JP4254438B2 - Test board equipment - Google Patents
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Description
本発明は、IC、LSI等の被試験対象を試験するICテスタのテストヘッドに電気的に接続するテストボード装置に関し、DUTボードを分割することができるテストボード装置に関するものである。 The present invention relates to a test board device that is electrically connected to a test head of an IC tester that tests an object to be tested such as an IC or LSI, and relates to a test board device that can divide a DUT board.
ICテスタは、IC、LSI等の被試験対象(以下DUTと略す)に試験信号を与え、DUTからの出力により、良否の判定を行うものである。そして、テストヘッドにはパフォーマンスボードが取り付けられ、DUTに電気的に接続するDUTボードがパフォーマンスボードに取り付けられる。このDUTボードをパフォーマンスボードから取り外すためにはスタッドのネジを外し、ケーブルのハンダ付けを取り外さなければ、パフォーマンスボードからDUTボードを取り外すことができなかった。そこで、特許文献1に示されるように、レセプタクルコネクタとプラグコネクタとにより、パフォーマンスボードとDUTボードとを電気的に接続し、容易に着脱が行えるようにした。このような装置を図10,11に示し説明する。図10は側面構成図、図11は斜視構成図である。
The IC tester gives a test signal to an object to be tested (hereinafter abbreviated as DUT) such as an IC or LSI, and determines whether it is good or bad by the output from the DUT. A performance board is attached to the test head, and a DUT board that is electrically connected to the DUT is attached to the performance board. To remove the DUT board from the performance board, the DUT board could not be removed from the performance board without removing the stud screw and removing the soldering of the cable. Therefore, as disclosed in
図において、テストヘッドTHは、内部にピンエレクトロニクスボードと呼ばれるプリント基板を複数枚搭載し、装置の制御を司る制御部等が格納される本体(図示せず)と接続する。 In the figure, the test head TH has a plurality of printed circuit boards called pin electronics boards mounted therein, and is connected to a main body (not shown) in which a control unit for controlling the apparatus is stored.
パフォーマンスボード10は、下面でテストヘッドTHのコンタクトピンに電気的に接続し、テストヘッドTHのピンエレクトロニクスボードと信号の授受を行う。
The
複数のレセプタクルコネクタ20は、パフォーマンスボード10の上面に取り付けられ、パフォーマンスボード10にコンタクトピン21を電気的に接続する。複数のプラグコネクタ30は、レセプタクルコネクタ20と着脱自在に係合し、レセプタクルコネクタ20と電気的に接続し、カムシャフト32が設けられる。そして、カムシャフト32は上部に溝321が設けられる。
The plurality of
DUTボード40は、プラグコネクタ30を下面に取り付け、プラグコネクタ30のコンタクトピン31を電気的に接続し、貫通穴41が設けられる。貫通穴41は、プラグコネクタ30のカムシャフト32を貫通する。
The
スタッド50は、プラグコネクタ30、DUTボード40にネジ止めされ、プラグコネクタ30をDUTボード40に固定する。なお、スタッド50は、プラグコネクタ30とDUTボード40との間が接近していれば不要となる。
The
ソケット60は、DUTボード40の上面に取り付けられ、DUTボード40に電気的に接続する。なお、ソケット60は、1つのソケットの場合や、ソケットを交換できるように、親ソケットと子ソケットの2つからなる場合もある。電気部品71,72は抵抗、コンデンサ等で、ソケット60の付近で、DUTボード40の下面に電気的に接続する。DUT80はソケット60に取り付けられ、ソケット60に電気的に接続する。
The
ここで、電気部品71,72は、DUT80の負荷等で、DUT80を試験するために必要とする部品である。電気部品71,72をDUT40の下面に取り付けるのは、図示しないハンドラのハンドラ面を、DUTボード40に接近させ、ソケット60の高さを低くするためである。これにより、電気部品71,72とDUT80との信号経路距離を短くし、容量成分、抵抗成分等の影響を低くし、DUT80の動作特性に影響を与えずに正確に試験することができる。
Here, the
ハンドル90は、ハンドル部91、パイプ92、棒93からなり、カムシャフト32に取り外し自在に取り付けられる。ハンドル部91は、パイプ92の上部に取り付けられる。パイプ92は、カムシャフト32に嵌められ、溝321に嵌まる棒93を中空内部に設けている。
The handle 90 includes a handle portion 91, a pipe 92, and a bar 93, and is detachably attached to the
このような装置の組立動作を説明する。まず、DUTボード40の取り付け方について説明する。
The assembling operation of such an apparatus will be described. First, how to attach the
プラグコネクタ30をレセプタクルコネクタ20に嵌めることにより、DUTボード40をパフォーマンスボード10に取り付ける。そして、ハンドル90の棒93が、カムシャフト32の溝321に嵌まるように、ハンドル90をカムシャフト32に取り付ける。ハンドル90を回転させることにより、棒93、溝321を介して、カムシャフト32が回転する。この回転により、プラグコネクタ30のコンタクトがレセプタクルコネクタ20のコンタクトの方に接触するように、弾性的に変位し、圧接することにより、両者を電気的に接続する。つまり、DUTボード40がパフォーマンスボード10に固定される。そして、ハンドル90をカムシャフト32から取り外す。
The
次に、DUTボード40の取り外し方について説明する。ハンドル90の棒93が、カムシャフト32の溝321に嵌まるように、ハンドル90をカムシャフト32に取り付ける。ハンドル90を逆回転させることにより、棒93、溝321を介して、カムシャフト32が逆回転する。この逆回転により、プラグコネクタ30のコンタクトと、レセプタクルコネクタ20のコンタクトとが離れる。ハンドル90をカムシャフト32から取り外し、プラグコネクタ30をレセプタクルコネクタ20から取り外し、DUTボード40をパフォーマンスボード10から取り外す。
Next, how to remove the
DUTボード40は、4つのDUT80を搭載し、DUTボード40に搭載される回路も4つに分割されている。しかし、DUTボード40上の回路が故障しても、DUTボード40全体を交換しなけらばならなかった。また、DUTボード40は約45cm×約45cmと大きく製作しにくく、高価になってしまう。また、DUTボード40は、様々な回路が高密度で実装されるので、重くなり、扱いずらい。
The
そこで、本発明の目的は、DUTボードを分割することができるテストボード装置を実現することにある。 Therefore, an object of the present invention is to realize a test board device that can divide a DUT board.
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項1記載の発明は、
前記テストヘッドに電気的に接続し、中心に位置決めピンが設けられるパフォーマンスボードと、
このパフォーマンスボードの外縁上面に取り付けられ、パフォーマンスボードと電気的に接続する第1のコネクタと、
この第1のコネクタに着脱自在に係合し、第1のコネクタと電気的に接続する第2のコネクタと、
分割され、分割ごとに、前記第2のコネクタを下面に取り付け、第2のコネクタと電気的に接続すると共に、被試験対象に電気的に接続し、前記位置決めピンで位置決めされるDUTボードと
を有することを特徴とするものである。
In order to achieve such a problem, the invention according to
A performance board electrically connected to the test head and provided with a positioning pin in the center;
A first connector mounted on the outer edge of the performance board and electrically connected to the performance board;
A second connector detachably engaged with the first connector and electrically connected to the first connector;
It is divided, for each divided, attaching the second connector on the lower surface, with connecting second connector electrically, and electrical connection to be tested, and a DUT board which is positioned by the positioning pins It is characterized by having.
請求項2記載の発明は、請求項1記載のテストボード装置において、
DUTボードは4つに分割されたことを特徴とするものである。
The invention according to claim 2 is the test board device according to
The DUT board is divided into four parts.
請求項3記載の発明は、請求項1または2記載のテストボード装置において、
第1のコネクタはレセプタクルコネクタ、第2のコネクタはプラグコネクタであることを特徴とするものである。
The invention according to claim 3 is the test board device according to
The first connector is a receptacle connector, and the second connector is a plug connector .
請求項4記載の発明は、請求項1〜3のいずれかに記載のテストボード装置において、
パフォーマンスボードの中心に設けられた空気口と、
パフォーマンスボード、DUTボードの側壁となる筐体と、
パフォーマンスボードとDUTボードとの空間を、分割されたDUTボードごとに仕切る仕切り板と、
前記筐体に設けられ、筐体と前記仕切り板とにより仕切られた空間を冷却するファンと
を備えたことを特徴とするものである。
Invention of
An air opening at the center of the performance board;
A chassis that becomes the side wall of the performance board and DUT board,
A partition plate that partitions the space between the performance board and the DUT board for each divided DUT board;
It is provided with the fan provided in the said housing | casing and cooling the space partitioned off by the housing | casing and the said partition plate.
請求項5記載の発明は、請求項1〜4のいずれかに記載のテストボード装置において、
分割されたDUTボードを連結する連結部材を具備したことを特徴とするものである。
Invention of
A connecting member for connecting the divided DUT boards is provided.
本発明によれば以下のような効果がある。
請求項1〜3によれば、分割されたDUTボードを、コネクタ、位置決めピンで位置決めして、パフォーマンスボードに取り付けることができるので、位置精度を維持しつつ、DUTボードを分割することができる。これにより、1つの被試験対象分の分割されたDUTボードを製作することができるので、安価に試作を行うことができる。また、同じボードを作成するので、製作、チェック等を手分けして行うことができる。また、大きさが1/(分割数)になるので、取り扱いが簡単になる。また、分割されたDUTボードをすべて取り付けずに、被試験対象の試験を行うことができる。これにより、DUTボードが故障しても、故障した分割ボードの修理中でも試験を継続できる。また、故障したDUTボードの分割ボードのみを交換することもできる。
The present invention has the following effects.
According to the first to third aspects, since the divided DUT board can be positioned by the connector and the positioning pin and attached to the performance board, the DUT board can be divided while maintaining the positional accuracy. Thereby, since the DUT board divided | segmented for one to-be-tested object can be manufactured, it can test-produce at low cost. Also, since the same board is created, manufacturing, checking, etc. can be performed separately. Further, since the size becomes 1 / (number of divisions), handling becomes easy. Further, it is possible to perform a test on the test target without attaching all the divided DUT boards. As a result, even if the DUT board fails, the test can be continued even during repair of the failed divided board. Also, it is possible to replace only the divided board of the failed DUT board.
請求項4によれば、仕切り板により部屋が区切られているので、分割されたDUTボードが1つでも、分割されたDUTボードがすべて取り付けられている状態と同じ条件でDUTの試験を行うことができる。また、冷却空間が狭くなるので、冷却能力が向上する。
According to
請求項5によれば、連結部材により、分割されたDUTボード同士を連結するので、分割されないDUTボードのように扱うことができる。 According to the fifth aspect, since the divided DUT boards are connected to each other by the connecting member, it can be handled like a DUT board that is not divided.
以下本発明を図面を用いて詳細に説明する。図1は本発明の一実施例を示した構成斜視図を示す。 Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a structural perspective view showing an embodiment of the present invention.
図1において、パフォーマンスボード1は、概略四角形に形成され、下面で、図示しないテストヘッドのコンタクトピンに電気的に接続し、テストヘッド内のピンエレクトロニクスボードと信号の授受を行うと共に、中心に空気口11を有している。空気口11は概略円状に形成される。位置決めピン2は、パフォーマンスボード1の中心に設けられる。ここで、図2に位置決めピン2の具体的構成を示し説明する。図2において、柱21は四角柱状に形成され、側面に溝部211、上部に突起部212を有する。板部材22は十字状に形成され、柱21の下面に中心がネジ止めされ、穴221が外側に設けられる。穴221はネジを通して、パフォーマンスボード1に板状部材22をネジ固定させる。
In FIG. 1, a
8つのレセプタクルコネクタ3は、パフォーマンスボード1の外縁上面に取り付けられ、パフォーマンスボード1と電気的に接続する。8つのプラグコネクタ4は、レセプタクルコネクタ3と着脱自在に係合し、レセプタクルコネクタ3と電気的に接続する。
The eight receptacle connectors 3 are attached to the upper surface of the outer edge of the
DUTボード5は、パフォーマンスボード1とほぼ同じ形状、大きさで形成され、4つに分割される。分割されたDUTボード5は、2つのプラグコネクタ4を下面に取り付け、プラグコネクタ4と電気的に接続し、貫通穴51が設けられ、位置決めピン2の突起部212に位置決め穴52を挿入し固定される。また、DUTボード5は、図示しないが、図10,11に示す装置と同様に、複数の電気部品を搭載し、ソケットを介してDUTに電気的に接続する。
The
仕切り板6は、パフォーマンスボード1とDUTボード5との空間を、分割されたDUTボード5ごとに仕切り、位置決めピン2の溝211に挿入される。
The
筐体100は、パフォーマンスボード1をネジ固定し、パフォーマンスボード1、DUTボード5の側壁となる。つまり、筐体100は、パフォーマンスボード1の下部、DUTボード5上部を覆っていない。また、筐体100は収納部101が側面に設けられている。筐体100を図3も用いて説明する。図3は仕切り板6が取り付けられた図で、(a)は上面図、(b)は左側面図、(c)は右側面図である。収納部101は、各種試験に用いるプリント基板102,103を搭載する。また、筐体100は、溝部104、ダクト105,106、空気孔107,108、ファン109〜111から構成される。溝部104は、パフォーマンスボード1を取り囲む側壁のほぼ中央に設けられ、仕切り板6が挿入される。ダクト105は、一方の角に設けられる。ダクト106は、パフォーマンスボード1を介して、ダクト105の概略対称位置に、収納部101に設けられる。空気孔107は、筐体100の収納部101側壁にプリント基板102,103を冷却する空気を通す。空気孔108は、筐体100の側壁にダクト106に結合して設けられる。ファン109は、ダクト105に設けられる。ファン110は、空気口11からの距離が、空気口11からファン109までの距離と等しくなるように、ダクト106に設けられる。ファン111は、筐体100の収納部101側壁に設けられ、プリント基板102,103を冷却する。
The
カバー200〜202は、筐体100に取り付けられる。カバー200は概略四角形状で、DUTボード5を覆い、筐体100にネジ止めされると共に、中心に概略円状の開口部204を有している。カバー201は概略長方形状で、筐体100にネジ止めされる。カバー202は長方形状で、収納部101を覆い、筐体100にネジ止めされる。
このような装置の組立動作を以下に説明する。図4〜6は組立動作を説明する図である。パフォーマンスボード1を筐体100にネジ固定し、仕切り板6を溝部104、位置決めピン2の溝211に嵌めて、図4に示す状態にする。そして、図5に示すように、プラグコネクタ4をレセプタクルコネクタ3に嵌め、位置決めピン2の突起部212に位置決め穴52を嵌めることにより、分割されたDUTボード5をパフォーマンスボード1に取り付ける。そして、従来例で説明したように、図示しないハンドルを貫通穴51に挿入し、プラグコネクタ4のカムシャフトを回転させ、レセプタクルコネクタと電気的に接続し固定する。これにより、パフォーマンスボード1、分割されたDUTボード5、仕切り板6、筐体100により、1つの部屋ができる。DUTボード5が4つに分割されても、DUTの設置場所の位置精度を出すことができ、ハンドラによりDUTの交換が行える。同様に、分割されたDUTボード5を取り付ける。
The assembly operation of such a device will be described below. 4 to 6 are diagrams for explaining the assembling operation. The
そして、カバー200をDUTボード5を覆い、筐体100にネジ止めする。同様に、カバー201を筐体100にネジ止めし、カバー202を収納部101を覆い、筐体100にネジ止めし、図6の状態となる。
Then, the
このように、分割されたDUTボード5を、レセプタクルコネクタ3、プラグコネクタ4、位置決めピン2で位置決めして、パフォーマンスボード1に取り付けることができるので、位置精度を維持しつつ、DUTボード5を分割することができる。これにより、1DUT分の分割されたDUTボード5を製作することができるので、安価に試作を行うことができる。また、同じボードを4枚作成するので、製作、チェック等を手分けして行うことができる。また、大きさが1/4になるので、取り扱いが簡単になる。また、分割されたDUTボード5をすべて取り付けずに、DUTの試験を行うことができる。これにより、DUTボード5が故障しても、故障した分割ボードの修理中でも試験を継続できる。また、故障したDUTボード5の分割ボードのみを交換することもできる。
In this way, the divided
なお、テストヘッドにパフォーマンスボード1を取り付けるときは、パフォーマンスボード1が筐体100に取り付けた状態で行われる。
When the
次に、図7を用いて、冷却動作について説明する。(a)はDUTボード5、カバー200〜202を省略した上面図、(b)は各部を透過的に表した正面図である。ファン109により、空気口11から空気を吸引し、排出する。また、ファン110により、空気口11から空気を吸引し、ダクト106を介して排出する。これらにより、DUTボード5の各電気部品が冷却できる。仕切り板6により部屋が区切られているので、分割されたDUTボード5が1つでも、分割されたDUTボード5がすべて取り付けられている状態と同じ条件でDUTの試験を行うことができる。また、冷却空間が狭くなるので、冷却能力が向上する。また、DUTボードが分割されていなくとも、仕切り板6により部屋を区切っているので、各DUTの試験に対する温度による試験データのばらつきを防ぐことができる。
Next, the cooling operation will be described with reference to FIG. (A) is a top view in which the
また、DUTボード5を4分割にした場合、通常のDUTの試験においては取り扱いが面倒になる。そこで、図8に示すように構成する。
Further, when the
図8において、連結ブラケット7は連結部材で、プリント基板の厚み分折り曲げられ、L字形状をなす細い板状に形成されると共に、分割されたDUTボード5の縁に取り付けられ、分割されたDUTボード5の隣接同士をネジ固定により連結する。連結ブラケット8は連結部材で、概略正方形の板状に形成され、開口部81を有し、分割されたDUTボード5同士をネジ固定により連結する。開口部81は概略正方形で、DUTボード5のソケット(図示せず)の設置位置を空けるために設けられる。
In FIG. 8, a connecting bracket 7 is a connecting member, which is bent by the thickness of the printed circuit board and formed into a thin plate shape having an L shape, and is attached to the edge of the divided
このような装置の組立動作を説明する。図9は図8に示す装置の組立図である。分割されたDUTボード5同士を連結ブラケット7により、ネジ固定する。そして、連結ブラケット8により、分割されたDUTボード5同士をネジ固定する。この結果、図9に示す状態になる。このように、連結ブラケット7により、分割されたDUTボード5同士を連結するので、分割されないDUTボード5のように扱うことができる。また、連結ブラケット8を分割されたDUTボード5に取り付けることにより、DUTボード5の中心が分離せず、扱い易くなる。ただ、ハンドラを使用する場合、連結ブラケット8は通常邪魔になるので、DUTボード5をパフォーマンスボード1に取り付けた場合、連結ブラケット8は外す。
The assembling operation of such an apparatus will be described. FIG. 9 is an assembly view of the apparatus shown in FIG. The divided
なお、本発明はこれに限定されるものではなく、パフォーマンスボード1とDUTボード5とを取り付けるコネクタを、レセプタクルコネクタ3とプラグコネクタ4とで行う構成を示したが、これに限定されるものではない。
The present invention is not limited to this, and the configuration in which the connector for attaching the
また、位置決めピン2の突起部212をDUTボード5の位置決め穴52に挿入することにより、DUTボード5の位置決めを行う構成を示したが、位置決めピン2にDUTボード5をネジ止めする構成でもよい。
Moreover, although the structure which positions the
また、カバー200を筐体100に取り付ける構成を示したが、必ずしもカバー200を取り付ける必要はない。
Moreover, although the structure which attaches the
また、仕切り板6は、溝部104,211に挿入する構成を示したがネジ止め等でもよい。
Moreover, although the
また、仕切り板6により部屋を区切り、ファン109,110により強制的に冷却を行う構成を示したが、DUTボード5の回路の発熱が少なければ、仕切り板6、ファン109,110をもうけず、自然冷却を行う構成でもよい。
Moreover, the room is partitioned by the
また、筐体100に収納部101を設けた構成を示したが、収納部101がない構成でもよい。
Moreover, although the structure which provided the
また、空気口11を1つの円状の開口部を設け、位置決めピン2を板部材22でパフォーマンスボード1に固定する構成を示したが、位置決めピン2の柱21を直接パフォーマンスボード1にネジ固定し、例えば、仕切り板6で仕切られる部屋ごとに、空気口を設ける構成でもよい。
In addition, the
また、DUTボード5を4つに分割した構成を示したが2分割や8分割等でもよい。
Moreover, although the structure which divided | segmented the
1 パフォーマンスボード
11 空気口
2 位置決めピン
3 レセプタクルコネクタ
4 プラグコネクタ
5 DUTボード
6 仕切り板
7,8 連結ブラケット
100 筐体
109,110 ファン
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記テストヘッドに電気的に接続し、中心に位置決めピンが設けられるパフォーマンスボードと、
このパフォーマンスボードの外縁上面に取り付けられ、パフォーマンスボードと電気的に接続する第1のコネクタと、
この第1のコネクタに着脱自在に係合し、第1のコネクタと電気的に接続する第2のコネクタと、
分割され、分割ごとに、前記第2のコネクタを下面に取り付け、第2のコネクタと電気的に接続すると共に、被試験対象に電気的に接続し、前記位置決めピンで位置決めされるDUTボードと
を有することを特徴とするテストボード装置。 In the test board device that is electrically connected to the test head of the IC tester,
A performance board electrically connected to the test head and provided with a positioning pin in the center;
A first connector mounted on the outer edge of the performance board and electrically connected to the performance board;
A second connector detachably engaged with the first connector and electrically connected to the first connector;
It is divided, for each divided, attaching the second connector on the lower surface, with connecting second connector electrically, and electrical connection to be tested, and a DUT board which is positioned by the positioning pins A test board device comprising:
パフォーマンスボード、DUTボードの側壁となる筐体と、
パフォーマンスボードとDUTボードとの空間を、分割されたDUTボードごとに仕切る仕切り板と、
前記筐体に設けられ、筐体と前記仕切り板とにより仕切られた空間を冷却するファンと
を備えたことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のテストボード装置。 An air opening at the center of the performance board;
A chassis that becomes the side wall of the performance board and DUT board,
A partition plate that partitions the space between the performance board and the DUT board for each divided DUT board;
The test board device according to claim 1, further comprising a fan that is provided in the housing and cools a space partitioned by the housing and the partition plate.
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