[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP5192524B2 - 保護装置 - Google Patents

保護装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5192524B2
JP5192524B2 JP2010198242A JP2010198242A JP5192524B2 JP 5192524 B2 JP5192524 B2 JP 5192524B2 JP 2010198242 A JP2010198242 A JP 2010198242A JP 2010198242 A JP2010198242 A JP 2010198242A JP 5192524 B2 JP5192524 B2 JP 5192524B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
protection device
metal element
substrate
intermediate support
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2010198242A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011060761A (ja
Inventor
鐘雄 王
鴻銘 林
文翔 羅
春條 劉
國樞 陳
Original Assignee
乾坤科技股▲ふん▼有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from TW98129874A external-priority patent/TWI385695B/zh
Priority claimed from TW099111958A external-priority patent/TWI452592B/zh
Priority claimed from TW099115506A external-priority patent/TWI456617B/zh
Application filed by 乾坤科技股▲ふん▼有限公司 filed Critical 乾坤科技股▲ふん▼有限公司
Publication of JP2011060761A publication Critical patent/JP2011060761A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5192524B2 publication Critical patent/JP5192524B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01HELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
    • H01H85/00Protective devices in which the current flows through a part of fusible material and this current is interrupted by displacement of the fusible material when this current becomes excessive
    • H01H85/48Protective devices wherein the fuse is carried or held directly by the base
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01HELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
    • H01H85/00Protective devices in which the current flows through a part of fusible material and this current is interrupted by displacement of the fusible material when this current becomes excessive
    • H01H85/02Details
    • H01H85/0241Structural association of a fuse and another component or apparatus
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01HELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
    • H01H85/00Protective devices in which the current flows through a part of fusible material and this current is interrupted by displacement of the fusible material when this current becomes excessive
    • H01H85/0039Means for influencing the rupture process of the fusible element
    • H01H85/0047Heating means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01HELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
    • H01H85/00Protective devices in which the current flows through a part of fusible material and this current is interrupted by displacement of the fusible material when this current becomes excessive
    • H01H85/02Details
    • H01H85/04Fuses, i.e. expendable parts of the protective device, e.g. cartridges
    • H01H85/041Fuses, i.e. expendable parts of the protective device, e.g. cartridges characterised by the type
    • H01H85/0411Miniature fuses
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01HELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
    • H01H85/00Protective devices in which the current flows through a part of fusible material and this current is interrupted by displacement of the fusible material when this current becomes excessive
    • H01H85/02Details
    • H01H85/0241Structural association of a fuse and another component or apparatus
    • H01H2085/0283Structural association with a semiconductor device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01HELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
    • H01H85/00Protective devices in which the current flows through a part of fusible material and this current is interrupted by displacement of the fusible material when this current becomes excessive
    • H01H85/02Details
    • H01H85/46Circuit arrangements not adapted to a particular application of the protective device
    • H01H2085/466Circuit arrangements not adapted to a particular application of the protective device with remote controlled forced fusing
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01HELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
    • H01H69/00Apparatus or processes for the manufacture of emergency protective devices
    • H01H69/02Manufacture of fuses
    • H01H69/022Manufacture of fuses of printed circuit fuses
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01HELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
    • H01H85/00Protective devices in which the current flows through a part of fusible material and this current is interrupted by displacement of the fusible material when this current becomes excessive
    • H01H85/02Details
    • H01H85/04Fuses, i.e. expendable parts of the protective device, e.g. cartridges
    • H01H85/041Fuses, i.e. expendable parts of the protective device, e.g. cartridges characterised by the type
    • H01H85/046Fuses formed as printed circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01HELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
    • H01H85/00Protective devices in which the current flows through a part of fusible material and this current is interrupted by displacement of the fusible material when this current becomes excessive
    • H01H85/02Details
    • H01H85/04Fuses, i.e. expendable parts of the protective device, e.g. cartridges
    • H01H85/041Fuses, i.e. expendable parts of the protective device, e.g. cartridges characterised by the type
    • H01H85/048Fuse resistors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01HELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
    • H01H85/00Protective devices in which the current flows through a part of fusible material and this current is interrupted by displacement of the fusible material when this current becomes excessive
    • H01H85/02Details
    • H01H85/04Fuses, i.e. expendable parts of the protective device, e.g. cartridges
    • H01H85/05Component parts thereof
    • H01H85/055Fusible members
    • H01H85/08Fusible members characterised by the shape or form of the fusible member
    • H01H85/11Fusible members characterised by the shape or form of the fusible member with applied local area of a metal which, on melting, forms a eutectic with the main material of the fusible member, i.e. M-effect devices

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Fuses (AREA)

Description

本発明は、電子機器に適用される保護装置および特に過電流および過電圧を防止することができる保護装置に関する。
近年、情報技術(IT)開発の時流により、携帯電話、コンピュータおよび個人情報端末のようなIT製品はありふれている。それらによって、食品、衣類、住居、旅行、教育および娯楽といったさまざまな側面での要望が満たされており、人々はますますIT製品に依存している。しかしながら、最近、充電および放電中における、携帯用電子製品のバッテリーの爆発に関する報道があった。それ故、業界は、過電圧または過電流が原因で、充電および放電中にバッテリーが爆発しないように、バッテリーの充電および放電中に用いられる保護手段を強化している。
従来の技術によって提供される保護装置の保護方法によれば、保護装置の温度ヒューズはバッテリー回路と直列接続され、保護装置の温度ヒューズおよびヒーターは、例えば電界効果トランジスタ(FET)および集積回路(IC)といった制御装置に電気的に接続されている。このようなやり方では、ICが過電圧を検知すると、このICはFETを作動させるため、温度ヒューズを融解させるまで加熱する電流がヒーターに流れるように、それによってバッテリー回路を非接続とし、過電圧から保護する。加えて、過電流が生じたときには、温度ヒューズに大量の電流が流れ、温度ヒューズが融解し、それによってバッテリー回路を非接続とし、過電流からの保護がなされる。
本発明の目的は、過電流および過電圧を効果的に防止する、保護装置を提供することにある。
一態様において、本発明は、基板、導電部分および橋絡素子を含む保護装置を提供する。導電部分は基板によって支持され、導電部分は第1電極と第2電極との間に電気的に接続された金属素子を備える。金属素子は、第1および第2電極の融点よりも低い融点を有する犠牲構造として機能する。橋絡素子は、金属素子中の電流フローの方向と交差する方向に金属素子を横切って跨り、金属素子の融解時の破断を促進する。保護装置は更に金属素子と基板との間に配置される中間支持部を備える。
本発明の実施形態において、橋絡素子の少なくとも一端部は基板上に固定的に支持する。
本発明の実施形態において、橋絡素子の両端部は基板上に固定的に支持する。
本発明の実施形態において、橋絡素子の少なくとも一端部は中間支持部上に固定的に支持する。
本発明の実施形態において、橋絡素子の両端部は、中間支持部に固定的に支持する。
本発明の実施形態において、橋絡素子は細長構造を備える。
本発明の実施形態において、細長構造はアーク形状または曲げ形状を備える。
本発明の実施形態において、保護装置は橋絡素子と金属素子との間に配置される部分を有する補助媒体を更に備える。
本発明の実施形態において、保護装置は金属素子と基板との間に配置される他の補助媒体を更に備え、前記他の補助媒体は他の金属素子の融点よりも低い融点を有する。
本発明の実施形態において、保護装置は基板によって支持され、少なくとも金属素子および補助媒体に熱を与える発熱素子を更に備える。
本発明の実施形態において、橋絡素子および補助媒体は発熱素子に沿って位置付ける。
本発明の実施形態において、保護装置は金属素子と中間支持部の間に中間層を更に備え、該中間層は金属素子の融点よりも低い融点を有する。
本発明の実施形態において、補助媒体はフラックスまたははんだ層とする。
本発明の実施形態において、保護装置は発熱素子と第1電極と第2電極との間に断熱部を更に備え、前記中間支持部への熱伝達速度を第1および第2電極への熱伝達速度よりも高くする。
本発明の実施形態において、中間支持部は発熱素子に結合された電極の延長部分を備える。
本発明の実施形態において、基板は第1電極および第2の電極の下方に第1断熱ブロックおよび第2断熱ブロックを備え、前記第1断熱ブロックの熱伝導係数を前記第2断熱ブロックの熱伝導係数よりも大きくする。
上記説明によると、本発明の保護装置は、橋絡素子を備えているため、発熱素子が熱を発生させて金属素子を融解させると、表面張力および(毛細管現象を含むか否かは分からない)ウィッキング現象により、融解した金属素子は接触させた橋絡素子および中間支持部に向かって流れて回路を遮断するために、過電圧保護および過電流保護が達成される。更に、補助媒体を本発明の保護装置に埋設し、この補助媒体を金属素子と発熱素子との間に配置するため、発熱素子が熱を発生させると、融解した補助媒体は金属素子を効果的に融解しやすくする。
加えて、本発明の保護装置は低熱伝導性層を備えており、発熱素子が熱を発生させて、その熱を、基板を介して第3電極へ伝達すると、第1および第2電極の全てが低熱伝導性層によって阻まれるため、発熱素子によって発生された熱を第3電極へ集中的に伝達することができる。従って、最初に金属素子の融解量を減らすために、第3電極の上方に位置する金属素子を飛ばし、回路を遮断して、過電圧保護および過電流保護を効果的に達成することができる。一方で、このような設計によれば、融解した金属の接着領域を効率的に制御して、安定した融解時間と融解条件を与えることもでき、一方で製作工程中に発生する発熱装置および第3電極の調整誤差を低減することができる。
本発明の、上述のおよび他の、特徴および特長をわかりやすくするために、いくつかの実施例を図面と共に以下に詳細に記載する。
添付図面を本発明の更なる理解のために含め、また本明細書に加えてその一部とする。図面は本発明の実施形態を例示し、図面の説明と共に本発明の原理を説明するのに役立つ。
本発明の実施形態による保護装置の概略上面図である。 図1Aの保護装置の概略底面図である。 断面線I〜Iに沿った図1Aの保護装置の概略横断面図である。 断面線II〜IIに沿った図1Aの保護装置の概略横断面図である。 本発明の他の実施形態による保護装置の断面図である。 本発明の他の実施形態による保護装置の断面図である。 本発明の他の実施形態による保護装置の断面図である。 本発明の実施形態による保護装置の製造工程を例示する上面図である。 本発明の実施形態による保護装置の製造工程を例示する上面図である。 本発明の実施形態による保護装置の製造工程を例示する上面図である。 本発明の実施形態による保護装置の製造工程を例示する上面図である。 本発明の他の実施形態による保護装置の概略上面図である。 図4Aの保護装置の概略底面図である。 断面線III〜IIIに沿った図4Aの保護装置の概略横断面図である。 本発明の他の実施形態による保護装置の概略横断面図である。 本発明の実施形態による保護装置の概略横断面図である。 破断後の図6Aの保護装置の概略横断面図である。 本発明の他の実施形態による保護装置の概略横断面図である。 本発明の他の実施形態による保護装置の概略横断面図である。 本発明の他の実施形態による保護装置の概略横断面図である。 本発明の他の実施形態による保護装置の概略横断面図である。 本発明の更に他の実施形態による保護装置の概略横断面図である。 本発明の更にまた他の実施形態による保護装置の概略横断面図である。
本発明の好適な実施形態を詳細に記し、その実施例を添付図面に例示する。可能な限り、同じ参照番号を、図面中および説明中において、同一のまたは同様の部分を示すために用いる。
図1A〜図1Dを参照するに、本実施形態において、保護装置200aは、基板210、第1電極220、第2電極230、第3電極240、第4電極250、発熱素子260、第1補助媒体270、導電部分および少なくとも1つの橋絡素子290(図1A〜図1Dにおいては1つの素子のみを概略例示する)を含む。第1電極220、第2電極230、第3電極240および第4電極250は、それぞれ基板210上に配置される。ここで、導電部分は、基板210に支持され、第1電極220と第2電極230との間に電気的に接続される金属素子280を含む。
詳細には、本実施形態において、基板210は、中央部分Cと、この中央部分Cを囲む、第1周辺部212、第2周辺部214、第3周辺部216および第4周辺部218とを有する。第1周辺部212は第2周辺部214に対応して配置される。第3周辺部216は第4周辺部218に対応して配置される。第1電極220、第2電極230、第3電極240および第4電極250は、それぞれ、第1周辺部212、第2周辺部214、第3周辺部216および第4周辺部218上に配置される。基板210は、第1表面S1、および第1表面S1と反対側の第2表面S2を有し、第1電極220、第2電極230、第3電極240および第4電極250は、第1表面S1から第2表面S2まで延在するが、本発明はこの構成に限定されるものではなく、第1表面S1もしくは第2表面S2上での各々の電極の割り当て、または各々の電極の有無は、実際の設計要件に従って決定される。他の実施形態において、第4電極250は第2表面S2上のみに配置することができる。他の実施形態において、第4電極250は省略することもでき、これは過電流および過電圧保護効果に影響を与えないということに留意すべきである。
更に、第3電極240は、中間支持部242、第2延在部244および本体部246を含み、中間支持部242および第2延在部244は、それぞれ第1表面S1上および第2表面S2上に配置することができ、それぞれ中央部分C上の位置まで延在させることができる。そして、中間支持部242は、例えば本体部246に接続される。本実施形態において、中間支持部242および第2延在部244は、それぞれ2つの平面上に配置され、これら2つの平面はほぼ平行であるが互いに重ならない。中間支持部242は、金属素子280と基板210との間に配置される。第4電極250の第3延在部252は、第2表面S2上に配置され、中央部分C上の位置まで延在する。中間支持部242、第2延在部244および第3延在部252は、それぞれ第1電極220と第2電極230との間に配置される。加えて、中間支持部242の形状は本発明において限定されず、中間支持部を電極との接触がない基板上で独立した部分とすることができ、金属素子の融解時の破断を促進するために良好な熱伝導率を有する材料を含むということに留意すべきである。
基板210の材料は、例えば、セラミック(例えばアルミナ)、ガラスエポキシ樹脂、酸化ジルコニウム(ZrO)、窒化ケイ素(Si)、窒化アルミニウム(AlN)、窒化ボロン(BN)または他の無機材料等を含む。第1電極220、第2電極230、第3電極240および第4電極250の材料は、例えば、銀、銅、金、ニッケル、銀白金合金、ニッケル合金および良好な電気伝導率を有する他の材料とする。
発熱素子260は、第2表面S2上に配置され、第2延在部244と第3延在部252との間に接続される。第3電極240の中間支持部242は、発熱素子260の上方に配置される(図1Cに示す)。発熱素子260の材料は、例えば、二酸化ルテニウム(RuO)、カーボンブラック(カーボンブラックは、水ガラスのような無機接着剤中、または、熱硬化性樹脂のような有機接着剤中にドープすることができる)、銅、チタン、ニッケルクロム合金およびニッケル銅合金等を含む。発熱素子260を、その後の製造プロセス、周囲環境の湿度、酸度およびアルカリ度による影響から守るために、発熱素子260は、フリット接着剤製またはエポキシ樹脂製の断熱層310によって覆う。
第1補助媒体270は、基板210の第1表面S1上に配置され、中間支持部242と第1電極220との間、および中間支持部242と第2電極230との間に位置づけられる。詳細には、第1補助媒体270は、第1電極220、中間支持部242および基板210によって形成された第1トレンチR1の中と、第2電極230、中間支持部242および基板210によって形成された第2トレンチR2の中とに充填される。本実施形態において、第1補助媒体270は、ロジン、軟化剤、活性薬剤および合成ゴムでできている。
金属素子280は、基板210の第1表面S1の上方に配置され、第1電極220、中間支持部242および第2電極230に接続される。詳細には、金属素子280は、第1電極220および第2電極230の融点よりも低い融点を有する犠牲構造として働く。金属素子280は、第1電極220、第1補助媒体270、中間支持部242および第2電極230の一部を覆う。発熱素子260が熱を発生させて、第1補助媒体270および金属素子280を融解する際に、金属素子280の融解効果が向上する。更に、第1補助媒体270は、融解した金属素子280が各々の電極上に流れて集まることができるように、融解した金属素子280と各々の電極との間のぬれ性を増大させ、融解した金属素子280自体の凝集力を高め、金属素子280を効果的に飛ばす(blow)ようにすることができる。加えて、金属素子280の材料は、錫鉛合金、錫銀鉛合金、錫インジウムビスマス鉛合金、錫アンチモン合金、錫銀銅合金および低融点を有する他の合金を含む。また、他の実施形態では、金属素子280の中にフラックス(例示せず)を埋め込んで、熱によって金属素子280を飛ばしやすくすることができる。本発明を、過電圧保護および過電流保護を同時に達成するために、発熱素子を有する保護装置を用いて説明するが、金属素子280を効果的に飛ばすことの安定性を高めるために、金属素子280の下方に第1補助媒体270を配置することをも、発熱素子を有さない構造に対しても適用して、過電流が生じ金属素子280が熱によって融解されるときに、金属素子280を飛ばすことの安定性を高めることができるということは、当業者であれば理解できるという点に留意されたい。
保護装置200aは、橋絡素子290を含み、該橋絡素子290は、金属素子280中の電流フローの方向と交差する方向に、金属素子280を横切って跨り、部分的に金属素子280と接触し、また橋絡素子290は、第1端部292aおよび第1端部292aと反対側の第2端部292bを有する。特に、橋絡素子290の第1端部292aは、第3電極240の本体部246上に固定されるが、本発明はこの構成に限定されるものではなく、橋絡素子290の第1端部292aは、中間支持部242が本体部246に接続される側で、第3電極240の中間支持部242上に固定することもできる。橋絡素子290のより良い性能を得るために、橋絡素子290の第2端部292bは、本体部246から離れた側で、第3電極240の中間支持部242に固定されるのが好ましい。すなわち、橋絡素子290の第1端部292aおよび第2端部292bは、それぞれ第3電極240の本体部246および中間支持部242上に固定し、橋絡素子290は、細長構造、例えば図1Dに示すようなアーチ状とする。特に、橋絡素子290の、基板210の第1表面S1上への正投影は、中間支持部242の、基板210の第1表面S1上への正投影に少なくとも部分的に重なる。更にまた、橋絡素子290は、金属素子280の融解時の破断を促進する。
橋絡素子290の形状、数、およびパターンは本発明に限定されないということに留意されたい。本実施形態の橋絡素子290は、細長構造、例えば弓型形状を有し、特に金属ワイヤとするが、他の実施形態においては、図2Aを参照して、保護装置200a’の橋絡素子290aの第1端部292a’のみを、第3電極240の中間支持部242上に固定する。すなわち、橋絡素子290aは細長構造、例えば弓形形状にする。代わりに、図2Bを参照して、保護装置200bの橋絡素子290bは、細長構造、例えば帽子形状の曲げ形状、または他の適切な形状とすることもできる。代わりに、保護装置200aは、複数の橋絡素子290を有することができる。または、橋絡素子290は、複数の撚線(例示せず)を巻くことによって形成することができる。または、橋絡素子290は、長さに従って変化する厚みを有するチェーン、コイル、金網、ワイヤ形状、もしくは、長さに従って異なる位置に突起を有するワイヤ形状とすることができる。または、橋絡素子290は、硬いか、柔軟か、むくか、或いは、中空のものとする。または、橋絡素子290は、U字形状またはC字形状またはE字形状の断面および他の断面形状を有する。これらは、すべて本発明の範囲内とみなされる。
本実施形態において、橋絡素子290は、部分的に金属素子280に接触し、間隔Dが、橋絡素子290の一番高い箇所と、金属素子280の基板210の反対側の表面との間に形成され、間隔Dは0.25mm、0〜0.1mmの範囲内とするため、第2補助媒体275を、橋絡素子290と金属素子280との間に構成して、融解した金属素子280の流れを導く媒体としての機能を果たすことができる。ロジンのような第1補助媒体270の材料を用いることができるのに加えて、第2補助媒体275の材料を、はんだ層またはロジンとの組み合わせとすることもできる。言い換えれば、第1補助媒体270および第2補助媒体275の材料は、実際の設計要件に従って、同じものまたは異なるものとすることができる。また、橋絡素子290の第1端部292aと第3電極240の本体部246との間、および、橋絡素子290の第2端部292bと第3電極240の中間支持部242との間の接合部も、第2補助媒体275で覆って、橋絡素子290の第1端部292aおよび第2端部292bの酸化を避け、橋絡素子290の構造強度を高めることができる。
本実施形態の保護装置200aは橋絡素子290を有するため、発熱素子260が熱を発生させ、金属素子280を融解させると、この融解した金属素子280は、表面張力およびウィッキング現象のために、接触した橋絡素子290に付着し、かつ更に中間支持部242の方へ流れることができ、回路を遮断して過電圧保護および過電流保護を達成する。すなわち、橋絡素子290の吸着のために、融解した金属素子280は、中間支持部242と第1電極220、または、中間支持部242と第2電極230を導通しにくくして、保護装置200aの短絡を防止し、ゆえに保護装置200aの高い信頼性を得ることができる。
図2Cを参照して、他の実施形態において、橋絡素子290b’は、金属素子280と接触しないということに留意されたい。より詳細には、図2Cの実施形態において、橋絡素子290b’の形状は、例えば逆U字形状であり、橋絡素子290b’は金属素子280に接触せず、かつ補助媒体279は、橋絡素子290b’と金属素子280との間に配置される。本実施形態において、補助媒体279は、例えば、フラックスまたははんだ層である。発熱素子260が熱を発生させて金属素子280を融解させたとき、融解した金属素子280は、表面張力およびウィッキング現象のために、補助媒体279を介して橋絡素子290b’には付着し、回路を遮断して過電圧保護および過電流保護を得る。
また、金属素子280は、金属素子280および橋絡素子290の基板210の第1表面S1上への正投影が相互に重なる領域およびその周囲で融解するだけであるから、第2補助媒体275は、融解した金属素子が橋絡素子290に沿って固定的に流れやすくするために、金属素子280と橋絡素子290との間に配置されることのみが要求される。このように、金属素子280の全表面への第2補助媒体275の被覆は不要であるため、第2補助媒体275の使用量は減少し、製造コストを低減させることができる。一方で、金属素子280の融解量が減少するため、過電圧保護における保護装置200aの作動時間が短縮され、また、中間支持部242と第1電極220とを、または、中間支持部242と第2電極230とを電気的に接続する、金属素子280の融解によって引き起こされる短絡現象も軽減される。従って、保護装置200aの信頼性は向上する。
また、本実施形態において、橋絡素子290の材料は、例えば単一金属、二重層金属または合金である。単一金属は、例えば金、銀、錫、ニッケル、アルミニウムまたは銅であり、二重層金属は、例えば銀、金または錫被覆銅によって形成され、合金は、例えば銅銀合金、銅ニッケル合金、ニッケル錫合金または銅錫ニッケル合金であるが、本発明はこれらに限定されない。橋絡素子290を、良好なぬれ性を有する外側の金属層、および良好な熱伝導性を有する内側の金属層、例えば、銀めっき銅、ニッケルめっき銅、錫めっき銅、錫めっきニッケル、金めっき銅等の素材から作られる金属層、によって形成されるように、橋絡素子290の外表面が、融解した金属素子280に対して良好なぬれ性および吸収性(例えばはんだぬれ性)を有するということに留意されたい。橋絡素子290の素材が金属または合金であるため、橋絡素子290は熱放散機能を有し、保護装置200aの熱放散効果を向上させることができる。
更に本実施形態において、保護装置200aは、金属素子280を第一電極220、第2電極230、および延在部242上に固定できるようにするために、第一電極220、第2電極230、および中間支持部242上に配置する中間層320を更に含むが、本発明がこれに制限されることはなく、金属素子280はまた、中間層320を使用しない他の周知のはんだ付け技術によって固定することができる。更に詳述すると、中間層320は金属素子280と中間支持部242の間に配置され、第1のはんだ材料を含む中間層320は金属素子280の融点よりも低い融点を有する。本実施形態において、中間層320の素材は、例えば錫銀合金や錫鉛合金等のはんだ材料を含む。
更に、融解した中間層320が良好なぬれ性を有するため、金属素子280が飛ばされるときに、融解した金属は融解した中間層320上に集合し、融解した金属素子280は、表面張力およびウィッキング現象のために、接触した橋絡素子290に付着し、中間支持部242の方へ更に流れることができ、融解した金属と、第一電極220もしくは第2電極230との短絡現象が生ずるのを防止できる。このようにして、過電圧および過電流を防止するために金属素子280を効率的に飛ばすことを、更に保証することができる。
保護装置200aの製造方法を以下に詳述する。図3A〜図3Dは、本発明の実施例による保護装置の製造工程を例示する上面図である。図1A〜図1Dにおける各要素は、図3A〜3Dにおけるものと同一の名称、同一の符号により表されるが、類似した素材も表す点に留意されたい。従って、本願明細書においては詳細な説明は繰り返さない。簡単のために、基板210の第2表面S2上の製造工程は省略し、基板210の第1表面S1上の製造工程のみを図3A〜図3Dに例示する。
最初に、図3Aを参照して、基板210を準備し、第1電極220、第2電極230、第3電極240、および第4の電極250を基板210上に形成する。基板210は、第1表面S1およびその反対側の第2表面S2を有し、第1電極220、第2電極230、第3電極240、および第4電極250は、第1表面S1から第2表面S2まで延在させる。本実施形態において、中間支持部242および第3電極240の第2延在部244を、それぞれ第1表面S1および第2表面S2に配置し、第3電極240の本体部246を中間支持部242に接続する。第4電極250の第3延在部252は、第2表面S2上に配置する。中間支持部242、第2延在部244、および第3延在部252を、それぞれ第1電極220と第2電極230との間に配置される。
そして、再び図3Aを参照して、中間層320を、例えば、第1電極220、第2電極230、および中間支持部242を被覆することより形成する。その後、第1補助媒体270を、例えば、第1電極220、第2電極230、および中間支持部242に囲まれた基板210上を被覆することにより形成する。他の実施形態においては、中間層320の材料が、例えば、はんだ合金および10〜15%の補助媒体材料を含むとき、補助媒体材料が軟化されて、第1電極220、第2電極230、および中間支持部242の間を基板210へ向かって流れることができるように、第1補助媒体270の形成方法は中間層320を(例えば120°C以上で)加熱する工程を含む。補助媒体材料の量が不十分な場合には、第2補助媒体(図示せず)を選択的に加えることができる。
続いて、図3Bを参照して、金属素子280は、第1電極220、第2電極230、および中間支持部242の間に配置し、第1補助媒体270が金属素子280と基板210に挟まれるように、金属素子280および中間層320を共にはんだ付けする。ここで、基板210下方の発熱素子260が熱を発生させるときに、基板210上方の第1補助媒体270は、第1補助媒体上方に配置される金属素子280の融解を促進する。
そして、図3Cを参照して、橋絡素子290の第1端部292aおよび第2端部292bを、それぞれ第3電極240の本体部246および中間支持部242上に固定できるように、橋絡素子290に、点溶接(図示せず)を用いて溶接工程を施す。ここで、用いられる溶接方法は、アーク溶接、超音波溶接、レーザー溶接、熱溶接、または溶融溶接、とすることができる。確かに、例示されない他の実施形態において、第3電極240の本体部246の上にバンプを形成するため(すなわち、橋絡素子290の第1端部292aを形成するため)に、スタッドバンプ装置を用いることができ、ボンディングワイヤは所定の長さに渡って上方に引き延ばし、その後、ボンディングワイヤが第3電極240の中間支持部242に下に引き延ばされた後(すなわち、橋絡素子290の第2端部292bを形成する)、スティッチを、橋絡素子290を形成するために引き延ばす。
最後に、図3Dを参照して、第2補助媒体275を、金属素子280および橋絡素子290の間に、橋絡素子290の第1端部292aおよび第3電極240の本体部246の間に、そして橋絡素子290の第2端部292bおよび第3電極240の中間支持部242の間に充填し、約30分間加熱(140℃よりも高温で)した後、約5分間冷却して、基板210の第1表面S1上の保護装置200aの製造工程を完了させる。
図4Aは、本発明の他の実施形態による保護装置の概略上面図である。図4Bは、図4Aの保護装置の概略底面図である。図4Cは、断面III〜IIIに沿った図4Aの保護装置の概略横断面図である。図4A〜図4Cを参照して、本実施形態の保護装置200cは、図1A〜図1Dの保護装置200aと類似しているが、図4A〜図4Cにおける保護装置200cの、発熱素子260、第2延在部244、および第3延在部252が全て基板210の第1表面S1上に配置される点が、主な相違点である。
詳細には、第3電極240は更に接着部248を有し、この接着部248は中間支持部242に接続され、橋絡素子290の第2端部292bは接着部248に固定される。第2延在部244および第3延在部252を、第1表面S1上に、第1電極220および第2電極230の間に配置する。発熱素子260は、第2延在部244および第3延在部252の間に配置する。断熱層310は、発熱素子260、第2延在部244、および第3延在部252を覆う。第3電極240の中間支持部242は、断熱層310上にまで延ばす。第1補助媒体270は、断熱層310上に配置し、中間支持部242周辺に位置付ける、すなわち第1補助媒体270を中間支持部242と第1電極220との間、および中間支持部242と第2電極230との間に配置する。第1補助媒体270が金属素子280と断熱層310との間に配置されるように、金属素子280は、第1電極220、第1補助媒体270、中間支持部242、および第2電極230を覆う。このように、発熱素子260が熱を発生させるときに、断熱層310を通して第1補助媒体270および金属素子280へ熱を導通させ、金属素子280を融解させる。更に、第1補助媒体270を用いることによって、通常の稼動電流において金属素子280に発生する表面酸化層を減少させる、または除去することができ、金属素子280の迅速な融解の信頼性を高めることができる。本実施形態において、中間支持部242および第2延在部244は、ほぼ平行であるが互いに重ならない2つの平面上に、それぞれ配置されている。
図5は、本発明の他の実施形態による保護装置の概略横断面図である。図5を参照して、本実施形態の保護装置200dは、図1A〜図1Dにおける保護装置200aと類似しているが、図5における保護装置200dはハウジング330を含むという点が、主な相違点である。詳細には、ハウジング330は、基板210の第1表面S1上に配置して、金属素子280を保護するために金属素子280を覆い、融解した金属素子280、第1補助媒体270、および中間層320が溢れ出すことによって生じる回路干渉といった問題を防止する。また、ハウジング330の材料は、アルミニウム酸化物、PEEK、ナイロン、熱可塑性樹脂、紫外線硬化性樹脂またはフェノールホルムアルデヒド樹脂、等を含む。
図6Aは、本発明の一実施形態による保護装置の概略横断面図である。図6Bは、破断後の図6Aの保護装置の概略横断面図である。本実施形態において、図6Aの保護装置400aは図1A〜図1Dの保護装置200aと類似しているが、図6Aの400aは、発熱素子460、第1電極420、および第2電極430の間に配置する、例えば第1断熱層540といった、断熱部を更に含むという点が、主な相違点である。ここで、中間支持部442への熱伝達速度は、第1電極420および第2電極430への熱伝達速度よりも高くする。
詳細には、保護装置400aの第1断熱層540は、基板410の第1表面S1上に配置され、第1低熱伝導部542および、第3電極440の中間支持部442によって第1低熱伝導部542から分離された第2低熱伝導部544を有する。特に、第1低熱伝導部542は発熱素子460と第1電極420との間に位置付け、第2低熱伝導部544は発熱素子460と第2電極430との間に位置付ける。具体的には、第1低熱伝導部542を基板410と第1電極420との間に位置付け、第2低熱伝導部544を基板410と第2電極430との間に位置付ける。第1スペースD1を、第1低熱伝導部542および第2低熱伝導部544の間に存在させ、第3電極440の中間支持部442を基板410上の第1スペースD1に配置させる。加えて、第1断熱層540の材料は、例えば、ガラス材料または高分子材料とし、第1断熱層540の熱伝導係数を基板410の熱伝導係数よりも小さくし、第1断熱層540の熱伝導係数を2W/(m・K)未満とし、かつ、基板410の熱伝導係数を8W/(m・K)〜80W/(m・K)とすることが好ましい。例えば、1W/(m・K)〜1.5W/(m・K)の熱伝導係数を有するガラス材料を、SiO、Na、B、MgO、またはCaO等とすることができる。高分子材料、例えば、ポリウレタン(PU)、ポリイミド、エポキシ樹脂または紫外線硬化性樹脂は、比較的低い熱伝導係数を有し、エポキシ樹脂の熱伝導係数は0.19W/(m・K)〜0.6W/(m・K)である。
特に、基板410の熱伝導係数は、第1断熱層540の熱伝導係数よりも大きい。すなわち、第1断熱層540と比較して基板410を高い熱伝導層とみなし、発熱素子460によって発生された熱を基板410の中心部を直接通過させることができ、中間支持部442へ迅速に伝達することができる。確かに、基板410および第1断熱層540を同一材料で作り、すなわち、基板410を低熱伝導性層とみなすこともできる。しかしながら、基板410の厚さおよび第1断熱層540の厚みの合計を、実質的に基板410の厚みよりも大きくする。従って、発熱素子460によって発生された熱を、直接基板410の中心部を通過することができ、中間支持部442へ迅速に伝達することができる。言い換えれば、基板410の材料を、本実施形態の効果に影響させることなく、実施要件に従って選択することができる。更に、第1補助媒体470は、少なくとも第1断熱層540の一部を覆う。
本実施形態の保護装置400aは、第1断熱層540を有する。従って、発熱素子460が熱を発生させ、熱を、基板410を通じて電極へ伝えるときに、発熱素子460によって発生された熱の一部は、基板410上の第1断熱層540によって阻まれ、第1電極420および第2電極430に与えられる熱が低減され、発熱素子460によって発生された熱の残りは、第3電極440を通じて金属素子480に直接伝達され、第3電極440の上方に位置する金属素子480を飛ばす。すなわち、第1電極420および第2電極430は、低熱伝導性の断熱層によって阻まれるため、第1電極420および第2電極430の上方に位置する金属素子480は、第3電極440の上方に位置する金属素子480と比較して飛ばされにくい、すなわち、金属素子480の融解量を低減させることができる。従って、発熱素子460によって発生された熱を、第3電極440へ集中的に伝達することができる。言い換えれば、図6Bに示すように、第1電極420および第2電極430上に位置する金属元素480が溶融する前に、第3電極440の中間支持部442上に位置する金属素子480が、橋絡素子490および中間支持部442の間に溶融し、固化する。融解した金属素子480が、融解した中間層520、融解した第2補助媒体475、および材料としての融解した第1補助媒体470の一部と混合され、表面張力および(毛細管現象を含むか否かはわからない)ウィッキング現象により、融解した材料が橋絡素子490に向かって流れることができ、回路を遮断して過電圧保護および過電流保護を得る。このように、融解した金属素子480の付着領域を、効果的に制御して安定した融解時間と融解条件をつくり、製作工程の間に発生する発熱素子460と第3電極440との間の調整誤差を低減することができ、すなわち第3電極の上方に位置する金属素子480を最初に飛ばすことを保証し、回路を遮断して過電圧保護および過電流保護を得る。
他の実施形態において、金属素子480の融解量が低減するため、過電圧保護時における保護装置400aの作動時間が低減し、また、中間支持部442と第1電極420を、または、中間支持部442と第2電極430を電気的に接続する融解した金属素子480によって生じる短絡現象を軽減する。このことにより、保護装置400aの信頼性も向上する。
更に、中間支持部442を、第1低熱伝導部542と第2低熱伝導部544との間に存在する第1スペースD1に配置するため、第1補助媒体470を中間支持部442の周辺部へ効率的に充填することができる。ゆえに、中間支持部442は、金属素子480を融解させるための融解時間の安定性を確保するために、より良好なぬれ効果を有することができる。更に、保護装置400aが第1断熱層540を有するため、小型の電子製品に合わせるために保護装置400aのサイズを小さくするときに、第3電極440の中間支持部442は相応の電極領域を提供することもでき、金属素子480の迅速な飛ばしを確保することができる。このように、保護装置400aの応用範囲は拡大される上に、保護装置400aの信頼性も向上する。
図7は、本発明の他の実施形態による保護装置の概略横断面図である。図7の保護装置400bは、図6Aの保護装置400aに類似しているが、図7の保護装置400bの電極設計が保護装置400aの電極設計と異なっているという点が、主な相違点である。
詳細には、第3電極440の中間支持部442’の一部は、第1スペースD1’に位置し、中間支持部442’の残りの部分は、第1断熱層540の、第1低熱伝導部542と第2低熱伝導部544の上に位置付ける。具体的には、本実施形態では、第1スペースD1’の幅は第1スペースD1よりも大きく、電極を製作する間に重力によって中間支持部442’中にノッチ構造Cが製造される。すなわち、中間支持部442’は、第1スペースD1’に位置するノッチ構造Cを有し、第3電極440’が同じスペースに三次元構造を形成することができる。このように、融解した金属素子480の付着領域を増大させることができる。更に、ノッチ構造Cを第1補助媒体470によって充填し、中間支持部442’が融解した金属素子480を吸着するためのより良好な吸着性を有するようにすることもできる。
図8は、本発明の他の実施形態による保護装置の概略横断面図である。図8の保護装置400cは図6の保護装置400aと類似しているが、図8の保護装置400cにおいては、発熱素子460、第2延在部444および第3延在部452の全てが基板410の第1表面S1上に配置され、また保護装置400cが第2断熱層550aを更に含むという点が、主な相違点である。ここで、第2断熱層550aの熱伝導係数は、第1断熱層540aの熱伝導係数よりも大きい。
詳細には、本実施形態の保護装置400cの第2断熱部550aは、発熱素子460と第3電極440の中間支持部442との間に配置される。ここで、第1低熱伝導部542aは第2低熱伝導部544aに接続し、発熱素子460は第2断熱層550aと第1断熱層540aの間に位置付ける。具体的には、本実施形態における第1断熱層540aは、第3低熱伝導部546aと第4低熱伝導部548aを更に含み、第3低熱伝導部546aは第1低熱伝導部542aを接続すると共に第3延在部452に及び、第4低熱伝導部548aは第2低熱伝導部544aを接続すると共に第2延在部444に及ぶ。本実施形態において、第2スペースD2は、第3低熱伝導部546aと第4低熱伝導部548aとの間に存在し、第2断熱層550aの一部は第2スペースD2に配置され、第2断熱層550aの残りの部分は第3低熱伝導部546a上および第4低熱伝導部548a上に位置付ける。加えて、発熱素子460によって発生された熱の大部分を、中間支持部442に伝達するために、第2断熱層550aの熱伝導係数を、第1断熱層540aの熱伝導係数の8倍よりも大きくすることが好ましい。例えば、第2断熱層550aの材料をセラミック材料、例えば、Al、BN、AlNとすることができ、ここでAlの熱伝導係数は28W/(m・K)〜40W/(m・K)であり、BNの熱伝導係数は50W/(m・K)〜60W/(m・K)であり、そして、AlNの熱伝導係数は160W/(m・K)〜230W/(m・K)である。第2断熱層550aの熱伝導係数は、8W/(m・K)〜80W/(m・K)であることが好ましい。
保護装置400cの第2断熱層550aは中間支持部442と発熱素子460との間に位置するため、発熱素子460が熱を発生させたとき、発熱素子460によって発生された熱の大部分が中間支持部442へ直接伝達され、中間支持部442上に位置する金属素子480が迅速に飛ばされ、金属素子480の融解量を低減し、回路を遮断して効果的な過電圧保護または過電流保護がなされる。一方で、金属素子480の融解量が減少するため、過電圧保護時の保護装置400aの作動時間が短縮され、また、中間支持部442と第1電極420とを、または、中間支持部442と第2電極430とを電気的に接続する、金属素子480が融解することによって引き起こされる短絡現象も軽減される。従って、保護装置400cの信頼性は向上する。
更に、保護装置400cが同時に第1断熱層540aと第2断熱層550aを有するため、小型の電子製品に合わせるために保護装置400cのサイズを小さくするときに、第3電極440の中間支持部442は相応の電極領域を提供することもでき、金属素子480の迅速な飛ばしを確保することができる。保護装置400aの応用範囲は拡大される上に、保護装置400cの信頼性も向上する。
図9は、本発明の他の実施形態による保護装置の横断面図である。図9の保護装置400dは、図8の保護装置400cと類似しているが、図9の保護装置400dの第1断熱層540bと第2断熱層550bとの位置が、図8の保護装置400cにおける第1断熱層540aと第2断熱層550aとの位置と異なっているという点が、主な相違点である。
詳細には、第3低熱伝導部546bおよび第4低熱伝導部548bは、第2断熱層550bに配置され、第2スペースD2’は第3低熱伝導部546bと第4低熱伝導部548bとの間に存在し、第3電極440の中間支持部442は第2スペースD2’に配置される。本実施形態における保護装置400dは、第1断熱層540bと第2断熱層550bを同時に有するため、発熱素子460が熱を発生させたとき、発熱素子460によって発生された熱の一部は第3低熱伝導部546bおよび第4低熱伝導部548bによって阻まれ、これにより第3低熱伝導部546bおよび第4低熱伝導部548bの上方に位置する金属素子480へ伝達される熱量を減少させることができる。他の実施形態において、発熱素子460によって発生された熱の残りの部分は、第2断熱層550bおよび中間支持部442を介して金属素子480へ直接伝達され、中間支持部442の上方に位置する金属素子480を飛ばすことができる。結果的に、金属素子480の融解量を低減し、過電圧保護時の保護装置400dの作動時間を低減し、過電圧保護または過電流保護を同時に達成することができる。
図10は、本発明の他の実施形態による保護装置の概略横断面図である。図10の保護装置400eは図6の保護装置400aと類似しているが、図10の保護装置400eの基板410aの設計を、図6の第1断熱層540の性能を得るために変えた点が、相違点である。
詳細には、本実施形態の基板410aは、第1断熱ブロック412aおよび第1断熱ブロック412aに接続された第2断熱ブロック414aを有する。ここで、第2断熱ブロック414aは第1断熱ブロック412aを囲み、第1断熱ブロック412aおよび第2断熱ブロック414aはほぼ同一平面上にある。第3電極440の中間支持部442は第1断熱ブロック412a上に位置付けられ、第1電極420および第2電極430は第2断熱ブロック414a上に位置付ける。第1補助媒体470は、基板410aの第1表面S1上に配置し、第3電極440の中間支持部442と第1電極420との間、および第3電極440の中間支持部442と第2電極430との間に位置付ける。ここで、第1補助媒体470は、第2断熱ブロック414aの一部を覆う。特に、第1断熱ブロック412aの熱伝導係数は、第2断熱ブロック414aの熱伝導係数よりも大きくする。
具体的には、本実施形態において、第1断熱ブロック412aの材料は、例えば、セラミック材料である。セラミック材料は、例えば、A1、BNまたはAlNである。第1断熱ブロック412aの熱伝導係数は、8W/(m・K)〜40W/(m・K)であることが好ましい。他の実施形態において、第2断熱ブロック414aの材料は、例えば、ガラス材料または高分子材料である。例えば、ガラス材料はSiO、Na、B、MgO、CaO等とすることができ、高分子材料はポリウレタン(PU)、ポリイミド、エポキシ樹脂または紫外線硬化性樹脂とすることができる。第2断熱ブロック414aの熱伝導係数は、2W/(m・K)未満とすることが好ましい。
発熱素子460が第1断熱ブロック412a上に位置するため、発熱素子460が熱を発生させたときに、発熱素子460によって発生された熱の大部分は中間支持部442に直接伝達され、中間支持部442上に位置する金属素子480は迅速に飛ばされ、橋絡素子490に接着され、金属素子480の融解量を低減し、回路を遮断して過電圧保護および過電流保護を得る。一方で、金属素子480の融解量が減少するため、過電圧保護時の保護装置400aの作動時間が短縮され、また、中間支持部442と第1電極420とを、または、中間支持部442と第2電極430とを電気的に接続する、金属素子480が融解することによって引き起こされる短絡現象も軽減される。従って、保護装置400eの信頼性は向上する。
図11は、本発明の更に別の実施形態による保護装置の概略横断面図である。図11の保護装置400fは、基板410bの第1断熱ブロック412bおよび第2断熱ブロック414bがほぼ同一平面上にない点を除いて、図10の保護装置400eと類似している。
詳細には、第1断熱ブロック412bの厚さを第2断熱ブロック414bの厚さよりも小さくし、ノッチVを第1断熱ブロック412bと第2断熱ブロック414bの間に存在させる。本実施形態において、中間支持部442の一部をノッチVに位置づけると共に、第1断熱ブロック412b上に位置付け、中間支持部442の残りの部分を第2断熱ブロック414bに位置付ける。具体的には、本実施形態において、ノッチVは第1断熱ブロック412bと第2断熱ブロック414bとの間に存在するため、電極の製作工程の間、ノッチ構造C’が重力により中間支持部442において形成される。ゆえに、第3電極440は同じスペースに三次元構造を形成し、融解した金属素子480の付着領域を増大させることができる。更に、ノッチ構造C’を第1補助媒体470で充填し、中間支持部442が融解した金属素子480を吸着するためのより良好な吸着性を有するようにすることができる。更に、融解した金属素子480は、ノッチ構造C’による(毛細管現象を含むか否かはわからない)ウィッキング現象を有することができ、それにより金属素子480を飛ばすことができ、回路を遮断して過電圧保護および過電流保護を達成することができる。
図12は、本発明の更に他の実施形態による保護装置の概略横断面図である。図12を参照して、保護装置400gは図6の保護装置400aと類似しているが、保護装置400gがハウジング装置530を含むという点が、相違点である。詳細には、ハウジング装置530を、基板410の第1表面S1上に配置し、金属素子480を保護するために金属素子480を覆い、融解した金属素子480、第1補助媒体470、および中間層520が溢れ出すことによって生じる回路干渉といった問題を防止する。ここで、ハウジング装置530の材料は、例えば、アルミナ、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、ナイロン、熱硬化性樹脂、紫外線硬化性樹脂またはフェノールホルムアルデヒド樹脂を含む。
本発明の範囲または精神から逸脱することなく、さまざまな修正や変更を本発明の構造にできることは、当業者にとって明らかである。上述からみて、以下の請求項およびそれらに相当するものの範囲内にあるならば、本発明の修正変更を、本発明に包含させることを目的とする。

Claims (18)

  1. 基板と、
    該基板によって支持された導電部分であって、第1電極と第2電極との間に電気的に接続された金属素子を備え、該金属素子は前記第1および前記第2電極の融点よりも低い融点を有する犠牲構造として機能する、導電部分と、
    前記金属素子中の電流フローの方向と交差する方向に該金属素子を横切って跨る橋絡素子であって、前記金属素子の融解時の破断を促進する、橋絡素子、と
    前記金属素子と前記基板との間に配置された中間支持部と
    を備えている保護装置。
  2. 前記橋絡素子の少なくとも一端部は前記基板上に固定的に支持される、請求項1に記載の保護装置。
  3. 前記橋絡素子の両端部は前記基板上に固定的に支持される、請求項2に記載の保護装置。
  4. 前記橋絡素子の少なくとも一端部は前記中間支持部上に固定的に支持される、請求項に記載の保護装置。
  5. 前記橋絡素子の両端部は前記中間支持部上に固定的に支持される、請求項に記載の保護装置。
  6. 前記橋絡素子は細長構造を備えている、請求項1に記載の保護装置。
  7. 前記細長構造はアーク形状または曲げ形状を備えている、請求項に記載の保護装置。
  8. 前記橋絡素子と前記金属素子との間に配置される部分を有する補助媒体を更に備えている、請求項1に記載の保護装置。
  9. 前記金属素子と前記基板との間に配置される他の補助媒体を更に備え、前記他の補助媒体は前記金属素子の融点よりも低い融点を有する、請求項に記載の保護装置。
  10. 前記基板によって支持され、少なくとも前記金属素子および前記補助媒体に熱を与える発熱素子を更に備えている、請求項に記載の保護装置。
  11. 前記橋絡素子および前記補助媒体は前記発熱素子に沿って位置付けられる、請求項10に記載の保護装置。
  12. 前記発熱素子は前記金属素子と基板との間に支持される、請求項10に記載の保護装置。
  13. 前記発熱素子は前記基板の前記金属素子側とは反対側に支持される、請求項11に記載の保護装置。
  14. 前記金属素子と前記中間支持部との間に中間層を更に備え、該中間層は金属素子の融点よりも低い融点を有する、請求項に記載の保護装置。
  15. 前記補助媒体をフラックスまたははんだ層とする、請求項に記載の保護装置。
  16. 発熱素子と前記第1電極と前記第2電極との間に断熱部を更に備え、前記中間支持部への熱伝達速度を第1および第2電極への熱伝達速度よりも高くする、請求項に記載の保護装置。
  17. 前記中間支持部は発熱素子に結合された電極の延長部分を備えている、請求項に記載の保護装置。
  18. 前記基板は前記第1電極および前記第2電極の下方に第1断熱ブロックおよび第2断熱ブロックを備え、前記第1断熱ブロックの熱伝導係数は前記第2断熱ブロックの熱伝導係数よりも大きい、請求項1に記載の保護装置。
JP2010198242A 2009-09-04 2010-09-03 保護装置 Expired - Fee Related JP5192524B2 (ja)

Applications Claiming Priority (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW98129874A TWI385695B (zh) 2009-09-04 2009-09-04 保護元件及其製作方法
TW098129874 2009-09-04
TW099111958 2010-04-16
TW099111958A TWI452592B (zh) 2010-04-16 2010-04-16 保護元件及電子裝置
TW099115506 2010-05-14
TW099115506A TWI456617B (zh) 2010-05-14 2010-05-14 保護元件及電子裝置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011060761A JP2011060761A (ja) 2011-03-24
JP5192524B2 true JP5192524B2 (ja) 2013-05-08

Family

ID=43647283

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010198242A Expired - Fee Related JP5192524B2 (ja) 2009-09-04 2010-09-03 保護装置

Country Status (2)

Country Link
US (2) US9129769B2 (ja)
JP (1) JP5192524B2 (ja)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5260592B2 (ja) * 2010-04-08 2013-08-14 デクセリアルズ株式会社 保護素子、バッテリ制御装置、及びバッテリパック
KR101463196B1 (ko) * 2012-01-03 2014-11-21 주식회사 엘지화학 배터리 팩 및 이에 적용되는 커넥팅 바
JP5844669B2 (ja) * 2012-03-26 2016-01-20 デクセリアルズ株式会社 保護素子
DE102012211861A1 (de) 2012-07-06 2014-01-09 Brose Fahrzeugteile Gmbh & Co. Kg, Würzburg Schutzvorrichtung und elektrische Antriebsanordnung
JP2014022050A (ja) * 2012-07-12 2014-02-03 Dexerials Corp 保護素子
JP2016143646A (ja) * 2015-02-05 2016-08-08 内橋エステック株式会社 保護素子
JP6480742B2 (ja) * 2015-02-05 2019-03-13 内橋エステック株式会社 保護素子
DE102016220058A1 (de) * 2016-10-14 2018-04-19 Continental Automotive Gmbh Schaltungsanordnung mit einer Schmelzsicherung, Kraftfahrzeug und Verfahren zum Herstellen der Schaltungsanordnung
CN107370139B (zh) * 2017-08-14 2020-04-07 四川中光防雷科技股份有限公司 一种电涌保护器
US11265022B2 (en) * 2018-05-18 2022-03-01 SK Hynix Inc. Memory system and operating method thereof
JP2019021650A (ja) * 2018-11-13 2019-02-07 内橋エステック株式会社 保護素子
JP7433783B2 (ja) * 2019-06-19 2024-02-20 デクセリアルズ株式会社 ヒューズエレメント、ヒューズ素子及び保護素子
CN110491609A (zh) * 2019-09-09 2019-11-22 东莞令特电子有限公司 过热保护装置、压敏电阻
WO2021050458A1 (en) * 2019-09-09 2021-03-18 Dongguan Littelfuse Electronics, Co., Ltd Overheat protection device and varistor
JP2022034733A (ja) * 2020-08-19 2022-03-04 デクセリアルズ株式会社 ヒューズエレメント、ヒューズ素子及び保護素子

Family Cites Families (74)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3377448A (en) * 1966-08-22 1968-04-09 Littelfuse Inc Thermal responsive miniature fuse
JPS5443554A (en) * 1977-09-12 1979-04-06 Nifco Inc Temperature fuse
US4349805A (en) * 1979-11-13 1982-09-14 San-O Industrial Co., Ltd. Quick-acting micro-fuse
US4626818A (en) * 1983-11-28 1986-12-02 Centralab, Inc. Device for programmable thick film networks
US4608548A (en) * 1985-01-04 1986-08-26 Littelfuse, Inc. Miniature fuse
JPH0215239Y2 (ja) 1985-09-04 1990-04-24
JPS62107341U (ja) 1985-12-25 1987-07-09
EP0232868B1 (en) * 1986-02-07 1991-09-25 Nec Corporation Fused solid electrolytic capacitor
US5084691A (en) * 1990-10-01 1992-01-28 Motorola, Inc. Controllable fuse
US5097247A (en) * 1991-06-03 1992-03-17 North American Philips Corporation Heat actuated fuse apparatus with solder link
JP3209354B2 (ja) 1991-12-17 2001-09-17 コーア株式会社 熱溶断ヒユーズ及びその製造方法
JP2790433B2 (ja) 1993-08-31 1998-08-27 ソニー株式会社 保護素子及び回路基板
SE514819C2 (sv) * 1994-02-24 2001-04-30 Ericsson Telefon Ab L M Elektrisk skyddskrets
US5790008A (en) * 1994-05-27 1998-08-04 Littlefuse, Inc. Surface-mounted fuse device with conductive terminal pad layers and groove on side surfaces
US5712610C1 (en) 1994-08-19 2002-06-25 Sony Chemicals Corp Protective device
CN1131334A (zh) * 1994-12-22 1996-09-18 中岛卓夫 温度保险丝
US5777540A (en) * 1996-01-29 1998-07-07 Cts Corporation Encapsulated fuse having a conductive polymer and non-cured deoxidant
JPH09213184A (ja) * 1996-02-01 1997-08-15 Takuo Nakajima 温度ヒューズ
DE19704097A1 (de) * 1997-02-04 1998-08-06 Wickmann Werke Gmbh Elektrisches Sicherungselement
JPH1125829A (ja) * 1997-07-04 1999-01-29 Yazaki Corp 温度ヒューズ及び車両用ワイヤハーネスの異常検出装置
US6373371B1 (en) * 1997-08-29 2002-04-16 Microelectronic Modules Corp. Preformed thermal fuse
US5939969A (en) 1997-08-29 1999-08-17 Microelectronic Modules Corporation Preformed thermal fuse
JP4036933B2 (ja) 1997-09-22 2008-01-23 内橋エステック株式会社 抵抗・温度ヒュ−ズ及びその製作方法
JP4015244B2 (ja) * 1997-10-23 2007-11-28 内橋エステック株式会社 合金型温度ヒュ−ズの製造方法
JP3552539B2 (ja) * 1998-06-19 2004-08-11 エヌイーシー ショット コンポーネンツ株式会社 抵抗付温度ヒューズ
US6078245A (en) * 1998-12-17 2000-06-20 Littelfuse, Inc. Containment of tin diffusion bar
JP3640146B2 (ja) 1999-03-31 2005-04-20 ソニーケミカル株式会社 保護素子
JP2000306477A (ja) 1999-04-16 2000-11-02 Sony Chem Corp 保護素子
US6201679B1 (en) * 1999-06-04 2001-03-13 California Micro Devices Corporation Integrated electrical overload protection device and method of formation
JP2001057139A (ja) 1999-08-18 2001-02-27 Uchihashi Estec Co Ltd 電子・電気機器用プロテクタ−及びその製造方法
US6300859B1 (en) * 1999-08-24 2001-10-09 Tyco Electronics Corporation Circuit protection devices
JP4301474B2 (ja) 1999-10-18 2009-07-22 エヌイーシー ショット コンポーネンツ株式会社 保護素子
JP2001222938A (ja) 2000-02-09 2001-08-17 Nec Schott Components Corp 保護素子
JP2001325868A (ja) 2000-05-17 2001-11-22 Sony Chem Corp 保護素子
JP2001325869A (ja) 2000-05-17 2001-11-22 Sony Chem Corp 保護素子
WO2002067282A1 (fr) * 2001-02-20 2002-08-29 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Fusible thermique
EP1389791A4 (en) * 2001-05-21 2006-08-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd THERMAL FUSE
WO2002099827A1 (en) * 2001-06-05 2002-12-12 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Temperature fuse, and battery using the same
DE10142091A1 (de) * 2001-08-30 2003-03-20 Wickmann Werke Gmbh Verfahren zum Herstellen eines Schutzbauelements mit einem eingestellten Zeitverhalten des Wärmeübergangs von einem Heizelement zu einem Schmelzelement
US7385475B2 (en) 2002-01-10 2008-06-10 Cooper Technologies Company Low resistance polymer matrix fuse apparatus and method
JP4162917B2 (ja) * 2002-05-02 2008-10-08 内橋エステック株式会社 合金型温度ヒュ−ズ
JP4230194B2 (ja) * 2002-10-30 2009-02-25 内橋エステック株式会社 合金型温度ヒューズ及び温度ヒューズエレメント用線材
JP4159861B2 (ja) 2002-11-26 2008-10-01 新日本無線株式会社 プリント回路基板の放熱構造の製造方法
JP2004185960A (ja) 2002-12-03 2004-07-02 Kamaya Denki Kk 回路保護素子とその製造方法
JP4110967B2 (ja) * 2002-12-27 2008-07-02 ソニーケミカル&インフォメーションデバイス株式会社 保護素子
JP2004214033A (ja) * 2002-12-27 2004-07-29 Sony Chem Corp 保護素子
JP2004265618A (ja) * 2003-02-05 2004-09-24 Sony Chem Corp 保護素子
JP2004265617A (ja) 2003-02-05 2004-09-24 Sony Chem Corp 保護素子
JP4223316B2 (ja) * 2003-04-03 2009-02-12 内橋エステック株式会社 二次電池用ヒューズ
JP4746985B2 (ja) 2003-05-29 2011-08-10 パナソニック株式会社 温度ヒューズ用素子、温度ヒューズ及びそれを用いた電池
JP4207686B2 (ja) * 2003-07-01 2009-01-14 パナソニック株式会社 ヒューズ、それを用いたパック電池およびヒューズ製造方法
JP2005129352A (ja) 2003-10-23 2005-05-19 Nec Schott Components Corp 抵抗付き温度ヒュ−ズ
JP4297431B2 (ja) 2003-10-23 2009-07-15 エヌイーシー ショット コンポーネンツ株式会社 合金型温度ヒューズおよびそれを用いた保護装置
JP2005197005A (ja) * 2003-12-26 2005-07-21 Fuji Xerox Co Ltd 可動体表面の温度過昇防止素子、並びに、これを用いた温度過昇防止装置および温度制御素子
JP4207877B2 (ja) 2004-10-04 2009-01-14 ソニーケミカル&インフォメーションデバイス株式会社 保護回路
US7569907B2 (en) * 2005-03-28 2009-08-04 Cooper Technologies Company Hybrid chip fuse assembly having wire leads and fabrication method therefor
CN100517546C (zh) 2005-07-14 2009-07-22 科伦电器股份有限公司 具有双电路架构的表面黏着型保险丝及其制法
CN101253662B (zh) * 2005-07-22 2013-03-27 力特保险丝有限公司 整体熔融组件和形成熔融电部件的方法
JP5113064B2 (ja) * 2005-10-03 2013-01-09 リッテルフューズ,インコーポレイティド 筐体を形成するキャビティをもったヒューズ
TWI323906B (en) * 2007-02-14 2010-04-21 Besdon Technology Corp Chip-type fuse and method of manufacturing the same
DE102008003659A1 (de) * 2007-03-26 2008-10-02 Robert Bosch Gmbh Schmelzsicherung zur Unterbrechung eines spannungs- und/oder stromführenden Leiters im thermischen Fehlerfall und Verfahren zur Herstellung der Schmelzsicherung
DE102007014338A1 (de) * 2007-03-26 2008-10-02 Robert Bosch Gmbh Thermosicherung
US20090009281A1 (en) * 2007-07-06 2009-01-08 Cyntec Company Fuse element and manufacturing method thereof
JP4663760B2 (ja) 2007-08-20 2011-04-06 内橋エステック株式会社 二次電池用保護回路
CN101399100A (zh) 2007-09-25 2009-04-01 乾坤科技股份有限公司 热敏电阻芯片及其制造方法
JP5287154B2 (ja) * 2007-11-08 2013-09-11 パナソニック株式会社 回路保護素子およびその製造方法
TW200926239A (en) 2007-12-12 2009-06-16 hong-zhi Qiu Microchip fuse structure and its manufacturing method
JP5117917B2 (ja) 2008-04-21 2013-01-16 デクセリアルズ株式会社 保護素子及びその製造方法
JP5072796B2 (ja) 2008-05-23 2012-11-14 ソニーケミカル&インフォメーションデバイス株式会社 保護素子及び二次電池装置
DE102008040345A1 (de) * 2008-07-11 2010-01-14 Robert Bosch Gmbh Thermosicherung
US8289122B2 (en) * 2009-03-24 2012-10-16 Tyco Electronics Corporation Reflowable thermal fuse
TWM363674U (en) 2009-04-24 2009-08-21 Chun-Chang Yen Structure of lead type resistor fuse
TWM363673U (en) 2009-04-24 2009-08-21 Chun-Chang Yen Structure of surface mount resistor fuse
JP5260592B2 (ja) 2010-04-08 2013-08-14 デクセリアルズ株式会社 保護素子、バッテリ制御装置、及びバッテリパック

Also Published As

Publication number Publication date
US20130321119A1 (en) 2013-12-05
US20110057761A1 (en) 2011-03-10
US9129769B2 (en) 2015-09-08
US9336978B2 (en) 2016-05-10
JP2011060761A (ja) 2011-03-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5192524B2 (ja) 保護装置
JP5923153B2 (ja) 保護装置
US8767368B2 (en) Protective element and method for producing the same
JP5844272B2 (ja) 回路保護装置
US20240029976A1 (en) Protective element
US9025295B2 (en) Protective device and protective module
KR100715410B1 (ko) 혼성 집적 회로
JP4037248B2 (ja) 回路保護素子とその製造方法
KR101354096B1 (ko) 보호 장치
TWI452592B (zh) 保護元件及電子裝置
CN102237674A (zh) 保护元件及电子装置
JP2005235680A (ja) チップ型ヒューズおよびその製造方法
JP5433455B2 (ja) 抵抗付き温度ヒューズの製造方法
JP6257952B2 (ja) 保護素子
JP5396304B2 (ja) 抵抗付き温度ヒューズの製造方法
JP2023169447A (ja) スイッチ
JP2007073209A (ja) 感温スイッチ
JP2013258011A (ja) 保護素子
JP2006005201A (ja) 半導体パッケージおよび半導体パッケージの配線方法
JP2013258012A (ja) 保護素子
JP2006108409A (ja) 半導体装置及び半導体装置の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120726

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120828

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121127

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130108

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130131

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5192524

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160208

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees