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JP4760012B2 - レンズ偏芯量測定方法と装置 - Google Patents

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JP4760012B2 JP2004372800A JP2004372800A JP4760012B2 JP 4760012 B2 JP4760012 B2 JP 4760012B2 JP 2004372800 A JP2004372800 A JP 2004372800A JP 2004372800 A JP2004372800 A JP 2004372800A JP 4760012 B2 JP4760012 B2 JP 4760012B2
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Description

本発明は、レンズの偏芯量を測定する装置に関して、レンズ面からの反射光を観察することによってレンズ偏芯量を検出する技術及びその装置に関するものである。
従来のレンズの各面の偏芯量を光学的に測定する方法・装置として、図15に示すものが知られている(非特許文献1の図11.2参照)。
図15において、コリメータレンズ2とフォーカスレンズ3と撮像面8を持つカメラ7は1つの同じ光軸上に配置されていて、前記光軸はハーフミラー6によって折り曲げられて光源1の光軸とほぼ一致している。撮像面8の中心は光軸とほぼ一致している。撮像面8と光源1の発光点はいずれもコリメータレンズ2の焦点位置とほぼ一致している。図15に実線で示すような経路で、光源1から出射された光はハーフミラー6により折り返されて光軸に沿ってコリメータレンズ2を通り平行光化され、フォーカスレンズ3を通りフォーカスレンズ3の焦点位置9で収束した後、支持枠4で支持されている被検レンズ面5に入射する。光軸上で焦点位置9と被検レンズ面5の曲率中心がほぼ一致している場合、被検レンズ面5で反射された光は入射光と同一の経路でフォーカスレンズ3を通り、コリメータレンズ2を通り、ハーフミラー6を一部透過し、撮像面8へ集光するのでカメラ7の観察画面10の中心にはスポット11が確認できる。ここで被検レンズ面5が光軸に対しての垂直を保ったまま矢印13の向きへ偏芯すると、被検レンズ面5からの反射光が被検レンズ面5の偏芯に応じてずれるので(非特許文献1の図11.1参照)図15に示す破線のような経路でカメラ7の撮像面8へ集光するのでカメラ7の観察画面10には中心からずれたスポット12が確認できる。光軸と観察画面10の中心はほぼ一致させてあるので、中心からのスポットのずれ量から被検レンズ面5の光軸からの偏芯量が測定できる。また、被検レンズ面が光軸方向に沿って複数枚存在する場合には、フォーカスレンズ3を光軸に沿って動かし、焦点9を所望の被検レンズ面の曲率中心とほぼ一致させることで、複数のレンズ面から構成される光学系の各被検レンズ面の偏芯量が測定できる。あるレンズ面がある量だけ偏芯したり傾斜したりした時にどれだけスポットがずれるかということはレンズの設計データがあれば計算で求めることができる(非特許文献2参照)。
「光技術コンタクト」Vol.20 No.4(1982)(第35頁−42頁) 「光技術コンタクト」Vol.20 No.5(1982)(第40頁−47頁)
図15に示す方法では、複数のレンズ面の偏芯量を測定できるという利点があるが、図16に示すような2つ以上の被検レンズ面14、15、16の曲率中心がごく近い位置に集中する場合には異なる被検レンズ面の反射スポットが同時に撮像面8に観察されてしまいお互いが重なるなどして、個々のスポットがどの被検レンズ面由来なのかの判別が付かず、スポット誤認識の原因となる。また、被検レンズ面の反射には図17に示すような被検レンズ面5の曲率中心とフォーカスレンズ3の焦点9がほぼ一致した状態での反射と、図18に示すような被検レンズ面5とフォーカスレンズ3の焦点9がほぼ一致した状態での反射がある。偏芯量測定に用いるのは図16で示した空中で集光する空中像であり、図17に示した被検レンズ面5上で集光する面反射像は測定には必要としない。複数のレンズ面から構成される被検レンズ群を測定する時には、異なる被検レンズ面同士の空中像と面反射像の位置がごく近い位置に集中する場合があり、この場合にも撮像面8には空中像のスポットと面反射像のスポットが同時に観察されてお互いが重なるなどして、個々のスポットの空中像・面反射像の判別が付かずにスポット位置誤認識の原因になる。
本発明は、前記従来の課題を解決するもので、レンズ面の偏芯測定において、各レンズ面からの反射スポット像の観察時に、各レンズ面に対応するスポット像同士が重なるのを緩和・防止することで、スポットを誤検出することなく、従来方法では不可能であった図16の状態のような状態の被検レンズ群や、面反射像と空中像が同時に観察されてしまうような被検レンズ群の偏芯計測を可能にすることを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明のレンズ偏芯量測定方法は、被検レンズ群を構成する被検レンズに対して、同一光軸上で方向の異なる第1方向及び第2方向からそれぞれ集光レンズを介して光を集光させて被検レンズの偏芯量を測定するに際して、前記第1方向又は第2方向から照射する光の少なくとも一方は前記被検レンズ群と前記集光レンズとの間に配置した測定補助レンズを介して集光させ、前記被検レンズのうち前記第1方向に位置する面を第1被検レンズ面とし、前記第1方向からの照射時の前記第1方向からの照射時の前記第1被検レンズ面の第1曲率中心と他のレンズ面の曲率中心との第1位置関係を予め求めると共に前記第2方向からの照射時の前記第1被検レンズ面の第2曲率中心と他のレンズ面の曲率中心との第2位置関係を予め求め、予め求めた前記第1位置関係と予め求めた前記第2位置関係とに基づいて前記第1方向又は前記第2方向からの照射時のうち前記第1被検レンズ面の曲率中心の位置の付近に他のレンズ面の曲率中心の位置が少ない方を測定光入射方向からの照射時と選択し、選択した前記測定光入射方向からの照射時の前記集光レンズの位置と前記第1レンズ面での反射光のスポット位置とに基づき、レンズ偏芯量測定を行う
また、本発明のレンズ偏芯量測定装置は、第1光源と第1集光レンズと第1受光部とから構成される第1光学系と、第2光源と第2集光レンズと第2受光部とから構成される第2光学系と、前記第1光学系と前記第2光学系との間に配置された被検レンズ群と、前記被検レンズ群の開口部に配置された測定補助レンズと、前記被検レンズ群に含まれる被検レンズの第1光学系側に位置する面を第1被検レンズ面とし、前記第1被検レンズ面に対し前記第1光源から前記第1集光レンズを介して第1方向光を照射した場合の前記第1集光レンズの位置と、前記第1被検レンズ面に対し前記第2光源から前記第2集光レンズを介して第2方向光を照射した場合の前記第2集光レンズの位置とを測定するレンズ位置測定装置と、前記第1被検レンズ面で反射させた後に前記第1受光部で受光した前記第1方向光のスポット位置と、前記第1被検レンズ面で反射させた後に前記第2受光部で受光した前記第2方向光のポット位置とを測定するスポット位置測定装置と、前記第1方向光の照射時の前記第1被検レンズ面の第1曲率中心と他のレンズ面の曲率中心との第1位置関係を予め求めると共に前記第2方向光の照射時の前記第1被検レンズ面の第2曲率中心と他のレンズ面の曲率中心との第2位置関係を予め求めてなおかつ予め求めた前記第1位置関係と予め求めた前記第2位置関係とに基づいて前記第1方向光又は前記第2方向光の照射時のうち前記第1被検レンズ面の曲率中心の位置の付近に他のレンズ面の曲率中心の位置が少ない方を測定光入射方向からの照射時と選択したうえで選択した前記測定光入射方向からの照射時の前記レンズ位置測定装置での測定結果と前記スポット位置測定装置の測定結果とに基づいて前記被検レンズの偏芯量を測定する判断装置と、を備えることを特徴とする
本構成により、被検レンズの2つある開口のうち片側の開口から測定光を入射させたときに、被検レンズ面からの反射スポット像が他のレンズ面からの反射スポット像と重なって測定が困難になる場合に、他方から測定光を入射させて測定することでの他の被検レンズ面からの反射スポット像の重なりを緩和・防止することができる。
以上に示した方法により、従来方法では被検レンズのレンズ面からの反射スポット像が複数同時に観察された場合にスポット位置を誤認識し偏芯量測定が不可能であったものを、誤認識することなく測定することができる。
以上のように、本発明のレンズ偏芯量測定方法によれば、複数のレンズから構成される光学系の各構成レンズの偏芯を上記のような反射光学系で測定する場合に、従来では測定が不可能だった複数のレンズ面からの反射スポット像が重なる被検レンズに関して偏芯測定が可能となる。
以下本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1におけるレンズ偏芯量測定方法で用いる光学系構成の概念図である。
図1において、第1のLDレーザ光源100の光軸上にはレンズ表面に反射防止膜が形成された第1のフォーカスレンズ101のレンズ中心があり、その先には表面に光学多層膜が形成された第1のハーフミラー102が光軸をほぼ90°折り返すように配置されている。ハーフミラー102で折り返された第1のレーザ光軸上にはレンズ表面に反射防止膜が形成された第1の結像レンズ103のレンズ中心がある。
フォーカスレンズ101の後ろ側焦点位置と、結像レンズ103の前側焦点位置とは、第1のレーザ光軸上でほぼ一致するように配置する。フォーカスレンズ101と結像レンズ103とでビームエキスパンダーを構成し、LDレーザ光源100の射出光を拡大し、結像レンズ103からは、第1のレーザ光軸に平行な平行光が射出される。レンズ表面に反射防止膜が形成された第1の集光レンズ104のレンズ中心は第1のレーザ光軸上にあり、集光レンズ104が配置された第1の移動ステージ105は第1のレーザ光軸方向と平行に移動可能であり、リニアスケールを備えているので移動ステージ105の光軸に沿った方向に対しての現在位置情報が得られるようになっている。
第1のCCDカメラ106の撮像面は、ハーフミラー102を介して結像レンズ103の前側焦点位置となるように配置され、第1のレーザ光軸位置が撮像面の中心となる。ハーフミラー102で折り返した第1のレーザ光軸上の集光レンズ104の先にはレンズ表面に反射防止膜が形成された被検レンズ301、302、303、304があり、それらは保持枠305により保持されている。保持枠305の中心軸は位置決め基準面306に垂直で、その中心を通るように配置されている。
また、基準面306の中心は第1のレーザ光軸とほぼ一致するように配置されている。第1のCCDカメラ106はその撮像面110が第1のレーザ光軸に対し垂直かつ中央部が光軸とほぼ一致するように配置される。以上の構成により、レーザ光源100から射出された光は、ハーフミラー102に折り返された第1のレーザ光軸に沿って被検レンズ301、302、303、304に対して図1に示すA側(被検レンズ301側)から入射される。集光レンズ104側から見たときの被検レンズ302の第1レンズ面を310とし、被検レンズ303の第1レンズ面を311とする。集光レンズ104が配置された移動ステージ105の光軸に沿った方向の位置情報とCCDカメラ106の画像情報は第1の偏芯量計算装置107に伝達されるようになっている。
一方、第2のLDレーザ光源200の光軸上にはレンズ表面に反射防止膜が形成された第2のフォーカスレンズ201のレンズ中心があり、その先には表面に光学多層膜が形成された第2のハーフミラー202が光軸をほぼ90°折り返すように配置されている。ハーフミラー202で折り返された第2のレーザ光軸上にはレンズ表面に反射防止膜が形成された第2の結像レンズ203のレンズ中心がある。
フォーカスレンズ201の後ろ側焦点位置と、結像レンズ203の前側焦点位置とは、第2のレーザ光軸上でほぼ一致するように配置する。フォーカスレンズ201と結像レンズ203とでビームエキスパンダーを構成し、LDレーザ光源200の射出光を拡大し、結像レンズ203からは、第2のレーザ光軸に平行な平行光が射出される。レンズ表面に反射防止膜が形成された第2の集光レンズ204のレンズ中心は第2のレーザ光軸上にあり、集光レンズ204が配置された第2の移動ステージ205は第2のレーザ光軸方向と平行に移動可能であり、リニアスケールを備えているので移動ステージ205の光軸に沿った方向に対しての現在位置情報が得られるようになっている。
第2のCCDカメラ206の撮像面は、ハーフミラー202を介して結像レンズ203の前側焦点位置となるように配置され、第2のレーザ光軸位置が撮像面の中心となる。ハーフミラー202で折り返した第2のレーザ光軸上の集光レンズ204の先には被検レンズ304、303、302、301があり、それらは保持枠305により保持されている。保持枠305の中心軸は基準面306に垂直で、その中心を通るように配置されている。
また、基準面306の中心は第2のレーザ光軸とほぼ一致するように配置されている。第2のCCDカメラ206はその撮像面210が第2のレーザ光軸に対し垂直かつ中央部が光軸とほぼ一致するように配置される。集光レンズ204が配置された移動ステージ205の光軸に沿った方向の位置情報とCCDカメラ206の画像情報は第2の偏芯量計算装置207に伝達されるようになっている。
以上の構成により、レーザ光源200から射出された光は、ハーフミラー202に折り返された第2のレーザ光軸に沿って被検レンズ304、303、302、301に対して図1に示すB側(被検レンズ304側)から入射される。
このとき、第1の移動ステージ105の移動範囲はフォーカスレンズ101の焦点が被検レンズ301、302、303、304、保持枠305から構成される被検レンズ群の全ての被検レンズ面からの反射スポット像生成位置にほぼ一致させられるように十分広い範囲を移動可能であり、同様に第2の移動ステージ205の移動範囲はフォーカスレンズ201の焦点が被検レンズ304、303、302、301、保持枠305から構成される被検レンズ群の全ての被検レンズ面からの反射スポット像生成位置にほぼ一致させられるように十分広い範囲を移動可能である。
また、2つの偏芯量計算装置107、207は偏芯量計算結果判断装置320と相互に情報のやり取りが可能なように接続されている。
次に、以上のように構成された光学系によるレンズ反射偏芯測定方法を説明する。
レーザ光源100から射出された平行光は、フォーカスレンズ101と結像レンズ103で拡大される。結像レンズ103を通過した光は、集光レンズ104を通過することで、平面波から球面波へと変換される。この球面波の曲率は集光レンズ104の焦点位置からの距離で決まり、ステージ105の位置を移動し、集光レンズ104の焦点位置を動かすことで被検レンズ301の各レンズ面における球面波の曲率を変えることができる。
被検レンズのレンズ面が第1のレーザ光軸に対して偏芯が無い場合、被検レンズ面波の曲率と被検レンズのレンズ面曲率がほぼ一致すると、光は、レンズ全面に対して垂直に入射することになる。このとき、被検レンズのレンズ面で反射した光は、入射光線と同じ光路を戻ることになる。被検レンズのレンズ面で反射した光は、集光レンズ104で光軸に平行な平行光となり、結像レンズ103を通過する。
あらかじめ計算で求めておいた適切な位置へ移動ステージ105を移動させることにより、図2に示すように集光レンズ104から被検レンズ群へ入射させた光は、被検レンズ面310で垂直に反射してその反射光は入射光と同じ経路を戻る。集光レンズ104を経て結像レンズ103を通過した反射光は、第1のレーザ光軸上の焦点位置に集光する。図3に示すように、CCDカメラ106の撮像面110は、結像レンズ103の焦点位置にあるのでCCDカメラで撮像する被検レンズ面310の反射に由来するスポット像108は画面中央付近に位置することになる。
一方、被検レンズ302の被検レンズ面中心が第1のレーザ光軸に対して偏芯があると、偏芯が無い場合の移動ステージ105の位置において、光は被検レンズ面310全面に対して垂直でない一定の角度で入射する。この入射角は、被検レンズ面310の偏芯量に比例する。このため被検レンズ面310からの反射光は、集光レンズ104により、平行光になるが、第1のレーザ光軸に対して、レンズ偏芯量に比例した角度を有する。
従って、結像レンズ103により集光された光は、背景技術で示したのと同様に、撮像面110で中央より偏芯量に応じた距離だけ離れた位置にスポット109を形成する。
ところで、A側から見た場合の所望の被検レンズ面310の曲率中心位置313と他の被検レンズ面311の曲率中心位置314が図2で示すようにごく近い位置に隣接している場合、集光レンズ104を移動させて集光レンズ104の焦点を被検レンズ面310の曲率中心位置313とほぼ一致させると、同時に他の被検レンズ面311の曲率中心位置314にもほぼ一致する。
そのため、集光レンズ104から被検レンズへ射出された光は、被検レンズ面310全面に一様な角度で入射するのと同時に他の被検レンズ面311全面にもほぼ一様な角度で入射することになるので、図3に示すCCDカメラ106の撮像面110には被検レンズ面310からの反射に由来するスポット108と、他のレンズ面311からの反射に由来するスポット109が同時に観察される。所望のスポット108と不必要なスポット109の分離もしくは区別が困難でありスポット誤検出の原因となる。
一方、図4に示すように被検レンズに対してレーザ光源200から射出された光をB側から入射させる第2の測定光学系を用いて、前述のA側から光を入射させる手順と同様の手順で、集光レンズ204を移動させることにより、集光レンズ204の焦点位置と被検レンズ面310の曲率中心位置315とをほぼ一致させて、被検レンズ面310の反射によるスポット像をCCDカメラ206を用いて観察することができる。
このとき、注目している被検レンズ面は前記A側からレーザ光を入射させた場合と同じ被検レンズ面310であるが、レーザ光を入射させる向きが異なるため、入射されたレーザ光が被検レンズ面310に到達するまでの光路中に配置されているその他のレンズ構成が異なる。そのため、入射B側から見た被検レンズ面どうしの曲率中心位置関係は入射A側から見た場合と異なる。つまり、A側から光を入射させたときの被検レンズ面310の曲率中心位置313と他のレンズ面311の曲率中心位置314はB側から見た場合にはそれぞれ315、316になり離れた位置関係になるので、集光レンズ204から出射されて被検レンズ群に対してB側から入射された光は被検レンズ面310の全面でのみ一様な角度で反射し、他の被検レンズ面311の全面で一様な反射角ではなくなる。
このために図5に示すように、CCDカメラ206の撮像面210上には被検レンズ面310の反射に由来するスポット208のみが形成される。このため、被検レンズ面310以外の不必要なレンズ面からの反射を抑制し、スポットの誤検出を防ぐことができるので、A側からの光入射では同時に観察されてしまう不要なレンズ面からの反射スポットをB側からの光入射による観察に切り替えることで、消去、分離もしくは区別することが可能となる。
各被検レンズ面の測定後、移動ステージ105の位置情報とCCDカメラ106の画像情報はA側からの測定データとして偏芯量計算装置107に送られ、それらの情報から得られるスポット位置・集光レンズ104の位置と、各被検レンズ面データを用いて、光軸に対する各被検レンズの偏芯量・傾斜量を自動的に算出する。
同様に移動ステージ205の位置情報とCCDカメラ206の画像情報もB側からの測定データとして偏芯量計算装置207に送られ、光軸に対する各被検レンズの偏芯量・傾斜量を自動的に算出する。
被検レンズ群の各被検レンズ面の曲率中心位置は被検レンズ群のレンズ設計値を用いて公知の計算手順で求めることが可能なので、被検レンズ面をスポット測定する時の集光レンズ104、204の位置や、A側からの測定とB側からの測定のどちらが各被検レンズ面のスポット測定に適しているかが被検レンズ面それぞれについて予測可能である。
例えばA側から測定光を入射した場合とB側から測定光を入射した場合の二通りについて、光軸上に被検レンズ面の曲率中心位置をプロットし、さらに他のレンズ面の曲率中心位置とレンズ面位置をプロットして両者を比較して、被検レンズ面の曲率中心位置の付近に他のレンズ面に関する点が少ない方が適した測定光入射方向であるといえる。
そうした予測を基に、偏芯量計算結果判断装置320が偏芯量計算装置107、207で算出された各被検レンズの偏芯量、傾き量データの適切な方を選択し、表示装置321にその結果を表示する。以上の方法によって、従来では測定が不可能であった複数の被検レンズ面からの反射スポットが同時に観察されてしまうような被検レンズ群のレンズ偏芯量の自動測定が可能となる。
なお、本実施形態で用いたCCDの代わりにCMOSやPSD、フォトマルチプライヤを用いても良い。
なお、本実施形態で用いたハーフミラー102、202は金属蒸着膜を用いたものや、ペリクルミラーでも良い。
なお、レーザ光源の光軸をハーフミラーでほぼ90°折り返したが、レーザ光源側を折り返さずに、CCD側をハーフミラーで折り返した構成にしても良い。
なお、本実施形態で用いたLDレーザ光源100、200は、ガスレーザや固体レーザや液体レーザ、LEDやELやハロゲンランプのようなインコヒーレント光源を平行光化したものでも良い。
なお、測定光学系を構成しているフォーカスレンズ101と201、結像レンズ103と203、集光レンズ104と204は表面に反射防止膜が付いていなくても良い。
なお、本実施形態では被検レンズ群が4枚構成で、被検レンズ面310を測定対象としたが、被検レンズ群は4枚構成でなくともよく、また被検レンズ面は被検レンズ群を構成するレンズのどの面でも良い。
なお、本実施形態では被検レンズ群のレンズ面を走査するために、ステージ105で集光レンズ104を、ステージ205で集光レンズ204を移動させたが、被検レンズ側を移動させても良い。
なお、本実施形態では被検レンズ群のレンズ面を走査するために、ステージ105で集光レンズ104を、ステージ205で集光レンズ204を移動させたが、集光レンズ104、204に焦点可変機構を持たせ、集光レンズ104、204の位置を変えずに集光レンズ104、204の焦点位置を変化させても良い。
なお、本実施形態では被検レンズ群のレンズ面を走査するために、ステージ105で集光レンズ104を、ステージ205で集光レンズ204を移動させたが、LD光源100、フォーカスレンズ101、ハーフミラー102、結像レンズ103、集光レンズ104、移動ステージ105、CCDカメラ106から構成される第1の測定光学系全体、LD光源200、フォーカスレンズ201、ハーフミラー202、結像レンズ203、集光レンズ204、移動ステージ205、CCDカメラ206から構成される第2の測定光学系全体を被検レンズ群に対して移動させても良い。
なお、本実施形態では第1のレーザ光軸と第2のレーザ光軸がほぼ一致した配置になっているが、保持枠305の中心軸を基準面306に垂直かつその中心を通るように配置し、基準面306の中心が第1、第2のレーザ光軸とほぼ一致するように配置されていれば、第1のレーザ光軸と第2のレーザ光軸が一致していなくても良い。
なお、結像レンズ103の焦点位置にCCDカメラ106、結像レンズ203の焦点位置にCCDカメラ206を配置したが、CCDカメラ106、206の撮像面を拡大する拡大光学系を付加し、スポット像を拡大しても良い。
なお、本実施形態では保持枠305を支える基準面306は2つあるレンズ群開口のうちのB側のみに配置したが、A側に配置しても、A側、B側両方に配置しても良い。
なお、基準面306に測定補助のためのレンズを配置しても良い。その場合には、測定補助レンズまで含めて被検レンズ面の曲率中心位置をあらかじめ算出しておく。
なお、偏芯量計算装置107、207、偏芯量計算結果判断装置320は本実施形態と同等の機能を実現できれば、装置として個別に分離していなくとも良い。
なお、偏芯量計算装置107、207、偏芯量計算結果判断装置320は専用装置でなく汎用の電子計算機のアプリケーションプログラムで構成されていても良い。
なお、移動ステージ105、205に配置しているリニアスケールによる移動ステージ105、205の位置情報管理は、ステージ位置情報として偏芯量計算装置107、207に伝達できれば移動ステージ駆動モータの回転数管理でも良い。
なお、LD光源100、フォーカスレンズ101、ハーフミラー102、結像レンズ103、CCDカメラ106から構成される光学系は、本実施の形態で説明したものと同等の機能を有するならば、オートコリメータなどの単一の装置に置き換えても良い。
なお、LD光源100、フォーカスレンズ101、ハーフミラー102、結像レンズ103、集光レンズ104、移動ステージ105、CCDカメラ106から構成される光学系は、本実施の形態で説明したものと同等の機能を有するならば、単一の装置に置き換えても良い。
なお、LD光源200、フォーカスレンズ201、ハーフミラー202、結像レンズ203、CCDカメラ206から構成される光学系は、同等の機能を有するならば、オートコリメータなどの単一の装置に置き換えても良い。
なお、LD光源200、フォーカスレンズ201、ハーフミラー202、結像レンズ203、集光レンズ204、移動ステージ205、CCDカメラ206から構成される光学系は、本実施の形態で説明したものと同等の機能を有するならば、単一の装置に置き換えても良い。
(実施の形態2)
図6は、本発明における実施の形態2のレンズ偏芯量測定方法に用いる光学系構成の概念図である。図6において、図1および図2と同じ構成要素については同じ符号を用い、説明を省略する。
図6において、501は位置決め基準面306を固定する回転ステージであり、レーザ光軸に垂直な方向に回転軸を持ち、レーザ光軸に対する保持枠305の向きを変えることができる機構を有する。回転ステージ501により、保持枠305はレーザ光軸に対してその向きをほぼ180°変えることができる。回転ステージ501により、保持枠305の向きを変えても、レーザ光軸は被検レンズ301、302、303、304の光軸とほぼ一致するように配置されている。回転ステージ501には位置センサが取り付けてあり、現在の回転ステージ向きの情報が偏芯量計算装置801に伝達される。集光レンズ104が配置してある移動ステージ105の位置情報や、CCDカメラ106の画像情報も同様に偏芯量計算装置801に伝達される。
このとき、回転ステージ501で保持枠305を回転させることにより、被検レンズ301側からレーザ光を入射させた場合と被検レンズ304側からレーザ光を入射させた場合のいずれの状態であっても、集光レンズ104の焦点が被検レンズ301、302、303、304、保持枠305から構成される被検レンズ群の全ての被検レンズ面の曲率中心位置にほぼ一致させられるように、移動ステージ105の移動範囲は十分広い範囲を移動できるものとする。
図7に示すように被検レンズ301側から光を入射させた時に、所望の被検レンズ面310の曲率中心位置313と他のレンズ面311の曲率中心位置314がごく近い位置に隣接していた場合、実施の形態1で述べたように、集光レンズ104を移動させて集光レンズ104の焦点を被検レンズ面310の曲率中心位置313とほぼ一致させると、同時に他のレンズ面311の曲率中心位置314にもほぼ一致する。
このとき、被検レンズ面310と他のレンズ面311はいずれもレンズ面全面にわたり光がほぼ一様な角度で入射しているので、図8に示すように、CCDカメラ106の撮像面110には、被検レンズ面310からの反射に由来するスポット108と、他のレンズ面311からの反射に由来するスポット109が同時に観察される。このため、本来観察したい被検レンズ面310の反射によるスポット108と他のレンズ面311の反射による不必要なスポット109の分離や区別が困難でありスポット誤検出の原因となる。
そこで、被検レンズ301側から光が入射されるような配置である保持枠305を、回転ステージ501を用いて、レーザ光軸に対して180°回転させると、図9に示すように被検レンズ304側から光が入射されるような配置になる。実施の形態1と同様に、注目する被検レンズ面は同じ面であっても、レーザ光の入射方向が異なると、対象被検レンズ面310までの光路中に配置されているその他のレンズ構成が異なる。
そのことにより被検レンズ301側から光を入射させたときの被検レンズ面310、他のレンズ面311の曲率中心位置関係は、被検レンズ304側から光を入射させた場合と異なるため、図9のような配置で集光レンズ104を移動させて集光レンズ104の焦点位置と被検レンズ面310の曲率中心位置315をほぼ一致させた場合、他のレンズ面311の曲率中心位置316とは一致しない。
そのため、他のレンズ面311の反射によるスポットは図10に示すようにCCDカメラ106の撮像面110には観察されず、被検レンズ面310の反射によるスポット111のみが観察される。このため、被検レンズ面310以外の不必要なレンズ面からの反射スポット分離・区別ができるので、スポット位置の誤検出を防ぐことができる。実施の形態1と同様に、各被検レンズ面の測定後に、移動ステージ105の位置情報とCCDカメラ106の画像情報、回転ステージ501の向き情報は測定データとして偏芯量計算装置801に送られ、画面上でのスポット位置と、集光レンズ104の位置、測定光の入射方向から構成される各被検レンズ面データから、光軸に対する各被検レンズの偏芯量と傾きを、被検レンズ301側から入射した場合と被検レンズ304側から入射した場合に分けて自動的に算出する。
被測定レンズ系の設計データから、各被検レンズ面の曲率中心位置を計算で求めることが可能なので、光を被検レンズ301側から入射した場合と304側から入射した場合とではどちらがスポット測定に適しているかということについて各被検レンズ面に対してあらかじめ予測できる。例えば被検レンズ群に対して被検レンズ301側から測定光を入射した場合と被検レンズ304側から測定光を入射した場合の二通りについて、光軸上に被検レンズ面の曲率中心位置をプロットし、さらに他のレンズ面の曲率中心位置とレンズ面位置をプロットして両者を比較して、被検レンズ面の曲率中心位置の付近に他のレンズ面に関する点が少ない方が適した測定光入射方向であるといえる。
それらの予測から偏芯量計算結果判断装置320が光の入射方向によって2つずつある各レンズの偏芯量と傾斜量データの適切な方を選択して最終的な被検レンズの偏芯量、傾斜量データを決定し、表示装置321にその結果を表示する。
以上の手順によって、従来では測定が不可能であった複数の被検レンズ面からの反射スポットが同時に観察されてしまうような被検レンズ群のレンズ偏芯量の自動測定が可能となる。実施の形態1と同様の効果を得ながら、実施の形態1に比べて装置を構成する光学部品が少なくて済み、装置コストを下げることと、装置容積を小さくすることが可能となる。レンズ構成にズーム機構のような可動部分がない構成の被検レンズ群であってもレンズ偏芯量測定が可能である。
なお、本実施形態で用いたCCDの代わりにCMOSやPSD、フォトマルチプライヤを用いても良い。
なお、本実施形態で用いたハーフミラー102は金属蒸着膜を用いたものや、ペリクルミラーでも良い。
なお、レーザ光源の光軸をハーフミラーでほぼ90°折り返したが、レーザ光源側を折り返さずに、CCD側をハーフミラーで折り返した構成にしても良い。
なお、本実施形態で用いたLDレーザ光源100は、ガスレーザや固体レーザや液体レーザ、LEDやELやハロゲンランプのようなインコヒーレント光源を平行光化したものでも良い。
なお、測定光学系を構成しているフォーカスレンズ101、結像レンズ103、集光レンズ104は表面に反射防止膜が付いていなくても良い。
なお、本実施形態では被検レンズ群が4枚構成で、被検レンズ面310を測定対象としたが、被検レンズ群の構成は4枚でなくともよく、また被検レンズ面は被検レンズ群を構成するレンズのどの面でも良い。
なお、本実施形態では被検レンズ群のレンズ面を走査するために、ステージ105で集光レンズ104を移動させたが、被検レンズ側を移動させても良い。
なお、本実施形態では被検レンズ群のレンズ面を走査するために、ステージ105で集光レンズ104を移動させたが、集光レンズ104に焦点可変機構を持たせ、集光レンズ104の位置を変えずに集光レンズ104の焦点位置を変化させても良い。
なお、本実施形態では被検レンズ群のレンズ面を走査するために、ステージ105で集光レンズ104を移動させたが、LD光源100、フォーカスレンズ101、ハーフミラー102、結像レンズ103、集光レンズ104、移動ステージ105、CCDカメラ106から構成される測定光学系全体を被検レンズ群に対して移動させても良い。
なお、本実施形態では測定光の入射方向を変えるために、測定光学系を固定して被検レンズ群を保持する保持枠305を回転させたが、保持枠305を固定して測定光学系側を回転させても良い。
なお、本実施形態では測定光の入射方向を変えるために、被検レンズを保持する保持枠305を光軸に垂直な軸で回転させたが、回転軸は光軸に垂直でなくとも良い。
なお、結像レンズ103の焦点位置にCCDカメラ106を配置したが、CCDカメラ106の撮像面を拡大する拡大光学系を付加し、スポット像を拡大しても良い。
なお、本実施形態では保持枠305を支える基準面306は2つあるレンズ群開口のうちの被検レンズ304に近い側にのみに配置したが、被検レンズ301側に配置しても、その両方に配置しても良い。
なお、基準面306に測定補助のためのレンズを配置しても良い。その場合には、測定補助レンズまで含めて被検レンズ面の曲率中心位置をあらかじめ算出しておく。
なお、偏芯量計算装置801、偏芯量計算結果判断装置320は本実施形態と同等の機能を実現できれば、装置として個別に分離していなくとも良い。
なお、偏芯量計算装置801、偏芯量計算結果判断装置320は専用装置でなく汎用の電子計算機のアプリケーションプログラムで構成されていても良い。
なお、移動ステージ105に配置しているリニアスケールによる移動ステージ105の位置情報管理は、ステージ位置情報として偏芯量計算装置801に伝達できれば移動ステージ駆動モータの回転数管理でも良い。
なお、LD光源100、フォーカスレンズ101、ハーフミラー102、結像レンズ103、CCDカメラ106から構成される光学系は、本実施の形態で説明したものと同等の機能を有するならば、オートコリメータなどの単一の装置に置き換えても良い。
なお、LD光源100、フォーカスレンズ101、ハーフミラー102、結像レンズ103、集光レンズ104、移動ステージ105、CCDカメラ106から構成される光学系は、本実施の形態で説明したものと同等の機能を有するならば、単一の装置に置き換えても良い。
(実施の形態3)
図11は、本発明の実施の形態3のレンズ偏芯量測定方法で用いる光学系構成の概念図である。図11において、図1および図2および図6および図7および図15と同じ構成要素については同じ符号を用い、説明を省略する。
図11において601はズーム機能を有する被検レンズ群を構成する第1のレンズ群、602はズーム機能を有する被検レンズ群を構成する第2のレンズ群で光軸方向に移動する機能を有する。603はズーム機能を有する被検レンズ群を構成する第3のレンズ群である。
また、被検レンズ群601、602、603はそれぞれの光軸をほぼ一致させた上で固定できる鏡筒604で図11のように固定されている。ただし、被検レンズ群602は鏡筒604の中で光軸方向に摺動可能であり、移動ステージ502はレンズ群602を光軸方向へ移動させる機能を有し、リニアゲージを備えているので移動ステージ502の現在位置情報を偏芯量計算装置802に伝達できる。移動ステージ105の位置情報とCCDカメラ106の画像情報も偏芯量計算装置802に伝達できる。集光レンズ104側から見たときのレンズ群602の第2レンズ面を610とし、レンズ群603の第1レンズ面を611とする。
このとき、光軸方向に移動可能なレンズ群602の位置がレンズ群602の移動可能範囲内のどの位置にあった場合でも、レンズ群601、602、603から構成される被検レンズ群の全ての被検レンズ面の曲率中心位置にほぼ一致させられるように、移動ステージ105の移動範囲は十分広い範囲を移動できるものとする。
図11に示すように、集光レンズ104を移動させて集光レンズ104の焦点位置と被検レンズ面610の曲率中心位置317をほぼ一致させることにより、図12に示すようにCCDカメラ106の撮像面110に被検レンズ面610からの反射に由来するスポット701を構成できる。
しかし、被検レンズ面610以外の他のレンズ面611の曲率中心位置318がレンズ面610の曲率中心位置317のごく近くに接近している場合、図12に示すように、レンズ面611からの反射によるスポット702も同時に観察されてしまうので、所望のスポット701と不必要なスポット702との分離もしくは区別が困難でありスポット誤検出の原因となる。
そこで、図13に示すように、レンズ群602を光軸方向に移動させることにより、被検レンズ面610の曲率中心位置317を他のレンズ面611の曲率中心位置318付近からずらすことが可能である。その後、改めて集光レンズ104を移動させて、集光レンズ104の焦点位置と被検レンズ面610の曲率中心位置317をほぼ一致させる。そうすると集光レンズと曲率中心位置のほぼ一致しているレンズ面は被検レンズ面610のみとなるので、図14に示すようにCCDカメラ106の撮像面110には被検レンズ面610からの反射によるスポット701のみが観察される。このため、被検レンズ面610以外の不必要なレンズ面からの反射を抑制し、スポット位置の誤検出を低減できる。
実施の形態1と同様に、被測定レンズ系の設計データから、各被検レンズ面の曲率中心位置を計算で求めることが可能なので、被検レンズ群602がどの位置に配置してあればスポット測定が良好に行えるかということについて各被検レンズ面に対して計算することによりあらかじめ予測できる。例えば光軸上にある被検レンズ面の曲率中心位置をプロットし、さらに他のレンズ群の曲率中心位置、レンズ面位置をプロットし、光軸方向に移動可能なレンズ群602の移動可能な範囲のいくつかの位置について同様のプロットを行う。
被検レンズ面の曲率中心位置の付近に他のレンズ面に関する点が少ないレンズ群602の位置がその被検レンズ面測定に適したレンズ群602の位置であるといえる。それらの結果から事前に各被検レンズ面に対しての移動ステージ502の最適位置を決めておいて、各被検レンズ面のスポット測定データと移動ステージ502の位置情報と移動ステージ105の位置情報を偏芯量計算装置802に伝達し、それらを基に各被検レンズの偏芯量と傾斜量データを算出して表示装置321にその結果を表示する。
以上の手順によって、従来では被検レンズの位置関係によって被検レンズ面からの反射スポットが同時に複数個観察されて計測が不可能であったズーム機構を有した被検レンズ群の偏芯量測定が可能となる。
また、実施の形態2と同様の効果を得ながら、実施の形態2に比べて装置を構成する設備機構が少なくて済み、保持枠や鏡筒を回転せずとも実施の形態2と同様の効果を得られるので、光軸方向に長い構成のレンズ群であってもより小さい面積での装置構成が可能なので、装置コストを下げること、装置容積を小さくすることが可能となる。
なお、本実施形態と前記実施の形態1を組み合わせることにより、複雑な構成の被検レンズ群でのレンズ偏芯量測定が可能となることは言うまでも無い。
なお、本実施形態と前記実施の形態2を組み合わせることにより、複雑な構成の被検レンズ群でのレンズ偏芯量測定が可能となることは言うまでも無い。
なお、本実施形態で用いたCCDの代わりにCMOSやPSD、フォトマルチプライヤを用いても良い。
なお、本実施形態で用いたハーフミラー102は金属蒸着膜を用いたものや、ペリクルミラーでも良い。
なお、レーザ光源の光軸をハーフミラーでほぼ90°折り返したが、レーザ光源側を折り返さずに、CCD側をハーフミラーで折り返した構成にしても良い。
なお、本実施形態で用いたLDレーザ光源100は、ガスレーザや固体レーザや液体レーザ、LEDやELやハロゲンランプのようなインコヒーレント光源を平行光化したものでも良い。
なお、測定光学系を構成しているフォーカスレンズ101、結像レンズ103、集光レンズ104は表面に反射防止膜が付いていなくても良い。
なお、本実施形態では被検レンズ群が3群構成で、ズーム機構による可動群がレンズ群602で、被検レンズ面610を測定対象としたが、被検レンズ群は3群構成でなくとも良く、また、可動群はどのレンズ群でも良く、また被検レンズ面は被検レンズ群を構成するレンズのどの面でも良い。
なお、本実施形態では被検レンズ群のレンズ面を走査するために、ステージ105で集光レンズ104を移動させたが、被検レンズ群側を移動させても良い。
なお、本実施形態では被検レンズ群のレンズ面を走査するために、ステージ105で集光レンズ104を移動させたが、集光レンズ104に焦点可変機構を持たせ、集光レンズ104の位置を変えずに集光レンズ104の焦点位置を変化させても良い。
なお、本実施形態では被検レンズ群のレンズ面を走査するために、ステージ105で集光レンズ104を移動させたが、LD光源100、フォーカスレンズ101、ハーフミラー102、結像レンズ103、集光レンズ104、移動ステージ105、CCDカメラ106から構成される測定光学系全体を被検レンズ群に対して移動させても良い。
なお、結像レンズ103の焦点位置にCCDカメラ106を配置したが、CCDカメラ106の撮像面を拡大する拡大光学系を付加し、スポット像を拡大しても良い。
なお、偏芯量計算装置802は専用装置でなく汎用の電子計算機のアプリケーションプログラムで構成されていても良い。
なお、移動ステージ105、502に配置しているリニアスケールによる移動ステージ105、502の位置情報管理は、ステージ位置情報として偏芯量計算装置802に伝達できれば移動ステージ駆動モータの回転数管理でも良い。
なお、LD光源100、フォーカスレンズ101、ハーフミラー102、結像レンズ103、CCDカメラ106から構成される光学系は、本実施の形態で説明したものと同等の機能を有するならば、オートコリメータなどの単一の装置に置き換えても良い。
なお、LD光源100、フォーカスレンズ101、ハーフミラー102、結像レンズ103、集光レンズ104、移動ステージ105、CCDカメラ106から構成される光学系は、本実施の形態で説明したものと同等の機能を有するならば、単一の装置に置き換えても良い。
本発明のレンズ反射偏芯測定方法によれば、被検レンズの各レンズ面からの反射光を評価面で小さなスポットに集光し、各レンズ面に対応した反射光を評価の対象として個別に区別して計測することができるため、偏芯測定のスポット光位置を誤認識せず高精度に計測することがすることができる。
このため、カメラの組レンズの組立、調整、検査あるいは、CDやDVDの光ピックアップのレンズ組立、調整、検査などに適用することができる。
本発明の実施の形態1におけるレンズ偏芯計測装置の模式図 本発明の実施の形態1における図1中記載A側から測定光を入射した場合の被検レンズ付近の光線を示した図 本発明の実施の形態1において図2の状態での撮像面110の模式図 本発明の実施の形態1における図1中記載B側から測定光を入射した場合の被検レンズ付近の光線を示した図 本発明の実施の形態1において図4の状態での撮像面210の模式図 本発明の実施の形態2におけるレンズ偏芯計測光学系の模式図 本発明の実施の形態2における図6中記載被検レンズ301側から測定光を入射した場合の被検レンズと被検レンズ付近の光線状態を示した図 本発明の実施の形態2における図7の配置での撮像面110の模式図 本発明の実施の形態2における図6中記載被検レンズ304側から測定光を入射した場合の被検レンズと被検レンズ付近の光線状態を示した図 本発明の実施の形態2における図9の配置での撮像面110の模式図 本発明の実施の形態3におけるレンズ偏芯計測装置の模式図 本発明の実施の形態3における図11の被検レンズ配置での撮像面110の模式図 本発明の実施の形態3における図11と比べて被検レンズ群602の位置を変えた状態のレンズ偏芯計測の模式図 本発明の実施の形態3における図13の被検レンズ配置での撮像面110の模式図 従来のレンズ偏芯測定装置と撮像面8の模式図 ごく近い位置に曲率中心位置をもつレンズ面14、15、16の曲率中心位置に対して、フォーカスレンズ3の焦点9がほぼ一致している様子を示した図 レンズ面5の曲率中心位置にフォーカスレンズ3の焦点9がほぼ一致している様子を示した図 レンズ面5にフォーカスレンズ3の焦点9がほぼ一致している様子を示した図
符号の説明
100 第1のLDレーザ光源
101 第1のフォーカスレンズ
102 第1のハーフミラー
103 第1の結像レンズ
104 第1の集光レンズ
105 第1の移動ステージ
106 第1のCCDカメラ
107 第1の偏芯量計算装置
108 被検レンズ面310からの反射スポット像
109 被検レンズ面311からの反射スポット像
110 第1のCCDカメラ106の撮像面
200 第2のLDレーザ光源
201 第2のフォーカスレンズ
202 第2のハーフミラー
203 第2の結像レンズ
204 第2の集光レンズ
205 第2の移動ステージ
206 第2のCCDカメラ
207 第2の偏芯量計算装置
208 被検レンズ面310からの反射スポット像
210 CCDカメラ206の撮像面
301 被検レンズ
302 被検レンズ
303 被検レンズ
304 被検レンズ
305 保持枠
306 位置決め基準面
310 被検レンズ面
311 被検レンズ面
313 図1のA側から見たときの被検レンズ面310の曲率中心位置
314 図1のA側から見たときの被検レンズ面311の曲率中心位置
315 図1のB側から見たときの被検レンズ面310の曲率中心位置
316 図1のB側から見たときの被検レンズ面311の曲率中心位置
317 レンズ面610の曲率中心位置
318 レンズ面611の曲率中心位置
320 偏芯量計算結果判断装置
321 表示装置
501 回転ステージ
502 移動ステージ
601 被検レンズ群
602 移動機構を持つ被検レンズ群
603 被検レンズ群
604 鏡筒
610 被検レンズ面
611 被検レンズ面
701 被検レンズ面610からの反射スポット像
702 被検レンズ面611からの反射スポット像
801 偏芯量計算装置
802 偏芯量計算装置
1 光源
2 コリメータレンズ
3 フォーカスレンズ
4 支持枠
5 レンズ面
6 ハーフミラー
7 カメラ
8 撮像面
9 フォーカスレンズ3の焦点
10 観察画面
11 図15の実線で示した光によるスポット
12 図15の破線で示した光によるスポット
13 レンズ面5の偏芯方向
14 レンズ面
15 レンズ面
16 レンズ面

Claims (5)

  1. 被検レンズ群を構成する被検レンズに対して、同一光軸上で方向の異なる第1方向及び第2方向からそれぞれ集光レンズを介して光を集光させて被検レンズの偏芯量を測定するに際して、
    前記第1方向又は第2方向から照射する光の少なくとも一方は前記被検レンズ群と前記集光レンズとの間に配置した測定補助レンズを介して集光させ、
    前記被検レンズのうち前記第1方向に位置する面を第1被検レンズ面とし、
    前記第1方向からの照射時の前記第1被検レンズ面の第1曲率中心と他のレンズ面の曲率中心との第1位置関係を予め求めると共に前記第2方向からの照射時の前記第1被検レンズ面の第2曲率中心と他のレンズ面の曲率中心との第2位置関係を予め求め、
    予め求めた前記第1位置関係と予め求めた前記第2位置関係とに基づいて前記第1方向又は前記第2方向からの照射時のうち前記第1被検レンズ面の曲率中心の位置の付近に他のレンズ面の曲率中心の位置が少ない方を測定光入射方向からの照射時と選択し、
    選択した前記測定光入射方向からの照射時の前記集光レンズの位置と前記第1レンズ面での反射光のスポット位置とに基づき、前記被検レンズの偏芯量を測定することを特徴とするレンズ偏芯量測定方法。
  2. 前記被検レンズ群は互いに対向する開口部を有する保持枠により保持された複数のレンズから構成され、
    前記保持枠の位置を決める基準面が前記開口部の少なくとも一方に配置され、
    前記基準面に配置された前記測定補助レンズを介して前記第1被検レンズ面に前記光が照射されることを特徴とする請求項1記載のレンズ偏芯量測定方法。
  3. 第1光源と第1集光レンズと第1受光部とから構成される第1光学系と、
    第2光源と第2集光レンズと第2受光部とから構成される第2光学系と、
    前記第1光学系と前記第2光学系との間に配置された被検レンズ群と、
    前記被検レンズ群の開口部に配置された測定補助レンズと、
    前記被検レンズ群に含まれる被検レンズの第1光学系側に位置する面を第1被検レンズ面とし、
    前記第1被検レンズ面に対し前記第1光源から前記第1集光レンズを介して第1方向光を照射した場合の前記第1集光レンズの位置と、前記第1被検レンズ面に対し前記第2光源から前記第2集光レンズを介して第2方向光を照射した場合の前記第2集光レンズの位置とを測定するレンズ位置測定装置と、
    前記第1被検レンズ面で反射させた後に前記第1受光部で受光した前記第1方向光のスポット位置と、前記第1被検レンズ面で反射させた後に前記第2受光部で受光した前記第2方向光のポット位置とを測定するスポット位置測定装置と、
    前記第1方向光の照射時の前記第1被検レンズ面の第1曲率中心と他のレンズ面の曲率中心との第1位置関係を予め求めると共に前記第2方向光の照射時の前記第1被検レンズ面の第2曲率中心と他のレンズ面の曲率中心との第2位置関係を予め求めてなおかつ予め求めた前記第1位置関係と予め求めた前記第2位置関係とに基づいて前記第1方向光又は前記第2方向光の照射時のうち前記第1被検レンズ面の曲率中心の位置の付近に他のレンズ面の曲率中心の位置が少ない方を測定光入射方向からの照射時と選択したうえで選択した前記測定光入射方向からの照射時の前記レンズ位置測定装置での測定結果と前記スポット位置測定装置の測定結果とに基づいて前記被検レンズの偏芯量を測定する判断装置と、を備えることを特徴とするレンズ偏芯測定装置。
  4. 前記第1集光レンズを前記被検レンズ群の光軸に平行な方向に移動させる第1移動手段と、
    前記第2集光レンズを前記被検レンズ群の光軸に平行な方向に移動させる第2移動手段と、を更に備えることを特徴とする請求項記載のレンズ偏芯量測定装置。
  5. 前記被検レンズ群を移動させる移動手段を更に備えることを特徴とする請求項記載のレンズ偏芯量測定装置。
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JP3345149B2 (ja) * 1994-02-18 2002-11-18 旭光学工業株式会社 非球面レンズの偏心測定装置および心取り装置
JP2001227908A (ja) * 2000-02-18 2001-08-24 Canon Inc 光学測定装置
JP3922946B2 (ja) * 2002-03-19 2007-05-30 オリンパス株式会社 レンズ系の偏心測定装置
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