magnetic field in the downward direction shown in FIG. 7B, the substance 14 to be measured is in the first substance 6 and the second substance 13 in the sample solution. It remains in a state where it is not bonded or in a state where it is bonded to the second substance 13 immobilized on the surface of the fine particle 12 but not bonded to the first substance 6 immobilized in the sensing area 101. In addition, the magnetic fine particles 9 adsorbed nonspecifically exist in the sensing area 101.

そこで、図7(c)において、抗原抗体反応等によって結合した磁性微粒子9が剥がれない強度の磁場を印加し、抗原抗体反応等によって結合していない磁性微粒子9を光導波路3とは異なる方向に移動させる。   Therefore, in FIG. 7C, a magnetic field having a strength that does not peel off the magnetic fine particles 9 bound by the antigen-antibody reaction or the like is applied, and the magnetic fine particles 9 not bound by the antigen-antibody reaction or the like are moved in a direction different from the optical waveguide 3. Move.

その後、再び図7(b)に示すように、光導波路3の方向に磁場を印加して抗原抗体反応等によって結合していない磁性微粒子9を引き寄せる。すると、測定対象物質14や、微粒子12の表面に固定化された第2物質13に結合した測定対象物質14がセンシングエリア101に固定化された第1物質6に新たに結合する。   After that, as shown in FIG. 7B again, a magnetic field is applied in the direction of the optical waveguide 3 to attract the magnetic fine particles 9 that are not bound by antigen-antibody reaction or the like. Then, the measurement target substance 14 and the measurement target substance 14 bound to the second substance 13 immobilized on the surface of the fine particle 12 are newly bound to the first substance 6 immobilized in the sensing area 101.

これを繰返すことで、抗原抗体反応などによりセンシングエリア101に結合していない磁性微粒子9の数を減らし、抗原抗体反応などによりセンシングエリア101に結合する磁性微粒子9の数を増大させることができる。その結果、S/N比を向上させることができる。   By repeating this, the number of magnetic fine particles 9 that are not bonded to the sensing area 101 due to an antigen-antibody reaction or the like can be reduced, and the number of magnetic fine particles 9 that are bonded to the sensing area 101 due to an antigen-antibody reaction or the like can be increased. As a result, the S / N ratio can be improved.

本実施形態によれば、磁場印加部11により、磁性微粒子9に対して磁場を印加することで、磁性微粒子9をセンシングエリア101に引き寄せることができる。これにより、磁性微粒子9をセンシングエリア101に対してより結合させ易くなるので、測定対象物質14の検出感度を向上させることができる。   According to the present embodiment, the magnetic fine particles 9 can be attracted to the sensing area 101 by applying a magnetic field to the magnetic fine particles 9 by the magnetic field applying unit 11. Thereby, since it becomes easier to couple the magnetic fine particles 9 to the sensing area 101, the detection sensitivity of the measurement target substance 14 can be improved.

また、磁性微粒子9と検体溶液とを反応空間102に導入後、速やかにセンシングエリア101の方向に磁性微粒子9を引き寄せることによって、磁性微粒子9の自然沈降を待つ時間を短縮することができるので、短時間で測定をすることができる。また、磁性微粒子9同士の反応や凝集が進む前に磁性微粒子9とセンシングエリア101との結合を促進することができる。これにより、磁性微粒子9とセンシングエリア101との結合に対する測定対象物質14の利用率をより高めることができるので、より高い検出感度が得られる。   In addition, since the magnetic fine particles 9 and the sample solution are introduced into the reaction space 102 and the magnetic fine particles 9 are quickly drawn in the direction of the sensing area 101, the time for waiting for the natural precipitation of the magnetic fine particles 9 can be shortened. Measurement can be performed in a short time. In addition, the coupling between the magnetic fine particles 9 and the sensing area 101 can be promoted before the reaction or aggregation of the magnetic fine particles 9 proceeds. Thereby, since the utilization factor of the measurement target substance 14 for the binding between the magnetic fine particles 9 and the sensing area 101 can be further increased, higher detection sensitivity can be obtained.

さらに、磁場印加部10及び磁場印加部11の双方、あるいはいずれか片方により磁性微粒子9を移動させることで、検体溶液と磁性微粒子9を攪拌することができる。これにより、検体溶液に含まれる測定対象物質14(例えば、抗原)と磁性微粒子9との抗原抗体反応などが促進され、より短時間で高い検出感度の測定を行うことができる。また、磁場印加部10による上部磁場印加と、磁場印加部11による下部磁場印加を繰り返し磁性微粒子9を往復運動させることで、より攪拌することができる。これによって磁性微粒子9が測定対象物質14を介してセンシングエリア101に結合する機会が増加するので、より短時間で測定対象物質14を検出することができる。また、磁性微粒子9がセンシングエリア101に結合する確率を向上させ、測定対象物質14の検出感度及び測定精度を向上させることが可能となる。例えば、測定対象物質14が低濃度である場合に有効である。   Furthermore, the specimen solution and the magnetic fine particles 9 can be stirred by moving the magnetic fine particles 9 by both or one of the magnetic field applying unit 10 and the magnetic field applying unit 11. As a result, the antigen-antibody reaction between the measurement target substance 14 (for example, antigen) contained in the sample solution and the magnetic fine particles 9 is promoted, and high detection sensitivity can be measured in a shorter time. Further, the magnetic fine particles 9 can be further stirred by repeatedly applying the upper magnetic field by the magnetic field applying unit 10 and applying the lower magnetic field by the magnetic field applying unit 11. As a result, the opportunity for the magnetic fine particles 9 to bind to the sensing area 101 via the measurement target substance 14 increases, so that the measurement target substance 14 can be detected in a shorter time. In addition, the probability that the magnetic fine particles 9 are bonded to the sensing area 101 can be improved, and the detection sensitivity and measurement accuracy of the measurement target substance 14 can be improved. For example, it is effective when the measurement target substance 14 has a low concentration.

本実施形態においては、磁場を用いて磁性微粒子9を攪拌するので、人手による攪拌操作やポンプなどを有する攪拌機構が不要となり、操作が簡便で小型の測定システムを実現することができる。例えば、制御部20aによる磁場印加を自動化すれば、測定者が検体溶液をセンサチップ100に導入するという1操作のみで測定を行うことができる。   In the present embodiment, since the magnetic fine particles 9 are stirred using a magnetic field, a manual stirring operation or a stirring mechanism having a pump or the like is not necessary, and a simple measurement and a small measurement system can be realized. For example, if the application of the magnetic field by the control unit 20a is automated, measurement can be performed by only one operation in which the measurer introduces the sample solution into the sensor chip 100.

さらに、磁性微粒子9の微粒子12として、磁場の印加を停止すると速やかに磁化を失う超常磁性を有するものを用いるようにすれば、磁場を印加した際に磁性微粒子9同士が磁化により凝集しても、磁場の印加を停止することで再分散させることができる。仮に磁場の印加時に磁性微粒子9同士が凝集しても、センシングエリア101近傍に磁性微粒子9同士の凝集物が到達する前に磁場の印加を停止することにより、磁性微粒子9同士の凝集物を再分散させることができる。そのため、磁性微粒子9は分散状態でセンシングエリア101に到達することができる。従って、磁性微粒子9同士の凝集による測定ノイズの増大を防ぐことが可能となる。   Furthermore, if the magnetic fine particles 9 have superparamagnetism that quickly loses magnetization when the application of the magnetic field is stopped, the magnetic fine particles 9 may aggregate due to magnetization when the magnetic field is applied. The dispersion can be re-dispersed by stopping the application of the magnetic field. Even if the magnetic fine particles 9 aggregate when the magnetic field is applied, by stopping the application of the magnetic field before the aggregate of the magnetic fine particles 9 reaches the vicinity of the sensing area 101, the aggregate of the magnetic fine particles 9 is regenerated. Can be dispersed. Therefore, the magnetic fine particles 9 can reach the sensing area 101 in a dispersed state. Accordingly, it is possible to prevent an increase in measurement noise due to aggregation of the magnetic fine particles 9.

また、磁場の印加を停止した際の再分散性を更に向上させるため、磁性微粒子9における微粒子12の表面に正または負の電荷を持たせてもよい。あるいは、磁性微粒子9における微粒子12の表面に分散媒として界面活性剤などの分散剤を添加してもよい。   Further, in order to further improve the redispersibility when the application of the magnetic field is stopped, the surface of the fine particles 12 in the magnetic fine particles 9 may be given a positive or negative charge. Alternatively, a dispersant such as a surfactant may be added as a dispersion medium to the surface of the fine particles 12 in the magnetic fine particles 9.

また、本実施形態によれば、制御部20aにより磁場印加部10と磁場印加部11の磁場強度を適切に制御することで、測定対象物質14の検出感度及び測定精度を向上させることができる。   In addition, according to the present embodiment, the detection sensitivity and measurement accuracy of the measurement target substance 14 can be improved by appropriately controlling the magnetic field strengths of the magnetic field application unit 10 and the magnetic field application unit 11 by the control unit 20a.

なお、本実施形態においても、第1の実施形態と同様の効果を得ることができる。   In this embodiment, the same effect as that of the first embodiment can be obtained.

[第3の実施形態]
第1、2の実施形態では、磁性微粒子から見て自然沈降方向に光導波路が配置された場合を説明したが、第3の実施形態では、磁性微粒子から見て自然沈降方向とは反対方向に光導波路が存在する構成の場合を説明する。
[Third embodiment]
In the first and second embodiments, the case where the optical waveguide is arranged in the natural sedimentation direction as viewed from the magnetic fine particles has been described. However, in the third embodiment, in the direction opposite to the natural sedimentation direction as viewed from the magnetic fine particles. A case in which an optical waveguide is present will be described.

図8は第3の施形態に係る光導波路型測定システムの構成を示す図である。本実施形態に係る光導波路型測定システム30bは、図6に示す第2の実施形態の光導波路型測定システム30aにおける枠5に替えて、液体が落下しない囲い状の形状を有するキャップ15を用い、図6に示す第2の実施形態の光導波路型測定システム30aの全体を上下に反転させている。すなわち、本実施形態においては、磁場印加部10が光導波路型センサチップ100の下方、磁場印加部11が光導波路型センサチップ100の上方に配置される。そのため、本実施形態においては、磁場印加部10が下部磁場を印加し、磁場印加部11が上部磁場を印加することになる。
なお、磁場印加部10は必ずしも必要ではない。それ以外の構成は、第2の実施形態と同様であるので、説明を省略する。
FIG. 8 is a diagram showing a configuration of an optical waveguide type measurement system according to the third embodiment. The optical waveguide measurement system 30b according to the present embodiment uses a cap 15 having an enclosure shape in which liquid does not fall, instead of the frame 5 in the optical waveguide measurement system 30a of the second embodiment shown in FIG. The entire optical waveguide type measurement system 30a of the second embodiment shown in FIG. 6 is turned upside down. That is, in the present embodiment, the magnetic field application unit 10 is disposed below the optical waveguide sensor chip 100 and the magnetic field application unit 11 is disposed above the optical waveguide sensor chip 100. Therefore, in this embodiment, the magnetic field application unit 10 applies the lower magnetic field, and the magnetic field application unit 11 applies the upper magnetic field.
The magnetic field application unit 10 is not always necessary. Since the other configuration is the same as that of the second embodiment, description thereof is omitted.

図8に示す測定システムにおいては、検体溶液と磁性微粒子9との混合分散液を保持するために、枠5の替わりに断面が例えば凹形状であるようなキャップ15を備えている。キャップ15とセンシングエリア101とによって、液導入用の開口部や空気抜き穴(いずれも図示せず)を除いて半閉鎖空間となる反応空間102aを形成している。   The measurement system shown in FIG. 8 includes a cap 15 having a concave cross section instead of the frame 5 in order to hold a mixed dispersion of the sample solution and the magnetic fine particles 9. The cap 15 and the sensing area 101 form a reaction space 102a that becomes a semi-enclosed space except for an opening for introducing liquid and an air vent hole (both not shown).

ここで、本実施形態の光導波路型測定システム30bは、制御部20bをさらに備えていてもよい。制御部20bは、磁場印加部10及び磁場印加部11、あるいはいずれか片方により印加される磁場の強度を制御する。この場合、例えば、図8に示すように、磁場印加部10及び磁場印加部11に対してそれぞれ独立の制御部20b1、20b2を設けるようにすることができる。また、磁場印加部10及び磁場印加部11に対して共通の制御部と、図示しない切り替えスイッチとを設けるようにすることもできる。また、磁場印加部10及び磁場印加部11に対して同時に磁場強度の制御を行う制御部を設けるようにすることもできる。また、磁場強度を随時制御することで、動的に適切な磁場強度となるように制御する制御部20bとしてもよい。   Here, the optical waveguide measurement system 30b of the present embodiment may further include a control unit 20b. The control unit 20b controls the strength of the magnetic field applied by the magnetic field application unit 10 and the magnetic field application unit 11, or one of them. In this case, for example, as shown in FIG. 8, independent control units 20 b 1 and 20 b 2 can be provided for the magnetic field application unit 10 and the magnetic field application unit 11, respectively. Further, a common control unit for the magnetic field application unit 10 and the magnetic field application unit 11 and a changeover switch (not shown) may be provided. In addition, a control unit that controls the magnetic field strength at the same time for the magnetic field application unit 10 and the magnetic field application unit 11 may be provided. Alternatively, the control unit 20b may be configured to control the magnetic field strength as needed to dynamically adjust the magnetic field strength to an appropriate value.

また、制御部20bは、磁場印加部10と磁場印加部11のそれぞれにおける磁場を印加するタイミングを制御しても良い。これにより、磁場印加部10と磁場印加部11が所定の条件(例えば、所定の時刻あるいは所定の磁場を印加し続ける時間など)に従って、交互に磁場を印加することができる。   Further, the control unit 20b may control the timing of applying the magnetic field in each of the magnetic field application unit 10 and the magnetic field application unit 11. Thereby, the magnetic field application unit 10 and the magnetic field application unit 11 can alternately apply a magnetic field according to a predetermined condition (for example, a predetermined time or a time during which a predetermined magnetic field is continuously applied).

図9は、検体溶液中の測定対象物質を測定する方法を示す工程図である。
ここでは、前述した光導波路型測定システム30bを用いて測定対象物質14の量を測定する方法を図9の(a)〜(c)を参照して説明する。
なお、反応空間102aにおける状態を説明する。
また、受光素子8における検出信号強度比の差分を計測することで、検体溶液中の測定対象物質14の量や濃度(例えば、抗原濃度など)を求めることは、第1の実施形態の場合と同様のためその説明は省略する。
FIG. 9 is a process diagram showing a method of measuring a substance to be measured in a sample solution.
Here, a method of measuring the amount of the measurement target substance 14 using the optical waveguide type measurement system 30b described above will be described with reference to FIGS.
The state in the reaction space 102a will be described.
Further, the amount and concentration (for example, antigen concentration) of the measurement target substance 14 in the sample solution by measuring the difference in the detection signal intensity ratio in the light receiving element 8 is the same as in the case of the first embodiment. The description is omitted for the same reason.

まず、図8に示す測定システムを用意する。次いで、図9(a)に示すように、枠5とセンシングエリア101とで形成された反応空間102a内に、検体溶液と磁性微粒子9との混合分散液を満たした状態を形成する。そのための方法は第1の実施形態で説明した方法と同様である。また、検体溶液などの導入は液導入用の開口部(図示せず)を通じた流入による方法が望ましい。ここで、検体溶液中には、自重で沈降する夾雑物質17が含まれている場合がある。夾雑物質17としては、例えば血液における血球成分などが挙げられる。このような夾雑物質17がセンシングエリア101近傍に存在すると、それ自体が散乱体となって測定ノイズの要因となったり、磁性微粒子9がセンシングエリア101に結合する反応が妨げられたりすることによって、測定精度が低下するおそれがある。   First, a measurement system shown in FIG. 8 is prepared. Next, as shown in FIG. 9A, a reaction space 102 a formed by the frame 5 and the sensing area 101 is filled with a mixed dispersion of the sample solution and the magnetic fine particles 9. The method for this is the same as the method described in the first embodiment. In addition, it is desirable that the sample solution or the like is introduced by inflow through an opening (not shown) for introducing the liquid. Here, the sample solution may contain a contaminant 17 that settles under its own weight. Examples of the contaminant 17 include blood cell components in blood. If such a contaminant 17 exists in the vicinity of the sensing area 101, it becomes a scatterer itself and causes measurement noise, or the reaction of the magnetic fine particles 9 binding to the sensing area 101 is hindered. Measurement accuracy may be reduced.

次に、図9(b)に示すように、磁場印加部11により磁性微粒子9から見てセンシングエリア101の方向に磁場を印加する。これにより、磁性微粒子9がセンシングエリア101に引き寄せられる。この際、センシングエリア101に固定化された第1物質6(例えば、一次抗体)と、微粒子12の表面に固定化された第2物質13(例えば、二次抗体)とが測定対象物質14(例えば、抗原)を介して抗原抗体反応により結合する。これにより、磁性微粒子9がセンシングエリア101に結合される。これと同時に、沈降性の夾雑物質17は、自重によって図9(b)の下方向(センシングエリア101とは反対方向)に移動する。   Next, as shown in FIG. 9B, the magnetic field application unit 11 applies a magnetic field in the direction of the sensing area 101 when viewed from the magnetic fine particles 9. Thereby, the magnetic fine particles 9 are attracted to the sensing area 101. At this time, the first substance 6 (for example, a primary antibody) immobilized on the sensing area 101 and the second substance 13 (for example, a secondary antibody) immobilized on the surface of the fine particles 12 are measured substances 14 ( For example, it binds by antigen-antibody reaction via antigen). Thereby, the magnetic fine particles 9 are coupled to the sensing area 101. At the same time, the sedimentary contaminant 17 moves in the downward direction in FIG. 9B (the direction opposite to the sensing area 101) by its own weight.

次いで、図9(c)に示すように、磁場印加部10により図9(c)に示す下方向への磁場を印加する。すると、抗原抗体反応によらず測定対象物質14を介さずにセンシングエリア101に吸着していた磁性微粒子9が沈降方向に移動し、センシングエリア101から除去される。ここで、磁場印加部10を持たない測定システムを用いて、単に図9(b)に示す上方向における磁場の印加を停止するだけでも、抗原抗体反応などによらず測定対象物質14を介さずにセンシングエリア101に吸着した磁性微粒子9を自重によって下方向へ移動させることができる。しかしながら、この方法では、磁性微粒子9のセンシングエリア101への吸着力が自重に相当する下方向への力に勝る場合には、センシングエリア101に吸着している磁性微粒子9を除去することが困難となる。なお、図9(c)に示す工程においても、沈降性の夾雑物質17は、自重によって図9(c)の下方向(光導波路3とは反対方向)に移動を続ける。   Next, as shown in FIG. 9C, the magnetic field applying unit 10 applies a downward magnetic field shown in FIG. 9C. Then, regardless of the antigen-antibody reaction, the magnetic fine particles 9 adsorbed on the sensing area 101 without passing through the measurement target substance 14 move in the settling direction and are removed from the sensing area 101. Here, even if the application of the magnetic field in the upward direction shown in FIG. 9 (b) is simply stopped using a measurement system that does not have the magnetic field application unit 10, the measurement target substance 14 is not involved regardless of the antigen-antibody reaction or the like. The magnetic fine particles 9 adsorbed on the sensing area 101 can be moved downward by their own weight. However, with this method, it is difficult to remove the magnetic fine particles 9 adsorbed on the sensing area 101 when the attractive force of the magnetic fine particles 9 on the sensing area 101 is superior to the downward force corresponding to its own weight. It becomes. In the step shown in FIG. 9C, the sedimentary contaminant 17 continues to move downward (in the direction opposite to the optical waveguide 3) in FIG. 9C due to its own weight.

本実施形態においても、図9(b)に示す上方向における磁場印加と、図9(c)に示す下方向における磁場印加または磁性微粒子9の自重による沈降と、を交互に繰り返しても良い。その効果については第2の実施形態で述べたものと同様であるためその説明は省略する。   Also in the present embodiment, the magnetic field application in the upward direction shown in FIG. 9B and the magnetic field application in the downward direction shown in FIG. 9C or sedimentation due to the weight of the magnetic fine particles 9 may be alternately repeated. Since the effect is the same as that described in the second embodiment, the description thereof is omitted.

本実施形態によれば、磁性微粒子9から見て上方にセンシングエリア101が位置し、磁場印加部11により、磁性微粒子9に対して磁場を印加している。そのため、磁性微粒子9をセンシングエリア101に引き寄せると同時に、沈降性の夾雑物質17を下方向へ沈降させることができる。これにより、夾雑物質17をセンシングエリア101近傍のエバネッセント光領域外に自然に移動させることができる。その結果、夾雑物質17を予め濾過等によって除去することなく、測定精度をより高めることができる。   According to the present embodiment, the sensing area 101 is positioned above the magnetic fine particles 9, and a magnetic field is applied to the magnetic fine particles 9 by the magnetic field application unit 11. Therefore, at the same time as the magnetic fine particles 9 are attracted to the sensing area 101, the sedimentary contaminant 17 can be allowed to settle downward. Thereby, the contaminant 17 can be naturally moved outside the evanescent light region in the vicinity of the sensing area 101. As a result, the measurement accuracy can be further improved without removing the contaminant 17 by filtration or the like in advance.

なお、本実施形態においても、第1および第2の実施形態と同様の効果を得ることができる。   In this embodiment, the same effects as those of the first and second embodiments can be obtained.

次に、磁場印加部についてさらに例示をする。
図10は、磁場印加部の構成を例示するための模式図である。
図10(a)は磁場印加部の構成を例示するための模式図、図10(b)は図10(a)におけるA−A矢視図、図10(c)は模式斜視図である。
なお、図10に例示をする磁場印加部40は、前述した磁場印加部10および磁場印加部11のいずれにも用いることができる。
図10に示すように、磁場印加部40にはコイル41、コア42が設けられている。
コイル41は、ボビン41aと、絶縁電線41bとを有する。ボビン41aは絶縁電線41bが巻きつけられる筒状部41a1と、筒状部41a1の両端に設けられたフランジ41a2とを有する。
ボビン41aは、単純な筒状となっているので、ボビン41a単体の状態において絶縁電線41bを巻きつける場合、高速の巻きつけを行うことができる。そのため、巻線工程の時間短縮を図ることが可能となる。また、絶縁電線41bが巻きつけられたボビン41aをコア42に挿入するという簡易な組み立てとすることができるので、組み立て工程の時間短縮を図ることが可能となる。
なお、ボビン41aは必ずしも必要ではなく適宜設けるようにすることができる。例えば、コア42に絶縁電線41bを巻きつけることでコイル41を形成することもできる。
Next, the magnetic field application unit will be further illustrated.
FIG. 10 is a schematic diagram for illustrating the configuration of the magnetic field application unit.
FIG. 10A is a schematic diagram for illustrating the configuration of the magnetic field application unit, FIG. 10B is a view taken along the line AA in FIG. 10A, and FIG. 10C is a schematic perspective view.
The magnetic field application unit 40 illustrated in FIG. 10 can be used for both the magnetic field application unit 10 and the magnetic field application unit 11 described above.
As shown in FIG. 10, the magnetic field application unit 40 is provided with a coil 41 and a core 42.
The coil 41 has a bobbin 41a and an insulated wire 41b. The bobbin 41a has a cylindrical portion 41a1 around which the insulated wire 41b is wound, and flanges 41a2 provided at both ends of the cylindrical portion 41a1.
Since the bobbin 41a has a simple cylindrical shape, when the insulated wire 41b is wound in the state of the bobbin 41a alone, high-speed winding can be performed. Therefore, it is possible to shorten the time of the winding process. Moreover, since the bobbin 41a around which the insulated wire 41b is wound can be simply assembled by inserting it into the core 42, it is possible to reduce the time of the assembly process.
The bobbin 41a is not always necessary and can be provided as appropriate. For example, the coil 41 can be formed by winding an insulated wire 41 b around the core 42.

コア42は、コイル41が設けられる第1のコア部42aと、コイル41の外側に設けられる第2のコア部42bと、第1のコア部42aの一方の端部と第2のコア部42bの一方の端部とを磁気的に接続する接続部42cと、を有する。図10に例示をした磁場印加部40においては、第1のコア部42aを挟んで対称な位置に2つの第2のコア部42bが設けられている。
この場合、第1のコア部42a、第2のコア部42b、接続部42cが分離できるようにすることもできる。
そのようにすれば、コア42にコイル41を組み付ける際の組立性を向上させることができる。
また、図10(b)に示すように、第2のコア部42bのセンシングエリア101側の端面の隙間側(第1のコア部42a側)の辺42b1、または、第1のコア部42aのセンシングエリア101側の端面の隙間側(第2のコア部42b側)の辺42a1は、光導波路3の内部を光が伝播する方向と平行となっている。
そのようにすれば、均一な磁場を印加することができるので、センシングエリア101における磁性微粒子9の分布を均一化することができる。
また、光導波路3の内部を光が伝播する方向において、第1のコア部42a及び第2のコア部42bのセンシングエリア101側の端面の長さは、センシングエリア101の長さ以上となっている。
そのようにすれば、センシングエリア101全体に磁場を印加することができるので、センシングエリア101全体において磁性微粒子9の移動を行うことができる。
The core 42 includes a first core portion 42a provided with the coil 41, a second core portion 42b provided outside the coil 41, one end portion of the first core portion 42a, and a second core portion 42b. A connecting portion 42c for magnetically connecting the one end of the second portion. In the magnetic field application unit 40 illustrated in FIG. 10, two second core portions 42 b are provided at symmetrical positions with the first core portion 42 a interposed therebetween.
In this case, the first core part 42a, the second core part 42b, and the connection part 42c can be separated.
By doing so, it is possible to improve the assemblability when the coil 41 is assembled to the core 42.
Further, as shown in FIG. 10B, the side 42b1 on the gap side (first core part 42a side) of the end surface of the second core part 42b on the sensing area 101 side, or the first core part 42a. A side 42 a 1 on the gap side (second core portion 42 b side) of the end surface on the sensing area 101 side is parallel to the direction in which light propagates inside the optical waveguide 3.
By doing so, since a uniform magnetic field can be applied, the distribution of the magnetic fine particles 9 in the sensing area 101 can be made uniform.
In addition, in the direction in which light propagates inside the optical waveguide 3, the lengths of the end surfaces on the sensing area 101 side of the first core portion 42 a and the second core portion 42 b are equal to or greater than the length of the sensing area 101. Yes.
By doing so, since the magnetic field can be applied to the entire sensing area 101, the magnetic fine particles 9 can be moved in the entire sensing area 101.

また、第1のコア部42aのセンシングエリア101側の端面と、第2のコア部42bのセンシングエリア101側の端面と、は平坦面となっている。
センシングエリア101側の端面を平坦面とすれば、第1のコア部42aとセンシングエリア101との間の距離、第2のコア部42bとセンシングエリア101との間の距離を縮めることができる。
また、図示は省略するが、第1のコア部42aと第2のコア部42bは、センシングエリア101に近づくにつれ断面積が小さくなる形態を有したものとすることができる。
すなわち、第1のコア部42aと第2のコア部42bは、先端側が細くなる形態を有したものとすることができる。
そのようにすれば、磁束を集中させることができるので、強い磁界を印加することができる。
また、図示は省略するが、第2のコア部42bは、センシングエリア101側の端部が互いに近接する方向に傾斜した形態を有したものとすることができる。
そのようにすれば、磁場の生成を容易とすることができる。
The end surface on the sensing area 101 side of the first core portion 42a and the end surface on the sensing area 101 side of the second core portion 42b are flat surfaces.
If the end surface on the sensing area 101 side is a flat surface, the distance between the first core part 42a and the sensing area 101 and the distance between the second core part 42b and the sensing area 101 can be reduced.
Although not shown, the first core portion 42a and the second core portion 42b may have a configuration in which the cross-sectional area decreases as the sensing area 101 is approached.
That is, the 1st core part 42a and the 2nd core part 42b can have a form where the front end side becomes thin.
By doing so, since the magnetic flux can be concentrated, a strong magnetic field can be applied.
Moreover, although illustration is abbreviate | omitted, the 2nd core part 42b can have the form which inclined in the direction in which the edge part by the side of the sensing area 101 adjoins mutually.
By doing so, the generation of the magnetic field can be facilitated.

コア42は、炭素鋼よりも残留磁化が小さい材料から形成することができる。
例えば、コア42は、純鉄などから形成することができる。
コア42の材料をこの様にすれば、制御部20などにより磁場の印加を停止した際にコア42の残留磁場が前述した磁性微粒子9の移動に与える影響を抑制することができる。 コア42は、絶縁被覆した厚みが薄く磁性を有する板(例えば、珪素鋼板など)を磁場と平行な方向に積層した構造を有するものとすることができる。
薄板状のコア42は、プレス加工を用いて、容易、かつ高速に加工することができる。さらに、加圧と同時に積層する場合に、コア42の一部を厚み方向に突起させておくことで、積層されたコア42を連結固定することができる。そのため、加工工数の低減を図ることができる。
また、コア42内の磁束は平面方向に流れやすく、厚み方向に流れにくいという磁束の流れ方向に異方性を有している。そのため、積層方向を光導波路3の内部を光が伝播する方向と平行とすれば、センシングエリア外への磁束の漏れが少なくなるので、より少ない電磁力で所望の磁場を発生させることができる。その結果、光導波路型測定システムの効率を向上させることができる。
コア42は、絶縁被覆した磁性を有する粉末(例えば、カーボニル鉄などの強磁性体からなる微細な粉末など)を加圧成型した構造を有するものとすることもできる。
コア42の構造をこれらのようにすれば、渦電流損を低減させることができる。
図10においては、第1のコア部42aにコイル41を設けるようにしたがこれに限定されるわけではない。例えば、第2のコア部42bにコイル41を設けるようにしても良いし、第1のコア部42aと第2のコア部42bとにコイル41を設けるようにしても良い。また、接続部42cにコイル41を設けても良い。
また、図10中の右側の第2のコア部42bと、図10中の左側の第2のコア部42bとに、コイル41を別々に設けても良い。このとき、右側のみのコイルに通電すること、左側のコイルのみに通電すること、さらには左右のコイルに同時に通電すること、のいずれもができるように、通電電流をそれぞれ独立に制御してもよい。そのようにすれば、上下左右方向における磁性微粒子9の移動を制御することができる。そのため、磁性微粒子9と測定対象物質14とを接触させる機会を増やすことができるので、検出精度の向上を図ることができる。
The core 42 can be formed from a material having a smaller residual magnetization than carbon steel.
For example, the core 42 can be formed from pure iron or the like.
By making the material of the core 42 in this way, it is possible to suppress the influence of the residual magnetic field of the core 42 on the movement of the magnetic fine particles 9 described above when the application of the magnetic field is stopped by the control unit 20 or the like. The core 42 may have a structure in which an insulating coated thin magnetic plate (for example, a silicon steel plate) is laminated in a direction parallel to the magnetic field.
The thin plate-like core 42 can be processed easily and at high speed using press processing. Furthermore, when laminating simultaneously with pressurization, the laminated cores 42 can be connected and fixed by projecting a part of the cores 42 in the thickness direction. Therefore, the number of processing steps can be reduced.
Further, the magnetic flux in the core 42 has anisotropy in the flow direction of the magnetic flux, which is easy to flow in the plane direction and difficult to flow in the thickness direction. Therefore, if the stacking direction is parallel to the direction in which light propagates inside the optical waveguide 3, leakage of magnetic flux outside the sensing area is reduced, so that a desired magnetic field can be generated with less electromagnetic force. As a result, the efficiency of the optical waveguide type measurement system can be improved.
The core 42 may have a structure in which an insulating coated magnetic powder (for example, a fine powder made of a ferromagnetic material such as carbonyl iron) is pressure-molded.
If the structure of the core 42 is as described above, eddy current loss can be reduced.
In FIG. 10, the coil 41 is provided in the first core portion 42a, but the present invention is not limited to this. For example, the coil 41 may be provided in the second core part 42b, or the coil 41 may be provided in the first core part 42a and the second core part 42b. Moreover, you may provide the coil 41 in the connection part 42c.
Further, the coils 41 may be separately provided on the second core part 42b on the right side in FIG. 10 and the second core part 42b on the left side in FIG. At this time, the energization current can be controlled independently so that only the right side coil can be energized, only the left side coil can be energized, and the left and right coils can be energized simultaneously. Good. By doing so, the movement of the magnetic fine particles 9 in the vertical and horizontal directions can be controlled. For this reason, the chance of bringing the magnetic fine particles 9 and the measurement target substance 14 into contact with each other can be increased, so that the detection accuracy can be improved.

次に、他の実施形態に係る磁場印加部について例示をする。
図11は、磁場印加部の構成を例示するための模式図である。
図11(a)は磁場印加部の構成を例示するための模式図、図11(b)は図11(a)におけるB−B矢視図、図11(c)は模式斜視図である。
なお、図11に例示をする磁場印加部50は、前述した第1の磁場印加部10および磁場印加部11のいずれにも用いることができる。
図11に示すように、磁場印加部50にはコイル41、コア52が設けられている。
コイル41は、前述したものと同様のため説明は省略する。
Next, a magnetic field application unit according to another embodiment is illustrated.
FIG. 11 is a schematic diagram for illustrating the configuration of the magnetic field application unit.
11A is a schematic diagram for illustrating the configuration of the magnetic field application unit, FIG. 11B is a view taken along the line BB in FIG. 11A, and FIG. 11C is a schematic perspective view.
Note that the magnetic field application unit 50 illustrated in FIG. 11 can be used for both the first magnetic field application unit 10 and the magnetic field application unit 11 described above.
As shown in FIG. 11, the magnetic field application unit 50 is provided with a coil 41 and a core 52.
The coil 41 is the same as that described above, and a description thereof will be omitted.

コア52は、コイル41が設けられる2つのコア部52aと、コア部52aの一方の端部同士を磁気的に接続する接続部52cと、を有する。
この場合、コア部52a、接続部52cが分離できるようにすることもできる。
そのようにすれば、コア52にコイル41を組み付ける際の組立性を向上させることができる。
また、図11(b)に示すように、コア部52aのセンシングエリア101側の端面の隙間側の辺52a1は、光導波路3の内部を光が伝播する方向と平行となっている。
そのようにすれば、均一な磁場を印加することができるので、センシングエリア101における磁性微粒子9の分布を均一化することができる。
また、光導波路3の内部を光が伝播する方向において、コア部52aのセンシングエリア101側の端面の長さは、センシングエリア101の長さ以上となっている。
そのようにすれば、センシングエリア101全体に磁場を印加することができるので、センシングエリア101全体において磁性微粒子9の移動を行うことができる。
The core 52 includes two core portions 52a where the coil 41 is provided, and a connection portion 52c that magnetically connects one end portions of the core portion 52a.
In this case, the core portion 52a and the connection portion 52c can be separated.
By doing so, it is possible to improve the assemblability when the coil 41 is assembled to the core 52.
Further, as shown in FIG. 11B, the gap side 52 a 1 on the end surface of the core portion 52 a on the sensing area 101 side is parallel to the direction in which light propagates inside the optical waveguide 3.
By doing so, since a uniform magnetic field can be applied, the distribution of the magnetic fine particles 9 in the sensing area 101 can be made uniform.
In addition, the length of the end surface on the sensing area 101 side of the core portion 52 a is greater than or equal to the length of the sensing area 101 in the direction in which light propagates inside the optical waveguide 3.
By doing so, since the magnetic field can be applied to the entire sensing area 101, the magnetic fine particles 9 can be moved in the entire sensing area 101.

また、コア部52aのセンシングエリア101側の端面は平坦面となっている。
センシングエリア101側の端面を平坦面とすれば、コア部52aとセンシングエリア101との間の距離を縮めることができる。
また、図示は省略するが、コア部52aは、センシングエリア101に近づくにつれ断面積が小さくなる形態を有したものとすることができる。
すなわち、コア部52aは、先端側が細くなる形態を有したものとすることができる。 そのようにすれば、磁束を集中させることができるので、強い磁場を印加することができる。
また、コア部52aは、センシングエリア101側の端部が互いに近接する方向に傾斜した形態を有したものとすることができる。
そのようにすれば、磁場の生成を容易とすることができる。
また、センシングエリア101側の端部同士の間の隙間に、非磁性(例えば、樹脂や銅など)の図示しないスペーサを設けることもできる。そのようにすれば、隙間の寸法管理が容易となる。また、コア52に磁場が印加されたとき、隙間が小さくなる方向に磁気吸引力が働くが、スペーサを設けることで、隙間寸法を維持することができる。そのため、センシングエリア内の磁束分布が変化することを抑制することができる。
The end surface of the core portion 52a on the sensing area 101 side is a flat surface.
If the end surface on the sensing area 101 side is a flat surface, the distance between the core portion 52a and the sensing area 101 can be reduced.
Although not shown, the core portion 52a may have a configuration in which the cross-sectional area decreases as the sensing area 101 is approached.
That is, the core part 52a can have a form in which the tip end side is narrowed. By doing so, since the magnetic flux can be concentrated, a strong magnetic field can be applied.
Moreover, the core part 52a shall have the form which inclined in the direction in which the edge part by the side of the sensing area 101 adjoins mutually.
By doing so, the generation of the magnetic field can be facilitated.
In addition, a non-magnetic spacer (not shown) such as resin or copper can be provided in the gap between the ends on the sensing area 101 side. By doing so, it becomes easy to manage the size of the gap. Further, when a magnetic field is applied to the core 52, a magnetic attractive force acts in a direction in which the gap becomes smaller. However, by providing a spacer, the gap size can be maintained. Therefore, it is possible to suppress a change in the magnetic flux distribution in the sensing area.

コア52の材料や構成は、前述したコア42と同様とすることができる。
例えば、コア52は、純鉄などの炭素鋼よりも残留磁化が小さい材料から形成することができる。
コア52の材料をこの様にすれば、制御部20などにより磁場の印加を停止した際にコア52の残留磁場が前述した磁性微粒子9の移動に与える影響を抑制することができる。 図11においては、2つのコア部52aにコイル41を設けるようにしたがこれに限定されるわけではない。例えば、一方のコア部52aにコイル41を設けるようにしても良いし、接続部52cにコイル41を設けるようにしても良い。
この場合、2つのコア部52aにコイル41をそれぞれ設けるようにすれば、磁場印加部50の高さ寸法を低く抑えることができる。また、一方のコア部52cにコイル41を1つ設けるようにすれば、コイル41の数が少なくて済むので、部品点数の削減に加え、巻線工数、組立工数の削減を図ることができる。
The material and configuration of the core 52 can be the same as those of the core 42 described above.
For example, the core 52 can be formed of a material having a smaller residual magnetization than carbon steel such as pure iron.
If the material of the core 52 is made in this way, the influence of the residual magnetic field of the core 52 on the movement of the magnetic fine particles 9 described above when the application of the magnetic field is stopped by the control unit 20 or the like can be suppressed. In FIG. 11, the coils 41 are provided in the two core portions 52a, but the present invention is not limited to this. For example, the coil 41 may be provided in one core part 52a, or the coil 41 may be provided in the connection part 52c.
In this case, if the coils 41 are provided in the two core portions 52a, the height of the magnetic field application unit 50 can be kept low. Further, if one coil 41 is provided in one core portion 52c, the number of coils 41 can be reduced, so that the number of winding steps and the number of assembly steps can be reduced in addition to the reduction in the number of components.

次に、磁場印加部の作用、効果についてさらに例示をする。
図12は、磁場印加部の作用、効果を例示するためのグラフ図である。
図12は、一例として、図1に示す光導波路型測定システム30における磁場印加部10の作用、効果を例示するためのグラフ図である。
図12(a)は、磁場印加部10によりノイズとなりうる磁性微粒子9を除去する工程を有する場合、図12(b)は、磁場印加部10により磁性微粒子9の分散液と検体溶液とを攪拌する工程をさらに有する場合である。
図12(a)に示すように、磁性微粒子9の分散液と検体溶液とを混合しセンシングエリア101に導入すると、磁性微粒子9の沈降によるセンシングエリア101近傍の微粒子密度上昇に応じて検出信号強度比が低下する。その後、磁場印加部10により上部磁場を印加すると、センシングエリア101に吸着したノイズとなりうる磁性微粒子9が除去されるので、再び検出信号強度比が上昇し、初期の検出信号強度比より低い値で飽和する。
Next, the operation and effect of the magnetic field application unit will be further illustrated.
FIG. 12 is a graph for illustrating the operation and effect of the magnetic field application unit.
FIG. 12 is a graph for illustrating the operation and effect of the magnetic field application unit 10 in the optical waveguide measurement system 30 shown in FIG. 1 as an example.
FIG. 12A shows a step of removing magnetic fine particles 9 that may become noise by the magnetic field application unit 10, and FIG. 12B agitates the dispersion of the magnetic fine particles 9 and the sample solution by the magnetic field application unit 10. In this case, the method further includes the step of:
As shown in FIG. 12A, when the dispersion of magnetic fine particles 9 and the sample solution are mixed and introduced into the sensing area 101, the detection signal intensity is increased in accordance with the increase in fine particle density in the vicinity of the sensing area 101 due to sedimentation of the magnetic fine particles 9. The ratio decreases. After that, when the upper magnetic field is applied by the magnetic field application unit 10, the magnetic fine particles 9 that can become noise adsorbed to the sensing area 101 are removed, so that the detection signal intensity ratio rises again and is lower than the initial detection signal intensity ratio. Saturates.

これに対して、図12(b)に示すように、磁性微粒子9の分散液と検体溶液とを混合しセンシングエリア101に導入した後に、磁場印加部10により上部磁場をパルス状に印加する。例えば、磁場印加部10により上部磁場を10秒毎に印加する。その後、磁性微粒子9を沈降させるとセンシングエリア101近傍の微粒子密度上昇に応じて検出信号強度比が低下する。次に、磁場印加部10により上部磁場を印加すると、センシングエリア101に吸着したノイズとなりうる磁性微粒子9が除去されるので、再び検出信号強度比が上昇し、初期の検出信号強度比より低い値で飽和する。
ここで、図12(b)に示すものの場合には、ノイズとなりうる磁性微粒子9を除去した後の検出信号強度比が図12(a)の場合と比べて低くなる。すなわち、図12(b)の場合の方が測定対象物質14を介してセンシングエリア101に結合された磁性微粒子9の量が多くなる。
On the other hand, as shown in FIG. 12 (b), after the dispersion of the magnetic fine particles 9 and the sample solution are mixed and introduced into the sensing area 101, the upper magnetic field is applied in a pulse form by the magnetic field application unit 10. For example, the upper magnetic field is applied every 10 seconds by the magnetic field application unit 10. Thereafter, when the magnetic fine particles 9 are allowed to settle, the detection signal intensity ratio decreases as the fine particle density in the vicinity of the sensing area 101 increases. Next, when the upper magnetic field is applied by the magnetic field application unit 10, the magnetic fine particles 9 that can become noise adsorbed to the sensing area 101 are removed, so that the detection signal intensity ratio rises again and is lower than the initial detection signal intensity ratio. Saturates at.
Here, in the case shown in FIG. 12B, the detection signal intensity ratio after removing the magnetic fine particles 9 that may be noise is lower than in the case of FIG. That is, in the case of FIG. 12B, the amount of the magnetic fine particles 9 bonded to the sensing area 101 via the measurement target substance 14 is increased.

磁場印加部10により上部磁場をパルス状に印加すれば、磁性微粒子9と検体溶液とを攪拌することができる。そのため、磁性微粒子9の微粒子12に固定化された第2物質13と測定対象物質14との反応率が高められ、測定対象物質14を介してセンシングエリア101に結合される磁性微粒子9の量が増加したためであると考えられる。
磁性微粒子9の微粒子12に固定化された第2物質13と測定対象物質14との反応率を高めることができれば、測定対象物質14の検出感度をより高精度に向上させることができる。
なお、一例として、上部磁場を印加する場合を例示したがこれに限定されるわけではない。磁性微粒子9をセンシングエリア101から離れる方向に移動させるための磁場印加に適用することができる。例えば、図8に示すものの場合には、下部磁場をパルス状に印加すればよい。
また、印加のタイミングをずらして、上部磁場と下部磁場とをパルス状に印加してもよい。そのようにすれば、磁性微粒子9と検体溶液とをさらによく攪拌することができる。
When the upper magnetic field is applied in a pulse form by the magnetic field application unit 10, the magnetic fine particles 9 and the sample solution can be stirred. Therefore, the reaction rate between the second substance 13 immobilized on the fine particles 12 of the magnetic fine particles 9 and the measurement target substance 14 is increased, and the amount of the magnetic fine particles 9 coupled to the sensing area 101 via the measurement target substance 14 is increased. This is thought to be due to the increase.
If the reaction rate between the second substance 13 immobilized on the fine particles 12 of the magnetic fine particles 9 and the measurement target substance 14 can be increased, the detection sensitivity of the measurement target substance 14 can be improved with higher accuracy.
In addition, although the case where the upper magnetic field was applied was illustrated as an example, it is not necessarily limited to this. The present invention can be applied to magnetic field application for moving the magnetic fine particles 9 away from the sensing area 101. For example, in the case shown in FIG. 8, the lower magnetic field may be applied in a pulse shape.
Further, the upper magnetic field and the lower magnetic field may be applied in a pulse shape by shifting the application timing. By doing so, the magnetic fine particles 9 and the sample solution can be further agitated.

図13は、磁場印加部の作用、効果を例示するためのグラフ図である。
図13は、一例として、図6に示す光導波路型測定システム30aにおける磁場印加部10、11の作用、効果を例示するためのグラフ図である。
図13(a)は、磁場印加部10による上部磁場の印加のみを行う場合、図13(b)、(c)は、磁場印加部11による下部磁場の印加と、磁場印加部10による上部磁場の印加とを組み合わせて行う場合である。
図13(a)に示すものの場合には、磁性微粒子9の分散液と検体溶液とを混合し反応空間102に導入した後、磁性微粒子9を自然沈降させるようにしている。そして、検出信号強度比が所定の値にまで低下した後に上部磁場を印加しセンシングエリア101に吸着したノイズとなりうる磁性微粒子9を除去するようにしている。
FIG. 13 is a graph for illustrating the operation and effect of the magnetic field application unit.
FIG. 13 is a graph for illustrating the operation and effect of the magnetic field application units 10 and 11 in the optical waveguide measurement system 30a shown in FIG. 6 as an example.
13A shows the case where only the upper magnetic field is applied by the magnetic field application unit 10, and FIGS. 13B and 13C show the application of the lower magnetic field by the magnetic field application unit 11 and the upper magnetic field by the magnetic field application unit 10. Is applied in combination with the application of.
In the case shown in FIG. 13A, after the dispersion of magnetic fine particles 9 and the sample solution are mixed and introduced into the reaction space 102, the magnetic fine particles 9 are allowed to naturally settle. Then, after the detection signal intensity ratio is reduced to a predetermined value, an upper magnetic field is applied to remove magnetic fine particles 9 that may become noise adsorbed to the sensing area 101.

図13(b)、(c)に示すものの場合には、磁性微粒子9の分散液と検体溶液とを混合し反応空間102に導入した後、下部磁場を印加して磁性微粒子9をセンシングエリア101に近づける方向に移動させる。その後、下部磁場の印加を停止させ磁性微粒子9を自然沈降させるようにしている。そして、検出信号強度比が所定の値にまで低下した後に上部磁場を印加しセンシングエリア101に吸着したノイズとなりうる磁性微粒子9を除去するようにしている。
図13(a)〜(c)から分かるように、下部磁場を印加して磁性微粒子9をセンシングエリア101に近づける方向に移動させるようにすれば、上部磁場を印加することができるようになるまでの時間を短縮することができる。そのため、測定時間の短縮を図ることができる。
図14は、検体溶液中の測定対象物質を測定する方法を示す工程図である。
図14(a)〜(d)は、測定システム30aを用いて測定対象物質14の濃度を測定する方法を例示するものである。
図14(a)〜(d)においては、煩雑となるのを避けるために反応空間102における状態を表すものとする。
また、図14(a)は前述した図7(a)と同様であり、図14(c)は前述した図7(b)と同様であり、図14(d)は前述した図7(c)と同様である。そのため、図14(a)、(c)、(d)に関する説明は省略する。
図14(b−1)は、磁場印加部11による下部磁場印加を行わない場合である。そのため、検体溶液中の磁性微粒子9は重力によってセンシングエリア101に向けて沈降(自然沈降)していく。
図14(b−2)は、磁場印加部11により磁性微粒子9から見て沈降方向(光導波路3の方向、例えば、図14における下方向)において下部磁場印加を行う。これにより、磁性微粒子9は、重力による自然沈降と、下部磁場印加による吸引とによりセンシングエリア101に引き寄せられる。しかし、図14(b−2)に示すように、この状態では磁性微粒子9の多くは磁力線に沿って引き止められるため、第1物質6との結合反応が進行しない。そこで、図14(c)に示すように、外部磁場を一旦ゼロにして自然拡散によって反応を進行させる必要がある。
図14(b−1)、(b−2)においてセンシングエリア101に向けて沈降した磁性微粒子9の一部は、センシングエリア101に結合される。
In the case shown in FIGS. 13B and 13C, the dispersion of the magnetic fine particles 9 and the sample solution are mixed and introduced into the reaction space 102, and then the lower magnetic field is applied to place the magnetic fine particles 9 in the sensing area 101. Move it closer to Thereafter, the application of the lower magnetic field is stopped, and the magnetic fine particles 9 are allowed to settle naturally. Then, after the detection signal intensity ratio is reduced to a predetermined value, an upper magnetic field is applied to remove magnetic fine particles 9 that may become noise adsorbed to the sensing area 101.
As can be seen from FIGS. 13A to 13C, when the lower magnetic field is applied and the magnetic fine particles 9 are moved in the direction approaching the sensing area 101, the upper magnetic field can be applied. Can be shortened. Therefore, the measurement time can be shortened.
FIG. 14 is a process diagram showing a method for measuring a substance to be measured in a sample solution.
14A to 14D illustrate a method of measuring the concentration of the measurement target substance 14 using the measurement system 30a.
14A to 14D, the state in the reaction space 102 is represented in order to avoid complication.
14 (a) is the same as FIG. 7 (a), FIG. 14 (c) is the same as FIG. 7 (b), and FIG. 14 (d) is the same as FIG. 7 (c). ). Therefore, the description regarding FIG. 14 (a), (c), (d) is abbreviate | omitted.
FIG. 14B-1 shows a case where the lower magnetic field application by the magnetic field application unit 11 is not performed. Therefore, the magnetic fine particles 9 in the sample solution are settled (natural sedimentation) toward the sensing area 101 by gravity.
14B-2, the magnetic field application unit 11 applies the lower magnetic field in the settling direction (the direction of the optical waveguide 3, for example, the lower direction in FIG. 14) when viewed from the magnetic fine particles 9. Thereby, the magnetic fine particles 9 are attracted to the sensing area 101 by natural sedimentation due to gravity and attraction by applying a lower magnetic field. However, as shown in FIG. 14B-2, in this state, most of the magnetic fine particles 9 are retained along the lines of magnetic force, so that the binding reaction with the first substance 6 does not proceed. Therefore, as shown in FIG. 14 (c), it is necessary to make the external magnetic field zero once and to proceed the reaction by natural diffusion.
14B and 14B, a part of the magnetic fine particles 9 that have settled toward the sensing area 101 is coupled to the sensing area 101.

なお、一例として、図6に示す光導波路型測定システム30aにおける場合を例示したがこれに限定されるわけではない。例えば、図8に示す光導波路型測定システム30bの場合には、磁場印加部10により下部磁場を印加することで、自然沈降させる場合と比べて、センシングエリア101に吸着したノイズとなりうる磁性微粒子9を短時間で除去することができる。そのため、測定時間の短縮を図ることができるようになる。
図12、図13に例示をした磁場の印加の制御は、前述した制御部20、20a、20bにより行うようにすることができる。
As an example, the case of the optical waveguide type measurement system 30a shown in FIG. 6 is illustrated, but the present invention is not limited to this. For example, in the case of the optical waveguide type measurement system 30b shown in FIG. 8, the magnetic fine particles 9 that can become noise adsorbed on the sensing area 101 by applying the lower magnetic field by the magnetic field applying unit 10 and compared with the case of natural sedimentation. Can be removed in a short time. Therefore, the measurement time can be shortened.
The application of the magnetic field illustrated in FIGS. 12 and 13 can be controlled by the control units 20, 20a, and 20b described above.

以上、本発明のいくつかの実施形態を例示したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更などを行うことができる。これら実施形態やその変形例は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。また、前述の各実施形態は、相互に組み合わせて実施することができる。   As mentioned above, although several embodiment of this invention was illustrated, these embodiment is shown as an example and is not intending limiting the range of invention. These novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, changes, and the like can be made without departing from the spirit of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention, and are included in the invention described in the claims and equivalents thereof. Further, the above-described embodiments can be implemented in combination with each other.

1:基板、2a:グレーティング、2b:グレーティング、3:光導波路、4:保護膜、5:枠、6:第1物質、7:光源、8:受光素子、9:磁性微粒子、10:磁場印加部、11:磁場印加部、12:微粒子、13:第2物質、14:測定対象物質、15:キャップ、17:夾雑物質、20:制御部、20a:制御部、20b:制御部、20b1:制御部、20b2:制御部、30:光導波路型測定システム、30a:光導波路型測定システム、30b:光導波路型測定システム、40:磁化印加部、41:コイル、42:コア、42a:第1のコア部、42b:第2のコア部、42c:接続部、50:磁化印加部、52:コア、52a:コア部、52c:接続部、100:光導波路型センサチップ、101:センシングエリア、102:反応空間、102a:反応空間 1: substrate, 2a: grating, 2b: grating, 3: optical waveguide, 4: protective film, 5: frame, 6: first material, 7: light source, 8: light receiving element, 9: magnetic fine particles, 10: magnetic field application Part: 11: magnetic field application part, 12: fine particles, 13: second substance, 14: substance to be measured, 15: cap, 17: contaminant substance, 20: control part, 20a: control part, 20b: control part, 20b1: Control unit, 20b2: control unit, 30: optical waveguide type measurement system, 30a: optical waveguide type measurement system, 30b: optical waveguide type measurement system, 40: magnetization applying unit, 41: coil, 42: core, 42a: first Core part, 42b: second core part, 42c: connection part, 50: magnetization application part, 52: core, 52a: core part, 52c: connection part, 100: optical waveguide sensor chip, 101: sensing area, 102 Reaction space, 102a: reaction space

Claims (25)

測定対象物質と特異的に結合する第1物質が固定化されたセンシングエリアを有する光導波路と、
前記測定対象物質と特異的に結合する第2物質が固定化され、粒径が0.2μm以上、20μm以下であり、第1のコアと、前記第1のコアを覆うように設けられ、磁性ナノ微粒子を含み、前記第1のコアの屈折率よりも高い屈折率を有するシェルと、を有する磁性微粒子と、
前記磁性微粒子を移動させる磁場を生成する磁場印加部と、
前記光導波路に光を入射させる光源と、
前記光導波路から出射される光を受光する受光素子と、
を備える光導波路型測定システム。
An optical waveguide having a sensing area in which a first substance that specifically binds to a measurement target substance is immobilized;
A second substance that specifically binds to the substance to be measured is immobilized, has a particle size of 0.2 μm or more and 20 μm or less, is provided to cover the first core and the first core, and is magnetic A magnetic fine particle comprising a nanoparticle and a shell having a refractive index higher than that of the first core;
A magnetic field application unit for generating a magnetic field for moving the magnetic fine particles;
A light source for making light incident on the optical waveguide;
A light receiving element for receiving light emitted from the optical waveguide;
An optical waveguide type measurement system comprising:
前記磁場印加部は第1の磁場印加部を有し、
前記第1の磁磁場印加部は、前記磁性微粒子を前記光導波路から離れる方向に移動させる磁場を印加する請求項1に記載の光導波路型測定システム。
The magnetic field application unit has a first magnetic field application unit,
2. The optical waveguide measurement system according to claim 1, wherein the first magnetic field application unit applies a magnetic field that moves the magnetic fine particles in a direction away from the optical waveguide.
前記第1の磁場印加部は、前記磁性微粒子が前記センシングエリアから以下の式を満足する距離だけ離れるような磁場強度を有する磁場を印加する請求項2に記載の光導波路型測定システム。
L>λ/{2π(n sinθ−n )1/2}
ここで、Lは前記磁性微粒子が前記センシングエリアから離れる距離、λは測定に用いる光の波長、nは前記光導波路の屈折率、nは前記磁性微粒子を分散させる分散媒の屈折率、θは全反射角である。
3. The optical waveguide type measurement system according to claim 2, wherein the first magnetic field application unit applies a magnetic field having a magnetic field intensity such that the magnetic fine particles are separated from the sensing area by a distance satisfying the following expression.
L> λ / {2π (n 1 2 sin 2 θ−n 2 2 ) 1/2 }
Here, L is the distance that the magnetic fine particles are separated from the sensing area, λ is the wavelength of light used for measurement, n 1 is the refractive index of the optical waveguide, n 2 is the refractive index of the dispersion medium that disperses the magnetic fine particles, θ is the total reflection angle.
前記磁場印加部は第2の磁場印加部を有し、
前記第2の磁場印加部は、前記磁性微粒子を前記光導波路に近づける方向に移動させる磁場を印加する請求項1乃至請求項3のいずれか1つに記載の光導波路型測定システム。
The magnetic field application unit has a second magnetic field application unit,
4. The optical waveguide type measurement system according to claim 1, wherein the second magnetic field application unit applies a magnetic field that moves the magnetic fine particles in a direction approaching the optical waveguide. 5.
前記第1の磁場印加部と前記第2の磁場印加部は、交互に磁場を印加する請求項4に記載の光導波路型測定システム。   The optical waveguide type measurement system according to claim 4, wherein the first magnetic field application unit and the second magnetic field application unit alternately apply a magnetic field. 前記磁場印加部は電磁石を有する請求項1乃至請求項5のいずれか1つに記載の光導波路型測定システム。   The optical waveguide measurement system according to claim 1, wherein the magnetic field application unit includes an electromagnet. 前記磁場印加部にて磁場を印加するタイミング及び時間の長さの少なくともいずれかを制御する第1の制御部をさらに備える請求項1乃至請求項6のいずれか1つに記載の光導波路型測定システム。   The optical waveguide type measurement according to any one of claims 1 to 6, further comprising a first control unit that controls at least one of a timing and a length of time for applying a magnetic field in the magnetic field application unit. system. 前記磁場印加部にて印加する磁場の磁場強度を制御する第2の制御部をさらに備える請求項1乃至請求項7のいずれか1つに記載の光導波路型測定システム。   The optical waveguide type measurement system according to any one of claims 1 to 7, further comprising a second control unit that controls a magnetic field strength of a magnetic field applied by the magnetic field application unit. 前記磁性ナノ微粒子は、超常磁性を有する請求項1乃至請求項8のいずれか1つに記載の光導波路型測定システム。   The optical waveguide measurement system according to claim 1, wherein the magnetic nanoparticle has superparamagnetism. 前記磁性微粒子は、正又は負の電荷を有する請求項1乃至請求項のいずれか1つに記載の光導波路型測定システム。 The magnetic fine particles, an optical waveguide type measuring system according to any one of claims 1 to 9 having a positive or negative charge. 前記磁性微粒子は、界面活性剤が添加されている請求項1乃至請求項10のいずれか1つに記載の光導波路型測定システム。 The optical waveguide type measurement system according to any one of claims 1 to 10 , wherein a surfactant is added to the magnetic fine particles. 前記磁場印加部は、第2のコアと、前記第2のコアに設けられるコイルと、を備える請求項1乃至請求項5のいずれか1つに記載の光導波路型測定システム。   6. The optical waveguide measurement system according to claim 1, wherein the magnetic field application unit includes a second core and a coil provided in the second core. 7. 前記第2のコアは、複数のコア部と、前記複数のコア部の前記センシングエリア側の端部とは反対側の端部同士を磁気的に接続する接続部と、を有し、
前記複数のコア部の前記センシングエリア側の端面同士の間には隙間が設けられている請求項12記載の光導波路型測定システム。
The second core includes a plurality of core portions, and a connection portion that magnetically connects ends of the plurality of core portions opposite to the sensing area side ends,
The optical waveguide type measurement system according to claim 12 , wherein a gap is provided between end faces on the sensing area side of the plurality of core portions.
前記センシングエリア側の端面の前記隙間側の辺は、前記光導波路の内部を光が伝播する方向と平行となっている請求項13記載の光導波路型測定システム。 The optical waveguide type measurement system according to claim 13 , wherein the side on the gap side of the end surface on the sensing area side is parallel to a direction in which light propagates inside the optical waveguide. 前記光導波路の内部を光が伝播する方向において、前記複数のコア部の前記センシングエリア側の端面の長さは、前記センシングエリアの長さ以上である請求項13または14に記載の光導波路型測定システム。 The optical waveguide type according to claim 13 or 14 , wherein, in a direction in which light propagates inside the optical waveguide, a length of an end surface on the sensing area side of the plurality of core portions is not less than a length of the sensing area. Measuring system. 前記複数のコア部の前記センシングエリア側の端部は、互いに近接する方向に傾斜している請求項13乃至請求項15のいずれか1つに記載の光導波路型測定システム。 The optical waveguide type measurement system according to any one of claims 13 to 15 , wherein end portions of the plurality of core portions on the sensing area side are inclined in directions close to each other. 前記複数のコア部は、前記センシングエリアに近づくにつれ断面積が小さくなる形態を有する請求項13乃至請求項16のいずれか1つに記載の光導波路型測定システム。 The optical waveguide measurement system according to any one of claims 13 to 16 , wherein the plurality of core portions have a form in which a cross-sectional area decreases as the sensing area is approached. 前記複数のコア部の前記センシングエリア側の端面は平坦面である請求項13乃至請求項17のいずれか1つに記載の光導波路型測定システム。 The optical waveguide measurement system according to any one of claims 13 to 17 , wherein end surfaces of the plurality of core portions on the sensing area side are flat surfaces. 前記第2のコアは、絶縁被覆をした磁性を有する板を磁場と平行な方向に積層した構造、または、絶縁被覆した磁性を有する粉末を加圧成型した構造を有する請求項12乃至請求項18のいずれか1つに記載の光導波路型測定システム。 The second core structure and the plate having magnetism and an insulating coating is laminated on the magnetic field in a direction parallel, or claims 12 to claim 18 having a structure in which the powder was pressure-molded with magnetic insulated cover The optical waveguide type measurement system according to any one of the above. 前記複数のコア部と、前記接続部と、は分離可能である請求項13乃至請求項19のいずれか1つに記載の光導波路型測定システム。 The optical waveguide measurement system according to any one of claims 13 to 19 , wherein the plurality of core portions and the connection portion are separable. 前記第2のコアは、炭素鋼よりも残留磁化が小さい材料を含む請求項12乃至請求項20のいずれか1つに記載の光導波路型測定システム。 The optical waveguide measurement system according to any one of claims 12 to 20 , wherein the second core includes a material having a remanent magnetization smaller than that of carbon steel. 前記第1の制御部は、前記磁場印加部を制御して、パルス状に磁場を印加する請求項7乃至請求項21のいずれか1つに記載の光導波路型測定システム。 The optical waveguide type measurement system according to any one of claims 7 to 21 , wherein the first control unit controls the magnetic field application unit to apply a magnetic field in a pulse shape. 前記第1の制御部は、前記磁性微粒子と検体溶液とを前記センシングエリアに導入した後、前記磁場印加部を制御して、前記磁性微粒子を前記光導波路に近づける方向に移動させる磁場を印加する請求項7乃至請求項22のいずれか1つに記載の光導波路型測定システム。 The first control unit, after introducing the magnetic microparticles and the sample solution into the sensing area, controls the magnetic field application unit to apply a magnetic field that moves the magnetic microparticles in a direction approaching the optical waveguide. The optical waveguide type measurement system according to any one of claims 7 to 22 . 測定対象物質と特異的に結合する第1物質が固定化されたセンシングエリアを有する光導波路と、
前記測定対象物質と特異的に結合する第2物質が固定化され、粒径が0.2μm以上、20μm以下であり、第1のコアと、前記第1のコアを覆うように設けられ、磁性ナノ微粒子を含み、前記第1のコアの屈折率よりも高い屈折率を有するシェルと、を有する磁性微粒子と、を備える光導波路型センサチップ。
An optical waveguide having a sensing area in which a first substance that specifically binds to a measurement target substance is immobilized;
A second substance that specifically binds to the substance to be measured is immobilized, has a particle size of 0.2 μm or more and 20 μm or less, is provided to cover the first core and the first core, and is magnetic An optical waveguide sensor chip comprising: magnetic fine particles including a nano particle and a shell having a refractive index higher than that of the first core.
測定対象物質を含む検体溶液と、前記測定対象物質と特異的に結合する第2物質が固定化され、粒径が0.2μm以上、20μm以下であり、第1のコアと、前記第1のコアを覆うように設けられ、磁性ナノ微粒子を含み、前記第1のコアの屈折率よりも高い屈折率を有するシェルと、を有する磁性微粒子と、を光導波路型センサチップに設けられ、前記測定対象物質と特異的に結合する第1物質が固定化されたセンシングエリアに接しさせる工程と、
前記光導波路型センサチップに磁場を印加する工程と、
前記磁場の印加前に、前記光導波路型センサチップから出射される光の光強度を第1の光強度として測定する工程と、
前記磁場の印加後に、前記光導波路型センサチップから出射される光の光強度を第2の光強度として測定する工程と、
前記第1の光強度と前記第2の光強度との差分に基づいて測定対象物質を定量する工程と、を備える測定方法。
The sample solution containing the measurement target substance and the second substance that specifically binds to the measurement target substance are immobilized, the particle size is 0.2 μm or more and 20 μm or less, the first core, and the first core A magnetic particle having a magnetic nanoparticle and a shell having a refractive index higher than the refractive index of the first core provided on the optical waveguide sensor chip. A step of bringing the first substance that specifically binds to the target substance into contact with the immobilized sensing area;
Applying a magnetic field to the optical waveguide sensor chip;
Measuring the light intensity of light emitted from the optical waveguide sensor chip as a first light intensity before application of the magnetic field;
Measuring the light intensity of light emitted from the optical waveguide sensor chip as the second light intensity after application of the magnetic field;
Measuring the substance to be measured based on a difference between the first light intensity and the second light intensity.
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