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JP5154772B2 - Antireflection film - Google Patents

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JP5154772B2 JP2006197256A JP2006197256A JP5154772B2 JP 5154772 B2 JP5154772 B2 JP 5154772B2 JP 2006197256 A JP2006197256 A JP 2006197256A JP 2006197256 A JP2006197256 A JP 2006197256A JP 5154772 B2 JP5154772 B2 JP 5154772B2
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Description

本発明は反射防止フィルム、さらに詳しくは、近赤外線吸収性能と反射防止性能を有し、かつ耐擦傷性及び帯電防止性に優れる上、層構成が簡単でコストが低く、特にプラズマディスプレイ用として好適な反射防止フィルムに関するものである。   The present invention is an antireflection film. More specifically, it has near infrared absorption performance and antireflection performance, is excellent in scratch resistance and antistatic properties, has a simple layer structure and is low in cost, and is particularly suitable for a plasma display. The present invention relates to an antireflection film.

プラズマディスプレイ(PDP)、ブラウン管(CRT)、液晶ディスプレイ(LCD)などの画像表示装置においては、画面に外部から光が入射し、この光が反射して表示画像を見難くすることがあり、特に近年、ディスプレイの大型化に伴い、上記問題を解決することが、ますます重要な課題となってきている。
このような問題を解決するために、これまで種々のディスプレイに対して、様々な反射防止処置や防眩処置がとられている。その一つとして反射防止フィルムを各種のディスプレイに使用することが行われている。
この反射防止フィルムは、従来、蒸着やスパッタリングなどのドライプロセス法により、基材フィルム上に、低屈折率の物質(MgF2)を薄膜化する方法や、屈折率の高い物質[ITO(錫ドープ酸化インジウム)、TiO2など]と屈折率の低い物質(MgF2、SiO2など)を交互に積層する方法などで作製されている。しかしながら、このようなドライプロセス法で作製された反射防止フィルムは、製造コストが高くつくのを免れないという問題があった。
そこで、近年、ウエットプロセス法、すなわちコーティングにより反射防止フィルムを作製することが試みられている。しかしながら、このウエットプロセス法により作製された反射防止フィルムにおいては、前記のドライプロセス法による反射防止フィルムに比べて、表面の耐擦傷性に劣るという問題が生じる。
そこで、ウエットプロセス法における前記問題を解決するために、電離放射線硬化型樹脂組成物を用いて硬化層(ハードコート層)を形成することが行われている。例えば基材フィルム上に、(1)電離放射線による硬化樹脂を含む厚さ2〜20μmのハードコート層、電離放射線による硬化樹脂と、アンチモンドープ酸化錫を含む少なくとも2種の金属酸化物を含み、屈折率が1.65〜1.80の範囲にある厚さ60〜160nmの高屈折率層、及びシロキサン系ポリマーを含み、屈折率が1.37〜1.47の範囲にある厚さ80〜180nmの低屈折率層を順次積層してなる光学用フィルム(例えば、特許文献1参照)、(2)金属酸化物と、熱又は電離放射線による硬化物とを含む厚さ2〜20μmのハードコート層、及び多孔性シリカとポリシロキサン系ポリマーとを含み、屈折率が1.30〜1.45の範囲にある厚さ40〜200nmの低屈折率層を順次積層してなる光学用フィルム(例えば、特許文献2参照)などが開示されている。
これらの光学用フィルムは、画像表示素子の表面の光の反射を効果的に防止すると共に、耐擦傷性に優れる反射防止フィルムである。
ところで、PDPは、電極間のプラズマ放電により封入されているキセノンガスの分子を励起し、発生する紫外線で蛍光物質を励起し、可視光領域の光を発光させ映像を表示する装置である。このPDPにおいては、発光は、プラズマ放電を利用していることから、周波数帯域が30〜130MHz程度の不要な電磁波が外部に漏洩するため、他の機器(例えば情報処理装置など)へ悪影響を与えないように、電磁波を極力抑制することが要求される。
また、PDPにおいては、近赤外線を発することが知られている。この近赤外線は、コードレスホン、近赤外線リモートコントロール装置を使用するビデオデッキなど、周辺にある電子機器に作用し、正常な動作を阻害するおそれがあり、この近赤外線を極力遮断することが要求される。
さらに、PDPにおいては、表示面が平面であるため、外光が差し込んだ際に、広い範囲で反射した光が同時に目に入り、画面が見えにくくなる場合があり、外光の反射防止が必要である。また、PDPの発光を所定の分光透過率で透過させて、良好な画面表示をすることや、発光色の色調補正をすることも重要である。
PDPにおいては、これらの要求に対して、一般に表示画面に、(1)電磁波遮断フィルム、(2)近赤外線吸収フィルム及び(3)反射防止フィルムの少なくとも3枚の機能性フィルムを有する前面板を、該反射防止フィルムが、最表面(観察者側)になるように配置する処置が講ぜられている(例えば、特許文献3参照)。この場合、少なくとも3枚の機能性フィルムを別々に作製して、それらを貼合しなければならず、コストが高くつくのを免れない。
これに対し、近年、コストダウンの面から、最表面の反射防止フィルムにおいて、その基材の反射防止層とは反対側の面に近赤外線吸収層を設けることにより、1枚のフィルムで、反射防止性能と近赤外線吸収性能を兼ね備えた機能性フィルムが開発されている。このような機能性フィルムを製造する場合、(1)反射防止フィルムの裏面への近赤外線吸収層の形成、及び(2)近赤外線吸収フィルムの裏面への反射防止層の形成、の2つの方法があるが、いずれの場合も、フィルムのロスが発生するため、コストダウンの効果は小さい。
一方、反射防止フィルムにおいては、埃や塵などの付着を防止するために、持続性に優れる帯電防止性能が要求される。
特開2002−341103号公報 特開2003−139908号公報 特開平11−126024号公報
In an image display device such as a plasma display (PDP), a cathode ray tube (CRT), a liquid crystal display (LCD), etc., light is incident on the screen from the outside, and this light may be reflected to make it difficult to see the displayed image. In recent years, with the increase in the size of displays, it has become increasingly important to solve the above problems.
In order to solve such a problem, various antireflection treatments and antiglare treatments have been taken for various displays so far. As one of them, an antireflection film is used for various displays.
Conventionally, this antireflection film is formed by a method of thinning a low refractive index substance (MgF 2 ) on a base film by a dry process method such as vapor deposition or sputtering, or a high refractive index substance [ITO (tin-doped Indium oxide), TiO 2, etc.] and a material having a low refractive index (MgF 2 , SiO 2, etc.) are alternately stacked. However, the antireflection film produced by such a dry process method has a problem that the production cost is unavoidable.
Therefore, in recent years, an attempt has been made to produce an antireflection film by a wet process method, that is, coating. However, the antireflection film produced by the wet process method has a problem that the surface is inferior in scratch resistance as compared with the antireflection film by the dry process method.
Therefore, in order to solve the above problems in the wet process method, a cured layer (hard coat layer) is formed using an ionizing radiation curable resin composition. For example, on a base film, (1) a hard coat layer having a thickness of 2 to 20 μm containing a cured resin by ionizing radiation, a cured resin by ionizing radiation, and at least two kinds of metal oxides containing antimony-doped tin oxide, A high refractive index layer having a refractive index in the range of 1.65 to 1.80 and a thickness of 60 to 160 nm, and a siloxane-based polymer having a refractive index in the range of 1.37 to 1.47. Optical film formed by sequentially laminating low refractive index layers of 180 nm (see, for example, Patent Document 1), (2) hard coat having a thickness of 2 to 20 μm, including a metal oxide and a cured product by heat or ionizing radiation An optical film comprising a layer, and a low refractive index layer having a thickness of 40 to 200 nm and having a refractive index in the range of 1.30 to 1.45, including porous silica and a polysiloxane polymer (for example, , Patent Reference 2) is disclosed.
These optical films are antireflection films that effectively prevent reflection of light on the surface of the image display element and are excellent in scratch resistance.
By the way, the PDP is an apparatus that excites xenon gas molecules enclosed by plasma discharge between electrodes, excites a fluorescent substance with generated ultraviolet rays, emits light in the visible light region, and displays an image. In this PDP, since light emission uses plasma discharge, unnecessary electromagnetic waves having a frequency band of about 30 to 130 MHz leak to the outside, which adversely affects other devices (for example, information processing devices). It is required to suppress electromagnetic waves as much as possible.
Also, it is known that PDP emits near infrared rays. This near-infrared ray may affect peripheral electronic devices such as cordless phones and video decks that use a near-infrared remote control device, and may interfere with normal operation. It is required to block this near-infrared ray as much as possible. .
Furthermore, in the PDP, since the display surface is flat, when outside light is inserted, the light reflected in a wide range may enter the eyes at the same time, making the screen difficult to see, and it is necessary to prevent reflection of outside light. It is. It is also important to transmit the PDP light with a predetermined spectral transmittance to display a good screen and to correct the color tone of the light emission color.
In the PDP, in response to these requirements, a front plate having at least three functional films of (1) an electromagnetic wave shielding film, (2) a near infrared ray absorbing film, and (3) an antireflection film is generally provided on the display screen. Measures have been taken to arrange the antireflection film so as to be the outermost surface (observer side) (see, for example, Patent Document 3). In this case, at least three functional films must be prepared separately and bonded together, which is inevitable in cost.
On the other hand, in recent years, from the viewpoint of cost reduction, in the outermost antireflection film, a near-infrared absorbing layer is provided on the surface opposite to the antireflection layer of the base material, thereby reflecting with one film. Functional films that have both prevention performance and near infrared absorption performance have been developed. When manufacturing such a functional film, two methods of (1) formation of the near-infrared absorption layer on the back surface of the antireflection film and (2) formation of the antireflection layer on the back surface of the near-infrared absorption film However, in any case, film loss occurs, so the cost reduction effect is small.
On the other hand, the antireflection film is required to have antistatic performance with excellent sustainability in order to prevent adhesion of dust and the like.
JP 2002-341103 A JP 2003-139908 A Japanese Patent Laid-Open No. 11-12604

本発明は、このような事情のもとで、近赤外線吸収性能と反射防止性能を有し、かつ耐擦傷性及び帯電防止性に優れる上、層構成が簡単でコストが低く、特にPDP用として好適なウエットプロセス法による反射防止フィルムを提供することを目的としてなされたものである。   Under such circumstances, the present invention has near-infrared absorption performance and antireflection performance, is excellent in scratch resistance and antistatic properties, and has a simple layer structure and low cost. The object of the present invention is to provide an antireflection film by a suitable wet process method.

本発明者らは、前記の好ましい性質を有する反射防止フィルムを開発すべく鋭意研究を重ねた結果、基材フィルムの一方の面に、近赤外線吸収剤を含むハードコート層及び活性エネルギー線照射による硬化樹脂を含む低屈折率層を、それぞれ所定の厚さで順次積層してなり、かつ前記ハードコート層及び/又は低屈折率層にイオン性液体を含有させた積層体であって、波長800〜1200nmの全領域における分光透過率が、それぞれある値以下である反射防止フィルムがその目的に適合し得ることを見出した。本発明は、かかる知見に基づいて完成したものである。
すなわち、本発明は、
(1)基材フィルムの一方の面に、(A)弗素又は珪素を含有しない多官能アクリレートと近赤外線吸収剤を含む厚さ2〜20μmのハードコート層、及び(B)多孔性シリカ6075質量%を含有し、かつ、弗素又は珪素を含有しない多官能アクリレートを含む、屈折率が1.43以下の厚さ50〜200nmの低屈折率層が順次積層されてなる反射防止フィルムであって、前記の(A)層及び/又は(B)層が、一般式(1)
(Za+・(Ab− ・・・(1)
[式中、Za+はカチオン、Ab−はアニオンを示し、a、b、m及びnは、それぞれ1〜3の整数であり、a×m=b×nの関係を満たす。Za+が複数ある場合、複数のZa+は同一でも異なっていてもよく、Ab−が複数ある場合、複数のAb−は同一でも異なっていてもよい。]
で表される室温で液状を呈する溶融塩であるイオン性液体を含み、かつ少なくとも波長800〜1200nmの全領域における分光透過率が20%以下であることを特徴とする反射防止フィルム、
(2)表面抵抗率が5×1013Ω/□以下である上記(1)項に記載の反射防止フィルム、
(3)一般式(1)におけるZa+が、一般式(2)、(3)、(4)又は(5)

Figure 0005154772
[式(2)中のRは、炭素数4〜20の炭化水素基を表し、ヘテロ原子を含んでも良く、RおよびRは、それぞれ独立に水素原子または炭素数1〜16の炭化水素基を表し、ヘテロ原子を含んでも良い。但し、窒素原子が2重結合を含む場合、Rはない。
式(3)中のRは、炭素数2〜20の炭化水素基を表し、ヘテロ原子を含んでも良く、R、R、およびRは、それぞれ独立に水素原子または炭素数1〜16の炭化水素基を表し、ヘテロ原子を含んでも良い。
式(4)中のRは、炭素数2〜20の炭化水素基を表し、ヘテロ原子を含んでも良く、R、R10、およびR11は、それぞれ独立に水素原子または炭素数1〜16の炭化水素基を表し、ヘテロ原子を含んでも良い。
式(5)中のEは、窒素、硫黄、又はリン原子を表し、R12、R13、R14、およびR15は、それぞれ独立に炭素数1〜20の炭化水素基を表し、ヘテロ原子を含んでも良い。但しEが硫黄原子の場合、R15はない。]
で表されるカチオンである上記(1)又は(2)項に記載の反射防止フィルム、
(4)一般式(1)におけるAb−が、(CFSOである上記(1)〜(3)項のいずれかに記載の反射防止フィルム、
(5)(A)層及び/又は(B)層が、さらにイオン性液体と共に、反応性導電剤を含む上記(1)〜(4)項のいずれかに記載の反射防止フィルム、
(6)反応性導電剤が、分子内に、一般式(6)
Figure 0005154772
[式中、R16及びR17は、それぞれ同一又は異なる炭素数1〜10のアルキル基、R18は炭素数1〜10のアルキル基又は炭素数7〜10のアラルキル基、R19はラジカル重合性を有する官能基、Xp−はp価の陰イオン、pは1〜4の整数を示す。]
で表される四級アンモニウム塩を有するラジカル重合性化合物である上記(5)項に記載の反射防止フィルム、
(7)(A)層が、さらに有機及び/又は無機フィラーを含み、防眩機能が付与されてなる上記(1)〜(6)項のいずれかに記載の反射防止フィルム、
(8)(A)層に含まれる近赤外線吸収剤が、酸化タングステン系化合物である上記(1)〜(7)項のいずれかに記載の反射防止フィルム、
(9)酸化タングステン系化合物が、セシウム含有酸化タングステンである上記(8)項に記載の反射防止フィルム、
(10)(A)層中の酸化タングステン系化合物の含有量が5〜50質量%である上記(8)又は(9)項に記載の反射防止フィルム、
(11)基材フィルムの他方の面に、厚さ5〜50μmの粘着剤層を有する上記(1)〜(10)項のいずれかに記載の反射防止フィルム、及び
(12)プラズマディスプレイ用である上記(1)〜(11)項のいずれかに記載の反射防止フィルム、
を提供するものである。
As a result of intensive studies to develop an antireflection film having the above-mentioned preferable properties, the present inventors have conducted a hard coat layer containing a near infrared absorber on one surface of the base film and irradiation with active energy rays. Low-refractive index layers containing a cured resin are sequentially laminated with a predetermined thickness, respectively, and the hard coat layer and / or the low-refractive index layer contains an ionic liquid, and has a wavelength of 800 It has been found that an antireflection film whose spectral transmittance in the entire region of ˜1200 nm is less than a certain value can meet the purpose. The present invention has been completed based on such findings.
That is, the present invention
(1) On one surface of the substrate film, (A) a hard coat layer having a thickness of 2 to 20 μm containing a polyfunctional acrylate not containing fluorine or silicon and a near infrared absorber, and (B) porous silica 60 to An antireflection film comprising a low refractive index layer containing a polyfunctional acrylate containing 75 % by mass and containing no fluorine or silicon and having a refractive index of 1.43 or less and a thickness of 50 to 200 nm. The layer (A) and / or the layer (B) has the general formula (1)
(Z a + ) m · (A b− ) n (1)
[In the formula, Z a + represents a cation, A b− represents an anion, a, b, m and n are each an integer of 1 to 3, and satisfy the relationship of a × m = b × n. If Z a + there are multiple, + the plurality of Z a may be the same or different, if the A b-there are multiple, b-multiple A may be the same or different. ]
An antireflective film comprising an ionic liquid that is a molten salt that exhibits a liquid state at room temperature and having a spectral transmittance of 20% or less in the entire region of at least a wavelength of 800 to 1200 nm,
(2) The antireflection film as described in (1) above, wherein the surface resistivity is 5 × 10 13 Ω / □ or less,
(3) Z a + in the general formula (1) is the general formula (2), (3), (4) or (5)
Figure 0005154772
[R 1 in Formula (2) represents a hydrocarbon group having 4 to 20 carbon atoms and may contain a hetero atom, and R 2 and R 3 are each independently a hydrogen atom or a carbon atom having 1 to 16 carbon atoms. Represents a hydrogen group and may contain a heteroatom. However, when the nitrogen atom contains a double bond, there is no R 3 .
R 4 in the formula (3) represents a hydrocarbon group having 2 to 20 carbon atoms and may contain a hetero atom, and R 5 , R 6 , and R 7 are each independently a hydrogen atom or 1 to Represents 16 hydrocarbon groups and may contain heteroatoms.
R 8 in the formula (4) represents a hydrocarbon group having 2 to 20 carbon atoms, and may include a hetero atom. R 9 , R 10 , and R 11 are each independently a hydrogen atom or a carbon number 1 to 1 Represents 16 hydrocarbon groups and may contain heteroatoms.
E in Formula (5) represents a nitrogen, sulfur, or phosphorus atom, R 12 , R 13 , R 14 , and R 15 each independently represent a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, and a hetero atom May be included. However, if E is a sulfur atom, R 15 is not. ]
The antireflection film according to (1) or (2), which is a cation represented by:
(4) Formula A b-is in (1), (CF 3 SO 2) 2 N - is the above (1) to (3) anti-reflection film according to any one of items,
(5) The antireflection film according to any one of (1) to (4) above, wherein the (A) layer and / or the (B) layer further contains a reactive conductive agent together with the ionic liquid.
(6) The reactive conductive agent has a general formula (6) in the molecule.
Figure 0005154772
[Wherein R 16 and R 17 are the same or different alkyl groups having 1 to 10 carbon atoms, R 18 is an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms or an aralkyl group having 7 to 10 carbon atoms, and R 19 is radical polymerization. Functional group, X p- represents a p-valent anion, and p represents an integer of 1 to 4. ]
The antireflective film according to (5) above, which is a radically polymerizable compound having a quaternary ammonium salt represented by:
(7) The antireflection film according to any one of (1) to (6) above, wherein the (A) layer further contains an organic and / or inorganic filler and is provided with an antiglare function,
(8) The anti-reflection film according to any one of (1) to (7) above, wherein the near infrared absorber contained in the (A) layer is a tungsten oxide compound.
(9) The antireflection film as described in (8) above, wherein the tungsten oxide compound is cesium-containing tungsten oxide,
(10) The antireflection film as described in (8) or (9) above, wherein the content of the tungsten oxide compound in the layer (A) is 5 to 50% by mass,
(11) The antireflection film according to any one of (1) to (10) above, which has a pressure-sensitive adhesive layer having a thickness of 5 to 50 μm on the other surface of the base film, and (12) for a plasma display. The antireflection film according to any one of (1) to (11) above,
Is to provide.

本発明によれば、ハードコート層及び/又は低屈折率層の樹脂に高い相溶性を有するイオン性液体をハードコート層及び/又は低屈折率層に添加することにより、イオン性液体の添加量の多寡にかかわらず、耐擦傷性を損なうことなく、優れた帯電防止性を示す。これにより、近赤外線吸収性能と反射防止性能を有し、かつ耐擦傷性及び帯電防止性に優れる上、層構成が簡単でコストが低く、特にPDP用として好適なウエットプロセス法による反射防止フィルムを提供することができる。   According to the present invention, by adding an ionic liquid having high compatibility with the resin of the hard coat layer and / or the low refractive index layer to the hard coat layer and / or the low refractive index layer, the amount of the ionic liquid added Regardless of the amount, the antistatic property is exhibited without impairing the scratch resistance. As a result, it has a near infrared absorption performance and an antireflection performance, is excellent in scratch resistance and antistatic properties, and has a simple layer structure and a low cost. Can be provided.

本発明の反射防止フィルムは、ウエットプロセス法により、基材フィルムの一方の面に、(A)活性エネルギー線照射による硬化樹脂と近赤外線吸収剤を含む厚さ2〜20μmのハードコート層(以下、(A)層と称す)、及び(B)活性エネルギー線照射による硬化樹脂を含む、屈折率が1.43以下の厚さ50〜200nmの低屈折率層(以下、(B)層と称す)が順次積層された構造を有している。
本発明の反射防止フィルムにおける基材フィルムについては特に制限はなく、従来反射防止フィルムの基材として公知のプラスチックフィルムの中から適宜選択して用いることができる。このようなプラスチックフィルムとしては、例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレートなどのポリエステルフィルム、ポリエチレンフィルム、ポリプロピレンフィルム、セロファン、ジアセチルセルロースフィルム、トリアセチルセルロースフィルム、アセチルセルロースブチレートフィルム、ポリ塩化ビニルフィルム、ポリ塩化ビニリデンフィルム、ポリビニルアルコールフィルム、エチレン−酢酸ビニル共重合体フィルム、ポリスチレンフィルム、ポリカーボネートフィルム、ポリメチルペンテンフィルム、ポリスルホンフィルム、ポリエーテルエーテルケトンフィルム、ポリエーテルスルホンフィルム、ポリエーテルイミドフィルム、ポリイミドフィルム、フッ素樹脂フィルム、ポリアミドフィルム、アクリル樹脂フィルム、ノルボルネン系樹脂フィルム、シクロオレフィン樹脂フィルム等を挙げることができる。
The antireflective film of the present invention is a hard coat layer having a thickness of 2 to 20 μm (hereinafter referred to as “A”) containing a cured resin and near-infrared absorber by irradiation with active energy rays on one surface of a base film by a wet process method. , (A) layer), and (B) a low refractive index layer (hereinafter referred to as (B) layer) having a refractive index of 1.43 or less and a thickness of 50 to 200 nm, including a cured resin by irradiation with active energy rays. ) Are sequentially stacked.
There is no restriction | limiting in particular about the base film in the antireflection film of this invention, It can select suitably from well-known plastic films as a base material of a conventional antireflection film, and can use it. Examples of such plastic films include polyester films such as polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, and polyethylene naphthalate, polyethylene films, polypropylene films, cellophane, diacetyl cellulose films, triacetyl cellulose films, acetyl cellulose butyrate films, and polychlorinated. Vinyl film, polyvinylidene chloride film, polyvinyl alcohol film, ethylene-vinyl acetate copolymer film, polystyrene film, polycarbonate film, polymethylpentene film, polysulfone film, polyether ether ketone film, polyether sulfone film, polyetherimide film , Polyimide film, fluororesin film, Li amide film, acrylic resin film, norbornene resin film, a cycloolefin resin film.

これらの基材フィルムは、透明、半透明のいずれであってもよく、また、着色されていてもよいし、無着色のものでもよく、用途に応じて適宜選択すればよい。
これらの基材フィルムの厚さは特に制限はなく、適宜選定されるが、通常15〜250μm、好ましくは30〜200μmの範囲である。また、この基材フィルムは、その表面に設けられる層との密着性を向上させる目的で、所望により片面又は両面に、酸化法や凹凸化法などにより表面処理を施すことができる。上記酸化法としては、例えばコロナ放電処理、プラズマ処理、クロム酸処理(湿式)、火炎処理、熱風処理、オゾン・紫外線照射処理などが挙げられ、また、凹凸化法としては、例えばサンドブラスト法、溶剤処理法などが挙げられる。これらの表面処理法は基材フィルムの種類に応じて適宜選ばれるが、一般にはコロナ放電処理法が効果及び操作性などの面から、好ましく用いられる。また、片面又は両面にプライマー処理を施したものも用いることができる。
These base films may be either transparent or translucent, may be colored, or may be uncolored, and may be appropriately selected depending on the application.
The thickness of these substrate films is not particularly limited and is appropriately selected, but is usually 15 to 250 μm, preferably 30 to 200 μm. Moreover, this base film can be surface-treated by an oxidation method, a concavo-convex method, or the like on one side or both sides as desired for the purpose of improving adhesion to a layer provided on the surface. Examples of the oxidation method include corona discharge treatment, plasma treatment, chromic acid treatment (wet), flame treatment, hot air treatment, ozone / ultraviolet irradiation treatment, and examples of the unevenness method include a sand blast method, a solvent, and the like. Treatment methods and the like. These surface treatment methods are appropriately selected according to the type of the base film, but generally, the corona discharge treatment method is preferably used from the viewpoints of effects and operability. Moreover, what gave the primer process to the single side | surface or both surfaces can also be used.

本発明の反射防止フィルムにおいては、前記基材フィルムの一方の面に、順次設けられた(A)層及び(B)層のいずれか一方、あるいはその両方にイオン性液体が含まれており、その結果、優れた帯電防止性能が付与されている。
本発明において、イオン性液体は室温(25℃)で液状を呈する溶融塩を指し、一般式(1)
(Za+)m・(Ab-)n …(1)
で表される化合物が用いられる。
前記一般式(1)において、Za+はカチオン、Ab-はアニオンを示し、a、b、m及びnは、それぞれ1〜3の整数であり、a×m=b×nの関係を満たす。Za+が複数ある場合、複数のZa+は同一でも異なっていてもよく、Ab-が複数ある場合、複数のAb-は同一でも異なっていてもよい。
前記Za+で表されるカチオンとしては特に制限はなく、従来イオン性液体のカチオンとして公知のカチオンの中から、任意のものを適宜選択することができる。このカチオンとしては、例えば下記式(2)〜式(5)で表されるカチオンを挙げることができる。

Figure 0005154772
式(2)中のR1は、炭素数4〜20の炭化水素基を表し、ヘテロ原子を含んでも良く、R2およびR3は、それぞれ独立に水素原子または炭素数1〜16の炭化水素基を表し、ヘテロ原子を含んでも良い。但し、窒素原子が2重結合を含む場合、R3はない。
式(3)中のR4は、炭素数2〜20の炭化水素基を表し、ヘテロ原子を含んでも良く、R5、R6、およびR7は、それぞれ独立に水素原子または炭素数1〜16の炭化水素基を表し、ヘテロ原子を含んでも良い。
式(4)中のR8は、炭素数2〜20の炭化水素基を表し、ヘテロ原子を含んでも良く、R9、R10、およびR11は、それぞれ独立に水素原子または炭素数1〜16の炭化水素基を表し、ヘテロ原子を含んでも良い。 In the antireflection film of the present invention, an ionic liquid is contained in one or both of the (A) layer and the (B) layer sequentially provided on one surface of the base film, As a result, excellent antistatic performance is imparted.
In the present invention, the ionic liquid refers to a molten salt that exhibits a liquid state at room temperature (25 ° C.).
(Z a + ) m · (A b− ) n (1)
The compound represented by these is used.
In the general formula (1), Z a + represents a cation, A b− represents an anion, a, b, m, and n are each an integer of 1 to 3, and satisfy the relationship of a × m = b × n. . If Z a + there are multiple, + the plurality of Z a may be the same or different, if the A b-there are multiple, b-multiple A may be the same or different.
There is no restriction | limiting in particular as a cation represented by said Za <+> , Arbitrary things can be suitably selected from cations known as a cation of a conventional ionic liquid. Examples of the cation include cations represented by the following formulas (2) to (5).
Figure 0005154772
R 1 in formula (2) represents a hydrocarbon group having 4 to 20 carbon atoms and may contain a hetero atom, and R 2 and R 3 are each independently a hydrogen atom or a hydrocarbon having 1 to 16 carbon atoms. Represents a group and may contain heteroatoms. However, when the nitrogen atom contains a double bond, there is no R 3 .
R 4 in formula (3) represents a hydrocarbon group having 2 to 20 carbon atoms and may contain a hetero atom, and R 5 , R 6 , and R 7 are each independently a hydrogen atom or 1 to Represents 16 hydrocarbon groups and may contain heteroatoms.
R 8 in the formula (4) represents a hydrocarbon group having 2 to 20 carbon atoms and may contain a hetero atom, and R 9 , R 10 , and R 11 are each independently a hydrogen atom or a C 1 to C 1 carbon atom. Represents 16 hydrocarbon groups and may contain heteroatoms.

式(5)中のEは、窒素、硫黄、又はリン原子を表し、R12、R13、R14、およびR15は、それぞれ独立に炭素数1〜20の炭化水素基を表し、ヘテロ原子を含んでも良い。但しEが硫黄原子の場合、R15はない。
前記式(2)で表されるカチオンとしては、ピリジニウムカチオン、ピペリジニウムカチオン、ピロリジニウムカチオン、ピロリン骨格を有するカチオン、ピロール骨格を有するカチオンなどが挙げられる。具体例としては、1−エチルピリジニウムカチオン、1−ブチルピリジニウムカチオン、1−へキシルピリジニウムカチオン、1−ブチル−3−メチルピリジニウムカチオン、1−ブチル−4−メチルピリジニウムカチオン、1−へキシル−3−メチルピリジニウムカチオン、1−ブチル−3,4−ジメチルピリジニウムカチオン、1,1−ジメチルピロリジニウムカチオン、1−エチル−1−メチルピロリジニウムカチオン、1−メチル−1−プロピルピロリジニウムカチオン、2−メチル−1−ピロリンカチオン、1−エチル−2−フェニルインドールカチオン、1,2−ジメチルインドールカチオン、1−エチルカルバゾールカチオンなどが挙げられる。
式(3)で表されるカチオンとしては、イミダゾリウムカチオン、テトラヒドロピリミジニウムカチオン、ジヒドロピリミジニウムカチオンなどが挙げられる。具体例としては、1,3−ジメチルイミダゾリウムカチオン、1,3−ジエチルイミダゾリウムカチオン、1−エチル−3−メチルイミダゾリウムカチオン、1−ブチル−3−メチルイミダゾリウムカチオン、1−へキシル−3−メチルイミダゾリウムカチオン、1−オクチル−3−メチルイミダゾリウムカチオン、1−デシル−3−メチルイミダゾリウムカチオン、1−ドデシル−3−メチルイミダゾリウムカチオン、1−テトラデシル−3−メチルイミダゾリウムカチオン、1,2−ジメチル−3−プロピルイミダゾリウムカチオン、1−エチル−2,3−ジメチルイミダゾリウムカチオン、1−ブチル−2,3−ジメチルイミダゾリウムカチオン、1−へキシル−2,3−ジメチルイミダゾリウムカチオン、1,3−ジメチル−1,4,5,6−テトラヒドロピリミジニウムカチオン、1,2,3−トリメチル−1,4,5,6−テトラヒドロピリミジニウムカチオン、1,2,3,4−テトラメチル−1,4,5,6−テトラヒドロピリミジニウムカチオン、1,2,3,5−テトラメチル−1,4,5,6−テトラヒドロピリミジニウムカチオン、1,3−ジメチル−1,4−ジヒドロピリミジニウムカチオン、1,3−ジメチル−1,6−ジヒドロピリミジニウムカチオン、1,2,3−トリメチル−1,4−ジヒドロピリミジニウムカチオン、1,2,3−トリメチル−1,6−ジヒドロピリミジニウムカチオン、1,2,3,4−テトラメチル−1,4−ジヒドロピリミジニウムカチオン、1,2,3,4−テトラメチル−1,6−ジヒドロピリミジニウムカチオンなどが挙げられる。
E in Formula (5) represents a nitrogen, sulfur, or phosphorus atom, R 12 , R 13 , R 14 , and R 15 each independently represent a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, and a hetero atom May be included. However, when E is a sulfur atom, there is no R 15 .
Examples of the cation represented by the formula (2) include a pyridinium cation, a piperidinium cation, a pyrrolidinium cation, a cation having a pyrroline skeleton, and a cation having a pyrrole skeleton. Specific examples include 1-ethylpyridinium cation, 1-butylpyridinium cation, 1-hexylpyridinium cation, 1-butyl-3-methylpyridinium cation, 1-butyl-4-methylpyridinium cation, 1-hexyl-3. -Methylpyridinium cation, 1-butyl-3,4-dimethylpyridinium cation, 1,1-dimethylpyrrolidinium cation, 1-ethyl-1-methylpyrrolidinium cation, 1-methyl-1-propylpyrrolidinium cation 2-methyl-1-pyrroline cation, 1-ethyl-2-phenylindole cation, 1,2-dimethylindole cation, 1-ethylcarbazole cation and the like.
Examples of the cation represented by the formula (3) include an imidazolium cation, a tetrahydropyrimidinium cation, and a dihydropyrimidinium cation. Specific examples include 1,3-dimethylimidazolium cation, 1,3-diethylimidazolium cation, 1-ethyl-3-methylimidazolium cation, 1-butyl-3-methylimidazolium cation, 1-hexyl- 3-methylimidazolium cation, 1-octyl-3-methylimidazolium cation, 1-decyl-3-methylimidazolium cation, 1-dodecyl-3-methylimidazolium cation, 1-tetradecyl-3-methylimidazolium cation 1,2-dimethyl-3-propylimidazolium cation, 1-ethyl-2,3-dimethylimidazolium cation, 1-butyl-2,3-dimethylimidazolium cation, 1-hexyl-2,3-dimethyl Imidazolium cation, 1,3-dimethyl-1,4,5,6-teto Lahydropyrimidinium cation, 1,2,3-trimethyl-1,4,5,6-tetrahydropyrimidinium cation, 1,2,3,4-tetramethyl-1,4,5,6-tetrahydropyri Midinium cation, 1,2,3,5-tetramethyl-1,4,5,6-tetrahydropyrimidinium cation, 1,3-dimethyl-1,4-dihydropyrimidinium cation, 1,3-dimethyl 1,6-dihydropyrimidinium cation, 1,2,3-trimethyl-1,4-dihydropyrimidinium cation, 1,2,3-trimethyl-1,6-dihydropyrimidinium cation, 1,2 1,3,4-tetramethyl-1,4-dihydropyrimidinium cation, 1,2,3,4-tetramethyl-1,6-dihydropyrimidinium cation, and the like.

式(4)で表されるカチオンとしてはピラゾリウムカチオン、ピラゾリニウムカチオンなどが挙げられる。具体例としては、1−メチルピラゾリウムカチオン、3−メチルピラゾリウムカチオン、1−エチル−2−メチルピラゾリニウムカチオンなどが挙げられる。
式(5)で表されるカチオンとしてはテトラアルキルアンモニウムカチオン、トリアルキルスルホニウムカチオン、テトラアルキルホスホニウムカチオンや、上記アルキル基の一部がアルケニル基やアルコキシル基、さらにはエポキシ基に置換されたものなどが挙げられる。
具体例としては、テトラメチルアンモニウムカチオン、テトラエチルアンモニウムカチオン、テトラブチルアンモニウムカチオン、テトラヘキシルアンモニウムカチオン、トリエチルメチルアンモニウムカチオン、トリブチルエチルアンモニウムカチオン、トリメチルヘキシルアンモニウムカチオン、トリメチルデシルアンモニウムカチオン、N,N−ジエチル−N−メチル−N−(2−メトキシエチル)アンモニウムカチオン、グリシジルトリメチルアンモニウムカチオン、N,N−ジメチル−N,N−ジプロピルアンモニウムカチオン、N,N−ジメチル−N,N−ジヘキシルアンモニウムカチオン、N,N−ジプロピル−N,N−ジヘキシルアンモニウムカチオン、トリメチルスルホニウムカチオン、トリエチルスルホニウムカチオン、トリブチルスルホニウムカチオン、トリヘキシルスルホニウムカチオン、ジエチルメチルスルホニウムカチオン、ジブチルエチルスルホニウムカチオン、ジメチルデシルスルホニウムカチオン、テトラメチルホスホニウムカチオン、テトラエチルホスホニウムカチオン、テトラブチルホスホニウムカチオン、テトラヘキシルホスホニウムカチオン、トリエチルメチルホスホニウムカチオン、トリブチルエチルホスホニウムカチオン、トリメチルデシルホスホニウムカチオン、ジアリルジメチルアンモニウムカチオン、などが挙げられる。
Examples of the cation represented by the formula (4) include a pyrazolium cation and a pyrazolinium cation. Specific examples include 1-methylpyrazolium cation, 3-methylpyrazolium cation, 1-ethyl-2-methylpyrazolinium cation and the like.
Examples of the cation represented by the formula (5) include a tetraalkylammonium cation, a trialkylsulfonium cation, a tetraalkylphosphonium cation, and those in which a part of the alkyl group is substituted with an alkenyl group, an alkoxyl group, or an epoxy group. Is mentioned.
Specific examples include tetramethylammonium cation, tetraethylammonium cation, tetrabutylammonium cation, tetrahexylammonium cation, triethylmethylammonium cation, tributylethylammonium cation, trimethylhexylammonium cation, trimethyldecylammonium cation, N, N-diethyl- N-methyl-N- (2-methoxyethyl) ammonium cation, glycidyltrimethylammonium cation, N, N-dimethyl-N, N-dipropylammonium cation, N, N-dimethyl-N, N-dihexylammonium cation, N , N-dipropyl-N, N-dihexylammonium cation, trimethylsulfonium cation, triethylsulfonium cation, tributyl Rufonium cation, trihexylsulfonium cation, diethylmethylsulfonium cation, dibutylethylsulfonium cation, dimethyldecylsulfonium cation, tetramethylphosphonium cation, tetraethylphosphonium cation, tetrabutylphosphonium cation, tetrahexylphosphonium cation, triethylmethylphosphonium cation, tributylethyl Examples thereof include a phosphonium cation, a trimethyldecylphosphonium cation, and a diallyldimethylammonium cation.

一方、前記一般式(1)において、Ab-で表されるアニオンとしては、前記カチオンとイオン結合してイオン性液体を形成し得るものであればよく、特に制限されず、例えばCl-、Br-、I-、AlCl4 -、Al2Cl7 -、BF4 -、PF6 -、ClO4 -、NO3 -、CH3COO-、CF3COO-、CH3SO3 -、CF3SO3 -、(CF3SO2)2-、(CF3SO2)3-、AsF6 -、SbF6 -、NbF6 -、TaF6 -、F(HF)n -、(CN)2-、C9SO3 -、(C25SO2)2-、C37COO-、(CF3SO2)(CF3CO)N-などが用いられる。なかでも、フッ素原子を含むアニオンは、低融点のイオン性化合物を与えるので好ましく、特に(CF3SO2)2-が好適である。
このようなイオン性液体は、(A)層及び/又は(B)層を構成する樹脂との相溶性が高く、(A)層及び/又は(B)層に配合された場合に、(A)層及び/又は(B)層の耐擦傷性を低下させることがなく、かつ優れた帯電防止性を示す。
また、本発明においては、(A)層及び/又は(B)層は、前記イオン性液体と共に、反応性導電剤を含むことができる。イオン性液体と反応性導電剤を併用することにより、その相乗効果によって、一層優れた帯電防止作用が発揮される。
この反応性導電剤は、(A)層や(B)層の形成時において、活性エネルギー線を照射して、活性エネルギー線重合性化合物を硬化させて、硬化樹脂を形成する際に、該化合物と共重合し、硬化樹脂中に取り込まれるものであればよく、特に制限されず、従来公知の反応性導電剤の中から、任意のものを適宜選択して用いることができる。
具体的には、分子内に、一般式(6)

Figure 0005154772
[式中、R16及びR17は、それぞれ同一又は異なる炭素数1〜10のアルキル基、R18は炭素数1〜10のアルキル基又は炭素数7〜10のアラルキル基、R19はラジカル重合性を有する官能基、Xp-はp価の陰イオン、pは1〜4の整数を示す。]
で表される四級アンモニウム塩を有するラジカル重合性化合物を好ましく挙げることができる。 On the other hand, in the general formula (1), the anion represented by A b- is not particularly limited as long as it can ionically bond with the cation to form an ionic liquid. For example, Cl , Br , I , AlCl 4 , Al 2 Cl 7 , BF 4 , PF 6 , ClO 4 , NO 3 , CH 3 COO , CF 3 COO , CH 3 SO 3 , CF 3 SO 3 , (CF 3 SO 2 ) 2 N , (CF 3 SO 2 ) 3 C , AsF 6 , SbF 6 , NbF 6 , TaF 6 , F (HF) n , (CN) 2 N , C 4 F 9 SO 3 , (C 2 F 5 SO 2 ) 2 N , C 3 F 7 COO , (CF 3 SO 2 ) (CF 3 CO) N − and the like are used. Among these, an anion containing a fluorine atom is preferable because it gives an ionic compound having a low melting point, and (CF 3 SO 2 ) 2 N is particularly preferable.
Such an ionic liquid has high compatibility with the resin constituting the (A) layer and / or (B) layer, and when blended in the (A) layer and / or (B) layer, (A ) Layer and / or (B) layer without lowering the scratch resistance and exhibiting excellent antistatic properties.
In the present invention, the layer (A) and / or the layer (B) can contain a reactive conductive agent together with the ionic liquid. By using the ionic liquid and the reactive conductive agent in combination, a further excellent antistatic effect is exhibited by the synergistic effect.
This reactive conductive agent is irradiated with active energy rays at the time of forming the (A) layer or the (B) layer to cure the active energy ray polymerizable compound to form a cured resin. It is not particularly limited as long as it is copolymerized with the resin and incorporated into the cured resin, and any one of conventionally known reactive conductive agents can be appropriately selected and used.
Specifically, in the molecule, the general formula (6)
Figure 0005154772
[Wherein R 16 and R 17 are the same or different alkyl groups having 1 to 10 carbon atoms, R 18 is an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms or an aralkyl group having 7 to 10 carbon atoms, and R 19 is radical polymerization. Functional group, X p- represents a p-valent anion, and p represents an integer of 1 to 4. ]
The radically polymerizable compound which has the quaternary ammonium salt represented by these can be mentioned preferably.

上記一般式(6)において、R16及びR17で示されるアルキル基並びにR18のうちのアルキル基としては、炭素数1〜6のアルキル基、特に炭素数1〜4のアルキル基が好ましく、また、R18のうちのアラルキル基としては、ベンジル基が好ましい。炭素数1〜4のアルキル基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基が挙げられる。
また、R19としては、ラジカル重合性を有する官能基であればよく特に制限されず、該官能基の例としては、(メタ)アクリロイル基、ビニル基などが挙げられる。
一方、Xp-は無機陰イオン、有機陰イオンのいずれであってもよく、その例としてはF-、Cl-、Br-、I-のハロゲンイオン、NO3 -、ClO4 -、BF4 -、CO3 2-、SO4 2-などの無機陰イオン、CH3OSO3 -、C25OSO3 -、さらには酢酸、マロン酸、コハク酸、マレイン酸、フマル酸、p−トルエンスルホン酸、トリフルオロ酢酸などの有機酸の残基からなる有機陰イオンが挙げられる。
このような反応性導電剤としては、例えば一般式(6−a)

Figure 0005154772
[式中、R20は水素原子又はメチル基、R21はエチレン基又はトリメチレン基を示す。]
で表されるラジカル重合性四級アンモニウム塩系化合物などを挙げることができる。具体的には、アクリロキシエチルトリメチルアンモニウムクロライドなどを挙げることができる。
(A)層及び/又は(B)層中の前記イオン性液体の含有量及び所望によりイオン性液体と併用される前記反応性導電剤の含有量は、用いるイオン性液体や反応性導電剤の種類により異なるが、本発明の反射防止フィルムの表面抵抗率が、通常5×1013Ω/□以下になるように選定される。(A)層及び(B)層に使用した全成分中におけるイオン性液体の全含有量は、通常2〜20質量%、好ましくは3〜15質量%、より好ましくは5〜12質量%である。一方、反応性導電剤の全含有量は、(A)層及び(B)層の合計量に基づき、通常0〜20質量%、好ましくは2〜15質量%、より好ましくは4〜12質量%である。 In the general formula (6), the alkyl group represented by R 16 and R 17 and the alkyl group of R 18 are preferably an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, particularly an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, The aralkyl group in R 18 is preferably a benzyl group. Examples of the alkyl group having 1 to 4 carbon atoms include methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, isobutyl group, sec-butyl group, and tert-butyl group.
R 19 is not particularly limited as long as it is a functional group having radical polymerizability, and examples of the functional group include a (meth) acryloyl group and a vinyl group.
On the other hand, X p− may be either an inorganic anion or an organic anion. Examples thereof include halogen ions of F , Cl , Br and I , NO 3 , ClO 4 and BF 4. -, CO 3 2-, SO 4 2- , etc. of the inorganic anion, CH 3 OSO 3 -, C 2 H 5 OSO 3 -, more acetic acid, malonic acid, succinic acid, maleic acid, fumaric acid, p- toluene Examples include organic anions composed of residues of organic acids such as sulfonic acid and trifluoroacetic acid.
As such a reactive conductive agent, for example, the general formula (6-a)
Figure 0005154772
[Wherein, R 20 represents a hydrogen atom or a methyl group, and R 21 represents an ethylene group or a trimethylene group. ]
And a radically polymerizable quaternary ammonium salt compound represented by the formula: Specific examples include acryloxyethyl trimethyl ammonium chloride.
The content of the ionic liquid in the layer (A) and / or the layer (B) and the content of the reactive conductive agent used in combination with the ionic liquid as desired are the ionic liquid and reactive conductive agent used. Although it depends on the type, the surface resistivity of the antireflection film of the present invention is usually selected to be 5 × 10 13 Ω / □ or less. The total content of the ionic liquid in all components used in the (A) layer and the (B) layer is usually 2 to 20% by mass, preferably 3 to 15% by mass, and more preferably 5 to 12% by mass. . On the other hand, the total content of the reactive conductive agent is usually 0 to 20% by mass, preferably 2 to 15% by mass, more preferably 4 to 12% by mass based on the total amount of the (A) layer and the (B) layer. It is.

本発明の反射防止フィルムにおいては、前記基材フィルムの少なくとも一方の面に、まず(A)活性エネルギー線照射による硬化樹脂と近赤外線吸収剤とを含む厚さ2〜20μmのハードコート層が設けられる。
この活性エネルギー線照射による硬化樹脂と近赤外線吸収剤とを含む(A)層は、例えば活性エネルギー線硬化性化合物と、前記の近赤外線吸収剤と、前述のイオン性液体又は該イオン性液体と前述の反応性導電剤を含有したものに、所望により光重合開始剤などを含む(A)層用塗工液を、基材フィルムの一方の面にコーティングして塗膜を形成させ、活性エネルギー線を照射して、該塗膜を硬化させることにより、形成することができる。
ここで、活性エネルギー線硬化性化合物とは、電磁波又は荷電粒子線の中でエネルギー量子を有するもの、すなわち、紫外線又は電子線などを照射することにより、架橋、硬化する化合物を指す。
このような活性エネルギー線硬化性化合物としては、例えばラジカル重合型とカチオン重合型を挙げることができる。活性エネルギー線硬化性化合物のラジカル重合型としては、エネルギー線重合性プレポリマーとエネルギー線重合性モノマーがあり、ラジカル重合型の活性エネルギー線重合性プレポリマーとしては、例えばポリエステルアクリレート系、エポキシアクリレート系、ウレタンアクリレート系、ポリオールアクリレート系などが挙げられる。ここで、ポリエステルアクリレート系プレポリマーとしては、例えば多価カルボン酸と多価アルコールの縮合によって得られる両末端に水酸基を有するポリエステルオリゴマーの水酸基を(メタ)アクリル酸でエステル化することにより、あるいは、多価カルボン酸にアルキレンオキシドを付加して得られるオリゴマーの末端の水酸基を(メタ)アクリル酸でエステル化することにより得ることができる。
In the antireflection film of the present invention, a hard coat layer having a thickness of 2 to 20 μm is first provided on at least one surface of the substrate film, which includes (A) a cured resin by irradiation with active energy rays and a near infrared absorber. It is done.
The (A) layer containing the curable resin and the near-infrared absorber by this active energy ray irradiation is, for example, an active energy ray-curable compound, the near-infrared absorber, and the ionic liquid or the ionic liquid. A coating film is formed by coating one side of the base film with a coating liquid for layer (A) containing the above-mentioned reactive conductive agent and optionally containing a photopolymerization initiator, etc. It can be formed by irradiating a line to cure the coating film.
Here, the active energy ray-curable compound refers to a compound having energy quanta in an electromagnetic wave or a charged particle beam, that is, a compound that is crosslinked and cured by irradiation with ultraviolet rays or electron beams.
Examples of such active energy ray-curable compounds include radical polymerization type and cationic polymerization type. The radical polymerization type of the active energy ray-curable compound includes an energy ray polymerizable prepolymer and an energy ray polymerizable monomer. Examples of the radical polymerization type active energy ray polymerizable prepolymer include polyester acrylate and epoxy acrylate. , Urethane acrylate and polyol acrylate. Here, as the polyester acrylate-based prepolymer, for example, by esterifying the hydroxyl group of a polyester oligomer having a hydroxyl group at both ends obtained by condensation of a polyvalent carboxylic acid and a polyhydric alcohol with (meth) acrylic acid, or It can be obtained by esterifying the terminal hydroxyl group of an oligomer obtained by adding an alkylene oxide to a polyvalent carboxylic acid with (meth) acrylic acid.

エポキシアクリレート系プレポリマーは、例えば、比較的低分子量のビスフェノール型エポキシ樹脂やノボラック型エポキシ樹脂のオキシラン環に、(メタ)アクリル酸を反応しエステル化することにより得ることができる。ウレタンアクリレート系プレポリマーは、例えば、ポリエーテルポリオールやポリエステルポリオールとポリイソシアネートの反応によって得られるポリウレタンオリゴマーを、(メタ)アクリル酸でエステル化することにより得ることができる。さらに、ポリオールアクリレート系プレポリマーは、ポリエーテルポリオールの水酸基を(メタ)アクリル酸でエステル化することにより得ることができる。これらのラジカル重合型の活性エネルギー線重合性プレポリマーは1種用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
また、ラジカル重合型の活性エネルギー線重合性モノマーとしては、例えば1,4−ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールアジペートジ(メタ)アクリレート、ヒドロキシピバリン酸ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、ジシクロペンタニルジ(メタ)アクリレート、カプロラクトン変性ジシクロペンテニルジ(メタ)アクリレート、エチレンオキシド変性リン酸ジ(メタ)アクリレート、アリル化シクロヘキシルジ(メタ)アクリレート、イソシアヌレートジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、プロピオン酸変性ジペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、プロピレンオキシド変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、トリス(アクリロキシエチル)イソシアヌレート、プロピオン酸変性ジペンタエリスリトールペンタ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、カプロラクトン変性ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレートなどの多官能アクリレートが挙げられる。これらのラジカル重合型の活性エネルギー線重合性モノマーは1種用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよく、また、ラジカル重合型の活性エネルギー線重合性プレポリマーと併用してもよい。
一方、カチオン重合型の活性エネルギー線重合性プレポリマーとしては、エポキシ系樹脂が通常使用される。このエポキシ系樹脂としては、例えばビスフェノール樹脂やノボラック樹脂などの多価フェノール類にエピクロルヒドリンなどでエポキシ化した化合物、直鎖状オレフィン化合物や環状オレフィン化合物を過酸化物などで酸化して得られた化合物などが挙げられる。
The epoxy acrylate prepolymer can be obtained, for example, by reacting (meth) acrylic acid with an oxirane ring of a relatively low molecular weight bisphenol type epoxy resin or novolak type epoxy resin and esterifying it. The urethane acrylate-based prepolymer can be obtained, for example, by esterifying a polyurethane oligomer obtained by reaction of polyether polyol or polyester polyol and polyisocyanate with (meth) acrylic acid. Furthermore, the polyol acrylate-based prepolymer can be obtained by esterifying the hydroxyl group of the polyether polyol with (meth) acrylic acid. One of these radical polymerization type active energy ray polymerizable prepolymers may be used, or two or more thereof may be used in combination.
Examples of radical polymerization type active energy ray polymerizable monomers include 1,4-butanediol di (meth) acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, neopentyl glycol di (meth) acrylate, and polyethylene. Glycol di (meth) acrylate, neopentyl glycol adipate di (meth) acrylate, hydroxypivalate neopentyl glycol di (meth) acrylate, dicyclopentanyl di (meth) acrylate, caprolactone modified dicyclopentenyl di (meth) acrylate, Di (meth) acrylate modified with ethylene oxide, allylated cyclohexyl di (meth) acrylate, isocyanurate di (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, dipentaerythritol tri (meth) acrylate Propionate modified dipentaerythritol tri (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, propylene oxide modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, tris (acryloxyethyl) isocyanurate, propionic acid modified dipentaerythritol Examples thereof include polyfunctional acrylates such as penta (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, and caprolactone-modified dipentaerythritol hexa (meth) acrylate. These radical polymerization type active energy ray polymerizable monomers may be used singly or in combination of two or more, and may be used in combination with radical polymerization type active energy ray polymerizable prepolymers. Good.
On the other hand, as a cationic polymerization type active energy ray polymerizable prepolymer, an epoxy resin is usually used. Examples of the epoxy resins include compounds obtained by epoxidizing polyphenols such as bisphenol resins and novolak resins with epichlorohydrin, etc., and compounds obtained by oxidizing a linear olefin compound or a cyclic olefin compound with a peroxide or the like. Etc.

所望により用いられる光重合開始剤としては、ラジカル重合型の活性エネルギー線重合性プレポリマーや活性エネルギー線重合性モノマーに対しては、例えばベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル、ベンゾイン−n−ブチルエーテル、ベンゾインイソブチルエーテル、アセトフェノン、ジメチルアミノアセトフェノン、2,2−ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノン、2,2−ジエトキシ−2−フェニルアセトフェノン、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニルプロパン−1−オン、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリノ−プロパン−1−オン、4−(2−ヒドロキシエトキシ)フェニル−2(ヒドロキシ−2−プロプル)ケトン、ベンゾフェノン、p−フェニルベンゾフェノン、4,4'−ジエチルアミノベンゾフェノン、ジクロロベンゾフェノン、2−メチルアントラキノン、2−エチルアントラキノン、2−ターシャリ−ブチルアントラキノン、2−アミノアントラキノン、2−メチルチオキサントン、2−エチルチオキサントン、2−クロロチオキサントン、2,4−ジメチルチオキサントン、2,4−ジエチルチオキサントン、ベンジルジメチルケタール、アセトフェノンジメチルケタール、p−ジメチルアミン安息香酸エステルなどが挙げられる。また、カチオン重合型の活性エネルギー線重合性プレポリマーに対する光重合開始剤としては、例えば芳香族スルホニウムイオン、芳香族オキソスルホニウムイオン、芳香族ヨードニウムイオンなどのオニウムと、テトラフルオロボレート、ヘキサフルオロホスフェート、ヘキサフルオロアンチモネート、ヘキサフルオロアルセネートなどの陰イオンとからなる化合物が挙げられる。これらは1種用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよく、また、その配合量は、前記活性エネルギー線重合性プレポリマー及び/又は活性エネルギー線重合性モノマー100質量部に対して、通常0.2〜10質量部の範囲で選ばれる。   As photopolymerization initiators used as desired, for radical polymerization type active energy ray polymerizable prepolymers and active energy ray polymerizable monomers, for example, benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin isopropyl ether, benzoin -N-butyl ether, benzoin isobutyl ether, acetophenone, dimethylaminoacetophenone, 2,2-dimethoxy-2-phenylacetophenone, 2,2-diethoxy-2-phenylacetophenone, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenylpropane- 1-one, 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-propan-1-one, 4- (2-hydroxyethoxy) phenyl-2 Roxy-2-propyl) ketone, benzophenone, p-phenylbenzophenone, 4,4′-diethylaminobenzophenone, dichlorobenzophenone, 2-methylanthraquinone, 2-ethylanthraquinone, 2-tert-butylanthraquinone, 2-aminoanthraquinone, 2- Examples include methylthioxanthone, 2-ethylthioxanthone, 2-chlorothioxanthone, 2,4-dimethylthioxanthone, 2,4-diethylthioxanthone, benzyldimethyl ketal, acetophenone dimethyl ketal, p-dimethylamine benzoate, and the like. Examples of the photopolymerization initiator for the cationic polymerization type active energy ray polymerizable prepolymer include oniums such as aromatic sulfonium ions, aromatic oxosulfonium ions and aromatic iodonium ions, tetrafluoroborate, hexafluorophosphate, Examples thereof include compounds composed of anions such as hexafluoroantimonate and hexafluoroarsenate. These may be used alone or in combination of two or more thereof, and the blending amount thereof is based on 100 parts by mass of the active energy ray polymerizable prepolymer and / or the active energy ray polymerizable monomer. In general, it is selected in the range of 0.2 to 10 parts by mass.

一方、(A)層に含有させる近赤外線吸収剤については、少なくとも波長800〜1200nmの全領域における分光透過率が30%以下である反射防止フィルムを与えることのできるものであればよく、特に制限されず、様々な種類のものを、適宜選択して用いることができる。
当該近赤外線吸収剤は、有機系近赤外線吸収剤と無機系近赤外線吸収剤に大別することができる。ここで、有機系近赤外線吸収剤としては、例えばシアニン系化合物、スクワリリウム系化合物、チオールニッケル錯塩系化合物、ナフタロシアニン系化合物、フタロシアニン系化合物、トリアリルメタン系化合物、ナフトキノン系化合物、アントラキノン系化合物、さらにはN,N,N',N'−テトラキス(p−ジ−n−ブチルアミノフェニル)−p−フェニレンジアミニウムの過塩素酸塩、フェニレンジアミニウムの塩素塩、フェニレンジアミニウムのヘキサフルオロアンチモン酸塩、フェニレンジアミニウムのフッ化ホウ素酸塩、フェニレンジアミニウムのフッ素塩、フェニレンジアミニウムの過塩素酸塩などのアミノ化合物、銅化合物とビスチオウレア化合物、リン化合物と銅化合物、リン酸エステル化合物と銅化合物との反応により得られるリン酸エステル銅化合物などが挙げられる。
これらの中では、チオールニッケル錯塩系化合物(特開平9−230134号公報など)及びフタロシアニン系化合物が好ましく、特に、特開2000−26748号公報などに開示されているフッ素含有フタロシアニン化合物が、有機系近赤外線吸収剤の中で、可視光線分光透過率が高く、かつ耐熱性、耐光性、耐候性などの特性に優れることから、好適である。
On the other hand, the near-infrared absorber to be contained in the layer (A) is not particularly limited as long as it can provide an antireflection film having a spectral transmittance of 30% or less in at least a wavelength range of 800 to 1200 nm. Instead, various types can be appropriately selected and used.
The near infrared absorber can be broadly classified into an organic near infrared absorber and an inorganic near infrared absorber. Here, examples of the organic near-infrared absorber include cyanine compounds, squarylium compounds, thiol nickel complex compounds, naphthalocyanine compounds, phthalocyanine compounds, triallylmethane compounds, naphthoquinone compounds, anthraquinone compounds, Furthermore, N, N, N ′, N′-tetrakis (p-di-n-butylaminophenyl) -p-phenylenediaminium perchlorate, phenylenediaminium chloride, phenylenedianium hexafluoroantimony Amino compounds such as acid salts, fluorinated boronates of phenylene diaminium, fluorine salts of phenylene diaminium, perchlorates of phenylene diaminium, copper compounds and bisthiourea compounds, phosphorus compounds and copper compounds, phosphate ester compounds Obtained by reaction of copper with copper compounds Examples include phosphate ester copper compounds.
Among these, a thiol nickel complex salt compound (JP-A-9-230134, etc.) and a phthalocyanine compound are preferable. In particular, a fluorine-containing phthalocyanine compound disclosed in JP-A-2000-26748 is an organic compound. Among near-infrared absorbers, it is preferable because it has a high visible light spectral transmittance and excellent properties such as heat resistance, light resistance, and weather resistance.

また、無機系近赤外線吸収剤としては、例えば、酸化タングステン系化合物、酸化チタン、酸化ジルコニウム、酸化タンタル、酸化ニオブ、酸化亜鉛、酸化インジウム、錫ドープ酸化インジウム(ITO)、酸化錫、アンチモンドープ酸化錫(ATO)、酸化セシウム、硫化亜鉛、さらにはLaB6、CeB6、PrB6、NdB6、GdB6、TbB6、DyB6、HoB6、YB6、SmB6、EuB6、ErB6、TmB6、YbB6、LuB6、SrB6、CaB6、(La,Ce)B6などの六ホウ化物等が挙げられる。これらの中では、近赤外線の吸収率が高く、かつ可視光線の分光透過率が高いことから、酸化タングステン系化合物が好ましく、特に式(7)
Cs0.2〜0.4WO3 …(7)
で表されるセシウム含有酸化タングステンが好適である。
一般に、有機系近赤外線吸収剤と無機系近赤外線吸収剤を比較した場合、近赤外線の吸収能力は有機系の方が優れているが、耐光性や耐候性については、無機系の方が格段に優れている。また、有機系のものは着色しやすいという欠点も有しており、実用性の点からは、無機系近赤外線吸収剤の方が好ましく、特にセシウム含有酸化タングステンの使用が好ましい。この無機系赤外線吸収剤は、可視光領域において吸収が少なく、かつ透明なコート層を形成するには、好ましくは0.5μm以下、より好ましくは0.1μm以下の粒径を有するものが有利である。
本発明においては、前記無機系近赤外線吸収剤を1種用いてもよいし、2種以上組み合わせて用いてもよく、また、無機系近赤外線吸収剤と有機系近赤外線吸収剤を併用することもできる。
なお、近赤外線吸収剤を単独使用した場合、たとえ波長800〜1200nmの領域で分光透過率が30%を超える部分があったとしても、2種以上を併用することにより、波長800〜1200nmの全領域における分光透過率が30%以下であればよい。
この近赤外線吸収剤の使用量は、(A)層の膜厚にもよるが、酸化タングステン系化合物、例えば前記式(7)で表されるセシウム含有酸化タングステンを用いる場合、(A)層中のその含有量が、通常5〜50質量%、好ましくは10〜40質量%になるように選定される。
Examples of inorganic near infrared absorbers include tungsten oxide compounds, titanium oxide, zirconium oxide, tantalum oxide, niobium oxide, zinc oxide, indium oxide, tin-doped indium oxide (ITO), tin oxide, and antimony-doped oxide. Tin (ATO), cesium oxide, zinc sulfide, LaB 6 , CeB 6 , PrB 6 , NdB 6 , GdB 6 , TbB 6 , DyB 6 , HoB 6 , YB 6 , SmB 6 , EuB 6 , ErB 6 , TmB 6 , hexaboride such as YbB 6 , LuB 6 , SrB 6 , CaB 6 , (La, Ce) B 6 and the like. Of these, tungsten oxide compounds are preferred because they have a high near-infrared absorptivity and a high visible light spectral transmittance.
Cs 0.2-0.4 WO 3 (7)
The cesium containing tungsten oxide represented by these is suitable.
In general, when comparing organic near-infrared absorbers with inorganic near-infrared absorbers, the near-infrared absorption capacity is superior to organic ones, but inorganic ones are far superior in terms of light resistance and weather resistance. Is excellent. In addition, organic materials have a drawback that they are easily colored, and from the viewpoint of practicality, inorganic near infrared absorbers are preferred, and the use of cesium-containing tungsten oxide is particularly preferred. In order to form a transparent coat layer with a small absorption in the visible light region, this inorganic infrared absorber preferably has a particle size of preferably 0.5 μm or less, more preferably 0.1 μm or less. is there.
In the present invention, one kind of inorganic near infrared absorber may be used, or two or more kinds may be used in combination, and an inorganic near infrared absorber and an organic near infrared absorber are used in combination. You can also.
In addition, when the near infrared absorber is used alone, even if there is a portion where the spectral transmittance exceeds 30% in the wavelength range of 800 to 1200 nm, the total wavelength of 800 to 1200 nm can be obtained by using two or more types in combination. The spectral transmittance in the region may be 30% or less.
The amount of the near infrared absorber used depends on the film thickness of the layer (A), but when a tungsten oxide compound, for example, a cesium-containing tungsten oxide represented by the formula (7) is used, The content thereof is usually 5 to 50% by mass, preferably 10 to 40% by mass.

本発明においては、(A)層には、防眩性付与剤として、有機及び/又は無機フィラーを含有させることができる。有機フィラーとしては、例えばメラミン系樹脂粒子、アクリル系樹脂粒子、アクリル−スチレン系共重合体粒子、ポリカーボネート系粒子、ポリエチレン系粒子、ポリスチレン系粒子、ベンゾグアナミン系樹脂粒子などが挙げられる。これらの有機フィラーの平均粒径は、通常2〜10μm程度である。
また、無機フィラーとしては、例えばシリカ粒子や、コロイド状シリカ粒子のアミン化合物による凝集物であって、平均粒径が0.5〜10μm程度のものなどを挙げることができる。
これらの防眩性付与剤は1種を単独で用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよく、(A)層中のその含有量は、通常2〜15質量%、好ましくは3〜8質量%である。(A)層に防眩性付与剤を含有させることにより、本発明の反射防止フィルムの60°グロス値は、通常30〜120程度となる。
本発明において用いられる(A)層用塗工液は、必要に応じ、適当な溶媒中に、前記の活性エネルギー線硬化性化合物と、近赤外線吸収剤と、前述のイオン性液体又は該イオン性液体と前述の反応性導電剤を含有したものに、所望により用いられる前記の光重合開始剤、防眩性付与剤、さらには各種添加剤、例えば酸化防止剤、紫外線吸収剤、光安定剤、レベリング剤、消泡剤などを、それぞれ所定の割合で加え、溶解又は分散させることにより、調製することができる。
この際用いる溶媒としては、例えばヘキサン、ヘプタン、シクロヘキサンなどの脂肪族炭化水素、トルエン、キシレンなどの芳香族炭化水素、塩化メチレン、塩化エチレンなどのハロゲン化炭化水素、メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノール、1−メトキシ−2−プロパノールなどのアルコール、アセトン、メチルエチルケトン、2−ペンタノン、メチルイソブチルケトン、イソホロンなどのケトン、酢酸エチル、酢酸ブチルなどのエステル、エチルセロソルブなどのセロソルブ系溶剤などが挙げられる。
In the present invention, the layer (A) can contain an organic and / or inorganic filler as an antiglare property-imparting agent. Examples of the organic filler include melamine resin particles, acrylic resin particles, acrylic-styrene copolymer particles, polycarbonate particles, polyethylene particles, polystyrene particles, and benzoguanamine resin particles. These organic fillers usually have an average particle size of about 2 to 10 μm.
Examples of the inorganic filler include silica particles and aggregates of amine particles of colloidal silica particles having an average particle diameter of about 0.5 to 10 μm.
These antiglare imparting agents may be used alone or in combination of two or more, and the content thereof in the layer (A) is usually 2 to 15% by mass, preferably 3 to 8% by mass. When the antiglare imparting agent is contained in the layer (A), the 60 ° gloss value of the antireflection film of the present invention is usually about 30 to 120.
The coating liquid for layer (A) used in the present invention, if necessary, in an appropriate solvent, the active energy ray-curable compound, the near infrared absorber, the ionic liquid or the ionic liquid described above. In addition to the liquid and the above-mentioned reactive conductive agent, the above-mentioned photopolymerization initiator, anti-glare agent, and various additives used as desired, for example, antioxidants, ultraviolet absorbers, light stabilizers, It can be prepared by adding a leveling agent, an antifoaming agent and the like at a predetermined ratio and dissolving or dispersing them.
Examples of the solvent used in this case include aliphatic hydrocarbons such as hexane, heptane, and cyclohexane, aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene, halogenated hydrocarbons such as methylene chloride and ethylene chloride, methanol, ethanol, propanol, butanol, Examples include alcohols such as 1-methoxy-2-propanol, ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, 2-pentanone, methyl isobutyl ketone, and isophorone, esters such as ethyl acetate and butyl acetate, and cellosolv solvents such as ethyl cellosolve.

このようにして調製された塗工液の濃度、粘度としては、コーティング可能な濃度、粘度であればよく、特に制限されず、状況に応じて適宜選定することができる。
次に、基材フィルムの一方の面に、上記塗工液を、従来公知の方法、例えばバーコート法、ナイフコート法、ロールコート法、ブレードコート法、ダイコート法、グラビアコート法などを用いて、コーティングして塗膜を形成させ、乾燥後、これに活性エネルギー線を照射して該塗膜を硬化させることにより、(A)層が形成される。
活性エネルギー線としては、例えば紫外線や電子線などが挙げられる。上記紫外線は、高圧水銀ランプ、ヒュージョンHランプ、キセノンランプなどで得られる。一方電子線は、電子線加速器などによって得られる。この活性エネルギー線の中では、特に紫外線が好適である。なお、電子線を使用する場合は、光重合開始剤を添加することなく、硬化膜を得ることができる。
本発明においては、(A)層の厚さは2〜20μmの範囲である。この厚さが2μm未満では得られる反射防止フィルムの耐擦傷性が十分に発揮されないおそれがあるし、また20μmを超えるとハードコート層にクラックが発生することがある。(A)層の好ましい厚さは3〜15μmの範囲であり、特に5〜10μmの範囲が好適である。
本発明の反射防止フィルムにおいては、この(A)層の屈折率は、通常1.47〜1.60、好ましくは1.49〜1.55の範囲である。
The concentration and viscosity of the coating solution thus prepared are not particularly limited as long as the concentration and viscosity can be coated, and can be appropriately selected depending on the situation.
Next, the coating liquid is applied to one surface of the base film using a conventionally known method such as a bar coating method, a knife coating method, a roll coating method, a blade coating method, a die coating method, or a gravure coating method. By coating, a coating film is formed, and after drying, the coating film is cured by irradiating the active energy ray to form the layer (A).
Examples of the active energy rays include ultraviolet rays and electron beams. The ultraviolet rays can be obtained with a high-pressure mercury lamp, a fusion H lamp, a xenon lamp, or the like. On the other hand, the electron beam is obtained by an electron beam accelerator or the like. Among these active energy rays, ultraviolet rays are particularly preferable. In addition, when using an electron beam, a cured film can be obtained, without adding a photoinitiator.
In the present invention, the thickness of the layer (A) is in the range of 2 to 20 μm. If the thickness is less than 2 μm, the resulting antireflection film may not exhibit sufficient scratch resistance, and if it exceeds 20 μm, cracks may occur in the hard coat layer. (A) The preferable thickness of a layer is the range of 3-15 micrometers, and the range of 5-10 micrometers is especially suitable.
In the antireflection film of the present invention, the refractive index of the layer (A) is usually 1.47 to 1.60, preferably 1.49 to 1.55.

本発明の反射防止フィルムにおいては、(A)層上に、(B)活性エネルギー線照射による硬化樹脂を含む屈折率が1.43以下の厚さ50〜200nmの低屈折率層が設けられる。
(B)層は、例えば活性エネルギー線硬化性化合物と、好ましくは多孔性シリカ粒子と、前述のイオン性液体又は該イオン性液体と前述の反応性導電剤を含有した層の上に、所望により光重合開始剤などを含む(B)層用塗工液を、(A)層上にコーティングして塗膜を形成させ、活性エネルギー線を照射して、該塗膜を硬化させることにより、形成することができる。
前記の活性エネルギー線硬化性化合物及び所望により用いられる光重合開始剤の種類及び配合量については、(A)層の説明において示したものから選択できる。
(B)層に含まれる多孔性シリカ粒子としては、比重が1.7〜1.9、屈折率が1.25〜1.36及び平均粒径が20〜100nmの範囲にあるものが好ましく用いられる。このような性状を有する多孔性シリカ粒子を用いることにより、反射防止性能に優れる反射防止層が1層タイプの反射防止フィルムを得ることができる。
本発明においては、(B)層中の多孔性シリカ粒子の含有量は、好ましくは30〜80質量%の範囲で選定される。該多孔性シリカ粒子の含有量が上記範囲にあれば、(B)層は所望の低屈折率を有する層となり、得られる反射防止フィルムは、反射防止性に優れたものとなる。該多孔性シリカ粒子の好ましい含有量は、50〜80質量%であり、特に60〜75質量%の範囲が好ましい。
(B)層は、厚さが50〜200nmであって、屈折率が、1.43以下の範囲にある。(B)層の厚さや屈折率が上記範囲にあれば、反射防止性能、及び耐擦傷性に優れる反射防止フィルムを得ることができる。(B)層の厚さは、好ましくは70〜130nmであり、屈折率は、好ましくは1.30〜1.42、さらに好ましくは1.35〜1.40の範囲である。
In the antireflection film of the present invention, on the (A) layer, (B) a low refractive index layer having a thickness of 50 to 200 nm having a refractive index of 1.43 or less containing a cured resin by active energy ray irradiation is provided.
The layer (B) is formed on the layer containing, for example, the active energy ray-curable compound, preferably porous silica particles, the ionic liquid or the ionic liquid and the reactive conductive agent, as desired. Formed by coating the (B) layer coating solution containing a photopolymerization initiator on the (A) layer to form a coating film, irradiating active energy rays and curing the coating film. can do.
About the kind and compounding quantity of the said active energy ray hardening compound and the photoinitiator used depending on necessity, it can select from what was shown in description of (A) layer.
As the porous silica particles contained in the layer (B), those having a specific gravity of 1.7 to 1.9, a refractive index of 1.25 to 1.36 and an average particle size of 20 to 100 nm are preferably used. It is done. By using porous silica particles having such properties, an antireflection film having a single layer type antireflection layer having excellent antireflection performance can be obtained.
In the present invention, the content of the porous silica particles in the layer (B) is preferably selected in the range of 30 to 80% by mass. If content of this porous silica particle exists in the said range, a (B) layer will become a layer which has a desired low refractive index, and the obtained antireflection film will be excellent in antireflection property. The preferable content of the porous silica particles is 50 to 80% by mass, and particularly preferably 60 to 75% by mass.
The (B) layer has a thickness of 50 to 200 nm and a refractive index in the range of 1.43 or less. If the thickness and refractive index of the (B) layer are in the above ranges, an antireflection film excellent in antireflection performance and scratch resistance can be obtained. The thickness of the (B) layer is preferably 70 to 130 nm, and the refractive index is preferably 1.30 to 1.42, more preferably 1.35 to 1.40.

本発明において用いられる(B)層用塗工液は、必要に応じ、適当な溶媒中に、前記の活性エネルギー線硬化性化合物と、好ましくは多孔性シリカ粒子と、前述のイオン性液体又は該イオン性液体と前述の反応性導電剤を含有したものに、所望により用いられる前記の光重合開始剤、さらには各種添加剤、例えば酸化防止剤、紫外線吸収剤、光安定剤、レベリング剤、消泡剤などを、それぞれ所定の割合で加え、溶解又は分散させることにより、調製することができる。
この際用いる溶媒については、(A)層の説明において示したものから選択できる。
このようにして調製された塗工液の濃度、粘度としては、コーティング可能な濃度、粘度であればよく、特に制限されず、状況に応じて適宜選定することができる。
(A)層上に、この塗工液を、従来公知の方法、例えばバーコート法、ナイフコート法、ロールコート法、ブレードコート法、ダイコート法、グラビアコート法などを用いて、コーティングして塗膜を形成させ、乾燥後、これに活性エネルギー線を照射して該塗膜を硬化させることにより、(B)層が形成される。
活性エネルギー線については、(A)層の説明において示したものから選択できる。
本発明においては、(A)層及び(B)層の形成は、以下に示す方法で行うのが有利である。
まず、基材フィルムの一方の面に(A)層用塗工液をコーティングして塗膜を形成させ、活性エネルギー線を照射してハーフキュア状態に硬化させる。この際、紫外線を照射する場合には、光量は、通常50〜150mJ/cm2程度である。次いで、このようにして形成されたハーフキュア状態の硬化層上に、(B)層用塗工液をコーティングして塗膜を形成させ、活性エネルギー線を十分に照射し、前記ハーフキュア状態の硬化層と共に完全に硬化させる。この際、紫外線を照射する場合、光量は、通常400〜1000mJ/cm2程度である。なお、(A)層及び/又は(B)層を完全に硬化させる際は、酸素による硬化阻害を防ぐために、窒素ガスなどの雰囲気下で、活性エネルギー線を照射することができる。この場合、酸素濃度は低い方がよく、2容量%以下が好ましい。
基材フィルム上に、(A)層をハーフキュア状態で(B)層を塗工し、最終的に(A)層と(B)層を完全硬化させることにより、(A)層と(B)層の密着性を増大させることができる。
このようにして作製された本発明の反射防止フィルムにおいては、少なくとも波長800〜1200nmの全領域における分光透過率が30%以下であることを要す。該分光透過率が30%以下であれば、本発明の反射防止フィルムをPDPの前面板に用いた場合に、該PDPから発生する近赤外線による周辺電子機器(例えば、コードレスホン、近赤外線リモートコントロール装置を使用するビデオデッキなど)の誤作動を抑制することができる。前記分光透過率は、好ましくは20%以下である。
また、波長500〜700nmにおける反射率は、通常3%以下であり、全光線透過率は、通常40%以上、好ましくは50%以上である。また、ヘイズ値は、通常3%未満であり、(A)層に防眩性付与剤を含有させた場合は、3〜30%程度である。
The coating liquid for layer (B) used in the present invention, if necessary, in an appropriate solvent, the active energy ray-curable compound, preferably porous silica particles, the ionic liquid or the above-mentioned ionic liquid. In addition to the ionic liquid and the above-mentioned reactive conductive agent, the above-mentioned photopolymerization initiator used as desired, and various additives such as antioxidants, ultraviolet absorbers, light stabilizers, leveling agents, quenching agents, etc. It can be prepared by adding a foaming agent or the like at a predetermined ratio and dissolving or dispersing them.
About the solvent used in this case, it can select from what was shown in description of (A) layer.
The concentration and viscosity of the coating solution thus prepared are not particularly limited as long as the concentration and viscosity can be coated, and can be appropriately selected depending on the situation.
(A) This coating liquid is coated on the layer using a conventionally known method such as a bar coating method, a knife coating method, a roll coating method, a blade coating method, a die coating method, or a gravure coating method. A film is formed, dried, and then irradiated with active energy rays to cure the coating film, thereby forming the layer (B).
About an active energy ray, it can select from what was shown in description of (A) layer.
In the present invention, the formation of the (A) layer and the (B) layer is advantageously performed by the following method.
First, the coating liquid for (A) layer is formed on one surface of the substrate film to form a coating film, and then irradiated with active energy rays to be cured in a half-cured state. In this case, when irradiating with ultraviolet rays, the amount of light is usually about 50 to 150 mJ / cm 2 . Next, a coating film is formed by coating the coating liquid for layer (B) on the half-cured cured layer formed in this way, and the active energy ray is sufficiently irradiated to form the half-cured state. Completely cured with cured layer. Under the present circumstances, when irradiating an ultraviolet-ray, a light quantity is about 400-1000mJ / cm < 2 > normally. When the (A) layer and / or the (B) layer are completely cured, active energy rays can be irradiated in an atmosphere such as nitrogen gas in order to prevent curing inhibition by oxygen. In this case, the oxygen concentration is preferably low and is preferably 2% by volume or less.
On the base film, the (A) layer is half-cured, the (B) layer is applied, and finally the (A) layer and the (B) layer are completely cured, whereby the (A) layer and the (B ) The adhesion of the layer can be increased.
In the antireflection film of the present invention thus produced, it is necessary that the spectral transmittance in the entire region of at least a wavelength of 800 to 1200 nm is 30% or less. If the spectral transmittance is 30% or less, when the antireflection film of the present invention is used for the front plate of the PDP, peripheral electronic devices using near infrared rays generated from the PDP (for example, cordless phones, near infrared remote control devices) Malfunctions of video decks that use). The spectral transmittance is preferably 20% or less.
The reflectance at a wavelength of 500 to 700 nm is usually 3% or less, and the total light transmittance is usually 40% or more, preferably 50% or more. Further, the haze value is usually less than 3%, and is about 3 to 30% when the antiglare imparting agent is contained in the layer (A).

本発明の反射防止フィルムにおいては、表面抵抗率は、通常5×1013Ω/□以下である。この表面抵抗率が5×1013Ω/□以下であれば、良好な帯電防止性能が発揮される。好ましい表面抵抗率は2×1013Ω/□以下であり、より好ましい表面抵抗率は8×1012Ω/□以下である。表面抵抗率の下限については特に制限はないが、通常2×1010Ω/□程度である。
本発明の反射防止フィルムにおいては、(B)層上に防汚コート層を設けることができる。この防汚コート層は、一般にフッ素系樹脂を含む塗工液を、従来公知の方法、例えばバーコート法、ナイフコート法、ロールコート法、ブレードコート法、ダイコート法、グラビアコート法などを用いて、(B)層上にコーティングし、塗膜を形成させ、乾燥処理することにより、形成することができる。
この防汚コート層の厚さは、通常1〜10nm、好ましくは3〜8nmの範囲である。該防汚コート層を設けることにより、得られる反射防止フィルムは、表面の滑り性が良くなると共に、汚れにくくなる。
このようにして、近赤外線吸収性能と反射防止性能を兼備すると共に、耐擦傷性及び帯電防止性に優れる上、層構成が簡単でコストの低い反射防止フィルムを得ることができる。この反射防止フィルムは、特にPDPの前面板に好適に用いられる。
In the antireflection film of the present invention, the surface resistivity is usually 5 × 10 13 Ω / □ or less. If this surface resistivity is 5 × 10 13 Ω / □ or less, good antistatic performance is exhibited. A preferable surface resistivity is 2 × 10 13 Ω / □ or less, and a more preferable surface resistivity is 8 × 10 12 Ω / □ or less. The lower limit of the surface resistivity is not particularly limited, but is usually about 2 × 10 10 Ω / □.
In the antireflection film of the present invention, an antifouling coating layer can be provided on the (B) layer. This antifouling coating layer is generally obtained by applying a coating solution containing a fluororesin using a conventionally known method such as a bar coating method, a knife coating method, a roll coating method, a blade coating method, a die coating method, or a gravure coating method. (B) It can form by coating on a layer, forming a coating film, and drying-processing.
The thickness of the antifouling coating layer is usually in the range of 1 to 10 nm, preferably 3 to 8 nm. By providing the antifouling coating layer, the resulting antireflection film has improved surface slipperiness and is less likely to become dirty.
In this way, an antireflection film having both near-infrared absorption performance and antireflection performance, excellent scratch resistance and antistatic properties, and a simple layer structure and low cost can be obtained. This antireflection film is particularly suitably used for the front plate of a PDP.

本発明の反射防止フィルムにおいては、基材フィルムのハードコート層とは反対側の面に、前面板における被着体に貼着させるための粘着剤層を形成させることができる。この粘着剤層を構成する粘着剤としては、光学用途用のもの、例えばアクリル系粘着剤、ウレタン系粘着剤、シリコーン系粘着剤が好ましく用いられる。この粘着剤層の厚さは、通常5〜50μmの範囲である。本発明の反射防止フィルムをPDP用反射防止フィルムとして用いる場合には、この粘着剤層には、表示装置の発光色を色調補正するために、染料や顔料を含有させることができる。
さらに、この粘着剤層の上に、剥離フィルムを設けることができる。この剥離フィルムとしては、例えばグラシン紙、コート紙、ラミネート紙などの紙及び各種プラスチックフィルムに、シリコーン樹脂などの剥離剤を塗付したものなどが挙げられる。この剥離フィルムの厚さについては特に制限はないが、通常20〜150μm程度である。
このようにして作製された本発明の反射防止フィルムは、近赤外線吸収性能と反射防止性能を兼備すると共に、耐擦傷性及び帯電防止性に優れる上、層構成が簡単でコストが低いなどの特徴を有している。この反射防止フィルムは、特にPDP用の反射防止フィルムとして、PDPの前面板に好適に用いられる。
In the antireflection film of this invention, the adhesive layer for making it adhere to the to-be-adhered body in a front plate can be formed in the surface on the opposite side to the hard-coat layer of a base film. As an adhesive which comprises this adhesive layer, the thing for optical uses, for example, an acrylic adhesive, a urethane type adhesive, and a silicone type adhesive, are used preferably. The thickness of this pressure-sensitive adhesive layer is usually in the range of 5 to 50 μm. When the antireflection film of the present invention is used as an antireflection film for PDP, this pressure-sensitive adhesive layer can contain a dye or a pigment in order to correct the color tone of the display device.
Furthermore, a release film can be provided on this pressure-sensitive adhesive layer. Examples of the release film include paper such as glassine paper, coated paper, and laminate paper, and various plastic films coated with a release agent such as silicone resin. Although there is no restriction | limiting in particular about the thickness of this peeling film, Usually, it is about 20-150 micrometers.
The antireflection film of the present invention produced in this way has both near-infrared absorption performance and antireflection performance, is excellent in scratch resistance and antistatic properties, and has a simple layer structure and low cost. have. This antireflection film is suitably used for the front plate of PDP, particularly as an antireflection film for PDP.

次に、本発明を実施例により、さらに詳細に説明するが、本発明は、これらの例によってなんら限定されるものではない。
なお、各例で得られた反射防止フィルムの物性は、以下に示す方法に従って測定した。
(1)波長500nm、600nm及び700nmにおける反射率
分光光度計[(株)島津製作所製「UV−3101PC」]により、波長500nm、600nm及び700nmにおける反射率を測定した。
(2)波長800〜1200nmにおける分光透過率
分光光度計[(株)島津製作所製「UV−3101PC」]により、波長800nmから1200nmにおける分光透過率を測定し、波長800nm、850nm、900nm、1000nm、1100nm、及び1200nmの測定値を求めた。
(3)全光線透過率及びヘイズ値
日本電色工業社製ヘイズメーター「NDH 2000」を使用し、JIS K 6714に準拠して測定した。
(4)60°グロス値
日本電色工業社製グロスメーター「VG 2000」を使用し、JIS K 7105に準拠して測定した。
(5)耐擦傷性
スチールウール#0000を使用し、荷重9.8×10-3N/mm2で5往復擦った後に目視観察を行い、下記の判定基準で評価した。
○:傷が付かない。
×:傷が付く。
(6)屈折率
アッベ屈折計[アタゴ社製、品名「アッベ屈折計4T」、Na光源、波長:約590nm]により測定した。
(7)各層の厚さ
松下インターテクノ社製「フィルメトリクスF−20」を用いて測定した。
(8)表面抵抗率
試料を23℃、湿度50%の条件下で24時間調湿後、表面層の表面抵抗率を、三菱化学社製「ハイレスター」にて、印加電圧100Vで測定した。
EXAMPLES Next, although an Example demonstrates this invention further in detail, this invention is not limited at all by these examples.
In addition, the physical property of the antireflection film obtained in each example was measured according to the method shown below.
(1) Reflectance at wavelengths of 500 nm, 600 nm, and 700 nm The reflectance at wavelengths of 500 nm, 600 nm, and 700 nm was measured with a spectrophotometer [manufactured by Shimadzu Corporation “UV-3101PC”].
(2) Spectral transmittance at a wavelength of 800 to 1200 nm Using a spectrophotometer [“UV-3101PC” manufactured by Shimadzu Corporation], the spectral transmittance at a wavelength of 800 nm to 1200 nm was measured, and the wavelengths of 800 nm, 850 nm, 900 nm, 1000 nm, The measured values at 1100 nm and 1200 nm were obtained.
(3) Total light transmittance and haze value A haze meter “NDH 2000” manufactured by Nippon Denshoku Industries Co., Ltd. was used and measured according to JIS K 6714.
(4) 60 ° gloss value A gloss meter “VG 2000” manufactured by Nippon Denshoku Industries Co., Ltd. was used and measured according to JIS K 7105.
(5) Scratch resistance Steel wool # 0000 was used, and after rubbed 5 times with a load of 9.8 × 10 −3 N / mm 2 , visual observation was performed, and evaluation was performed according to the following criteria.
○: Not scratched.
×: Scratched.
(6) Refractive index Measured with an Abbe refractometer [manufactured by Atago Co., Ltd., product name “Abbe refractometer 4T”, Na light source, wavelength: about 590 nm].
(7) Thickness of each layer It measured using "Filmetrics F-20" by Matsushita Intertechno.
(8) Surface resistivity After the sample was conditioned for 24 hours under the conditions of 23 ° C. and 50% humidity, the surface resistivity of the surface layer was measured with “High Lester” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation at an applied voltage of 100V.

実施例1
(1)(A)層用塗工液の調製
活性エネルギー線硬化性化合物としてトリス(アクリロキシエチル)イソシアヌレート[東亜合成化学社製、商品名「アロニックスM−315」、固形分濃度100%]40質量部とペンタエリスリトールトリアクリレート[東亜合成化学社製、商品名「アロニックスM−305」、固形分濃度100%]30質量部とポリエチレングリコールジアクリレート[新中村化学社製、商品名「NKエステルA−400」、固形分濃度100%]30質量部とからなる混合物に、光重合開始剤(2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリノプロパン−1−オン)[チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製、商品名「イルガキュア907」]2質量部を添加し、次いで近赤外線吸収剤[住友金属鉱山(株)製、商品名「YMF−01」、平均粒径23nmのセシウム含有酸化タングステン(モル比でCs:W:O=0.33:1:3)含有量10質量%懸濁液、全固形分濃度14質量%]270質量部と、イオン性液体[広栄化学社製、商品名「IL−A5」(カチオン種:[化1](5)、アニオン種:(CF3SO2)2-)、固形分濃度100質量%]10質量部を混合したのち、全体の固形分濃度が30質量%になるようにメチルイソブチルケトン(MIBK)で希釈して、(A)層用塗工液を調製した。
(2)(B)層用塗工液の調製
多官能アクリレート混合物(ポリウレタンアクリレート)[荒川化学(株)製、商品名「ビームセット577CB」、固形分濃度100%]100質量部に、光重合開始剤[チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製、商品名「イルガキュア907」]5質量部を添加し、次いで多孔性シリカ粒子のメチルイソブチルケトン(MIBK)分散体[触媒化成工業(株)製、商品名「ELCOM RT−1002SIV」、固形分濃度21質量%、多孔性シリカ粒子:比重1.8、屈折率1.30、平均粒径60nm]1200質量部を混合したのち、全体の固形分濃度が2質量%になるようにMIBKで希釈して、(B)層用塗工液を調製した。
(3)反射防止フィルムの作製
基材フィルムとして厚さ100μmの両面易接着処理ポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム[東洋紡績(株)製、商品名「A4300」]表面に、前記(1)で得た(A)層用塗工液を硬化後の厚さが6μmになるように、マイヤーバーNo.16で塗布した。次いで、90℃で1分間乾燥したのち、紫外線を光量100mJ/cm2で照射して、ハーフキュア状態に硬化させた。
次に、このハーフキュアしたコート表面に、前記(2)で得た(B)層用塗工液を硬化後の厚さが100nmになるようにマイヤーバーNo.4で塗布した。次いで、80℃で1分間乾燥したのち、窒素ガス雰囲気下(酸素濃度0.5容量%)で紫外線を光量500mJ/cm2で照射して、完全硬化させ、PETフィルム上に、屈折率1.54の近赤外線吸収性ハードコート層及び屈折率1.38の低屈折率層を順次形成させることにより、反射防止フィルムを作製した。
このようにして作製された反射防止フィルムの物性を第1表に示す。この反射防止フィルムの波長800〜1200nmの全領域における分光透過率は30%以下であった。
実施例2
実施例1(2)における(B)層用塗工液の調製において、実施例1と同じイオン性液体10質量部を添加した以外は、実施例1と同様にして(B)層用塗工液を調製し、さらに反射防止フィルムを作製した。すなわち、本実施例では、(A)層と(B)層の両方にイオン性液体を添加した。この反射防止フィルムの物性を第1表に示す。
実施例3
実施例1(1)における(A)層用塗工液の調製において、シリカゲル[東ソー・シリカ社製、商品名「ニップシールE−200」、平均粒径3μm]5質量部を加えた以外は、実施例1と同様にして(A)層用塗工液を調製し、さらに反射防止フィルムを作製した。この反射防止フィルムの物性を第1表に示す。
実施例4
実施例1(1)における(A)層用塗工液の調製において、イオン性液体を、[広栄化学社製、商品名「IL−C3」(カチオン種:[化1](2)、アニオン種:(CF3SO2)2-)]に変更した以外は、実施例1と同様にして(A)層用塗工液を調製し、さらに反射防止フィルムを作製した。この反射防止フィルムの物性を第1表に示す。
実施例5
実施例1(1)における(A)層用塗工液の調製を、下記のように変更した以外は、実施例1と同様にして反射防止フィルムを作製した。この反射防止フィルムの物性を第1表に示す。
<(A)層用塗工液の調製>
活性エネルギー線硬化性化合物としてトリス(アクリロキシエチル)イソシアヌレート[東亜合成化学社製、商品名「アロニックスM−315」、固形分濃度100%]40質量部とペンタエリスリトールトリアクリレート[東亜合成化学社製、商品名「アロニックスM−305」、固形分濃度100%]30質量部とポリエチレングリコールジアクリレート[新中村化学社製、商品名「NKエステルA−400」、固形分濃度100%]30質量部とからなる混合物に、光重合開始剤[チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製、商品名「イルガキュア907」]2質量部を添加し、次いで近赤外線吸収剤[住友金属鉱山(株)製、商品名「YMF−04」、平均粒径23nmのセシウム含有酸化タングステン(モル比でCs:W:O=0.33:1:3)含有量17.5質量%懸濁液、全固形分濃度28質量%]160質量部とイオン性液体[広栄化学社製、商品名「IL−A5」、固形分濃度100質量%]10質量部混合し、さらに反応性導電剤としてアクリロキシエチルトリメチルアンモニウムクロライド水溶液[興人社製、商品名「DMAEA−Q」、固形分濃度79質量%]12質量部を加えたのち、全体の固形分濃度が30質量%になるようにMIBKで希釈して、(A)層用塗工液を調製した。
比較例1
実施例1(1)の(A)層用塗工液の調製において、イオン性液体を添加しなかったこと以外は、実施例1と同様にして(A)層用塗工液を調製し、さらに反射防止フィルムを作製した。この反射防止フィルムの物性を第1表に示す。
Example 1
(1) Preparation of coating liquid for (A) layer Tris (acryloxyethyl) isocyanurate [trade name “Aronix M-315” manufactured by Toagosei Co., Ltd., solid concentration 100%] as an active energy ray-curable compound 40 parts by mass and pentaerythritol triacrylate [manufactured by Toagosei Chemical Co., Ltd., trade name “Aronix M-305”, solid concentration 100%] and polyethylene glycol diacrylate [manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., trade name “NK ester” A photopolymerization initiator (2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholinopropan-1-one) was added to a mixture consisting of 30 parts by mass of “A-400”, solid content concentration 100%]. [Product name “Irgacure 907” manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd.] 2 parts by mass were added, and then a near infrared absorber [Sumitomo Metal Mining ( ), Trade name “YMF-01”, cesium-containing tungsten oxide having an average particle diameter of 23 nm (molar ratio Cs: W: O = 0.33: 1: 3) content 10 mass% suspension, total solid content Concentration 14% by mass] 270 parts by mass and ionic liquid [manufactured by Guangei Chemical Co., Ltd., trade name “IL-A5” (cation species: [Chemical Formula 1] (5), anion species: (CF 3 SO 2 ) 2 N ), Solid content concentration of 100% by mass] After mixing 10 parts by mass, dilute with methyl isobutyl ketone (MIBK) so that the total solid content concentration becomes 30% by mass. Prepared.
(2) Preparation of (B) layer coating liquid Multifunctional acrylate mixture (polyurethane acrylate) [Arakawa Chemical Co., Ltd., trade name “Beamset 577CB”, solid content concentration 100%] 5 parts by mass of an initiator [trade name “Irgacure 907” manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd.] was added, and then a methyl isobutyl ketone (MIBK) dispersion of porous silica particles [manufactured by Catalyst Kasei Kogyo Co., Ltd., trade name] “ELCOM RT-1002SIV”, solid content concentration 21% by mass, porous silica particles: specific gravity 1.8, refractive index 1.30, average particle size 60 nm] After mixing 1200 parts by mass, the total solid content concentration is 2 It diluted with MIBK so that it might become a mass%, and prepared the coating liquid for (B) layers.
(3) Production of antireflection film Obtained on (1) above on the surface of a 100 μm thick double-sided easy-adhesion-treated polyethylene terephthalate (PET) film [trade name “A4300” manufactured by Toyobo Co., Ltd.] as a base film. (A) The Meyer bar No. was adjusted so that the thickness of the coating solution for layer after curing was 6 μm. 16 was applied. Next, after drying at 90 ° C. for 1 minute, ultraviolet rays were irradiated at a light amount of 100 mJ / cm 2 to be cured in a half-cured state.
Next, on the half-cured coat surface, the Meyer bar No. 1 was applied so that the thickness after curing of the coating solution for layer (B) obtained in (2) was 100 nm. 4 was applied. Next, after drying at 80 ° C. for 1 minute, ultraviolet rays were irradiated at a light amount of 500 mJ / cm 2 in a nitrogen gas atmosphere (oxygen concentration 0.5% by volume) to completely cure, and a refractive index of 1. An antireflection film was prepared by sequentially forming a 54 near-infrared absorbing hard coat layer and a low refractive index layer having a refractive index of 1.38.
Table 1 shows the physical properties of the antireflection film thus prepared. The spectral transmittance of this antireflection film in the entire range of wavelengths from 800 to 1200 nm was 30% or less.
Example 2
In the preparation of the coating liquid for (B) layer in Example 1 (2), the coating for (B) layer was performed in the same manner as in Example 1 except that 10 parts by mass of the same ionic liquid as in Example 1 was added. A liquid was prepared, and an antireflection film was further produced. That is, in this example, the ionic liquid was added to both the (A) layer and the (B) layer. Table 1 shows the physical properties of this antireflection film.
Example 3
In the preparation of the coating solution for the layer (A) in Example 1 (1), except that 5 parts by mass of silica gel [manufactured by Tosoh Silica Co., Ltd., trade name “Nip Seal E-200”, average particle size 3 μm] was added, A coating solution for layer (A) was prepared in the same manner as in Example 1, and an antireflection film was produced. Table 1 shows the physical properties of this antireflection film.
Example 4
In the preparation of the coating solution for the layer (A) in Example 1 (1), the ionic liquid was changed to a product name “IL-C3” (cation type: [Chemical Formula 1] (2), anion manufactured by Guangei Chemical Co., Ltd.] Except for changing to Species: (CF 3 SO 2 ) 2 N )], a coating solution for layer (A) was prepared in the same manner as in Example 1, and an antireflection film was further produced. Table 1 shows the physical properties of this antireflection film.
Example 5
An antireflection film was produced in the same manner as in Example 1 except that the preparation of the coating solution for layer (A) in Example 1 (1) was changed as follows. Table 1 shows the physical properties of this antireflection film.
<(A) Preparation of coating liquid for layer>
40 parts by mass of tris (acryloxyethyl) isocyanurate [trade name “Aronix M-315”, solid content concentration 100%] manufactured by Toagosei Co., Ltd.) and pentaerythritol triacrylate [Toagosei Co., Ltd.] Product name “Aronix M-305”, solid content concentration 100%] 30 parts by mass and polyethylene glycol diacrylate [manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., product name “NK Ester A-400”, solid content concentration 100%] 30 mass 2 parts by weight of a photopolymerization initiator [manufactured by Ciba Specialty Chemicals, trade name “Irgacure 907”] is added to the mixture consisting of parts, and then a near infrared absorber [manufactured by Sumitomo Metal Mining Co., Ltd., trade name] “YMF-04”, cesium-containing tungsten oxide having an average particle diameter of 23 nm (Cs: W: O = 0.33 by molar ratio: : 3) Content 17.5% by mass suspension, total solid concentration 28% by mass] 160 parts by mass and ionic liquid [manufactured by Guangei Chemical Co., Ltd., trade name “IL-A5”, solid content concentration 100% by mass] After mixing 10 parts by mass and further adding 12 parts by mass of an aqueous acryloxyethyltrimethylammonium chloride solution (trade name “DMAEA-Q”, solid concentration 79% by mass, manufactured by Kojin Co., Ltd.) as a reactive conductive agent, It diluted with MIBK so that solid content concentration might be 30 mass%, and the coating liquid for (A) layers was prepared.
Comparative Example 1
In the preparation of the coating liquid for (A) layer in Example 1 (1), except that the ionic liquid was not added, the coating liquid for (A) layer was prepared in the same manner as in Example 1, Further, an antireflection film was produced. Table 1 shows the physical properties of this antireflection film.

Figure 0005154772
Figure 0005154772

第1表から、本発明の反射防止フィルム(実施例1〜5)は、いずれも反射防止性に優れると共に、近赤外線吸収性に優れ、耐擦傷性にも優れており、かつ表面抵抗率が低く、優れた帯電防止性を有している。また、実施例3は、ハードコート層に防眩性付与剤を含有させているので、60°グロス値が80となっている。
これに対し、比較例1は、ハードコート層及び低屈折率層のいずれにも、イオン性液体及び反応性導電剤が共に含有されていないため、表面抵抗率が高く、帯電防止性が悪い。
From Table 1, the antireflection films of the present invention (Examples 1 to 5) all have excellent antireflection properties, excellent near infrared absorptivity, excellent scratch resistance, and surface resistivity. Low and has excellent antistatic properties. In Example 3, since the hard coat layer contains an antiglare property-imparting agent, the 60 ° gloss value is 80.
On the other hand, in Comparative Example 1, since neither the ionic liquid nor the reactive conductive agent is contained in either the hard coat layer or the low refractive index layer, the surface resistivity is high and the antistatic property is poor.

本発明の反射防止フィルムは、近赤外線吸収性能と反射防止性能を有し、かつ耐擦傷性及び帯電防止性に優れる上、層構成が簡単でコストが低く、特にPDP用として好適である。   The antireflection film of the present invention has near-infrared absorption performance and antireflection performance, is excellent in scratch resistance and antistatic properties, has a simple layer structure and is low in cost, and is particularly suitable for PDP use.

Claims (12)

基材フィルムの一方の面に、(A)弗素又は珪素を含有しない多官能アクリレートと近赤外線吸収剤を含む厚さ2〜20μmのハードコート層、及び(B)多孔性シリカ6075質量%を含有し、かつ、弗素又は珪素を含有しない多官能アクリレートを含む、屈折率が1.43以下の厚さ50〜200nmの低屈折率層が順次積層されてなる反射防止フィルムであって、
前記の(A)層及び/又は(B)層が、一般式(1)
(Za+・(Ab− ・・・(1)
[式中、Za+はカチオン、Ab−はアニオンを示し、a、b、m及びnは、それぞれ1〜3の整数であり、a×m=b×nの関係を満たす。Za+が複数ある場合、複数のZa+は同一でも異なっていてもよく、Ab−が複数ある場合、複数のAb−は同一でも異なっていてもよい。]
で表される室温で液状を呈する溶融塩であるイオン性液体を含み、かつ少なくとも波長800〜1200nmの全領域における分光透過率が20%以下であることを特徴とする反射防止フィルム。
On one surface of the base film, (A) a hard coat layer having a thickness of 2 to 20 μm containing a polyfunctional acrylate not containing fluorine or silicon and a near infrared absorber, and (B) porous silica 60 to 75 % by mass A low-refractive index layer having a refractive index of 1.43 or less and a thickness of 50 to 200 nm, which contains a polyfunctional acrylate containing no fluorine or silicon .
The layer (A) and / or the layer (B) is represented by the general formula (1)
(Z a + ) m · (A b− ) n (1)
[In the formula, Z a + represents a cation, A b− represents an anion, a, b, m and n are each an integer of 1 to 3, and satisfy the relationship of a × m = b × n. If Z a + there are multiple, + the plurality of Z a may be the same or different, if the A b-there are multiple, b-multiple A may be the same or different. ]
An antireflective film comprising an ionic liquid that is a molten salt that exhibits a liquid state at room temperature and having a spectral transmittance of 20% or less in the entire region at a wavelength of 800 to 1200 nm.
表面抵抗率が5×1013Ω/□以下である請求項1に記載の反射防止フィルム。 The antireflection film according to claim 1, wherein the surface resistivity is 5 × 10 13 Ω / □ or less. 一般式(1)におけるZa+が、一般式(2)、(3)、(4)又は(5)
Figure 0005154772
[式(2)中のRは、炭素数4〜20の炭化水素基を表し、ヘテロ原子を含んでも良く、RおよびRは、それぞれ独立に水素原子または炭素数1〜16の炭化水素基を表し、ヘテロ原子を含んでも良い。但し、窒素原子が2重結合を含む場合、Rはない。
式(3)中のRは、炭素数2〜20の炭化水素基を表し、ヘテロ原子を含んでも良く、R、R、およびRは、それぞれ独立に水素原子または炭素数1〜16の炭化水素基を表し、ヘテロ原子を含んでも良い。
式(4)中のRは、炭素数2〜20の炭化水素基を表し、ヘテロ原子を含んでも良く、R、R10、およびR11は、それぞれ独立に水素原子または炭素数1〜16の炭化水素基を表し、ヘテロ原子を含んでも良い。
式(5)中のEは、窒素、硫黄、又はリン原子を表し、R12、R13、R14、およびR15は、それぞれ独立に炭素数1〜20の炭化水素基を表し、ヘテロ原子を含んでも良い。但しEが硫黄原子の場合、R15はない。]
で表されるカチオンである請求項1又は2に記載の反射防止フィルム。
Z a + in the general formula (1) is the general formula (2), (3), (4) or (5).
Figure 0005154772
[R 1 in Formula (2) represents a hydrocarbon group having 4 to 20 carbon atoms and may contain a hetero atom, and R 2 and R 3 are each independently a hydrogen atom or a carbon atom having 1 to 16 carbon atoms. Represents a hydrogen group and may contain a heteroatom. However, when the nitrogen atom contains a double bond, there is no R 3 .
R 4 in the formula (3) represents a hydrocarbon group having 2 to 20 carbon atoms and may contain a hetero atom, and R 5 , R 6 , and R 7 are each independently a hydrogen atom or 1 to Represents 16 hydrocarbon groups and may contain heteroatoms.
R 8 in the formula (4) represents a hydrocarbon group having 2 to 20 carbon atoms, and may include a hetero atom. R 9 , R 10 , and R 11 are each independently a hydrogen atom or a carbon number 1 to 1 Represents 16 hydrocarbon groups and may contain heteroatoms.
E in Formula (5) represents a nitrogen, sulfur, or phosphorus atom, R 12 , R 13 , R 14 , and R 15 each independently represent a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, and a hetero atom May be included. However, if E is a sulfur atom, R 15 is not. ]
The antireflection film according to claim 1, which is a cation represented by the formula:
一般式(1)におけるAb−が、(CFSOである請求項1〜3のいずれかに記載の反射防止フィルム。 Formula A b-is in (1), (CF 3 SO 2) 2 N - antireflection film according to any of claims 1 to 3. (A)層及び/又は(B)層が、さらにイオン性液体と共に、反応性導電剤を含む請求項1〜4のいずれかに記載の反射防止フィルム。  The antireflection film according to claim 1, wherein the (A) layer and / or the (B) layer further contains a reactive conductive agent together with the ionic liquid. 反応性導電剤が、分子内に、一般式(6)
Figure 0005154772
[式中、R16及びR17は、それぞれ同一又は異なる炭素数1〜10のアルキル基、R18は炭素数1〜10のアルキル基又は炭素数7〜10のアラルキル基、R19はラジカル重合性を有する官能基、Xp−はp価の陰イオン、pは1〜4の整数を示す。]
で表される四級アンモニウム塩を有するラジカル重合性化合物である請求項5に記載の反射防止フィルム。
The reactive conductive agent has a general formula (6) in the molecule.
Figure 0005154772
[Wherein R 16 and R 17 are the same or different alkyl groups having 1 to 10 carbon atoms, R 18 is an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms or an aralkyl group having 7 to 10 carbon atoms, and R 19 is radical polymerization. Functional group, X p- represents a p-valent anion, and p represents an integer of 1 to 4. ]
The antireflection film according to claim 5, which is a radically polymerizable compound having a quaternary ammonium salt represented by the formula:
(A)層が、さらに有機及び/又は無機フィラーを含み、防眩機能が付与されてなる請求項1〜6のいずれかに記載の反射防止フィルム。  The antireflection film according to claim 1, wherein the layer (A) further contains an organic and / or inorganic filler and has an antiglare function. (A)層に含まれる近赤外線吸収剤が、酸化タングステン系化合物である請求項1〜7のいずれかに記載の反射防止フィルム。  The near-infrared absorber contained in (A) layer is a tungsten oxide type compound, The antireflection film in any one of Claims 1-7. 酸化タングステン系化合物が、セシウム含有酸化タングステンである請求項8に記載の反射防止フィルム。  The antireflection film according to claim 8, wherein the tungsten oxide compound is cesium-containing tungsten oxide. (A)層中の酸化タングステン系化合物の含有量が5〜50質量%である請求項8又は9に記載の反射防止フィルム。  The antireflection film according to claim 8 or 9, wherein the content of the tungsten oxide compound in the layer (A) is 5 to 50% by mass. 基材フィルムの他方の面に、厚さ5〜50μmの粘着剤層を有する請求項1〜10のいずれかに記載の反射防止フィルム。  The antireflection film according to any one of claims 1 to 10, which has a pressure-sensitive adhesive layer having a thickness of 5 to 50 µm on the other surface of the base film. プラズマディスプレイ用である請求項1〜11のいずれかに記載の反射防止フィルム。  It is an object for plasma displays, The antireflection film in any one of Claims 1-11.
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