JP3421358B2 - Transport method - Google Patents
Transport methodInfo
- Publication number
- JP3421358B2 JP3421358B2 JP4157992A JP4157992A JP3421358B2 JP 3421358 B2 JP3421358 B2 JP 3421358B2 JP 4157992 A JP4157992 A JP 4157992A JP 4157992 A JP4157992 A JP 4157992A JP 3421358 B2 JP3421358 B2 JP 3421358B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- support arm
- cassette
- suction
- holder
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、基板をカセットから基
板ホルダに搬送する搬送方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a transfer method for transferring a substrate from a cassette to a substrate holder.
【0002】近年、半導体の製造工程では数多くのプロ
セス装置が使用されている。特にLSIプロセス装置で
は歩留り及び品質の向上のために自動化が進められてお
り、カセットトゥカセットで処理を行っている。In recent years, many process apparatuses have been used in the semiconductor manufacturing process. Especially in the LSI process equipment, automation is being promoted to improve yield and quality, and processing is performed by a cassette-to-cassette.
【0003】現在自動化されている装置は、シリコン系
LSIのプロセス装置であり、シリコンで使用しないプ
ロセス装置、例えば蒸着装置や分子線結晶成長(MB
E)装置等の自動化は遅れており、カセットトゥカセッ
トで処理できる装置はない。また、HEMT(High Ele
ctron Mobililty Transistor)素子やGaAs(ガリウ
ム・ヒ素)FET(Field Effect Transistor )等の化
合物半導体を使用したLSIの開発も進められており、
分子線結晶成長や真空蒸着等の製造工程において全自動
化が望まれている。Currently, the automated devices are silicon-based LSI process devices, such as process devices not used in silicon, such as vapor deposition devices and molecular beam crystal growth (MB).
E) The automation of equipment etc. has been delayed, and there is no equipment that can process cassette-to-cassette. In addition, HEMT (High Ele
Development of LSIs using compound semiconductors such as ctron Mobililty Transistor) elements and GaAs (gallium arsenide) FETs (Field Effect Transistors) is also in progress.
Full automation is desired in manufacturing processes such as molecular beam crystal growth and vacuum deposition.
【0004】[0004]
【従来の技術】従来、半導体の製造プロセスは、複数の
処理をマルチチャンバ装置で行われる。マルチチャンバ
装置は、基板を自動的に搬送する搬送装置を備えてい
る。この場合、基板表面を上向きにより搬送を行う。2. Description of the Related Art Conventionally, in a semiconductor manufacturing process, a plurality of processes are performed in a multi-chamber apparatus. The multi-chamber device includes a transfer device that automatically transfers a substrate. In this case, the substrate surface is conveyed upward.
【0005】一般的に、基板を搬送する方法には基板カ
セットから搬送ベルトを用いて搬送するベルト搬送と、
ロボットを使用して搬送するロボット搬送がある。ベル
ト搬送では基板カセットの任意の位置から基板を取り出
す事が出来ず、またベルトにより基板にゴミが付くた
め、現在ではロボット搬送装置の方法が有利とされてい
る。In general, a method of transferring a substrate includes a belt transfer using a transfer belt from a substrate cassette,
There is robot transfer that uses a robot to transfer. In the belt transportation, the substrate cannot be taken out from an arbitrary position in the substrate cassette, and the belt causes dust to adhere to the substrate. Therefore, the method of the robot transportation device is currently considered advantageous.
【0006】図6に、従来のマルチチャンバ装置の構成
図を示す。図6のマルチチャンバ装置11は、5角形の
搬送室12に、4つのプロセス室13a〜13dと1つ
のロードロック室14がそれぞれゲートバルブ15a〜
15eを介して設けられる。すなわち、搬送室12,プ
ロセス室13a〜13d,及びロードロック室14は真
空状態にされ、各空間の真空状態をゲートバルブ15a
〜15eにより分離する。FIG. 6 shows a block diagram of a conventional multi-chamber apparatus. The multi-chamber apparatus 11 of FIG. 6 includes a pentagonal transfer chamber 12, four process chambers 13a to 13d, and one load lock chamber 14 each having gate valves 15a to 15d.
15e is provided. That is, the transfer chamber 12, the process chambers 13a to 13d, and the load lock chamber 14 are evacuated, and the vacuum state of each space is controlled by the gate valve 15a.
Separated by ~ 15e.
【0007】搬送室12には5枚の基板を搭載できる基
板ホルダ16が設けられ、基板を真空中で搬送する直線
状の支持アームのロボット17が設けられる。The transfer chamber 12 is provided with a substrate holder 16 capable of mounting five substrates, and a robot 17 having a linear support arm for transferring the substrates in vacuum.
【0008】一方、ロードロック室14は外部とゲート
バルブ15fにより仕切られており、該ゲートバルブ1
5fの近傍には支持アームのロボット18(搬送装置)
が配置される。また、ロボット18の周辺には基板19
が所定数ずつ搭載された基板カセット20a,20bが
位置されると共に、搬送時の基板の位置出しを行うアラ
イメント装置21が位置される。On the other hand, the load lock chamber 14 is partitioned from the outside by a gate valve 15f.
In the vicinity of 5f, a robot 18 of a supporting arm (transport device)
Are placed. In addition, a substrate 19 is provided around the robot 18.
Substrate cassettes 20a and 20b in which a predetermined number of substrates are mounted are positioned, and an alignment device 21 that positions the substrate during transportation is positioned.
【0009】このようなマルチチャンバ装置11は、基
板が基板カセット20a,20bから搬送ロボット18
を用いてアライメント装置21に運ばれ、基板のアライ
メントを行った後、ロードロック室14に運ばれる。ロ
ードロック室14を真空にした後、搬送ロボット17に
より基板を基板ホルダ16に搬送し、その後各プロセス
室13a〜13dに運ばれる。プロセス終了後、基板は
ロードロック室14を通り、基板カセット20a,20
bに戻され、プロセス処理は終了する。In such a multi-chamber apparatus 11, the substrate is transferred from the substrate cassette 20a, 20b to the transfer robot 18
After being carried to the alignment device 21 by using, the substrate is aligned, it is carried to the load lock chamber 14. After the load lock chamber 14 is evacuated, the transfer robot 17 transfers the substrate to the substrate holder 16 and then to the process chambers 13a to 13d. After the process is completed, the substrate passes through the load lock chamber 14 and the substrate cassettes 20a, 20a
Then, the process processing ends.
【0010】この場合、基板カセット20a,20bか
ら基板19を取り出し、ロードロック室14に搬送する
ロボット18には、一般的に基板を真空吸着させる支持
アームが使用される。In this case, the robot 18 which takes out the substrate 19 from the substrate cassettes 20a and 20b and conveys it to the load lock chamber 14 generally uses a support arm for vacuum-adsorbing the substrate.
【0011】ここで、図7に、従来の基板搬送を説明す
るための図を示す。図7において、基板カセット20
a,20bはカセットエレベータ22に乗せられ、上下
に移動することができ、また、ロードロック室14内に
は基板19を受け取るエレベータ23を備えている。搬
送法はまず、ロボット18の支持アーム18aを基板カ
セット20a内に伸ばし、カセットエレベータ22を下
げて基板を吸着させる。FIG. 7 shows a diagram for explaining the conventional substrate transfer. In FIG. 7, the substrate cassette 20
The a and 20b are placed on a cassette elevator 22 and can move up and down, and an elevator 23 for receiving the substrate 19 is provided in the load lock chamber 14. In the transfer method, first, the support arm 18a of the robot 18 is extended into the substrate cassette 20a, and the cassette elevator 22 is lowered to adsorb the substrate.
【0012】ロボット18をロードロック室14方向に
向けて、支持アーム18aを伸ばし、ロードロック室1
4内のエレベータ23を上に動かし基板を取り上げる。
その後、ロボット18の支持アーム18aを縮め、ゲー
トバルブ15fを閉じ、真空引きして基板19を搬送室
12へ送る。The support arm 18a is extended with the robot 18 directed toward the load lock chamber 14,
The elevator 23 in 4 is moved up and the substrate is picked up.
After that, the support arm 18a of the robot 18 is contracted, the gate valve 15f is closed, and the substrate 19 is sent to the transfer chamber 12 by vacuuming.
【0013】このような搬送装置においては、支持アー
ム18aの断面形状は一般的に図7に示すように、薄く
直線型をしている。これは直線が最も作り易くかつ強度
的に有利なためであると共に、一般的に使用する基板カ
セット20aの基板ピッチが2インチから6インチ基板
において約5mmと狭いためである。In such a carrier, the support arm 18a generally has a thin linear shape as shown in FIG. This is because the straight line is the easiest to make and is advantageous in strength, and the substrate pitch of the substrate cassette 20a which is generally used is as narrow as about 5 mm for a substrate of 2 inches to 6 inches.
【0014】このように、自動化された半導体プロセス
では、基板19表面を常に上に向けて搬送されるため、
図6,図7に示す構成で基板19の搬送を行っている。As described above, in the automated semiconductor process, since the surface of the substrate 19 is always conveyed upward,
The substrate 19 is transported with the configuration shown in FIGS.
【0015】[0015]
【発明が解決しようとする課題】しかし、蒸着装置や分
子線結晶成長装置(MBE装置)等では基板表面を下向
きにしなければならない。However, in a vapor deposition apparatus, a molecular beam crystal growth apparatus (MBE apparatus), etc., the substrate surface must be faced down.
【0016】ここで、蒸着装置等に使用される基板ホル
ダの構成図を示す。図8(A)は全体平面図であり、図
8(B)は断面図である。図8(A),(B)における
基板ホルダ24は、4つの穴24aが基板19の径より
大きめに形成され、穴24aの縁周に基板19を載置す
る突起24bが形成されたものである。Here, a block diagram of a substrate holder used in a vapor deposition apparatus or the like is shown. 8A is an overall plan view, and FIG. 8B is a sectional view. In the substrate holder 24 shown in FIGS. 8A and 8B, four holes 24a are formed larger than the diameter of the substrate 19, and a protrusion 24b for mounting the substrate 19 is formed on the edge of the hole 24a. is there.
【0017】このように、基板19を基板ホルダ24の
穴24aの上方から基板表面を下向きにしてセットする
ものであり、図6,図7に示すような搬送装置を使用す
ることができない。基板カセットに基板表面を下向きに
して搭載する場合も考えられるが、基板表面に支持アー
ムを接触させなければならず塵埃等の問題から好ましく
ない。In this way, the substrate 19 is set from above the hole 24a of the substrate holder 24 with the substrate surface facing downward, and the transfer device as shown in FIGS. 6 and 7 cannot be used. There is a case where the substrate is mounted on the substrate cassette with the surface of the substrate facing downward, but the support arm has to be brought into contact with the surface of the substrate, which is not preferable because of problems such as dust.
【0018】従って、自動でカセットトゥカセットの基
板を搬送することができず、作業者が基板をセットしな
ければならず効率を向上させることができないという問
題がある。Therefore, there is a problem in that the cassette-to-cassette substrate cannot be automatically conveyed, and the operator must set the substrate to improve the efficiency.
【0019】そこで、本発明は上記課題に鑑みなされた
もので、基板の複雑な搬送の自動化を図る搬送方法を提
供することを目的とする。Therefore, the present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide a transfer method for automating complicated transfer of substrates.
【0020】[0020]
【課題を解決するための手段】上記課題は、複数の基板
を平行に保持する基板カセットと、基板を表面下向きに
保持する嵌合部を有する基板ホルダとの間で、該基板の
搬送を行う搬送方法において、前記基板を吸着する吸着
部と該吸着部を支持する支持部とからなり、該吸着部の
吸着面と該支持部とが階段状に形成され、該基板の裏面
を吸着する支持アームと、該支持アームを水平移動させ
ると共に、該支持アームを前記吸着面の方向を軸に回転
させる駆動機構と、で構成した搬送装置を用いて搬送す
ることにより解決される。SUMMARY OF THE INVENTION The above problem is to carry a substrate between a substrate cassette that holds a plurality of substrates in parallel and a substrate holder that has a fitting portion that holds the substrates face down. In the transportation method, the support includes a suction portion that sucks the substrate and a support portion that supports the suction portion, and the suction surface of the suction portion and the support portion are formed in a step shape, and a support that sucks the back surface of the substrate. The problem is solved by using a transfer device configured by an arm and a drive mechanism that horizontally moves the support arm and rotates the support arm around the direction of the suction surface. .
【0021】[0021]
【作用】上述のように、支持アームは、支持部及び吸着
部により構成され、吸着部は吸着面が支持部と所定の距
離を有して該支持部の先端に形成される。As described above, the support arm is composed of the support portion and the suction portion, and the suction portion has the suction surface formed at the tip of the support portion with a predetermined distance from the support portion.
【0022】従って、支持アームにより基板の裏面を吸
着して駆動機構により吸着面の方向を軸に回転させるこ
とにより、基板ホルダの嵌合部に対する基板の表面下向
きの搭載、取り出しを、支持部が基板ホルダに接触させ
ずに行うことが可能となる。すなわち、カセットトゥカ
セットの基板搬送を全自動化することが可能となり、パ
ーティクルの低減、作業能率の向上を図ることが可能と
なる。Therefore, by supporting the back surface of the substrate by the supporting arm and rotating the driving mechanism about the direction of the attracting surface as an axis, the supporting portion can mount and remove the substrate downward from the fitting portion of the substrate holder. This can be performed without contacting the substrate holder. That is, it becomes possible to fully automate the substrate transfer of the cassette-to-cassette, and it is possible to reduce particles and improve work efficiency.
【0023】[0023]
【実施例】図1に、本発明の一実施例の構成図を示す。
図1は、基板を分子線結晶成長(MBE)させる場合を
示したもので、搬送装置31及びMBE装置32を示し
ている。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 shows a block diagram of an embodiment of the present invention.
FIG. 1 shows a case where molecular beam crystal growth (MBE) is performed on a substrate, and shows a transfer device 31 and an MBE device 32.
【0024】まず、MBE装置32は、MBE成長室4
1にゲートバルブ42を介してロードロック室43が取
り付けてあり、磁気結合式のトランスファロッド44に
より上下動するホルダカセット45上の基板ホルダ46
(図8と同様)の搬送を行うシステムである。また、基
板ホルダ46取り出し口にもゲートバルブ47が取り付
けてあり、これを開閉することにより基板ホルダ46の
取り出しを行う。また、ホルダカセット45は磁気結合
式のトランスファロッド44と連動しており、上下する
リフタ(図に表われず)により基板ホルダ46の出し入
れができるようになっている。First, the MBE device 32 is used in the MBE growth chamber 4
1, a load lock chamber 43 is attached via a gate valve 42, and a substrate holder 46 on a holder cassette 45 that moves up and down by a magnetically coupled transfer rod 44.
It is a system for carrying (similar to FIG. 8). Also, a gate valve 47 is attached to the take-out port of the substrate holder 46, and the substrate holder 46 is taken out by opening and closing the gate valve 47. Further, the holder cassette 45 is interlocked with the magnetic coupling type transfer rod 44, and the substrate holder 46 can be taken in and out by a lifter (not shown in the figure) which moves up and down.
【0025】一方、搬送装置31は、架台51上で、M
BE装置32のゲートバルブ47近傍に、3軸3アーム
の第1のロボット52が配置されており、ホルダカセッ
ト45とホルダ台53の間で基板ホルダ46の搬送を行
う。On the other hand, the carrying device 31 is
A first robot 52 having three axes and three arms is arranged near the gate valve 47 of the BE device 32, and carries the substrate holder 46 between the holder cassette 45 and the holder base 53.
【0026】ホルダ台53には光学センサ54が備えら
れ、基板ホルダ46の原点検出及びアライメントを行
う。また、ホルダ台53には第1のロボット52から基
板ホルダ46を受け取るために上下動するリフタ(図に
表われず)と、基板46aをセットするための回転機構
も装備している。The holder base 53 is provided with an optical sensor 54 for detecting the origin of the substrate holder 46 and performing alignment. The holder base 53 is also equipped with a lifter (not shown) that moves up and down to receive the substrate holder 46 from the first robot 52, and a rotation mechanism for setting the substrate 46a.
【0027】基板ホルダ46への基板46aの搭載は、
上下機構を持つ基板カセット55a,55bから第2の
ロボット56(図2において説明する)により基板46
aを受け取り、アライメント装置57により基板アライ
メントを行った後、基板ホルダ46にセットする。な
お、アライメント装置57には、図示しないが基板を受
け取るための上下機構と基板46aの中心を検出する光
学センサと回転台が装備されている。The board 46a is mounted on the board holder 46 by
From the substrate cassettes 55a and 55b having the up-and-down mechanism to the substrate 46 by the second robot 56 (described in FIG. 2).
After receiving a and performing substrate alignment by the alignment device 57, it is set in the substrate holder 46. The alignment device 57 is equipped with a vertical mechanism (not shown) for receiving the substrate, an optical sensor for detecting the center of the substrate 46a, and a turntable.
【0028】なお、図1におけるMBE装置32は、例
えば真空蒸着装置に置換することができる。The MBE device 32 in FIG. 1 can be replaced with, for example, a vacuum vapor deposition device.
【0029】ここで、図2に、図1の第2のロボットの
構成図を示す。図2(A)は平面図であり、図2(B)
は側面である。図2(A),(B)において、第2のロ
ボット56は、3軸3アームのロボットであり、基台6
1上に回転自在な第1〜第3のアーム62a〜62cを
備えた駆動機構と、第3のアーム62cに内設されたモ
ータ、アクチュエータ等の回転機構63(駆動機構に含
む)の回転軸に取り付けられた支持アーム64により構
成される。このモータ63は、支持アーム64を長手方
向を軸に回転させる。FIG. 2 is a block diagram of the second robot shown in FIG. FIG. 2A is a plan view and FIG.
Is the side. In FIGS. 2A and 2B, the second robot 56 is a three-axis, three-arm robot and has a base 6
1 includes a drive mechanism including rotatable first to third arms 62a to 62c, and a rotation shaft of a rotation mechanism 63 (included in the drive mechanism) such as a motor and an actuator provided in the third arm 62c. It is constituted by a support arm 64 attached to the. The motor 63 rotates the support arm 64 about the longitudinal axis.
【0030】支持アーム64は、支持部65aとその先
端に形成される基板の真空吸着を行う吸着部65bとが
Z型形状に形成されたものである。すなわち、Z型形状
とは、吸着部65bの吸着面と支持部65aとが折曲げ
部65cによる所定の距離d(図8に示す基板ホルダ2
4(46)の嵌合部である穴24a(46a)の深さよ
り大)で形成されたものである。The support arm 64 has a Z-shaped support portion 65a and a suction portion 65b formed at the tip thereof for performing vacuum suction of the substrate. That is, the Z-shape means that the suction surface of the suction portion 65b and the support portion 65a are at a predetermined distance d due to the bent portion 65c (the substrate holder 2 shown in FIG. 8).
4 (46) and is formed with a fitting portion hole 24a (46a) of the depth by <br/> Redirecting a) of.
【0031】ここで、図3に、図2による搬送動作の工
程図を示す。図3において、まず、ロボット56の支持
アーム64の吸着部65bの基板吸着面を上に向けた状
態で基板カセット55a,55bに支持アーム64を差
し込む(図3(A))。この時、支持アーム64が他の
基板に接触しないぐらいまで差し込む。Here, FIG. 3 shows a process diagram of the carrying operation according to FIG. In FIG. 3, first, the support arm 64 is inserted into the substrate cassettes 55a and 55b with the substrate suction surface of the suction portion 65b of the support arm 64 of the robot 56 facing upward (FIG. 3A). At this time, the support arm 64 is inserted until it does not come into contact with another substrate.
【0032】そして、基板46aを吸着し少し手前に所
定量引き出し(図3(B))、基板カセット55aに置
いた後、支持アーム64の折曲げ部65cが基板外周よ
り内側になる様に差し込む(図3(C))。その後、基
板46aを吸着し、基板カセット55aから取り出し、
支持アーム64を回転機構63により回転させ、基板4
6aの表面を下向きにする(図3(D))。Then, the substrate 46a is adsorbed, pulled out by a predetermined amount a little forward (FIG. 3B), placed on the substrate cassette 55a, and then inserted so that the bent portion 65c of the support arm 64 is located inside the outer periphery of the substrate. (FIG. 3 (C)). After that, the substrate 46a is adsorbed, taken out from the substrate cassette 55a,
The support arm 64 is rotated by the rotation mechanism 63 to move the substrate 4
The surface of 6a faces downward (FIG. 3 (D)).
【0033】そして、基板ホルダ46方向にアームを伸
ばし、ホルダ台53のリフタにより基板ホルダ46を上
に移動させ基板46aを嵌合部46bで受け取る(図3
(E))。Then, the arm is extended toward the substrate holder 46, the substrate holder 46 is moved upward by the lifter of the holder base 53, and the substrate 46a is received by the fitting portion 46b (FIG. 3).
(E)).
【0034】このように、自動化で基板カセット55a
から基板ホルダ46に基板46aをセットすることがで
きる。In this way, the substrate cassette 55a can be automated.
The substrate 46a can be set on the substrate holder 46 from the above.
【0035】この例では基板ホルダ46の基板46aを
セットする嵌合部46bが基板46aの大きさに対して
十分なマージンをもって設計されている場合、即ち基板
位置の精度を必要としない場合について示したため、ア
ライメント装置57を使用しない最も簡単な方法につい
て示した。In this example, the fitting portion 46b for setting the substrate 46a of the substrate holder 46 is designed with a sufficient margin with respect to the size of the substrate 46a, that is, the case where the precision of the substrate position is not required. Therefore, the simplest method without using the alignment device 57 is shown.
【0036】従って、実際の装置においては基板ホルダ
のマージンを大きく設計しない実際的な場合には、搬送
においてはアライメント装置57を使用する場合が多
い。この場合、図3(B)の状態で基板46aを吸着し
た後、アライメント装置57でアライメントを行い、そ
の後図3(C)のように受け取ることにより、同様に搬
送することができる。Therefore, in practical cases, the alignment apparatus 57 is often used for transportation in a practical case where the margin of the substrate holder is not designed to be large. In this case, after the substrate 46a is sucked in the state of FIG. 3B, alignment is performed by the alignment device 57, and then the substrate 46a is received as shown in FIG.
【0037】また、アライメント装置57を用いる場合
は、アライメント装置57部分で基板46aの持ち替え
を行うため無駄な動作をすることなく効率の良い基板搬
送が可能である。When the alignment device 57 is used, since the substrate 46a is changed over in the alignment device 57 portion, efficient substrate transfer can be performed without wasteful operation.
【0038】次に、図4に、図2の他の実施例の構成図
を示す。図4(A)は平面図、図4(B)は側面図であ
る。図4における第2のロボット56は、図2に示す第
3のアーム62cの一端に第1の支持アーム71を回転
機構63を介して取り付け、他端に第2の支持アーム7
2を、該回転機構63を介して取り付けたものである。Next, FIG. 4 shows a block diagram of another embodiment of FIG. 4A is a plan view and FIG. 4B is a side view. In the second robot 56 in FIG. 4, the first support arm 71 is attached to one end of the third arm 62c shown in FIG. 2 via the rotation mechanism 63, and the second support arm 7 is attached to the other end.
2 is attached via the rotating mechanism 63.
【0039】第1の支持アーム71は、支持部71a
と、その先端に形成された基板の真空吸着を行う吸着部
71bが、吸着面と支持部71aとで前述と同様に所定
の距離dを有するように形成される。なお、第2の支持
アーム72は、直線状に形成されたもので先端の吸着部
72aにおいて真空吸着を行う。The first support arm 71 includes a support portion 71a.
Then, a suction portion 71b for vacuum suctioning the substrate formed at the tip thereof is formed such that the suction surface and the support portion 71a have a predetermined distance d as described above. The second support arm 72 is formed in a linear shape and performs vacuum suction at the suction portion 72a at the tip.
【0040】また、回転機構63により、第1及び第2
の支持アーム71,72が共に長手方向を軸に回転す
る。Further, by the rotating mechanism 63, the first and second
Both support arms 71 and 72 rotate about the longitudinal direction.
【0041】この図4に示す第2のロボット56を用い
る場合、図5に示すような基板停留台73を使用する。When the second robot 56 shown in FIG. 4 is used, a substrate holding stand 73 as shown in FIG. 5 is used.
【0042】ここで、図5に、図4による搬送動作の工
程図を示す。図5において、まず、第2のロボット56
の第2の支持アーム72の基板吸着面を上に向けた状態
で基板カセット55a(55b)に第2の支持アーム7
2を差し込む(図5(A))。そして、基板46aを吸
着部72aにより吸着し、基板カセット55aより取り
出し基板停留台73の上に置く(図5(B))。Here, FIG. 5 shows a process diagram of the carrying operation according to FIG. In FIG. 5, first, the second robot 56
The second support arm 7 is attached to the substrate cassette 55a (55b) with the substrate suction surface of the second support arm 72 facing upward.
Insert 2 (Fig. 5 (A)). Then, the substrate 46a is sucked by the suction portion 72a, taken out from the substrate cassette 55a, and placed on the substrate holding stand 73 (FIG. 5 (B)).
【0043】次に、第1の支持アーム71の吸着部71
bで基板停留台73より基板46aを受け取り(図5
(C))、その後、基板46aを吸着し、第1の支持ア
ーム71を回転機構63により回転させて、基板46a
を下向きにする(図5(D))。そして、基板ホルダ4
6方向に第1の支持アーム71を伸ばし、ホルダ台53
のリフタにより基板ホルダ46を上に移動させて、基板
46aを嵌合部46bで受け取る(図5(E))。Next, the suction portion 71 of the first support arm 71
In step b, the board 46a is received from the board berth 73 (see FIG.
(C)) After that, the substrate 46a is sucked, and the first support arm 71 is rotated by the rotating mechanism 63, so that the substrate 46a
Down (FIG. 5 (D)). And the substrate holder 4
The first support arm 71 is extended in six directions, and the holder base 53
The substrate holder 46 is moved upward by the lifter and the substrate 46a is received by the fitting portion 46b (FIG. 5 (E)).
【0044】このように自動化で基板カセット55a,
55bから基板ホルダ46に基板46aをセットするこ
とができる。In this way, the substrate cassette 55a,
The substrate 46a can be set on the substrate holder 46 from 55b.
【0045】なお、この例ではアライメント装置57を
使用せず、基板停留台73を使用した例を示したが、基
板停留台73の役割をアライメント装置57に行わせる
ことにより、無駄な動作をすることなく効率の良い基板
搬送を行うことができる。In this example, the alignment device 57 is not used, but the substrate retention block 73 is used. However, by causing the alignment device 57 to perform the role of the substrate retention block 73, an unnecessary operation is performed. It is possible to carry out the substrate transfer efficiently.
【0046】また、第1及び第2の支持アーム71,7
2を同一のロボットで駆動する場合を示したが、別々の
ロボットで駆動してもよい。Also, the first and second support arms 71, 7
Although the two robots are driven by the same robot, they may be driven by different robots.
【0047】さらに、上記実施例は、MBE装置もしく
は蒸着装置を例にカセットトゥカセットの搬送装置31
を取り付けた場合を示したが、例えばロードロック室内
にホルダ台を設置しても、前記の目的を達成することが
でき、第1のロボット52を省くことができる。また、
本発明ではMBE装置及び蒸着装置のみならず他の窪み
のある嵌合部を有する基板ホルダに基板セットを行う装
置にも適用できる。Further, in the above-mentioned embodiment, the MBE apparatus or the vapor deposition apparatus is taken as an example, and the cassette-to-cassette conveying apparatus 31 is used.
Although the case in which the holder is mounted is shown, the above object can be achieved and the first robot 52 can be omitted even if the holder base is installed in the load lock chamber, for example. Also,
The present invention can be applied not only to the MBE device and the vapor deposition device, but also to other devices for setting a substrate on a substrate holder having a fitting portion with a recess.
【0048】このように、任意の基板カセット位置より
基板を取り出すことができるカセットトゥカセットの搬
送装置を自動化することができ、化合物半導体LSI用
のプロセス装置とし使用されている蒸着装置及びMBE
装置等を全自動の装置として使用することができる。ま
た、全自動化により、作業者を削減することができ、か
つ作業者の削減によりLSIにおけるパーティクルを削
減することができる。In this way, the cassette-to-cassette transfer device that can take out a substrate from an arbitrary substrate cassette position can be automated, and the vapor deposition device and MBE used as the process device for the compound semiconductor LSI can be automated.
The device can be used as a fully automatic device. Moreover, the number of workers can be reduced by the fully automation, and the particles in the LSI can be reduced by reducing the number of workers.
【0049】[0049]
【発明の効果】以上のように本発明によれば、基板を吸
着する支持アームを、回転可能に支持部及び吸着部で構
成し、該吸着部を吸着面が支持部と所定の距離を有して
該支持部の先端に形成することにより、複雑な基板搬送
の自動化を図ることができ、基板の処理工程の効率を向
上させることができる。As described above, according to the present invention, the supporting arm for sucking the substrate is rotatably composed of the supporting portion and the sucking portion, and the sucking surface of the sucking portion has a predetermined distance from the supporting portion. By forming it at the tip of the supporting portion, complicated substrate transfer can be automated, and the efficiency of the substrate processing step can be improved.
【図1】本発明の一実施例の構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment of the present invention.
【図2】図1の第2のロボットの構成図である。2 is a configuration diagram of the second robot of FIG. 1. FIG.
【図3】図2による搬送動作の工程図である。FIG. 3 is a process diagram of the carrying operation according to FIG.
【図4】図2の他の実施例の構成図である。FIG. 4 is a configuration diagram of another embodiment of FIG.
【図5】図4による搬送動作の工程図である。FIG. 5 is a process diagram of the carrying operation according to FIG.
【図6】従来のマルチチャンバ装置の構成図である。FIG. 6 is a configuration diagram of a conventional multi-chamber device.
【図7】従来の基板搬送を説明するための図である。FIG. 7 is a diagram for explaining conventional substrate transfer.
【図8】従来の蒸着装置等に使用される基板ホルダの構
成図である。FIG. 8 is a configuration diagram of a substrate holder used in a conventional vapor deposition device or the like.
31 搬送装置 32 MBE装置 41 MBE成長室 42,47 ゲートバルブ 43 ロードロック室 44 トランスファロッド 45 ホルダカセット 46 基板ホルダ 46a 基板 52 第1のロボット 53 ホルダ台 54 光学センサ 55a,55b 基板カセット 56 第2のロボット 57 アライメント装置 62c 第3のアーム 63 回転機構 64 支持アーム 65a,71a 支持部 65b,71b,72a 吸着部 71 第1の支持アーム 72 第2の支持アーム 73 基板停留台 31 Conveyor 32 MBE equipment 41 MBE growth room 42,47 Gate valve 43 Road lock room 44 Transfer rod 45 holder cassette 46 substrate holder 46a substrate 52 First Robot 53 Holder stand 54 Optical sensor 55a, 55b Substrate cassette 56 Second Robot 57 Alignment device 62c Third arm 63 rotation mechanism 64 support arm 65a, 71a Supporting part 65b, 71b, 72a Adsorption part 71 First Support Arm 72 Second support arm 73 Board stop
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平2−91959(JP,A) 特開 平1−135015(JP,A) 特開 平2−312259(JP,A) 特開 昭63−65639(JP,A) 特開 昭56−130935(JP,A) 特開 昭64−24440(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/68 B65G 49/06 - 49/07 H01L 21/203 H01L 21/363 B65G 1/00 - 1/20 B25J 15/00 - 15/12 H05K 13/00 - 13/04 Continuation of the front page (56) Reference JP-A-2-91959 (JP, A) JP-A-1-135015 (JP, A) JP-A-2-312259 (JP, A) JP-A-63-65639 (JP , A) JP 56-130935 (JP, A) JP 64-24440 (JP, A) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/68 B65G 49/06- 49/07 H01L 21/203 H01L 21/363 B65G 1/00-1/20 B25J 15/00-15/12 H05K 13/00-13/04
Claims (2)
基板カセット(55a,55b)と、穴形状に形成さ
れ、基板(46a)を表面下向きに保持する嵌合部(4
6b)を有する基板ホルダ(46)との間で、該基板
(46a)の搬送を行う搬送方法において、 該基板(46a)を吸着する吸着部(65b)と該吸着
部(65b)を支持する支持部(65a)とからなり、
該吸着部(65b)の吸着面と該支持部(65a)とが
階段状に形成され、該基板(46a)の裏面を吸着する
支持アーム(64)を他の基板に接触しない位置まで該
基板カセット(55a,55b)に差し込み、該基板
(46a)の裏面を吸着して所定量該基板(46a)を
該基板カセット(55a,55b)から引き出した後、
吸着を解除して該基板カセット(55a,55b)に該
基板(46a)置く工程と、 該吸着部(65b)の吸着面の全面が該基板(46a)
の外周の内側に位置するまで、該支持アーム(64)を
該基板カセット(55a,55b)に再度差し込んだ
後、再度該基板(46a)の裏面を吸着する工程と、 該支持アーム(64)により吸着した該基板(46a)
を該基板カセット(55a,55b)より取り出し、該
支持アーム(64)を、該支持アーム(64)を水平移
動させると共に、該支持アーム(64)を該吸着面の方
向を軸に回転させる駆動機構(63)により回転させて
該基板(46a)の表面を下向きにする工程と、 該基板(46a)を、該基板ホルダ(46)の該嵌合部
(46b)に、表面下向きに嵌合、保持させる工程と、 を含むことを特徴とする搬送方法。 1.Hold multiple substrates (46a) in parallel
Substrate cassette (55a, 55b) and hole shaped
And the fitting portion (4) for holding the substrate (46a) downward on the surface.
Between the substrate holder (46) having 6b)
In the carrying method of carrying (46a), An adsorption portion (65b) for adsorbing the substrate (46a) and the adsorption
A support portion (65a) for supporting the portion (65b),
The suction surface of the suction portion (65b) and the support portion (65a) are
It is formed in a stepped shape and adsorbs the back surface of the substrate (46a).
Move the support arm (64) to a position where it does not contact another substrate.
Insert the board into the board cassette (55a, 55b)
The back surface of (46a) is adsorbed and a predetermined amount of the substrate (46a) is attached.
After pulling out from the substrate cassette (55a, 55b),
Release the adsorption and attach the substrate cassette (55a, 55b)
A step of placing the substrate (46a), The entire suction surface of the suction portion (65b) is the substrate (46a)
Until the support arm (64) is located inside the outer circumference of
Reinserted in the substrate cassette (55a, 55b)
After that, a step of adsorbing the back surface of the substrate (46a) again, The substrate (46a) sucked by the support arm (64)
From the substrate cassette (55a, 55b),
Move the support arm (64) horizontally.
And move the support arm (64) toward the suction surface.
Rotate by the drive mechanism (63) that rotates the direction about the axis
Facing down the surface of the substrate (46a), The board (46a) is attached to the fitting portion of the board holder (46).
(46b) a step of fitting and holding the surface downward, A transportation method comprising:
基板カセット(55a,55b)と、穴形状に形成さ
れ、基板(46a)を表面下向きに保持する嵌合部(4
6b)を有する基板ホルダ(46)との間で、該基板
(46a)の搬送を行う搬送方法において、 先端に吸着部(72a)が具備された直線状の、該支持
アーム(64)を水平移動させると共に、該支持アーム
(64)を該吸着面の方向を軸に回転させる駆 動機構
(61〜63)により水平移動される第2の支持アーム
(72)により、該基板カセット(55a,55b)に
保持されている該基板(46a)の裏面を表面上向きに
して吸着する工程と、 該第2の支持アーム(72)により吸着された該基板
(46a)を、表面上向きにして搬送し、基板停留台
(73)に載置する工程と、 該基板(46a)を吸着する吸着部(65b)と該吸着
部(65b)を支持する支持部(65a)とからなり、
該吸着部(65b)の吸着面と該支持部(65a)とが
階段状に形成され、該基板(46a)の裏面を吸着する
第1の支持アーム(71)により、該基板停留台(7
3)上の該基板(46a)の裏面を吸着させて取り出す
工程と、 該第1の支持アーム(71)により吸着した該基板(4
6a)を、該第1の支持アーム(71)を該駆動機構
(63)により回転させて該基板(46a)の表面を下
向きにする工程と、 該基板(46a)を、該基板ホルダ(46)の該嵌合部
(46b)に、表面下向きに嵌合、保持させる工程と、 を含むことを特徴とする搬送方法。 2.Hold multiple substrates (46a) in parallel
Substrate cassette (55a, 55b) and hole shaped
And the fitting portion (4) for holding the substrate (46a) downward on the surface.
Between the substrate holder (46) having 6b)
In the carrying method of carrying (46a), The linear support with a suction part (72a) at the tip
The arm (64) is moved horizontally and the support arm is moved.
Drive (64) by rotating the suction surface around the axis. Dynamic mechanism
Second support arm horizontally moved by (61 to 63)
By (72), the substrate cassette (55a, 55b)
The back surface of the substrate (46a) being held is turned upward
And then adsorbing, The substrate adsorbed by the second support arm (72)
The substrate (46a) is conveyed upward, and is placed on the substrate stand.
Placing on (73), An adsorption portion (65b) for adsorbing the substrate (46a) and the adsorption
A support portion (65a) for supporting the portion (65b),
The suction surface of the suction portion (65b) and the support portion (65a) are
It is formed in a stepped shape and adsorbs the back surface of the substrate (46a).
The first support arm (71) allows the substrate berth (7
3) Adsorb and take out the back surface of the substrate (46a) above
Process, The substrate (4) attracted by the first support arm (71)
6a) and the first support arm (71) to the drive mechanism.
(63) rotate to lower the surface of the substrate (46a).
The process of facing The board (46a) is attached to the fitting portion of the board holder (46).
(46b) a step of fitting and holding the surface downward, A transportation method comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4157992A JP3421358B2 (en) | 1992-02-27 | 1992-02-27 | Transport method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4157992A JP3421358B2 (en) | 1992-02-27 | 1992-02-27 | Transport method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05243363A JPH05243363A (en) | 1993-09-21 |
JP3421358B2 true JP3421358B2 (en) | 2003-06-30 |
Family
ID=12612358
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4157992A Expired - Fee Related JP3421358B2 (en) | 1992-02-27 | 1992-02-27 | Transport method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3421358B2 (en) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5789890A (en) * | 1996-03-22 | 1998-08-04 | Genmark Automation | Robot having multiple degrees of freedom |
JP2005294378A (en) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | Apparatus and method for polishing double-surface of semiconductor wafer |
FR2947097B1 (en) * | 2009-06-23 | 2011-11-25 | Riber Sa | APPARATUS FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR ROLLERS AND APPARATUS FOR DEPOSITING EVAPORATION OF MOLECULAR JET MATERIALS |
KR101409752B1 (en) * | 2012-04-26 | 2014-07-08 | 주식회사 탑 엔지니어링 | Multi Chamber Substrate Processing Apparatus using Robot for Transferring Substrate |
-
1992
- 1992-02-27 JP JP4157992A patent/JP3421358B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05243363A (en) | 1993-09-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6517304B1 (en) | Method for transporting substrates and a semiconductor manufacturing apparatus using the method | |
JPH0159352B2 (en) | ||
JP2002313886A (en) | Device and method for transporting substrate | |
JP3695971B2 (en) | Film forming apparatus and film forming method | |
JP2002520860A (en) | Wafer carrier and method for handling wafers with minimal contact | |
JP2002517088A (en) | Batch type end effector for semiconductor wafer handling | |
JP2003516622A (en) | Front-end loader transporter with small installation area | |
JP3421358B2 (en) | Transport method | |
US7611319B2 (en) | Methods and apparatus for identifying small lot size substrate carriers | |
JP2837332B2 (en) | Transfer arm | |
US20090035098A1 (en) | Lid opening/closing system for closed container and substrate processing method using same | |
JPS62188336A (en) | Method of automatic loading and unloading of wafer on susceptor | |
JPH02140948A (en) | Vacuum processor | |
KR101317995B1 (en) | Methods and apparatuses for transferring articles through a load lock chamber under vacuum | |
JPH1079412A (en) | Apparatus for manufacturing semiconductor | |
JP4261951B2 (en) | Substrate processing equipment | |
JP2002313873A (en) | Conveyance apparatus handled by robot and conveyance robot transfer method | |
JPH0584059B2 (en) | ||
JP2773403B2 (en) | Substrate processing apparatus and substrate holder transfer method | |
JP2583675Y2 (en) | Thin film vapor deposition equipment | |
JPH05253879A (en) | Transfer method and device | |
JP3091469B2 (en) | Method for manufacturing semiconductor device | |
JP2002151584A (en) | Wafer carrier, substrate processor, substrate processing system, substrate processing method, and semiconductor device | |
JP3434014B2 (en) | Stacker robot | |
JPH0234178B2 (en) | HANDOTAIKI BANNOHANSOKIKO |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20021203 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20030408 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080418 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090418 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090418 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100418 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110418 Year of fee payment: 8 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |