JP5098452B2 - Manufacturing method of semiconductor device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、樹脂封止された半導体装置の底面側にめっき層で形成された端子部を有する半導体装置の製造方法に関する。 The present invention relates to a method for manufacturing a semiconductor device having a terminal portion formed of a plating layer on the bottom side of a resin-sealed semiconductor device.
半導体装置の中には、半導体素子を樹脂封止し、その封止体(パッケージ)の底面に金属皮膜で端子部を形成するようにしたものがあるが、この種の半導体装置を製造するに際しては、最初に、金属板の片面に、いずれは個々の半導体装置用の端子部やパッド部などになるめっき層を複数個分形成した半導体装置製造用基板を製作しておき、そこに複数の半導体素子を搭載して上記の端子部にボンディングワイヤで接続した後、成形加工によって複数の半導体素子を樹脂封止し、その後、金属板だけを取り除いた樹脂封止体を切断して、個々の半導体装置を得るようにする方法が知られている。 Some semiconductor devices are made by sealing a semiconductor element with a resin, and forming a terminal portion with a metal film on the bottom surface of the sealing body (package). First, a substrate for manufacturing a semiconductor device in which a plurality of plating layers to be terminal portions or pad portions for individual semiconductor devices are formed on one side of a metal plate is manufactured, and a plurality of substrates are formed there. After mounting the semiconductor element and connecting it to the terminal portion with a bonding wire, a plurality of semiconductor elements are resin-sealed by molding, and then the resin sealing body from which only the metal plate has been removed is cut, A method for obtaining a semiconductor device is known.
また、そのような半導体装置製造用基板の金属板には、従来から銅合金の金属板を採用することが知られているが、その場合には、樹脂封止体から金属板を取り除くときに、金属板をエッチングによって溶解させてしまうようにしていた。また、下記の特許文献1には、半導体装置製造用基板の金属板として、ステンレス鋼の金属板を採用することが記載されている。そして、この場合には、金属板を取り除くとき、密着している樹脂封止体から金属板を剥離することになる。
In addition, it is known that a copper alloy metal plate is conventionally used as the metal plate of such a substrate for manufacturing a semiconductor device. In that case, when removing the metal plate from the resin sealing body, The metal plate was dissolved by etching.
半導体装置製造用基板のベースとなる金属板に銅合金を採用した場合には、金属板を除去するとき、上記のようにエッチング加工で溶解させていた。しかしながら、そのようなエッチング工程は、時間がかかるばかりでなく設備を必要とするため、コスト高になって生産上好ましくないという問題点がある。それに対して、金属板にステンレス鋼を採用した場合には、剥離するだけなので時間が短くて済む代わりに、樹脂封止体が金属板に密着しているので剥離作業が面倒になるなどの問題点がある。そして、ステンレス鋼に限らず、金属板と樹脂封止体とを剥離する場合には、剥離工程で金属板に反りが生じてしまい、再利用が難しく、生産性に難があるという問題点もある。 In the case where a copper alloy is used for the metal plate serving as the base of the semiconductor device manufacturing substrate, when the metal plate is removed, it is dissolved by etching as described above. However, such an etching process is not only time consuming but also requires equipment, which increases costs and is undesirable in production. On the other hand, when stainless steel is used for the metal plate, it takes only a short time because it peels off. Instead, the resin sealing body is in close contact with the metal plate, making the peeling work cumbersome. There is a point. And when peeling a metal plate and a resin sealing body as well as stainless steel, the metal plate is warped in the peeling process, it is difficult to reuse, and the productivity is also difficult. is there.
本発明は、このような問題点を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、半導体装置製造用基板上に複数の半導体素子を樹脂封止した後、複数の半導体素子を封止した樹脂封止体と、半導体装置製造用基板の金属板とを、簡単に剥離できるようにした半導体装置の製造方法を提供することである。また、複数個の半導体装置用の端子部になるめっき層を夫々金属板の両面に形成することによって、1枚の金属板で従来よりも2倍の半導体装置の製造を可能にした、生産性の向上に資する半導体装置製造用基板を提供することである。 The present invention has been made to solve such problems, and the object of the present invention is to seal a plurality of semiconductor elements on a substrate for manufacturing a semiconductor device, and then to seal the plurality of semiconductor elements. It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing a semiconductor device in which the sealed resin sealing body and the metal plate of the substrate for manufacturing a semiconductor device can be easily peeled off. In addition, by forming plating layers that serve as terminal portions for a plurality of semiconductor devices on both surfaces of the metal plate, it is possible to manufacture a semiconductor device twice as much as before with a single metal plate. It is providing the board | substrate for semiconductor device manufacture which contributes to improvement of this.
上記の目的を達成するために、本発明の半導体装置の製造方法は、金属板の表面に複数個の半導体装置用の端子部などをめっき層として形成した半導体装置製造用基板に複数の半導体素子を搭載して該半導体素子と前記端子部とをボンディングワイヤで接続した後、周辺部の少なくとも一部が前記半導体装置製造用基板との間に空間部を有するようにして前記複数の半導体素子を封止するための樹脂封止体を成形し、その後、前記空間部に指又は治具を挿入して、前記半導体素子を封止した状態の前記樹脂封止体を前記金属板から剥離して切断し、個々の半導体装置を得るようにする。 In order to achieve the above object, a semiconductor device manufacturing method of the present invention includes a plurality of semiconductor elements on a semiconductor device manufacturing substrate in which a plurality of terminal portions for a semiconductor device and the like are formed as plating layers on the surface of a metal plate. And connecting the semiconductor element and the terminal part with a bonding wire, and then forming the plurality of semiconductor elements such that at least a part of the peripheral part has a space between the semiconductor device manufacturing substrate. Molding a resin sealing body for sealing, and then inserting a finger or a jig into the space, and peeling the resin sealing body in a state of sealing the semiconductor element from the metal plate Cut to obtain individual semiconductor devices.
また、上記の目的を達成するために、本発明のもう一つの半導体装置の製造方法は、金属板の両面に、各々、複数個の半導体装置用の端子部などをめっき層として形成した半導体装置製造用基板に、片面ごとに複数の半導体素子を搭載して該半導体素子と前記端子部とをボンディングワイヤで接続した後、周辺部の少なくとも一部が前記半導体装置製造用基板との間に空間部を有するようにして前記複数個の半導体素子を封止するための樹脂封止体を前記金属板の両面に成形し、その後、各々の前記空間部に指又は治具を挿入して、前記半導体素子を封止した状態の前記樹脂封止体を前記金属板から剥離して切断し、個々の半導体装置を得るようにする。 In order to achieve the above object, another method of manufacturing a semiconductor device according to the present invention is a semiconductor device in which a plurality of terminal portions for a semiconductor device are formed as plating layers on both surfaces of a metal plate. After mounting a plurality of semiconductor elements on one side on a manufacturing substrate and connecting the semiconductor elements and the terminal portion with bonding wires, at least a part of the peripheral portion is a space between the semiconductor device manufacturing substrate. Forming a resin sealing body for sealing the plurality of semiconductor elements so as to have a portion on both surfaces of the metal plate, and then inserting a finger or a jig into each space portion, The resin sealing body with the semiconductor element sealed is peeled off from the metal plate and cut to obtain individual semiconductor devices.
そして、それらの製造方法においては、前記半導体装置製造用基板は、個々の半導体装置用の前記めっき層を、一つの面上の複数の領域に分けて各々マトリックス状に形成しており、前記樹脂封止体は、それらの領域ごとに成形されるようにしてもよい。 And in those manufacturing methods, the said board | substrate for semiconductor device manufacture forms the said plating layer for each semiconductor device in the matrix form, dividing into the several area | region on one surface, respectively. You may make it a sealing body shape | mold for every those area | regions.
本発明の製造方法によれば、半導体装置製造用基板上に複数の半導体素子を樹脂封止する過程において、半導体装置製造用基板の金属板と樹脂封止体との間に空間部が形成されるようにしたので、複数の半導体素子を樹脂封止している樹脂封止体と、半導体装置製造用基板の金属板とを剥離するときには、その空間部に指や適宜な道具などを挿入して、両者を簡単に剥離することが可能になる。また、半導体装置用の端子部などになるめっき層を金属板の両面に形成した半導体装置製造用基板を実現することによって、1枚の半導体装置製造用基板で従来よりも2倍の半導体装置の製造が可能になる。 According to the manufacturing method of the present invention, in the process of resin-sealing a plurality of semiconductor elements on a semiconductor device manufacturing substrate, a space is formed between the metal plate of the semiconductor device manufacturing substrate and the resin sealing body. As a result, when peeling the resin-sealed body that is resin-sealed with a plurality of semiconductor elements and the metal plate of the semiconductor device manufacturing substrate, insert a finger or an appropriate tool into the space. Thus, both can be easily peeled off. In addition, by realizing a semiconductor device manufacturing substrate in which plating layers to be terminal portions for a semiconductor device are formed on both surfaces of a metal plate, a single semiconductor device manufacturing substrate can double the number of semiconductor devices. Manufacturing becomes possible.
本発明の製造方法の実施に際しては、最初に、半導体装置製造用基板を製作する必要がある。その場合の一例としては、厚さが0.1〜0.3mm程度のステンレス鋼の金属板を用意し、その表面に、複数個分の半導体装置用の端子部やパッド部をめっき層で形成する予定のエリアを残し、レジストでマスクを形成する。そして、マスクが形成された金属板に前処理を行ってめっき層を形成し、その後、マスクとしたレジストを除去し、後処理を行うことによって、金属板に端子部やパッド部をめっき層として形成した半導体装置製造用基板が得られる。尚、このようなめっき層は、従来のように、金属板の片面にだけ形成してもよいが、両面に形成した方が生産性が飛躍的に向上する。 In carrying out the manufacturing method of the present invention, it is first necessary to manufacture a semiconductor device manufacturing substrate. As an example, a stainless steel metal plate having a thickness of about 0.1 to 0.3 mm is prepared, and a plurality of terminal portions and pad portions for a semiconductor device are formed on the surface with a plating layer. A mask is formed with a resist leaving an area to be processed. Then, the metal plate on which the mask is formed is pre-processed to form a plating layer, and then the resist used as the mask is removed and post-processing is performed to form the terminal portion and the pad portion on the metal plate as the plating layer. The formed semiconductor device manufacturing substrate is obtained. In addition, although such a plating layer may be formed only on one side of the metal plate as in the prior art, productivity is dramatically improved by forming it on both sides.
次に、このようにして製作された半導体装置製造用基板のパッド部に複数の半導体素子を搭載し、端子部との間にワイヤボンディング等を行う組み付け工程を行ってから、樹脂封止を行う。このとき樹脂封止体の周辺部の一部には、金属板との間に空間部が形成されるようにするが、その空間部は樹脂封止用の金型形状によって形成される。また、半導体装置製造用基板が、めっき層を両面に形成したものである場合には、上記のような組み付け工程は両面にわたって行われ、樹脂封止体は両面側に同時に成形される。そのようにして樹脂封止体が成形された後は、その空間部に治具を挿入して引っ掛け、樹脂封止体を金属板から引き剥がすことによって、めっき層(端子部,パッド部)を一体化し複数の半導体素子を封止した樹脂封止体を得る。そして、その樹脂封止体をダイシングソーで切断することによって、個々の半導体装置が得られる。 Next, a plurality of semiconductor elements are mounted on the pad portion of the semiconductor device manufacturing substrate manufactured as described above, and an assembly process of performing wire bonding or the like between the terminal portion and the resin sealing is performed. . At this time, a space is formed between a part of the periphery of the resin sealing body and the metal plate, and the space is formed by a mold shape for resin sealing. Further, when the substrate for manufacturing a semiconductor device has a plated layer formed on both sides, the above assembling process is performed on both sides, and the resin sealing body is simultaneously formed on both sides. After the resin sealing body is molded in this manner, a plating layer (terminal portion, pad portion) is removed by inserting and hooking a jig into the space and peeling the resin sealing body from the metal plate. A resin sealing body in which a plurality of semiconductor elements are integrated and sealed is obtained. Each resin device is obtained by cutting the resin sealing body with a dicing saw.
そこで、以下においては、金属板の両面にめっき層を形成した半導体装置製造用基板の製造方法と、その半導体装置製造用基板を用いた半導体装置の製造方法についての実施例を、図面を用いて具体的に説明する。尚、図1は、実施例における半導体装置製造用基板を示した平面図であり、図2は、半導体装置製造用基板の両面に樹脂封止体が成形された状態を示す部分断面図であり、図3は、樹脂封止体と金属板が剥離されるときの状態を示した部分断面図である。 Therefore, in the following, an example of a manufacturing method of a semiconductor device manufacturing substrate in which plating layers are formed on both surfaces of a metal plate and a manufacturing method of a semiconductor device using the semiconductor device manufacturing substrate will be described with reference to the drawings. This will be specifically described. FIG. 1 is a plan view showing a semiconductor device manufacturing substrate in the embodiment, and FIG. 2 is a partial cross-sectional view showing a state where a resin sealing body is molded on both surfaces of the semiconductor device manufacturing substrate. FIG. 3 is a partial cross-sectional view showing a state when the resin sealing body and the metal plate are peeled off.
先ず、本実施例の金属板1の原材料としては、ステンレス鋼(SUS430)であって、板厚が0.2mmであり、幅が100mmの長尺の板材が用いられた。そして、このようなステンレス鋼の表面の脱脂及び酸洗浄を行った後、両面に、厚み0.025mmの感光性ドライフィルムレジストをラミネートロールで貼り付けた。次に、あとでめっき層を形成するエリア部分を黒くし、それ以外を透明にしたガラスマスクをドライフィルムレジストの上から被せ、さらにその上から紫外光を照射して露光を行い、ステンレス鋼両面のドライフィルムレジストにマスクパターンを作製した。次に、炭酸ナトリウム溶液を用いて現像処理を行い、紫外光の照射が遮られて感光しなかった未硬化のドライフィルムレジストを溶かすことによって、めっき層形成用の材料を得た。
First, as a raw material of the
次に、めっき層を形成するための前処理として、アルカリ浸漬したあと3mol/Lの塩酸で電解処理しステンレス鋼の両面を十分に活性化させた。その後、すぐ金めっきを1μm施し、その上にニッケルめっきを10μm施し、さらにその上に金めっきを3μm施した。そして、最後に水酸化ナトリウム溶液でドライフィルムレジストを剥離し、水洗と乾燥を行った後、長尺材料の長さを約200mmになるように切断することによって、図1に示されているような、両面に全く同じパターンのめっき層を有する半導体装置用基板を得た。 Next, as a pretreatment for forming the plating layer, both surfaces of the stainless steel were sufficiently activated by electrolytic treatment with 3 mol / L hydrochloric acid after immersion in alkali. Thereafter, 1 μm of gold plating was immediately applied, 10 μm of nickel plating was applied thereon, and 3 μm of gold plating was further applied thereon. Finally, after removing the dry film resist with a sodium hydroxide solution, washing with water and drying, the length of the long material is cut to about 200 mm, as shown in FIG. In addition, a semiconductor device substrate having a plating layer with exactly the same pattern on both surfaces was obtained.
図1は、半導体装置用基板の一方の面を示したものであって、本実施例の場合には、中央に3mm角のパッド部2となるめっき層の周囲に0.3mm角の端子部3となるめっき層を28個(小さくて個々に図示できないため、7個分ずつを実線で示してある)配置したものが、金属板1の長さ方向の二つの領域に分けられて、幅方向の中央50mm内に、40セット分ずつマトリックス状に形成されている。尚、本実施例のめっき層は、上記のように形成されるが、金属板1の表面側から順に、金,ニッケル,銀のめっき層に形成してもよいし、金,パラジウム,ニッケルパラジウム,金のめっき層に形成しても構わない。そして、いずれにしても、めっき層の厚さは、10〜100μmにすることが好ましい。
FIG. 1 shows one surface of a substrate for a semiconductor device. In the case of this embodiment, a 0.3 mm square terminal portion is formed around a plating layer that becomes a 3 mm
次に、このようにして製作された半導体装置用基板の各パッド部2に、半導体素子4を搭載し、端子部3との間をボンディングワイヤ5で接続したが、このような複数の半導体素子4の組み付け工程は片面ずつ行った。その後、一つの金型によって、金属板1の表裏に、平面形状が長方形をしている樹脂封止体6を同時に成形加工した。図2は、その成形加工後の一部を断面で示したものであるが、本実施例の場合には、図1に示しためっき層の形成状態からも分かるように、半導体素子4の80個分のめっき層を40個ずつ二つの領域に分けて形成しているので、このような樹脂封止体6を、表裏で四つ形成した。そして、各々の樹脂封止体6には、図2に示されているように、その周辺部の一部にフランジ部6aを形成し、そのフランジ部6aと金属板1との間に空間部が形成されるようにした。
Next, the
尚、本実施例の場合には、片面ごとに、80個分のめっき層を二つの領域に分けて形成しているが、二つの領域の間にめっき層を形成するようにしても差し支えなく、そのようにした場合には、樹脂封止体6は片面あたり一つとなる。そして、その場合には、金型によって、フランジ部6aを、樹脂封止体6の全周にわたって形成することも考えられる。また、本実施例のように、複数のめっき層を二つの領域に分けて形成するのではなく、金属板1の長さや、半導体素子4の大きさ・数量などに応じて、三つ以上の領域に形成することも考えられる。
In the case of this embodiment, 80 plating layers are formed in two regions for each side, but a plating layer may be formed between the two regions. In such a case, the
このようにして、図2に示された状態が得られた後、金属板1とフランジ部6aとの間の空間部に治具を挿入してフランジ部6aに引っ掛け、樹脂封止体6を金属板1から引き剥がした。それによって、各めっき層も、半導体素子4を封止した樹脂封止体6と共に金属板1から剥離されたが、本実施例は、金属板1にステンレス鋼を用いているため、めっき層との密着性が弱く、容易に剥離することができた。図3は、そのようにして、金属板1の両面で二つの樹脂封止体6が同時に引き剥がされるときを示したものである。その後、引き剥がされた樹脂封止体6をダイシングソーで切断することによって、個々の半導体装置を得た。そして、端子部のめっき面のはんだ濡れ性を溶融はんだで確認したところ、金めっき面の全域にわたってきれいにはんだ付けができた。
In this way, after the state shown in FIG. 2 is obtained, a jig is inserted into the space between the
尚、実施例は、1枚の半導体装置製造用基板の両面に半導体素子4を組み付ける場合で説明したが、本発明の半導体装置の製造方法は、このような方法に限定されず、片面だけに半導体素子4を組み付けるようにしても構わない。そして、その場合の半導体装置製造用基板としては、片面にだけめっき層を形成したものが用いられることは言うまでもない。しかしながら、金属板1は、一度使用すると、上記の剥離工程において反りが生じてしまい、再利用ができなくなるので、実施例のように両面に半導体素子4を組み付けるようにした方が、はるかに生産性が向上する。
In addition, although the Example demonstrated the case where the
1 金属板
2 パッド部
3 端子部
4 半導体素子
5 ボンディングワイヤ
6 樹脂封止体
6a フランジ部
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