JP5317162B2 - プラズマ装置、プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 - Google Patents
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Description
容器内にマイクロ波プラズマを発生させるプラズマ装置であって、
矩形の断面形状を形成する壁部を有し、前記容器に装着され、自由空間波長λのマイクロ波を伝送する導波管部と、
上記壁部に、管内波長λgの1/2の間隔で上記導波管部の長手方向に形成された矩形状の複数のスロットから成るスロットアンテナと、
上記スロットアンテナを有する上記壁部の外表面に接して設けられ、上記スロットアンテナを覆う誘電体板とを備え、
上記スロットアンテナを形成する上記複数のスロットは、
a)上記スロットアンテナを有する壁部の長手方向の中心軸を挟んで交互に配置されること、
b)上記中心軸からの距離が一定であること、
c)上記複数のスロットの数をn、n×λg/2をλ/2で除して得られる数をmとした場合、m−1<n<mを満たすこと、
d)マイクロ波電源側から見た上記導波管部のインピーダンスが、逆向きの電源側を見た導波管部の特性インピーダンスとほぼ等しいこと、というa)〜d)の条件を満たす。
また、本発明は、このようなプラズマ装置に限らず、プラズマ装置と同様の構成を含んで対象物に表面処理を施すプラズマ処理装置、及び、プラズマ装置を利用して対象物を処理するプラズマ処理方法も含む。
プラズマ装置は、導波管で接続された機器群が協働することにより効率的にプラズマを発生させる装置であり、例えば、図1に示すように、プラスチックフィルムの表面を処理するプラズマ処理装置1に備えられる。プラズマ処理装置1は、マイクロ波プラズマを発生させるプラズマ装置2と、容器3と、台7とを備える。
図6は、本発明の実施の形態2に係るプラズマ発生部13のスロットアンテナ10近傍を示す図である。本図のプラズマ発生部13は、実施の形態2に係るプラズマ装置の容器3を切り欠いて示す下方からの斜視図である。実施の形態2のプラズマ発生部13は、第2導波管5と、スロットアンテナ10と、誘電体板11とを実施の形態1と同様に備え、更に、図6に示すように、誘電体板11のプラズマ発生面近傍に複数の永久磁石53を備える。
次に、実施の形態1で説明したプラズマ装置を薄膜形成プロセスでのプラズマ源として利用する薄膜形成装置について説明する。図7は、本発明の一実施の形態に係る薄膜形成装置を示す。薄膜形成装置は、プラズマによる表面処理を利用して長尺のプラスチックフィルムに連続的に無機薄膜を形成する装置である。
本実施の形態の薄膜形成装置は、図8に示すように、プラズマ処理ユニット33bを除いて、実施の形態3の薄膜形成装置と同様の構成である。プラズマ処理ユニット33bは、プラスチックフィルムを送り出す処理ロール(支持部)51と、処理ロール51の面に対向して配置される複数のプラズマ発生部13と、巻出ユニット31から巻き出されたプラスチックフィルム39を処理ロール51に案内するガイドロール43と、処理ロール51から送り出されたプラスチックフィルム39を製膜ユニット35に案内するガイドロール43とを備える。複数のプラズマ発生部13は、第2導波管5と、上記第2導波管5に設けた図示しないスロットアンテナ(10)及び誘電体板(11)とを有する。複数のプラズマ発生部13は、処理ロール51の回転方向に並べて配置され、各プラズマ発生部13は、処理ロール51の幅と同程度又はそれより広い幅を有する。プラズマ発生部13の誘電体板のプラズマ発生面は、プラスチックフィルム39を支持する処理ロール51の周表面に対向する。
実施例1において、ガスは、アルゴンであり、圧力は13Paとした。供給するマイクロ波の周波数は、2.45GHz、電力は1kWである。プラスチックフィルムは、プラズマ発生面から50mmの位置に配置し、厚さ100μmのPET(ポリエチレンテレフタレート)フィルム(東洋紡績株式会社製、A4100)である。プラズマ照射時間は、5秒間とした。このような条件で表面処理をした後に、表面処理をしたプラスチックフィルムの表面の各種元素の量をESCA(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)で測定した。実施例1での測定結果が図9及び図10に示される。図9及び図10は、それぞれ、珪素(Si)、フッ素(F)の測定結果を示す。図9において、位置61はSiO2のスペクトル、位置63は金属Siのスペクトル、点線の楕円領域65はシリコンのスペクトルを示す。又、図10において、点線の楕円領域67はフッ素のスペクトルを示す。未処理のPETフィルムと比較すると、表面汚染であるフッ素が除去されている。
比較例1では、装置内に設置した磁場をかけたボロンドープシリコンの平板電極に直流電圧をかけプラズマを発生させた。ガスは、アルゴンであり、圧力は0.6Paとした。直流電力は4.6w/cm2で供給した。プラスチックフィルムは、電極から95mmの位置に配置し、厚さ100μmのPETフィルム(東洋紡績株式会社製、A4100)である。プラズマ照射は、2.5秒間とした。未処理のフィルム表面と比較してフッ素元素は検出されないが、電極材料であるシリコン元素が不純物としてフィルム表面に存在しているのがわかる。
実施例2において、ガスは、アルゴン100%と混合ガス(アルゴン90%,酸素10%)であり、全圧力は13Paとした。供給するマイクロ波の周波数は、2.45GHz、電力は0.5kWである。プラスチックフィルムは、プラズマ発生面から100mmの位置に配置し、厚さ100μmのPET(ポリエチレンテレフタレート)フィルム(東洋紡績株式会社製、A4100)である。プラズマ照射時間は、0、2、5、10、30秒間の5水準実施した。このような条件で、各ガスについてプラズマ照射時間を変えて表面処理をした後に、水との接触角を測定した。図11は、測定結果を示し、実施例2Aは、アルゴン100%での測定結果を、実施例2Bは、混合ガスでの測定結果を示す。プラズマに数秒間さらすだけで接触角が低下し、表面処理の効果が現れた。微量の酸素を添加すると劇的に処理効果が向上する。
実施例3では、実施例2と比較して、プラスチックフィルムの材料を、PETフィルムからポリイミドフィルムに変えた。ポリイミドフィルムは、PETフィルムより耐熱性に優れるので、マイクロ波の出力も上げている。具体的には、実施例3において、ガスは、アルゴン100%と混合ガス(アルゴン90%,酸素10%)であり、全圧力は13Paとした。供給するマイクロ波の周波数は、2.45GHz、電力は1kWである。プラスチックフィルムは、プラズマ発生面から50mmの位置に配置し、厚さ50μmのポリイミドフィルム(東レデュポン株式会社製、カプトン(登録商標))である。プラズマ照射時間は、0、2、5、10、30秒間の5水準実施した。このような条件で、各ガスについてプラズマ照射時間を変えて表面処理をした後に、水の接触角を測定した。図12は、測定結果を示し、実施例3Aは、アルゴン100%での測定結果を、実施例3Bは、混合ガスでの測定結果を示す。PETフィルムのプラズマ処理と同様に、短時間で処理効果が現れ、酸素添加により効果も確認された。
実施例4において、ガスは、アルゴン100%と混合ガス(アルゴン90%,酸素10%)であり、全圧力は65Paとした。供給するマイクロ波の周波数は、2.45GHz、電力は1kWである。プラスチックフィルムは、プラズマ発生面から50mmの位置に配置し、厚さ50μmのポリイミドフィルム(東レデュポン株式会社製、カプトン(登録商標))である。プラズマ照射時間は、5秒間である。
実施例5において、ガスは、アルゴンであり、圧力は65Paとした。供給するマイクロ波の周波数は、2.45GHz、電力は1kWである。プラスチックフィルムは、プラズマ発生面から100mmの位置に配置し、ポリイミドフィルム(PMDA−ODA)である。プラズマ照射時間は、5秒間である。次に、表面処理したポリイミドフィルムに、DCマグネトロンスパッタリング法によって、銅の薄膜を形成した。薄膜形成処理では、0.65Paのアルゴン雰囲気で、ターゲットは無酸素銅、ターゲットとポリイミドフィルムとの距離は100mm、供給電力は50Wとした。形成した薄膜の厚さは、100nmである。続けて、薄膜が形成されたポリイミドフィルムを装置から取り出し、電気めっき法によりさらに銅層を20μm積層した。電気めっきは一般的な方法でめっき液として硫酸銅、陽極に銅板を使用したものである。JIS C6471に基づきスパッタリング法と電気めっきにより積層した銅層をポリイミドフィルムとスパッタリングによる銅層との界面よりはがし、90°の剥離角により密着力を測定した。結果を図16に示す。
実施例6では、ガスが混合ガス(アルゴン90%,酸素10%)である以外は、実施例5と同じである。
(比較例3)
比較例3では、プラズマ表面処理のプラズマ発生源として、マイクロ波プラズマの代わりに、平板電極プラズマを用いた。電極には銅を用い、供給したマイクロ波の周波数は13.56MHz、電力は200Wとし、アルゴンプラズマ中で5秒間、フィルムの処理を行い実施例5と同様に銅の薄膜を形成し、密着力を測定した。結果を図16に示す。
(比較例4)
表面処理を行わず、実施例5と同様の方法で銅の薄膜を形成し、密着力を測定した。結果を図16に示す。比較例3及び4のそれぞれに比べて、マイクロ波プラズマを利用して表面処理を施した実施例5及び6の方が密着力が増加している。
Claims (13)
- 容器内にマイクロ波プラズマを発生させるプラズマ装置であって、
矩形の断面形状を形成する壁部を有し、前記容器に装着され、自由空間波長λのマイクロ波を伝送する導波管部と、
上記壁部に、管内波長λgの1/2の間隔で上記導波管部の長手方向に形成された矩形状の複数のスロットから成るスロットアンテナと、
上記スロットアンテナを有する上記壁部の外表面に接して設けられ、上記スロットアンテナを覆う誘電体板とを備え、
上記スロットアンテナを形成する上記複数のスロットは、
a)上記スロットアンテナを有する壁部の長手方向の中心軸を挟んで交互に配置されること、
b)上記中心軸からの距離が一定であること、
c)上記複数のスロットの数をn(n=1を除く)、n×λg/2をλ/2で除して得られる数をmとした場合、m−1<n<mを満たすこと、
d)式1及び式2の関係を満たし、マイクロ波電源側から見た上記導波管部のインピーダンスが、逆向きの電源側を見た導波管部の特性インピーダンスとほぼ等しいこと、
というa)〜d)の条件を満たすことを特徴とするプラズマ装置。
g:理想化された条件の下で、導波管部の特性インピーダンスで規格化された1個のスロットの等価コンダクタンス
a:上記導波管部の高さ
b:上記導波管部の幅
x1:上記壁部の長手方向の中心軸から上記スロットの長辺方向の中心軸までの距離 - 上記マイクロ波電源から上記導波管部へマイクロ波を伝送する導波管と、
上記導波管と上記導波管部とを滑らかに接続するテーパ状接続管と、
を更に備えることを特徴とする請求項1記載のプラズマ装置。 - 容器内で処理対象物にプラズマを照射することによって、上記対象物の表面を処理するプラズマ処理装置であって、
上記容器内にマイクロ波プラズマを発生させるプラズマ発生部と、
上記プラズマ発生部に対向した状態で上記対象物を支持する支持部とを備え、
矩形の断面形状を形成する壁部を有し、上記容器に装着され、自由空間波長λのマイクロ波を伝送する導波管部と、
上記壁部に、管内波長λgの1/2の間隔で上記導波管部の長手方向に形成された矩形状の複数のスロットから成るスロットアンテナと、
上記スロットアンテナを有する上記壁部の外表面に接して設けられ、上記スロットアンテナを覆う誘電体板とを備え、
上記スロットアンテナを形成する上記複数のスロットは、
a)上記スロットアンテナを有する壁部の長手方向の中心軸を挟んで交互に配置されること、
b)上記中心軸からの距離が一定であること、
c)上記複数のスロットの数をn(n=1を除く)、n×λg/2をλ/2で除して得られる数をmとした場合、m−1<n<mを満たすこと、
d)式1及び式2の関係を満たし、マイクロ波電源側から見た上記導波管部のインピーダンスが、逆向きの電源側を見た導波管部の特性インピーダンスとほぼ等しいこと、
というa)〜d)の条件を満たすことを特徴とするプラズマ処理装置。
g:理想化された条件の下で、導波管部の特性インピーダンスで規格化された1個のスロットの等価コンダクタンス
a:上記導波管部の高さ
b:上記導波管部の幅
x1:上記壁部の長手方向の中心軸から上記スロットの長辺方向の中心軸までの距離 - 上記誘電体板またはその近傍に、上記対象物と対向する側に複数の永久磁石を更に備えることを特徴とする請求項3記載のプラズマ処理装置。
- 上記対象物は、長尺のプラスチックフィルムであり、
上記支持部は、上記プラスチックフィルムを連続的に移動させることを特徴とする請求項3または4に記載のプラズマ処理装置。 - 上記支持部は、自身が支持している上記プラスチックフィルムの温度を調節するための温度調整手段を有することを特徴とする請求項3から5のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
- 上記プラズマ発生部と上記対象物との距離を調整する距離調整機構部を更に備えることを特徴とする請求項3から6のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
- 上記プラズマ発生部は、上記プラスチックフィルムとの距離が一定となるように、上記支持部の上記プラスチックフィルムを支持する面の形状に応じて湾曲することを特徴とする請求項3から7のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
- 上記プラズマ発生部は、プラスチックフィルムの移動方向に沿って複数設けられることを特徴とする請求項3から8のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
- 上記支持部は、回転可能であり、回転することによって、上記プラスチックフィルムを順次移動させるロールであることを特徴とする請求項3から9のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
- 上記マイクロ波電源から上記導波管部へマイクロ波を伝送する導波管と、
上記導波管と上記導波管部とを滑らかに接続するテーパ状接続管と、
を更に備えることを特徴とする請求項3記載のプラズマ処理装置。 - 矩形の断面形状を形成する壁部を有し、中空容器に装着され、自由空間波長λのマイクロ波を伝送する導波管部と、
上記壁部に、管内波長λgの1/2の間隔で上記導波管部の長手方向に形成された矩形状の複数のスロットから成るスロットアンテナと、
上記スロットアンテナを有する上記壁部の外表面に接して設けられ、上記スロットアンテナを覆う誘電体板とを備え、
上記スロットアンテナを形成する上記複数のスロットは、
a)上記スロットアンテナを有する壁部の長手方向の中心軸を挟んで交互に配置されること、
b)上記中心軸からの距離が一定であること、
c)上記複数のスロットの数をn(n=1を除く)、n×λg/2をλ/2で除して得られる数をmとした場合、m−1<n<mを満たすこと、
d)式1及び式2の関係を満たし、マイクロ波電源側から見た上記導波管部のインピーダンスが、逆向きの電源側を見た導波管部の特性インピーダンスとほぼ等しいこと、
というa)〜d)の条件を満たすプラズマ発生部を利用して対象物の表面処理を行う表面処理方法であって、
上記導波管部の壁に形成されたスロットアンテナからマイクロ波を放射するステップと、
上記マイクロ波によって、上記プラズマ発生部が備える上記誘電体板の表面にプラズマを発生させるステップと、
発生した上記プラズマを上記対象物に照射するステップとを含むことを特徴とするプラズマ処理方法。
g:理想化された条件の下で、導波管部の特性インピーダンスで規格化された1個のスロットの等価コンダクタンス
a:上記導波管部の高さ
b:上記導波管部の幅
x1:上記壁部の長手方向の中心軸から上記スロットの長辺方向の中心軸までの距離 - 上記マイクロ波電源から上記導波管部へマイクロ波を伝送する導波管と、
上記導波管と上記導波管部とを滑らかに接続するテーパ状接続管と、
を更に備えることを特徴とする請求項12記載のプラズマ処理方法。
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