JP3806042B2 - 熱型赤外線固体撮像素子 - Google Patents
熱型赤外線固体撮像素子 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3806042B2 JP3806042B2 JP2002023683A JP2002023683A JP3806042B2 JP 3806042 B2 JP3806042 B2 JP 3806042B2 JP 2002023683 A JP2002023683 A JP 2002023683A JP 2002023683 A JP2002023683 A JP 2002023683A JP 3806042 B2 JP3806042 B2 JP 3806042B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- constant current
- voltage
- circuit
- reference signal
- thermal infrared
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 54
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 28
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 14
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 12
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 12
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 5
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 3
- 238000003331 infrared imaging Methods 0.000 description 3
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/67—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
- H04N25/671—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/67—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
- H04N25/671—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction
- H04N25/673—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction by using reference sources
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、入射赤外線による温度変化を2次元配列された半導体センサで検出する熱型赤外線固体撮像素子に関し、特に、半導体センサからの電気信号を信号処理回路にて積分処理した後に出力する熱型赤外線固体撮像素子に関する。
【0002】
【従来の技術】
図10及び図11は、Proc.SPIE Vol.3698 1999 556頁から564頁に記載された従来の熱型赤外線固体撮像素子である。図10(a)及び(b)に示ように、赤外線撮像素子の画素1において、温度センサとなるPN接合ダイオード902は、2本の長い支持脚1101によってシリコン基板1102に設けられた中空部1103の上に支持されており、ダイオード902の電極配線1104が支持脚1101に埋め込まれている。PN接合ダイオード902は、感度を高めるために複数個が直列に接続されている。中空部1103は、ダイオード902とシリコン基板1102との間の熱抵抗を高めて、断熱構造を形成している。ダイオード902は、基板1102と独立した層にする必要があるので、SOI基板を用いてSOI層上に形成されており、SOI層下の埋め込み酸化膜は中空構造を支持する構造体の一部になっている。また、ダイオード部に熱的に接触している赤外線吸収構造1106が、図の上方から入射する赤外線を効率良く吸収できるように、支持脚1101の上方に張り出した構造となっている。尚、図10(b)では下部の構造を判りやすくするため、図の前方の部分での赤外線吸収構造を除いて描いてある。
【0003】
赤外線が画素1に入射すると、赤外線吸収構造1106で吸収され、上記の断熱構造により画素1の温度が変化し、温度センサとなるダイオード902の順方向電圧特性が変化する。このダイオード902の順方向電圧特性の変化量を、所定の検出回路で読み取ることにより、入射した赤外線量に応じた出力信号を取出すことができる。熱型赤外線固体撮像素子では、画素1が2次元に多数配列されており、それらを順にアクセスしていく構造となっている。このような素子では画素間の特性均一性が重要である。ダイオードの順方向電圧やその温度依存性は固体間のバラツキが非常に小さく、熱型赤外線撮像素子にとって温度センサにダイオードをもちいることは特性均一性を図る上で特に有効である。
【0004】
図11に、熱型赤外線固体撮像素子の回路構成を示す。画素1は、2次元に配列されており、行ごとに駆動線3によって接続され、列ごとに信号線5によって接続されている。垂直走査回路4とスイッチ9により駆動線3が順番に選択され、選択された駆動線3を介して電源6から画素1に通電される。画素1の陰極側に接続された信号線5の終端には定電流源2が備えられているため、画素1は定電流駆動となる。定電流源2の両端の電圧は積分回路39で積分及び増幅され、水平走査回路8とスイッチ9によって順に出力端子10へ出力される。
【0005】
積分回路39の内部を図12に示す。MOSトランジスタ40は、積分トランジスタでゲートが入力端子になる。積分容量40は、トランジスタ40に接続されており、周期的にトランジスタ26によりリセットされる。バイアス線41からはトランジスタ40の動作点をきめるバイアス電圧が与えられる。MOSトランジスタ40と積分容量25とで、いわゆるゲート変調積分回路が構成されている。この積分回路の出力は、サンプルホールド(S/H)回路27でサンプリングされ、バッファアンプ28を介して出力される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来の熱型赤外線固体撮像素子では以下のような問題があった。
まず、図11において、積分回路39の入力には、定電流源2の両端の電圧が入力されるが、この電圧は電源6の電圧から画素1の両端の電圧と駆動線3での電圧降下を引いた値となる。ところが、駆動線3での電圧降下量は、画素列毎に異なるため、積分回路39の出力も画素列毎に異なった値となってしまう。このため、撮像した画像に駆動線3の抵抗によるオフセット分布が発生してしまう。また、熱型赤外線固体撮像素子の赤外光に対するレスポンス、即ち、画素1の両端電圧の変化は、駆動線3における電圧降下成分にくらべはるかに小さいため、駆動線3による電圧降下分布によって増幅器が飽和等をおこし、必要な増幅度を確保できない問題もある。
【0007】
また、積分回路39の出力は、電源6の電圧変動の影響を直接受けるため、出力が不安定となり易い。即ち、図12に示すようなMOSトランジスタと積分容量により構成された積分回路を用いて検出を行った場合、図11において、画素を駆動する電源6の電圧変動により、定電流源2の両端電圧が変化するため、積分回路39の出力電圧が変化してしまう。
【0008】
さらに、画素1のレスポンスには赤外光のレスポンス以外に素子温度変化によるレスポンスも含まれるため、素子温度制御を精密に行わないと素子出力が素子温度変化とともにドリフトする現象が現れ安定した画像取得ができない問題もある。即ち、図10に示す画素1において、ダイオード902と基板1102は、完全に断熱されて、画素1の出力電圧が基板1102の温度変化の影響を受けないことが理想である。しかし、支持脚1101と中空部1103による断熱構造の熱抵抗は有限値をもつため、画素1の出力電圧は基板1102の温度変化によっても変化する。このため、検出動作を行っているときに、赤外線撮像装置の環境温度が変化して基板1102の温度が変化すると、検出部902の出力も変化してしまう。この環境温度の変化による出力変動は、入射赤外線の変化と区別がつかないため、赤外線の測定精度が低下して安定した画像取得ができない
【0009】
本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、駆動線の抵抗による電圧降下の影響の少ない熱型赤外線固体撮像素子を提供することを目的とする。さらに、電源電圧変動や素子温度変動による出力変動が少なく、安定した画像取得が可能な熱型赤外線固体撮像素子を提供することも目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために本発明の半導体装置は、少なくとも1個以上直列接続され、断熱構造と赤外線吸収構造を備えたダイオードによって画素が構成され、前記画素が2次元状に配列された画素エリアと、前記画素の陽極を行毎に共通接続した複数の駆動線と、前記画素の陰極を列毎に共通接続し、列毎の終端に第1の定電流化手段を備えた複数の信号線と、前記駆動線を順次選択し、選択した駆動線と画素用電源を接続する垂直走査回路と、前記信号線を順次選択し、選択した信号線について、前記第1の定電流化手段の両端電圧を前記信号線毎に設けられた積分回路を介して出力する水平駆動回路とを備えた熱型赤外線固体撮像素子であって、
前記信号線毎に、前記第1の定電流化手段の近傍に設けられ、前記第1の定電流化手段と実質的に同一の電流を流す第2の定電流化手段と、
前記第2の定電流化手段の入力端を前記駆動線と平行に共通接続し、前記駆動線と略同一の抵抗を有するバイアス線と、
前記バイアス線にバイアス電圧を与えるバイアス電圧出力回路とを有し、
前記積分回路が、前記第1の定電流化手段と前記第2の定電流化手段の両端電圧の差を一定時間積分して出力することを特徴とする。
【0011】
第1、第2及び第3の定電流化手段には、定電流源又は負荷抵抗を用いることができる。バイアス線と駆動線が実質同じ抵抗であり、列毎に接続される第1の定電流化手段と第2の定電流化手段の電流も実質同じであるため、バイアス線と駆動線に現れる電圧分布は実質同じである。そして、列毎に接続された差動積分回路で両者は互いに減算されるので、駆動線とバイアス線に現れる電圧分布は積分回路出力によってキャンセルされる。したがって、撮像した画像から駆動線の抵抗によるオフセット分布を減少し、また、駆動線での電圧降下分布による増幅器の飽和等を防止して必要な増幅度を容易に確保することができる。
【0012】
前記バイアス電圧出力回路は、前記画素電源によって駆動されて素子全体の温度に応じた参照信号を出力する参照信号出力回路と、前記参照信号出力回路の出力に接続されたバッファアンプとを有することが好ましい。これにより、バイアス線に、電源電圧変動と素子全体の温度変動による信号出力変化を校正するための基準信号が入力される。したがって、電源電圧変動と素子温度変動による信号のドリフトを差動積分回路で減算し、外部に出力しないようにすることができる。
【0013】
また、前記バイアス電圧出力回路が、前記バッファアンプの入力側又は出力側の少なくとも一方に低域通過フィルタを備えることが好ましい。参照信号出力回路の出力と差動積分回路の入力端子の間に低域通過フィルタを入れ、環境温度や電源回路のドリフト等による電圧変動のみを通過するようにすることで、参照信号出力回路からの雑音を抑制し、差動による雑音増加を抑制することができる。
【0014】
さらに、前記参照信号出力回路が、温度に応じて電気特性が変化する感温素子と、前記感温素子の陰極側に接続された第3の定電流化手段とを有し、前記第3の定電流化手段の両端電圧を参照信号として出力することが好ましい。これにより、参照信号出力回路から、赤外線吸収によらない素子の温度ドリフトを校正するための基準信号を出力することができる。
【0015】
またさらに、前記参照信号出力回路が、N個(Nは自然数)の前記感温素子と、前記N個の感温素子の陰極側に共通に接続された1つの前記第3の定電流化手段とを有し、前記第3の定電流化手段が前記第1の定電流化手段のN倍の電流を流しても良い。素子面積がある程度広い場合には、素子面内に温度分布が存在する場合がある。また、感温素子の特性にばらつきがある場合がある。感温素子を複数個設けていることで、素子面内の温度分布の影響や感温素子の特性ばらつきを平均化することができる。
【0016】
また、前記参照信号出力回路が、N個(Nは自然数)の前記感温素子と、前記感温素子の個々の陰極側に接続されたN個の前記第3の定電流化手段と、前記N個の第3の定電流化手段の両端電圧を平均化して参照信号として出力する平均化回路とを有するようにしても良い。
【0017】
前記感温素子は、例えば、断熱構造と赤外線吸収構造の少なくとも一方を有しないことを除いて前記画素と実質同一構造の参照画素とすることができる。これにより、入射する赤外線に関係無く環境等による素子の温度変化だけを検出することができる。また、参照画素に代えて、サーミスタを感温素子として用いても良い。
【0018】
前記積分回路は、前記第1の定電流化手段と前記第2の定電流化手段の両端電圧の差を差動電圧電流変換アンプによって電流に変換し、その電流を、前記差動電圧電流変換アンプに接続されて周期的に一定電圧にリセットされる容量に積分することが好ましい。これにより、積分回路の構成が演算増幅器を用いた場合にくらべて簡略になる。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながら、本発明の実施の形態について説明する。尚、従来と同一又は対応する部材には、図10乃至12と同一の符号を付している。
実施の形態1.
図1は、本発明の実施の形態1に係る熱型赤外線固体撮像素子の回路構成を示す回路図である。従来の熱型赤外線固体撮像素子と同様に、複数個が直列接続され、赤外線吸収構造と断熱構造を備えたダイオードによって個々の画素1が構成されており、その画素1が2次元状に配列された画素エリアを構成している。画素1の各行ごとに駆動線3が共通して接続されている。また、画素1の各列ごとに信号線5が共通して接続され、各信号線5の終端には定電流源2が接続されている。また、垂直走査回路4とスイッチ9により駆動線3が順番に選択され、定電流源2の両端の電圧が積分回路7で積分及び増幅され、水平走査回路8とスイッチ9によって順に出力端子10へ出力される。
【0020】
本実施の形態に係る熱型赤外線固体撮像素子では、
(1)積分回路に差動積分回路7を用いる点、
(2)抵抗が駆動線3と実質同じであるバイアス線17が駆動線3と平行に画素エリア外に設けられており、かつ、バイアス線の画素列毎に定電流源2と実質的に同じ電流を流す定電流源18を設けている点、
(3)差動積分回路には、定電流源2と18の両端電圧の差が入力される点、
において従来の熱型赤外線固体撮像素子と大きく異なっている。
【0021】
定電流源2と定電流源18の流す電流は同一であり、バイアス線17と駆動線3の抵抗は実質的に同一であるので、バイアス線17における電圧降下は駆動線3における電圧降下と同じになる。したがって、定電流源2と定電流源18の両端電圧の差を差動積分回路7で一定時間積分して出力することにより、駆動線3の抵抗による電圧降下分布を差動積分回路で減算し、外部に出力しないようにすることができる。
【0022】
また、本実施の形態に係る熱型赤外線固体撮像素子では、
(4)画素の駆動と共通の電源6によって駆動され、素子温度変化に応じた出力をだす参照信号出力回路11を設け、参照信号出力回路11の出力をバッファ15を介してバイアス線17に入力する回路構成(「バイアス電圧出力回路」)を有している点、においても従来の熱型赤外線固体撮像素子と大きく異なっている。
【0023】
バイアス線17には、画素1を駆動する電源6の電圧変動と素子全体の温度変動に対する信号出力変化が入力され、その信号が定電流源18の両端電圧として差動積分回路17に入力される。したがって、電源電圧変動と素子温度変動による信号のドリフトを差動積分回路7で減算し、外部に出力しないようにすることができる。
以下、本実施の形態に係る熱型赤外線固体撮像素子の具体的な構成について詳細に説明する。
【0024】
〔バイアス電圧出力回路〕
まず、バイアス電圧出力回路について説明する。本実施の形態において、バイアス電圧出力回路は、参照信号出力回路11、バッファアンプ15、低域通過フィルタ14及び16から成っている。
【0025】
参照信号出力回路11は、画素エリア外に設けられた参照画素12とそれに定電流を流す定電流源13が直列接続された構成となっており、定電流源13の両端電圧の差が出力される。参照画素12は、入射する赤外線に関係無く環境等による素子の温度変化だけを検出することができるように赤外線吸収構造あるいは断熱構造の何れかまたは両方を除いた構造となっている。断熱構造を有しない画素を形成するには、例えば、図10(a)(b)に示した検出器の構造において、基板1102に中空部1103を形成しないか、あるいは支持脚1101の長さを画素1に比べ充分短くすれば良い。また、赤外線吸収構造を有しない画素を形成するには、例えば、図10(a)(b)の画素1において赤外線吸収構造1106の形成を省略すれば良い。また、電流源13の電流は画素1に対する定電流源2と実質等しい電流である。したがって、参照信号出力回路11からは、赤外線吸収によらない素子の温度ドリフトを校正するための基準信号を出力することができる。
【0026】
そして、参照信号出力回路11の出力は低域通過フィルタ14で雑音除去され、バッファ15で電流駆動能力を上げ、再び低域通過フィルタ16で雑音除去されたのち、バイアス線17に与えられる。
【0027】
低域通過フィルタ14と16は参照画素12と定電流源13の雑音をカットし温度ドリフト成分のみを抽出するためのものである。即ち、低域通過フィルタ14及び16は、参照信号出力回路11を設けることによる雑音の増大を防止する役割を果たしている。一般に、高S/Nを目指す赤外線検出器では、電源系の雑音は電源回路で充分低減されており、検出部からの雑音が装置の雑音主成分となる。従って、同一構成の画素1と参照画素12の出力を差動積分回路7に入力すると、両者の雑音は無相関であるので、雑音は従来の√2倍になる。一方、環境温度変化による検出部出力変化や、環境温度変化に伴う電源回路特性変動による電源電圧の変化は、その変動が一般に秒オーダ以上の緩やかなものである。したがって、それをモニタするバイアス電圧出力回路の帯域は、赤外線を検出する信号ラインに必要な帯域にくらべて充分狭くてもよい。そこで、参照信号出力回路11の出力と差動積分回路7の入力端子の間に低域通過フィルタ14と16を入れ、環境温度や電源回路のドリフト等による電圧変動のみを通過するようにすれば、参照信号出力回路11からの雑音を抑制し、差動による雑音増加を抑制することができる。
【0028】
尚、このような赤外線固体撮像素子の画素にとっての雑音帯域幅の代表的な値は数KHzであるので、その1/100以下にカットオフ周波数をきめておけば良い。電源電圧変動及び温度変動の観点からは、その変動周期は早くて秒オーダであるから数Hzの帯域があれば十分である。また、本実施の形態では低域通過フィルタをバッファ15の前後に挿入しているが、何れか一方だけでもよい。
【0029】
〔参照信号出力回路〕
本実施の形態では、参照信号出力回路11を参照画素12と電流源13の直列接続構成としたが、他の参照信号出力回路の構成例を図2から5に示す。
図2は、参照画素12を複数個並列にし、その個数分だけ電流をました定電流源19を直列接続したものである。即ち、N個の参照画素12を並列に配置した場合には、定電流源2のN倍の電流を定電流源19によって流すようにする。熱型赤外線固体撮像素子の温度は、有限の大きさをもつ素子領域内で分布をもつことがあるので、複数の参照画素12を素子領域内に適当に分布設置すれば、その平均温度に反映した出力をとりだすことができる。
【0030】
また、同様な目的は、図3の構成の参照信号出力回路11でも実現できる。図3では、参照画素12と定電流源13が直列接続されたものを一組として、その組み合わせた構成そのものを素子領域内に適当に分布設置し、各々の出力を平均化回路20で平均化するものである。平均化回路20は、演算増幅器を用いた周知の回路である加算回路と除算回路の組み合わせで実現できる。
【0031】
図4の参照信号出力回路11は、参照画素12の代わりに、温度により抵抗が変化するサーミスタ21を定電流源22で定電流駆動させた例である。この構成では、バッファアンプ15の出力電圧が図1の場合と同一になるように、サーミスタ21の抵抗設定あるいは、定電流源22の電流設定をする必要がある。また、バッファアンプ15にレベルシフト動作を含めることによって、バッファ回路15の出力電圧が図1の場合と同様になるようにしても良い。
【0032】
さらに、図5の参照信号出力回路11は、図4の構成で定電流源22のかわりに負荷抵抗23を用い、サーミスタ21を定電流駆動させた例である。この例でも、バッファ回路15の出力電圧が図1の場合と同様になるように、サーミスタ21と負荷抵抗23の抵抗を設定し、あるいは、バッファアンプ15にレベルシフト動作を含める必要がある。
【0033】
〔低域通過フィルタ〕
低域通過フィルタ14及び16の回路構成例を、図6(a)と図6(b)に示す。以下に示す構成は、低域通過フィルタ14及び16のいずれにも用いることができる。
図6(a)の低域通過フィルタは、受動素子を用いたもので33は抵抗もしくはリアクタンスであり、34は容量である。バッファアンプ15の後側に挿入するフィルタ(=低域通過フィルタ16)としては直流電圧降下がないリアクタンスの方が望ましい。一方、バッファアンプ15の手前側に設けるフィルタ(=低域通過フィルタ14)としては、フィルタとしての特性が得られ易い抵抗を用いる方が望ましい。また、抵抗33は、電源回路6の内部抵抗あるいはバッファアンプ15の内部抵抗で代用してもよい。
【0034】
図6(b)の低域通過フィルタは、能動素子である演算増幅器35を用いた積分回路であり、この回路構成も低域通過フィルタとして一般的であるので詳細な説明は省略する。
【0035】
本発明における低域通過フィルタ14及び16は、図6(a)及び(b)に例示するものに限定されるものではなく、他のフィルタ(例えば、スイッチトキャパシタ回路)を用いることもできる。また、低域通過フィルタ14及び16は、バッファアンプ15の前側か後側のいずれか一方だけに設けても良いが、その場合はバッファアンプ15の前側のフィルタ(=フィルタ14)を残すことが好ましい。バッファアンプ15の後側には大きな電流が流れるため、フィルタでの電圧降下がバイアス電圧の変動の原因となるからである。
【0036】
〔差動積分回路〕
次に、差動積分回路7の具体的な構成例について説明する。
差動積分回路7の構成例を図7と図8に示す。図7において、24は差動電圧電流変換アンプで入力信号の差を電流に変換し、周期的にトランジスタ26でリセットされる積分容量25に積分するものである。図8は、演算増幅器31と32を用いた例で回路ユニット29は差動増幅回路で、回路ユニット30は積分回路である。いずれの場合も、積分後の出力はS/H回路27でサンプリングされバッファ28を介して出力される。
【0037】
図7は、本件発明者が先に特許出願(特願2000−386974)したもので、後述の演算増幅器を用いる場合にくらべ構成が簡略になる効果がある。以下、図7に示す差動積分回路7について詳細に説明する。
【0038】
図7に示す差動積分回路は、定電流源2の両端電圧と定電流源18の両端電圧を入力側に接続した差動電圧電流変換アンプ24と、差動電圧電流変換アンプ24の出力側に接続された積分容量25と、積分容量25を周期的に電圧Vrefにリセットするように接続されたリセットトランジスタ26を備える。差動電圧電流変換アンプ24は、負帰還なしの状態で接続されており、その出力インピーダンスと積分容量25のキャパシタンスCiとの積(=時定数)が積分時間Tiの5倍以上となるように設定されている。
【0039】
積分容量25の入力端には、サンプルホールド用トランジスタとサンプルホールド容量から成るサンプルホールド回路27が接続されている。積分後の出力が、サンプルホールド回路27でサンプリングされ、バッファ28を介して出力される。
【0040】
図7の差動積分回路7では、負帰還をしない状態の差動電圧電流変換アンプ24を用いて積分回路を構成しているため、図8で示すような演算増幅器を用いた積分回路に比して回路構成を大巾に簡略化することができる。図7に示す差動電圧電流変換アンプ24が積分動作をすることについて説明する。一般の帰還を施していない電圧増幅器の入出力応答特性Avは、電圧増幅器の相互コンダクタンスをgm、出力インピーダンスをRout、積分時間をTiとして、
Av =gm Rout{ 1−exp(−Ti / Ta ) } (1)
Ta= Rout Ci (2)
で表される。ここで、Taは時定数である。
Ta≫Ti (3)
であれば、
Av = gm Rout Ti / Ta= gm Ti / Ci (4)
となり、積分器の応答特性となる。
【0041】
(3)式は、出力インピーダンスRoutと積分容量の積で表される時定数が積分時間に比べ充分長いことを示している。例えば、時定数Taを積分時間Tiの少なくとも5倍以上とすれば、積分器の応答特性からのずれを10%以内とすることができる。時定数Taを大きくするためには、出力インピーダンスRoutが非常に大きな電圧増幅器を使えばよい。一般に、電圧利得gm・Routの大きな負帰還を用いない単一のアンプは、出力インピーダンスRoutが大きくなる。例えば、図8に示す演算増幅器のうちの差動アンプ31のみを取出して、図7に示すように負帰還や入力抵抗無しで接続することにより、差動電圧電流変換アンプ24を構成することができる。したがって、図7の差動積分回路によれば、図8に示す積分回路よりも遥かに簡単な回路構成によって、積分回路を構成することができる。
【0042】
実施の形態2.
図9は、本発明に係る熱型赤外線固体撮像素子の他の実施形態である。定電流源2、13及び18に代えて、負荷抵抗36、37及び38を用いた点を除けば、実施の形態1と同様である。負荷抵抗36、37及び38の抵抗を実質的に同じにしておけば、実施の形態1の場合と同様の効果を得ることができる。
【0043】
【発明の効果】
本発明は、以上説明したように構成されているため、下記の効果を奏する。
本発明の半導体装置は、画素に接続された第1の定電流源の近傍に、バイアス線で共通接続された第2の定電流源を設け、第1の定電流源と第2の定電流源の両端電圧の差を一定時間積分して出力するため、駆動線に現れる電圧分布を積分回路出力によってキャンセルすることができる。これにより、撮像した画像から駆動線の抵抗によるオフセット分布を減少し、また、駆動線での電圧降下分布による増幅器の飽和等を防止して必要な増幅度を容易に確保することができる。
【0044】
また、バイアス電圧出力回路を、画素電源によって駆動されて素子全体の温度に応じた参照信号を出力する参照信号出力回路と、参照信号出力回路の出力に接続されたバッファアンプとで構成することにより、電源電圧変動と素子温度変動による信号のドリフトを差動積分回路で減算し、外部に出力しないようにすることができる。
【0045】
さらに、バイアス電圧出力回路が、バッファアンプの入力側又は出力側のいずれかに低域通過フィルタを備えることにより、参照信号出力回路からの雑音を抑制し、差動による雑音増加を抑制することができる。
【0046】
また、参照信号出力回路を、温度に応じて電気特性が変化する感温素子と、感温素子の陰極側に接続された第3の定電流源とで構成し、第3の定電流源の両端電圧の差を参照信号として出力することにより、赤外線吸収によらない素子の温度ドリフトを校正するための基準信号を出力することができる。
【0047】
またさらに、参照信号出力回路として、複数個の感温素子を設けることにより、素子面内の温度分布の影響や感温素子の特性ばらつきを平均化することができる。
【0048】
加えて、感温素子を、断熱構造を実質的に有しないことを除いて画素と実質同一構造の参照画素とすることにより、入射する赤外線に関係無く環境等による素子の温度変化だけを検出することができる。また、参照画素に代えて、サーミスタを感温素子として用いれば、簡略な構成によって参照信号出力回路を形成することができる。
【0049】
また、差動電圧電流変換アンプによって変換した電流を、差動電圧電流変換アンプに接続されて周期的に一定電圧にリセットされる容量に積分することにより、簡略な構成で積分回路を構成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1は、本発明の実施の形態1に係る熱型赤外線固体撮像素子を示す回路図である。
【図2】 図2は、参照信号出力回路の別の例を示す回路図である。
【図3】 図3は、参照信号出力回路のさらに別の例を示す回路図である。
【図4】 図4は、参照信号出力回路のさらに別の例を示す回路図である。
【図5】 図5は、参照信号出力回路のさらに別の例を示す回路図である。
【図6】 図6(a)及び(b)は、低域通過フィルタの一例を示す回路図である。
【図7】 図7は、差動積分回路の一例を示す回路図である。
【図8】 図8は、差動積分回路の別の一例を示す回路図である。
【図9】 図9は、本発明の実施の形態2に係る熱型赤外線固体撮像素子を示す回路図である。
【図10】 図10(a)及び(b)は、従来の熱型赤外線固体撮像素子の画素構造を示す断面図及び斜視図である。
【図11】 図11は、従来の熱型赤外線固体撮像素子を示す回路図である。
【図12】 図12は、従来の熱型赤外線固体撮像素子の積分回路を示す回路図である。
【符号の説明】
1 画素、2、13,18 定電流源、3 駆動線、4 垂直走査回路、5 信号線、6 電源、7 差動積分回路、8 水平走査回路、9 スイッチ、10 出力端子、11 参照信号出力回路、12 参照画素、14、16 低域通過フィルタ、15 バッファアンプ、17 バイアス線。
Claims (9)
- 少なくとも1個以上直列接続され、断熱構造と赤外線吸収構造を備えたダイオードによって画素が構成され、前記画素が2次元状に配列された画素エリアと、
前記画素の陽極を行毎に共通接続した複数の駆動線と、
前記画素の陰極を列毎に共通接続し、列毎の終端に第1の定電流化手段を備えた複数の信号線と、
前記駆動線を順次選択し、選択した駆動線と画素用電源を接続する垂直走査回路と、
前記信号線を順次選択し、選択した信号線について、前記第1の定電流化手段の両端電圧を前記信号線毎に設けられた積分回路を介して出力する水平駆動回路と、を備えた熱型赤外線固体撮像素子であって、
前記信号線毎に、前記第1の定電流化手段の近傍に設けられ、前記第1の定電流化手段と実質的に同一の電流を流す第2の定電流化手段と、
前記第2の定電流化手段の入力端を前記駆動線と平行に共通接続し、前記駆動線と略同一の抵抗を有するバイアス線と、
前記バイアス線にバイアス電圧を与えるバイアス電圧出力回路とを有し、
前記積分回路が、前記第1の定電流化手段と前記第2の定電流化手段の両端電圧の差を一定時間積分して出力することを特徴とする熱型赤外線固体撮像素子。 - 前記バイアス電圧出力回路が、前記画素電源によって駆動されて素子全体の温度に応じた参照信号を出力する参照信号出力回路と、前記参照信号出力回路の出力に接続されたバッファアンプとを有することを特徴とする請求項1記載の熱型赤外線固体撮像素子。
- 前記バイアス電圧出力回路が、前記バッファアンプの入力側又は出力側の少なくとも一方に低域通過フィルタを備えたことを特徴とする請求項2記載の熱型赤外線固体撮像素子。
- 前記参照信号出力回路が、温度に応じて電気特性が変化する感温素子と、前記感温素子の陰極側に接続された第3の定電流化手段とを有し、前記第3の定電流化手段の両端電圧を参照信号として出力することを特徴とする請求項2又は3に記載の熱型赤外線固体撮像素子。
- 前記参照信号出力回路が、N個(Nは自然数)の前記感温素子と、前記N個の感温素子の陰極側に共通に接続された1つの前記第3の定電流化手段とを有し、前記第3の定電流化手段が前記第1の定電流化手段のN倍の電流を流すことを特徴とする請求項4記載の熱型赤外線固体撮像素子。
- 前記参照信号出力回路が、N個(Nは自然数)の前記感温素子と、前記感温素子の個々の陰極側に接続されたN個の前記第3の定電流化手段と、前記N個の第3の定電流化手段の両端電圧を平均化して参照信号として出力する平均化回路とを有することを特徴とする請求項4記載の熱型赤外線固体撮像素子。
- 前記感温素子が、断熱構造と赤外線吸収構造の少なくとも一方を有しないことを除いて前記画素と実質同一構造の参照画素であることを特徴とする請求項4乃至6のいずれか1項に記載の熱型赤外線固体撮像素子。
- 前記感温素子が、サーミスタであることを特徴とする請求項4乃至6のいずれか1項に記載の熱型赤外線固体撮像素子。
- 前記積分回路が、前記第1の定電流化手段と前記第2の定電流化手段の両端電圧の差を差動電圧電流変換アンプによって電流に変換し、その電流を、前記差動電圧電流変換アンプに接続されて周期的に一定電圧にリセットされる容量に積分することを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の熱型赤外線固体撮像素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002023683A JP3806042B2 (ja) | 2002-01-31 | 2002-01-31 | 熱型赤外線固体撮像素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002023683A JP3806042B2 (ja) | 2002-01-31 | 2002-01-31 | 熱型赤外線固体撮像素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003222555A JP2003222555A (ja) | 2003-08-08 |
JP3806042B2 true JP3806042B2 (ja) | 2006-08-09 |
Family
ID=27746325
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002023683A Expired - Lifetime JP3806042B2 (ja) | 2002-01-31 | 2002-01-31 | 熱型赤外線固体撮像素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3806042B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6975008B2 (en) * | 2003-10-27 | 2005-12-13 | Eastman Kodak Company | Circuit for detecting ambient light on a display |
JP3974902B2 (ja) * | 2004-02-27 | 2007-09-12 | 三菱電機株式会社 | 熱型赤外線検出素子 |
US8591105B2 (en) * | 2005-04-01 | 2013-11-26 | Trumpf Werkzeugmaschinen Gmbh + Co. Kg | Optical guide with temperature sensing matrix |
JP2008022315A (ja) * | 2006-07-13 | 2008-01-31 | Mitsubishi Electric Corp | 熱型赤外線検出回路 |
JP5127278B2 (ja) | 2007-04-05 | 2013-01-23 | 三菱電機株式会社 | 熱型赤外線固体撮像素子及び赤外線カメラ |
JP4685949B2 (ja) | 2009-03-17 | 2011-05-18 | 三菱電機株式会社 | 赤外線固体撮像素子 |
JP5335006B2 (ja) | 2010-02-26 | 2013-11-06 | 三菱電機株式会社 | 赤外線固体撮像素子 |
JP6715922B2 (ja) * | 2016-04-19 | 2020-07-01 | 三菱電機株式会社 | 赤外線撮像素子及び赤外線カメラ |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2874662B2 (ja) * | 1995-08-11 | 1999-03-24 | 日本電気株式会社 | ボロメータ型赤外線検出装置 |
JP2000019015A (ja) * | 1998-06-30 | 2000-01-21 | Toshiba Corp | 赤外線検出装置 |
JP3216616B2 (ja) * | 1998-10-06 | 2001-10-09 | 日本電気株式会社 | 半導体装置 |
EP1043574B1 (en) * | 1998-10-19 | 2003-08-27 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Infrared sensor and infrared sensor array comprising the same |
JP2001215152A (ja) * | 2000-02-03 | 2001-08-10 | Mitsubishi Electric Corp | 赤外線固体撮像素子 |
-
2002
- 2002-01-31 JP JP2002023683A patent/JP3806042B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2003222555A (ja) | 2003-08-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5127278B2 (ja) | 熱型赤外線固体撮像素子及び赤外線カメラ | |
US6953932B2 (en) | Microbolometer focal plane array with temperature compensated bias | |
JP5335006B2 (ja) | 赤外線固体撮像素子 | |
JP4372097B2 (ja) | 赤外線センサ、赤外線カメラ、赤外線センサの駆動方法および赤外線カメラの駆動方法 | |
JP3216616B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP6483150B2 (ja) | 放射線検出器 | |
JP2005214639A (ja) | 赤外線固体撮像素子 | |
JP3806042B2 (ja) | 熱型赤外線固体撮像素子 | |
JP2008268155A (ja) | 熱型赤外線固体撮像素子 | |
US20100128154A1 (en) | Systems and methods to provide reference current with negative temperature coefficient | |
JP5264418B2 (ja) | 熱型赤外線検出素子 | |
CN110296761B (zh) | 一种读出电路 | |
JP3793033B2 (ja) | 赤外線センサ及びその駆動方法 | |
US11985442B2 (en) | Bias circuit with improved noise performance | |
JP2008022315A (ja) | 熱型赤外線検出回路 | |
IL155227A (en) | System and method for generating signals | |
JP3974902B2 (ja) | 熱型赤外線検出素子 | |
JPH10122956A (ja) | 赤外線カメラ | |
WO2011040809A1 (en) | Read-out of superconducting single photon detectors | |
JP2004233314A (ja) | 熱型赤外線固体撮像素子 | |
JP4290034B2 (ja) | 赤外線固体撮像装置 | |
JP4071122B2 (ja) | 熱型赤外線固体撮像素子 | |
JP2010199702A (ja) | 熱型赤外線検出素子 | |
JP3377000B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2004336099A (ja) | 熱型赤外線固体撮像装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050510 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050906 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060502 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060511 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 3806042 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100519 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100519 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110519 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110519 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120519 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120519 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130519 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140519 Year of fee payment: 8 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |