JP3833912B2 - Bonding method for electronic components - Google Patents
Bonding method for electronic components Download PDFInfo
- Publication number
- JP3833912B2 JP3833912B2 JP2001252331A JP2001252331A JP3833912B2 JP 3833912 B2 JP3833912 B2 JP 3833912B2 JP 2001252331 A JP2001252331 A JP 2001252331A JP 2001252331 A JP2001252331 A JP 2001252331A JP 3833912 B2 JP3833912 B2 JP 3833912B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electronic component
- glass substrate
- bonding
- lcd
- positional deviation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、フィルムキャリヤにて作られた電子部品のアウターリードを表示パネルの電極にボンディングする電子部品のボンディング方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
液晶パネルなどの電子機器の表示パネルは、表示パネルの端部に沿って形成された電極に、ドライバである電子部品のアウターリードをボンディングして組み立てられる。このドライバ用の電子部品としては、TAB(Tape Automated Bonding)法により、フィルムキャリヤにチップを搭載して作られた電子部品が多用されている。また電子部品のアウターリードと表示パネルの電極は狭ピッチであって、高い位置合わせ精度が要求されることから、アウターリードと電極の間に異方性導電シート(以下「ACF」という)を介在させてボンディングする方法が多用されている。
【0003】
ACFは粘着性を有する合成樹脂シートから成っており、このACFを予め電極の上面、もしくはアウターリードの下面に貼着させておき、アウターリードを圧着ツールにより電極にボンディングするのに先立って、カメラなどの測定装置によりアウターリードと電極を予め観察してアウターリードと電極の相対的な位置ずれを検出し、例えば表示パネルが載置されたXYθテーブルなどの位置合わせ手段により表示パネルをX方向、Y方向、θ方向(水平回転方向)に移動させるなどして上記位置ずれを補正した後、圧着ツールによりアウターリードを電極に圧着してボンディングするようになっている。
【0004】
図17は、従来の電子部品のボンディング方法におけるアウターリードと電極の相対的な位置ずれの分布図である。横軸がX方向の位置ずれ量であり、縦軸は頻度である。また図中、aは上述した位置合わせ手段によりアウターリードと電極のX方向の位置ずれを補正した後の両者の位置ずれの分布を示しており、この分布aは図示するように0を中心とする正規分布である。またbは上述した圧着後のアウターリードと電極の位置ずれの分布であり、この分布bも正規分布であり、分布bは分布aからTX位置ずれしている。すなわちACFを介してアウターリードを電極に圧着する際には、位置ずれTXが生じる。このように位置ずれTXが生じる原因としては、圧着ツールの下面と表示パネルの電極面の平行度の不一致、圧着荷重、温度、ACFの物理的特性などの様々な要因が考えられる。圧着後の位置ずれ量TXが許容値±DX以内であればOKであるが、許容値±DX以上であればNGである。図中、ハッチングを付した部分が、X方向の位置ずれ量TXが許容値±DX以上であってNGである。この図17では、X方向の位置ずれを例にとって説明したが、Y方向の位置ずれも同様である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
以上のように従来の電子部品のボンディング方法では、アウターリードを電極に圧着する際にアウターリードと電極に相対的な位置ずれTXが発生しやすいものであり、この位置ずれTXが許容値±DX以内になるように、機械の調整などを電子部品を表示パネルにボンディングする毎に、毎回繰り返し行っていた。このため多大な時間と労力を要し、生産性があがらず、ひいては表示パネルのコストアップになるという問題点があった。
【0006】
ところで図17において、圧着前の分布aと圧着後の分布bは共に正規分布であり、両者の間には一定の相関関係がある。そこで本発明はこの点に着眼してなされたものであって、この相関関係を利用してアウターリードと電極の位置ずれを自動補正しながら、アウターリードと電極の位置合わせを行ってボンディングできる電子部品のボンディング方法を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
このために本発明の電子部品のボンディング方法は、フィルムキャリヤにて作られた電子部品のアウターリードとガラス基板の電極の間に異方性導電シートを介在させた状態で仮付け用圧着ツールでこの電子部品を前記異方性導電シートに仮付けする仮付け工程と、本圧着ツールを用いて仮付けされた前記電子部品を前記ガラス基板に本圧着する工程と、前記本圧着後の前記電子部品と前記ガラス基板との相対的な位置ずれを計測する工程とを含み、(1)オフセットデータ入手モードにおいて、前記仮付け工程が、(a)前記電子部品を前記ガラス基板に位置決めしたときの前記電子部品と前記ガラス基板の相対的な位置ずれを前記電子部品に形成された2つの第1のマークと前記ガラス基板に形成された2つの第2のマークを観察して検出し、(b)この位置ずれを補正して電子部品とガラス基板を位置合わせし、(c)仮付け用圧着ツールでこの電子部品を前記異方性導電シートに仮付けする工程を含み、前記本圧着後の前記電子部品と前記ガラス基板との相対的な位置ずれを前記2つの第1のマークと前記2つの第2のマークを観察して検出した位置ずれに基づいてオフセットデータを入手し、(2)オフセットデータフィードバックモードにおいて、前記仮付け工程が、(a)前記電子部品を前記ガラス基板に位置決めしたときの前記電子部品と前記ガラス基板の相対的な位置ずれを前記電子部品に形成された2つの第1のマークと前記ガラス基板に形成された2つの第2のマークを観察して検出し、(b)この位置ずれと前記オフセットデータに基づいて前記電子部品と前記ガラス基板とをずらして位置合わせし、(c)仮付け用圧着ツールでこの電子部品を前記異方性導電シートに仮付けする工程を含むものである。
【0008】
上記構成によれば、アウターリードを電極に圧着する際に生じる位置ずれを観察手段で観察し、この位置ずれに基づいて電子部品と表示パネルの位置合わせを行うことにより、圧着後には、アウターリードの位置ずれを許容範囲内に抑えることができる。
【0009】
【発明の実施の形態】
次に、図面を参照しながら本発明の一実施の形態を説明する。図1は本発明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置の全体構成を示す平面図である。この電子部品のボンディング装置は、表示パネルである液晶パネル(以下「LCD」という)の供給部A、異方性導電シート貼着部B、アウターリードボンディング部C、第1本圧着部D、第2本圧着部E、位置ずれ検査部F、位置ずれ検査部Fにおける検査でNGと判定されたLCDを回収する不良品回収部G、OKと判定されたLCDを回収する良品回収部H、装置全体の稼働状況や各種データの通信等を管理するラインコントローラI、ラインコントローラIと各部を接続する通信ケーブルJなどから構成されている。
【0010】
図中、1はLCD、2は各部に沿うように設けられた搬送部である。搬送部2には一定ピッチでアーム3が多数個設けられており、アーム3の先端部には載置台W1,W2,W3・・・上のLCD1を真空吸収するパッド4が取り付けられている。各パッド4は載置台W1,W2,W3・・・上のLCD1を真空吸収し、X方向に往復動作を行うことにより、LCD1を各部に設けられたXYθテーブルに移載したり、XYθテーブル上のLCD1を次の載置台W1,W2,W3・・・へ搬出する。次に、各部について説明を行う。
【0011】
まずアウターリードボンディング部Cについて説明する。図2は本発明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置のアウターリードボンディング部Cの平面図、図3は本発明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置のアウターリードボンディング部Cの部分斜視図である。図2において、11はXYθテーブルであって、Yテーブル12上にXテーブル13を載置し、Xテーブル13上にθテーブル14を載置して構成されており、θテーブル14上にLCD1を載置する。θテーブル14は図示しない吸着手段によりLCD1を吸着して固定する。Yテーブル12のモータ15が駆動するとLCD1はY方向に移動し、Xテーブル13のモータ16が駆動するとLCD1はX方向に移動し、θテーブル14のアクチュエータ(図示せず)が駆動するとLCD1はθ回転(水平回転)する。このようにしてLCD1をXYθ方向に移動させることにより、その位置決めを行う。なお搬送部2によるLCD1の搬送方向をX方向とする。
【0012】
XYθテーブル11の側方にはインデックスヘッド20が設けられている。インデックスヘッド20は放射状に外方へ延出する4本のアーム21を備えており、アーム21の先端部には電子部品を真空吸着する吸着ヘッド22を備えている。アーム21は90°の間隔でインデックスヘッド20に取り付けられており、インデックスヘッド20は90°毎にインデックス回転する。インデックスヘッド20の両側部には第1のフィルムキャリヤ供給部23と第2のフィルムキャリヤ供給部24が設置されている。またインデックスヘッド20と第1のフィルムキャリヤ供給部23の間には第1の金型25が設けられており、また第2のフィルムキャリヤ供給部24との間には第2の金型26が設けられている。
【0013】
第1のフィルムキャリヤ供給部23にはLCD1の長辺にボンディングされる第1の電子部品6a(以下、単に電子部品6aともいう)の素材である第1のフィルムキャリヤ7aが備えられている。第1のフィルムキャリヤ供給部23から導出された第1のフィルムキャリヤ7aは、第1の金型25に打抜かれる。打抜かれて得られた第1の電子部品6aは吸着ヘッド22に真空吸着され、インデックスヘッド20が駆動して90°実線矢印方向に水平回転することにより、LCD1の長辺の端部上方へ搬送され、後述する手段によりLCD1の端部にボンディングされる。
【0014】
また第2のフィルムキャリヤ供給部24から導出された第2のフィルムキャリヤ7bは、第2の金型26に打抜かれる。打抜かれて得られた第2の電子部品6b(以下、単に電子部品6bともいう)は吸着ヘッド22に真空吸着され、インデックスヘッド20が破線矢印方向へ駆動することによりLCD1の短辺の端部上方へ搬送され、この端部にボンディングされる。なおLCD1の短辺の端部に第2の電子部品6aをボンディングする場合は、θテーブル14が駆動することによりLCD1を予め90°水平回転させ、その短辺がインデックスヘッド20に対向する位置に移動させる。
【0015】
図3は、第1の電子部品6aをLCD1に搭載している様子を示している。LCD1はガラス板から成る下板1aと上板1bを貼り合わせて形成されており、下板1aの端部には電極9が狭ピッチで形成されている。また電極9上には異方性導電シート(以下、ACFともいう)27の貼着部B(図1参照)においてACF27が予め貼着されている。第1の電子部品6aは、第1のフィルムキャリヤ7aの上面に第1のチップ8aを搭載して作られており、第1のフィルムキャリヤ7a端部にはアウターリード28が狭ピッチで形成されている。また吸着ヘッド22はその下面に第1のフィルムキャリヤ7aを真空吸着している。29は吸着ヘッド22に結合されたノズルシャフトであり、このノズルシャフト29を通して第1のフィルムキャリヤ7aを真空吸着する。
【0016】
図2において、LCD1の上方には仮圧着ヘッド30が設けられている。図3において、31はこの仮圧着ヘッド30に備えられた仮圧着ツールであって、この仮圧着ツール31によりアウターリード28をACF27に押し付けて仮圧着する。この仮圧着は、後述する第1本圧着部Dによる第1の電子部品6aの本圧着および第2本圧着部Eによる第2の電子部品6bの本圧着に先立って行われるものである。すなわち電子部品6a,6bの仮圧着と本圧着を別々の場所で行うことにより、ボンディングの作業性を向上させる。仮圧着ツール31にはアウターリード28をACF27に軽く仮圧着できるように図示しないヒータにより加熱されている。なおACF27は、異方性導電シート貼着部B(図1参照)において、電極9上に予め貼着されている。
【0017】
図3において、仮圧着ツール31の下方には、第1のカメラ32と第2のカメラ33が設置されている。また下板1aの電極9の近傍にはサークル状のマーク34,35が形成されている。図4は本発明の一実施の形態のLCDの下板の底面図であって、第1のカメラ32と第2のカメラ33による観察状態を示している。図中、36,37はフィルムキャリヤ7aの両側部に形成されたスポット状のマークである。第1のカメラ32は図において左側のマーク34,36を観察し、また第2のカメラ33は右側のマーク35,37を観察する。下板1a側のマーク34,35はサークル状である。
【0018】
図5は本発明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置のアウターリードボンディング部Cの制御系のブロック図である。41はCPUであって、アウターリードボンディング部C全体の制御、アウターリード28と電極9のX方向の位置ずれSx、Y方向の位置ずれSy等の演算などを行う。42はROMであって装置動作のプログラムなどが格納されている。43はRAMであって、CPU41で計算されたオフセットデータTX、TYなどを記憶する。なおSx,Sy,TX,TYについては後で説明する。44は認識部であって、上記した第1のカメラ32と第2のカメラ33に接続されており、入手された画像データに基づいてマーク34,35,36,37のセンター座標Ga,Gb,Fa,Fb(後述)を求める。45はXYθテーブルコントローラであって、XYθテーブル11を制御する。46は吸着ヘッドコントローラであって、吸着ヘッド22を制御する。47は仮圧着ヘッドコントローラであって、仮圧着ヘッド30を制御する。上記した各手段はバス48に接続されており、更に外部との通信を制御する通信部49を介して上記通信ケーブルJに接続されている。
【0019】
次に第1本圧着部Dおよび第2本圧着部Eについて説明する。図6は本発明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置の第1本圧着部Dと第2本圧着部Eの平面図、図7は本発明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置の第1本圧着部Dに備えられた本圧着ツール付近の斜視図である。図6において、第1本圧着部Dは、LCD1の長辺の端部に第1の電子部品6aを本圧着する。また第2本圧着部EはLCD1を90°水平回転させて、その短辺の端部に第2の電子部品6bを本圧着する。
【0020】
まず第1本圧着部Dの構造を説明する。図6において、51AはXYθテーブルであって、Yテーブル52A、Xテーブル53A、θテーブル54Aから成っている。Yテーブル52Aのモータ55Aを駆動するとLCD1はY方向に移動し、Xテーブル53Aのモータ56Aを駆動するとLCD1はX方向に移動し、θテーブル54Aのアクチュエータ(図示せず)を駆動するとLCD1はθ回転する。第2本圧着部Eにも同構造のXYθテーブル51Bを構成するYテーブル52B、Xテーブル53B、θテーブル54B、各々のモータ55B、56Bなどが設けられている。
【0021】
第1本圧着部Dには第1本圧着ヘッド部61が設けられている。この第1本圧着ヘッド部61は駆動系が内蔵された第1本体部62と、第1本体部62に保持された第1本圧着ツール63を備えている。第1本圧着ツール63は、LCD1の長辺に圧着される第1の電子部品6aの個数の応じて複数個(本実施の形態では3個)設けられている。図7において、第1本体部62からアーム64が延出しており、アーム64の先端部に第1本圧着ツール63が保持されている。第1本圧着ツール63にはヒータ65が内蔵されており、第1本圧着ツール63を加熱する。66は第1本圧着ツール63の下方に設けられた下受部材であって、図示しない昇降手段に駆動されて上下動する。この下受部材66は、上昇動作を行うことによりLCD1の下板1aの端部を下方から支える。その状態で第1本圧着ツール63は下降し、第1のフィルムキャリヤ7aのアウターリード28を下板1aの電極9に押し付けて本圧着する。
【0022】
図6において、第2本圧着部Eは第2本圧着ヘッド71が設けられている。この第2本圧着ヘッド71は第2本圧着ツール73を有する第2本体部72を備えている。第2本圧着ツール73は2個設けられている。この第2本圧着部Eの構造や動作は第1本圧着部Dと同じであって、第1本圧着部DがLCD1の長辺に第1の電子部品6aを本圧着するのに対し、第2本圧着部EはLCD1の短辺に第2の電子部品6bを本圧着する点で相違している。
【0023】
次に位置ずれ検査部Fについて説明する。図8は本発明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置の位置ずれ検査部の平面図、図9は本発明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置の位置ずれ検査部の要部斜視図である。81はXYθテーブルであって、Yテーブル82、Xテーブル83、θテーブル84から成っており、Yテーブル82のモータ85a、Xテーブル83のモータ85b、θテーブル84のアクチュエータを駆動することにより、LCD1をXYθ方向へ移動させ、その位置調節を行う。
【0024】
86は観察ユニットである。図9において、この観察ユニット86は第3のカメラ87と第4のカメラ88を備えている。89は第3のカメラ87と第4のカメラ88の収納ボックスである。第3のカメラ87と第4のカメラ88は、アウターリード28を電極9に本圧着した後で、上述したマーク34,35,36,37を観察することにより、アウターリード28と電極9の相対的な位置ずれを検出する。図8において、2aはNG基板搬送部であって、上記搬送部2に直交して設けられており、位置ずれ検査部Fの検査結果でNGとなったLCD1を不良品回収部Gへ搬送して回収する。
【0025】
図10は本発明の一実施の形態の位置ずれ検査部Fの制御系のブロック図である。91はCPUであって、位置ずれ検査部F全体の制御などを行う。92はROMであって装置動作のプログラムなどが格納されている。RAM93は、位置ずれ検査結果などを記憶する。認識部94は、第3のカメラ87、第4のカメラ88の画像データに基づいてマーク34,35,36,37のセンター座標Ga,Gb,Fa,Fb(後述)を求める。95はXYθテーブル81を制御するXYθテーブルコントローラである。また96はNG基板搬送部2aを制御するNG基板搬送部コントローラである。
【0026】
この電子部品のボンディング装置は上記のように構成されており、次に全体の動作を説明する。まず、オフセットデータTX,TYを入手するためのオフセットデータ入手モードについて説明する。図1において、供給部Aに備えられたLCD1は、異方性導電シート貼着部Bへ送られ、LCD1の電極9上にACF27が貼着される。次にこのLCD1はアウターリードボンディング部Cへ送られる。図2において、載置台W1上のLCD1はパッド4に真空吸着されてXYθテーブル11上に移載される。本実施例では、まず、LCD1の長辺の電極9に第1の電子部品6aのアウターリード28を仮付けするものであり、以下、この仮付け工程を説明する。
【0027】
第1のフィルムキャリヤ供給部23から導出された第1のフィルムキャリヤ7aは第1の金型25で打抜かれ、第1の電子部品6aが得られる。この第1の電子部品6aは吸着ヘッド22に真空吸着されてピックアップされ、インデックスヘッド20が図2において90°実線矢印方向に水平回転することにより、LCD1の電極9の上方へ移送される。そしてLCD1の2つの第2のマーク34,35と電子部品6aの2つの第1のマーク36,37とが重なるように、電子部品6aをLCD1上に位置決めする(図3参照)。
【0028】
図3はこのときの状態を示している。この状態で、第1のカメラ32と第2のカメラ33によりマーク34,35,36,37を観察し、アウターリード28と電極9のXY方向の相対的な位置ずれを検出する。そしてこの位置ずれを補正した後、アウターリード28は電極9に仮圧着される。図4は、第1のカメラ33と第2のカメラ34で観察中の下板1aやアウターリード9の底面図であり、以下、図11(a)(b)(c)を参照して、仮圧着前、すなわち吸着ヘッド22に保持された第1の電子部品6aとXYθテーブル11上のLCD1の位置ずれ検出方法を説明する。
【0029】
図11(a)(b)(c)は本発明の一実施の形態のLCDとアウターリードのマークの画像図である。図11(a)において、第1のカメラ32により各マーク34,36を、また第2のカメラ33によりマーク35,37を観察し、それぞれのセンター座標Ga(XGa.YGa),Gb(XGb.YGb),Fa(XFa.YFa),Fb(XFb.YFb)を認識部44(図5)により求める。このような画像のセンター座標の検出は周知画像処理技術により容易に行えるものであり、したがってその説明は省略する。
【0030】
次に求められたセンター座標Ga,Gb,Fa,Fbに基づいて、次式よりマーク34,35とマーク36,37のX方向およびY方向の位置ずれdx1,dy1,dx2,dy2を求める。
【0031】
dx1=XFa−XGa (1)
dy1=YFa−YGa (2)
dx2=XFb−XGb (3)
dy2=YFb−YGb (4)
次に上記結果を基にして、LCD1と第1の電子部品6aのX方向の位置ずれSx、Y方向の相対的な位置ずれSyを次式より求める。
【0032】
Sx=(dx1+dx2)÷2 (5)
Sy=(dy1+dy2)÷2 (6)
式(5)は、第1のカメラ32で検出された位置ずれdx1と第2のカメラ33で検出された位置ずれdx2の平均値をLCD1と第1の電子部品6aのX方向の位置ずれとするものであり、また式(6)は同様に位置ずれdy1と位置ずれdy2の平均値をLCD1と第1の電子部品6aのY方向の位置ずれとするものである。このようにして位置ずれSx,Syを求めたならば、図2においてXテーブル13とYテーブル12を駆動してLCD1を−Sx,−Sy移動させることにより、この位置ずれSx,Syを補正する。
【0033】
図11(b)は上記補正後のマーク34,35,36,37の位置関係を示している。図中、mxa,myaはマーク34,36のセンター座標Ga,FaのX方向とY方向の距離、mxb,mybはマーク35,37のセンター座標Gb,FbのX方向とY方向の距離であって、mxa=mxb,mya=mybである。なおマーク34,35のセンター座標間の距離L1はマーク36,37のセンター座標間の距離L2よりも大きくしている。その理由は、後の工程でアウターリード28を電極9に熱圧着する際に、フィルムキャリヤ7a,7bが伸びて距離L2が大きくなるので、この伸びを見込んだものである。因みに、この伸びを見込む必要がなければ図11(b)においてL1=L2となる。
【0034】
以上のようにしてLCD1と第1の電子部品6aの位置ずれSx,Syを補正したならば、図3において吸着ヘッド22を下降させてアウターリード28をACF27上に着地させ、次に仮圧着ツール31を下降させてアウターリード28をACF27に押し付けて仮圧着する。上述したようにこの仮圧着は、後述する工程で第1本圧着ツール63と第2本圧着ツール73で本圧着する際に、アウターリード28が不要に位置ずれしないように、アウターリード28を予め電極9上に仮付けするために行われるものである。
【0035】
以上のようにして第1の電子部品6aをLCD1の長辺の電極9上に仮付けしたならば、続いて短辺の電極9上に第2の電子部品6bを仮付けする。第2の電子部品6bの仮付け方法は上述した第1の電子部品6aの仮付け方法と同じであり、以下、簡単に説明する。図2において、LCD1の一方の長辺の電極9上に第1の電子部品6aをすべて(本実施の形態では3個)仮付けしたならば、θテーブル14を駆動してLCD1を90°水平回転させ、その短辺をインデックスヘッド20側に対向させる。また第2のフィルムキャリヤ供給部24から第2の金型26に第2のフィルムキャリヤ7bを導出し、第2のフィルムキャリヤ7bを打抜いて第2の電子部品6bを得る。そこで吸着ヘッド22はこの第2の電子部品6bをピックアップし、インデックスヘッド20が駆動して破線矢印方向へ回転することにより、この第2の電子部品6bをLCD1の短辺の電極9上へ移送し、図11を参照しながら説明した第1の電子部品6aの場合と同様に、LCD1と第2の電子部品6aの位置ずれSx,Syを求める。次にこの位置ずれSx,Syを補正したうえで、仮圧着ツール31によりアウターリード28をACF27に仮付けする。すなわち、オフセットデータ入手モードでは、LCD1と電子部品6a,6bとの位置ずれがゼロとなるように両者を位置合わせしたうえで仮付けを行う。これにより仮付け及び本圧着で生じる新たな位置ずれ量を位置ずれ検査部Fで計測した位置ずれ量Tx,Tyとして知ることができる。
【0036】
図13は上述した本発明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置のアウターリードボンディング部のオフセットデータ入手モード時の仮付け工程を示すアウターリードボンディング部Cのフローチャートである。以上のようにしてLCD1に第1の電子部品6aと第2の電子部品6bをすべて仮付けしたならば、図2においてXYθテーブル11は駆動してLCD1を図2において中央のパッド4の下方へ移送する。そこでこのパッド4はXYθテーブル11上のLCD1を真空吸着してピックアップし、矢印N1で示すように次の載置台W2へ移送する。そこで次のパッド4はこのLCD1を真空吸着してピックアップする。
【0037】
次の図6において、第1本圧着部Dに備えられたXYθテーブル51Aは駆動してパッド4に真空吸着されたLCD1の下方へ移動し、パッド4が真空吸着状態を解除することにより、LCD1をXYθテーブル51上に移載する。次にXYθテーブル51AはLCD1の長辺に仮付けされた第1の電子部品6aを第1本圧着ツール63の下方へ移動させ、本圧着が行われる。図7は第1本圧着ツール63により本圧着を行っている様子を示している。図において、第1本圧着ツール63はヒータ65で予め加熱されており、下受部材66により下板1aを下方から支え、アウターリード28に強く押し付けることにより電極9上に本圧着する。
【0038】
以上のようにして第1本圧着部Dにおいて第1の電子部品6aが本圧着されたLCD1は、一旦、載置台W3上へ移載された後、搬送部2によって続いて第2本圧着部Eに備えられたXYθテーブル51B上へ送られる。XYθテーブル51B上に移載されたLCD1は、θテーブル54が90°回転することにより、その短辺の第2の電子部品6bを第2本圧着ツール73の下方に位置させる。そこで図7を参照しながら説明した第1本圧着ツール63による本圧着の場合と同様に、第2本圧着ツール73によりアウターリード28を電極9に本圧着する。
【0039】
以上のようにして第1の電子部品6aと第2の電子部品6bがすべてボンディグされたLCD1は、搬送部2によって図8に示す位置ずれ検査部FのXYθテーブル81上に送られ、位置ずれ検査が行われる。図9はこの位置ずれ検査の様子を示しており、第3のカメラ87と第4のカメラ88により、左右のマーク34,35,36,37を観察する。
【0040】
図11(c)において、左側は第3のカメラ87の画像、右側は第4のカメラ88の画像を示している。第1本圧着ツール63や第2本圧着ツール73によりアウターリード28を本圧着したことにより、アウターリード28側のマーク36,37は本圧着前の図11(b)に示す位置から図11(c)に示す位置へ変位している。その理由は(従来の技術)の項で説明したように、第1本圧着ツール63や第2本圧着ツール73とLCD1の電極9面の平行度の不一致、圧着荷重、温度、ACF27の物理的特性などのためである。
【0041】
さて図11(c)において、マーク34,35とマーク36,37の位置ずれは次式から求められている。
【0042】
dx3=XFa−XGa (7)
dy3=YFa−YGa (8)
dx4=XFb−XGb (9)
dy4=YFb−YGb (10)
ここで、dx3,dy3,dx4,dy4は、それぞれマーク36,37のセンター座標Fa,Fbとマーク34,35のセンター座標Ga,GbのX方向、Y方向の位置ずれである。
【0043】
したがって本圧着後の電子部品6a(6b)とLCD1のX方向の位置ずれ量TxとY方向の位置ずれ量Tyは次式となる。
【0044】
Tx=(dx3+dx4)÷2 (11)
Ty=(dy3+dy4)÷2 (12)
Txはdx3とdx4の平均値、Tyはdy3とdy4の平均値であり、左側のマーク34,36と右側のマーク35,37の位置ずれの平均値を求めて、このTxとTyをLCD1と第1の電子部品6aの相対的な位置ずれとするものである。この位置ずれ量Tx,Tyは前述したように仮付け及び本圧着時に生じた位置ずれ量とみなすことがきる。図12は、本発明の一実施の形態の第1の電子部品と第2の電子部品が本圧着されたLCDの平面図である。図12において、#1〜#8のボンディング位置に示すように、LCD11には、6個の第1の電子部品6aと2個の第2の電子部品6bがボンディングされている。そこで、多数枚(本実施例では50枚)のLCD1について、#1〜#8毎に位置ずれ量Tx,Tyをそれぞれ計測する。そして各ボンディング位置#1〜#8毎に位置ずれ量Tx,Tyの平均値をTX,TYを算出する。(表1)はそのデータを示している。
【0045】
【表1】
【0046】
(表1)のデータは位置ずれ検査部FのRAM93に格納される。図17を参照しながら説明したように、位置ずれ量Tx,Tyには一定の傾向があり、この平均値TX,TYは位置ずれ補正のためのオフセットデータとなる。位置ずれの平均値TX,TYはラインコントローラ1へ送られた後、ラインコントローラ1からオフセットデータとしてアウターリードボンディング部CのRAM43へ送られる。(表2)にこのオフセットデータを示す。
【0047】
【表2】
【0048】
アウターリードボンディング部Cは、次のLCD1へ電子部品を仮圧着する時は、XYθテーブルコントローラ45にこのオフセットデータをフィードバックし、これ以後は、オフセットデータTX,TYを補正値として補正しながら、アウターリード28の電極9に対する位置合わせを行ったうえで、仮圧着ツール31による仮付けを行う。この補正は、(表2)に示すオフセットデータTX,TYにしたがって、ボンディング位置#1〜#8毎にそれぞれ行っていくことが望ましい。
【0049】
次に図14および図15を参照しながら、オフセットデータフィードバックモードを説明する。図14(a)(b)(c)は本発明の一実施の形態のLCDとアウターリードのマークの画像図、図15は本発明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置の位置ずれ補正方法の説明図である。図14(a)は、図11(a)と同様の画像であって、図3に示すアウターリード28の仮付けを行う前の第1のカメラ33と第2のカメラ34の画像を示している。まず、上記した式(1)〜(6)からX方向の位置ずれSxとY方向の位置ずれSyを求める。次にRAM43に格納されたオフセットデータTX,TYを補正値としてこのSx,Syに加え、最終補正値Ux,Uyを求める(以上、図15も参照)。
【0050】
次にXYθテーブル11を駆動してLCD1をX方向に−Ux、Y方向に−Uy移動させることにより位置補正を行う。すなわち、オフセットデータフィードバックモードでは、仮付け及び本圧着時に生じる位置ずれの平均値TX,TYを予め見込んでLCD1と各電子部品6a,6bとをずらして位置合わせを行う。図14(b)はこの位置補正されたLCD1と電子部品6a(6b)のマーク34,35,36,37の画像である。このようにして位置補正をしたならば、上述したように仮圧着ツール31によりアウターリード28をACF27に仮付けする。続いてLCD1を搬送部2で第1本圧着部D、第2本圧着部Eへ搬送し、第1本圧着ツール63と第2本圧着ツール73により本圧着する。図14(c)は本圧着後の画像である。この本圧着後の位置ずれ量Tx,Tyは式(11)(12)のとおりであり、仮付けや本圧着を行う過程でLCD1と電子部品6a,6bとの相対的な位置がずれることにより位置ずれ量Tx,Tyは小さくなる。その後、搬送部2によってこのLCD1を位置ずれ検査部Fへ搬送してLCD1と電子部品6a(6b)の位置ずれを検査する。位置ずれTx,Tyが許容値±D以下の場合、そのLCD1は良品として図1に示す良品回収部Hに回収され、許容値±D以上の場合、不良品として選別されて不良品回収部Gに回収される。
【0051】
図16は上述した本発明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置のアウターリードボンディング部Cのオフセットデータフィードバックモードのフローチャートである。
【0052】
本発明は上記実施の形態に限らず、様々な設計変更や運転方法が考えられるものであり、例えば(表1)ではオフセットデータTX,TYを入手するためのLCD1の枚数は50枚であるが、この枚数は何枚でもよい。さらに本実施の形態では、ボンディング装置に位置ずれ検査部Fを備えたが、位置ずれ検査部Fを別にして単体で設けて使用してもよい。又、アウターリードボンディング部Cと位置ずれ検査部Fとを通信ケーブルJで接続し、各種データを通信により転送しているが、磁気ディスク等の記憶媒体を用いて、データのやりとりを行ってもよい。また位置ずれを検出するマークとしては、要は観察のターゲットになり得るものであればよく、上記マーク34,35,36,37に限定されない。このように本発明は様々な設計変更が可能である。
【0053】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、アウターリードの電極に対する位置ずれを許容範囲内に抑えることができ、LCDへの電子部品のボンディングを歩留りよく行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置の全体構成を示す平面図
【図2】本発明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置のアウターリードボンディング部の平面図
【図3】本発明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置のアウターリードボンディング部の部分斜視図
【図4】本発明の一実施の形態のLCDの下板の底面図
【図5】本発明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置のアウターリードボンディング部の制御系のブロック図
【図6】本発明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置の第1本圧着部と第2本圧着部の平面図
【図7】本発明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置の第1本圧着部に備えられた本圧着ツール付近の斜視図
【図8】本発明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置の位置ずれ検査部の平面図
【図9】本発明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置の位置ずれ検査部の要部斜視図
【図10】本発明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置の位置ずれ検査部の制御系のブロック図
【図11】(a)本発明の一実施の形態のLCDとアウターリードのマークの画像図
(b)本発明の一実施の形態のLCDとアウターリードのマークの画像図
(c)本発明の一実施の形態のLCDとアウターリードのマークの画像図
【図12】
本発明の一実施の形態の第1の電子部品と第2の電子部品が本圧着されたLCDの平面図
【図13】本発明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置のアウターリードボンディング部のオフセットデータ入手モード時の仮付け工程を示すフローチャート
【図14】(a)本発明の一実施の形態のLCDとアウターリードのマークの画像図(b)本発明の一実施の形態のLCDとアウターリードのマークの画像図
(c)本発明の一実施の形態のLCDとアウターリードのマークの画像図
【図15】本発明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置の位置ずれ補正方法の説明図
【図16】本発明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置のアウターリードボンディング部のオフセットデータフィードバックモードのフローチャート
【図17】従来の電子部品のボンディング方法におけるアウターリードと電極の相対的な位置ずれの分布図
【符号の説明】
C アウターリードボンディング部
D 第1本圧着部
E 第2本圧着部
F 位置ずれ検査部
1 表示パネル(LCD)
6a 第1の電子部品
6b 第2の電子部品
7a 第1のフィルムキャリヤ
7b 第2のフィルムキャリヤ
9 電極
11,51A,51B,81 XYθテーブル
22 吸着ヘッド
27 異方性導電シート(ACF)
28 アウターリード
30 仮圧着ヘッド
31 仮圧着ツール
32 第1のカメラ
33 第2のカメラ
34,35,36,37 マーク
41,91 CPU
43,93 RAM
44,94 認識部
45 XYθテーブルコントローラ
63 第1本圧着ツール
73 第2本圧着ツール
87 第3のカメラ
88 第4のカメラ[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an electronic component bonding method for bonding an outer lead of an electronic component made of a film carrier to an electrode of a display panel.
[0002]
[Prior art]
A display panel of an electronic device such as a liquid crystal panel is assembled by bonding an outer lead of an electronic component as a driver to an electrode formed along an end of the display panel. As an electronic component for the driver, an electronic component made by mounting a chip on a film carrier by a TAB (Tape Automated Bonding) method is often used. In addition, since the outer leads of the electronic parts and the electrodes of the display panel have a narrow pitch and high alignment accuracy is required, an anisotropic conductive sheet (hereinafter referred to as “ACF”) is interposed between the outer leads and the electrodes. The bonding method is often used.
[0003]
The ACF is made of an adhesive synthetic resin sheet. The ACF is attached to the upper surface of the electrode or the lower surface of the outer lead in advance, and the outer lead is bonded to the electrode with a crimping tool before the camera. For example, the outer lead and the electrode are observed in advance by a measuring device such as a relative position detector to detect a relative displacement between the outer lead and the electrode. For example, the display panel is moved in the X direction by an alignment means such as an XYθ table on which the display panel is placed. After correcting the positional deviation by moving in the Y direction and θ direction (horizontal rotation direction), the outer lead is crimped to the electrode by a crimping tool and bonded.
[0004]
FIG. 17 is a distribution diagram of relative positional deviation between the outer lead and the electrode in the conventional electronic component bonding method. The horizontal axis is the amount of positional deviation in the X direction, and the vertical axis is the frequency. In the figure, a indicates the distribution of the positional deviation between the outer lead and the electrode after correcting the positional deviation in the X direction by the alignment means described above, and this distribution a is centered on 0 as shown in the figure. It is a normal distribution. Further, b is a distribution of the positional deviation between the outer lead and the electrode after the above-described crimping, and this distribution b is also a normal distribution, and the distribution b is deviated by TX from the distribution a. That is, when the outer lead is pressure-bonded to the electrode via the ACF, a positional deviation TX occurs. As a cause of the occurrence of the positional deviation TX, various factors such as a mismatch in parallelism between the lower surface of the crimping tool and the electrode surface of the display panel, a crimping load, a temperature, and physical characteristics of the ACF can be considered. If the positional deviation amount TX after crimping is within the allowable value ± DX, it is OK, but if the positional deviation amount TX is within the allowable value ± DX, it is NG. In the figure, the hatched portion is NG because the positional deviation amount TX in the X direction is not less than the allowable value ± DX. In FIG. 17, the positional deviation in the X direction has been described as an example, but the positional deviation in the Y direction is the same.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
As described above, in the conventional electronic component bonding method, when the outer lead is pressure-bonded to the electrode, a relative positional deviation TX is likely to occur between the outer lead and the electrode, and this positional deviation TX is an allowable value ± DX. The adjustment of the machine and the like were repeated every time the electronic component was bonded to the display panel. For this reason, there is a problem that much time and labor are required, productivity is not improved, and the cost of the display panel is increased.
[0006]
In FIG. 17, the distribution a before crimping and the distribution b after crimping are both normal distributions, and there is a certain correlation between them. Therefore, the present invention has been made with this point in mind, and an electron that can be bonded by aligning the outer lead and the electrode while automatically correcting the positional deviation between the outer lead and the electrode using this correlation. An object is to provide a bonding method for components.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
To this end, the electronic component bonding method of the present invention uses a crimping tool for temporary attachment with an anisotropic conductive sheet interposed between an outer lead of an electronic component made of a film carrier and an electrode of a glass substrate. Temporarily attaching the electronic component to the anisotropic conductive sheet, attaching the electronic component temporarily attached using a main pressure bonding tool to the glass substrate, and the electronic after the main pressure bonding Measuring relative displacement between a component and the glass substrate. (1) In the offset data acquisition mode, the tacking step is (a) when the electronic component is positioned on the glass substrate. The relative displacement between the electronic component and the glass substrate Observe the two first marks formed on the electronic component and the two second marks formed on the glass substrate. Detecting, (b) correcting the displacement and aligning the electronic component and the glass substrate, and (c) temporarily attaching the electronic component to the anisotropic conductive sheet with a crimping tool for temporary attachment, Relative positional deviation between the electronic component and the glass substrate after the main press bonding Observe the two first marks and the two second marks Offset data is obtained based on the detected misalignment, and (2) in the offset data feedback mode, the tacking step is (a) the electronic component and the glass substrate when the electronic component is positioned on the glass substrate. Relative displacement of Observe the two first marks formed on the electronic component and the two second marks formed on the glass substrate. (B) the electronic component and the glass substrate are shifted and aligned based on the positional deviation and the offset data, and (c) the anisotropic conductive sheet is attached to the electronic component with a crimping tool for temporary attachment. Including the step of temporarily attaching to.
[0008]
According to the above configuration, the positional deviation that occurs when the outer lead is crimped to the electrode is observed by the observation means, and the electronic component and the display panel are aligned based on this positional deviation. Can be suppressed within an allowable range.
[0009]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a plan view showing the overall configuration of an electronic component bonding apparatus according to an embodiment of the present invention. This electronic component bonding apparatus includes a supply unit A, an anisotropic conductive sheet adhering unit B, an outer lead bonding unit C, a first crimping unit D, a first liquid crystal panel (hereinafter referred to as “LCD”) as a display panel. Two crimping section E, misalignment inspecting section F, defective product collecting section G for collecting LCD determined to be NG in the inspection in misalignment inspecting section F, non-defective product collecting section H for collecting LCD determined to be OK, and apparatus The system includes a line controller I that manages the overall operation status, communication of various data, and the like, a communication cable J that connects the line controller I and each unit, and the like.
[0010]
In the figure,
[0011]
First, the outer lead bonding portion C will be described. 2 is a plan view of the outer lead bonding portion C of the electronic component bonding apparatus according to the embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a portion of the outer lead bonding portion C of the electronic component bonding apparatus according to the embodiment of the present invention. It is a perspective view. In FIG. 2,
[0012]
An
[0013]
The first film
[0014]
Further, the
[0015]
FIG. 3 shows a state in which the first
[0016]
In FIG. 2, a provisional
[0017]
In FIG. 3, a
[0018]
FIG. 5 is a block diagram of a control system of the outer lead bonding portion C of the electronic component bonding apparatus according to the embodiment of the present invention.
[0019]
Next, the first and second crimping portions D and E will be described. FIG. 6 is a plan view of the first crimping portion D and the second crimping portion E of the electronic component bonding apparatus according to the embodiment of the present invention. FIG. 7 is an electronic component bonding device according to the embodiment of the present invention. FIG. 6 is a perspective view of the vicinity of a main crimping tool provided in the first main crimping portion D of FIG. In FIG. 6, the first main crimping portion D performs the main crimping of the first
[0020]
First, the structure of the first crimping part D will be described. In FIG. 6,
[0021]
A first crimping
[0022]
In FIG. 6, the second crimping section E is provided with a second crimping
[0023]
Next, the misregistration inspection unit F will be described. FIG. 8 is a plan view of a misalignment inspection unit of an electronic component bonding apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 9 is a perspective view of a main part of the misalignment inspection unit of the electronic component bonding apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG.
[0024]
[0025]
FIG. 10 is a block diagram of a control system of the misalignment inspection unit F according to the embodiment of the present invention.
[0026]
This electronic component bonding apparatus is configured as described above. Next, the overall operation will be described. First, the offset data acquisition mode for acquiring the offset data TX and TY will be described. In FIG. 1, the
[0027]
The
[0028]
FIG. 3 shows the state at this time. In this state, the
[0029]
FIGS. 11A, 11B, and 11C are image diagrams of LCD and outer lead marks according to an embodiment of the present invention. In FIG. 11A, the
[0030]
Next, based on the obtained center coordinates Ga, Gb, Fa, Fb, the positional deviations dx1, dy1, dx2, dy2 of the
[0031]
dx1 = XFa-XGa (1)
dy1 = YFa-YGa (2)
dx2 = XFb−XGb (3)
dy2 = YFb−YGb (4)
Next, based on the above result, the positional deviation Sx in the X direction between the
[0032]
Sx = (dx1 + dx2) / 2 (5)
Sy = (dy1 + dy2) ÷ 2 (6)
Expression (5) is obtained by calculating the average value of the positional deviation dx1 detected by the
[0033]
FIG. 11B shows the positional relationship between the corrected marks 34, 35, 36 and 37. In the figure, mxa and mya are distances in the X and Y directions of the center coordinates Ga and Fa of the
[0034]
When the positional deviations Sx and Sy between the
[0035]
If the first
[0036]
FIG. 13 is a flowchart of the outer lead bonding portion C showing a temporary attachment process in the offset data acquisition mode of the outer lead bonding portion of the electronic component bonding apparatus according to the embodiment of the present invention described above. If the first
[0037]
In FIG. 6, the XYθ table 51A provided in the first main crimping section D is driven to move below the
[0038]
The
[0039]
The
[0040]
In FIG. 11C, the left side shows the image of the
[0041]
In FIG. 11C, the positional deviation between the
[0042]
dx3 = XFa-XGa (7)
dy3 = YFa-YGa (8)
dx4 = XFb−XGb (9)
dy4 = YFb−YGb (10)
Here, dx3, dy3, dx4, and dy4 are displacements in the X and Y directions of the center coordinates Fa and Fb of the
[0043]
Therefore, the positional deviation amount Tx in the X direction and the positional deviation amount Ty in the Y direction of the
[0044]
Tx = (dx3 + dx4) / 2 (11)
Ty = (dy3 + dy4) ÷ 2 (12)
Tx is the average value of dx3 and dx4, Ty is the average value of dy3 and dy4, and the average value of the positional deviations of the left marks 34 and 36 and the right marks 35 and 37 is obtained. The relative displacement of the first
[0045]
[Table 1]
[0046]
The data of (Table 1) is stored in the
[0047]
[Table 2]
[0048]
The outer lead bonding portion C feeds back the offset data to the
[0049]
Next, the offset data feedback mode will be described with reference to FIGS. FIGS. 14A, 14B, and 14C are images of LCD and outer lead marks according to an embodiment of the present invention, and FIG. 15 is a positional deviation correction of a bonding apparatus for electronic components according to an embodiment of the present invention. It is explanatory drawing of a method. FIG. 14A is an image similar to FIG. 11A and shows images of the
[0050]
Next, position correction is performed by driving the XYθ table 11 to move the
[0051]
FIG. 16 is a flowchart of the offset data feedback mode of the outer lead bonding portion C of the electronic component bonding apparatus according to the embodiment of the present invention described above.
[0052]
The present invention is not limited to the above embodiment, and various design changes and operation methods can be considered. For example, in (Table 1), the number of
[0053]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the positional deviation of the outer lead with respect to the electrode can be suppressed within an allowable range, and the bonding of electronic components to the LCD can be performed with a high yield.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a plan view showing the overall configuration of an electronic component bonding apparatus according to an embodiment of the present invention;
FIG. 2 is a plan view of an outer lead bonding portion of the electronic component bonding apparatus according to the embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a partial perspective view of an outer lead bonding portion of an electronic component bonding apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a bottom view of a lower plate of an LCD according to an embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a block diagram of a control system of an outer lead bonding portion of the electronic component bonding apparatus according to the embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a plan view of a first crimping portion and a second crimping portion of an electronic component bonding apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a perspective view of the vicinity of the main crimping tool provided in the first crimp unit of the electronic device bonding apparatus according to the embodiment of the present invention.
FIG. 8 is a plan view of a misalignment inspection unit of the electronic component bonding apparatus according to the embodiment of the present invention.
FIG. 9 is a perspective view of a main part of a misalignment inspection unit of the electronic component bonding apparatus according to the embodiment of the present invention.
FIG. 10 is a block diagram of a control system of a misalignment inspection unit of the electronic device bonding apparatus according to the embodiment of the present invention.
FIG. 11A is an image view of an LCD and outer lead mark according to an embodiment of the present invention.
(B) Image diagram of LCD and outer lead mark of one embodiment of the present invention
(C) Image diagram of LCD and outer lead mark of one embodiment of the present invention
FIG.
The top view of LCD with which the 1st electronic component and 2nd electronic component of one embodiment of this invention were finally pressure-bonded
FIG. 13 is a flowchart showing a temporary attachment process in the offset data acquisition mode of the outer lead bonding portion of the electronic component bonding apparatus according to the embodiment of the present invention;
14A is an image diagram of an LCD and outer lead mark according to an embodiment of the present invention. FIG. 14B is an image diagram of an LCD and outer lead mark according to an embodiment of the present invention.
(C) Image diagram of LCD and outer lead mark of one embodiment of the present invention
FIG. 15 is an explanatory diagram of a positional deviation correction method for an electronic component bonding apparatus according to an embodiment of the present invention;
FIG. 16 is a flowchart of an offset data feedback mode of the outer lead bonding portion of the electronic component bonding apparatus according to the embodiment of the present invention.
FIG. 17 is a distribution diagram of relative displacement between outer leads and electrodes in a conventional electronic component bonding method;
[Explanation of symbols]
C Outer lead bonding part
D 1st crimping part
E 2nd crimping part
F Misalignment inspection section
1 Display panel (LCD)
6a First electronic component
6b Second electronic component
7a First film carrier
7b Second film carrier
9 electrodes
11, 51A, 51B, 81 XYθ table
22 Suction head
27 Anisotropic conductive sheet (ACF)
28 Outer lead
30 Temporary crimping head
31 Temporary crimping tool
32 First camera
33 Second camera
34, 35, 36, 37 mark
41,91 CPU
43,93 RAM
44, 94 recognition unit
45 XYθ table controller
63 1st crimping tool
73 2nd crimping tool
87 Third camera
88 4th camera
Claims (4)
(1)オフセットデータ入手モードにおいて、
前記仮付け工程が、(a)前記電子部品を前記ガラス基板に位置決めしたときの前記電子部品と前記ガラス基板の相対的な位置ずれを前記電子部品に形成された2つの第1のマークと前記ガラス基板に形成された2つの第2のマークを観察して検出し、(b)この位置ずれを補正して電子部品とガラス基板を位置合わせし、(c)仮付け用圧着ツールでこの電子部品を前記異方性導電シートに仮付けする工程を含み、
前記本圧着後の前記電子部品と前記ガラス基板との相対的な位置ずれを前記2つの第1のマークと前記2つの第2のマークを観察して検出した位置ずれに基づいてオフセットデータを入手し、
(2)オフセットデータフィードバックモードにおいて、
前記仮付け工程が、(a)前記電子部品を前記ガラス基板に位置決めしたときの前記電子部品と前記ガラス基板の相対的な位置ずれを前記電子部品に形成された2つの第1のマークと前記ガラス基板に形成された2つの第2のマークを観察して検出し、(b)この位置ずれと前記オフセットデータに基づいて前記電子部品と前記ガラス基板とをずらして位置合わせし、(c)仮付け用圧着ツールでこの電子部品を前記異方性導電シートに仮付けする工程を含むことを特徴とする電子部品のボンディング方法。Temporarily attach the electronic component to the anisotropic conductive sheet with a temporary crimping tool with an anisotropic conductive sheet interposed between the outer lead of the electronic component made of a film carrier and the electrode of the glass substrate. A temporary attaching step, a step of subjecting the electronic component temporarily attached using a main crimping tool to the glass substrate, and a relative displacement between the electronic component after the main crimping and the glass substrate. Including a process of measuring,
(1) In the offset data acquisition mode,
The temporary attachment step includes: (a) two first marks formed on the electronic component and a relative displacement between the electronic component and the glass substrate when the electronic component is positioned on the glass substrate ; Observe and detect the two second marks formed on the glass substrate , (b) correct this misalignment and align the electronic component with the glass substrate, and (c) use the electronic tool with a temporary crimping tool. Including temporarily attaching the component to the anisotropic conductive sheet,
Obtain offset data based on the positional deviation detected by observing the two first marks and the two second marks to detect the relative positional deviation between the electronic component and the glass substrate after the main press bonding. And
(2) In the offset data feedback mode,
The temporary attachment step includes: (a) two first marks formed on the electronic component and a relative displacement between the electronic component and the glass substrate when the electronic component is positioned on the glass substrate ; Two second marks formed on the glass substrate are observed and detected, (b) the electronic component and the glass substrate are shifted and aligned based on the positional deviation and the offset data, and (c) A bonding method for electronic parts, comprising a step of temporarily attaching the electronic part to the anisotropic conductive sheet with a crimping tool for temporary attachment.
測する工程で検出した位置ずれが許容値を越えた場合は、このガラス基板をボンディング不良として選別することを特徴とする請求項1記載の電子部品のボンディング方法。When the positional deviation detected in the step of measuring the relative positional deviation between the electronic component after the main press-bonding and the glass substrate exceeds an allowable value, the glass substrate is selected as a bonding defect. The method for bonding electronic components according to claim 1.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001252331A JP3833912B2 (en) | 2001-08-23 | 2001-08-23 | Bonding method for electronic components |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001252331A JP3833912B2 (en) | 2001-08-23 | 2001-08-23 | Bonding method for electronic components |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16043095A Division JP3243973B2 (en) | 1995-06-27 | 1995-06-27 | Electronic component bonding apparatus and bonding method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002110733A JP2002110733A (en) | 2002-04-12 |
JP3833912B2 true JP3833912B2 (en) | 2006-10-18 |
Family
ID=19080828
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001252331A Expired - Fee Related JP3833912B2 (en) | 2001-08-23 | 2001-08-23 | Bonding method for electronic components |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3833912B2 (en) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4576207B2 (en) * | 2004-11-05 | 2010-11-04 | 芝浦メカトロニクス株式会社 | Electronic component mounting apparatus and mounting method |
JP4711859B2 (en) | 2006-03-02 | 2011-06-29 | パナソニック株式会社 | Component joining method and component joining apparatus |
JP2010251415A (en) * | 2009-04-13 | 2010-11-04 | Hitachi High-Technologies Corp | Operation processor, or line or method for assembling display board module |
JP2011249664A (en) * | 2010-05-28 | 2011-12-08 | Hitachi High-Technologies Corp | Display board module assembling device, and method of assembling the same |
CN108109929B (en) * | 2016-11-25 | 2021-05-28 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | Flip-chip detection integrated device, flip-chip detection method and packaging method thereof |
CN107463013A (en) * | 2017-09-19 | 2017-12-12 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | A kind of COF press against precision automatic compensation method and system, COF binding machines |
-
2001
- 2001-08-23 JP JP2001252331A patent/JP3833912B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2002110733A (en) | 2002-04-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101260429B1 (en) | Electronic component mounting system electronic component placing apparatus and electronic component mounting method | |
JP5876000B2 (en) | Bonding apparatus and bonding method | |
JP4966139B2 (en) | Bonding material sticking inspection device, mounting device, and manufacturing method of electrical parts | |
WO2011043080A1 (en) | Part-mounting system and part-mounting method | |
US20160351528A1 (en) | Mounting apparatus and method of correcting offset amount of the same | |
KR20080103023A (en) | Electronic component mounting system and electronic component mounting method | |
JP5392303B2 (en) | Electronic component mounting system and mounting board manufacturing method in electronic component mounting system | |
JPWO2006118018A1 (en) | Flip chip mounting deviation inspection method and mounting apparatus | |
CN110208286B (en) | Detection equipment | |
JP3833912B2 (en) | Bonding method for electronic components | |
CN108470698B (en) | Workpiece aligning and mounting device and method thereof | |
JP2012004143A (en) | Mounting device and mounting method for electronic component | |
JP2929926B2 (en) | Electronic component bonding apparatus and bonding method | |
CN110729210A (en) | Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device | |
JP4628205B2 (en) | Feedback correction method and component mounting method | |
JP3596492B2 (en) | Bonding method | |
JP3271606B2 (en) | Electronic component bonding apparatus and bonding method | |
US7089073B2 (en) | Component mounting apparatus and component mounting method, and recognition apparatus for a component mount panel, component mounting apparatus for a liquid crystal panel, and component mounting method for a liquid crystal panel | |
KR100828312B1 (en) | Apparatus and Method for Bonding Printed Circuit on FPD Panel | |
JP3243973B2 (en) | Electronic component bonding apparatus and bonding method | |
CN212276148U (en) | Panel crimping check out test set | |
JP2001326252A (en) | Apparatus and method for mounting electronic part | |
JP5168074B2 (en) | Semiconductor module manufacturing apparatus, manufacturing apparatus system, manufacturing direction, and manufacturing processing program | |
JP2018202691A (en) | Screen printing system and screen printing method | |
JPH07231008A (en) | Method for bonding electronic parts |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040427 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040713 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040825 |
|
A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20040924 |
|
A912 | Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20041015 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20050620 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060720 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090728 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100728 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110728 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110728 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120728 Year of fee payment: 6 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |