JP4989138B2 - 赤外線検出器 - Google Patents
赤外線検出器 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4989138B2 JP4989138B2 JP2006194745A JP2006194745A JP4989138B2 JP 4989138 B2 JP4989138 B2 JP 4989138B2 JP 2006194745 A JP2006194745 A JP 2006194745A JP 2006194745 A JP2006194745 A JP 2006194745A JP 4989138 B2 JP4989138 B2 JP 4989138B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- shield
- infrared detector
- resin layer
- heat ray
- circuit block
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 80
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 80
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 73
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 8
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 103
- 238000000034 method Methods 0.000 description 25
- 230000008569 process Effects 0.000 description 20
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 18
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 18
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 18
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 14
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 13
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 13
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 description 10
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 8
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 8
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 7
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 7
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 6
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 6
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 6
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 5
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 4
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 description 3
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 3
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000007667 floating Methods 0.000 description 2
- 239000011256 inorganic filler Substances 0.000 description 2
- 229910003475 inorganic filler Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 2
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 2
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 2
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 2
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- XLJMAIOERFSOGZ-UHFFFAOYSA-M cyanate Chemical compound [O-]C#N XLJMAIOERFSOGZ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000833 kovar Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 230000008961 swelling Effects 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Description
前記回路ブロックは、上面に凹凸形状部を一体に形成して該凹凸形状部の凸部位を前記熱線検出素子の両端を支持し且つ電気的に接合する部位とし、凹部位を前記熱線検出素子の熱線検出部位の下方に設ける熱絶縁用の空間部位とした第1の樹脂層と、回路用配線パターンを形成して、前記電子回路要素を実装した回路基板を前記電子回路要素とともに埋設して前記第1の樹脂層の下方に設けられる第2の樹脂層と、前記第1の樹脂層と前記第2の樹脂層の間に設けられ特定電位又はグランド電位を持つシールド層とを一体に備え、
前記ステムから前記キャップ内に突出している電源供給用、グランド用、検出信号出力用の何れかの端子ピンは、前記回路ブロックの下面から上面に貫通させて上端部を突出させるとともに、該上端部を前記回路ブロックの上面で回路部位に接合していることを特徴とする。
内方での容量結合を防げることができる。
(実施形態1)
本実施形態の赤外線検出器Aは、図1(a)〜(c)に示すように円盤状の金属製のステム1と、金属製のキャップ2とからなるキャンパッケージ用の容器内に、例えば焦電素子Xのような熱線検出素子等を実装した回路ブロック3を収納して構成されたものである。尚焦電素子X以外にサーモパイルやボロメータ等の熱線検出素子を用いても良い。
(実施形態2)
本実施形態の赤外線検知器Aは、実施形態1の構成に加えて、図5(a),(b)に示すように電源供給用端子ピン19aの突出部位と焦電素子Xの間及び検出信号出力用端子ピン19bの突出部位と焦電素子Xとの間に鉄、銅などの金属板材からなるシールド部材23を配設してこれら端子ピン19a、19bの突出部位と焦電素子Xとの間の容量結合を防ぐようにしてある。このシールド部材23は、例えばグランド電位(若しくは特定の電位)の部位に接続されるもので、この接続と固定のために、例えば導電ペースト(銀ペース)や半田を用いて配設位置に固定される。尚グランド電位に接続する場合には、配設位置まで例えばグランド用端子ピン19cの接合部位と配設部位との間に配線パターンを形成しておく。またシールド効果を高めるために、シールド部材23をシールド層9aに対して垂直方向に立設し、且つ端子ピン19a、19bを接合する導電材21の高さ及び焦電素子Xの上面の高さよりも高くするとともに、端子ピン19a、19bの接合部位が焦電素子Xに対向しないような幅を持たせてある。
(実施形態3)
実施形態2に用いるシールド部材23は樹脂層体10の上面に配設した金属板材か,盛り上げた導電ペースや半田により構成しているが、本実施形態では、シールド部材23を配設する部位に対応して図6(a)に示すように樹脂層体10の上面から下面に貫通する垂直穴部24を設け、この垂直穴部24内に金属板材からなるシールド部材23を図6(b)に示すように挿入してシールド部材23をシールド層9aに電気的に接続するとともに固定する点に特徴があり、使用するシールド部材23は垂直穴部24に挿入固定した状態で樹脂層体10の上面から突出する部位の高さが端子ピン19a、19bを接合する導電材21の高さ及び焦電素子Xの高さよりも高くなるように形成した金属板材が用いられている。図7(a)は本実施形態の分解斜視図、図7(b)はシールド部材23の挿入前の状態を示す斜視図、図7(c)は挿入状態を示す斜視図である。尚シールド部材23の配設構成以外は実施形態1と同じであるので、同じ構成要素には同じ符号を付し、説明は省略する。
実施形態3ではシールド部材23を樹脂層体10に設けた垂直穴部24に挿入固定するものであったが、本実施形態では回路ブロック3を加熱プレスで形成する工程において、図8(a)に示すようにシールド層体9の上面の所定位置にシールド部材23を配設して半田付けや導電ペースト(銀ペースト)で予め接合した状態で実施形態1の場合と同様な加熱プレスを行うことで、シールド部材23を樹脂層8に内蔵した点に特徴がある。そして加熱プレスの工程で得られた回路ブロック3の上面からは図8(b)に示すようにシールド部材23の上端部が突出するのである。これにより図9(a)に示すように樹脂層体10の上面から突出する部位の高さが端子ピン19a、19bを接合する導電材21の高さ及び焦電素子Xの高さよりも高くなって、電源供給用端子ピン19a、検出信号出力用端子ピン19と焦電素子Xの容量結合を防ぐことができるのである。図9(b)は本実施形態の分解斜視図を示す。尚シールド部材23の配設構成以外は実施形態3と同じであるので、同じ構成要素には同じ符号を付し、説明は省略する。
(実施形態5)
実施形態4ではシールド部材23の上端部を樹脂層体10の上面より突出させているが、本実施形態は図10(a)、(b)に示すように樹脂層体10の一部を上方に膨出させるように加熱プレス加工し、この膨出部10a内にシールド部材23の上端部を内蔵させて点に特徴がある。尚シールド部材23の上端部の内蔵構成以外は実施形態4と同じであるので、同じ構成要素には同じ符号を付し、説明は省略する。
(実施形態6)
上述の実施形態1〜5はシールド部材23を樹脂層体10の上面より上方に突出させて端子ピン19a、19bの接合と、焦電素子Xの実装とを同じ工程で可能とするとともに外部から視認検査ができるようにしたものであるが、本実施形態は例えば電源供給用端子ピン19aの接合をシールド層体9の上面で行うために、加熱プレスによって回路ブロック3を形成する際に、上述の接合部位に対応する樹脂層10の側周壁部位の立ち上がり位置を図11(a)〜(c)に示すように接合部位の位置と焦電素子Xとの間となるように形成することで、電源供給用端子ピン19a〜19cの接合と焦電素子Xの実装とを同じ工程で行えるようにしている。また上述の側周壁部位の表面にメッキ等によりシールド層25aを形成して該側周壁部位をシールド壁25とし、このシールド壁25によって電源供給用端子ピン19aの接合部位と、焦電素子Xの検出出力部位との間の容量結合を防ぐようにしている。
(実施形態7)
ところで実施形態1乃至6は、IC16を回路基板7にフリップ実装するものであったが、本実施形態はIC16をワイヤボンディング31により実装したものである。
2 キャップ
3 回路ブロック
4 赤外線通過窓
5 光学フィルタ
6 スペーサ
7 回路基板
8 樹脂層体
9 シールド層体
9a シールド層
10 樹脂層体
11 凹部
16 IC
19a 電源供給用端子ピン
19b 検出信号出力用端子ピン
19c グランド用端子ピン
21 導電材
A 赤外線検出器
X 焦電素子
Claims (10)
- ステムと該ステム上に被着するキャップとからなるパッケージ用容器内部に熱線検出素子、電子回路要素を実装した回路ブロックを収納する赤外線検出器において、
前記回路ブロックは、上面に凹凸形状部を一体に形成して該凹凸形状部の凸部位を前記熱線検出素子の両端を支持し且つ電気的に接合する部位とし、凹部位を前記熱線検出素子の熱線検出部位の下方に設ける熱絶縁用の空間部位とした第1の樹脂層と、回路用配線パターンを形成して、前記電子回路要素を実装した回路基板を前記電子回路要素とともに埋設して前記第1の樹脂層の下方に設けられる第2の樹脂層と、前記第1の樹脂層と前記第2の樹脂層の間に設けられ特定電位又はグランド電位を持つシールド層とを一体に備え、
前記ステムから前記キャップ内に突出している電源供給用、グランド用、検出信号出力用の何れかの端子ピンは、前記回路ブロックの下面から上面に貫通させて上端部を突出させるとともに、該上端部を前記回路ブロックの上面で回路部位に接合していることを特徴とする赤外線検出器。 - 前記電源供給用端子ピン、前記検出信号出力用端子ピンの何れか一方若しくは両方と、前記熱線検出素子との間に、電位が前記特定電位又はグランド電位となっているシールド部を介在させていることを特徴とする請求項1記載の赤外線検出器。
- 前記シールド部を介在させている位置は、前記回路ブロックの内方であることを特徴とする請求項2記載の赤外線検出器。
- 前記電源供給用端子ピン、前記検出信号出力用端子ピンの何れか一方若しくは両方の前記回路ブロック上面での接合部位と、前記熱線検出素子との間の空間に介在するように、電位が前記特定電位又はグランド電位となっているシールド部を設けていることを特徴とする請求項2記載の赤外線検出器。
- 前記シールド部を介在させている位置は、回路ブロックの内方から前記接合部位と前記熱線検出素子との間に亘る空間であることを特徴とする請求項4記載の赤外線検出器。
- 前記シールド部は、前記接合部位と、前記熱線検出素子の検出出力部位との間の位置に、前記シールド層に対して垂直方向に且つ前記熱線検出素子の支持面より上方へ向けて突出させたシールド部材からなり、該シールド部材の電位を前記特定電位又はグランド電位としていることを特徴とする請求項4又は請求項5記載の赤外線検出器。
- 前記シールド部材は、前記第1の樹脂層の上面から前記シールド層に至る垂直穴部に下部を挿着して、該垂直穴部から突出する部位の上端を前記熱線検出素子の上面より上方に配置していることを特徴とする請求項6記載の赤外線検出器。
- 前記シールド部は、前記接合部位と、前記熱線検出素子の検出出力部位との間に位置する前記第1の樹脂層内に前記シールド層に対して垂直方向となるようにシールド部材を内蔵し、該シールド部材の電位を前記特定電位又はグランド電位としていることを特徴とする請求項4又は請求項5記載の赤外線検出器。
- 前記シールド部材を内蔵している第1の樹脂層の部位を上方に膨出させるとともに、前記シールド部材の上端部を膨出部位内に延出させて該上端部の先端位置を前記熱線検出素子の上面以上としていることを特徴とする請求項8記載の赤外線検出器。
- 前記シールド部は、前記接合部位と、前記熱線検出素子の検出出力部位との間の位置に前記第1の樹脂層の立ち上がり壁面からなるシールド壁で形成されていることを特徴とする請求項4又は請求項5記載の赤外線検出器。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006194745A JP4989138B2 (ja) | 2006-07-14 | 2006-07-14 | 赤外線検出器 |
US11/883,361 US7671335B2 (en) | 2005-11-22 | 2006-11-08 | Infrared detector and process for fabricating the same |
KR1020077017708A KR100870188B1 (ko) | 2005-11-22 | 2006-11-08 | 적외선 검출기 및 적외선 검출기를 제조하는 공정 |
CN2006800034764A CN101111749B (zh) | 2005-11-22 | 2006-11-08 | 红外探测器及其制造方法 |
EP06823390A EP1952108A1 (en) | 2005-11-22 | 2006-11-08 | Infrared detector and process for fabricating the same |
PCT/JP2006/322688 WO2007060861A1 (en) | 2005-11-22 | 2006-11-08 | Infrared detector and process for fabricating the same |
TW095142302A TWI302195B (en) | 2005-11-22 | 2006-11-15 | Infrared detector and process for fabricating the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006194745A JP4989138B2 (ja) | 2006-07-14 | 2006-07-14 | 赤外線検出器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008020420A JP2008020420A (ja) | 2008-01-31 |
JP4989138B2 true JP4989138B2 (ja) | 2012-08-01 |
Family
ID=39076458
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006194745A Expired - Fee Related JP4989138B2 (ja) | 2005-11-22 | 2006-07-14 | 赤外線検出器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4989138B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5054337B2 (ja) * | 2006-07-19 | 2012-10-24 | パナソニック株式会社 | 赤外線検出器及びその製造方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08128891A (ja) * | 1994-11-01 | 1996-05-21 | Murata Mfg Co Ltd | 赤外線センサ |
JP2000241241A (ja) * | 1999-02-22 | 2000-09-08 | Hokuriku Electric Ind Co Ltd | 焦電型赤外線検出装置 |
JP4370757B2 (ja) * | 2002-06-25 | 2009-11-25 | パナソニック電工株式会社 | 赤外線検出器 |
JP4258193B2 (ja) * | 2002-09-26 | 2009-04-30 | パナソニック電工株式会社 | 赤外線検出器 |
-
2006
- 2006-07-14 JP JP2006194745A patent/JP4989138B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008020420A (ja) | 2008-01-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5763682B2 (ja) | Mems及びasicを備える小型化した電気的デバイス及びその製造方法 | |
US7671335B2 (en) | Infrared detector and process for fabricating the same | |
JP5451957B2 (ja) | 赤外線検出器 | |
KR101346054B1 (ko) | 적외선 센서 | |
KR101809288B1 (ko) | 전자부품을 인쇄회로기판에 집적하는 방법, 및 그 안에 집적된 전자부품을 포함하는 인쇄회로기판 | |
JP5287906B2 (ja) | 赤外線温度センサ、電子機器、および赤外線温度センサの製造方法 | |
JP4989139B2 (ja) | 赤外線検出器 | |
JP5379374B2 (ja) | 赤外線検出器 | |
US12092524B2 (en) | Optical sensor | |
JP4989138B2 (ja) | 赤外線検出器 | |
JP5514167B2 (ja) | 赤外線検出器 | |
US12050134B2 (en) | Optical sensor | |
JP4925258B2 (ja) | 赤外線検出器 | |
JP5054337B2 (ja) | 赤外線検出器及びその製造方法 | |
JP4258193B2 (ja) | 赤外線検出器 | |
JP2010054250A (ja) | 赤外線検出器 | |
JP2013137259A (ja) | 赤外線検出器 | |
KR101198535B1 (ko) | 초전형 적외선 검출기 | |
JP2013050460A (ja) | 赤外線温度センサ、電子機器、および赤外線温度センサの製造方法 | |
JP2016090377A (ja) | 赤外線センサ | |
JP2007171058A (ja) | 赤外線検出器 | |
JP2000349106A (ja) | 表面実装型電子部品 | |
JP2008244170A (ja) | 個片基板の製造方法、個片基板、赤外線検出器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090219 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111220 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20120112 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120220 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120403 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120427 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150511 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |