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JP3605544B2 - Processing device and processing method - Google Patents

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JP3605544B2
JP3605544B2 JP2000165986A JP2000165986A JP3605544B2 JP 3605544 B2 JP3605544 B2 JP 3605544B2 JP 2000165986 A JP2000165986 A JP 2000165986A JP 2000165986 A JP2000165986 A JP 2000165986A JP 3605544 B2 JP3605544 B2 JP 3605544B2
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Description

【0001】
【発明が属する技術分野】
本発明は、例えばLCDガラス基板等の被処理体に対してレジスト塗布、露光および現像処理のような一連の複数の処理を施す処理装置および処理方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
液晶表示装置(LCD)の製造においては、基板であるLCDガラス基板に、所定の膜を成膜した後、フォトレジスト液を塗布してレジスト膜を形成し、回路パターンに対応してレジスト膜を露光し、これを現像処理するという、いわゆるフォトリソグラフィー技術により回路パターンを形成する。
【0003】
このフォトリソグラフィー技術では、被処理体であるLCD基板は、アドヒージョン(疎水化)処理→レジスト塗布→プリベーク→露光→現像→ポストベークという一連の処理を経てレジスト層に所定の回路パターンを形成する。
【0004】
従来、このような処理は、各処理を行う処理ユニットを処理の順に配置し、これら複数の処理ユニットに基板を順次搬入して処理を行ういわゆるトラック搬送タイプの処理装置、または各処理を行う処理ユニットを搬送路の両側にプロセスフローを意識した形態で配置し、搬送路を走行可能な搬送装置により各処理ユニットへの被処理体の搬入出を行ういわゆる中央搬送タイプの処理装置によって行われている。
【0005】
ところで、これら一連の処理の中で現像処理は、トラック搬送タイプの処理装置では、現像液塗布を行う処理ユニット、現像液塗布後のリンスを行う処理ユニット、リンス後の乾燥を行う処理ユニットを順次配置し、これら処理ユニットにより順次処理を行うことが一般的であり、中央搬送タイプの処理装置では、現像液塗布、現像液塗布後のリンス、リンス後の乾燥の全てを行う現像処理ユニットを例えば3つ配置し、これらのいずれかにLCD基板を搬入して1ユニットで全ての処理行うことが一般的である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、トラック搬送タイプの処理装置では、現像液塗布を行う処理ユニット、現像液塗布後のリンスを行う処理ユニット、リンス後の乾燥を行う処理ユニットのいずれかの処理ユニットに異常が生じた場合、処理を停止せざるを得ず、装置の安全性に問題がある。これに対して中央搬送タイプの処理装置では、現像液塗布、現像液塗布後のリンス、リンス後の乾燥の全てを行う現像処理ユニットを複数配置しているため、いずれかの現像処理ユニットに異常が生じても、他の現像処理ユニットにて処理が可能であるから安全性は高い。しかし、現像処理をフルで行う現像処理ユニットを3つ備えているため、トラック搬送タイプの処理装置に比較して装置コストが高くなるという問題がある。
【0007】
本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであって、安全性が高くしかも低コスト化が可能な処理装置および処理方法を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明は、第1に、被処理体に対して所定の処理を施す複数の処理ユニットを備え、被処理体に対して複数の工程からなる一連の処理を施すための処理装置であって、前記複数の処理ユニットは、第1の工程および第2の工程を実施可能な第1の処理ユニットと、第2の工程を行う第2の処理ユニットとを有し、前記第1の処理ユニットは通常処理時に第1の工程を行い、第2の工程を行う前記第2の処理ユニットが異常の際には第1の工程および第2の工程を行うことを特徴とする処理装置を提供する。
【0009】
本発明は、第2に、被処理体に対して所定の処理を施す複数の処理ユニットを備え、被処理体に対して複数の工程からなる一連の処理を施すための処理装置であって、各々第1の工程および第2の工程を実施可能な2つの処理ユニットを有し、前記2つの処理ユニットは、通常処理時は、一方の処理ユニットにおいて第1の工程、および他方の処理ユニットにおいて第2の工程を行い、いずれかの処理ユニットが異常の際には、他の処理ユニットで第1および第2の工程を行うことを特徴とする処理装置を提供する。
【0010】
本発明は、第3に、被処理体に対して所定の処理を施す複数の処理ユニットを備え、被処理体に対してレジスト塗布処理および露光後の現像処理を含む一連の処理を施すための処理装置であって、現像処理を行う処理ユニットとして、現像液塗布、現像液塗布後のリンス、およびリンス後の乾燥のうち2つの処理を行うことが可能な処理ユニットを有し、その処理ユニットは、通常処理時には2つの処理のうち1つの処理を行い、当該2つの処理のうち他の処理を行う処理ユニットが異常の際には当該2つの処理を行うことを特徴とする処理装置を提供する。
【0011】
本発明は、第4に、被処理体に対して所定の処理を施す複数の処理ユニットを備え、被処理体に対してレジスト塗布処理および露光後の現像処理を含む一連の処理を施すための処理装置であって、現像処理を行う処理ユニットとして、現像液塗布、現像液塗布後のリンス、およびリンス後の乾燥のうち同じ2つの処理を行うことが可能な2つの処理ユニットを有し、前記2つの処理ユニットは、通常処理時には2つの処理のうちそれぞれ異なる1つの処理を行い、当該2つの処理のうちいずれかのユニットが異常の際には、他の処理ユニットで当該2つの処理を行うことを特徴とする処理装置を提供する。
【0012】
本発明は、第5に、被処理体に対して所定の処理を施す複数の処理ユニットを備え、被処理体に対してレジスト塗布処理および露光後の現像処理を含む一連の処理を施すための処理装置であって、現像処理を行う処理ユニットとして、現像液塗布および現像液塗布後のリンスを行う2つの処理ユニットと、リンス後の乾燥を行う処理ユニットとを有し、前記2つの処理ユニットは、通常処理時には、一方で現像液塗布を行い他方で現像塗布後のリンスを行い、これら2つの処理ユニットのうちいずれかが異常の際には、残余の処理ユニットで現像液塗布と現像液塗布後のリンスを行うことを特徴とする処理装置を提供する。
【0013】
本発明は、第6に、被処理体に対して所定の処理を施す複数の処理ユニットにより、被処理体に対して複数の工程からなる一連の処理を施す処理方法であって、前記複数の処理ユニットのうち第1の処理ユニットを、第1の工程および第2の工程を実施可能なものとし、通常処理時には前記第1の処理ユニットで第1の工程を行うとともに第2の処理ユニットで第2の工程を行い、第2の工程を行う前記第2の処理ユニットが異常の際には前記第1の処理ユニットで第1の工程および第2の工程を行うことを特徴とする処理方法を提供する。
【0014】
本発明は、第7に、被処理体に対して所定の処理を施す複数の処理ユニットにより、被処理体に対して複数の工程からなる一連の処理を施す処理方法であって、所定の2つの処理ユニットを、各々第1の工程および第2の工程が可能なものとし、通常処理時は、一方の処理ユニットにおいて第1の工程、および他方の処理ユニットにおいて第2の工程を行い、いずれかの処理ユニットが異常の際には、他の処理ユニットで第1および第2の処理を行うことを特徴とする処理方法を提供する。
【0015】
本発明は、第8に、被処理体に対して所定の処理を施す複数の処理ユニットにより、被処理体に対してレジスト塗布処理および露光後の現像処理を含む一連の処理を施す処理方法であって、現像処理を行う処理ユニットとして、所定の処理ユニットを現像液塗布、現像液塗布後のリンス、およびリンス後の乾燥のうち2つの処理を行うことが可能なものとし、その処理ユニットによって、通常処理時には2つの処理のうち1つの処理を行い、当該2つの処理のうち他の処理を行う処理ユニットが異常の際には当該2つの処理を行うことを特徴とする処理方法を提供する。
【0016】
本発明は、第9に、被処理体に対して所定の処理を施す複数の処理ユニットにより、被処理体に対してレジスト塗布処理および露光後の現像処理を含む一連の処理を施す処理方法であって、現像処理を行う処理ユニットとして、2つの処理ユニットを現像液塗布、現像液塗布後のリンス、およびリンス後の乾燥のうち同じ2つの処理を行うことが可能なものとし、その2つの処理ユニットにより、通常処理時には2つの処理のうちそれぞれ異なる1つの処理を行い、当該2つの処理のうちいずれかのユニットが異常の際には、他の処理ユニットで当該2つの処理を行うことを特徴とする処理方法を提供する。
【0017】
本発明によれば、第1の工程および第2の工程を実施可能な第1の処理ユニットを有し、その第1の処理ユニットは通常処理時に第1の工程を行い、第2の工程を行う第2の処理ユニットが異常の際には第1の工程および第2の工程を行うようにしたので、第2の工程を行う第2の処理ユニットに異常が生じても装置を停止する必要がなく、安全性が高い。また、処理ユニットに対し2つの工程を実施可能にするだけであるから、装置コストの上昇は少なくてよく、低コスト化を図ることができる。具体例としては、現像処理を行う処理ユニットとして、現像液塗布、現像液塗布後のリンス、およびリンス後の乾燥のうち2つの処理を行うことが可能な処理ユニットを有するようにした装置を挙げることができ、これにより上述のように装置の安全性を確保しつつ、従来の中央搬送タイプの処理装置のようなフル装備の複数の現像処理ユニットを用いないことにより低コスト化を実現することができる。
【0018】
また、各々第1の工程および第2の工程を実施可能な2つの処理ユニットを有することにより、いずれかの処理ユニットが異常の際には、他の処理ユニットで第1および第2の処理を行うことができるので安全性が高い。また、2つの処理ユニットに対し2つの工程を実施可能にするだけであるから、装置コストの上昇は少なくてよく、低コスト化を図ることができる。具体例としては、現像処理を行う処理ユニットとして、現像液塗布、現像液塗布後のリンス、およびリンス後の乾燥のうち同じ2つの処理を行うことが可能な2つの処理ユニットを有する装置、特に処理ユニットとして、現像液塗布および現像液塗布後のリンスを行う2つの処理ユニットと、リンス後の乾燥を行う処理ユニットを有する装置を挙げることができ、これにより上述のように装置の安全性を確保しつつ、従来の中央搬送タイプの処理装置のようにフル装備の複数の現像処理ユニットを用いないことにより低コスト化を実現することができる。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照して、本発明の実施の形態について詳細に説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係るLCD基板のレジスト塗布・現像処理装置を示す平面図である。
【0020】
このレジスト塗布・現像処理装置100は、トラック搬送タイプであり、複数の基板Gを収容するカセットCを載置し、基板Gを搬入するためのローダ部1と、基板Gにレジスト塗布および現像を含む一連の処理を施すための複数の処理ユニットを備えた処理部2と、露光装置40との間で基板Gの受け渡しを行うためのインターフェイス部3と、カセットCを載置し、処理後の基板Gを搬出するためのアンローダ部4とを備えている。
【0021】
ローダ部1は、カセットCから処理部2へLCD基板Gの搬送を行うための搬送機構10を備えている。搬送機構10は搬送路11上を移動可能な搬送アーム12を備え、この搬送アーム12によりカセットCから処理部2へ基板Gが搬送される。
【0022】
処理部2は、ローダ部1からインターフェイス部3に至る第1の処理ライン2aと、インターフェイス部3からアンローダ部4に至る第2の処理ライン2bとを有しており、処理の順に各処理ユニットが配列されている。
【0023】
第1の処理ライン2aは、ローダ部1側から紫外線照射ユニット(UV)21、冷却処理ユニット(COL)22、スクラバ洗浄ユニット(SCR)23、アドヒージョン処理ユニット(AD)24、冷却処理ユニット(COL)25、レジスト塗布処理セクション(CT)26aおよび周縁レジスト除去セクション(ER)26bが一体的に設けられたレジスト処理ユニット26、加熱処理ユニット(HP)27、冷却処理ユニット(COL)28が順に配列されており、この冷却処理ユニット(COL)28からインターフェイス部3へ基板Gが搬送されるようになっている。隣接する処理ユニットの間、および冷却処理ユニット(COL)28とインターフェイス部3との間には、それぞれ搬送機構Tが設けられており、これら搬送機構Tによって配列された処理ユニットに順次基板が搬送される。
【0024】
第2の処理ライン2bは、インターフェイス部3側から現像液塗布およびリンス処理を行うことが可能な現像液塗布・リンスユニット(D/R)29および30、リンス後の乾燥を行う乾燥ユニット(DRY)31、加熱処理ユニット(HP)32、冷却処理ユニット(COL)33が順に配列されており、この冷却処理ユニット(COL)33からアンローダ部4へ基板Gが搬送されるようになっている。インターフェイス部3と現像液塗布・リンスユニット(D/R)29との間、および隣接する処理ユニットの間には、それぞれ搬送機構Tが設けられており、これら搬送機構Tによって配列された処理ユニットに順次基板が搬送される。
【0025】
インターフェイス部3は、処理部2から搬入された基板Gを一時的に保持するエクステンション34と、処理部2へ搬出する基板Gを一時的に保持するエクステンション35と、これらエクステンション34および35の外側に設けられた、バッファーカセットを配置する2つのバッファーステージ36と、これらと露光装置40との間の基板Gの搬入出を行う搬送機構37とを備えている。搬送機構37はエクステンション34,35およびバッファステージ36の配列方向に沿って設けられた搬送路38上を移動可能な搬送アーム39を備え、この搬送アーム39により処理部2と露光装置40との間で基板Gの搬送が行われる。
【0026】
アンローダ部4は、処理部2からカセットCへLCD基板Gの搬送を行うための搬送機構50を備えている。搬送機構50は搬送路51上を移動可能な搬送アーム52を備え、この搬送アーム52により処理部2からカセットCへ基板Gが搬送される。
【0027】
このようなトラック搬送タイプの処理装置100では、ローダ部1から取り出された基板Gは、処理部2に搬送され、処理部2に処理の順に配列された各処理ユニットにおいて、紫外線照射処理、スクラバ洗浄処理、アドヒージョン処理、レジスト塗布処理、およびプリベーク処理等が施された後、インターフェイス部3を介して露光装置40にウエハWを搬送して露光処理を行い、その後、インターフェイス部3を介して再び処理部2に搬入され、後述のようにして現像処理が行われ、ポストベーク処理等が施されて一連の処理が終了した後、アンローダ部4のカセットCに収容される。
【0028】
次に、このトラック搬送タイプのレジスト塗布・現像処理装置における現像処理について説明する。
本実施形態において、現像液塗布・リンスユニット(D/R)29および30は、ほぼ同様な構造を有しており、図2に示すように、カップ61と、カップ61内に基板Gを水平に吸着保持するスピンチャック62と、スピンチャック62を回転させるモータ63と、現像液を供給する現像液ノズル64と、リンス液を供給するリンス液ノズル65とを有している。そして、現像液ノズル64は、駆動機構66により移動可能となっている。現像液ノズル64は、基板Gの短辺とほぼ同一の幅を有しており、その底部に全幅に亘って多数の現像液吐出孔が設けられている。そして、現像液ノズル64の吐出孔から現像液を吐出させつつ、駆動機構66により現像液ノズル64を基板Gの長辺方向にスキャンさせることにより、基板Gに現像液パドルを形成する。また、リンス液ノズル65は、駆動機構67により移動可能となっている。そして、リンスの際にはリンス液ノズル65を駆動機構67により基板Gの中心まで移動させ、モータ63により基板Gを回転させながらリンス液を供給する。
【0029】
一方、乾燥ユニット(DRY)31は、図3に示すように、カップ71と、カップ71内に基板Gを水平に吸着保持するスピンチャック72と、スピンチャック72を回転させるモータ73とを有しており、ノズル類は設けられていない。このユニットでは、リンス後の基板Gをスピンチャック72に保持してモータ73により基板Gを高速回転させリンス液を振り切り乾燥する。したがって、モータ73はモータ63よりも高速回転可能なものとする。
【0030】
そして、通常処理時には、2つの機能のうちから1つを選択指定して、現像液塗布・リンスユニット(D/R)29を現像液塗布専用に用い、現像液塗布・リンスユニット(D/R)30をリンス専用に用いる。したがって、ユニット29,30,31に基板Gを順次流すことにより、現像液塗布、リンス、および乾燥という一連の処理を実現することができる。
【0031】
また、現像液塗布・リンスユニット(D/R)29に何らかの異常が生じた場合には、この現像液塗布・リンスユニット(D/R)29をスキップさせて現像液塗布・リンスユニット(D/R)30に基板Gを搬送し、そこで2つの機能の両方を指定して、現像液塗布およびリンスを行うことができる。現像液塗布・リンスユニット(D/R)30に異常が生じた場合も同様に、現像液塗布・リンスユニット(D/R)29で現像液塗布およびリンスを行った後、現像液塗布・リンスユニット(D/R)30をスキップさせて乾燥ユニット(DRY)31に搬送することができる。
【0032】
このように、従来のトラック搬送タイプの処理装置とは異なり、現像液塗布とリンスとの両方を行うことができる2つの現像液塗布・リンスユニット(D/R)29および30を設け、一方の処理ユニットに異常が発生した場合に他方の処理ユニットで現像液塗布およびリンス処理の2つの工程を行うので、いずれかの処理ユニットに異常が発生しても装置を停止することなく処理を続行することができ、装置の安全性が高い。
【0033】
また、2つの処理ユニットに対し、現像液塗布およびリンスの2つの処理機能を持たせるだけであり、これら処理ユニットは従来の現像液塗布処理ユニットとほぼ同一構成にすることができるため、通常のトラック搬送タイプの処理装置よりも僅かなコストアップですみ、一定の低コスト化を実現することができる。
【0034】
なお、現像液塗布・リンスユニット(D/R)29は、通常処理では現像液塗布が行われるのであるから、リンス機能をフルに備えている必要はなく、また、現像液塗布・リンスユニット(D/R)30、通常処理ではリンスが行われるのであるから、現像液塗布機能をフルに備えている必要はなく、トラブルが生じた時点で所定のパーツを付け替えることにより必要な機能を備えるようにしてもよい。これにより必要なパーツ点数を減少することができるのでさらなる低コスト化を実現することができる。
【0035】
次に、本発明の他の実施形態について説明する。
図4は、本発明の他の実施形態に係るLCD基板のレジスト塗布・現像処理装置を示す平面図である。
【0036】
このレジスト塗布・現像処理装置200は、中央搬送タイプであり、複数の基板Gを収容するカセットCを載置するカセットステーション101と、基板Gにレジスト塗布および現像を含む一連の処理を施すための複数の処理ユニットを備えた処理部102と、露光装置140との間で基板Gの受け渡しを行うためのインターフェイス部103とを備えており、処理部102の両端にそれぞれカセットステーション101およびインターフェイス部103が配置されている。
【0037】
カセットステーション101は、カセットCと処理部102との間でLCD基板Gの搬送を行うための搬送機構110を備えている。そして、カセットステーション101において外部に対するカセットCの搬入出が行われる。また、搬送機構110はカセットの配列方向に沿って設けられた搬送路110a上を移動可能な搬送アーム111を備え、この搬送アーム111によりカセットCと処理部102との間で基板Gの搬送が行われる。
【0038】
処理部102は、前段部102aと中段部102bと後段部102cとに分かれており、それぞれ中央に搬送路112、113、114を有し、これら搬送路の両側に各処理ユニットが配設されている。そして、これらの間には中継部115、116が設けられている。
【0039】
前段部102aは、搬送路112に沿って移動可能な主搬送装置117を備えており、搬送路112の一方側には、2つの洗浄ユニット(SCR)121a、121bが配置されており、搬送路112の他方側には紫外線照射ユニット(UV)と冷却ユニット(COL)とが2段に重ねられた処理ブロック126、加熱処理ユニット(HP)が2段に重ねられてなる処理ブロック127および冷却ユニット(COL)が2段に重ねられてなる処理ブロック128が配置されている。
【0040】
また、中段部102bは、搬送路113に沿って移動可能な主搬送装置118を備えており、搬送路113の一方側には、基板Gにレジストを塗布するレジスト塗布処理セクション(CT)122aおよび基板Gの周縁部のレジストを除去する周縁レジスト除去セクション(ER)122bが一体的に設けられたレジスト処理ユニット122が配置されており、搬送路113の他方側には、加熱処理ユニット(HP)が2段に重ねられてなる処理ブロック129、加熱処理ユニット(HP)と冷却処理ユニット(COL)が上下に重ねられてなる処理ブロック130、およびアドヒージョン処理ユニット(AD)と冷却ユニット(COL)とが上下に重ねられてなる処理ブロック131が配置されている。
【0041】
さらに、後段部102cは、搬送路114に沿って移動可能な主搬送装置119を備えており、搬送路114の一方側には、2つの現像液塗布・リンスユニット(D/R)123,124、1つの乾燥ユニット(DRY)125が配置されており、搬送路14の他方側には加熱処理ユニット(HP)が2段に重ねられてなる処理ブロック132、およびともに加熱処理ユニット(HP)と冷却処理ユニット(COL)が上下に重ねられてなる処理ブロック133、134が配置されている。
【0042】
上記主搬送装置117,118,119は、それぞれ水平面内の2方向のX軸駆動機構、Y軸駆動機構、および垂直方向のZ軸駆動機構を備えており、さらにZ軸を中心に回転する回転駆動機構を備えており、それぞれ基板Gを支持するアーム117a,118a,119aを有している。
【0043】
上記主搬送装置117は、搬送機構110のアーム111との間で基板Gの受け渡しを行うとともに、前段部102aの各処理ユニットに対する基板Gの搬入・搬出、さらには中継部115との間で基板Gの受け渡しを行う機能を有している。また、主搬送装置118は中継部115との間で基板Gの受け渡しを行うとともに、中段部102bの各処理ユニットに対する基板Gの搬入・搬出、さらには中継部116との間の基板Gの受け渡しを行う機能を有している。さらに、主搬送装置119は中継部116との間で基板Gの受け渡しを行うとともに、後段部102cの各処理ユニットに対する基板Gの搬入・搬出、さらにはインターフェイス部103との間の基板Gの受け渡しを行う機能を有している。なお、中継部115、116は冷却プレートとしても機能する。
【0044】
インターフェイス部103は、処理部102との間で基板を受け渡しする際に一時的に基板を保持するエクステンション136と、さらにその両側に設けられた、バッファーカセットを配置する2つのバッファーステージ137と、これらと露光装置140との間の基板Gの搬入出を行う搬送機構138とを備えている。搬送機構138はエクステンション136およびバッファステージ137の配列方向に沿って設けられた搬送路138a上を移動可能な搬送アーム139を備え、この搬送アーム139により処理部102と露光装置140との間で基板Gの搬送が行われる。
【0045】
このような中央搬送タイプの処理装置200では、カセットステーション101から取り出された基板Gは、処理部102に搬送された後、主搬送装置117,118,119により搬送されて、処理部102の各ユニットにおいて紫外線照射処理、スクラバ洗浄処理、アドヒージョン処理、レジスト塗布処理、およびプリベーク処理等が施された後、インターフェイス部103を介して露光装置140にウエハWを搬送して露光処理を行い、その後、インターフェイス部103を介して再び処理部102に搬入され、現像処理、ポストベーク処理等が施されて一連の処理が終了した後、カセットステーション101に戻され、いずれかのカセットCに収容される。
【0046】
次に、この中央搬送タイプのレジスト塗布・現像処理装置200における現像処理について説明する。
本実施形態において、現像液塗布・リンスユニット(D/R)123および124は、ほぼ同様な構造を有しており、図2に示す従前の実施形態における現像液塗布・リンスユニット(D/R)29および30と基本的構成は同じである。また、乾燥ユニット(DRY)125は、図3に示す従前の実施形態における乾燥ユニット(DRY)31と基本的構成は同じである。ただし、ユニット123,125は搬送路114に面して基板Gの搬入出口が形成されているとともに、ユニット内部において現像液塗布・リンスユニット(D/R)123から現像液塗布・リンスユニット(D/R)124を経て乾燥ユニット(DRY)125に基板Gを搬送する図示しないサブアーム機構が設けられている。
【0047】
そして、通常処理時には、主搬送装置119により、まず現像液塗布・リンスユニット(D/R)123に基板Gが搬入され、そこで2つの処理機能のうち一つを選択指定して現像液塗布が行われ、続いてサブアーム機構により基板Gが現像液塗布・リンスユニット(D/R)124に搬送されて、そこで同様に2つの処理機能のうち一つを選択指定してリンスが行われ、さらにサブアーム機構により乾燥ユニット(DRY)に搬送されて乾燥が行われ、主搬送装置119により搬出される。これにより現像液塗布、リンス、および乾燥という一連の処理を実現することができる。
【0048】
また、現像液塗布・リンスユニット(D/R)123に何らかの異常が生じた場合には、この現像液塗布・リンスユニット(D/R)123をスキップさせて現像液塗布・リンスユニット(D/R)124に基板Gを搬送し、そこで現像液塗布およびリンスの2工程を選択指定してこれらの処理を行うことができる。現像液塗布・リンスユニット(D/R)124に異常が生じた場合も同様に、現像液塗布・リンスユニット(D/R)123で現像液塗布およびリンスを行った後、現像液塗布・リンスユニット(D/R)124をスキップさせて乾燥ユニット(DRY)125に搬送することができる。
【0049】
このように、従来の中央搬送タイプの処理装置とは異なり、現像液塗布、リンス、乾燥の全ての処理を連続して行う現像処理ユニットを3つ用いる代わりに、2台の現像液塗布・リンスユニット(D/R)123,124と、1台の乾燥ユニット(DRY)125を設けたので、ユニットの構成を従来の中央搬送タイプの場合よりも簡略化することができ、装置の低コスト化を図ることができる。また、一方の現像液塗布・リンスユニット(D/R)に異常が生じても他の現像液塗布・リンスユニット(D/R)で現像液塗布およびリンスの両方を行うことができるので、従来のトラック搬送タイプの処理装置よりも装置の安全性および信頼性が高い。
【0050】
本実施形態でも従前の実施形態と同様、現像液塗布・リンスユニット(D/R)123はリンス機能をフルに備えている必要はなく、現像液塗布・リンスユニット(D/R)124は現像液塗布機能をフルに備えている必要はなく、したがって、トラブルが生じた時点で所定のパーツを付け替えるようにすることによりさらなる低コスト化を実現することができる。
【0051】
なお、本実施形態では、上述のようなサブアーム機構を設けずに、ユニット123,124,125の全てに搬送路114に面して形成された搬入出口を使用して、主搬送装置119で基板Gを搬送するようにしてもよい。また、通常処理において、基板Gを現像液塗布・リンスユニット(D/R)123,124のいずれかに搬入するようにし、いずれかに搬入された基板Gは、その搬入されたユニットで現像液塗布とリンスの両方を行うようにしてもよい。
【0052】
なお、本発明は上記実施の形態に限定されず、種々の変形が可能である。例えば、上記実施形態では、同一の現像液塗布・リンスユニット(D/R)を2つ設けた例を示したが、これを1つ設け、他は現像液塗布ユニットまたはリンスユニットであってもよい。また、乾燥ユニット(DRY)125は、リンス処理と乾燥処理の2工程を行うようにしてもよい。さらに、装置レイアウトは上記実施形態に限るものではなく、処理に応じて適宜のレイアウトを採用すればよい。さらに、上記実施形態では、本発明をレジスト塗布・現像処理装置の現像処理に適用した場合について示したが、これに限るものではない。さらにまた、被処理体としてもLCD基板に限らずカラーフィルターや半導体ウエハ等の他の被処理体の処理に適用可能であることはいうまでもない。
【0053】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、第1の工程および第2の工程を実施可能な第1の処理ユニットを有し、その第1の処理ユニットは通常処理時に第1の工程を行い、第2の工程を行う第2の処理ユニットが異常の際には第1の工程および第2の工程を行うようにしたので、第2の工程を行う第2の処理ユニットに異常が生じても装置を停止する必要がなく、安全性が高い。また、処理ユニットに対し2つの工程を実施可能にするだけであるから、装置コストの上昇は少なくてよく、低コスト化を図ることができる。具体的には、現像処理を行う処理ユニットとして、現像液塗布、現像液塗布後のリンス、およびリンス後の乾燥のうち2つの処理を行うことが可能な処理ユニットを有するようにしたので、装置の安全性を確保しつつ、従来の中央搬送タイプの処理装置のようなフル装備の複数の現像処理ユニットを用いないことにより低コスト化を実現することができる。
【0054】
また、本発明では、各々第1の工程および第2の工程を実施可能な2つの処理ユニットを有することにより、いずれかの処理ユニットが異常の際には、他の処理ユニットで第1および第2の処理を行うことができるので安全性が高い。また、2つの処理ユニットに対し2つの工程を実施可能にするだけであるから、装置コストの上昇は少なくてよく、低コスト化を図ることができる。具体的には、現像処理を行う処理ユニットとして、現像液塗布、現像液塗布後のリンス、およびリンス後の乾燥のうち同じ2つの処理を行うことが可能な2つの処理ユニットを有するようにしたので、上述のように装置の安全性を確保しつつ、従来の中央搬送タイプの処理装置のようにフル装備の複数の現像処理ユニットを用いないことにより低コスト化を実現することができる。特に処理ユニットとして、現像液塗布および現像液塗布後のリンスを行う2つの処理ユニットと、リンス後の乾燥を行う処理ユニットを有する装置により、この効果を一層有効に発揮することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係るLCD基板のレジスト塗布・現像処理装置を示す平面図。
【図2】図1のレジスト塗布・現像処理装置に搭載された現像液塗布・リンスユニット(D/R)を示す概略断面図。
【図3】図1のレジスト塗布・現像処理装置に搭載された乾燥ユニット(DRY)を示す概略断面図。
【図4】本発明の他の実施形態に係るLCD基板のレジスト塗布・現像処理装置を示す平面図。
【符号の説明】
1……ローダ部
2,102……処理部
3,103……インターフェイス部
4……アンローダ部
29,30,123,124……現像液塗布・リンスユニット
31,125……乾燥ユニット
112,113,114……搬送路
117,118,119……主搬送装置
100,200……レジスト塗布・現像処理装置
G……LCD基板
T……搬送機構
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a processing apparatus and a processing method for performing a series of plural processes such as resist coating, exposure, and development on a target object such as an LCD glass substrate.
[0002]
[Prior art]
In the manufacture of a liquid crystal display (LCD), a predetermined film is formed on an LCD glass substrate, which is a substrate, and then a photoresist solution is applied to form a resist film, and the resist film is formed in accordance with a circuit pattern. A circuit pattern is formed by a so-called photolithography technique of exposing and developing.
[0003]
In this photolithography technique, a predetermined circuit pattern is formed on a resist layer of an LCD substrate, which is an object to be processed, through a series of processes of adhesion (hydrophobicization) processing, resist coating, prebaking, exposure, development, and postbaking.
[0004]
Conventionally, such processing is performed by arranging processing units for performing each processing in the order of processing, and sequentially loading substrates into the plurality of processing units to perform processing, or a processing apparatus of a so-called track transport type, or a processing for performing each processing. Units are arranged on both sides of the transport path in a manner that is conscious of the process flow, and are carried out by a so-called central transport type processing apparatus that carries in and out the object to be processed into and from each processing unit by a transport apparatus that can travel on the transport path. I have.
[0005]
By the way, in the series of processes, the developing process includes, in a track transport type processing apparatus, a processing unit for applying a developing solution, a processing unit for rinsing after applying the developing solution, and a processing unit for drying after rinsing sequentially. It is common to arrange and sequentially perform processing by these processing units.In the processing apparatus of the central transport type, for example, a developing processing unit that performs all of developing solution coating, rinsing after developing solution coating, and drying after rinsing is used. In general, three units are arranged, and an LCD substrate is loaded into any of them, and all the processing is performed by one unit.
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the case of a truck transport type processing apparatus, when an abnormality occurs in any of the processing unit for performing the application of the developer, the processing unit for performing the rinsing after the application of the developer, and the processing unit for performing the drying after the rinsing, Processing must be stopped, and there is a problem with the safety of the device. On the other hand, the central transport type processing apparatus has a plurality of development processing units that perform all of the application of the developer, the rinsing after the application of the developer, and the drying after the rinsing. Is high, safety is high because processing can be performed by another development processing unit. However, since three development processing units for performing the full development processing are provided, there is a problem that the apparatus cost is higher than that of a track transport type processing apparatus.
[0007]
The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide a processing apparatus and a processing method that are highly safe and can be reduced in cost.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-described problems, the present invention firstly includes a plurality of processing units for performing a predetermined process on an object to be processed, and performs a series of processes including a plurality of processes on the object to be processed. A processing device for The plurality of processing units, The first step and the second step can be performed First Processing unit And a second processing unit for performing the second step. Has, The first Processing unit , Perform the first step and perform the second step during normal processing The second Provided is a processing apparatus that performs the first step and the second step when a processing unit is abnormal.
[0009]
A second aspect of the present invention is a processing apparatus that includes a plurality of processing units that perform a predetermined process on an object to be processed and performs a series of processes including a plurality of processes on the object to be processed. It has two processing units each capable of performing the first step and the second step. The two processing units perform the first step in one processing unit and the second step in the other processing unit during normal processing, and perform the other step when one of the processing units is abnormal. Perform the first and second steps in the processing unit A processing device characterized by the above feature.
[0010]
Thirdly, the present invention includes a plurality of processing units for performing a predetermined process on an object to be processed, and performs a series of processes including a resist coating process and a development process after exposure to the object to be processed. A processing unit for performing a development process, the processing unit having a processing unit capable of performing two processes of developer application, rinsing after application of the developer, and drying after rinsing; Provides a processing device that performs one of two processes during a normal process, and performs the two processes when a processing unit that performs another of the two processes is abnormal. I do.
[0011]
Fourth, the present invention includes a plurality of processing units for performing a predetermined process on the object to be processed, and for performing a series of processes including a resist coating process and a development process after exposure to the object to be processed. The processing apparatus includes two processing units capable of performing the same two processes of developing solution application, rinsing after application of the developing solution, and drying after rinsing as a processing unit for performing a developing process. However, the two processing units perform different ones of the two processings during the normal processing, and when one of the two processings is abnormal, the other processing unit performs the two processings. Do the processing A processing device characterized by the above feature.
[0012]
Fifthly, the present invention includes a plurality of processing units for performing a predetermined process on an object to be processed, and for performing a series of processes including a resist coating process and a development process after exposure to the object to be processed. The processing apparatus includes two processing units for performing development processing and rinsing after application of the developer and a processing unit for performing drying after rinsing. During the normal processing, the two processing units perform developer application on one side and perform rinsing after development application on the other, and when any of these two processing units is abnormal, the remaining processing units Perform developer application and rinse after developer application A processing device characterized by the above feature.
[0013]
Sixth, the present invention is a processing method for performing a series of processes including a plurality of steps on a processing target by a plurality of processing units that perform predetermined processing on the processing target, A first of the plurality of processing units Processing unit can perform the first step and the second step, and during normal processing In the first processing unit The first step While performing the second process in the second processing unit. Perform the second step The second When the processing unit is abnormal In the first processing unit There is provided a processing method characterized by performing the first step and the second step.
[0014]
Seventhly, the present invention provides a processing method for performing a series of processes including a plurality of steps on a processing target by a plurality of processing units for performing a predetermined processing on the processing target. One processing unit is capable of performing the first step and the second step, respectively. During normal processing, one processing unit performs the first step and the other processing unit performs the second step. When one of the processing units is abnormal, the other processing unit performs the first and second processing.
[0015]
Eighthly, the present invention provides a processing method for performing a series of processes including a resist coating process and a development process after exposure by a plurality of processing units for performing a predetermined process on a target object. As a processing unit for performing a developing process, a predetermined processing unit is capable of performing two processes of developing solution application, rinsing after applying the developing solution, and drying after rinsing. A processing method that performs one of the two processes during normal processing, and performs the two processes when a processing unit that performs another of the two processes is abnormal. .
[0016]
A ninth aspect of the present invention is a processing method for performing a series of processes including a resist coating process and a development process after exposure by a plurality of processing units for performing a predetermined process on a target object. The two processing units are capable of performing the same two processes of developing solution application, rinsing after application of the developing solution, and drying after rinsing, as the processing units for performing the developing process. The processing unit performs one different process of the two processes during the normal process, and when one of the two processes is abnormal, the other process unit performs the two processes. A featured processing method is provided.
[0017]
According to the present invention, the first step and the second step can be performed. First Having a processing unit, First The processing unit performs the first step and performs the second step during normal processing. Second Since the first step and the second step are performed when the processing unit is abnormal, the second step is performed. Second Even if an abnormality occurs in the processing unit, there is no need to stop the device, and the safety is high. Further, since only two processes can be performed on the processing unit, the increase in apparatus cost may be small, and the cost can be reduced. As a specific example, an apparatus having a processing unit capable of performing two processes of a developer application, a rinsing after the developer application, and a drying after the rinsing as a processing unit for performing a developing process is described. As a result, it is possible to reduce the cost by ensuring the safety of the apparatus as described above and not using a plurality of full-featured development processing units such as the conventional central conveyance type processing apparatus. Can be.
[0018]
Further, by having two processing units each capable of performing the first step and the second step, when one of the processing units is abnormal, the other processing unit performs the first and second processing. High safety because it can be performed. Further, since only two processes can be performed for two processing units, an increase in apparatus cost may be small, and cost reduction may be achieved. As a specific example, an apparatus having two processing units capable of performing the same two processes of developing solution application, rinsing after developing solution application, and drying after rinsing as a processing unit for performing a developing process, particularly Examples of the processing unit include an apparatus having two processing units for performing application of the developer and rinsing after the application of the developer and an apparatus having a processing unit for performing drying after rinsing, thereby improving the safety of the apparatus as described above. In addition, the cost can be reduced by not using a plurality of full-featured development processing units unlike the conventional central conveyance type processing apparatus.
[0019]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
FIG. 1 is a plan view showing an apparatus for coating and developing a resist on an LCD substrate according to an embodiment of the present invention.
[0020]
The resist coating / developing apparatus 100 is of a truck transport type, in which a cassette C accommodating a plurality of substrates G is placed, and a loader unit 1 for carrying in the substrates G and a resist coating / developing on the substrates G are performed. A processing unit 2 having a plurality of processing units for performing a series of processes including an interface unit 3 for transferring a substrate G to and from the exposure apparatus 40, and a cassette C are placed. And an unloader section 4 for unloading the substrate G.
[0021]
The loader unit 1 includes a transport mechanism 10 for transporting the LCD substrate G from the cassette C to the processing unit 2. The transfer mechanism 10 includes a transfer arm 12 movable on a transfer path 11, and the transfer arm 12 transfers the substrate G from the cassette C to the processing unit 2.
[0022]
The processing unit 2 has a first processing line 2a from the loader unit 1 to the interface unit 3 and a second processing line 2b from the interface unit 3 to the unloader unit 4, and each processing unit is in the order of processing. Are arranged.
[0023]
The first processing line 2a includes an ultraviolet irradiation unit (UV) 21, a cooling processing unit (COL) 22, a scrubber cleaning unit (SCR) 23, an adhesion processing unit (AD) 24, and a cooling processing unit (COL) from the loader unit 1 side. ) 25, a resist processing unit 26 integrally provided with a resist coating processing section (CT) 26a and a peripheral resist removing section (ER) 26b, a heating processing unit (HP) 27, and a cooling processing unit (COL) 28 are sequentially arranged. The substrate G is transported from the cooling processing unit (COL) 28 to the interface unit 3. Transfer mechanisms T are provided between adjacent processing units and between the cooling processing unit (COL) 28 and the interface unit 3, respectively, and the substrates are sequentially transferred to the processing units arranged by the transfer mechanisms T. Is done.
[0024]
The second processing line 2b includes developing solution applying / rinsing units (D / R) 29 and 30 capable of performing a developing solution applying and rinsing process from the interface unit 3 side, and a drying unit (DRY) for performing drying after rinsing. ) 31, a heating unit (HP) 32, and a cooling unit (COL) 33 are arranged in this order, and the substrate G is transported from the cooling unit (COL) 33 to the unloader unit 4. A transport mechanism T is provided between the interface unit 3 and the developer application / rinse unit (D / R) 29 and between adjacent processing units, and the processing units arranged by the transport mechanisms T are provided. Are sequentially transported.
[0025]
The interface unit 3 includes an extension 34 for temporarily holding the substrate G carried in from the processing unit 2, an extension 35 for temporarily holding the substrate G to be carried out to the processing unit 2, and an outside of these extensions 34 and 35. There are provided two buffer stages 36 for arranging buffer cassettes, and a transport mechanism 37 for loading and unloading the substrate G between these and the exposure device 40. The transport mechanism 37 includes a transport arm 39 movable along a transport path 38 provided along the direction in which the extensions 34 and 35 and the buffer stage 36 are arranged. Then, the substrate G is transported.
[0026]
The unloader unit 4 includes a transport mechanism 50 for transporting the LCD substrate G from the processing unit 2 to the cassette C. The transfer mechanism 50 includes a transfer arm 52 movable on a transfer path 51, and the transfer arm 52 transfers the substrate G from the processing unit 2 to the cassette C.
[0027]
In such a truck transport type processing apparatus 100, the substrate G taken out of the loader unit 1 is transported to the processing unit 2, and the processing units arranged in the processing unit 2 in the processing order perform ultraviolet irradiation processing, scrubber processing, and so on. After the cleaning process, the adhesion process, the resist coating process, the pre-bake process, and the like are performed, the wafer W is transferred to the exposure apparatus 40 via the interface unit 3 to perform the exposure process. After being carried into the processing unit 2, development processing is performed as described later, post-baking processing and the like are performed, and a series of processing is completed, it is stored in the cassette C of the unloader unit 4.
[0028]
Next, a description will be given of a developing process in the track transport type resist coating and developing apparatus.
In the present embodiment, the developer application / rinse units (D / R) 29 and 30 have almost the same structure, and as shown in FIG. A spin chuck 62 for sucking and holding the spin chuck, a motor 63 for rotating the spin chuck 62, a developing solution nozzle 64 for supplying a developing solution, and a rinsing solution nozzle 65 for supplying a rinsing solution. The developing solution nozzle 64 is movable by a driving mechanism 66. The developing solution nozzle 64 has substantially the same width as the short side of the substrate G, and has a number of developing solution discharge holes formed at the bottom thereof over the entire width. Then, the developer nozzle 64 is scanned in the long side direction of the substrate G by the driving mechanism 66 while discharging the developer from the discharge hole of the developer nozzle 64, thereby forming a developer paddle on the substrate G. The rinsing liquid nozzle 65 is movable by a driving mechanism 67. Then, at the time of rinsing, the rinsing liquid nozzle 65 is moved to the center of the substrate G by the drive mechanism 67 and the rinsing liquid is supplied while rotating the substrate G by the motor 63.
[0029]
On the other hand, as shown in FIG. 3, the drying unit (DRY) 31 includes a cup 71, a spin chuck 72 for horizontally holding the substrate G in the cup 71, and a motor 73 for rotating the spin chuck 72. No nozzles are provided. In this unit, the substrate G after rinsing is held by a spin chuck 72, and the substrate G is rotated at high speed by a motor 73 to shake off and rinse the rinse liquid. Therefore, the motor 73 can rotate at a higher speed than the motor 63.
[0030]
During normal processing, one of the two functions is selected and designated, and the developer application / rinse unit (D / R) 29 is used exclusively for developer application, and the developer application / rinse unit (D / R) is used. ) 30 is used exclusively for rinsing. Therefore, by sequentially flowing the substrate G through the units 29, 30, and 31, it is possible to realize a series of processing including application of a developer, rinsing, and drying.
[0031]
If any abnormality occurs in the developer application / rinse unit (D / R) 29, the developer application / rinse unit (D / R) 29 is skipped and the developer application / rinse unit (D / R) 29 is skipped. R) The substrate G is transported to 30 where both of the two functions can be designated for developer application and rinsing. Similarly, when an abnormality occurs in the developer coating / rinsing unit (D / R) 30, the developer coating / rinsing is performed in the developer coating / rinsing unit (D / R) 29, and then the developer coating / rinsing is performed. The unit (D / R) 30 can be skipped and transported to the drying unit (DRY) 31.
[0032]
Thus, unlike the conventional track transport type processing apparatus, two developer coating / rinsing units (D / R) 29 and 30 capable of performing both developer coating and rinsing are provided. When an abnormality occurs in one of the processing units, the other processing unit performs the two steps of the developer application and the rinsing processing. Therefore, even if an abnormality occurs in one of the processing units, the processing is continued without stopping the apparatus. The device can be highly safe.
[0033]
Further, the two processing units are merely provided with two processing functions of developer application and rinsing. These processing units can have almost the same configuration as a conventional developer application processing unit. The cost is slightly higher than that of a truck transport type processing apparatus, and a certain reduction in cost can be realized.
[0034]
The developer application / rinse unit (D / R) 29 does not need to have a full rinsing function because the developer application is performed in the normal processing. D / R) 30 Is Since the rinsing is performed in the normal processing, it is not necessary to provide the developer application function fully, and a necessary function may be provided by replacing a predetermined part when a trouble occurs. As a result, the required number of parts can be reduced, so that further cost reduction can be realized.
[0035]
Next, another embodiment of the present invention will be described.
FIG. 4 is a plan view showing an apparatus for coating and developing a resist on an LCD substrate according to another embodiment of the present invention.
[0036]
The resist coating / developing apparatus 200 is of a central transport type, and has a cassette station 101 on which a cassette C accommodating a plurality of substrates G is mounted, and a series of processes including resist coating and developing on the substrates G. A processing unit 102 having a plurality of processing units, and an interface unit 103 for transferring a substrate G between the processing unit 102 and the exposure apparatus 140 are provided. Is arranged.
[0037]
The cassette station 101 includes a transport mechanism 110 for transporting the LCD substrate G between the cassette C and the processing unit 102. Then, the cassette C is carried in and out of the cassette station 101 to the outside. The transport mechanism 110 includes a transport arm 111 that can move on a transport path 110 a provided along the direction in which the cassettes are arranged. The transport arm 111 transports the substrate G between the cassette C and the processing unit 102. Done.
[0038]
The processing section 102 is divided into a front section 102a, a middle section 102b, and a rear section 102c, each having transport paths 112, 113, and 114 at the center, and processing units disposed on both sides of these transport paths. I have. In addition, relay portions 115 and 116 are provided between them.
[0039]
The front section 102a includes a main transport device 117 movable along the transport path 112. On one side of the transport path 112, two cleaning units (SCR) 121a and 121b are disposed. On the other side of 112, a processing block 126 in which an ultraviolet irradiation unit (UV) and a cooling unit (COL) are stacked in two stages, a processing block 127 in which a heating processing unit (HP) is stacked in two stages, and a cooling unit A processing block 128 in which (COL) is stacked in two stages is arranged.
[0040]
The middle section 102b includes a main transfer device 118 that can move along the transfer path 113. On one side of the transfer path 113, a resist coating section (CT) 122a that applies a resist to the substrate G is provided. A resist processing unit 122 integrally provided with a peripheral resist removal section (ER) 122b for removing the resist at the peripheral portion of the substrate G is disposed. On the other side of the transport path 113, a heat processing unit (HP) is provided. 129, a processing block 129 in which heat treatment units (HP) and cooling units (COL) are vertically stacked, and an adhesion processing unit (AD) and cooling units (COL). Are disposed on top of each other.
[0041]
Further, the rear section 102c includes a main transport device 119 movable along the transport path 114. On one side of the transport path 114, two developer application / rinse units (D / R) 123 and 124 are provided. A single drying unit (DRY) 125 is disposed, and a processing block 132 in which a heating processing unit (HP) is stacked in two stages on the other side of the transport path 14, and both a heating processing unit (HP) Processing blocks 133 and 134 in which a cooling processing unit (COL) is vertically stacked are arranged.
[0042]
Each of the main transfer devices 117, 118, and 119 includes an X-axis drive mechanism, a Y-axis drive mechanism, and a vertical Z-axis drive mechanism in two directions in a horizontal plane, and a rotation that rotates about the Z axis. A driving mechanism is provided, and has arms 117a, 118a, and 119a that support the substrate G, respectively.
[0043]
The main transfer device 117 transfers the substrate G to and from the arm 111 of the transfer mechanism 110, and loads and unloads the substrate G to and from each processing unit of the former stage 102a. It has a function to transfer G. The main transfer device 118 transfers the substrate G to and from the relay unit 115, and loads and unloads the substrate G to and from each processing unit in the middle unit 102b, and further transfers the substrate G to and from the relay unit 116. Has the function of performing Further, the main transfer device 119 transfers the substrate G to and from the relay unit 116, and loads and unloads the substrate G to and from each processing unit in the subsequent unit 102c, and further transfers the substrate G to and from the interface unit 103. Has the function of performing In addition, the relay parts 115 and 116 also function as cooling plates.
[0044]
The interface unit 103 includes an extension 136 that temporarily holds the substrate when the substrate is transferred to and from the processing unit 102, and two buffer stages 137 provided on both sides of the buffer stage for disposing a buffer cassette. And a transport mechanism 138 for carrying in and out the substrate G between the exposure apparatus 140 and the exposure apparatus 140. The transport mechanism 138 includes a transport arm 139 that can move on a transport path 138 a provided along the direction in which the extension 136 and the buffer stage 137 are arranged. The transport arm 139 allows the substrate to be moved between the processing unit 102 and the exposure apparatus 140. G is transported.
[0045]
In such a processing apparatus 200 of the central transfer type, the substrate G taken out from the cassette station 101 is transferred to the processing section 102, and then transferred by the main transfer apparatuses 117, 118, and 119, and each of the processing sections 102 After the unit is subjected to ultraviolet irradiation treatment, scrubber cleaning treatment, adhesion treatment, resist coating treatment, pre-bake treatment, and the like, the wafer W is transferred to the exposure device 140 via the interface unit 103 to perform exposure treatment, and thereafter, After being carried into the processing unit 102 again via the interface unit 103 and subjected to a development process, a post-baking process, and the like, and a series of processes is completed, the process unit is returned to the cassette station 101 and stored in any one of the cassettes C.
[0046]
Next, a description will be given of a developing process in the central transfer type resist coating / developing apparatus 200.
In this embodiment, the developer application / rinse units (D / R) 123 and 124 have substantially the same structure, and the developer application / rinse units (D / R) in the previous embodiment shown in FIG. ) The basic configuration is the same as 29 and 30. The drying unit (DRY) 125 has the same basic configuration as the drying unit (DRY) 31 in the previous embodiment shown in FIG. However, the units 123 and 125 have a loading / unloading port for the substrate G facing the transport path 114, and a developer coating / rinsing unit (D / R) 123 inside the units. A sub-arm mechanism (not shown) that transports the substrate G to the drying unit (DRY) 125 via the (/ R) 124 is provided.
[0047]
At the time of normal processing, the substrate G is first loaded into the developer application / rinse unit (D / R) 123 by the main transport device 119, where one of the two processing functions is selected and designated, and the developer application is performed. Then, the substrate G is transported to the developer application / rinse unit (D / R) 124 by the sub-arm mechanism, where one of the two processing functions is similarly selected and designated, and rinsing is performed. The sheet is conveyed to the drying unit (DRY) by the sub-arm mechanism to be dried, and is conveyed out by the main transfer device 119. This makes it possible to realize a series of processing including application of a developer, rinsing, and drying.
[0048]
If any abnormality occurs in the developer application / rinse unit (D / R) 123, the developer application / rinse unit (D / R) 123 is skipped and the developer application / rinse unit (D / R) 123 is skipped. R) The substrate G is transported to 124, where two processes of developing solution application and rinsing can be selectively designated to perform these processes. Similarly, when an abnormality occurs in the developer coating / rinsing unit (D / R) 124, the developer coating / rinsing is performed by the developer coating / rinsing unit (D / R) 123, and then the developer coating / rinsing is performed. The unit (D / R) 124 can be skipped and transported to the drying unit (DRY) 125.
[0049]
As described above, unlike the conventional central conveyance type processing apparatus, instead of using three development processing units that continuously perform all processing of developer application, rinsing, and drying, two developer application / rinse units are used. Since the units (D / R) 123 and 124 and one drying unit (DRY) 125 are provided, the configuration of the unit can be simplified as compared with the case of the conventional central conveyance type, and the cost of the apparatus can be reduced. Can be achieved. Further, even if an abnormality occurs in one developer coating / rinsing unit (D / R), both the developer coating and rinsing can be performed by the other developer coating / rinsing unit (D / R). The safety and reliability of the apparatus are higher than those of the truck transport type processing apparatus.
[0050]
In this embodiment, similarly to the previous embodiment, the developer application / rinse unit (D / R) 123 does not need to have a full rinsing function, and the developer application / rinse unit (D / R) 124 It is not necessary to fully provide the liquid application function. Therefore, by replacing a predetermined part when a trouble occurs, further cost reduction can be realized.
[0051]
Note that, in the present embodiment, the main transport device 119 uses the loading / unloading ports formed facing the transport path 114 in all of the units 123, 124, and 125 without providing the sub-arm mechanism as described above. G may be transported. Further, in the normal processing, the substrate G is carried into one of the developer application / rinse units (D / R) 123 and 124, and the substrate G carried into either is supplied with the developer G by the carried unit. Both application and rinsing may be performed.
[0052]
Note that the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications are possible. For example, in the above-described embodiment, an example is shown in which two identical developer application / rinse units (D / R) are provided, but one is provided, and the other is a developer application / rinse unit. Good. Further, the drying unit (DRY) 125 may perform two steps of a rinsing process and a drying process. Further, the apparatus layout is not limited to the above embodiment, and an appropriate layout may be adopted according to the processing. Further, in the above embodiment, the case where the present invention is applied to the development processing of the resist coating / development processing apparatus has been described, but the present invention is not limited to this. Furthermore, it goes without saying that the object to be processed is not limited to the LCD substrate but can be applied to the processing of other objects to be processed such as color filters and semiconductor wafers.
[0053]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the first step and the second step can be performed. First Having a processing unit, First The processing unit performs the first step and performs the second step during normal processing. Second Since the first step and the second step are performed when the processing unit is abnormal, the second step is performed. Second Even if an abnormality occurs in the processing unit, there is no need to stop the device, and the safety is high. Further, since only two processes can be performed on the processing unit, the increase in apparatus cost may be small, and the cost can be reduced. Specifically, as a processing unit for performing a developing process, a processing unit capable of performing two processes of a developer application, a rinse after the developer application, and a drying after the rinse is provided. In addition, the cost can be reduced by not using a plurality of fully equipped development processing units such as a conventional central conveyance type processing apparatus while ensuring safety.
[0054]
Further, according to the present invention, by having two processing units each capable of performing the first step and the second step, when one of the processing units is abnormal, the other processing unit performs the first and second steps. 2 is high, so the security is high. Further, since only two processes can be performed for two processing units, an increase in apparatus cost may be small, and cost reduction may be achieved. Specifically, as a processing unit for performing a developing process, two processing units capable of performing the same two processes of developing solution application, rinsing after applying the developing solution, and drying after rinsing are provided. Therefore, it is possible to reduce the cost while securing the safety of the apparatus as described above and not using a plurality of full-featured development processing units as in the conventional central conveyance type processing apparatus. In particular, this effect can be more effectively exerted by an apparatus having two processing units for performing application of a developing solution and rinsing after application of the developing solution and a processing unit for performing drying after rinsing.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a plan view showing an apparatus for coating and developing a resist on an LCD substrate according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a schematic sectional view showing a developer application / rinse unit (D / R) mounted on the resist application / development processing apparatus of FIG. 1;
FIG. 3 is a schematic sectional view showing a drying unit (DRY) mounted on the resist coating / developing apparatus of FIG.
FIG. 4 is a plan view showing an apparatus for applying and developing resist on an LCD substrate according to another embodiment of the present invention.
[Explanation of symbols]
1 ... loader section
2,102 processing unit
3,103 ... Interface part
4 ... Unloader section
29, 30, 123, 124 ... Developer coating / rinsing unit
31,125 ... Drying unit
112, 113, 114: transport path
117, 118, 119 ... Main transport device
100,200 ... resist coating and developing equipment
G ... LCD substrate
T ... Transport mechanism

Claims (9)

被処理体に対して所定の処理を施す複数の処理ユニットを備え、被処理体に対して複数の工程からなる一連の処理を施すための処理装置であって、
前記複数の処理ユニットは、第1の工程および第2の工程を実施可能な第1の処理ユニットと、第2の工程を行う第2の処理ユニットとを有し、前記第1の処理ユニットは通常処理時に第1の工程を行い、第2の工程を行う前記第2の処理ユニットが異常の際には第1の工程および第2の工程を行うことを特徴とする処理装置。
A processing apparatus that includes a plurality of processing units that perform a predetermined process on an object to be processed and performs a series of processes including a plurality of processes on the object to be processed,
Wherein the plurality of processing units includes a first processing unit capable of performing the first step and the second step, and a second processing unit that performs the second step, the first processing unit A processing apparatus that performs a first step during normal processing and performs the first step and the second step when the second processing unit that performs the second step is abnormal.
被処理体に対して所定の処理を施す複数の処理ユニットを備え、被処理体に対して複数の工程からなる一連の処理を施すための処理装置であって、
各々第1の工程および第2の工程を実施可能な2つの処理ユニットを有し、前記2つの処理ユニットは、通常処理時は、一方の処理ユニットにおいて第1の工程、および他方の処理ユニットにおいて第2の工程を行い、いずれかの処理ユニットが異常の際には、他の処理ユニットで第1および第2の工程を行うことを特徴とする処理装置。
A processing apparatus that includes a plurality of processing units that perform a predetermined process on an object to be processed and performs a series of processes including a plurality of processes on the object to be processed,
Have a respective first and second processes two processing units capable of carrying out, the two processing units is normal process, the first step in one processing unit, and in the other processing unit A processing apparatus, wherein the second step is performed, and when one of the processing units is abnormal, the first and second steps are performed by another processing unit.
被処理体に対して所定の処理を施す複数の処理ユニットを備え、被処理体に対してレジスト塗布処理および露光後の現像処理を含む一連の処理を施すための処理装置であって、
現像処理を行う処理ユニットとして、現像液塗布、現像液塗布後のリンス、およびリンス後の乾燥のうち2つの処理を行うことが可能な処理ユニットを有し、その処理ユニットは、通常処理時には2つの処理のうち1つの処理を行い、当該2つの処理のうち他の処理を行う処理ユニットが異常の際には当該2つの処理を行うことを特徴とする処理装置。
A processing apparatus that includes a plurality of processing units that perform a predetermined process on an object to be processed, and performs a series of processes including a resist coating process and a development process after exposure to the object to be processed,
As a processing unit for performing a development process, the processing unit includes a processing unit capable of performing two processes of a developer application, a rinse after the developer application, and a drying after the rinse. A processing apparatus that performs one of the two processes and performs the two processes when a processing unit that performs another of the two processes is abnormal.
被処理体に対して所定の処理を施す複数の処理ユニットを備え、被処理体に対してレジスト塗布処理および露光後の現像処理を含む一連の処理を施すための処理装置であって、
現像処理を行う処理ユニットとして、現像液塗布、現像液塗布後のリンス、およびリンス後の乾燥のうち同じ2つの処理を行うことが可能な2つの処理ユニットを有し、
前記2つの処理ユニットは、通常処理時には2つの処理のうちそれぞれ異なる1つの処理を行い、当該2つの処理のうちいずれかのユニットが異常の際には、他の処理ユニットで当該2つの処理を行うことを特徴とする処理装置。
A processing apparatus that includes a plurality of processing units that perform a predetermined process on an object to be processed, and performs a series of processes including a resist coating process and a development process after exposure to the object to be processed,
As the processing unit for performing developing treatment, a developer coating, rinsing after the development liquid coating, and the two processing units capable of performing the same two process of drying after rinsing possess,
The two processing units perform one different processing of the two processings during the normal processing, and when one of the two processings is abnormal, the other processing unit performs the two processings. A processing device characterized by performing .
被処理体に対して所定の処理を施す複数の処理ユニットを備え、被処理体に対してレジスト塗布処理および露光後の現像処理を含む一連の処理を施すための処理装置であって、
現像処理を行う処理ユニットとして、現像液塗布および現像液塗布後のリンスを行う2つの処理ユニットと、リンス後の乾燥を行う処理ユニットとを有し、
前記2つの処理ユニットは、通常処理時には、一方で現像液塗布を行い他方で現像塗布後のリンスを行い、これら2つの処理ユニットのうちいずれかが異常の際には、残余の処理ユニットで現像液塗布と現像液塗布後のリンスを行うことを特徴とする処理装置。
A processing apparatus that includes a plurality of processing units that perform a predetermined process on an object to be processed, and performs a series of processes including a resist coating process and a development process after exposure to the object to be processed,
As the processing unit for performing developing processing, and two processing unit for rinsing after developer coating and developer coating, and a processing unit for drying after rinsing possess,
At the time of normal processing, the two processing units perform developer application on one side, and perform rinsing after development application on the other side. When one of these two processing units is abnormal, the remaining processing units perform development. A processing apparatus for performing rinsing after liquid application and developer application .
被処理体に対して所定の処理を施す複数の処理ユニットにより、被処理体に対して複数の工程からなる一連の処理を施す処理方法であって、
前記複数の処理ユニットのうち第1の処理ユニットを、第1の工程および第2の工程を実施可能なものとし、通常処理時には前記第1の処理ユニットで第1の工程を行うとともに第2の処理ユニットで第2の工程を行い、第2の工程を行う前記第2の処理ユニットが異常の際には前記第1の処理ユニットで第1の工程および第2の工程を行うことを特徴とする処理方法。
A processing method for performing a series of processing including a plurality of steps on the object to be processed by a plurality of processing units that perform predetermined processing on the object to be processed,
The first processing unit among the plurality of processing units is capable of performing the first step and the second step. During the normal processing, the first processing unit performs the first step and performs the second step . performing a second step in the processing unit, when the performing the second step the second processing unit is abnormal and characterized by performing the first step and the second step in the first processing unit Processing method to do.
被処理体に対して所定の処理を施す複数の処理ユニットにより、被処理体に対して複数の工程からなる一連の処理を施す処理方法であって、
所定の2つの処理ユニットを、各々第1の工程および第2の工程が可能なものとし、通常処理時は、一方の処理ユニットにおいて第1の工程、および他方の処理ユニットにおいて第2の工程を行い、いずれかの処理ユニットが異常の際には、他の処理ユニットで第1および第2の処理を行うことを特徴とする処理方法。
A processing method for performing a series of processing including a plurality of steps on the object to be processed by a plurality of processing units that perform predetermined processing on the object to be processed,
The predetermined two processing units can perform the first step and the second step, respectively. During normal processing, one processing unit performs the first step and the other processing unit performs the second step. A processing method, wherein when one of the processing units is abnormal, the other processing unit performs the first and second processing.
被処理体に対して所定の処理を施す複数の処理ユニットにより、被処理体に対してレジスト塗布処理および露光後の現像処理を含む一連の処理を施す処理方法であって、
現像処理を行う処理ユニットとして、所定の処理ユニットを現像液塗布、現像液塗布後のリンス、およびリンス後の乾燥のうち2つの処理を行うことが可能なものとし、その処理ユニットによって、通常処理時には2つの処理のうち1つの処理を行い、当該2つの処理のうち他の処理を行う処理ユニットが異常の際には当該2つの処理を行うことを特徴とする処理方法。
A plurality of processing units for performing a predetermined process on the object, a processing method for performing a series of processing including a resist coating process and a development process after exposure to the object,
As a processing unit for performing a development process, a predetermined processing unit is capable of performing two processes of developing solution application, rinsing after application of the developing solution, and drying after rinsing, and the processing unit performs normal processing. A processing method characterized by sometimes performing one of the two processes, and performing the two processes when a processing unit performing the other process of the two processes is abnormal.
被処理体に対して所定の処理を施す複数の処理ユニットにより、被処理体に対してレジスト塗布処理および露光後の現像処理を含む一連の処理を施す処理方法であって、
現像処理を行う処理ユニットとして、2つの処理ユニットを現像液塗布、現像液塗布後のリンス、およびリンス後の乾燥のうち同じ2つの処理を行うことが可能なものとし、その2つの処理ユニットにより、通常処理時には2つの処理のうちそれぞれ異なる1つの処理を行い、当該2つの処理のうちいずれかのユニットが異常の際には、他の処理ユニットで当該2つの処理を行うことを特徴とする処理方法。
A plurality of processing units for performing a predetermined process on the object, a processing method for performing a series of processing including a resist coating process and a development process after exposure to the object,
As the processing units for performing the development processing, the two processing units are capable of performing the same two processings of the application of the developer, the rinsing after the application of the developer, and the drying after the rinsing. During normal processing, one of the two processings is performed differently, and when one of the two processings is abnormal, the other processing unit performs the two processings. Processing method.
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