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JP5682929B2 - 酸化チタン粒子の製造方法及び製造装置 - Google Patents

酸化チタン粒子の製造方法及び製造装置 Download PDF

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Description

本発明は、酸化チタン粒子の製造方法及び製造装置に関するものであり、特に、気相で四塩化チタン蒸気と酸素とを急加熱して、酸化チタン粒子を製造する際に、高い光触媒活性を有する酸化チタン粒子の製造方法及び製造装置に関する。
本願は、2009年8月24日に、日本に出願された特願2009−193213号に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
近年、光触媒の分野で酸化チタン粒子が注目されている。例えば、特許文献1、2及び非特許文献1、2には、十面体の箱型形状を有し、主としてアナターゼ型結晶からなる酸化チタン粒子(以下、「十面体酸化チタン粒子」と称する。)が開示されている。
特許文献1、2及び非特許文献1には、前記十面体酸化チタン粒子は単位質量当たりの表面積が大きく、結晶性が高いとともに内部欠陥も少ないので、光触媒として高い活性を有することが記載されている。また、非特許文献2には、前記十面体酸化チタン粒子は反応性の高い(001)面の比率が高く、光触媒として有望であることが記載されている。
酸化チタン粒子の製造方法としては、例えば、非特許文献2に記載のフッ酸を用いた水熱反応を利用する方法がある。しかし、この製造方法はフッ酸を用いる構成なので、工業的な製造には適さない。
特許文献1、2及び非特許文献1に記載の十面体酸化チタン粒子の製造方法は、反応管内に四塩化チタン(TiCl)蒸気と酸素(O)ガスとを導入した後、これらのガスを反応管の外部から加熱して、下記反応式(1)に示す反応により、酸化チタン粒子(TiO)を製造する方法である。
TiCl+O→TiO+2Cl…(1)
前記製造方法を用いることにより、反応管の下流側で、酸化チタン粒子を含む粉末生成物を得ることができる。この粉状生成物には、十面体酸化チタン粒子が多く含まれる。
しかし、前記製造方法で得られた十面体酸化チタン粒子は、実用的な光触媒製品に用いるには光触媒活性が不十分であり、光触媒活性の更なる向上が求められていた。
国際公開第04/063431号 特開2006−52099号公報
草野大輔、寺田佳弘、阿部竜、大谷文章、第98回触媒討論会(平成18年9月)、討論会A予稿集、234頁 Hua Gui Yang et al.,Nature,Vol453,p.638〜p.641
本発明は、上記事情を鑑みてなされたもので、光触媒活性の高い金属酸化物粒子を製造する金属酸化物粒子の製造方法及び製造装置を提供することを目的とする。
本発明者らは、四塩化チタンを含む反応ガスと四塩化チタンを含まない酸化性ガスとを予熱してから反応管内で合流させ、合流地点よりも下流側に離れた領域において前記反応ガスと前記酸化性ガスとからなる合流ガスを本加熱させる際に、前記合流地点から本加熱
領域の上流端に達するまでの時間を25ミリ秒未満として前記合流ガスを急加熱することによって、高い光触媒活性を有する十面体酸化チタン粒子を製造できることを見出して、以下の発明を完成した。
上記の目的を達成するために、本発明は以下の構成を採用した。すなわち、
(1) 反応管内で、金属塩化物を含む反応ガスと前記金属塩化物を含まない酸化性ガスとを予熱してから、前記反応ガスと前記酸化性ガスとからなる合流ガスを、その合流地点よりも下流側に離れた本加熱領域で本加熱する金属酸化物粒子の製造方法であって、
前記合流ガスが前記合流地点から前記本加熱領域の上流端に達するまでの時間を25ミリ秒未満とすることを特徴とする金属酸化物粒子の製造方法。
(2) 前記反応管が、中空外筒と、前記中空外筒の上流側に挿入された中空内筒とからなる二重管構造部を備えており、前記中空内筒に反応ガスを流すとともに、前記中空内筒と前記中空外筒との間に前記酸化性ガスを流して、前記中空内筒の下流端部を、前記反応ガスと前記酸化性ガスの合流地点とすることを特徴とする(1)に記載の金属酸化物粒子の製造方法。
(3) 前記金属塩化物が四塩化チタンであり、前記金属酸化物粒子が酸化チタン粒子であることを特徴とする(1)または(2)に記載の金属酸化物粒子の製造方法。
(4) 前記酸化チタン粒子が十面体酸化チタン粒子であることを特徴とする(3)に記載の金属酸化物粒子の製造方法。
(5) 前記予熱の温度が136℃以上750℃以下であることを特徴とする(1)〜(4)のいずれかに記載の金属酸化物粒子の製造方法。
(6) 前記本加熱の温度が800℃以上1500℃以下であることを特徴とする(1)〜(5)のいずれかに記載の金属酸化物粒子の製造方法。
(7) 前記反応ガスが、酸素ガスまたは/および窒素ガスを含むことを特徴とする(1)〜(6)のいずれかに記載の金属酸化物粒子の製造方法。
(8) 前記酸化性ガスが、酸素ガス、窒素ガス、アルゴン、水蒸気またはこれらのうち少なくとも2種類のガスを含むことを特徴とする(1)〜(7)のいずれかに記載の金属酸化物粒子の製造方法。
(9) 前記中空内筒の下流端部よりも上流側で、前記反応ガスの線速度に対して、
前記酸化性ガスの線速度を0.1〜10の範囲内とすることを特徴とする(1)〜(8)のいずれかに記載の金属酸化物粒子の製造方法。
(10) 前記中空内筒の下流端部よりも下流側で、前記合流ガスに含まれる前記四塩化チタンの濃度を0.1〜20体積%とすることを特徴とする(3)〜(9)のいずれかに記載の金属酸化物粒子の製造方法。
(11) 前記合流ガスが前記本加熱領域に滞留する時間を2〜500ミリ秒とすることを特徴とする(1)〜(10)のいずれかに記載の金属酸化物粒子の製造方法。
(12) 前記合流ガスのレイノルズ数を10〜10000とすることを特徴とする(1)〜(11)のいずれかに記載の金属酸化物粒子の製造方法。
(13) 上流側から下流側にガスを流通させる反応管を備え、前記反応管の上流側に2以上のガスを別々に流通させる第2の領域が設けられ、前記第2の領域の下流端部に前記2以上のガスからなる合流ガスを形成する合流地点が設けられ、前記合流地点の下流側に前記合流ガスを流通させる第1の領域が設けられ、前記第1の領域の途中に前記合流ガスを本加熱する本加熱領域が設けられた金属酸化物粒子の製造装置であって、前記合流ガスが前記合流地点から前記本加熱領域の上流端に達するまでの時間を25ミリ秒未満とするように制御する制御部を有することを特徴とする金属酸化物粒子の製造装置。
(14) 前記制御部が、前記合流ガスの流速の制御手段を備えていることを特徴とする(13)に記載の金属酸化物粒子の製造装置。
(15) 前記反応管の外部であって、前記第2の領域と前記本加熱領域との間に遮熱板または遮光板を配置することを特徴とする(13)または(14)に記載の金属酸化物粒子の製造装置。
上記の構成によれば、光触媒活性の高い金属酸化物粒子を製造する金属酸化物粒子の製造方法及び製造装置を提供することができる。
本発明の金属酸化物粒子の製造方法は、反応管内で、金属塩化物を含む反応ガスと前記金属塩化物を含まない酸化性ガスとを予熱してから、前記反応ガスと前記酸化性ガスとからなる合流ガスを、その合流地点よりも下流側に離れた本加熱領域で本加熱する金属酸化物粒子の製造方法であって、前記合流ガスが前記合流地点から前記本加熱領域の上流端に達するまでの時間を25ミリ秒未満とする構成なので、金属塩化物を含む反応ガスと金属塩化物を含まない酸化性ガスとをそれぞれ予熱してから、反応管内で合流させて合流ガスを形成した後、合流地点よりも下流側に離れた領域において前記合流ガスを本加熱させる際に、前記合流地点から本加熱領域の上流端に達するまでの時間を25ミリ秒未満として、前記合流ガスを急加熱することによって、高い光触媒活性を有する金属酸化物粒子を製造することができる。
本発明の金属酸化物粒子の製造方法は、前記金属塩化物が四塩化チタンであり、前記金属酸化物粒子が酸化チタン粒子である構成なので、四塩化チタンを含む反応ガスと四塩化チタンを含まない酸化性ガスとをそれぞれ予熱してから、反応管内で合流させて合流ガスを形成した後、合流地点よりも下流側に離れた領域において前記合流ガスを本加熱させる際に、前記合流地点から本加熱領域の上流端に達するまでの時間を25ミリ秒未満として、前記合流ガスを急加熱することによって、得られる粉末生成物中の十面体酸化チタン粒子の比率が高く、ルチル比率2%以下の高い光触媒活性を有する酸化チタン粒子を製造することができる。
本発明の金属酸化物粒子の製造装置は、上流側から下流側にガスを流通させる反応管を備え、前記反応管の上流側に2以上のガスを別々に流通させる第2の領域が設けられ、前記第2の領域の下流端部に前記2以上のガスからなる合流ガスを形成する合流地点が設けられ、前記合流地点の下流側に前記合流ガスを流通させる第1の領域が設けられ、前記第1の領域の途中に前記合流ガスを本加熱する本加熱領域が設けられた金属酸化物粒子の製造装置であって、前記合流ガスが前記合流地点から前記本加熱領域の上流端に達するまでの時間を25ミリ秒未満とするように制御する制御部を有する構成なので、金属塩化物を含む反応ガスと金属塩化物を含まない酸化性ガスとをそれぞれ予熱してから、反応管内で合流させて合流ガスを形成した後、合流地点よりも下流側に離れた領域において前記合流ガスを本加熱させる際に、前記合流地点から本加熱領域の上流端に達するまでの時間を25ミリ秒未満として、前記合流ガスを急加熱することによって、高い光触媒活性を有する金属酸化物粒子を製造することができる。
本発明の金属酸化物粒子の製造装置の一例を示す模式図である。 金属酸化物粒子の製造装置の比較例を示す模式図である。 図3Aは実施例7の金属酸化物粒子(酸化チタン粒子)の250k倍の走査型電子顕微鏡写真である。 図3Bは図3Aの金属酸化物粒子の100k倍の写真である。 実施例7の金属酸化物粒子(酸化チタン粒子)のX線回折測定結果である。
以下、本発明を実施するための形態について説明する。
(実施形態)
<金属酸化物粒子の製造装置>
図1は、本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造装置の一例を示す模式図である。
図1に示すように、本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造装置101は、中空外筒1と、中空外筒1の上流側(上流部)1aから中空外筒1の途中まで挿入されてなる中空内筒5と、からなる反応管11を具備するとともに、反応管11の外部に反応管11を局所的に加熱するように加熱装置2が配置されて概略構成されている。
<酸化性ガス導入管>
中空外筒1の上流側1aには、金属塩化物を含まない酸化性ガスを導入するための酸化性ガス導入管4が接続されている。酸化性ガス導入管4は、気化器6を介して、別の酸化性ガス導入管4aに接続されている。図では省略しているが、別の酸化性ガス導入管4aは、バルブを介して酸素(O)、窒素(N)及び水の供給源に接続されている。
気化器6の温度は、たとえば、165℃とされており、別の酸化性ガス導入管4aから導入された水を気化して水蒸気とする。これにより、酸素、窒素及び水蒸気の混合ガスからなる酸化性ガスを酸化性ガス導入管4から中空外筒1に供給できる構成とされている。
酸化性ガスは、四塩化チタンなどの金属塩化物を含まないガスである。具体的には、この酸化性ガスは、酸素(O)、窒素、アルゴンなどの不活性ガス、水蒸気及びオゾン(O)などであり、これらを単独で用いても、混合して用いてもよい。従って、酸素のみ、窒素のみ、アルゴンのみ、酸素とアルゴンなどの不活性ガスとの混合ガス、酸素と水蒸気との混合ガス、酸素と水蒸気と不活性ガスとの混合ガスまたは水蒸気と不活性ガスとの混合ガスなどを用いることができる。なお、酸素と不活性ガスの混合ガスとして、空気を用いてもよい。
<反応ガス導入管>
中空内筒5の上流側5aには、別の気化器7を介して、四塩化チタン(TiCl)などの金属塩化物の蒸気を含む反応ガスを導入するための反応ガス導入管25a、25bが接続されている。
図では省略しているが、反応ガス導入管25aは、バルブを介して金属塩化物の供給源に接続されており、金属塩化物を中空内筒5に供給できる構成とされている。また、反応ガス導入管25bは、バルブを介して酸素及び窒素の供給源に接続されており、酸素及び窒素ガスを中空内筒5に供給できる構成とされている。
気化器7の温度は、たとえば、165℃とされており、金属塩化物を気化して金属塩化物蒸気とする。これにより、酸素、窒素及び金属塩化物蒸気の混合ガスからなる反応ガスを中空内筒5に供給できる構成とされている。
反応ガスは、四塩化チタンの蒸気を含むガスである。具体的には、この反応ガスは、四塩化チタンの蒸気と酸素との混合ガス、四塩化チタンの蒸気と不活性ガスとの混合ガスまたは四塩化チタンの蒸気と酸素と不活性ガスとの混合ガスなどを用いることができる。なお、酸素と不活性ガスの混合ガスとして、空気を用いてもよい。
<制御部>
なお、図1では省略しているが、本製造装置には、反応ガス及び酸化性ガスの流量を調整して、合流ガスの流速を制御する手段を備えた制御部が具備されている。制御部で合流ガスの流速を制御することによって、合流ガスが合流地点から本加熱領域の上流端までに達する時間を制御することができる。
<反応管>
図1に示すように、反応管11は、中空外筒1と、中空内筒5とを有して構成されている。反応管11は、例えば、石英などからなる円筒管である。
中空内筒5は、中空外筒1の上流側1aから途中まで挿入されてなり、その下流端部5bは、中空外筒1の長手方向で中心付近となるように配置されている。これにより、反応管11は、中空外筒1と中空内筒5とからなる第2の領域(二重管構造部)52と、中空外筒1のみからなる第1の領域(一重管構造部)51とを有する。つまり、反応管11で、中空内筒5の下流端部5bを境に上流側が二重管構造とされ、下流側が一重管構造とされている。そのため、第2の領域52では、2以上のガスを別々に流通させることができ、第1の領域51では2以上のガスを合流させてなる合流ガスを流通させることができる構成とされている。
中空内筒5は、ガスを流通させる内筒開口部26を有している。また、中空外筒1は、ガスを流通させる外筒開口部28を有している。そして、第2の領域52では、中空外筒1と中空内筒5との間のリング状開口部27が設けられている。
第2の領域52では、中空外筒1と中空内筒5を同軸構造とすることが好ましい。これにより、反応ガスを中心軸側に集めることができ、反応管11の内壁面へ反応ガスの拡散を抑制して、反応管内壁に固着する膜状生成物(副生物)の発生を抑制することができる。
<加熱装置>
図1に示すように、反応管11の外部には、中空内筒5の下流端部5bを中心に配置するように、2つの加熱装置2が配置されている。
加熱装置2としては、例えば、赤外線ゴールドイメージ炉を用いる。赤外線ゴールドイメージ炉は、赤外線を照射して加熱を行う装置である。加熱装置2としては、これに限られるものではなく、酸水素バーナーまたは電気ヒーターなどを用いることもよい。
なお、加熱装置2に挟まれた領域では、反応管11外側の上流側に巻きつけた白金板62の外表面と、下流側に巻きつけた白金板61の外表面に、それぞれ温度センサー(熱電対)を設置している。温度センサーにより、加熱装置2から照射される赤外線により加熱された白金板61、62の温度を測定し、これらの測定温度に応じて、加熱装置2の上流側と下流側の赤外線強度を制御して、予熱領域B及び本加熱領域Aの温度制御を行う。
なお、加熱装置2の温度制御方法は、これに限られるものではなく、赤外線センサーを配置してもよく、また、これらのセンサーを組み合わせた温度制御器を配置してもよい。
<予熱領域>
本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造装置101には、3つの予熱領域B、X、Yが設けられている。
予熱領域Bは、中空外筒1に白金板62が巻きつけられた領域であり、外部に2つの加熱装置2が配置されている。白金板62は赤外線ゴールドイメージ炉のような加熱装置2から照射される赤外線を吸収することにより発熱し、白金板62が巻きつけられた部分のみを局所的に加熱する。反応ガスおよび酸化性ガスを通過させて、所定の予熱の温度(以下、予熱温度という。)とする。
予熱領域Xは、気化器6の出口6bから中空外筒1までの領域であり、外部に電気ヒーター(図示略)などが配置されてなる。酸化性ガスを予熱領域Xの酸化性ガス導入管4の内部を通過させて、酸化性ガスを所定の予熱温度とする。
予熱領域Yは、気化器7の出口7bから加熱装置2の上流端までの領域であり、外部に電気ヒーター(図示略)などが配置されてなる。反応ガスおよび酸化性ガスを予熱領域Yの反応管11の内部を通過させて、反応ガスおよび酸化性ガスを所定の予熱温度とする。
予熱領域X、Y、Bの予熱温度は、136℃以上750℃以下の温度範囲とすることが好ましく、500℃以上750℃以下の温度範囲とすることがより好ましく、さらに好ましくは、600℃以上750℃以下の温度範囲とすることが好ましい。136℃以上750℃以下の温度範囲とすることにより、膜状生成物などを発生させることなく反応ガスおよび酸化性ガスを予熱することができる。また、600℃以上750℃以下の温度範囲とすることにより、反応ガスおよび酸化性ガスの温度の均一性を高めることができ、最終的に高い光触媒活性を有する十面体酸化チタン粒子を効率よく得ることができる。
製造装置101においては、反応ガスと酸化性ガスとの予熱温度が136℃以上500℃未満の場合、予熱温度と本加熱温度の温度差が大きくなる結果、本加熱領域Aにおける内壁面近傍付近の合流ガスと中心軸付近の合流ガスとの間に生じる温度差が大きくなるために、不均一な温度条件で酸化チタン粒子が合成される。
これに対して、反応ガスと酸化性ガスの予熱温度が500℃以上750℃以下の場合には、予熱温度と本加熱温度の温度差が小さくなる結果、本加熱領域Aにおける内壁面近傍付近の合流ガスと中心軸付近の合流ガスとの間に生じる温度差が小さくなるために、より均一な温度条件で酸化チタン粒子が合成される。
この結果、反応ガスと酸化性ガスの予熱温度が500℃以上750℃以下の場合には、500℃未満の場合と比べて、得られる粉末生成物中の十面体酸化チタン粒子の比率が高まり、その結果、高い光触媒活性を有する十面体酸化チタン粒子が得られる。
例えば、反応ガスとして、四塩化チタンの蒸気と酸素とを含むガスを用いる場合には、予熱領域X、Y、Bの予熱温度を800℃以上とすると、中空内筒5内を流れる四塩化チタンの蒸気と酸素との間で酸化反応が進行して、中空内筒5内で酸化チタン粒子が生成されるとともに、中空内筒5の内壁面に膜状生成物が生成するおそれが生じる。この状態で、酸化チタン粒子の製造を続けた場合には、中空内筒5内が膜状生成物によって閉塞する。そのため、反応ガスが酸素を含む場合には、予熱温度は少なくとも800℃未満とすることが好ましく、加熱温度の変動などを考慮すれば、予熱領域X、Y、Bの反応ガスと酸化性ガスの予熱温度は、それぞれ750℃以下とすることがより好ましい。逆に、予熱領域X、Y、Bの予熱温度を、四塩化チタンの沸点の136℃未満とすると、四塩化チタンの蒸気が中空内筒5内で一部凝縮する場合が発生する。
<本加熱領域>
反応管11の下流側の第1の領域51には、本加熱領域Aが設けられている。
本加熱領域Aは、中空外筒1に白金板61が巻きつけられた領域であり、外部に2つの加熱装置2が配置されている。白金板61は赤外線ゴールドイメージ炉のような加熱装置2から照射される赤外線を吸収することにより発熱し、白金板61が巻きつけられた部分のみを局所的に加熱する。反応ガスおよび酸化性ガスを通過させて、所定の本加熱の温度(以下、本加熱温度という。)とする。
本加熱温度は、800℃以上1500℃以下の温度範囲とすることが好ましく、1000℃以上1300℃以下の温度範囲とすることがより好ましく、1100℃以上1200℃以下の温度範囲とすることが更に好ましい。前記本加熱温度を800℃以上1500℃以下の温度範囲とすることにより、反応式(1)で示した金属塩化物の酸化反応を気相で効率的に行うことができる。
例えば、四塩化チタン蒸気と酸素との間の酸化反応を効率的に進行させて、酸化チタン粒子を効率的に生成することができる。
本加熱温度が800℃未満の場合には、先に記載した反応式(1)に示される四塩化チタン蒸気と酸素との間の酸化反応が進行せず、酸化チタン粒子を生成できない。また、本加熱温度が1100℃未満の場合には、反応管11内に供給された四塩化チタン蒸気の全てが消費されるわけではなく、一部が未反応のまま残留する場合が生じる。
逆に、本加熱温度が1500℃超の場合には、酸化チタン粒子が互いに融着して、酸化チタン粒子の比表面積を低下させるとともに、アナターゼからルチル結晶構造への転移が進行し、ルチル比率が高まる。これにより、酸化チタン粒子の光触媒活性が低下する。また、本加熱温度が1200℃超の場合には、酸化チタン粒子同士の融着が著しくなり、酸化チタン粒子の比表面積を低下させるとともに、ルチル比率が高まり、酸化チタン粒子の光触媒特性を劣化させる。
合流ガスが本加熱領域Aを通過すると、合流ガス中で生成した金属酸化物は急冷却され、所定の粒径の金属酸化物粒子を生成する。
<中間領域>
予熱領域Bと本加熱領域Aとの間には、中間領域Zが設けられている。
中間領域Zの長さは、合流ガスの流速をv(cm/ミリ秒)としたときに、25v(cm)未満となるようにされている。これにより、合流ガスをv(cm/ミリ秒)の流速で流すときに、合流ガス形成後25ミリ秒未満の短時間に、前記合流ガスを本加熱領域Aに移動できる。合流ガス形成後25ミリ秒未満で前記合流ガスを本加熱領域Aに移動させて、合流ガスを急加熱することにより、光触媒活性の高い十面体酸化チタン粒子などのような金属酸化物を効率的に生成することができる。
なお、合流地点5bから本加熱領域Aの上流端A1に達するまでの時間を移動時間と定義する。中間領域Zの長さを長くして、前記移動時間を25ミリ秒以上とした場合には、合流ガスを急加熱できなくなり、高い光触媒活性を有する十面体酸化チタン粒子を効率よく生成できない。
また、中間領域Zを確保することにより、予熱領域Bの下流端部と本加熱領域Aの上流端部との間に一定の距離を確保して、予熱領域Bの温度を均一にできる。中間領域Zを設けなければ、予熱領域Bの下流側が高くなるような不均一な温度分布が発生する。
<遮光板>
加熱装置2と反応管11との間であって、本加熱領域Aと予熱領域Bの間には、板面が反応管1の長手方向に垂直となるように、遮光板10が配置されている。遮光板10をこのように配置することにより、加熱装置2の上流側と下流側それぞれから照射される赤外線を分離でき、予熱領域Bと本加熱領域Aの温度をそれぞれ独立に設定できる。
遮光板10を配置しなければ、例えば、加熱装置2の下流側で放射された赤外線が上流側の白金板62に照射され、予熱領域Bの温度を設定温度以上とする場合が発生する。特に、前記移動時間を25ミリ秒未満にするために、中間領域Zの長さを短くする場合には、遮光板10を設けることが効果的である。
なお、加熱装置2として酸水素バーナーまたは電気ヒーターなどを用いる場合には、遮光板10の代わりに遮熱板を用いることが好ましい。
<生成物回収部>
中空外筒1の下流側1bには、排出管8を介して金属酸化物粒子などの生成物を回収する生成物回収部3が接続されている。生成物回収部3はバグフィルターなどからなり、生成した金属酸化物粒子を回収できる。
なお、生成物回収部3の下流側には、排気ポンプ3aと圧力調整バルブ3bとが接続されている。通常、生成物回収部3に生成物がたまり、フィルターが目詰まりするにつれて、反応管11の内部の圧力が上昇する。排気ポンプ3aにより吸引することによって、この圧力上昇を押さえることができ、常圧付近で金属酸化物への酸化反応させることができる。なお、この際、圧力調整バルブ3bを調整して、排気ポンプ3aの吸引力を調節することが好ましい。これにより、金属酸化物粒子をより効率的に生成することができる。
金属塩化物として四塩化チタンを用いた場合には、生成物回収部3で回収される金属酸化物粒子は、十面体酸化チタン粒子もしくはそれ以外の酸化チタン粒子となる。
十面体酸化チタン粒子とは、特許文献1の定義と同様に、十面体の箱型形状を有する酸化チタン粒子を意味する。
また、十面体酸化チタン粒子以外の酸化チタン粒子とは、本実施形態の製造方法で得られた酸化チタン粒子のうち、上記の十面体酸化チタン粒子として定義されないものを意味する。
<金属酸化物粒子の製造方法>
次に、本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造方法について、図1に示した金属酸化物粒子の製造装置101を用いて説明する。
本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造方法は、金属塩化物を含む反応ガスと、前記金属塩化物を含まない酸化性ガスをそれぞれ予熱温度で予熱する工程(以下、予熱工程という。)と、前記反応ガスと前記酸化性ガスとを合流して合流ガスを形成した後25ミリ秒未満に、前記合流ガスを前記予熱温度以上の本加熱温度とした本加熱領域へ移動させる工程(以下、合流工程という。)と、前記本加熱領域で前記合流ガスを加熱して金属酸化物粒子を製造する工程(以下、本加熱工程という。)と、を有する。以下、金属塩化物として四塩化チタンを用い、金属酸化物粒子として酸化チタンを生成する場合について説明する。
<予熱工程>
図1に示すように、まず、酸化性ガス導入管4aから酸素、窒素及び水を導入する。気化器6で水を水蒸気とした後、酸化性ガス導入管4へ酸素、窒素及び水蒸気からなる混合ガス(以下、酸化性ガスという。)が流し込まれる。
そして、酸化性ガスは、予熱領域Xを通過し、予熱領域Y、Bの中空外筒1と中空内筒5との間のリング状開口部27を通過する間に、一定の予熱温度に加熱される。
一方、反応ガス導入管25aからは四塩化チタンを導入する。気化器7で四塩化チタンが蒸気とされた後、別の反応ガス導入管25bから導入された酸素及び窒素と混合されて、四塩化チタンの蒸気、酸素及び窒素からなる混合ガス(以下、反応ガスという。)が中空内筒5に流し込まれる。
そして、反応ガスは、予熱領域Y、Bの中空内筒5の内筒開口部26を通過する間に、一定の予熱温度に加熱される。
3つの予熱領域X、Y、Bで加熱することにより、反応ガスと酸化性ガスの温度をより精密に、かつ、より短時間に任意の温度に制御する。
<合流工程>
中空内筒5の下流端部5bから噴出された反応ガスは、リング状開口部から噴出された酸化性ガスと、中空内筒5の下流端部5bで合流して合流ガスを形成する。つまり、中空内筒5の下流端部5bが合流地点となる。
制御部(図示略)で合流ガスの流速を制御することにより、前記合流ガスは、合流後25ミリ秒未満に、本加熱領域Aへ移動される。つまり、前記合流ガスは、合流後25ミリ秒未満に、本加熱領域Aの上流端A1に達する。
<本加熱工程>
本加熱領域Aでは、合流ガスを先に記載した本加熱温度で本加熱して、反応式(1)の酸化反応により、金属塩化物を金属酸化物へと変える。そして、本加熱領域Aを合流ガスが通過すると合流ガス中の金属酸化物は急冷却されて、金属酸化物粒子からなる粉末生成物を生成する。
本加熱温度や昇温条件を変えることで、光触媒活性の異なる複数の十面体酸化チタン粒子が得られるが、光触媒活性の高い十面体酸化チタン粒子を効率よく製造するためには、四塩化チタン蒸気と酸化性ガスとからなる原料ガスを、予熱温度から本加熱温度まで急加
熱させることが好ましい。
なお、合流ガスを急加熱することにより、粉末生成物中の十面体酸化チタン粒子の比率を高めることができ、光触媒活性の高い金属酸化物粒子を多く生成できる。例えば、酸化チタン粒子は、光触媒活性の高い十面体酸化チタン粒子を多く含む。
四塩化チタン蒸気を急加熱させる方法としては、例えば、前記移動時間を短時間にすればよい。そして、前記移動時間を短時間とするには、中間領域Zの長さを短くするか、合流ガスの流速を早めればよい。
前記合流ガスの移動時間は、25ミリ秒未満であることが好ましく、20ミリ秒以下であることがより好ましく、10ミリ秒以下であることが更に好ましい。
前記移動時間を25ミリ秒未満と短時間にして、酸化反応が進行する本加熱温度まで前記合流ガスを急加熱することにより、効率よく酸化反応を行い、金属塩化物を光触媒活性の高い十面体酸化チタン粒子などのような金属酸化物粒子とすることができる。また、合流ガスを本加熱領域Aに効率よく送り込むことができ、酸化反応により直ちに消費された四塩化チタンを効率よく補充することができる。また、粉末生成物中の十面体酸化チタン粒子の比率を高めることができる。さらにまた、ルチル比率を1%以下と低くして、高い光触媒活性を有する金属酸化物粒子が得られる。
逆に、前記移動時間を25ミリ秒以上とすると、前記合流ガスを本加熱領域Aに効率的に送り込めない場合が発生して、粉末生成物中の十面体酸化チタン粒子の比率を低くするとともに、光触媒活性を低下させるおそれが生じる。
本加熱領域Aでは、反応管11の内壁面近傍の合流ガスの温度が反応管11の中心軸付近の合流ガスの温度よりも高温となる。すなわち、内壁面近傍付近の合流ガスと中心軸付近の合流ガスとの間で温度差が生じる。
また、本加熱領域Aは、外部の加熱装置2により加熱される反応管11の内壁面が最も高温とされるので、この部分で酸化反応が生じやすくなり、反応管11の内壁面に膜状生成物が固着する。この膜状生成物は、四塩化チタン蒸気の濃度が高いほど生成しやすい。
[四塩化チタンの濃度]
第1の領域(一重管構造部)51で、中空外筒1内を流れる合流ガス中の四塩化チタンの濃度は、0.1〜20体積%とすることが好ましく、0.1〜5体積%とすることがより好ましく、0.2〜2体積%とすることが更に好ましい。中空外筒1内を流れる合流ガス中の四塩化チタンの濃度を上記範囲内とすることにより、高い光触媒活性を有する十面体酸化チタン粒子が得られる。
また、第1の領域(一重管構造部)51で、中空内筒1内を流れる合流ガス中の四塩化チタン濃度が低いほど、粉末生成物を構成する酸化チタン粒子の一次粒子径が小さくなり、比表面積が増大する。中空外筒1内を流れる合流ガス中の四塩化チタン濃度を上記範囲内とすることにより、高い光触媒活性を有する粉末生成物が得られる。
[線速度]
第2の領域(二重管構造部)52で、反応ガスの線速度に対して、酸化性ガスの線速度を0.1〜10の範囲内とすることが好ましく、0.25〜4の範囲内とすることがより好ましく、0.3〜3の範囲内とすることが更に好ましい。
反応ガスと酸化性ガスをほぼ同一の速度で流すことにより、得られる粉末生成物中の十面体酸化チタン粒子の比率が高まり、光触媒活性も高まる。
また、第2の領域(二重管構造部)52で、反応ガスの線速度に対する酸化性ガスの線速度を0.1未満、または10超とした場合には、粉末生成物中の十面体酸化チタン粒子の比率が低下し、光触媒活性も低下する。
[滞留時間]
合流ガスが本加熱領域Aに滞留する時間(以下、滞留時間という。)は、2〜500ミリ秒の範囲内であることが好ましく、50〜250ミリ秒の範囲内であることがより好ましく、50〜150ミリ秒の範囲内であることが更に好ましい。
前記滞留時間が500ミリ秒超の場合には、酸化チタン粒子同士が融着しやすくなり、ルチル比率が高まり、末生成物中の十面体酸化チタン粒子の比率が低下し、光触媒活性が低下する。
逆に、前記滞留時間が2ミリ秒未満の場合には、本加熱領域Aを通過する際に完全に四塩化チタンの酸化反応が行われず、未反応の四塩化チタンが残り、酸化チタン粒子の生産性が低下するとともに、粉末生成物中の十面体酸化チタン粒子の比率も低下し、光触媒活性が低下する。
[レイノルズ数]
合流ガスのレイノルズ数は、10〜10000の範囲であることが好ましく、20〜2000の範囲であることがより好ましく、40〜500の範囲であることが更に好ましい。
レイノルズ数を上記範囲内とすることにより、反応管11の外側への四塩化チタン蒸気の拡散を抑制する酸化性ガスの効果を高めることができる。これにより、反応管11の内壁面に生成する膜状生成物の量を減らすことができる。この効果が最も高いのは、レイノルズ数が40〜500の範囲の層流となる場合である。
レイノルズ数が10000を超える場合には、合流ガスの乱流状態が顕著になり、反応管11の中心軸付近から内壁面側への四塩化チタン蒸気の拡散を抑制する酸化性ガスの効果が失われ、反応管11の内壁面への膜状生成物の固着量が増える。
逆に、レイノルズ数が10未満の場合には、反応ガス及び酸化性ガスの線速度がそれぞれ低くなり、反応管11の中心軸付近から内壁面側への四塩化チタン蒸気の拡散を抑制する酸化性ガスの効果が失われ、反応管11の内壁面への膜状生成物の固着量が増える。
また、レイノルズ数を10〜10000の範囲内とすることにより、粉末生成物中の十面体粒子の比率が高まり、光触媒活性が高まる。
一方、合流ガスのレイノルズ数が10未満、または10000超となる場合には、粉末生成物中の十面体粒子の比率が低下し、光触媒活性も低下する。
レイノルズ数Reは、Re=D×u×ρ/μという式で計算する。ここで、Dは中空外筒1の内径(m)であり、uは線速度(m/s)であり、ρは密度(kg/m)であり、μは粘度[kg/(m×s)]である。
本実施形態では、中空外筒1の内径Dの値として21(mm)を用いる。また、uの値としては、反応後の合流ガス(Cl+O)の線速度(本加熱温度換算値)を用いる。ρの値としては、反応後の合流ガス(Cl+O)の密度(本加熱温度換算値)を用いる。さらに、μの値としては、反応後の合流ガスの粘度(本加熱温度換算値)を用いる。
[合流ガスの線速度u]
反応後の合流ガス(Cl+O)の線速度uの値として、反応ガス(TiCl+O)の線速度u(本加熱温度換算値)を用いる。
先に記載した反応式(1)の反応により、反応ガスに含有させたTiClがすべて消費された場合には、TiClの2倍(流)量のClが生成するとともに、OはTiClの分だけ消費されて、O流量が減少する。しかし、生成するTiOは粒子でありガスではないので、この反応前後で流れる気体全体の流量は変わらない。
[合流ガスの密度ρ]
反応後の合流ガス(Cl+O)の密度ρの値を計算するために、単位時間当たりに流れる反応後の合流ガスの流量(すなわち、反応ガスの流量)を用いる。
まず、反応後の合流ガスの流量を本加熱温度換算した流量をX本加熱温度(m)とする。反応後の合流ガスの流量X本加熱温度(m)の標準状態(0℃、1atm)における流量を用いて、合流ガスの質量Y0℃,1atm(kg)が求まる。このとき、反応後の合流ガスの密度ρ=Y0℃,1atm(kg)/X本加熱温度(m)となる。
反応後の合流ガス(Cl+O)の粘度μの計算には、μ=exp{a+b×ln(t+273)}という算出式を用いる。上記算出式において、tは温度であり、ここでは本加熱温度である。また、a、bは使用するガスの種類によって決まる定数であり、Clについてはa=0.015、b=0.864であり、Oについてはa=1.289、b=0.711という値である。なお、a、bのこれらの値は、すでに既知となっているtとμの組み合わせから、aとbの連立方程式を解いて得た値である。
以下の式により、反応後の合流ガス(Cl+O)の粘度μを平均化して、反応後の合流ガスの粘度μ(本加熱温度時)を求める。
反応後の合流ガスの粘度μ(1200℃時)={(Clの流量の本加熱温度換算値)×(本加熱温度時のClの粘度)+(Oの流量の本加熱温度換算値)×(本加熱温度時のOの粘度)}/{反応後の合流ガス(Cl+O)の流量}
以上、金属酸化物粒子として酸化チタン粒子を例として説明したが、これに限られるものではなく、たとえば、前記金属酸化物粒子は、酸化ケイ素粒子、酸化スズ粒子などでもよい。これらの金属酸化物粒子を製造する場合には、それぞれ四塩化ケイ素蒸気及び四塩化スズ蒸気を含む反応ガスを使用する。
なお、金属酸化物粒子として酸化チタン粒子を生成する場合には、反応ガスとして四塩化チタンの蒸気と酸素とからなる混合ガスを用い、酸化性ガスとして酸素ガスを用いることが、最も好ましい。この組み合わせを用いることにより、「粉末生成物中の十面体酸化チタン粒子の比率」を高くすることができ、得られる粉末生成物の光触媒活性が高くなると共に、反応管11の内壁面に生成する膜状生成物の発生を抑制することができる。
また、反応ガスとして四塩化チタンの蒸気と窒素とからなる混合ガスを用い、酸化性ガスとして酸素ガスを用いてもよい。この場合にも、「粉末生成物中の十面体酸化チタン粒子の比率」は高くすることができ、高い光触媒活性を有する酸化チタン粒子を得ることができる。
さらに、反応ガスとして四塩化チタンの蒸気と酸素とからなる混合ガスを用い、酸化性ガスとして酸素と水蒸気とからなる混合ガスを用いてもよい。
この場合には、(水の物質量[mol])/(四塩化チタンの物質量[mol])の比の値により、異なる状態の生成物を得ることができる。例えば、(水の物質量[mol])/(四塩化チタンの物質量[mol])の比を3以上とした場合には、反応管11の内壁面に膜状生成物が全く固着されず、中空内筒5の下流端部5bに、筒状の固形生成物が成長する。この現象は(水の物質量[mol])/(四塩化チタンの物質量[mol])の比が大きくなるほど顕著になる。また、粉末生成物中の粒子同士の融着も非常に大きくなる。また、(水の物質量[mol])/(四塩化チタンの物質量[mol])の比を0.5〜3の範囲内とした場合には、中空内筒5の下流端部5bに生じる筒状の固形生成物の成長が抑制され、その長さは短くなる。また、この範囲内で水蒸気の供給量を増すほど、膜状生成物の量は減り、粉末生成物中の粒子同士の融着が大きくなる。
本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造方法は、反応管11内で、金属塩化物を含む反応ガスと前記金属塩化物を含まない酸化性ガスとを予熱してから、前記反応ガスと前記酸化性ガスとからなる合流ガスを、その合流地点5bよりも下流側に離れた本加熱領域Aで本加熱する金属酸化物粒子の製造方法であって、前記合流ガスが合流地点5bから本加熱領域Aの上流端A1に達するまでの時間を25ミリ秒未満とする構成なので、金属塩化物を含む反応ガスと金属塩化物を含まない酸化性ガスとをそれぞれ予熱してから、前記合流ガスを本加熱させる際に、前記合流ガスを急加熱することによって、高い光触媒活性を有する金属酸化物粒子を製造することができる。
本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造方法は、反応管11が、中空外筒1と、中空外筒1の上流側に挿入された中空内筒5とからなる二重管構造部52を備えており、中空内筒5に反応ガスを流すとともに、中空内筒5と中空外筒1との間に前記酸化性ガスを流して、中空内筒5の下流端部5bを、前記反応ガスと前記酸化性ガスの合流地点5bとする構成なので、金属塩化物を含む反応ガスと金属塩化物を含まない酸化性ガスとをそれぞれ予熱してから、反応管11内で合流させて合流ガスを形成した後、中空内筒5の下流端部の合流地点5bよりも下流側に離れた領域において前記合流ガスを本加熱させる際に、合流地点5bから本加熱領域Aの上流端A1に達するまでの時間を25ミリ秒未満として、前記合流ガスを急加熱することによって、高い光触媒活性を有する金属酸化物粒子を製造することができる。
本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造方法は、前記金属塩化物が四塩化チタンであり、前記金属酸化物粒子が酸化チタン粒子である構成なので、四塩化チタンを含む反応ガスと四塩化チタンを含まない酸化性ガスとをそれぞれ予熱してから、反応管11内で合流させて合流ガスを形成した後、合流地点5bよりも下流側に離れた領域において前記合流ガスを本加熱させる際に、合流地点5bから本加熱領域Aの上流端A1に達するまでの時間を25ミリ秒未満として、前記合流ガスを急加熱することによって、高い光触媒活性を有する酸化チタン粒子を製造することができる。
本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造方法は、前記酸化チタン粒子が十面体酸化チタン粒子である構成なので、四塩化チタンを含む反応ガスと四塩化チタンを含まない酸化性ガスとをそれぞれ予熱してから、反応管11内で合流させて合流ガスを形成した後、合流地点5bよりも下流側に離れた領域において前記合流ガスを本加熱させる際に、合流地点5bから本加熱領域Aの上流端A1に達するまでの時間を25ミリ秒未満として、前記合流ガスを急加熱することによって、高い光触媒活性を有する十面体酸化チタン粒子を効率的に製造することができる。
本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造方法は、前記予熱の温度が136℃以上750℃以下である構成なので、高い光触媒活性を有する金属酸化物粒子を効率的に製造することができる。
本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造方法は、前記本加熱の温度が800℃以上1500℃以下である構成なので、高い光触媒活性を有する金属酸化物粒子を効率的に製造することができる。
本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造方法は、前記反応ガスが、酸素ガスまたは/および窒素ガスを含む構成なので、高い光触媒活性を有する金属酸化物粒子を効率的に製造することができる。
本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造方法は、前記酸化性ガスが、酸素ガス、窒素ガス、アルゴン、水蒸気またはこれらのうち少なくとも2種類のガスを含む構成なので、高い光触媒活性を有する金属酸化物粒子を効率的に製造することができる。
本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造方法は、中空内筒5の下流端部5bよりも上流側で、前記反応ガスの線速度に対して、前記酸化性ガスの線速度を0.1〜10の範囲内とする構成なので、高い光触媒活性を有する金属酸化物粒子を効率的に製造することができる。
本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造方法は、中空内筒5の下流端部5bよりも下流側で、前記合流ガスに含まれる前記四塩化チタンの濃度を0.1〜20体積%とする構成なので、高い光触媒活性を有する金属酸化物粒子を効率的に製造することができる。
本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造方法は、前記合流ガスが本加熱領域Aに滞留する時間を2〜500ミリ秒とする構成なので、高い光触媒活性を有する金属酸化物粒子を効率的に製造することができる。
本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造方法は、前記合流ガスのレイノルズ数を10〜10000とする構成なので、高い光触媒活性を有する金属酸化物粒子を効率的に製造することができる。
本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造装置101は、上流側から下流側にガスを流通させる反応管11を備え、反応管11の上流側に2以上のガスを別々に流通させる第2の領域52が設けられ、前記第2の領域52の下流端部5bに前記2以上のガスからなる合流ガスを形成する合流地点5bが設けられ、前記合流地点5bの下流側に前記合流ガスを流通させる第1の領域51が設けられ、前記第1の領域51の途中に前記合流ガスを本加熱する本加熱領域Aが設けられた金属酸化物粒子の製造装置101であって、前記合流ガスが合流地点5bから本加熱領域Aの上流端A1に達するまでの時間を25ミリ秒未満とするように制御する制御部を有する構成なので、金属塩化物を含む反応ガスと金属塩化物を含まない酸化性ガスとをそれぞれ予熱してから、反応管11内で合流させて合流ガスを形成した後、合流地点5bよりも下流側に離れた領域において前記合流ガスを本加熱させる際に、合流地点5bから本加熱領域Aの上流端A1に達するまでの時間を25ミリ秒未満として、前記合流ガスを急加熱することによって、高い光触媒活性を有する金属酸化物粒子を製造することができる。
本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造装置101は、前記制御部が、前記合流ガスの流速の制御手段を備えている構成なので、金属塩化物を含む反応ガスと金属塩化物を含まない酸化性ガスとをそれぞれ予熱してから、反応管11内で合流させて合流ガスを形成した後、中空内筒の下流端部の合流地点5bよりも下流側に離れた領域において前記合流ガスを本加熱させる際に、前記合流ガスの流速を制御して、合流地点5bから本加熱領域Aの上流端A1に達するまでの時間を25ミリ秒未満として、前記合流ガスを急加熱することによって、高い光触媒活性を有する金属酸化物粒子を製造することができる。
本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造装置は、反応管11の外部であって、第2の領域52と本加熱領域Aとの間に遮光板10を配置する構成なので、金属塩化物を含む反応ガスと金属塩化物を含まない酸化性ガスとをそれぞれ予熱する際に、加熱装置2の下流側からの赤外線を遮断できるとともに、合流ガスを本加熱させる際に、加熱装置2の上流側からの赤外線を遮断することができ、予熱温度および本加熱温度を精密に制御して、高い光触媒活性を有する金属酸化物粒子を製造することができる。
以下、本発明を実施例に基づいて具体的に説明する。しかし、本発明はこれらの実施例にのみ限定されるものではない。その要旨を変更しない範囲で適宜変更して実施することができる。
(実施例1)
<装置準備>
まず、中空外筒1としては外径25.1mm、内径21.1mm、厚み2.0mmの石英管を使用し、中空内筒5としては外径12.0mm、内径7.9mm、厚み2.1mmの石英管を使用して、中空外筒1と中空内筒5とが同軸となるように配置して二重管構造を有する反応管11を作製した。
次に、反応管11の一部に白金板を12cm巻きつけ、この部分に赤外線が当たるように加熱装置(赤外線ゴールドイメージ炉:アルバック理工株式会社製)2を配置して、本加熱領域Aを設定した。
次に、中空内筒5の下流端部5bが本加熱領域Aの上流端から1cm上流の位置となるように、中空内筒5を配置した。中空内筒5の下流端部5bより上流側に、12cmの長さの白金板を巻きつけ、この部分に赤外線が当たるように加熱装置2を配置して、予熱領域Bを設定した。
次に、本加熱領域Aと予熱領域Bに、温度制御器(図示略)を配置した。
次に、加熱装置2よりも上流側に電気ヒーターを配置して、反応ガスと酸化性ガスとを予熱する予熱領域X、Yを設定した。
次に、中間領域Zの長さは1(cm)とした。この長さは、合流ガスの流速を約0.047(cm/ミリ秒)としたときに移動時間を21(ミリ秒)とする長さである。
以上のようにして、図1に示す金属酸化物粒子の製造装置101を準備した。
<製造工程>
次に、酸素(O)ガスからなる酸化性ガスを酸化性ガス導入管4aに導入した後、165℃に保温した気化器6内を通過させて、酸化性ガス導入管4へ酸化性ガスを導入した。なお、酸化性ガスの流量は、1657Nml/minとした。
次に、反応ガス導入管25aから導入した四塩化チタン(TiCl)を、165℃に保温した気化器7を通過させて四塩化チタンの蒸気とするとともに、酸素(O)を反応ガス導入管25bから導入して、四塩化チタン蒸気と酸素の混合ガスからなる反応ガスを中空内筒5へ導入した。なお、反応ガスの流量は343Nml/minとした。
予熱領域X、Yで、反応ガスと酸化性ガスをそれぞれ150℃に加熱した。
また、予熱領域Bの白金板の表面温度が700℃になるように制御して、反応ガスと酸化性ガスを700℃に予熱した。
さらに、予熱領域Bにおける反応ガスの線速度に対する酸化性ガスの線速度の比は1.0とした。
中間領域Zでは、予熱した反応ガスと酸化性ガスを合流した後21ミリ秒で、本加熱領域Aへ移動させた。
なお、中間領域Zの温度は700〜1100℃とした。
次に、本加熱領域Aの白金板の表面温度が1100℃になるように制御して、合流ガスを1100℃に加熱した。また、合流ガスの本加熱領域Aでの滞留時間を250ミリ秒とした。また、本加熱領域Aにおける合流ガス中の四塩化チタンの濃度は0.24体積%とした。また、本加熱領域Aでの合流ガスのレイノルズ数は47とした。
なお、このレイノルズ数は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1100℃になっていると仮定した場合の値である。また、この滞留時間は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1100℃になっていると仮定した場合の値である。
最後に、生成物回収部3で粉末生成物からなる金属酸化物粒子(実施例1)を回収した。
<特性評価>
以下のようにして、金属酸化物粒子(実施例1)の特性評価を行った。
まず、原料に対する粉末生成物の収率は81%であった。また、得られた粉末生成物は酸化チタン粒子であった。
粉末生成物の収率とは、使用した四塩化チタンのすべてが先に記載した反応式(1)の反応によって酸化チタン生成物に変換された場合の酸化チタン生成物の質量に対して、製造された粉末生成物、すなわち酸化チタン粒子の質量の割合である。
参考として、膜状生成物の収率は、使用した四塩化チタンのすべてが先に記載した反応式(1)の反応によって酸化チタン生成物に変換された場合の酸化チタン生成物の質量に対して、製造された膜状生成物の質量の割合である。
次に、走査型電子顕微鏡で観察することにより、粉末生成物中の十面体酸化チタンの比率が70%であることが分かった。
十面体酸化チタン粒子の比率(以下、十面体比率)とは、走査型電子顕微鏡で、5箇所以上の視野にて酸化チタン粒子(任意にサンプリングした粉末生成物)を観察して、酸化チタン粒子に対する十面体酸化チタン粒子の割合を算出したものである。
また、得られた粒子の比表面積(BET)は25m/gであることが分かった。
次に、X線回折測定により、ルチル比率が1%であることが分かった。
このルチル比率は、X線回折測定で得られたピーク強度からルチル型結晶構造の酸化チタン粒子の割合(%)を推定した結果である。ルチル比率の推定方法は図4に記載した。なお、十面体酸化チタン粒子の光触媒活性は前記ルチル比率と相関があり、比表面積が同等の場合である場合には、前記ルチル比率の低い粒子の方が、前記ルチル比率の高い粒子よりも光触媒活性が高くなる傾向がある。特に、前記ルチル比率が1%以下の十面体酸化チタン粒子は高い光触媒活性を示す。
次に、以下のガスクロマトグラフィー法を用いることにより、光触媒活性が128ppm/hであることが分かった。
まず、酸化チタン粉末10mgを内径27mmのシャーレに入れ、水を加え分散後、110℃で乾燥した。
次に、500mlチャンバー内に、このシャーレを入れて、合成エアで内部を置換後、アセトアルデヒド500ppm相当分、水5.8μl(25℃における相対湿度50%相当分)を入れた状態で、キセノン光源の0.2mW/cmの光を照射して、1時間あたりに発生する二酸化炭素(CO)量をガスクロマトグラフィーで定量した。
(実施例2)
本加熱領域Aにおける合流ガス中の四塩化チタンの濃度を0.48体積%とした以外は
実施例1と同様にして、実施例2の金属酸化物粒子を製造した。
原料に対する粉末生成物の収率は93%であった。また、粉末生成物中の十面体酸化チタンの比率は80%であることが分かった。光触媒活性は129ppm/hであった。得られた粒子の比表面積は20m/gであった。さらに、ルチル比率は1%であった。
(実施例3)
本加熱領域Aにおける合流ガス中の四塩化チタンの濃度を0.73体積%とした以外は実施例1と同様にして、実施例3の金属酸化物粒子を製造した。
原料に対する粉末生成物の収率は85%であった。また、粉末生成物中の十面体酸化チタンの比率は70%であることが分かった。光触媒活性は122ppm/hであった。得られた粒子の比表面積は18m/gであった。さらに、ルチル比率は1%であった。
(実施例4)
本加熱領域Aにおける合流ガス中の四塩化チタンの濃度を0.18体積%とした以外は実施例1と同様にして、実施例4の金属酸化物粒子を製造した。
原料に対する粉末生成物の収率は88%であった。また、粉末生成物中の十面体酸化チタンの比率は70%であることが分かった。光触媒活性は112ppm/hであった。得られた粒子の比表面積は26m/gであった。さらに、ルチル比率は1%であった。
(実施例5)
本加熱領域Aにおける合流ガス中の四塩化チタンの濃度を0.48体積%とし、中空内筒5として外径12.7mm、内径10.3mm、厚み1.2mmの石英管を使用し、酸化性ガスの流量を1211Nml/minとし、反応ガスの流量を457Nml/minとした。合流ガスの本加熱領域Aでの滞留時間を289ミリ秒とし、移動時間を24ミリ秒とした。本加熱領域Aにおけるレイノルズ数は38とし、本加熱温度を1150℃とした以外は実施例1と同様にして、実施例5の金属酸化物粒子を製造した。
なお、このレイノルズ数は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。また、この滞留時間は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。
原料に対する粉末生成物の収率は85%であった。また、粉末生成物中の十面体酸化チタンの比率は70%であることが分かった。光触媒活性は125ppm/hであった。得られた粒子の比表面積は20m/gであった。
実施例5の金属酸化物粒子(酸化チタン粒子)のルチル比率は1%であった。
(実施例6)
酸化性ガスの流量を1320Nml/minとし、反応ガスの流量を498Nml/minとし、本加熱領域Aにおけるレイノルズ数は41とし、合流ガスの本加熱領域Aでの滞留時間を265ミリ秒とし、移動時間を22ミリ秒とした以外は実施例5と同様にして、実施例6の金属酸化物粒子を製造した。
なお、このレイノルズ数は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。また、この滞留時間は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。
原料に対する粉末生成物の収率は83%であった。また、粉末生成物中の十面体酸化チタンの比率は70%であることが分かった。光触媒活性は131ppm/hであった。得られた粒子の比表面積は20m/gであった。ルチル比率は1%であった。
(実施例7)
本加熱領域Aにおける合流ガス中の四塩化チタンの濃度を0.48体積%とし、中空内筒5として外径12.7mm、内径10.3mm、厚み1.2mmの石英管を使用し、酸化性ガスの流量を1398Nml/minとし、反応ガスの流量を527Nml/minとし、本加熱領域Aにおけるレイノルズ数は44とし、本加熱温度を1150℃とした以外は実施例5と同様にして、実施例7の金属酸化物粒子を製造した。
なお、このレイノルズ数は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。また、この滞留時間は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。
原料に対する粉末生成物の収率は83%であった。また、粉末生成物中の十面体酸化チタンの比率は70%であることが分かった。光触媒活性は137ppm/hであった。得られた粒子の比表面積は20m/gであった。
図4は、実施例7の金属酸化物粒子(酸化チタン粒子)のX線回折測定結果である。図4のPeak(a)強度及びPeak(b)強度を用いて、次式(2)により推定した。
ルチル比率(%)=100×(Peak(b)強度)/(Peak(a)強度+Peak(b)強度)…(2)
実施例7の金属酸化物粒子(酸化チタン粒子)のルチル比率は1%であった。
なお、図3A,Bは、実施例7の金属酸化物粒子(酸化チタン粒子)の走査型電子顕微鏡写真であって、図3Aは250k倍の写真であり、図3Bは100k倍の写真である。
(実施例8)
酸化性ガスの流量を2795Nml/minとし、反応ガスの流量を1055Nml/minとし、本加熱領域Aにおけるレイノルズ数は88とし、合流ガスの本加熱領域Aでの滞留時間を125ミリ秒とし、移動時間を10ミリ秒とした以外は実施例5と同様にして、実施例8の金属酸化物粒子を製造した。
なお、このレイノルズ数は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。また、この滞留時間は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。
原料に対する粉末生成物の収率は73%であった。また、粉末生成物中の十面体酸化チタンの比率は80%であることが分かった。光触媒活性は146ppm/hであった。得られた粒子の比表面積は25m/gであった。ルチル比率は0%であった。
(実施例9)
酸化性ガスの流量を3494Nml/minとし、反応ガスの流量を1318Nml/minとし、本加熱領域Aにおけるレイノルズ数は110とし、合流ガスの本加熱領域Aでの滞留時間を100ミリ秒とし、移動時間を8ミリ秒とした以外は、実施例5と同様にして、実施例9の金属酸化物粒子を製造した。
なお、このレイノルズ数は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。また、この滞留時間は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。
原料に対する粉末生成物の収率は34%であった。また、粉末生成物中の十面体酸化チタンの比率は60%であることが分かった。光触媒活性は149ppm/hであった。得られた粒子の比表面積は41m/gであった。ルチル比率は0%であった。
(実施例10)
酸化性ガスの流量を1510Nml/minとし、反応ガスの流量を570Nml/minとし、本加熱領域Aにおけるレイノルズ数は50とし、本加熱温度を1050℃とした以外は、実施例5と同様にして、実施例10の金属酸化物粒子を製造した。
なお、このレイノルズ数は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1050℃になっていると仮定した場合の値である。また、この滞留時間は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1050℃になっていると仮定した場合の値である。
原料に対する粉末生成物の収率は56%であった。また、粉末生成物中の十面体酸化チタンの比率は70%であることが分かった。光触媒活性は142ppm/hであった。得られた粒子の比表面積は28m/gであった。ルチル比率は0%であった。
(実施例11)
酸化性ガスの流量を1568Nml/minとし、反応ガスの流量を592Nml/minとし、本加熱領域Aにおけるレイノルズ数は54とし、本加熱温度を1000℃とした以外は、実施例5と同様にして、実施例11の金属酸化物粒子を製造した。
なお、このレイノルズ数は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1000℃になっていると仮定した場合の値である。また、この滞留時間は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1000℃になっていると仮定した場合の値である。
原料に対する粉末生成物の収率は45%であった。また、粉末生成物中の十面体酸化チタンの比率は70%であることが分かった。光触媒活性は163ppm/hであった。得られた粒子の比表面積は24m/gであった。ルチル比率は0%であった。
(実施例12)
中間領域Zの距離を2.5cmとし、移動時間を20ミリ秒とした以外は、実施例9と同様にして、実施例12の金属酸化物粒子を製造した。
原料に対する粉末生成物の収率は35%であった。また、粉末生成物中の十面体酸化チタンの比率は60%であることが分かった。光触媒活性は145ppm/hであった。得られた粒子の比表面積は40m/gであった。ルチル比率は0%であった。
(実施例13)
図2に示す、金属酸化物粒子の製造装置102を用いて実施例13の金属酸化物粒子を製造した。製造装置102は、遮光板10を用いていない以外は製造装置101と同一の構成とされている。なお、同一の部材・領域については同一の符号を付して示している。
製造装置102を用いて、中間領域Zの長さを2.5cmとし、移動時間を20ミリ秒とした以外は、実施例9と同様にして、実施例13の金属酸化物粒子を製造した。
原料に対する粉末生成物の収率は37%であった。また、粉末生成物中の十面体酸化チタンの比率は50%であることが分かった。光触媒活性は125ppm/hであった。得られた粒子の比表面積は40m/gであった。ルチル比率は1%であった。
(比較例1)
図2は、金属酸化物粒子の製造装置の比較例を示す模式図である。比較例の製造装置102は、遮光板10を用いず、中間領域Zの長さが6cmとされた以外は製造装置101と同一の構成とされている。なお、同一の部材・領域については同一の符号を付して示している。
製造装置102を用いて、実施例1と同様にして、比較例1の金属酸化物粒子を製造した。なお、移動時間は126ミリ秒となる。
原料に対する粉末生成物の収率は70%であり、粉末生成物中の十面体酸化チタンの比率は50%であることが分かった。光触媒活性は90ppm/hであった。BET比表面積は23m/gであった。ルチル比率は2%であった。
(比較例2)
酸化性ガスの流量を1165Nml/minとし、反応ガスの流量を440Nml/minとし、本加熱領域Aにおけるレイノルズ数は37とし、合流ガスの本加熱領域Aでの滞留時間を300ミリ秒とし、移動時間を25ミリ秒とした以外は実施例5と同様にして
、比較例2の金属酸化物粒子を製造した。
なお、このレイノルズ数は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。また、この滞留時間は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。
原料に対する粉末生成物の収率は85%であった。また、粉末生成物中の十面体酸化チタンの比率は50%であることが分かった。光触媒活性は103ppm/hであった。得られた粒子の比表面積は19m/gであった。ルチル比率は2%であった。
(比較例3)
本加熱領域Aにおける合流ガス中の四塩化チタンの濃度を0.48体積%とし、中空内筒5として外径12.7mm、内径10.3mm、厚み1.2mmの 石英管を使用し、酸化性ガスの流量を1118Nml/minとし、反応ガスの流量を422Nml/minとした。合流ガスの本加熱領域Aでの滞留時間を313ミリ秒とし、移動時間を26ミリ秒とした。本加熱領域Aにおけるレイノルズ数は35とし、本加熱温度を1150℃とした以外は実施例1と同様にして、 比較例3の金属酸化物粒子を製造した。
なお、このレイノルズ数は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。また、この滞留時間は 中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。
原料に対する粉末生成物の収率は85%であった。また、粉末生成物中の十面体酸化チタンの比率は50%であることが分かった。光触媒活性は108ppm/hであった。得られた粒子の比表面積は19m/gであった。比較例3の金属酸化物粒子(酸化チタン粒子)のルチル比率は2%であった。
(比較例4)
特性比較のため、市販の光触媒用酸化チタン粒子を購入した。この酸化チタン粒子(比較例4)は火炎法で合成された粒子であり、電子顕微鏡観察した結果、粒子形状は不定形であり、一次粒子径は20〜60nmであった。また、X線回折測定の結果より、アナターゼとルチルが混在した粒子であることが分かった。
酸化チタン粒子(比較例4)の十面体酸化チタンの比率は0%であり、光触媒活性は70ppm/hであった。粒子の比表面積は50m/gであった。
表1に、実施例1〜11及び比較例1〜3の製造条件をまとめた。
また、表2に、実施例1〜11及び比較例1〜4の粉末生成物の収率と粉末生成物中の十面体比率、光触媒活性、比表面積(BET測定値、m/g)、ルチル比率をまとめた。
移動時間を126ミリ秒とした比較例1の酸化チタン粒子の光触媒活性90ppm/hは、比較例3の市販粒子の光触媒活性70ppm/hより若干高い程度であった。
移動時間を25ミリ秒とした比較例2の酸化チタン粒子の光触媒活性は103ppm/hと比較例1の酸化チタン粒子の光触媒活性よりも若干向上している程度であった。
一方、移動時間を25ミリ秒未満とした実施例5〜9の酸化チタン粒子の光触媒活性は125〜149ppm/hと、大幅に向上した。
実施例5〜9より、高い光触媒活性を得るためには25ミリ秒未満がよく、23ミリ秒未満がよく、22ミリ秒未満がさらに良いことが分かる。
下流端部5bよりも下流における四塩化チタン濃度を0.18〜0.73%まで変えて特性比較を行った実施例1〜4の酸化チタン粒子は112〜129ppm/hの高い光触媒活性が得られた。
実施例5〜9では移動時間を8〜24ミリ秒の範囲で変えていると同時に、滞留時間を100〜289ミリ秒の範囲で変えている。
滞留時間を変えた際の粒子の特性変化はBET値が変わることである。滞留時間を短くするとBET値が高くなる傾向がある。一般に、BET値が高まるほど、酸化チタン粒子の活性は高くなる。
実施例5〜7では滞留時間を289ミリ秒から250ミリ秒まで短くしているが、この滞留時間範囲においては、比表面積が20m/gと同じである。このため、実施例5〜7で活性が高まっているのは、滞留時間を変えたことによるのではなく、移動時間を短くしたことによる。
実施例7〜9では、滞留時間を250ミリ秒から125ミリ秒、100ミリ秒と短くしている。粉末収率が83%から34%に低下するものの、BET値が20m/gから41m/gまで高まった結果、光触媒活性が149ppm/hまで高まった。
本加熱領域Aの温度を変えて特性比較を行った実施例7、10、11の酸化チタン粒子は、本加熱温度を1150℃から1000℃まで下げていくと、光触媒活性は163ppm/h程度まで高まるものの、粉末生成物の収率が45%まで低下した。
実施例12は遮光板有りの装置101を用いているのに対し、実施例13では遮光板無しの装置102を用いている。実施例13の遮光板無しの場合には、実施例12と比較し、十面体比率と光触媒活性が若干低下する結果となった。
本発明は、金属酸化物粒子の製造方法及びその製造装置に関するものであって、特に、四塩化チタンを含む反応ガスと酸化性ガスとからなる合流ガスを急加熱して、光触媒材料として好適な十面体酸化チタン粒子もしくはそれ以外の酸化チタン粒子を製造する酸化チタン粒子の製造方法及びその製造装置に関するものであって、光触媒産業などにおいて利用可能性がある。
1…中空外筒、1a…上流側、1b…下流側、2…加熱装置(赤外線ゴールドイメージ炉
)、3…生成物回収部、3a…排気ポンプ、3b…圧力調整バルブ、4、4a…酸化性ガ
ス導入管、5…中空内筒、5a…上流側、5b…下流側(下流端部:下流端:合流地点)
、6、7…気化器、8…排出管、10…遮光板、11…反応管、25a、25b…反応ガ
ス導入管、26…内筒開口部、27…リング状開口部、28…外筒開口部、51…第1の
領域(一重管構造部)、52…第2の領域(二重管構造部)、61、62…白金板、10
1、102…金属酸化物粒子の製造装置、A…本加熱領域、A1…上流端、B…予熱領域
、X…予熱領域、Y…予熱領域、Z…中間領域。

Claims (13)

  1. 反応管内で、四塩化チタンを含む反応ガスと前記四塩化チタンを含まない酸化性ガスとを予熱してから、前記反応ガスと前記酸化性ガスとからなる合流ガスを、その合流地点よりも下流側に離れた本加熱領域で本加熱する酸化チタン粒子の製造方法であって、
    前記合流ガスが前記合流地点から中間領域を設けて離れた前記本加熱領域の上流端に達するまでの時間を25ミリ秒未満とし、前記合流ガスが前記本加熱領域に滞留する時間を50〜250ミリ秒とすることを特徴とする酸化チタン粒子の製造方法。
  2. 前記反応管が、中空外筒と、前記中空外筒の上流側に挿入された中空内筒とからなる二重管構造部を備えており、
    前記中空内筒に反応ガスを流すとともに、前記中空内筒と前記中空外筒との間に前記酸化性ガスを流して、前記中空内筒の下流端部を、前記反応ガスと前記酸化性ガスの合流地点とすることを特徴とする請求項1に記載の酸化チタン粒子の製造方法。
  3. 前記酸化チタン粒子が十面体酸化チタン粒子であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の酸化チタン粒子の製造方法。
  4. 前記予熱の温度が136℃以上750℃以下であることを特徴とする請求項1〜のいずれか1項に記載の酸化チタン粒子の製造方法。
  5. 前記本加熱の温度が800℃以上1500℃以下であることを特徴とする請求項1〜のいずれか1項に記載の酸化チタン粒子の製造方法。
  6. 前記反応ガスが、酸素ガスまたは/および窒素ガスを含むことを特徴とする請求項1〜のいずれか1項に記載の酸化チタン粒子の製造方法。
  7. 前記酸化性ガスが、酸素ガス、窒素ガス、アルゴン、水蒸気またはこれらのうち少なくとも2種類のガスを含むことを特徴とする請求項1〜のいずれか1項に記載の酸化チタン粒子の製造方法。
  8. 前記中空内筒の下流端部よりも上流側で、前記反応ガスの線速度に対して、前記酸化性ガスの線速度を0.1〜10の範囲内とすることを特徴とする請求項1〜のいずれか1項に記載の酸化チタン粒子の製造方法。
  9. 前記中空内筒の下流端部よりも下流側で、前記合流ガスに含まれる前記四塩化チタンの濃度を0.1〜20体積%とすることを特徴とする請求項のいずれか1項に記載の酸化チタン粒子の製造方法。
  10. 前記合流ガスのレイノルズ数を10〜10000とすることを特徴とする請求項1〜のいずれか1項に記載の酸化チタン粒子の製造方法。
  11. 上流側から下流側にガスを流通させる反応管を備え、前記反応管の上流側に2以上のガスを別々に流通させる第2の領域が設けられ、前記第2の領域の下流端部に前記2以上のガスからなる合流ガスを形成する合流地点が設けられ、前記合流地点の下流側に前記合流ガスを流通させる第1の領域が設けられ、前記第1の領域の途中に前記合流ガスを本加熱する本加熱領域が設けられた酸化チタン粒子の製造装置であって、
    前記合流ガスが前記合流地点から前記本加熱領域の上流端に達するまでの時間を25ミリ秒未満とするように制御する制御部を有することを特徴とする酸化チタン粒子の製造装置。
  12. 前記制御部が、前記合流ガスの流速の制御手段を備えていることを特徴とする請求項11に記載の酸化チタン粒子の製造装置。
  13. 前記反応管の外部であって、前記第2の領域と前記本加熱領域との間に遮熱板または遮光板を配置することを特徴とする請求項11または請求項12に記載の酸化チタン粒子の製造装置。
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