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JP4569418B2 - モータ駆動回路 - Google Patents

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JP4569418B2 JP2005241135A JP2005241135A JP4569418B2 JP 4569418 B2 JP4569418 B2 JP 4569418B2 JP 2005241135 A JP2005241135 A JP 2005241135A JP 2005241135 A JP2005241135 A JP 2005241135A JP 4569418 B2 JP4569418 B2 JP 4569418B2
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Description

本発明は、カレントミラー回路を備えると共に、クランプ端子に印加される電圧をクランプするトランジスタを備えてなるクランプ回路を用いて構成されるモータ駆動回路に関する。
特許文献1には、図6に示す構成のクランプ回路が開示されている。このクランプ回路は、端子200とグランドとの間に設けられ、端子200に現われる電位Vを所定の電位レベルにクランプするクランプ用トランジスタ201と、このトランジスタ201のゲート電圧VGを与える抵抗202と、抵抗202に一定の電流Ioを供給するトランジスタ203、204及び定電流源205を備えて構成される。
トランジスタ201は、そのソースと基板が結合され、且つソースが端子200に接続され、そのドレインがグランドに接続されるpチャネルMOSトランジスタである。抵抗202は、例えばポリシリコン抵抗などのトリミング可能な抵抗で構成され、その抵抗値は所望の値Rに設定される。そして、抵抗202は、トランジスタ201のゲートとグランドとの間に接続されており、自身を流れる電流Ioと抵抗値Rとの積Io・Rの一定電圧VGをトランジスタ201のゲートに与える。
トランジスタ203は、pチャネルMOSトランジスタで構成され、その基板及びソースが共通に接続され且つソースが端子200へ接続され、ドレインが端子210に接続され、ゲートがトランジスタ204のゲート及びドレインに接続される。トランジスタ204もpチャネルMOSトランジスタで構成されており、そのソース及び基板が共通接続され且つソースが端子200に接続され、そのドレインがトランジスタ203及び204のゲートに接続されると共に定電流源205に接続される。トランジスタ203及び204はカレントミラー回路を構成しており、定電流源205がトランジスタ204から一定の電流Ioを引き抜くことで、ミラー電流Ioが流れるようになっている。
特開平6−104672号公報
特許文献1のクランプ回路では、端子200におけるクランプ電圧を調整するには、抵抗202の抵抗値若しくは定電流源205の電流値を調整する必要がある。しかしながら、抵抗202をトリミング可能な構成として形成するには、それに対応するプロセスを別途用意する必要がある。従って、当初からそのようなプロセスを実施することを予定していない場合には、トリミング抵抗の形成が困難となる。
そして、トリミング抵抗が使用できない場合は、動作の基準電圧となるトランジスタ201のゲート電位が、定電流源205が有している温度特定の影響を受けることになってしまう。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、トリミング抵抗を使用せずとも、カレントミラー回路の温度特性をキャンセルすることができるクランプ回路を用いて構成されるモータ駆動回路を提供することにある。
請求項1記載のモータ駆動回路によれば、カレントミラー回路を構成する第1トランジスタ側に複数の調整用トランジスタを並列接続し、スイッチ回路による接続を選択的に切り替えることでそれらの内何れかの調整用トランジスタを導通させれば、第1トランジスタ側、並びに第2トランジスタ側に流れる電流量を調整することができる。そして、クランプ用トランジスタの導通制御端子の電位は、第2トランジスタ側の電源電圧より抵抗素子における電圧降下分を減じたものとなる。従って、前記導通制御端子の電位を調整すれば当該電位を基準とするクランプ電圧を調整することが可能となり、トリミング抵抗を使用せずとも、クランプ電圧を調整してカレントミラー回路が有する温度特性をキャンセルすることができる。
そして、モータに通電を行なう通電用トランジスタの導通制御を、クランプ回路のクラプ用トランジスタと直列に接続される駆動用トランジスタとで行い、通電用トランジスタがモータに通電を行った場合に、通電用トランジスタのドレイン−ソース間電圧を検出することで過電流検出を行う。この場合、通電用トランジスタが有しているオン抵抗を利用して過電流検出を行なうことになり、その際には、通電用トランジスタが飽和領域まで至らないように導通制御端子(ゲート)の電位を制御し、前記オン抵抗が一定となる状態を基準として維持する必要がある。そこで、クランプ回路を利用すれば、通電用トランジスタの導通制御端子電位を適切に設定することが可能となる。
請求項2記載のモータ駆動回路によれば、複数の調整用トランジスタが導通した場合に流れる電流量が夫々異なるように設定するので、それらの組み合わせによってミラー電流の調整をより多段階に行なえるようになり、クランプ電圧の調整をより広範囲に行うことができる。若しくは、より少ない調整用トランジスタ及びスイッチ回路で調整を行なうことができる。
請求項3記載のモータ駆動回路によれば、第1トランジスタに流れる電流量を基準とし、各調整用トランジスタに流れる電流量が2N倍(Nは自然数)となる関係に設定するので、N個の調整用トランジスタ及びスイッチ回路の組み合わせにより、基準電流量を単位として2N段階でミラー電流を調整することができる。
請求項4記載のモータ駆動回路によれば、第2トランジスタと抵抗素子との間に、クランプ用トランジスタが有する温度特性をキャンセルするように温度特性補正用トランジスタを接続する。即ち、双方のトランジスタが同一種類(同一特性)であれば、動作時に夫々のトランジスタが与える電位差が、クランプ電圧に寄与する際に打ち消されるような形態で接続することで、クランプ用トランジスタが有している温度特性をキャンセルすることができる。
請求項5記載のモータ駆動回路によれば、クランプ用トランジスタ及び温度特性補正用トランジスタを何れもPチャネルMOSFETで構成し、クランプ用トランジスタのソースをクランプ端子に接続し、温度特性補正用トランジスタのソースを抵抗素子に、ドレイン及びゲートをクランプ用トランジスタのゲートに接続する。ここで、第2トランジスタ側の電源電圧をV2,電流をI2,抵抗素子の抵抗値をR2,PチャネルMOSFETのゲート−ソース間しきい値電圧をVthとすれば、クランプ電圧Vcは、
Vc=V2−R2・I2−Vth+Vth=V2−R・I2
となる。従って、クランプ用トランジスタがクランプ電圧Vcに寄与する電圧は相殺されることになり、当該トランジスタの温度特性をキャンセルすることができる。
請求項6記載のモータ駆動回路によれば、調整データ出力回路には、外部より与えられた調整データが書き込まれて保持される。そして、調整データ出力回路は、書き込まれた調整データを複数のスイッチ回路に夫々出力して各スイッチ回路の接続切替えを設定する。従って、調整用トランジスタの導通状態を、外部よりデータを与えて調整することができ、クランプ電圧を調整することが可能となる。
請求項7記載のモータ駆動回路によれば、シリアルインターフェイス回路が、外部よりシリアル通信で送信されたデータを受信して調整データ出力回路に与えるので、調整データ出力回路にデータを直接書き込むために必要となる数の外部端子をクランプ回路に用意する必要がなくなり、クランプ回路の外形サイズを小型化することができる。
請求項記載のモータ駆動回路によれば、通電用トランジスタを、電源とモータとの間に接続されるPチャネルMOSFETで構成するので、PチャネルMOSFETのゲート電位をソースにおける電源電圧より所定レベルだけ低下させた状態に維持して、当該FETのオン抵抗を一定にすることができる。
(第1実施例)
図1は本発明の第1実施例であり、クランプ回路の電気的構成を示すものである。このクランプ回路1において、ミラー対をなすNチャネルMOSFET2(第1トランジスタ),3(第2トランジスタ)は、ソースがグランドに接続され、ドレインが抵抗素子4,5を介して基準電圧V1,V2に夫々接続されている。また、FET2,3のゲートは、FET2のドレインに共通に接続されている。
FET2に対しては、NチャネルMOSFET6,7(調整用トランジスタ)が並列に接続されており、これらのFET6,7に対して、例えばアナログスイッチなどで構成されるスイッチ回路8,9が接続されている。スイッチ回路8,9は、固定接点aがFET2のドレインに接続され、固定接点bがグランドに接続され、可動接点cがFET6,7のゲートに夫々接続されている。従って、可動接点cが固定接点a側に接続されるとFET6,7はオンとなり、固定接点b側に接続されるとFET6,7はオフとなる。
そして、スイッチ回路8,9の切替え制御は、調整データのレベル(ハイ,ロウ)に応じて決定される。調整データは、具体的には図示しないが、例えばEEPROMなどのメモリに書き込まれており、回路に電源が投入されるとそのデータが読み出されて、夫々のスイッチ回路8,9に出力されるものである。
一方、FET3のドレインには、PチャネルMOSFET10(クランプ用トランジスタ)のゲート(導通制御端子)が接続されており、そのFET10のドレインはグランドに、ソースはクランプ端子11となっている。尚、以上において、FET2,3,6,7は同一種類(同一特性)のFETであり、抵抗素子4,5は同一種類の抵抗素子で構成されている。
次に、本実施例の作用について説明する。クランプ回路1において、クランプ端子11の電圧Vcは、以下のように決定される。即ち、FET3側に流れる電流をI2,抵抗素子5の抵抗値をR2,FET10のゲート−ソース間しきい値電圧をVthとすれば、
Vc=V2−R2・I2+Vth
となる。従って、電流I2を調整することで、FET10のゲート電位(V2−R2・I2)を調整して、クランプ電圧Vcを調整することができる。
そして、電流I2を調整するには、FET2側においてスイッチ回路8,9を切替え、FET6,7を選択的に導通させることで行う。即ち、FET6,7を段階的に導通させれば、FET2側に流れる電流I1は組み合わせによって3段階に増加するので、それに応じて電流I2も増加し、FET10のゲート電位、つまりクランプ電圧Vcはより低くなるように調整される。
以上のように本実施例によれば、クランプ回路1において、カレントミラー回路を構成するFET2側に調整用のFET6,7を並列接続し、スイッチ回路8,9の接続状態を切り替えることで、ミラー電流I1,I2を調整することができる。そして、FET10のゲート電位は、FET3側の電源電圧V2より抵抗素子5における電圧降下分を減じたものとなり、そのゲート電位を調整することで当該電位を基準とするクランプ電圧Vcを調整できる。従って、トリミング抵抗を使用せずとも、クランプ電圧Vcを調整してカレントミラー回路が有する温度特性をキャンセルすることができる。
(第2実施例)
図2は本発明の第2実施例であり、第1実施例と同一部分には同一符号を付して説明を省略し、以下異なる部分についてのみ説明する。第2実施例におけるクランプ回路12は、抵抗素子5とFET3のドレインとの間にPチャネルMOSFET13(温度特性補正用トランジスタ)を挿入したものである。即ち、FET13のソースは抵抗素子5に接続され、ドレイン及びゲートはFET10のゲートに接続されている。尚、FET13は、FET10と同一種類のFETである。
次に、第2実施例の作用について説明する。クランプ回路12においては、FET13が加えられたことで、クランプ端子11の電圧Vcは、以下のように決定される。この場合、FET13のゲート−ソース間しきい値電圧もVthとなるので、
Vc=V2−R2・I2−Vth+Vth=V2−R2・I2
即ち、通常、FET10も温度特性を有しており、それがクランプ電圧Vcに悪影響を及ぼす場合には、当該温度特性もキャンセルすることが好ましい。そして、FET13を加えることで、FET10が発生する電圧Vthはクランプ電圧Vcに関与しなくなり、その結果、FET10が有する温度特性はキャンセルされることになる。
以上のように第2実施例によれば、抵抗素子5とFET3との間にFET13を接続したので、FET10が有している温度特性をキャンセルすることができる。
(第3実施例)
図3及び図4は本発明の第3実施例を示すものである。第3実施例は、第1実施例のクランプ回路1と同様の構成を、PチャネルパワーMOSFET(通電用トランジスタ)14を駆動するためのトランジスタ駆動回路15に適用したものである。即ち、基準電圧V2とグランドとの間には、PチャネルMOSFET16及び17がトーテムポール接続されており、共通に接続されているFET16のドレイン及びFET17のソースは、FET14のゲートに接続されている。
また、基準電圧V2(例えば14V)とグランドとの間には、抵抗素子18〜20及びNチャネルMOSFET21の直列回路が接続されており、FET16のゲートは、抵抗素子18及び19の共通接続点に接続されている。そして、FET16のオンオフ制御はFET21によって行われ、FET21のゲート電位がロウレベル(グランド)であれば、FET16のゲート電位は基準電圧V2となり、FET16はオフとなる。また、FET21のゲート電位がハイレベル(基準電圧V1、例えば5V)であればFET16はオンとなる。
2つのNチャネルMOSFET22,23(第1,第2トランジスタ)は、クランプ回路1におけるFET2,3と同様に接続されてカレントミラー回路を構成しており、FET22のドレインは抵抗素子24を介して基準電圧V1に接続され、FET23のドレインは抵抗素子25を介して基準電圧V2に接続されている。そして、FET17(クランプ用トランジスタ)のゲートは、FET23のドレインに接続されている。
FET22側には、調整用トランジスタとして複数のNチャネルMOSFET26(1〜n)が並列に接続されており、各FET26(1〜n)に対応して、スイッチ回路27(1〜n)が接続されている。そして、FET26のドレインはFET17の駆動制御用端子に接続されており、前記駆動制御用端子の電位がロウレベル(グランド)であれば、FET17のゲート電位は基準電圧V2となり、FET17はオフとなる。
また、FET26のドレイン電位がハイレベル(基準電圧V1)であれば、抵抗素子25を介して電流が流れ、FET17はオンとなる。その場合、PチャネルパワーMOSFET14のゲート電位VGは、抵抗素子25の抵抗値をR,流れる電流をIとすれば、第1実施例と同様に、
VG=V2−R・I+Vth
となるようにクランプされる。
また、図4は、パワーMOSFET14が負荷として通電するDCモータ28も含め、全体の構成を示したものである。パワーMOSFET14のドレインとグランドとの間には、モータ28が接続されており、モータ28をハイサイド駆動するように構成されている。
パワーMOSFET14のソース,ドレインは、過電流検出用の反転増幅器29の入力端子に夫々接続されている。そして、上述したように、駆動回路15は、パワーMOSFET14が導通状態となる場合、その導通レベルが最大(フルON)とならないようゲート電位を制御するので、FET14のオン抵抗RONは変動することなく一定となるように維持される。従って、反転増幅器29の入力端子間におけるFET14のドレイン−ソース間電圧VDSは、FET14に流れる電流をIとすれば、VDS=RON×Iとなるので、電圧VDSを検出すればモータ28に過電流が流れたことを検出できる。
以上のように第3実施例によれば、モータ28に通電を行なうパワーMOSFET14の導通制御を、第1実施例におけるクランプ回路1と同様に構成される駆動回路15によって行うようにした。従って、FET14のゲート電位をソースにおける基準電圧V2より所定レベルだけ低下させた状態を維持して、FET14が飽和領域まで至らないように制御することで、オン抵抗RONが一定となる状態を基準として、反転増幅器29により過電流検出を行なうことができる。
(第4実施例)
図5は本発明の第4実施例であり、第1実施例と異なる部分について説明する。第4実施例のクランプ回路31は、第1実施例におけるクランプ回路1に、調整値設定回路(調整データ出力回路)32及びアクセス回路(シリアルインターフェイス回路)33を加えて構成されている。調整値設定回路32は、図1では明示しなかった、スイッチ回路8,9の切替え制御を行うために、調整データを与えるEEPROMなどの不揮発性メモリに相当するものである。そして、アクセス回路33は、外部よりシリアル通信で送信される調整データを受信し、受信データをパラレルに変換して調整値設定回路32に出力し、書き込み設定するためのシリアル通信インターフェイスである。
以上のように構成された第4実施例によれば、クランプ回路31に対して外部よりシリアル通信で調整データを送信すると、そのデータをアクセス回路33が受信してシリアル/パラレル変換を行い、変換されたデータが調整値設定回路32に書き込まれる。そして、調整値設定回路32は、書き込まれた調整データを保持しつつスイッチ回路8,9に出力するので、そのデータによりスイッチ回路8,9の接続切替えが行われる。
従って、FET6,7のオンオフ切替えを外部より行なうことが可能となる。例えば、第3実施例の図4に示すような、パワーMOSFET14とトランジスタ駆動回路15とが別チップとして構成され、FET14とクランプ回路31とを組み合わせて使用する際に、FET14のオン抵抗がゲート−ソース間電圧VGSに依存することで、その変動を誘引する製造ばらつきがある場合でも、そのばらつきを一対一で調整することができ、FET14のオン抵抗を精度良く設定することができる。
本発明は上記し又は図面に記載した実施例にのみ限定されるものではなく、以下のような変形が可能である。
例えば、第1実施例において、FET6,7のチャネル幅が異なるように形成することで、夫々がオンした場合に増加する電流量が異なるように設定しても良い。更に、例えば
FET2のチャネル幅をW,FET6,7のチャネル幅を夫々2W,4Wとなる関係に設定すれば(即ち、W・2Nとなる関係,Nは自然数)、FET6,7のオンオフの組み合わせにより4段階の調整を行なうことができ、クランプ電圧の調整をより広範囲に若しくは、より少ない調整用トランジスタ及びスイッチ回路で調整を行なうことができる。
第2実施例の構成を、第3実施例と同様の駆動回路に適用しても良い。
基準電圧V1,V2は同じ電圧であっても良い。
MOSFETにおけるP,Nチャネルの関係を逆にしても良い。
第4実施例において、調整値設定回路32にデータを直接書き込むために必要な外部端子をクランプ回路31に配置することが可能である場合には、アクセス回路33を設ける必要はない。
本発明の第1実施例であり、クランプ回路の電気的構成を示す図 本発明の第2実施例を示す図1相当図 本発明の第3実施例であり、第1実施例のクランプ回路と同様の構成を、PチャネルパワーMOSFETを駆動するための駆動回路に適用した構成を示す図 パワーMOSFETが通電するDCモータも含めた全体の構成を示す図 本発明の第4実施例を示す図1相当図 従来技術を示す図1相当図
符号の説明
図面中、1はクランプ回路、2,3はNチャネルMOSFET(第1,第2トランジスタ)、4,5は抵抗素子、6,7はNチャネルMOSFET(調整用トランジスタ)、8,9はスイッチ回路、10はPチャネルMOSFET(クランプ用トランジスタ)、11はクランプ端子、12はクランプ回路、13はPチャネルMOSFET(温度特性補正用トランジスタ)、14はPチャネルパワーMOSFET(通電用トランジスタ)、15はトランジスタ駆動回路、22,23はNチャネルMOSFET(第1,第2トランジスタ)、26はNチャネルMOSFET(調整用トランジスタ)、27はスイッチ回路、31はクランプ回路、32は調整値設定回路(調整データ出力回路)、33はアクセス回路(シリアルインターフェイス回路)を示す。

Claims (8)

  1. グランド側に配置されるミラー対の各トランジスタが、電源に夫々抵抗素子を介して接続されるカレントミラー回路と、
    このカレントミラー回路に流れるミラー電流を決定する側の第1トランジスタに並列に接続される複数の調整用トランジスタと、
    これら複数の調整用トランジスタの導通制御端子に夫々対応して接続され、各調整用トランジスタの導通状態を制御する複数のスイッチ回路と、
    前記ミラー対の他方である第2トランジスタの電源側端子に導通制御端子が接続され、クランプ端子に印加される電圧を、前記導通制御端子の電位を基準としてクランプするクランプ用トランジスタとを備えてなるクランプ回路と、
    モータに対して直列に接続されるMOSFETで構成され、前記モータに通電を行なう通電用トランジスタと、
    電源とグランドとの間に、前記クランプ用トランジスタと共に直列接続される駆動用トランジスタとを備え、これら2つのトランジスタにより前記通電用トランジスタを駆動し、
    前記通電用トランジスタが前記モータに通電を行った場合に、前記通電用トランジスタのドレイン−ソース間の電圧を検出することで、過電流検出を行うことを特徴とするモータ駆動回路。
  2. 前記複数の調整用トランジスタが導通した場合に流れる電流量が、夫々異なるように設定することを特徴とする請求項1記載のモータ駆動回路。
  3. 前記第1トランジスタに流れる電流量を基準として、各調整用トランジスタに流れる電流量が2N倍(Nは自然数)となる関係に設定したことを特徴とする請求項2記載のモータ駆動回路。
  4. 前記クランプ用トランジスタが有する温度特性をキャンセルするように、前記第2トランジスタと前記抵抗素子との間に接続される温度特性補正用トランジスタを備えたことを特徴とする請求項1乃至3の何れかに記載のモータ駆動回路。
  5. 前記クランプ用トランジスタ及び前記温度特性補正用トランジスタが何れもPチャネルMOSFETで構成される場合、
    前記クランプ用トランジスタのソースは前記クランプ端子に接続され、
    前記温度特性補正用トランジスタのソースは前記抵抗素子に、ドレイン及びゲートは前記クランプ用トランジスタのゲートに接続されることを特徴とする請求項4記載のモータ駆動回路。
  6. 外部より与えられた調整データが書き込まれると共に、前記調整データを前記複数のスイッチ回路に夫々出力して、各スイッチ回路の接続切替えを設定する調整データ出力回路を備えたことを特徴とする請求項1乃至5の何れかに記載のモータ駆動回路。
  7. 外部よりシリアル通信で送信されたデータを受信して、前記調整データ出力回路に与えるシリアルインターフェイス回路を備えたことを特徴とする請求項6記載のモータ駆動回路。
  8. 前記通電用トランジスタは、電源と前記モータとの間に接続されるPチャネルMOSFETで構成されることを特徴とする請求項1乃至7の何れかに記載のモータ駆動回路。
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