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JP3778523B2 - X線撮影装置 - Google Patents

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JP3778523B2 JP08701395A JP8701395A JP3778523B2 JP 3778523 B2 JP3778523 B2 JP 3778523B2 JP 08701395 A JP08701395 A JP 08701395A JP 8701395 A JP8701395 A JP 8701395A JP 3778523 B2 JP3778523 B2 JP 3778523B2
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    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/58Testing, adjusting or calibrating thereof
    • A61B6/582Calibration
    • A61B6/583Calibration using calibration phantoms

Landscapes

  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は、被検体にX線を曝射し、被検体透過後のX線を収集して透視画像を撮影するX線撮影装置に係り、特に、撮影の際のX線曝射条件、画像処理条件を好適に設定する際の撮影条件算出方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、医用診断装置の開発が進められる中で、X線診断装置が多く用いられている。X線診断装置は、医用寝台上に載置された被検体を挟んでX線管とイメージインテンシファイヤとを対向配置し、X線管から被検体に向けてX線を曝射する。そして、被検体透過後のX線をイメージインテンシファイヤにて収集し、これを画像処理してX線画像を作成するものである。
【0003】
このようなX線撮影装置においては、画像のコントラスト等の撮影条件を好適に制御する必要がある。通常、このような撮影条件を決める際には、X線管の管電圧、管電流、及びパルス幅を任意に制御することにより行われる。
【0004】
ところが、実際には被検体の撮影部位や被検体の大きさにより撮影条件がその都度異なるので、上記の管電圧、管電流、パルス幅を一定に固定しても常に同一のコントラストが得られるとは限らない。従って、従来においては、X線撮影を行う際には本番の撮影を行う前に模擬的にX線を曝射してその撮影条件を見ながら管電圧、管電流、パルス幅を調整する方法が採用されていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような従来の方法では、模擬的に被検体にX線を曝射しながら撮影条件を決定する方法が採られているので、被検体に必要以上の被曝を与えてしまうという欠点がある。実際には、模擬的なX線の曝射により画像の明るさを調整する程度である。X線管、イメージインテンシファイヤ、テレビカメラなどにより変換されてX線像を得るようになっていることから、コントラストを最適に調整することは困難であった。
【0006】
この発明はこのような従来の課題を解決するためになされたもので、その目的とするところは、被検体に不必要なX線の被曝を与えることなく最適なX線曝射条件を設定することの可能なX線撮影装置の撮影条件算出方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本願請求項1に係る発明のX線撮影装置は、X線管とX線カメラユニットとの間に置かれた被検体に前記X線管からX線を曝射して前記被検体のX線像を撮影するX線撮影装置において、
ファントムが無い状態で、前記X線カメラユニットのグリッドがある状態で得たX線像とグリッとが無い状態で得たX線像とからグリッドの直接線透過率を求め、
前記グリッドの直接線透過率、複数の定数を持つ管電圧の関数として表されるファントムの平均減弱係数の式及び複数のX線曝射条件にて撮影して得た平均減弱係数データに基づいて前記式の定数を求めることにより、任意の管電圧に対するファントムの平均減弱係数を求め、
ファントムが無い状態で前記X線カメラユニットのグリッドがある状態で得たX線像からベーリンググレア比を求め、
前記グリッドの直接線透過率、前記ベーリンググレア比、複数の係数を持つ管電圧の関数として表される散乱線ゲインファクタの式及び複数のX線曝射条件にて撮影して得た散乱線ゲインファクタデータに基づいて前記式の係数を求めることにより、任意の管電圧に対する散乱線ゲインファクタを求め、
前記グリッドの直接線透過率、任意の管電圧に対するファントムの平均減弱係数、ベーリンググレア比及び任意の管電圧に対する散乱線ゲインファクタに基づいて、任意の管電圧に対する画像レベルを求める測定部を備えることを特徴とする。
【0010】
【作用】
上述の如く構成された本発明によれば、X線管とイメージ増倍管との間に人体に近いファントム(例えば、アクリルファントム)を置き、更に、X線の通過路に鉛片等のX線遮蔽体を配置して、ファントムの厚さを2種類以上、X線の曝射条件を2回以上変更して疑似的な曝射を行って得たX線撮影を行う。これによって得られたX線像は、ファントムの厚さ、X線の曝射条件によって画像レベルが事なり、X線遮蔽体のある部分と無い部分とによって異なる。
【0011】
このような画像レベルの違いから上記パラメータが求まり、これを用いて任意の曝射条件に応じた直接線レベル、散乱線レベル等の画像レベルを算出できる。従って、被検体に不必要な被曝を与えることなく最適なX線の撮影条件を得ることができるようになる。
【0012】
【実施例】
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。図1は、本発明に係るX線撮影装置の一実施例の構成を示すブロック図である。
【0013】
イメージインテンシファイヤ(イメージ増倍管)7は、被検体を透過したX線像を収集して光像に変換するものであり、イメージインテンシファイヤ7の表面には入射するX線の方向を制限するためのグリッド6が取り付けられ、一定方向のX線から光像を得るようになっている。イメージインテンシファイヤ7からの光像は絞り調整装置8を介してテレビカメラ9に供給され、電気信号に変換されるようになっている。絞り調整装置8は、テレビカメラ9に入射する光の量を調節するためのアイリス(絞り)8aおよびフィルター8bを有し、これらによってテレビカメラ9の撮影が光学的に調整されるようになっている。
【0014】
これら符号7,8,9がX線カメラユニットを成す。
【0015】
画像処理装置10は、テレビカメラ9の出力信号からX線画像を記憶すると共に、記憶した複数の画像の加算、複数の画像間の減算や、輪郭処理、画像の強調、特徴抽出などの画像処理を行うものである。
【0016】
X線管3は、イメージインテンシファイヤ7と相対峙して配置され、X線制御装置2の制御下でX線を出力する。X線制御装置2は、X線管の管電圧(kV)、管電流(mA)、パルス幅(msec)などの撮影条件を制御するためのものであり、その撮影条件の設定は測定部1によって制御される。
【0017】
測定部1は、上記撮影条件の制御および絞り調整装置8の制御など、X線撮影の制御をするためのものであり、ディスプレイ1bを有するコンピュータ装置と測定用ソフトウェアとを用いて構成される。そして、コンソール1aからの入力に応じて、X線管の撮影条件の設定、イメージインテンシファイヤとX線管との距離SID の制御を行う。測定部1は、このようなX線像の撮影のための処理を行うと共に、良好なX線像の撮影のために、画像処理装置10で処理した画像の画像データから散乱線グレアレベルIsv及び直接線レベルIp 、X線条件を定めるためのパラメータ(後述する)を求める演算等を行う。X線管3とイメージインテンシファイヤ7との間に、測定部1のディスプレイ1bの表示に従って、X線遮蔽体としての鉛片4、散乱X線を除去するためのグリッド6、ファントム5を配置し、X線像を撮影することによって自動的に上記パラメータを求めるとともに、求めたパラメータを用いて任意のX線条件における撮影レベルを知ることができる、これにより、最適なX線条件を知ることができるようになっている。
【0018】
この測定部1が、厚さの異なるファントムについて、異なる曝射条件でX線曝射して得たX線透視画像の収集データから、直接線レベル若しくは散乱線レベルを定めるためのパラメータを求める手段をなす。また、測定部1は、画像処理装置10で2つのX線像を減算して得た画像の画像データの分散を求めるようになっている。
【0019】
表1は、上記パラメータを求めるためのグリッド6、ファントム5の例を示したものであり、▲1▼はグリッド6がない状態にし、ファントム5が無い状態にする事を示し、▲2▼はグリッド6がありファントム5がない状態にする事を示し、▲3▼▲4▼はグリッドがあり、それぞれ10cm,20cmのファントム6を配置することを示す。なお、鉛片4は測定の間はグリッド6の前面(グリッドなしの場合は、イメージインテンシファイアの前面)に取り付けられている。
【0020】
【表1】
Figure 0003778523
表1の表示は上から順にディスプレイに表示され、▲1▼▲2▼では管電圧70kVでのみX線像撮影が行われ、▲3▼▲4▼では、曝射条件として管電圧をかえて行うために、70kV及び90kVの曝射条件の両方についてX線像撮影が行われる。図2は、そのときの測定部1の処理を示したものである。
【0021】
はじめに、測定部1は、表1▲1▼からディスプレイ表示をして、操作者にグリッド6及びファントム5を表示された状態にするように指示する(図2符号210)。操作者は、配置を終えコンソール1aにその旨を入力すると、測定部1は測定を開始する。まず、測定部1は、絞り調整装置8に対して所定のアイリス8aの開度及びフィルター8bを設定するように制御し、ファントム5のX線像撮影の準備をする。そして、X線制御装置2に対して管電圧を70kVに設定するように制御し、X線管3からX線を複数回曝射させ、ファントム5のX線像複数枚の撮影を行わせる(同図符号220)。
【0022】
このX線像はテレビカメラ9によって電気信号に変換され、画像処理装置10で加算・減算される。加算されたX線像はノイズ成分が平均化され、X線像の加算平均画像は、画像データとして測定部1に与えられる。このときのX線像の加算平均画像は、図3に示すように、鉛片4がある部分の画像値が低く、鉛片4がなくファントム5だけ部分の画像値が高くなっている。
【0023】
測定部1は、この加算平均画像の画像データから鉛片4に対応する画像値(散乱線グレアレベル)Isvと、鉛片4のないところとして例えば、鉛片4から100ピクセル程度離れた所の画像値Isv+Ip (Ip は直接線レベル)から散乱線グレアレベルIsv及び直接線レベルIp を求め、メモリーに記憶しておく(同図符号230)。表1▲1▼▲2▼の測定ではファントムの厚さは10または20cmではないので、90kVではX線像撮影が行われないが、(同図符号230)、同様にして管電圧90kVでX線像の撮影を行い(同図符号220)、▲3▼▲4▼では散乱線グレアレベルIsv及び直接線レベルIp を求めてメモリーに記憶する(同図符号230)。こうして、順次表1▲1▼〜▲4▼の測定をおこなわれる(同図符号270)。
【0024】
表1▲1▼〜▲4▼の測定で得られた散乱線グレアレベルIsv及び直接線レベルIp はそれぞれ違った測定値であるため、ここでは表2のように添字をつけて区別するものとする。
【0025】
【表2】
Figure 0003778523
ファントム5がないときのX線の出力Io は、つぎの式(1)で求められる事がわかっている。ここで、X線フォトンエネルギーΦは、Φ=φ(kV)*mAsのように、管電圧特性をもつ関数と管電流(mAs)の積算で表現でき、予め実験により条件の組み合わせごとに予め求められている。イメージインテンシファイヤとX線管との距離SIDは測定部1による制御で決まり、1ピクセル面積、光量減衰率等は測定から求めることができる。補正係数は、経験的に常数である。式(1)のうち、システムゲインζは、各装置に特有な値で測定データから計算する。
【0026】
【数1】
Figure 0003778523
測定部1は、これらの散乱線グレアレベルIsv及び直接線レベルIp を用いて以下の手順でX線条件を得るためのパラメータを求め、そのパラメータを用いて最適なX線条件を定める。
【0027】
まず、測定部1は、ファントム5がないときの直接線レベルを用いて「{Ip21 /▲2▼のときの光量透過率)}/{Ip10 /▲1▼のときの光量透過率)}」の演算を行い、グリッドの直接線透過率Tp を求める。直接線レベルIp は、グリッド6がある場合次の式(2a)で表せ、ない場合次の式(2b)で表せることから、Ip10 、Ip21 の比からグリッドの直接線透過率Tp を求めることが可能になっている。
【0028】
【数2】
Figure 0003778523
ファントムの平均減弱係数μは管電圧(kV)の関数として示され、近似的に式(3)のように表される。
【0029】
【数3】
Figure 0003778523
測定部1は、測定する管電流(mAs)の条件が変わらない場合、表2の管電圧70kVの直接線レベルIp31 ,Ip41 はそれぞれ式(4a)、(4b)となり、管電圧70kVの平均減弱係数μ(70kV)はその直接線レベルIp31 ,Ip41用いて求めることができ(式(4c))、また、表2の管電圧90kVの直接線レベルIp32 ,Ip42はそれぞれ式(4d)、(4e)となり、管電圧90kVの平均減弱係数μ(90kV)はその直接線レベルIp32 ,Ip42、 を用いて求めることができる(式(4f))。
一方、測定する管電流(mAs)の条件が変わる場合、表2の管電圧70kVの直接線レベルIp33 ,Ip43 はそれぞれ式(4g)、(4h)となり、管電圧70kVの平均減弱係数μ(70kV)はその直接線レベルIp33 ,Ip43用いて求めることができ(式(4i))、また、表2の管電圧90kVの直接線レベルIp34 ,Ip44はそれぞれ式(4j)、(4k)となり、管電圧90kVの平均減弱係数μ(90kV)はその直接線レベルIp34 ,Ip44、 を用いて求めることができる(式(4l))。
【0030】
【数4】
Figure 0003778523
一方、μは(3)のように表現できるので、
【0031】
【数5】
Figure 0003778523
【数6】
Figure 0003778523
こうして、得られた(4c)、(4f)、(4i)、(4l)、(5)及び(6)から定数a、bが求められる。求められた定数a、bと式(3)とから、任意の管電圧に対する平均減弱係数μを求めることができ、測定部1は、与えられた任意の管電圧について、その平均減弱係数μを演算する。
【0032】
一方、散乱線ゲインファクタGTsは管電圧によって変わる値であるが、散乱線グレアレベルIsv及び直接線レベルIp を用いて式(7)のように示すことが可能である。ここで、V(ベーリンググレア比)は、グリッド6が有り且つファントム5がない場合の散乱線グレアレベルIsv及び直接線レベルIp を用いてIsv/Ip で求められる。またgは、ファントム5に固有なパラメータで、実験から求められるものである。
【0033】
【数7】
Figure 0003778523
この事を用い、まず、測定部1は、表2▲2▼の測定で得られた散乱線グレアレベルIsv21及び直接線レベルIp21 を用いてIsv21/Ip21 からベーリンググレア比Vを求める。そして、測定部1は、こうして得たベーリンググレア比V、先に求めた直接線透過率Tp を用い、管電圧70kVの時の測定値Isv31,Ip31 、Isv41,Ip41 を式(7)に代入した方程式(8a)と(8b)の平均から管電圧70kVの時の散乱線ゲインファクタGTs(70kV)を求める(gは定数とする)。同様に、測定部1は、管電圧90kVの時の測定値Isv32,Ip32 、Isv42,Ip42 を式(7)に代入した連立方程式(8c)と(8d)の平均から管電圧90kVの時の散乱線ゲインファクタGTs(90kV)を求める。
【0034】
【数8】
Figure 0003778523
散乱線ゲインファクタGTsは、管電圧(kV)の1次関数である式(9)で示すことが可能である。測定部1は、得られた散乱線ゲインファクタGTs(70kV)及びGTs(90kV)を代入して得た連立方程式(9a)(9b)から係数a及びaを求める。具体的には式(10)(11)の演算で求めることが可能である。
【0035】
【数9】
Figure 0003778523
【数10】
Figure 0003778523
【数11】
Figure 0003778523
こうして得た係数a及びaの具体的な値が得られ、式(9)を具体的に定めうる。測定部1は、求められた係数a及びaと式(9)とから、与えられた任意の管電圧についてその散乱線ゲインファクタGTsを演算する。
【0036】
上述のようにして、測定部1は、X線条件を得るためのパラメータとして、グリッドの直接線透過率Tp 、ベーリンググレア比V、ファントムの平均減弱係数μ、散乱線ゲインファクタGTs を求めることができるようになる(図2符号280)。グリッドの直接線透過率Tp 、ベーリンググレア比V、ファントムの平均減弱係数μを求めるための式(2)の定数a,b、散乱線ゲインファクタGTs を求めるための式(8)の係数a,aは、測定部1に内臓された磁気ディスク装置などのストレージデバイスに保存される。そして、必要なときに読み出され、与えられた任意の管電圧について上記各パラメータの値を求める。
【0037】
さらに、測定部1は、得られた上記各パラメータをもとに、次の式(12)及び(13)を用いて与えられた任意の管電圧(kv)について散乱線グレアレベルIsv及び直接線レベルIp を求める演算を行うとともに、式(14)を用いて与えられた任意の管電圧について画像レベルを求める(図2符号290)。
【0038】
【数12】
Figure 0003778523
【数13】
Figure 0003778523
【数14】
Figure 0003778523
この様に、ファントムを使用した測定から、ある厚さの被写体を任意のX線撮影条件で撮影した場合の画像レベルを推定する事ができる。通常は模擬的に行うX線の曝射によりアリイスやフィルターなどの光量調整を行っていたが、あらかじめ画像のレベルを推定できる事からあらかじめ光量調整を行う事ができ、結果として模擬的なX線の噴射無しに撮影を行う事ができる。
【0039】
また、検査に良く使用する造影剤などの物質の特性をしめす、造影剤の滅弱係数を仮定すると、コントラストはファントムの減弱係数と物質の減弱係数と画像レベルから推定が可能となる。任意のX線撮影条件に対するコントラストの推定が可能である。一般に、コントラストは管電圧が低いほど大きくなる。コントラストの基準を決めて、その基準に合うような管電圧などの撮影条件を決める事ができる。
【0040】
以上の様に、画像レベルを推定できるパラメータを求める事で、無駄な被曝をさせる事なく撮影を行う事ができる。また、用いるファントムは2種類で良く、かつすべての管電圧(kV)で測定しないですむ事から、パラメータを求める際の負担が小さく迅速である。
【0041】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、画像レベルを推定できるパラメータを求めることで、被検体に不必要な被曝を与えることなく撮影を行えることができる。またすべての管電圧で測定しないで済むことから、パラメータを求める際の負担が小さく処理を迅速にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るX線撮影装置の概略的な構成を示すブロック図である。
【図2】測定部1の処理の概略を示す図。
【図3】散乱線レベルと直接線レベルの大きさを示す説明図である。
【符号の説明】
1 測定部、 2 X線制御装置、 3 X線管、 4 鉛片、
5 ファントム、 6 グリッド、 7 イメージインテンシファイヤ
8 絞り調整装置、 9 テレビカメラ、 10 画像処理装置

Claims (1)

  1. X線管とX線カメラユニットとの間に置かれた被検体に前記X線管からX線を曝射して前記被検体のX線像を撮影するX線撮影装置において、
    ファントムが無い状態で、前記X線カメラユニットのグリッドがある状態で得たX線像とグリッとが無い状態で得たX線像とからグリッドの直接線透過率を求め、
    前記グリッドの直接線透過率、複数の定数を持つ管電圧の関数として表されるファントムの平均減弱係数の式及び複数のX線曝射条件にて撮影して得た平均減弱係数データに基づいて前記式の定数を求めることにより、任意の管電圧に対するファントムの平均減弱係数を求め、
    ファントムが無い状態で前記X線カメラユニットのグリッドがある状態で得たX線像からベーリンググレア比を求め、
    前記グリッドの直接線透過率、前記ベーリンググレア比、複数の係数を持つ管電圧の関数として表される散乱線ゲインファクタの式及び複数のX線曝射条件にて撮影して得た散乱線ゲインファクタデータに基づいて前記式の係数を求めることにより、任意の管電圧に対する散乱線ゲインファクタを求め、
    前記グリッドの直接線透過率、任意の管電圧に対するファントムの平均減弱係数、ベーリンググレア比及び任意の管電圧に対する散乱線ゲインファクタに基づいて、任意の管電圧に対する画像レベルを求める測定部を備えることを特徴とするX線撮影装置。
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