JP3540054B2 - Straightness interferometer - Google Patents
Straightness interferometer Download PDFInfo
- Publication number
- JP3540054B2 JP3540054B2 JP15015295A JP15015295A JP3540054B2 JP 3540054 B2 JP3540054 B2 JP 3540054B2 JP 15015295 A JP15015295 A JP 15015295A JP 15015295 A JP15015295 A JP 15015295A JP 3540054 B2 JP3540054 B2 JP 3540054B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- straightness
- mirror
- straightness interferometer
- prism
- prism holder
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】
この発明は、真直度干渉計に関し、特に、その使い勝手を向上させる技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
工作機械やXYテーブルなどの直線運動を行なう部分の真直性を測定する手段として、光の干渉を利用する真直度測定装置が知られており、例えば、その一例が米国特許第3790284号に開示されている。この米国特許に示されている真直度測定装置は、同じ光軸上に配置されるレーザ光線発射装置と、ウォラストンプリズムで構成された真直度干渉計と、平面鏡で構成された反射ミラーとを有している。
【0003】
レーザ光線発射装置の発光部から出射されたレーザ光は、真直度干渉計で、同一平面内において、微小な角度間隔で拡がる2つの第1および第2レーザ光に分光され、分光した第1および第2レーザ光が反射ミラーに照射され、反射ミラーからのそれぞれの反射光は、入射光と同一光路上に戻り、真直度干渉計で再び合成されて、相互に干渉させられる。
【0004】
真直度干渉計をレーザ光の光軸方向に移動させた時に、真直度干渉計と反射ミラーとの間に移動方向に直交する方向の変位があると、真直度干渉計と反射ミラーとの間で反射する第1および第2レーザ光に光路差が発生する。このような光路差が発生すると、反射ミラーで反射した第1および第2レーザ光の干渉縞が変化し、この干渉縞の変化を求めることにより、真直度が測定される。
【0005】
ところで、この種の真直度測定装置でXYテーブルなどの真直度を測る際には、まず、測定する軸とレーザ光線発射装置から発射されるレーザ光との軸合わせが行なわれ、この操作は、いわゆるアライメント作業と呼ばれている。
このアライメント作業と呼ばれる軸合わせは、レーザ光と測定する軸とが平行になるようにするアライメント操作と、この後に行なわれる正対操作とがある。アライメント操作は、真直度干渉計の前面に、例えば、十字状のターゲットが表示されたターゲット板を磁石等により貼着し、レーザ光線発射装置に近い位置に真直度干渉計を設置した時に、レーザ光線発射装置を平行移動させて、レーザ光が十字状ターゲットを照射するようにし、また、レーザ光線発射装置から遠い位置に真直度干渉計を設置した時に、レーザ光線発射装置の角度を調節して、レーザ光が十字状ターゲットを照射するようにする作業を複数回繰り返して、レーザ光と測定する軸とが平行になるように操作する。
【0006】
そして、この後に、レーザ光に対して、真直度干渉計が正対するように、真直度干渉計の角度を調整する。しかしながら、このような従来のアライメント作業においては、特に、測定する軸と平行が採られたレーザ光に対して、真直度干渉計を正対させる際に、以下に説明する問題があった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
すなわち、上述したアライメント作業における真直度干渉計の正対操作は、従来、一般的には、目視により行なわれていた。ところが、この正対操作は、レーザ光に対して約±2°程度の範囲内で正対させなければ、真直度干渉計のウォラストンプリズムでのP波成分とS波成分との分離が不十分になり、真直度の測定精度に影響を及ぼすといわれている。従って、このような角度範囲内に収めるために、慎重な作業が要求され、面倒な上に、非常に時間がかかるという問題があった。
【0008】
本発明は、このような従来の問題点に鑑みてなされたものであって、その目的とするところは、正対操作が簡単かつ確実に行なえる真直度干渉計を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明は、枠体と、この枠体に回転自在に支持されたプリズムホルダーと、このプリズムホルダーに保持されたウォラストンプリズムと、前記プリズムホルダーの回転軸を中心とする同心円上に設けられたレーザ光の入射部および出射部とを備えた真直度干渉計において、前記プリズムホルダーの前面側に、当該プリズムホルダーの回転軸を中心とする同心円上に十字状ターゲットと反射ミラーとを設けたことを特徴とする。
前記十字状ターゲットおよび反射ミラーが設けられた同心円は、前記入射部および反射部が設けられた同心円と一致させることができる。
また、前記反射ミラーは、前記プリズムホルダーの前面に貫設されたミラー窓と、このミラー窓の背面側に設けられ、前記ウォラストンプリズムの前面を覆う防塵ガラスに設けられた反射膜とから構成することができる。
【0010】
【作用】
上記構成の真直度干渉計によれば、プリズムホルダーの前面側に、当該プリズムホルダーの回転軸を中心とする同心円上に十字状ターゲットと反射ミラーとが設けられているので、レーザ光と測定対象軸とを平行にするアライメント操作の際には、十字状ターゲットを使用することができ、この操作が終了すると、プリズムホルターを回転させて、レーザ光が反射ミラーを照射するようにすると、レーザ光の反射状態が目視により確認できるので、レーザ光に対して真直度干渉計を正確かつ簡単に正対させることができる。
また、請求項2の構成によれば、十字状ターゲットおよび反射ミラーが設けられた同心円は、レーザ光の入射部および反射部が設けられた同心円と一致させてあるので、正対操作が完了すると、プリズムホルダーを回転させて、入射部にレーザ光を入射させると、直ちに真直度の測定が行なえる。
さらに、請求項3の構成によれば、反射ミラーは、プリズムホルダーの前面に貫設されたミラー窓と、このミラー窓の背面側に設けられ、ウォラストンプリズムの前面を覆う防塵ガラスに設けられた反射膜とから構成されているので、ウォラストンプリズム側へ塵埃が侵入することも防止できる。
【0011】
【実施例】
以下本発明の好適な実施例について添附図面を参照して詳細に説明する。図1から図5は、本発明にかかる真直度干渉計の一実施例を示している。同図に示す真直度干渉計は、枠体10と、プリズムホルダー12と、ウォラストンプリズム14とを有している。
【0012】
枠体10は、略直方体状に形成された本体10aと、この本体10aの水平方向の中心に貫通形成された円形の孔部10bと、この孔部10bの中心に突設された環状の回転ガイド10cとから構成されている。プリズムホルダー12は、両端が開口した円筒部12aと、この円筒部12aの両端にあって、同軸上に固設される一対の前,後円板部12b,12cとから構成されている。
【0013】
円筒部12aは、その外径が枠体10の孔部10bの内径とほぼ同じ寸法に形成されていて、その長手軸方向の中心外周には、枠体10の回転ガイド10cと嵌合する環状溝12dが設けられている。
なお、この円筒部12aは、その長手方向の中心で2分割され、孔部10b内には、その両側から挿入されて一体化され、この状態において、円筒部12aが枠体10に対して、回転自在に支持される。
【0014】
前,後円板部12b,12cは、概略同一形状に形成されていて、その中心の背面側には、孔部10bの内径と同じ大きさの円筒形凹部12e,12fが形成されている。また、前円板部12bには、レーザ光の入射部12gと出射部12hとが設けられている。この入射部12gと出射部12hとは、略楕円状に穿設された貫通孔であって、これらの楕円の中心は、円板部12bの回転軸を中心とする同心円上に位置している。
【0015】
なお、後円板部12cには、図示はしていないが、前円板部12bと同様な楕円貫通孔で構成された入射部と出射部とが、前円板部12bの入射部12gと出射部12hとに対応して設けられており、これらの後円板部12cの入射部と出射部とは、前円板部12bの入射部12gに対応する部分が出射部となり、出射部12hに対応する部分が入射部となる。
【0016】
ウォラストンプリズム14は、屈折率の異なる複数のプリズムを組み合わせたものであって、円筒状に形成されて、プリズムホルダー12の円筒部12aの内周に保持されている。
このウォラストンプリズム14は、前円板部12bの入射部12gから入射したレーザ光を、微小な角度間隔で2方向に拡がる2つのレーザ光に分光して、後円板部12cの出射部から送出するとともに、このブリズム14の後方に設置される反射鏡から反射した2つのレーザ光が、後円板部12cの入射部から入射すると、この2つのレーザ光を合成して干渉させて前円板部12bの出射部12hから出射させる。
【0017】
また、プリズムホルダー12の前円板部12bの表面には、十字状ターゲット16が表示され、この十字状ターゲット16と対向するようにして反射ミラー18が設けられている。この十字状ターゲット16と反射ミラー18とは、入射部12gと出射部12hとの中心線と直交する線上にあって、その中心が入射部12gと出射部12hの楕円の中心と同心円上に位置している。
【0018】
反射ミラー18は、この実施例では、前円板部12bに貫通形成された円形のミラー窓18aと、この円板部12bの背面側に設けられた円筒形凹部12eに配置された防塵ガラス20の表面に設けられた反射膜18bとから構成されている。防塵ガラス20は、後円板部12cの円筒形凹部12f内にも設置されていて、対向する表裏面が平行なものであって、ウォラストンプリズム14の前後面を覆うように設置されている。
【0019】
前円板部12b側に設けられて防塵ガラス20の前面側には、ミラー窓18aに一対応して、円形の反射膜18bが形成されるとともに、その全面に反射防止膜22が設けられている。同様に、後円板部12bに円形ミラー窓18aが設けられている。また、後円板部12b側に設けられた防塵ガラス20の前面側には、ミラー窓18aに対応して円形の反射膜18bが形成されるとともに、その全面に反射防止膜22が設けられている。
【0020】
以上のように構成された真直度干渉計では、まず、アライメント操作を行なう際には、図1に示すように、矢印で示したレーザ光が十字状ターゲット16を照射するように、プリズムホルダー12を回転させて行なわれる。
そして、レーザ光に対して、真直度干渉計を近接ないしは離間する方向に移動させて、レーザ光の軸と真直度干渉計の移動軸とが平行になると、図2に示すように、今度は、プリズムホルダー12を180°回転させて、ミラー窓18aをレーザ光が照射するようにし、レーザ光に対して真直度干渉計が正対するように角度調整が行なわれる。
【0021】
このとき、ミラー窓18aをレーザ光で照射すると、レーザ光が反射膜18bに当たって反射し、正対が取れていない場合には、入射レーザ光と反射レーザ光との角度が異なり、その方向が目視できるので、簡単かつ確実に、しかも迅速に正対をとることができる。
レーザ光に対して真直度干渉計が正対させられると、測定の準備が終了するので、図3に示すように、プリズムホルダー12を90°回転させて、レーザ光が入射部12gを照射するようにする。真直度干渉計の枠体10には、プリズムホルダ12を回転させるため90°毎の指標を設けて位置決めするようにしている。
【0022】
さて、以上のように構成された本実施例の真直度干渉計によれば、アライメントおよび正対操作が簡単かつ迅速に行なえるだけでなく、以下の効果も得られる。
すなわち、本実施例の場合には、十字状ターゲット16および反射ミラー18が設けられた同心円は、レーザ光の入射部12gおよび反射部12hが設けられた同心円と一致させてあるので、アライメント操作が完了すると、プリズムホルダー12を所定量だけ回転させるだけの操作で、反射ミラー18および入射部12gにレーザ光を照射でき、測定の能率を大幅に向上させることができる。
【0023】
また、反射ミラー18は、プリズムホルダー12の前面に貫設されたミラー窓18aと、このミラー窓18aの背面側に設けられ、ウォラストンプリズム14の前面を覆う防塵ガラス20に設けられた反射膜18bとから構成されているので、ウォラストンプリズム14側へ塵埃が侵入することも防止できる。
なお、上記実施例では、入射部12g,反射部12h,十字状ターゲット16,反射ミラー18の各中心をプリズムホルダー12の回転軸を中心とする同心円上に設けたものを例示したが、本発明の実施は、これに限定されることはなく、例えば、入射部12gおよび反射部12hの同心円と、十字状ターゲット16および反射ミラー18の同心円とを別の径にすることもできる。
【0024】
また、反射ミラー18は、上記実施例の構成に限定されることはなく、例えば、前円板部12bの円形ミラー窓18aの位置に直接反射膜18bを貼着してもよい。また、前後円板部12b,12cに十字状ターゲットおよび反射ミラーを設けているので、前後方向のいずれからも真直度干渉計により正対する調整を行なうことができる。
【0025】
【発明の効果】
以上、実施例で詳細に説明したように、本発明にかかる真直度干渉計によれば、正対操作が簡単かつ確実に行なえる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかる真直度干渉計のアライメント操作を行なう際の説明図である。
【図2】本発明にかかる真直度干渉計の正対操作を行なう際の説明図である。
【図3】本発明にかかる真直度干渉計の測定状態の説明図である。
【図4】図1の縦断面図である。
【図5】図4に示した防塵ガラスの正面図と側面図である。
【符号の説明】
10 枠体
10a 本体
10b 孔部
10c 回転ガイド
12 プリズムホルダー
12a 円筒部
12b 前円板部
12c 後円板部
12d 環状溝
12g 入射部
12h 出射部
14 ウォラストンプリズム
16 十字状ターゲット
18 反射ミラー
18a ミラー窓
18b 反射膜
20 防塵ガラス
22 反射防止膜[0001]
[Industrial applications]
The present invention relates to a straightness interferometer, and more particularly to a technique for improving the usability.
[0002]
[Prior art]
2. Description of the Related Art As a means for measuring the straightness of a part that performs a linear motion, such as a machine tool or an XY table, a straightness measuring device that uses light interference is known. For example, one example is disclosed in US Pat. No. 3,790,284. ing. The straightness measuring device shown in this U.S. Patent includes a laser beam emitting device arranged on the same optical axis, a straightness interferometer constituted by a Wollaston prism, and a reflecting mirror constituted by a plane mirror. Have.
[0003]
The laser light emitted from the light emitting unit of the laser beam emitting device is split by a straightness interferometer into two first and second laser lights that spread at a small angle interval in the same plane, and the first and second split laser lights are separated. The second laser light is applied to the reflection mirror, and the respective reflection lights from the reflection mirror return on the same optical path as the incident light, are combined again by the straightness interferometer, and interfere with each other.
[0004]
When the straightness interferometer is moved in the direction of the optical axis of the laser beam, if there is a displacement between the straightness interferometer and the reflection mirror in a direction orthogonal to the moving direction, the straightness interferometer and the reflection mirror will be displaced. An optical path difference occurs between the first and second laser beams reflected by the laser beam. When such an optical path difference occurs, the interference fringes of the first and second laser beams reflected by the reflection mirror change, and the straightness is measured by calculating the change of the interference fringes.
[0005]
By the way, when measuring the straightness of an XY table or the like with this type of straightness measuring device, first, the axis to be measured is aligned with the laser beam emitted from the laser beam emitting device. This is called alignment work.
The axis alignment called the alignment operation includes an alignment operation for making the laser beam and the axis to be measured parallel to each other, and a facing operation performed thereafter. Alignment operation, the front of the straightness interferometer, for example, a target plate on which a cross-shaped target is displayed by a magnet or the like, when the straightness interferometer is installed at a position near the laser beam emitting device, the laser By moving the beam emitting device in parallel, the laser beam irradiates the cross-shaped target, and when the straightness interferometer is installed at a position far from the laser beam emitting device, the angle of the laser beam emitting device is adjusted. The operation of irradiating the cross-shaped target with the laser beam is repeated a plurality of times, and the laser beam and the axis to be measured are operated in parallel.
[0006]
Thereafter, the angle of the straightness interferometer is adjusted so that the straightness interferometer faces the laser beam. However, in such a conventional alignment operation, there is a problem described below particularly when the straightness interferometer is directly opposed to a laser beam parallel to an axis to be measured.
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
That is, the facing operation of the straightness interferometer in the above-described alignment work has conventionally been generally performed visually. However, this directing operation does not cause separation of the P-wave component and the S-wave component at the Wollaston prism of the straightness interferometer unless the laser beam is directly opposed within a range of about ± 2 °. It is said to be sufficient to affect the accuracy of straightness measurement. Therefore, there is a problem that a careful operation is required in order to be within such an angle range, and it is troublesome and takes much time.
[0008]
The present invention has been made in view of such a conventional problem, and an object of the present invention is to provide a straightness interferometer in which a facing operation can be performed easily and reliably.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the present invention provides a frame, a prism holder rotatably supported by the frame, a Wollaston prism held by the prism holder, and a rotation axis of the prism holder. In a straightness interferometer provided with a laser beam incident part and an emission part provided on concentric circles, a cross-shaped target on the concentric circle centered on the rotation axis of the prism holder on the front side of the prism holder. A reflection mirror is provided.
The concentric circle provided with the cross-shaped target and the reflection mirror can be made to coincide with the concentric circle provided with the incident portion and the reflection portion.
Further, the reflection mirror includes a mirror window provided through the front surface of the prism holder, and a reflection film provided on the back side of the mirror window and provided on dust-proof glass covering the front surface of the Wollaston prism. can do.
[0010]
[Action]
According to the straightness interferometer having the above configuration, the cross-shaped target and the reflection mirror are provided on the front side of the prism holder on a concentric circle about the rotation axis of the prism holder. When performing an alignment operation to make the axis parallel to the axis, a cross-shaped target can be used. When this operation is completed, the prism halter is rotated so that the laser beam irradiates the reflection mirror, and the laser beam is irradiated. Can be visually confirmed, so that the straightness interferometer can be accurately and easily opposed to the laser beam.
According to the second aspect of the present invention, the concentric circle provided with the cross-shaped target and the reflection mirror is made to coincide with the concentric circle provided with the laser light incidence portion and the reflection portion, so that when the facing operation is completed. When the prism holder is rotated and the laser beam is incident on the incident portion, straightness can be measured immediately.
Further, according to the configuration of claim 3, the reflection mirror is provided on the mirror window penetrating the front surface of the prism holder, and on the rear side of the mirror window, and on the dustproof glass covering the front surface of the Wollaston prism. Since it is composed of the reflective film, it is possible to prevent dust from entering the Wollaston prism.
[0011]
【Example】
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. 1 to 5 show an embodiment of a straightness interferometer according to the present invention. The straightness interferometer shown in FIG. 1 has a
[0012]
The
[0013]
The outer diameter of the cylindrical portion 12a is substantially the same as the inner diameter of the hole 10b of the
The cylindrical portion 12a is divided into two parts at the center in the longitudinal direction, and is inserted and integrated into the hole 10b from both sides thereof. In this state, the cylindrical portion 12a is It is rotatably supported.
[0014]
The front and
[0015]
Although not shown, the
[0016]
The
The
[0017]
A
[0018]
In this embodiment, the
[0019]
A
[0020]
In the straightness interferometer configured as described above, first, when an alignment operation is performed, the
Then, the straightness interferometer is moved toward or away from the laser beam, and when the axis of the laser beam and the moving axis of the straightness interferometer are parallel, as shown in FIG. Then, the
[0021]
At this time, when the mirror window 18a is irradiated with laser light, the laser light impinges on the
When the straightness interferometer is directly opposed to the laser beam, the preparation for measurement is completed. As shown in FIG. 3, the
[0022]
According to the straightness interferometer of the present embodiment configured as described above, not only the alignment and the facing operation can be performed easily and quickly, but also the following effects can be obtained.
That is, in the case of the present embodiment, the concentric circle provided with the
[0023]
The
In the above embodiment, the center of each of the
[0024]
Further, the
[0025]
【The invention's effect】
As described above in detail in the embodiment, according to the straightness interferometer according to the present invention, the facing operation can be easily and reliably performed.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is an explanatory diagram when an alignment operation of a straightness interferometer according to the present invention is performed.
FIG. 2 is an explanatory diagram when the straightness interferometer according to the present invention is directly faced.
FIG. 3 is an explanatory diagram of a measurement state of the straightness interferometer according to the present invention.
FIG. 4 is a longitudinal sectional view of FIG.
5 is a front view and a side view of the dustproof glass shown in FIG.
[Explanation of symbols]
Claims (3)
前記プリズムホルダーの前面側に、当該プリズムホルダーの回転軸を中心とする同心円上に十字状ターゲットと反射ミラーとを設けたことを特徴とする真直度干渉計。A frame; a prism holder rotatably supported by the frame; a Wollaston prism held by the prism holder; In a straightness interferometer having a section and an output section,
A straightness interferometer, wherein a cross-shaped target and a reflecting mirror are provided on a front side of the prism holder on a concentric circle centered on a rotation axis of the prism holder.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15015295A JP3540054B2 (en) | 1995-06-16 | 1995-06-16 | Straightness interferometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15015295A JP3540054B2 (en) | 1995-06-16 | 1995-06-16 | Straightness interferometer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH095060A JPH095060A (en) | 1997-01-10 |
JP3540054B2 true JP3540054B2 (en) | 2004-07-07 |
Family
ID=15490644
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15015295A Expired - Fee Related JP3540054B2 (en) | 1995-06-16 | 1995-06-16 | Straightness interferometer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3540054B2 (en) |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB8720014D0 (en) * | 1987-08-25 | 1987-09-30 | Renishaw Plc | Straightness interferometer |
JP2949377B2 (en) * | 1991-04-05 | 1999-09-13 | コニカ株式会社 | Branch prism and interference straightness meter using it |
JP2523340Y2 (en) * | 1991-05-02 | 1997-01-22 | 株式会社ソキア | Auxiliary target for laser measuring device |
JP3045567B2 (en) * | 1991-06-21 | 2000-05-29 | オリンパス光学工業株式会社 | Moving object position measurement device |
JPH05302825A (en) * | 1992-04-28 | 1993-11-16 | Olympus Optical Co Ltd | Alignment method and its device |
JP3341779B2 (en) * | 1992-05-28 | 2002-11-05 | 富士写真光機株式会社 | Alignment device for interferometer |
JPH07174510A (en) * | 1993-12-17 | 1995-07-14 | Nikon Corp | Device and method for measuring length |
JP3557253B2 (en) * | 1994-08-23 | 2004-08-25 | オリンパス株式会社 | Interferometer |
-
1995
- 1995-06-16 JP JP15015295A patent/JP3540054B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH095060A (en) | 1997-01-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0676629B1 (en) | Refractive index measurement of spectacle lenses | |
US9243898B2 (en) | Positioning device comprising a light beam | |
JPH0216443B2 (en) | ||
JP3540054B2 (en) | Straightness interferometer | |
US4932780A (en) | Interferometer | |
JPH06288735A (en) | Phase conjugate interferometer for parabolic mirror shape inspection measurement | |
US5265179A (en) | Method of manufacturing fiber-optic collimators | |
JP3230983B2 (en) | Subject position adjustment method for lightwave interference device | |
JP2560471B2 (en) | Encoder with safety mechanism | |
JPS6488304A (en) | Measuring instrument using optical system | |
JPH0517528B2 (en) | ||
EP0859941B1 (en) | Target for laser leveling systems | |
JPH04151542A (en) | Spherical surface mirror and floating-particulate counting device | |
JP2756715B2 (en) | Inspection method of Dach reflector molding mold | |
SU844995A1 (en) | Interferometer for inspection of article surface | |
JPH0821713A (en) | Optical type angle measuring device | |
JPH0652165B2 (en) | Interferometer | |
CN116839468A (en) | Auxiliary device for interferometer quick point-to-point and measuring method thereof | |
SU1413441A2 (en) | Astronomical two-channel photometer | |
JPH0510602B2 (en) | ||
JPH02128107A (en) | Rotation of wave face for shearing interference measurement | |
JPS5953524B2 (en) | Shearing information | |
JPH04174315A (en) | Adjusting apparatus for optical axis | |
JPS61129516A (en) | Flatness inspecting apparatus | |
JPH10254337A (en) | Hologram object light reproducing device and confocal optical device using it |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040316 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040324 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090402 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100402 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100402 Year of fee payment: 6 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100402 Year of fee payment: 6 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100402 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100402 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110402 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110402 Year of fee payment: 7 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110402 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110402 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120402 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120402 Year of fee payment: 8 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120402 Year of fee payment: 8 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130402 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140402 Year of fee payment: 10 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |