JP4993360B2 - 微細構造体及びその製造方法、光電場増強デバイス - Google Patents
微細構造体及びその製造方法、光電場増強デバイス Download PDFInfo
- Publication number
- JP4993360B2 JP4993360B2 JP2007152824A JP2007152824A JP4993360B2 JP 4993360 B2 JP4993360 B2 JP 4993360B2 JP 2007152824 A JP2007152824 A JP 2007152824A JP 2007152824 A JP2007152824 A JP 2007152824A JP 4993360 B2 JP4993360 B2 JP 4993360B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fine
- field enhancement
- light
- electric field
- microstructure
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/552—Attenuated total reflection
- G01N21/553—Attenuated total reflection and using surface plasmons
- G01N21/554—Attenuated total reflection and using surface plasmons detecting the surface plasmon resonance of nanostructured metals, e.g. localised surface plasmon resonance
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/6428—Measuring fluorescence of fluorescent products of reactions or of fluorochrome labelled reactive substances, e.g. measuring quenching effects, using measuring "optrodes"
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N21/648—Specially adapted constructive features of fluorimeters using evanescent coupling or surface plasmon coupling for the excitation of fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/65—Raman scattering
- G01N21/658—Raman scattering enhancement Raman, e.g. surface plasmons
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/24—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
- Y10T428/24273—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including aperture
- Y10T428/24322—Composite web or sheet
- Y10T428/24331—Composite web or sheet including nonapertured component
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Optical Integrated Circuits (AREA)
Description
また、本明細書において、「突出部の径」とは、突出部の最大径と定義する。
前記誘電体基材における前記複数の微細孔の分布が略規則的であることが好ましい。
前記誘電体基材は被陽極酸化金属体の少なくとも一部を陽極酸化して得られる金属酸化物体からなり、前記複数の微細孔は、前記陽極酸化の過程で該金属酸化物体内に形成されたものであることが好ましい。
図面を参照し、本発明に係る第1実施形態の微細構造体の構造について説明する。図1は、微細構造体1の構成を示す厚み方向断面図である。図2及び図3は本実施形態の微細構造体の製造工程を示す図であり、図2は斜視図、図3は断面図である。
微細構造体1において、微細孔12は誘電体基材11の誘電体基材表面11sから厚み方向に略ストレートに開孔され、基板裏面11rに到達せずに閉口した非貫通孔である。
図面を参照し、本発明に係る第2実施形態の微細構造体(光電場増強デバイス)の構造について説明する。図4は本実施形態の微細構造体2の構成を示す厚み方向断面図である。
図面を参照して、本発明に係る実施形態の光電場増強デバイスの構成について説明する。図1,図4〜図6に示されるように、光電場増強デバイス3〜8は、上記実施形態の微細構造体を備えたものである。本実施形態では微細構造体1を備えた場合について説明するが、微細構造体2も同様に適用可能である。
上記実施形態では、微細金属体20は、微細孔12内にメッキ処理を施すことにより作製したが、微細金属体20の製造方法及び微細孔12内への充填方法はメッキ処理に制限されない。
また、微細金属体20の形成後に、導電体13を除去した構成としてもよい。
(実施例1)
下記手順にて、上記実施形態の微細構造体1を製造した。
被陽極酸化金属体10として、アルミニウム板(Al純度99.99%、10mm厚)を用意し、このアルミニウム板を陽極とし、アルミニウムを陰極として、アルミニウム板の一部がアルミナ層30となる条件で、陽極酸化を実施し、誘電体基材と、陽極酸化されずに残った非陽極酸化部分からなる導電体を得た。陽極酸化は、”H. Masuda and M. Sato, Fabrication of Gold Nanodot Array Using Anodic Porous Almina as an Evaporation Mask”, J. J. Appl. Phys. Vol. 35, pp. L126-L129 (1996)”記載されている2段階陽極酸化プロセスにより実施した。陽極酸化条件等も上記文献に記載のものと同様の条件とした。
ガラス基板上に真空蒸着法によりAuを蒸着して、表面増強ラマン効果があるとされている島状蒸着膜を成膜した。蒸着は、ガラス基板の表面全体がAuで覆われる条件で実施し、蒸着膜の厚みを10nmとして比較用のラマン分光用デバイスとした(比較例1)。また同様の10nmのAu島状蒸着膜を表面に有したガラス基板を作製し、その後、500℃にて5分間アニール処理を実施して得られたものを別の比較用ラマン分光用デバイスアとした(比較例2)。
(評価)
各例で得られたラマン分光用デバイスの表面に同じ試料液を付着させて、堀場社製「HR800」を用いてラマンスペクトルの測定を行った。
1s,2s 微細構造体の表面、センシング面
10 被陽極酸化金属体
11 誘電体基材(金属酸化物層)
11s 誘電体基材表面
11r 基材裏面
12 微細孔
13 導電体(非陽極酸化部分)(電極)
20 微細金属体
21 充填部
22 突出部
3〜8 光電場増強デバイス
30 光化学複合体
30D エネルギー供与体
30A エネルギー受容体
L1 入射光(測定光)
w 頭部同士の離間距離
S 被分析物質
R 被検出物質
Lu 蛍光標識
Claims (13)
- 基材表面にて開口された多数の微細孔を有する誘電体基材と、
該誘電体基材の1つ以上の前記微細孔に充填された充填部と、該充填部上に前記基材表面より突出して形成され、該充填部の径よりも大きく、且つ、局在プラズモンを誘起しうる大きさの径を有する突出部とからなる複数の微細金属体とからなり、
前記複数の微細金属体が、前記充填部が充填されている前記微細孔の数が互いに異なる複数の前記微細金属体を含んでいることを特徴とする微細構造体。 - 前記複数の微細金属体が、1つの前記微細孔に充填された充填部を有する前記微細金属体を含むことを特徴とする請求項1に記載の微細構造体。
- 互いに隣接する前記突出部同士の平均離間距離が10nm以下であることを特徴とする請求項1又は2に記載の微細構造体。
- 前記誘電体基材における前記複数の微細孔の分布が略規則的であることを特徴とする請求項1〜3のいずかに記載の微細構造体。
- 前記誘電体基材は、被陽極酸化金属体の少なくとも一部を陽極酸化して得られる金属酸化物体からなり、前記複数の微細孔は、前記陽極酸化の過程で該金属酸化物体内に形成されたものであることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに微細構造体。
- 前記微細金属体は、前記誘電体基材の前記微細孔内に、一部が前記誘電体基材表面から突出するまでメッキ処理を実施することにより形成されたものであることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の微細構造体。
- 請求項1〜6のいずれかに記載の微細構造体を備え、
該微細構造体の表面に照射された光により、該表面に誘起された局在プラズモンの電場増強効果によって、前記表面に増強された電場を生ぜしめるものであることを特徴とする光電場増強デバイス。 - 前記表面の前記微細構造体による局在プラズモンの電場増強領域に試料が接触され、該試料に入射された測定光が該試料によって異なる物理特性を有する出射光となって出射されるものであることを特徴とする請求項7に記載の光電場増強デバイス。
- 前記表面の前記微細構造体による局在プラズモンの電場増強領域に試料が接触され、該試料に特定の波長の測定光が入射されることによりラマン散乱光を生ずるものであることを特徴とする請求項7に記載の光電場増強デバイス。
- 前記表面の前記微細構造体による局在プラズモンの電場増強領域にターゲットが接触され、該ターゲットにレーザ光が照射されることにより前記ターゲットの照射部位が蒸散されるものであることを特徴とする請求項7に記載の光電場増強デバイス。
- 前記表面の前記微細構造体による局在プラズモンの電場増強領域に試料が接触され、該試料に測定光が照射されることにより前記試料中に含まれる質量分析の被分析物質を前記表面から脱離させるものであることを特徴とする請求項7に記載の光電場増強デバイス。
- 前記微細金属体の突出部の表面に、光エネルギーを吸収し、エネルギーを供与するエネルギー供与体と、該エネルギー供与体からエネルギーを受容するエネルギー受容体とからなる光化学系複合体が形成されており、前記微細構造体の表面に対して、前記突出部において局在プラズモンを誘起可能な波長であり、且つ前記エネルギー供与体が前記光エネルギーを吸収する波長の光を含む入射光が照射されるものであることを特徴とする請求項7に記載の光電場増強デバイス。
- 前記表面の前記微細構造体による局在プラズモンの電場増強領域に特定の被検出物質のみが結合可能なセンシング面を有し、
前記被検出物質を、該被検出物質と選択的に結合する蛍光標識にて標識し、前記センシング面に対して、前記金属部において局在プラズモンを誘起可能な波長であり、且つ前記蛍光標識の2光子励起蛍光又は多光子励起蛍光を発する吸収波長の測定光が照射されることにより該蛍光標識の2光子励起蛍光又は多光子励起蛍光を検出するセンシングに用いられるものであることを特徴とする請求項7に記載の光電場増強デバイス。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007152824A JP4993360B2 (ja) | 2007-06-08 | 2007-06-08 | 微細構造体及びその製造方法、光電場増強デバイス |
EP08010356A EP2000793A3 (en) | 2007-06-08 | 2008-06-06 | Microstructures, method for producing microstructures, and optical field amplifying device |
US12/134,487 US7952707B2 (en) | 2007-06-08 | 2008-06-06 | Microstructures, method for producing microstructures, and optical field amplifying device |
CN2008101255445A CN101319994B (zh) | 2007-06-08 | 2008-06-10 | 微细构造体及其制造方法、光电场增强器件 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007152824A JP4993360B2 (ja) | 2007-06-08 | 2007-06-08 | 微細構造体及びその製造方法、光電場増強デバイス |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008304370A JP2008304370A (ja) | 2008-12-18 |
JP4993360B2 true JP4993360B2 (ja) | 2012-08-08 |
Family
ID=39709266
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007152824A Expired - Fee Related JP4993360B2 (ja) | 2007-06-08 | 2007-06-08 | 微細構造体及びその製造方法、光電場増強デバイス |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7952707B2 (ja) |
EP (1) | EP2000793A3 (ja) |
JP (1) | JP4993360B2 (ja) |
CN (1) | CN101319994B (ja) |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9267894B2 (en) | 2012-08-10 | 2016-02-23 | Hamamatsu Photonics K.K. | Method for making surface enhanced Raman scattering device |
JP2010027794A (ja) * | 2008-07-17 | 2010-02-04 | Fujifilm Corp | 光電変換デバイス |
JP5614278B2 (ja) * | 2010-12-24 | 2014-10-29 | セイコーエプソン株式会社 | センサーチップ、センサーチップの製造方法、検出装置 |
KR20140031314A (ko) * | 2011-06-13 | 2014-03-12 | 신닛테츠 수미킨 가가쿠 가부시키가이샤 | 센서 소자, 결로 센서, 습도 센서, 결로 검지 방법 및 이슬점 계측 장치 |
TWI469917B (zh) * | 2012-08-09 | 2015-01-21 | Nat Univ Tsing Hua | 具表面增強拉曼散射活性之結構、其製造方法及其偵測裝置 |
JP5921381B2 (ja) | 2012-08-10 | 2016-05-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | 表面増強ラマン散乱ユニット |
JP6055234B2 (ja) | 2012-08-10 | 2016-12-27 | 浜松ホトニクス株式会社 | 表面増強ラマン散乱ユニット |
JP5921380B2 (ja) | 2012-08-10 | 2016-05-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | 表面増強ラマン散乱ユニット |
JP6023509B2 (ja) * | 2012-08-10 | 2016-11-09 | 浜松ホトニクス株式会社 | 表面増強ラマン散乱ユニット |
JP6058313B2 (ja) | 2012-08-10 | 2017-01-11 | 浜松ホトニクス株式会社 | 表面増強ラマン散乱ユニット |
CN109342395B (zh) | 2012-08-10 | 2021-07-20 | 浜松光子学株式会社 | 表面增强拉曼散射单元 |
JP6151948B2 (ja) | 2013-03-29 | 2017-06-21 | 浜松ホトニクス株式会社 | 表面増強ラマン散乱ユニット及びラマン分光分析方法 |
JP5945192B2 (ja) | 2012-08-10 | 2016-07-05 | 浜松ホトニクス株式会社 | 表面増強ラマン散乱ユニット |
WO2014025038A1 (ja) | 2012-08-10 | 2014-02-13 | 浜松ホトニクス株式会社 | 表面増強ラマン散乱素子、及び、表面増強ラマン散乱素子を製造する方法 |
CN104520696B (zh) * | 2012-08-10 | 2018-01-12 | 浜松光子学株式会社 | 表面增强拉曼散射元件及其制造方法 |
JP5908370B2 (ja) | 2012-08-10 | 2016-04-26 | 浜松ホトニクス株式会社 | 表面増強ラマン散乱ユニット |
US9863883B2 (en) | 2012-08-10 | 2018-01-09 | Hamamatsu Photonics K.K. | Surface-enhanced raman scattering element |
JP6230250B2 (ja) | 2013-03-29 | 2017-11-15 | 浜松ホトニクス株式会社 | 表面増強ラマン散乱ユニット、及びラマン分光分析方法 |
CN108844940B (zh) | 2012-08-10 | 2021-10-29 | 浜松光子学株式会社 | 表面增强拉曼散射单元及其使用方法 |
JP5875483B2 (ja) * | 2012-08-14 | 2016-03-02 | 富士フイルム株式会社 | 質量分析装置 |
WO2014156329A1 (ja) | 2013-03-29 | 2014-10-02 | 浜松ホトニクス株式会社 | 表面増強ラマン散乱ユニット及びラマン分光分析方法 |
JP6134975B2 (ja) | 2013-04-08 | 2017-05-31 | 富士フイルム株式会社 | 測定用デバイス、測定装置および方法 |
CN108330523A (zh) * | 2018-02-06 | 2018-07-27 | 逢甲大学 | 快速形成表面电浆子结构层的方法 |
WO2020039741A1 (ja) * | 2018-08-24 | 2020-02-27 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 金属微細構造体および検出装置 |
CN109612975B (zh) * | 2018-12-07 | 2021-11-02 | 国家纳米科学中心 | 一种表面增强拉曼基底及其制备方法 |
JP7357142B2 (ja) * | 2020-03-06 | 2023-10-05 | 富士フイルム株式会社 | 充填微細構造体および搬送方法 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4532634B2 (ja) | 1998-12-25 | 2010-08-25 | キヤノン株式会社 | 細孔の製造方法 |
JP4536866B2 (ja) | 1999-04-27 | 2010-09-01 | キヤノン株式会社 | ナノ構造体及びその製造方法 |
JP3387897B2 (ja) | 1999-08-30 | 2003-03-17 | キヤノン株式会社 | 構造体の製造方法、並びに該製造方法により製造される構造体及び該構造体を用いた構造体デバイス |
JP4445641B2 (ja) | 2000-04-21 | 2010-04-07 | 独立行政法人科学技術振興機構 | エネルギードナー化合物・エネルギーアクセプター化合物の混合自己組織化単分子膜を基体表面に形成した光エネルギー移動素子 |
JP4312353B2 (ja) | 2000-07-05 | 2009-08-12 | 独立行政法人科学技術振興機構 | アンテナ化合物及び電荷分離型化合物を電極上に混合自己組織化単分子膜として集積した光エネルギー・電気エネルギー変換素子 |
WO2002071013A1 (en) | 2001-03-01 | 2002-09-12 | New Mexico State University Technology Transfer Corporation | Optical devices and methods employing nanoparticles, microcavities, and semicontinuous metal films |
JP4231701B2 (ja) * | 2002-01-08 | 2009-03-04 | 富士フイルム株式会社 | プラズモン共鳴デバイス |
CN1288108C (zh) * | 2003-10-24 | 2006-12-06 | 东芝陶瓷股份有限会社 | 耐等离子体构件、其制造方法及形成热喷涂涂层的方法 |
JP4163606B2 (ja) | 2003-12-10 | 2008-10-08 | 富士フイルム株式会社 | 微細構造体、微細構造体の作製方法、ラマン分光方法および装置 |
JP4109205B2 (ja) | 2004-01-07 | 2008-07-02 | 富士フイルム株式会社 | 被検体検出方法 |
JP4565173B2 (ja) | 2004-03-11 | 2010-10-20 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 光電変換素子 |
EP1580305A3 (en) * | 2004-03-23 | 2008-01-16 | FUJIFILM Corporation | Fine structural body surface and method of producing the same |
JP4384956B2 (ja) | 2004-09-17 | 2009-12-16 | 富士フイルム株式会社 | 微細構造体およびその製造方法 |
-
2007
- 2007-06-08 JP JP2007152824A patent/JP4993360B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-06-06 US US12/134,487 patent/US7952707B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2008-06-06 EP EP08010356A patent/EP2000793A3/en not_active Withdrawn
- 2008-06-10 CN CN2008101255445A patent/CN101319994B/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7952707B2 (en) | 2011-05-31 |
JP2008304370A (ja) | 2008-12-18 |
CN101319994A (zh) | 2008-12-10 |
EP2000793A3 (en) | 2010-03-24 |
US20080304060A1 (en) | 2008-12-11 |
EP2000793A2 (en) | 2008-12-10 |
CN101319994B (zh) | 2012-12-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4993360B2 (ja) | 微細構造体及びその製造方法、光電場増強デバイス | |
Wang et al. | Tip-enhanced Raman spectroscopy for surfaces and interfaces | |
Roguska et al. | Surface-enhanced Raman scattering (SERS) activity of Ag, Au and Cu nanoclusters on TiO2-nanotubes/Ti substrate | |
CN102621122B (zh) | 生医及微纳米结构物质感测芯片及其制备方法 | |
US8502970B2 (en) | Microstructured body, process for producing the microstructured body, sensor device, and Raman spectrometry device | |
JP4818197B2 (ja) | 表面増強振動分光分析用プローブおよびその製造方法 | |
CN108872192B (zh) | Sers单元及sers系统 | |
JP5394627B2 (ja) | 微細構造体の作製方法および微細構造体 | |
JP2005172569A (ja) | 微細構造体、微細構造体の作製方法、ラマン分光方法および装置 | |
US20210294009A1 (en) | Light absorbing device, manufacturing method thereof, and photoelectrode | |
US8319178B2 (en) | Mass spectrometry apparatus and method using the apparatus | |
JP2006250924A (ja) | ラマン分光用デバイス、及びラマン分光装置 | |
JP4245931B2 (ja) | 微細構造体およびその作製方法並びにセンサ | |
JP2010071727A (ja) | 質量分析用デバイス及びそれを用いた質量分析装置、質量分析方法 | |
Lei et al. | One-step selective formation of silver nanoparticles on atomic layered MoS 2 by laser-induced defect engineering and photoreduction | |
US20090231586A1 (en) | Inspection chip producing method and specimen detecting method | |
CN106018379A (zh) | 一种大面积表面增强拉曼散射基底及其制备方法 | |
Yin et al. | Applications of Raman spectroscopy in two-dimensional materials | |
JP2006322067A (ja) | 構造体の製造方法 | |
Marqués-González et al. | Surface enhanced Raman scattering of molecules in metallic nanogaps | |
Sangar et al. | Fabrication and characterization of large metallic nanodots arrays for organic thin film solar cells using anodic aluminum oxide templates | |
Shaban et al. | Fabrication and characterization of micro/nanoporous Cr film for sensing applications | |
Bechelany et al. | Extended domains of organized nanorings of silver grains as surface-enhanced Ramanscattering sensors for molecular detection | |
JP2008168396A (ja) | 微細構造体及びその製造方法、ラマン分光用デバイス、ラマン分光装置 | |
JP2006083450A (ja) | 微細構造体およびその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100224 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120208 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120214 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120404 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120424 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120427 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150518 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |