[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP3966292B2 - Pattern forming method and pattern forming apparatus, device manufacturing method, conductive film wiring, electro-optical device, and electronic apparatus - Google Patents

Pattern forming method and pattern forming apparatus, device manufacturing method, conductive film wiring, electro-optical device, and electronic apparatus Download PDF

Info

Publication number
JP3966292B2
JP3966292B2 JP2004031045A JP2004031045A JP3966292B2 JP 3966292 B2 JP3966292 B2 JP 3966292B2 JP 2004031045 A JP2004031045 A JP 2004031045A JP 2004031045 A JP2004031045 A JP 2004031045A JP 3966292 B2 JP3966292 B2 JP 3966292B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
droplets
forming
substrate
film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004031045A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2004306015A (en
Inventor
利充 平井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2004031045A priority Critical patent/JP3966292B2/en
Priority to TW093106869A priority patent/TWI244363B/en
Priority to KR1020040019874A priority patent/KR100662066B1/en
Priority to US10/809,205 priority patent/US20050031836A1/en
Priority to CNA2004100317874A priority patent/CN1536949A/en
Publication of JP2004306015A publication Critical patent/JP2004306015A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3966292B2 publication Critical patent/JP3966292B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/12Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns
    • H05K3/1241Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns by ink-jet printing or drawing by dispensing
    • H05K3/125Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns by ink-jet printing or drawing by dispensing by ink-jet printing
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05DPROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D5/00Processes for applying liquids or other fluent materials to surfaces to obtain special surface effects, finishes or structures
    • B05D5/12Processes for applying liquids or other fluent materials to surfaces to obtain special surface effects, finishes or structures to obtain a coating with specific electrical properties
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/28Manufacture of electrodes on semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/268
    • H01L21/283Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current
    • H01L21/288Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a liquid, e.g. electrolytic deposition
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/12Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating
    • H10K71/13Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating using printing techniques, e.g. ink-jet printing or screen printing
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24802Discontinuous or differential coating, impregnation or bond [e.g., artwork, printing, retouched photograph, etc.]
    • Y10T428/24917Discontinuous or differential coating, impregnation or bond [e.g., artwork, printing, retouched photograph, etc.] including metal layer

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Description

本発明は、液体材料の液滴を基板上に配置することにより膜パターンを形成するパターンの形成方法及びパターン形成装置、デバイスの製造方法、導電膜配線、電気光学装置、並びに電子機器に関するものである。   The present invention relates to a pattern forming method and pattern forming apparatus for forming a film pattern by disposing liquid material droplets on a substrate, a device manufacturing method, a conductive film wiring, an electro-optical device, and an electronic apparatus. is there.

従来より、半導体集積回路など微細な配線パターン(膜パターン)を有するデバイスの製造方法としてフォトリソグラフィ法が多用されているが、液滴吐出法を用いたデバイスの製造方法が注目されている。この液滴吐出法は液体材料の消費に無駄が少なく、基板上に配置する液体材料の量や位置の制御を行いやすいという利点がある。下記特許文献には液滴吐出法に関する技術が開示されている。
特開平11−274671号公報 特開2000−216330号公報
Conventionally, a photolithography method has been widely used as a method for manufacturing a device having a fine wiring pattern (film pattern) such as a semiconductor integrated circuit, but a device manufacturing method using a droplet discharge method has attracted attention. This droplet discharge method is advantageous in that it consumes less liquid material and can easily control the amount and position of the liquid material placed on the substrate. The following patent document discloses a technique related to a droplet discharge method.
Japanese Patent Laid-Open No. 11-274671 JP 2000-216330 A

ところで、複数の液滴を基板上に配置することで複数の配線パターンを形成する際、各配線パターンについて液滴の配置が互いに異なっていると、各配線パターンどうしの間で外観上のムラができるという問題が生じる。また、配線パターンの線幅を幅広にする際、液滴を線幅方向に並べて配置する場合があるが、例えば線幅方向両端部を形成するための液滴を配置した後にこの両端部の間を補間するように中央部を形成するための液滴を配置した場合と、線幅方向中央部を形成してから両端部を形成するための液滴を配置した場合とでは、線幅にばらつきが生じるという問題も生じる。すなわち、中央部を形成してから両端部を形成するための液滴を配置すると、この液滴が中央部に引き寄せられる現象が生じ、両端部を形成してから中央部を形成する場合に比べて線幅が細くなる場合がある。   By the way, when forming a plurality of wiring patterns by arranging a plurality of droplets on the substrate, if the arrangement of the droplets is different for each wiring pattern, the appearance unevenness between the wiring patterns is different. The problem of being able to do arise. In addition, when widening the line width of the wiring pattern, there are cases where the droplets are arranged side by side in the line width direction. For example, after disposing the droplets for forming both ends in the line width direction, The line width varies between the case where the droplet for forming the central portion is arranged so as to interpolate the point and the case where the droplet for forming both ends is formed after forming the central portion in the line width direction. There also arises a problem that occurs. That is, if a droplet for forming both ends is formed after forming the central portion, a phenomenon that the droplet is attracted to the central portion occurs, compared with the case where the central portion is formed after forming both ends. May reduce the line width.

本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであって、液体材料の液滴を基板上に配置することにより複数の膜パターンを形成する際、各膜パターンどうしの間での線幅のばらつきや外観上のムラの発生を抑えることができるパターンの形成方法及びパターン形成装置、デバイスの製造方法を提供することを目的とする。更に本発明は、線幅のばらつきが抑えられた導電膜配線、この導電膜配線を有する電気光学装置、及びこれを用いた電子機器を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and when forming a plurality of film patterns by disposing liquid material droplets on a substrate, the line width between the film patterns is reduced. It is an object of the present invention to provide a pattern forming method, a pattern forming apparatus, and a device manufacturing method capable of suppressing the occurrence of variations and uneven appearance. Another object of the present invention is to provide a conductive film wiring in which variations in line width are suppressed, an electro-optical device having the conductive film wiring, and an electronic apparatus using the same.

上記の課題を解決するため、本発明のパターン形成方法は、液体材料の液滴を基板上に配置することにより膜パターンを形成するパターンの形成方法であって、前記基板上に前記膜パターンを形成するパターン形成領域を複数設定する工程と、前記設定した複数のパターン形成領域のそれぞれに複数の液滴を順次配置して前記膜パターンを形成する工程とを有し、前記膜パターンを形成する工程は、所定の間隔をあけて基板上に液滴を配置して点線状のパターンを形成する第1工程と、前記第1工程後、前記基板上の液滴の間に液滴を配置して前記点線状のパターンを一体化して線状パターンを形成する第2工程とを有し、先に形成した線状パターンからずらした位置で前記第1、第2工程を繰り返すことにより前記複数のパターン形成領域のそれぞれに前記膜パターンが形成され、前記複数のパターン形成領域の少なくとも2つ以上のパターン形成領域のそれぞれに前記液滴をほぼ同時に配置するとともに、前記複数のパターン形成領域のそれぞれについて前記液滴を配置する配置順序を略同一にして前記液滴を配置することを特徴とする。
本発明によれば、膜パターンを形成するために複数の液滴を順次配置する際、配置順序を複数の膜パターンのそれぞれについて略同一となるように設定したので、膜パターンどうしの間での線幅のばらつきや外観上のムラの発生を抑えることができる。
また、複数のパターン形成領域のそれぞれに液滴をほぼ同時に配置することでスループット向上を図ることができる。
To solve the above problems, the method of forming the pattern of the present invention, the droplets of liquid material to a pattern forming method for forming a film pattern by arranging on a substrate, the film pattern on the substrate a step of setting a plurality of pattern forming regions to form a, by sequentially arranging a plurality of droplets each of a plurality of pattern forming regions the set and forming the film pattern, forming the film pattern A step of arranging a droplet between the droplets on the substrate after the first step, and a first step of arranging a droplet on the substrate at a predetermined interval to form a dotted line pattern. A second step of forming the linear pattern by integrating the dotted line patterns, and repeating the first and second steps at a position shifted from the previously formed linear pattern. Pattern formation area Is of the film pattern each formed, while substantially simultaneously placing the droplets in each of at least two pattern formation region of the plurality of pattern formation region, the droplets for each of the plurality of pattern forming regions The droplets are arranged in substantially the same arrangement order.
According to the present invention, when a plurality of droplets are sequentially arranged to form a film pattern, the arrangement order is set to be substantially the same for each of the plurality of film patterns. Variations in line width and appearance unevenness can be suppressed.
Further, throughput can be improved by arranging droplets almost simultaneously in each of the plurality of pattern formation regions.

この場合、前記基板上に前記液滴が配置される格子状の複数の単位領域を設定し、前記複数の単位領域のうち所定の単位領域に対して前記液滴を配置することで、各膜パターンのそれぞれの形状や液滴配置順序を円滑に略同一にすることができる。   In this case, by setting a plurality of lattice-shaped unit regions on which the droplets are arranged on the substrate, and arranging the droplets with respect to a predetermined unit region among the plurality of unit regions, each film The shape of each pattern and the order of droplet arrangement can be made smoothly the same.

本発明のパターンの形成方法において、前記膜パターンは線状の膜パターンであり、該膜パターンの線幅方向側部を形成した後に中央部を形成する、又は、該膜パターンの線幅方向中央部を形成した後に、側部を形成することを特徴とする。
本発明によれば、複数の線状の膜パターンそれぞれの線幅を略一致させることができる。つまり、線状の膜パターンの中央部を形成した後に側部を形成するための液滴を配置した場合、液滴配置を略同一にすることによりこの液滴が中央部に引き寄せられる現象が生じて各線状の膜パターンの線幅にばらつきが生じる場合が考えられるが、両側の側部を形成した後にこの両側部の間を埋めるように中央部を形成するための液滴を配置することで、各線状の膜パターンの線幅のばらつきの発生を抑えることができる。
In the method for forming a pattern according to the present invention, the film pattern is a linear film pattern , and the central part is formed after forming the side part in the line width direction of the film pattern, or the center in the line width direction of the film pattern. After forming the part, the side part is formed.
According to the present invention, the line widths of the plurality of linear film patterns can be substantially matched. In other words, when the droplets for forming the side portions are formed after the central portion of the linear film pattern is formed, a phenomenon occurs in which the droplets are attracted to the central portion by making the droplet arrangement substantially the same. The line width of each linear film pattern may vary, but after forming the side parts on both sides, the droplets for forming the central part are arranged so as to fill the gap between the two side parts. The occurrence of variations in the line width of each linear film pattern can be suppressed.

本発明のパターンの形成方法において、前記パターン形成領域を所定方向に複数並べて設定するとともに該複数のパターン形成領域のそれぞれに対応して前記液滴を配置する吐出部を複数設け、前記パターン形成領域の並び方向に前記吐出部を移動しながら前記液滴を配置することを特徴とする。
本発明によれば、複数並んだパターン形成領域のそれぞれに対応するように吐出部(吐出ノズル)を設け、この吐出部を移動しながら液滴を配置するようにしたので、複数の膜パターン(配線パターン)を短時間で形成できる。
In the pattern forming method of the present invention, a plurality of the pattern forming regions are set in a predetermined direction, and a plurality of ejection units for arranging the droplets corresponding to each of the plurality of pattern forming regions are provided. The droplets are arranged while moving the ejection unit in the direction of the arrangement.
According to the present invention, the discharge portions (discharge nozzles) are provided so as to correspond to each of the plurality of arranged pattern formation regions, and the droplets are arranged while moving the discharge portions. Wiring pattern) can be formed in a short time.

本発明のパターンの形成方法において、前記液体材料は導電性微粒子を含む液状体であることを特徴とする。これにより、各膜パターンどうしの間での線幅のばらつきや外観上のムラのない導電膜を形成することができる。   In the pattern forming method of the present invention, the liquid material is a liquid containing conductive fine particles. Thereby, it is possible to form a conductive film free from variations in line width and unevenness in appearance between film patterns.

本発明のパターンの形成方法は、液体材料の液滴を基板上に配置することにより線状の膜パターンを形成するパターンの形成方法であって、前記基板上に前記膜パターンを形成するパターン形成領域を複数並べて設定する工程と、前記設定した複数のパターン形成領域のそれぞれに複数の液滴をその一部を重ね合わせるように配置して前記膜パターンを形成する工程とを有し、前記膜パターンを形成する工程は、所定の間隔をあけて基板上に液滴を配置して点線状のパターンを形成する第1工程と、前記第1工程後、前記基板上の液滴の間に液滴を配置して前記点線状のパターンを一体化して線状パターンを形成する第2工程とを有し、先に形成した線状パターンからずらした位置で前記第1、第2工程を繰り返すことにより前記複数のパターン形成領域のそれぞれに前記膜パターンが形成され、前記複数のパターン形成領域の少なくとも2つ以上のパターン形成領域のそれぞれに前記液滴をほぼ同時に配置するとともに、前記複数のパターン形成領域のそれぞれについて前記液滴の配置を略同一にしたことを特徴とする。
本発明によれば、複数の液滴を基板上に配置して膜パターンを形成する際、液滴どうしの少なくとも一部を重ね合わせるように配置したので、膜パターンの不連続部の発生を抑えることができる。そして、液滴どうしの一部を重ね合わせるようにして配置する際、この液滴の配置を各膜パターンどうしで略同一に設定したので、複数の膜パターン間での外観上のムラの発生を抑制することができる。
The pattern forming method of the present invention is a pattern forming method for forming a linear film pattern by disposing liquid material droplets on a substrate, wherein the film pattern is formed on the substrate. It includes a step of setting by arranging a plurality of regions, and a step of placing a plurality of droplets so as to superimpose a part to each of the plurality of pattern formation regions the set to form the film pattern, the film The pattern forming step includes a first step in which droplets are arranged on the substrate at a predetermined interval to form a dotted line pattern, and a liquid between the droplets on the substrate after the first step. A second step of disposing droplets and integrating the dotted line pattern to form a linear pattern, and repeating the first and second steps at positions shifted from the previously formed linear pattern The plurality of patterns Wherein each of the down forming region pattern is formed, with substantially arranged at the same time the droplets in each of at least two pattern formation region of the plurality of pattern forming regions, for each of the plurality of pattern forming regions The arrangement of the droplets is substantially the same.
According to the present invention, when a film pattern is formed by arranging a plurality of droplets on a substrate, at least a part of the droplets is arranged so as to overlap each other, so that occurrence of discontinuous portions of the film pattern is suppressed. be able to. And when arranging the droplets so that a part of them overlap each other, the arrangement of the droplets is set to be almost the same between the film patterns. Can be suppressed.

本発明のパターン形成装置は、液体材料の液滴を基板上に配置する液滴吐出装置を備え、前記液滴により膜パターンを形成するパターン形成装置であって、前記液滴吐出装置は、前記基板上に予め複数設定された前記膜パターンを形成するパターン形成領域のそれぞれに複数の液滴を順次配置し、前記液滴を順次配置する際、所定の間隔をあけて基板上に液滴を配置して点線状のパターンを形成し、次いで前記基板上の液滴の間に液滴を配置して前記点線状のパターンを一体化して線状パターンを形成し、先に形成した線状パターンからずらした位置で前記線状パターンを形成することを繰り返すことにより前記複数のパターン形成領域のそれぞれに前記膜パターンを形成し、前記複数のパターン形成領域の少なくとも2つ以上のパターン形成領域のそれぞれに前記液滴をほぼ同時に配置するとともに、前記複数のパターン形成領域のそれぞれについて前記液滴を配置する配置順序を略同一にすることを特徴とする。
本発明によれば、複数の液滴を順次配置して膜パターンを形成する際、配置順序を複数の膜パターンのそれぞれについて略同一となるように設定したので、線幅のばらつきや外観上のムラの発生を抑えることができる。
The pattern forming apparatus of the present invention includes a droplet discharge device that disposes liquid material droplets on a substrate, and forms a film pattern with the droplets. A plurality of droplets are sequentially arranged on each of the pattern formation regions for forming the film pattern set in advance on the substrate, and when the droplets are sequentially arranged, the droplets are placed on the substrate at predetermined intervals. The dotted line pattern is formed by arranging the droplets, and then arranging the droplets between the droplets on the substrate to integrate the dotted line pattern to form a linear pattern. Forming the film pattern in each of the plurality of pattern formation regions by repeating the formation of the linear pattern at positions shifted from each other, and forming at least two or more pattern shapes in the plurality of pattern formation regions With substantially arranged at the same time the droplets in the respective regions, characterized in that the arrangement order of placing the droplet for each of the plurality of pattern forming regions on substantially the same.
According to the present invention, when forming a film pattern by sequentially arranging a plurality of droplets, the arrangement order is set so as to be substantially the same for each of the plurality of film patterns. Generation of unevenness can be suppressed.

本発明のパターン形成装置は、液体材料の液滴を基板上に配置する液滴吐出装置を備え、前記液滴により線状の膜パターンを形成するパターン形成装置であって、前記液滴吐出装置は、前記基板上に予め複数並んで設定された前記膜パターンを形成するパターン形成領域のそれぞれに複数の液滴をその一部を重ね合わせるように配置し、前記液滴を配置する際、所定の間隔をあけて基板上に液滴を配置して点線状のパターンを形成し、次いで前記基板上の液滴の間に液滴を配置して前記点線状のパターンを一体化して線状パターンを形成し、先に形成した線状パターンからずらした位置で前記線状パターンを形成することを繰り返すことにより前記複数のパターン形成領域のそれぞれに前記膜パターンを形成し、前記複数のパターン形成領域の少なくとも2つ以上のパターン形成領域のそれぞれに前記液滴をほぼ同時に配置するとともに、前記複数のパターン形成領域のそれぞれについて前記液滴の配置を略同一にすることを特徴とする。
本発明によれば、膜パターンを形成する際、膜パターンの不連続部の発生を抑制できるとともに複数の膜パターン間での外観上のムラの発生を抑えることができる。
The pattern forming apparatus of the present invention is a pattern forming apparatus that includes a droplet discharge device that disposes liquid material droplets on a substrate, and forms a linear film pattern with the droplets. Are arranged in such a manner that a plurality of droplets are superposed on each of the pattern formation regions for forming the film pattern set in advance on the substrate, and when the droplets are arranged The droplets are arranged on the substrate with a space therebetween to form a dotted line pattern, and then the droplets are arranged between the droplets on the substrate to integrate the dotted line pattern into a linear pattern. Forming the film pattern in each of the plurality of pattern formation regions by repeating the formation of the linear pattern at a position shifted from the previously formed linear pattern, and the plurality of pattern formation regions With substantially arranged at the same time the droplets in each of at least two or more patterned regions, characterized in that substantially the same arrangement of the droplets for each of the plurality of pattern forming regions.
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, when forming a film | membrane pattern, generation | occurrence | production of the nonuniformity on the external appearance between several film | membrane patterns can be suppressed while the generation | occurrence | production of the discontinuous part of a film | membrane pattern can be suppressed.

本発明のデバイスの製造方法は、配線パターンを有するデバイスの製造方法において、前記基板上に複数設定された前記配線パターンを形成するパターン形成領域のそれぞれに液体材料の液滴を配置することにより前記配線パターンを形成する材料配置工程を有し、前記材料配置工程は、前記設定した複数のパターン形成領域のそれぞれに複数の液滴を順次配置して前記膜パターンを形成する工程を有し、前記膜パターンを形成する工程は、所定の間隔をあけて基板上に液滴を配置して点線状のパターンを形成する第1工程と、前記第1工程後、前記基板上の液滴の間に液滴を配置して前記点線状のパターンを一体化して線状パターンを形成する第2工程とを有し、先に形成した線状パターンからずらした位置で前記第1、第2工程を繰り返すことにより前記複数のパターン形成領域のそれぞれに前記膜パターンが形成され、前記複数のパターン形成領域の少なくとも2つ以上のパターン形成領域のそれぞれに前記液滴をほぼ同時に配置するとともに、前記複数のパターン形成領域のそれぞれについて前記液滴を配置する配置順序を略同一にして前記液滴を配置することを特徴とする。
本発明によれば、配線パターンを形成するために複数の液滴を順次配置する際、配置順序を複数の配線パターンのそれぞれについて略同一となるように設定したので、線幅のばらつきや外観上のムラの発生を抑えることができる。
The device manufacturing method of the present invention is the method of manufacturing a device having a wiring pattern, in which a plurality of liquid material droplets are arranged in each of the pattern formation regions for forming the wiring patterns set on the substrate. has a material disposing step of forming a wiring pattern, said material disposing step is to sequentially arrange a plurality of liquid droplets in each of a plurality of pattern forming regions the set comprising the step of forming the film pattern, the The step of forming the film pattern includes a first step in which droplets are arranged on the substrate at a predetermined interval to form a dotted line pattern, and a droplet between the droplets on the substrate after the first step. A second step of forming droplets by integrating the dotted line patterns to form a linear pattern, and repeating the first and second steps at a position shifted from the previously formed linear pattern. Return Wherein the plurality each of the pattern formation region of the film pattern is formed, with substantially arranged at the same time the droplets in each of at least two pattern formation region of the plurality of pattern formation region, the plurality of patterns by The droplets are arranged in substantially the same arrangement order for arranging the droplets in each of the formation regions.
According to the present invention, when a plurality of liquid droplets are sequentially arranged to form a wiring pattern, the arrangement order is set to be substantially the same for each of the plurality of wiring patterns. The occurrence of unevenness can be suppressed.

本発明のデバイスの製造方法は、配線パターンを有するデバイスの製造方法において、前記基板上に複数設定された前記配線パターンを形成するパターン形成領域のそれぞれに液体材料の液滴を配置することにより前記配線パターンを形成する材料配置工程を有し、前記材料配置工程は、前記設定した複数のパターン形成領域のそれぞれに複数の液滴をその一部を重ね合わせるように配置して前記膜パターンを形成する工程を有し、前記膜パターンを形成する工程は、所定の間隔をあけて基板上に液滴を配置して点線状のパターンを形成する第1工程と、前記第1工程後、前記基板上の液滴の間に液滴を配置して前記点線状のパターンを一体化して線状パターンを形成する第2工程とを有し、先に形成した線状パターンからずらした位置で前記第1、第2工程を繰り返すことにより前記複数のパターン形成領域のそれぞれに前記膜パターンが形成され、前記複数のパターン形成領域の少なくとも2つ以上のパターン形成領域のそれぞれに前記液滴をほぼ同時に配置するとともに、前記複数のパターン形成領域のそれぞれについて前記液滴の配置を略同一にしたことを特徴とする。
本発明によれば、配線パターンを形成する際、この配線パターンの不連続部の発生を抑制できるとともに複数の配線パターン間での外観上のムラの発生を抑えることができる。
The device manufacturing method of the present invention is the method of manufacturing a device having a wiring pattern, in which a plurality of liquid material droplets are arranged in each of the pattern formation regions for forming the wiring patterns set on the substrate. A material placement step of forming a wiring pattern, wherein the material placement step forms a film pattern by arranging a plurality of droplets so as to partially overlap each of the set pattern formation regions. And the step of forming the film pattern includes a first step of forming a dotted line pattern by disposing droplets on the substrate at a predetermined interval, and the substrate after the first step. A second step of forming a linear pattern by disposing the liquid droplet between the upper liquid droplets and integrating the dotted line pattern, and at a position shifted from the previously formed linear pattern. By repeating the first and second steps, the film pattern is formed in each of the plurality of pattern formation regions, and the droplets are substantially simultaneously applied to each of at least two pattern formation regions of the plurality of pattern formation regions. In addition, the droplets are arranged substantially the same for each of the plurality of pattern formation regions.
According to the present invention, when forming a wiring pattern, it is possible to suppress the occurrence of discontinuous portions of the wiring pattern and to suppress the occurrence of unevenness in appearance between the plurality of wiring patterns.

そして、本発明の膜パターンの形成方法や配線パターンの製造方法を例えばプラズマ型表示装置の表示部に配置される配線(表示電極等)を製造する場合に適用することにより、外観上ムラのない配線パターンを形成できるので良好な表示性及び視認性を得ることができる。
また、例えば薄膜トランジスタは配線を含む複数の機能層を積層することで構成されるが、この薄膜トランジスタの各機能層(配線)を製造する際に本発明を適用することにより、所定層での線幅のばらつき、ひいては膜厚のばらつきの発生を抑えることができるので、この機能層を複数積層した場合でも薄膜トランジスタの面方向における膜厚のばらつきの発生を抑えることができる。
Then, by applying the film pattern forming method and the wiring pattern manufacturing method of the present invention to, for example, manufacturing a wiring (display electrode or the like) disposed in a display unit of a plasma display device, there is no unevenness in appearance. Since a wiring pattern can be formed, good displayability and visibility can be obtained.
In addition, for example, a thin film transistor is configured by stacking a plurality of functional layers including wiring. By applying the present invention when manufacturing each functional layer (wiring) of this thin film transistor, the line width in a predetermined layer is reduced. Therefore, even when a plurality of functional layers are stacked, the occurrence of film thickness variation in the plane direction of the thin film transistor can be suppressed.

本発明の導電膜配線は、上記記載のパターン形成装置により形成されたことを特徴とする。
本発明によれば、均一な線幅で外観上ムラの無い導電膜配線を提供できる。
The conductive film wiring of the present invention is formed by the pattern forming apparatus described above.
According to the present invention, it is possible to provide a conductive film wiring having a uniform line width and no appearance unevenness.

本発明の導電膜配線は、基板上に複数並んだ配線パターンからなる導電膜配線であって、該複数の配線パターンのそれぞれはその一部を重ね合わせるように配置された複数の液滴により形成されており、前記複数の液滴の配置が前記複数の配線パターンのそれぞれについて略同一に設定されていることを特徴とする。
本発明によれば、外観上ムラの無い導電膜配線を提供できる。
The conductive film wiring of the present invention is a conductive film wiring composed of a plurality of wiring patterns arranged on the substrate, and each of the plurality of wiring patterns is formed by a plurality of droplets arranged so as to partially overlap each other. The arrangement of the plurality of droplets is set substantially the same for each of the plurality of wiring patterns.
According to the present invention, it is possible to provide conductive film wiring that is uniform in appearance.

本発明の電気光学装置は、上記記載の導電膜配線を備えることを特徴とする。また、本発明の電子機器は、上記記載の電気光学装置を備えることを特徴とする。これらの発明によれば、均一な線幅を有し外観上ムラの無い導電膜配線を備えるので良好な電気特性及び表示性を得ることができる。   An electro-optical device according to the present invention includes the conductive film wiring described above. According to another aspect of the invention, there is provided an electronic apparatus including the above-described electro-optical device. According to these inventions, since the conductive film wiring having a uniform line width and uniform appearance is provided, good electrical characteristics and display properties can be obtained.

ここで、電気光学装置としては、例えば、プラズマ型表示装置、液晶表示装置、及び有機エレクトロルミネッセンス表示装置等が挙げられる。   Here, examples of the electro-optical device include a plasma display device, a liquid crystal display device, and an organic electroluminescence display device.

上記液滴吐出装置(インクジェット装置)の吐出方式としては、圧電体素子の体積変化により液体材料を配置させるピエゾジェット方式であっても、熱の印加により急激に蒸気が発生することにより液体材料の液滴を吐出させる方式であってもよい。   As a discharge method of the above-described droplet discharge device (inkjet device), even if a piezo jet method in which a liquid material is arranged by a change in volume of a piezoelectric element, vapor is rapidly generated by the application of heat, so that the liquid material A method of discharging droplets may be used.

液体材料とは、液滴吐出ヘッド(インクジェットヘッド)の吐出ノズルから吐出可能な粘度を備えた媒体をいう。水性であると油性であるとを問わない。ノズル等から吐出可能な流動性(粘度)を備えていれば十分で、固体物質が混入していても全体として流動体であればよい。また、液体材料に含まれる材料は、溶媒中に微粒子として分散されたものの他に、融点以上に加熱されて溶解されたものでもよく、溶媒の他に染料や顔料その他の機能性材料を添加したものであってもよい。また、基板はフラット基板のほか、曲面状の基板であってもよい。さらにパターン形成面の硬度が硬い必要はなく、ガラスやプラスチック、金属以外に、フィルム、紙、ゴム等可撓性を有するものの表面であってもよい。   The liquid material refers to a medium having a viscosity that can be discharged from a discharge nozzle of a droplet discharge head (inkjet head). It does not matter whether it is aqueous or oily. It is sufficient if it has fluidity (viscosity) that can be discharged from a nozzle or the like. In addition to the material dispersed in the solvent as fine particles, the material contained in the liquid material may be a material heated to a melting point or higher and dissolved. In addition to the solvent, a dye, pigment or other functional material is added. It may be a thing. In addition to the flat substrate, the substrate may be a curved substrate. Furthermore, the hardness of the pattern formation surface does not need to be high, and it may be a flexible surface such as a film, paper, or rubber, in addition to glass, plastic, or metal.

<パターンの形成方法>
以下、本発明のパターンの形成方法について図面を参照しながら説明する。図1は本発明のパターンの形成方法の一実施形態を示すフローチャート図である。
ここで、本実施形態では基板上に導電膜配線パターンを形成する場合を例にして説明する。
<Pattern formation method>
Hereinafter, a pattern forming method of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a flowchart showing an embodiment of the pattern forming method of the present invention.
Here, in this embodiment, a case where a conductive film wiring pattern is formed on a substrate will be described as an example.

図1において、本実施形態に係るパターンの形成方法は、液体材料の液滴が配置される基板を所定の溶媒等を用いて洗浄する工程(ステップS1)と、基板の表面処理工程の一部を構成する撥液化処理工程(ステップS2)と、撥液化処理された基板表面の撥液性を調整する表面処理工程の一部を構成する撥液性制御処理工程(ステップS3)と、表面処理された基板上に液滴吐出法に基づいて導電膜配線形成用材料を含む液体材料の液滴を配置して膜パターンを描画(形成)する材料配置工程(ステップS4)と、基板上に配置された液体材料の溶媒成分の少なくとも一部を除去する熱・光処理を含む中間乾燥処理工程(ステップS5)と、所定のパターンが描画された基板を焼成する焼成工程(ステップS7)とを有している。なお、中間乾燥処理工程の後、所定のパターン描画が終了したかどうかが判断され(ステップS6)、パターン描画が終了したら焼成工程が行われ、一方、パターン描画が終了していなかったら材料配置工程が行われる。   In FIG. 1, the pattern forming method according to the present embodiment includes a step of cleaning a substrate on which liquid material droplets are disposed using a predetermined solvent or the like (step S <b> 1), and a part of the substrate surface treatment step. A liquid repellency treatment step (step S2), a liquid repellency control treatment step (step S3) constituting a part of the surface treatment step for adjusting the liquid repellency of the substrate surface subjected to the liquid repellency treatment, and a surface treatment. A material placement step (step S4) for placing (forming) a film pattern by placing droplets of a liquid material containing a conductive film wiring forming material on the substrate, based on a droplet discharge method; An intermediate drying process (step S5) including a heat / light process for removing at least a part of the solvent component of the liquid material, and a baking process (step S7) for baking the substrate on which a predetermined pattern is drawn. is doing. After the intermediate drying process, it is determined whether or not the predetermined pattern drawing is completed (step S6). When the pattern drawing is completed, the baking process is performed. On the other hand, when the pattern drawing is not completed, the material arranging process is performed. Is done.

次に、本発明の特徴部分である液滴吐出法に基づく材料配置工程(ステップS4)について説明する。
本実施形態の材料配置工程は、導電膜配線形成用材料を含む液体材料の液滴を液滴吐出装置の液滴吐出ヘッドより基板上に配置することにより基板上に複数の線状の膜パターン(配線パターン)を並べて形成する工程である。液体材料は導電膜配線形成用材料である金属等の導電性微粒子を分散媒に分散した液状体である。以下の説明では、基板11上に3つの第1、第2、及び第3の膜パターン(線状の膜パターン)W1、W2、及びW3を形成する場合について説明する。
Next, the material placement process (step S4) based on the droplet discharge method, which is a characteristic part of the present invention, will be described.
In the material placement process of the present embodiment, a plurality of linear film patterns are formed on a substrate by placing liquid material droplets including a conductive film wiring forming material on the substrate from a droplet discharge head of a droplet discharge device. This is a step of forming (wiring patterns) side by side. The liquid material is a liquid material in which conductive fine particles such as metal, which are conductive film wiring forming materials, are dispersed in a dispersion medium. In the following description, a case where three first, second, and third film patterns ( linear film patterns ) W1, W2, and W3 are formed on the substrate 11 will be described.

図2、図3、及び図4は本実施形態における基板11上に液滴を配置する順序の一例を説明するための図である。これらの図において、基板11上には液体材料の液滴が配置される格子状の複数の単位領域であるピクセルを有するビットマップが設定されている。ここで、1つのピクセルは正方形に設定されている。そして、これら複数のピクセルのうち所定のピクセルに対応するように、第1、第2、第3の膜パターンW1、W2、W3を形成する第1、第2、第3パターン形成領域R1、R2、R3が設定されている。これら複数のパターン形成領域R1、R2、R3はX軸方向に並んで設定されている。なお、図2〜図4において、パターン形成領域R1、R2、R3はグレーで示す領域である。   2, 3 and 4 are diagrams for explaining an example of the order in which droplets are arranged on the substrate 11 in the present embodiment. In these drawings, a bitmap having pixels, which are a plurality of grid-like unit regions on which liquid material droplets are arranged, is set on the substrate 11. Here, one pixel is set to a square. Then, first, second, and third pattern formation regions R1, R2 for forming the first, second, and third film patterns W1, W2, and W3 so as to correspond to predetermined pixels among the plurality of pixels. , R3 are set. The plurality of pattern formation regions R1, R2, and R3 are set side by side in the X-axis direction. 2 to 4, pattern formation regions R1, R2, and R3 are regions shown in gray.

また、基板11上の第1パターン形成領域R1には液滴吐出装置の吐出ヘッド10に設けられた複数の吐出ノズルのうち第1の吐出ノズル10Aより吐出された液体材料の液滴が配置されるように設定されている。同様に、基板11上の第2、第3パターン形成領域R2、R3には、液滴吐出装置の吐出ヘッド10に設けられた複数の吐出ノズルのうち第2、第3の吐出ノズル10B、10Cより吐出された液体材料の液滴が配置されるように設定されている。すなわち、第1、第2、第3パターン形成領域R1、R2、R3のそれぞれに対応するように吐出ノズル(吐出部)10A、10B、10Cが設けられている構成となっている。そして、液滴吐出ヘッド10は、設定した複数のパターン形成領域R1、R2、R3のそれぞれの複数のピクセル位置に複数の液滴を順次配置する。   Further, in the first pattern formation region R1 on the substrate 11, liquid material droplets discharged from the first discharge nozzle 10A among the plurality of discharge nozzles provided in the discharge head 10 of the droplet discharge device are arranged. Is set to Similarly, in the second and third pattern formation regions R2 and R3 on the substrate 11, the second and third discharge nozzles 10B and 10C among the plurality of discharge nozzles provided in the discharge head 10 of the droplet discharge device. It is set so that the liquid droplets of the discharged liquid material are arranged. That is, the discharge nozzles (discharge units) 10A, 10B, and 10C are provided so as to correspond to the first, second, and third pattern formation regions R1, R2, and R3, respectively. Then, the droplet discharge head 10 sequentially arranges a plurality of droplets at a plurality of pixel positions in the set plurality of pattern formation regions R1, R2, and R3.

更に、第1、第2、第3パターン形成領域R1、R2、R3のそれぞれでは、これらパターン形成領域R1、R2、R3に形成すべき第1、第2、第3の膜パターンW1、W2、W3を、線幅方向における一方の側(−X側)である第1側部パターンWaから形成し、次いで他方の側(+X側)である第2側部パターンWbを形成し、この第1、第2側部パターンWa、Wbを形成した後に線幅方向中央部である中央パターンWcを形成するように設定されている。   Further, in each of the first, second, and third pattern formation regions R1, R2, and R3, the first, second, and third film patterns W1, W2, and the like to be formed in the pattern formation regions R1, R2, and R3, W3 is formed from the first side pattern Wa that is one side (−X side) in the line width direction, and then the second side pattern Wb that is the other side (+ X side) is formed. The central pattern Wc, which is the central portion in the line width direction, is formed after the second side patterns Wa and Wb are formed.

本実施形態では、各膜パターン(線状の膜パターン)W1〜W3のそれぞれ、ひいては各パターン形成領域R1〜R3のそれぞれは同じ線幅Lを有し、この線幅Lは3つのピクセル分の大きさに設定されている。また、各パターン間のスペース部のそれぞれも同じ幅Sに設定されており、この幅Sも3つのピクセル分の大きさに設定されている。そして、吐出ノズル10A〜10Cどうしの間隔であるノズルピッチは6つのピクセル分に設定されている。 In the present embodiment, each of the film patterns ( linear film patterns ) W1 to W3, and thus each of the pattern formation regions R1 to R3, has the same line width L, and the line width L is equivalent to three pixels. The size is set. Further, each of the space portions between the patterns is also set to the same width S, and this width S is also set to a size corresponding to three pixels. The nozzle pitch that is the interval between the discharge nozzles 10A to 10C is set to six pixels.

以下の説明において、吐出ノズル10A、10B、10Cを有する液滴吐出ヘッド10は基板11に対してY軸方向に走査しながら液滴を吐出するものとする。そして、図2〜図4を用いた説明において、1回目の走査時に配置された液滴には「1」を付し、2回目、3回目、…、n回目の走査時に配置された液滴には「2」、「3」…、「n」を付す。   In the following description, it is assumed that the droplet discharge head 10 having the discharge nozzles 10A, 10B, and 10C discharges droplets while scanning the substrate 11 in the Y-axis direction. In the description using FIG. 2 to FIG. 4, “1” is given to the droplet disposed at the first scanning, and the droplet disposed at the second, third,..., N-th scanning. “2”, “3”,..., “N” are attached to.

図2(a)に示すように、1回目の走査時において、第1、第2、第3パターン形成領域R1、R2、R3のそれぞれについて第1側部パターンWaを形成するために第1側部パターン形成予定領域に1つ分のピクセルをあけつつ第1、第2、第3の吐出ノズル10A、10B、10Cより液滴が同時に配置される。ここで、基板11に対して配置された液滴は基板11に着弾することにより基板11上で濡れ拡がる。つまり、図2(a)に円で示すように、基板11に着弾した液滴は1つのピクセルの大きさより大きい直径cを有するように濡れ拡がる。ここで、液滴はY軸方向において所定間隔(1つ分のピクセル)をあけて配置されているので、基板11上に配置された液滴どうしは重ならないように設定されている。こうすることによりY軸方向において基板11上に液体材料が過剰に設けられることを防ぎ、バルジの発生を防止することができる。   As shown in FIG. 2A, at the time of the first scanning, the first side for forming the first side pattern Wa for each of the first, second, and third pattern formation regions R1, R2, and R3. Droplets are simultaneously arranged from the first, second, and third discharge nozzles 10A, 10B, and 10C while opening one pixel in the partial pattern formation scheduled region. Here, the liquid droplets arranged on the substrate 11 lands on the substrate 11 and spreads on the substrate 11. That is, as shown by a circle in FIG. 2A, the droplet that has landed on the substrate 11 spreads so as to have a diameter c larger than the size of one pixel. Here, since the droplets are arranged at a predetermined interval (one pixel) in the Y-axis direction, the droplets arranged on the substrate 11 are set so as not to overlap each other. By doing so, it is possible to prevent the liquid material from being excessively provided on the substrate 11 in the Y-axis direction and to prevent the occurrence of bulges.

なお、図2(a)では基板11に配置された際の液滴どうしは重ならないように配置されているが、僅かに重なるように液滴が配置されてもよい。また、ここでは1つ分のピクセルをあけて液滴が配置されているが、2つ以上の任意の数のピクセル分だけ間隔をあけて液滴を配置してもよい。この場合、基板11に対する液滴吐出ヘッド10の走査動作及び配置動作(吐出動作)を増やして基板上の液滴どうしの間を補間すればよい。   In FIG. 2A, the droplets are arranged so as not to overlap each other when placed on the substrate 11, but the droplets may be arranged so as to slightly overlap. Further, here, the droplets are arranged with one pixel therebetween, but the droplets may be arranged with an interval of an arbitrary number of two or more pixels. In this case, the number of scanning operations and arrangement operations (ejection operations) of the droplet ejection head 10 with respect to the substrate 11 may be increased to interpolate between droplets on the substrate.

なお、基板11の表面はステップS2及びS3により所望の撥液性に予め加工されているので、基板11上に配置した液滴の過剰な拡がりが抑制される。そのため、パターン形状を良好な状態に確実に制御できるとともに厚膜化も容易である。   In addition, since the surface of the substrate 11 is previously processed to have a desired liquid repellency by steps S2 and S3, excessive spreading of the droplets disposed on the substrate 11 is suppressed. For this reason, the pattern shape can be reliably controlled to be in a good state, and the film thickness can be easily increased.

図2(b)は2回目の走査により液滴吐出ヘッド10から基板11に液滴を配置した際の模式図である。なお、図2(b)において、2回目の走査時で配置された液滴には「2」を付している。2回目の走査時では、1回目の走査時で配置された液滴「1」の間を補間するように各吐出ノズル10A、10B、10Cより液滴が同時に配置される。そして、1回目及び2回目の走査及び配置動作で液滴どうしが連続し、第1、第2、第3パターン形成領域R1、R2、R3のそれぞれにおいて第1側部パターンWaが形成される。ここで、液滴「2」も基板11に着弾することで濡れ拡がり、液滴「2」の一部と先に基板11に配置されている液滴「1」の一部とが重なり合う。具体的には、液滴「1」の上に液滴「2」の一部が重なり合う。   FIG. 2B is a schematic diagram when droplets are arranged on the substrate 11 from the droplet discharge head 10 by the second scanning. In FIG. 2B, “2” is given to the liquid droplets arranged in the second scanning. In the second scanning, the droplets are simultaneously disposed from the discharge nozzles 10A, 10B, and 10C so as to interpolate between the droplets “1” disposed in the first scanning. Then, the liquid droplets are continuous in the first and second scanning and arranging operations, and the first side pattern Wa is formed in each of the first, second, and third pattern formation regions R1, R2, and R3. Here, the liquid droplet “2” also spreads by landing on the substrate 11, and a part of the liquid droplet “2” and a part of the liquid droplet “1” previously disposed on the substrate 11 overlap. Specifically, a part of the droplet “2” overlaps the droplet “1”.

ここで、基板11上に第1側部パターンWaを形成するための液滴を配置した後、分散媒の除去を行うために必要に応じて中間乾燥処理(ステップS5)を行うことができる。中間乾燥処理は、例えばホットプレート、電気炉、及び熱風発生機等の加熱装置を用いた一般的な熱処理の他にランプアニールを用いた光処理であってもよい。   Here, after disposing the droplets for forming the first side pattern Wa on the substrate 11, an intermediate drying process (step S5) can be performed as necessary to remove the dispersion medium. The intermediate drying process may be a light process using lamp annealing in addition to a general heat treatment using a heating device such as a hot plate, an electric furnace, and a hot air generator.

次に、液滴吐出ヘッド10と基板11とが2つのピクセルの大きさ分だけX軸方向に相対移動する。ここでは液滴吐出ヘッド10が基板11に対して+X方向に2つのピクセル分だけステップ移動する。これに伴って吐出ノズル10A、10B、10Cも移動する。そして、液滴吐出ヘッド10は3回目の走査を行う。これにより、図3(a)に示すように、膜パターンW1、W2、W3それぞれの一部を構成する第2側部パターンWbを形成するための液滴「3」が各吐出ノズル10A、10B、10Cより第1側部パターンWaに対してX軸方向に間隔をあけて基板11上に同時に配置される。ここでも、液滴「3」はY軸方向に1つ分のピクセルをあけて配置される。   Next, the droplet discharge head 10 and the substrate 11 are relatively moved in the X-axis direction by the size of two pixels. Here, the droplet discharge head 10 moves stepwise by two pixels in the + X direction with respect to the substrate 11. Along with this, the discharge nozzles 10A, 10B, and 10C also move. Then, the droplet discharge head 10 performs the third scan. As a result, as shown in FIG. 3A, the liquid droplet “3” for forming the second side pattern Wb that constitutes a part of each of the film patterns W1, W2, and W3 is discharged into the discharge nozzles 10A and 10B. 10C from the first side pattern Wa at the same time on the substrate 11 with an interval in the X-axis direction. Again, the droplet “3” is arranged with one pixel in the Y-axis direction.

図3(b)は4回目の走査により液滴吐出ヘッド10から基板11に液滴を配置した際の模式図である。なお、図3(b)において、4回目の走査時で配置された液滴には「4」を付している。4回目の走査時では、3回目の走査時で配置された液滴「3」の間を補間するように各吐出ノズル10A、10B、10Cより液滴が同時に配置される。そして、3回目及び4回目の走査及び配置動作で液滴どうしが連続し、パターン形成領域R1、R2、R3のそれぞれにおいて第2側部パターンWbが形成される。ここでは、液滴「4」の一部と先に基板11に配置されている液滴「3」の一部とが重なり合う。具体的には、液滴「3」の上に液滴「4」の一部が重なり合う。   FIG. 3B is a schematic diagram when droplets are arranged on the substrate 11 from the droplet discharge head 10 by the fourth scan. In FIG. 3B, “4” is given to the liquid droplets arranged at the time of the fourth scanning. At the time of the fourth scan, the droplets are simultaneously arranged from the discharge nozzles 10A, 10B, and 10C so as to interpolate between the droplets “3” arranged at the time of the third scan. Then, the droplets are continuous by the third and fourth scanning and arranging operations, and the second side pattern Wb is formed in each of the pattern formation regions R1, R2, and R3. Here, a part of the droplet “4” and a part of the droplet “3” previously disposed on the substrate 11 overlap. Specifically, a part of the droplet “4” overlaps the droplet “3”.

ここでも基板11上に第2側部パターンWbを形成するための液滴を配置した後、分散媒の除去を行うために必要に応じて中間乾燥処理を行うことができる。   Again, after the droplets for forming the second side pattern Wb are disposed on the substrate 11, an intermediate drying process can be performed as necessary to remove the dispersion medium.

次に、液滴吐出ヘッド10が基板に対して−X方向に1つのピクセル分だけステップ移動し、これに伴って吐出ノズル10A、10B、10Cも−X方向に1つのピクセル分だけ移動する。そして、液滴吐出ヘッド10は5回目の走査を行う。これにより、図4(a)に示すように、膜パターンW1、W2、W3それぞれの一部を構成する中央パターンWcを形成するための液滴「5」が基板上に同時に配置される。ここでも、液滴「5」はY軸方向に1つ分のピクセルをあけて配置される。ここで、液滴「5」の一部と先に基板11に配置されている液滴「1」、「3」の一部とが重なり合う。具体的には、液滴「1」、「3」の上に液滴「5」の一部が重なり合う。   Next, the droplet discharge head 10 is stepped by one pixel in the −X direction with respect to the substrate, and the discharge nozzles 10A, 10B, and 10C are also moved by one pixel in the −X direction. Then, the droplet discharge head 10 performs the fifth scan. As a result, as shown in FIG. 4A, the droplet “5” for forming the central pattern Wc constituting a part of each of the film patterns W1, W2, and W3 is simultaneously disposed on the substrate. Again, the droplet “5” is arranged with one pixel in the Y-axis direction. Here, a part of the droplet “5” and a part of the droplets “1” and “3” previously disposed on the substrate 11 overlap. Specifically, a part of the droplet “5” overlaps the droplets “1” and “3”.

図4(b)は6回目の走査により液滴吐出ヘッド10から基板11に液滴を配置した際の模式図である。なお、図4(b)において、6回目の走査時で配置された液滴には「6」を付している。6回目の走査時では、5回目の走査時で配置された液滴「5」の間を補間するように各吐出ノズル10A、10B、10Cより液滴が同時に配置される。そして、5回目及び6回目の走査及び配置動作で液滴どうしが連続し、パターン形成領域R1、R2、R3のそれぞれにおいて中央パターンWcが形成される。ここでは、液滴「6」の一部と先に基板11に配置されている液滴「5」の一部とが重なり合う。具体的には、液滴「5」の上に液滴「6」の一部が重なり合う。更に、先に基板11に配置されている液滴「2」、「4」の上に液滴「6」の一部が重なり合う。
以上により、各パターン形成領域R1、R2、R3のそれぞれに膜パターンW1、W2、W3が形成される。
FIG. 4B is a schematic diagram when droplets are arranged on the substrate 11 from the droplet discharge head 10 by the sixth scan. In FIG. 4B, “6” is given to the liquid droplets arranged during the sixth scan. At the time of the sixth scan, the droplets are simultaneously arranged from the discharge nozzles 10A, 10B, and 10C so as to interpolate between the droplets “5” arranged at the time of the fifth scan. Then, the droplets are continuous in the fifth and sixth scanning and arranging operations, and the central pattern Wc is formed in each of the pattern formation regions R1, R2, and R3. Here, a part of the droplet “6” and a part of the droplet “5” previously disposed on the substrate 11 overlap. Specifically, a part of the droplet “6” overlaps the droplet “5”. Further, a part of the droplet “6” overlaps the droplets “2” and “4” previously arranged on the substrate 11.
As described above, the film patterns W1, W2, and W3 are formed in the pattern formation regions R1, R2, and R3, respectively.

以上説明したように、パターン形成領域R1、R2、R3に複数の液滴を順次配置して互いにほぼ同一形状の膜パターンW1、W2、W3を形成する際、各パターン形成領域R1、R2、R3のそれぞれの複数のピクセルに対して液滴を配置する配置順序を同じに設定したので、各液滴「1」〜「6」のそれぞれがその一部を重ね合わせるように配置された場合であっても、その重なり形態は各膜パターンW1、W2、W3で同一なので、各膜パターンW1、W2、W3の外観を同じにすることができる。したがって、各膜パターンW1、W2、W3どうしの間での外観上のムラの発生を抑制することができる。   As described above, when the plurality of droplets are sequentially arranged in the pattern formation regions R1, R2, and R3 to form the film patterns W1, W2, and W3 having substantially the same shape, the pattern formation regions R1, R2, and R3 are formed. This is the case where each of the droplets “1” to “6” is arranged so as to overlap a part of the plurality of pixels. However, since the overlapping pattern is the same for each film pattern W1, W2, and W3, the appearance of each film pattern W1, W2, and W3 can be made the same. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of unevenness in appearance between the film patterns W1, W2, and W3.

そして、液滴の配置順序を各膜パターンW1、W2、W3のそれぞれについて同じにしたので、各膜パターンW1、W2、W3のそれぞれについての液滴の配置(液滴どうしの重なり形態)が同じとなるので、外観上のムラの発生を抑えることができる。   Since the arrangement order of the droplets is the same for each of the film patterns W1, W2, and W3, the arrangement of the droplets (the overlapping form of the droplets) is the same for each of the film patterns W1, W2, and W3. Therefore, the occurrence of unevenness in appearance can be suppressed.

更に、膜パターンW1、W2、W3それぞれにおける液滴どうしの重なり状態が同じに設定されているので、膜パターンそれぞれの膜厚分布を略同一にすることができる。したがって、この膜パターンが基板の面方向において繰り返される繰り返しパターンである場合、具体的には例えば表示装置の画素に対応して複数設けられているパターンである場合、各画素のそれぞれは同じ膜厚分布を有することになる。したがって、基板の面方向の各位置において同一の機能を発揮することができる。   Furthermore, since the overlapping state of the droplets in each of the film patterns W1, W2, and W3 is set to be the same, the film thickness distribution of each of the film patterns can be made substantially the same. Therefore, when this film pattern is a repeated pattern that is repeated in the surface direction of the substrate, specifically, for example, when a plurality of patterns are provided corresponding to the pixels of the display device, each pixel has the same film thickness. Will have a distribution. Therefore, the same function can be exhibited at each position in the surface direction of the substrate.

また、第1、第2側部パターンWa、Wbを形成してからその間を埋めるように中央パターンWcを形成するための液滴「5」、「6」を配置するようにしたので、各膜パターンW1、W2、W3の線幅をほぼ均一に形成できる。すなわち、中央パターンWcを基板11上に形成してから第1、第2側部パターンWa、Wbを形成するための液滴「1」、「2」、「3」、「4」を配置した場合、これら液滴が先に基板11に形成されている中央パターンWcに引き寄せられる現象が生じるため、各膜パターンW1、W2、W3の線幅制御が困難になる場合があるが、本実施形態のように、先に第1、第2側部パターンWa、Wbを基板11に形成してからその間を埋めるように中央パターンWcを形成するための液滴「5」、「6」を配置するようにしたので、各膜パターンW1、W2、W3の線幅制御を精度良く行うことができる。 In addition, since the first and second side patterns Wa and Wb are formed, and the liquid droplets “5” and “6” for forming the central pattern Wc are disposed so as to fill in between the first and second side patterns Wa and Wb, The line widths of the patterns W1, W2, and W3 can be formed almost uniformly. That is, after the central pattern Wc is formed on the substrate 11, the droplets “1”, “2”, “3”, and “4” for forming the first and second side patterns Wa and Wb are arranged. In this case, since a phenomenon that these droplets are attracted to the central pattern Wc previously formed on the substrate 11 occurs, it may be difficult to control the line width of each of the film patterns W1, W2, and W3. As described above, the first and second side patterns Wa and Wb are first formed on the substrate 11 and then the droplets “5” and “6” for forming the central pattern Wc are arranged so as to fill the space therebetween. Since it did in this way, the line width control of each film | membrane pattern W1, W2, and W3 can be performed with sufficient precision.

なお、中央パターンWcを形成してから第1、第2側部パターンWa、Wbを形成してもよい。この場合、各膜パターンW1〜W3のそれぞれについて同じ液滴配置順序とすることにより、各パターンどうしの間での外観上のムラの発生を抑えることができる。 Alternatively, the first and second side patterns Wa and Wb may be formed after the central pattern Wc is formed. In this case, by setting the same droplet arrangement order for each of the film patterns W1 to W3, it is possible to suppress occurrence of unevenness in appearance between the patterns.

本実施形態では、各パターン形成領域(膜パターン)のそれぞれに対応するように吐出ノズルを配置し、この吐出ノズルから吐出された液滴により膜パターンを形成する構成である。そこで、本実施形態のように各パターン形成領域のそれぞれに対応するように吐出ノズルが配置されるためには、パターン形成領域(膜パターン)のX軸方向のピクセル数(又は線幅)をS、スペース部のX軸方向のピクセル数(又は線幅)をL、吐出ノズルの配置間隔であるノズルピッチをNpとした場合、Np=S+(n×L)の関係を満足することが必要である。   In this embodiment, the discharge nozzles are arranged so as to correspond to the respective pattern formation regions (film patterns), and the film pattern is formed by droplets discharged from the discharge nozzles. Therefore, in order to arrange the discharge nozzles so as to correspond to each pattern formation region as in the present embodiment, the number of pixels (or line width) in the X-axis direction of the pattern formation region (film pattern) is set to S. When the number of pixels (or line width) in the X-axis direction of the space portion is L and the nozzle pitch, which is the arrangement interval of the discharge nozzles, is Np, it is necessary to satisfy the relationship of Np = S + (n × L). is there.

図5は線状の第1、第2側部パターンWa、Wb、及び中央パターンWcを形成する手順を模式的に示す側面図である。
図5(a)に示すように、液滴吐出ヘッド10から吐出した液滴L1が所定の間隔をあけて基板11上に順次配置される。すなわち、液滴吐出ヘッド10は基板11上で液滴L1どうしが重ならないように配置する。本例では、液滴L1の配置ピッチP1は基板11上に配置した直後の液滴L1の直径よりも大きくなるように設定されている。これにより基板11上に配置された直後の液滴L1どうしは重ならずに(接触せずに)、液滴L1どうしが合体して基板11上で濡れ拡がることが防止される。また、液滴L1の配置ピッチP1は基板11上に配置した直後の液滴L1の直径の2倍以下となるように設定されている。
FIG. 5 is a side view schematically showing a procedure for forming the linear first and second side patterns Wa and Wb and the central pattern Wc.
As shown in FIG. 5A, the droplets L1 ejected from the droplet ejection head 10 are sequentially arranged on the substrate 11 with a predetermined interval. That is, the droplet discharge head 10 is disposed on the substrate 11 so that the droplets L1 do not overlap each other. In this example, the arrangement pitch P1 of the droplets L1 is set to be larger than the diameter of the droplets L1 immediately after being arranged on the substrate 11. As a result, the droplets L1 immediately after being placed on the substrate 11 do not overlap (but do not contact), and the droplets L1 are prevented from coalescing and spreading on the substrate 11. The arrangement pitch P1 of the droplets L1 is set to be not more than twice the diameter of the droplets L1 immediately after being arranged on the substrate 11.

ここで、基板11上に液滴L1を配置した後、分散媒の除去を行うために必要に応じて中間乾燥処理(ステップS5)を行うことができる。中間乾燥処理は、例えばホットプレート、電気炉、及び熱風発生機等の加熱装置を用いた一般的な熱処理の他に、ランプアニールを用いた光処理であってもよい。   Here, after disposing the droplet L1 on the substrate 11, an intermediate drying process (step S5) can be performed as necessary to remove the dispersion medium. The intermediate drying treatment may be light treatment using lamp annealing in addition to general heat treatment using a heating device such as a hot plate, an electric furnace, and a hot air generator.

次に、図5(b)に示すように、上述した液滴の配置動作が繰り返される。すなわち図5(a)に示した前回と同様に、液滴吐出ヘッド10から液体材料が液滴L2として吐出され、その液滴L2が一定距離ごとに基板11に配置される。このとき、液滴L2の体積(1つの液滴あたりの液体材料の量)、及びその配置ピッチP2は前回の液滴L1と同じである。そして、液滴L2の配置位置は前回の液滴L1から1/2ピッチだけシフトされ、基板11上に配置されている前回の液滴L1どうしの中間位置に今回の液滴L2が配置される。   Next, as shown in FIG. 5B, the above-described droplet placement operation is repeated. That is, similarly to the previous time shown in FIG. 5A, the liquid material is ejected from the droplet ejection head 10 as the droplet L2, and the droplet L2 is arranged on the substrate 11 at regular intervals. At this time, the volume of the droplet L2 (the amount of the liquid material per droplet) and the arrangement pitch P2 thereof are the same as the previous droplet L1. The arrangement position of the droplet L2 is shifted by 1/2 pitch from the previous droplet L1, and the current droplet L2 is arranged at an intermediate position between the previous droplets L1 disposed on the substrate 11. .

前述したように、基板11上の液滴L1の配置ピッチP1は、基板11上に配置した直後の液滴L1の直径よりも大きく且つ、その直径の2倍以下である。そのため、液滴L1の中間位置に液滴L2が配置されることにより、液滴L1に液滴L2が一部重なり、液滴L1どうしの間の隙間が埋まる。このとき、今回の液滴L2と前回の液滴L1とが接するが、前回の液滴L1はすでに分散媒が完全に又はある程度除去されているので、両者が合体して基板11上で拡がることは少ない。   As described above, the arrangement pitch P1 of the droplets L1 on the substrate 11 is larger than the diameter of the droplets L1 immediately after being arranged on the substrate 11 and not more than twice the diameter. For this reason, the droplet L2 is arranged at an intermediate position between the droplets L1, so that the droplet L2 partially overlaps the droplet L1, and the gap between the droplets L1 is filled. At this time, the current droplet L2 and the previous droplet L1 are in contact with each other, but since the dispersion medium has already been completely or partially removed from the previous droplet L1, the two merge together and spread on the substrate 11. There are few.

なお、図5(b)では、液滴L2の配置を開始する位置を前回と同じ側(図5(a)に示す左側)としているが逆側(右側)としてもよい。往復動作の各方向への移動時に、液滴の配置を行うことにより、液滴吐出ヘッド10と基板11との相対移動の距離を少なくできる。   In FIG. 5B, the position where the droplet L2 starts to be arranged is on the same side as the previous time (left side shown in FIG. 5A), but may be on the opposite side (right side). By arranging the droplets during the reciprocating movement in each direction, the relative movement distance between the droplet discharge head 10 and the substrate 11 can be reduced.

液滴L2を基板11上に配置した後、分散媒の除去を行うために前回と同様に必要に応じて乾燥処理を行うことができる。   After disposing the droplet L2 on the substrate 11, a drying process can be performed as necessary in order to remove the dispersion medium as in the previous case.

こうした一連の液滴の配置動作を複数回繰り返すことにより、基板11上に配置される液滴どうしの隙間が埋まり、図5(c)に示すように、線状の連続したパターンである中央パターンWc、及び第1、第2側部パターンWa、Wbが基板11上に形成される。この場合、液滴の配置動作の繰り返し回数を増やすことにより基板11上に液滴が順次重なり、第1、第2側部パターン、中央パターン(線状パターン)Wa、Wb、Wcの膜厚、すなわち基板11の表面からの高さ(厚み)が増す。
第1、第2側部パターン、中央パターンWa、Wb、Wcの高さ(厚み)は最終的な膜パターンに必要とされる所望の膜厚に応じて設定され、この設定した膜厚に応じて上記液滴の配置動作の繰り返し回数が設定される。
By repeating such a series of droplet placement operations a plurality of times, the gaps between the droplets placed on the substrate 11 are filled, and as shown in FIG. 5C, a central pattern that is a linear continuous pattern is formed. Wc and first and second side patterns Wa and Wb are formed on the substrate 11. In this case, by increasing the number of times the droplet placement operation is repeated, the droplets sequentially overlap the substrate 11, and the film thicknesses of the first and second side patterns, the central pattern (linear pattern) Wa, Wb, Wc, That is, the height (thickness) from the surface of the substrate 11 increases.
The height (thickness) of the first and second side patterns and the central patterns Wa, Wb, Wc is set according to a desired film thickness required for the final film pattern, and according to the set film thickness The number of repetitions of the droplet placement operation is set.

なお、線状パターンの形成方法は、図5(a)〜(c)に示したものに限定されない。
例えば、液滴の配置ピッチや繰り返しの際のシフト量などは任意に設定可能であり、第1、第2側部パターン、中央パターンWa、Wb、Wcを形成する際の液滴の基板P上での配置ピッチをそれぞれ異なる値に設定してもよい。例えば、中央パターンWcを形成する際の液滴ピッチがP1である場合、第1、第2側部パターンWa、Wbを形成する際の液滴ピッチをP1より広いピッチとしてもよい。もちろん、P1より狭いピッチとしてもよい。また、第1、第2側部パターン、中央パターンWa、Wb、Wcを形成する際の液滴の体積をそれぞれ異なる値に設定してもよい。あるいは、各吐出動作において基板11や液滴吐出ヘッド10が配置される雰囲気である液滴吐出雰囲気(温度や湿度等)を互いに異なる条件に設定してもよい。
In addition, the formation method of a linear pattern is not limited to what was shown to Fig.5 (a)-(c).
For example, the arrangement pitch of the droplets and the shift amount at the time of repetition can be arbitrarily set, and the droplets on the substrate P when the first and second side patterns and the central patterns Wa, Wb, Wc are formed. The arrangement pitch may be set to different values. For example, when the droplet pitch when forming the central pattern Wc is P1, the droplet pitch when forming the first and second side patterns Wa and Wb may be wider than P1. Of course, the pitch may be narrower than P1. Further, the volume of the droplets when forming the first and second side patterns and the central patterns Wa, Wb, Wc may be set to different values. Alternatively, the droplet discharge atmosphere (temperature, humidity, etc.) that is the atmosphere in which the substrate 11 and the droplet discharge head 10 are arranged in each discharge operation may be set to different conditions.

なお、本実施形態では第1、第2側部パターン、中央パターン(各線状パターン)Wa、Wb、Wcは1本ずつ形成されるが複数本同時(例えば第2側部パターンWb、中央パターンWcの2本同時)に形成されてもよい。なお、1本ずつ第1、第2側部パターン、中央パターンWa、Wb、Wcを形成する場合と複数本同時に形成する場合とでは乾燥処理の回数の合計が異なる可能性があるため、基板11の撥液性が損なわれないように乾燥条件を定めるとよい。

In the present embodiment, the first and second side patterns and the central pattern (each linear pattern) Wa, Wb, and Wc are formed one by one, but a plurality of them are simultaneously formed (for example, the second side pattern Wb and the central pattern Wc). May be formed at the same time. Note that the total number of drying processes may differ between the case where the first and second side patterns, the central patterns Wa, Wb, and Wc are formed one by one and the case where a plurality of the patterns are simultaneously formed. It is advisable to determine the drying conditions so that the liquid repellency is not impaired.

次に、図6〜図11を参照してパターンの形成方法の他の実施例について説明する。ここでは、吐出ノズルが10A〜10Jの10個あるものとし、ノズルピッチは4つのピクセル分に設定されている。換言すれば、1つの吐出ノズルのX軸方向における該当格子数(該当ピクセル数)は4つである。つまり、基板上において1つの吐出ノズルが液滴を配置可能な範囲(すなわち1つの吐出ノズルが受け持つパターン形成可能領域)はX軸方向において4ピクセル分(4列分)である。例えば、第1の吐出ノズル10Aは図6中、第1列〜第4列のピクセル範囲に対して液滴を配置可能であり、第2の吐出ノズル10Bは第5列〜第8列のピクセル範囲に対して液滴を配置可能である。同様に、吐出ノズル10Cは第9列〜第12列、吐出ノズル10Dは第13列〜第16列、…、吐出ノズル10Hは第29列〜第32列、吐出ノズル10Iは第33列〜第36列、吐出ノズル10Jは第37列〜第40列に対して液滴を配置可能である。そして、本実施形態では、設計値上において2つのピクセル分の線幅を有する配線パターン(膜パターン)W1〜W7を形成する。すなわち、配線パターンを形成するパターン形成領域R1〜R7が図6のグレーで示す領域に設定されている。   Next, another embodiment of the pattern forming method will be described with reference to FIGS. Here, it is assumed that there are ten discharge nozzles of 10A to 10J, and the nozzle pitch is set to four pixels. In other words, the number of corresponding grids (number of corresponding pixels) in the X-axis direction of one ejection nozzle is four. That is, the range in which one discharge nozzle can place droplets on the substrate (that is, the pattern formable region that one discharge nozzle is responsible for) is 4 pixels (4 columns) in the X-axis direction. For example, the first discharge nozzle 10A can arrange droplets in the pixel range of the first to fourth columns in FIG. 6, and the second discharge nozzle 10B has the pixels of the fifth to eighth columns. Droplets can be placed relative to the area. Similarly, the discharge nozzle 10C is in the ninth to twelfth columns, the discharge nozzle 10D is in the thirteenth to sixteenth rows,..., The discharge nozzle 10H is in the 29th to 32nd rows, and the discharge nozzle 10I is in the thirty-third to thirth rows. In the 36th row, the discharge nozzle 10J can arrange droplets in the 37th to 40th rows. In this embodiment, wiring patterns (film patterns) W1 to W7 having a line width of two pixels on the design value are formed. That is, the pattern formation regions R1 to R7 for forming the wiring pattern are set in the regions shown in gray in FIG.

更に、図6に示すように、パターン形成領域R1〜R7(すなわち膜パターンW1〜W7)それぞれの間のスペース部の幅のうち、パターン形成領域R1、R2の間のスペース部の幅は4つのピクセル分であり、パターン形成領域R2、R3の間のスペース部の幅は4つのピクセル分である。以下同様に、パターン形成領域R3、R4の間は5つ分、パターン形成領域R4、R5の間は4つ分、パターン形成領域R5、R6の間は3つ分、パターン形成領域R6、R7の間は4つ分である。このように本実施形態における各配線パターンの配置間隔である配線ピッチ(すなわち各スペース部)は不均一に設定されている。   Furthermore, as shown in FIG. 6, among the widths of the space portions between the pattern formation regions R1 to R7 (that is, the film patterns W1 to W7), the width of the space portion between the pattern formation regions R1 and R2 is four. The width of the space portion between the pattern formation regions R2 and R3 is four pixels. Similarly, the pattern formation regions R3 and R4 are equivalent to five, the pattern formation regions R4 and R5 are equivalent to four, the pattern formation regions R5 and R6 are equivalent to three, and the pattern formation regions R6 and R7. There are four intervals. As described above, the wiring pitch (that is, each space portion) that is the arrangement interval of each wiring pattern in the present embodiment is set non-uniformly.

そして、本実施形態では、2つのピクセル分の線幅を有する各膜パターンのそれぞれについて、一方の側(−X側)の第1側部パターンWaを形成した後、他方の側(+X側)の第2側部パターンWbを形成する。   And in this embodiment, after forming the 1st side part pattern Wa of one side (-X side) about each of each film pattern which has the line width for two pixels, the other side (+ X side) The second side pattern Wb is formed.

図6において、パターン形成領域R1の第1側部パターン形成予定領域(すなわち第1列)に対して吐出ノズル10Aが位置合わせされており、パターン形成領域R3の第1側部パターン形成予定領域(第13列)に対して吐出ノズル10Dが位置合わせされており、パターン形成領域R7の第1側部パターン形成予定領域(第37列)に対して吐出ノズル10Jが位置合わせされている。したがって、パターン形成領域R1、R3、R7に関しては液滴配置可能状態である。一方、パターン形成領域R2、R5、R6に対して位置合わせされた吐出ノズルはない。したがって、パターン形成領域R2、R5、R6に関しては液滴配置休止状態となる。また、パターン形成領域R4に関しては吐出ノズル10Fが位置合わせされているが、この吐出ノズル10Fは第2側部パターン形成予定領域(第21列)に位置合わせされており、第1側部パターン形成予定領域(第20列)には位置合わせされていない。したがって、パターン形成領域R4に関しても液滴配置休止状態となる。   In FIG. 6, the discharge nozzle 10A is aligned with the first side pattern formation scheduled area (that is, the first row) in the pattern formation area R1, and the first side pattern formation scheduled area (in the pattern formation area R3) The discharge nozzle 10D is aligned with the 13th row), and the discharge nozzle 10J is aligned with the first side pattern formation scheduled region (37th row) of the pattern formation region R7. Therefore, the pattern formation regions R1, R3, and R7 are in a state where droplets can be placed. On the other hand, there is no discharge nozzle aligned with the pattern formation regions R2, R5, and R6. Therefore, the droplet formation resting state is entered for the pattern formation regions R2, R5, and R6. Further, the discharge nozzle 10F is aligned with respect to the pattern formation region R4, but the discharge nozzle 10F is aligned with the second side pattern formation scheduled region (21st column), and the first side pattern formation is performed. It is not aligned with the planned area (20th column). Accordingly, the liquid droplet placement pause state is also achieved with respect to the pattern formation region R4.

そして、図2〜図5を参照して説明した手順と同様の手順で、液滴吐出ヘッド10が基板11に対して走査し、吐出ノズル10A、10D、10Jから液滴が同時に吐出される。そして、第1、第2回目の走査により、図6の「1」、「2」で示すように液滴がパターン形成領域R1、R3、R7において同時に配置される。これにより、パターン形成領域R1、R3、R7において第1側部パターンWaが形成される。   Then, in the same procedure as described with reference to FIGS. 2 to 5, the droplet discharge head 10 scans the substrate 11, and droplets are discharged simultaneously from the discharge nozzles 10A, 10D, and 10J. Then, by the first and second scans, the droplets are simultaneously arranged in the pattern formation regions R1, R3, and R7 as indicated by “1” and “2” in FIG. As a result, the first side pattern Wa is formed in the pattern formation regions R1, R3, and R7.

次いで、図7に示すように、液滴吐出ヘッド10がX軸方向にステップ移動する。ここでは、液滴吐出ヘッド10は+X方向に2つのピクセル分だけステップ移動するものとする。そして、液滴吐出ヘッド10の移動に伴って吐出ノズル10A〜10Jも移動する。図7において、パターン形成領域R2の第1側部パターン形成予定領域(第7列)に対して吐出ノズル10Bが位置合わせされており、パターン形成領域R6の第1側部パターン形成予定領域(第31列)に対して吐出ノズル10Hが位置合わせされている。したがって、パターン形成領域R2、R6に関しては液滴配置可能状態である。一方、パターン形成領域R1、R3、R4、R7に対して位置合わせされた吐出ノズルはない。したがって、パターン形成領域R1、R3、R4、R7に関しては液滴配置休止状態となる。また、パターン形成領域R5に関しては吐出ノズル10Gが位置合わせされているが、この吐出ノズル10Gは第2側部パターン形成予定領域(第27列)に位置合わせされており、第1側部パターン形成予定領域(第26列)には位置合わせされていない。したがって、パターン形成領域R5に関しても液滴配置休止状態となる。   Next, as shown in FIG. 7, the droplet discharge head 10 moves stepwise in the X-axis direction. Here, it is assumed that the droplet discharge head 10 is stepped by two pixels in the + X direction. As the droplet discharge head 10 moves, the discharge nozzles 10A to 10J also move. In FIG. 7, the discharge nozzle 10B is aligned with the first side pattern formation scheduled area (seventh row) in the pattern formation area R2, and the first side pattern formation scheduled area (first pattern) in the pattern formation area R6. The discharge nozzles 10H are aligned with respect to (31 columns). Therefore, the pattern formation regions R2 and R6 are in a state where droplets can be placed. On the other hand, there is no discharge nozzle aligned with the pattern formation regions R1, R3, R4, and R7. Therefore, the droplet formation rest state is brought about with respect to the pattern formation regions R1, R3, R4, and R7. Further, the discharge nozzle 10G is aligned with respect to the pattern formation region R5, but this discharge nozzle 10G is aligned with the second side pattern formation planned region (27th column), and the first side pattern formation is performed. It is not aligned with the planned area (the 26th column). Accordingly, the liquid droplet placement is also suspended with respect to the pattern formation region R5.

そして、液滴吐出ヘッド10が基板11に対して走査し、吐出ノズル10B、10Hから液滴が同時に吐出される。そして、第3、第4回目の走査により、図7の「3」、「4」で示すように液滴がパターン形成領域R2、R6において同時に配置される。これにより、パターン形成領域R2、R6において第1側部パターンWaが形成される。   Then, the droplet discharge head 10 scans the substrate 11, and droplets are discharged simultaneously from the discharge nozzles 10B and 10H. Then, by the third and fourth scans, droplets are simultaneously disposed in the pattern formation regions R2 and R6 as indicated by “3” and “4” in FIG. Thereby, the first side pattern Wa is formed in the pattern formation regions R2 and R6.

次いで、図8に示すように、液滴吐出ヘッド10がX軸方向にステップ移動する。ここでは、液滴吐出ヘッド10は−X方向に1つのピクセル分だけステップ移動するものとする。図8において、パターン形成領域R1の第2側部パターン形成予定領域(第2列)に対して吐出ノズル10Aが位置合わせされており、パターン形成領域R3の第2側部パターン形成予定領域(第14列)に対して吐出ノズル10Dが位置合わせされており、パターン形成領域R5の第1側部パターン形成予定領域(第26列)に対して吐出ノズル10Gが位置合わせされており、パターン形成領域R7の第2側部パターン形成予定領域(第38列)に対して吐出ノズル10Jが位置合わせされている。一方、パターン形成領域R2、R4、R6に対して位置合わせされた吐出ノズルはない。したがって、パターン形成領域R2、R4、R6に関しては液滴配置休止状態となる。   Next, as shown in FIG. 8, the droplet discharge head 10 moves stepwise in the X-axis direction. Here, it is assumed that the droplet discharge head 10 moves step by one pixel in the −X direction. In FIG. 8, the discharge nozzle 10A is aligned with the second side pattern formation scheduled area (second row) in the pattern formation area R1, and the second side pattern formation scheduled area (first) in the pattern formation area R3. 14), the discharge nozzle 10D is aligned, and the discharge nozzle 10G is aligned with the first side pattern formation scheduled region (26th column) of the pattern formation region R5. The discharge nozzle 10J is aligned with the second side pattern formation scheduled region (38th row) of R7. On the other hand, there is no discharge nozzle aligned with the pattern formation regions R2, R4, and R6. Therefore, the droplet formation resting state is entered for the pattern formation regions R2, R4, and R6.

そして、液滴吐出ヘッド10が基板11に対して走査し、吐出ノズル10A、10D、10G、10Jから液滴が同時に吐出される。そして、第5、第6回目の走査により、図8の「5」、「6」で示すように液滴がパターン形成領域R1、R3、R5、R7において同時に配置される。これにより、パターン形成領域R1、R3、R7において第2側部パターンWbが形成されるとともに、パターン形成領域R5において第1側部パターンWaが形成される。そして、パターン形成領域R1、R3、R7のそれぞれにおいて膜パターンW1、W3、W7が完成される。ここで、完成された膜膜パターンW1、W3、W7においては、第1側部パターンWaが形成された後に第2側部パターンWbが形成される構成であって、各パターン領域R1、R3、R7において液滴の配置順序が同じである。   Then, the droplet discharge head 10 scans the substrate 11, and droplets are discharged simultaneously from the discharge nozzles 10A, 10D, 10G, and 10J. Then, by the fifth and sixth scans, droplets are simultaneously arranged in the pattern formation regions R1, R3, R5, and R7 as indicated by “5” and “6” in FIG. As a result, the second side pattern Wb is formed in the pattern formation regions R1, R3, and R7, and the first side pattern Wa is formed in the pattern formation region R5. Then, film patterns W1, W3, and W7 are completed in the pattern formation regions R1, R3, and R7, respectively. Here, in the completed film film patterns W1, W3, and W7, the second side pattern Wb is formed after the first side pattern Wa is formed, and each of the pattern regions R1, R3, In R7, the arrangement order of the droplets is the same.

次いで、図9に示すように、液滴吐出ヘッド10がX軸方向にステップ移動する。ここでは、液滴吐出ヘッド10は+X方向に2つのピクセル分だけステップ移動するものとする。図9において、パターン形成領域R2の第2側部パターン形成予定領域(第8列)に対して吐出ノズル10Bが位置合わせされており、パターン形成領域R4の第1側部パターン形成予定領域(第20列)に対して吐出ノズル10Eが位置合わせされており、パターン形成領域R6の第2側部パターン形成予定領域(第32列)に対して吐出ノズル10Hが位置合わせされている。一方、パターン形成領域R1、R3、R5、R7に対して位置合わせされた吐出ノズルはない。したがって、パターン形成領域R1、R3、R5、R7に関しては液滴配置休止状態となる。   Next, as shown in FIG. 9, the droplet discharge head 10 moves stepwise in the X-axis direction. Here, it is assumed that the droplet discharge head 10 is stepped by two pixels in the + X direction. In FIG. 9, the discharge nozzle 10B is aligned with the second side pattern formation scheduled area (eighth row) in the pattern formation area R2, and the first side pattern formation scheduled area (first pattern) in the pattern formation area R4. The discharge nozzle 10E is aligned with respect to the 20th column), and the discharge nozzle 10H is aligned with the second side pattern formation scheduled region (the 32nd column) of the pattern formation region R6. On the other hand, there is no discharge nozzle aligned with the pattern formation regions R1, R3, R5, and R7. Therefore, the droplet formation rest state is brought about with respect to the pattern formation regions R1, R3, R5, and R7.

そして、液滴吐出ヘッド10が基板11に対して走査し、吐出ノズル10B、10E、10Hから液滴が同時に吐出される。そして、第7、第8回目の走査により、図9の「7」、「8」で示すように液滴がパターン形成領域R2、R4、R6において同時に配置される。これにより、パターン形成領域R4において第1側部パターンWaが形成され、パターン形成領域R2、R6において第2側部パターンWbが形成され、パターン形成領域R2、R6のそれぞれにおいて膜パターンW2、W6が完成される。ここで、完成された膜膜パターンW2、W6においては、第1側部パターンWaが形成された後に第2側部パターンWbが形成される構成であって、各膜パターンW2、W6のそれぞれについて液滴の配置順序が同じであるとともに、既に形成されている膜パターンW1、W3、W7に対しても液滴の配置順序が同じである。   Then, the droplet discharge head 10 scans the substrate 11, and droplets are discharged simultaneously from the discharge nozzles 10B, 10E, and 10H. Then, by the seventh and eighth scans, the droplets are simultaneously arranged in the pattern formation regions R2, R4, and R6 as indicated by “7” and “8” in FIG. Thus, the first side pattern Wa is formed in the pattern formation region R4, the second side pattern Wb is formed in the pattern formation regions R2 and R6, and the film patterns W2 and W6 are formed in the pattern formation regions R2 and R6, respectively. Completed. Here, in the completed film film patterns W2 and W6, the second side pattern Wb is formed after the first side pattern Wa is formed, and each of the film patterns W2 and W6 is formed. The arrangement order of the droplets is the same, and the arrangement order of the droplets is the same for the already formed film patterns W1, W3, and W7.

次いで、図10に示すように、液滴吐出ヘッド10がX軸方向にステップ移動する。ここでは、液滴吐出ヘッド10は+X方向に1つのピクセル分だけステップ移動するものとする。図10において、パターン形成領域R4の第2側部パターン形成予定領域(第21列)に対して吐出ノズル10Eが位置合わせされている。一方、パターン形成領域R1、R2、R5、R6に対して位置合わせされた吐出ノズルはない。したがって、パターン形成予定領域R1、R2、R5、R6に関しては液滴配置休止状態となる。また、パターン形成領域R3及びR7の第1側部パターン形成予定領域(第20列及び第37列)には吐出ノズル10C、10Iが位置合わせされているが、これらには既に液滴「1」、「2」が配置されているため、このパターン形成領域R3、R7に関しても液滴配置休止状態である。   Next, as shown in FIG. 10, the droplet discharge head 10 moves stepwise in the X-axis direction. Here, it is assumed that the droplet discharge head 10 is stepped by one pixel in the + X direction. In FIG. 10, the discharge nozzle 10E is aligned with the second side pattern formation scheduled region (21st column) of the pattern formation region R4. On the other hand, there is no discharge nozzle aligned with the pattern formation regions R1, R2, R5, and R6. Accordingly, the pattern placement scheduled regions R1, R2, R5, and R6 are in a droplet placement pause state. Further, the discharge nozzles 10C and 10I are aligned with the first side pattern formation scheduled regions (20th and 37th rows) of the pattern formation regions R3 and R7. , “2” is disposed, the droplet formation rest state is also applied to the pattern formation regions R3 and R7.

そして、液滴吐出ヘッド10が基板11に対して走査し、吐出ノズル10Eから液滴が吐出される。そして、第9、第10回目の走査により、図10の「9」、「10」で示すように液滴がパターン形成領域R4に配置される。これにより、パターン形成領域R4において第2側部パターンWbが形成され膜パターンW4が完成される。この膜膜パターンW4についても第1側部パターンWaが形成された後に第2側部パターンWbが形成される構成であって、既に形成されている膜パターンW1、W2、W3、W6、W7に対して液滴の配置順序が同じである。   Then, the droplet discharge head 10 scans the substrate 11, and droplets are discharged from the discharge nozzle 10E. Then, by the ninth and tenth scans, the droplets are arranged in the pattern formation region R4 as indicated by “9” and “10” in FIG. Thereby, the second side pattern Wb is formed in the pattern formation region R4, and the film pattern W4 is completed. This film film pattern W4 is also configured such that the second side pattern Wb is formed after the first side pattern Wa is formed, and the film patterns W1, W2, W3, W6, and W7 are already formed. On the other hand, the arrangement order of the droplets is the same.

次いで、図11に示すように、液滴吐出ヘッド10がX軸方向にステップ移動する。ここでは、液滴吐出ヘッド10は+X方向に1つのピクセル分だけステップ移動するものとする。図11において、パターン形成領域R5の第2側部パターン形成予定領域(第27列)に対して吐出ノズル10Fが位置合わせされている。   Next, as shown in FIG. 11, the droplet discharge head 10 moves stepwise in the X-axis direction. Here, it is assumed that the droplet discharge head 10 is stepped by one pixel in the + X direction. In FIG. 11, the discharge nozzle 10F is aligned with the second side pattern formation scheduled region (27th column) of the pattern formation region R5.

そして、液滴吐出ヘッド10が基板11に対して走査し、吐出ノズル10Fから液滴が吐出される。そして、第11、第12回目の走査により、図11の「11」、「12」で示すように液滴がパターン形成領域R5に配置される。これにより、パターン形成領域R5において第2側部パターンWbが形成され膜パターンW5が完成される。この膜膜パターンW5についても第1側部パターンWaが形成された後に第2側部パターンWbが形成される構成であって、既に形成されている膜パターンW1、W2、W3、W4、W6、W7に対して液滴の配置順序が同じである。   Then, the droplet discharge head 10 scans the substrate 11, and droplets are discharged from the discharge nozzle 10F. Then, by the eleventh and twelfth scans, droplets are arranged in the pattern formation region R5 as indicated by “11” and “12” in FIG. Thereby, the second side pattern Wb is formed in the pattern formation region R5, and the film pattern W5 is completed. The film pattern W5 is also configured such that the second side pattern Wb is formed after the first side pattern Wa is formed, and the already formed film patterns W1, W2, W3, W4, W6, The arrangement order of the droplets is the same as for W7.

以上のようにして、第1〜第7の膜パターンW1〜W7が形成される。そして、本実施形態のように、ノズルピッチと配線ピッチとが一致しない状態であっても、複数の吐出ノズルを有する液滴吐出ヘッド10をパターン形成領域R1〜R7の並び方向(X軸方向)に移動しながら液滴を配置することにより、各パターン形成領域R1〜R7のそれぞれについて液滴を配置する配置順序を同じにしつつ効率良くパターン形成できる。   As described above, the first to seventh film patterns W1 to W7 are formed. Then, even in a state where the nozzle pitch and the wiring pitch do not match as in the present embodiment, the droplet discharge head 10 having a plurality of discharge nozzles is arranged in the direction in which the pattern formation regions R1 to R7 are arranged (X-axis direction). By disposing the liquid droplets while moving the pattern, it is possible to efficiently form the pattern while making the arrangement order of disposing the liquid droplets the same for each of the pattern formation regions R1 to R7.

なお、図6〜図9に示したパターンの形成方法では以下に説明する関係が成立する場合に液滴を配置する。ここで、以下の説明では、ビットマップ上の各ピクセル(列)に関して予め設定されている指令として、
「0」指令の場合:液滴を配置しない、
「1」指令の場合:液滴を配置する、
とする。また、ビットマップの各列の番号n(1〜40)を吐出ノズルの該当ピクセル数4で割ったときの余りが1の列(第1、第5、…、第37列)をN1、余りが2の列(第2、第6、…、第38列)をN2、余りが3の列(第3、第7、…、第39列)をN3、余りが0の列(第4、第8、…、第40列)をN0とする。すなわち、図6では吐出ノズルはN1列のそれぞれに配置されている状態であり、図8では吐出ノズルはN2列のそれぞれに配置されている状態であり、図7では吐出ノズルはN3列のそれぞれに配置されている状態であり、図9では吐出ノズルはN4列のそれぞれに配置されている状態である。そして、
N1では、 a(n−1)=0、a(n)=1、
N2では、 a(n)=1、b(n)=1、
b(n−1)=0、b(n)=1
N3では、 b(n)=1、c(n)=1、
c(n−1)=0、c(n)=1
N4では、 c(n)=1、d(n)=1、
d(n−1)=0、d(n)=1、
の関係が成立する。ここで、aは吐出ノズルについての4つの該当ピクセル数のうち第1のピクセル(列)に関する関数(液滴を吐出するか否かの出力データ)であり、b、c、及びdは第2、第3、及び第4のピクセル(列)に関する関数(液滴を吐出するか否かの出力データ)である。
In the pattern forming method shown in FIGS. 6 to 9, droplets are arranged when the relationship described below is established. Here, in the following description, as a command set in advance for each pixel (column) on the bitmap,
In the case of “0” command: no droplet is placed,
In the case of “1” command: a droplet is placed,
And Further, when the number n (1 to 40) of each column of the bitmap is divided by the number of corresponding pixels 4 of the discharge nozzle, the column with the remainder of 1 (first, fifth,..., 37th column) is N1, and the remainder N2 in the second column (second, sixth,..., Thirty-eighth column), N3 in the third column (third, seventh,. The eighth, 40th, column) is N0. That is, in FIG. 6, the discharge nozzles are arranged in each of the N1 rows, in FIG. 8, the discharge nozzles are arranged in each of the N2 rows, and in FIG. 7, the discharge nozzles are arranged in each of the N3 rows. In FIG. 9, the discharge nozzles are arranged in each of the N4 rows. And
In N1, a (n-1) = 0, a (n) = 1,
In N2, a (n) = 1, b (n) = 1,
b (n-1) = 0, b (n) = 1
In N3, b (n) = 1, c (n) = 1,
c (n-1) = 0, c (n) = 1
In N4, c (n) = 1, d (n) = 1,
d (n-1) = 0, d (n) = 1,
The relationship is established. Here, a is a function (output data indicating whether or not to discharge a droplet) regarding the first pixel (column) among the four corresponding pixel numbers for the discharge nozzle, and b, c, and d are the second. , Functions relating to the third and fourth pixels (columns) (output data indicating whether or not to discharge droplets).

N1について図6を参照しながら説明すると、例えばn=13の場合、a(13−1)=0、すなわち第12列には液滴を配置しないという指令が予めビットマップデータ上で設定されており、a(13)=1、すなわち第13列には液滴を配置するという指令が予め設定されているが、このときの指令と上記関係とが一致することを認識した液滴吐出ヘッド10を制御する後述する制御装置は吐出ノズル10Dを介して第13列(すなわち第1側部パターンWaに対応する列)に液滴を配置する。一方、例えばn=21の場合、a(20)=1、a(21)=1であってこれは上記関係と一致しないため、制御装置は第21列に液滴を配置しない。同様に、例えばn=9の場合、a(8)=1、a(9)=0であって上記関係と一致しないため制御装置は第9列に液滴を配置しない。   Referring to FIG. 6 for explaining N1, for example, when n = 13, a (13-1) = 0, that is, a command not to place a droplet in the twelfth column is set in advance on the bitmap data. In this case, a (13) = 1, that is, a command to place a droplet in the thirteenth column is set in advance. The droplet discharge head 10 has recognized that the command at this time matches the above relationship. The control device, which will be described later, controls the droplets in the thirteenth row (that is, the row corresponding to the first side pattern Wa) via the discharge nozzle 10D. On the other hand, when n = 21, for example, a (20) = 1 and a (21) = 1, which do not coincide with the above relationship, the control device does not place droplets in the 21st column. Similarly, when n = 9, for example, a (8) = 1 and a (9) = 0, which do not coincide with the above relationship, the control device does not place droplets in the ninth row.

N2について図8を参照しながら説明すると、例えばn=14の場合、過去履歴であるa(13)=1、すなわち第13列に液滴を配置するという指令が予め設定され、b(14)=1、すなわち第14列にも液滴を配置するという指令が予め設定されており、このときの指令と上記関係とが一致することを認識した制御装置は、吐出ノズル10Dを介して第14列(すなわち第2側部パターンWbに対応する列)に液滴を配置する。また、n=26の場合、b(25)=0、b(26)=1であってこれも上記関係と一致するため、制御装置は吐出ノズル10Gを介して第26列に液滴を配置する。一方、例えばn=22の場合、b(21)=1、b(22)=0であって上記関係を満足しないため、制御装置は第22列に液滴を配置しない。   When N2 is described with reference to FIG. 8, for example, in the case of n = 14, a past record a (13) = 1, that is, a command to place a droplet in the thirteenth column is set in advance, and b (14) = 1, that is, a command to place a droplet in the 14th row is set in advance, and the control device that recognizes that the command at this time coincides with the above relationship is the 14th through the discharge nozzle 10D. Droplets are arranged in a row (that is, a row corresponding to the second side pattern Wb). Further, when n = 26, b (25) = 0 and b (26) = 1, which also coincide with the above relationship, and therefore the control device arranges droplets in the 26th row via the discharge nozzle 10G. To do. On the other hand, when n = 22, for example, b (21) = 1 and b (22) = 0, which do not satisfy the above relationship, the control device does not place droplets in the 22nd column.

N3について図7を参照しながら説明すると、例えばn=7の場合、c(6)=0、c(7)=1であって上記関係を満足するため、制御装置は吐出ノズル10Bを介して第7列に液滴を配置する。一方、例えばn=19の場合、c(18)=0、c(19)=0であって上記関係を満足しないため、制御装置は第19列に液滴を配置しない。   N3 will be described with reference to FIG. 7. For example, when n = 7, c (6) = 0 and c (7) = 1, and the above relationship is satisfied. Therefore, the control device passes through the discharge nozzle 10B. Drops are placed in the seventh row. On the other hand, if n = 19, for example, c (18) = 0 and c (19) = 0, which do not satisfy the above relationship, the control device does not place droplets in the 19th column.

N4について図9を参照しながら説明すると、例えばn=8の場合、過去履歴であるc(7)=1、すなわち第7列に液滴を配置するという指令が予め設定され、d(8)=1、すなわち第8列にも液滴を配置するという指令が予め設定されており、このときの指令と上記関係とが一致することを認識した制御装置は、吐出ノズル10Bを介して第8列に液滴を配置する。一方、n=20の場合、c(19)=0、d(20)=1であってこれも上記関係と一致するため、制御装置は吐出ノズル10Eを介して第20列に液滴を配置する。一方、例えばn=28の場合、d(27)=1、d(28)=0であって上記関係を満足しないため、制御装置は第28列に液滴を配置しない。   When N4 is described with reference to FIG. 9, for example, when n = 8, a past history c (7) = 1, that is, a command to place a droplet in the seventh column is set in advance, and d (8) = 1, that is, a command to place droplets in the eighth row is set in advance, and the control device that recognizes that the command at this time coincides with the above relationship is the eighth through the discharge nozzle 10B. Place droplets in rows. On the other hand, in the case of n = 20, c (19) = 0 and d (20) = 1, which also coincide with the above relationship, so the control device arranges droplets in the 20th row via the discharge nozzle 10E. To do. On the other hand, if n = 28, for example, d (27) = 1 and d (28) = 0, which do not satisfy the above relationship, the control device does not place droplets in the 28th column.

なお、上記実施形態において、導電膜配線用の基板としては、ガラス、石英ガラス、Siウエハ、プラスチックフィルム、金属板など各種のものを用いることができる。また、これら各種の素材基板の表面に半導体膜、金属膜、誘電体膜、有機膜などが下地層として形成されたものも含む。   In the above embodiment, various substrates such as glass, quartz glass, Si wafer, plastic film, and metal plate can be used as the conductive film wiring substrate. Also included are those in which a semiconductor film, a metal film, a dielectric film, an organic film or the like is formed as a base layer on the surface of these various material substrates.

導電膜配線用の液体材料として、本例では導電性微粒子を分散媒に分散させた分散液(液状体)が用いられ、これは水性であると油性であるとを問わない。ここで用いられる導電性微粒子は、金、銀、銅、パラジウム、及びニッケルのうちのいずれかを含有する金属微粒子の他、導電性ポリマーや超電導体の微粒子などが用いられる。これらの導電性微粒子は、分散性を向上させるために表面に有機物などをコーティングして使うこともできる。導電性微粒子の表面にコーティングするコーティング材としては、例えばキシレン、トルエン等の有機溶剤やクエン酸等が挙げられる。   As the liquid material for the conductive film wiring, a dispersion liquid (liquid material) in which conductive fine particles are dispersed in a dispersion medium is used in this example, and it does not matter whether it is aqueous or oily. As the conductive fine particles used here, in addition to metal fine particles containing any of gold, silver, copper, palladium, and nickel, conductive polymer, superconductor fine particles, and the like are used. These conductive fine particles can be used by coating the surface with an organic substance or the like in order to improve dispersibility. Examples of the coating material that coats the surface of the conductive fine particles include organic solvents such as xylene and toluene, citric acid, and the like.

導電性微粒子の粒径は5nm以上0.1μm以下であることが好ましい。0.1μmより大きいと、上記液滴吐出ヘッドのノズルに目詰まりが生じるおそれがある。また、5nmより小さいと、導電性微粒子に対するコーテイング剤の体積比が大きくなり、得られる膜中の有機物の割合が過多となる。   The particle diameter of the conductive fine particles is preferably 5 nm or more and 0.1 μm or less. If it is larger than 0.1 μm, the nozzle of the droplet discharge head may be clogged. On the other hand, if it is smaller than 5 nm, the volume ratio of the coating agent to the conductive fine particles becomes large, and the ratio of the organic matter in the obtained film becomes excessive.

導電性微粒子を含有する液体の分散媒としては、室温での蒸気圧が0.001mmHg以上200mmHg以下(約0.133Pa以上26600Pa以下)であるものが好ましい。蒸気圧が200mmHgより高い場合には、配置後に分散媒が急激に蒸発し、良好な膜を形成することが困難となる。また、分散媒の蒸気圧は0.001mmHg以上50mmHg以下(約0.133Pa以上6650Pa以下)であることがより好ましい。蒸気圧が50mmHgより高い場合には、インクジェット法で液滴を配置する際に乾燥によるノズル詰まりが起こりやすい。一方、室温での蒸気圧が0.001mmHgより低い分散媒の場合、乾燥が遅くて膜中に分散媒が残留しやすくなり、後工程の熱・光処理後に良質の導電膜が得られにくい。   The liquid dispersion medium containing conductive fine particles preferably has a vapor pressure at room temperature of 0.001 mmHg to 200 mmHg (about 0.133 Pa to 26600 Pa). When the vapor pressure is higher than 200 mmHg, the dispersion medium rapidly evaporates after placement, and it becomes difficult to form a good film. The vapor pressure of the dispersion medium is more preferably 0.001 mmHg to 50 mmHg (about 0.133 Pa to 6650 Pa). When the vapor pressure is higher than 50 mmHg, nozzle clogging due to drying tends to occur when droplets are placed by the ink jet method. On the other hand, in the case of a dispersion medium having a vapor pressure lower than 0.001 mmHg at room temperature, drying is slow and the dispersion medium tends to remain in the film, and it is difficult to obtain a high-quality conductive film after the subsequent heat / light treatment.

上記分散媒としては、上記の導電性微粒子を分散できるものであって凝集を起こさないものであれば特に限定されない。例えば、水の他に、メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノールなどのアルコール類、n−ヘプタン、n−オクタン、デカン、トルエン、キシレン、シメン、デュレン、インデン、ジペンテン、テトラヒドロナフタレン、デカヒドロナフタレン、シクロヘキシルベンゼンなどの炭化水素系化合物、またエチレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、エチレングリコールメチルエチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールメチルエチルエーテル、1,2−ジメトキシエタン、ビス(2−メトキシエチル)エーテル、p−ジオキサンなどのエーテル系化合物、さらにプロピレンカーボネート、γ−ブチロラクトン、N−メチル−2−ピロリドン、ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、シクロヘキサノンなどの極性化合物を例示できる。これらのうち、微粒子の分散性と分散液の安定性、またインクジェット法への適用の容易さの点で、水、アルコール類、炭化水素系化合物、エーテル系化合物が好ましく、より好ましい分散媒としては、水、炭化水素系化合物を挙げることができる。これらの分散媒は、単独で使用してもよく、2種以上の混合物として使用してもよい。   The dispersion medium is not particularly limited as long as it can disperse the conductive fine particles and does not cause aggregation. For example, in addition to water, alcohols such as methanol, ethanol, propanol, butanol, n-heptane, n-octane, decane, toluene, xylene, cymene, durene, indene, dipentene, tetrahydronaphthalene, decahydronaphthalene, cyclohexylbenzene Hydrocarbon compounds such as ethylene glycol dimethyl ether, ethylene glycol diethyl ether, ethylene glycol methyl ethyl ether, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ether, diethylene glycol methyl ethyl ether, 1,2-dimethoxyethane, bis (2-methoxyethyl) ether , Ether compounds such as p-dioxane, propylene carbonate, γ-butyrolactone, N-methyl 2-pyrrolidone, dimethylformamide, dimethyl sulfoxide, and cyclohexanone. Of these, water, alcohols, hydrocarbon compounds, and ether compounds are preferred from the viewpoints of fine particle dispersibility, dispersion stability, and ease of application to the inkjet method, and more preferred dispersion media , Water, and hydrocarbon compounds. These dispersion media may be used alone or as a mixture of two or more.

上記導電性微粒子を分散媒に分散する場合の分散質濃度は1質量%以上80質量%以下であり、所望の導電膜の膜厚に応じて調整するとよい。なお、80質量%を超えると凝集をおこしやすく、均一な膜が得にくい。   The dispersoid concentration when the conductive fine particles are dispersed in the dispersion medium is 1% by mass or more and 80% by mass or less, and may be adjusted according to the desired film thickness of the conductive film. In addition, when it exceeds 80 mass%, it will be easy to aggregate and it will be difficult to obtain a uniform film | membrane.

上記導電性微粒子の分散液の表面張力は0.02N/m以上0.07N/m以下の範囲内であることが好ましい。インクジェット法にて液体を配置する際、表面張力が0.02N/m未満であると、インク組成物のノズル面に対する濡れ性が増大するため飛行曲りが生じやすくなり、0.07N/mを超えるとノズル先端でのメニスカスの形状が安定しないため配置量や、配置タイミングの制御が困難になる。   The surface tension of the conductive fine particle dispersion is preferably in the range of 0.02 N / m to 0.07 N / m. When the liquid is disposed by the ink jet method, if the surface tension is less than 0.02 N / m, the wettability of the ink composition to the nozzle surface increases, and thus flight bending easily occurs, and exceeds 0.07 N / m. Since the meniscus shape at the nozzle tip is not stable, it becomes difficult to control the amount of arrangement and the arrangement timing.

表面張力を調整するため、上記分散液には、基板との接触角を大きく低下させない範囲で、フッ素系、シリコーン系、ノニオン系などの表面張力調節剤を微量添加するとよい。ノニオン系表面張力調節剤は、液体の基板への濡れ性を向上させ、膜のレベリング性を改良し、膜の微細な凹凸の発生などの防止に役立つものである。上記分散液は、必要に応じて、アルコール、エーテル、エステル、ケトン等の有機化合物を含んでもよい。   In order to adjust the surface tension, a small amount of a surface tension regulator such as a fluorine-based, silicone-based, or nonionic-based material may be added to the dispersion within a range that does not significantly reduce the contact angle with the substrate. The nonionic surface tension modifier improves the wettability of the liquid to the substrate, improves the leveling property of the film, and helps prevent the occurrence of fine irregularities in the film. The dispersion may contain an organic compound such as alcohol, ether, ester, or ketone as necessary.

上記分散液の粘度は1mPa・s以上50mPa・s以下であることが好ましい。インクジェット法を用いて液体材料を液滴として配置する際、粘度が1mPa・sより小さい場合にはノズル周辺部がインクの流出により汚染されやすく、また粘度が50mPa・sより大きい場合は、ノズル孔での目詰まり頻度が高くなり円滑な液滴の配置が困難となる。   The viscosity of the dispersion is preferably 1 mPa · s to 50 mPa · s. When arranging the liquid material as droplets using the ink jet method, if the viscosity is less than 1 mPa · s, the nozzle periphery is easily contaminated by the outflow of the ink, and if the viscosity is more than 50 mPa · s, the nozzle hole The clogging frequency of the liquid crystal becomes high, and it becomes difficult to arrange the liquid droplets smoothly.

<表面処理工程>
次に、図1で示した表面処理工程S2、S3について説明する。表面処理工程では、導電膜配線を形成する基板の表面を液体材料に対して撥液性に加工する(ステップS2)。
具体的には、導電性微粒子を含有した液体材料に対する所定の接触角が、60[deg]以上、好ましくは90[deg]以上110[deg]以下となるように基板に対して表面処理を施す。表面の撥液性(濡れ性)を制御する方法としては、例えば、基板の表面に自己組織化膜を形成する方法、プラズマ処理法等を採用できる。
<Surface treatment process>
Next, the surface treatment steps S2 and S3 shown in FIG. 1 will be described. In the surface treatment process, the surface of the substrate on which the conductive film wiring is formed is processed to be liquid repellent with respect to the liquid material (step S2).
Specifically, the substrate is subjected to surface treatment so that a predetermined contact angle with respect to the liquid material containing conductive fine particles is 60 [deg] or more, preferably 90 [deg] or more and 110 [deg] or less. . As a method for controlling the liquid repellency (wetting property) of the surface, for example, a method of forming a self-assembled film on the surface of the substrate, a plasma treatment method, or the like can be employed.

自己組織膜形成法では、導電膜配線を形成すべき基板の表面に、有機分子膜などからなる自己組織化膜を形成する。基板表面を処理するための有機分子膜は、基板に結合可能な官能基と、その反対側に親液基あるいは撥液基といった基板の表面性を改質する(表面エネルギーを制御する)官能基と、これらの官能基を結ぶ炭素の直鎖あるいは一部分岐した炭素鎖とを備えており、基板に結合して自己組織化して分子膜、例えば単分子膜を形成する。   In the self-assembled film forming method, a self-assembled film made of an organic molecular film or the like is formed on the surface of a substrate on which conductive film wiring is to be formed. The organic molecular film for treating the substrate surface has a functional group that can bind to the substrate and a functional group that modifies the surface properties of the substrate, such as a lyophilic group or a liquid repellent group, on the opposite side (controls the surface energy). And a carbon straight chain or a partially branched carbon chain connecting these functional groups, and is bonded to a substrate and self-assembles to form a molecular film, for example, a monomolecular film.

ここで、自己組織化膜とは、基板の下地層等の構成原子と反応可能な結合性官能基とそれ以外の直鎖分子とからなり、直鎖分子の相互作用により極めて高い配向性を有する化合物を、配向させて形成された膜である。この自己組織化膜は、単分子を配向させて形成されているので、極めて膜厚を薄くすることができ、しかも、分子レベルで均一な膜となる。すなわち、膜の表面に同じ分子が位置するため、膜の表面に均一でしかも優れた撥液性や親液性を付与することができる。   Here, the self-assembled film is composed of a binding functional group capable of reacting with constituent atoms such as an underlayer of the substrate and other linear molecules, and has extremely high orientation due to the interaction of the linear molecules. It is a film formed by orienting a compound. Since this self-assembled film is formed by orienting single molecules, the film thickness can be extremely reduced, and the film is uniform at the molecular level. That is, since the same molecule is located on the surface of the film, uniform and excellent liquid repellency and lyophilicity can be imparted to the surface of the film.

上記の高い配向性を有する化合物として、例えばフルオロアルキルシランを用いることにより、膜の表面にフルオロアルキル基が位置するように各化合物が配向されて自己組織化膜が形成され、膜の表面に均一な撥液性が付与される。   By using, for example, fluoroalkylsilane as the compound having high orientation, each compound is oriented so that the fluoroalkyl group is located on the surface of the film, and a self-assembled film is formed. Liquid repellency is imparted.

自己組織化膜を形成する化合物としては、ヘプタデカフルオロ−1,1,2,2テトラヒドロデシルトリエトキシシラン、ヘプタデカフルオロ−1,1,2,2テトラヒドロデシルトリメトキシシラン、ヘプタデカフルオロ−1,1,2,2テトラヒドロデシルトリクロロシラン、トリデカフルオロ−1,1,2,2テトラヒドロオクチルトリエトキシシラン、トリデカフルオロ−1,1,2,2テトラヒドロオクチルトリメトキシシラン、トリデカフルオロ−1,1,2,2テトラヒドロオクチルトリクロロシラン、トリフルオロプロピルトリメトキシシラン等のフルオロアルキルシラン(以下「FAS」という)を例示できる。これらの化合物は、単独で使用してもよく、2種以上を組み合わせて使用してもよい。なお、FASを用いることにより、基板との密着性と良好な撥液性とを得ることができる。   Examples of compounds that form a self-assembled film include heptadecafluoro-1,1,2,2 tetrahydrodecyltriethoxysilane, heptadecafluoro-1,1,2,2 tetrahydrodecyltrimethoxysilane, heptadecafluoro-1 , 1,2,2 tetrahydrodecyltrichlorosilane, tridecafluoro-1,1,2,2 tetrahydrooctyltriethoxysilane, tridecafluoro-1,1,2,2 tetrahydrooctyltrimethoxysilane, tridecafluoro-1 , 1,2,2 tetrahydrooctyltrichlorosilane, trifluoropropyltrimethoxysilane, and other fluoroalkylsilanes (hereinafter referred to as “FAS”). These compounds may be used alone or in combination of two or more. Note that by using FAS, adhesion to the substrate and good liquid repellency can be obtained.

FASは、一般的に構造式RnSiX(4−n)で表される。ここでnは1以上3以下の整数を表し、Xはメトキシ基、エトキシ基、ハロゲン原子などの加水分解基である。またRはフルオロアルキル基であり、(CF3)(CF2)x(CH2)yの(ここでxは0以上10以下の整数を、yは0以上4以下の整数を表す)構造を持ち、複数個のR又はXがSiに結合している場合には、R又はXはそれぞれすべて同じでもよく、異なっていてもよい。Xで表される加水分解基は加水分解によりシラノールを形成して、基板(ガラス、シリコン)の下地のヒドロキシル基と反応してシロキサン結合で基板と結合する。一方、Rは表面に(CF3)等のフルオロ基を有するため、基板の下地表面を濡れない(表面エネルギーが低い)表面に改質する。   FAS is generally represented by the structural formula RnSiX (4-n). Here, n represents an integer of 1 to 3, and X is a hydrolyzable group such as a methoxy group, an ethoxy group, or a halogen atom. R is a fluoroalkyl group, and has a structure of (CF3) (CF2) x (CH2) y (where x represents an integer of 0 to 10 and y represents an integer of 0 to 4), When R or X is bonded to Si, each R or X may be the same or different. The hydrolyzable group represented by X forms silanol by hydrolysis, reacts with the hydroxyl group of the base of the substrate (glass, silicon), and bonds to the substrate with a siloxane bond. On the other hand, since R has a fluoro group such as (CF3) on the surface, the base surface of the substrate is modified to a surface that does not get wet (surface energy is low).

有機分子膜などからなる自己組織化膜は、上記の原料化合物と基板とを同一の密閉容器中に入れておき、室温で2〜3日程度の間放置することにより基板上に形成される。また、密閉容器全体を100℃に保持することにより、3時間程度で基板上に形成される。これらは気相からの形成法であるが、液相からも自己組織化膜を形成できる。例えば、原料化合物を含む溶液中に基板を浸積し、洗浄、乾燥することで基板上に自己組織化膜が形成される。なお、自己組織化膜を形成する前に、基板表面に紫外光を照射したり、溶媒により洗浄したりして、基板表面の前処理を施すことが望ましい。   A self-assembled film made of an organic molecular film or the like is formed on a substrate by placing the above raw material compound and the substrate in the same sealed container and leaving them at room temperature for about 2 to 3 days. Further, by holding the entire sealed container at 100 ° C., it is formed on the substrate in about 3 hours. These are formation methods from the gas phase, but a self-assembled film can also be formed from the liquid phase. For example, the self-assembled film is formed on the substrate by immersing the substrate in a solution containing the raw material compound, washing, and drying. Note that before the self-assembled film is formed, it is desirable to pre-treat the substrate surface by irradiating the substrate surface with ultraviolet light or washing with a solvent.

FAS処理を施した後、所望の撥液性に処理する撥液性制御処理が必要に応じて行われる(ステップS3)。すなわち、撥液化処理としてFAS処理を施した際に、撥液性の作用が強すぎて基板とこの基板上に形成した膜パターンとが剥離しやすくなる場合がある。そこで、撥液性を低下(制御)する処理が行われる。撥液性を低下する処理としては波長170〜400nm程度の紫外線(UV)照射処理が挙げられる。所定のパワーの紫外線を所定時間だけ基板に照射することで、FAS処理された基板の撥液性が低下され、基板は所望の撥液性を有するようになる。あるいは、基板をオゾン雰囲気に曝すことにより基板の撥液性を制御することもできる。   After performing the FAS process, a liquid repellency control process for processing to a desired liquid repellency is performed as necessary (step S3). That is, when the FAS treatment is performed as the lyophobic treatment, the lyophobic action is too strong and the substrate and the film pattern formed on the substrate may be easily peeled off. Therefore, a process for reducing (controlling) the liquid repellency is performed. Examples of the treatment for reducing the liquid repellency include ultraviolet (UV) irradiation treatment having a wavelength of about 170 to 400 nm. By irradiating the substrate with ultraviolet rays having a predetermined power for a predetermined time, the liquid repellency of the FAS-treated substrate is lowered, and the substrate has a desired liquid repellency. Alternatively, the liquid repellency of the substrate can be controlled by exposing the substrate to an ozone atmosphere.

一方、プラズマ処理法では、常圧又は真空中で基板に対してプラズマ照射を行う。プラズマ処理に用いるガス種は、導電膜配線を形成すべき基板の表面材質等を考慮して種々選択できる。処理ガスとしては、例えば、4フッ化メタン、パーフルオロヘキサン、パーフルオロデカン等が例示できる。   On the other hand, in the plasma processing method, plasma irradiation is performed on the substrate under normal pressure or vacuum. Various types of gas used for the plasma treatment can be selected in consideration of the surface material of the substrate on which the conductive film wiring is to be formed. Examples of the processing gas include tetrafluoromethane, perfluorohexane, perfluorodecane, and the like.

なお、基板表面を撥液性に加工する処理は、所望の撥液性を有するフィルム、例えば4フッ化エチレン加工されたポリイミドフィルム等を基板表面に貼着することによっても行ってもよい。また、撥液性の高いポリイミドフィルムをそのまま基板として用いてもよい。   The processing for processing the substrate surface to be liquid repellent may also be performed by sticking a film having a desired liquid repellent property, such as a polyimide film processed with ethylene tetrafluoride, to the substrate surface. Moreover, you may use a polyimide film with high liquid repellency as a board | substrate as it is.

<中間乾燥工程>
次に、図1で示した中間乾燥工程S5について説明する。中間乾燥工程(熱・光処理工程)では、基板上に配置された液滴に含まれる分散媒あるいはコーティング材を除去する。すなわち、基板上に配置された導電膜形成用の液体材料は、微粒子間の電気的接触をよくするために分散媒を完全に除去する必要がある。また、導電性微粒子の表面に分散性を向上させるために有機物などのコーティング材がコーティングされている場合には、このコーティング材も除去する必要がある。
<Intermediate drying process>
Next, the intermediate drying step S5 shown in FIG. 1 will be described. In the intermediate drying process (heat / light treatment process), the dispersion medium or the coating material contained in the droplets arranged on the substrate is removed. That is, the liquid material for forming a conductive film disposed on the substrate needs to completely remove the dispersion medium in order to improve the electrical contact between the fine particles. Further, when a coating material such as an organic material is coated on the surface of the conductive fine particles in order to improve dispersibility, it is also necessary to remove this coating material.

熱・光処理は通常大気中で行なわれるが、必要に応じて、窒素、アルゴン、ヘリウムなどの不活性ガス雰囲気中で行ってもよい。熱・光処理の処理温度は、分散媒の沸点(蒸気圧)、雰囲気ガスの種類や圧力、微粒子の分散性や酸化性等の熱的挙動、コーティング材の有無や量、基材の耐熱温度などを考慮して適宜決定される。例えば有機物からなるコーティング材を除去するためには、約300℃で焼成することが必要である。また、プラスチックなどの基板を使用する場合には、室温以上100℃以下で行なうことが好ましい。   The heat / light treatment is usually performed in the air, but may be performed in an inert gas atmosphere such as nitrogen, argon, or helium as necessary. The heat and light treatment temperatures are the boiling point (vapor pressure) of the dispersion medium, the type and pressure of the atmospheric gas, the thermal behavior such as the dispersibility and oxidation of the fine particles, the presence and amount of the coating material, the heat resistance temperature of the substrate It is determined appropriately in consideration of the above. For example, in order to remove a coating material made of an organic material, it is necessary to bake at about 300 ° C. Moreover, when using a board | substrate, such as a plastics, it is preferable to carry out at room temperature or more and 100 degrees C or less.

熱処理には、例えばホットプレート、電気炉等の加熱装置を用いることができる。光処理にはランプアニールを用いることができる。ランプアニールに使用する光の光源としては、特に限定されないが、赤外線ランプ、キセノンランプ、YAGレーザ、アルゴンレーザ、炭酸ガスレーザ、XeF、XeCl、XeBr、KrF、KrCl、ArF、ArClなどのエキシマレーザーなどを使用することができる。これらの光源は一般には、出力10W以上5000W以下の範囲のものが用いられるが、本実施形態例では100W以上1000W以下の範囲で十分である。上記熱・光処理により微粒子間の電気的接触が確保され、導電膜に変換される。   For the heat treatment, for example, a heating device such as a hot plate or an electric furnace can be used. Lamp annealing can be used for the light treatment. The light source used for lamp annealing is not particularly limited, but excimer lasers such as infrared lamps, xenon lamps, YAG lasers, argon lasers, carbon dioxide lasers, XeF, XeCl, XeBr, KrF, KrCl, ArF, ArCl, etc. Can be used. These light sources generally have a power output in the range of 10 W to 5000 W, but in the present embodiment, a range of 100 W to 1000 W is sufficient. By the heat and light treatment, electrical contact between the fine particles is ensured and converted into a conductive film.

なお、この際、分散媒の除去だけでなく、分散液を導電膜に変換するまで、加熱や光照射の度合いを高めても差し支えない。ただし、導電膜の変換は、すべての液体材料の配置が終了してから、熱処理・光処理工程においてまとめて行えばよいので、ここでは、分散媒をある程度除去できれば十分である。例えば、熱処理の場合は、通常100℃程度の加熱を数分行えばよい。また、乾燥処理は液体材料の配置と並行して同時に進行させることも可能である。例えば、基板を予め加熱しておいたり、液滴吐出ヘッドの冷却とともに沸点の低い分散媒を使用したりすることにより、基板に液滴を配置した直後から、その液滴の乾燥を進行させることができる。   At this time, not only the removal of the dispersion medium but also the degree of heating and light irradiation may be increased until the dispersion is converted into a conductive film. However, since the conversion of the conductive film may be performed collectively in the heat treatment / light treatment process after the arrangement of all the liquid materials is completed, it is sufficient here that the dispersion medium can be removed to some extent. For example, in the case of heat treatment, heating at about 100 ° C. is usually performed for several minutes. Also, the drying process can proceed simultaneously with the arrangement of the liquid material. For example, by drying the droplets immediately after placing the droplets on the substrate by heating the substrate in advance or using a dispersion medium having a low boiling point along with cooling of the droplet discharge head. Can do.

<パターン形成装置>
次に、本発明のパターン形成装置の一例について説明する。図12は本実施形態に係るパターン形成装置の概略斜視図である。図12に示すように、パターン形成装置100は、液滴吐出ヘッド10、液滴吐出ヘッド10をX方向に駆動するためのX方向ガイド軸2、X方向ガイド軸2を回転させるX方向駆動モータ3、基板11を載置するための載置台4、載置台4をY方向に駆動するためのY方向ガイド軸5、Y方向ガイド軸5を回転させるY方向駆動モータ6、クリーニング機構部14、ヒータ15、及びこれらを統括的に制御する制御装置8等を備えている。X方向ガイド軸2及びY方向ガイド軸5はそれぞれ、基台7上に固定されている。なお、図12では、液滴吐出ヘッド10は、基板11の進行方向に対し直角に配置されているが、液滴吐出ヘッド10の角度を調整し、基板11の進行方向に対して交差させるようにしてもよい。このようにすれば、液滴吐出ヘッド10の角度を調整することで、ノズル間のピッチを調節することが出来る。また、基板11とノズル面との距離を任意に調節することが出来るようにしてもよい。
<Pattern forming device>
Next, an example of the pattern forming apparatus of the present invention will be described. FIG. 12 is a schematic perspective view of the pattern forming apparatus according to the present embodiment. As shown in FIG. 12, the pattern forming apparatus 100 includes a droplet discharge head 10, an X-direction guide shaft 2 for driving the droplet discharge head 10 in the X direction, and an X-direction drive motor that rotates the X-direction guide shaft 2. 3, a mounting table 4 for mounting the substrate 11, a Y-direction guide shaft 5 for driving the mounting table 4 in the Y direction, a Y-direction drive motor 6 for rotating the Y-direction guide shaft 5, a cleaning mechanism unit 14, A heater 15 and a control device 8 for comprehensively controlling them are provided. Each of the X direction guide shaft 2 and the Y direction guide shaft 5 is fixed on the base 7. In FIG. 12, the droplet discharge head 10 is arranged at a right angle to the traveling direction of the substrate 11, but the angle of the droplet discharge head 10 is adjusted so as to intersect the traveling direction of the substrate 11. It may be. In this way, the pitch between the nozzles can be adjusted by adjusting the angle of the droplet discharge head 10. Further, the distance between the substrate 11 and the nozzle surface may be arbitrarily adjusted.

液滴吐出ヘッド10は、導電性微粒子を含有する分散液からなる液体材料を吐出ノズルから吐出するものであり、X方向ガイド軸2に固定されている。X方向駆動モータ3はステッピングモータ等であり、制御装置8からX軸方向の駆動パルス信号が供給されると、X方向ガイド軸2を回転させる。X方向ガイド軸2の回転により、液滴吐出ヘッド10が基台7に対してX軸方向に移動する。   The droplet discharge head 10 discharges a liquid material made of a dispersion containing conductive fine particles from a discharge nozzle, and is fixed to the X direction guide shaft 2. The X direction drive motor 3 is a stepping motor or the like, and rotates the X direction guide shaft 2 when a drive pulse signal in the X axis direction is supplied from the control device 8. As the X-direction guide shaft 2 rotates, the droplet discharge head 10 moves in the X-axis direction with respect to the base 7.

液滴吐出方式としては、圧電体素子であるピエゾ素子を用いてインクを吐出させるピエゾ方式、液体材料を加熱し発生した泡(バブル)により液体材料を吐出させるバブル方式など、公知の様々な技術を適用できる。このうち、ピエゾ方式は、液体材料に熱を加えないため、材料の組成等に影響を与えないという利点を有する。なお、本例では、液体材料選択の自由度の高さ、及び液滴の制御性の良さの点から上記ピエゾ方式を用いる。   As a droplet discharge method, there are various known technologies such as a piezo method that discharges ink using a piezoelectric element that is a piezoelectric element, and a bubble method that discharges a liquid material by bubbles generated by heating the liquid material. Can be applied. Among these, the piezo method has an advantage that it does not affect the composition of the material because no heat is applied to the liquid material. In this example, the above piezo method is used from the viewpoint of the high degree of freedom in selecting the liquid material and the good controllability of the droplets.

載置台4はY方向ガイド軸5に固定され、Y方向ガイド軸5には、Y方向駆動モータ6、16が接続されている。Y方向駆動モータ6、16は、ステッピングモータ等であり、制御装置8からY軸方向の駆動パルス信号が供給されると、Y方向ガイド軸5を回転させる。Y方向ガイド軸5の回転により、載置台4が基台7に対してY軸方向に移動する。クリーニング機構部14は、液滴吐出ヘッド10をクリーニングし、ノズルの目詰まりなどを防ぐものである。クリーニング機構部14は、上記クリーニング時において、Y方向の駆動モータ16によってY方向ガイド軸5に沿って移動する。ヒータ15は、ランプアニール等の加熱手段を用いて基板11を熱処理するものであり、基板11上に配置された液体の蒸発・乾燥を行うとともに導電膜に変換するための熱処理を行う。   The mounting table 4 is fixed to the Y-direction guide shaft 5, and Y-direction drive motors 6 and 16 are connected to the Y-direction guide shaft 5. The Y-direction drive motors 6 and 16 are stepping motors or the like, and rotate the Y-direction guide shaft 5 when a drive pulse signal in the Y-axis direction is supplied from the control device 8. The mounting table 4 moves in the Y-axis direction with respect to the base 7 by the rotation of the Y-direction guide shaft 5. The cleaning mechanism 14 cleans the droplet discharge head 10 and prevents nozzle clogging and the like. The cleaning mechanism 14 is moved along the Y-direction guide shaft 5 by the Y-direction drive motor 16 during the cleaning. The heater 15 heats the substrate 11 using a heating means such as lamp annealing, and performs heat treatment for evaporating and drying the liquid disposed on the substrate 11 and converting it into a conductive film.

本実施形態のパターン形成装置100では、液滴吐出ヘッド10から液体材料を吐出しながら、X方向駆動モータ3及びY方向駆動モータ6を介して、基板11と液滴吐出ヘッド10とを相対移動させることにより、基板11上に液体材料を配置する。液滴吐出ヘッド10の各ノズルからの液滴の吐出量は、制御装置8から上記ピエゾ素子に供給される電圧によって制御される。また、基板11上に配置される液滴のピッチは、上記相対移動の速度、及び液滴吐出ヘッド10からの配置周波数(ピエゾ素子への駆動電圧の周波数)によって制御される。また、基板11上に液滴を開始する位置は、上記相対移動の方向、及び上記相対移動時における液滴吐出ヘッド10からの液滴の配置開始のタイミング制御等によって制御される。これにより、基板11上に上述した配線用の導電膜パターンが形成される。   In the pattern forming apparatus 100 of this embodiment, the substrate 11 and the droplet discharge head 10 are relatively moved via the X direction drive motor 3 and the Y direction drive motor 6 while discharging the liquid material from the droplet discharge head 10. By doing so, the liquid material is arranged on the substrate 11. The discharge amount of droplets from each nozzle of the droplet discharge head 10 is controlled by a voltage supplied from the control device 8 to the piezo element. The pitch of the droplets arranged on the substrate 11 is controlled by the speed of the relative movement and the arrangement frequency from the droplet discharge head 10 (frequency of the driving voltage to the piezo element). Further, the position at which droplets are started on the substrate 11 is controlled by the direction of the relative movement and the timing control for starting the arrangement of the droplets from the droplet discharge head 10 during the relative movement. Thereby, the conductive film pattern for wiring described above is formed on the substrate 11.

<電気光学装置>
次に、本発明の電気光学装置の一例としてプラズマ型表示装置について説明する。図13は本実施形態のプラズマ型表示装置500の分解斜視図を示している。プラズマ型表示装置500は、互いに対向して配置された基板501、502、及びこれらの間に形成される放電表示部510を含んで構成される。放電表示部510は、複数の放電室516が集合されたものである。複数の放電室516のうち、赤色放電室516(R)、緑色放電室516(G)、青色放電室516(B)の3つの放電室516が対になって1画素を構成するように配置されている。
<Electro-optical device>
Next, a plasma display device will be described as an example of the electro-optical device of the present invention. FIG. 13 is an exploded perspective view of the plasma display device 500 of this embodiment. The plasma display device 500 includes substrates 501 and 502 disposed opposite to each other, and a discharge display unit 510 formed therebetween. The discharge display unit 510 is a collection of a plurality of discharge chambers 516. Among the plurality of discharge chambers 516, the three discharge chambers 516 of the red discharge chamber 516 (R), the green discharge chamber 516 (G), and the blue discharge chamber 516 (B) are arranged so as to form one pixel. Has been.

基板501の上面には所定の間隔でストライプ状にアドレス電極511が形成され、アドレス電極511と基板501の上面とを覆うように誘電体層519が形成されている。誘電体層519上には、アドレス電極511、511間に位置しかつ各アドレス電極511に沿うように隔壁515が形成されている。隔壁515は、アドレス電極511の幅方向左右両側に隣接する隔壁と、アドレス電極511と直交する方向に延設された隔壁とを含む。また、隔壁515によって仕切られた長方形状の領域に対応して放電室516が形成されている。また、隔壁515によって区画される長方形状の領域の内側には蛍光体517が配置されている。蛍光体517は、赤、緑、青の何れかの蛍光を発光するもので、赤色放電室516(R)の底部には赤色蛍光体517(R)が、緑色放電室516(G)の底部には緑色蛍光体517(G)が、青色放電室516(B)の底部には青色蛍光体517(B)が各々配置されている。   Address electrodes 511 are formed in stripes at predetermined intervals on the upper surface of the substrate 501, and a dielectric layer 519 is formed so as to cover the address electrodes 511 and the upper surface of the substrate 501. A partition wall 515 is formed on the dielectric layer 519 so as to be positioned between the address electrodes 511 and 511 and along the address electrodes 511. The barrier ribs 515 include barrier ribs adjacent to the left and right sides of the address electrode 511 in the width direction, and barrier ribs extending in a direction orthogonal to the address electrodes 511. A discharge chamber 516 is formed corresponding to a rectangular region partitioned by the partition 515. In addition, a phosphor 517 is disposed inside a rectangular region defined by the partition 515. The phosphor 517 emits red, green, or blue fluorescence. The red phosphor 517 (R) is located at the bottom of the red discharge chamber 516 (R), and the bottom of the green discharge chamber 516 (G). Are arranged with a green phosphor 517 (G) and a blue phosphor 517 (B) at the bottom of the blue discharge chamber 516 (B).

一方、基板502には、先のアドレス電極511と直交する方向に複数の表示電極512がストライプ状に所定の間隔で形成されている。さらに、これらを覆うように誘電体層513、及びMgOなどからなる保護膜514が形成されている。基板501と基板502とは、前記アドレス電極511…と表示電極512…を互いに直交させるように対向させて相互に貼り合わされている。上記アドレス電極511と表示電極512は図示略の交流電源に接続されている。各電極に通電することにより、放電表示部510において蛍光体517が励起発光し、カラー表示が可能となる。   On the other hand, a plurality of display electrodes 512 are formed in stripes at predetermined intervals on the substrate 502 in a direction orthogonal to the previous address electrodes 511. Further, a dielectric layer 513 and a protective film 514 made of MgO or the like are formed so as to cover them. The substrate 501 and the substrate 502 are bonded to each other with the address electrodes 511... And the display electrodes 512. The address electrode 511 and the display electrode 512 are connected to an AC power supply (not shown). By energizing each electrode, the phosphor 517 emits light in the discharge display portion 510, and color display is possible.

本実施形態では、上記アドレス電極511、及び表示電極512がそれぞれ、先の図12に示したパターン形成装置を用いて、先の図1〜図11に示したパターンの形成方法に基づいて形成されている。そのため、上記各配線類の線幅を均一にでき、しかも各配線間で外観上ムラの無い良好な視認性を有する表示装置を提供できる。   In the present embodiment, the address electrode 511 and the display electrode 512 are each formed based on the pattern forming method shown in FIGS. 1 to 11 using the pattern forming apparatus shown in FIG. ing. Therefore, it is possible to provide a display device that can make the line widths of the respective wirings uniform and that has good visibility with no appearance unevenness between the respective wirings.

次に、本発明の電気光学装置の他の例として液晶装置について説明する。図14は本実施形態に係る液晶装置の第1基板上の信号電極等の平面レイアウトを示すものである。本実施形態に係る液晶装置は、この第1基板と、走査電極等が設けられた第2基板(図示せず)と、第1基板と第2基板との間に封入された液晶(図示せず)とから概略構成されている。   Next, a liquid crystal device will be described as another example of the electro-optical device of the invention. FIG. 14 shows a planar layout of signal electrodes and the like on the first substrate of the liquid crystal device according to this embodiment. The liquid crystal device according to this embodiment includes the first substrate, a second substrate (not shown) provided with scanning electrodes and the like, and a liquid crystal (not shown) sealed between the first substrate and the second substrate. )).

図14に示すように、第1基板300上の画素領域303には、複数の信号電極310…が多重マトリクス状に設けられている。特に各信号電極310…は、各画素に対応して設けられた複数の画素電極部分310a…とこれらを多重マトリクス状に接続する信号配線部分310b…とから構成されており、Y方向に伸延している。また、符号350は1チップ構造の液晶駆動回路で、この液晶駆動回路350と信号配線部分310b…の一端側(図中下側)とが第1引き回し配線331…を介して接続されている。また、符号340…は上下導通端子で、この上下導通端子340…と、図示しない第2基板上に設けられた端子とが上下導通材341…によって接続されている。また、上下導通端子340…と液晶駆動回路350とが第2引き回し配線332…を介して接続されている。   As shown in FIG. 14, in the pixel region 303 on the first substrate 300, a plurality of signal electrodes 310 are provided in a multiple matrix form. In particular, each signal electrode 310 is composed of a plurality of pixel electrode portions 310a provided corresponding to each pixel and signal wiring portions 310b that connect them in a multiplex matrix, and extends in the Y direction. ing. Reference numeral 350 denotes a liquid crystal driving circuit having a one-chip structure, and the liquid crystal driving circuit 350 and one end side (lower side in the figure) of the signal wiring portions 310b... Are connected via first routing wirings 331. Further, reference numeral 340... Is a vertical conduction terminal, and the vertical conduction terminals 340... Are connected to terminals provided on a second substrate (not shown) by vertical conduction members 341. Further, the vertical conduction terminals 340... And the liquid crystal driving circuit 350 are connected via the second routing wirings 332.

本実施形態例では、上記第1基板300上に設けられた信号配線部分310b…、第1引き回し配線331…、及び第2引き回し配線332…がそれぞれ、先の図12に示したパターン形成装置を用いて、先の図1〜図11に示したパターンの形成方法に基づいて形成されている。そのため、均一な線幅を有する配線を形成できる。また、大型化した液晶用基板の製造に適用した場合においても、配線用材料を効率的に使用することができ、低コスト化が図れる。なお、本発明が適用できるデバイスは、これらの電気光学装置に限られず、例えば導電膜配線が形成される回路基板や、半導体の実装配線等、他のデバイス製造にも適用が可能である。   In the present embodiment, the signal wiring portions 310b..., The first routing wiring 331... And the second routing wiring 332... Provided on the first substrate 300 are the same as those in the pattern forming apparatus shown in FIG. The pattern is formed based on the pattern forming method shown in FIGS. Therefore, a wiring having a uniform line width can be formed. Also, when applied to the manufacture of a large liquid crystal substrate, the wiring material can be used efficiently, and the cost can be reduced. The device to which the present invention can be applied is not limited to these electro-optical devices, and can be applied to other device manufacturing such as a circuit board on which conductive film wiring is formed, semiconductor mounting wiring, and the like.

次いで、本発明の電気光学装置である液晶表示装置の別形態について説明する。
図15に示す液晶表示装置(電気光学装置)901は、大別するとカラーの液晶パネル(電気光学パネル)902と、液晶パネル902に接続される回路基板903とを備えている。また、必要に応じて、バックライト等の照明装置、その他の付帯機器が液晶パネル902に付設されている。
Next, another embodiment of the liquid crystal display device which is the electro-optical device of the invention will be described.
A liquid crystal display device (electro-optical device) 901 illustrated in FIG. 15 includes a color liquid crystal panel (electro-optical panel) 902 and a circuit board 903 connected to the liquid crystal panel 902. Further, an illumination device such as a backlight and other incidental devices are attached to the liquid crystal panel 902 as necessary.

液晶パネル902は、シール材904によって接着された一対の基板905a及び基板905bを有し、これらの基板905bと基板905bとの間に形成される間隙、いわゆるセルギャップには液晶が封入されている。これらの基板905a及び基板905bは、一般には透光性材料、例えばガラス、合成樹脂等によって形成されている。基板905a及び基板905bの外側表面には偏光板906a及び偏光板906bが貼り付けられている。なお、図15においては、偏光板906bの図示を省略している。   The liquid crystal panel 902 includes a pair of substrates 905a and 905b bonded by a sealant 904, and liquid crystal is sealed in a gap formed between the substrates 905b and 905b, a so-called cell gap. . These substrates 905a and 905b are generally formed of a light-transmitting material such as glass or synthetic resin. A polarizing plate 906a and a polarizing plate 906b are attached to the outer surfaces of the substrate 905a and the substrate 905b. In FIG. 15, the polarizing plate 906b is not shown.

また、基板905aの内側表面には電極907aが形成され、基板905bの内側表面には電極907bが形成されている。これらの電極907a、907bはストライプ状または文字、数字、その他の適宜のパターン状に形成されている。また、これらの電極907a、907bは、例えばITO(Indium Tin Oxide:インジウムスズ酸化物)等の透光性材料によって形成されている。基板905aは、基板905bに対して張り出した張り出し部を有し、この張り出し部に複数の端子908が形成されている。これらの端子908は、基板905a上に電極907aを形成するときに電極907aと同時に形成される。従って、これらの端子908は、例えばITOによって形成されている。これらの端子908には、電極907aから一体に延びるもの、及び導電材(不図示)を介して電極907bに接続されるものが含まれる。   An electrode 907a is formed on the inner surface of the substrate 905a, and an electrode 907b is formed on the inner surface of the substrate 905b. These electrodes 907a and 907b are formed in stripes or letters, numbers, or other appropriate patterns. The electrodes 907a and 907b are made of a light-transmitting material such as ITO (Indium Tin Oxide). The substrate 905a has a protruding portion that protrudes from the substrate 905b, and a plurality of terminals 908 are formed on the protruding portion. These terminals 908 are formed simultaneously with the electrode 907a when the electrode 907a is formed over the substrate 905a. Therefore, these terminals 908 are made of, for example, ITO. These terminals 908 include one that extends integrally from the electrode 907a and one that is connected to the electrode 907b via a conductive material (not shown).

回路基板903には、配線基板909上の所定位置に液晶駆動用ICとしての半導体素子900が実装されている。なお、図示は省略しているが、半導体素子900が実装される部位以外の部位の所定位置には抵抗、コンデンサ、その他のチップ部品が実装されていてもよい。配線基板909は、例えばポリイミド等の可撓性を有するベース基板911の上に形成されたCu等の金属膜をパターニングして配線パターン912を形成することによって製造されている。   On the circuit board 903, a semiconductor element 900 as a liquid crystal driving IC is mounted at a predetermined position on the wiring board 909. Although not shown, a resistor, a capacitor, and other chip components may be mounted at predetermined positions other than the portion where the semiconductor element 900 is mounted. The wiring substrate 909 is manufactured by forming a wiring pattern 912 by patterning a metal film such as Cu formed on a flexible base substrate 911 such as polyimide.

本実施形態では、液晶パネル902における電極907a、907b及び回路基板903における配線パターン912が上記デバイス製造方法によって形成されている。
本実施形態の液晶表示装置によれば、電気特性の不均一が解消された高品質の液晶表示装置を得ることができる。
In this embodiment, the electrodes 907a and 907b in the liquid crystal panel 902 and the wiring pattern 912 in the circuit board 903 are formed by the device manufacturing method.
According to the liquid crystal display device of the present embodiment, it is possible to obtain a high-quality liquid crystal display device in which nonuniformity in electrical characteristics is eliminated.

なお、前述した例はパッシブ型の液晶パネルであるが、アクティブマトリクス型の液晶パネルとしてもよい。すなわち、一方の基板に薄膜トランジスタ(TFT)を形成し、各TFTに対し画素電極を形成する。また、各TFTに電気的に接続する配線(ゲート配線、ソース配線)を上記のようにインクジェット技術を用いて形成することができる。一方、対向する基板には対向電極等が形成されている。このようなアクティブマトリクス型の液晶パネルにも本発明を適用することができる。   Note that the above-described example is a passive liquid crystal panel, but an active matrix liquid crystal panel may be used. That is, a thin film transistor (TFT) is formed on one substrate, and a pixel electrode is formed for each TFT. In addition, wirings (gate wirings and source wirings) that are electrically connected to the TFTs can be formed using the inkjet technique as described above. On the other hand, a counter electrode or the like is formed on the opposing substrate. The present invention can also be applied to such an active matrix liquid crystal panel.

次に、電気光学装置の他の実施形態として、電界放出素子(電気放出素子)を備えた電界放出ディスプレイ(Field Emission Display、以下FEDと称す。)について説明する。
図16は、FEDを説明するための図であって、図16(a)はFEDを構成するカソード基板とアノード基板の配置を示した概略構成図、図16(b)はFEDのうちカソード基板が具備する駆動回路の模式図、図16(c)はカソード基板の要部を示した斜視図である。
Next, as another embodiment of the electro-optical device, a field emission display (hereinafter referred to as FED) including a field emission element (electric emission element) will be described.
16A and 16B are diagrams for explaining the FED. FIG. 16A is a schematic configuration diagram showing the arrangement of the cathode substrate and the anode substrate constituting the FED, and FIG. 16B is a cathode substrate of the FED. FIG. 16C is a perspective view showing the main part of the cathode substrate.

図16(a)に示すようにFED(電気光学装置)200は、カソード基板200aとアノード基板200bとを対向配置された構成となっている。カソード基板200aは、図16(b)に示すようにゲート線201と、エミッタ線202と、これらゲート線201とエミッタ線202とに接続された電界放出素子203とを具備しており、すなわち、所謂単純マトリクス駆動回路となっている。ゲート線201においては、ゲート信号V1、V2、…、Vmが供給されるようになっており、エミッタ線202においては、エミッタ信号W1、W2、…、Wnが供給されるようになっている。また、アノード基板200bは、RGBからなる蛍光体を備えており、当該蛍光体は電子が当ることにより発光する性質を有する。   As shown in FIG. 16A, an FED (electro-optical device) 200 has a configuration in which a cathode substrate 200a and an anode substrate 200b are arranged to face each other. As shown in FIG. 16B, the cathode substrate 200a includes a gate line 201, an emitter line 202, and a field emission element 203 connected to the gate line 201 and the emitter line 202. This is a so-called simple matrix driving circuit. The gate signal 201 is supplied with gate signals V1, V2,..., Vm, and the emitter line 202 is supplied with emitter signals W1, W2,. The anode substrate 200b includes a phosphor made of RGB, and the phosphor has a property of emitting light when hit by electrons.

図16(c)に示すように、電界放出素子203はエミッタ線202に接続されたエミッタ電極203aと、ゲート線201に接続されたゲート電極203bとを備えた構成となっている。さらに、エミッタ電極203aは、エミッタ電極203a側からゲート電極203bに向かって小径化するエミッタティップ205と呼ばれる突起部を備えており、このエミッタティップ205と対応した位置にゲート電極203bに孔部204が形成され、孔部204内にエミッタティップ205の先端が配置されている。   As shown in FIG. 16C, the field emission device 203 has an emitter electrode 203 a connected to the emitter line 202 and a gate electrode 203 b connected to the gate line 201. Furthermore, the emitter electrode 203a includes a protrusion called an emitter tip 205 that decreases in diameter from the emitter electrode 203a side toward the gate electrode 203b. A hole 204 is formed in the gate electrode 203b at a position corresponding to the emitter tip 205. The tip of the emitter tip 205 is disposed in the hole 204.

このようなFED200においては、ゲート線201のゲート信号V1、V2、…、Vm、及びエミッタ線202のエミッタ信号W1、W2、…、Wnを制御することにより、エミッタ電極203aとゲート電極203bとの間に電圧が供給され、電解の作用によってエミッタティップ205から孔部204に向かって電子210が移動し、エミッタティップ205の先端から電子210が放出される。ここで、当該電子210とアノード基板200bの蛍光体とが当ることにより発光するので、所望にFED200を駆動することが可能になる。   In such an FED 200, by controlling the gate signals V1, V2,..., Vm of the gate line 201 and the emitter signals W1, W2,..., Wn of the emitter line 202, the emitter electrode 203a and the gate electrode 203b are controlled. A voltage is supplied between them, and electrons 210 move from the emitter tip 205 toward the hole 204 by the action of electrolysis, and electrons 210 are emitted from the tip of the emitter tip 205. Here, since the light is emitted when the electrons 210 and the phosphor of the anode substrate 200b hit, the FED 200 can be driven as desired.

このように構成されたFEDにおいては、例えばエミッタ電極203aやエミッタ線202、さらにはゲート電極203bやゲート線201が上記デバイス製造方法によって形成されている。
本実施形態のFEDによれば、電気特性の不均一が解消された高品質のFEDを得ることができる。
In the FED configured as described above, for example, the emitter electrode 203a and the emitter line 202, and further the gate electrode 203b and the gate line 201 are formed by the device manufacturing method.
According to the FED of this embodiment, it is possible to obtain a high-quality FED in which nonuniformity in electrical characteristics is eliminated.

<電子機器>
次に、本発明の電子機器の例について説明する。図17は上述した実施形態に係る表示装置を備えたモバイル型のパーソナルコンピュータ(情報処理装置)の構成を示す斜視図である。同図において、パーソナルコンピュータ1100は、キーボード1102を備えた本体部1104と、上述した電気光学装置1106を備えた表示装置ユニットとから構成されている。このため、発光効率が高く明るい表示部を備えた電子機器を提供することができる。
<Electronic equipment>
Next, an example of the electronic device of the present invention will be described. FIG. 17 is a perspective view illustrating a configuration of a mobile personal computer (information processing apparatus) including the display device according to the above-described embodiment. In the figure, a personal computer 1100 is composed of a main body 1104 provided with a keyboard 1102 and a display device unit provided with the electro-optical device 1106 described above. For this reason, the electronic device provided with the bright display part with high luminous efficiency can be provided.

なお、上述した例に加えて、他の例として、携帯電話、腕時計型電子機器、液晶テレビ、ビューファインダ型やモニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、電子ペーパー、タッチパネルを備えた機器等が挙げられる。本発明の電気光学装置は、こうした電子機器の表示部としても適用できる。なお、本実施形態の電子機器は液晶装置を備えるもの、有機エレクトロルミネッセンス表示装置、プラズマ型表示装置等、他の電気光学装置を備えた電子機器とすることもできる。   In addition to the above-described examples, other examples include mobile phones, wristwatch-type electronic devices, liquid crystal televisions, viewfinder-type and monitor direct-view video tape recorders, car navigation devices, pagers, electronic notebooks, calculators, word processors, Examples include workstations, videophones, POS terminals, electronic paper, and devices equipped with touch panels. The electro-optical device of the present invention can also be applied as a display unit of such an electronic apparatus. Note that the electronic apparatus according to the present embodiment may be an electronic apparatus including another liquid crystal device, an organic electroluminescence display device, a plasma display device, or other electro-optical device.

以上、添付図面を参照しながら本発明に係る好適な実施の形態例について説明したが、本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。上述した例において示した各構成部材の諸形状や組み合わせ等は一例であって、本発明の主旨から逸脱しない範囲において設計要求等に基づき種々変更可能である。   The preferred embodiments of the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings, but it goes without saying that the present invention is not limited to such examples. Various shapes, combinations, and the like of the constituent members shown in the above-described examples are examples, and various modifications can be made based on design requirements and the like without departing from the gist of the present invention.

本発明のパターンの形成方法の一実施形態を示すフローチャート図である。It is a flowchart figure which shows one Embodiment of the formation method of the pattern of this invention. 本発明のパターンの形成方法の一実施形態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows one Embodiment of the formation method of the pattern of this invention. 本発明のパターンの形成方法の一実施形態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows one Embodiment of the formation method of the pattern of this invention. 本発明のパターンの形成方法の一実施形態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows one Embodiment of the formation method of the pattern of this invention. 本発明のパターンの形成方法の一実施形態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows one Embodiment of the formation method of the pattern of this invention. 基板上に設定されたビットマップデータに基づいて液滴が配置される様子を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows a mode that a droplet is arrange | positioned based on the bitmap data set on the board | substrate. 基板上に設定されたビットマップデータに基づいて液滴が配置される様子を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows a mode that a droplet is arrange | positioned based on the bitmap data set on the board | substrate. 基板上に設定されたビットマップデータに基づいて液滴が配置される様子を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows a mode that a droplet is arrange | positioned based on the bitmap data set on the board | substrate. 基板上に設定されたビットマップデータに基づいて液滴が配置される様子を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows a mode that a droplet is arrange | positioned based on the bitmap data set on the board | substrate. 基板上に設定されたビットマップデータに基づいて液滴が配置される様子を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows a mode that a droplet is arrange | positioned based on the bitmap data set on the board | substrate. 基板上に設定されたビットマップデータに基づいて液滴が配置される様子を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows a mode that a droplet is arrange | positioned based on the bitmap data set on the board | substrate. 本発明のパターン形成装置の一実施形態を示す概略斜視図である。It is a schematic perspective view which shows one Embodiment of the pattern formation apparatus of this invention. 本発明の電気光学装置の一実施形態を示す図であってプラズマ型表示装置に適用した例を示す分解斜視図である。1 is an exploded perspective view illustrating an example of an electro-optical device according to an embodiment of the invention applied to a plasma display device. 本発明の電気光学装置の一実施形態を示す図であって液晶装置に適用した例を示す平面図である。FIG. 3 is a diagram illustrating an embodiment of the electro-optical device of the invention, and is a plan view illustrating an example applied to a liquid crystal device. 液晶表示装置の別形態を示す図である。It is a figure which shows another form of a liquid crystal display device. FEDを説明するための図である。It is a figure for demonstrating FED. 本発明の電子機器の一実施形態を示す図である。It is a figure which shows one Embodiment of the electronic device of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

10…液滴吐出ヘッド(液滴吐出装置)、10A〜10J…吐出ノズル(吐出部)、
11…基板、100…パターン形成装置(液滴吐出装置)、
R1〜R7…パターン形成領域、
W1〜W7…膜パターン(配線パターン、導電膜配線)、
Wa…第1側部パターン(一方の側部)、Wb…第2側部パターン(他方の側部)、
Wc…中央パターン(中央部)
10: droplet discharge head (droplet discharge device), 10A to 10J: discharge nozzle (discharge unit),
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... Board | substrate, 100 ... Pattern formation apparatus (droplet discharge apparatus),
R1 to R7 ... pattern formation region,
W1-W7 ... film pattern (wiring pattern, conductive film wiring),
Wa ... first side pattern (one side), Wb ... second side pattern (the other side),
Wc ... Center pattern (central part)

Claims (14)

液体材料の液滴を基板上に配置することにより膜パターンを形成するパターンの形成方法であって、
前記基板上に前記膜パターンを形成するパターン形成領域を複数設定する工程と、
前記設定した複数のパターン形成領域のそれぞれに複数の液滴を順次配置して前記膜パターンを形成する工程とを有し、
前記膜パターンを形成する工程は、
所定の間隔をあけて基板上に液滴を配置して点線状のパターンを形成する第1工程と、
前記第1工程後、前記基板上の液滴の間に液滴を配置して前記点線状のパターンを一体化して線状パターンを形成する第2工程とを有し、
先に形成した線状パターンからずらした位置で前記第1、第2工程を繰り返すことにより前記複数のパターン形成領域のそれぞれに前記膜パターンが形成され、
前記複数のパターン形成領域の少なくとも2つ以上のパターン形成領域のそれぞれに前記液滴をほぼ同時に配置するとともに、前記複数のパターン形成領域のそれぞれについて前記液滴を配置する配置順序を略同一にして前記液滴を配置することを特徴とするパターンの形成方法。
A pattern forming method for forming a film pattern by disposing liquid material droplets on a substrate,
Setting a plurality of pattern forming regions for forming the film pattern on the substrate;
A step of sequentially arranging a plurality of droplets in each of the set plurality of pattern formation regions to form the film pattern,
The step of forming the film pattern includes
A first step of forming a dotted line pattern by disposing droplets on a substrate at a predetermined interval;
A second step of forming a linear pattern by disposing a droplet between the droplets on the substrate after the first step and integrating the dotted line pattern;
The film pattern is formed in each of the plurality of pattern formation regions by repeating the first and second steps at a position shifted from the previously formed linear pattern,
The droplets are arranged almost simultaneously in each of at least two pattern formation regions of the plurality of pattern formation regions, and the arrangement order of arranging the droplets in each of the plurality of pattern formation regions is made substantially the same. A method for forming a pattern, comprising disposing the droplets.
前記基板上に前記液滴が配置される格子状の複数の単位領域を設定し、前記複数の単位領域のうち所定の単位領域に対して前記液滴を配置することを特徴とする請求項1記載のパターンの形成方法。   2. A plurality of grid-like unit regions on which the droplets are arranged is set on the substrate, and the droplets are arranged in a predetermined unit region among the plurality of unit regions. A method for forming the pattern described above. 前記膜パターンは線状の膜パターンであり、該膜パターンの線幅方向側部を形成した後に中央部を形成することを特徴とする請求項1又は2記載のパターンの形成方法。 3. The pattern forming method according to claim 1, wherein the film pattern is a linear film pattern , and the central part is formed after the line width direction side part of the film pattern is formed. 前記パターン形成領域を所定方向に複数並べて設定するとともに該複数のパターン形成領域のそれぞれに対応して前記液滴を配置する吐出部を複数設け、前記パターン形成領域の並び方向に前記吐出部を移動しながら前記液滴を配置することを特徴とする請求項1〜のいずれか一項記載のパターンの形成方法。 A plurality of the pattern formation regions are set in a predetermined direction, and a plurality of discharge portions for arranging the droplets are provided corresponding to each of the plurality of pattern formation regions, and the discharge portions are moved in the alignment direction of the pattern formation regions. pattern formation method of claim 1 any one claim of 3, wherein the placement of the droplet while. 前記液体材料は導電性微粒子を含む液状体であることを特徴とする請求項1〜のいずれか一項記載のパターンの形成方法。 The liquid material pattern formation method of claim 1 any one claim 4, characterized in that a liquid material containing conductive particles. 液体材料の液滴を基板上に配置することにより線状の膜パターンを形成するパターンの形成方法であって、
前記基板上に前記膜パターンを形成するパターン形成領域を複数並べて設定する工程と、
前記設定した複数のパターン形成領域のそれぞれに複数の液滴をその一部を重ね合わせるように配置して前記膜パターンを形成する工程とを有し、
前記膜パターンを形成する工程は、
所定の間隔をあけて基板上に液滴を配置して点線状のパターンを形成する第1工程と、
前記第1工程後、前記基板上の液滴の間に液滴を配置して前記点線状のパターンを一体化して線状パターンを形成する第2工程とを有し、
先に形成した線状パターンからずらした位置で前記第1、第2工程を繰り返すことにより前記複数のパターン形成領域のそれぞれに前記膜パターンが形成され、
前記複数のパターン形成領域の少なくとも2つ以上のパターン形成領域のそれぞれに前記液滴をほぼ同時に配置するとともに、前記複数のパターン形成領域のそれぞれについて前記液滴の配置を略同一にしたことを特徴とするパターンの形成方法。
A pattern forming method for forming a linear film pattern by disposing liquid material droplets on a substrate,
Arranging a plurality of pattern formation regions for forming the film pattern on the substrate; and
Forming the film pattern by arranging a plurality of droplets so as to overlap a part of each of the plurality of set pattern formation regions,
The step of forming the film pattern includes
A first step of forming a dotted line pattern by disposing droplets on a substrate at a predetermined interval;
A second step of forming a linear pattern by disposing a droplet between the droplets on the substrate after the first step and integrating the dotted line pattern;
The film pattern is formed in each of the plurality of pattern formation regions by repeating the first and second steps at a position shifted from the previously formed linear pattern,
The droplets are arranged almost simultaneously in each of at least two pattern forming regions of the plurality of pattern forming regions, and the arrangement of the droplets is made substantially the same in each of the plurality of pattern forming regions. A pattern forming method.
液体材料の液滴を基板上に配置する液滴吐出装置を備え、前記液滴により膜パターンを形成するパターン形成装置であって、
前記液滴吐出装置は、前記基板上に予め複数設定された前記膜パターンを形成するパターン形成領域のそれぞれに複数の液滴を順次配置し、前記液滴を順次配置する際、所定の間隔をあけて基板上に液滴を配置して点線状のパターンを形成し、次いで前記基板上の液滴の間に液滴を配置して前記点線状のパターンを一体化して線状パターンを形成し、先に形成した線状パターンからずらした位置で前記線状パターンを形成することを繰り返すことにより前記複数のパターン形成領域のそれぞれに前記膜パターンを形成し、前記複数のパターン形成領域の少なくとも2つ以上のパターン形成領域のそれぞれに前記液滴をほぼ同時に配置するとともに、前記複数のパターン形成領域のそれぞれについて前記液滴を配置する配置順序を略同一にすることを特徴とするパターン形成装置。
A pattern forming apparatus that includes a droplet discharge device that disposes droplets of a liquid material on a substrate, and forms a film pattern with the droplets,
The droplet discharge device sequentially arranges a plurality of droplets in each of the pattern formation regions for forming a plurality of preset film patterns on the substrate, and when the droplets are sequentially arranged, a predetermined interval is provided. A droplet is placed on the substrate to form a dotted pattern, and then a droplet is placed between the droplets on the substrate to integrate the dotted pattern to form a linear pattern. The film pattern is formed in each of the plurality of pattern formation regions by repeating the formation of the linear pattern at a position shifted from the previously formed linear pattern, and at least two of the plurality of pattern formation regions One or more with substantially arranged at the same time the droplets in each of the pattern formation region of the arrangement order of placing the droplet for each of the plurality of pattern forming regions on substantially the same Pattern forming apparatus according to claim 1, wherein the door.
液体材料の液滴を基板上に配置する液滴吐出装置を備え、前記液滴により線状の膜パターンを形成するパターン形成装置であって、
前記液滴吐出装置は、前記基板上に予め複数並んで設定された前記膜パターンを形成するパターン形成領域のそれぞれに複数の液滴をその一部を重ね合わせるように配置し、前記液滴を配置する際、所定の間隔をあけて基板上に液滴を配置して点線状のパターンを形成し、次いで前記基板上の液滴の間に液滴を配置して前記点線状のパターンを一体化して線状パターンを形成し、先に形成した線状パターンからずらした位置で前記線状パターンを形成することを繰り返すことにより前記複数のパターン形成領域のそれぞれに前記膜パターンを形成し、前記複数のパターン形成領域の少なくとも2つ以上のパターン形成領域のそれぞれに前記液滴をほぼ同時に配置するとともに、前記複数のパターン形成領域のそれぞれについて前記液滴の配置を略同一にすることを特徴とするパターン形成装置。
A pattern forming apparatus that includes a droplet discharge device that arranges droplets of a liquid material on a substrate, and forms a linear film pattern with the droplets,
The droplet ejection apparatus, disposing a plurality of droplets so as to superimpose a part to each of the pattern formation region for forming the pattern that is set in advance plural side by side on the substrate, the droplet When arranging, droplets are arranged on the substrate at a predetermined interval to form a dotted line pattern, and then the droplets are arranged between the droplets on the substrate to integrate the dotted line pattern. Forming a linear pattern, forming the film pattern in each of the plurality of pattern formation regions by repeating the formation of the linear pattern at a position shifted from the previously formed linear pattern, with substantially arranged at the same time the droplets in each of at least two pattern formation region of a plurality of pattern forming regions, the arrangement of the droplets for each of the plurality of pattern forming regions Pattern forming apparatus characterized by substantially the same.
配線パターンを有するデバイスの製造方法において、
前記基板上に複数設定された前記配線パターンを形成するパターン形成領域のそれぞれに液体材料の液滴を配置することにより前記配線パターンを形成する材料配置工程を有し、
前記材料配置工程は、前記設定した複数のパターン形成領域のそれぞれに複数の液滴を順次配置して前記膜パターンを形成する工程を有し、
前記膜パターンを形成する工程は、
所定の間隔をあけて基板上に液滴を配置して点線状のパターンを形成する第1工程と、
前記第1工程後、前記基板上の液滴の間に液滴を配置して前記点線状のパターンを一体化して線状パターンを形成する第2工程とを有し、
先に形成した線状パターンからずらした位置で前記第1、第2工程を繰り返すことにより前記複数のパターン形成領域のそれぞれに前記膜パターンが形成され、
前記複数のパターン形成領域の少なくとも2つ以上のパターン形成領域のそれぞれに前記液滴をほぼ同時に配置するとともに、前記複数のパターン形成領域のそれぞれについて前記液滴を配置する配置順序を略同一にして前記液滴を配置することを特徴とするデバイスの製造方法。
In a method for manufacturing a device having a wiring pattern,
A material disposing step of forming the wiring pattern by disposing droplets of a liquid material in each of the pattern forming regions for forming the wiring pattern set in plurality on the substrate;
The material arranging step includes a step of sequentially arranging a plurality of droplets in each of the set plurality of pattern forming regions to form the film pattern,
The step of forming the film pattern includes
A first step of forming a dotted line pattern by disposing droplets on a substrate at a predetermined interval;
A second step of forming a linear pattern by disposing a droplet between the droplets on the substrate after the first step and integrating the dotted line pattern;
The film pattern is formed in each of the plurality of pattern formation regions by repeating the first and second steps at a position shifted from the previously formed linear pattern,
The droplets are arranged almost simultaneously in each of at least two pattern formation regions of the plurality of pattern formation regions, and the arrangement order of arranging the droplets in each of the plurality of pattern formation regions is made substantially the same. A device manufacturing method, comprising disposing the droplets.
配線パターンを有するデバイスの製造方法において、
前記基板上に複数設定された前記配線パターンを形成するパターン形成領域のそれぞれに液体材料の液滴を配置することにより前記配線パターンを形成する材料配置工程を有し、
前記材料配置工程は、前記設定した複数のパターン形成領域のそれぞれに複数の液滴をその一部を重ね合わせるように配置して前記膜パターンを形成する工程を有し、
前記膜パターンを形成する工程は、
所定の間隔をあけて基板上に液滴を配置して点線状のパターンを形成する第1工程と、
前記第1工程後、前記基板上の液滴の間に液滴を配置して前記点線状のパターンを一体化して線状パターンを形成する第2工程とを有し、
先に形成した線状パターンからずらした位置で前記第1、第2工程を繰り返すことにより前記複数のパターン形成領域のそれぞれに前記膜パターンが形成され、
前記複数のパターン形成領域の少なくとも2つ以上のパターン形成領域のそれぞれに前記液滴をほぼ同時に配置するとともに、前記複数のパターン形成領域のそれぞれについて前記液滴の配置を略同一にしたことを特徴とするデバイスの製造方法。
In a method for manufacturing a device having a wiring pattern,
A material disposing step of forming the wiring pattern by disposing droplets of a liquid material in each of the pattern forming regions for forming the wiring pattern set in plurality on the substrate;
The material arranging step includes a step of forming the film pattern by arranging a plurality of droplets so as to overlap a part of each of the set plurality of pattern forming regions,
The step of forming the film pattern includes
A first step of forming a dotted line pattern by disposing droplets on a substrate at a predetermined interval;
A second step of forming a linear pattern by disposing a droplet between the droplets on the substrate after the first step and integrating the dotted line pattern;
The film pattern is formed in each of the plurality of pattern formation regions by repeating the first and second steps at a position shifted from the previously formed linear pattern,
The droplets are arranged almost simultaneously in each of at least two pattern forming regions of the plurality of pattern forming regions, and the arrangement of the droplets is made substantially the same in each of the plurality of pattern forming regions. A device manufacturing method.
請求項又は記載のパターン形成装置により形成されたことを特徴とする導電膜配線。 A conductive film wiring formed by the pattern forming apparatus according to claim 7 or 8 . 基板上に複数並んだ配線パターンからなる導電膜配線であって、
該複数の配線パターンのそれぞれはその一部を重ね合わせるように配置された複数の液滴により形成されており、前記複数の液滴の配置が前記複数の配線パターンのそれぞれについて略同一に設定されていることを特徴とする導電膜配線。
A conductive film wiring comprising a plurality of wiring patterns arranged on a substrate,
Each of the plurality of wiring patterns is formed by a plurality of droplets arranged so as to overlap a part thereof, and the arrangement of the plurality of droplets is set to be substantially the same for each of the plurality of wiring patterns. A conductive film wiring characterized by the above.
請求項11又は請求項12記載の導電膜配線を備えることを特徴とする電気光学装置。 Electro-optical device characterized by comprising a conductive film wiring of claim 11 or claim 12, wherein. 請求項13記載の電気光学装置を備えることを特徴とする電子機器。 An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to claim 13 .
JP2004031045A 2003-03-27 2004-02-06 Pattern forming method and pattern forming apparatus, device manufacturing method, conductive film wiring, electro-optical device, and electronic apparatus Expired - Fee Related JP3966292B2 (en)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004031045A JP3966292B2 (en) 2003-03-27 2004-02-06 Pattern forming method and pattern forming apparatus, device manufacturing method, conductive film wiring, electro-optical device, and electronic apparatus
TW093106869A TWI244363B (en) 2003-03-27 2004-03-15 Pattern forming method, pattern forming apparatus and manufacturing method thereof, conductive film wiring, opto-electronic device, and electronic machine
KR1020040019874A KR100662066B1 (en) 2003-03-27 2004-03-24 Method of forming pattern, pattern forming apparatus, method of manufacturing device, conductive film wiring, electro-optical apparatus, and electronic equipment
US10/809,205 US20050031836A1 (en) 2003-03-27 2004-03-25 Pattern forming method, pattern forming apparatus, device manufacturing method, conductive film wiring, electro-optical device, and electronic apparatus
CNA2004100317874A CN1536949A (en) 2003-03-27 2004-03-25 Image forming method, image forming device and its mfg. method

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003088803 2003-03-27
JP2004031045A JP3966292B2 (en) 2003-03-27 2004-02-06 Pattern forming method and pattern forming apparatus, device manufacturing method, conductive film wiring, electro-optical device, and electronic apparatus

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004306015A JP2004306015A (en) 2004-11-04
JP3966292B2 true JP3966292B2 (en) 2007-08-29

Family

ID=33478424

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004031045A Expired - Fee Related JP3966292B2 (en) 2003-03-27 2004-02-06 Pattern forming method and pattern forming apparatus, device manufacturing method, conductive film wiring, electro-optical device, and electronic apparatus

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20050031836A1 (en)
JP (1) JP3966292B2 (en)
KR (1) KR100662066B1 (en)
CN (1) CN1536949A (en)
TW (1) TWI244363B (en)

Families Citing this family (80)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4506118B2 (en) * 2003-07-02 2010-07-21 セイコーエプソン株式会社 Discharge device, color filter substrate manufacturing device, electroluminescence display device manufacturing device, plasma display device manufacturing device, wiring manufacturing device, and coating method.
JP2006100401A (en) * 2004-09-28 2006-04-13 Seiko Epson Corp Method of forming wiring pattern, wiring pattern, electronic apparatus
JP2006221059A (en) * 2005-02-14 2006-08-24 Future Vision:Kk Substrate for display device and image display device using the same
JP4458075B2 (en) 2005-08-26 2010-04-28 セイコーエプソン株式会社 Layer forming method, active matrix substrate manufacturing method, and multilayer wiring substrate manufacturing method
CN100461335C (en) * 2005-08-26 2009-02-11 精工爱普生株式会社 Method for forming a layer, method for manufacturing an active matrix substrate, and method for manufacturing a multilayered wiring substrate
JP5049581B2 (en) * 2006-12-21 2012-10-17 キヤノン株式会社 Forming method
JP5085965B2 (en) * 2007-03-30 2012-11-28 富士フイルム株式会社 Resin film forming method, resin film forming apparatus, and electronic circuit board manufacturing method
KR100833110B1 (en) * 2007-04-27 2008-05-28 삼성전기주식회사 Method for manufacturing printed circuit board
KR100862002B1 (en) * 2007-05-03 2008-10-07 삼성전기주식회사 Method for treatment of substrate surface and method for manufacturing substrate
TWI475124B (en) 2009-05-22 2015-03-01 Samsung Display Co Ltd Thin film deposition apparatus
JP5620146B2 (en) 2009-05-22 2014-11-05 三星ディスプレイ株式會社Samsung Display Co.,Ltd. Thin film deposition equipment
US8882920B2 (en) 2009-06-05 2014-11-11 Samsung Display Co., Ltd. Thin film deposition apparatus
US8882921B2 (en) 2009-06-08 2014-11-11 Samsung Display Co., Ltd. Thin film deposition apparatus
US9174250B2 (en) 2009-06-09 2015-11-03 Samsung Display Co., Ltd. Method and apparatus for cleaning organic deposition materials
US8802200B2 (en) 2009-06-09 2014-08-12 Samsung Display Co., Ltd. Method and apparatus for cleaning organic deposition materials
KR101074792B1 (en) * 2009-06-12 2011-10-19 삼성모바일디스플레이주식회사 Apparatus for thin layer deposition
KR101117719B1 (en) * 2009-06-24 2012-03-08 삼성모바일디스플레이주식회사 Apparatus for thin layer deposition
KR101097311B1 (en) 2009-06-24 2011-12-21 삼성모바일디스플레이주식회사 Organic light emitting display apparatus and apparatus for thin layer deposition for manufacturing the same
KR101117720B1 (en) 2009-06-25 2012-03-08 삼성모바일디스플레이주식회사 Apparatus for thin layer deposition and method of manufacturing organic light emitting device using the same
KR20110014442A (en) 2009-08-05 2011-02-11 삼성모바일디스플레이주식회사 Apparatus for thin layer deposition and method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same
KR101127575B1 (en) 2009-08-10 2012-03-23 삼성모바일디스플레이주식회사 Apparatus for thin film deposition having a deposition blade
US20110033621A1 (en) * 2009-08-10 2011-02-10 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Thin film deposition apparatus including deposition blade
KR101127578B1 (en) 2009-08-24 2012-03-23 삼성모바일디스플레이주식회사 Apparatus for thin layer deposition, method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same, and organic light emitting display apparatus manufactured by the method
JP5676175B2 (en) 2009-08-24 2015-02-25 三星ディスプレイ株式會社Samsung Display Co.,Ltd. Thin film deposition apparatus and organic light emitting display device manufacturing method using the same
JP5328726B2 (en) 2009-08-25 2013-10-30 三星ディスプレイ株式會社 Thin film deposition apparatus and organic light emitting display device manufacturing method using the same
US8486737B2 (en) 2009-08-25 2013-07-16 Samsung Display Co., Ltd. Thin film deposition apparatus and method of manufacturing organic light-emitting display device by using the same
JP5677785B2 (en) 2009-08-27 2015-02-25 三星ディスプレイ株式會社Samsung Display Co.,Ltd. Thin film deposition apparatus and organic light emitting display device manufacturing method using the same
JP5611718B2 (en) * 2009-08-27 2014-10-22 三星ディスプレイ株式會社Samsung Display Co.,Ltd. Thin film deposition apparatus and organic light emitting display device manufacturing method using the same
US8696815B2 (en) 2009-09-01 2014-04-15 Samsung Display Co., Ltd. Thin film deposition apparatus
US20110052795A1 (en) * 2009-09-01 2011-03-03 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Thin film deposition apparatus and method of manufacturing organic light-emitting display device by using the same
US8876975B2 (en) 2009-10-19 2014-11-04 Samsung Display Co., Ltd. Thin film deposition apparatus
KR101146982B1 (en) 2009-11-20 2012-05-22 삼성모바일디스플레이주식회사 Aapparatus for thin layer deposition and method of manufacturing organic light emitting display apparatus
JP5394227B2 (en) * 2009-12-29 2014-01-22 シャープ株式会社 Pattern drawing apparatus and pattern drawing method
KR101084184B1 (en) 2010-01-11 2011-11-17 삼성모바일디스플레이주식회사 Apparatus for thin layer deposition
KR101174875B1 (en) 2010-01-14 2012-08-17 삼성디스플레이 주식회사 Apparatus for thin layer deposition, method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same, and organic light emitting display apparatus manufactured by the method
KR101193186B1 (en) 2010-02-01 2012-10-19 삼성디스플레이 주식회사 Apparatus for thin layer deposition, method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same, and organic light emitting display apparatus manufactured by the method
KR101156441B1 (en) 2010-03-11 2012-06-18 삼성모바일디스플레이주식회사 Apparatus for thin layer deposition
KR101202348B1 (en) 2010-04-06 2012-11-16 삼성디스플레이 주식회사 Apparatus for thin layer deposition and method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same
US8894458B2 (en) 2010-04-28 2014-11-25 Samsung Display Co., Ltd. Thin film deposition apparatus, method of manufacturing organic light-emitting display device by using the apparatus, and organic light-emitting display device manufactured by using the method
KR101223723B1 (en) 2010-07-07 2013-01-18 삼성디스플레이 주식회사 Apparatus for thin layer deposition, method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same, and organic light emitting display apparatus manufactured by the method
KR101673017B1 (en) 2010-07-30 2016-11-07 삼성디스플레이 주식회사 Apparatus for thin layer deposition and method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same
KR20120029166A (en) 2010-09-16 2012-03-26 삼성모바일디스플레이주식회사 Apparatus for thin layer deposition, method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same, and organic light emitting display apparatus manufactured by the method
KR101678056B1 (en) 2010-09-16 2016-11-22 삼성디스플레이 주식회사 Apparatus for thin layer deposition, method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same, and organic light emitting display apparatus manufactured by the method
KR101723506B1 (en) 2010-10-22 2017-04-19 삼성디스플레이 주식회사 Apparatus for organic layer deposition and method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same
KR101738531B1 (en) 2010-10-22 2017-05-23 삼성디스플레이 주식회사 Method for manufacturing of organic light emitting display apparatus, and organic light emitting display apparatus manufactured by the method
KR20120045865A (en) 2010-11-01 2012-05-09 삼성모바일디스플레이주식회사 Apparatus for organic layer deposition
KR20120065789A (en) 2010-12-13 2012-06-21 삼성모바일디스플레이주식회사 Apparatus for organic layer deposition
KR101760897B1 (en) 2011-01-12 2017-07-25 삼성디스플레이 주식회사 Deposition source and apparatus for organic layer deposition having the same
KR101923174B1 (en) 2011-05-11 2018-11-29 삼성디스플레이 주식회사 ESC, apparatus for thin layer deposition therewith, and method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same
KR101840654B1 (en) 2011-05-25 2018-03-22 삼성디스플레이 주식회사 Apparatus for organic layer deposition and method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same
KR101857992B1 (en) 2011-05-25 2018-05-16 삼성디스플레이 주식회사 Patterning slit sheet assembly, apparatus for organic layer deposition, method for manufacturing organic light emitting display apparatus and organic light emitting display apparatus
KR101852517B1 (en) 2011-05-25 2018-04-27 삼성디스플레이 주식회사 Apparatus for organic layer deposition and method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same
KR101857249B1 (en) 2011-05-27 2018-05-14 삼성디스플레이 주식회사 Patterning slit sheet assembly, apparatus for organic layer deposition, method for manufacturing organic light emitting display apparatus and organic light emitting display apparatus
KR101826068B1 (en) 2011-07-04 2018-02-07 삼성디스플레이 주식회사 Apparatus for thin layer deposition
KR20130004830A (en) 2011-07-04 2013-01-14 삼성디스플레이 주식회사 Apparatus for thin layer deposition and method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same
KR20130010730A (en) 2011-07-19 2013-01-29 삼성디스플레이 주식회사 Deposition source and deposition apparatus with the same
KR20130015144A (en) 2011-08-02 2013-02-13 삼성디스플레이 주식회사 Deposition source, apparatus for organic layer deposition and method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same
KR20130069037A (en) 2011-12-16 2013-06-26 삼성디스플레이 주식회사 Apparatus for thin layer deposition, method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same, and organic light emitting display apparatus
WO2013130842A1 (en) 2012-03-02 2013-09-06 Pulse Electronics, Inc. Deposition antenna apparatus and methods
KR102015872B1 (en) 2012-06-22 2019-10-22 삼성디스플레이 주식회사 Apparatus for organic layer deposition, method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same, and organic light emitting display apparatus manufactured by the method
US9461277B2 (en) 2012-07-10 2016-10-04 Samsung Display Co., Ltd. Organic light emitting display apparatus
KR102013315B1 (en) 2012-07-10 2019-08-23 삼성디스플레이 주식회사 Method for manufacturing of organic light emitting display apparatus and organic light emitting display apparatus manufactured by the method
KR101959974B1 (en) 2012-07-10 2019-07-16 삼성디스플레이 주식회사 Apparatus for organic layer deposition, method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same, and organic light emitting display apparatus manufactured by the method
CN103545460B (en) 2012-07-10 2017-04-12 三星显示有限公司 Organic light-emitting display device, organic light-emitting display apparatus, and method of manufacturing organic light-emitting display apparatus
KR101632298B1 (en) 2012-07-16 2016-06-22 삼성디스플레이 주식회사 Flat panel display device and manufacturing method thereof
KR102013318B1 (en) 2012-09-20 2019-08-23 삼성디스플레이 주식회사 Apparatus for thin layer deposition, method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same, and organic light emitting display apparatus
KR101994838B1 (en) 2012-09-24 2019-10-01 삼성디스플레이 주식회사 Apparatus for organic layer deposition, method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same, and organic light emitting display apparatus manufactured by the method
KR20140050994A (en) 2012-10-22 2014-04-30 삼성디스플레이 주식회사 Organic light emitting display apparatus and method for manufacturing the same
KR102052069B1 (en) 2012-11-09 2019-12-05 삼성디스플레이 주식회사 Apparatus for organic layer deposition, method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same, and organic light emitting display apparatus manufactured by the method
KR102075525B1 (en) 2013-03-20 2020-02-11 삼성디스플레이 주식회사 Deposition apparatus for organic layer, method for manufacturing organic light emitting display apparatus using the same, and organic light emitting display apparatus manufactured by the method
KR20140118551A (en) 2013-03-29 2014-10-08 삼성디스플레이 주식회사 Deposition apparatus, method for manufacturing organic light emitting display apparatus and organic light emitting display apparatus
KR102037376B1 (en) 2013-04-18 2019-10-29 삼성디스플레이 주식회사 Patterning slit sheet, deposition apparatus comprising the same, method for manufacturing organic light emitting display apparatus using the same, organic light emitting display apparatus manufacture by the method
KR102081284B1 (en) 2013-04-18 2020-02-26 삼성디스플레이 주식회사 Deposition apparatus, method for manufacturing organic light emitting display apparatus using the same, and organic light emitting display apparatus manufactured by the same
KR102107104B1 (en) 2013-06-17 2020-05-07 삼성디스플레이 주식회사 Apparatus for organic layer deposition, and method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same
KR102108361B1 (en) 2013-06-24 2020-05-11 삼성디스플레이 주식회사 Apparatus for monitoring deposition rate, apparatus for organic layer deposition using the same, method for monitoring deposition rate, and method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same
US10020561B2 (en) 2013-09-19 2018-07-10 Pulse Finland Oy Deposited three-dimensional antenna apparatus and methods
KR102162797B1 (en) 2013-12-23 2020-10-08 삼성디스플레이 주식회사 Method for manufacturing of organic light emitting display apparatus
JP6508062B2 (en) * 2014-01-24 2019-05-08 コニカミノルタ株式会社 Pattern forming method, substrate with transparent conductive film, device and electronic device
CN106463828B (en) 2014-02-12 2021-04-06 脉冲芬兰有限公司 Method and apparatus for conductive element deposition and formation
US9833802B2 (en) * 2014-06-27 2017-12-05 Pulse Finland Oy Methods and apparatus for conductive element deposition and formation

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3241251B2 (en) * 1994-12-16 2001-12-25 キヤノン株式会社 Method of manufacturing electron-emitting device and method of manufacturing electron source substrate
JP3241613B2 (en) * 1995-10-12 2001-12-25 キヤノン株式会社 Electron emitting element, electron source, and method of manufacturing image forming apparatus
JP4003273B2 (en) * 1998-01-19 2007-11-07 セイコーエプソン株式会社 Pattern forming method and substrate manufacturing apparatus
JP2001319567A (en) * 2000-02-28 2001-11-16 Ricoh Co Ltd Electron source substrate and picture display device using this electron source substrate
US6893103B2 (en) * 2000-10-17 2005-05-17 Seiko Epson Corporation Ink jet recording apparatus and manufacturing method for functional liquid applied substrate
JP2003080694A (en) * 2001-06-26 2003-03-19 Seiko Epson Corp Method for forming membrane pattern, apparatus for forming membrane pattern, electrically conductive membrane wiring, electrooptic apparatus, electronic instrument and non-contact type card medium
JP3578162B2 (en) * 2002-04-16 2004-10-20 セイコーエプソン株式会社 Pattern forming method, pattern forming apparatus, conductive film wiring, device manufacturing method, electro-optical device, and electronic equipment

Also Published As

Publication number Publication date
KR20040084747A (en) 2004-10-06
TWI244363B (en) 2005-11-21
CN1536949A (en) 2004-10-13
TW200428921A (en) 2004-12-16
KR100662066B1 (en) 2006-12-27
JP2004306015A (en) 2004-11-04
US20050031836A1 (en) 2005-02-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3966292B2 (en) Pattern forming method and pattern forming apparatus, device manufacturing method, conductive film wiring, electro-optical device, and electronic apparatus
JP4103830B2 (en) Pattern forming method and pattern forming apparatus, device manufacturing method, and active matrix substrate manufacturing method
JP4720069B2 (en) Electro-optical device and electronic apparatus
JP3578162B2 (en) Pattern forming method, pattern forming apparatus, conductive film wiring, device manufacturing method, electro-optical device, and electronic equipment
KR100766987B1 (en) Method of forming conductive film and method of manufacturing electronic apparatus
JP3966294B2 (en) Pattern forming method and device manufacturing method
JP3966293B2 (en) Pattern forming method and device manufacturing method
KR100723590B1 (en) Method of forming film pattern, active matrix substrate, electro-optic device, and electronic apparatus
JP2004363560A (en) Substrate, device, process for fabricating device, process for producing active matrix substrate,electrooptic device and electronic apparatus
KR100636257B1 (en) Device and method of manufacturing thereof
JP2004351305A (en) Film-pattern forming method, device and method of manufacturing the same, electro-optical device and electronic device
JP2004305990A (en) Pattern forming method, pattern forming apparatus, conductive film wiring, production method for device, electro-optical device and electronic equipment
JP5344078B2 (en) Electro-optical device and electronic apparatus
JP4539032B2 (en) Film pattern forming method and device manufacturing method
JP3951792B2 (en) Film pattern forming method, film pattern forming apparatus, conductive film wiring, electro-optical device, electronic apparatus, and non-contact card medium
JP2007049186A (en) Method for forming thin film pattern
JP4955919B2 (en) Wiring formation method
JP2004127676A (en) Ink for wiring pattern, forming method of wiring pattern, conductive film wiring, electrooptical device, as well as electronic equipment
JP2004296668A (en) Forming method of pattern, manufacturing method of device, conductive film wiring, electrooptical device, and electronic equipment
JP2004349639A (en) Method and device for forming pattern, method of manufacturing device, electrooptic device, and electronic equipment
JP2005052835A (en) Method for forming membrane pattern, conductive membrane wiring, electro-optic apparatus, electronic device, noncontact card medium, and thin-film transistor
JP2004330166A (en) Film pattern forming method, device, device manufacturing method, electrooptical device and electronic device
JP2004342917A (en) Thin film pattern forming method, device, its manufacturing method, electro-optical device and electronic equipment

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050707

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060706

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070206

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20070213

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070409

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070508

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070521

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110608

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110608

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120608

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130608

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130608

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees