JP4161939B2 - 光ディスク装置 - Google Patents
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Description
この発明は、ＣＤやＤＶＤ等の光ディスクに記録されているデータを読み取って再生する光ディスク装置に関する。
従来、ＣＤやＤＶＤ等の光ディスクに記録されているデータを読み取る光ディスク装置では、照射しているレーザ光の合焦位置を光ディスクの記録面に合わせるフォーカス制御を行っている。このフォーカス制御は、光ディスクと光源であるＬＤとの間に配置された対物レンズを光ディスクに対して接離する方向に移動する制御である。ＬＤ、対物レンズ、この対物レンズを光ディスクに対して接離する方向に移動するアクチュエータ等がピックアップヘッドに設けられている。フォーカス制御においてアクチュエータに入力する信号は、公知のように光ディスクの記録面と照射しているレーザ光の合焦位置とのズレ量を示すフォーカスエラー信号（以下、ＦＥ信号と言う。）に基づいて生成したフォーカスサーボ信号をフォーカスバイアスに重畳した信号である。
このフォーカスバイアスは、光ディスクに記録されているデータの読取信号であるＲＦ信号の振幅が最大になる電圧に調整される。言い換えれば、光ディスク装置には、ＲＦ信号の振幅が最大になるようにフォーカスバイアスを調整するための構成が設けられている。このフォーカスバイアスの調整は、例えばフォーカスバイアスを段階的に変化させてＲＦ信号をサンプリングし、ＲＦ信号の振幅が最大になる電圧に調整する方法（特許文献１参照）がある。また、ＲＦ信号のジッタ量が最小になるようようにフォーカスバイアスを調整する方法（特許文献２参照）も提案されている。
また、特許文献２ではフォーカスバイアスの調整時に、光ディスクの傷や光ディスクに付着しているゴミ等によりジッタが極端に増大している間、その間に得られた情報をフォーカスバイアスの調整に利用しないことで、フォーカスバイアスの調整精度が低下するのを防止することが提案されている。
特開２００２−３１２９５９号
特開２００２−１０００５６号
しかしながら、フォーカスバイアスを段階的に変化させてＲＦ信号をサンプリングし、フォーカスバイアスをＲＦ信号の振幅が最大になる電圧に調整する方法については、光ディスクの傷や光ディスクに付着しているゴミ等によるフォーカスバイアスの調整精度の低下を防止することが、これまで提案されていなかった。言い換えれば、フォーカスバイアスを段階的に変化させてＲＦ信号をサンプリングし、フォーカスバイアスをＲＦ信号の振幅が最大になる電圧に調整する方法では、フォーカスバイアスの調整精度が光ディスクの傷や光ディスクに付着しているゴミ等により低下するという問題があった。
この発明の目的は、光ディスクの傷や光ディスクに付着しているゴミ等による影響を受けることなく、フォーカスバイアスをＲＦ信号の振幅が最大になる電圧に調整できる光ディスク装置を提供することにある。
この発明の光ディスク装置は、上記課題を解決するために以下の構成を備えている。
（１）本体にセットされている光ディスクに対物レンズを介してレーザ光を照射し、その反射光を検出することにより、この光ディスクに記録されているデータを読取る読取手段と、
前記レーザ光の合焦位置と前記光ディスクの記録面とのズレ量を示すフォーカスエラー信号に基づいて、前記レーザ光の合焦位置が前記光ディスクの記録面になるように前記対物レンズを前記光ディスクに対して接離する方向に移動するフォーカス制御を行うフォーカス制御手段と、
前記フォーカス制御手段が前記フォーカス制御に用いるフォーカスバイアスを予め定めた下限値と上限値との間で一定量ずつ段階的に変化させながら、前記読取手段が取得するＲＦ信号を各段階でサンプリング時間サンプリングして前記ＲＦ信号の振幅の平均値を各段階毎に取得するフォーカスバイアス調整手段と、を備え、
前記フォーカスバイアス調整手段は、各段階における前記フォーカスバイアスと前記平均値との関係から、前記フォーカスバイアスを、前記ＲＦ信号の振幅が最大になる電圧に調整する手段である光ディスク装置において、
前記ＲＦ信号の振幅が予め定めた閾値レベルよりも小さいか大きいかを検出する検出手段を備え、
前記フォーカスバイアス調整手段は、
前記ＲＦ信号を各段階で前記サンプリング時間サンプリングしているときに、前記ＲＦ信号の振幅が前記閾値レベルよりも小さくなったことを前記検出手段が検出すると、前記サンプリングを停止し、
前記ＲＦ信号の振幅が前記閾値レベルよりも大きくなったことを前記検出手段が検出すると、前記サンプリングをやり直し、前記サンプリングを停止したときのフォーカスバイアスで前記ＲＦ信号を前記サンプリング時間サンプリングする。
前記レーザ光の合焦位置と前記光ディスクの記録面とのズレ量を示すフォーカスエラー信号に基づいて、前記レーザ光の合焦位置が前記光ディスクの記録面になるように前記対物レンズを前記光ディスクに対して接離する方向に移動するフォーカス制御を行うフォーカス制御手段と、
前記フォーカス制御手段が前記フォーカス制御に用いるフォーカスバイアスを予め定めた下限値と上限値との間で一定量ずつ段階的に変化させながら、前記読取手段が取得するＲＦ信号を各段階でサンプリング時間サンプリングして前記ＲＦ信号の振幅の平均値を各段階毎に取得するフォーカスバイアス調整手段と、を備え、
前記フォーカスバイアス調整手段は、各段階における前記フォーカスバイアスと前記平均値との関係から、前記フォーカスバイアスを、前記ＲＦ信号の振幅が最大になる電圧に調整する手段である光ディスク装置において、
前記ＲＦ信号の振幅が予め定めた閾値レベルよりも小さいか大きいかを検出する検出手段を備え、
前記フォーカスバイアス調整手段は、
前記ＲＦ信号を各段階で前記サンプリング時間サンプリングしているときに、前記ＲＦ信号の振幅が前記閾値レベルよりも小さくなったことを前記検出手段が検出すると、前記サンプリングを停止し、
前記ＲＦ信号の振幅が前記閾値レベルよりも大きくなったことを前記検出手段が検出すると、前記サンプリングをやり直し、前記サンプリングを停止したときのフォーカスバイアスで前記ＲＦ信号を前記サンプリング時間サンプリングする。
この構成では、ＲＦ信号の振幅が予め定めた閾値レベルよりも小さくなると、そのことが検出手段により検出される。閾値レベルは、光ディスクの傷や光ディスクに付着しているゴミ等にレーザ光が照射されたかどうかを検出できる大きさである。検出手段によりＲＦ信号の振幅が閾値レベルよりも小さいことが検出されているとき、フォーカスバイアス調整手段がＲＦ信号のサンプリングを停止する。そして、検出手段によりＲＦ信号の振幅が閾値レベルよりも大きいことが検出されると、フォーカスバイアス調整手段がＲＦ信号のサンプリングをやり直す。即ち、フォーカスバイアス調整手段はサンプリングを停止したときのフォーカスバイアスでＲＦ信号をサンプリング時間サンプリングする。
ここで、ＲＦ信号の振幅が閾値レベルよりも小さいことが検出された期間があった段階についてはＲＦ信号のサンプリングをやり直すので、ＲＦ信号の振幅の平均値が、フォーカスバイアスを下限値から上限値まで一定量ずつ段階的に変化させた全ての段階で得ることができる。したがって、光ディスクの傷や付着しているごみ等によるフォーカスバイアスの調整精度の低下を防止でき、光ディスクからデータを適正に読み取ることができる。また、ＲＦ信号の振幅が閾値レベルよりも小さいことが検出された場合に、フォーカスバイアスの調整にかかる処理を最初からやり直すのではなく、そのときのフォーカスバイアスの大きさについてＲＦ信号のサンプリングをやり直す構成としているので、フォーカスバイアスの調整にかかる時間の増加も抑えられる。
ここで、ＲＦ信号の振幅が閾値レベルよりも小さいことが検出された期間があった段階についてはＲＦ信号のサンプリングをやり直すので、ＲＦ信号の振幅の平均値が、フォーカスバイアスを下限値から上限値まで一定量ずつ段階的に変化させた全ての段階で得ることができる。したがって、光ディスクの傷や付着しているごみ等によるフォーカスバイアスの調整精度の低下を防止でき、光ディスクからデータを適正に読み取ることができる。また、ＲＦ信号の振幅が閾値レベルよりも小さいことが検出された場合に、フォーカスバイアスの調整にかかる処理を最初からやり直すのではなく、そのときのフォーカスバイアスの大きさについてＲＦ信号のサンプリングをやり直す構成としているので、フォーカスバイアスの調整にかかる時間の増加も抑えられる。
この発明によれば、光ディスクの傷や光ディスクに付着しているゴミ等による影響を受けることなく、フォーカスバイアスを調整することができる。これにより、光ディスクからのデータの読み取りも適正に行える。
以下、この発明の実施形態である光ディスク装置について説明する。
図１は、この発明の実施形態である光ディスク装置の主要部の構成を示すブロック図である。この発明の実施形態である光ディスク装置１は、本体にセットされた光ディスク１０にレーザ光を照射するピックアップヘッド２と、光ディスク１０の記録面にレーザ光を合焦させるフォーカス制御を行うフォーカス制御部３と、レーザ光を光ディスク１のトラックの中心に合わせるトラッキング制御を行うトラッキング制御部４と、光ディスク１０に記録されているデータの読取信号であるＲＦ信号を増幅するＲＦアンプ５と、フォーカスバイアスを調整するフォーカスバイアス調整部６と、ＲＦアンプ５で増幅されたＲＦ信号の振幅が予め定められた閾値レベルよりも小さいかどうかを判定し、その判定結果を検出信号としてフォーカスバイアス調整部６に入力する閾値レベル検出部７と、光ディスク１０を回転するスピンドルモータ８とを備えている。
ピックアップヘッド２には、光源であるＬＤ、ＬＤから照射されたレーザ光を集光する対物レンズ、この対物レンズを光ディスク１０に対して接離する方向、および光ディスク１０の半径方向に移動するための２軸のアクチュエータ、光ディスク１０からの反射光を検出する４分割の受光素子等が設けられている。ピックアップヘッド２は、光ディスク１０の半径方向に延びる軸に取り付けられており、図示していないスレッドモータにより光ディスク１０の半径方向に移動される。ピックアップヘッド２は、公知の４分割の受光素子で光ディスク１０からの反射光を検出し、フォーカスエラー信号（以下、ＦＥ信号と言う。）、トラッキングエラー信号（以下、ＴＥ信号と言う。）、およびＲＦ信号を出力する。周知のように、ＦＥ信号は光ディスク１０の記録面と光ディスク１０に照射しているレーザ光の合焦位置とのズレ量を示す信号であり、フォーカス制御部３に入力され、ＴＥ信号は光ディスク１０のトラックの中心と光ディスク１０に照射しているレーザ光の照射位置とのズレ量を示す信号であり、トラッキング制御部４に入力され、ＲＦ信号は光ディスク１０のデータの読取信号であり、ＲＦアンプ５に入力される。
フォーカス制御部３は、ピックアップヘッド２から入力されたＦＥ信号に基づいてフォーカスサーボ信号を生成し、このフォーカスサーボ信号をフォーカスバイアスに重畳した信号をアクチュエータに入力する。これにより、ピックアップヘッド２に設けられている対物レンズを光ディスク１０に対して接離する方向に移動し、ピックアップヘッド２のＬＤから照射しているレーザ光の合焦位置を光ディスク１０の記録面に合わせる。トラッキング制御部４は、ピックアップヘッド２から入力されたＴＥ信号に基づいてトラッキングサーボ信号を生成し、このトラッキングサーボ信号をアクチュエータに入力する。これにより、ピックアップヘッド２に設けられている対物レンズを光ディスク１０の半径方向に移動し、ピックアップヘッド２のＬＤから照射しているレーザ光の照射位置を光ディスク１０のトラックの中心に合わせる。また、トラッキング制御部４はアクチュエータによる対物レンズの移動だけではピックアップヘッド２の発光素子から照射しているレーザ光を目的のトラックに照射できないとき、図示していないスレッドモータを駆動してピックアップヘッド３を光ディスクの半径方向に移動する。
ＲＦアンプ５は入力されたＲＦ信号を増幅し、これを図示していない再生部に入力する。再生部は、入力されたＲＦ信号をデコードし、光ディスク１０から読み取ったデータの再生信号を生成し、出力する。また、ＲＦアンプ５は増幅したＲＦ信号をフォーカスバイアス調整部６、および閾値レベル検出部７にも入力する。フォーカスバイアス調整部６は、ＲＦアンプ５から入力されたＲＦ信号を用いて、フォーカスバイアスの調整を行う。閾値レベル検出部７は、光ディスク１０の傷や光ディスク１０に付着しているゴミ等にレーザ光が照射されているかどうかを検出する。言い換えれば、図２に示すように、光ディスク１０の傷や光ディスク１０に付着しているゴミ等にレーザ光が照射されているときに得られるＲＦ信号のレベルよりもある程度大きく、適正なトラックにレーザ光が照射されているときに得られるＲＦ信号のレベルよりもある程度小さい値に閾値レベルを設定している。これにより、ＲＦ信号の変動による誤検出を防止している。フォーカスバイアス調整部６は、入力されているＲＦ信号のレベルが閾値レベルよりも小さければハイになり、入力されているＲＦ信号のレベルが閾値レベル以上であればローになる検出信号をフォーカスバイアス調整部６に入力している。
次に、この実施形態の光ディスク装置１におけるフォーカスバイアス調整処理について説明する。このフォーカスバイアス調整処理は、本体にセットされている光ディスク１０に対するフォーカス制御、およびトラッキング制御が開始された直後に行われる。この時点では、光ディスク１０からのデータの読み取りは開始されていない。図３は、この実施形態の光ディスク装置におけるフォーカスバイアス調整処理を示すフローチャートである。フォーカスバイアス調整部６は、フォーカス制御部３に入力するフォーカスバイアスを、予め定められている下限値に設定する（ｓ１）。これにより、フォーカス制御部３からアクチュエータに入力される信号に重畳されているフォーカスバイアスがこの下限値になる。フォーカス調整部６は閾値レベル検出部７から入力されている検出信号がハイであるかどうかを判定し（ｓ２）、ローであればＲＦアンプ５から入力されているＲＦ信号をサンプリングする（ｓ３）。反対にハイであればＲＦ信号のサンプリングを停止する（ｓ４）。フォーカス調整部６は、ｓ５でＲＦ信号のサンプリング時間が経過したと判定するまで、上記ｓ２〜ｓ４を繰り返す。
閾値レベル検出部７は、光ディスク１０の傷や、光ディスク１０に付着しているゴミ等にレーザ光が照射され、その反射光が殆ど検出されていないとき、言い換えればＲＦアンプ５から入力されているＲＦ信号が閾値レベルよりも小さいとき、フォーカスバイアス調整部６に入力する検出信号をローにする。したがって、フォーカスバイアス調整部６は、上記ｓ２〜ｓ５の処理において、光ディスク１０の傷や、光ディスク１０に付着しているゴミ等にレーザ光が照射されているときのＲＦ信号をサンプリングしない。
なお、サンプリング時間は、数１０ｍｓ〜数１００ｍｓである。
フォーカスバイアス調整部６は、ｓ５でサンプリング時間が経過したと判定すると、今回のサンプリング時間内に閾値レベル検出部７から入力されている検出信号がハイになった期間があったかどうかを判定する（ｓ６）。言い換えれば、ｓ６では、今回のＲＦ信号のサンプリングにおいて、ＲＦ信号のサンプリングを停止したかどうかを判定している。フォーカスバイアス調整部６は、ｓ６で入力されている検出信号がハイになった期間がなかったと判定すると、今回のＲＦ信号のサンプリングについては適正に行われたと判断し、今回のフォーカスバイアスの大きさと、今回サンプリングしたＲＦ信号の振幅の平均値と、を対応づけて記憶する（ｓ７）。反対に、フォーカスバイアス調整部６はｓ６で入力されている検出信号がハイになった期間があったと判定すると、今回のＲＦ信号のサンプリングが適正に行われなかったと判断し、今回サンプリングしたＲＦ信号を破棄する（ｓ８）。
フォーカスバイアス調整部６は、ｓ７またはｓ８にかかる処理を完了すると、この時点でフォーカス制御部３に入力しているフォーカスバイアスが予め定められた上限値であるかどうかを判定し（ｓ９）、上限値でなければ、フォーカス制御部３に入力しているフォーカスバイアスを一定量、例えば１０ｍＶ、増加し（ｓ１０）、ｓ２に戻り、上記処理を繰り返す。フォーカス調整部６は、上記ｓ２〜ｓ１０の処理を繰り返すことにより、フォーカス制御部３に入力しているフォーカスバイアスを下限値から上限値まで、一定量ずつ段階的に変化させ、各段階でサンプリングしたＲＦ信号の振幅の平均値を取得する。但し、ＲＦ信号のサンプリング中に閾値レベル検出部７から入力されている検出信号がハイになった期間があった段階については、上述したようにｓ８でサンプリングしたＲＦ信号を破棄しているので、ＲＦ信号の振幅の平均値は取得されていない。
フォーカスバイアス調整部６は、ｓ１０で上限値であると判定すると、フォーカスバイアスとＲＦ信号の振幅との関係を算出する（ｓ１１）。ｓ１１では、例えば図４に示すように、フォーカスバイアスを下限値から上限値まで一定量ずつ変化させたときのＲＦ信号の振幅の変化の２次近似を算出する。図４（Ａ）は、ＲＦ信号の振幅の平均値がフォーカスバイアスを下限値から上限値まで一定量ずつ段階的に変化させた全ての段階で得られている場合にｓ１１で算出される、フォーカスバイアスとＲＦ信号の振幅との関係を示している。また、図４（Ｂ）は、ＲＦ信号の振幅の平均値がフォーカスバイアスを下限値から上限値まで一定量ずつ段階的に変化させた全ての段階で得られなかった場合、ここでは図４（Ａ）に示すＡ〜Ｄの４段階でＲＦ信号のサンプリング中に閾値レベル検出部７から入力されている検出信号がハイになった期間（光ディスク１０の傷や光ディスク１０に付着しているゴミ等にレーザ光が照射された期間）があり、これらの段階におけるＲＦ信号のサンプリングデータが無い場合にｓ１１で算出される、フォーカスバイアスとＲＦ信号の振幅との関係を示している。また、図４（Ｃ）は、光ディスク１０の傷や光ディスク１０に付着しているゴミ等にレーザ光が照射された期間がある図４（Ａ）に示すＡ〜Ｄの４段階についてもＲＦ信号のサンプリングを行い、取得したＲＦ信号の振幅の平均値を用いた場合（従来の方法）にｓ１１で算出される、フォーカスバイアスとＲＦ信号の振幅との関係を示している。
図４に示すように、ＲＦ信号のサンプリング中に光ディスク１０の傷や光ディスク１０に付着しているゴミ等にレーザ光が照射された期間があれば、このときのフォーカスバイアスに対するＲＦ信号の振幅の平均値を用いないで算出したフォーカスバイアスとＲＦ信号の振幅との関係（図４（Ｂ））は、ＲＦ信号の振幅の平均値がフォーカスバイアスを下限値から上限値まで一定量ずつ段階的に変化させた全ての段階で得られている場合に算出されるフォーカスバイアスとＲＦ信号の振幅との関係（図４（Ａ））と略同じである。一方、ＲＦ信号のサンプリング中に光ディスク１０の傷や光ディスク１０に付着しているゴミ等にレーザ光が照射された期間があっても、このときに取得したフォーカスバイアスに対するＲＦ信号の振幅の平均値を用いて算出したフォーカスバイアスとＲＦ信号の振幅との関係（図４（Ｃ））は、ＲＦ信号の振幅の平均値がフォーカスバイアスを下限値から上限値まで一定量ずつ段階的に変化させた全ての段階で得られている場合に算出されるフォーカスバイアスとＲＦ信号の振幅との関係（図４（Ａ））と大きく異なる。
フォーカス調整部６は、ｓ１１で算出したフォーカスバイアスとＲＦ信号の振幅との関係から、ＲＦ信号の振幅が最大になるフォーカスバイアスの大きさを検出し、これをフォーカス制御部３に入力するフォーカスバイアスに設定し（ｓ１２）、本処理を終了する。
このように、この実施形態の光ディスク装置１は、ＲＦ信号のサンプリング中に光ディスク１０の傷や光ディスク１０に付着しているゴミ等にレーザ光が照射された期間があれば、このときのフォーカスバイアスに対するＲＦ信号の振幅の平均値を用いないでフォーカスバイアスを調整するので、光ディスク１０の傷や光１０に付着しているゴミ等によるフォーカスバイアスの調整精度の低下を防止でき、光ディスク１０から適正にデータを読み取ることができる。
次に、この発明の別の実施形態について説明する。この実施形態の光ディスク装置１も上記実施形態の装置と同様に図１に示す構成である。異なる点は、以下に示すフォーカスバイアス調整処理である。
図５は、この別の実施形態にかかる光ディスク装置におけるフォーカスバイアス調整処理を示すフローチャートである。このフォーカスバイアス調整処理は、上記実施形態の装置と同様に、本体にセットされている光ディスク１０に対するフォーカス制御、およびトラッキング制御が開始された直後に行われる。この時点では、光ディスク１０からのデータの読み取りは開始されていない。フォーカスバイアス調整部６は、フォーカス制御部３に入力するフォーカスバイアスを、予め定められている下限値に設定する（ｓ２１）。これにより、フォーカス制御部３からアクチュエータに入力される信号に重畳されているフォーカスバイアスがこの下限値になる。フォーカス調整部６は、ＲＦ信号のサンプリングを開始し（ｓ２２）、サンプリング時間が経過するまで、閾値レベル検出部７から入力されている検出信号がローで維持されるかどうかを監視する（ｓ２３、ｓ２４）。
フォーカスバイアス調整部６は、閾値レベル検出部７から入力されている検出信号がハイになると、ＲＦ信号のサンプリングを一時停止し（ｓ２５）、この検出信号がローに戻るのを待つ（ｓ２６）。フォーカスバイアス調整部６は、ｓ２６で入力されている検出信号がローに戻ったことを検出すると、ＲＦ信号のサンプリングのやり直しを開始し（ｓ２７）、ｓ２３に戻る。
フォーカス調整部６は、ＲＦ信号のサンプリングを開始してから、サンプリング時間が経過するまで、閾値レベル検出部７から入力されている検出信号がローで維持されると、今回のフォーカスバイアスの大きさと、今回サンプリングしたＲＦ信号の振幅の平均値と、を対応づけて記憶する（ｓ２８）。フォーカスバイアス調整部６は、ｓ２８にかかる処理を完了すると、この時点でフォーカス制御部３に入力しているフォーカスバイアスが予め定められた上限値であるかどうかを判定し（ｓ２９）、上限値でなければ、フォーカス制御部３に入力しているフォーカスバイアスを一定量、例えば１０ｍＶ、増加し（ｓ３０）、ｓ２２に戻り、上記処理を繰り返す。フォーカス調整部６は、上記ｓ２２〜ｓ３０の処理を繰り返すことにより、フォーカス制御部３に入力しているフォーカスバイアスを下限値から上限値まで、一定量ずつ段階的に変化させ、各段階でサンプリングしたＲＦ信号の振幅の平均値を取得する。また、ＲＦ信号のサンプリング中に閾値レベル検出部７から入力されている検出信号がハイになった期間があった段階については、上述したようにＲＦ信号のサンプリングをやり直しているので、ＲＦ信号の振幅の平均値がフォーカスバイアスを下限値から上限値まで一定量ずつ段階的に変化させた全ての段階で得られている。
フォーカス調整部６は、ｓ２９で上限値であると判定すると、フォーカスバイアスとＲＦ信号の振幅との関係を算出する（ｓ３１）。ｓ３１では、上述したように、フォーカスバイアスを下限値から上限値まで一定量ずつ変化させたときのＲＦ信号の振幅の変化の２次近似を算出する。フォーカス調整部６は、ｓ３１で算出したフォーカスバイアスとＲＦ信号の振幅との関係から、ＲＦ信号の振幅が最大になるフォーカスバイアスの大きさを検出し、これをフォーカス制御部３に入力するフォーカスバイアスに設定し（ｓ３２）、本処理を終了する。
このように、この実施形態の光ディスク装置１は、ＲＦ信号のサンプリング中に閾値レベル検出部７から入力されている検出信号がハイになった期間があった段階については、ＲＦ信号のサンプリングをやり直すので、ＲＦ信号の振幅の平均値がフォーカスバイアスを下限値から上限値まで一定量ずつ段階的に変化させた全ての段階で得ている。したがって、光ディスク１０の傷や光１０に付着しているゴミ等によるフォーカスバイアスの調整精度の低下を防止でき、光ディスク１０から適正にデータを読み取ることができる。また、ＲＦ信号のサンプリング中に閾値レベル検出部７から入力されている検出信号がハイになった場合に、フォーカスバイアスの調整にかかる処理を最初からやり直すのではなく、そのときのフォーカスバイアスの大きさについてＲＦ信号のサンプリングをやり直す構成としているので、フォーカスバイアスの調整にかかる時間の増加も抑えられる。
１−光ディスク装置
２−ピックアップヘッド
３−フォーカス制御部
４−トラッキング制御部
５−ＲＦアンプ
６−フォーカスバイアス調整部
７−閾値レベル検出部
８−スピンドルモータ
１０−光ディスク
２−ピックアップヘッド
３−フォーカス制御部
４−トラッキング制御部
５−ＲＦアンプ
６−フォーカスバイアス調整部
７−閾値レベル検出部
８−スピンドルモータ
１０−光ディスク
Claims (1)
- 本体にセットされている光ディスクに対物レンズを介してレーザ光を照射し、その反射光を検出することにより、この光ディスクに記録されているデータを読取る読取手段と、
前記レーザ光の合焦位置と前記光ディスクの記録面とのズレ量を示すフォーカスエラー信号に基づいて、前記レーザ光の合焦位置が前記光ディスクの記録面になるように前記対物レンズを前記光ディスクに対して接離する方向に移動するフォーカス制御を行うフォーカス制御手段と、
前記フォーカス制御手段が前記フォーカス制御に用いるフォーカスバイアスを予め定めた下限値と上限値との間で一定量ずつ段階的に変化させながら、前記読取手段が取得するＲＦ信号を各段階でサンプリング時間サンプリングして前記ＲＦ信号の振幅の平均値を各段階毎に取得するフォーカスバイアス調整手段と、を備え、
前記フォーカスバイアス調整手段は、各段階における前記フォーカスバイアスと前記平均値との関係から、前記フォーカスバイアスを、前記ＲＦ信号の振幅が最大になる電圧に調整する手段である光ディスク装置において、
前記ＲＦ信号の振幅が予め定めた閾値レベルよりも小さいか大きいかを検出する検出手段を備え、
前記フォーカスバイアス調整手段は、
前記ＲＦ信号を各段階で前記サンプリング時間サンプリングしているときに、前記ＲＦ信号の振幅が前記閾値レベルよりも小さくなったことを前記検出手段が検出すると、前記サンプリングを停止し、
前記ＲＦ信号の振幅が前記閾値レベルよりも大きくなったことを前記検出手段が検出すると、前記サンプリングをやり直し、前記サンプリングを停止したときのフォーカスバイアスで前記ＲＦ信号を前記サンプリング時間サンプリングする光ディスク装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004164034A JP4161939B2 (ja) | 2004-06-02 | 2004-06-02 | 光ディスク装置 |
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Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004164034A JP4161939B2 (ja) | 2004-06-02 | 2004-06-02 | 光ディスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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