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JP5453804B2 - 照明光学系、露光装置及びデバイスの製造方法 - Google Patents

照明光学系、露光装置及びデバイスの製造方法 Download PDF

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JP5453804B2 JP2008331512A JP2008331512A JP5453804B2 JP 5453804 B2 JP5453804 B2 JP 5453804B2 JP 2008331512 A JP2008331512 A JP 2008331512A JP 2008331512 A JP2008331512 A JP 2008331512A JP 5453804 B2 JP5453804 B2 JP 5453804B2
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Description

本発明は、光源から射出される光に基づいて被照射面を照明する照明光学系、該照明光学系を備える露光装置、及び該露光装置を用いたデバイスの製造方法に関する。
一般に、半導体集積回路などのマイクロデバイスを製造するための露光装置は、光源から出力される露光光を所定のパターンが形成されるレチクルなどのマスクに導くための照明光学系を備えている。こうした照明光学系には、オプティカルインテグレータとしてのフライアイレンズが設けられている。このフライアイレンズに露光光が入射した場合、該フライアイレンズの射出面側においてマスクの被照射面に対して光学的にフーリエ変換の関係にある位置の照明瞳には、多数の光源からなる実質的な面光源としての二次光源が形成される。なお、この二次光源とは、照明瞳での光強度分布(以下、「瞳強度分布」という。)を示している。
こうした二次光源からの露光光は、コンデンサレンズにより集光された後、マスクを重畳的に照明するようになっている。そして、マスクを透過した露光光は、投影光学系を介して感光材料の塗布されるウエハなどの基板上を照射するようになっている。その結果、基板上には、マスクのパターンが投影露光(転写)される。
ところで、近年では、マスクに形成されるパターンの高集積化(微細化)が進んでいる。そのため、マスクの微細パターンを基板上に正確に転写するためには、基板上に均一な照度分布を有する照射領域を形成させることが不可欠である。そこで、従来から、マスクの微細パターンを基板上に正確に転写するために、例えば輪帯状や複数極状(2極状、4極状など)の瞳強度分布を形成し、投影光学系の焦点深度や解像力を向上させる技術が提案されている(特許文献1参照)。
米国特許公開第2006/0055834号公報
ところで、マスクの微細パターンを基板上に正確に転写する際には、瞳強度分布を所望の形状に調整するだけでなく、最終的な被照射面である基板上の各点の光強度をほぼ均一に調整する必要がある。基板上の各点での光強度にばらつきがあると、基板上の位置毎にパターンの線幅がばらついて、マスクの微細パターンを露光領域の全体に亘って所望の線幅で基板上に正確に転写することができないおそれがあった。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、被照射面での光強度分布を調整することができる照明光学系、露光装置、及びデバイスの製造方法を提供することにある。
上記の課題を解決するため、本発明は、実施形態に示す図1〜図18に対応付けした以下の構成を採用している。
本発明の照明光学系は、光源(12)からの光(EL)で被照射面(Ra,Wa)を照明する照明光学系(13)であって、前記照明光学系(13)の光軸(AX)と交差する面(50a,50b)内に配列される複数の第1単位波面分割面(50a,50b)を有し、前記光源(12)からの光(EL)が入射した場合に前記照明光学系(13)の照明光路内の照明瞳面(50a,50b)に所定の光強度分布を形成する第1のオプティカルインテグレータ(26)と、該第1のオプティカルインテグレータ(26)の前記光源(12)側に配置され、前記複数の第1単位波面分割面(50a,50b)に個別対応する複数の第2単位波面分割面(50a,50b)を有する第2のオプティカルインテグレータ(65、65A)と、前記第1及び第2のオプティカルインテグレータ(65、65A)のうち少なくとも一方を、前記第1及び第2のオプティカルインテグレータ(26、65、65A)の間の間隔を変更させるべく前記照明光学系(13)の光軸方向に沿って移動させる移動機構(73,74,75,76)と、を備え、前記第2のオプティカルインテグレータ(65、65A)は、前記複数の第2単位波面分割面(50a,50b)のうち少なくとも一つの前記第2単位波面分割面を有する複数の分割インテグレータ(68,69,70,71)を備えており、前記移動機構(73,74,75,76)は、前記複数の分割インテグレータ(68,69,70,71)を前記光軸方向に沿って個別に移動させることを要旨とする。
上記構成によれば、第1及び第2のオプティカルインテグレータ(26、65、65A)の間の間隔を変更させることにより、第1のオプティカルインテグレータ(26)の各第1単位波面分割面(50a,50b)内における各位置の光強度がそれぞれ調整される。その結果、被照射面(Ra、Wa)上の各点における光強度分布(「瞳強度分布」ともいう。)が独立的に調整される。そのため、被照射面(Ra、Wa)上の各点における光強度分布を互いに略同一性状の分布に調整することが可能となる。
なお、本発明をわかりやすく説明するために実施形態を示す図面の符号に対応づけて説明したが、本発明が実施形態に限定されるものではないことは言うまでもない。
本発明によれば、被照射面での光強度分布を調整することができる。
(第1の実施形態)
以下に、本発明を具体化した第1の実施形態について図1〜図15に基づき説明する。なお、本実施形態では、後述する投影光学系15の光軸(図1における上下方向)をZ軸方向というと共に、図1における左右方向をY軸方向といい、さらに、図1において紙面と直交する方向をX軸方向というものとする。
図1に示すように、本実施形態の露光装置11は、所定の回路パターンが形成された透過型のレチクルRに露光光ELを照明することにより、表面Wa(+Z方向側の面であって、図1では上面)にレジストなどの感光材料が塗布されたウエハWに回路パターンの像を投影するための装置である。こうした露光装置11は、光源装置12から射出された露光光ELをレチクルRの被照射面Ra(+Z方向側の面)に導く照明光学系13と、レチクルRを保持するレチクルステージ14と、レチクルRを通過した露光光ELをウエハWの表面Waに導く投影光学系15と、ウエハWを保持するウエハステージ16とを備えている。なお、本実施形態の光源装置12は、193nmの波長の光を出力するArFエキシマレーザ光源を有し、該ArFエキシマレーザ光源から出力される光が露光光ELとして露光装置11内に導かれる。
照明光学系13は、光源装置12から射出される露光光ELを所定の断面形状(例えば、断面略矩形状)をなす平行な光束に変換するための整形光学系17と、該整形光学系17から射出された露光光ELをレチクルR側(ここでは、+Y方向側であって図1における右側)に反射する第1反射ミラー18とを備えている。この第1反射ミラー18の射出側(レチクルR側)には、回折光学素子19が設けられている。この回折光学素子19は、ガラス基板に露光光ELの波長と同程度のピッチを有する複数の段差を形成することにより構成されており、入射側(光源装置12側)から入射した露光光ELを所定の角度に回折する作用を有している。例えば、輪帯照明用の回折光学素子19を用いる場合、回折光学素子19に入射側から断面略矩形状をなす平行な光束の露光光ELが入射すると、回折光学素子19からは、断面形状が輪帯状(略円環状)をなす光束がレチクルR側に射出される。また、複数極(2極、4極、8極など)照明用の回折光学素子19を用いる場合、回折光学素子19に入射側から断面略矩形状をなす平行な光束の露光光ELが入射すると、回折光学素子19からは、極の数に応じた複数(例えば4つ)の光束がレチクルR側に射出される。
また、照明光学系13には、回折光学素子19から射出される露光光ELが入射するアフォーカル光学系20(「無焦点光学系」ともいう。)が設けられている。このアフォーカル光学系20は、第1レンズ群21(図1では一枚のレンズのみを図示)と、該第1レンズ群21よりも射出側に配置される第2レンズ群22(図1では一枚のレンズのみを図示)とを有している。そして、アフォーカル光学系20の入射側の焦点位置は、回折光学素子19の設置位置と略同一であると共に、アフォーカル光学系20の射出側の焦点位置は、図1において破線で示す所定面23の位置と略同一となるように形成されている。
また、第1レンズ群21と第2レンズ群22との間の光路内において、後述する第1のオプティカルインテグレータ26の照明瞳面27と光学的に共役な位置又はその近傍には、露光光ELの入射位置に応じて透過率の異なる透過率分布を有する補正フィルタ24が設けられている。この補正フィルタ24は、入射側面及び射出側面が平行なガラス基板に対してクロムや酸化クロムなどから構成される遮光性ドットのパターンが形成されたフィルタである。
また、アフォーカル光学系20のレチクルR側には、σ値(σ値=照明光学系13のレチクルR側の開口数/投影光学系15のレチクルR側の開口数)を可変させるためのズーム光学系25が設けられており、該ズーム光学系25は、所定面23よりも射出側に配置されている。また、ズーム光学系25の射出側には、第1のオプティカルインテグレータ26と、該第1のオプティカルインテグレータ26に入射する露光光ELの光量を調整する分布補正光学系31とが設けられている。この分布補正光学系31は、レチクルR上に形成される照明領域ER1(図4(a)参照)や該照明領域ER1と光学的に共役な関係になるウエハW上に形成される静止露光領域ER2(図4(b)参照)内の各点における光強度分布を補正するための光学系である。なお、分布補正光学系31の具体的な構成については、後述するものとする。
第1のオプティカルインテグレータ26は、その入射面(−Y方向側の面であって、図1では左面)がズーム光学系25の射出側の焦点位置(瞳面ともいう。)又は該焦点位置近傍に位置するように配置されている。すなわち、第1のオプティカルインテグレータ26の入射面は、所定面23と実質的にフーリエ変換の関係になると共に、第1のオプティカルインテグレータ26の入射面は、アフォーカル光学系20の瞳面(即ち、補正フィルタ24の設置位置)と光学的にほぼ共役な位置関係となっている。こうした第1のオプティカルインテグレータ26には、ズーム光学系25側から平行な光束に変換された状態で露光光ELが入射するようになっている。そして、第1のオプティカルインテグレータ26は、入射した露光光ELを複数の光束に波面分割し、その射出側(+Y方向側)に位置する照明瞳面27に所定の光強度分布(「瞳強度分布」ともいう。)を形成するようになっている。なお、瞳強度分布が形成される照明瞳面27のことを、多数の面光源からなる二次光源60(図3参照)ともいう。
第1のオプティカルインテグレータ26の射出側には、投影光学系15の入射瞳面と光学的にほぼ共役な位置に配置され、且つ二次光源60の照明に寄与する範囲を規定するための図示しない照明開口絞りが設けられている。この照明開口絞りは、大きさ及び形状の異なる複数の開口部を有している。そして、照明開口絞りでは、二次光源60から射出される露光光ELの断面形状に対応した開口部が露光光ELの光路内に配置される。すなわち、二次光源60から射出される露光光ELの断面形状が輪帯状である場合、照明開口絞りは、輪帯状に対応した形状の開口部が露光光ELの光路内に位置するように駆動するようになっている。また、二次光源60から射出される露光光ELの断面形状が4極状である場合、照明開口絞りは、4極状に対応した形状の開口部が露光光ELの光路内に位置するように駆動するようになっている。
第1のオプティカルインテグレータ26及び上記照明開口絞りの射出側には、少なくとも一枚のレンズ(図1では一枚のみ図示)から構成される第1コンデンサ光学系28と、該第1コンデンサ光学系28の射出側であって且つレチクルRの被照射面Raと光学的に共役な位置に配置されるレチクルブラインド29(「マスクブラインド」ともいう。)とが設けられている。第1コンデンサ光学系28は、パワー(焦点距離の逆数)を有する光学素子(レンズ)から構成されている。また、レチクルブラインド29には、長手方向がZ軸方向であって且つ短手方向がX軸方向となる矩形状の開口部29aが形成されている。そして、第1コンデンサ光学系28から射出された露光光ELは、レチクルブラインド29を重畳的に照明するようになっている。なお、パワーを有する光学素子とは、露光光ELが光学素子に入射することにより、該露光光ELの特性が変化するような光学素子のことである。
また、レチクルブラインド29の射出側には、パワーを有するレンズから構成される第2コンデンサ光学系30が設けられており、該第2コンデンサ光学系30は、レチクルブラインド29側から入射した光を略平行な光束に変換するようになっている。また、第2コンデンサ光学系30の射出側には、結像光学系32が設けられている。この結像光学系32は、入射側レンズ群33と、該入射側レンズ群33から射出される露光光ELを−Z方向側(図1では下側)に反射する第2反射ミラー34と、該第2反射ミラー34の射出側に配置される射出側レンズ群35とを備えている。入射側レンズ群33は、少なくとも一枚(図1では一枚のみ図示)のパワーを有する光学素子(レンズ)から構成されると共に、射出側レンズ群35は、少なくとも一枚(図1では一枚のみ図示)のパワーを有する光学素子(レンズ)から構成されている。そして、結像光学系32から射出される露光光ELは、レチクルRの被照射面Raを重畳的に照明するようになっている。なお、本実施形態では、レチクルブラインド29の開口部29aの形状は、上述したように、矩形状をなしている。そのため、レチクルR上の照明領域ER1及びウエハW上の静止露光領域ER2は、図4(a)(b)に示すように、長手方向が第1の方向としてのY軸方向となり、且つ短手方向が第2の方向としてのX軸方向となる矩形状にそれぞれ形成される。
レチクルステージ14は、図1に示すように、投影光学系15の物体面側において、そのレチクルRの載置面が投影光学系15の光軸方向(Z軸方向)とほぼ直交するように配置されている。また、レチクルステージ14には、保持するレチクルRをX軸方向に所定ストロークで移動させる図示しないレチクルステージ駆動部が設けられている。
また、レチクルステージ14の近傍には、瞳強度分布計測装置36が設けられている。この瞳強度分布計測装置36は、二次光源60においてレチクルR上の照明領域ER1内の一点に入射する各入射光によって形成される瞳強度分布を点毎(位置毎)に計測する装置である。こうした瞳強度分布計測装置36は、射出側レンズ群35からレチクルRに向けて射出される露光光ELの一部(「反射光」ともいう。)を反射させるビームスプリッタ37と、該ビームスプリッタ37に反射された反射光が入射する計測用レンズ38と、該計測用レンズ38から射出された反射光が入射する検出部39とを備えている。この検出部39は、CCD撮像素子やフォトダイオードなどを有しており、検出部39からは、入射した反射光に応じた検出信号が制御装置40に出力される。そして、制御装置40は、検出部39からの検出信号に基づき、照明領域ER1の点毎の瞳強度分布を導出するようになっている。なお、瞳強度分布計測装置36については、例えば特開2006−54328号公報や特開2003−22967号公報及びこれに対応する米国特許公開第2003/0038225号公報に開示されている。
投影光学系15は、内部が窒素などの不活性ガスで充填される鏡筒41を備え、この鏡筒41内には、図示しない複数のレンズが露光光ELの光路(Z軸方向)に沿って設けられている。また、鏡筒41内において、ウエハWの表面Waの設置位置及びレチクルRの被照射面Raの設置位置と光学的にフーリエ変換の関係となる位置には、開口絞り42が配置されている。そして、露光光ELにて照明されたレチクルR上の回路パターンの像は、投影光学系15を介して所定の縮小倍率に縮小された状態で、ウエハステージ16上のウエハWに投影転写される。ここで、光路とは、使用状態において、露光光ELが通ることが意図されている経路のことを示している。
ウエハステージ16は、投影光学系15の光軸とほぼ直交する平面状の載置面43を備え、該載置面43上には、ウエハWが載置される。また、ウエハステージ16には、保持するウエハWをX軸方向に所定ストロークで移動させる図示しないウエハステージ駆動部が設けられている。さらに、ウエハステージ16には、ウエハWの表面Waが投影光学系15の光軸と直交状態となるように、ウエハWの位置を微調整させる機能が設けられている。
そして、本実施形態の露光装置11を用いてウエハWにパターンの像を投影する場合、レチクルRは、上記レチクルステージ駆動部の駆動によって、+X方向側から−X方向側(図1では紙面手前側から紙面奥手側)に所定ストローク毎に移動する。すると、レチクルRにおける照明領域ER1は、該レチクルRの被照射面Raの−X方向側から+X方向側(図1では紙面奥手側から紙面手前側)に沿って移動する。すなわち、レチクルRのパターンが−X方向側から+X方向側に順にスキャンされる。また、ウエハWは、上記ウエハステージ駆動部の駆動によって、レチクルRのX軸方向に沿った移動に対して投影光学系15の縮小倍率に応じた速度比で−X方向側から+X方向側に同期して移動する。その結果、ウエハWの一つのショット領域には、レチクルR及びウエハWの同期移動に伴って、レチクルR上の回路パターンを所定の縮小倍率に縮小した形状のパターンが形成される。そして、一つのショット領域へのパターンの形成が終了した場合、ウエハWの他のショット領域に対するパターンの形成が連続して行われる。
次に、本実施形態の第1のオプティカルインテグレータ26について図2に基づき説明する。なお、図2では、明細書の説明理解の便宜上、後述する各シリンドリカルレンズ面52,53,54,55の大きさが誇張して描かれているものとする。
図2に示すように、第1のオプティカルインテグレータ26は、照明光学系13の光軸AX(図1及び図2では一点鎖線で示す。)に沿って配置される一対のマイクロフライアイレンズ50,51を備えている。これら両マイクロフライアイレンズ50,51は、第1のオプティカルインテグレータ26の射出側に位置する照明瞳面27が投影光学系15の開口絞り42と光学的に共役な位置に形成されるようにそれぞれ配置されている。
入射側に位置する第1マイクロフライアイレンズ50の入射側、及び射出側に位置する第2マイクロフライアイレンズ51の入射側には、照明光学系13の光軸AXとほぼ直交する入射面50a,51aがそれぞれ形成されている。また、第1マイクロフライアイレンズ50の射出側、及び第2マイクロフライアイレンズ51の射出側には、照明光学系13の光軸AXとほぼ直交する射出面50b,51bがそれぞれ形成されている。そして、両マイクロフライアイレンズ50,51の入射面50a,51a側には、Z軸方向に延びる複数(図2では10個)のシリンドリカルレンズ面52,53がX軸方向に沿ってそれぞれ配列されている。これら各シリンドリカルレンズ面52,53は、円柱の一部を切り取った形状をなすようにそれぞれ形成されており、各シリンドリカルレンズ面52,53のX軸方向における長さ(即ち、幅)は、第1幅H1である。
また、両マイクロフライアイレンズ50,51の射出面50b,51b側には、X軸方向に延びる複数(図2では10個)のシリンドリカルレンズ面54,55がZ軸方向に沿ってそれぞれ配列されている。これら各シリンドリカルレンズ面54,55は、円柱の一部を切り取った形状をなすようにそれぞれ形成されており、各シリンドリカルレンズ面54,55のZ軸方向における長さ(即ち、幅)は、第1幅H1よりも広い第2幅H2である。なお、第1幅H1及び第2幅H2は、レチクルブラインド29の開口部29aのX軸方向における長さ及びZ軸方向における長さ、即ち照明領域ER1及び静止露光領域ER2のX軸方向における長さ及びY軸方向における長さとそれぞれ対応関係にある。
第1のオプティカルインテグレータ26のX軸方向に関する屈折作用に着目した場合、照明光学系13の光軸AXに沿って入射した露光光ELは、第1マイクロフライアイレンズ50の入射面50aに形成される各シリンドリカルレンズ面52によってX軸方向に沿って第1幅H1の間隔で波面分割される。そして、各シリンドリカルレンズ面52によって波面分割された各光束は、第2マイクロフライアイレンズ51の入射面51aに形成される各シリンドリカルレンズ面53のうち個別対応するシリンドリカルレンズ面でそれぞれ集光作用を受け、その後、第1のオプティカルインテグレータ26の射出側に位置する照明瞳面27上でそれぞれ集光するようになっている。また、第1のオプティカルインテグレータ26のZ軸方向に関する屈折作用に着目した場合、照明光学系13の光軸AXに沿って入射した露光光ELは、第1マイクロフライアイレンズ50の射出面50bに形成される各シリンドリカルレンズ面54によってX軸方向に沿って第2幅H2の間隔で波面分割される。そして、各シリンドリカルレンズ面54によって波面分割された各光束は、第2マイクロフライアイレンズ51の射出面51bに形成される各シリンドリカルレンズ面55のうち個別対応するシリンドリカルレンズ面でそれぞれ集光作用を受け、その後、第1のオプティカルインテグレータ26の射出側に位置する照明瞳面27上でそれぞれ集光するようになっている。
すなわち、本実施形態では、第1のオプティカルインテグレータ26に入射した露光光ELは、入射側に位置する各シリンドリカルレンズ面52によってX軸方向に沿って波面分割された後、射出側に位置する各シリンドリカルレンズ面54によってZ軸方向に沿って波面分割される。その結果、照明瞳面27には、多数の点光源77〜79(図13〜図15参照)が形成される。
なお、各マイクロフライアイレンズ50,51の各シリンドリカルレンズ面52〜55の第1幅H1及び第2幅H2は、本来、非常に狭い。そのため、本実施形態の第1のオプティカルインテグレータ26での波面分割数は、複数のレンズ要素から構成されるフライアイレンズを用いる場合に比して多い。その結果、第1のオプティカルインテグレータ26の入射側に形成される大局的な光強度分布と、射出側である照明瞳面27に形成される二次光源全体の大局的な光強度分布とは、互いに高い相関関係を示す。したがって、第1のオプティカルインテグレータ26の入射側及び該入射側と光学的に共役な面における光強度分布についても、瞳強度分布と称すことができる。
ここで、回折光学素子19として輪帯照明用の回折光学素子が用いられる場合、第1のオプティカルインテグレータ26の入射側には、照明光学系13の光軸AXを中心とした輪帯状の照野が形成される。その結果、第1のオプティカルインテグレータ26の射出側に位置する照明瞳面27には、入射側に形成される輪帯状の照野と同じ、輪帯状の二次光源60が形成される。また、回折光学素子19として複数極照明用の回折光学素子が用いられる場合、第1のオプティカルインテグレータ26の入射側には、照明光学系13の光軸AXを中心とした複数の所定形状(円弧状、円形状など)の照野からなる複数極状の照野が形成される。その結果、第1のオプティカルインテグレータ26の射出側に位置する照明瞳面27には、入射側に形成される複数極状の照野と同じ、複数極状の二次光源60が形成される。なお、本実施形態では、4極照明用の回折光学素子19が用いられるものとする。
すなわち、第1のオプティカルインテグレータ26の射出側に位置する照明瞳面27には、図3に示すように、4つの円弧状の実質的な面光源(以下、単に「面光源」という。)60a,60b,60c,60dからなる4極状の二次光源60(瞳強度分布)が形成される。具体的には、二次光源60は、照明光学系13の光軸AXの+X方向側に位置する円弧状の第1面光源60aと、照明光学系13の光軸AXの−X方向側に位置する円弧状の第2面光源60bとを有しており、第1面光源60aと光軸AXとの間隔は、第2面光源60bと光軸AXとの間隔とほぼ等間隔となっている。また、二次光源60は、照明光学系13の光軸AXの+Z方向側に位置する円弧状の第3面光源60cと、照明光学系13の光軸AXの−Z方向側に位置する円弧状の第4面光源60dとを有しており、第3面光源60cと光軸AXとの間隔は、第4面光源60dと光軸AXとの間隔とほぼ等間隔となっている。なお、これら各面光源60a〜60dは、第1のオプティカルインテグレータ26によって照明瞳面27に形成される多数の点光源77〜79(図13〜図15参照)からそれぞれ構成される。
こうした各面光源60a〜60dから射出される各露光光ELがレチクルR上に導かれると、レチクルRの被照射面Ra上には、図4(a)に示すように、長手方向がY軸方向であり且つ短手方向がX軸方向となる矩形状の照明領域ER1が形成される。また、ウエハWの表面Wa上には、図4(b)に示すように、レチクルR上の照明領域ER1と対応した矩形状の静止露光領域ER2が形成される。この際、静止露光領域ER2(及び照明領域ER1)内の各点に入射する入射光が形成する4極状の瞳強度分布の各々は、露光光ELが入射する位置に依存することなく、互いにほぼ同一形状をなしている。ところが、静止露光領域ER2(及び照明領域ER1)内の点毎の4極状の瞳強度分布の光強度は、静止露光領域ER2内に入射する露光光ELの位置に依存して異なってしまう傾向がある。
具体的には、図5に示すように、照明領域ER1内及び静止露光領域ER2内のY軸方向における中心点P1a,P1bに入射する露光光EL(「第1入射光」ともいう。)によって形成される第1瞳強度分布61では、Z軸方向に沿って配置される第3面光源61c及び第4面光源61dの光強度の方が、X軸方向に沿って配置される第1面光源61a及び第2面光源61bの光強度よりも強くなる傾向がある。各面光源61a〜61dを形成する各第1入射光の大部分は、第1マイクロフライアイレンズ50の各シリンドリカルレンズ面52のX軸方向における中央部分、及び各シリンドリカルレンズ面54のZ軸方向における中央部分を通過する露光光ELである。こうした各第1入射光は、各面光源61a〜61dから照明光学系13の光軸AXに沿ってそれぞれ射出される。
一方、図4(a)(b)及び図6に示すように、照明領域ER1内及び静止露光領域ER2内において中心点P1a,P1bのY軸方向に沿って離間した各周辺点P2a,P3a,P2b,P3bに入射する各露光光EL(以下、周辺点P2bに入射する光を「第2入射光」ともいい、周辺点P3bに入射する光を「第3入射光」ともいう。)によって形成される第2瞳強度分布62では、Z軸方向に沿って配置される第3面光源62c及び第4面光源62dの光強度の方が、X軸方向に沿って配置される第1面光源62a及び第2面光源62bの光強度よりも弱くなる傾向がある。各面光源62a〜62dを形成する各第2入射光及び第3入射光の大部分は、第1マイクロフライアイレンズ50の各シリンドリカルレンズ面52のX軸方向における両端部分、及び各シリンドリカルレンズ面54のZ軸方向における両端部分を通過する露光光ELである。こうした各第2入射光及び各第3入射光は、各面光源62a〜62dから照明光学系13の光軸AXに対して所定の角度を有した状態でそれぞれ射出される。なお、ここでいう各瞳強度分布61,62は、照明光学系13内における露光光ELの光路内に補正フィルタ24が配置されていない場合に、照明瞳面27及び該照明瞳面27と光学的に共役な瞳共役面に形成される、静止露光領域ER2内の各点P1b,P2b,P3bに対応する光強度分布のことを示している。
一般に、中心点P1a,P1bに対応する第1瞳強度分布61のZ軸方向に沿った光強度分布は、図7(a)に示すように、Z軸方向における中央が最も弱くなると共に、中央からZ軸方向に沿って離間するに連れて次第に強くなる凹曲線状の分布である。また、各周辺点P2a,P2b,P3a,P3bに対応する各第2瞳強度分布62のZ軸方向に沿った光強度分布は、図7(b)に示すように、Z軸方向における中央が最も強くなると共に、中央からZ軸方向に沿って離間するに連れて次第に弱くなる凸曲面状の分布である。
こうした瞳強度分布61,62のZ軸方向に沿った光強度分布は、照明領域ER1及び静止露光領域ER2内のX軸方向に沿った各点の位置にはほとんど依存しないものの、照明領域ER1及び静止露光領域ER2内のY軸方向に沿った各点の位置に依存して変化する傾向がある。そのため、静止露光領域ER2内におけるY軸方向に沿った各点P1b,P2b,P3bに個別に対応する瞳強度分布61,62がそれぞれ均一ではない場合、ウエハWにおいて形成されるパターンの線幅にばらつきが発生するおそれがある。このような課題を解決するために、本実施形態の照明光学系13内には、補正フィルタ24及び分布補正光学系31が設けられている。
なお、本実施形態の補正フィルタ24は、照明瞳面27に形成される二次光源60のうちZ軸方向に沿った第3面光源60c及び第4面光源60dを構成する光束を減光させる一方、X軸方向に沿った第1面光源60a及び第2面光源60bを構成する光束をほとんど減光させない透過率分布を有している。
次に、本実施形態の分布補正光学系31について図8及び図9に基づき説明する。
図8及び図9に示すように、分布補正光学系31は、第2のオプティカルインテグレータ65を備えている。この第2のオプティカルインテグレータ65の入射側には、照明光学系13の光軸AXとほぼ直交する入射面65aが形成されると共に、第2のオプティカルインテグレータ65の射出側には、光軸AXとほぼ直交する射出面65bが形成されている。そして、第2のオプティカルインテグレータ65の両面65a,65bには、X軸方向に延びる複数(図2では7個)のシリンドリカルレンズ面66,67がX軸方向に沿ってそれぞれ配列されている。これら各シリンドリカルレンズ面66,67は、円柱の一部を切り取った形状をなすようにそれぞれ形成されており、各シリンドリカルレンズ面66,67のZ軸方向における長さ(即ち、幅)は、第1のオプティカルインテグレータ26のシリンドリカルレンズ面54,55の幅(第2幅H2)とほぼ同等である。
そして、第2のオプティカルインテグレータ65にズーム光学系25から露光光EL(即ち、平行光束)が入射すると、該露光光ELは、入射面65aに形成される各シリンドリカルレンズ面66によってZ軸方向に沿って第2幅H2の間隔で波面分割される。そして、各シリンドリカルレンズ面66によって波面分割された各光束は、射出面65bに形成される各シリンドリカルレンズ面67のうち個別対応するシリンドリカルレンズ面でそれぞれ集光作用を受ける。その後、各シリンドリカルレンズ面67から射出された各光束は、第1のオプティカルインテグレータ26(即ち、第1マイクロフライアイレンズ50)にそれぞれ入射するようになっている。
また、第2のオプティカルインテグレータ65は、複数の単位波面分割面を有する複数(本実施形態では4つ)の分割インテグレータ68,69,70,71から構成されている。これら各分割インテグレータ68〜71は、照明光学系13の光軸AXを中心とした周方向に沿って互いに隣接し合うようにそれぞれ配置されている。そして、各分割インテグレータ68〜71のうち+X方向側に位置する第1分割インテグレータ68には、照明瞳面27で第1面光源60aを形成する露光光ELが入射すると共に、−X方向側に位置する第2分割インテグレータ69には、照明瞳面27で第2面光源60bを形成する露光光ELが入射するようになっている。また、+Z方向側に位置する第3分割インテグレータ70には、照明瞳面27で第3面光源60cを形成する露光光ELが入射すると共に、−Z方向側に位置する第4分割インテグレータ71には、照明瞳面27で第4面光源60dを形成する露光光ELが入射するようになっている。このように露光光ELが入射する各分割インテグレータ68〜71の入射側には、略円弧状をなす入射領域72a,72b,72c,72d(図8にて破線で囲まれた領域)がそれぞれ形成される。
また、分布補正光学系31には、各分割インテグレータ68〜71をY軸方向に沿って個別に移動させるための移動機構73,74,75,76が設けられている。これら各移動機構73〜76は、Y軸方向に沿って延びる図示しないガイド部と、制御装置40から制御指令に基づき駆動する駆動源73a,74a,75a,76aとをそれぞれ有している。そして、各移動機構73〜76は、駆動源73a〜76aの駆動に基づき、各分割インテグレータ68〜71をガイド部の延びる方向(Y軸方向)に沿ってそれぞれ移動させる。
次に、第1のオプティカルインテグレータ26(第1マイクロフライアイレンズ50)に対する第2のオプティカルインテグレータ65の位置と、第1マイクロフライアイレンズ50の各シリンドリカルレンズ面54に入射する露光光ELの光強度との関係について、図10〜図12に基づき説明する。なお、図10(a)、図11(a)及び図12(a)では、第1分割インテグレータ68の一部分と、第1マイクロフライアイレンズ50において第1分割インテグレータ68の一部分に対応する部分とがそれぞれ描かれている。
さて、図10(a)に示すように、第1マイクロフライアイレンズ50と第1分割インテグレータ68との間の間隔が第1の間隔L1である場合、第1分割インテグレータ68の射出面65bの各シリンドリカルレンズ面67から射出される露光光ELは、第1マイクロフライアイレンズ50に接近するに連れて次第にそれぞれ広がる。そして、各シリンドリカルレンズ面67から射出される露光光ELは、第1マイクロフライアイレンズ50の射出面50bの各シリンドリカルレンズ面54のうち、露光光ELを射出したシリンドリカルレンズ面67とZ軸方向における同一位置に位置するシリンドリカルレンズ面にそれぞれ入射する。このとき、第1マイクロフライアイレンズ50の各シリンドリカルレンズ面54全体には、Z軸方向における同一位置に位置する各シリンドリカルレンズ面67から射出された露光光ELが満遍なく入射する。そのため、図10(b)に示すように、第1マイクロフライアイレンズ50において一つのシリンドリカルレンズ面54のZ軸方向における各位置の光強度は、互いにほぼ同等の強さである。なお、第1マイクロフライアイレンズ50と第1分割インテグレータ68との間の間隔が第1の間隔L1である状態のことを、「第1分割インテグレータ68が初期位置に位置している」というものとする。
また、第1マイクロフライアイレンズ50と第1分割インテグレータ68との間の間隔が第1の間隔L1よりも狭い第2の間隔L2である場合、図11(a)に示すように、第1分割インテグレータ68側の一つのシリンドリカルレンズ面67から射出された露光光ELは、第1マイクロフライアイレンズ50に接近するに連れて次第に広がる。そして、この露光光ELの大部分は、該露光光ELを射出したシリンドリカルレンズ面67とZ軸方向における同一位置に配置されるシリンドリカルレンズ面54のZ軸方向における中央部分に入射する。すなわち、第1マイクロフライアイレンズ50の一つのシリンドリカルレンズ面54のZ軸方向における両端部分には、露光光ELがほとんど入射しない。そのため、図11(b)に示すように、一つのシリンドリカルレンズ面54では、Z軸方向における中央部分の光強度は、Z軸方向における両端部分の各光強度に比して強くなる。なお、図11(b)では、第1分割インテグレータ68が初期位置に位置する場合における一つのシリンドリカルレンズ面52に入射する露光光ELの光強度が破線で示されている。
また、第1マイクロフライアイレンズ50と第1分割インテグレータ68との間の間隔が第1の間隔L1よりも広い第3の間隔L3である場合、図12(a)に示すように、第1分割インテグレータ68側の一つのシリンドリカルレンズ面67から射出された露光光ELは、第1マイクロフライアイレンズ50に接近するに連れて次第に広がる。そして、この露光光ELは、該露光光ELを射出したシリンドリカルレンズ面67とZ軸方向における同一位置に配置されるシリンドリカルレンズ面54と、該シリンドリカルレンズ面54のZ軸方向における両側に位置する両シリンドリカルレンズ面54とにそれぞれ入射する。すなわち、第1マイクロフライアイレンズ50の一つのシリンドリカルレンズ面54のZ軸方向における中央部分には、該一つのシリンドリカルレンズ面54に対応するシリンドリカルレンズ面67(以下、「対応レンズ面」という。)から射出される露光光ELだけが入射する。一方、一つのシリンドリカルレンズ面54のZ軸方向における両端部分には、対応レンズ面から射出される露光光ELだけではなく、該対応レンズ面のZ軸方向における両側に位置する各シリンドリカルレンズ面67からも露光光ELがそれぞれ入射する。そのため、図12(b)に示すように、一つのシリンドリカルレンズ面54では、Z軸方向における中央部分の光強度は、Z軸方向における両端部分の各光強度に比して弱くなる。なお、図12(b)では、第1分割インテグレータ68が初期位置に位置する場合における一つのシリンドリカルレンズ面52に入射する露光光ELの光強度が破線で示されている。
したがって、各分割インテグレータ68〜71がそれぞれ初期位置に位置する場合、各第1入射光によって照明瞳面27に形成される第1瞳強度分布61の各面光源61a〜61dは、図13に示すように、第1のオプティカルインテグレータ26によって形成される多数の点光源77からそれぞれ形成される。また、各第2入射光によって照明瞳面27に形成される第2瞳強度分布62の各面光源62a〜62dは、第1のオプティカルインテグレータ26によって形成される多数の面光源からそれぞれ形成される。また、各第3入射光によって照明瞳面27に形成される第2瞳強度分布62の各面光源62a〜62dは、第1のオプティカルインテグレータ26によって形成される多数の面光源からそれぞれ形成される。
また、各分割インテグレータ68〜71が初期位置よりも+Y方向側に移動した場合、第1瞳強度分布61の各面光源61a〜61dは、図13及び図14に示すように、各分割インテグレータ68〜71がそれぞれ初期位置に位置する場合の点光源77に比して光強度の強い多数の点光源78からそれぞれ形成される。これは、各分割インテグレータ68〜71が第1マイクロフライアイレンズ50に接近することにより、第1マイクロフライアイレンズ50の各シリンドリカルレンズ面54のZ軸方向における中央部分に入射する露光光EL(即ち、第1入射光)の光量が多くなるからである。一方、各第2瞳強度分布62の各面光源62a〜62dは、図13〜図15に示すように、各分割インテグレータ68〜71がそれぞれ初期位置に位置する場合の点光源77に比して光強度の弱い多数の点光源79からそれぞれ形成される。これは、各分割インテグレータ68〜71が第1マイクロフライアイレンズ50に接近することにより、第1マイクロフライアイレンズ50の各シリンドリカルレンズ面54のZ軸方向における両端部分に入射する露光光EL(即ち、第2入射光及び第2入射光)の光量がそれぞれ少なくなるからである。
また、各分割インテグレータ68〜71が初期位置よりも−Y方向側に移動した場合、第1瞳強度分布61の各面光源61a〜61dは、各分割インテグレータ68〜71がそれぞれ初期位置に位置する場合の点光源77に比して光強度の弱い多数の点光源からそれぞれ形成される。これは、各分割インテグレータ68〜71が第1マイクロフライアイレンズ50に接近することにより、第1マイクロフライアイレンズ50の各シリンドリカルレンズ面54のZ軸方向における中央部分に入射する露光光EL(即ち、第1入射光)の光量が少なくなるからである。一方、各第2瞳強度分布62の各面光源62a〜62dは、各分割インテグレータ68〜71がそれぞれ初期位置に位置する場合の点光源77に比して光強度の強い多数の点光源からそれぞれ形成される。これは、各分割インテグレータ68〜71が第1マイクロフライアイレンズ50に接近することにより、第1マイクロフライアイレンズ50の各シリンドリカルレンズ面54のZ軸方向における両端部分に入射する露光光EL(即ち、第2入射光及び第2入射光)の光量が多くなるからである。
次に、静止露光領域ER2内のY軸方向に沿った各点P1b,P2b,P3bに対応する各瞳強度分布61,62を調整する際の作用の一例について説明する。なお、初期状態では、各分割インテグレータ68〜71は、初期位置にそれぞれ配置されているものとする。
さて、光源装置12から射出される露光光ELが回折光学素子19に入射すると、該回折光学素子19からは、断面形状が4極状をなす露光光ELが射出される。すると、この露光光ELが照明瞳面27と光学的に共役な位置又はその近傍に配置される補正フィルタ24を通過する。その結果、オプティカルインテグレータ26の射出側に形成される照明瞳面27には、補正フィルタ24によって補正(減光)された第1面光源60a及び第2面光源60bと、補正フィルタ24によってほとんど補正されない第3面光源60c及び第4面光源60dとを有する二次光源60が形成される。この際、照明瞳面27と光学的に共役な瞳共役面の瞳強度分布もまた、補正フィルタ24によって補正される。
なお、本実施形態の補正フィルタ24は、照明瞳面27に形成される二次光源60のZ軸方向に沿った第3面光源60c及び第4面光源60dの光強度を減光させるためのフィルタである。また、上述したように、レチクルRの照明領域ER1内及びウエハW上の静止露光領域ER2内の中心点P1a,P1bに対応する第1瞳強度分布61では、露光光ELの光路内に補正フィルタ24がない場合、X軸方向に沿った第1面光源61a及び第2面光源61bの各光強度が、Z軸方向に沿った第3面光源61c及び第4面光源61dの各光強度よりもそれぞれ弱い。そのため、第1瞳強度分布61では、補正フィルタ24によって、第3面光源61c及び第4面光源61dの各光強度が、第1面光源61a及び第2面光源61bの各光強度に接近する。一方、照明領域ER1内及び静止露光領域ER2内の各周辺点P2a,P2b,P3a,P3bに対応する第2瞳強度分布62では、露光光ELの光路内に補正フィルタ24がない場合、X軸方向に沿った第1面光源62a及び第2面光源62bの各光強度が、Z軸方向に沿った第3面光源62c及び第4面光源62dの各光強度よりもそれぞれ強い。そのため、第2瞳強度分布62では、補正フィルタ24によって、第1面光源61a及び第2面光源62bの各光強度と第3面光源62c及び第4面光源62dの各光強度との差が逆に大きくなってしまう。
このような第1瞳強度分布61と第2瞳強度分布62とをほぼ同一性状の分布にするためには、第1瞳強度分布61の第1面光源61a及び第2面光源61bの光強度を強くすると共に、第2瞳強度分布62の第1面光源62a及び第2面光源62bの光強度を弱くする必要がある。そこで、本実施形態では、瞳強度分布計測装置36によって、照明瞳面27に形成される二次光源60において静止露光領域ER2内の点毎の4極状の瞳強度分布の光強度がそれぞれ計測される。ここでは、静止露光領域ER2内の中心点P1b、周辺点P2b,P3bに入射する第1入射光、第2入射光及び第3入射光によって照明瞳面27に形成される第1瞳強度分布61及び第2瞳強度分布62がそれぞれ計測される。この場合、第1瞳強度分布61と第2瞳強度分布62とは、互いに性状が異なっている。
すると、駆動源73a,74aの駆動によって移動機構73,74から駆動力が第1分割インテグレータ68及び第2分割インテグレータ69にそれぞれ付与されると、各分割インテグレータ68,69は、初期位置から+Y方向側にそれぞれ移動する。すなわち、各分割インテグレータ68,69と第1マイクロフライアイレンズ50との間隔は、第1の間隔L1よりもそれぞれ狭くなる一方で、残りの各分割インテグレータ70,71と第1マイクロフライアイレンズ50との間隔は、第1の間隔L1でそれぞれ維持される。すると、第1瞳強度分布61の第1面光源61a及び第2面光源61bの各光強度は、各分割インテグレータ68,69が+Y方向側に移動するに連れて次第にそれぞれ強くなる。一方、各第2瞳強度分布62の第1面光源61a及び第2面光源62bの各光強度は、各分割インテグレータ68,69が+Y方向側に移動するに連れて次第にそれぞれ弱くなる。このとき、第1瞳強度分布61及び各第2瞳強度分布62の各第3面光源61c,62c及び各第4面光源61d,62dの各光強度は、各分割インテグレータ70,71が移動しないため、それぞれ変化しない。
そして、第1瞳強度分布61の性状と各第2瞳強度分布62の性状とがほぼ同一の性状になると、各分割インテグレータ68,69の移動は、それぞれ停止される。この場合、各面光源61a〜61dから静止露光領域ER2の中心点P1bに入射する各第1入射光の光強度と、各面光源62a〜62dから静止露光領域ER2の各周辺点P2b,P3bに入射する各第2入射光及び各第3入射光の光強度とは、互いにほぼ同一の光強度となる。そのため、この状態で露光処理が実行されると、ウエハW上の静止露光領域ER2内のY軸方向に沿った各点P1b,P2b,P3bに対応する各瞳強度分布61,62がほぼ同一性状であるため、ウエハWの表面Waにおいて形成されるパターンの線幅にばらつきが発生することが抑制される。
したがって、本実施形態では、以下に示す効果を得ることができる。
(1)各オプティカルインテグレータ26,65の間の間隔を変更させることにより、第1のオプティカルインテグレータ26の各シリンドリカルレンズ面54内のZ軸方向における各位置に入射する露光光ELの光強度がそれぞれ調整される。その結果、ウエハW上の表面Wa上の各点に対応する瞳強度分布61,62が独立的に調整される。そのため、ウエハW上の各点における光強度分布を互いに略同一性状の分布に調整することができる。
(2)また、本実施形態では、第1のオプティカルインテグレータ26よりも光源装置12側において、ウエハWの表面Waと光学的に共役な位置には、ウエハW上の静止露光領域ER2内の各点P1b〜P3bに対応する各瞳強度分布61,62を一律に調整するための補正フィルタ24が設けられる。そして、静止露光領域ER2内の各点P1b〜P3bに対応する各瞳強度分布61,62は、補正フィルタ24と第2のオプティカルインテグレータ65との協動作用によって、それぞれほぼ均一となるように調整される。そのため、補正フィルタ24を露光光ELの光路内に配置しない場合に比して、静止露光領域ER2内の各点P1b〜P3bに対応する各瞳強度分布61,62を高精密に調整できる。したがって、レチクルRの回路パターンに応じた適切な照明条件の基でウエハWに対する露光処理を行うことができ、結果として、ウエハWには、その全体に亘って所望する線幅のパターンを忠実に形成することができる。
(3)一般に、ウエハW上の静止露光領域ER2内のY軸方向に沿った各点P1b〜P3bに対応する各瞳強度分布61,62の調整は、照明瞳面27若しくは該照明瞳面27と光学的に共役な瞳共役面近傍に遮光部材を配置し、各点P1b〜P3bに入射し得る第1入射光、第2入射光及び第3入射光の遮光度合いを点毎に補正することによりそれぞれ行なわれる。この場合、遮光部材によって遮光された光は、ウエハWへの露光には使用されない。しかしながら、本実施形態では、各オプティカルインテグレータ26,65の間隔を調整することによって、各瞳強度分布61,62の調整がそれぞれ行なわれる。このとき、調整前では第2瞳強度分布62を構成していた露光光ELの一部は、各オプティカルインテグレータ26,65の間隔を調整することによって、静止露光領域ER2内のY軸方向に沿った各点P1b〜P3bのうち他の点に対応する瞳強度分布の形成に使用される。すなわち、本実施形態では、分布補正光学系31によって露光光ELの光量をロスすることなく、各点P1b〜P3bに対応する各瞳強度分布61,62を補正できると共に、ウエハWへの露光を行なうことができる。したがって、分布補正光学系31による露光光ELの光量のロスを低減できる結果、ウエハWへのパターン形成速度を向上させることができる。
(4)本実施形態では、第2のオプティカルインテグレータ65がY軸方向に沿って移動することにより、各点P1b〜P3bに対応する各瞳強度分布61,62がそれぞれ調整される。そのため、第1のオプティカルインテグレータ26がY軸方向に沿って移動する場合とは異なり、照明瞳面27がY軸方向に沿って変位することが抑制される。そのため、照明瞳面27とウエハWの表面Waとが光学的にフーリエ変換の関係を維持させるための光学系を、照明瞳面27よりもレチクルR側に別途設けなくてもよい。すなわち、照明光学系13の構成の複雑化を抑制できる。
(5)また、第2のオプティカルインテグレータ65は、複数(本実施形態では4つ)の分割インテグレータ68〜71から構成される。しかも、各分割インテグレータ68〜71は、二次光源60の面光源60a〜60dに個別対応するようにそれぞれ設けられている。そのため、面光源毎に光強度を補正することができる。
(6)本実施形態では、各分割インテグレータ68〜71は、瞳強度分布計測装置36からの検出信号に基づき算出された計測結果、即ちレチクルRの照明領域ER1内の各点P1a〜P3aに対応する各瞳強度分布61,62に基づきY軸方向に沿ってそれぞれ移動する。そのため、照明光学系13を構成する各種光学素子のうち少なくとも一つの光学素子の劣化などに起因して各瞳強度分布61,62が変化した場合、瞳強度分布計測装置36による計測結果によって各分割インテグレータ68〜71がY軸方向にそれぞれ移動することにより、各瞳強度分布61,62を、それらの性状の分布が所望する性状の分布となるように速やかに調整することができる。
(7)また、第2のオプティカルインテグレータ65は、第1マイクロフライアイレンズ50の各シリンドリカルレンズ面54に個別対応するシリンドリカルレンズ面66,67を有している。そのため、第2のオプティカルインテグレータ65をY軸方向に沿って移動させることにより、第1マイクロフライアイレンズ50の各シリンドリカルレンズ面54のZ軸方向における各位置に入射する露光光ELの光強度の強弱が調整される。すなわち、静止露光領域ER2内の各点のうちY軸方向に沿った点P1b〜P3bに入射する各入射光の光強度がそれぞれ調整される。したがって、各オプティカルインテグレータ26,65の間隔を調整することにより、静止露光領域ER2内の各点のうちY軸方向に沿った点P1b〜P3bに対応する各瞳強度分布61,62をそれぞれ調整することができる。
なお、上記実施形態は以下のような別の実施形態に変更してもよい。
・実施形態において、回折光学素子19は、複数極照明用(例えば4極照明用)の回折光学素子であってもよいし、輪帯照明用の回折光学素子であってもよい。また、露光光ELの形状を変形させることが可能な光学素子であれば、回折光学素子19の代わりに、或いは回折光学素子に加えてアキシコンレンズ対などの他の任意の光学素子を配置してもよい。アキシコンレンズ対を備えた照明光学系は、例えば国際公開第2005/076045A1号パンフレット、及びそれに対応する米国特許出願公開第2006/0170901A号に開示されている。図1に示した実施形態では、補正フィルタ24の近傍にアキシコンレンズ対を配置することができる。
また、回折光学素子19に代えて、例えばアレイ状に配列され且つ傾斜角および傾斜方向が個別に駆動制御される多数の微小な要素ミラーにより構成されて入射光束を反射面毎の微小単位に分割して偏向させることにより、光束の断面を所望の形状または所望の大きさに変換する空間光変調素子を用いてもよい。このような空間光変調素子を用いた照明光学系は、例えば特開2002−353105号公報に開示されている。
・実施形態において、各オプティカルインテグレータ26,65の間には、パワーを有しない光学素子(例えば平行平面板)を配置してもよい。このように構成しても、上記実施形態と同等の効果を得ることができる。
・実施形態において、ウエハW及びレチクルRをY軸方向に沿ってそれぞれ走査移動させつつ露光処理を行なう場合、図16に示すように、Z軸方向に沿って延びるシリンドリカルレンズ面66A,67Aを有する第2のオプティカルインテグレータ65Aを、第1のオプティカルインテグレータ26の入射側に配置してもよい。第2のオプティカルインテグレータ65Aの入射面65aには、第1マイクロフライアイレンズ50の各シリンドリカルレンズ面52に個別対応する複数(図16では10個)のシリンドリカルレンズ面66Aが形成されており、該各シリンドリカルレンズ面66Aは、X軸方向に沿ってそれぞれ配置されている。また、第2のオプティカルインテグレータ65Aの射出面65bには、各シリンドリカルレンズ面66Aに個別対応する複数(図16では10個)のシリンドリカルレンズ面67Aが形成されており、該各シリンドリカルレンズ面67Aは、X軸方向に沿ってそれぞれ配置されている。このように構成しても、静止露光領域ER2内において走査方向と略直交するX軸方向における各点に対応する瞳強度分布を調整することができる。
・実施形態において、第2のオプティカルインテグレータ65Aの各シリンドリカルレンズ面66,67のZ軸方向における幅は、第1マイクロフライアイレンズ50のシリンドリカルレンズ面54の第1幅H1よりも広くてもよい。この場合の初期位置は、上記実施形態の場合に比して+Y方向側の位置(即ち、第1マイクロフライアイレンズ50に接近した位置)となる。
また、第2のオプティカルインテグレータ65Aの各シリンドリカルレンズ面66,67のZ軸方向における幅は、第1マイクロフライアイレンズ50のシリンドリカルレンズ面54の第1幅H1よりも狭くてもよい。この場合の初期位置は、上記実施形態の場合に比して−Y方向側の位置(即ち、第1マイクロフライアイレンズ50から離間した位置)となる。
・実施形態において、瞳強度分布計測装置36は、レチクルR上の照明領域ER1内の各点P1a,P2a,P3aに対応する各瞳強度分布61,62を計測可能であれば、レチクルRの近傍ではなくてもよい。ただし、瞳強度分布計測装置36は、レチクルRの被照射面Ra(即ち、ウエハWの表面Wa)と光学的に共役な位置近傍であれば、任意の位置に設置してもよい。
・実施形態において、各移動機構73〜76は、瞳強度分布計測装置36による計測結果に連動して駆動する構成でなくてもよい。すなわち、瞳強度分布計測装置36による計測結果を図示しないモニタ等の表示画面に表示させ、該表示画面に表示させた計測結果に基づき作業者が各分割インテグレータ68〜71をY軸方向に沿って移動させるようにしてもよい。この場合、各移動機構73〜76には、駆動源73a〜76aを設けなくてもよい。すなわち、分割インテグレータ68〜71は、作業者による手動でそれぞれ移動することになる。
・実施形態において、第2のオプティカルインテグレータ65は、第3分割インテグレータ70及び第4分割インテグレータ71を備えない構成であってもよい。この場合、ズーム光学系25から射出された露光光ELのうち、照明瞳面27に第3面光源60c及び第4面光源60dを構成する露光光ELは、第2のオプティカルインテグレータ65に入射することなく第1マイクロフライアイレンズ50に入射することになる。
また、第2のオプティカルインテグレータ65は、第1分割インテグレータ68と第2分割インテグレータ69とが一体となった構成であってもよい。この場合、分布補正光学系31は、一つの移動機構だけ有する構成であってもよい。
・実施形態において、第3分割インテグレータ70及び第4分割インテグレータ71用の各移動機構74,75を設けなくてもよい。
・実施形態において、第1のオプティカルインテグレータ26は、屈折力を有する単位波面分割面がZ方向及びX方向に沿って配列される1枚のマイクロフライアイレンズから構成されるものであってもよい。また、オプティカルインテグレータとして、複数のレンズ要素が配列されてなるフライアイレンズを用いてもよい。また、オプティカルインテグレータとして、複数のミラー面が配列されてなる一対のフライアイミラーを用いてもよい。
・実施形態において、露光装置11を、可変パターン生成器(例えば、DMD(Digital Mirror Device又はDigital Micro-mirror Device))を用いたマスクレス露光装置に具体化してもよい。このようなマスクレス露光装置は、例えば特開2004−304135号公報、国際特許公開第2006/080285号パンフレット及びこれに対応する米国特許公開第2007/0296936号公報に開示されている。
・実施形態において、露光装置11は、半導体素子などのマイクロデバイスだけでなく、光露光装置、EUV露光装置、X線露光装置、及び電子線露光装置などで使用されるレチクルまたはマスクを製造するために、マザーレチクルからガラス基板やシリコンウエハなどへ回路パターンを転写する露光装置であってもよい。また、露光装置11は、液晶表示素子(LCD)などを含むディスプレイの製造に用いられてデバイスパターンをガラスプレート上へ転写する露光装置、薄膜磁気ヘッド等の製造に用いられて、デバイスパターンをセラミックウエハ等へ転写する露光装置、及びCCD等の撮像素子の製造に用いられる露光装置などであってもよい。
・実施形態において、露光装置11を、レチクルRとウエハWとが相対移動した状態でレチクルRのパターンをウエハWへ転写し、ウエハWを順次ステップ移動させるスキャニング・ステッパに具体化してもよい。
・実施形態において、光源装置12は、例えばg線(436nm)、i線(365nm)、KrFエキシマレーザ(248nm)、Fレーザ(157nm)、Krレーザ(146nm)、Arレーザ(126nm)等を供給可能な光源であってもよい。また、光源装置12は、DFB半導体レーザまたはファイバレーザから発振される赤外域、または可視域の単一波長レーザ光を、例えばエルビウム(またはエルビウムとイッテルビウムの双方)がドープされたファイバアンプで増幅し、非線形光学結晶を用いて紫外光に波長変換した高調波を供給可能な光源であってもよい。
・実施形態において、投影光学系と感光性基板との間の光路中を1.1よりも大きな屈折率を有する媒体(典型的には液体)で満たす手法、所謂液浸法を適用してもよい。この場合、投影光学系と感光性基板との間の光路中に液体を満たす手法としては、国際公開番号WO99/49504号公報に開示されているような局所的に液体を満たす手法や、特開平6−124873号公報に開示されているような露光対象の基板を保持したステージを液槽の中で移動させる手法や、特開平10−303114号公報に開示されているようなステージ上に所定深さの液体槽を形成し、その中に基板を保持する手法などを採用することができる。
・実施形態において、米国特許公開第2006/0203214号公報、米国特許公開第2006/0170901号公報、及び米国特許公開第2007/0146676号公報に開示される偏光照明方法を適用してもよい。
次に、本発明の実施形態の露光装置11によるデバイスの製造方法をリソグラフィ工程で使用したマイクロデバイスの製造方法の実施形態について説明する。図17は、マイクロデバイス(ICやLSI等の半導体チップ、液晶パネル、CCD、薄膜磁気ヘッド、マイクロマシン等)の製造例のフローチャートを示す図である。
まず、ステップS101(設計ステップ)において、マイクロデバイスの機能・性能設計(例えば、半導体デバイスの回路設計等)を行い、その機能を実現するためのパターン設計を行う。引き続き、ステップS102(マスク製作ステップ)において、設計した回路パターンを形成したマスク(レチクルRなど)を製作する。一方、ステップS103(基板製造ステップ)において、シリコン、ガラス、セラミックス等の材料を用いて基板(シリコン材料を用いた場合にはウエハWとなる。)を製造する。
次に、ステップS104(基板処理ステップ)において、ステップS101〜ステップS104で用意したマスクと基板を使用して、後述するように、リソグラフィ技術等によって基板上に実際の回路等を形成する。次いで、ステップS105(デバイス組立ステップ)において、ステップS104で処理された基板を用いてデバイス組立を行う。このステップS105には、ダイシング工程、ボンティング工程、及びパッケージング工程(チップ封入)等の工程が必要に応じて含まれる。最後に、ステップS106(検査ステップ)において、ステップS105で作製されたマイクロデバイスの動作確認テスト、耐久性テスト等の検査を行う。こうした工程を経た後にマイクロデバイスが完成し、これが出荷される。
図18は、半導体デバイスの場合におけるステップS104の詳細工程の一例を示す図である。
ステップS111(酸化ステップ)おいては、基板の表面を酸化させる。ステップS112(CVDステップ)においては、基板表面に絶縁膜を形成する。ステップS113(電極形成ステップ)においては、基板上に電極を蒸着によって形成する。ステップS114(イオン打込みステップ)においては、基板にイオンを打ち込む。以上のステップS111〜ステップS114のそれぞれは、基板処理の各段階の前処理工程を構成しており、各段階において必要な処理に応じて選択されて実行される。
基板プロセスの各段階において、上述の前処理工程が終了すると、以下のようにして後処理工程が実行される。この後処理工程では、まず、ステップS115(レジスト形成ステップ)において、基板に感光性材料を塗布する。引き続き、ステップS116(露光ステップ)において、上で説明したリソグラフィシステム(露光装置11)によってマスクの回路パターンを基板に転写する。次に、ステップS117(現像ステップ)において、ステップS116にて露光された基板を現像して、基板の表面に回路パターンからなるマスク層を形成する。さらに続いて、ステップS118(エッチングステップ)において、レジストが残存している部分以外の部分の露出部材をエッチングにより取り去る。そして、ステップS119(レジスト除去ステップ)において、エッチングが済んで不要となった感光性材料を取り除く。すなわち、ステップS118及びステップS119において、マスク層を介して基板の表面を加工する。これらの前処理工程と後処理工程とを繰り返し行うことによって、基板上に多重に回路パターンが形成される。
本実施形態における露光装置を示す概略構成図。 一対のマイクロフライアイレンズを模式的に示す斜視図。 照明瞳面に形成される4極状の二次光源を示す模式図。 (a)はレチクル上に形成される照明領域を示す模式図、(b)はウエハ上に形成される静止露光領域を示す模式図。 静止露光領域内の中心点に入射する入射光によって形成される第1瞳強度分布を示す模式図。 静止露光領域内の周辺点に入射する入射光によって形成される第2瞳強度分布を示す模式図。 (a)は静止露光領域内の中心点に対応する第1瞳強度分布のZ軸方向に沿った光強度を示すグラフ、(b)は静止露光領域内の周辺点に対応する第2瞳強度分布のZ軸方向に沿った光強度を示すグラフ。 本実施形態における分布補正光学系を模式的に示す正面図。 第2のオプティカルインテグレータを模式的に示す斜視図。 (a)は第2のオプティカルインテグレータが初期位置に配置される場合の第2のオプティカルインテグレータと第1マイクロフライアイレンズとの関係を示す模式図、(b)は第1マイクロフライアイレンズの射出側のシリンドリカルレンズ面のZ軸方向における位置毎の光強度を示すグラフ。 (a)は第2のオプティカルインテグレータが初期位置から+Y方向側に移動した場合の第2のオプティカルインテグレータと第1マイクロフライアイレンズとの関係を示す模式図、(b)は第1マイクロフライアイレンズの射出側のシリンドリカルレンズ面のZ軸方向における位置毎の光強度を示すグラフ。 (a)は第2のオプティカルインテグレータが初期位置から−Y方向側に移動した場合の第2のオプティカルインテグレータと第1マイクロフライアイレンズとの関係を示す模式図、(b)は第1マイクロフライアイレンズの射出側のシリンドリカルレンズ面のZ軸方向における位置毎の光強度を示すグラフ。 第2のオプティカルインテグレータが初期位置に配置される場合の第1瞳強度分布を示す模式図。 第2のオプティカルインテグレータが初期位置から+Y方向側に移動した場合の第1瞳強度分布を示す模式図。 第2のオプティカルインテグレータが初期位置から−Y方向側に移動した場合の第2瞳強度分布を示す模式図。 別の実施形態の第2のオプティカルインテグレータを模式的に示す斜視図。 デバイスの製造例のフローチャート。 半導体デバイスの場合の基板処理に関する詳細なフローチャート。
符号の説明
11…露光装置、12…光源装置、13…照明光学系、15…投影光学系、26…第1のオプティカルインテグレータ、27…照明瞳面、36…瞳強度分布計測装置、40…制御装置、42…開口絞り、50a…入射面、50b…射出面、52,54…第1単位波面分割面としてのシリンドリカルレンズ面、60a〜60d…領域としての面光源、65,65A…第2のオプティカルインテグレータ、66,66A…第2単位波面分割面としてのシリンドリカルレンズ面、68〜71…分割インテグレータ、73〜76…移動機構、73a〜76a…駆動源、AX…光軸、EL…露光光、P1a〜P3a,P1b〜P3b…所定の点としての点、Ra…被照射面、W…基板としてのウエハ、Wa…被照射面としての表面。

Claims (16)

  1. 光源からの光で被照射面を照明する照明光学系であって、
    前記照明光学系の光軸と交差する面内に配列される複数の第1単位波面分割面を有し、前記光源からの光が入射した場合に前記照明光学系の照明光路内の照明瞳面に所定の光強度分布を形成する第1のオプティカルインテグレータと、
    該第1のオプティカルインテグレータの前記光源側に配置され、前記複数の第1単位波面分割面に個別対応する複数の第2単位波面分割面を有する第2のオプティカルインテグレータと、
    前記第1及び第2のオプティカルインテグレータのうち少なくとも一方を、前記第1及び第2のオプティカルインテグレータの間の間隔を変更させるべく前記照明光学系の光軸方向に沿って移動させる移動機構と、を備え
    前記第2のオプティカルインテグレータは、前記複数の第2単位波面分割面のうち少なくとも一つの前記第2単位波面分割面を有する複数の分割インテグレータを備えており、
    前記移動機構は、前記複数の分割インテグレータを前記光軸方向に沿って個別に移動させることを特徴とする照明光学系。
  2. 前記移動機構は、前記第2のオプティカルインテグレータを前記光軸方向に沿って移動させることを特徴とする請求項1に記載の照明光学系。
  3. 前記照明瞳面内には、前記第1のオプティカルインテグレータから射出される光によって、互いに異なる位置に配置される複数の領域が形成され、該複数の領域からは、照明光束がそれぞれ射出されるようになっており、
    前記複数の分割インテグレータは、前記複数の領域に個別に対応してそれぞれ配置されていることを特徴とする請求項1に記載の照明光学系。
  4. 光源からの光で被照射面を照明する照明光学系であって、
    前記照明光学系の光軸と交差する面内に配列される複数の第1単位波面分割面を有し、前記光源からの光が入射した場合に前記照明光学系の照明光路内の照明瞳面に所定の光強度分布を形成する第1のオプティカルインテグレータと、
    該第1のオプティカルインテグレータの前記光源側に配置され、前記複数の第1単位波面分割面に個別対応する複数の第2単位波面分割面を有する第2のオプティカルインテグレータと、
    前記第1及び第2のオプティカルインテグレータのうち少なくとも一方を、前記第1及び第2のオプティカルインテグレータの間の間隔を変更させるべく前記照明光学系の光軸方向に沿って移動させる移動機構と、
    前記第1及び第2のオプティカルインテグレータよりも入射側の照明光路に配置されて、前記被照射面上の複数の点に対応する光強度分布を一律に調整する補正部材と、を備えることを特徴とする照明光学系。
  5. 前記補正部材は、前記照明光学系の照明光路内の照明瞳面と光学的に共役な位置又はその近傍に配置されて、光の入射位置に応じて異なる透過率分布を有する補正フィルタを備えていることを特徴とする請求項4に記載の照明光学系。
  6. 前記移動機構は、前記第1及び第2のオプティカルインテグレータのうち少なくとも一方を前記光軸方向に沿って移動させるべく駆動する駆動源を有することを特徴とする請求項1〜請求項5のうち何れか一項に記載の照明光学系。
  7. 前記被照射面上の所定の点に到達する光束の角度方向の光強度分布を計測する計測装置と、
    該計測装置による計測結果に応じて前記駆動源を制御する制御装置と、をさらに備えることを特徴とする請求項6に記載の照明光学系。
  8. 前記計測装置は、前記被照射面上の複数の点のそれぞれに到達する光束の角度方向の光強度分布をそれぞれ計測し、
    前記制御装置は、前記計測装置による複数の計測結果に基づいて前記駆動源を制御することを特徴とする請求項7に記載の照明光学系。
  9. 光源からの光で被照射面を照明する照明光学系であって、
    前記照明光学系の光軸と交差する面内に配列される複数の第1単位波面分割面を有し、前記光源からの光が入射した場合に前記照明光学系の照明光路内の照明瞳面に所定の光強度分布を形成する第1のオプティカルインテグレータと、
    該第1のオプティカルインテグレータの前記光源側に配置され、前記複数の第1単位波面分割面に個別対応する複数の第2単位波面分割面を有する第2のオプティカルインテグレータと、
    前記第1及び第2のオプティカルインテグレータのうち少なくとも一方を、前記第1及び第2のオプティカルインテグレータの間の間隔を変更させるべく前記照明光学系の光軸方向に沿って移動させるように駆動する駆動源を有する移動機構と、
    前記被照射面上の所定の点に到達する光束の角度方向の光強度分布を計測する計測装置と、
    該計測装置による計測結果に応じて前記駆動源を制御する制御装置と、を備え、
    前記計測装置は、前記被照射面上の複数の点のそれぞれに到達する光束の角度方向の光強度分布をそれぞれ計測し、
    前記制御装置は、前記計測装置による複数の計測結果に基づいて前記駆動源を制御することを特徴とする照明光学系。
  10. 前記複数の第2単位波面分割面は、それらの大きさが前記複数の第1単位波面分割面の大きさと同等であることを特徴とする請求項1〜請求項9のうち何れか一項に記載の照明光学系。
  11. 前記第1のオプティカルインテグレータは、前記照明光学系の光軸と交差する前記面内における第1方向に沿って配列される第1シリンドリカルレンズ群と、前記照明光学系の光軸と交差する前記面内における前記第1方向と直交する第2方向に沿って配列される第2シリンドリカルレンズ群とを備え、
    前記第1単位波面分割面は、前記第1シリンドリカルレンズ群中の1つのシリンドリカルレンズと前記第2シリンドリカルレンズ群中の1つのシリンドリカルレンズとによって規定されることを特徴とする請求項1〜請求項10のうち何れか一項に記載の照明光学系。
  12. 前記第1及び第2のオプティカルインテグレータの間には、パワーを有する光学素子が配置されないことを特徴とする請求項1〜請求項11のうち何れか一項に記載の照明光学系。
  13. 前記被照射面と光学的に共役な面を形成する投影光学系と組み合わせて用いられ、
    前記照明瞳面は、前記投影光学系の開口絞りと光学的に共役な位置に形成されることを特徴とする請求項1〜請求項12のうち何れか一項に記載の照明光学系。
  14. 光源から出力される光を前記被照射面上の所定のパターンへ導く請求項1〜請求項13のうち何れか一項に記載の照明光学系を備え、
    該照明光学系から射出される光で前記所定のパターンを照明することにより形成されたパターンの像を、感光材料が塗布された基板上に投影することを特徴とする露光装置。
  15. 前記パターンの像を前記基板上に投影するための投影光学系をさらに備え、
    該投影光学系に対して前記パターン及び前記基板を走査方向に沿って相対移動させることにより、前記基板上に前記パターンの像を投影することを特徴とする請求項14に記載の露光装置。
  16. 請求項14又は請求項15に記載の露光装置を用いて、前記パターンの像を前記基板の表面に露光する露光ステップと、
    該露光ステップ後において、前記基板を現像して前記パターンの像に対応する形状のマスク層を前記基板の表面に形成する現像ステップと、
    該現像ステップ後において、前記マスク層を介して前記基板の表面を加工する加工ステップと、を含むことを特徴とするデバイスの製造方法。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3303322B2 (ja) * 1992-01-31 2002-07-22 株式会社ニコン 投影露光装置及び方法、並びに素子製造方法
JP2946950B2 (ja) * 1992-06-25 1999-09-13 キヤノン株式会社 照明装置及びそれを用いた露光装置
JP2002207167A (ja) * 2001-01-10 2002-07-26 Nikon Corp ズーム光学系および該ズーム光学系を備えた露光装置および露光方法
US8587764B2 (en) * 2007-03-13 2013-11-19 Nikon Corporation Optical integrator system, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200060345A (ko) 2017-09-22 2020-05-29 가부시키가이샤 브이 테크놀로지 노광용 조명 장치, 노광 장치 및 노광 방법

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