JP5682929B2 - 酸化チタン粒子の製造方法及び製造装置 - Google Patents
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Description
本願は、2009年8月24日に、日本に出願された特願2009−193213号に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
特許文献1、2及び非特許文献1には、前記十面体酸化チタン粒子は単位質量当たりの表面積が大きく、結晶性が高いとともに内部欠陥も少ないので、光触媒として高い活性を有することが記載されている。また、非特許文献2には、前記十面体酸化チタン粒子は反応性の高い(001)面の比率が高く、光触媒として有望であることが記載されている。
特許文献1、2及び非特許文献1に記載の十面体酸化チタン粒子の製造方法は、反応管内に四塩化チタン(TiCl4)蒸気と酸素(O2)ガスとを導入した後、これらのガスを反応管の外部から加熱して、下記反応式(1)に示す反応により、酸化チタン粒子(TiO2)を製造する方法である。
TiCl4+O2→TiO2+2Cl2…(1)
しかし、前記製造方法で得られた十面体酸化チタン粒子は、実用的な光触媒製品に用いるには光触媒活性が不十分であり、光触媒活性の更なる向上が求められていた。
領域の上流端に達するまでの時間を25ミリ秒未満として前記合流ガスを急加熱することによって、高い光触媒活性を有する十面体酸化チタン粒子を製造できることを見出して、以下の発明を完成した。
(1) 反応管内で、金属塩化物を含む反応ガスと前記金属塩化物を含まない酸化性ガスとを予熱してから、前記反応ガスと前記酸化性ガスとからなる合流ガスを、その合流地点よりも下流側に離れた本加熱領域で本加熱する金属酸化物粒子の製造方法であって、
前記合流ガスが前記合流地点から前記本加熱領域の上流端に達するまでの時間を25ミリ秒未満とすることを特徴とする金属酸化物粒子の製造方法。
(3) 前記金属塩化物が四塩化チタンであり、前記金属酸化物粒子が酸化チタン粒子であることを特徴とする(1)または(2)に記載の金属酸化物粒子の製造方法。
(4) 前記酸化チタン粒子が十面体酸化チタン粒子であることを特徴とする(3)に記載の金属酸化物粒子の製造方法。
(6) 前記本加熱の温度が800℃以上1500℃以下であることを特徴とする(1)〜(5)のいずれかに記載の金属酸化物粒子の製造方法。
(7) 前記反応ガスが、酸素ガスまたは/および窒素ガスを含むことを特徴とする(1)〜(6)のいずれかに記載の金属酸化物粒子の製造方法。
(9) 前記中空内筒の下流端部よりも上流側で、前記反応ガスの線速度に対して、
前記酸化性ガスの線速度を0.1〜10の範囲内とすることを特徴とする(1)〜(8)のいずれかに記載の金属酸化物粒子の製造方法。
(10) 前記中空内筒の下流端部よりも下流側で、前記合流ガスに含まれる前記四塩化チタンの濃度を0.1〜20体積%とすることを特徴とする(3)〜(9)のいずれかに記載の金属酸化物粒子の製造方法。
(12) 前記合流ガスのレイノルズ数を10〜10000とすることを特徴とする(1)〜(11)のいずれかに記載の金属酸化物粒子の製造方法。
(実施形態)
<金属酸化物粒子の製造装置>
図1は、本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造装置の一例を示す模式図である。
図1に示すように、本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造装置101は、中空外筒1と、中空外筒1の上流側(上流部)1aから中空外筒1の途中まで挿入されてなる中空内筒5と、からなる反応管11を具備するとともに、反応管11の外部に反応管11を局所的に加熱するように加熱装置2が配置されて概略構成されている。
中空外筒1の上流側1aには、金属塩化物を含まない酸化性ガスを導入するための酸化性ガス導入管4が接続されている。酸化性ガス導入管4は、気化器6を介して、別の酸化性ガス導入管4aに接続されている。図では省略しているが、別の酸化性ガス導入管4aは、バルブを介して酸素(O2)、窒素(N2)及び水の供給源に接続されている。
気化器6の温度は、たとえば、165℃とされており、別の酸化性ガス導入管4aから導入された水を気化して水蒸気とする。これにより、酸素、窒素及び水蒸気の混合ガスからなる酸化性ガスを酸化性ガス導入管4から中空外筒1に供給できる構成とされている。
中空内筒5の上流側5aには、別の気化器7を介して、四塩化チタン(TiCl4)などの金属塩化物の蒸気を含む反応ガスを導入するための反応ガス導入管25a、25bが接続されている。
図では省略しているが、反応ガス導入管25aは、バルブを介して金属塩化物の供給源に接続されており、金属塩化物を中空内筒5に供給できる構成とされている。また、反応ガス導入管25bは、バルブを介して酸素及び窒素の供給源に接続されており、酸素及び窒素ガスを中空内筒5に供給できる構成とされている。
気化器7の温度は、たとえば、165℃とされており、金属塩化物を気化して金属塩化物蒸気とする。これにより、酸素、窒素及び金属塩化物蒸気の混合ガスからなる反応ガスを中空内筒5に供給できる構成とされている。
なお、図1では省略しているが、本製造装置には、反応ガス及び酸化性ガスの流量を調整して、合流ガスの流速を制御する手段を備えた制御部が具備されている。制御部で合流ガスの流速を制御することによって、合流ガスが合流地点から本加熱領域の上流端までに達する時間を制御することができる。
図1に示すように、反応管11は、中空外筒1と、中空内筒5とを有して構成されている。反応管11は、例えば、石英などからなる円筒管である。
中空内筒5は、中空外筒1の上流側1aから途中まで挿入されてなり、その下流端部5bは、中空外筒1の長手方向で中心付近となるように配置されている。これにより、反応管11は、中空外筒1と中空内筒5とからなる第2の領域(二重管構造部)52と、中空外筒1のみからなる第1の領域(一重管構造部)51とを有する。つまり、反応管11で、中空内筒5の下流端部5bを境に上流側が二重管構造とされ、下流側が一重管構造とされている。そのため、第2の領域52では、2以上のガスを別々に流通させることができ、第1の領域51では2以上のガスを合流させてなる合流ガスを流通させることができる構成とされている。
第2の領域52では、中空外筒1と中空内筒5を同軸構造とすることが好ましい。これにより、反応ガスを中心軸側に集めることができ、反応管11の内壁面へ反応ガスの拡散を抑制して、反応管内壁に固着する膜状生成物(副生物)の発生を抑制することができる。
図1に示すように、反応管11の外部には、中空内筒5の下流端部5bを中心に配置するように、2つの加熱装置2が配置されている。
加熱装置2としては、例えば、赤外線ゴールドイメージ炉を用いる。赤外線ゴールドイメージ炉は、赤外線を照射して加熱を行う装置である。加熱装置2としては、これに限られるものではなく、酸水素バーナーまたは電気ヒーターなどを用いることもよい。
なお、加熱装置2の温度制御方法は、これに限られるものではなく、赤外線センサーを配置してもよく、また、これらのセンサーを組み合わせた温度制御器を配置してもよい。
本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造装置101には、3つの予熱領域B、X、Yが設けられている。
予熱領域Bは、中空外筒1に白金板62が巻きつけられた領域であり、外部に2つの加熱装置2が配置されている。白金板62は赤外線ゴールドイメージ炉のような加熱装置2から照射される赤外線を吸収することにより発熱し、白金板62が巻きつけられた部分のみを局所的に加熱する。反応ガスおよび酸化性ガスを通過させて、所定の予熱の温度(以下、予熱温度という。)とする。
製造装置101においては、反応ガスと酸化性ガスとの予熱温度が136℃以上500℃未満の場合、予熱温度と本加熱温度の温度差が大きくなる結果、本加熱領域Aにおける内壁面近傍付近の合流ガスと中心軸付近の合流ガスとの間に生じる温度差が大きくなるために、不均一な温度条件で酸化チタン粒子が合成される。
これに対して、反応ガスと酸化性ガスの予熱温度が500℃以上750℃以下の場合には、予熱温度と本加熱温度の温度差が小さくなる結果、本加熱領域Aにおける内壁面近傍付近の合流ガスと中心軸付近の合流ガスとの間に生じる温度差が小さくなるために、より均一な温度条件で酸化チタン粒子が合成される。
この結果、反応ガスと酸化性ガスの予熱温度が500℃以上750℃以下の場合には、500℃未満の場合と比べて、得られる粉末生成物中の十面体酸化チタン粒子の比率が高まり、その結果、高い光触媒活性を有する十面体酸化チタン粒子が得られる。
反応管11の下流側の第1の領域51には、本加熱領域Aが設けられている。
本加熱領域Aは、中空外筒1に白金板61が巻きつけられた領域であり、外部に2つの加熱装置2が配置されている。白金板61は赤外線ゴールドイメージ炉のような加熱装置2から照射される赤外線を吸収することにより発熱し、白金板61が巻きつけられた部分のみを局所的に加熱する。反応ガスおよび酸化性ガスを通過させて、所定の本加熱の温度(以下、本加熱温度という。)とする。
例えば、四塩化チタン蒸気と酸素との間の酸化反応を効率的に進行させて、酸化チタン粒子を効率的に生成することができる。
逆に、本加熱温度が1500℃超の場合には、酸化チタン粒子が互いに融着して、酸化チタン粒子の比表面積を低下させるとともに、アナターゼからルチル結晶構造への転移が進行し、ルチル比率が高まる。これにより、酸化チタン粒子の光触媒活性が低下する。また、本加熱温度が1200℃超の場合には、酸化チタン粒子同士の融着が著しくなり、酸化チタン粒子の比表面積を低下させるとともに、ルチル比率が高まり、酸化チタン粒子の光触媒特性を劣化させる。
合流ガスが本加熱領域Aを通過すると、合流ガス中で生成した金属酸化物は急冷却され、所定の粒径の金属酸化物粒子を生成する。
予熱領域Bと本加熱領域Aとの間には、中間領域Zが設けられている。
中間領域Zの長さは、合流ガスの流速をv(cm/ミリ秒)としたときに、25v(cm)未満となるようにされている。これにより、合流ガスをv(cm/ミリ秒)の流速で流すときに、合流ガス形成後25ミリ秒未満の短時間に、前記合流ガスを本加熱領域Aに移動できる。合流ガス形成後25ミリ秒未満で前記合流ガスを本加熱領域Aに移動させて、合流ガスを急加熱することにより、光触媒活性の高い十面体酸化チタン粒子などのような金属酸化物を効率的に生成することができる。
なお、合流地点5bから本加熱領域Aの上流端A1に達するまでの時間を移動時間と定義する。中間領域Zの長さを長くして、前記移動時間を25ミリ秒以上とした場合には、合流ガスを急加熱できなくなり、高い光触媒活性を有する十面体酸化チタン粒子を効率よく生成できない。
また、中間領域Zを確保することにより、予熱領域Bの下流端部と本加熱領域Aの上流端部との間に一定の距離を確保して、予熱領域Bの温度を均一にできる。中間領域Zを設けなければ、予熱領域Bの下流側が高くなるような不均一な温度分布が発生する。
加熱装置2と反応管11との間であって、本加熱領域Aと予熱領域Bの間には、板面が反応管1の長手方向に垂直となるように、遮光板10が配置されている。遮光板10をこのように配置することにより、加熱装置2の上流側と下流側それぞれから照射される赤外線を分離でき、予熱領域Bと本加熱領域Aの温度をそれぞれ独立に設定できる。
遮光板10を配置しなければ、例えば、加熱装置2の下流側で放射された赤外線が上流側の白金板62に照射され、予熱領域Bの温度を設定温度以上とする場合が発生する。特に、前記移動時間を25ミリ秒未満にするために、中間領域Zの長さを短くする場合には、遮光板10を設けることが効果的である。
なお、加熱装置2として酸水素バーナーまたは電気ヒーターなどを用いる場合には、遮光板10の代わりに遮熱板を用いることが好ましい。
中空外筒1の下流側1bには、排出管8を介して金属酸化物粒子などの生成物を回収する生成物回収部3が接続されている。生成物回収部3はバグフィルターなどからなり、生成した金属酸化物粒子を回収できる。
なお、生成物回収部3の下流側には、排気ポンプ3aと圧力調整バルブ3bとが接続されている。通常、生成物回収部3に生成物がたまり、フィルターが目詰まりするにつれて、反応管11の内部の圧力が上昇する。排気ポンプ3aにより吸引することによって、この圧力上昇を押さえることができ、常圧付近で金属酸化物への酸化反応させることができる。なお、この際、圧力調整バルブ3bを調整して、排気ポンプ3aの吸引力を調節することが好ましい。これにより、金属酸化物粒子をより効率的に生成することができる。
十面体酸化チタン粒子とは、特許文献1の定義と同様に、十面体の箱型形状を有する酸化チタン粒子を意味する。
また、十面体酸化チタン粒子以外の酸化チタン粒子とは、本実施形態の製造方法で得られた酸化チタン粒子のうち、上記の十面体酸化チタン粒子として定義されないものを意味する。
次に、本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造方法について、図1に示した金属酸化物粒子の製造装置101を用いて説明する。
本発明の実施形態である金属酸化物粒子の製造方法は、金属塩化物を含む反応ガスと、前記金属塩化物を含まない酸化性ガスをそれぞれ予熱温度で予熱する工程(以下、予熱工程という。)と、前記反応ガスと前記酸化性ガスとを合流して合流ガスを形成した後25ミリ秒未満に、前記合流ガスを前記予熱温度以上の本加熱温度とした本加熱領域へ移動させる工程(以下、合流工程という。)と、前記本加熱領域で前記合流ガスを加熱して金属酸化物粒子を製造する工程(以下、本加熱工程という。)と、を有する。以下、金属塩化物として四塩化チタンを用い、金属酸化物粒子として酸化チタンを生成する場合について説明する。
図1に示すように、まず、酸化性ガス導入管4aから酸素、窒素及び水を導入する。気化器6で水を水蒸気とした後、酸化性ガス導入管4へ酸素、窒素及び水蒸気からなる混合ガス(以下、酸化性ガスという。)が流し込まれる。
そして、酸化性ガスは、予熱領域Xを通過し、予熱領域Y、Bの中空外筒1と中空内筒5との間のリング状開口部27を通過する間に、一定の予熱温度に加熱される。
そして、反応ガスは、予熱領域Y、Bの中空内筒5の内筒開口部26を通過する間に、一定の予熱温度に加熱される。
3つの予熱領域X、Y、Bで加熱することにより、反応ガスと酸化性ガスの温度をより精密に、かつ、より短時間に任意の温度に制御する。
中空内筒5の下流端部5bから噴出された反応ガスは、リング状開口部から噴出された酸化性ガスと、中空内筒5の下流端部5bで合流して合流ガスを形成する。つまり、中空内筒5の下流端部5bが合流地点となる。
制御部(図示略)で合流ガスの流速を制御することにより、前記合流ガスは、合流後25ミリ秒未満に、本加熱領域Aへ移動される。つまり、前記合流ガスは、合流後25ミリ秒未満に、本加熱領域Aの上流端A1に達する。
本加熱領域Aでは、合流ガスを先に記載した本加熱温度で本加熱して、反応式(1)の酸化反応により、金属塩化物を金属酸化物へと変える。そして、本加熱領域Aを合流ガスが通過すると合流ガス中の金属酸化物は急冷却されて、金属酸化物粒子からなる粉末生成物を生成する。
熱させることが好ましい。
なお、合流ガスを急加熱することにより、粉末生成物中の十面体酸化チタン粒子の比率を高めることができ、光触媒活性の高い金属酸化物粒子を多く生成できる。例えば、酸化チタン粒子は、光触媒活性の高い十面体酸化チタン粒子を多く含む。
前記移動時間を25ミリ秒未満と短時間にして、酸化反応が進行する本加熱温度まで前記合流ガスを急加熱することにより、効率よく酸化反応を行い、金属塩化物を光触媒活性の高い十面体酸化チタン粒子などのような金属酸化物粒子とすることができる。また、合流ガスを本加熱領域Aに効率よく送り込むことができ、酸化反応により直ちに消費された四塩化チタンを効率よく補充することができる。また、粉末生成物中の十面体酸化チタン粒子の比率を高めることができる。さらにまた、ルチル比率を1%以下と低くして、高い光触媒活性を有する金属酸化物粒子が得られる。
逆に、前記移動時間を25ミリ秒以上とすると、前記合流ガスを本加熱領域Aに効率的に送り込めない場合が発生して、粉末生成物中の十面体酸化チタン粒子の比率を低くするとともに、光触媒活性を低下させるおそれが生じる。
また、本加熱領域Aは、外部の加熱装置2により加熱される反応管11の内壁面が最も高温とされるので、この部分で酸化反応が生じやすくなり、反応管11の内壁面に膜状生成物が固着する。この膜状生成物は、四塩化チタン蒸気の濃度が高いほど生成しやすい。
第1の領域(一重管構造部)51で、中空外筒1内を流れる合流ガス中の四塩化チタンの濃度は、0.1〜20体積%とすることが好ましく、0.1〜5体積%とすることがより好ましく、0.2〜2体積%とすることが更に好ましい。中空外筒1内を流れる合流ガス中の四塩化チタンの濃度を上記範囲内とすることにより、高い光触媒活性を有する十面体酸化チタン粒子が得られる。
また、第1の領域(一重管構造部)51で、中空内筒1内を流れる合流ガス中の四塩化チタン濃度が低いほど、粉末生成物を構成する酸化チタン粒子の一次粒子径が小さくなり、比表面積が増大する。中空外筒1内を流れる合流ガス中の四塩化チタン濃度を上記範囲内とすることにより、高い光触媒活性を有する粉末生成物が得られる。
第2の領域(二重管構造部)52で、反応ガスの線速度に対して、酸化性ガスの線速度を0.1〜10の範囲内とすることが好ましく、0.25〜4の範囲内とすることがより好ましく、0.3〜3の範囲内とすることが更に好ましい。
反応ガスと酸化性ガスをほぼ同一の速度で流すことにより、得られる粉末生成物中の十面体酸化チタン粒子の比率が高まり、光触媒活性も高まる。
また、第2の領域(二重管構造部)52で、反応ガスの線速度に対する酸化性ガスの線速度を0.1未満、または10超とした場合には、粉末生成物中の十面体酸化チタン粒子の比率が低下し、光触媒活性も低下する。
合流ガスが本加熱領域Aに滞留する時間(以下、滞留時間という。)は、2〜500ミリ秒の範囲内であることが好ましく、50〜250ミリ秒の範囲内であることがより好ましく、50〜150ミリ秒の範囲内であることが更に好ましい。
前記滞留時間が500ミリ秒超の場合には、酸化チタン粒子同士が融着しやすくなり、ルチル比率が高まり、粉末生成物中の十面体酸化チタン粒子の比率が低下し、光触媒活性が低下する。
逆に、前記滞留時間が2ミリ秒未満の場合には、本加熱領域Aを通過する際に完全に四塩化チタンの酸化反応が行われず、未反応の四塩化チタンが残り、酸化チタン粒子の生産性が低下するとともに、粉末生成物中の十面体酸化チタン粒子の比率も低下し、光触媒活性が低下する。
合流ガスのレイノルズ数は、10〜10000の範囲であることが好ましく、20〜2000の範囲であることがより好ましく、40〜500の範囲であることが更に好ましい。
レイノルズ数を上記範囲内とすることにより、反応管11の外側への四塩化チタン蒸気の拡散を抑制する酸化性ガスの効果を高めることができる。これにより、反応管11の内壁面に生成する膜状生成物の量を減らすことができる。この効果が最も高いのは、レイノルズ数が40〜500の範囲の層流となる場合である。
逆に、レイノルズ数が10未満の場合には、反応ガス及び酸化性ガスの線速度がそれぞれ低くなり、反応管11の中心軸付近から内壁面側への四塩化チタン蒸気の拡散を抑制する酸化性ガスの効果が失われ、反応管11の内壁面への膜状生成物の固着量が増える。
また、レイノルズ数を10〜10000の範囲内とすることにより、粉末生成物中の十面体粒子の比率が高まり、光触媒活性が高まる。
一方、合流ガスのレイノルズ数が10未満、または10000超となる場合には、粉末生成物中の十面体粒子の比率が低下し、光触媒活性も低下する。
本実施形態では、中空外筒1の内径Dの値として21(mm)を用いる。また、uの値としては、反応後の合流ガス(Cl2+O2)の線速度(本加熱温度換算値)を用いる。ρの値としては、反応後の合流ガス(Cl2+O2)の密度(本加熱温度換算値)を用いる。さらに、μの値としては、反応後の合流ガスの粘度(本加熱温度換算値)を用いる。
反応後の合流ガス(Cl2+O2)の線速度uの値として、反応ガス(TiCl4+O2)の線速度u(本加熱温度換算値)を用いる。
先に記載した反応式(1)の反応により、反応ガスに含有させたTiCl4がすべて消費された場合には、TiCl4の2倍(流)量のCl2が生成するとともに、O2はTiCl4の分だけ消費されて、O2流量が減少する。しかし、生成するTiO2は粒子でありガスではないので、この反応前後で流れる気体全体の流量は変わらない。
反応後の合流ガス(Cl2+O2)の密度ρの値を計算するために、単位時間当たりに流れる反応後の合流ガスの流量(すなわち、反応ガスの流量)を用いる。
まず、反応後の合流ガスの流量を本加熱温度換算した流量をX本加熱温度(m3)とする。反応後の合流ガスの流量X本加熱温度(m3)の標準状態(0℃、1atm)における流量を用いて、合流ガスの質量Y0℃,1atm(kg)が求まる。このとき、反応後の合流ガスの密度ρ=Y0℃,1atm(kg)/X本加熱温度(m3)となる。
以下の式により、反応後の合流ガス(Cl2+O2)の粘度μを平均化して、反応後の合流ガスの粘度μ(本加熱温度時)を求める。
反応後の合流ガスの粘度μ(1200℃時)={(Cl2の流量の本加熱温度換算値)×(本加熱温度時のCl2の粘度)+(O2の流量の本加熱温度換算値)×(本加熱温度時のO2の粘度)}/{反応後の合流ガス(Cl2+O2)の流量}
この場合には、(水の物質量[mol])/(四塩化チタンの物質量[mol])の比の値により、異なる状態の生成物を得ることができる。例えば、(水の物質量[mol])/(四塩化チタンの物質量[mol])の比を3以上とした場合には、反応管11の内壁面に膜状生成物が全く固着されず、中空内筒5の下流端部5bに、筒状の固形生成物が成長する。この現象は(水の物質量[mol])/(四塩化チタンの物質量[mol])の比が大きくなるほど顕著になる。また、粉末生成物中の粒子同士の融着も非常に大きくなる。また、(水の物質量[mol])/(四塩化チタンの物質量[mol])の比を0.5〜3の範囲内とした場合には、中空内筒5の下流端部5bに生じる筒状の固形生成物の成長が抑制され、その長さは短くなる。また、この範囲内で水蒸気の供給量を増すほど、膜状生成物の量は減り、粉末生成物中の粒子同士の融着が大きくなる。
<装置準備>
まず、中空外筒1としては外径25.1mm、内径21.1mm、厚み2.0mmの石英管を使用し、中空内筒5としては外径12.0mm、内径7.9mm、厚み2.1mmの石英管を使用して、中空外筒1と中空内筒5とが同軸となるように配置して二重管構造を有する反応管11を作製した。
次に、中空内筒5の下流端部5bが本加熱領域Aの上流端から1cm上流の位置となるように、中空内筒5を配置した。中空内筒5の下流端部5bより上流側に、12cmの長さの白金板を巻きつけ、この部分に赤外線が当たるように加熱装置2を配置して、予熱領域Bを設定した。
次に、加熱装置2よりも上流側に電気ヒーターを配置して、反応ガスと酸化性ガスとを予熱する予熱領域X、Yを設定した。
次に、中間領域Zの長さは1(cm)とした。この長さは、合流ガスの流速を約0.047(cm/ミリ秒)としたときに移動時間を21(ミリ秒)とする長さである。
以上のようにして、図1に示す金属酸化物粒子の製造装置101を準備した。
次に、酸素(O2)ガスからなる酸化性ガスを酸化性ガス導入管4aに導入した後、165℃に保温した気化器6内を通過させて、酸化性ガス導入管4へ酸化性ガスを導入した。なお、酸化性ガスの流量は、1657Nml/minとした。
次に、反応ガス導入管25aから導入した四塩化チタン(TiCl4)を、165℃に保温した気化器7を通過させて四塩化チタンの蒸気とするとともに、酸素(O2)を反応ガス導入管25bから導入して、四塩化チタン蒸気と酸素の混合ガスからなる反応ガスを中空内筒5へ導入した。なお、反応ガスの流量は343Nml/minとした。
また、予熱領域Bの白金板の表面温度が700℃になるように制御して、反応ガスと酸化性ガスを700℃に予熱した。
さらに、予熱領域Bにおける反応ガスの線速度に対する酸化性ガスの線速度の比は1.0とした。
中間領域Zでは、予熱した反応ガスと酸化性ガスを合流した後21ミリ秒で、本加熱領域Aへ移動させた。
なお、中間領域Zの温度は700〜1100℃とした。
なお、このレイノルズ数は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1100℃になっていると仮定した場合の値である。また、この滞留時間は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1100℃になっていると仮定した場合の値である。
最後に、生成物回収部3で粉末生成物からなる金属酸化物粒子(実施例1)を回収した。
以下のようにして、金属酸化物粒子(実施例1)の特性評価を行った。
まず、原料に対する粉末生成物の収率は81%であった。また、得られた粉末生成物は酸化チタン粒子であった。
粉末生成物の収率とは、使用した四塩化チタンのすべてが先に記載した反応式(1)の反応によって酸化チタン生成物に変換された場合の酸化チタン生成物の質量に対して、製造された粉末生成物、すなわち酸化チタン粒子の質量の割合である。
参考として、膜状生成物の収率は、使用した四塩化チタンのすべてが先に記載した反応式(1)の反応によって酸化チタン生成物に変換された場合の酸化チタン生成物の質量に対して、製造された膜状生成物の質量の割合である。
十面体酸化チタン粒子の比率(以下、十面体比率)とは、走査型電子顕微鏡で、5箇所以上の視野にて酸化チタン粒子(任意にサンプリングした粉末生成物)を観察して、酸化チタン粒子に対する十面体酸化チタン粒子の割合を算出したものである。
また、得られた粒子の比表面積(BET)は25m2/gであることが分かった。
このルチル比率は、X線回折測定で得られたピーク強度からルチル型結晶構造の酸化チタン粒子の割合(%)を推定した結果である。ルチル比率の推定方法は図4に記載した。なお、十面体酸化チタン粒子の光触媒活性は前記ルチル比率と相関があり、比表面積が同等の場合である場合には、前記ルチル比率の低い粒子の方が、前記ルチル比率の高い粒子よりも光触媒活性が高くなる傾向がある。特に、前記ルチル比率が1%以下の十面体酸化チタン粒子は高い光触媒活性を示す。
まず、酸化チタン粉末10mgを内径27mmのシャーレに入れ、水を加え分散後、110℃で乾燥した。
次に、500mlチャンバー内に、このシャーレを入れて、合成エアで内部を置換後、アセトアルデヒド500ppm相当分、水5.8μl(25℃における相対湿度50%相当分)を入れた状態で、キセノン光源の0.2mW/cm2の光を照射して、1時間あたりに発生する二酸化炭素(CO2)量をガスクロマトグラフィーで定量した。
本加熱領域Aにおける合流ガス中の四塩化チタンの濃度を0.48体積%とした以外は
実施例1と同様にして、実施例2の金属酸化物粒子を製造した。
原料に対する粉末生成物の収率は93%であった。また、粉末生成物中の十面体酸化チタンの比率は80%であることが分かった。光触媒活性は129ppm/hであった。得られた粒子の比表面積は20m2/gであった。さらに、ルチル比率は1%であった。
本加熱領域Aにおける合流ガス中の四塩化チタンの濃度を0.73体積%とした以外は実施例1と同様にして、実施例3の金属酸化物粒子を製造した。
原料に対する粉末生成物の収率は85%であった。また、粉末生成物中の十面体酸化チタンの比率は70%であることが分かった。光触媒活性は122ppm/hであった。得られた粒子の比表面積は18m2/gであった。さらに、ルチル比率は1%であった。
本加熱領域Aにおける合流ガス中の四塩化チタンの濃度を0.18体積%とした以外は実施例1と同様にして、実施例4の金属酸化物粒子を製造した。
原料に対する粉末生成物の収率は88%であった。また、粉末生成物中の十面体酸化チタンの比率は70%であることが分かった。光触媒活性は112ppm/hであった。得られた粒子の比表面積は26m2/gであった。さらに、ルチル比率は1%であった。
本加熱領域Aにおける合流ガス中の四塩化チタンの濃度を0.48体積%とし、中空内筒5として外径12.7mm、内径10.3mm、厚み1.2mmの石英管を使用し、酸化性ガスの流量を1211Nml/minとし、反応ガスの流量を457Nml/minとした。合流ガスの本加熱領域Aでの滞留時間を289ミリ秒とし、移動時間を24ミリ秒とした。本加熱領域Aにおけるレイノルズ数は38とし、本加熱温度を1150℃とした以外は実施例1と同様にして、実施例5の金属酸化物粒子を製造した。
なお、このレイノルズ数は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。また、この滞留時間は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。
実施例5の金属酸化物粒子(酸化チタン粒子)のルチル比率は1%であった。
酸化性ガスの流量を1320Nml/minとし、反応ガスの流量を498Nml/minとし、本加熱領域Aにおけるレイノルズ数は41とし、合流ガスの本加熱領域Aでの滞留時間を265ミリ秒とし、移動時間を22ミリ秒とした以外は実施例5と同様にして、実施例6の金属酸化物粒子を製造した。
なお、このレイノルズ数は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。また、この滞留時間は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。
本加熱領域Aにおける合流ガス中の四塩化チタンの濃度を0.48体積%とし、中空内筒5として外径12.7mm、内径10.3mm、厚み1.2mmの石英管を使用し、酸化性ガスの流量を1398Nml/minとし、反応ガスの流量を527Nml/minとし、本加熱領域Aにおけるレイノルズ数は44とし、本加熱温度を1150℃とした以外は実施例5と同様にして、実施例7の金属酸化物粒子を製造した。
なお、このレイノルズ数は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。また、この滞留時間は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。
図4は、実施例7の金属酸化物粒子(酸化チタン粒子)のX線回折測定結果である。図4のPeak(a)強度及びPeak(b)強度を用いて、次式(2)により推定した。
ルチル比率(%)=100×(Peak(b)強度)/(Peak(a)強度+Peak(b)強度)…(2)
実施例7の金属酸化物粒子(酸化チタン粒子)のルチル比率は1%であった。
なお、図3A,Bは、実施例7の金属酸化物粒子(酸化チタン粒子)の走査型電子顕微鏡写真であって、図3Aは250k倍の写真であり、図3Bは100k倍の写真である。
酸化性ガスの流量を2795Nml/minとし、反応ガスの流量を1055Nml/minとし、本加熱領域Aにおけるレイノルズ数は88とし、合流ガスの本加熱領域Aでの滞留時間を125ミリ秒とし、移動時間を10ミリ秒とした以外は実施例5と同様にして、実施例8の金属酸化物粒子を製造した。
なお、このレイノルズ数は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。また、この滞留時間は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。
酸化性ガスの流量を3494Nml/minとし、反応ガスの流量を1318Nml/minとし、本加熱領域Aにおけるレイノルズ数は110とし、合流ガスの本加熱領域Aでの滞留時間を100ミリ秒とし、移動時間を8ミリ秒とした以外は、実施例5と同様にして、実施例9の金属酸化物粒子を製造した。
なお、このレイノルズ数は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。また、この滞留時間は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。
酸化性ガスの流量を1510Nml/minとし、反応ガスの流量を570Nml/minとし、本加熱領域Aにおけるレイノルズ数は50とし、本加熱温度を1050℃とした以外は、実施例5と同様にして、実施例10の金属酸化物粒子を製造した。
なお、このレイノルズ数は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1050℃になっていると仮定した場合の値である。また、この滞留時間は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1050℃になっていると仮定した場合の値である。
酸化性ガスの流量を1568Nml/minとし、反応ガスの流量を592Nml/minとし、本加熱領域Aにおけるレイノルズ数は54とし、本加熱温度を1000℃とした以外は、実施例5と同様にして、実施例11の金属酸化物粒子を製造した。
なお、このレイノルズ数は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1000℃になっていると仮定した場合の値である。また、この滞留時間は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1000℃になっていると仮定した場合の値である。
(実施例12)
中間領域Zの距離を2.5cmとし、移動時間を20ミリ秒とした以外は、実施例9と同様にして、実施例12の金属酸化物粒子を製造した。
原料に対する粉末生成物の収率は35%であった。また、粉末生成物中の十面体酸化チタンの比率は60%であることが分かった。光触媒活性は145ppm/hであった。得られた粒子の比表面積は40m2/gであった。ルチル比率は0%であった。
(実施例13)
図2に示す、金属酸化物粒子の製造装置102を用いて実施例13の金属酸化物粒子を製造した。製造装置102は、遮光板10を用いていない以外は製造装置101と同一の構成とされている。なお、同一の部材・領域については同一の符号を付して示している。
製造装置102を用いて、中間領域Zの長さを2.5cmとし、移動時間を20ミリ秒とした以外は、実施例9と同様にして、実施例13の金属酸化物粒子を製造した。
原料に対する粉末生成物の収率は37%であった。また、粉末生成物中の十面体酸化チタンの比率は50%であることが分かった。光触媒活性は125ppm/hであった。得られた粒子の比表面積は40m2/gであった。ルチル比率は1%であった。
図2は、金属酸化物粒子の製造装置の比較例を示す模式図である。比較例の製造装置102は、遮光板10を用いず、中間領域Zの長さが6cmとされた以外は製造装置101と同一の構成とされている。なお、同一の部材・領域については同一の符号を付して示している。
製造装置102を用いて、実施例1と同様にして、比較例1の金属酸化物粒子を製造した。なお、移動時間は126ミリ秒となる。
原料に対する粉末生成物の収率は70%であり、粉末生成物中の十面体酸化チタンの比率は50%であることが分かった。光触媒活性は90ppm/hであった。BET比表面積は23m2/gであった。ルチル比率は2%であった。
酸化性ガスの流量を1165Nml/minとし、反応ガスの流量を440Nml/minとし、本加熱領域Aにおけるレイノルズ数は37とし、合流ガスの本加熱領域Aでの滞留時間を300ミリ秒とし、移動時間を25ミリ秒とした以外は実施例5と同様にして
、比較例2の金属酸化物粒子を製造した。
なお、このレイノルズ数は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。また、この滞留時間は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。
本加熱領域Aにおける合流ガス中の四塩化チタンの濃度を0.48体積%とし、中空内筒5として外径12.7mm、内径10.3mm、厚み1.2mmの 石英管を使用し、酸化性ガスの流量を1118Nml/minとし、反応ガスの流量を422Nml/minとした。合流ガスの本加熱領域Aでの滞留時間を313ミリ秒とし、移動時間を26ミリ秒とした。本加熱領域Aにおけるレイノルズ数は35とし、本加熱温度を1150℃とした以外は実施例1と同様にして、 比較例3の金属酸化物粒子を製造した。
なお、このレイノルズ数は中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。また、この滞留時間は 中空内筒5の下流端部5bより下流において合流ガスが1150℃になっていると仮定した場合の値である。
特性比較のため、市販の光触媒用酸化チタン粒子を購入した。この酸化チタン粒子(比較例4)は火炎法で合成された粒子であり、電子顕微鏡観察した結果、粒子形状は不定形であり、一次粒子径は20〜60nmであった。また、X線回折測定の結果より、アナターゼとルチルが混在した粒子であることが分かった。
酸化チタン粒子(比較例4)の十面体酸化チタンの比率は0%であり、光触媒活性は70ppm/hであった。粒子の比表面積は50m2/gであった。
表1に、実施例1〜11及び比較例1〜3の製造条件をまとめた。
移動時間を25ミリ秒とした比較例2の酸化チタン粒子の光触媒活性は103ppm/hと比較例1の酸化チタン粒子の光触媒活性よりも若干向上している程度であった。
一方、移動時間を25ミリ秒未満とした実施例5〜9の酸化チタン粒子の光触媒活性は125〜149ppm/hと、大幅に向上した。
実施例5〜9より、高い光触媒活性を得るためには25ミリ秒未満がよく、23ミリ秒未満がよく、22ミリ秒未満がさらに良いことが分かる。
滞留時間を変えた際の粒子の特性変化はBET値が変わることである。滞留時間を短くするとBET値が高くなる傾向がある。一般に、BET値が高まるほど、酸化チタン粒子の活性は高くなる。
実施例5〜7では滞留時間を289ミリ秒から250ミリ秒まで短くしているが、この滞留時間範囲においては、比表面積が20m2/gと同じである。このため、実施例5〜7で活性が高まっているのは、滞留時間を変えたことによるのではなく、移動時間を短くしたことによる。
実施例7〜9では、滞留時間を250ミリ秒から125ミリ秒、100ミリ秒と短くしている。粉末収率が83%から34%に低下するものの、BET値が20m2/gから41m2/gまで高まった結果、光触媒活性が149ppm/hまで高まった。
実施例12は遮光板有りの装置101を用いているのに対し、実施例13では遮光板無しの装置102を用いている。実施例13の遮光板無しの場合には、実施例12と比較し、十面体比率と光触媒活性が若干低下する結果となった。
)、3…生成物回収部、3a…排気ポンプ、3b…圧力調整バルブ、4、4a…酸化性ガ
ス導入管、5…中空内筒、5a…上流側、5b…下流側(下流端部:下流端:合流地点)
、6、7…気化器、8…排出管、10…遮光板、11…反応管、25a、25b…反応ガ
ス導入管、26…内筒開口部、27…リング状開口部、28…外筒開口部、51…第1の
領域(一重管構造部)、52…第2の領域(二重管構造部)、61、62…白金板、10
1、102…金属酸化物粒子の製造装置、A…本加熱領域、A1…上流端、B…予熱領域
、X…予熱領域、Y…予熱領域、Z…中間領域。
Claims (13)
- 反応管内で、四塩化チタンを含む反応ガスと前記四塩化チタンを含まない酸化性ガスとを予熱してから、前記反応ガスと前記酸化性ガスとからなる合流ガスを、その合流地点よりも下流側に離れた本加熱領域で本加熱する酸化チタン粒子の製造方法であって、
前記合流ガスが前記合流地点から中間領域を設けて離れた前記本加熱領域の上流端に達するまでの時間を25ミリ秒未満とし、前記合流ガスが前記本加熱領域に滞留する時間を50〜250ミリ秒とすることを特徴とする酸化チタン粒子の製造方法。 - 前記反応管が、中空外筒と、前記中空外筒の上流側に挿入された中空内筒とからなる二重管構造部を備えており、
前記中空内筒に反応ガスを流すとともに、前記中空内筒と前記中空外筒との間に前記酸化性ガスを流して、前記中空内筒の下流端部を、前記反応ガスと前記酸化性ガスの合流地点とすることを特徴とする請求項1に記載の酸化チタン粒子の製造方法。 - 前記酸化チタン粒子が十面体酸化チタン粒子であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の酸化チタン粒子の製造方法。
- 前記予熱の温度が136℃以上750℃以下であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の酸化チタン粒子の製造方法。
- 前記本加熱の温度が800℃以上1500℃以下であることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の酸化チタン粒子の製造方法。
- 前記反応ガスが、酸素ガスまたは/および窒素ガスを含むことを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の酸化チタン粒子の製造方法。
- 前記酸化性ガスが、酸素ガス、窒素ガス、アルゴン、水蒸気またはこれらのうち少なくとも2種類のガスを含むことを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の酸化チタン粒子の製造方法。
- 前記中空内筒の下流端部よりも上流側で、前記反応ガスの線速度に対して、前記酸化性ガスの線速度を0.1〜10の範囲内とすることを特徴とする請求項1〜7のいずれか1項に記載の酸化チタン粒子の製造方法。
- 前記中空内筒の下流端部よりも下流側で、前記合流ガスに含まれる前記四塩化チタンの濃度を0.1〜20体積%とすることを特徴とする請求項1〜8のいずれか1項に記載の酸化チタン粒子の製造方法。
- 前記合流ガスのレイノルズ数を10〜10000とすることを特徴とする請求項1〜9のいずれか1項に記載の酸化チタン粒子の製造方法。
- 上流側から下流側にガスを流通させる反応管を備え、前記反応管の上流側に2以上のガスを別々に流通させる第2の領域が設けられ、前記第2の領域の下流端部に前記2以上のガスからなる合流ガスを形成する合流地点が設けられ、前記合流地点の下流側に前記合流ガスを流通させる第1の領域が設けられ、前記第1の領域の途中に前記合流ガスを本加熱する本加熱領域が設けられた酸化チタン粒子の製造装置であって、
前記合流ガスが前記合流地点から前記本加熱領域の上流端に達するまでの時間を25ミリ秒未満とするように制御する制御部を有することを特徴とする酸化チタン粒子の製造装置。 - 前記制御部が、前記合流ガスの流速の制御手段を備えていることを特徴とする請求項11に記載の酸化チタン粒子の製造装置。
- 前記反応管の外部であって、前記第2の領域と前記本加熱領域との間に遮熱板または遮光板を配置することを特徴とする請求項11または請求項12に記載の酸化チタン粒子の製造装置。
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