[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP5610892B2 - 素子収納用パッケージ、およびこれを備えた半導体装置 - Google Patents

素子収納用パッケージ、およびこれを備えた半導体装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5610892B2
JP5610892B2 JP2010165119A JP2010165119A JP5610892B2 JP 5610892 B2 JP5610892 B2 JP 5610892B2 JP 2010165119 A JP2010165119 A JP 2010165119A JP 2010165119 A JP2010165119 A JP 2010165119A JP 5610892 B2 JP5610892 B2 JP 5610892B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit board
conductor
conductor layer
shelf
storage package
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2010165119A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2012028521A (ja
Inventor
佐竹 猛夫
猛夫 佐竹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
Priority to JP2010165119A priority Critical patent/JP5610892B2/ja
Publication of JP2012028521A publication Critical patent/JP2012028521A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5610892B2 publication Critical patent/JP5610892B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item

Landscapes

  • Waveguides (AREA)

Description

本発明は、素子収納用パッケージ、およびこれを備えた半導体装置に関する。
素子収納用パッケージにおいて、同軸コネクタと接続される回路基板の上面に接地導体を形成し、回路基板を素子収納用パッケージの内側に設けた棚部に接合材を介して接合したものがある。このような素子収納用パッケージとしては、例えば、特許文献1に開示されている。
特開2004−48617号公報
しかしながら、上記素子収納用パッケージは、回路基板を伝送する電気信号が高周波化された場合、接地電位の形成が不十分となるため、中心導体を伝送する高周波信号に反射等の伝送損失が発生しやすく、高周波信号を効率良く伝送しにくいという問題があった。
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、高周波信号の伝送性を向上することができる素子収納用パッケージ、およびこれを備えた半導体装置に関する。
上記目的を達成するために本発明における素子収納用パッケージは、上側主面に半導体素子が載置される載置部を有する基体と、該基体の前記上側主面に前記載置部を取り囲むように設けられた、内外に貫通して形成された取付け部および内側の前記取付け部の下方の部位に設けられた棚部を有する枠体と、筒状の外周導体およびその中心軸に沿って設けられた中心導体ならびにそれらの間に設けられた絶縁体を有する、前記枠体の前記取付け部に取り付けられた同軸コネクタと、前記中心導体に電気的に接続される線路導体および該線路導体の両側に形成された第1の接地導体層が上面に設けられ、第2の接地導体層が下面に設けられた回路基板と、前記回路基板と前記棚部の上面とを接合する接合材とを備えており、前記回路基板は、上下に切り欠かれて成る、内面に前記第1の接地導体層および前記第2の接地導体層に電気的に接続された導体層が設けられた切欠き部を有しており、前記切欠き部を前記中心導体と直交する方向から側面視したときに、前記中心導体の一部が前記切欠き部の直上に位置しているとともに、前記回路基板の前記線路導体は、線路幅が変わる部分を有しており、前記切欠き部は前記部分を間に挟んで設けられていることを特徴とするものである。

また、上記目的を達成するために本発明における半導体装置は、本発明に係る素子収納用パッケージと、前記載置部に載置されて、前記同軸コネクタに電気的に接続された半導体素子と、前記枠体の上面に接合された蓋体とを備えたことを特徴とするものである。
本発明の素子収納用パッケージ、およびこれを備えた半導体装置は、高周波信号の伝送性を向上することができるという効果を奏する。
本実施形態に係る半導体装置の斜視図である。 図1に示す半導体装置をA−Aで切断したときの断面図である。 本実施形態の参考例に係る素子収納用パッケージの回路基板および棚部であって、(a)は回路基板および棚部の斜視図、(b)は、(a)をB−Bで切断したときの断面図である。 本実施形態の参考例1に係る素子収納用パッケージの回路基板および棚部の斜視図である。 本実施形態の参考例2に係る素子収納用パッケージの回路基板および棚部の斜視図である。 本実施形態の参考例3に係る素子収納用パッケージの回路基板および棚部の斜視図である。 本実施形態係る素子収納用パッケージの回路基板および棚部の斜視図である。 本実施形態の参考に係る素子収納用パッケージの回路基板および棚部であって、(a)は回路基板および棚部の斜視図、(b)は、(a)をC−Cで切断したときの断面図である。
以下、本発明の一実施形態に係る素子収納用パッケージ、およびこれを備えた半導体装置について、図面を参照しながら説明する。
<実施形態>
<素子収納用パッケージの構成、および半導体装置の構成>
本実施形態に係る素子収納用パッケージ、ならびに半導体装置は、図1乃至図3に示すような構成である。素子収納用パッケージは、上側主面に半導体素子6が載置される載置部1aを有する基体1と、基体1の上側主面に載置部1aを取り囲むように設けられた、内外に貫通して形成された取付け部2aおよび内側の取付け部2aの下方の部位に設けられた棚部2bを有する枠体2と、筒状の外周導体4aおよびその中心軸に沿って設けられた中心導体4cならびにそれらの間に設けられた絶縁体4bを有する、枠体2の取付け部2aに取り付けられた同軸コネクタ4と、中心導体4cに電気的に接続される線路導体3aおよび線路導体3aの両側に形成された第1の接地導体層3bが上面に設けられ、第2の接地導体層3cが下面に設けられた回路基板3と、回路基板3と棚部2bの上面とを接合する接合材7とを備えており、回路基板3は、上下に切り欠かれて成る、内面に第1の接地導体層3bおよび第2の接地導体層3cに電気的に接続された導体層3dが設けられた切欠き部3eを有しており、切欠き部3eを中心導体4cと直交する方向から側面視したときに、中心導体4cの一部が切欠き部3eの直上に位置している。
また、半導体装置は、本発明に係る素子収納用パッケージと、載置部1aに載置されて、同軸コネクタ4に電気的に接続された半導体素子6と、枠体2の上面に接合された蓋体8と、を備えている。
基体1は、平面視したとき、矩形状に形成された板状の部材である。基体1は、上側主面に、例えば、LD(半導体レーザ)、PD(フォトダイオード)等の半導体素子6が素子載置基台5を介して載置される載置部1aを有している。基体1は、例えば、銅(Cu)、鉄(Fe)−ニッケル(Ni)−コバルト(Co)合金または銅(Cu)−タングステン(W)合金等の金属材料から成る。
基体1は、例えば、それらの金属材料を型枠に鋳込んで作製したインゴットを周知の切削加工や打ち抜き加工等の金属加工法を用いて所定の形状にして製作される。また、基体1は、半導体素子6で発生した熱を放熱するための放熱板として機能する。
なお、基体1は、外表面に耐蝕性に優れ、かつロウ材との濡れ性が良い金属、具体的に
は、厚さ0.5(μm)以上9(μm)以下のNi層と厚さ0.5(μm)以上9(μm)以下のAu層を順次、メッキ形成法によりメッキ層を被着させておくのがよい。メッキ層は基体1が酸化腐蝕するのを有効に防止することができる。載置部1aに、素子載置基台5が、金(Au)−錫(Sn)半田、金(Au)−ゲルマニウム(Ge)半田等のロウ材を介して載置固定される。
半導体素子6は、載置部1aに直接載置してもよいが、図1に示すように、載置部1aに素子載置基台5を配設し、その上に半導体素子6を設けてもよい。この構成にすることにより、素子載置基台5の高さを調整することで、半導体素子6の高さ方向の位置決めが容易となり、半導体素子6と光ファイバ9との光軸合わせの精度が向上し、光伝送効率が向上するという効果がある。
また、素子載置基台5は、例えば、酸化アルミニウム質焼結体、窒化アルミニウム質焼結体またはムライト質焼結体等のセラミック材料から成る。素子載置基台5は、例えば、銅(Cu)−タングステン(W)合金、銅(Cu)−モリブデン(Mo)合金等の材料から成る台座に絶縁性の基板を接合して構成してもよい。素子載置基台5は、半導体素子6を載置固定することができるものであればよく、例えば、ペルチャ素子等の電子冷却素子であってもよい。また、素子載置基台5は、半導体素子6から基体1へ熱を伝えるための伝熱媒体として機能する。
枠体2は、基体1の上側主面に載置部1aを取り囲むように設けられ、枠体2の内側に半導体素子6を収容するための空所を形成している。枠体2は、例えば、鉄(Fe)−ニッケル(Ni)−コバルト(Co)合金または鉄(Fe)−ニッケル(Ni)合金等の金属材料から成る。枠体2は、例えば、鉄(Fe)−ニッケル(Ni)−コバルト(Co)合金のインゴットを周知の切削加工や打ち抜き加工等の金属加工法により所定の枠状となすことによって製作される。
また、枠体2は、外表面に耐蝕性に優れ、かつロウ材との濡れ性が良い金属、具体的には、厚さ0.5(μm)以上9(μm)以下のNi層と厚さ0.5(μm)以上9(μm)以下のAu層を順次、メッキ形成法によりメッキ層を被着させておくのがよい。メッキ層は枠体2が酸化腐蝕するのを有効に防止することができる。また、この構成によって枠体2は同軸コネクタ4を強固に接合することができる。
また、枠体2は、枠体2の内外を貫通して形成された同軸コネクタ4の取り付け部2aが設けられている。同軸コネクタ4については、後述する。
また、枠体2は、高周波信号の伝送線路としての線路導体3aが形成された回路基板3を搭載する棚部2bが同軸コネクタ4の取付け部2aの下方の部位に設けられている。また、棚部2bの形状は、矩形状に限らず、回路基板3の形状に合わせて適宜選択される。回路基板3については、後述する。
また、枠体2は、内部に収容する半導体素子6との間で光信号を授受するための光ファイバ9が挿通固定される筒状の光ファイバ固定部材が設けられている。また、光ファイバ固定部材は、枠体2を貫通して、銀(Ag)ロウまたは銀(Ag)−銅(Cu)ロウ等のロウ材を介して接合される。この光ファイバ固定部材は、鉄(Fe)−ニッケル(Ni)−コバルト(Co)合金または鉄(Fe)−ニッケル(Ni)合金等の金属から成り、例えば、鉄(Fe)−ニッケル(Ni)−コバルト(Co)合金のインゴットを周知のプレス加工することにより所定の筒状にして製作される。
また、光ファイバ固定部材は、光ファイバ9を挿通可能な貫通孔を有する筒体であり、
外部より貫通孔に光ファイバ9の一端を挿通するとともに光ファイバ9を半田等の接着剤やレーザ溶接により固定し、これにより光ファイバ9を介して内部に収容する半導体素子6と外部との光信号の授受が可能となる。
回路基板3は、上下に切り欠かれて成る、内面に第1の接地導体層3bおよび第2の接地導体層3cに電気的に接続された導体層3dが設けられた切欠き部3eを有している。切欠き部3eを中心導体4cと直交する方向から側面視したときに、中心導体4cの一部が切欠き部3eの直上に位置している。すなわち、回路基板3は、同軸コネクタ4の中心導体4cと電気的に接続される線路導体3aおよび線路導体3aの両側に路線導体3aと間隔を空けて形成された第1の接地導体層3bが上面に設けられ、第2の接地導体層3cが下面に設けられている。そして、回路基板3の側面には、上下を貫通する切欠き部3eが設けられるとともに、切欠き部3eの内面に導体層3dが設けられている。
回路基板3の切欠き部3eは、回路基板3が矩形状の場合、回路基板3の線路導体3aと平行な回路基板3の側面に設けられている。また、切欠き部3eが線路導体3aと平行な回路基板3の側面を切り欠いて形成されていれば、切欠き部3eは、線路導体3eと平行な回路基板3の側面に設けられているとする。また、切欠き部3eを中心導体4cと直交する方向から側面視して、中心導体4cの一部が切欠き部3eの直上に位置し、中心導体4cは線路導体3aに接続されている。また、中心導体4cは、回路基板3を上面から平面視して、枠体2と反対側の回路基板3の側面の周辺部まで延在してもよい。
また、回路基板3の形状は、回路基板3の上面から平面視して、矩形状に限らず、台形状であってもよい。回路基板3と同軸コネクタ4とが接続され、高周波信号を伝送することが可能であれば、回路基板3の形状は限定されない。回路基板3の形状は、例えば、三角形状、五角形状等の多角形状であってもよい。また、切欠き部3eを中心導体4cと直交する方向から側面視して、中心導体4cの一部が切欠き部3eの直上に位置し、中心導体4cが線路導体3aに接続されていればよい。
また、切欠き部3eは、図3に示すように、切欠き部3eの切り欠き量Xは、接地電位の安定化の点から、例えば、0.05(mm)以上0.5(mm)以下に設定されている。また、切欠き部3dの切り欠き幅Yは、接地電位の強化の点から、例えば、0.1(mm)以上3(mm)以下に設定されている。
切欠き部3eの内面の導体層3dは、第1の接地導体層3bと第2の接地導体層3cに電気的に接続されている。また、線路導体3a、第1の接地導体層3b、第2の接地導体層3cおよび導体層3dは、製造プロセスの点で、同一の材料で設けることが好ましい。
また、回路基板3は、例えば、酸化アルミニウム質焼結体、窒化アルミニウム質焼結体またはムライト質焼結体等のセラミック材料から成る。また、回路基板3は、矩形状の場合、正方形や長方形の略四角形であり、一辺の長さは、例えば、1(mm)以上10(mm)以下、また、厚みは、例えば、0.1(mm)以上0.5以下(mm)に設定されている。
また、回路基板3の配線導体3a、第1の接地導体層3bおよび第2の接地導体層3cは、タングステン、モリブデンまたはマンガン等で形成されている。また、線路導体3a、第1の接地導体3bおよび第2の接地導体3cは、例えば、タングステン、モリブデンまたはマンガン等の粉末に有機溶剤、溶媒を添加混合してなる金属ペーストをセラミックグリーンシートに予め周知のスクリーン印刷法により所定パターンに印刷塗布しておくことによって回路基板3の上下面に形成される。
また、回路基板3の切欠き部3eに設けられる導体層3dは、タングステン、モリブデンまたはマンガン等で形成されている。導体層3dは、切欠き部3eを形成した後、回路基板3の下面側から吸引しながら上面の所定位置にスクリーン印刷法等によって印刷塗布することで、切欠き部3e内面に金属ペーストを垂らし込むことができる。これによって、切欠き部3eの内面に導体層3dが形成される。
回路基板3は、枠体2の棚部2bに、銀(Ag)ロウまたは銀(Ag)−銅(Cu)ロウ等のロウ材からなる接合材7を介して接合される。また、接合材7は、図3に示すように、導体層3dから棚部2bの上面にかけてフィレット7aを形成して、回路基板3と棚部2bとを接合してもよい。
回路基板3を棚部2bに固定する接合材7は、回路基板3の下面の第2の接地導体層3bおよび回路基板3の側面の切欠き部3eの導体層3dに濡れ拡がり、回路基板3の下面が接合材7を介して棚部2bに接合される。回路基板3の側面の切欠き部3eの導体層3dから棚部2bの上面にかけて接合材7のフィレット7aを形成することができる。
すなわち、回路基板3は、回路基板3を棚部2bに接着固定させる際に、棚部2bの上面と回路基板3の下面との間に接合材7のプリフォームが設置され、プリフォームを加熱溶融させることによって、回路基板3が棚部2bの上面に接着固定される。また、溶融された接合材7は、表面張力によって切欠き部3eの導体層3dを回路基板3の上面に向かって這い上がることができる。これによって、棚部2bの上面と切欠き部3eの導体層3dとの間に接合材7のフィレット7aが形成される。切り欠き部3eの内面が3面で囲まれているため、表面張力が作用しやすく、棚部2bの上面と切欠き部3eの導体層3dとの間に接合材7のフィレット7aが形成されやすくなる。
回路基板3の側面の切欠き部3eに形成された接合材7のフィレット7aは、回路基板3に作用する枠体2の棚部2bとの熱応力を吸収緩和するため、回路基板3が破損するのを抑制することができる。
また、回路基板3の側面の切欠き部3eの形成された接合材7のフィレット7aは、回路基板3の外周部を下方向に押え付けることができるため、回路基板3の外周部が棚部2bから剥がれるのを抑制することができる。
回路基板3と枠体2の棚部2bとを接合する接合材7のフィレット7aの拡がりが切欠き部3eの切り欠いた内部に収められるため、回路基板3が接合される棚部2bは面積を小さくすることができる。これによって、素子収納用パッケージは小型化することができる。また、回路基板3も小型化することができる。
同軸コネクタ4は、枠体2の内部に収容する半導体素子6と外部電気回路とを電気的に接続する機能を有し、素子収納用パッケージ内部を塞ぐ機能を有する。同軸コネクタ4は、高周波信号が伝送される中心導体4cと、この中心導体4cの周囲に設けられた絶縁体4bと、この絶縁体4bの外周に設けられてグランドとなる外周導体4aとから構成されている。また、同軸コネクタ4は、外部の同軸ケーブル等と接続する際に、同軸コネクタ4を支持するために、外周導体4aの一端が中心導体4cの端部まで延在されている。
また、絶縁体4bは、外周導体4aの中心軸に沿って設けられ、軸方向に断面視して、内側に窪んだ窪み部を有している。窪み部の窪み量は、高周波信号の伝送損失低減という点からで、0.1(mm)以上0.5(mm)以下に設定されることが好ましい。
また、同軸コネクタ4は、同軸コネクタ4の取り付け部2aに取り付けられ、枠体2に
挿入固定される。また、基体1と、枠体2と、同軸コネクタ10とを備えることで素子収納用パッケージが構成される。
同軸コネクタ4の取り付け部2aへの同軸コネクタ4の嵌着接合は、同軸コネクタ4の取り付け部2aへ同軸コネクタ4を挿入するとともに、金(Au)−錫(Sn)半田、金(Au)−ゲルマニウム(Ge)半田等のリング状に形成されたロウ材からなる接合材で、同軸コネクタの取り付け部2aの内周面と同軸コネクタ4の外周導体4aを全周にわたり封着することによって行なわれる。また、中心導体4cは、回路基板3の線路導体3aに、金(Au)−錫(Sn)半田、金(Au)−ゲルマニウム(Ge)半田等のロウ材を介して電気的に接続される。
また、外周導体4aは、円筒形等の筒状であり、例えば、鉄(Fe)−ニッケル(Ni)−コバルト(Co)合金または鉄(Fe)−ニッケル(Ni)合金等の金属から成る。例えば、鉄(Fe)−ニッケル(Ni)−コバルト(Co)合金のインゴットを周知のプレス加工することにより所定の筒状にして製作される。また、外周導体4aの熱膨張係数は、例えば、5×10−6(/K)以上10×10−6(/K)以下に設定されることが好ましい。
また、中心導体4cは、円形等の棒状であり、例えば、鉄(Fe)−ニッケル(Ni)−コバルト(Co)合金または鉄(Fe)−ニッケル(Ni)合金等の金属から成り、外周導体4aの中心軸に沿って設けられる。例えば、鉄(Fe)−ニッケル(Ni)−コバルト(Co)合金のインゴットを周知のプレス加工することにより所定の筒状にして製作される。また、中心導体4cの熱膨張係数は、例えば、5×10−6(/K)以上10×10−6(/K)以下に設定されることが好ましい。
また、絶縁体4bは、硼珪酸ガラス、アルミ珪酸塩ガラス等のガラスから成る絶縁体4bであり、中心導体4cを被覆して保持固定している。また、絶縁体4bの熱膨張係数は、例えば、3×10−6(/K)以上6×10−6(/K)以下に設定されることが好ましい。また、絶縁体4bの熱膨張係数は、外周導体4aおよび中心導体4cの熱膨張係数よりも小さいものとするのが好ましい。
蓋体8は、半導体素子6を封止する機能を有している。蓋体8は、例えば、鉄(Fe)−ニッケル(Ni)−コバルト(Co)合金または鉄(Fe)−ニッケル(Ni)合金等の金属材料から成る。蓋体8は、基体1と枠体2と同軸コネクタとからなる内部に半導体素子6を気密に封止する。なお、蓋体8は、例えば、鉄(Fe)−ニッケル(Ni)−コバルト(Co)合金または鉄(Fe)−ニッケル(Ni)合金等のインゴットを周知のプレス加工により所定の形状となすことによって製作される。
図1に示すように、基体1の上側主面の載置部1aに半導体素子6が素子載置基台5を間に介して接着固定される。そして、半導体素子6は、同軸コネクタ4と電気的に接続された回路基板3上に形成されている線路導体3aとボンディングワイヤ10を介して電気的に接続される。次に、枠体2の上面に蓋体8が接合されて半導体装置となる。
また、枠体2の光ファイバ固定部材に光ファイバ9の一端を挿通させるとともにこれを半田等の接着剤やレーザ溶接によって接合し、光ファイバ9を枠体2に固定する。この半導体装置において、光ファイバ9は半導体装置が外部電気回路基板等に搭載された後に設けることもできる。または、製品として半導体装置自体に設けておくこともできる。そして、光ファイバ9を介して内部に収容する半導体素子6と外部との光信号の授受が可能となる。
本実施形態の素子収納用パッケージによれば、切欠き部3eの導体層3dが第1の接地導体層3bと第2の接地導体層3cに電気的に接続され、回路基板3と棚部2bの上面が接合材7を介して接合されている。そして、切欠き部3eを中心導体4cに直交する方向から側面視して、中心導体4cの一部が切欠き部3eの直上に位置しているため、接合材7は第1の接地導体層3bおよび第2の接地導体層3cの接地電位を強化し、中心導体4cと線路導体3aとの接続部の接地電位を安定にすることができる。すなわち、接地電位の変動が抑制される。これによって、高周波信号が効率良く伝送され、回路基板3は高周波信号の伝送性を向上することができる。
また、本実施形態の素子収納用パッケージは、接合材7が、導体層3dから棚部2bの上面にかけてフィレット7aを形成して、回路基板3と棚部2bとを接合してもよい。そして、切欠き部3eを中心導体4cに直交する方向から側面視して、中心導体4cの一部が切欠き部3eの直上に位置している。回路基板3の切欠き部3eの内面から棚部2bの上面にかけて接合材7のフィレット7aが形成されているため、接合材7のフィレット7aが第1の接地導体層3bおよび第2の接地導体層3cの接地電位をさらに強化することができる。すなわち、接地電位の変動が抑制される。また、接合材7のフィレット7aによって回路基板3の側面の切欠き部3eにも接地導体が設けられるため、接地電位を強化することができる。これによって、同軸コネクタ4の中心導体4cと線路導体3aとの接続部の接地電位が安定となる。すなわち、接地電位の変動が抑制される。したがって、同軸コネクタ4と線路導体3aとの接続部において高周波信号が安定に伝送される。これによって、高周波信号が効率良く伝送され、回路基板3は高周波信号の伝送性を向上することができる。
また、回路基板3の上面の第1の接地導体層3bと下面の第2の接地導体層3cが、回路基板3の側面の切欠き部3eに形成された接合材7のフィレット7aを介して低抵抗で接続される。すなわち、回路基板3の第1の接地導体層3bおよび第2の接地導体層3cはケースグランド(接地電位が0ボルト)となる枠体2の棚部2bに低抵抗で接続することができるため、回路基板3の線路導体3aを伝送する高周波信号がケースグランドに対する電位とすることができる。すなわち、接地電位の変動を抑制することができる。これによって、高周波信号が効率良く伝送され、回路基板3は高周波信号の伝送性を向上することができる。
<素子収納用パッケージ、および半導体装置の製造方法>
ここで、素子収納用パッケージ、およびそれを備えた半導体装置の製造方法を説明する。
基体1は、例えば、鉄(Fe)−ニッケル(Ni)−コバルト(Co)合金を型枠に鋳込んで作製したインゴットを周知の切削加工や打ち抜き加工等の金属加工法を用いて所定形状にして製作される。また、枠体2は、例えば、鉄(Fe)−ニッケル(Ni)−コバルト(Co)合金を型枠に鋳込んで作製したインゴットを周知の切削加工や打ち抜き加工等の金属加工法を用いて所定形状にして製作される。また、蓋体8は、例えば、鉄(Fe)−ニッケル(Ni)−コバルト(Co)合金を型枠に鋳込んで作製したインゴットを周知の切削加工や打ち抜き加工等の金属加工法を用いて所定形状にして製作される。
また、回路基板3が、例えば、酸化アルミニウム質焼結体からなる場合、平板形状のグリーンシートは、酸化アルミニウム、酸化珪素、酸化マグネシウム、酸化カルシウム等の原料粉末に、有機バインダ、可塑剤、溶剤、分散剤等を混合添加してペースト状とし、ドクターブレード法やカレンダーロール法等によって形成される。
そして、平板形状のグリーンシートに金型を用いた打ち抜きを施すことによって、切欠
き部3eを設けるとともに、それぞれの形状に合わせたグリーンシートが製作される。
タングステン、モリブデンまたはマンガン等の高融点金属粉末に有機バインダ、可塑剤、溶剤等を添加してなる金属ペーストを、上面の所定位置にスクリーン印刷法等によって印刷塗布して、線路導体3a、第1の接地導体層3bおよび第2の接地導体層3cとなる金属ペースト層が形成される。また、切欠き部3eは、内周に金属ペーストを吸引印刷法によって印刷塗布して導体層3dが形成される。
さらに、グリーンシート状態の回路基板3を約1600℃の温度で焼成することにより、回路基板3が製作される。
また、電解メッキ又は無電解メッキ等のメッキ形成方法によって、表面に露出した線路導体3a、第1の接地導体層3b、第2の接地導体層3cおよび導体層3d上に、例えば、厚さ0.5(μm)以上3.0(μm)以下のニッケルメッキ層、厚さ0.5(μm)以上3.0(μm)以下の金メッキ層が形成される。
同軸コネクタ4は、以下の方法により製作される。
まず、酸化ケイ素,酸化ホウ素,酸化ナトリウム,酸化アルミニウム,酸化カリウム,酸化リチウムから成る原料粉末に適当な有機溶剤,溶媒,バインダを添加混合して原料粉末を調整する。そして、この原料粉末をプレス成型により、中心に中心導体4cの直径よりやや大なる径の貫通孔を有するとともに直径が外周導体4aの内周径よりやや小なる円板状の成型体を成型する。しかる後、この成型体を500〜700℃の温度で仮焼して絶縁体4bとなる成型品を準備する。
また、別途、鉄(Fe)−ニッケル(Ni)−コバルト(Co)合金等の金属材料から成り、プレス加工,切削加工等により所定の形状に作成された外周導体4aと中心導体4cとを準備する。
次に、外周導体4aに絶縁体4bとなる成型品を挿入載置するとともに中心導体4cを貫通孔に中心導体4cの両端が貫通孔から突出するように挿入載置し、850〜950℃の温度で絶縁体4bとなる成型品を溶融することにより外周導体4aと絶縁体4bと中心導体4cとが気密に接合され、同軸コネクタ4と成る。
絶縁体4bの端面は、850〜950℃の温度で溶融する際に、中心導体4cと外周導体4aの端部とに位置して、滑らかな窪み部4eを有して設けられる。
基体1と枠体2と回路基板3と同軸コネクタ4が銀(Ag)ロウまたは銀(Ag)−銅(Cu)ロウ等のロウ材を介して接合されることによって素子収納用パッケージが製作される。
ここで、半導体装置の製造方法について説明する。
半導体装置は、素子収納用パッケージの基体1の載置部1aに素子載置基台5を、例えば、金(Au)−錫(Sn)半田または金(Au)−ゲルマニウム(Ge)半田等の材料で接着固定する。そして、素子載置基台5上に半導体素子6を金(Au)−錫(Sn)半田等を介して接着固定する。半導体素子6が、線路導体3aにボンディングワイヤ10を介して電気的に接続される。次に、枠体2の上面に蓋体8を接合し、基体1と枠体2と同軸コネクタ4および蓋体8の内部に半導体素子6を気密に収容して半導体装置とする。
本発明は上述の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更、改良等が可能である。以下、本実施形態の参考例について説明する。なお、本実施形態の参考例に係る素子収納用パッケージのうち、本実施形態に係る素子収納用パッケージと同様な部分については、同一の符号を付して適宜説明を省略する。

参考例1>
本実施形態に係る参考の素子収納用パッケージは、回路基板3は、図4に示すように、切欠き部3eの内面の全面に導体層3dを設けてもよい。これによって、切欠き部3eの内面に形成される接合材7のフィレット7aの体積を増加させることができる。第1の接地導体層3bおよび第2の接地導体層3cはケースグランドとなる枠体2の棚部2bに低抵抗で接続させることができる。また、接合材7のフィレット7aが増加するため、接地導体の体積が大きくなり接地電位を安定にすることができる。これによって、回路基板3は高周波信号をさらに効率良く伝送することができる。

切り欠き部3の内面の全面に導体層3dが形成されているので、表面張力が作用しやすく、切欠き部3eでは接合材7が回路基板3の上面に向かって這い上がりやすいため、切欠き部3eの内面に接合材7のフィレット7aが形成されやすくなる。
また、切欠き部3eの内面に形成されるフィレット7aの体積が増加するため、フィレット7aは回路基板3を枠体2の棚部2bに強固に接合することができる。
参考例2>
本実施形態に係る参考の素子収納用パッケージは、回路基板3は、図5に示すように、切欠き部3eを回路基板3の隣り合った側面間の角部を切り欠いて設けてもよい。すなわち、枠体2側に位置している回路基板3の角部に切欠き部3eが設けられている。これによって、回路基板3の角部の部分の切欠き部3eは、接合材7のフィレット7aで接地電位が強化され、高周波信号の反射損失が抑制される。これによって、回路基板3は高周波信号を効率良く伝送することができる。

また、回路基板3の切欠き部3eが、枠体2側に位置している回路基板3の角部に設けられているので、接合材7のフィレット7aが枠体2の側面にも形成され、枠体2の側面と回路基板3との接合性を向上させることができる。また、回路基板3と枠体2との接合性が向上するため、同軸コネクタ4の中心導体4cと線路導体3aとの接続の位置合わせが容易となる。
参考例3>
本実施形態に係る参考の素子収納用パッケージは、回路基板3は、図6に示すように、切欠き部3eを回路基板3の隣り合った側面間の角部を切り欠いて回路基板3の四隅に設けてもよい。これによって、回路基板3の四隅の切欠き部3eに接合材7のフィレット7aが形成される。これによって、回路基板3が四隅の切欠き部3eでバランスよく固定され、回路基板3は平坦性を向上することができる。また、回路基板3に作用する枠体2の棚部2bとの熱応力が切欠き部3e以外の部分で吸収緩和されるため、回路基板3が歪みにくくなり、回路基板3は安定的に高周波信号を伝送することができる。

本実施形態に係素子収納用パッケージは、回路基板3は、図7に示すように、線路導体3aの線路幅が変わる部分に相当する位置に切欠き部3eを設けてもよい。線路導体3aの線幅が変わる部分では高周波信号に反射損失等の伝送損失が発生しやすい。この部分に切欠き部3eが設けられることによって、第1の接地導体層3bおよび2の接地導体層3cの接地電位が強化される。また、回路基板3の側面の切欠き部3eにも接地導体が設けられる。これによって、線路導体3aの線路幅が変わる部分の接地電位が強化され、接地電位の変動を抑制することができる。したがって、線路導体3aの線路幅がかわる部分で高周波信号がケースグランドに対する電位とすることができ、回路基板3は高周波信号を効率よく伝送することができる。

参考
本実施形態に係る参考の素子収納用パッケージは、棚部2bは、回路基板3の上面側から平面透視したときに、切欠き部3eよりも内側で回路基板3に対向する凹部11を有していてもよい。凹部11の深さは、応力緩和の点から、例えば、0.1(mm)以上1(mm)以下に設定されている。これによって、回路基板3の棚部2bが接合材7を介して接合されても、棚部2bが凹部11を有しているので、凹部11では、回路基板3の下面と棚部2bが接合されない。これによって、凹部11は、凹部11で回路基板3を撓ませて熱応力の集中を緩和することができる。線路導体3aを伝送する電気信号の高周波化に伴って薄型化した回路基板3であっても、回路基板3にクラック等が発生するのを抑制することでき、回路基板3は安定的に高周波信号を伝送することができる。
1 基体
1a 載置部
2 枠体
2a 取り付け部
2b 棚部
3 回路基板
3a 線路導体
3b 第1の接地導体層
3c 第2の接地導体層
3d 導体層
3e 切欠き部
4 同軸コネクタ
4a 外周導体
4b 絶縁体
4c 中心導体
5 素子載置基台
6 半導体素子
7 接合材
7a フィレット
8 蓋体
9 光ファイバ
10 ボンディングワイヤ
11 凹部

Claims (7)

  1. 上側主面に半導体素子が載置される載置部を有する基体と、
    該基体の前記上側主面に前記載置部を取り囲むように設けられた、内外に貫通して形成された取付け部および内側の前記取付け部の下方の部位に設けられた棚部を有する枠体と、筒状の外周導体およびその中心軸に沿って設けられた中心導体ならびにそれらの間に設けられた絶縁体を有する、前記枠体の前記取付け部に取り付けられた同軸コネクタと、
    前記中心導体に電気的に接続される線路導体および該線路導体の両側に形成された第1の接地導体層が上面に設けられ、第2の接地導体層が下面に設けられた回路基板と、
    前記回路基板と前記棚部の上面とを接合する接合材とを備えており、
    前記回路基板は、上下に切り欠かれて成る、内面に前記第1の接地導体層および前記第2の接地導体層に電気的に接続された導体層が設けられた切欠き部を有しており、
    前記切欠き部を前記中心導体と直交する方向から側面視したときに、前記中心導体の一部が前記切欠き部の直上に位置しているとともに、
    前記回路基板の前記線路導体は、線路幅が変わる部分を有しており、前記切欠き部は前記部分を間に挟んで設けられていることを特徴とする素子収納用パッケージ。
  2. 請求項1に記載の素子収納用パッケージであって、
    前記接合材は、前記切欠き部の前記導体層から前記棚部の上面にかけてフィレットを形成していることを特徴とする素子収納用パッケージ。
  3. 請求項1または請求項2に記載の素子収納用パッケージであって、
    前記切欠き部は、前記線路導体と平行な前記回路基板の側面に設けられていることを特徴とする素子収納用パッケージ。
  4. 請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の素子収納用パッケージであって、
    前記切欠き部は、内面の全面にわたって前記導体層が設けられていることを特徴とする素子収納用パッケージ。
  5. 請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の素子収納用パッケージであって、
    前記切欠き部は、前記回路基板の隣り合った側面間の角部に設けられていることを特徴とする素子収納用パッケージ。
  6. 請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の素子収納用パッケージであって、
    前記棚部は、前記回路基板の上面側から平面透視したときに、前記切欠き部よりも内側で
    前記回路基板に対向する凹部を有していることを特徴とする素子収納用パッケージ。
  7. 請求項1乃至請求項6のいずれかに記載の素子収納用パッケージと、
    前記載置部に載置されて、前記同軸コネクタに電気的に接続された半導体素子と、
    前記枠体の上面に接合された蓋体と
    を備えたことを特徴とする半導体装置。
JP2010165119A 2010-07-22 2010-07-22 素子収納用パッケージ、およびこれを備えた半導体装置 Expired - Fee Related JP5610892B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010165119A JP5610892B2 (ja) 2010-07-22 2010-07-22 素子収納用パッケージ、およびこれを備えた半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010165119A JP5610892B2 (ja) 2010-07-22 2010-07-22 素子収納用パッケージ、およびこれを備えた半導体装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012028521A JP2012028521A (ja) 2012-02-09
JP5610892B2 true JP5610892B2 (ja) 2014-10-22

Family

ID=45781110

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010165119A Expired - Fee Related JP5610892B2 (ja) 2010-07-22 2010-07-22 素子収納用パッケージ、およびこれを備えた半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5610892B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6166101B2 (ja) * 2013-05-29 2017-07-19 京セラ株式会社 光半導体素子収納用パッケージおよびこれを備えた実装構造体
EP3098842B1 (en) 2014-01-24 2020-08-26 Kyocera Corporation Package for an electronic element
US9912083B2 (en) * 2015-07-21 2018-03-06 Sentinel Connector Systems, Inc. High speed plug
JP7036646B2 (ja) * 2018-03-27 2022-03-15 京セラ株式会社 半導体素子用パッケージおよび半導体装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3981645B2 (ja) * 2003-04-14 2007-09-26 京セラ株式会社 入出力端子および半導体素子収納用パッケージならびに半導体装置
JP4903738B2 (ja) * 2007-03-28 2012-03-28 京セラ株式会社 電子部品収納用パッケージおよび電子装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2012028521A (ja) 2012-02-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5610892B2 (ja) 素子収納用パッケージ、およびこれを備えた半導体装置
JP2012094627A (ja) 素子収納用パッケージ、およびこれを備えた電子装置
JP6039470B2 (ja) 電子部品搭載用パッケージおよびそれを用いた電子装置
JP4822820B2 (ja) 半導体素子収納用パッケージおよび半導体装置
JP5717414B2 (ja) 半導体収納用パッケージ、およびこれを備えた半導体装置
JP2006066867A (ja) 電子部品収納用パッケージおよび電子装置
JP2005159277A (ja) 光半導体素子収納用パッケージおよび光半導体装置
JP5721359B2 (ja) 半導体装置用基体、およびそれを備えた半導体装置
JP2009283898A (ja) 電子部品容器体およびそれを用いた電子部品収納用パッケージならびに電子装置
JP2012009172A (ja) 同軸コネクタ、および素子収納用パッケージ、ならびに半導体装置
JP4969490B2 (ja) 基板保持部材及びパッケージ、並びに電子装置
JP2012049288A (ja) 素子収納用パッケージ、およびこれを備えた電子装置
JP6034054B2 (ja) 電子部品収納用パッケージおよび電子装置
JP6829303B2 (ja) 絶縁基体、半導体パッケージおよび半導体装置
JP6166101B2 (ja) 光半導体素子収納用パッケージおよびこれを備えた実装構造体
JP5709427B2 (ja) 素子収納用パッケージおよびこれを備えた半導体装置
JP6408661B2 (ja) To−can型パッケージ用ヘッダーおよび半導体装置
JP4493285B2 (ja) 光半導体素子収納用パッケージおよび光半導体装置
JP6239970B2 (ja) To−can型パッケージ用ヘッダーおよび半導体装置
JP2004259962A (ja) 光半導体素子収納用パッケージおよび光半導体装置
JP5969317B2 (ja) 光半導体素子収納用パッケージおよび実装構造体
JP2004207259A (ja) 光半導体素子収納用パッケージおよび光半導体装置
JP5992785B2 (ja) 半導体素子収納用パッケージおよび半導体装置
JP2011114104A (ja) サブマウントおよびそれを用いた電子装置
JP3457921B2 (ja) 入出力端子および半導体素子収納用パッケージ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130617

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20131108

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140107

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140218

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140805

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140902

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5610892

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees