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JP4426885B2 - 固体撮像装置 - Google Patents

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JP4426885B2
JP4426885B2 JP2004084208A JP2004084208A JP4426885B2 JP 4426885 B2 JP4426885 B2 JP 4426885B2 JP 2004084208 A JP2004084208 A JP 2004084208A JP 2004084208 A JP2004084208 A JP 2004084208A JP 4426885 B2 JP4426885 B2 JP 4426885B2
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Description

この発明は、光電変換素子を画素として用いる固体撮像装置に関し、特にオートフォーカス等に利用される特定の複数の画素信号を読み出すことのできる固体撮像装置に関する。
近年、被写体画像をデジタル信号として記録媒体に記録するための、CCD又はいわゆるCMOSセンサ等の固体撮像装置を用いたデジタルカメラが多く市販されている。そのデジタルカメラでは、電子的にAE(Automatic Exposure:自動露光)やAF(Automatic Focus:自動焦点)を実行している。AEは、画像撮像時に該撮像の露光条件を適切に調整して、固体撮像装置の感度に応じた露光時間を設定するものである。デジタルカメラのAEの場合、受光画素部の全画素データを読み出して、その中からブロックを抽出し、平均値を求め、1度メモリーに蓄積後、適切な所定露光レベルと比較し、シャッター速度や絞り等のパラメータを変更して再度ブロックを抽出して所定露光レベルと比較し、この動作を数回繰り返して、露光レベルが所定露光レベルとなったときの条件を露光条件と決定するようにしている。
また、AFとしては被写体の対象画像を読み取って、カメラレンズの位置を変更しつつ、対象物の焦点が合うレンズの位置を計測して、最適なレンズの位置を設定して、シャッター釦の押されたときに、その各条件のもとで撮影を実行している。
次に、図19を用いてAFの一方式について説明する。ここでは、被写体を中心を同一とする3重円とし、これをレンズで集束し、センサでその被写体像の信号強度を測定しつつ行う方式について説明する。図19の(A)は焦点が合致した場合を示し、信号強度は被写体の形状に対応した矩形階段状態を示す。この信号強度を一次微分すると、前記信号強度の変化量に応じた鋭いインパルス的波形が得られる。また、図19の(B)に示すように、ピントずれした場合は、信号強度はその被写体の変化する部分で傾斜特性を有した波形となり、これを微分した場合には、その変化する部分で振幅の小さい矩形形状の特性となる。この矩形波の幅が狭く、振幅の大きいほどピントずれが小さいことを示す。したがって、レンズの位置を調節しつつ前記信号強度微分波形を得て、その振幅が最大になるレンズ位置を見つけることで、AF動作を行うことができる。
しかしながら、CCD型固体撮像装置では、AFのために受光画素部の画像を全般的に読み出して、2次元アドレスを有する記憶手段に格納して、その記憶手段に格納した画像信号のAFに利用する部分だけを読み出して、その後その画像信号の空間位置に対応した微分波形を取得しなければならず、記憶手段への格納とその読み出しに相当の時間を要し、これをレンズの位置変化に対応して複数回繰り返して、最適なレンズ位置を設定するという複雑さを要していた。
これに対する解決手段として、図20に示す特開2000−209509号公報に開示されている従来技術においては、一部の領域のみ繰り返し読み出すいわゆるブロック読み出しを行うことより、高速にAF/AEを行う方式が提案されている。図20の概略ブロック図に示すように、この方式は、受光画素領域として11×11の計 121個の画素を有しており、画素ブロック位置として、4隅及び中央の5箇所を有し、各ブロックでは十字型の計5個の画素をAF用に読み出すものである。ここでは、水平選択スイッチH1〜H11のいずれかがオンし、更に垂直選択スイッチV1〜V11のいずれかがオンすると、オンしたそれぞれのスイッチが接続されている選択線の交点に相当する画素信号が読み出されるものとする。水平選択スイッチH1〜H11は水平走査回路100 により制御され、垂直選択スイッチV1〜V11は垂直走査回路200 により制御される。水平信号線HLには、残留電荷を排除するためにリセット用MOSトランジスタS1を備え、その出力用のバッファとしてのAMP300 を備えている。
図21に、11×11の光電変換素子の画素中の5ブロックの読み出しタイミングを示す。まず、リセット用MOSトランジスタS1をオンして、水平信号線HLの残留電荷をリセットする。次に、垂直選択スイッチV1がオンし、水平選択スイッチH1,H2,H3,H9,H10,H11が順次オンし、ブロックB1,B2内の3画素の信号を読み出す。同様に垂直選択スイッチV2,V3を順次順次オンし、水平選択スイッチH1,H2,H3,H9,H10,H11が順次オンすることで、ブロックB1,B2の各3×3の画素の光電荷を水平信号線HLに読み出す。以下同様に、ブロックB3,及びブロックB4,B5の各画素の光電荷信号を水平信号線HLに読み出す。このようにして、読み出す領域を5箇所のブロックに限定することで、全画素11×11を読み出す場合と比較してフレームレートを上げることができる。AF動作のためのブロックを1個に限定すると、更に高速の読み出しができる。
また、デジタルカメラのファインダーとしては、従来の銀塩カメラと同じ光学式ファインダーのほか、固体撮像装置の動画像をそのままファインダーに表示する電子式ファインダー(EVF:Electronic View Finder) があり、後者はファインダー用光学系が不要で且つ実写画像とファインダー像に視差がない等の利点があることより、コンパクトカメラで多く用いられている。百万画素以上の固体撮像装置でEVFで表示を行うときは、フレームレートを上げて動体に対する視認性をよくするため、全画素領域から粗く読む、いわゆる間引き読み出しを行って画像を表示することが一般的である。
特開平6−350933号公報 特開平9−312806号公報 特開2000−209509号公報
ところで、上記特開2000−209509号公報に開示されている従来技術においては、ブロック読み出し時にはAF/AE用の信号は得られるが、該動作時のEVF用画像を得るという観点については考慮がなされていない。本発明はこの観点に着目し、高速なAF/AE用ブロック読み出しを行いつつ、同時にEVF用画像を得ることが可能な固体撮像装置を提供することを課題とするものである。
更に、上記特開2000−209509号公報に開示されている従来技術においては、ブロック読み出し時にはAF/AE用の信号は得られるが、一部の領域を高フレームレートで読み出した場合の、露光時間減少によるS/N比(Signal Noise ratio;ノイズ抑圧比)低下への対策についての考慮がなされていない。S/N比が低下すると、低輝度被写体撮像時にAF/AEが正しく動作しなくなる可能性がある。S/N比をあげるために露光時間を長くすると、今度はAF/AEの動作速度が遅くなる弊害が生じる。本発明はこの観点に着目し、高速なAF/AE用ブロック読み出しをS/N比の低下を抑えて行いつつ、同時にEVF用画像を得ることが可能な固体撮像装置を提供することを課題とするものである。
上記問題点を解決するため、請求項1に係る発明は、光電変換素子を画素として用い、複数の画素を2次元状に配置した画素領域と、該画素領域の画素信号を読み出すための水平走査回路及び垂直走査回路とを有する固体撮像装置において、前記画素からの信号を電圧値で出力する第1の出力手段と、前記画素からの信号を電流値で出力する第2の出力手段とを備え、前記第2の出力手段は、2個以上の前記画素からの信号を加算して出力し、前記第1の出力手段及び第2の出力手段は、各々、画素毎に独立に動作させることが可能であり、前記第1の出力手段は、前記画素領域内の複数の画素で構成される第1の画素群の画素からの信号を電圧値で出力し、前記第2の出力手段は、前記画素領域内の複数の画素で構成される第2の画素群の画素からの信号を電流値で出力し、且つ前記第1の出力手段及び第2の出力手段は、各々、他方の画素群の読み出し周期とは異なる読み出し周期で画素群の読み出しを行うようにして固体撮像装置を構成するものである。
請求項に係る発明は、請求項に係る固体撮像装置において、前記第1の出力手段は、前記第1の画素群として、全画素領域から間引いて得られる複数の画素で構成された画素群を対象とすることを特徴とするものである。
請求項に係る発明は、請求項に係る固体撮像装置において、前記第2の出力手段は、前記第2の画素群として、前記第1の画素群に含まれる画素とは異なる複数の画素で構成された画素群を対象とすることを特徴とするものである。
請求項に係る発明は、請求項に係る固体撮像装置において、前記第2の出力手段は、前記第2の画素群として、前記第1の画素群に含まれる画素が属する行とは異なる行の画素で構成された画素群を対象とすることを特徴とするものである。
請求項に係る発明は、請求項に係る固体撮像装置において、前記第2の出力手段は、前記第2の画素群として、前記第1の画素群に含まれる画素が属する列とは異なる列の画素で構成された画素群を対象とすることを特徴とするものである。
請求項に係る発明は、請求項のいずれか1項に係る固体撮像装置において、前記第1の出力手段及び第2の出力手段は、各々、異なる水平走査期間に出力することを特徴とするものである。
請求項に係る発明は、請求項のいずれか1項に係る固体撮像装置において、前記第1の出力手段及び第2の出力手段は、各々、異なる垂直走査期間に出力することを特徴とするものである。
請求項に係る発明は、請求項のいずれか1項に係る固体撮像装置において、前記第1の出力手段及び第2の出力手段は、各々、同一の水平走査期間の異なる期間に出力することを特徴とするものである。
請求項に係る発明は、請求項のいずれか1項に係る固体撮像装置において、前記水平走査回路は、前記第1の出力手段の一部を構成する第1の水平走査回路と、前記第2の出力手段の一部を構成する第2の水平走査回路とを有することを特徴とするものである。
請求項10に係る発明は、請求項に係る固体撮像装置において、前記第1の水平走査回路と第2の水平走査回路とは、各々、駆動周波数が異なることを特徴とするものである。
請求項11に係る発明は、請求項又は10に係る固体撮像装置において、前記垂直走査回路は、前記第1の出力手段の一部を構成する第1の垂直走査回路と、前記第2の出力手段の一部を構成する第2の垂直走査回路とを有することを特徴とするものである。
請求項12に係る発明は、請求項11のいずれか1項に係る固体撮像装置において、前記第1の出力手段及び第2の出力手段は、各々、各画素からの信号を出力させる垂直信号線を共有することを特徴とするものである。
請求項13に係る発明は、請求項11のいずれか1項に係る固体撮像装置において、前記第1の出力手段及び第2の出力手段は、各々、各画素からの信号を出力させる垂直信号線を、個別に有することを特徴とするものである。
本発明によれば、高速なAF/AE用ブロック読み出しを行い、同時にEVF用画像を得ることが可能な固体撮像装置を実現することができる。また、高速なAF/AE用ブロック読み出しをS/N比の低下を抑えつつ行い、同時にEVF用画像を得ることが可能な固体撮像装置を実現することができる。
次に、本発明を実施するための最良の形態について説明する。
(実施例1)
まず、本発明に係る固体撮像装置の実施例1を図1の回路構成図に基づいて説明する。本実施例は、請求項1,2,8〜10,12に係る各発明に対応する。図1に示すように本実施例は、画素C11〜C44で構成されている画素領域、ブロック及び間引き読み出し可能な第1の垂直走査回路21A,ブロック及び間引き読み出し可能な第1及び第2の水平走査回路22A,22B,第1及び第2の水平信号線23A,23B,第1及び第2の出力端子24A,24B,帰還抵抗50を介して電流電圧変換を行う電流電圧変換アンプ40,出力アンプ30,ドレイン電源60,第1の水平信号線23Aの残存電荷を排除するための信号線リセットスイッチSW1,リファレンス電圧源41,信号線リセット電圧源80,オフ電圧源70,オン電圧源71,転送スイッチ制御端子90で構成されている。ここでは、画素を4×4の2次元状に配置したものを示している。
第1の垂直走査回路21Aは、4段の単位ユニットVSR−A1〜VSR−A4,及び該単位ユニットVSR−A1〜VSR−A4で制御される画素リセットスイッチSW−A−R1〜R4と画素選択スイッチSW−A−S1〜S4で構成する。画素リセットスイッチSW−A−R1〜R4は、それぞれリセット線R1〜R4をオフ電圧源70又はオン電圧源71のいずれかに導通し、画素選択スイッチSW−A−S1〜S4は、それぞれ選択線S1〜S4をオフ電圧源70又はオン電圧源71のいずれかに導通する。
第1及び第2の水平走査回路22A,22Bは、それぞれ4段の単位ユニットH−A1〜H−A4及びH−B1〜H−B4で構成する。第1の水平走査回路22A内の単位ユニットH−A1は、水平シフトレジスタの単位ユニットHSR−A1,該単位ユニットHSR−A1からの選択パルスで制御される選択スイッチSW−A1,転送スイッチSW−T1とSW−C1,電流源10−1,蓄積容量11−1で構成する。以下、単位ユニットH−A2,A3,A4も同様な構成であり説明を省略する。第2の水平走査回路22B内の単位ユニットH−B1は、水平シフトレジスタの単位ユニットHSR−B1と、該単位ユニットHSR−B1からの選択パルスで制御される選択スイッチSW−B1とで構成する。以下、単位ユニットH−B2,B3,B4も同様な構成であり説明を省略する。転送スイッチSW−T1〜T4,SW−C1〜C4は、転送スイッチ制御端子90から入力される転送パルスφTで、共通に制御される。
第1の水平信号線23Aは、選択スイッチSW−A1〜SW−A4のそれぞれの一端と、信号線リセットスイッチSW1の一端と、出力アンプ30の入力側に接続し、出力アンプ30の出力側は第1の出力端子24Aに接続する。第2の水平信号線23Bは、電流電圧変換アンプ40のマイナス入力側に接続し、電流電圧変換アンプ40の出力側は第2の出力端子24Bに接続する。電流電圧変換アンプ40のプラス入力側はリファレンス電圧源41に接続する。リファレンス電圧源41は、リファレンス電圧値Vrefに設定する。
画素C11は、フォトダイオードP11,リセットMOSトランジスタTr11 ,増幅MOSトランジスタTa11 ,選択MOSトランジスタTs11 で構成する、いわゆる3トランジスタ型の画素構成をとる。リセットMOSトランジスタTr11 のゲートはリセット線R1に、選択MOSトランジスタTs11 のゲートは選択線S1にそれぞれ接続し、フォトダイオードP11のカソード側はリセットMOSトランジスタTr11 のソース及び増幅MOSトランジスタTa11 のゲートに接続する。リセットMOSトランジスタTr11 がオンすると、フォトダイオードP11のカソード側がリセットMOSトランジスタTr11 を介してドレイン電源60に導通する。選択トランジスタTs11 をオンすると同時に第1の水平走査回路22Aの単位ユニットH−A1内の転送スイッチSW−T1及びSW−C1をオンすると、増幅トランジスタTa11 のソースが、選択トランジスタTs11 ,垂直信号線1,転送スイッチSW−T1を介して電流源10-1の一端に導通し、更に転送スイッチSW−C1を介して蓄積容量11-1の一端に導通する。
また、選択トランジスタTs11 をオンすると同時に第2の水平走査回路22BのユニットセルH−B1内の選択スイッチSW−B1をオンすると、増幅トランジスタTa11 のソースが選択MOSトランジスタTs11 ,垂直信号線1,選択スイッチSW−B1,第2の水平信号線23Bを介して電流電圧変換アンプ40のマイナス入力側に導通する。リセットMOSトランジスタTr11 は、ゲートがリセット線R1と画素リセットスイッチSW-A−R1を介してオン電圧源71に接続するとオンし、オフ電圧源70に接続するとオフする。選択MOSトランジスタTs11 は、ゲートが選択線S1と画素選択スイッチSW-A−S1を介してオン電圧源71に接続するとオンし、オフ電圧源70に接続するとオフする。以下、画素C21〜C44についても同様な構成となっている。
次に、本実施例の動作について、図2の(A)に示すタイミングチャートを用いて説明する。図2の(A)は、画素から電圧値で出力したEVF用信号を第1の出力端子24Aに、画素から電流値で出力したAF/AE用信号を第2の出力端子24Bに出力する駆動方法を示す。図2の(A)においては、画素選択スイッチSW−A−S1〜S4及び画素リセットスイッチSW−A−R1〜R4の接続態様(オン電圧源接続又はオフ電圧源接続)、選択スイッチSW−A1〜A4,選択スイッチSW−B1〜B4,転送スイッチSW−T1〜T4とSW−C1〜C4,信号線リセットスイッチSW1のスイッチの状態(オン又はオフ)、第1の出力端子24A及び第2の出力端子24Bから出力する画素信号を示している。
期間T2〜T3では、画素選択スイッチSW−A−S2がオン電圧源側に導通し、画素領域2行目の選択MOSトランジスタTs12 ,22,32,42がオンする。ここで、選択スイッチSW−B2,B3のみがオンしているため、増幅MOSトランジスタTa22 のソースが選択MOSトランジスタTs22 ,垂直信号線2,選択スイッチSW−B2,第2の水平信号線23Bを介して電流電圧変換アンプ40のマイナス入力側に導通し、増幅MOSトランジスタTa32 のソースが選択MOSトランジスタTs32 ,垂直信号線3,選択スイッチSW−B3,第2の水平信号線23Bを介して電流電圧変換アンプ40のマイナス入力側に同時に導通する。電流電圧変換アンプ40は、帰還抵抗50を介して出力端子とマイナス入力側に接続しているため、マイナス入力側はプラス入力側と同じ電位、すなわちVref に固定される。この結果、増幅MOSトランジスタTa22 及びTa32 の出力電流は、各ゲートに接続しているフォトダイオードP22及びP32の蓄積光電荷数に応じた電流値となり、第2の水平信号線23Bには、その両者の総和の電流値が出力する。ここでは、Vref は増幅MOSトランジスタTa22 及びTa32 が飽和領域動作する電位とする。そして、電流電圧変換アンプ40で電圧変換され、第2の出力端子24Bに出力する。
期間T4では、画素選択スイッチSW−A−S1がオン電圧源側に導通し、画素領域1行目の選択MOSトランジスタTs11 ,21,31,41がオンする。ここで、転送スイッチSW−T1〜T4,SW−C1〜C4がオンするため、増幅MOSトランジスタTa11 のソースは選択トランジスタTs11 ,垂直信号線1、転送スイッチSW−T1を介して電流源10-1に導通し、更に転送スイッチSW−C1を介して蓄積容量11-1に導通する。この結果、増幅MOSトランジスタTa11 は電圧値読み出しのソースフォロア動作を行い、同ゲートに接続しているフォトダイオードP11の蓄積光電荷数に応じた電圧値を画素から出力し、該電圧値を蓄積容量11-1に充電する。以下同様に、蓄積容量11-2,11-3,11-4にフォトダイオードP21,P31,P41の蓄積光電荷数に応じた電圧値を、それぞれ充電する。
期間T5では、画素リセットスイッチSW−A−R1とSW−A−R2をオン電圧源側に導通し、画素領域1,2行目の蓄積光電荷をリセットする。期間T6では、まず信号線リセットスイッチSW1をオンし第1の水平信号線23Aの残留電荷をリセットした後、選択スイッチSW−A1をオンし蓄積容量11-1蓄積していた画素C11の信号電圧値を第1の水平信号線23Aに出力し、出力アンプ30を介して第1の出力端子24Aに出力する。以下同様に、期間T7で画素C31の信号を第1の出力端子24Aに出力する。一方、期間T6〜T7では、画素選択スイッチSW−A−S3がオン電圧源側に導通し、画素領域3行目の選択MOSトランジスタTs13 ,23,33,43がオンする。以下、期間T2〜T3と同様に画素C23,C33のフォトダイオードP23,P33に蓄積された電荷の総和に相当する電流値を第2の水平信号線23Bに出力し、電流電圧変換アンプ40で電圧変換して第2の出力端子24Bより出力する。
期間T8では、画素選択スイッチSW−A−S3がオン電圧源側に導通し、画素領域3行目の選択MOSトランジスタTs13 ,23,33,43がオンし、且つ転送スイッチSW−T1〜T4及びSW−C1〜C4がオンすることで、蓄積容量11-1〜11-4には画素領域3行目にあたる画素C13,C23,C33,C43の蓄積光電荷量に相当する電圧値を充電する。期間T9では、期間T5と同様で画素領域3,4行目の画素C13〜C44の蓄積光電荷をリセットし、期間T10〜T11で期間T6〜T7と同様に蓄積容量11-1,11-3に充電された画素C13とC33の光蓄積光電荷量に相当する電圧値を、第1の水平信号線23Aにそれぞれ出力し、出力アンプ30によって第1の出力端子24Aに出力する。
以上の結果、第1の出力端子24Aには間引き信号を、第2の出力端子24Bには画素領域中央部の2画素加算信号を出力する。この態様を図2の(B)に示す。これは画素C11〜C44のどの画素を読み出したかを図示したもので、ハッチングを施した画素が読み出し画素を、太線で囲まれた範囲が加算単位を示している。ここでは、第1の出力端子24Aから画素C11,C31,C13,C33の信号を逐次読み出し、第2の出力端子24Bからは画素C22とC32,画素C23とC33のそれぞれ加算信号を逐次読み出したことを示している。
このように、本実施例に係る固体撮像装置においては、全画素領域から間引きした画素群をEVF用の信号として読み出すと同時に、同一の垂直走査期間内で画素領域中央ブロック領域のAF/AE用の信号を読み出すことができる。AF/AE用信号は2画素加算しており、1画素からのみの信号と比較してS/N比が向上する。また、図2の(A)に示すように、第2の出力端子24Bからは、期間T2〜T3及び期間T5〜T6の時間をかけて、それぞれ2画素加算信号を読み出しており、1信号あたりの読み出し期間が第1の出力端子24Aからの出力の2倍の長さである。つまり、第2の水平走査回路22Bの駆動周波数が第1の水平走査回路22Aの駆動周波数より低いことを示し、これにより更なるS/N比を向上させることもできる。
次に、本実施例1と各請求項に係る発明との対応関係を示すと、次の通りである。本実施例は、電流値と電圧値で画素から信号を出力するものであり、また、2画素加算して電流値で出力しており、これは請求項に係る発明に対応する。また、間引きした画素群の画素信号を電圧値で出力しており、これは請求項に係る発明に対応する。また、同一の水平走査期間内の期間T2〜T3で画素の信号を電流値で出力し、期間T4で画素の信号を電圧値で出力しており、これは請求項に係る発明に対応する。また、第1と第2の水平走査回路を用いており、これは請求項に係る発明に対応する。また、電流読み出しを電圧値での読み出しの2倍の駆動周波数で行っており、これは請求項10に係る発明に対応する。また、同一の垂直信号線を介して電流値と電圧値を出力しており、これは請求項12に係る発明に対応する。
次に、図1に示す本実施例において、通常のデジタル画像用信号を画素から電圧値で順次出力する駆動方法を、図3の(A)を用いて説明する。各出力端子に出力される画素信号の態様は、図3の(B)に示すように第1の出力端子24Aには全画素が1画素づつ逐次読み出され、第2の出力端子24Bには画素信号が出力されない。図3の(A)において、期間T2で画素選択スイッチSW−A−S1がオン電圧源側に導通し、画素領域1行目の選択MOSトランジスタTs11 ,21,31,41がオンする。ここで転送スイッチSW−T1〜T4,SW−C1〜C4がオンするため、以下図2の(A)に示したタイミングチャートに関する説明と同様に、蓄積容量11-1,11-2,11-3,11-4にフォトダイオードP11,P21,P22,P23の蓄積光電荷数に応じた電圧値を、それぞれ充電する。期間T3では、画素リセットスイッチSW−A−R1がオン電圧源側に導通し、画素領域1行目の蓄積光電荷をリセットする。期間T4〜T7では、各期間の前半で信号線リセットスイッチSW1をオンし第1の水平信号線23Aの残留電荷をリセットした後、選択スイッチSW−A1〜SW−A4を逐次オンすることで、蓄積容量11-1〜11-4に蓄積していた画素C11〜C41の信号電圧値を第1の水平信号線23Aに出力し、出力アンプ30を介して第1の出力端子24Aに出力する。以下同様にして、期間T10〜T25に残りの画素の信号が第1の出力端子24Aに出力する。
電流読み出しは加算が容易な利点がある一方で、電圧読み出し信号と比較して線形性がわるく、FPN(Fixed Pattern Noise:暗時固定パターン)抑圧が難しい等の理由により、現在のCMOSセンサでは電圧読み出しが主流になっている。しかしながら、AF/AE用の信号においては、線形性やFPNに対する要求レベルはデジタル画像作成用の信号と比べて低く、逆に感度、S/N比に対する要求は極めて高い。したがって、本実施例が示す電流読み出しによる信号加算によるS/N向上の利点が、線形性、FPNの欠点をはるかに上回る。AF/AE用の信号には複数の画素信号の平均値を用いるため、あらかじめ信号加算してある方が、後の信号処理において容易である。以上のように、本実施例の特徴は、信号加算に有利な電流読み出しをAF/AE用信号に適用しつつ、画質が求められるEVF用信号及びデジタル画像用信号には従来の電圧読み出しを適用したことである。
(実施例2)
次に、実施例2について説明する。図4は、本発明に係る固体撮像装置の実施例2を示す回路構成図である。本実施例は、請求項1〜4,8,9,11,12に係る各発明に対応する。本実施例に係る固体撮像装置は、図1に示した実施例1に係る固体撮像装置に対して、第2の垂直走査回路21Bが追加され、画素選択スイッチ及び画素リセットスイッチがフローティングを選択できる構成となっている。
第1の垂直走査回路21A内の画素リセットスイッチSW−A−R1〜R4は、それぞれリセット線R1〜R4をオフ電圧源70又はオン電圧源71のいずれかに導通するか、フローティングにする。同様に、画素選択スイッチSW−A−S1〜S4は、それぞれ選択線S1〜S4をオフ電圧源70又はオン電圧源71のいずれかに導通するか、フローティングにする。
第2の垂直走査回路21Bは第1の垂直走査回路21Aと同一構成であり、同一機能を有する。リセット線R1には、画素リセットスイッチSW−A−R1とSW−B−R1が共に接続され、以下リセット線R2には画素リセットスイッチSW−A−R2とSW−B−R2が、リセット線R3には画素リセットスイッチSW−A−R3とSW−B−R3が、リセット線R4には画素リセットスイッチSW−A−R4とSW−B−R4がそれぞれ接続されている。選択線S1には、画素選択スイッチSW−A−S1とSW−B−S1が共に接続され、以下選択線S2には画素選択スイッチSW−A−S2とSW−B−S2が、選択線R3には画素選択スイッチSW−A−R3とSW−B−S3が、選択線R4には画素選択スイッチSW−A−R4とSW−B−S4がそれぞれ接続されている。他の構成は、図1に示した実施例1と同じである。
次に、本実施例2の動作について、図5の(A)に示すタイミングチャートを用いて説明する。図5の(A)は、画素から電圧値で出力したEVF用信号を第1の出力端子24Aに、画素から電流値で出力したAF/AE用信号を第2の出力端子24Bに出力する駆動方法を示している。画素選択スイッチSW−A−S1〜S4,SW−B−S1〜S4及び画素リセットスイッチSW−A−R1〜R4,SW−B−R1〜R4は、ここではオン電圧源側、フローティング、オフ電圧源側の3値をとる。期間T1では、画素選択スイッチSW−B−S1をフローティング側とし、画素選択スイッチSW−A−S1をオン電圧源側に導通することで、画素領域1行目の選択MOSトランジスタTs11 ,21,31,41をオンする。
ここで転送スイッチSW−T1〜T4,SW−C1〜C4がオンするため、実施例1と同様に、増幅MOSトランジスタTa11 〜41のゲートに接続しているフォトダイオードP11〜P41の蓄積光電荷数に応じた電圧値を画素から出力し、該電圧値を蓄積容量11-1〜11-4にそれぞれ充電する。期間T3では、まず信号線リセットスイッチSW1をオンし第1の水平信号線23Aの残留電荷をリセットした後、選択スイッチSW−A1をオンし蓄積容量11-1に蓄積していた画素C11の信号電圧値を第1の水平信号線23Aに出力し、出力アンプ30を介して第1の出力端子24Aに出力する。期間T4でも同様に、画素C31の信号電圧値を第1の出力端子24Aに出力する。以下同様に、期間T7,T8では画素C13,C33の信号電圧値を第1の出力端子24Aに出力する。
一方、期間T3では画素選択スイッチSW−A−S2をフローティング側とし、画素選択スイッチSW−B−S2をオン電圧源側に導通することで、画素領域2行目の選択MOSトランジスタTs12 ,22,32,42がオンする。ここで選択スイッチSW−B1〜B4がオンしているため、前記実施例1と同様に画素C12,22,32,42の蓄積光電荷数の総和に応じた電流値が第2の水平信号線23Bに出力され、電流電圧変換アンプ40で電圧変換された信号を第2の出力端子24Bに出力する。以下同様に、期間T4では画素C14,24,34,44の加算信号を、第2の出力端子24Bに出力する。以下同様に、期間T15,T16 において、それぞれ画素C12,22,32,42の加算信号と、画素C14,24,34,44の加算信号を逐次第2の出力端子24Bに出力する。期間T2で画素リセットスイッチSW−B−R1をフローティング側とし、画素リセットスイッチSW−A−R1リセット電圧源側に導通することで、画素領域1行目の蓄積光電荷をリセットする。以下同様に、期間T6で画素領域2〜4行目の蓄積光電荷をリセットする。期間T18では、画素領域2行目と4行目の蓄積光電荷をリセットする。期間T25〜T32では、期間T1〜T8と同一の動作を行う。以上の画素信号読み出し結果の態様を、図5の(B)に示す。
本実施例の特徴は、図5の(A)のタイミングチャートに示すように電流読み出しを行う画素群(C12,C22,C32,C42,C14,C24,C34,C44)の読み出し周期を、電圧読み出しを行う画素群(C11,C31,C13,C33)の読み出し周期の1/2の周期としたことであり、2つの垂直走査回路を用いることにより、両者を独立に制御できるようにしたものである。
このように、本実施例2に係る固体撮像装置においては、全画素領域から間引きした画素群をEVF用の信号として読み出すと同時に、ブロック領域のAF/AE用の信号を読み出すことができる。AF/AE用信号は4画素加算しており、前記実施例1に示した駆動方法よりも加算画素数が多く、よりS/N比が向上する。また、AF/AE用信号の読み出し周期は、EVF用信号の読み出し周期より短く、高速にAF/AE処理ができる。前記したように、読み出し周期の短縮に伴い露光時間が減少しても、加算画素数を増やすことにより、S/N比の低下を抑えることができる。AF/AE用信号の読み出し周期をより短くすることもできる。なお、上記説明においては、説明を簡素化するため、EVF用信号とAF/AE用信号の読み出し開始の時刻を揃えたが、これをずらしてもよい。両者の相対的な読み出し周期は、任意に設定できる。
本実施例2と各請求項に係る発明との対応関係は、次の通りである。本実施例は、画素から電流値と電圧値で画素から信号を出力するものであり、また、4画素加算して電流値で出力しており、また、読み出し周期が電流値で画素から出力するときと、電圧値で画素から出力するときとで異なり、これは請求項に係る発明に対応する。また、間引きした画素領域の画素信号を電圧値で出力しており、これは請求項に係る発明に対応する。また、電流値で出力する画素群は、電圧値で出力する画素群の画素と同一行の画素を含んでいないため、これは請求項3,に係る発明に対応する。また、同一の水平走査期間内の期間T3〜T4で画素の信号を電流値で出力し、期間T1で画素の信号を電圧値で出力しており、これは請求項に係る発明に対応する。また、第1と第2の水平走査回路を用いており、これは請求項に係る発明に対応する。また、第1と第2の垂直走査回路を有しており、これは請求項11に係る発明に対応する。また、同一の垂直信号線を介して電流値と電圧値を出力しており、これは請求項12に係る発明に対応する。
(実施例3)
次に、実施例3について説明する。図6は、本実施例3に係る固体撮像装置の構成を示す回路構成図である。本実施例は、請求項1,2,3,5,9,11,13に係る各発明に対応する。図4に示した実施例2に係る固体撮像装置に対して、第1及び第2の垂直走査回路21A,21B内の画素選択スイッチSW−A−S1〜S4,SW−B−S1〜S4からフローティング選択機能を削除し、信号線リセットスイッチSW1,信号線リセット電圧源80を削除し、電流源10と蓄積容量11を付加し、両者の一端を第1の水平信号線23Aに接続する。第1の水平走査回路22A内の単位ユニットH−A1は、シフトレジスタの単位ユニットHSR−A1と選択スイッチSW−A1で構成し、該選択スイッチSW−A1をオンすると、垂直信号線1Aが第1の水平信号線23Aに導通する。以下、単位ユニットHSR−A2〜A3も同様に構成されている。
画素C11には、2つの選択MOSトランジスタTsa11とTsb11を備えており、選択MOSトランジスタTsa11がオンすると、増幅MOSランジスタTa11 のソースが垂直信号線1Aと導通する。この動作は、第1の垂直走査回路21Aで制御される。選択MOSトランジスタTsb11がオンすると、増幅MOSトランジスタTa11 のソースが垂直信号線1Bと導通する。この動作は、第2の垂直走査回路21Bで制御される。以下、画素C21〜C44,垂直信号線1A〜4A,1B〜4Bについても同様に構成されている。
次に、本実施例の動作について、図7の(A)に示すタイミングチャートを用いて説明する。図7の(A)は、画素から電圧値で出力したEVF用信号を第1の出力端子24Aに、画素から電流値で出力したAF/AE用信号を第2の出力端子24Bに出力する駆動方法を示している。図5の(A)に示した実施例2に関するタイミングチャートとは異なり、ここでは画素選択スイッチSW−A−S1〜S4,SW−B−S1〜S4はオン電圧源側、オフ電圧源側の2値をとる。期間T2では、画素選択スイッチSW−A−S1,SW−B−S1,SW−B−S2をオン電圧源側に接続するため、画素領域1行目の選択MOSトランジスタTsa11,21,31,41とTsb11,21,31,41がオンし、同時に画素領域2行目の選択MOSトランジスタTsb12,22,32,42もオンする。ここで選択スイッチSW−B2がオンしているため、前記各実施例と同様に画素C21,22の蓄積光電荷数の総和に応じた電流値が第2の水平信号線23Bに出力され、電流電圧変換アンプ40で電圧変換し、第2の出力端子24Bに出力する。
一方、選択スイッチSW−A1もオンしており、増幅MOSトランジスタTa11 のソースは選択トランジスタTsa11,垂直信号線1A,選択スイッチSW−A1,第1の水平信号線23Aを介して電流源10に導通する。この結果、増幅MOSトランジスタTa11 は電圧値読み出しのソースフォロア動作を行い、蓄積容量11を同ゲートに接続しているフォトダイオードP11の蓄積光電荷数に応じた電圧値に充電し、出力アンプ30を介して第1の出力端子24Aに画素C11の信号を出力する。以下同様に、期間T3,T5,T6では、第2の出力端子24Bには、画素C41とC42,画素C23とC24,画素C43とC44の加算信号をそれぞれ出力し、第1の出力端子24Aには、画素C31,C13,C33の信号をそれぞれ出力する。以上の画素信号読み出し結果の態様を、図7の(B)に示す。
このように、本実施例3に係る固体撮像装置においては、全画素領域から間引きした画素群をEVF用の信号として読み出すと同時に、同一の垂直走査期間内でブロック領域のAF/AE用の信号を読み出すことができる。前記実施例1及び2では、各画素に選択MOSトランジスタを1つしか備えていないため、同じ時刻で同時に電流読み出しと電圧読み出しをすることができない。例えば、図1及び図2の(A)に示した実施例1において、電流値読み出しを行っている期間T2に、電圧読み出しのために転送スイッチSW−T1〜T4をオンすると、電流源10-2,10-3と電流電圧変換アンプ40が導通し、回路が正常動作しない。このため転送スイッチSW−T1〜T4は、電流読み出しが行われていない期間、すなわち期間T4及び期間T8で行う必要があった。しかしながら、本実施例3では、電流読み出し用と電圧読み出し用に各画素毎に独立の2つの選択MOSトランジスタを有し、更にそれぞれに対応して各画素列毎に2本の垂直信号線を有するため、例えば図7の(A)の期間T2,T3,T5,T6に示すように、同時に電流読み出しと電圧読み出しを行うことが可能となり、実施例2より更に高速にAF/AE用信号及びEVF信号を出力することができる。
本実施例3と各請求項に係る発明との対応関係は、次の通りである。本実施例は、電流値と電圧値で画素から信号を出力するものであり、また、2画素加算して電流値で出力しており、これは請求項に係る発明に対応する。また、間引きした画素領域の画素信号を電圧値で出力しており、これは請求項に係る発明に対応する。また、電流値で出力する画素群は、電圧値で出力する画素群の画素と同一列の画素を含んでいないため、これは請求項に係る発明に対応する。また、第1と第2の水平走査回路を用いており、これは請求項に係る発明に対応する。また、第1と第2の垂直走査回路を有しており、これは請求項11に係る発明に対応する。また、各画素列毎に、第1と第2の垂直信号線を有しており、これは請求項13に係る発明に対応する。
(実施例4)
(構成の説明)
次に、実施例4について説明する。図8は、本実施例4に係る固体撮像装置の構成を示す回路構成図である。本実施例は、請求項1〜4,6,9,12に係る各発明に対応する。図1に示した実施例1に係る固体撮像装置に対して、信号線リセットスイッチSW1,信号線リセット電圧源80を削除し、電流源10と蓄積容量11を付加し、両者の一端を第1の水平信号線23Aに接続する。第1の水平走査回路22A内の単位ユニットH−A1は、シフトレジスタの単位ユニットHSR−A1と選択スイッチSW−A1とで構成し、該選択スイッチSW−A1をオンすると、垂直信号線1が第1の水平信号線23Aに導通する。以下、単位ユニットHSR−A2〜A3も同様の構成である。つまり図1に示した実施例1の回路構成図において、第1の水平走査回路22A部分のみ図6に示した実施例3のものと同一の構成をとる。
次に、本実施例の動作について、図9の(A)に示すタイミングチャートを用いて説明する。図9の(A)は、画素から電圧値で出力したEVF用信号を第1の出力端子24Aに、画素から電流値で出力したAF/AE用信号を第2の出力端子24Bに出力する駆動方法を示している。ここでは、画素選択スイッチSW−A−S1〜S4及び画素リセットスイッチSW−A−R1〜R4はオン電圧源側、オフ電圧源側の2値をとる。期間T2では、画素選択スイッチSW−A−S1をオン電圧源側に接続するため、画素領域1行目の選択MOSトランジスタTs11 ,21,31,41がオンする。ここで選択スイッチSW−A1がオンしているため、前記実施例3と同様に、増幅MOSトランジスタTa11 は電圧値読み出しのソースフォロア動作を行い、蓄積容量11を同ゲートに接続しているフォトダイオードP11の蓄積光電荷数に応じた電圧値に充電し、出力アンプ30によって第1の出力端子24Aに画素C11の信号を出力する。同様に、期間T3において、第1の出力端子24Aに画素C31の信号を出力する。
期間T4で画素リセットスイッチSW−A−R1をオン電圧源側に接続するため、画素領域1行目の蓄積光電荷をリセットし、次の水平走査期間にあたる期間T5では、画素選択スイッチSW−A−S2をオン電圧源側に接続し、画素領域2行目の選択MOSトランジスタTs12 ,22,32,42がオンする。このとき、選択スイッチSW−B1〜B4をオンすることにより、図4及び図5の(A)に記載の実施例2における期間T3と同様に、第2の出力端子24Bに画素C12,C22,C32,C42の加算信号を出力する。期間T6では、画素リセットスイッチSW−A−R2をオン電圧源に接続することにより、画素領域2行目の蓄積光電荷をリセットする。以下、期間T7〜T8では逐次画素C13,C33の信号を第1の出力端子24Aに出力し、期間T9で画素領域3行目の蓄積光電荷をリセットし、期間T10で画素C14,C24,C34,C44の加算信号を第2の出力端子24Bに出力し、期間T11で画素領域4行目の蓄積光電荷をリセットする。以上の画素信号読み出し結果の態様を、図9の(B)に示す。
このように、本実施例4に係る固体撮像装置においては、全画素領域から間引きした画素群をEVF用の信号として読み出すと同時に、同一の垂直走査期間内でブロック領域のAF/AE用の信号を読み出すことができる。図6に示した実施例3とは異なり、画素内の選択MOSトランジスタは1つのみ備え、垂直信号線も各列毎に1本のみ備え、且つ図1に示した実施例1とは異なり、第1の水平走査回路22A内の各列毎の蓄積容量11-1〜11-4及び電流源10-1〜10-4を不要とし、垂直走査回路を1つのみ備えているため、実施例1〜3に対してレイアウト的に有利であり、チップ面積の縮小化が可能である。
本実施例4と各請求項に係る発明との対応関係は、次の通りである。本実施例は、電流値と電圧値で画素から信号を出力するもので、また、4画素加算して電流値で出力しており、これは請求項に係る発明に対応する。また、間引きした画素領域の画素信号を電圧値で出力しており、これは請求項に係る発明に対応する。また、電流値で出力する画素群は、電圧値で出力する画素群の画素と同一行の画素を含んでいないため、これは請求項に係る発明に対応する。また、異なる水平走査期間でEVF用信号とAF/AE用信号を出力しており、これは請求項に係る発明に対応する。また、第1と第2の水平走査回路を用いており、これは請求項に係る発明に対応する。また、同一の垂直信号線を介して電流値と電圧値を出力しており、これは請求項12に係る発明に対応する。
(実施例5)
次に、実施例5について説明する。この実施例5に係る固体撮像装置の回路構成は図8に示した実施例4に係る固体撮像装置と同一である。本実施例は、請求項1〜4,7,9,12に係る発明に対応するものである。
次に、本実施例の動作について、図10の(A)に示すタイミングチャートを用いて説明する。図10の(A)は、画素から電圧値で出力したEVF用信号を第1の出力端子24Aに、画素から電流値で出力したAF/AE用信号を第2の出力端子24Bに出力する駆動方法を示している。期間T1〜T4までは、図9の(A)に示した実施例4の動作と同一である。期間T5〜T7は、図9の(A)における期間T7〜T9の動作と同一である。故に、期間T2,T3,T5,T6において、第1の出力端子24Aから逐次画素C11,C31,C13,C33の信号を出力する。次に期間T8,T9は、図9の(A)における期間T5,T10と同一である。故に、期間T8,T9において、第2の出力端子24Bから逐次画素C12,C22,C32,C42の加算信号、及び画素C14,C24,C34,C44の加算信号を出力する。画素領域1行目と3行目のリセットは、それぞれ期間T4,T7で行い、画素領域2行目と4行目のリセットは、期間T10に同時に行う。実施例4では、EVF用信号の読み出しとAF/AE用信号の読み出しを1水平走査期間毎に切り替えて行うようにしたのに対し、本実施例ではEVF用信号を全て読み出した後、次フレームでAF/AE用信号を読み出すことが特徴である。以上の画素信号読み出し結果の態様を、図10の(B)に示す。
このように、本実施例5に係る固体撮像装置においては、異なるフレームで交互に、全画素領域から間引きした画素群をEVF用の信号と、ブロック領域のAF/AE用の信号とを読み出すことができる。実施例4とは異なり、EVF用信号もAF/AE用信号も連続に出力されるため、後段の信号処理回路を、より安定的に動作させることができる。
本実施例5と各請求項に係る発明との対応関係は、次の通りである。本実施例は、電流値と電圧値で画素から信号を出力するもので、また、4画素加算して電流値で出力しており、これは請求項に係る発明に対応する。また、間引きした画素領域の画素信号を電圧値で出力しており、これは請求項に係る発明に対応する。また、電流値で出力する画素群は、電圧値で出力する画素群の画素と同一行の画素を含んでいないため、これは請求項に係る発明に対応する。また、異なる垂直走査期間でEVF用信号とAF/AE用信号を出力しており、これは請求項に係る発明に対応する。また、第1と第2の水平走査回路を用いており、これは請求項に係る発明に対応する。また、同一の垂直信号線を介して電流値と電圧値を出力しており、これは請求項12に係る発明に対応する。
上記実施例3を除く各実施例では、3つのMOSトランジスタ構成の画素を用いて説明したが、たとえば一般的なデジタルカメラで用いられている4つのMOSトランジスタ構成の画素、あるいはその他のMOS型、LBCAST等の電流読み出し/ 電圧読み出し共に可能な画素を用いてもよい。また、上記各実施例では、出力アンプ30を固体撮像装置内に設ける、いわゆるオンチップの回路構成としたものを示したが、これを固体撮像装置外、いわゆるオフチップに構成してもかまわない。電流電圧変換アンプ40についても、同様である。ブロック及び間引き読み出しが可能な水平走査回路及び垂直走査回路としては、デコーダ回路を使用したものでも実現できる。実施例2及び3では、シフトレジスタ型の垂直走査回路を想定し、EVF用信号とAF用信号を異なるフレームレートで読み出し可能なように2つの垂直走査回路を用いたが、例えばデコーダ回路を使用したものであれば、1つの垂直走査回路で実施することも可能である。また、上記各実施例で示した垂直走査回路及び水平走査回路にシフトレジスタを用いた構成のものとしては、本件出願人が出願した特開平6−350933号公報又は特開平9−312806号公報に開示した間引き走査及びブロック走査方法を適用することにより実現できる。また、上記各実施例では、水平走査回路及び水平信号線を画素領域の両側に配置したものを示したが、これを片側に配置してもよい。デコーダ回路を用いた水平走査回路であれば、水平走査回路を一つにすることもできる。
また、実施例1及び2においては、電圧読み出し用の第1の水平走査回路22Aの単位ユニットは、シフトレジスタ部、選択スイッチ、蓄積容量、電流源、転送スイッチ等で構成したものを示したが、より複雑且つ多機能なものに構成することもできる。例えば、画素の増幅MOSトランジスタのオフセットばらつき、いわゆるFPN(Fixed Pattern Noise :暗時固定パターン)をキャンセルするためのFPN抑圧回路、あるいは列毎のA/Dコンバータ等を設けることもできる。この構成は電流読み出し用の第2の水平走査回路22Bについても同様であり、例えばカレントコピアセル方式のFPN抑圧回路等を列毎に設けることが考えられる。FPN抑圧回路は、外部メモリー等を用いてオフチップで設けることもできる。
また、上記各実施例では、EVF用の間引きは全画素数に対して読み出し画素数が1/4になる形態を示したが、他の間引き例の適用もできる。また、AF/AE用の信号の読み出し画素領域を画素領域のブロック領域としたが、他のブロックを選択することもできる。また画素加算については、各実施例において、水平方向に連続する2画素又は4画素を加算する形態、又は列方向に2画素を加算する形態を示したが、いずれの実施例においても、より多くの画素数での加算、垂直方向の複数画素の加算、連続しない領域の加算、水平方向と垂直方向の両方向を含めた加算等もできる。また実施例3においては、EVF用とAF/AE用に選択した領域は、列アドレスが異なる形態で示したが、行アドレスが異なる動作方法も可能である。また実施例2〜5においても、実施例1と同様に、通常のデジタル画像用信号として電圧読み出し手段を用いて順次読み出すこともできる。また実施例1において、AF/AE用の信号はEVF用信号の1/2のレートで読み出される形態を示したが、これをより低速に、又はより高速に読み出すこともできる。
以上の説明では、説明を簡単化するため4×4の計16画素で説明したが、無論より多画素の例にも適用できる。図11〜図16を用いて、多画素化したときの本発明の適用例について説明する。タイミングチャート及び回路構成例を用いた詳細な説明は省略する。図11〜図14において、“V”表記がある画素はEVF用の電圧読み出しを行う画素、“I”表記がある画素はAF/AE用の電流読み出しを行う画素、その他は読み出しを行わない画素である。ここでは、EVF用に1/16間引きを行い、その他の画素領域の一部のブロック領域の画素信号をAF/AE信号として用いている。図11,図12は、デジタルカメラにおいて、中央画素領域の画素信号を用いてAF/AEを行う例であり、図11は被写体が例えば図17に示すような縦線パターンの時にAF動作を行う場合に適した加算例であり、図12は被写体が例えば図18に示すような横線パターンの時にAF動作を行う場合に適した加算例である。図13は、中央のみならず、画素領域の4隅からもAF/AE用信号を読み出す例である。4隅の画素信号と中央領域の画素信号については、同時に読み出す方法と、時間的にずらして読み出す方法がある。前者は加算画素数が多いためS/N比が高い利点があり、後者はそれぞれを独立の信号として扱い領域毎に異なる係数を乗じて測光量を計算する、いわゆる重み付け測光を行うAE動作に用いることができる。被写体に応じて、両者を使い分けることもできる。また、図14に示すように、フレーム毎にAF/AE領域を、I1→I2→I3の如く変更することもできる。動体を被写体にするとき等に、活用することができる。
図15,図16は、カラー撮像用固体撮像装置に本発明を適用した例である。ここでは、いわゆるRGBベイヤーパターンにカラーフィルターパターンを配置した固体撮像装置を用いて説明する。図中、“R”,“G”,“B”表記は、それぞれ赤、緑、青のオンチップフィルターを画素上に配置した画素を示し、白抜き文字はEVF用信号として、薄いハッチングを施した画素はAF/AE用信号として読み出す画素を示している。図15は、中央のG画素のみをAF/AE用信号とした用いた例であり、G信号のみをAF/AEに用いる用途に適用できる。図16は、R,G,B各画素信号を混合加算した例であり、いわゆる輝度信号に近い信号となり、図15と比較して緑成分の少ない被写体のAF/AE動作を行うときに好適である。
本発明に係る固体撮像装置の実施例1の構成を示す回路構成図である。 図1に示した実施例1に係る固体撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャート、及び画素領域における画素信号の読み出し態様を示す図である。 図1に示した実施例1に係る固体撮像装置において全画素読み出しの動作を説明するためのタイミングチャート、及び各出力端子からの画素信号の出力態様を示す図である。 本発明の実施例2に係る固体撮像装置の構成を示す回路構成図である。 図4に示した実施例2に係る固体撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャート、及び画素領域における画素信号の読み出し態様を示す図である。 本発明の実施例3に係る固体撮像装置の構成を示す回路構成図である。 図6に示した実施例3に係る固体撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャート、及び画素領域における画素信号の読み出し態様を示す図である。 本発明の実施例4に係る固体撮像装置の構成を示す回路構成図である。 図8に示した実施例4に係る固体撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャート、及び画素領域における画素信号の読み出し態様を示す図である。 本発明の実施例5に係る固体撮像装置の動作を説明するためのタイミングチャート、及び画素領域における画素信号の読み出し態様を示す図である。 本発明を多画素の画素領域に適用した場合の、電圧読み出しを行う画素と電流読み出しを行う画素の一例を示す図である。 本発明を多画素の画素領域に適用した場合の、電圧読み出しを行う画素と電流読み出しを行う画素の他の例を示す図である。 本発明を多画素の画素領域に適用した場合の、電圧読み出しを行う画素と電流読み出しを行う画素の更に他の例を示す図である。 本発明を多画素の画素領域に適用した場合の、電圧読み出しを行う画素と電流読み出しを行う画素の更に他の例を示す図である。 本発明をカラー撮像用固体撮像装置に適用した場合の、電圧読み出しを行う画素(EVF用)と電流読み出しを行う画素(AF/AE用)の一例を示す図である。 本発明をカラー撮像用固体撮像装置に適用した場合の、電圧読み出しを行う画素(EVF用)と電流読み出しを行う画素(AF/AE用)の他の例を示す図である。 縦線パターンの被写体を示す図である。 横線パターンの被写体を示す図である。 デジタルカメラにおけるAF動作を示す説明図である。 従来の高速AF/AE方式の固体撮像装置を説明するための回路構成図である。 図20に示した固体撮像装置のAF動作のための高速読み出し動作を説明するためのタイミングチャートである。
1〜4,1A〜4A,1B〜4B 垂直信号線
10,10-1〜10-4 電流源
11,11-1〜11-4 蓄積容量
21A 第1の垂直走査回路
21B 第2の垂直走査回路
22A 第1の水平走査回路
22B 第2の水平走査回路
23A 第1の水平信号線
23B 第2の水平信号線
24A 第1の出力端子
24B 第2の出力端子
30 出力アンプ
40 電流電圧変換アンプ
41 リファレンス電圧源
50 帰還抵抗
60 ドレイン電源
70 オフ電圧源
71 オン電圧源
80 信号線リセット電圧源
90 転送スイッチ制御端子
C11〜C44 画素
SW1 信号線リセットスイッチ

Claims (13)

  1. 光電変換素子を画素として用い、複数の画素を2次元状に配置した画素領域と、該画素領域の画素信号を読み出すための水平走査回路及び垂直走査回路とを有する固体撮像装置において、前記画素からの信号を電圧値で出力する第1の出力手段と、前記画素からの信号を電流値で出力する第2の出力手段とを備え
    前記第2の出力手段は、2個以上の前記画素からの信号を加算して出力し、
    前記第1の出力手段及び第2の出力手段は、各々、画素毎に独立に動作させることが可能であり、
    前記第1の出力手段は、前記画素領域内の複数の画素で構成される第1の画素群の画素からの信号を電圧値で出力し、前記第2の出力手段は、前記画素領域内の複数の画素で構成される第2の画素群の画素からの信号を電流値で出力し、且つ
    前記第1の出力手段及び第2の出力手段は、各々、他方の画素群の読み出し周期とは異なる読み出し周期で画素群の読み出しを行うことを特徴とする固体撮像装置。
  2. 前記第1の出力手段は、前記第1の画素群として、全画素領域から間引いて得られる複数の画素で構成された画素群を対象とすることを特徴とする請求項に係る固体撮像装置。
  3. 前記第2の出力手段は、前記第2の画素群として、前記第1の画素群に含まれる画素とは異なる複数の画素で構成された画素群を対象とすることを特徴とする請求項に係る固体撮像装置。
  4. 前記第2の出力手段は、前記第2の画素群として、前記第1の画素群に含まれる画素が属する行とは異なる行の画素で構成された画素群を対象とすることを特徴とする請求項に係る固体撮像装置。
  5. 前記第2の出力手段は、前記第2の画素群として、前記第1の画素群に含まれる画素が属する列とは異なる列の画素で構成された画素群を対象とすることを特徴とする請求項に係る固体撮像装置。
  6. 前記第1の出力手段及び第2の出力手段は、各々、異なる水平走査期間に出力することを特徴とする請求項のいずれか1項に係る固体撮像装置。
  7. 前記第1の出力手段及び第2の出力手段は、各々、異なる垂直走査期間に出力することを特徴とする請求項のいずれか1項に係る固体撮像装置。
  8. 前記第1の出力手段及び第2の出力手段は、各々、同一の水平走査期間の異なる期間に出力することを特徴とする請求項のいずれか1項に係る固体撮像装置。
  9. 前記水平走査回路は、前記第1の出力手段の一部を構成する第1の水平走査回路と、前記第2の出力手段の一部を構成する第2の水平走査回路とを有することを特徴とする請求項のいずれか1項に係る固体撮像装置。
  10. 前記第1の水平走査回路と第2の水平走査回路とは、各々、駆動周波数が異なることを特徴とする請求項に係る固体撮像装置。
  11. 前記垂直走査回路は、前記第1の出力手段の一部を構成する第1の垂直走査回路と、前記第2の出力手段の一部を構成する第2の垂直走査回路とを有することを特徴とする請求項又は10に係る固体撮像装置。
  12. 前記第1の出力手段及び第2の出力手段は、各々、各画素からの信号を出力させる垂直信号線を共有することを特徴とする請求項11のいずれか1項に係る固体撮像装置。
  13. 前記第1の出力手段及び第2の出力手段は、各々、各画素からの信号を出力させる垂直信号線を、個別に有することを特徴とする請求項11のいずれか1項に係る固体撮像装置。
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