JP4687853B2 - X-ray fluoroscopic equipment - Google Patents
X-ray fluoroscopic equipment Download PDFInfo
- Publication number
- JP4687853B2 JP4687853B2 JP2001191258A JP2001191258A JP4687853B2 JP 4687853 B2 JP4687853 B2 JP 4687853B2 JP 2001191258 A JP2001191258 A JP 2001191258A JP 2001191258 A JP2001191258 A JP 2001191258A JP 4687853 B2 JP4687853 B2 JP 4687853B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- camera
- sample stage
- sample
- calculation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明はX線透視撮影装置に関し、更に詳しくは、X線カメラの傾動機構を備えたX線透視撮影装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
産業用のX線透視撮影装置においては、一般に、X線源に対向してイメージインテンシファイアおよびCCDカメラ等からなるX線カメラを配置し、これらの間には、試料を搭載して、X線光軸方向を含む互いに直交する3軸方向に移動可能な試料ステージが配置される。
【0003】
このようなX線透視撮影装置において、試料のX線透視方向を変化させるべく、X線カメラをX線光軸に対して規定軸方向に傾けることのできる、いわゆるカメラ傾動機構を備えたものが知られており、その構成例を図6に示す。この例においては、X線源61にX線カメラ62を対向配置し、その間に、移動機構65によってx,y,z軸方向に移動可能な試料ステージ63を配置するとともに、X線カメラ62をX線光軸L(z軸)に対してx軸方向に(x−z平面上で)傾動させるためのカメラ傾動機構64を備えており、このカメラ傾動機構64は、X線源61(X線焦点)を中心とした一定の半径の円弧上でX線カメラ62を傾動させることができるようになっている。
【0004】
ここで、以上のようなカメラ傾動機構64を備えたX線透視撮影装置においては、X線カメラ62を例えばX線光軸L上に位置させて(傾動角度θ=0)試料ステージ63上の試料WのX線透視像を得ている状態から、角度θ1 の位置にまでX線カメラ62を傾動させると、X線カメラ52によるX線透視画面から試料Wの像が外れてしまう。X線カメラ62の傾動後に試料WのX線透視像を得るためには、試料ステージ63を当初位置からx軸方向に移動させる必要がある。
【0005】
従来、このX線カメラ62の傾動時に、試料Wの像がX線透視画面から外れないように、X線カメラ62の傾動に合わせて試料ステージ63をx軸方向に自動的に移動させる、いわゆるトラッキング機能を備えたX線透視撮影装置が知られている。
【0006】
この従来のトラッキング機能においては、図6の例を用いてその事前の設定操作方法を説明すると、まず、X線カメラ62の傾動角度θ=0の状態において、試料WのX線透視像がX線カメラ62によるX線透視画面の中央に位置するように試料ステージ63を手動により位置決めし、その位置を記憶させた後に、X線カメラ52を傾動角度θ=θ1 にまで傾動させ、その状態で試料ステージ63を再び手動により移動させ、試料Wの像がX線カメラ62によるX線透視画面の中央に位置するように位置決めし、その位置を記憶させる。このような事前の設定操作により、X線カメラ62の傾動角度θと試料ステージ63のx方向への所要移動量の関係を装置が把握することができ、以降、X線カメラ62の任意の傾動角度において、常にX線カメラ62によるX線透視画面内に試料Wの透視像が位置するように試料ステージ63をトラッキングさせることができる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、以上のような従来のトラッキング機能においては、その機能を能動化させるための設定操作として、傾動させる前のX線カメラ62の視野中心に試料Wが位置するように試料ステージ63を位置決めした後、X線カメラ62を傾動させ、そのX線カメラ62の視野中心に再び試料Wが位置するように試料ステージ63を位置決めする必要があり、その位置決め操作が容易でないばかりでなく、この設定操作のためにX線カメラ62と試料ステージ63の双方を動かす必要があり、手間がかかるという問題がある。また、X線カメラ62を傾動させた後にその視野中心に試料Wを位置させる際、試料Wが完全にX線カメラ62の視野から外れてしまう場合があったり、あるいは、試料ステージ63のx−y方向への移動操作にジョイスティックが用いられている場合には、試料ステージ63を誤ってy方向に移動させてしまい、試料を見失う恐れがあった。
【0008】
本発明はこのような実情に鑑みてなされたもので、X線カメラの傾動角度と試料ステージの所要移動量との関係を、従来のトラッキング機能における設定操作に比して、より簡単な操作によって求めることのできるX線透視撮影装置の提供を目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するため、本発明のX線透視撮影装置は、X線源と、そのX線源に対向配置されたX線カメラと、これらのX線源とX線カメラの間に配置された試料ステージと、この試料ステージをX線光軸方向(z軸方向)を含む互いに直交する3軸方向(x,y,z軸方向)に移動させるステージ移動機構と、上記X線カメラをX線光軸に対して規定軸方向(x軸方向)に傾けるカメラ傾動機構を備えたX線透視撮影装置において、上記X線カメラをX線光軸上に位置させ、かつ、上記試料ステージに試料を載せて当該試料を上記X線カメラの視野内に収めた状態で、当該試料ステージをz軸方向に移動させ、その移動前後の試料のX線透視像の大きさの比から、X線源と試料との実質距離をz′を算出するとともに、その算出結果z′を用いて、上記カメラ傾動機構によるX線カメラのX線光軸からの傾動角度θとその傾動により試料ステージの上記規定軸方向への所要移動量Δxを
Δx=z′tan θ
により算出する演算手段を備えていることによって特徴付けられる(請求項1)。
【0010】
ここで、本発明においては、上記演算手段による演算終了後、上記カメラ傾動機構によりX線カメラを任意角度に傾動させたとき、上記演算手段による演算結果を用いて、X線カメラの刻々の傾動角度に対応させて上記試料ステージを自動的に上記規定軸方向に移動させるトラッキング機構を備えた構成(請求項2)を採用することができる。
【0011】
また、本発明においては、上記演算手段による演算終了後、上記のトラッキング機構に代えて、上記カメラ傾動機構によりX線カメラを任意角度に傾動させたとき、傾動後に指令を与えることによって、上記演算手段による演算結果を用いて、X線カメラの傾動角度θに応じた距離pだけ上記試料ステージを上記規定軸方向に移動させる試料ステージ自動移動機構を備えた構成(請求項3)を採用することもできる。
【0012】
更に、本発明においては、上記演算手段による演算終了後、上記カメラ傾動機構によりX線カメラを任意角度に傾動させたとき、上記演算手段による演算結果を用いて、X線カメラの刻々の傾動角度に対応させて上記試料ステージを自動的に上記規定軸方向に移動させるトラッキング機構と、上記演算手段による演算終了後、上記カメラ傾動機構によりX線カメラを任意角度に傾動させたとき、傾動後に指令を与えることによって、上記演算手段による演算結果を用いて、X線カメラの傾動角度θに応じた距離pだけ上記試料ステージを上記規定軸方向に移動させる試料ステージ自動移動機構とを併せ持ち、その各機構のいずれかを選択的に動作させる選択手段を備えた構成(請求項4)を採用することも可能である。
【0013】
本発明は、X線カメラの傾動と試料ステージの所要移動量との関係を、X線カメラを傾動させることなく、試料ステージのみを移動させるだけで算出できることを見いだしことによってなされたものであり、その原理を以下に示す。
【0014】
図2に示すように、X線カメラ2を実線で示すθ=0の状態でその視野中心に試料Wが位置している状態から、二点鎖線で示すθ=θにまで傾動させたとき、試料Wを視野中心に位置させるために必要な試料Wの移動量Δxは、
Δx=z′tan θ ・・・・(1)
で表される。(1)式においてz′は、試料WとX線源1(X線焦点、以下同)とのなす実質的な距離であり、X線源1から試料ステージ3までの距離zとは異なる。観察するのは試料Wの透視像であるため、観察対象のX線源1からの実質距離z′を割り出す必要がある。この実質距離z′は以下に示すように割り出すことができる。
【0015】
図3に実線で示すように、X線カメラ2の傾動角度θ=0でX線源1から試料Wまでの実質距離z′(未知)の状態での試料Wの透視像の大きさをa(図4(A)参照)とし、その状態から、同図に二点鎖線で示すように、試料ステージ3をX線光軸方向(z軸方向)に移動させたとき、試料Wの透視像の大きさがb(図4(B)参照)になったとする。X線源1からX線カメラ2までの距離をz0 とすると、
【0016】
【数1】
の関係が成立する。従って、
【0018】
【数2】
【0019】
によってz′を求めることができる。なお、試料Wの透視像の大きさa,bは、画像処理により簡単に求めることができる。
【0020】
このX線源1からの試料Wの実質距離z′が求まれば、(1)式に基づいてX線カメラ2の任意の傾動角度θにおいて、その視野内に試料Wの透視像が収まるために必要な試料ステージ2のx方向への移動量Δxを算出することができる。
従って、本発明においては、任意の傾動角度に対する試料ステージの所要移動量を求めるために操作者が必要な動作は、試料がX線カメラの視野内に収まっている初期状態から、試料ステージをX線光軸方向に移動させるだけでよく、試料がX線カメラの視野から外れたり見失ったりする可能性は皆無となる。
【0021】
また、このような請求項1に係る発明の演算結果を用いることにより、請求項2に係る発明のように、X線カメラの傾動に追随させて試料ステージを移動させるトラッキング機構を設けるか、あるいは、請求項3に係る発明のように、傾動後に指令を与えることによって自動的に試料ステージを移動させる試料ステージ自動移動機構を設け、更には、請求項4に係る発明のように、このようなトラッキング機構と自動試料ステージ移動機構の双方を設けて、選択手段によりいずれかの機構を選択可能としたX線透視撮影装置に適用することで、X線カメラの傾動時に試料ステージを自動的に移動させるための設定操作が容易なX線透視撮影装置を得ることができる。
【0022】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しつつ本発明の実施の形態について説明する。
図1は本発明の実施の形態の構成図で、機械的構成を表す模式図と電気的構成を表すブロック図とを併記して示す図である。
【0023】
X線源1はそのX線光軸Lが鉛直上方に向かうように配置され、このX線源1に対向してX線カメラ2が設けられている。また、これらのX線源1とX線カメラ2の間に、観察対象である試料Wを載せるための試料ステージ3が配置されている。
【0024】
X線カメラ2は、例えばイメージインテンシファイアとCCDカメラを組み合わせたものであり、このX線カメラ2はモータ(図示せず)を駆動源とする傾動機構4によってX線源1(X線焦点)を中心として、X線光軸Lに対する傾動角度θを任意に設定できるようになっている。この傾動機構4によるX線カメラ2の傾動は、鉛直のX線光軸Lの方向をz軸、そのz軸に直交する水平面上で互いに直交する方向をx,y軸にとったとき、この例においてはx軸方向に傾動するように、つまりx−z平面上において、X線源1を中心とした円弧状の動作によって行われる。このX線カメラ2のX線光軸Lに対する傾動角度θは、傾動機構4に設けられているエンコーダ4aによって検出される。
【0025】
試料ステージ3は、3つのモータ(図示せず)を備えたステージ移動機構5によってx,yおよびz軸方向に独立的に移動できるようになっている。また、その各軸上での位置についても、ステージ移動機構5に設けられている各エンコーダ5x,5y,5zによって検出される。
【0026】
傾動機構4およびステージ移動機構5の各モータは、制御装置10からそれぞれのドライバ(図示せず)を介して供給される駆動信号によって駆動制御され、また、各エンコーダ4a,5x,5y,5zの出力についても制御装置10に取り込まれる。
【0027】
制御装置10はコンピュータとその周辺機器を主体とするものであって、各種指令を与えるためのキーボード等をはじめとする操作盤11が接続されているとともに、画像処理を含む後述するプログラムがインストールされている。
前記したX線カメラ2の各画素出力は画像取込回路12を介して制御装置10に取り込まれ、制御装置10では、この各画素出力に基づいて、試料WのX線透視像を表示器13に表示する。
【0028】
さて、制御装置10にインストールされているプログラムには、X線カメラ2の傾動に追随させて試料ステージ3をx軸方向に移動させるトラッキング用プログラムと、X線カメラ2の傾動後に指令を与えることによって、その傾動角度に応じて試料ステージ3をx軸方向に移動させるステージ自動移動プログラムの双方を含んでおり、いずれのプログラムを動作させるかを操作盤11の操作によって選択できるようになっている。そして、このいずれのプログラムにおいても、試料ステージ3を移動させるためのデータが必要であり、このデータは、以下に示す共通の設定操作によって自動的に採取されるようになっている。
【0029】
設定操作を行うに当たっては、まず、図3に実線で示すように、X線カメラ2の傾動角度θ=0とした状態で、図4(A)に示すように、試料WのX線透過像がX線カメラ2の視野に対応する表示器13の画面の中央部に位置して、適当な倍率のもとに表示されるように試料ステージ3を3次元方向に位置決めする。その状態で、操作盤11により初期位置である旨の指令を与える。この指令の付与により、制御装置10はその時点の試料ステージ3のx,y,z座標を記憶するとともに、その画像を記憶する。なお、この状態では、試料WとX線源1との実質距離z′は不明である。
【0030】
次に、試料ステージ3を適当量Δzだけ上昇させた後にその旨を操作盤11から入力する。これにより、表示器13の画面には、図4(B)に示すように、試料WのX線透視像の撮影倍率が低くなり、その像の大きさが小さくなる。制御装置10では、その移動前に取り込んだ画像上における試料像の大きさaと、移動後の移動後の試料像の大きさbをそれぞれ画像処理によって求めるとともに、試料ステージ3の移動量Δzをエンコーダ5zの出力から認識し、初期位置における試料WとX線源1との実質距離z′を前記した(3)式から算出して記憶し、試料ステージ3を初期位置に戻して設定動作を終了する。
【0031】
このようにして算出した試料WとX線源との実質距離z′を用いることにより、前記した(1)式からX線カメラ2の傾動角度θに対する試料ステージ3の所要移動量Δxを算出することができ、以後、トラッキング動作用のプログラムを選択すると、傾動機構4によるX線カメラ2の傾動に追随して、エンコーダ4aからの刻々の傾動角度θの検出結果に応じた試料ステージ3の所要移動量Δxが算出され、制御装置10からステージ移動機構5にその算出結果に応じた量だけx軸方向に試料ステージ3を移動させるべく駆動信号が送られる。また、試料ステージ自動移動用のプログラムを選択した場合には、X線カメラ2を任意角度θだけ傾動させた後、試料ステージ3の移動指令を操作盤11から与えることによって、その角度θに応じた量Δxだけ試料ステージ3を自動的に移動させるべく、ステージ移動機構5に対して駆動信号が送られる。
【0032】
ここで、以上のようにX線源1と試料Wとの実質距離z′を求めることができると、図5に示すように、そのz′を維持した状態で試料ステージ3をx軸もしくはy軸方向に既知量mだけ移動させたとき、X線カメラ2上の像がnだけ動いたとすると、その量nは画像処理によって把握できるので、倍率α(n/m)から、X線源1とX線カメラ2までの距離z0 、より正確にはX線焦点からX線カメラ2の結像面までの距離z0 を
z0 =αz′ ・・・・(4)
として正確に求めることもできる。
【0033】
そして、このz0 の算出と併せて、z′を正確に測定することにより、表示器13の画面上での寸法と実物の寸法との比が正確に判明するので、正確な撮影倍率を知ることができ、また、測長機能への適用も可能となる。
【0034】
なお、以上の実施の形態においては、X線光軸を鉛直方向に沿わせたX線透視撮影装置に本発明を適用した例を示したが、X線光軸を水平方向に沿わせたX線透視撮影装置にも本発明を等しく適用し得ることは勿論であり、また、請求項を含めて、x,y,z軸は便宜的に用いたものであって、要はX線光軸に対してX線カメラを規定の軸の向きに傾動できるものであれば本発明を適用し得ることは言うまでもない。
【0035】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、試料をX線カメラの視野内に収めた状態で試料ステージをX線光軸方向に適宜量移動させることにより、その移動前後の試料のX線透視像の大きさの変化から、試料とX線源との実質距離を算出し、その算出結果を用いてX線カメラの傾動時における試料ステージの所要移動量を算出するので、従来の傾動トラッキング機能における設定操作のように、X線カメラの視野内に試料を収めた後に傾動させ、再びX線カメラの視野内に試料を収める場合に比して、試料ステージのみを移動させるだけでX線カメラを動かす必要がなく、しかも傾動後に試料を視野内に収める操作が不要となり、設定操作の大幅な簡略化を達成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の構成図で、機械的構成を表す模式図と電気的構成を表すブロック図とを併記して示す図である。
【図2】本発明の原理説明図で、X線カメラ2の傾動角度θと試料ステージ3の所要移動量の関係を表す図である。
【図3】同じく本発明の原理説明図で、本発明における設定操作時の装置各部材の幾何学的位置関係を表す図である。
【図4】同じく本発明の原理説明図で、図3における試料ステージ3のΔzの移動前における表示器13上での試料WのX線透視像を表す模式図(A)と、移動後の試料WのX線透視像を表す模式図(B)である。
【図5】本発明の応用例の説明図である。
【図6】X線カメラの傾動機構を備えたX線透視撮影装置の構成例を示す図である。
【符号の説明】
1 X線源
2 X線カメラ
3 試料ステージ
4 傾動機構
4a エンコーダ
5 ステージ移動機構
5x,5y,5z エンコーダ
10 制御装置
11 操作盤
12 画像取込回路
13 表示器
W 試料[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an X-ray fluoroscopic apparatus, and more particularly to an X-ray fluoroscopic apparatus provided with a tilting mechanism of an X-ray camera.
[0002]
[Prior art]
In an X-ray fluoroscopic apparatus for industrial use, an X-ray camera including an image intensifier and a CCD camera is generally disposed facing an X-ray source, and a sample is mounted between them. A sample stage is arranged that can move in three axial directions orthogonal to each other including the linear optical axis direction.
[0003]
Such an X-ray fluoroscopic apparatus includes a so-called camera tilting mechanism that can tilt the X-ray camera in a specified axial direction with respect to the X-ray optical axis in order to change the X-ray fluoroscopic direction of the sample. An example of the configuration is shown in FIG. In this example, an
[0004]
Here, in the X-ray fluoroscopic apparatus having the
[0005]
Conventionally, when the
[0006]
In this conventional tracking function, the prior setting method will be described with reference to the example of FIG. 6. First, when the tilt angle θ = 0 of the
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
Incidentally, in the conventional tracking function as described above, as a setting operation for activating the function, the
[0008]
The present invention has been made in view of such circumstances, and the relationship between the tilt angle of the X-ray camera and the required amount of movement of the sample stage can be achieved by a simpler operation than the setting operation in the conventional tracking function. The object is to provide an X-ray fluoroscopic apparatus that can be obtained.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, an X-ray fluoroscopic apparatus of the present invention is provided with an X-ray source, an X-ray camera disposed opposite to the X-ray source, and the X-ray source and the X-ray camera. A sample stage, a stage moving mechanism for moving the sample stage in three axial directions (x, y, z axis directions) perpendicular to each other including the X-ray optical axis direction (z axis direction), and the X-ray camera In an X-ray fluoroscopic apparatus having a camera tilting mechanism that tilts in a specified axial direction (x-axis direction) with respect to an X-ray optical axis, the X-ray camera is positioned on the X-ray optical axis, and is mounted on the sample stage. With the sample placed and within the field of view of the X-ray camera , the sample stage is moved in the z-axis direction. From the ratio of the X-ray fluoroscopic image of the sample before and after the movement, the X-ray Z ′ is calculated from the actual distance between the source and the sample, and the calculation result z With, a required amount of movement [Delta] x to the provisions axial direction of the sample stage by tilting the angle theta and its tilting from the X-ray optical axis of the X-ray camera by the camera tilting mechanism Δx = z'tan θ
It is characterized by having a calculation means for calculating by (claim 1).
[0010]
Here, in the present invention, when the X-ray camera is tilted to an arbitrary angle by the camera tilt mechanism after the calculation by the calculation means, the X-ray camera is tilted every time using the calculation result by the calculation means. A configuration (claim 2) including a tracking mechanism that automatically moves the sample stage in the prescribed axis direction in accordance with an angle can be employed.
[0011]
Further, in the present invention, after the calculation by the calculation means is completed, when the X-ray camera is tilted to an arbitrary angle by the camera tilt mechanism instead of the tracking mechanism, the calculation is performed by giving a command after tilting. Employing a configuration including a sample stage automatic movement mechanism that moves the sample stage in the direction of the specified axis by a distance p corresponding to the tilt angle θ of the X-ray camera using the calculation result of the means (Claim 3). You can also.
[0012]
Furthermore, in the present invention, when the X-ray camera is tilted to an arbitrary angle by the camera tilt mechanism after the calculation by the calculation means is completed, the tilt angle of the X-ray camera is calculated using the calculation result by the calculation means. And a tracking mechanism that automatically moves the sample stage in the direction of the specified axis , and a command after tilting when the X-ray camera is tilted to an arbitrary angle by the camera tilting mechanism after the calculation by the calculation means is completed. And a sample stage automatic movement mechanism that moves the sample stage in the direction of the specified axis by a distance p corresponding to the tilt angle θ of the X-ray camera using the calculation result of the calculation means. It is also possible to employ a configuration (selection 4) provided with a selection means for selectively operating any one of the mechanisms.
[0013]
The present invention has been made by finding that the relationship between the tilt of the X-ray camera and the required amount of movement of the sample stage can be calculated by moving only the sample stage without tilting the X-ray camera. The principle is shown below.
[0014]
As shown in FIG. 2, when the
Δx = z′tan θ (1)
It is represented by In the equation (1), z ′ is a substantial distance between the sample W and the X-ray source 1 (X-ray focal point, hereinafter the same), and is different from the distance z from the
[0015]
As shown by a solid line in FIG. 3, the size of the fluoroscopic image of the sample W in the state where the tilt angle θ of the
[0016]
[Expression 1]
[0017]
The relationship is established. Therefore,
[0018]
[Expression 2]
[0019]
To obtain z ′. Note that the sizes a and b of the fluoroscopic image of the sample W can be easily obtained by image processing.
[0020]
If the substantial distance z ′ of the sample W from the
Therefore, in the present invention, the operation necessary for the operator to obtain the required amount of movement of the sample stage with respect to an arbitrary tilt angle is performed by moving the sample stage from the initial state where the sample is within the field of view of the X-ray camera. It is only necessary to move in the direction of the line optical axis, and there is no possibility that the sample is out of the field of view of the X-ray camera or lost.
[0021]
Further, by using the calculation result of the invention according to
[0022]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment of the present invention, and is a diagram illustrating a schematic diagram showing a mechanical configuration and a block diagram showing an electrical configuration.
[0023]
The
[0024]
The
[0025]
The
[0026]
The motors of the tilting mechanism 4 and the
[0027]
The
Each pixel output of the
[0028]
Now, the program installed in the
[0029]
In performing the setting operation, first, as shown by a solid line in FIG. 3, with the tilt angle θ = 0 of the
[0030]
Next, after raising the
[0031]
By using the actual distance z ′ between the sample W and the X-ray source calculated in this way, the required movement amount Δx of the
[0032]
Here, when the substantial distance z ′ between the
It can also be calculated accurately as
[0033]
In addition to the calculation of z 0 , by accurately measuring z ′, the ratio between the dimension on the screen of the
[0034]
In the above embodiment, an example in which the present invention is applied to an X-ray fluoroscopic apparatus having an X-ray optical axis along the vertical direction has been described. It goes without saying that the present invention can be equally applied to a fluoroscopic imaging apparatus, and the x, y, and z axes are used for convenience, including the claims. However, it goes without saying that the present invention can be applied as long as the X-ray camera can be tilted in the direction of the specified axis.
[0035]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, an X-ray fluoroscopic image of the sample before and after the movement is obtained by moving the sample stage by an appropriate amount in the X-ray optical axis direction while the sample is within the field of view of the X-ray camera. Since the actual distance between the sample and the X-ray source is calculated from the change in the size of the sample, and the required amount of movement of the sample stage when the X-ray camera is tilted is calculated using the calculation result, in the conventional tilt tracking function Compared to setting the sample in the field of view of the X-ray camera, tilting it, and placing the sample in the field of view of the X-ray camera again as in the setting operation, the X-ray camera can be moved by moving only the sample stage. There is no need to move, and there is no need to place the sample in the field of view after tilting, and the setting operation can be greatly simplified.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment of the present invention, and is a diagram illustrating a schematic diagram showing a mechanical configuration and a block diagram showing an electrical configuration.
FIG. 2 is an explanatory diagram of the principle of the present invention, and is a diagram showing the relationship between the tilt angle θ of the
FIG. 3 is also a diagram for explaining the principle of the present invention, and is a diagram showing the geometric positional relationship of each member of the apparatus during the setting operation according to the present invention.
4 is an explanatory diagram of the principle of the present invention, and is a schematic diagram (A) showing an X-ray fluoroscopic image of the sample W on the
FIG. 5 is an explanatory diagram of an application example of the present invention.
FIG. 6 is a diagram illustrating a configuration example of an X-ray fluoroscopic apparatus including an X-ray camera tilting mechanism.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
Claims (4)
上記X線カメラをX線光軸上に位置させ、かつ、上記試料ステージに試料を載せて当該試料を上記X線カメラの視野内に収めた状態で、当該試料ステージをz軸方向に移動させ、その移動前後の試料のX線透視像の大きさの比から、X線源と試料との実質距離をz′を算出するとともに、その算出結果z′を用いて、上記カメラ傾動機構によるX線カメラのX線光軸からの傾動角度θとその傾動により試料ステージの上記規定軸方向への所要移動量Δxを
Δx=z′tan θ
により算出する演算手段を備えていることを特徴とするX線透視撮影装置。An X-ray source, an X-ray camera disposed opposite to the X-ray source, a sample stage disposed between the X-ray source and the X-ray camera, and the sample stage in the X-ray optical axis direction (z-axis) And a stage moving mechanism for moving in three axis directions (x, y, z axis directions) orthogonal to each other, and a camera for tilting the X-ray camera in a specified axis direction (x axis direction) with respect to the X-ray optical axis In an X-ray fluoroscopic apparatus equipped with a tilting mechanism,
The sample stage is moved in the z-axis direction with the X-ray camera positioned on the X-ray optical axis and the sample placed on the sample stage and within the field of view of the X-ray camera. Then, from the ratio of the size of the X-ray fluoroscopic image of the sample before and after the movement, z ′ is calculated as the substantial distance between the X-ray source and the sample, and the calculated result z ′ is used to calculate X by the camera tilt mechanism. The tilt angle θ from the X-ray optical axis of the line camera and the required amount of movement Δx of the sample stage in the specified axis direction by the tilt are expressed as follows: Δx = z′tan θ
An X-ray fluoroscopic apparatus comprising a calculation means for calculating by the following.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001191258A JP4687853B2 (en) | 2001-06-25 | 2001-06-25 | X-ray fluoroscopic equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001191258A JP4687853B2 (en) | 2001-06-25 | 2001-06-25 | X-ray fluoroscopic equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003004666A JP2003004666A (en) | 2003-01-08 |
JP4687853B2 true JP4687853B2 (en) | 2011-05-25 |
Family
ID=19029910
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001191258A Expired - Fee Related JP4687853B2 (en) | 2001-06-25 | 2001-06-25 | X-ray fluoroscopic equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4687853B2 (en) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005221459A (en) * | 2004-02-09 | 2005-08-18 | Shimadzu Corp | X-ray fluoroscopic apparatus |
GB0415053D0 (en) * | 2004-07-05 | 2004-08-04 | Dage Prec Ind Ltd | X-ray manipulator |
JP4433182B2 (en) * | 2004-09-22 | 2010-03-17 | 株式会社島津製作所 | X-ray fluoroscope |
JP4793541B2 (en) * | 2005-04-07 | 2011-10-12 | 株式会社島津製作所 | Computed tomography equipment |
JP7008325B2 (en) * | 2017-11-16 | 2022-01-25 | 克広 土橋 | Radiation fluoroscopy non-destructive inspection method and radiation fluoroscopy non-destructive inspection equipment |
JP6987413B2 (en) * | 2018-10-15 | 2022-01-05 | 株式会社 東京ウエルズ | Non-destructive automatic inspection system |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000333941A (en) * | 1999-05-28 | 2000-12-05 | Shimadzu Corp | X-ray imaging device |
-
2001
- 2001-06-25 JP JP2001191258A patent/JP4687853B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000333941A (en) * | 1999-05-28 | 2000-12-05 | Shimadzu Corp | X-ray imaging device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2003004666A (en) | 2003-01-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3891285B2 (en) | X-ray fluoroscope | |
JP4968261B2 (en) | X-ray fluoroscope | |
US8965583B2 (en) | Robot, medical work station, and method for projecting an image onto the surface of an object | |
JP4375555B2 (en) | X-ray CT system | |
JP2007120993A (en) | Object shape measuring device | |
JP4687853B2 (en) | X-ray fluoroscopic equipment | |
JP5292791B2 (en) | X-ray inspection equipment | |
JP3613121B2 (en) | X-ray fluoroscope | |
JP2004257914A (en) | X-ray fluoroscopic apparatus | |
JP4133657B2 (en) | X-ray fluoroscope for precision measurement | |
JPH09146633A (en) | Method and system for guiding robot | |
JP2010266750A (en) | Observation device and observation system | |
JP2006133008A (en) | X-ray fluoroscopic device | |
JP4433182B2 (en) | X-ray fluoroscope | |
JP2004202634A (en) | Centering device | |
JP4484012B2 (en) | X-ray fluoroscopic equipment | |
JP4665696B2 (en) | X-ray inspection equipment | |
JP4158027B2 (en) | X-ray fluoroscopy system | |
JP4792918B2 (en) | X-ray inspection equipment | |
JPH09272081A (en) | Remote control input device and method | |
JP5577508B2 (en) | Image measuring apparatus and drive control method thereof | |
JPH08262327A (en) | Movement controller of x-y table | |
JPH07159128A (en) | Measurement microscope | |
JPH04341740A (en) | Automatic inclination correcting device | |
JP4696826B2 (en) | X-ray inspection equipment |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071122 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100824 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100901 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101101 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110119 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110201 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4687853 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140225 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |