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JP4721364B2 - 光半導体素子封止用樹脂およびそれを用いて得られる光半導体装置 - Google Patents

光半導体素子封止用樹脂およびそれを用いて得られる光半導体装置 Download PDF

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JP4721364B2 JP2007306817A JP2007306817A JP4721364B2 JP 4721364 B2 JP4721364 B2 JP 4721364B2 JP 2007306817 A JP2007306817 A JP 2007306817A JP 2007306817 A JP2007306817 A JP 2007306817A JP 4721364 B2 JP4721364 B2 JP 4721364B2
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Description

本発明は、光半導体素子封止用樹脂、およびそれを用いて得られる光半導体装置に関する。
発光ダイオード(LED)等の光半導体素子を封止する際に用いられる光半導体素子封止用樹脂組成物としては、その硬化物が透明性を有することが要求されており、一般に、ビスフェノールA型エポキシ樹脂や脂環式エポキシ樹脂等のエポキシ樹脂と、酸無水物系硬化剤とを用いて得られるエポキシ樹脂組成物が汎用されている(例えば、特許文献1)。
しかし、エポキシ樹脂は、高温で長時間使用すると変色したり、発光ダイオードの輝度が低下する場合がある。また、樹脂をシート状でかつロール・トゥ・ロールで安定して生産するため、あるいは、封止した光半導体装置への応力を緩和するために、封止樹脂の弾性率をある程度低くすることが必要であるが、一般にエポキシ樹脂は弾性率が高いので、そのような目的には適していない。
特開2006−274249号公報
本発明は、高温使用時の変色がなく、光透過率が良好であり、かつ良好な弾性貯蔵率を有する、すなわちロール・トゥ・ロールで生産可能な可とう性を有する光半導体素子封止用樹脂、および良好な輝度保持率を有する、該樹脂を用いて光半導体素子を封止してなる光半導体装置を提供することを課題とする。
即ち、本発明は
〔1〕 式(I):
Figure 0004721364
(式中、R1及びR2は、それぞれ独立してアルキル基、シクロアルキル基、アルケニル基、アルキニル基又はアリール基、Xはヒドロキシ基、アルコキシ基、アルキル基、シクロアルキル基、アルケニル基、アルキニル基又はアリール基を示し、n=4〜250)
で表されるケイ素化合物と、
式(II):
Figure 0004721364
(式中、Y 1 、Y 2 及びY 3 は、それぞれ独立して水素又はアルキル基を示す)
で表されるホウ素化合物及び式(III):
Figure 0004721364
(式中、Y 4 、Y 5 及びY 6 は、それぞれ独立して水素又はアルキル基を示す)
で表されるアルミニウム化合物からなる群より選ばれる1種の化合物とを反応させて得られる樹脂を含む光半導体素子封止用樹脂シートであって、
ケイ素化合物の数平均分子量が300〜20000、反応に供される化合物の総量に対するケイ素化合物の含有量が30〜99重量%であり、ケイ素化合物とホウ素化合物の重量比(ケイ素化合物/ホウ素化合物)が95/5〜30/70、ケイ素化合物とアルミニウム化合物の重量比(ケイ素化合物/アルミニウム化合物)が99/1〜30/70であることを特徴とする光半導体素子封止用樹脂シート、並びに
〔2〕〔1〕記載の光半導体素子封止用樹脂を用いて光半導体素子を封止してなる光半導体装置
に関する。
高温使用時の変色がなく、光透過率が良好であり、かつ良好な輝度保持率を有する、すなわちロール・トゥ・ロールで生産可能な可とう性を有する光半導体素子封止用樹脂を実現することができ、また、良好な輝度保持率を有する、該樹脂を用いて光半導体素子を封止してなる光半導体装置を実現することができる。
本発明は、ケイ素化合物と、ホウ素化合物又はアルミニウム化合物とを反応させて得られる光半導体素子封止用樹脂であって、ケイ素化合物が下記式(I)で表されることを特徴とする。
ケイ素化合物は式(I):
Figure 0004721364
(式中、R1及びR2は、それぞれ独立してアルキル基、シクロアルキル基、アルケニル基、アルキニル基又はアリール基、Xはヒドロキシ基、アルコキシ基、アルキル基、シクロアルキル基、アルケニル基、アルキニル基又はアリール基を示し、n=4〜250)で表される化合物が挙げられる。
式(I)中のR1 及びR2 は、それぞれ独立してアルキル基、シクロアルキル基、アルケニル基、アルキニル基又はアリール基を示し、これらの炭素数は、反応性、安定性、経済性の観点から、1〜18が好ましく、1〜12がより好ましく、1〜6がさらに好ましい。具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基等のアルキル基;シクロペンチル基、シクロヘキシル基等のシクロアルキル基;ビニル基、アリル基等のアルケニル基;エチニル基、プロピニル基等のアルキニル基;フェニル基、トリル基等のアリール基が例示される。なかでも、R1 及びR2 がそれぞれ独立してメチル基であることが好ましい。
式(I)中のXは、ヒドロキシ基、アルコキシ基、アルキル基、シクロアルキル基、アルケニル基、アルキニル基又はアリール基を示し、これらの炭素数は、反応性、安定性、経済性の観点から、1〜18が好ましく、1〜12がより好ましく、1〜6がさらに好ましい。具体的には、メトキシ基、エトキシ基等のアルコキシ基;メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基等のアルキル基;シクロペンチル基、シクロヘキシル基等のシクロアルキル基;ビニル基、アリル基等のアルケニル基;エチニル基、プロピニル基等のアルキニル基;フェニル基、トリル基等のアリール基が例示される。なかでも、Xはヒドロキシ基であることが好ましい。
式(I)中のnは、生成物の耐熱性と柔軟性の観点から、平均値で4〜250であり、4〜200が好ましく、4〜160がより好ましい。
かかる式(I)で表されるケイ素化合物としては、両末端シラノール型ポリジメチルシロキサン、両末端シラノール型ポリジフェニルシロキサン、片末端シラノール型ポリジメチルシロキサン、片末端シラノール型ポリジフェニルシロキサン、両末端シラノール型ポリメチルフェニルシロキサン等が挙げられ、これらは単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。これらのなかでも、R1 及びR2 がメチル基、Xがヒドロキシ基である両末端シラノール型ポリジメチルシロキサンが好ましい。
かかる式(I)で表されるケイ素化合物の数平均分子量は、生成物の耐熱性と柔軟性の観点から、好ましくは300〜20000、より好ましくは300〜15000、さらに好ましくは300〜12000であることが好ましい。なお、数平均分子量は、GPCを用いて測定することができる。
また、本発明の封止用樹脂は、本発明の効果を損なわない範囲で、上記式(I)で表されるケイ素化合物以外の他のケイ素化合物をさらに用いて調製してもよいが、式(I)で表されるケイ素化合物の使用量は、耐熱性、透明性、耐光性の観点から、反応に供される混合物中に30〜99重量%が好ましく、50〜99重量%がより好ましく、60〜99重量%がさらに好ましい。
ホウ素化合物としては、式(II):
Figure 0004721364
(式中、Y1 、Y2 及びY3 は、それぞれ独立して水素又はアルキル基を示す)
で表される化合物が好ましい。
式(II)中のアルキル基の炭素数は、好ましくは1〜12、より好ましくは1〜6、さらに好ましくは1〜3である。具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基が例示される。これらのなかでも、エチル基、イソプロピル基が好ましく、イソプロピル基がより好ましい。
式(II)で表される化合物としては、ホウ酸、ホウ酸トリメチル、ホウ酸トリエチル、ホウ酸トリイソプロピル等が挙げられ、これらは単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。これらのなかでも、ホウ酸、ホウ酸トリエチル、ホウ酸トリイソプロピルが好ましく、ホウ酸トリイソプロピルがより好ましい。
なお、反応に供されるケイ素化合物とホウ素化合物の重量比(ケイ素化合物/ホウ素化合物)は、耐熱性、透明性、耐光性の観点から、95/5〜30/70が好ましく、95/5〜50/50がより好ましく、95/5〜60/40がさらに好ましく、95/5〜70/30がよりさらに好ましい。
アルミニウム化合物としては、式(III):
Figure 0004721364
(式中、Y4、Y5及びY6は、それぞれ独立して水素又はアルキル基を示す)
で表される化合物が好ましい。
式(III)中のアルキル基の炭素数は、好ましくは1〜12、より好ましくは1〜6、さらに好ましくは1〜3である。具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基が例示される。これらのなかでも、エチル基、イソプロピル基が好ましく、イソプロピル基がより好ましい。
式(III)で表されるアルミニウム化合物としては、アルミニウムメトキシド、アルミニウムエトキシド、アルミニウムプロポキシド、アルミニウムブトキシド等が挙げられ、これらは単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。これらのなかでも、アルミニウムトリイソプロポキシドが好ましい。
なお、反応に供されるケイ素化合物とアルミニウム化合物の重量比(ケイ素化合物/アルミニウム化合物)は、99/1〜30/70であることが好ましい。
また、反応混合物におけるケイ素化合物中のSi原子と、ホウ素化合物中のB原子又はアルミニウム化合物中のAl原子との比(Si/BもしくはSi/Al)は、2/1〜1000/1が好ましく、4/1〜500/1がより好ましく、6/1〜200/1がさらに好ましい。この範囲より、Si原子が少なくなると樹脂が硬くなり、また、この範囲よりSi原子が多くなると樹脂が柔らかくなりすぎて、シート加工が困難になる傾向がある。
ケイ素化合物とホウ素化合物又はアルミニウム化合物との反応は、例えば、0〜100℃の温度、1〜48時間で、かつ、溶媒非存在下で攪拌しながら行うことができる。
上記のようにして得られた光半導体素子封止用樹脂は、ガラス板等上に塗布して、乾燥させた後、好ましくは50〜300℃、より好ましくは100〜250℃で、好ましくは30分〜48時間、より好ましくは2〜24時間加熱して、半硬化状態のポリボロシロキサンまたはポリアルミノシロキサンを含む光半導体素子封止用樹脂シートとしてもよい。かかるシートの厚さは、好ましくは50〜5000μm、より好ましくは100〜4000μmである。
また、本発明の樹脂の透明性(450nmにおける光透過率)は、光半導体装置の輝度保持の観点から、90%以上が好ましく、95%以上がより好ましい。なお、本明細書において、透明性(450nmにおける光透過率)は、後述の実施例に記載の方法により測定される。
本発明の樹脂の貯蔵弾性率は、取り扱い性および耐半田性の観点から、好ましくは1.0×10〜1.0×10Pa、より好ましくは1.0×10〜1.0×10Paであることが好ましい。かかる貯蔵弾性率は、硬化させた樹脂を動的粘弾性測定装置(ARES;TAインストゥルメント社製)を用いて測定することができる。
また、上記の樹脂(シート)は、例えば、1mm角のLED素子とそのLED素子より5mm離れた周囲に高さ400μmのリフレクターが装着された基板に樹脂を載せて0.5MPaの圧力で光半導体素子を封止することができる。
本発明の封止用樹脂は、液晶画面のバックライト、信号機、屋外の大型ディスプレイ、広告看板等に用いられる光半導体素子封止用樹脂として好適に使用し得るものである。
また、本発明は、上記の光半導体素子封止用樹脂を用いて光半導体素子を封止してなる光半導体装置に関する。
本発明の光半導体装置の輝度保持率は、耐久性確保の観点から、好ましくは70%以上、より好ましくは90%以上であることが好ましい。かかる輝度保持率は、以下の式:輝度保持率=(300 mA連続点灯300時間経過後の輝度/試験開始直後の輝度)×100として定義することができる。また、輝度は、後述の実施例に記載の方法により測定することができる。
実施例1
両末端シラノール型シリコーンオイル(式(I)でR1及びR2:メチル基、X:ヒドロキシ基、n=4、数平均分子量:300)10.0 g(33.3 mmol)にホウ酸トリイソプロピル4.22 g(22.4 mmol)を加え、室温で2時間撹拌して得られた液状樹脂をガラス板上に塗布、乾燥し、150℃で30分間加熱した後、半硬化状態のポリボロシロキサンを含む光半導体素子封止用樹脂シートを得た。
そして、得られた光半導体素子封止用樹脂シートを、青色発光ダイオードが実装された基板上に青色発光ダイオードを覆うように載せて、金型でプレスし、200℃で2時間硬化し、青色発光ダイオードを封止して、青色発光ダイオード装置を得た。
実施例2
両末端シラノール型シリコーンオイル(式(I)でR1及びR2:メチル基、X:ヒドロキシ基、n=4、数平均分子量:300)10.0 g (33.3 mmol)にホウ酸トリイソプロピル1.25 g(6.65 mmol)を加え、室温で2時間撹拌して、液状樹脂を得た以外は実施例1と同様にして、青色発光ダイオード装置を得た。
実施例3
両末端シラノール型シリコーンオイル(式(I)でR1及びR2:メチル基、X:ヒドロキシ基、n=13、数平均分子量:1000)10.0 g (10.0 mmol)にホウ酸トリイソプロピル1.25 g (6.65 mmol) を加え、室温で2時間撹拌して、液状樹脂を得た以外は実施例1と同様にして、青色発光ダイオード装置を得た。
実施例4
両末端シラノール型シリコーンオイル(式(I)でR1及びR2:メチル基、X:ヒドロキシ基、n=13、数平均分子量:1000)129 g(129 mmol)にアルミニウムトリイソプロポキシド6.97 g(34.2 mmol)を加え、室温で2時間撹拌して液状樹脂を得た以外は実施例1と同様にして、青色発光ダイオード装置を得た。
実施例5
両末端シラノール型シリコーンオイル(式(I)でR1及びR2:メチル基、X:ヒドロキシ基、n=4、数平均分子量:300)40.0 g(133 mmol)にアルミニウムトリイソプロポキシド2.18 g(10.7 mmol)を加え、室温で2時間撹拌して、液状樹脂を得た。
得られた液状樹脂をガラス板上に塗布、乾燥し、150℃で1時間加熱して、半硬化状態のポリアルミノシロキサンを含む光半導体素子封止用樹脂シートを得た以外は実施例1と同様にして、青色発光ダイオード装置を得た。
実施例6
両末端シラノール型シリコーンオイル(式(I)でR1及びR2:メチル基、X:ヒドロキシ基、n=40、数平均分子量:3000)41.1 g(13.7 mmol)にアルミニウムトリイソプロポキシド2.26 g(11.1 mmol)を加え、室温で2時間撹拌して、液状樹脂を得た。
得られた液状樹脂をガラス板上に塗布、乾燥し、200℃で30分間加熱して、半硬化状態のポリアルミノシロキサンを含む光半導体素子封止用樹脂シートを得た以外は実施例1と同様にして、青色発光ダイオード装置を得た。
実施例7
両末端シラノール型シリコーンオイル(式(I)でR1及びR2:メチル基、X:ヒドロキシ基、n=13、数平均分子量:1000)48.2 g (48.2 mmol)にアルミニウムトリイソプロポキシド1.30 g(6.37 mmol)を加え、室温で2時間撹拌して液状樹脂を得た以外は実施例6と同様にして、青色発光ダイオード装置を得た。
実施例8
両末端シラノール型シリコーンオイル(式(I)でR1及びR2:メチル基、X:ヒドロキシ基、n=13、数平均分子量:1000)50.8 g(50.8 mmol)にアルミニウムトリイソプロポキシド0.688 g(3.37 mmol)を加え、室温で2時間撹拌して得た懸濁液をろ過し、ロータリーエバポレーターによって揮発成分を除去して液状樹脂を得た以外は実施例6と同様にして、青色発光ダイオード装置を得た。
実施例9
両末端シラノール型シリコーンオイル(式(I)でR1及びR2:メチル基、X:ヒドロキシ基、n=155、数平均分子量:11,500)50.0 g(4.35 mmol)にアルミニウムトリイソプロポキシド0.690 g(3.38 mmol)を加え、室温で2時間撹拌して液状樹脂を得た以外は実施例6と同様にして、青色発光ダイオード装置を得た。
比較例1
エポキシ当量7,500のビスフェノールA型エポキシ樹脂(エピコートEP1256、ジャパンエポキシレジン社製)45重量部とエポキシ当量260の脂環式骨格のエポキシ樹脂(EHPE-3150、ダイセル化学社製)33重量部と4-メチルヘキサヒドロ無水フタル酸(MH-700、新日本理化社製)を22重量部、2-メチルイミダゾール(2MZ、四国化成社製)1.2重量部をメチルエチルケトンに50%ベースで溶解し、塗工溶液を作製した。これをポリエステルフィルムの上に100μmの厚みになるように塗布し、130℃で2分間乾燥させた。さらに、ポリエステルフィルムを適宜剥離しながら、このシート3枚を100℃にて熱ラミネートし、300μm厚のエポキシ樹脂シートを作成した。
青色発光ダイオードが実装された基板を150℃に加熱した後、得られたエポキシ樹脂シートを、青色発光ダイオードを覆うように基板上に載せて、0.5 MPaの圧力で青色発光ダイオードを封止し、青色発光ダイオード装置を得た。
上記で得られた各樹脂シートまたは装置は以下の各評価に従って調べられ、その結果を表1および2に示す。
(光透過率)
各実施例及び比較例の樹脂シートについて、分光光度計(U−4100;日立ハイテク社製)を用いて波長450nmにおける光透過率(シート厚100μm換算)を測定した。
(耐熱性)
各実施例及び比較例の樹脂シートを、150℃の温風型乾燥機内に100時間静置した。100時間経過後の樹脂の透明性を目視で観察し、保存前の状態から変色がないものを○、保存前の状態から変色があるものを×として評価した。
(貯蔵弾性率)
各実施例及び比較例の樹脂シートについて、動的粘弾性測定装置(ARES;TAインストゥルメント社製)を用いて貯蔵弾性率を測定した。
(輝度保持率)
各実施例及び比較例の青色発光ダイオード装置に300mAの電流を流し、試験開始直後の輝度をMCPD(瞬間マルチ測光システムMCPD-3000、大塚電子社製)により測定した。その後、電流を流した状態で放置し、300時間経過後の輝度を同様にして測定し、下記の式に従って輝度保持率を算出した。なお、輝度保持率が70%以上のものを耐光性が良好と判断した。
輝度保持率(%)=(300 mA連続点灯300時間経過後の輝度/試験開始直後の輝度)×100
Figure 0004721364
Figure 0004721364
表1および表2の結果より、光半導体素子封止用樹脂は、高温使用時の変色がなく、光透過率が良好であり、かつ良好な貯蔵弾性率を有する、すなわちロール・トゥ・ロールで生産可能な可とう性を有していることが分かる。また、該樹脂を用いて光半導体素子を封止してなる光半導体装置は、良好な輝度保持率を有していることが分かる。
本発明の光半導体素子封止用樹脂は、例えば、液晶画面のバックライト、信号機、屋外の大型ディスプレイ、広告看板等に好適に用いることができる。

Claims (4)

  1. 式(I):
    Figure 0004721364
    (式中、R 1 及びR 2 は、それぞれ独立してアルキル基、シクロアルキル基、アルケニル基、アルキニル基又はアリール基、Xはヒドロキシ基、アルコキシ基、アルキル基、シクロアルキル基、アルケニル基、アルキニル基又はアリール基を示し、n=4〜250)
    で表されるケイ素化合物と、
    式(II):
    Figure 0004721364
    (式中、Y 1 、Y 2 及びY 3 は、それぞれ独立して水素又はアルキル基を示す)
    で表されるホウ素化合物及び式(III):
    Figure 0004721364
    (式中、Y 4 、Y 5 及びY 6 は、それぞれ独立して水素又はアルキル基を示す)
    で表されるアルミニウム化合物からなる群より選ばれる1種の化合物とを反応させて得られる樹脂を含む光半導体素子封止用樹脂シートであって、
    ケイ素化合物の数平均分子量が300〜20000、反応に供される化合物の総量に対するケイ素化合物の含有量が30〜99重量%であり、ケイ素化合物とホウ素化合物の重量比(ケイ素化合物/ホウ素化合物)が95/5〜30/70、ケイ素化合物とアルミニウム化合物の重量比(ケイ素化合物/アルミニウム化合物)が99/1〜30/70であることを特徴とする光半導体素子封止用樹脂シート
  2. 貯蔵弾性率が1.0×10〜1.0×10Paである、請求項1記載の光半導体素子封止用樹脂シート
  3. 請求項1又は2記載の光半導体素子封止用樹脂シートを用いて光半導体素子を封止してなる光半導体装置。
  4. 輝度保持率が70%以上である、請求項記載の光半導体装置。
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Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5084524B2 (ja) * 2008-01-21 2012-11-28 日東電工株式会社 光半導体素子封止用樹脂組成物の製造方法
JP2010054640A (ja) * 2008-08-27 2010-03-11 Nitto Denko Corp マイクロレンズアレイ
JP5099911B2 (ja) * 2008-09-11 2012-12-19 日東電工株式会社 熱硬化性組成物及び光半導体装置
US20110147722A1 (en) * 2009-10-16 2011-06-23 Hawker Craig J Semiconductor light emitting device comprising high performance resins
JP5775375B2 (ja) 2010-07-27 2015-09-09 日東電工株式会社 発光ダイオード装置の製造方法
JP2012227516A (ja) 2011-04-05 2012-11-15 Nitto Denko Corp 封止シート、発光ダイオード装置およびその製造方法
JP5827864B2 (ja) 2011-06-14 2015-12-02 日東電工株式会社 封止用シートおよび光半導体素子装置
JP6057582B2 (ja) * 2011-08-02 2017-01-11 石塚硝子株式会社 Led用封止材料
CN104126331B (zh) * 2012-02-24 2016-09-14 三井化学株式会社 光学器件面封装用组合物、光学器件面封装用片、显示器及显示器的制造方法
JP6033557B2 (ja) 2012-03-06 2016-11-30 日東電工株式会社 封止シート、および、それを用いた発光ダイオード装置の製造方法
JP6041511B2 (ja) * 2012-04-02 2016-12-07 石塚硝子株式会社 Led素子用接着剤
JP5963607B2 (ja) * 2012-08-10 2016-08-03 石塚硝子株式会社 有機無機接着性組成物
CN106008979A (zh) * 2015-03-27 2016-10-12 豪雅冠得股份有限公司 固化性树脂组合物及光半导体装置
JP6084739B2 (ja) * 2016-05-26 2017-02-22 石塚硝子株式会社 Led素子用封止材料
WO2019087286A1 (ja) * 2017-10-31 2019-05-09 日立化成株式会社 バリア材形成用組成物、バリア材及びその製造方法、並びに製品及びその製造方法

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3413242A (en) * 1967-07-24 1968-11-26 Dow Chemical Co Aluminum-oxygen-silicon polymers and method of preparation
CA1052802A (en) * 1973-07-24 1979-04-17 George T. Kwiatkowski High temperature carborane-siloxane elastomers intermediate polymeric products and process for preparation
DE2719091C3 (de) * 1976-06-23 1979-08-23 Th. Goldschmidt Ag, 4300 Essen Trennmittel für Polyurethanformmassen und Verfahren zu ihrer Herstellung
JPS59155483A (ja) * 1983-02-25 1984-09-04 Toshiba Silicone Co Ltd 表面硬化性シリコ−ンシ−リング材組成物
JPS6189281A (ja) * 1984-10-08 1986-05-07 Toshiba Silicone Co Ltd 表面硬化性シ−リング材
IL84025A0 (en) 1986-10-03 1988-02-29 Ppg Industries Inc Organosiloxane/metal oxide coating compositions and their production
DE3828098A1 (de) 1988-08-18 1990-03-08 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren und zusammensetzung zur herstellung von kratzfesten materialien
DE3920297A1 (de) 1989-06-21 1991-01-17 Henkel Kgaa Verfahren zur erzeugung von korrosionsschutzschichten auf metalloberflaechen
JP3193227B2 (ja) * 1994-03-24 2001-07-30 沖電気工業株式会社 シリコーン樹脂それを含む組成物、ケイ酸ガラス系無機膜の形成方法
JP3207688B2 (ja) * 1994-10-20 2001-09-10 沖電気工業株式会社 ケイ酸ガラス系無機膜の形成方法
JPH08268735A (ja) * 1995-03-30 1996-10-15 Central Glass Co Ltd 耐熱性合せガラス
JPH0948787A (ja) 1995-05-30 1997-02-18 Shin Etsu Chem Co Ltd アルミノシロキサン、チタノシロキサン及びそれらの製造方法
US5614654A (en) * 1995-05-30 1997-03-25 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Aluminosiloxanes, titanosiloxanes, (poly)stannosiloxanes, and their preparation
JPH1095852A (ja) * 1996-09-25 1998-04-14 Nippon Steel Corp 無機・有機ハイブリッド型エラストマー及びその製造方法
JPH11246661A (ja) * 1998-03-04 1999-09-14 Nippon Steel Corp 透光性無機・有機ハイブリッド
DE19814060A1 (de) 1998-03-30 1999-10-07 Bayer Ag Borhaltige Mischungen, Hybridmaterialien und Beschichtungen
US6313220B1 (en) * 2000-03-03 2001-11-06 Thierry Florent Edme Materne Preparation of reinforced elastomer, elastomer composite, and tire having component thereof
JP2003165841A (ja) * 2001-11-29 2003-06-10 Dow Corning Toray Silicone Co Ltd ポリオルガノメタロシロキサンおよびその製造方法
US6727337B2 (en) * 2002-05-16 2004-04-27 The Australian National University Low loss optical material
JP2006077234A (ja) * 2004-08-10 2006-03-23 Shin Etsu Chem Co Ltd Led素子封止用樹脂組成物および該組成物を硬化してなる硬化物
US20060035092A1 (en) 2004-08-10 2006-02-16 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Resin composition for sealing LED elements and cured product generated by curing the composition
JP4634810B2 (ja) * 2005-01-20 2011-02-16 信越化学工業株式会社 シリコーン封止型led
MY143212A (en) 2005-03-01 2011-03-31 Nitto Denko Corp Photosemiconductor encapsulant of epoxy resin, anhydride and aromatic silicone resin
JP4791083B2 (ja) 2005-05-30 2011-10-12 信越化学工業株式会社 光関連デバイス封止用樹脂組成物およびその硬化物
JP2007306817A (ja) 2006-05-16 2007-11-29 Sysmex Corp Rsウイルスを検出するためのポリヌクレオチド及びこれを用いた検出方法
JP2008231400A (ja) * 2007-02-20 2008-10-02 Suzuka Fuji Xerox Co Ltd 光学素子用樹脂組成物及び硬化性樹脂組成物
JP5024878B2 (ja) * 2007-11-28 2012-09-12 日東電工株式会社 ポリボロシロキサンを含む光半導体素子封止用樹脂、およびそれを用いて得られる光半導体装置

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