JP5301505B2 - 液処理装置および液処理方法 - Google Patents
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Description
20 リフトピンプレート
20a 貫通穴
22 リフトピン
24 接続部材
26 バネ
30 保持プレート
30a 貫通穴
30b 貫通穴
31 基板支持部
31a 軸
31b 基板支持部分
31c 被押圧部材
31d バネ部材
32 収容部材
33 軸受け部
33a 軸受け孔
33b 内壁面
34 回転軸
36 回転カップ
37 固定保持部
38 接続部材
39 回転駆動部
40 洗浄液供給管
40a、40b 洗浄液供給路
42 ヘッド部分
42a〜42d ノズル
44 第1の連動部材
46 第2の連動部材
50 昇降駆動部
52 接続部材
56 外カップ
58 排液管
60 フィン部材
60a フィン部分
70 洗浄液供給ノズル
101 載置台
102 搬送アーム
103 棚ユニット
104 搬送アーム
W ウエハ
Claims (13)
- 中心部分に貫通穴が形成され、基板を保持する保持プレートと、
前記保持プレートの上方に設けられ、中心部分に貫通穴が形成され、基板を下方から支持するリフトピンを有するリフトピンプレートと、
前記保持プレートを回転させる回転駆動部と、
前記保持プレートの貫通穴および前記リフトピンプレートの貫通穴を通るよう設けられ、前記保持プレートにより保持された基板の裏面に処理液を供給する処理液供給部であって、前記リフトピンプレートの貫通穴を塞ぐよう設けられたヘッド部分を有する処理液供給部と、
前記処理液供給部および前記リフトピンプレートを前記保持プレートに対して相対的に昇降させる昇降機構と、
を備えたことを特徴とする液処理装置。 - 前記リフトピンプレートは前記保持プレートと連動して回転することを特徴とする請求項1記載の液処理装置。
- 前記昇降機構は、前記処理液供給部および前記リフトピンプレートを一体的に昇降させることを特徴とする請求項1または2記載の液処理装置。
- 前記昇降機構は、前記処理液供給部および前記リフトピンプレートを互いに独立して昇降させることを特徴とする請求項1または2記載の液処理装置。
- 前記リフトピンプレートは、下方位置にあるときに前記保持プレートに隣接し、上方位置にあるときに前記保持プレートから上方に離間し前記リフトピン上への基板の受け渡しおよび前記リフトピン上からの基板の取り出しを行うことができるようになることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の液処理装置。
- 前記保持プレートに設けられ、前記処理液供給部および前記リフトピンプレートが下方位置にあるときに前記保持プレートにより保持された基板の外周縁を囲うような回転カップを更に備えたことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の液処理装置。
- 前記保持プレートに、基板を側方から支持する基板支持部が設けられており、
前記基板支持部は、前記リフトピンプレートが下方位置にあるときに基板を側方から支持し、前記リフトピンプレートが上方位置にあるときに基板から離間するようになっていることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の液処理装置。 - 前記基板支持部は前記保持プレートに軸支されており、当該基板支持部は軸を中心として揺動するようになっており、
前記基板支持部は、基板を側方から支持する基板支持部分と、前記リフトピンプレートと前記保持プレートとの間に設けられ前記リフトピンプレートが下方位置にあるときに当該リフトピンプレートの下面により下方に押圧される被押圧部分とを有し、
前記基板支持部は、前記リフトピンプレートが上方位置から下方位置に移動したときに当該リフトピンプレートの下面により前記被押圧部分が下方に押圧されることにより前記軸を中心として回転し、前記基板支持部分が基板に向かって当該基板の側方から移動するよう構成されていることを特徴とする請求項7記載の液処理装置。 - 前記保持プレートに、前記基板支持部の前記軸を受け入れる軸受け孔が設けられた軸受け部が設けられており、前記軸は前記軸受け孔に沿って水平方向に移動可能となっており、
前記軸には、当該軸を前記保持プレートの中心に向かって押圧する押圧部が設けられていることを特徴とする請求項8記載の液処理装置。 - 前記押圧部はバネ部材であることを特徴とする請求項9記載の液処理装置。
- 前記リフトピンプレートの下面には、当該リフトピンプレートから下方に延びる接続部材が設けられ、
前記保持プレートには、前記接続部材が通るような接続部材貫通穴が設けられ、
前記接続部材により前記リフトピンプレートと前記保持プレートとが連動して回転するようになっており、
前記昇降機構は、前記リフトピンプレートを下方位置から上方位置まで移動させる際に前記接続部材を上方に押し上げるようになっていることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか一項に記載の液処理装置。 - 前記保持プレートの下面には、当該保持プレートから下方に延び、前記接続部材を収容する中空の収容部材が設けられ、
前記収容部材の中空部分には、前記接続部材に接続されたバネが圧縮された状態で収容されており、前記バネにより前記接続部材が下方に付勢されていることを特徴とする請求項11記載の液処理装置。 - 中心部分に貫通穴が形成され、基板を保持する保持プレートと、前記保持プレートの上方に設けられ、中心部分に貫通穴が形成され、基板を下方から支持するリフトピンを有するリフトピンプレートと、前記保持プレートを回転させる回転駆動部と、前記保持プレートの貫通穴および前記リフトピンプレートの貫通穴を通るよう設けられ、前記保持プレートにより保持された基板の裏面に処理液を供給する処理液供給部であって、前記リフトピンプレートの貫通穴を塞ぐよう設けられたヘッド部分を有する処理液供給部と、を備え、前記処理液供給部および前記リフトピンプレートが前記保持プレートに対して相対的に昇降するようになっているような液処理装置により基板を洗浄するような液処理方法であって、
前記処理液供給部および前記リフトピンプレートをそれぞれ上方位置に位置させた状態で、前記リフトピンプレートの前記リフトピン上に基板を載置する工程と、
前記処理液供給部および前記リフトピンプレートをそれぞれ上方位置から下方位置に移動させる工程と、
前記処理液供給部および前記リフトピンプレートをそれぞれ下方位置に位置させた状態で、前記処理液供給部によって前記保持プレートにより保持された基板の裏面に処理液を供給する工程と、
前記処理液供給部および前記リフトピンプレートをそれぞれ下方位置から上方位置に移動させる工程と、
前記処理液供給部および前記リフトピンプレートをそれぞれ上方位置に位置させた状態で、前記リフトピンにより支持された基板を取り出す工程と、
を備えたことを特徴とする液処理方法。
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JP5596071B2 (ja) * | 2012-03-09 | 2014-09-24 | 東京エレクトロン株式会社 | 液処理装置 |
JP2015079782A (ja) * | 2013-10-15 | 2015-04-23 | 株式会社ディスコ | スピンナ装置 |
CN103977973B (zh) * | 2014-05-09 | 2016-10-05 | 欧蒙医学诊断(中国)有限公司 | 一种载片清洗装置和方法 |
JP6416723B2 (ja) | 2014-11-21 | 2018-10-31 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理システム |
US10276425B2 (en) | 2014-11-21 | 2019-04-30 | Tokyo Electron Limited | Substrate processing system |
JP6456712B2 (ja) * | 2015-02-16 | 2019-01-23 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板保持機構及びこれを用いた基板処理装置 |
US10037902B2 (en) | 2015-03-27 | 2018-07-31 | SCREEN Holdings Co., Ltd. | Substrate processing device and substrate processing method |
CN105170533A (zh) * | 2015-09-25 | 2015-12-23 | 玉溪市岁兰花卉有限公司 | 花卉种植基质清洗系统 |
KR101909182B1 (ko) * | 2015-11-30 | 2018-12-10 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 장치 및 방법 |
JP6689719B2 (ja) * | 2016-09-23 | 2020-04-28 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理装置 |
JP6322256B2 (ja) * | 2016-10-21 | 2018-05-09 | 株式会社プレテック | ウェーハ保持装置及びウェーハ処理装置 |
JP6746471B2 (ja) * | 2016-11-08 | 2020-08-26 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置 |
JP6770886B2 (ja) * | 2016-12-28 | 2020-10-21 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理装置及び基板処理方法 |
US10083852B1 (en) * | 2017-05-12 | 2018-09-25 | Kla-Tencor Corporation | Floating wafer chuck |
JP6971865B2 (ja) | 2018-01-17 | 2021-11-24 | キオクシア株式会社 | 処理装置 |
JP7020986B2 (ja) | 2018-04-16 | 2022-02-16 | 株式会社荏原製作所 | 基板処理装置および基板保持装置 |
CN112543991A (zh) * | 2018-08-06 | 2021-03-23 | 应用材料公司 | 非接触式的清洁模块 |
CN109107970A (zh) * | 2018-11-07 | 2019-01-01 | 北京半导体专用设备研究所(中国电子科技集团公司第四十五研究所) | 晶圆清洁设备及晶圆生产线 |
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JP7438015B2 (ja) * | 2020-05-01 | 2024-02-26 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置 |
TWI747580B (zh) * | 2020-10-28 | 2021-11-21 | 辛耘企業股份有限公司 | 晶圓蝕刻裝置 |
CN114535201B (zh) * | 2022-04-27 | 2022-08-02 | 沈阳和研科技有限公司 | 旋转承载台、半导体材料清洗机及划片机 |
US20240326187A1 (en) * | 2023-04-03 | 2024-10-03 | Applied Materials, Inc. | Homing methods for lift assemblies, and related apparatus and components, for substrate processing chambers |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3354367B2 (ja) * | 1995-12-19 | 2002-12-09 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板洗浄装置 |
JPH09199456A (ja) | 1996-01-18 | 1997-07-31 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置 |
JP3638374B2 (ja) * | 1996-04-25 | 2005-04-13 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 回転式基板処理装置 |
JP2000133626A (ja) * | 1998-10-26 | 2000-05-12 | Hitachi Ltd | 基板洗浄装置 |
US6827814B2 (en) * | 2000-05-08 | 2004-12-07 | Tokyo Electron Limited | Processing apparatus, processing system and processing method |
US6603538B1 (en) * | 2000-11-21 | 2003-08-05 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus employing optical emission spectroscopy to detect a fault in process conditions of a semiconductor processing system |
JP4028346B2 (ja) * | 2002-10-17 | 2007-12-26 | 東京エレクトロン株式会社 | 液処理装置 |
JP4102712B2 (ja) | 2003-06-13 | 2008-06-18 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置及び基板処理方法 |
JP2006310709A (ja) * | 2005-05-02 | 2006-11-09 | Hitachi Plant Technologies Ltd | 半導体ウェハ保持装置及び方法 |
JP4819010B2 (ja) * | 2007-09-04 | 2011-11-16 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理装置、処理方法および記憶媒体 |
US8268087B2 (en) * | 2007-12-27 | 2012-09-18 | Tokyo Electron Limited | Liquid processing apparatus, liquid processing method, and storage medium |
WO2009101853A1 (ja) * | 2008-02-14 | 2009-08-20 | Tokyo Electron Limited | 液処理装置、液処理方法および記憶媒体 |
JP5327144B2 (ja) * | 2010-06-16 | 2013-10-30 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理装置及び処理方法 |
-
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