JP3914210B2 - 光学式変位センサおよび外力検出装置 - Google Patents
光学式変位センサおよび外力検出装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3914210B2 JP3914210B2 JP2004049763A JP2004049763A JP3914210B2 JP 3914210 B2 JP3914210 B2 JP 3914210B2 JP 2004049763 A JP2004049763 A JP 2004049763A JP 2004049763 A JP2004049763 A JP 2004049763A JP 3914210 B2 JP3914210 B2 JP 3914210B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical
- displacement
- optical module
- reflecting member
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L5/00—Apparatus for, or methods of, measuring force, work, mechanical power, or torque, specially adapted for specific purposes
- G01L5/16—Apparatus for, or methods of, measuring force, work, mechanical power, or torque, specially adapted for specific purposes for measuring several components of force
- G01L5/166—Apparatus for, or methods of, measuring force, work, mechanical power, or torque, specially adapted for specific purposes for measuring several components of force using photoelectric means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/16—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Force Measurement Appropriate To Specific Purposes (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Description
21a 本体
21b 上部蓋
22 支持部
23 受力部
24 弾性連結部
25 フレーム
1 光モジュール部
2 反射部材
3 光分岐プリズム
4 受発光素子
5 受光素子
6、7 対物レンズ
8 回折格子
10 半透過膜
30 異屈折率部
Claims (5)
- 基準体または検出体のどちらかに設けられた光モジュール部と、前記基準体および前記検出体のうち前記光モジュール部が設けられているのとは別のほうに設けられた反射部材とを有し、前記光モジュール部から出射され前記反射部材によって反射された光を前記光モジュール部で受光し、該受光結果に基づいて、前記基準体に対する前記検出体の相対変位を計測する光学式変位センサにおいて、
前記光モジュール部は、前記光モジュール部から前記反射部材に向けて出射される光の光軸と平行な方向である第1の方向の変位を計測する第1の光学系と、前記光モジュール部から前記反射部材に向けて出射される光の光軸と直交する面内の方向のうちの所定の方向である第2の方向の変位を計測する第2の光学系とを有し、
前記反射部材は、前記光モジュール部と向き合う面のうちの少なくとも一部に回折格子を有し、
前記回折格子は、前記第2の方向に対して直交する方向に延び、前記第2の方向に沿って複数形成され、
前記第1の光学系は第1の光源と第1のレンズと第1の受光素子とを有し、
前記第1の光学系は、前記第1の光源からの光を前記第1のレンズを介して前記反射部材の該光モジュール部と向き合う面に入射させ、該入射させた光の前記反射部材による反射光を前記第1の受光素子で受光することによって、前記第1の方向の変位に対応した信号を得、
前記第1のレンズは前記第1の受光素子との距離が一定になるように前記光モジュール部内で固定され、
前記第2の光学系は第2の光源と第2のレンズと第2の受光素子とを有し、
前記第2の光学系は、前記第2の光源からの光を前記第2のレンズを介して前記反射部材の該光モジュール部と向き合う面の前記回折格子に入射させ、該入射させた光の前記反射部材の回折格子による反射光を前記第2の受光素子で受光することによって、前記第2の方向の変位に対応した信号を得、
前記第2のレンズは、該第2のレンズを通過し前記回折格子に入射する光が該回折格子上でフォーカスがとれた状態にするための可動機構を設けた上で前記光モジュール部内で前記第1の方向にのみ移動可能に固定されている
ことを特徴とする光学式変位センサ。 - 前記第1の光源および前記第2の光源は、1個の光源と、該1個の光源からの光を2分岐させる光分岐プリズムとから構成され、前記第1の光源からの光は前記光分岐プリズムで2分岐された光の一方であり、前記第2の光源からの光は前記光分岐プリズムで2分岐された光の他方であることを特徴とする請求項1に記載の光学式変位センサ。
- 前記光分岐プリズムは、平行に配置された第1および第2の半透過膜を有し、前記第1の半透過膜を透過した光を前記第2のレンズに入射させ、前記第1の半透過膜で反射した後に前記第2の半透過膜で反射した光を前記第1のレンズに入射させることを特徴とする請求項2に記載の光学式変位センサ。
- 前記第2の半透過膜の、前記第1の半透過膜と向かい合う側の反対側に、非点収差発生部を設けたことを特徴とする請求項3に記載の光学式変位センサ。
- 請求項1ないし4のうちのいずれか1項に記載の光学式変位センサを有し、前記第1の方向をアキシャル方向と一致させ、前記第2の方向をラジアル方向に対して直交する方向と一致させ、前記第1の方向の変位に対応した信号および前記第2の方向の変位に対応した信号に基づいて、前記基準体と検出体とに相対的に印加された外力を検出することを特徴とする外力検出装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004049763A JP3914210B2 (ja) | 2004-02-25 | 2004-02-25 | 光学式変位センサおよび外力検出装置 |
US11/053,401 US7289228B2 (en) | 2004-02-25 | 2005-02-08 | Optical displacement sensor, and external force detecting device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004049763A JP3914210B2 (ja) | 2004-02-25 | 2004-02-25 | 光学式変位センサおよび外力検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005241353A JP2005241353A (ja) | 2005-09-08 |
JP3914210B2 true JP3914210B2 (ja) | 2007-05-16 |
Family
ID=34858272
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004049763A Expired - Fee Related JP3914210B2 (ja) | 2004-02-25 | 2004-02-25 | 光学式変位センサおよび外力検出装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7289228B2 (ja) |
JP (1) | JP3914210B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019174367A (ja) * | 2018-03-29 | 2019-10-10 | キヤノン株式会社 | 力覚センサ |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007064937A1 (en) * | 2005-12-02 | 2007-06-07 | University Of Rochester | Image-guided therapy delivery and diagnostic needle system |
JP5489538B2 (ja) | 2009-06-03 | 2014-05-14 | キヤノン株式会社 | 力覚センサ |
JP5709368B2 (ja) * | 2009-11-04 | 2015-04-30 | キヤノン株式会社 | 生体情報取得装置 |
TWM397531U (en) * | 2010-07-29 | 2011-02-01 | Agait Technology Corp | Detect apparatus and the of detect apparatus from removing apparatus the same |
EP3425362B1 (en) | 2013-03-12 | 2020-12-09 | Stryker Corporation | Sensor assembly and method for measuring forces and torques |
DE102013017007B4 (de) | 2013-10-14 | 2015-09-10 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Roboter mit einem Endmanipulatorarm mit Endeffektor sowie Verfahren zur Bestimmung eines Kraft- und Drehmomenteintrages auf einen Endeffektor eines Roboters |
JP6402719B2 (ja) * | 2013-11-05 | 2018-10-10 | 日本精工株式会社 | 力覚センサ |
JP6413386B2 (ja) * | 2014-06-24 | 2018-10-31 | 日本精工株式会社 | キャリブレーション装置およびキャリブレーション方法 |
JP6403548B2 (ja) * | 2014-11-21 | 2018-10-10 | 大和製衡株式会社 | 荷重センサ |
US10274386B2 (en) | 2016-06-20 | 2019-04-30 | X Development Llc | Retroreflective multi-axis force torque sensor |
JP2018066629A (ja) * | 2016-10-19 | 2018-04-26 | 太陽誘電株式会社 | ロードセル |
US10732061B2 (en) * | 2017-09-07 | 2020-08-04 | X Development Llc | Unibody flexure design for displacement-based force/torque sensing |
US11428589B2 (en) * | 2017-10-16 | 2022-08-30 | Saf-Holland, Inc. | Displacement sensor utilizing ronchi grating interference |
JP6896585B2 (ja) | 2017-10-20 | 2021-06-30 | キヤノン株式会社 | 力覚センサ及び装置 |
DE202018103377U1 (de) * | 2018-06-15 | 2019-09-17 | Conscience Analytics Gmbh | Kraftsensor |
US10732060B2 (en) | 2018-08-15 | 2020-08-04 | X Development Llc | Force/torque sensor with hardstops to limit overloading a flexure |
WO2020051693A1 (en) | 2018-09-10 | 2020-03-19 | The University Of British Columbia | Optical force sensors |
KR102631268B1 (ko) * | 2022-10-31 | 2024-01-31 | 이유성 | 전자 타격측정 시스템 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2767480B2 (ja) | 1990-02-23 | 1998-06-18 | 科学技術振興事業団 | 6軸力センサによる計測値の校正方法 |
JPH0534512A (ja) | 1991-01-08 | 1993-02-12 | Nec Corp | グレーテイングパターン形成方法 |
JPH05107042A (ja) | 1991-10-16 | 1993-04-27 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 回折格子による位置検出方法及び装置 |
US5389777A (en) * | 1992-10-02 | 1995-02-14 | Chin; Philip K. | Optical displacement sensor utilizing optical diffusion and reflection |
JPH09203610A (ja) | 1996-01-24 | 1997-08-05 | Minebea Co Ltd | フォーカス検出装置 |
-
2004
- 2004-02-25 JP JP2004049763A patent/JP3914210B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-02-08 US US11/053,401 patent/US7289228B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019174367A (ja) * | 2018-03-29 | 2019-10-10 | キヤノン株式会社 | 力覚センサ |
JP7013303B2 (ja) | 2018-03-29 | 2022-01-31 | キヤノン株式会社 | 力覚センサ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7289228B2 (en) | 2007-10-30 |
JP2005241353A (ja) | 2005-09-08 |
US20050185196A1 (en) | 2005-08-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3914210B2 (ja) | 光学式変位センサおよび外力検出装置 | |
JP4035515B2 (ja) | 光学式変位センサおよび外力検出装置 | |
US10697805B2 (en) | Encoder device, method for measuring moving amount, optical apparatus, exposure apparatus, exposure method and method for producing device | |
JP2913984B2 (ja) | 傾斜角測定装置 | |
JP5046780B2 (ja) | 光エンコーダ | |
JP4473665B2 (ja) | 分光器 | |
US20120287441A1 (en) | Displacement Detecting Device | |
WO2014071806A1 (zh) | 一种双频光栅干涉仪位移测量系统 | |
US7738112B2 (en) | Displacement detection apparatus, polarization beam splitter, and diffraction grating | |
JP5976390B2 (ja) | 位置測定装置 | |
WO2015128431A1 (en) | Displacement sensor device and system | |
JP2012242389A5 (ja) | ||
US9612104B2 (en) | Displacement detecting device | |
JP7112311B2 (ja) | 変位計測装置 | |
KR20100041024A (ko) | 2차원 회절 격자를 이용한 6 자유도 측정 장치 | |
US9217631B2 (en) | Integrated laser alignment aid using multiple laser spots out of one single laser | |
EP2244055B1 (en) | Tracking type laser interferometer | |
JP7319106B2 (ja) | 格子部品およびその製造方法 | |
US20160216101A1 (en) | Optical unit and displacement measuring device | |
JP4692329B2 (ja) | 光無線通信装置 | |
JP2018066629A (ja) | ロードセル | |
JPH04139628A (ja) | 光半導体装置およびその製造方法 | |
KR101533690B1 (ko) | 모듈형 광학 장치 | |
JP2005077390A (ja) | 位置姿勢計測方法および位置姿勢計測装置 | |
JP3490128B2 (ja) | 光電式エンコーダ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050606 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070130 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070201 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 3914210 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100209 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110209 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120209 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120209 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130209 Year of fee payment: 6 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140209 Year of fee payment: 7 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |