JP4557862B2 - 光ピックアップ装置および情報記録再生装置 - Google Patents
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Description
また、特許文献1〜4には、レーザ光の波長が互いに異なる2つの半導体レーザ素子を一台の光ピックアップ装置に組み込んだ2波長対応の光ピックアップ装置が開示されている。この2波長対応の光ピックアップ装置では、2種類の波長のレーザ光が1/2波長板によって偏光方向が90度変化された後に、偏光ビームスプリッタ(以下、PBSという)に入射されて光路が合成される。以下に、この2波長対応の光ピックアップ装置について、図6を用いて詳細に説明する。
この第1PBS3の光ディスク6側とは反対側には、フォーカスエラー検出に用いられる非点収差を生成するためにシリンドリカルレンズ7が設けられている。また、第2PBS4の半導体レーザ素子2側とは反対側には、レーザパワーを検出して出力を調整するためにパワーコントロール用受光素子8が設けられている。
また、第2PBS4の光ディスク6側には、光の位相をπ/4だけ変化させる1/4波長板9と、この1/4波長板9からの光を平行光にするためのコリメートレンズ10と、光路を90度曲げるための立ち上げミラー11と、光ディスク6の表面に光を集光させるための対物レンズ12とがこの順に設けられており、この対物レンズ12の位置を調整するためにアクチュエータドラム13およびこれを支持するアクチュエータ支持体14が設けられている。
さらに、第1PBS3と半導体レーザ素子1との間には、光の偏光方向を90度変化させるための1/2波長板15と、メインビームの他に、トラッキングエラー検出に用いられる二つのサブビームを形成するための3ビーム用グレーティング16とがこの順に設けられている。また、第2PBS4と半導体レーザ素子2との間には、光の偏光方向を90度変化させるための1/2波長板17と、メインビームの他に、トラッキングエラー検出に用いられる二つのサブビームを形成するための3ビーム用グレーティング18とがこの順に設けられている。この1/2波長板15および17はそれぞれ、第1PBS3および第2PBS4に入射した各レーザ光をその各傾斜面(ミラー面)で反射させるために半導体レーザ素子1および2からそれぞれ出射された各P偏光をS偏光に偏光方向を90度変化させている。
FES(フォーカスエラー信号)=(A+C)−(B+D)=0
という条件を満たす場合に合焦状態とし、それ以外の場合に合焦状態からずれているとして、フォーカスエラーが検出される。これによって、4つの領域にはそれぞれ信号出力端子が設けられている。
(E1+F1)+(E2+F2)=(E3+F3)+(E4+F4)、
(E1+F1)+(E4+F4)=(E2+F2)+(E3+F3)
である場合には、二つのサブビーム(または3ビームと受光素子5)の相対的な回転誤差やピッチ誤差がないものとすることができる。
FES=(A+C)−(B+D)=0
合焦状態で、上式を満たさない場合には合焦状態からずれていると判断して、フォーカスエラーが検出される。
FES(ランド)=(A+C)−(B+D)=0
に位置調整されると、ランド部Rにおいて合焦状態である。
FES(グルーブ)=(A+C)−(B+D)=0
となり、FES(グルーブ)の値がゼロであるという関係を満たすので、ランドRとグルーブGでの合焦差は発生しない。例えばDVD−RAMディスクにおいて、受光スポットHが受光素子5のパターンに対して相対的に傾いていない場合に、DVD−RディスクやDVD−RAMディスクのランドRでデフォーカス調整をしても、DVD−RAMディスクのグルーブGでのデフォーカス差は発生しない。
FES(ランド)=(A+C)−(B+D)=0
という調整が行われる。この状態で、グルーブGにトラッキングを切り替えた場合、図11(c)に示すように、
FES(グルーブ)=(A+C)−(B+D)<0
となって、ランドRとグルーブGで合焦状態が一致しないという問題が発生する。
(E1+F1)=(E2+F2)=(E3+F3)=(E4+F4)
という出力が得られ、上記式により位置ずれを検出することができない。
本発明の光ピックアップ装置は、波長が異なる光をそれぞれ出射可能とする二つの光源と、光学的記録媒体から遠い側に配置され、該波長が異なる光を異なる方向から入射させ、一方の光は傾斜面で反射させ、他方の光は該傾斜面を透過させて、いずれの光も同じ方向に出射可能とする第1ビームスプリッタと、該光学的記録媒体に近い側に配置され、該第1ビームスプリッタからの光を、傾斜面を透過させて該光学的記録媒体上に照射させ、該光学的記録媒体からの反射光を当該傾斜面で反射させて出射させる第2ビームスプリッタと、該第2ビームスプリッタからの出射光を受光し、トラッキングエラーを検出するための二つの4分割サブビーム受光領域を有する受光素子と、先行サブビームおよび後方サブビームの内周前側、内周後側、外周前側および外周後側の各出力のうち、同相位置関係にある領域を結線する同相結線と、対称的な位置関係にある領域を結線する相対結線と、該同相結線からの出力と該相対結線からの出力を切り替え可能とするスイッチ手段とを有するものであり、これにより上記目的が達成される。
(実施形態1)
図1は、本発明の実施形態1に係る2波長対応の光ピックアップ装置の要部構成例を示す斜視図である。
FES=(A+C)−(B+D)=0
上式の関係を満たす場合には合焦状態で、上式の関係を満たさない場合には合焦状態からずれているものとして、フォーカスエラーが検出される。よって、メインビームの受光領域5aの四つの4分割領域A〜Dにはそれぞれ、信号出力端子51a〜51dがそれぞれ接続されている。
(E1+F1)+(E2+F2)=(E3+F3)+(E4+F4)、
(E1+F1)+(E4+F4)=(E2+F2)+(E3+F3)
上記式を満たす場合に、サブビームと受光素子5の相対的な回転誤差やピッチ誤差などがないものとして検出される。
FES=(A+C)−(B+D)=0
となるポイントまで、シリンドリカルレンズ7を光軸周りに回転調整する。ここで、図4(a)および(b)に示すように、ランド部とグルーブ部では、フォーカスエラー検出用のメインビームの受光領域5aに照射される回折パターンの明暗が逆であり、異なる回折パターンにおける合焦状態を一致させるためには、受光素子5Aに対する受光スポットHの相対的な回転誤差をなくす必要がある。
P=(f2/f1)×(f1−L2)×(λ/Gp)/(SQR(1−(λ/Gp)2))
によって与えられる。さらに、受光系の焦点距離をf3とした場合、焦点距離f1と焦点距離f3の比率が光ディスク6上のサブビームのピッチと受光素子5A上のサブビームのピッチとの比率になるため、3ビーム用グレーティング16および18の光軸方向の位置を調整することによって、受光素子5A上の3ビームのピッチを調整することが可能となる。
L1×N1=n×L2
という節目において半導体レーザ素子と光ピックアップ装置の光学系光路長によって二つの共振器が構成されることとなり、ノイズが増大する。そこで、コリメートレンズ10からの光束部の長さを自由に設定可能な構成(光路を曲げない場合には長さ方向のサイズだけで光路が設定されるが、曲げた場合には長さ方向と高さ方向のサイズで光路を設定できるから、自由度が広がる)とすることによって、上記節目の距離関係を避けるように光路長を設定可能となり、ノイズ回避に非常に有効な手段となると共に、薄型の光ピックアップ装置を構成することも可能となる。
2 半導体レーザ素子(CD用半導体レーザ素子)
3A、3B 第1BS
4 第2BS
5A 受光素子
5a メインビーム受光領域
5b、5c サブビーム受光領域
52a〜52d 結線
53a〜53d 同相結線
54a〜54d 出力端子
55a〜55d 相対結線
56a〜56d スイッチ
6 光ディスク(光学的記録媒体)
7 シリンドリカルレンズ
7a シリンドリカルレンズの切り欠き部
8 パワーコントロール用受光素子
9 1/4波長板
10 コリメートレンズ
11 立上げミラー
12 対物レンズ
13 アクチュエータドラム
13a アクチュエータドラムのくり貫き部
14 アクチュエータ支持体
16、18 3ビーム用グレーティング
100A、100B、100C 光ピックアップ装置
Claims (13)
- 波長が異なる光をそれぞれ出射可能とする二つの光源と、
光学的記録媒体から遠い側に配置され、該波長が異なる光を異なる方向から入射させ、一方の光は傾斜面で反射させ、他方の光は該傾斜面を透過させて、いずれの光も同じ方向に出射可能とする第1ビームスプリッタと、
該光学的記録媒体に近い側に配置され、該第1ビームスプリッタからの光を、傾斜面を透過させて該光学的記録媒体上に照射させ、該光学的記録媒体からの反射光を当該傾斜面で反射させて出射させる第2ビームスプリッタと、
該第2ビームスプリッタからの出射光を受光し、トラッキングエラーを検出するための二つの4分割サブビーム受光領域を有する受光素子と、
先行サブビームおよび後方サブビームの内周前側、内周後側、外周前側および外周後側の各出力のうち、同相位置関係にある領域を結線する同相結線と、該二つの4分割サブビーム受光領域のそれぞれの受光領域中心について点対称的な位置関係にある領域を結線する相対結線と、
該同相結線からの出力と該相対結線からの出力を切り替え可能とするスイッチ手段とを有する光ピックアップ装置。 - 前記第1ビームスプリッタは、前記波長が異なる光のうち、該波長が長い光は傾斜面を透過させ、該波長が短い光は該傾斜面で反射させる構成とした請求項1に記載の光ピックアップ装置。
- 前記第1ビームスプリッタの前記二つの光源の一方の配置側とは反対側の面であって光出射側とは異なる面に対向して、該二つの光源からの光出力パワーを検出して出力調整するためのパワーコントロール用受光素子が配置され、
前記波長が異なる光のうち、前記一方の光の一部を該第1ビームスプリッタの傾斜面を透過させ、前記他方の光の一部を該第1ビームスプリッタの傾斜面で反射させて、該パワーコントロール用受光素子に導くように構成した請求項1に記載の光ピックアップ装置。 - 前記波長が異なる光のうち、前記一方の光としての波長が短い光の一部を前記第1ビームスプリッタの傾斜面を透過させ、前記他方の光としての波長が長い光の一部を該第1ビームスプリッタの傾斜面で反射させて、前記パワーコントロール用受光素子に導く請求項3に記載の光ピックアップ装置。
- 前記第2ビームスプリッタの前記受光素子の配置側とは反対側の面に対向して、前記二つの光源からの光出力パワーを検出して出力調整するためのパワーコントロール用受光素子が配置され、
前記波長が異なる光のいずれも、該光の一部を該第2ビームスプリッタの傾斜面で反射させて、該パワーコントロール用受光素子に導くように構成した請求項1に記載の光ピックアップ装置。 - 前記第2ビームスプリッタの前記光学的記録媒体側に、光路を対物レンズ側に90度曲げる立上げミラーをさらに有した請求項1に記載の光ピックアップ装置。
- 前記二つの光源は共に半導体レーザ素子であり、該半導体レーザ素子からのP偏光のレーザ光が前記第1ビームスプリッタに入射可能とされている請求項1に記載の光ピックアップ装置。
- 前記第2ビームスプリッタと前記受光素子との間に、フォーカスエラー検出に用いられる非点収差を生成するためのシリンドリカルレンズと、該シリンドリカルレンズを光軸中心に回転調整可能とするシリンドリカルレンズ調整手段とをさらに有した請求項1に記載の光ピックアップ装置。
- 前記第2ビームスプリッタは偏光ビームスプリッタであり、該第2ビームスプリッタの前記光学的記録媒体側に1/4波長板が貼り付けられている請求項1に記載の光ピックアップ装置。
- 前記第2ビームスプリッタの光出射側に配置された対物レンズおよび該対物レンズを駆動するためのアクチュエータをさらに有する請求項9に記載の光ピックアップ装置。
- 前記第2ビームスプリッタの前記光源配置側とは反対側の面に対向して、該光源からの光出力パワーを検出して出力調整するためのパワーコントロール用受光素子と、
該第2ビームスプリッタの光出射側に配置された対物レンズおよび該対物レンズを駆動するためのアクチュエータとをさらに有する請求項9に記載の光ピックアップ装置。 - トラッキングエラー検出に用いられるサブビームを形成するために前記二つの光源の光出射側に対向して配置されたグレーティング手段と、
該グレーティング手段を光軸方向に移動調整可能とするグレーティング調整手段とをさらに有する請求項1または2に記載の光ピックアップ装置。 - 請求項1〜12のいずれかに記載の光ピックアップ装置を用いて前記光学的記録媒体に情報を記録・再生する情報記録再生装置。
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