JP4716035B2 - シリカ系膜およびその形成方法 - Google Patents
シリカ系膜およびその形成方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4716035B2 JP4716035B2 JP2007033689A JP2007033689A JP4716035B2 JP 4716035 B2 JP4716035 B2 JP 4716035B2 JP 2007033689 A JP2007033689 A JP 2007033689A JP 2007033689 A JP2007033689 A JP 2007033689A JP 4716035 B2 JP4716035 B2 JP 4716035B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bis
- film
- acid
- ether
- sec
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Landscapes
- Formation Of Insulating Films (AREA)
- Silicon Polymers (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
Description
(A)成分;下記一般式(1)で表される化合物および下記一般式(2)で表される化合物の群から選ばれた少なくとも1種の化合物を、原料比で全化合物の少なくとも50モル%以上含有するシラン化合物を加水分解縮合して得られた加水分解縮合物、
ならびに有機溶媒と、を含む絶縁膜形成用組成物を基板に塗布し、紫外線または電子線により硬化して得られたシリカ系膜。
Si(OR1)4 ・・・・・(1)
(式中、R1は1価の有機基を示す。)
R2 a(R3O)3−aSi−(R6)c−Si(OR4)3−bR5 b ・・・(2)
(式中、R2〜R5は同一または異なり、それぞれ1価の有機基を示し、aおよびbは同一または異なり、0〜1の数を示し、R6は酸素原子、フェニレン基または−(CH2)m−で表される基(ここで、mは1〜6の整数である。)を表し、cは0または1を示す。)
本発明において、「加水分解性」とは、シラン化合物の加水分解縮合時に加水分解されうる基を有することをいう。
R7 dSi(OR8)4−d ・・・・・(3)
(式中、R7は水素原子、フッ素原子または1価の有機基を表し、R8は1価の有機基を表し、dは1〜3の整数を示す。)
また、上記シリカ系膜において、絶縁膜形成用組成物が膜中空孔形成剤として有機高分子をさらに含むことができる。
Si(OR1)4 ・・・・・(1)
(式中、R1は1価の有機基を示す。)
R2 a(R3O)3−aSi−(R6)c−Si(OR4)3−bR5 b ・・・(2)
(式中、R2〜R5は同一または異なり、それぞれ1価の有機基を示し、aおよびbは同一または異なり、0〜1の数を示し、R6は酸素原子、フェニレン基または−(CH2)m−で表される基(ここで、mは1〜6の整数である。)を表し、cは0または1を示す。)
本発明の一実施形態にかかるシリカ系膜を形成するための絶縁膜形成用組成物は、(A)成分;下記一般式(1)で表される化合物(以下、「化合物1」ともいう。)および下記一般式(2)で表される化合物(以下、「化合物2」ともいう。)の群から選ばれた少なくとも1種のシラン化合物50〜100モル%と、(B)成分;他の加水分解性シラン化合物0〜50モル%とを加水分解縮合して得られた加水分解縮合物と、有機溶媒と、を含む。
Si(OR1)4 ・・・・・(1)
(式中、R1は1価の有機基を示す。)
R2 a(R3O)3−aSi−(R6)c−Si(OR4)3−bR5 b ・・・(2)
(式中、R2〜R5は同一または異なり、それぞれ1価の有機基を示し、aおよびbは同一または異なり、0〜1の数を示し、R6は酸素原子、フェニレン基または−(CH2)m−で表される基(ここで、mは1〜6の整数である。)を表し、cは0または1を示す。)
以下、本実施形態に係る絶縁膜形成用組成物を製造するために使用する各成分について説明する。
1.1.1.(A)成分
加水分解縮合物を得るために使用する(A)成分は(A)成分同士が縮合し、Si−O−Si結合を形成できる。また、(B)成分を使用する場合はさらに(B)成分と縮合し、Si−O−Si結合を形成できる。本発明において、加水分解縮合物を得るために使用する原料として、(A)成分を全シラン化合物の50〜100モル%(原料比)含有するが、好ましくは65〜100モル%含有し、特に好ましくは85モル%〜100モル%含有する。
上記一般式(1)において、R1で表される1価の有機基としては、アルキル基、アルケニル基、アリール基、アリル基、グリシジル基等を挙げることができる。なかでも、R1で表される1価の有機基は、アルキル基またはフェニル基であることが好ましい。
上記一般式(2)において、R2〜R5としては、前記一般式(1)のR1として例示したものと同様の基を挙げることができる。
(B)成分である他の加水分解性シラン化合物は例えば、後述する一般式(3)で表される化合物(以下、「化合物3」ともいう。)が挙げられる。
R7 dSi(OR8)4−d ・・・・・(3)
(式中、R7は水素原子、フッ素原子または1価の有機基を表し、R8は1価の有機基を表し、dは1〜3の整数を示す。)
上記一般式(3)において、R7,R8の1価の有機基としては、前記一般式(1)のR1として例示したものと同様の基を挙げることができる。
シラン化合物を加水分解縮合する際に、(C)触媒を使用することができる。(C)触媒は、塩基性化合物、酸性化合物、および金属キレート化合物から選ばれた少なくとも1種の化合物であることが好ましい。
(C)触媒として使用可能な金属キレート化合物は、下記一般式(4)で表される。
(式中、R9はキレート剤、Mは金属原子、R10はアルキル基またはアリール基を示し、fは金属Mの原子価を示し、eは1〜fの整数を示す。)
ここで、金属Mとしては、IIIB族金属(アルミニウム、ガリウム、インジウム、タリウム)およびIVA族金属(チタン、ジルコニウム、ハフニウム)より選ばれる少なくとも1種の金属であることが好ましく、チタン、アルミニウム、ジルコニウムがより好ましい。また、R10で表されるアルキル基またはアリール基としては、上記一般式(1)におけるR1で表されるアルキル基またはアリール基を挙げることができる。
(C)触媒として使用可能な酸性化合物としては、有機酸または無機酸が例示できる。有機酸としては、例えば、酢酸、プロピオン酸、ブタン酸、ペンタン酸、ヘキサン酸、ヘプタン酸、オクタン酸、ノナン酸、デカン酸、シュウ酸、マレイン酸、メチルマロン酸、アジピン酸、セバシン酸、没食子酸、酪酸、メリット酸、アラキドン酸、シキミ酸、2−エチルヘキサン酸、オレイン酸、ステアリン酸、リノール酸、リノレイン酸、サリチル酸、安息香酸、p−アミノ安息香酸、p−トルエンスルホン酸、ベンゼンスルホン酸、モノクロロ酢酸、ジクロロ酢酸、トリクロロ酢酸、トリフルオロ酢酸、ギ酸、マロン酸、スルホン酸、フタル酸、フマル酸、クエン酸、酒石酸、無水マレイン酸、フマル酸、イタコン酸、コハク酸、メサコン酸、シトラコン酸、リンゴ酸、マロン酸、グルタル酸の加水分解物、無水マレイン酸の加水分解物、無水フタル酸の加水分解物等を挙げることができる。無機酸としては、例えば、塩酸、硝酸、硫酸、フッ酸、リン酸等を挙げることができる。
(C)触媒として使用可能な塩基性化合物としては、例えば、メタノールアミン、エタノールアミン、プロパノールアミン、ブタノールアミン、N−メチルメタノールアミン、N−エチルメタノールアミン、N−プロピルメタノールアミン、N−ブチルメタノールアミン、N−メチルエタノールアミン、N−エチルエタノールアミン、N−プロピルエタノールアミン、N−ブチルエタノールアミン、N−メチルプロパノールアミン、N−エチルプロパノールアミン、N−プロピルプロパノールアミン、N−ブチルプロパノールアミン、N−メチルブタノールアミン、N−エチルブタノールアミン、N−プロピルブタノールアミン、N−ブチルブタノールアミン、N,N−ジメチルメタノールアミン、N,N−ジエチルメタノールアミン、N,N−ジプロピルメタノールアミン、N,N−ジブチルメタノールアミン、N,N−ジメチルエタノールアミン、N,N−ジエチルエタノールアミン、N,N−ジプロピルエタノールアミン、N,N−ジブチルエタノールアミン、N,N−ジメチルプロパノールアミン、N,N−ジエチルプロパノールアミン、N,N−ジプロピルプロパノールアミン、N,N−ジブチルプロパノールアミン、N,N−ジメチルブタノールアミン、N,N−ジエチルブタノールアミン、N,N−ジプロピルブタノールアミン、N,N−ジブチルブタノールアミン、N−メチルジメタノールアミン、N−エチルジメタノールアミン、N−プロピルジメタノールアミン、N−ブチルジメタノールアミン、N−メチルジエタノールアミン、N−エチルジエタノールアミン、N−プロピルジエタノールアミン、N−ブチルジエタノールアミン、N−メチルジプロパノールアミン、N−エチルジプロパノールアミン、N−プロピルジプロパノールアミン、N−ブチルジプロパノールアミン、N−メチルジブタノールアミン、N−エチルジブタノールアミン、N−プロピルジブタノールアミン、N−ブチルジブタノールアミン、N−(アミノメチル)メタノールアミン、N−(アミノメチル)エタノールアミン、N−(アミノメチル)プロパノールアミン、N−(アミノメチル)ブタノールアミン、N−(アミノエチル)メタノールアミン、N−(アミノエチル)エタノールアミン、N−(アミノエチル)プロパノールアミン、N−(アミノエチル)ブタノールアミン、N−(アミノプロピル)メタノールアミン、N−(アミノプロピル)エタノールアミン、N−(アミノプロピル)プロパノールアミン、N−(アミノプロピル)ブタノールアミン、N−(アミノブチル)メタノールアミン、N−(アミノブチル)エタノールアミン、N−(アミノブチル)プロパノールアミン、N−(アミノブチル)ブタノールアミン、メトキシメチルアミン、メトキシエチルアミン、メトキシプロピルアミン、メトキシブチルアミン、エトキシメチルアミン、エトキシエチルアミン、エトキシプロピルアミン、エトキシブチルアミン、プロポキシメチルアミン、プロポキシエチルアミン、プロポキシプロピルアミン、プロポキシブチルアミン、ブトキシメチルアミン、ブトキシエチルアミン、ブトキシプロピルアミン、ブトキシブチルアミン、メチルアミン、エチルアミン、プロピルアミン、ブチルアミン、N,N−ジメチルアミン、N,N−ジエチルアミン、N,N−ジプロピルアミン、N,N−ジブチルアミン、トリメチルアミン、トリエチルアミン、トリプロピルアミン、トリブチルアミン、テトラメチルアンモニウムハイドロキサイド、テトラエチルアンモニウムハイドロキサイド、テトラプロピルアンモニウムハイドロキサイド、テトラブチルアンモニウムハイドロキサイド、テトラメチルエチレンジアミン、テトラエチルエチレンジアミン、テトラプロピルエチレンジアミン、テトラブチルエチレンジアミン、メチルアミノメチルアミン、メチルアミノエチルアミン、メチルアミノプロピルアミン、メチルアミノブチルアミン、エチルアミノメチルアミン、エチルアミノエチルアミン、エチルアミノプロピルアミン、エチルアミノブチルアミン、プロピルアミノメチルアミン、プロピルアミノエチルアミン、プロピルアミノプロピルアミン、プロピルアミノブチルアミン、ブチルアミノメチルアミン、ブチルアミノエチルアミン、ブチルアミノプロピルアミン、ブチルアミノブチルアミン、ピリジン、ピロール、ピペラジン、ピロリジン、ピペリジン、ピコリン、モルホリン、メチルモルホリン、ジアザビシクロオクラン、ジアザビシクロノナン、ジアザビシクロウンデセン、アンモニア、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化バリウム、水酸化カルシウムなどを挙げることができる。
上記一般式(5)において、X1,X2,X3,X4は同一または異なり、それぞれ水素原子、炭素数1〜20のアルキル基(好ましくはメチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ヘキシル基など)、ヒドロキシアルキル基(好ましくはヒドロキシエチル基など)、アリール基(好ましくはフェニル基など)、アリールアルキル基(好ましくはフェニルメチル基など)を示し、Yはハロゲン原子(好ましくはフッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子など)、1〜4価のアニオン性基(好ましくはヒドロキシ基など)を示し、gは1〜4の整数を示す。
加水分解縮合物を製造する際に使用可能な有機溶剤としては、例えば、メタノール、エタノール、n−プロパノール、i−プロパノール、n−ブタノール、i−ブタノール、sec−ブタノール、t−ブタノール等のアルコール系溶剤;エチレングリコール、1,2−プロピレングリコール、1,3−ブチレングリコール、2,4−ペンタンジオール、2−メチル−2,4−ペンタンジオール、2,5−ヘキサンジオール、2,4−ヘプタンジオール、2−エチル−1,3−ヘキサンジオール、ジエチレングリコール、ジプロピレングリコール、トリエチレングリコール、トリプロピレングリコールなどの多価アルコール系溶剤;エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノプロピルエーテル、エチレングリコールモノブチルエーテルなどの多価アルコール部分エーテル系溶剤;エチルエーテル、i−プロピルエーテル、n−ブチルエーテル、n−ヘキシルエーテル、2−エチルヘキシルエーテル、エチレンオキシド、1,2−プロピレンオキシド、ジオキソラン、4−メチルジオキソラン、ジオキサン、ジメチルジオキサン、エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテルなどのエーテル系溶剤;アセトン、メチルエチルケトン、メチル−n−プロピルケトン、メチル−n−ブチルケトン、ジエチルケトン、メチル−i−ブチルケトン、メチル−n−ペンチルケトン、エチル−n−ブチルケトン、メチル−n−ヘキシルケトン、ジ−i−ブチルケトン、トリメチルノナノン、シクロペンタノン、シクロヘキサノン、シクロヘプタノン、シクロオクタノン、2−ヘキサノン、メチルシクロヘキサノン、2,4−ペンタンジオン、アセトニルアセトン、ジアセトンアルコール、などのケトン系溶剤が挙げられる。
本実施形態に係る膜形成用組成物で使用可能な有機溶媒としては、アルコール系溶媒、ケトン系溶媒、アミド系溶媒、エーテル系溶媒、エステル系溶媒、脂肪族炭化水素系溶媒、芳香族系溶媒および含ハロゲン溶媒の群から選ばれた少なくとも1種が挙げられる。
エチレングリコール、1,2−プロピレングリコール、1,3−ブチレングリコール、2,4−ペンタンジオール、2−メチル−2,4−ペンタンジオール、2,5−ヘキサンジオール、2,4−ヘプタンジオール、2−エチル−1,3−ヘキサンジオール、ジエチレングリコール、ジプロピレングリコール、トリエチレングリコール、トリプロピレングリコールなどの多価アルコール系溶媒;
エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノプロピルエーテル、エチレングリコールモノブチルエーテル、エチレングリコールモノヘキシルエーテル、エチレングリコールモノフェニルエーテル、エチレングリコールモノ−2−エチルブチルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールモノプロピルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテル、ジエチレングリコールモノヘキシルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノプロピルエーテル、プロピレングリコールモノブチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノエチルエーテル、ジプロピレングリコールモノプロピルエーテルなどの多価アルコール部分エーテル系溶媒;などを挙げることができる。これらのアルコール系溶媒は、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
本実施形態に係る膜形成用組成物には、さらに有機高分子や界面活性剤などの成分を添加してもよい。
本実施形態に係る膜形成用組成物は、膜中空孔形成剤として有機高分子をさらに含むことができる。
−(X′)l−(Y′)m−(X′)n−
(式中、X′は−CH2CH2O−で表される基を、Y′は−CH2CH(CH3)O−で表される基を示し、lは1〜90、mは10〜99、nは0〜90の数を示す。)
これらの中で、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマー、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレングリセリン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビトール脂肪酸エステル、などのエーテル型化合物をより好ましい例として挙げることができる。前述の有機ポリマーは、1種あるいは2種以上を同時に使用しても良い。
界面活性剤としては、たとえば、ノニオン系界面活性剤、アニオン系界面活性剤、カチオン系界面活性剤、両性界面活性剤などが挙げられ、さらには、フッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤、ポリアルキレンオキシド系界面活性剤、ポリ(メタ)アクリレート系界面活性剤などを挙げることができ、好ましくはフッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤を挙げることができる。
本発明の一実施形態に係るシリカ系膜(絶縁膜)の形成方法は、上記膜形成用組成物を基板に塗布し、塗膜を形成する工程と、塗膜に硬化処理を施す工程とを含む。
本発明の一実施形態に係るシリカ系膜は、低誘電率であり、かつ表面平坦性に優れるため、LSI、システムLSI、DRAM、SDRAM、RDRAM、D−RDRAMなどの半導体素子用層間絶縁膜として特に優れており、かつ、エッチングストッパー膜、半導体素子の表面コート膜などの保護膜、多層レジストを用いた半導体作製工程の中間層、多層配線基板の層間絶縁膜、液晶表示素子用の保護膜や絶縁膜などに好適に用いることができる。また、本実施形態に係るシリカ系膜は、銅ダマシンプロセスを含む半導体装置に有用である。
以下、本発明を、実施例を挙げてさらに具体的に説明する。本発明は以下の実施例に限定されるものではない。なお、実施例および比較例中の「部」および「%」は、特記しない限り、それぞれ重量部および質量%であることを示している。
各種の評価は次のようにして行った。
0.1Ω・cm以下の抵抗率を有する8インチのN型シリコンウエハ上に形成された有機シリカ系膜に、蒸着法によりアルミニウム電極パターンを形成させ比誘電率測定用サンプルを作成した。該サンプルを周波数100kHzの周波数で、アジレント社製、HP16451B電極およびHP4284AプレシジョンLCRメータを用いてCV法により有機シリカ系膜の比誘電率を200℃にて測定した。Δkは、24℃、40%RHの雰囲気で測定した比誘電率(k@RT)と、200℃、乾燥窒素雰囲気下で測定した比誘電率(k@200℃)との差(Δk=k@RT−k@200℃)である。かかるΔkにより、主に、膜の吸湿による比誘電率の上昇分を評価することができる。通常、Δkが0.15以上であると、吸湿性の高い有機シリカ膜であると言える。
膜の弾性率は、MTS社製超微小硬度計(Nanoindentator XP)にバーコビッチ型圧子を取り付け、連続剛性測定法により、下記の方法で形成された有機シリカ系膜の弾性率を測定した。すなわち、各実施例及び比較例で得られた組成物をスピンコート法でシリコンウェハ上に塗布したのち、ホットプレート上にて90℃で3分間、窒素雰囲気下200℃で3分間基板を乾燥し、さらに400℃の窒素雰囲気下にてホットプレートで基板を60分間焼成して、膜厚500μmのポリマー膜を得て、このポリマー膜を弾性率の評価に使用した、
4.1.3.重量平均分子量;Mw
加水分解縮合物の重量平均分子量;Mwは、下記条件によるサイズ排除クロマトグラフィー(SEC)法により測定した。
カラム:東ソー(株)社製 TSK−GEL SUPER AWM−H(長さ15cm)を直列に3本設置して使用した。
流速:0.6ml/min.
検出器:東ソー(株)社製 高速GPC装置(モデル HLC−8120GPC)内臓のRIにより検出した。
4.2.1.合成例1
窒素置換した石英製セパラブルフラスコ内に、メチルトリメトキシシラン60.9g、テトラメトキシシラン177.3g、プロピレングリコールモノエチルエーテル599.1gを加え、これを水浴で60℃に加熱した後に20%シュウ酸水溶液2.3g、超純水160.4gを加えて60℃で5時間撹拌させた。この液を減圧下で全溶液量500gとなるまで濃縮し、固形分含有量20%とした後に、プロピレングリコールモノエチルエーテルにて固形分10%まで希釈し、組成物溶液(A)を得た。本合成例から得られたポリシロキサンの分子量は2,300であった。
窒素置換した石英製セパラブルフラスコ内に、メチルトリメトキシシラン50.7g、ビス(トリエトキシシリル)エタン67.0g、エタノール629.6gを加え、これを水浴で60℃に加熱した後に20%テトラプロピルアンモニウムハイドロキサイド水溶液45.8g、超純水206.8gを加えて60℃で5時間撹拌させた。ここに20%マレイン酸水溶液を32.7g加えて中和した後、この液を減圧下で全溶液量250gとなるまで濃縮し、固形分含有量20%とした後に、プロピレングリコールモノエチルエーテルにて固形分10%まで希釈し、組成物溶液(B)を得た。本合成例から得られたポリシロキサンの分子量は13,400であった。
窒素置換した石英製セパラブルフラスコ内に、テトラメトキシシラン253.3g、プロピレングリコールモノエチルエーテル506.7gを加え、これを水浴で60℃に加熱した後にテトラキス(アセチルアセトナート)チタン0.010g、超純水239.9gを加えて60℃で2時間撹拌させた。この液を減圧下で全溶液量500gとなるまで濃縮し、固形分含有量20%とした後に、プロピレングリコールモノエチルエーテルにて固形分10%まで希釈し、組成物溶液(C)を得た。本合成例から得られたポリシロキサンの分子量は4,100であった。
窒素置換した石英製セパラブルフラスコ内に、メチルトリメトキシシラン142.1g、テトラメトキシシラン76.0g、プロピレングリコールモノエチルエーテル643.0gを加え、これを水浴で60℃に加熱した後に20%シュウ酸水溶液1.9g、超純水137.1gを加えて60℃で5時間撹拌させた。この液を減圧下で全溶液量500gとなるまで濃縮し、固形分含有量20%とした後に、プロピレングリコールモノエチルエーテルにて固形分10%まで希釈し、組成物溶液(D)を得た。本合成例から得られたポリシロキサンの分子量は1,900であった。
窒素置換した石英製セパラブルフラスコ内に、メチルトリメトキシシラン81.2g、ビス(トリエトキシシリル)エタン26.8g、エタノール640.5gを加え、これを水浴で60℃に加熱した後に20%テトラプロピルアンモニウムハイドロキサイド水溶液45.6g、超純水205.9gを加えて60℃で5時間撹拌させた。ここに20%マレイン酸水溶液を32.5g加えて中和した後、この液を減圧下で全溶液量250gとなるまで濃縮し、固形分含有量20%とした後に、プロピレングリコールモノエチルエーテルにて固形分10%まで希釈し、組成物溶液(E)を得た。本合成例から得られたポリシロキサンの分子量は10,400であった。
窒素置換した石英製セパラブルフラスコ内に、メチルトリメトキシシラン142.1g、テトラメトキシシラン76.0g、プロピレングリコールモノエチルエーテル597.2gを加え、これを水浴で60℃に加熱した後にテトラキス(アセチルアセトナート)チタン0.010g、超純水184.7gを加えて60℃で2時間撹拌させた。この液を減圧下で全溶液量500gとなるまで濃縮し、固形分含有量20%とした後に、プロピレングリコールモノエチルエーテルにて固形分10%まで希釈し、組成物溶液(F)を得た。本合成例から得られたポリシロキサンの分子量は3,600であった。
4.3.1.実施例1および比較例1〜11
前記合成例1〜6において得られた各組成物溶液を8インチシリコンウエハ上にスピンコート法により塗布し、大気中80℃で5分間、次いで窒素下200℃で5分間加熱した。なお添加剤として膜中の空孔形成用の有機高分子「PE−61」が用いられている例に関しては、三洋化成工業製ポリオキシエチレンポリオキシプロピレン ブロックコポリマー「PE−61」を組成物溶液にポリシロキサンの固形分換算で60部添加してから塗布した。さらに各例に示された方法により架橋処理を実施し、無色透明の膜を形成した。溶液および膜の評価結果を表1に示す。なお架橋処理方法については以下の通りである。
(1)実施例1、比較例11はいずれも、4官能以上の加水分解性シランモノマーの構成比を50%以上にしてポリシロキサンを合成し、これを含む膜形成用組成物を塗布し、紫外線または電子線処理で架橋させたものである。いずれも対応する比較例4,6と比べ低いΔkを示したことから、これらの膜は吸湿性の低い膜であることがわかる。さらに弾性率も比誘電率に対して高いことがわかる。また比較例10では膜中の空孔形成用に有機高分子を用いているが、この場合でも比誘電率は熱処理と同等にも関わらず比較例5、吸湿性が低く、高い弾性率の膜を得ることが出来た。
Claims (3)
- 70モル%以上の(A)成分;下記一般式(1)で表される化合物、および30モル%以下の(B)成分;下記一般式(3)で表される化合物を含有するシラン化合物を加水分解縮合して得られた加水分解縮合物と、有機溶媒と、を含む絶縁膜形成用組成物を基板に塗布し、紫外線により硬化して得られたシリカ系膜。
Si(OR1)4 ・・・・・(1)
(式中、R1は1価の有機基を示す。)
R 7 d Si(OR 8 ) 4−d ・・・・・(3)
(式中、R 7 は水素原子、フッ素原子または1価の有機基を表し、R 8 は1価の有機基を表し、dは1〜3の整数を示す。) - 請求項1において、
絶縁膜形成用組成物が膜中空孔形成剤として有機高分子をさらに含む、シリカ系膜。 - 70モル%以上の(A)成分;下記一般式(1)で表される化合物、および30モル%以下の(B)成分;下記一般式(3)で表される化合物を含有するシラン化合物を加水分解縮合して、加水分解縮合物を得る工程と、
前記加水分解縮合物および有機溶媒を含む絶縁膜形成用組成物を基板に塗布し、塗膜を形成する工程と、
前記塗膜に紫外線を照射する硬化処理を施す工程と、
を含む、シリカ系膜の形成方法。
Si(OR1)4 ・・・・・(1)
(式中、R1は1価の有機基を示す。)
R 7 d Si(OR 8 ) 4−d ・・・・・(3)
(式中、R 7 は水素原子、フッ素原子または1価の有機基を表し、R 8 は1価の有機基を表し、dは1〜3の整数を示す。)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007033689A JP4716035B2 (ja) | 2007-02-14 | 2007-02-14 | シリカ系膜およびその形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007033689A JP4716035B2 (ja) | 2007-02-14 | 2007-02-14 | シリカ系膜およびその形成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008198853A JP2008198853A (ja) | 2008-08-28 |
JP4716035B2 true JP4716035B2 (ja) | 2011-07-06 |
Family
ID=39757525
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007033689A Active JP4716035B2 (ja) | 2007-02-14 | 2007-02-14 | シリカ系膜およびその形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4716035B2 (ja) |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000328004A (ja) * | 1999-05-21 | 2000-11-28 | Jsr Corp | 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料 |
JP2001354904A (ja) * | 2000-04-10 | 2001-12-25 | Jsr Corp | 膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜 |
JP2002164338A (ja) * | 2000-11-24 | 2002-06-07 | Ulvac Japan Ltd | 多孔質sog膜の疎水化処理方法 |
JP2003031569A (ja) * | 2001-04-24 | 2003-01-31 | Nissan Chem Ind Ltd | シリカ系厚膜の形成方法 |
JP2005116925A (ja) * | 2003-10-10 | 2005-04-28 | Jsr Corp | 積層体、積層体の形成方法、絶縁層ならびに半導体基板 |
JP2005154723A (ja) * | 2003-10-30 | 2005-06-16 | Jsr Corp | 絶縁膜形成用組成物、絶縁膜形成用組成物の製造方法、絶縁膜およびその形成方法 |
JP2006077245A (ja) * | 2004-09-07 | 2006-03-23 | Rohm & Haas Electronic Materials Llc | 多孔質物質およびその製造方法 |
JP2007266502A (ja) * | 2006-03-29 | 2007-10-11 | Fujifilm Corp | 化学的機械的平坦化方法 |
JP2008124224A (ja) * | 2006-11-10 | 2008-05-29 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 被膜の形成方法 |
JP2008198852A (ja) * | 2007-02-14 | 2008-08-28 | Jsr Corp | 絶縁膜形成用組成物、ならびにシリカ系膜およびその形成方法 |
-
2007
- 2007-02-14 JP JP2007033689A patent/JP4716035B2/ja active Active
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000328004A (ja) * | 1999-05-21 | 2000-11-28 | Jsr Corp | 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料 |
JP2001354904A (ja) * | 2000-04-10 | 2001-12-25 | Jsr Corp | 膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜 |
JP2002164338A (ja) * | 2000-11-24 | 2002-06-07 | Ulvac Japan Ltd | 多孔質sog膜の疎水化処理方法 |
JP2003031569A (ja) * | 2001-04-24 | 2003-01-31 | Nissan Chem Ind Ltd | シリカ系厚膜の形成方法 |
JP2005116925A (ja) * | 2003-10-10 | 2005-04-28 | Jsr Corp | 積層体、積層体の形成方法、絶縁層ならびに半導体基板 |
JP2005154723A (ja) * | 2003-10-30 | 2005-06-16 | Jsr Corp | 絶縁膜形成用組成物、絶縁膜形成用組成物の製造方法、絶縁膜およびその形成方法 |
JP2006077245A (ja) * | 2004-09-07 | 2006-03-23 | Rohm & Haas Electronic Materials Llc | 多孔質物質およびその製造方法 |
JP2007266502A (ja) * | 2006-03-29 | 2007-10-11 | Fujifilm Corp | 化学的機械的平坦化方法 |
JP2008124224A (ja) * | 2006-11-10 | 2008-05-29 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 被膜の形成方法 |
JP2008198852A (ja) * | 2007-02-14 | 2008-08-28 | Jsr Corp | 絶縁膜形成用組成物、ならびにシリカ系膜およびその形成方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008198853A (ja) | 2008-08-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100528949B1 (ko) | 실리카계 막의 제조 방법, 실리카계 막, 절연막 및 반도체장치 | |
US8404786B2 (en) | Polymer and process for producing the same, composition for forming insulating film, and insulating film and method of forming the same | |
US7736748B2 (en) | Insulating-film-forming composition, method of producing the same, silica-based insulating film, and method of forming the same | |
JP5105041B2 (ja) | 絶縁膜形成用組成物およびその製造方法、ならびにシリカ系絶縁膜およびその形成方法 | |
JP5120547B2 (ja) | 有機シリカ系膜およびその形成方法、半導体装置の絶縁膜形成用組成物およびその製造方法、ならびに配線構造体および半導体装置 | |
JP2005350653A (ja) | 有機シリカ系膜の形成方法、有機シリカ系膜、配線構造体、半導体装置、および膜形成用組成物 | |
JP4877486B2 (ja) | 絶縁膜形成用組成物およびその製造方法、ならびにシリカ系絶縁膜およびその形成方法 | |
JP3906916B2 (ja) | 膜形成用組成物、膜形成方法および膜 | |
JP2005175060A (ja) | 絶縁膜およびその形成方法、ならびに膜形成用組成物 | |
JP4662000B2 (ja) | 膜形成用組成物、膜の形成方法および絶縁膜 | |
JP2010106100A (ja) | 絶縁膜形成用組成物、ならびに絶縁膜およびその形成方法 | |
JP5423937B2 (ja) | 絶縁膜形成用組成物の製造方法、ポリマーの製造方法 | |
JP2007262256A (ja) | ポリマーおよびその製造方法、絶縁膜形成用組成物、絶縁膜の製造方法、ならびにシリカ系絶縁膜 | |
JP4143845B2 (ja) | 絶縁膜およびその形成方法、ならびに絶縁膜を有する積層体およびその形成方法 | |
JP2006093657A (ja) | 有機シリカ系膜およびその形成方法、半導体装置の絶縁膜形成用組成物、ならびに配線構造体および半導体装置 | |
JP4022802B2 (ja) | 膜形成用組成物、膜の形成方法および絶縁膜 | |
JP2005272816A (ja) | ポリマーおよびその製造方法、絶縁膜形成用組成物、ならびに絶縁膜およびその形成方法 | |
JP5152464B2 (ja) | 絶縁膜形成用組成物、ならびにシリカ系膜およびその形成方法 | |
JP2004059738A (ja) | 膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜 | |
JP4101989B2 (ja) | ポリオルガノシロキサン系組成物の製造方法、ポリオルガノシロキサン系組成物、および膜 | |
JP4798330B2 (ja) | 絶縁膜形成用組成物、絶縁膜、およびその形成方法 | |
JP2007262255A (ja) | ポリマーおよびその製造方法、絶縁膜形成用組成物、絶縁膜の製造方法、ならびにシリカ系絶縁膜 | |
JP2008195862A (ja) | 絶縁膜形成用組成物、ならびにシリカ系膜およびその形成方法 | |
JPWO2008096656A1 (ja) | ケイ素含有ポリマーおよびその合成方法、膜形成用組成物、ならびにシリカ系膜およびその形成方法 | |
JP4716035B2 (ja) | シリカ系膜およびその形成方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090902 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20101129 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101201 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110128 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110302 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110315 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4716035 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140408 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140408 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |