JP3224535B2 - カメラの露出制御装置 - Google Patents
カメラの露出制御装置Info
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- area
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- divided
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- Focusing (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、カメラの露出制御装置に関するものであ
る。
る。
［従来の技術］ 従来、この種の装置としては、特開平１−105221のよ
うなものがある。この装置は、多点測距を行ない、合焦
した領域に対応した測光領域の出力を用いて露出演算を
行なうというものである。
うなものがある。この装置は、多点測距を行ない、合焦
した領域に対応した測光領域の出力を用いて露出演算を
行なうというものである。
［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、このような従来の多点測距により合焦
領域の測光出力を用いて露出演算を行う装置にあって
は、合焦領域に対応した測光領域の出力を重視し過ぎ、
非合焦領域に対応した測光領域の出力を有効に使用して
いないため、写真として見ると部分的には適正露出が得
られているものの、全体的にアンバランスな露出となっ
ていまう場合があるという問題点を有していた。
領域の測光出力を用いて露出演算を行う装置にあって
は、合焦領域に対応した測光領域の出力を重視し過ぎ、
非合焦領域に対応した測光領域の出力を有効に使用して
いないため、写真として見ると部分的には適正露出が得
られているものの、全体的にアンバランスな露出となっ
ていまう場合があるという問題点を有していた。
この問題点は、特に輝度差の大きいシーンにおいて顕
著に現われてくる。
著に現われてくる。
本発明は、このような従来の問題点に鑑みてなされた
もので、常にバランスの良い露出が得られるカメラの露
出制御装置を提供することを目的とする。
もので、常にバランスの良い露出が得られるカメラの露
出制御装置を提供することを目的とする。
［課題を解決するための手段］ この目的を達成するため本発明の請求項１にあって
は、 所定の焦点検出領域内を複数領域に分割して各分割領
域毎にデフォーカス量を検出する焦点検出手段と； 前記焦点検出手段で検出された前記分割焦点検出領域
の各デフォーカス量に基づいて前記分割焦点検出領域の
各々に対応する重み付け量を設定する重み付け手段と； 該所定領域内を分割して測光する分割測光手段と； 少なくとも前記焦点検出領域に重複する前記分割測光
領域の測光情報と、前記重み付け手段で分割焦点検出領
域毎に設定された重み付け量とを使用して適正露出を算
出する露出演算手段と； を備えたカメラの露出制御装置を構成する。
は、 所定の焦点検出領域内を複数領域に分割して各分割領
域毎にデフォーカス量を検出する焦点検出手段と； 前記焦点検出手段で検出された前記分割焦点検出領域
の各デフォーカス量に基づいて前記分割焦点検出領域の
各々に対応する重み付け量を設定する重み付け手段と； 該所定領域内を分割して測光する分割測光手段と； 少なくとも前記焦点検出領域に重複する前記分割測光
領域の測光情報と、前記重み付け手段で分割焦点検出領
域毎に設定された重み付け量とを使用して適正露出を算
出する露出演算手段と； を備えたカメラの露出制御装置を構成する。
ここで前記重み付け手段は、デフォーカス量を前ピン
領域と後ピン領域とに分け、同じデフォース量であって
も前ピン領域の重み付け量と後ピン領域の重み付け量と
を異なる値に設定する。
領域と後ピン領域とに分け、同じデフォース量であって
も前ピン領域の重み付け量と後ピン領域の重み付け量と
を異なる値に設定する。
また前記重み付け手段は、異なる重み値を設定するデ
フォーカス量の分類境界値を、撮影倍率に応じて変更す
る。
フォーカス量の分類境界値を、撮影倍率に応じて変更す
る。
更に、前記焦点検出手段は光電変換素子群を有し、前
記分割測光手段は該光電変換素子群の出力を用いて測光
を行う。
記分割測光手段は該光電変換素子群の出力を用いて測光
を行う。
更に本発明の請求項４にあっては、前記請求項１の少
なくとも焦点検出領域に重複する領域内を分割して測光
する測光手段（第１の測光手段）に加えて、この領域外
を測光する第２の測光手段を設け、少なくともこの第２
の測光手段を受けたことにより前記露出演算手段と、前
記焦点検出手段の出力に所定デフォーカス量以内の値が
存在するときは少なくとも前記第１の測光手段の出力を
用いて適正露出を算出し、存在しないときは前記第２の
測光手段の出力を用いて適正露出を算出するように構成
する。
なくとも焦点検出領域に重複する領域内を分割して測光
する測光手段（第１の測光手段）に加えて、この領域外
を測光する第２の測光手段を設け、少なくともこの第２
の測光手段を受けたことにより前記露出演算手段と、前
記焦点検出手段の出力に所定デフォーカス量以内の値が
存在するときは少なくとも前記第１の測光手段の出力を
用いて適正露出を算出し、存在しないときは前記第２の
測光手段の出力を用いて適正露出を算出するように構成
する。
［作用］ このような本発明によるカメラの露出制御装置におい
ては、焦点検出領域をピントずれ量によって分類し、そ
の結果を適正露出の算出に用いるようになしたので、バ
ランスの良い露出の写真が得られ、従来の問題点が解決
される。
ては、焦点検出領域をピントずれ量によって分類し、そ
の結果を適正露出の算出に用いるようになしたので、バ
ランスの良い露出の写真が得られ、従来の問題点が解決
される。
［実施例］ 第１図は本発明の一実施例を示した説明図である。
第１図において、４は撮影レンズであり、この実施例
にあっては、AFモータ11により合焦制御される。撮影レ
ンズ４の後方には焦点検出手段９が設けられ、レンズ４
の所定焦点面５の後方に再結合レンズ6a,6b及び光電変
換素子群7a,7bが配置されている。光電変換素子群7a,7b
の出力は焦点検出回路８に入力され、焦点検出回路８に
おいて光電変換素子群7a,7bの各結像位置を比較する。
焦点検出回路８においての比較は、公知のとおり、光電
変換素子群7aの出力と光電変換素子群7bの差分（ずれ
量）を算出する。ずれ量は撮影レンズ４を通過した被写
体の結像位置が焦点面５に対して光軸方向にどれだけず
れているかを示す。すなわち、ずれ量が最小となる場合
が被写体に対し撮影レンズが合焦位置にあることとな
る。またずれている方向によって撮影レンズ４の位置が
所定焦点面５に対して前ピン位置なのか後ピン位置なの
かが判別され、ずれている量に応じてピントずれ量が算
出される。これにより、合焦か非合焦か、また非合焦時
にあっては前ピンか後ピンか、更には前ピンまたは後ピ
ンのピントずれ量（デフォーカス量）δAF（Ｉ）を算出
する。
にあっては、AFモータ11により合焦制御される。撮影レ
ンズ４の後方には焦点検出手段９が設けられ、レンズ４
の所定焦点面５の後方に再結合レンズ6a,6b及び光電変
換素子群7a,7bが配置されている。光電変換素子群7a,7b
の出力は焦点検出回路８に入力され、焦点検出回路８に
おいて光電変換素子群7a,7bの各結像位置を比較する。
焦点検出回路８においての比較は、公知のとおり、光電
変換素子群7aの出力と光電変換素子群7bの差分（ずれ
量）を算出する。ずれ量は撮影レンズ４を通過した被写
体の結像位置が焦点面５に対して光軸方向にどれだけず
れているかを示す。すなわち、ずれ量が最小となる場合
が被写体に対し撮影レンズが合焦位置にあることとな
る。またずれている方向によって撮影レンズ４の位置が
所定焦点面５に対して前ピン位置なのか後ピン位置なの
かが判別され、ずれている量に応じてピントずれ量が算
出される。これにより、合焦か非合焦か、また非合焦時
にあっては前ピンか後ピンか、更には前ピンまたは後ピ
ンのピントずれ量（デフォーカス量）δAF（Ｉ）を算出
する。
光電変換素子群7a,7bは各々120個の画素から成る素子
群で、この実施例では例えば６領域（Ｉ＝１〜６）に分
割して、各領域でのピントずれ量δAF（１）〜δ
AF（６）を検出する。
群で、この実施例では例えば６領域（Ｉ＝１〜６）に分
割して、各領域でのピントずれ量δAF（１）〜δ
AF（６）を検出する。
当然ながら、被写界の中に存在する被写体の光軸方向
における相対位置に応じて各領域でのピントずれ量δAF
（１）〜δAF（６）は異なる。
における相対位置に応じて各領域でのピントずれ量δAF
（１）〜δAF（６）は異なる。
焦点検出手段９に設けた焦点検出回路８の出力は、合
焦状態分類手段12及びAFモータ制御手段10に入力され
る。AFモータ制御手段10は非合焦時においてAFモータ11
よりレンズ４を移動させて合焦状態に到達させる。
焦状態分類手段12及びAFモータ制御手段10に入力され
る。AFモータ制御手段10は非合焦時においてAFモータ11
よりレンズ４を移動させて合焦状態に到達させる。
合焦状態分類手段12は、各ピントズレ量δAF（１）〜
δAF（６）から各領域を、 相当前ピン やや前ピン 合焦 やや後ピン 相当後ピン のいずれかに分類し、重み付け量Ｄ（Ｉ）を与えて露出
演算手段13に出力する。この詳細は第４図を用いて後述
する。
δAF（６）から各領域を、 相当前ピン やや前ピン 合焦 やや後ピン 相当後ピン のいずれかに分類し、重み付け量Ｄ（Ｉ）を与えて露出
演算手段13に出力する。この詳細は第４図を用いて後述
する。
３は分割測光手段であり、測光用光電変換素子１と測
光回路２を備える。測光用光電変換素子１は図示のよう
に、被写界を中央部1a〜1c、中央近傍部1d、周辺部1e〜
1hの８領域に分割して測光する。ここで、焦点検出手段
９における測距ゾーン位置に対し、測光用光電変換素子
１における中央部1a〜1cの位置が対応した関係にある。
この対応関係の詳細は第２図を用いて後述する。
光回路２を備える。測光用光電変換素子１は図示のよう
に、被写界を中央部1a〜1c、中央近傍部1d、周辺部1e〜
1hの８領域に分割して測光する。ここで、焦点検出手段
９における測距ゾーン位置に対し、測光用光電変換素子
１における中央部1a〜1cの位置が対応した関係にある。
この対応関係の詳細は第２図を用いて後述する。
８領域に分割された測光用光電変換素子１からの各測
光出力は測光回路２に入力される。測光回路２は撮影レ
ンズ４で検知された不図示の開放Ｆ値信号F0を用いて各
測光出力を輝度値BV（Ｉ）に変換し、露出演算手段13に
出力する。
光出力は測光回路２に入力される。測光回路２は撮影レ
ンズ４で検知された不図示の開放Ｆ値信号F0を用いて各
測光出力を輝度値BV（Ｉ）に変換し、露出演算手段13に
出力する。
露出演算手段13は、分割測光手段３の出力と合焦状態
分類手段12の出力とを受け、第５図にて後述するアルゴ
リズムに従って適正露出Ｂを算出して露出制御手段14に
出力する。露出制御手段14はこの出力を受けて絞り15及
びシャッタ16を制御する。
分類手段12の出力とを受け、第５図にて後述するアルゴ
リズムに従って適正露出Ｂを算出して露出制御手段14に
出力する。露出制御手段14はこの出力を受けて絞り15及
びシャッタ16を制御する。
次に第２図及び第3B,3C図を用いて測光用光電変換素
子１の中央部1a〜1cと、焦点検出手段９の光電変換素子
群７との位置関係を説明する。
子１の中央部1a〜1cと、焦点検出手段９の光電変換素子
群７との位置関係を説明する。
第２図のように、光電変換素子群７の長手方向の幅に
対し、測光用光電変換素子１の中央部1a〜1cの長手方向
の幅をほぼ同じに設定している。更に第3B図，第3C図に
示す如く、光電変換素子群７の左側1/3の領域A1及び領
域A2が中央部左側の測光領域1aに、また光電変換素子群
７の中央1/3の領域A3及び領域A4が中央部の中央測光領
域1bに、更に光電変換素子群７の右傾1/3の領域A5及び
領域A6が中央部の右側測光領域1cに、各々対応させて配
置してある。
対し、測光用光電変換素子１の中央部1a〜1cの長手方向
の幅をほぼ同じに設定している。更に第3B図，第3C図に
示す如く、光電変換素子群７の左側1/3の領域A1及び領
域A2が中央部左側の測光領域1aに、また光電変換素子群
７の中央1/3の領域A3及び領域A4が中央部の中央測光領
域1bに、更に光電変換素子群７の右傾1/3の領域A5及び
領域A6が中央部の右側測光領域1cに、各々対応させて配
置してある。
第3A図は、光電変換素子群の領域A1〜A6を横軸に、ピ
ントズレ量δAFとその方向を縦軸にとっており、横軸の
位置関係は第3B,3C図に対応している。領域A1〜A6は各
々光電変換素子の集合であって、各領域毎にピントズレ
量とその方向（前ピン、合焦、後ピン）を検知しうるよ
うに構成されている。ピントずれ量は撮影レンズのレン
ズ位置により決まる被写体の結像位置と焦点面とのずれ
量に相当するため、そのときのレンズ位置に対して被写
界の中に存在する被写体の光軸方向における相対位置に
応じて各領域でのピントずれ量は異なる。この実施例で
は、領域A1,A2は後ピン、領域A3〜A5は所定のピントズ
レ量以内であるので合焦、領域A6は前ピンを表わしてい
る。
ントズレ量δAFとその方向を縦軸にとっており、横軸の
位置関係は第3B,3C図に対応している。領域A1〜A6は各
々光電変換素子の集合であって、各領域毎にピントズレ
量とその方向（前ピン、合焦、後ピン）を検知しうるよ
うに構成されている。ピントずれ量は撮影レンズのレン
ズ位置により決まる被写体の結像位置と焦点面とのずれ
量に相当するため、そのときのレンズ位置に対して被写
界の中に存在する被写体の光軸方向における相対位置に
応じて各領域でのピントずれ量は異なる。この実施例で
は、領域A1,A2は後ピン、領域A3〜A5は所定のピントズ
レ量以内であるので合焦、領域A6は前ピンを表わしてい
る。
つまりこのときの撮影レンズ４の位置は、領域A3〜A5
に存在する被写体に対しては合焦しており、領域A1,A2
に存在する被写体は領域A3〜A5に存在する被写体よりも
近いため後ピンとなり、領域A6に存在する被写体は領域
A3〜A5に存在する被写体よりも遠いため前ピンとなるこ
とを示している。
に存在する被写体に対しては合焦しており、領域A1,A2
に存在する被写体は領域A3〜A5に存在する被写体よりも
近いため後ピンとなり、領域A6に存在する被写体は領域
A3〜A5に存在する被写体よりも遠いため前ピンとなるこ
とを示している。
次に、合焦状態分類手段12の処理内容を、第４図を用
いて説明する。
いて説明する。
まずステップS1（以後、ステップは省略）でスタート
し、S2でＩ＝０の初期値設定を行なう。S3で領域番号Ｉ
にＩ＋１を代入し、S4でピントズレ量δAF（Ｉ）の読み
込みを行う。
し、S2でＩ＝０の初期値設定を行なう。S3で領域番号Ｉ
にＩ＋１を代入し、S4でピントズレ量δAF（Ｉ）の読み
込みを行う。
ここで、δAF（Ｉ）の符号は＋が前ピン、−が後ピ
ン、またＩは第3A図の領域A1〜A6に対応する。
ン、またＩは第3A図の領域A1〜A6に対応する。
最初、Ｉ＝１であることから、領域A1を対象にS5にお
いてδAF（１）が150μｍよりも大きいか否かを判別
し、大きい場合には相当前ピンということでS6に進み、
領域１（Ｉ＝１）にＤ（１）＝０が割り当てられる。大
きくない場合にはS7に進み、δAF（１）が 50μｍ＜δAF（１）≦150μｍ の範囲内にあるか否かの判別を行ない、範囲内にある場
合はやや前ピンということでS8に進み、Ｄ（１）＝２が
割り当てられる。
いてδAF（１）が150μｍよりも大きいか否かを判別
し、大きい場合には相当前ピンということでS6に進み、
領域１（Ｉ＝１）にＤ（１）＝０が割り当てられる。大
きくない場合にはS7に進み、δAF（１）が 50μｍ＜δAF（１）≦150μｍ の範囲内にあるか否かの判別を行ない、範囲内にある場
合はやや前ピンということでS8に進み、Ｄ（１）＝２が
割り当てられる。
範囲内にない場合にはS9に進み、δAF（１）が −50μｍ≦δAF（１）≦50μｍ の範囲内にあるか否かの判別を行ない、範囲内にある場
合は合焦ということでS10に進み、Ｄ（１）＝３が割り
当てられる。
合は合焦ということでS10に進み、Ｄ（１）＝３が割り
当てられる。
範囲内にない場合には、S11に進み、δAF（１）が −150μｍ≦δAF＜−50μｍ の範囲内にあるか否かの判別を行ない、範囲内にある場
合にはやや後ピンということでS12に進み、Ｄ（１）＝
１が割り当てられる。範囲内にない場合には、相当後ピ
ンということでD13に進み、Ｄ（１）＝０が割り当てら
れる。
合にはやや後ピンということでS12に進み、Ｄ（１）＝
１が割り当てられる。範囲内にない場合には、相当後ピ
ンということでD13に進み、Ｄ（１）＝０が割り当てら
れる。
以上の分類が終了するとS14に進み、Ｉ＝６でないの
でS3へもどり、次のＩ＝２（領域A2）ついて同様の割り
当てを行なう。そして、６領域全ての割当てが終了する
とS15へ進み、露出演算手段13への出力を行ない、S16で
終了する。
でS3へもどり、次のＩ＝２（領域A2）ついて同様の割り
当てを行なう。そして、６領域全ての割当てが終了する
とS15へ進み、露出演算手段13への出力を行ない、S16で
終了する。
第５図は露出演算手段13の処理内容を示したもので、
S21からスタートし、S22において、分割測光手段３の輝
度出力BV（Ｉ）の読込みを行なう。Ｉは分割測光領域の
数を示し、Ｉ＝１〜８の値をもち、Ｉ＝１は光電変換素
子の1a部分の出力に、Ｉ＝２は1b、以下同様にＩ＝８が
1h部分の出力に各々対応している。
S21からスタートし、S22において、分割測光手段３の輝
度出力BV（Ｉ）の読込みを行なう。Ｉは分割測光領域の
数を示し、Ｉ＝１〜８の値をもち、Ｉ＝１は光電変換素
子の1a部分の出力に、Ｉ＝２は1b、以下同様にＩ＝８が
1h部分の出力に各々対応している。
次にS23において第４図に示した合焦状態分類手段12
の処理により各測距領域に対して割り当てられたＤ
（Ｉ）（Ｉ＝１〜６）を読込む。
の処理により各測距領域に対して割り当てられたＤ
（Ｉ）（Ｉ＝１〜６）を読込む。
S24においては、演算式 に従って、Ｉ＝４〜８の５領域の平均輝度値BRを算出す
る。
る。
S25においては、演算式 に従って、Ｄ（１）〜Ｄ（６）の和を求める。
S26においてＭ≠０の時は少なくともA1〜A6領域の内
の１領域は合焦もしくはそれに近い状態なのでS27へ進
み、演算式、 に従って、各領域の輝度値に合焦状態で重み付けを行な
って中央部の輝度値を算出する。
の１領域は合焦もしくはそれに近い状態なのでS27へ進
み、演算式、 に従って、各領域の輝度値に合焦状態で重み付けを行な
って中央部の輝度値を算出する。
これら（１）〜（３）式から明らかなように、合焦状
態が良い部分ほど、その部分の測光値が重視されること
になる。
態が良い部分ほど、その部分の測光値が重視されること
になる。
S28においてはBRとBCの輝度差を演算し、2EVを越える
時はS29に進んで、中央部のみの演算値BCを露出値とし
てＢに与える。また、輝度差が2EV以下の時は、S30に進
んで中央部と周辺部の各演算値の平均（BC＋BR）/2を露
出値としてＢに与える。
時はS29に進んで、中央部のみの演算値BCを露出値とし
てＢに与える。また、輝度差が2EV以下の時は、S30に進
んで中央部と周辺部の各演算値の平均（BC＋BR）/2を露
出値としてＢに与える。
また、S26にもどってＭ＝０の時は６領域A1〜A6共に
相当前ピンもしくは相当後ピンのため、S13に進んで、
周辺部の演算値BRを露出値としてＢに与える。
相当前ピンもしくは相当後ピンのため、S13に進んで、
周辺部の演算値BRを露出値としてＢに与える。
そして、S32へ進んで結果を露出制御手段14へ出力
し、S33で終了する。
し、S33で終了する。
第６図は本発明の第２の実施例を示し、第１図と同様
の働きをする部分には同一の番号を付し、またその説明
は省略する。
の働きをする部分には同一の番号を付し、またその説明
は省略する。
第１図と異なる部分としては、分割測光手段３に設け
た光電変換手段21が、21a〜21eの５領域に分割されてい
る点と、中央部分の測光を焦点検出回路８の出力を測光
回路22を介して求めている点とがある。測光回路22は、
焦点検出回路８で得られたCCD型光電変換素子群７の各
素子の電荷蓄積時間に応じて輝度値を決定するようにな
されているが、実施にあたっては必ずしもこの方式に限
るものではない。
た光電変換手段21が、21a〜21eの５領域に分割されてい
る点と、中央部分の測光を焦点検出回路８の出力を測光
回路22を介して求めている点とがある。測光回路22は、
焦点検出回路８で得られたCCD型光電変換素子群７の各
素子の電荷蓄積時間に応じて輝度値を決定するようにな
されているが、実施にあたっては必ずしもこの方式に限
るものではない。
第７図は露出演算手段23の処理内容を示す。
ますS41でスタートし、S42で光電変換素子21の21a〜2
1e領域の各輝度値を、BV（７）〜BV（11）として読み込
む。次にS43で測光回路22から、測距用光電変換素子群
７の各素子の輝度値をbv（ｉ）として、bv（１）〜bv
（120）まで読込む。そしてS44で合焦状態分類手段12か
ら、Ｄ（Ｉ）をＤ（１）〜Ｄ（６）まで読込む。
1e領域の各輝度値を、BV（７）〜BV（11）として読み込
む。次にS43で測光回路22から、測距用光電変換素子群
７の各素子の輝度値をbv（ｉ）として、bv（１）〜bv
（120）まで読込む。そしてS44で合焦状態分類手段12か
ら、Ｄ（Ｉ）をＤ（１）〜Ｄ（６）まで読込む。
S45では演算式、 に従って、光電変換素子21の21a〜21eの平均値を演算す
る。
る。
S46では、演算式、 に従って、bv（１）〜bv（20）の平均値をBV（１）に、
bv（21）〜bv（40）の平均値をBV（２）に、以下同様に
してBV（６）までに割り当てる。
bv（21）〜bv（40）の平均値をBV（２）に、以下同様に
してBV（６）までに割り当てる。
S47では、演算式、 に従って、Ｄ（１）〜Ｄ（６）の和を求める。
S48において、Ｍ≠０の時は、少なくとも１領域は合
焦もしくはそれに近い状態なので、S49へ進み、演算
式、 に従って、各領域の輝度値に合焦状態で重み付けを行な
って中央部の輝度値を算出する。
焦もしくはそれに近い状態なので、S49へ進み、演算
式、 に従って、各領域の輝度値に合焦状態で重み付けを行な
って中央部の輝度値を算出する。
これら（４）〜（７）式から明らかなように、合焦状
態が良い部分ほど、その部分の測光値が重視されること
になる。以下S50〜S55は、第５図のS28〜S33と同様であ
るので、説明は省略する。
態が良い部分ほど、その部分の測光値が重視されること
になる。以下S50〜S55は、第５図のS28〜S33と同様であ
るので、説明は省略する。
第８図乃至第12図は本発明の第３実施例を示す。
この第３実施例は第８図に示すように、第２図の周辺
部に、測光領域1a,1eと、そこに対応した測距領域A1,A8
とを新たに配設したものである。
部に、測光領域1a,1eと、そこに対応した測距領域A1,A8
とを新たに配設したものである。
第9A図は光電変換素子群の測距領域A1〜A8を横軸に、
ピントズレ量δAFとその方向を縦軸にとったもので、横
軸の測距領域A1〜A8の位置関係は第9B図に示され、また
横軸の測光領域1a〜1eの位置関係は第9C図に対応して示
される。
ピントズレ量δAFとその方向を縦軸にとったもので、横
軸の測距領域A1〜A8の位置関係は第9B図に示され、また
横軸の測光領域1a〜1eの位置関係は第9C図に対応して示
される。
また第３実施例にあっては第11図の合焦状態分類手段
による処理フローの中にピントズレ量の分類の境界値
を、撮影倍率Ｍによって変更するようになしたことを特
徴とする。
による処理フローの中にピントズレ量の分類の境界値
を、撮影倍率Ｍによって変更するようになしたことを特
徴とする。
即ち、第11図のS100で焦点距離ｆを検出し、S101で撮
影距離ｘを検出し、更にS102で撮影倍率Ｔを、 Ｔ＝f/x として算出する。
影距離ｘを検出し、更にS102で撮影倍率Ｔを、 Ｔ＝f/x として算出する。
続いてS103〜S106の処理でピントズレ量の分類の境界
値δ１〜δ４を、 δ１＝（９×105）・T2＋60 δ２＝（２×105）・T2＋30 δ３＝（−２×105）・T2−30 δ４＝（−９×105）・T2−60 として算出する。
値δ１〜δ４を、 δ１＝（９×105）・T2＋60 δ２＝（２×105）・T2＋30 δ３＝（−２×105）・T2−30 δ４＝（−９×105）・T2−60 として算出する。
第10図は第11図のS100〜S106の処理で得られたピント
ズレ量の分類の境界値δ１〜δ４の撮影倍率Ｔに対する
曲線の例を示す。
ズレ量の分類の境界値δ１〜δ４の撮影倍率Ｔに対する
曲線の例を示す。
第10図において、例えば撮影倍率Ｔに対する分類の境
界を具体的にみると、 Ｔ＝1/100のとき、 ＋150＜δAF ・・・相当前ピン − 50＜δAF≦＋150 ・・・やや前ピン − 50≦δAF≦＋ 50 ・・・合焦 −150≦δAF＜− 50 ・・・やや後ピン δAF＜−150 ・・・相当後ピン Ｔ＝1/20のとき、 ＋2300＜δAF ・・・相当前ピン ＋ 530≦δAF≦＋2300 ・・・やや前ピン − 530≦δAF≦＋ 530 ・・・合焦 −2300≦δAF＜− 530 ・・・やや後ピン δAF＜−2300 ・・・相当後ピン となる。
界を具体的にみると、 Ｔ＝1/100のとき、 ＋150＜δAF ・・・相当前ピン − 50＜δAF≦＋150 ・・・やや前ピン − 50≦δAF≦＋ 50 ・・・合焦 −150≦δAF＜− 50 ・・・やや後ピン δAF＜−150 ・・・相当後ピン Ｔ＝1/20のとき、 ＋2300＜δAF ・・・相当前ピン ＋ 530≦δAF≦＋2300 ・・・やや前ピン − 530≦δAF≦＋ 530 ・・・合焦 −2300≦δAF＜− 530 ・・・やや後ピン δAF＜−2300 ・・・相当後ピン となる。
第11図のS2以降の処理は第４図の場合と基本的に同じ
であるが、S5,S7,S9,S11における境界値がS103〜S106で
算出された境界値δ１〜δ４となっている点が相違す
る。またS14の領域番号Ｉの最大値はＩ＝８となってい
る。
であるが、S5,S7,S9,S11における境界値がS103〜S106で
算出された境界値δ１〜δ４となっている点が相違す
る。またS14の領域番号Ｉの最大値はＩ＝８となってい
る。
第12図は第11図の処理に続いて実行される第３実施例
の露出演算手段による処理フローを示し、第５図の処理
フローに対応している。
の露出演算手段による処理フローを示し、第５図の処理
フローに対応している。
第12図の場合、第８図に示したように、測距領域をA1
〜A8と８つに増し、測光領域が1a〜1jと10に増している
ことから、これに対応してS22でＩ＝１〜10について輝
度出力BV（Ｉ）を読込み、またS23でＩ＝１〜８として
第11図の処理により各測距領域に割当てられたＤ（Ｉ）
を読込む。
〜A8と８つに増し、測光領域が1a〜1jと10に増している
ことから、これに対応してS22でＩ＝１〜10について輝
度出力BV（Ｉ）を読込み、またS23でＩ＝１〜８として
第11図の処理により各測距領域に割当てられたＤ（Ｉ）
を読込む。
またS24ではＩ＝６〜10の５領域の平均輝度値BRを算
出する。S25ではＩ＝１〜８で決まるＤ（１）〜Ｄ
（８）の総和を求める。
出する。S25ではＩ＝１〜８で決まるＤ（１）〜Ｄ
（８）の総和を求める。
S27ではＩ＝１〜５の各領域の輝度値BV（１）〜BV
（５）に合焦状態による重み付けを行って中央部の輝度
値BCを算出している。それ以外は第５図と同じである。
（５）に合焦状態による重み付けを行って中央部の輝度
値BCを算出している。それ以外は第５図と同じである。
［発明の効果］ 以上のように本発明によれば、焦点検出領域を複数単
位に分割し、各単位毎に合焦状態を検知しうるようにな
し、この合焦状態情報を用いて複数に分割された測光領
域の出力に重み付けを行なって適正露出を算出するよう
になしたので、バランスの良い露出の写真が得られる。
位に分割し、各単位毎に合焦状態を検知しうるようにな
し、この合焦状態情報を用いて複数に分割された測光領
域の出力に重み付けを行なって適正露出を算出するよう
になしたので、バランスの良い露出の写真が得られる。
更に、第２及び第３実施例の如く焦点検出手段の出力
を用いて測光出力を算出するようにすれば、測光領域の
細かい分割が可能になり、また測光手段と焦点検出手段
との位置合わせが不要になる等、より多くの効果が期待
できる。
を用いて測光出力を算出するようにすれば、測光領域の
細かい分割が可能になり、また測光手段と焦点検出手段
との位置合わせが不要になる等、より多くの効果が期待
できる。
第１図は本発明による装置の第１実施例のブロック図； 第２図は分割測光手段の測光用光電変換素子と焦点検出
手段の光電変換素子群との位置関係図； 第3A,3B,3C図は光電変換素子群を６領域に分割した時の
各領域の合焦状態と各領域に対応した測光領域図の関係
の図； 第４図は合焦状態分類手段による処理フロー図； 第５図は露出演算手段による処理フロー図； 第６図は本発明の第２実施例を示したブロック図； 第７図は第２実施例の露出演算手段による処理フロー図
である。 第８図は本発明の第３実施例の分割測光手段の測光用光
電変換素子と焦点検出手段の光電変換素子群との位置関
係図； 第9A,9B,9C図は第３実施例で光電変換素子群を８領域に
分割した時の各領域の合焦状態と各領域に対応した測光
領域図の関係の図； 第10図は第11図の処理フローにおけるピントズレ量の分
類境界値の撮影倍率に対する曲線を示した図； 第11図は合焦状態分類手段による処理フロー図； 第12図は露出演算手段による処理フロー図である。 ［主要部分の符号の説明］ 1:測光用光電変換素子 3:分割測光手段 7:測距用光電変換素子群 9:焦点検出手段 12:合焦状態分類手段 13:露出演算手段 14:露出制御手段
手段の光電変換素子群との位置関係図； 第3A,3B,3C図は光電変換素子群を６領域に分割した時の
各領域の合焦状態と各領域に対応した測光領域図の関係
の図； 第４図は合焦状態分類手段による処理フロー図； 第５図は露出演算手段による処理フロー図； 第６図は本発明の第２実施例を示したブロック図； 第７図は第２実施例の露出演算手段による処理フロー図
である。 第８図は本発明の第３実施例の分割測光手段の測光用光
電変換素子と焦点検出手段の光電変換素子群との位置関
係図； 第9A,9B,9C図は第３実施例で光電変換素子群を８領域に
分割した時の各領域の合焦状態と各領域に対応した測光
領域図の関係の図； 第10図は第11図の処理フローにおけるピントズレ量の分
類境界値の撮影倍率に対する曲線を示した図； 第11図は合焦状態分類手段による処理フロー図； 第12図は露出演算手段による処理フロー図である。 ［主要部分の符号の説明］ 1:測光用光電変換素子 3:分割測光手段 7:測距用光電変換素子群 9:焦点検出手段 12:合焦状態分類手段 13:露出演算手段 14:露出制御手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 内山 重之 東京都品川区西大井１丁目６番３号 株 式会社ニコン大井製作所内 (72)発明者 岩崎 宏之 東京都品川区西大井１丁目６番３号 株 式会社ニコン大井製作所内
Claims (5)
- 【請求項１】所定の焦点検出領域内を複数領域に分割し
て各分割領域毎にデフォーカス量を検出する検出焦点検
出手段と； 前記焦点検出手段で検出された前記分割焦点検出領域の
各デフォーカス量に基づいて前記分割焦点検出領域の各
々に対応する重み付け量を設定する重付け手段と； 所定の測光領域内を分割して測光する分割測光手段と； 少なくとも前記焦点検出領域に重複する前記分割測光領
域の測光情報と、前記重み付け手段で分割焦点検出領域
毎に設定された重み付け量を使用して適性露出を算出す
る露出演算手段と； を備えたことを特徴とするカメラの露出制御装置。 - 【請求項２】前記重み付け手段は、前記デフォーカス量
を前ピン領域と後ピン領域とに分け、同じデフォーカス
量であっても前ピン領域の重み付け量と後ピン領域の重
み付け量とを異なる値に設定したことを特徴とする請求
項１記載のカメラの露出制御装置。 - 【請求項３】前記重み付け手段は、異なる重み値を設定
する前記デフォーカス量の分類境界値を、撮影倍率に応
じて変更することを特徴とする請求項１記載のカメラの
露出制御装置。 - 【請求項４】前記焦点検出手段は光電変換素子群を有
し、前記分割測光手段は該光電変換素子群の出力を用い
て測光を行うことを特徴とする請求項１記載のカメラの
露出制御装置。 - 【請求項５】所定の焦点検出領域内を複数領域に分割し
て各分割領域毎にデフォーカス量を検出する焦点検出手
段と； 前記焦点検出手段で検出された前記分割焦点検出領域の
各デフォーカス量に基づいて前記分割焦点検出領域の各
々に対応する重み付け量を設定する重み付け手段と； 少なくとも前記焦点検出領域の重複する測光領域内を分
割して測光する第１の測光手段と； 少なくとも該第１の測光手段の測光領域以外の領域を測
光する第２の測光手段と； 該焦点検出手段の出力に所定デフォーカス量以内の値が
存在するときは、少なくとも前記第１の測光手段の出力
を用いて適正露出を算出し、存在しないときは前記第２
の測光手段の出力を用いて適正露出を算出する露出算出
手段と； を備えたことを特徴とするカメラの露出制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22272690A JP3224535B2 (ja) | 1989-09-06 | 1990-08-24 | カメラの露出制御装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23104189 | 1989-09-06 | ||
| JP1-231041 | 1989-09-06 | ||
| JP22272690A JP3224535B2 (ja) | 1989-09-06 | 1990-08-24 | カメラの露出制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03174127A JPH03174127A (ja) | 1991-07-29 |
| JP3224535B2 true JP3224535B2 (ja) | 2001-10-29 |
Family
ID=26525036
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22272690A Expired - Lifetime JP3224535B2 (ja) | 1989-09-06 | 1990-08-24 | カメラの露出制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3224535B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8200080B2 (en) | 2009-08-31 | 2012-06-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Image sensing apparatus and exposure control method |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5319416A (en) * | 1990-10-16 | 1994-06-07 | Nikon Corporation | Exposure calculation device for camera |
| JP4708578B2 (ja) * | 2001-02-01 | 2011-06-22 | キヤノン株式会社 | 撮像装置 |
| JP5500916B2 (ja) * | 2009-08-31 | 2014-05-21 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及びその制御方法 |
| JP5822492B2 (ja) * | 2011-03-15 | 2015-11-24 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び制御方法 |
-
1990
- 1990-08-24 JP JP22272690A patent/JP3224535B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8200080B2 (en) | 2009-08-31 | 2012-06-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Image sensing apparatus and exposure control method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03174127A (ja) | 1991-07-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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