JP5520015B2 - 半導体ウエハ加工用接着シート及びこれを用いた半導体ウエハの加工方法 - Google Patents
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- 239000000853 adhesive Substances 0.000 title claims description 80
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 title claims description 80
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 70
- 238000003672 processing method Methods 0.000 title claims description 6
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 claims description 103
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 claims description 16
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 23
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 description 12
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 7
- 238000004040 coloring Methods 0.000 description 5
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 230000008595 infiltration Effects 0.000 description 1
- 238000001764 infiltration Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000008155 medical solution Substances 0.000 description 1
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
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- Adhesive Tapes (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
本発明の目的は、剥離用テープを用いてウエハから剥離する際に剥離不良が発生することを防止することができる半導体ウエハ加工用接着シート及びこれを用いた半導体ウエハの加工方法を提供することにある。
基材シートと、この基材シートの一方の面に設けられた接着剤層とからなり、
前記基材シートに分割許容切込が形成されることにより、複数の分割シート又は複数のシート領域が形成可能に設けられ、
前記分割許容切込は、基材シートの一方の面だけに形成され、その深さが基材シートの厚みより小さく設定される、という構成を採っている。
基材シートと、この基材シートの一方の面に設けられた接着剤層とからなり、
前記基材シートに分割許容切込が形成されることにより、複数の分割シート又は複数のシート領域が形成可能に設けられ、
前記分割許容切込は、基材シートの一方の面と他方の面との両方に形成され、それら分割許容切込は、平面視同一直線上に位置するとともに、相互につながらない深さに設けられる、という構成を採っている。
前記半導体ウエハ加工用接着シートは、基材シートと、この基材シートの一方の面に設けられた接着剤層とからなり、前記基材シートの一方の面だけにその深さが基材シートの厚みより小さく設定された分割許容切込が形成されることにより、複数の分割シート又は複数のシート領域が形成可能に設けられ、
前記半導体ウエハ加工用接着シートを半導体ウエハの一方の面に貼付する工程と、
前記半導体ウエハに所定の処理を施す工程と、
前記分割許容切込を境に前記半導体ウエハ加工用接着シートを分割シート毎又はシート領域毎に半導体ウエハから剥離する工程とを備える、という方法を採っている。
更に、本発明の加工方法は、半導体ウエハ加工用接着シートを用いた半導体ウエハの加工方法において、
前記半導体ウエハ加工用接着シートは、基材シートと、この基材シートの一方の面に設けられた接着剤層とからなり、前記基材シートの一方の面と他方の面との両方に分割許容切込が形成され、それら分割許容切込は、平面視同一直線上に位置するとともに、相互につながらない深さに設けられることにより、複数の分割シート又は複数のシート領域が形成可能に設けられ、
前記半導体ウエハ加工用接着シートを半導体ウエハの一方の面に貼付する工程と、
前記半導体ウエハに所定の処理を施す工程と、
前記分割許容切込を境に前記半導体ウエハ加工用接着シートを分割シート毎又はシート領域毎に半導体ウエハから剥離する工程とを備える、という方法を採っている。
図1〜図6において、半導体ウエハ加工用接着シートとしての接着シートSは、ウエハ
Wの回路面(図1中上面)や回路面の反対面(図1中下面)に貼付され、裏面研削やダイ
シング等の所定の処理を施すときに、当該接着シートSが貼付された貼付面を保護可能に
設けられている。接着シートSは、基材シートBSと、この基材シートBSの一方の面す
なわち図1中下面に設けられた接着剤層ADとを備え、この接着剤層ADを介してウエハ
Wの回路面に貼付可能となっている。
この実施形態は、前記参考実施形態に示した対応に替えて、図7(A)に示されるように、基材シートBSの一方の面すなわち接着剤層AD側の面にだけ形成したものである。この場合、分割許容切込Cの深さは、基材シートBSの厚みより小さく設定されている。これによれば、研削時や表面処理時等において、載置面(前記実施形態で示したテーブルT2)を伝って分割許容切込C内に浸入した洗浄水や薬液がウエハWの搬送中や次工程等で流れ出ることで、他の装置等を汚染したり故障させたりすることを防止することができる。なお、図7(B)に示されるように、平面視同一直線上において、分割許容切込Cを一方の面と他方の面との両方に形成することを妨げるものではない。
以上のように、本発明を実施するための最良の構成、方法等は、前記記載で開示されているが、本発明は、これに限定されるものではない。
すなわち、本発明は、主に特定の実施形態に関して特に図示、説明されているが、本発の技術的思想及び目的の範囲から逸脱することなく、以上説明した実施形態に対し、形
状、位置若しくは配置等に関し、必要に応じて当業者が様々な変更を加えることができるものである。
従って、上記に開示した形状などを限定した記載は、本発明の理解を容易にするために例示的に記載したものであり、本発明を限定するものではないから、それらの形状などの限定の一部若しくは全部の限定を外した部材の名称での記載は、本発明に含まれるものである。
また、基材シートBSが複数の層から形成されたものでもよい。この場合にでも、分割許容切込によって複数の分割シートが形成可能であれば足りる。
更に、所定の処理として裏面研削加工の他に、ポリッシング加工、ダイシング加工(特に特開2001−110757に開示される先ダイシング加工)、エッチング加工、レジスト加工、フォトマスク加工、洗浄加工等の処理が例示できる。
B 基材シート
C 分割許容切込
S 接着シート(半導体ウエハ加工用接着シート)
S1 第1分割シート(分割シート)
S2 第2分割シート(分割シート)
U1 第1シート領域(シート領域)
U2 第2シート領域(シート領域)
W 半導体ウエハ
Claims (4)
- 半導体ウエハに所定の加工を施す際に当該半導体ウエハに貼付する半導体ウエハ加工用接着シートにおいて、
基材シートと、この基材シートの一方の面に設けられた接着剤層とからなり、
前記基材シートに分割許容切込が形成されることにより、複数の分割シート又は複数のシート領域が形成可能に設けられ、
前記分割許容切込は、基材シートの一方の面だけに形成され、その深さが基材シートの厚みより小さく設定されていることを特徴とする半導体ウエハ加工用接着シート。 - 半導体ウエハに所定の加工を施す際に当該半導体ウエハに貼付する半導体ウエハ加工用接着シートにおいて、
基材シートと、この基材シートの一方の面に設けられた接着剤層とからなり、
前記基材シートに分割許容切込が形成されることにより、複数の分割シート又は複数のシート領域が形成可能に設けられ、
前記分割許容切込は、基材シートの一方の面と他方の面との両方に形成され、それら分割許容切込は、平面視同一直線上に位置するとともに、相互につながらない深さに設けられていることを特徴とする半導体ウエハ加工用接着シート。 - 半導体ウエハ加工用接着シートを用いた半導体ウエハの加工方法において、
前記半導体ウエハ加工用接着シートは、基材シートと、この基材シートの一方の面に設けられた接着剤層とからなり、前記基材シートの一方の面だけにその深さが基材シートの厚みより小さく設定された分割許容切込が形成されることにより、複数の分割シート又は複数のシート領域が形成可能に設けられ、
前記半導体ウエハ加工用接着シートを半導体ウエハの一方の面に貼付する工程と、
前記半導体ウエハに所定の処理を施す工程と、
前記分割許容切込を境に前記半導体ウエハ加工用接着シートを分割シート毎又はシート領域毎に半導体ウエハから剥離する工程とを備えていることを特徴とする半導体ウエハの加工方法。 - 半導体ウエハ加工用接着シートを用いた半導体ウエハの加工方法において、
前記半導体ウエハ加工用接着シートは、基材シートと、この基材シートの一方の面に設けられた接着剤層とからなり、前記基材シートの一方の面と他方の面との両方に分割許容切込が形成され、それら分割許容切込は、平面視同一直線上に位置するとともに、相互につながらない深さに設けられることにより、複数の分割シート又は複数のシート領域が形成可能に設けられ、
前記半導体ウエハ加工用接着シートを半導体ウエハの一方の面に貼付する工程と、
前記半導体ウエハに所定の処理を施す工程と、
前記分割許容切込を境に前記半導体ウエハ加工用接着シートを分割シート毎又はシート領域毎に半導体ウエハから剥離する工程とを備えていることを特徴とする半導体ウエハの加工方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009271419A JP5520015B2 (ja) | 2009-11-30 | 2009-11-30 | 半導体ウエハ加工用接着シート及びこれを用いた半導体ウエハの加工方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009271419A JP5520015B2 (ja) | 2009-11-30 | 2009-11-30 | 半導体ウエハ加工用接着シート及びこれを用いた半導体ウエハの加工方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013241417A Division JP5690910B2 (ja) | 2013-11-22 | 2013-11-22 | 半導体ウエハ加工用接着シート |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011114271A JP2011114271A (ja) | 2011-06-09 |
JP5520015B2 true JP5520015B2 (ja) | 2014-06-11 |
Family
ID=44236354
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009271419A Active JP5520015B2 (ja) | 2009-11-30 | 2009-11-30 | 半導体ウエハ加工用接着シート及びこれを用いた半導体ウエハの加工方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5520015B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5996347B2 (ja) * | 2012-09-24 | 2016-09-21 | リンテック株式会社 | シート剥離装置及び剥離方法、並びに、シート貼替装置及び貼替方法 |
JP6879716B2 (ja) * | 2016-11-17 | 2021-06-02 | リンテック株式会社 | 半導体用シートの製造方法および製造装置、並びに切り込み刃 |
JP7463131B2 (ja) * | 2020-03-02 | 2024-04-08 | リンテック株式会社 | シート剥離方法およびシート剥離装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0577229U (ja) * | 1992-03-31 | 1993-10-22 | 大同特殊鋼株式会社 | 包装用粘着テープ |
JP2004079743A (ja) * | 2002-08-16 | 2004-03-11 | Nec Kansai Ltd | 半導体基板の表面保護用の粘着テープ及びその剥離方法 |
JP2009088357A (ja) * | 2007-10-01 | 2009-04-23 | Toyota Motor Corp | 保護テープの除去装置と除去方法 |
JP2010021344A (ja) * | 2008-07-10 | 2010-01-28 | Disco Abrasive Syst Ltd | 保護テープ及びウエーハの研削方法 |
-
2009
- 2009-11-30 JP JP2009271419A patent/JP5520015B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011114271A (ja) | 2011-06-09 |
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