JP3924026B2 - 振動構造物及び振動構造物の固有振動数の制御方法 - Google Patents
振動構造物及び振動構造物の固有振動数の制御方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3924026B2 JP3924026B2 JP27913196A JP27913196A JP3924026B2 JP 3924026 B2 JP3924026 B2 JP 3924026B2 JP 27913196 A JP27913196 A JP 27913196A JP 27913196 A JP27913196 A JP 27913196A JP 3924026 B2 JP3924026 B2 JP 3924026B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- axis
- electrode
- effective stiffness
- inertial body
- stiffness control
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
- G05D19/00—Control of mechanical oscillations, e.g. of amplitude, of frequency, of phase
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/028—Electrodynamic magnetometers
- G01R33/0286—Electrodynamic magnetometers comprising microelectromechanical systems [MEMS]
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B06—GENERATING OR TRANSMITTING MECHANICAL VIBRATIONS IN GENERAL
- B06B—METHODS OR APPARATUS FOR GENERATING OR TRANSMITTING MECHANICAL VIBRATIONS OF INFRASONIC, SONIC, OR ULTRASONIC FREQUENCY, e.g. FOR PERFORMING MECHANICAL WORK IN GENERAL
- B06B1/00—Methods or apparatus for generating mechanical vibrations of infrasonic, sonic, or ultrasonic frequency
- B06B1/02—Methods or apparatus for generating mechanical vibrations of infrasonic, sonic, or ultrasonic frequency making use of electrical energy
- B06B1/0292—Electrostatic transducers, e.g. electret-type
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C19/00—Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
- G01C19/56—Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces
- G01C19/5719—Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces using planar vibrating masses driven in a translation vibration along an axis
- G01C19/5733—Structural details or topology
- G01C19/5755—Structural details or topology the devices having a single sensing mass
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P15/00—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
- G01P15/02—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
- G01P15/08—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
- G01P15/093—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by photoelectric pick-up
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P15/00—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
- G01P15/02—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
- G01P15/08—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
- G01P15/097—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by vibratory elements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P15/00—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
- G01P15/02—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
- G01P15/08—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
- G01P15/125—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by capacitive pick-up
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Gyroscopes (AREA)
- Apparatuses For Generation Of Mechanical Vibrations (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は振動構造物、振動構造物の固有振動数の制御方法及び振動構造物を用いるアクチュエータ、センサ、加速度系及びジャイロスコープと、ジャイロスコープの固有振動数の制御方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、振動構造物は多様な用途に用いられていて、例えば、ジャイロスコープ、加速度系のようなセンサ及びアクチュエータなどに用いられている。振動構造物の適用例のうち、ジャイロスコープは従来ミサイルや船舶、航空機などの航法装置の核心部品として用いられてきた。しかしながら、従来の軍事用または航空機用に用いられるジャイロスコープは、数万個の部品が精密加工及び組立工程により製作されるので精密な性能は得られるが、コスト高になり構造の大型化をもたらすので、一般産業用や民生用の家電製品への適用には不向きである。民生機器に用いられるジャイロスコープは、自動車の加速度及び角速度を検出する航法装置や高倍率のカムコーダの手振れを検出し、これを補正する装置に適用されている。また、医療装備や産業用計測器などにも振動構造物を内蔵するセンサが用いられている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
図14に従来の振動構造物の簡略図と振動構造物の振幅と振動数の関係を示す。振動構造物10は支持端13により支持されたバネ12と慣性体11とを備えている。振動構造物10が多重の自由度を有する場合には、図14(a)に示した振動構造物を多数連結した等価振動系を構成することができる。この振動構造物10は慣性体11の質量mとバネ12のバネ定数kが一定であるので、図14(b)に示すように、振幅に対して一定の固有振動数を有する。従って、振動構造物10を用いたセンサやアクチュエータは、製作後振動構造物の固有振動数が任意に変更できないという問題がある。また、振動構造物10の製作時、固有振動数を調整するために米国特許第4,107,349号に開示されるように銀等の金属体を蒸着させる方法を用いることができるが、これは蒸着工程自体が煩雑であり、その上、振動構造物の製作後、別途の固有振動数制御のための工程が必要となるという短所がある。
【0004】
本発明はこのような問題点を解決するために案出されたものであり、振動構造物の有効剛性を制御することができる有効剛性制御用電極を備える振動構造物及び振動構造物の固有振動数を制御する方法を提供することを目的とする。また、本発明は、有効剛性制御用電極を有する振動構造物を備えるアクチュエータ及びセンサ装置を提供することを目的とする。また、本発明は、振動構造物の有効剛性を制御することができる剛性制御用電極を備える加速度系及びジャイロスコープとジャイロスコープの固有振動数を制御する方法を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明の振動構造物は、第1の支持端に支持される少なくとも一つまたは少なくとも二つの弾性部材と、この弾性部材の弾性力により振動する慣性体と、この慣性体に結合された移動電極と、第2の支持端に支持される少なくとも一つの有効剛性制御用電極と、移動電極と有効剛性制御用電極との間に電気が発生するように電圧を印加する電源供給装置とを備える。
【0006】
ここで、慣性体は移動電極に一体形成することができる。また、弾性部材を回転剛性を有する回転バネとし、慣性体が回転するように構成してもよい。また、二つの有効剛性制御用電極を慣性体の上下に対向配置するように構成して、この慣性体の固有振動数を制御してもよい。
【0008】
本発明の固有振動数の制御方法は、第1の支持端に支持される少なくとも一つの弾性部材と、この弾性部材の弾性力により振動する慣性体と、この慣性体に結合された移動電極と、第2の支持端に支持される少なくとも一つまたは少なくとも二つの有効剛性制御用電極と、移動電極と有効剛性制御用電極との間に電気が発生するように電圧を印加する電源供給装置とを備える振動構造物の固有振動数の制御方法であって、移動電極と有効剛性制御用電極との間に印加される電圧を調整することにより振動構造物の有効剛性を制御する。
ここで、慣性体は移動電極に一体形成することができる。また、弾性部材を回転剛性を有する回転バネとし、慣性体が回転するように構成してもよい。また、二つの有効剛性制御用電極を慣性体の上下に対向配置するように構成してもよい。
【0009】
また、本発明のアクチュエータ装置は、第1の支持端に支持される少なくとも一つの弾性部材と、この弾性部材の弾性力により振動する慣性体と、この慣性体に結合された移動電極と、第2の支持端に支持される少なくとも一つまたは少なくとも二つの有効剛性制御用電極と、移動電極と有効剛性制御用電極との間に電気が発生するように電圧を印加する電源供給装置とを有する振動構造物を少なくとも一つ備え、電圧を調整することにより振動構造物の有効剛性と固有振動数を制御する。ここで、慣性体を移動電極に一体形成してもよい。また、弾性部材を回転剛性をする回転バネとし、慣性体が回転するように構成してもよい。また、二つの有効剛性制御用電極を慣性体の上下に対向配置するように構成してもよい。
【0010】
また、本発明のジャイロスコープは、第1軸と第2軸よりなる平面を有する基板と、この基板により支持される支持部と、この支持部により支持されて第1軸と第2軸の方向に延びる弾性部と、この弾性部により第1軸と第3軸の方向に振動する慣性部と、この慣性部に一体形成されたフィンガ形状の電極と、慣性部に第1軸の方向の電気を加えるようにフィンガ形状の電極と噛み合うフィンガを備える駆動部と、慣性部の第1軸と第3軸の方向の振動を検知する検知手段と、慣性部の第3軸の方向の固有振動数を制御するように慣性部に対向配置される有効剛性制御用電極と、有効剛性制御用電極と慣性部のフィンガ形状の電極に電圧を印加する電源供給装置とを備える。ここで、有効剛性制御用電極は第3軸の方向の振動を検知する検知手段と相互に入替可能であるように構成することができる。
【0011】
また、本発明のジャイロスコープの固有振動数の制御方法は、第1軸と第2軸よりなる平面を備える基板と、この基板により支持される支持部と、この支持部により支持されて第1軸と第2軸の方向に延びる弾性部と、この弾性部により第1軸と第3軸方向に振動する慣性部と、この慣性部に一体形成されたフィンガ形状の電極と、慣性部の第1軸の方向に電気力を加えるようにフィンガ形状の電極と噛み合うフィンガを備える駆動部と、慣性部の第1軸と第3軸の方向の振動を検知する検知手段と、慣性部のフィンガに対向配置される有効剛性制御用電極と、有効剛性制御用電極と慣性部のフィンガ形状の電極に電圧を印加する電源供給装置とを備えるジャイロスコープの固有振動数の制御方法であって、有効剛性制御用電極と慣性部のフィンガ形状の電極に印加される電圧を調整することにより慣性部の第3軸の方向の固有振動数を制御する。ここで、有効剛性制御用電極は第3軸の方向の振動を検知する検知手段と相互に入替可能であるように構成することができる。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、添付した図面に基づき本発明の実施の形態を詳細に説明する。
図1は本発明に係る有効剛性制御用電極を備える振動構造物を示す。図1に示すように、この振動構造物は、第1の支持端23により支持されたバネ22と、一体に形成されてバネ22の弾性力により上下動する上部電極(移動電極)または慣性体21と、この慣性体21に対向して第2の支持板23′に配置された下部電極または有効剛性制御用電極24と、慣性体21と有効剛性制御用電極24との間に電圧を印加する電源供給装置25とを備える。参照記号mは慣性体21の質量を、参照記号kはバネ22の剛性またはバネ定数を示す。
【0013】
このような構成の振動構造物において、慣性体21には慣性体の変位に応じてバネ22に加わる弾性力と、電圧の印加による静電力とが加わる。電圧が印加されていない初期状態における慣性体21と有効剛性制御用電極24との間隔をh0 とするとき、振動構造物の固有振動数fn は次の式(1)のように表される。
fn =1/(2π)×k/m …(1)
【0014】
図2は振動構造物に電圧を印加したとき、慣性体21に加わる弾性力と電気力の変位を示すグラフである。図2(a)において、参照番号26は弾性力の曲線であり、参照番号27は相対的に低い電圧における電気力の曲線であり、参照番号28は相対的に高い電圧における電気力の曲線である。弾性力の曲線26は電気力の曲線27,28と二つの点P1,P2で交差するが、交点で慣性体21は安定した平衡状態を保ち、他の二つの交点P3,P4では相対的に不安定な平衡状態になる。
【0015】
図2(b)は図2(a)の交点P1の周辺を拡大して示したものである。図2(b)において、交点P1における慣性体21の変位はz0 であり、これは次のように求められる。交点P1では電気力とバネによる弾性力が同一なので、これを数式で表すと、
F=kz0 =(1/2)(δC/δz)V2 なので、
z0 ={(1/(2k)}(δC/δz)V2 となる。
ここで、(δC/δz)= εA/(h0 −z0 )2 であり、Cは静電容量を、Aは電極の面積を、εは電極板間の誘電率を、h0 は電圧を印加しないときの電極板間の距離を示す。
【0016】
図2(b)において、平衡位置z0 から小さい変位のz1 があれば、慣性体21に加わる復元力Fr は次のように表すことができる。
Fr =k(z0 +z1 )−(1/2){εA/(h0 −z0 )2 }V2
この式において、慣性体21の平衡時、慣性体21と有効剛性制御用電極24 との距離をh1 とすると、h1 =h0 −z0 であり、これをz1 /h1 <<1と仮定して線形化された式で再び表現すると、
Fr = k(z0 +z1 )− (1/2){εA/(h1 )2 }V2 (1+2z1/h1)
となる。
【0017】
ところで、
kz0 =(1/2)(δC/δz)V2 のとき、復元力Fr は次のようになる。
【0018】
【数1】
この式によると、電圧Vが印加された状態で慣性体21が平衡点P1から変位z1 に微小に変形するとき、復元力はバネ定数k、誘電率ε、電極の面積A及び平衡点における慣性体21と有効剛性制御用電極24との距離h1 により決定される。従って、上記の式から有効剛性を次のように表すことができる。
keff =k−V2 {εA/(h1 )3 }
【0019】
図2(b)を再び参照すると、有効剛性は弾性力の曲線26の傾斜(即ち、バネ定数)から電気力の曲線27の傾斜を引いたものである。したがって、有効剛性は平衡点における弾性力曲線の傾斜と電気力の曲線の傾斜との差により定義される。図2(a)を参照すると、電圧Vを増加させるとき、電気力の曲線が符号27から符号28に移ることが判る。したがって、弾性力の曲線と電気力の曲線との傾斜の差、即ち、有効剛性が小さくなることを観察することができる。これにより、図1に示した振動構造物は質量mと等化バネ定数keff を有する等化振動構造物と解析することができ、その固有振動数は次のように表すことができる。
【0020】
【数2】
この式から判るように、図1に示した振動構造物では電圧Vの増加と共に固有振動数が変化する。電圧が印加されない状態では図14に示した振動構造物と同一の固有振動数を有し、電圧が印加されると固有振動数が減る。実際にポリシリコンで製作された振動構造物を備えるセンサの場合、約1Vの電圧でバネの有効剛性を制御することができる。したがって、振動構造物の固有振動数は有効剛性制御用電極に印加される電圧を調整することにより制御することができる。
【0021】
図3は図1に示した振動構造物バネ22の剛性又はバネ定数kを有効剛性keff に置き換えたときの等化振動構造物を示し、図4のグラフは電圧印加前の固有振動数fn が電圧印加時はfn(v)に減ることを示す。
【0022】
図5は本発明の有効剛性制御用電極を備える振動構造物の第2の実施の形態を示す。図5に示すように振動構造物30は、複数の支持端33に複数のバネ32が支持されており、慣性体または中間電極(移動電極)31がバネ32に支持されている。中間電極31の上部及び下部にはそれぞれ上部電極34及び下部電極35が配置されており、上部及び下部電極34,35は有効剛性の制御を行う。各々の電極には電圧を印加する電源供給装置36が備えられる。
【0023】
この場合、中間電極31に加わる電気力は上下方に同一なので中央位置で平衡を保つ。平衡位置における有効剛性は、バネ32のバネ定数をk、上部及び下部電極34,35の面積をA、上部及び下部電極34,35と中間電極31との距離をh1 、上部及び下部電極34,35と中間電極31との印加電圧をVとするとき、
keff =k−V2 {εA/(h1 )3 }
と表すことができ、有効剛性を調節することにより、図5に示した振動構造物の固有振動数も調節できる。
【0024】
図6は本発明の有効剛性制御用電極を備える振動構造物の第3の実施の形態を示す。図6に示すように、振動構造物40は、複数の支持端43により支持された複数のバネ42を備え、慣性体(移動電極)41はフィンガ型電極44を備えて形成される。剛性制御用電極45もフィンガ型に形成されており、支持端43に固定されている。剛性制御用電極45のフィンガ46は慣性体41のフィンガと一定の間隙を介して相互に噛み合っている。そして、電源供給装置48は各々の電極41,45に電圧を印加する。このような構成を有する振動構造物も電極41,45に印加される電圧を調節することにより、Z方向の変位に対する固有振動数を制御することができる。
【0025】
図7は本発明の振動構造物の第4の実施の形態を示す。この実施の形態では、慣性体が回転する場合の振動構造物を説明する。図7に示す振動構造物50では、慣性体(移動電極)51はバネ52により第1の支持端53に支持された状態で回転し、バネ52は回転剛性を有する。第2の支持端53’に固定された有効剛性制御用電極54は、慣性体51から所定の距離を隔てる状態で下部に配置される。電源供給装置55により慣性体51と有効剛性制御用電極54に電圧が印加される。この場合、印加電圧による回転有効剛性は慣性体51の微小な回転により一定値を有する。したがって、印加電圧を調節することにより回転運動に対する固有振動数を制御することができる。
【0026】
図8は第1乃至第4の実施の形態で述べた有効剛性制御用電極を備える加速度系の概略図である。図8に示すように、加速度系60は支持端63にバネ62により支持された慣性体(移動電極)61と、加速度が加えられるとき、慣性体61の振動を検知する検知手段66とを備える。検知手段66は静電量の変化を測定する静電容量型やレーザを用いることができる。このような加速度系60の固有振動数を制御するために、支持端63により支持され慣性体61に配向配置された有効剛性制御用電極64と、この有効剛性制御用電極64と慣性体61に電圧を供給する電源供給装置65が備えられる。
【0027】
この構成を有する加速度系60では、前述したように有効剛性制御用電極64に電圧を印加するとき平衡位置の有効剛性が一定するので、印加電圧を変更して固有振動数を制御することができる。慣性体61の質量をm、有効剛性をkeff とするとき、入力加速度aに対する慣性体61の変位zは、z=ma/keff で表すことができ、これは有効剛性を変化すると慣性体の変位応答も制御することが可能であることが判る。すなわち、加速度の入力に対する加速度出力の信号の大きさが調節でき、加速度系の性能を有効剛性制御用電極に印加される電圧を調節することにより変更することができる。
【0028】
図9は加振手段を備える共振型加速度系の構成図である。図9に示すように、共振型加速度系70は、支持端73にバネ72により支持された慣性体(移動電極)71と、慣性体71を加振させる加振装置77と、慣性体71の振動を検知する検知装置76とを備える。検知装置76から検出された慣性体71の信号は、加振装置77が慣性体71を共振するように、フィードバック部79を経て加振部78にフィードバックされる。そして、共振型加速度系70は有効剛性制御用電極74と電源供給装置75とを備えている。
【0029】
慣性体71と有効剛性制御用電極74に電圧が印加された状態で慣性体71が加振されるとき、慣性体71に加わる弾性力及び電気力は、図10(b)の符号81及び82の曲線で表される。この際、加速度が入力されない場合は弾性力の曲線81と電気力の曲線82の交点であるP5が平衡位置になり、有効剛性による振動構造物の固有振動数にて慣性体71が共振する。
【0030】
図10(a)に示すような加速度aが共振型加速度系に入力されると、電極の平衡点は初期位置P5からδほど移動して地点P6及びP7にて平衡をなす。この際の変位は、δ=(ma/keff )である。
【0031】
このように共振型加速度系では,加速度が入力されたときの有効剛性は、加速度が入力されないときの有効剛性と異なる。加速度aが入力されたときの有効剛性はδほど移動した地点における弾性力の曲線81と電気力の曲線82との傾斜の差で表されるので、これにより加速度が入力されるときの有効剛性が加速度が入力されないときの有効剛性より減ることが判る。したがって、加速度が入力されると、固有振動数は減少する。すなわち、正の加速度に対しては固有振動数が減少し、負の加速度に対しては固有振動数が増加する。入力加速度に対する固有振動数の増減は電源供給装置75から供給される電圧により調整可能である。
【0032】
図10(c)は加速度aの入力時に出力される振動信号のグラフであり、加速度の入力により固有振動数が減少することを示す。このように周波数変調された信号が共振型加速度系を通して得られるので、図9に示した復調部80を通して加速度信号が得られる。
【0033】
図11は有効剛性制御用電極を備えるジャイロスコープの振動構造物の概略図である。ジャイロスコープの原理は、第1軸方向に一定に振動したり回転する慣性体が第1軸方向に対して直角である第2軸方向から回転角速度が入力されると、第1及び第2の二つの軸に対して直交する第3軸方向に発生するコリオリの力を検出することにより、回転角速度を算出することである。図1、図3、図5乃至図9、図14に示した振動構造物は、1軸構造物または回転振動構造物であるが、ジャイロスコープはシリコンウェハの基板101の上部に配置された2軸振動構造物を備える。振動構造物には、導電性の材料であればいずれも用いることができる。図11に示すように、振動構造物100は他の部分より些かに厚く形成された支持部102によりシリコン基板101上に支持されており、支持部102を除く部分は薄く形成されて、基板101からZ軸方向に所定の距離に離隔されている。振動構造物100は、バネ103,104と慣性体105とが備えられている。振動構造物100の両側面には構造物をX方向に振動させる駆動部109が配置されている。駆動部109も導電性材料で形成され、一種の電極の役割を果たす。駆動部109に電流が印加されると駆動部109のフィンガ110に静電気力が発生して、構造物のフィンガ106に振動運動を引き起こす。振動構造物100の下部にはZ方向の変位が検知できる検知用電極(図示せず)が配置される。構造物のZ方向への変位は検知用電極に発生するキャパシタンスの変化から測定される。フィンガ106,107は慣性体105をX軸方向に駆動させたり、慣性体105のX軸方向の運動を感知する。
【0034】
このような振動構造物100を備えるジャイロスコープでY軸方向に入力される回転慣性体の角速度を求めるには、フィンガ110の静電力により振動構造物100がX軸方向に振動しながら、振動構造物100の中心部に位置した中心センサ電極108からX方向の振動数を測定し、振動構造物100の下部に配置された表面センサ電極(図示せず)からZ方向の振動数を測定してデータを処理する。
【0035】
前述したようにジャイロスコープは、シリコン基板101上に固定された支持部102に多数のバネ103,104が連結されて慣性体105をX方向及びZ方向に振動させる。従って、ジャイロスコープは図13の符号121,122のように2軸に対する固有振動数(fx ,fz )を有する。この際、ジャイロスコープの性能を確保するため、構造物の2軸振動に対する固有振動数が所定の誤差範囲内にあるべきである。しかしながら、従来の技術による半導体製造工程を用いて振動構造物100を製作すると、エッチング工程や化学的蒸気蒸着などの製造工程で0.1〜1μmの加工誤差が生ずる。このような製造工程の誤差により振動構造物のバネ定数と慣性体105の質量が設計値から大きくはずれて実際に2軸方向の固有振動数が所望の値とは異なる。したがって、ジャイロスコープの性能が劣化せざるを得ない問題があり、従来はこの問題点を解決するためバネや慣性体をエッチングや蒸着する方法を用いていた。
【0036】
本発明によると、図11に示したようにジャイロスコープの2軸方向の固有振動数は、有効剛性制御用電極を用いることにより制御することができる。Z軸方向の固有振動数fz を調節するためには、Z軸方向に有効剛性制御用電極を配置し、振動する慣性体と有効剛性制御用電極との間に電圧を印加する。そして、電圧の大きさを調節することにより固有振動数を増減させることができるので、Z軸方向の固有振動数がジャイロスコープの設計上の誤差許容範囲内に至るまで電圧を変化させる。これはX軸方向の固有振動数fx を制御する場合と同様である。
【0037】
図12は前述したような有効剛性制御用電極の適用例を示す。Z軸方向の固有振動数を制御するため、図11に示した慣性体105と基板101との間に有効剛性制御用電極111が設けられ、電源供給装置112により慣性体105と電極に電圧を印加する。有効剛性制御用電極111は別途に設けられるが、前述したようにZ軸方向の振動を検知する検知用電極に取り替えることができる。
【0038】
【発明の効果】
本発明による有効剛性制御用電極を用いた振動構造物は、簡単な構造のみで効果的に固有振動数が制御できるので、この振動構造物を備えたセンサ、加速度系、アクチュエータまたはジャイロスコープのような各種製品の性能制御及び向上に非常に有利である。特に、ジャイロスコープのような2軸の振動構造物でも製品の性能に多大な影響を及ぼす一軸方向に対する固有振動数の制御を容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る振動構造物の第1の実施の形態を示す構成図である。
【図2】図1の振動構造物の特性を示すグラフである。
【図3】図1の振動構造物の等価振動構造物を示す構成図である。
【図4】図1の振動構造物の振幅と振動数を示すグラフである。
【図5】本発明に係る振動構造物の第2の実施の形態を示す構成図である。
【図6】本発明に係る振動構造物の第3の実施の形態を示す構成図である。
【図7】本発明に係る振動構造物の第4の実施の形態を示す構成図である。
【図8】本発明に係る加速度系の実施の形態を示す構成図である。
【図9】本発明に係る加速度系の他の実施の形態を示す構成図である。
【図10】図9の加速度系に加わる加速度と弾性力及び電気力と、加速度に対する振動信号を示すグラフである。
【図11】本発明に係るジャイロスコープの振動構造物を示す構成図である。
【図12】ジャイロスコープに設けられる有効剛性制御用電極を示す構成図である。
【図13】ジャイロスコープに備えられる2軸振動構造物の各軸に対する振動を示すグラフである。
【図14】従来の振動構造体とその特性を示す図である。
【符号の説明】
30,40,50,100…振動構造物
22,32,42,52,62,72,103,104…バネ
21,41,51,61,71,105…慣性体
24,45,54,64,74,111…有効剛性制御用電極
25,36,48,55,65,75…電源供給装置
Claims (5)
- 第1の支持端に支持される少なくとも一つの弾性部材と、前記弾性部材の弾性力により振動する慣性体と、前記慣性体に結合された移動電極と、第2の支持端に支持される少なくとも二つの有効剛性制御用電極と、前記移動電極と前記有効剛性制御用電極との間に電気が発生するように電圧を印加する電源供給装置と、を備え、
前記有効剛性制御用電極は前記慣性体の上下に対向配置され、
前記慣性体は中間移動電極であり、
前記電源供給装置が前記移動電極と前記有効剛性制御用電極との間の電圧を調整することにより前記慣性体の固有振動数を制御することを特徴とする振動構造物。 - 第1の支持端に支持される少なくとも一つの弾性部材と、前記弾性部材の弾性力により振動する慣性体と、前記慣性体に結合された移動電極と、第2の支持端に支持される少なくとも二つの有効剛性制御用電極と、前記移動電極と前記有効剛性制御用電極との間に電気が発生するように電圧を印加する電源供給装置とを備えた振動構造物の固有振動数の制御方法であって、
前記移動電極と前記有効剛性制御用電極との間に印加される電圧を調整することにより前記振動構造物の有効剛性を制御し、
前記有効剛性制御用電極は前記慣性体の上下に対向配置され、
前記慣性体は中間移動電極であることを特徴とする振動構造物の固有振動数の制御方法。 - 第1の支持端に支持される少なくとも一つの弾性部材と、前記弾性部材の弾性力により振動する慣性体と、前記慣性体に結合された移動電極と、第2の支持端に支持される少なくとも二つの有効剛性制御用電極と、前記移動電極と前記有効剛性制御用電極との間に電気が発生するように電圧を印加する電源供給装置とを有する振動構造物を少なくとも一つ備え、
前記電圧を調整することにより前記振動構造物の有効剛性と固有振動数を制御し、前記有効剛性制御用電極は前記慣性体の上下に対向配置され、
前記慣性体は中間移動電極であることを特徴とするアクチュエ−タ装置。 - 第1軸と第2軸よりなる平面を有する基板と、前記基板により支持される支持部と、前記支持部により支持されて前記第1軸と前記第2軸の方向に延びる弾性部と、前記弾性部により前記第1軸と第3軸の方向に振動する慣性部と、前記慣性部に一体形成されたフィンガ形状の電極と、前記慣性部に前記第1軸の方向の電気を加えるように前記フィンガ形状の電極と噛み合うフィンガを備える駆動部と、前記慣性部の前記第1軸と前記第3軸の方向の振動を検知する検知手段と、前記慣性部の第3軸の方向の固有振動数を制御するように前記慣性部に対向配置される有効剛性制御用電極と、前記有効剛性制御用電極と前記フィンガ形状の電極に電圧を印加する電源供給装置とを備え、
前記有効剛性制御用電極は前記第3軸の方向の振動を検知する検知手段と相互に入替可能であることを特徴とするジャイロスコープ。 - 第1軸と第2軸よりなる平面を備える基板と、前記基板により支持される支持部と、前記支持部により支持されて前記第1軸と前記第2軸の方向に延びる弾性部と、前記弾性部により前記第1軸と第3軸方向に振動する慣性部と、前記慣性部に一体形成されたフィンガ形状の電極と、前記慣性部の前記第1軸の方向に電気力を加えるように前記フィンガ形状の電極と噛み合うフィンガを備える駆動部と、前記慣性部の前記第1軸と前記第3軸の方向の振動を検知する検知手段と、前記慣性部のフィンガに対向配置される有効剛性制御用電極と、前記有効剛性制御用電極と前記フィンガ形状の電極に電圧を印加する電源供給装置とを備えたジャイロスコープの固有振動数の制御方法であって、
前記有効剛性制御用電極と前記フィンガ形状の電極に印加される電圧を調整することにより前記慣性部の前記第3軸の方向の固有振動数を制御し、
前記有効剛性制御用電極は前記第3軸の方向の振動を検知する検知手段と相互に入替可能であることを特徴とするジャイロスコープの固有振動数の制御方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950037626A KR100363246B1 (ko) | 1995-10-27 | 1995-10-27 | 진동구조물및진동구조물의고유진동수제어방법 |
KR95-37626 | 1995-10-27 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09178493A JPH09178493A (ja) | 1997-07-11 |
JP3924026B2 true JP3924026B2 (ja) | 2007-06-06 |
Family
ID=19431611
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27913196A Expired - Fee Related JP3924026B2 (ja) | 1995-10-27 | 1996-10-22 | 振動構造物及び振動構造物の固有振動数の制御方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5780740A (ja) |
JP (1) | JP3924026B2 (ja) |
KR (1) | KR100363246B1 (ja) |
DE (1) | DE19642893B4 (ja) |
Families Citing this family (59)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3702412B2 (ja) * | 1996-07-29 | 2005-10-05 | アイシン精機株式会社 | 角速度検出装置 |
DE19643342A1 (de) * | 1996-10-21 | 1998-04-30 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren und Vorrichtung zum Messen einer physikalischen Größe |
JP3123503B2 (ja) | 1998-03-16 | 2001-01-15 | 株式会社村田製作所 | 角速度センサ |
US6230563B1 (en) | 1998-06-09 | 2001-05-15 | Integrated Micro Instruments, Inc. | Dual-mass vibratory rate gyroscope with suppressed translational acceleration response and quadrature-error correction capability |
US5920012A (en) * | 1998-06-16 | 1999-07-06 | Boeing North American | Micromechanical inertial sensor |
JP3489487B2 (ja) | 1998-10-23 | 2004-01-19 | トヨタ自動車株式会社 | 角速度検出装置 |
SG77677A1 (en) * | 1999-04-30 | 2001-01-16 | Inst Of Microelectronics | A novel structural design for improving the sensitivity of a surface-micromachined vibratory gyroscope |
JP2001174264A (ja) * | 1999-12-21 | 2001-06-29 | Murata Mfg Co Ltd | 共振素子およびその振動調整方法 |
KR100373484B1 (ko) * | 2000-01-27 | 2003-02-25 | 국방과학연구소 | 진동형 마이크로자이로스코프 |
US6746005B1 (en) | 2001-10-04 | 2004-06-08 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Constant natural frequency passive-active mount |
US7543966B2 (en) * | 2001-11-14 | 2009-06-09 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Illumination system for illuminating a scan region on an object |
US6792381B2 (en) * | 2002-05-06 | 2004-09-14 | Avaya Technology Corp. | Apparatus and method for locating devices using an acoustic gyroscope |
DE60311281T2 (de) * | 2002-07-19 | 2007-11-15 | Analog Devices Inc., Norwood | Verringerung des offsets eines beschleunigungsaufnehmers |
JP3861813B2 (ja) * | 2003-01-14 | 2006-12-27 | 株式会社デンソー | 静電振動型デバイス |
US6966224B2 (en) * | 2003-03-06 | 2005-11-22 | Bei Technologies, Inc. | Micromachined vibratory gyroscope with electrostatic coupling |
DE10320725A1 (de) * | 2003-05-08 | 2004-11-25 | Robert Bosch Gmbh | Mikromechanischer Bewegungssensor |
US6843127B1 (en) * | 2003-07-30 | 2005-01-18 | Motorola, Inc. | Flexible vibratory micro-electromechanical device |
US6939473B2 (en) * | 2003-10-20 | 2005-09-06 | Invensense Inc. | Method of making an X-Y axis dual-mass tuning fork gyroscope with vertically integrated electronics and wafer-scale hermetic packaging |
US7458263B2 (en) | 2003-10-20 | 2008-12-02 | Invensense Inc. | Method of making an X-Y axis dual-mass tuning fork gyroscope with vertically integrated electronics and wafer-scale hermetic packaging |
US7043985B2 (en) * | 2004-01-13 | 2006-05-16 | Georgia Tech Research Corporation | High-resolution in-plane tuning fork gyroscope and methods of fabrication |
EP1626283B1 (en) * | 2004-08-13 | 2011-03-23 | STMicroelectronics Srl | Micro-electromechanical structure, in particular accelerometer, with improved insensitivity to thermomechanical stresses |
EP1779121A1 (en) * | 2004-08-17 | 2007-05-02 | Analog Devices, Inc. | Multiple axis acceleration sensor |
US7442570B2 (en) | 2005-03-18 | 2008-10-28 | Invensence Inc. | Method of fabrication of a AL/GE bonding in a wafer packaging environment and a product produced therefrom |
US7621183B2 (en) | 2005-11-18 | 2009-11-24 | Invensense Inc. | X-Y axis dual-mass tuning fork gyroscope with vertically integrated electronics and wafer-scale hermetic packaging |
CN101000360B (zh) * | 2006-01-13 | 2012-05-16 | 台达电子工业股份有限公司 | 加速度计 |
CN100425993C (zh) * | 2006-01-25 | 2008-10-15 | 哈尔滨工业大学 | 框架结构差分电容式加速度传感器 |
US7757555B2 (en) * | 2006-08-30 | 2010-07-20 | Robert Bosch Gmbh | Tri-axis accelerometer having a single proof mass and fully differential output signals |
US8952832B2 (en) | 2008-01-18 | 2015-02-10 | Invensense, Inc. | Interfacing application programs and motion sensors of a device |
US8020441B2 (en) * | 2008-02-05 | 2011-09-20 | Invensense, Inc. | Dual mode sensing for vibratory gyroscope |
US7934423B2 (en) * | 2007-12-10 | 2011-05-03 | Invensense, Inc. | Vertically integrated 3-axis MEMS angular accelerometer with integrated electronics |
US20100071467A1 (en) * | 2008-09-24 | 2010-03-25 | Invensense | Integrated multiaxis motion sensor |
US8508039B1 (en) | 2008-05-08 | 2013-08-13 | Invensense, Inc. | Wafer scale chip scale packaging of vertically integrated MEMS sensors with electronics |
US20090262074A1 (en) * | 2007-01-05 | 2009-10-22 | Invensense Inc. | Controlling and accessing content using motion processing on mobile devices |
US8462109B2 (en) * | 2007-01-05 | 2013-06-11 | Invensense, Inc. | Controlling and accessing content using motion processing on mobile devices |
US8141424B2 (en) * | 2008-09-12 | 2012-03-27 | Invensense, Inc. | Low inertia frame for detecting coriolis acceleration |
US8047075B2 (en) | 2007-06-21 | 2011-11-01 | Invensense, Inc. | Vertically integrated 3-axis MEMS accelerometer with electronics |
US8250921B2 (en) | 2007-07-06 | 2012-08-28 | Invensense, Inc. | Integrated motion processing unit (MPU) with MEMS inertial sensing and embedded digital electronics |
US7796872B2 (en) * | 2007-01-05 | 2010-09-14 | Invensense, Inc. | Method and apparatus for producing a sharp image from a handheld device containing a gyroscope |
US8061201B2 (en) * | 2007-07-13 | 2011-11-22 | Georgia Tech Research Corporation | Readout method and electronic bandwidth control for a silicon in-plane tuning fork gyroscope |
CN101458262B (zh) * | 2008-07-08 | 2010-12-01 | 哈尔滨工业大学 | 六梁结构加速度传感器及其制备方法 |
JP5206709B2 (ja) * | 2009-03-18 | 2013-06-12 | 株式会社豊田中央研究所 | 可動体を備えている装置 |
WO2011026100A1 (en) | 2009-08-31 | 2011-03-03 | Georgia Tech Research Corporation | Bulk acoustic wave gyroscope with spoked structure |
US9097524B2 (en) | 2009-09-11 | 2015-08-04 | Invensense, Inc. | MEMS device with improved spring system |
US8534127B2 (en) | 2009-09-11 | 2013-09-17 | Invensense, Inc. | Extension-mode angular velocity sensor |
JP4905574B2 (ja) * | 2010-03-25 | 2012-03-28 | 株式会社豊田中央研究所 | 可動部分を備えている積層構造体 |
US8567246B2 (en) | 2010-10-12 | 2013-10-29 | Invensense, Inc. | Integrated MEMS device and method of use |
US8947081B2 (en) | 2011-01-11 | 2015-02-03 | Invensense, Inc. | Micromachined resonant magnetic field sensors |
US8860409B2 (en) | 2011-01-11 | 2014-10-14 | Invensense, Inc. | Micromachined resonant magnetic field sensors |
US9664750B2 (en) | 2011-01-11 | 2017-05-30 | Invensense, Inc. | In-plane sensing Lorentz force magnetometer |
US9027403B2 (en) | 2012-04-04 | 2015-05-12 | Analog Devices, Inc. | Wide G range accelerometer |
DE102012224081A1 (de) * | 2012-12-20 | 2014-06-26 | Continental Teves Ag & Co. Ohg | Sensor zum Erfassen einer Drehrate eines Objektes |
EP3019881A4 (en) * | 2013-04-14 | 2017-04-19 | Purdue Research Foundation | Performance improvement of mems devices |
DE102015001128B4 (de) * | 2015-01-29 | 2021-09-30 | Northrop Grumman Litef Gmbh | Beschleunigungssensor mit Federkraftkompensation |
EP3257074A1 (en) | 2015-02-11 | 2017-12-20 | InvenSense, Inc. | 3D INTEGRATION USING Al-Ge EUTECTIC BOND INTERCONNECT |
CN105141190B (zh) * | 2015-07-20 | 2017-11-17 | 瑞声光电科技(常州)有限公司 | 振动电机驱动方法 |
JP6880600B2 (ja) | 2016-08-18 | 2021-06-02 | セイコーエプソン株式会社 | 回路装置、物理量検出装置、電子機器及び移動体 |
US10192850B1 (en) | 2016-09-19 | 2019-01-29 | Sitime Corporation | Bonding process with inhibited oxide formation |
US10538427B2 (en) * | 2017-08-21 | 2020-01-21 | Invensense, Inc. | Drive mode and sense mode resonance frequency matching |
EP3636588B1 (en) * | 2018-09-26 | 2023-10-25 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Mems frequency-tuning springs |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE438063C (de) * | 1920-09-02 | 1926-12-04 | Heinrich Schieferstein | Mechanisch hin und her bewegte Systeme |
FR2580389B2 (fr) * | 1985-04-16 | 1989-03-03 | Sfena | Accelerometre micro-usine a rappel electrostatique |
JPH07104217B2 (ja) * | 1988-05-27 | 1995-11-13 | 横河電機株式会社 | 振動式トランスデューサとその製造方法 |
US5361635A (en) * | 1993-04-12 | 1994-11-08 | Alliedsignal Inc. | Multiple servo loop accelerometer with tunnel current sensors |
JP3332460B2 (ja) * | 1993-04-16 | 2002-10-07 | キヤノン株式会社 | 角速度検出方法および振動ジャイロ |
US5563343A (en) * | 1993-05-26 | 1996-10-08 | Cornell Research Foundation, Inc. | Microelectromechanical lateral accelerometer |
US5610335A (en) * | 1993-05-26 | 1997-03-11 | Cornell Research Foundation | Microelectromechanical lateral accelerometer |
JP3230347B2 (ja) * | 1993-07-27 | 2001-11-19 | 株式会社村田製作所 | 角速度センサ |
JP3385688B2 (ja) * | 1993-12-13 | 2003-03-10 | 株式会社デンソー | 半導体ヨーレートセンサおよびその製造方法 |
US5481914A (en) * | 1994-03-28 | 1996-01-09 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Electronics for coriolis force and other sensors |
-
1995
- 1995-10-27 KR KR1019950037626A patent/KR100363246B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1996
- 1996-10-17 DE DE19642893A patent/DE19642893B4/de not_active Expired - Fee Related
- 1996-10-22 JP JP27913196A patent/JP3924026B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1996-10-23 US US08/735,695 patent/US5780740A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100363246B1 (ko) | 2003-02-14 |
JPH09178493A (ja) | 1997-07-11 |
DE19642893B4 (de) | 2006-02-16 |
KR970022627A (ko) | 1997-05-30 |
US5780740A (en) | 1998-07-14 |
DE19642893A1 (de) | 1997-04-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3924026B2 (ja) | 振動構造物及び振動構造物の固有振動数の制御方法 | |
JP3816996B2 (ja) | 振動構造物及び振動構造物を備えるアクチュエータと振動構造物の固有振動数の制御方法 | |
US8096181B2 (en) | Inertial sensor | |
US8689632B2 (en) | Fully decoupled lateral axis gyroscope with thickness-insensitive Z-axis spring and symmetric teeter totter sensing element | |
KR101100021B1 (ko) | Z-축 각속도 센서 | |
JP4368116B2 (ja) | 回転型デカップルドmemsジャイロスコープ | |
JP3770677B2 (ja) | マイクロジャイロスコープ | |
JP5649972B2 (ja) | ヨーレートセンサ | |
JP5615967B2 (ja) | 水平に向けられた駆動電極を有するmemsジャイロスコープ | |
JP3399336B2 (ja) | 検出器 | |
US10809061B2 (en) | Vibratory gyroscope including a plurality of inertial bodies | |
JP2007304099A (ja) | 慣性センサのリフト効果を打ち消すための電極の使用 | |
US9273962B2 (en) | Physical quantity sensor and electronic device | |
JP2006517301A (ja) | 多周波memsデバイスを同時加工するための方法及びシステム | |
WO2010030740A1 (en) | Piezoelectric transducers and intertial sensors using piezoelectric transducers | |
JPH10239347A (ja) | 運動センサ | |
JP3401252B2 (ja) | 角速度センサ | |
JP2005514608A6 (ja) | 回転速度センサ | |
JP2005514608A (ja) | 回転速度センサ | |
JPH08334334A (ja) | チュニングフォーク形ジャイロスコープ | |
US8794047B2 (en) | Method for the precise measuring operation of a micromechanical rotation rate sensor | |
US20130047726A1 (en) | Angular rate sensor with different gap sizes | |
JP3770676B2 (ja) | マイクロジャイロスコープ | |
JP3534251B2 (ja) | 角速度センサ | |
JPH10339640A (ja) | 角速度センサ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060104 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060404 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060510 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060810 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060906 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20061205 |
|
A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20070118 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070207 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070223 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110302 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120302 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130302 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130302 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140302 Year of fee payment: 7 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |