JP5682363B2 - トップコート用組成物およびそれを用いたパターン形成方法 - Google Patents
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Description
即ち、本発明のトップコート用組成物が含有する含フッ素ラクトンポリマー化合物の有する前記繰り返し単位は、以下、3点の特徴を兼ね備える。
即ち、一般式(2)で表される含フッ素ラクトンモノマー化合物と、一般式(2)で表される含フッ素ラクトンモノマー化合物を除く他の重合性単量体とが重合したことを特徴とする発明1のトップコート用組成物である。
R5が、水素原子、フッ素原子、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、フルオロメチル基、ジフルオロメチル基、トリフルオロメチル基、パーフルオロエチル基またはシクロヘキシル基であることを特徴とする発明1または発明2のトップコート用組成物。
R1、R2およびR5がメチル基であり、R3およびR4が水素原子であることを特徴とする発明1乃至発明3のいずれかのトップコート用組成物。
Rfがトリフルオロメチル基であることを特徴とする発明1乃至発明4のいずれかのトップコート用組成物。
前記他の重合性単量体が、少なくとも(メタ)アクリル酸エステルを含むことを特徴とする発明2乃至発明5のいずれかのトップコート用組成物。
重合性単量体が、ヘキサフルオロイソプロピル基を有する(メタ)アクリル酸エステルまたは酸分解性重合性化合物であることを特徴とする発明2乃至発明6のいずれかのトップコート用組成物。
含フッ素ラクトンポリマー化合物の質量平均分子量が1,000以上、1,000,000以下であることを特徴とする発明1乃至発明7のいずれかのトップコート用組成物。
発明1乃至発明8のいずれかのトップコート液とと溶剤とを含むことを特徴とするトップコート液。
発明9のトップコート液をレジスト塗布済の基板に塗布する第1の工程と、当該基板を加熱する第2の工程と、波長300nm以下の電磁波である高エネルギー線または電子線を用いてフォトマスクを介してレジストを露光する第3の工程と、現像液を用いて露光部位のレジストを溶解しパターン形成する第4の工程を含むことを特徴とするパターン形成方法。
本発明のトップコート用組成物に用いる一般式(2)で表される含フッ素ラクトンモノマー化合物は、重合性アクリルのカルボン酸部位とアルコール部位を有する含フッ素ラクトンのアルコール部位とがエステル結合したものである。当該含フッ素ラクトンモノマー化合物を用いて調製したトップコート用組成物は、従来のフッ素を持たないラクトンモノマーを用いて調製したトップコート用組成物と比較して、撥水性および現像液溶解性の向上を果たすことができる。
本発明のトップコート用組成物に用いる一般式(1)で表される繰り返し単位を含む含フッ素ラクトンポリマー化合物は、一般式(2)で表される含フッ素ラクトンモノマー化合物の有する重合性二重結合が開裂して単独でまたは後に説明する他の重合性二重結合を有するモノマー化合物と共重合してポリマーの骨格を形成しているものである。
本発明のトップコート用組成物に用いる含フッ素ラクトンポリマー化合物を製造する際の含フッ素ラクトンモノマー化合物の重合方法としては、一般的に使用される方法であれば特に制限されないが、ラジカル重合、イオン重合等が好ましく、場合により、配位アニオン重合、リビングアニオン重合、カチオン重合、開環メタセシス重合、ビニレン重合またはビニルアディションも可能である。
前記含フッ素ラクトンモノマー化合物は、他の重合性単量体との間で、良好に共重合体ポリマーとしての含フッ素ラクトンポリマー化合物を形成し、このような含フッ素ラクトンポリマー化合物をトップコート用組成物に使用することができる。尚、以下において、重合性単量体とは、前記含フッ素ラクトンモノマー化合物を除く他の単量体である。
一般式(2)で表される含フッ素ラクトンモノマー化合物は、前記種々の重合性単量体と重合可能であり幅広いものが用いられるが、中でも(メタ)アクリル酸エステルが重合性が高く、特にヘキサフルオロイソプロピル基を有するものが好適に使用される。
アクリル酸エステル、メタアクリル酸エステル以外のその他の重合性単量体としては、マレイン酸、フマル酸または無水マレインが挙げられ、アルコキシシラン含有のビニルシランが挙げられる。
本発明のトップコート用組成物に使用される含フッ素ラクトンポリマー化合物には、含フッ素ラクトンモノマー化合物と酸不安定基を有する重合性単量体と共重合させた含フッ素ラクトンポリマー化合物を使用してもよい。
一般式(1)で表される繰り返し単位を有する含フッ素ラクトンポリマー化合物における、一般式(1)で表される繰り返し単位(a)と、前述の重合性単量体に基づく繰り返し単位(b)とのモル比(共重合比)はトップコートの一般的な必要性能である溶剤溶解性、成膜性(ガラス転移点)、撥水性、解像力、耐熱性、レジスト膜との密着性、または膜べり(親疎水性、アルカリ可溶性基選択)等を調節するために適宜設定される。
本発明においては、上記で製造した含フッ素ラクトンポリマー化合物を有機溶剤、または水と有機溶媒の混合液に溶解しトップコート液とする。本発明のトップコート液は、基板上成膜したレジスト上に塗布後、乾燥させることによってトップコート膜とする。
また、含フッ素ラクトンポリマー化合物の溶解に使用する有機溶剤としては、その溶剤が下層のレジスト膜を浸食しにくく、かつ、レジスト膜から添加剤等を抽出しにくい溶剤であることが必須の要件になる。
本発明によるトップコート用組成物は、下層のレジスト膜の種類に制限なく、トップコート膜として使用することができる。すなわち下層レジストが、ネガ型、ポジ型、複合型等の任意のレジストシステムであっても好適に使用できる。
[含フッ素ラクトンモノマー化合物の合成]
本発明のトップコート用組成物に使用する含フッ素ラクトンモノマー化合物の合成例として、以下に、5,5−ジメチル−2−オキソ−3−(トリフルオロメチル)テトラヒドロフラン−3−イル メタクリレートの合成方法について説明する。
1H NMR (溶媒:CDCl3, 基準物質:TMS);δ6.25 (d, J=1.0Hz, 1H), 5.75 (d, J=1.4Hz, 1H), 2.64 (d, J=14.8Hz,1H), 2.53 (d, J=14.8Hz, 1H), 1.97 (s, 3H), 1.68(s,3H), 1.51(s, 3H).19F NMR (溶媒:CDCl3, 基準物質:CCl3F);δ−78.94 (s, 3F)
次いで、上記含フッ素ラクトンモノマー化合物を用いた含フッ素ポリマー化合物の合成を実施例1および実施例2に示す。
(含フッ素ラクトンポリマー化合物の合成1)
前記化合物(4)と構造式(5)で表されるメタアクリル酸エステル(以下、化合物(5))との共重合を下記の方法で行った。
(含フッ素ラクトンポリマー化合物の合成2)
前記化合物(4)と構造式(6)で表されるメタアクリル酸エステル(以下、化合物(6))との共重合を下記の方法で行った。
構造式(7)で表されるフッ素を含有しないラクトン化合物(以下、化合物(7))と化合物(5)との共重合を下記の方法で行った。比較例1においては、含フッ素ラクトン化合物を使用しない。
上記実施例1、実施例2および比較例1で得られた含フッ素ラクトンポリマー化合物を用い、表2に示すようにトップコート液を調製した。表2の( )内は組成比であり、質量比で表した。
シリコンウェハ上に予め78nmの反射防止膜(日産化学工業株式会社製、商品名:ARC29A)を塗布後、200℃下で60秒間焼成)したシリコンウェハ上に、それぞれのトップコート溶液を、メンブランフィルター(0.2μm)でろ過した後、スピナーを用いて回転数1,500rpmでスピンコートし、ホットプレート上、100℃で90秒間乾燥したところ、それぞれ均一なトップコート膜が得られた。尚、表2中、トップコート膜1〜6で示す。トップコート膜1〜6はトップコート液1〜6に対応する)
[トップコート膜の評価]
得られたトップコート膜1〜6に対して、後退接触角について評価した。
続いて、表2に示すトップコート液1〜6を用いて、下記に示すプロセスでシリコンウェハ上にレジスト層とトップコート層の2層膜よりトップコート膜の評価を行った。
Claims (10)
- R5が、水素原子、フッ素原子、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、フルオロメチル基、ジフルオロメチル基、トリフルオロメチル基、パーフルオロエチル基またはシクロヘキシル基であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のトップコート用組成物。
- R1、R2およびR5がメチル基であり、R3およびR4が水素原子であることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載のトップコート用組成物。
- Rfがトリフルオロメチル基であることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記載のトップコート用組成物。
- 前記他の重合性単量体が、少なくとも(メタ)アクリル酸エステルを含むことを特徴とする請求項2乃至請求項5のいずれか1項に記載のトップコート用組成物。
- 前記他の重合性単量体が、ヘキサフルオロイソプロピル基を有する(メタ)アクリル酸エステルまたは酸分解性重合性化合物であることを特徴とする請求項2乃至請求項6のいずれか1項に記載のトップコート用組成物。
- 含フッ素ラクトンポリマー化合物の質量平均分子量が1,000以上、1,000,000以下であることを特徴とする請求項1乃至請求項7のいずれか1項に記載のトップコート用組成物。
- 請求項1乃至請求項8のいずれか1項に記載のトップコート用組成物と溶剤とを含むことを特徴とするトップコート液。
- 請求項9に記載のトップコート液をレジスト塗布済の基板に塗布する第1の工程と、当該基板を加熱する第2の工程と、波長300nm以下の電磁波である高エネルギー線または電子線を用いてフォトマスクを介してレジストを露光する第3の工程と、現像液を用いて露光部位のレジストを溶解しパターン形成する第4の工程を含むことを特徴とするパターン形成方法。
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