JP4133589B2 - テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムとその製造方法およびそれを用いた窒化バナジウム膜の形成方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体装置の銅配線を形成する際の下地バリアである窒化バナジウム膜ならびにバナジウム膜をMOCVD法およびALD法にて形成するのに好適なバナジウム化合物とその製造方法およびそれを用いた窒化バナジウム膜の形成方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
シリコン半導体装置の銅配線の下地バリアとして窒化チタンが一般的に使用されている。更なる高集積、微細化では、窒化タンタルが検討されている。しかし、窒化タンタルは内部応力が大きいために剥離しやすく、ダストとなって製造装置を汚染するという欠点がある。
【0003】
これらの欠点を解消するため特開2003−17437号は、スパッタ法にて作成された窒化バナジウムならびに酸窒化バナジウムが、銅配線との密着性が良好で、抵抗値は90μΩ・cmであり、同条件の窒化タンタル薄膜の1/3の値であったことを開示している。
しかし、該明細書の実施例は、スパッタ法にて成膜したものであり、膜厚も200から1600nmと厚く、微細化、薄膜化に対応できるものではない。その特性を生かすためには、量産性に優れ、ステップカバレジ能力の高いMOCVD法またはALD法による窒化バナジウムならびに酸窒化バナジウム薄膜の形成が必要となってくる。
【0004】
一般に量産用MOCVD法およびALD法の原料化合物が持つべき供給時の好ましい性質としては、純品で高い蒸気圧を持ち、供給時に熱的に安定で、クリーンルームの室温付近で液体であることが挙げられる。
【0005】
窒化バナジウムならびに酸窒化バナジウム薄膜のMOCVD法およびALD法用バナジウム原料としては、窒化チタン薄膜成膜で量産に現在使われている原料が四塩化チタン、テトラキス(ジメチルアミノ)チタン、テトラキス(ジエチルアミノ)チタンであり、この類推から、四塩化バナジウム、テトラキス(ジメチルアミノ)バナジウム、テトラキス(ジエチルアミノ)バナジウムが挙げられる。
【0006】
四塩化バナジウムは室温で液体であり高い蒸気圧を持つが、膜中への残留塩素への懸念や、腐食性が強いことからMOCVD法およびALD法用原料に好適であるとは言い難い。
公知化合物のテトラキス(ジメチルアミノ)バナジウム[以下V(NMe2)4と表す]は、融点47℃の固体の化合物であり、供給に問題がある。
テトラキス(ジエチルアミノ)バナジウム[以下V(NEt2)4と表す]は、室温で液体の化合物であるが、蒸気圧が低く、原料に好適であるとは言い難い。
【0007】
韓国特許KR156980「窒化金属薄膜蒸着用化合物およびそれを用いた蒸着方法」では、成膜速度の増加と膜中の炭素不純物を減少させるために有利な原料化合物として、下記一般式で定義される有機金属を請求項1で特許請求の範囲としている。
M[N(CH3)C2H5]x
ここでMは短周期律表3A,4A,4B,5Bに属する金属で、xは3〜5の定数である。
請求項2は、金属MがAl,Ga,Si,Ge,Sn,Ti,Zr,Taから選ばれた化合物である。
【0008】
請求項1は5Bに属する金属バナジウムVの化合物であるV[N(CH3)C2H5]xを確かに含んでいる。
バナジウムと同じ5Bに属するタンタルについては、Ta[N(CH3)C2H5]5を請求項6で請求していることから、VについてもV[N(CH3)C2H5]5と推定される。すなわち、V(NMe2)4、V(NEt2)4の系列であるx=4のテトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウム[以下V(NEtMe)4と表す]を必ずしも指していないのである。また、V(NEtMe)4が熱的に安定に存在しうるのか示唆していない。
【0009】
すなわち、該韓国特許はV(NEtMe)4を特定し、それを合成し、物性を測定した実施例や、それを用いての成膜実施例を全く開示していない。また、V(NEtMe)4が量産用化合物として好適であることを開示していないのである。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
本発明者らは、公知化合物のV(NMe2)4とV(NEt2)4の融点と蒸気圧を測定した。その結果、V(NMe2)4の融点は47℃で蒸気圧は1Torr/95℃であった。V(NEt2)4は室温で液体で蒸気圧は1Torr/145℃であった。
【0011】
MOCVD法およびALD法の原料供給法のうち最も適した方法は、液体状態のまま液体マスフローコントローラーを通して供給し、気化器で全量を気化させる液体供給法である。
【0012】
この液体マスフローコントローラーの使用上限温度は約50℃であるので、蒸気圧の高いV(NMe2)4を使う場合には、不活性有機溶媒、例えばヘキサン、シクロヘキサン、オクタン等に溶かした溶液にする必要がある。しかし大量の有機溶媒は、MOCVD法やALD法に好ましくなく、膜中に炭素を増やす要因になる。また、固体の溶解操作や溶媒を使うので、水分や空気のコンタミで液中にパーティクルを生成しやすい。
さらには、V(NMe2)4は緑黒色で蒸留精製時に精製装置の内部が目視確認しにくく、また融点が高いために蒸留装置や配管が詰まりやすいなど、安定した精製工程を維持することが困難であるという製造上の問題点がある。
【0013】
V(NEt2)4は蒸気圧が低いため、気化器温度が高くなりすぎるという欠点がある。
【0014】
本発明の目的は、MOCVD法およびALD法用原料として、室温で液体であり、かつV(NEt2)4よりも蒸気圧が数倍高い新規な化合物を提供することである。またその製造方法を提供することである。さらには、それを用いてMOCVD法およびALD法で窒化バナジウムならびに酸窒化バナジウム薄膜を形成する方法を提供することである。
【0015】
【課題を解決するための手段】
本発明者らは、V(NEtMe)4を初めて合成し、融点が−70℃以下の液体であり、V(NEt2)4よりも高い蒸気圧を持ち、NH3やH2を使うMOCVD法やALD法で窒化バナジウム膜を成膜できることを見出し、本発明を完成させた。
【0016】
本発明は、テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムである。
【0017】
本発明は、三塩化バナジル1モルとエチルメチルアミノリチウム5モルを有機溶媒中で反応させ、次いで副生物の塩化リチウム粒子、酸化リチウム粒子等を濾過分離し、溶媒を留去し、次いで真空下で蒸留することよりなるテトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムの製造方法である。
【0018】
本発明は、テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムを原料として用いることを特徴とするMOCVD法およびALD法による窒化バナジウム膜およびバナジウム含有膜の形成方法である。
【0019】
本発明は、テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムに有機溶媒を添加してなることを特徴とするMOCVD用原料溶液である。
【0020】
【発明の実施の形態】
本発明のV(NEtMe)4は新規化合物である。
それは、J.Chem.Soc.,Dalton Trans.,1992,891記載のV(NMe2)4の製法をもとにして製造することができる。
【0021】
5モルのエチルメチルアミノリチウムをヘキサン中に溶解懸濁させ、攪拌冷却をしながら1モルの三塩化バナジルを加えて1昼夜10〜40℃で反応させる。次いで副生した塩化リチウムや酸化リチウムを濾過で取り除き、得られた緑色の液体から溶媒や低沸点分を減圧で留去する。すると緑黒色の粘性液体が残るので、これを1Torrの減圧蒸留をすると120℃付近で緑黒色液体が得られる。三塩化バナジルに対する収率は40%である。
【0022】
ここで原料とするエチルメチルアミノリチウムは、ノルマルブチルリチウムのヘキサン溶液とエチルメチルアミンを反応させることにより、白色ヨーグルト状として得られる。反応溶媒としてはヘキサンの他、ヘプタン、オクタン、トルエンなどが使える。三塩化バナジルに対する仕込みリチウムエチルメチルアミドのモル数は5モルであるが、若干過剰のエチルメチルアミノリチウムを加えてもよい。
【0023】
実施例1で得られたV(NEtMe)4について、以下に同定結果と物性を述べる。
(1)組成分析
湿式分解し、生成した液のICP発光分光分析の結果、
V分析値 17.15wt% (理論値 17.98Wt%)
【0024】
(2)不純物分析
ICP発光分光分析の結果、(単位ppm)
Ca5.4,Cr<3.0,Cu<0.9,Fe<0.3,K5.0,
Li<1.5,Mg1.3,Na<1.5,Ni<0.3
であり、高純度であった。
全塩素分析の結果、Clは<60ppmであった。
【0025】
(3)蒸気圧
蒸留のデータから、120℃/1Torrであった。
【0026】
(4)TG−DTA
測定条件
測定はAr 1気圧、昇温速度10.0deg/minで行った。
試料質量19.6mgの結果を図1に示す。
100%の減量にはなっていない原因は、サンプリング中に少し加水分解、酸化したためである。
【0027】
(5)性状と融点
緑黒色液体であり、融点は−70℃以下であった。
室温での密度は、0.89g/cm3であった。
【0028】
以上より、総合的に判断してこの化合物はV(NEtMe)4であると断定した。
【0029】
比較のためV(NEtMe)4と同手法で公知化合物のV(NMe2)4とV(NEt2)4を合成し、物性を測定した。その結果を表1に示す。
【0030】
【表1】
【0031】
V(NEtMe)4の実施上の優位点は以下のとおりである。
V(NEtMe)4は蒸留による精製工程で装置や配管が詰まることなく、安定した精製工程を維持できた。
さらにV(NEtMe)4は室温で液体であるため、V(NMe2)4使用時のような余分な有機溶媒は不要であり、基板へのV化合物の吸着やデポがしやすく薄膜中の残留炭素の影響も低減できる。
V(NEtMe)4は、1Torrを与える温度がV(NEt2)4よりも25℃も低いため気化器温度を低くでき、そこでの熱劣化を抑えることができ、使用の安定が図れる。
同一温度で比較すると、V(NEtMe)4はV(NEt2)4の約5倍の高い蒸気圧を持つので、量産時の供給に非常に有利である。
V(NEtMe)4の粘度は室温で20cp程度であり、液体マスフローコントローラーで気化器に供給し、気化器で全量を気化させるという、量産に最適な供給方式をとることができる。
【0032】
【実施例1】
V(NEtMe)4の製造
温度計、攪拌子を備えた2L三口フラスコを真空置換後、アルゴン雰囲気下とし、Li−n−Bu0.43kg(1.01mol)とNHEtMeトルエン溶液189g(1.28mol)を反応させLiNEtMeを作った。
温度計、攪拌子を備えた2L三口フラスコを真空置換後、アルゴン雰囲気下とし、作りたてのLiNEtMeヘキサン−トルエン懸濁液1400mL(LiNEtMeとして65.7g,1.01mol)にフラスコを冷やしながらVOCl3ヘキサン溶液130mL(VOCl3として35.5g,0.20mol)を反応液温が−10〜−40℃にて徐々に加えた。その後、室温にて48時間攪拌すると、沈降性のよいスラリーとなった。次いで副生したLiCl、Li2O等を濾過分離すると、緑色液体が得られた。この液をオイルバス温度30℃で減圧にしてヘキサン溶媒や副生アミン類を留去すると、緑黒色の粘性液体となった。
この液体を120℃付近1Torrで蒸留し、緑色の液体22.9gを得た。
同定の結果は前述したようにV(NEtMe)4であり(0.08mol)、収率はVOCl3に対して40%であった。
【0033】
【実施例2】
V(NEtMe)4を用いたMOCVD法による窒化バナジウム膜の形成
V(NEtMe)4を室温で液体マスフローコントローラーを通して供給し、次いで150℃の気化器で全量を気化させコールドウォール型CVD室に導いた。反応ガスとしてNH3を30sccm、H2を20sccmも導入した。CVD室は0.05Torrに排気系により保たれ、600℃のSiO2/Si基板上で窒化バナジウム膜を約50nm堆積させた。
この膜は元素分析の結果、VとNが主成分の膜であることが分かった。
【0034】
【実施例3】
酸窒化バナジウム膜の形成
実施例2においてH2をO2に代えた他は実施例2と同じ操作を行った結果、酸窒化バナジウム膜が形成できた。
【0035】
【発明の効果】
本発明のV(NEtMe)4は、室温で液体なので製造、精製が容易である。液体マスフローコントローラーで供給でき、公知のV(NEt2)4より約5倍の蒸気圧があるので、MOCVD法およびALD法における窒化バナジウム膜の量産に有効である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のV(NEtMe)4のTG−DTAによる測定結果を示す図である。
Claims (4)
- テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウム。
- 三塩化バナジル1モルとエチルメチルアミノリチウム5モルを有機溶媒中で反応させ、次いで副生物の塩化リチウム粒子、酸化リチウム粒子等を濾過分離し、溶媒を留去し、次いで真空下で蒸留することよりなるテトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムの製造方法。
- テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムを原料として用いることを特徴とするMOCVD法およびALD法による窒化バナジウム膜およびバナジウム含有膜の形成方法。
- テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムに有機溶媒を添加してなることを特徴とするMOCVD用原料溶液。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003149954A JP4133589B2 (ja) | 2003-04-21 | 2003-04-21 | テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムとその製造方法およびそれを用いた窒化バナジウム膜の形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003149954A JP4133589B2 (ja) | 2003-04-21 | 2003-04-21 | テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムとその製造方法およびそれを用いた窒化バナジウム膜の形成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004323493A JP2004323493A (ja) | 2004-11-18 |
JP4133589B2 true JP4133589B2 (ja) | 2008-08-13 |
Family
ID=33508204
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003149954A Expired - Fee Related JP4133589B2 (ja) | 2003-04-21 | 2003-04-21 | テトラキス(エチルメチルアミノ)バナジウムとその製造方法およびそれを用いた窒化バナジウム膜の形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4133589B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4959122B2 (ja) * | 2004-09-27 | 2012-06-20 | 株式会社アルバック | バナジウム含有膜の形成方法 |
KR100734854B1 (ko) * | 2005-08-24 | 2007-07-03 | 한국전자통신연구원 | 바나듐이산화물 박막의 제조방법 |
JP5184357B2 (ja) * | 2005-08-24 | 2013-04-17 | エレクトロニクス アンド テレコミュニケーションズ リサーチ インスチチュート | バナジウム酸化物薄膜の製造方法 |
US8318966B2 (en) * | 2006-06-23 | 2012-11-27 | Praxair Technology, Inc. | Organometallic compounds |
KR100914982B1 (ko) * | 2008-01-02 | 2009-09-02 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 소자의 금속배선 및 그 형성방법 |
JP6735163B2 (ja) | 2016-06-22 | 2020-08-05 | 株式会社Adeka | バナジウム化合物、薄膜形成用原料及び薄膜の製造方法 |
MX2018015150A (es) | 2016-07-27 | 2019-04-15 | Dowa Thermotech Co Ltd | Pelicula de nitruro de vanadio, y miembro revestido con pelicula de nitruro de vanadio y metodo para fabricar la misma. |
CN106848282B (zh) * | 2017-01-26 | 2022-05-17 | 彭宪利 | 一种非水电解质二次电池用负极材料及其制备方法和应用 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6238734B1 (en) * | 1999-07-08 | 2001-05-29 | Air Products And Chemicals, Inc. | Liquid precursor mixtures for deposition of multicomponent metal containing materials |
-
2003
- 2003-04-21 JP JP2003149954A patent/JP4133589B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2004323493A (ja) | 2004-11-18 |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050725 |
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RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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