JP3293610B2 - 電磁トランスポンダ及び端末間の距離の検出 - Google Patents
電磁トランスポンダ及び端末間の距離の検出Info
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- G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
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- G06K7/0008—General problems related to the reading of electronic memory record carriers, independent of its reading method, e.g. power transfer
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- G06K19/067—Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
- G06K19/07—Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
- G06K19/0723—Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips the record carrier comprising an arrangement for non-contact communication, e.g. wireless communication circuits on transponder cards, non-contact smart cards or RFIDs
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電磁トランスポン
ダを使用したシステムに関する。電磁トランスポンダ
は、読取り/書込み端末と呼ばれる(一般に固定式の)
装置から、非接触の無線方式で、質問を受けることがで
きる(一般に移動式の)トランシーバである。より詳細
には本発明は、独立した電源を持たないトランスポンダ
に関する。このようなトランスポンダは、自体に含まれ
る電子回路が必要とする電源を、読取り/書込み端末の
アンテナから放射された高周波電磁界から取り出す。本
発明は、トランスポンダ・データの読取りだけをおこな
う端末とともに動作するように適合された読取り専用ト
ランスポンダ、または端末によって修正可能なデータを
含む読取り/書込みトランスポンダに適用される。
ダを使用したシステムに関する。電磁トランスポンダ
は、読取り/書込み端末と呼ばれる(一般に固定式の)
装置から、非接触の無線方式で、質問を受けることがで
きる(一般に移動式の)トランシーバである。より詳細
には本発明は、独立した電源を持たないトランスポンダ
に関する。このようなトランスポンダは、自体に含まれ
る電子回路が必要とする電源を、読取り/書込み端末の
アンテナから放射された高周波電磁界から取り出す。本
発明は、トランスポンダ・データの読取りだけをおこな
う端末とともに動作するように適合された読取り専用ト
ランスポンダ、または端末によって修正可能なデータを
含む読取り/書込みトランスポンダに適用される。
【0002】本発明は、さらに具体的には、トランスポ
ンダによるトランスポンダと端末を隔てる距離の検出に
関し、さらに具体的には、装置動作を条件付ける端末の
距離スレッシュホールドに対するトランスポンダの位置
の検出に関する。
ンダによるトランスポンダと端末を隔てる距離の検出に
関し、さらに具体的には、装置動作を条件付ける端末の
距離スレッシュホールドに対するトランスポンダの位置
の検出に関する。
【0003】
【従来の技術】電磁トランスポンダは、トランスポンダ
側および読取り/書込み端末側にあって、アンテナを形
成する巻線を含む発振回路の使用に基づく。これらの回
路は、トランスポンダが読取り/書込み端末の磁界の中
に入ったときに、密な磁界によって結合される。トラン
スポンダ・システムの範囲、すなわち、トランスポンダ
が活動化される端末から最も遠い地点までの距離は、特
に、トランスポンダのアンテナ・サイズ、磁界を発生さ
せている発振回路のコイルの励磁周波数、励磁の強さ、
およびトランスポンダの電力消費によって決まる。
側および読取り/書込み端末側にあって、アンテナを形
成する巻線を含む発振回路の使用に基づく。これらの回
路は、トランスポンダが読取り/書込み端末の磁界の中
に入ったときに、密な磁界によって結合される。トラン
スポンダ・システムの範囲、すなわち、トランスポンダ
が活動化される端末から最も遠い地点までの距離は、特
に、トランスポンダのアンテナ・サイズ、磁界を発生さ
せている発振回路のコイルの励磁周波数、励磁の強さ、
およびトランスポンダの電力消費によって決まる。
【0004】図1に、読取り/書込み装置1(STA)
とトランスポンダ10(CAR)の間でデータを交換す
る従来型のデータ交換システムの一例を、機能的かつ極
めて概略的に示す。
とトランスポンダ10(CAR)の間でデータを交換す
る従来型のデータ交換システムの一例を、機能的かつ極
めて概略的に示す。
【0005】一般に端末1は、実質的に、増幅器すなわ
ちアンテナ結合器3(DRIV)の出力端子2pと基準
電位(一般に大地電位)にある端子2mとの間にあっ
て、コンデンサC1および抵抗器R1と直列に接続され
たインダクタンスL1から成る発振回路から構成され
る。増幅器3は、変調器4(MOD)が供給した高周波
伝送信号Txを受け取る。この変調器は、例えば水晶発
振器5からの基準周波を受け取り、さらに、必要に応じ
て送信データ信号を受け取る。端末1からトランスポン
ダ10へのデータ伝送が実施されない場合、信号Txは
単に、トランスポンダが電磁界の中に入った場合にトラ
ンスポンダを活動化させる電源として使用される。送信
データは、一般にディジタル方式の電子システム、例え
ばマイクロプロセッサ6(μP)から供給される。
ちアンテナ結合器3(DRIV)の出力端子2pと基準
電位(一般に大地電位)にある端子2mとの間にあっ
て、コンデンサC1および抵抗器R1と直列に接続され
たインダクタンスL1から成る発振回路から構成され
る。増幅器3は、変調器4(MOD)が供給した高周波
伝送信号Txを受け取る。この変調器は、例えば水晶発
振器5からの基準周波を受け取り、さらに、必要に応じ
て送信データ信号を受け取る。端末1からトランスポン
ダ10へのデータ伝送が実施されない場合、信号Txは
単に、トランスポンダが電磁界の中に入った場合にトラ
ンスポンダを活動化させる電源として使用される。送信
データは、一般にディジタル方式の電子システム、例え
ばマイクロプロセッサ6(μP)から供給される。
【0006】図1に示した例では、コンデンサC1とイ
ンダクタンスL1との節点が、トランスポンダ10から
受信し、復調器7(DEM)に送るデータ信号Rxをサ
ンプリングする端子を形成する。復調器の出力は、トラ
ンスポンダ10から受信したデータを、(必要ならば復
号器(DEC)8を介して)読取り/書込み端末1のマ
イクロプロセッサ6に伝達する。復調器7は、一般に発
振器5から、位相復調用のクロックすなわち基準信号を
受け取る。復調は、インダクタンスL1の両端ではな
く、コンデンサC1と抵抗器R1の間でサンプリングし
た信号を基に実行してもよい。マイクロプロセッサ6
は、(バスEXTを介して)さまざまな入出力回路(キ
ーボード、スクリーン、プロバイダへの送信手段な
ど)、および/または処理回路と通信する。読取り/書
込み端末の回路は、動作に必要な電力を、例えば給電シ
ステムに接続された電源回路9(ALIM)から取り出
す。
ンダクタンスL1との節点が、トランスポンダ10から
受信し、復調器7(DEM)に送るデータ信号Rxをサ
ンプリングする端子を形成する。復調器の出力は、トラ
ンスポンダ10から受信したデータを、(必要ならば復
号器(DEC)8を介して)読取り/書込み端末1のマ
イクロプロセッサ6に伝達する。復調器7は、一般に発
振器5から、位相復調用のクロックすなわち基準信号を
受け取る。復調は、インダクタンスL1の両端ではな
く、コンデンサC1と抵抗器R1の間でサンプリングし
た信号を基に実行してもよい。マイクロプロセッサ6
は、(バスEXTを介して)さまざまな入出力回路(キ
ーボード、スクリーン、プロバイダへの送信手段な
ど)、および/または処理回路と通信する。読取り/書
込み端末の回路は、動作に必要な電力を、例えば給電シ
ステムに接続された電源回路9(ALIM)から取り出
す。
【0007】トランスポンダ10側では、コンデンサC
2と並列のインダクタンスL2が、端末1の直列発振回
路L1とC1によって生成された電磁界を捕捉するため
の並列発振回路(受信共振回路と呼ばれる)を形成す
る。トランスポンダ10の共振回路(L2、C2)は、
端末1の発振回路(L1、C1)の周波数と同調され
る。
2と並列のインダクタンスL2が、端末1の直列発振回
路L1とC1によって生成された電磁界を捕捉するため
の並列発振回路(受信共振回路と呼ばれる)を形成す
る。トランスポンダ10の共振回路(L2、C2)は、
端末1の発振回路(L1、C1)の周波数と同調され
る。
【0008】コンデンサC2の端子に対応する共振回路
L2、C2の端子11、12は、例えば4つのダイオー
ドD1、D2、D3、D4から形成された整流ブリッジ
13の2つの交流入力端子に接続される。図1の表示で
は、ダイオードD1の陽極およびダイオードD3の陰極
が、端子11に接続されている。ダイオードD2の陽極
およびダイオードD4の陰極は、端子12に接続され
る。ダイオードD1、D2の陰極は、正の整流出力端子
14を形成する。ダイオードD3およびD4の陽極は、
整流電圧の基準端子15を形成する。コンデンサCa
が、ブリッジ13の整流出力端子14、15に接続さ
れ、ブリッジによって供給された電力を蓄積し、整流さ
れた電圧を平滑化する。このダイオード・ブリッジの代
わりに、単一の半波整流アセンブリを使用してもよい。
L2、C2の端子11、12は、例えば4つのダイオー
ドD1、D2、D3、D4から形成された整流ブリッジ
13の2つの交流入力端子に接続される。図1の表示で
は、ダイオードD1の陽極およびダイオードD3の陰極
が、端子11に接続されている。ダイオードD2の陽極
およびダイオードD4の陰極は、端子12に接続され
る。ダイオードD1、D2の陰極は、正の整流出力端子
14を形成する。ダイオードD3およびD4の陽極は、
整流電圧の基準端子15を形成する。コンデンサCa
が、ブリッジ13の整流出力端子14、15に接続さ
れ、ブリッジによって供給された電力を蓄積し、整流さ
れた電圧を平滑化する。このダイオード・ブリッジの代
わりに、単一の半波整流アセンブリを使用してもよい。
【0009】トランスポンダ10が端末1の電磁界の中
にあるとき、共振回路L2、C2の両端に高周波電圧が
発生する。この電圧は、ブリッジ13によって整流さ
れ、コンデンサCaによって平滑化されて、電圧調整器
16(REG)を介してトランスポンダの電子回路に電
源電圧を供給する。一般にこのような回路には、実質
上、(図示されていないメモリに結合された)マイクロ
プロセッサ(μP)17、端末1から受信した信号の復
調器18(DEM)、および端末1に情報を送信する変
調器19(MOD)などが含まれる。トランスポンダは
一般に、コンデンサC2の両端で整流前に再生された高
周波信号からブロック20によって取り出されたクロッ
ク(CLK)によって同期がとられる。多くの場合、ト
ランスポンダ10の全ての電子回路は同じチップに集積
化される。
にあるとき、共振回路L2、C2の両端に高周波電圧が
発生する。この電圧は、ブリッジ13によって整流さ
れ、コンデンサCaによって平滑化されて、電圧調整器
16(REG)を介してトランスポンダの電子回路に電
源電圧を供給する。一般にこのような回路には、実質
上、(図示されていないメモリに結合された)マイクロ
プロセッサ(μP)17、端末1から受信した信号の復
調器18(DEM)、および端末1に情報を送信する変
調器19(MOD)などが含まれる。トランスポンダは
一般に、コンデンサC2の両端で整流前に再生された高
周波信号からブロック20によって取り出されたクロッ
ク(CLK)によって同期がとられる。多くの場合、ト
ランスポンダ10の全ての電子回路は同じチップに集積
化される。
【0010】トランスポンダ10から装置1にデータを
送信するためには、変調器19が、共振回路L2、C2
の変調(戻し変調(back modulatio
n))段を制御する。この変調段は一般に、端子14と
15の間で直列な電子スイッチ(例えばトランジスタ
T)と抵抗器Rから成る。トランジスタTは、端末1の
発振回路の励振信号の周波数(例えば13.56MH
z)よりもはるかに低い(一般に少なくとも1/1
0)、いわゆるサブキャリア周波数(例えば847.5
kHz)で制御される。スイッチTが閉じているとき、
トランスポンダの発振回路には、回路16、17、1
8、19および20から成る負荷に加えて追加の制動
(damping)が加えられ、そのため、トランスポ
ンダは、高周波電磁界からより多くの電力を引き出す。
端末1側では、増幅器3が、高周波励振信号の振幅を一
定に維持している。したがってトランスポンダの電力変
動は、アンテナL1を流れる電流の振幅および位相変動
に変換される。この変化は、位相復調器または振幅復調
器である端末1の復調器7によって検出される。例えば
位相復調の場合、トランスポンダのスイッチTが閉じて
いるサブキャリアの半周期の間に、復調器が、基準信号
に対する信号Rxのキャリアのわずかな移相(数度、ま
たは1度未満)を検出する。復調器7の出力(一般にサ
ブキャリア周波数を中心周波数とする帯域フィルタの出
力)は、スイッチTの制御信号の影像信号を供給する。
この信号を(復号器8によって、または直接にマイクロ
プロセッサ6によって)復号して元の2進データを復元
することができる。
送信するためには、変調器19が、共振回路L2、C2
の変調(戻し変調(back modulatio
n))段を制御する。この変調段は一般に、端子14と
15の間で直列な電子スイッチ(例えばトランジスタ
T)と抵抗器Rから成る。トランジスタTは、端末1の
発振回路の励振信号の周波数(例えば13.56MH
z)よりもはるかに低い(一般に少なくとも1/1
0)、いわゆるサブキャリア周波数(例えば847.5
kHz)で制御される。スイッチTが閉じているとき、
トランスポンダの発振回路には、回路16、17、1
8、19および20から成る負荷に加えて追加の制動
(damping)が加えられ、そのため、トランスポ
ンダは、高周波電磁界からより多くの電力を引き出す。
端末1側では、増幅器3が、高周波励振信号の振幅を一
定に維持している。したがってトランスポンダの電力変
動は、アンテナL1を流れる電流の振幅および位相変動
に変換される。この変化は、位相復調器または振幅復調
器である端末1の復調器7によって検出される。例えば
位相復調の場合、トランスポンダのスイッチTが閉じて
いるサブキャリアの半周期の間に、復調器が、基準信号
に対する信号Rxのキャリアのわずかな移相(数度、ま
たは1度未満)を検出する。復調器7の出力(一般にサ
ブキャリア周波数を中心周波数とする帯域フィルタの出
力)は、スイッチTの制御信号の影像信号を供給する。
この信号を(復号器8によって、または直接にマイクロ
プロセッサ6によって)復号して元の2進データを復元
することができる。
【0011】データ伝送は、一方から他方へ、次いで他
方から一方へと交互に実施され(半二重)、トランスポ
ンダからデータを受信している間は、端末はデータを送
信しない。
方から一方へと交互に実施され(半二重)、トランスポ
ンダからデータを受信している間は、端末はデータを送
信しない。
【0012】図2は、端末1からトランスポンダ10へ
のデータ伝送の従来例を示している。この図は、コード
1011を伝送するアンテナL1の励振信号の形状例を
示している。現在使用されている変調は、速度106k
bit/s(1ビットはおよそ9.5μsで伝送され
る)の振幅変調で、発振器5からくるキャリア(およそ
74nsの周期)の周波数(例えば13.56MHz)
よりもかなり低い。この振幅変調は、全か無かの法則又
は変調比(2つの状態(0及び1)間の頂点の振幅の差
をこれらの振幅の総計で除算された値として定義され
る)で行われ、トランスポンダ10への電力供給の必要
性により1より小さい。図2の例において、13.56
MHzのキャリアは、106kbits/sの速度、1
0%の変調比tmで振幅変調される。
のデータ伝送の従来例を示している。この図は、コード
1011を伝送するアンテナL1の励振信号の形状例を
示している。現在使用されている変調は、速度106k
bit/s(1ビットはおよそ9.5μsで伝送され
る)の振幅変調で、発振器5からくるキャリア(およそ
74nsの周期)の周波数(例えば13.56MHz)
よりもかなり低い。この振幅変調は、全か無かの法則又
は変調比(2つの状態(0及び1)間の頂点の振幅の差
をこれらの振幅の総計で除算された値として定義され
る)で行われ、トランスポンダ10への電力供給の必要
性により1より小さい。図2の例において、13.56
MHzのキャリアは、106kbits/sの速度、1
0%の変調比tmで振幅変調される。
【0013】図3は、トランスポンダ10から端末1へ
のデータ伝送の従来例を示している。この図は、変調器
19から提供され、コード1011を伝送するトランジ
スタTの制御信号の形状例を示している。トランスポン
ダ側の戻し変調は一般に、例えば847.5kHz(お
よそ1.18μsの周期)のキャリアを有する抵抗型
(サブキャリアと呼ばれる)である。戻し変調は、例え
ば、速度106kbits/s程度のBPSK型(二相
偏移キーイング;binary phase-shift keying)の符号
化に基づき、サブキャリア周波数よりかなり低い。
のデータ伝送の従来例を示している。この図は、変調器
19から提供され、コード1011を伝送するトランジ
スタTの制御信号の形状例を示している。トランスポン
ダ側の戻し変調は一般に、例えば847.5kHz(お
よそ1.18μsの周期)のキャリアを有する抵抗型
(サブキャリアと呼ばれる)である。戻し変調は、例え
ば、速度106kbits/s程度のBPSK型(二相
偏移キーイング;binary phase-shift keying)の符号
化に基づき、サブキャリア周波数よりかなり低い。
【0014】どの種類の変調または戻し変調(例えば振
幅、位相、周波数)を使用するとしても、また、どの種
類のデータ符号化(NRZ、NRZI、マンチェスタ
ー、ASK、BPSKなど)を使用するとしても、この
変調または戻し変調は、2つの2値レベルの間をジャン
プする、ディジタル方式で実行される。
幅、位相、周波数)を使用するとしても、また、どの種
類のデータ符号化(NRZ、NRZI、マンチェスタ
ー、ASK、BPSKなど)を使用するとしても、この
変調または戻し変調は、2つの2値レベルの間をジャン
プする、ディジタル方式で実行される。
【0015】端末およびトランスポンダの発振回路は一
般に、キャリア波数に同調される。すなわち、発振回路
の共振周波数が13.56MHz周波数にセットされ
る。この同調の目的は、一般にさまざまなトランスポン
ダ構成部品を集積化したクレジット・カード・サイズの
カードであるトランスポンダへの電力伝播を最大にする
ことにある。
般に、キャリア波数に同調される。すなわち、発振回路
の共振周波数が13.56MHz周波数にセットされ
る。この同調の目的は、一般にさまざまなトランスポン
ダ構成部品を集積化したクレジット・カード・サイズの
カードであるトランスポンダへの電力伝播を最大にする
ことにある。
【0016】いくつかの応用において、トランスポンダ
と端末を隔てる距離、又は距離スレッシュホールドに対
するトランスポンダの位置を知ることが望まれる。こう
した距離検出は、例えば、トランスポンダが読取り器に
近い(2から10cm程度)又は非常に近い(およそ2
cm以下)かどうかに応じて、装置を動作モード又は別
のものに切替えるのに使用される。近接の概念は、アン
テナL1及びL2が互いに離れている距離を包含する。
と端末を隔てる距離、又は距離スレッシュホールドに対
するトランスポンダの位置を知ることが望まれる。こう
した距離検出は、例えば、トランスポンダが読取り器に
近い(2から10cm程度)又は非常に近い(およそ2
cm以下)かどうかに応じて、装置を動作モード又は別
のものに切替えるのに使用される。近接の概念は、アン
テナL1及びL2が互いに離れている距離を包含する。
【0017】WO−A−97/34250は、電子ラベ
ルと互いに接触しないで情報交換する装置を提供し、こ
の装置は、ラベルと装置間の距離を表す信号を、ラベル
が送信する信号に基づき予備的処理する手段を有する。
これらの手段は、情報交換装置に対して、ラベルからく
る情報が所定の値のウィンドウ内に含まれることを判定
し、伝送するために使用される。この文書で記述される
装置は、ラベルにより提供される低周波数変調の振幅測
定を使用し、ラベルは装置から送られた読取り制御信号
に応答する。この文書によれば、この変調振幅はラベル
と情報交換装置を隔てる距離を表している。
ルと互いに接触しないで情報交換する装置を提供し、こ
の装置は、ラベルと装置間の距離を表す信号を、ラベル
が送信する信号に基づき予備的処理する手段を有する。
これらの手段は、情報交換装置に対して、ラベルからく
る情報が所定の値のウィンドウ内に含まれることを判定
し、伝送するために使用される。この文書で記述される
装置は、ラベルにより提供される低周波数変調の振幅測
定を使用し、ラベルは装置から送られた読取り制御信号
に応答する。この文書によれば、この変調振幅はラベル
と情報交換装置を隔てる距離を表している。
【0018】この文書の距離検出が端末側で行われると
いう事実に加え、この検出はトランスポンダから送信さ
れた戻し変調信号の復調を必要とし、同様に復調信号の
予備的処理も必要となる。それはそこから距離情報を抽
出するためである。
いう事実に加え、この検出はトランスポンダから送信さ
れた戻し変調信号の復調を必要とし、同様に復調信号の
予備的処理も必要となる。それはそこから距離情報を抽
出するためである。
【0019】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、トラ
ンスポンダ及び読取り器間の距離測定に関する新規の解
決策を提供することにある。特に、本発明の目的は、ト
ランスポンダ側で実施され、読取り/書込み端末側では
実施されない解決策を提供することにある。
ンスポンダ及び読取り器間の距離測定に関する新規の解
決策を提供することにある。特に、本発明の目的は、ト
ランスポンダ側で実施され、読取り/書込み端末側では
実施されない解決策を提供することにある。
【0020】本発明のさらなる目的は、トランスポンダ
と端末を隔てる距離スレッシュホールドに対するトラン
スポンダの位置を容易に検出できる解決策を提供するこ
とにある。
と端末を隔てる距離スレッシュホールドに対するトラン
スポンダの位置を容易に検出できる解決策を提供するこ
とにある。
【0021】本発明のさらなる目的は、装置環境に応じ
て自己適合する距離スレッシュホールドを提供すること
にある。
て自己適合する距離スレッシュホールドを提供すること
にある。
【0022】
【課題を解決するための手段】これら及び他の目的を達
成するために、本発明は、電磁トランスポンダと第1の
発振回路を使って磁界を作り出す端末を隔てる距離を測
定する方法を提供する。トランスポンダは、第2の発振
回路をD.C.電圧を供給するよう適合された整流手段
の上流に有する。距離を測定する方法は、第2の発振回
路が定められた周波数に同調される時の、D.C.電圧
のレベルに対する第1の情報を記憶し、第2の発振回路
の周波数離調を引き起こした後の、D.C.電圧のレベ
ルに対する第2の情報を記憶し、2つの記憶情報を比較
するという行程を有する。
成するために、本発明は、電磁トランスポンダと第1の
発振回路を使って磁界を作り出す端末を隔てる距離を測
定する方法を提供する。トランスポンダは、第2の発振
回路をD.C.電圧を供給するよう適合された整流手段
の上流に有する。距離を測定する方法は、第2の発振回
路が定められた周波数に同調される時の、D.C.電圧
のレベルに対する第1の情報を記憶し、第2の発振回路
の周波数離調を引き起こした後の、D.C.電圧のレベ
ルに対する第2の情報を記憶し、2つの記憶情報を比較
するという行程を有する。
【0023】本発明の実施形態によれば、測定は周期的
に行われ、記憶された情報の変動が、同じ同調条件にお
ける2つの連続する測定値で比較される。
に行われ、記憶された情報の変動が、同じ同調条件にお
ける2つの連続する測定値で比較される。
【0024】本発明の実施形態によれば、前記情報は
D.C.電圧のそれぞれの値に相当する。
D.C.電圧のそれぞれの値に相当する。
【0025】本発明の実施形態によれば、第1及び第2
の情報の比較は、トランスポンダ及び端末のそれぞれの
発振回路の臨界結合位置に対するトランスポンダの位置
を測定するのに使用される。
の情報の比較は、トランスポンダ及び端末のそれぞれの
発振回路の臨界結合位置に対するトランスポンダの位置
を測定するのに使用される。
【0026】本発明の実施形態によれば、定められた周
波数は、トランスポンダの遠隔電力供給用の端末の発振
回路の励振周波数に相当する。
波数は、トランスポンダの遠隔電力供給用の端末の発振
回路の励振周波数に相当する。
【0027】本発明の実施形態によれば、測定方法は、
それぞれ堅固な結合状態または緩い結合状態に相当する
2つのモード間でトランスポンダの動作モードを測定す
るために適用される。
それぞれ堅固な結合状態または緩い結合状態に相当する
2つのモード間でトランスポンダの動作モードを測定す
るために適用される。
【0028】本発明はまた、電磁トランスポンダに関
し、それは本発明の方法を実施するために少なくとも1
つの切替えコンデンサを有する。
し、それは本発明の方法を実施するために少なくとも1
つの切替えコンデンサを有する。
【0029】本発明の実施形態によれば、トランスポン
ダはコンデンサを第2の発振回路の誘導要素と並列し、
かつ切替え手段と直列して有し、整流手段は一方向にだ
け働く誘導する要素で形成される。
ダはコンデンサを第2の発振回路の誘導要素と並列し、
かつ切替え手段と直列して有し、整流手段は一方向にだ
け働く誘導する要素で形成される。
【0030】本発明の実施形態によれば、トランスポン
ダは2つのコンデンサを有し、それぞれが第2の発振回
路の誘導要素の各最終端子に接続し、切替え手段と直列
接続している。切替え手段の基準端子は、電子回路の基
準供給電圧に接続し、整流手段の下流にある。
ダは2つのコンデンサを有し、それぞれが第2の発振回
路の誘導要素の各最終端子に接続し、切替え手段と直列
接続している。切替え手段の基準端子は、電子回路の基
準供給電圧に接続し、整流手段の下流にある。
【0031】本発明の実施形態によれば、トランスポン
ダはさらに2つの抵抗性変調手段を有し、それらは整流
手段により提供される整流電圧を平滑化するコンデンサ
と並列である。
ダはさらに2つの抵抗性変調手段を有し、それらは整流
手段により提供される整流電圧を平滑化するコンデンサ
と並列である。
【0032】本発明の更なる目的、特徴及び利点は、添
付の図面に関連し、以下の具体的な実施形態の非限定的
な記述で詳細に論じられる。
付の図面に関連し、以下の具体的な実施形態の非限定的
な記述で詳細に論じられる。
【0033】
【発明の実施の形態】同じ要素は異なる図面にも同じ符
号で参照され、図面は規格外である。わかりやすくする
ために、本発明の理解に必要なこれらの要素だけが図に
示され、以後記述される。
号で参照され、図面は規格外である。わかりやすくする
ために、本発明の理解に必要なこれらの要素だけが図に
示され、以後記述される。
【0034】本発明の特徴は、トランスポンダと読取り
/書込み端末を隔てる距離を測定するために、トランス
ポンダの発振回路が装置の遠隔電力供給キャリア周波数
に同調されるかどうかに従ってトランスポンダの動作を
検査することである。従って、本発明による距離測定方
法の特徴は、トランスポンダの発振信号が遠隔供給周波
数に同調されるかどうかに応じて、トランスポンダアン
テナにより受信された信号のそれぞれの変動を比較する
ことである。好ましくは、この検出はトランスポンダに
より回復される遠隔供給電圧を調整することにより行わ
れ、遠隔供給電圧はトランスポンダのディジタル部分に
D.C.供給電圧を提供する整流手段の下流にある。従
って本発明の好適な実施形態によれば、整流電圧を平滑
化するコンデンサ(例えば図1のCa)を横切って再生
される電圧が調整される。
/書込み端末を隔てる距離を測定するために、トランス
ポンダの発振回路が装置の遠隔電力供給キャリア周波数
に同調されるかどうかに従ってトランスポンダの動作を
検査することである。従って、本発明による距離測定方
法の特徴は、トランスポンダの発振信号が遠隔供給周波
数に同調されるかどうかに応じて、トランスポンダアン
テナにより受信された信号のそれぞれの変動を比較する
ことである。好ましくは、この検出はトランスポンダに
より回復される遠隔供給電圧を調整することにより行わ
れ、遠隔供給電圧はトランスポンダのディジタル部分に
D.C.供給電圧を提供する整流手段の下流にある。従
って本発明の好適な実施形態によれば、整流電圧を平滑
化するコンデンサ(例えば図1のCa)を横切って再生
される電圧が調整される。
【0035】さらなる好適な実施形態によれば、整流手
段の出力で回復された電圧の調整は、スレッシュホール
ドに対して行われないが、得られた電圧値は発振回路が
キャリア周波数に同調されるかどうかに応じて比較され
る。これは、臨界結合位置に対するトランスポンダの位
置を検出することに相当する。
段の出力で回復された電圧の調整は、スレッシュホール
ドに対して行われないが、得られた電圧値は発振回路が
キャリア周波数に同調されるかどうかに応じて比較され
る。これは、臨界結合位置に対するトランスポンダの位
置を検出することに相当する。
【0036】この臨界結合位置は、端末の発振回路とト
ランスポンダの発振回路がともに遠隔電力供給キャリア
周波数と同調しているときに、トランスポンダが受信す
る遠隔電力供給振幅が最大となり、トランスポンダと端
末の間の結合が最適化される距離に相当する。言い換え
ると臨界結合周波数は、最小の結合係数に対して遠隔電
力供給電力が最大となる距離に相当する。結合係数は、
相互インダクタンスと発振回路のインダクタンスの積の
平方根の比である。
ランスポンダの発振回路がともに遠隔電力供給キャリア
周波数と同調しているときに、トランスポンダが受信す
る遠隔電力供給振幅が最大となり、トランスポンダと端
末の間の結合が最適化される距離に相当する。言い換え
ると臨界結合周波数は、最小の結合係数に対して遠隔電
力供給電力が最大となる距離に相当する。結合係数は、
相互インダクタンスと発振回路のインダクタンスの積の
平方根の比である。
【0037】本実施形態によれば、本発明は発振回路が
同調されるかどうかに従って、関連するスレッシュホー
ルドに対するトランスポンダのディジタル回路の供給電
圧レベルを比較すると想定される。
同調されるかどうかに従って、関連するスレッシュホー
ルドに対するトランスポンダのディジタル回路の供給電
圧レベルを比較すると想定される。
【0038】しかし、本発明もまたトランスポンダと端
末を隔てる距離を、例えば、電圧レベルと記憶させた対
応表を比較することによって測定できることに留意すべ
きである。
末を隔てる距離を、例えば、電圧レベルと記憶させた対
応表を比較することによって測定できることに留意すべ
きである。
【0039】本発明の距離測定方法は、通信中、つまり
各情報がトランスポンダから端末へ伝送される前に有利
に実施されうる。本発明による距離測定を実行するのに
必要な作用時間は、読取り器側の界にトランスポンダが
存在する時間(数百ミリ秒)と完全に適合する。
各情報がトランスポンダから端末へ伝送される前に有利
に実施されうる。本発明による距離測定を実行するのに
必要な作用時間は、読取り器側の界にトランスポンダが
存在する時間(数百ミリ秒)と完全に適合する。
【0040】トランスポンダ側の発振回路の同調又は離
調を制御できる方法で行うために、この発振回路の容量
が、好ましくは改変され、それにより共振周波数を変動
させ、従って同調周波数を遠隔供給キャリア周波数から
離調する。
調を制御できる方法で行うために、この発振回路の容量
が、好ましくは改変され、それにより共振周波数を変動
させ、従って同調周波数を遠隔供給キャリア周波数から
離調する。
【0041】第1の解決策は、2つのコンデンサをトラ
ンスポンダアンテナと並列に接続し、その1つは制御で
きるようにスイッチと直列に接続する。本解決策は、他
の目的のためにWO−A−98/29760に記載され
ている型のアセンブリを使用することを含み、それは発
振回路内で変更できる容量を使ってトランスポンダの周
波数離調を提供する。
ンスポンダアンテナと並列に接続し、その1つは制御で
きるようにスイッチと直列に接続する。本解決策は、他
の目的のためにWO−A−98/29760に記載され
ている型のアセンブリを使用することを含み、それは発
振回路内で変更できる容量を使ってトランスポンダの周
波数離調を提供する。
【0042】図4は、この第1の解決策を実施する本発
明によるトランスポンダ30の第1の実施形態を示して
いる。従来通り、本トランスポンダは並列の発振回路か
ら形成され、発振回路はインダクタンスすなわちアンテ
ナL2及びコンデンサC2′を回路の2つの端子1
1′、12′の間に有する。
明によるトランスポンダ30の第1の実施形態を示して
いる。従来通り、本トランスポンダは並列の発振回路か
ら形成され、発振回路はインダクタンスすなわちアンテ
ナL2及びコンデンサC2′を回路の2つの端子1
1′、12′の間に有する。
【0043】図4に示される実施形態において、コンデ
ンサCaにより平滑化されるD.C.供給電圧Vaを抽
出するために行われる整流は、ダイオードDによる単一
の半波整流であり、ダイオードDの陽極は端子11′に
接続され、陰極はコンデンサCaの正の端子14に接続
される。基準電圧15は、端子12′に直接接続するコ
ンデンサCaの負の端子に相当する。電圧Vaは、例え
ば図1の回路16から20を有する電子ブロック31に
対するものを意味する。コンデンサC3は、スイッチK
1(例えばMOSトランジスタ)と直列接続し、端子1
1及び12の間にある。
ンサCaにより平滑化されるD.C.供給電圧Vaを抽
出するために行われる整流は、ダイオードDによる単一
の半波整流であり、ダイオードDの陽極は端子11′に
接続され、陰極はコンデンサCaの正の端子14に接続
される。基準電圧15は、端子12′に直接接続するコ
ンデンサCaの負の端子に相当する。電圧Vaは、例え
ば図1の回路16から20を有する電子ブロック31に
対するものを意味する。コンデンサC3は、スイッチK
1(例えばMOSトランジスタ)と直列接続し、端子1
1及び12の間にある。
【0044】本発明の好適な実施形態によれば、電子回
路には局部供給電圧Vaを受け取る入力DETが提供さ
れる。入力DETは、電圧Vaを測定するための回路
(図示せず)及びその測定値を記憶する少なくとも1つ
の部品と結合する。実施形態の具体的な例において、前
記部品はマイクロプロセッサ(図1の6)でありうる。
路には局部供給電圧Vaを受け取る入力DETが提供さ
れる。入力DETは、電圧Vaを測定するための回路
(図示せず)及びその測定値を記憶する少なくとも1つ
の部品と結合する。実施形態の具体的な例において、前
記部品はマイクロプロセッサ(図1の6)でありうる。
【0045】測定された電圧値は、アナログ式に記憶さ
れるか、又は好ましくはいくつかのビットを使用したデ
ィジタル式に記憶される。ビットの数は所要の分析精度
による。
れるか、又は好ましくはいくつかのビットを使用したデ
ィジタル式に記憶される。ビットの数は所要の分析精度
による。
【0046】簡略化された実施形態として、専用距離測
定入力(DET)の使用は、トランスポンダのマイクロ
プロセッサ(ブロック31に含まれる)の既存の入力を
使うことにより避けられる。この従来の入力は、所定の
スレッシュホールドに対するコンデンサCaを横切る有
効局部供給電圧を制御する。マイクロプロセッサは(ビ
ット形式で)スレッシュホールドに対するこの電圧の状
態を記憶する。ビットは従来、例えば発振回路により再
生された電圧が、トランスポンダ供給に対して充分であ
るかどうかを検出するために使用され、従ってトランス
ポンダが読取り器側の界に入ると前記トランスポンダを
活動させる。この機能は、例えば、トランスポンダのマ
イクロプロセッサ内部、例えばSTMicroelectronicsの回
路ST16及びST19に存在し、従ってトランスポン
ダを有意に改変せずに使用できる。
定入力(DET)の使用は、トランスポンダのマイクロ
プロセッサ(ブロック31に含まれる)の既存の入力を
使うことにより避けられる。この従来の入力は、所定の
スレッシュホールドに対するコンデンサCaを横切る有
効局部供給電圧を制御する。マイクロプロセッサは(ビ
ット形式で)スレッシュホールドに対するこの電圧の状
態を記憶する。ビットは従来、例えば発振回路により再
生された電圧が、トランスポンダ供給に対して充分であ
るかどうかを検出するために使用され、従ってトランス
ポンダが読取り器側の界に入ると前記トランスポンダを
活動させる。この機能は、例えば、トランスポンダのマ
イクロプロセッサ内部、例えばSTMicroelectronicsの回
路ST16及びST19に存在し、従ってトランスポン
ダを有意に改変せずに使用できる。
【0047】本発明の好適な実施形態によれば、トラン
スポンダが端末領域にある時、好ましくはトランスポン
ダが読取り器側の界に入ることにより活動する(電力供
給される)とすぐ、以下の測定サイクルが周期的に行わ
れる。トランジスタK1が最初にオンになり、発振回路
が同調される。端末DETにある電圧が蓄えられる。そ
の後トランジスタK1をオフにする。回路は従って離調
され、コンデンサC2′及びC3が同じ値を有する場
合、その共振周波数は例えば同調周波数の2倍以上に移
行させる。端末DET上にある電圧が再び蓄えられる。
代案として、第1の測定が離調された回路で行われる。
2つの得られた値が比較され、この比較の結果が、例え
ば単一のビットに記憶される。
スポンダが端末領域にある時、好ましくはトランスポン
ダが読取り器側の界に入ることにより活動する(電力供
給される)とすぐ、以下の測定サイクルが周期的に行わ
れる。トランジスタK1が最初にオンになり、発振回路
が同調される。端末DETにある電圧が蓄えられる。そ
の後トランジスタK1をオフにする。回路は従って離調
され、コンデンサC2′及びC3が同じ値を有する場
合、その共振周波数は例えば同調周波数の2倍以上に移
行させる。端末DET上にある電圧が再び蓄えられる。
代案として、第1の測定が離調された回路で行われる。
2つの得られた値が比較され、この比較の結果が、例え
ば単一のビットに記憶される。
【0048】「同調」および「離調」の2つの測定を実
行するのに要する時間(例えば数百ミリ秒程度)は、ほ
とんどの適用業務では手の変位速度に対応するトランス
ポンダの変位速度と比較して短い。
行するのに要する時間(例えば数百ミリ秒程度)は、ほ
とんどの適用業務では手の変位速度に対応するトランス
ポンダの変位速度と比較して短い。
【0049】さらに、測定を実行するために発振回路を
離調させておく時間が、サブキャリアの半周期とは実質
的に異なるように選択され、そのため、端末がこの測定
を戻し変調と解釈しないことが好ましい。事実、トラン
スポンダの発振回路の離調は、端末の発振回路L1、C
1(図1)の移相と解釈され、これを距離判定中にデー
タ伝送と間違えてはならない。
離調させておく時間が、サブキャリアの半周期とは実質
的に異なるように選択され、そのため、端末がこの測定
を戻し変調と解釈しないことが好ましい。事実、トラン
スポンダの発振回路の離調は、端末の発振回路L1、C
1(図1)の移相と解釈され、これを距離判定中にデー
タ伝送と間違えてはならない。
【0050】端末の前のトランスポンダの通過時間(数
百ミリ秒)と比較しても依然として高速な短い時間間隔
(例えば1ミリ秒程度)の後に、上記の測定サイクルを
繰り返す。
百ミリ秒)と比較しても依然として高速な短い時間間隔
(例えば1ミリ秒程度)の後に、上記の測定サイクルを
繰り返す。
【0051】比較ビット値の変動により、トランスポン
ダが臨界結合位置と比較して端末の近くにいるか、遠く
に離れているかを知ることができる。
ダが臨界結合位置と比較して端末の近くにいるか、遠く
に離れているかを知ることができる。
【0052】逆に既知の距離測定装置(例えばWO−A
−97/34250)に対して、本発明はトランスポン
ダ側で再生される遠隔供給電圧がトランスポンダと読取
り器を隔てる距離の単調な関数ではないという事実を考
慮している。
−97/34250)に対して、本発明はトランスポン
ダ側で再生される遠隔供給電圧がトランスポンダと読取
り器を隔てる距離の単調な関数ではないという事実を考
慮している。
【0053】実際、発振回路が遠隔電力供給キャリア周
波数に同調される時、トランスポンダが端末の近くにあ
ると、遠隔供給の振幅が装置領域の限界から増大し始め
る(数10cm程度)。この振幅は、最大値(臨界結合
位置)を通過し、その後トランスポンダが非常に近くに
くると(およそ2cm以下)、再び減少し始める。
波数に同調される時、トランスポンダが端末の近くにあ
ると、遠隔供給の振幅が装置領域の限界から増大し始め
る(数10cm程度)。この振幅は、最大値(臨界結合
位置)を通過し、その後トランスポンダが非常に近くに
くると(およそ2cm以下)、再び減少し始める。
【0054】しかし、トランスポンダの発振回路が遠隔
供給キャリア周波数から離調されると、トランスポンダ
が受け取る電力が、端末からの距離が短くなるにつれて
増大する。しかし領域は縮小される。この場合、受けと
る電力が与えられた離調条件に対して最大である距離が
存在する。これが最適な結合であり、両方の発振回路が
キャリア周波数に同調される時、臨界結合位置が最適結
合状態である。2つの発振回路間の最適結合係数は、イ
ンダクタンスL1及びL2、コンデンサC1及びC2及
び周波数(ここでは固定周波数であり、キャリア周波数
に相当する)だけでなく、端末の直列抵抗器R1及びト
ランスポンダの発振回路の負荷によって決まる。ここで
いうトランスポンダの発振回路の負荷とは、回路(マイ
クロプロセッサなど)の等価抵抗及びコンデンサC2及
びインダクタンスL2と並列に加えられる戻し変調手段
(例えば、抵抗器R3又はR4が以下に示される)であ
る。
供給キャリア周波数から離調されると、トランスポンダ
が受け取る電力が、端末からの距離が短くなるにつれて
増大する。しかし領域は縮小される。この場合、受けと
る電力が与えられた離調条件に対して最大である距離が
存在する。これが最適な結合であり、両方の発振回路が
キャリア周波数に同調される時、臨界結合位置が最適結
合状態である。2つの発振回路間の最適結合係数は、イ
ンダクタンスL1及びL2、コンデンサC1及びC2及
び周波数(ここでは固定周波数であり、キャリア周波数
に相当する)だけでなく、端末の直列抵抗器R1及びト
ランスポンダの発振回路の負荷によって決まる。ここで
いうトランスポンダの発振回路の負荷とは、回路(マイ
クロプロセッサなど)の等価抵抗及びコンデンサC2及
びインダクタンスL2と並列に加えられる戻し変調手段
(例えば、抵抗器R3又はR4が以下に示される)であ
る。
【0055】従って、比較ビットの状態に基づき、臨界
結合に対するトランスポンダの位置は、正確な距離を測
定しなくても知ることができる。もし、ビットが離調状
態において同調状態よりも高いレベルを示したら、これ
はトランスポンダが端末に非常に近い(堅固な結合)こ
とを意味する。逆の場合、トランスポンダは臨界結合に
近い、すなわち臨界結合位置と装置領域の限界の間にあ
る。
結合に対するトランスポンダの位置は、正確な距離を測
定しなくても知ることができる。もし、ビットが離調状
態において同調状態よりも高いレベルを示したら、これ
はトランスポンダが端末に非常に近い(堅固な結合)こ
とを意味する。逆の場合、トランスポンダは臨界結合に
近い、すなわち臨界結合位置と装置領域の限界の間にあ
る。
【0056】他の実施形態によれば、電圧のそれぞれ連
続する値は、その変動を調査するために記憶される。そ
の後測定値はトランスポンダが動く可能性のある方向を
判定することによりさらに正確になる。同調及び離調さ
れたそれぞれの電力レベルが、2つの測定値間で同じ方
向に変動する場合、これはトランスポンダが臨界結合位
置と操作領域限度の間にあることを意味する。この変動
の方向に応じて、トランスポンダが端末から離れている
のか又は近づいているのかが判定でき、トランスポンダ
に記憶された対応表から距離さえ知ることが出来る。
続する値は、その変動を調査するために記憶される。そ
の後測定値はトランスポンダが動く可能性のある方向を
判定することによりさらに正確になる。同調及び離調さ
れたそれぞれの電力レベルが、2つの測定値間で同じ方
向に変動する場合、これはトランスポンダが臨界結合位
置と操作領域限度の間にあることを意味する。この変動
の方向に応じて、トランスポンダが端末から離れている
のか又は近づいているのかが判定でき、トランスポンダ
に記憶された対応表から距離さえ知ることが出来る。
【0057】それぞれ同調及び離調された電力レベルが
2つの測定値間で逆の方向に変動する場合、これはトラ
ンスポンダが端末と臨界結合位置の間にあることを意味
する。同調されたレベルが増大し、一方で離調レベルは
減少する場合、これはトランスポンダが端末から離れ、
臨界結合位置に近づいていることを意味する。同調レベ
ルが減少し、離調レベルが増大する場合、これはトラン
スポンダが端末に近づいていることを意味する。
2つの測定値間で逆の方向に変動する場合、これはトラ
ンスポンダが端末と臨界結合位置の間にあることを意味
する。同調されたレベルが増大し、一方で離調レベルは
減少する場合、これはトランスポンダが端末から離れ、
臨界結合位置に近づいていることを意味する。同調レベ
ルが減少し、離調レベルが増大する場合、これはトラン
スポンダが端末に近づいていることを意味する。
【0058】代案の実施形態として、例えばマイクロプ
ロセッサ電力供給レベルを検出する従来のビットを使用
すると、同調及び離調された回路のそれぞれの電圧レベ
ルが所定のスレッシュホールドと比較されうる。この場
合、臨界結合に相当する距離スレッシュホールドに対す
るトランスポンダの位置に関する情報は依然利用でき
る。離調レベルがスレッシュホールド以下で、同調レベ
ルがスレッシュホールドより高い場合、トランスポンダ
は比較的端末から離れている(臨界結合位置と領域限界
の間にいる)。離調レベルがスレッシュホールドより上
で、同調レベルがスレッシュホールドより下にある場
合、トランスポンダは端末に非常に近い。2つのレベル
がスレッシュホールドより上にある場合、トランスポン
ダは臨界結合位置の付近にある。2つのレベルがスレッ
シュホールドの下にある場合、トランスポンダは装置領
域外にある。
ロセッサ電力供給レベルを検出する従来のビットを使用
すると、同調及び離調された回路のそれぞれの電圧レベ
ルが所定のスレッシュホールドと比較されうる。この場
合、臨界結合に相当する距離スレッシュホールドに対す
るトランスポンダの位置に関する情報は依然利用でき
る。離調レベルがスレッシュホールド以下で、同調レベ
ルがスレッシュホールドより高い場合、トランスポンダ
は比較的端末から離れている(臨界結合位置と領域限界
の間にいる)。離調レベルがスレッシュホールドより上
で、同調レベルがスレッシュホールドより下にある場
合、トランスポンダは端末に非常に近い。2つのレベル
がスレッシュホールドより上にある場合、トランスポン
ダは臨界結合位置の付近にある。2つのレベルがスレッ
シュホールドの下にある場合、トランスポンダは装置領
域外にある。
【0059】簡略化された実施形態において、トランス
ポンダから端末へのデータ伝送が始まる前に、臨界結合
に対するトランスポンダの位置を十分測定できる。
ポンダから端末へのデータ伝送が始まる前に、臨界結合
に対するトランスポンダの位置を十分測定できる。
【0060】発振回路の離調は両方向で、つまり、遠隔
供給キャリア周波数に対する発振回路の共振周波数を増
大する又は減少することにより行われる。しかし、離調
の効果は対称ではないと認められている。特に、Qの変
更と解釈する容量変化の効果は、与えられた変化値にと
って、容量の増大に対してよりも減少に対して強い。さ
らに、容量が減少すればするほど最適な結合位置は端末
に近づく。容量が増大すればするほど、この最適な結合
位置は端末から離れる。本発明によれば、遠隔供給キャ
リア周波数に対して発振回路に強い離調を引き起こすこ
とが好ましいということは留意すべきである。従って離
調はトランスポンダの発振回路の容量を減少させること
によって、従ってその共振周波数をより高い周波数へ移
行させることによって行われる。従って、スイッチK1
は同調動作に対して閉じる。
供給キャリア周波数に対する発振回路の共振周波数を増
大する又は減少することにより行われる。しかし、離調
の効果は対称ではないと認められている。特に、Qの変
更と解釈する容量変化の効果は、与えられた変化値にと
って、容量の増大に対してよりも減少に対して強い。さ
らに、容量が減少すればするほど最適な結合位置は端末
に近づく。容量が増大すればするほど、この最適な結合
位置は端末から離れる。本発明によれば、遠隔供給キャ
リア周波数に対して発振回路に強い離調を引き起こすこ
とが好ましいということは留意すべきである。従って離
調はトランスポンダの発振回路の容量を減少させること
によって、従ってその共振周波数をより高い周波数へ移
行させることによって行われる。従って、スイッチK1
は同調動作に対して閉じる。
【0061】図4に関連して記載された第1の実施形態
の解決策は、実地面で実行可能な単一の半波整流を必要
とする。
の解決策は、実地面で実行可能な単一の半波整流を必要
とする。
【0062】実際、例えばダイオードブリッジによる全
波整流において、この解決策には実地面において重大な
課題が存在する。それは、整流電圧から供給された電子
回路からのスイッチを制御する必要があることによる。
実際、トランスポンダ側では、発振回路と整流電圧間の
共通の基準電圧が利用できない。そのため、トランスポ
ンダの電子回路により制御される簡易なMOSトランジ
スタを使ってアンテナ上で並列であるコンデンサを制御
することは実際不可能である。事実、この電子回路は整
流手段の下流で供給され、一方発振回路のコンデンサは
この整流回路の上流に配置される。この課題は、トラン
スポンダの発振回路を横切って抽出される電圧の全波整
流に対して特に深刻であり、遠隔供給を最適化すること
が望ましい。
波整流において、この解決策には実地面において重大な
課題が存在する。それは、整流電圧から供給された電子
回路からのスイッチを制御する必要があることによる。
実際、トランスポンダ側では、発振回路と整流電圧間の
共通の基準電圧が利用できない。そのため、トランスポ
ンダの電子回路により制御される簡易なMOSトランジ
スタを使ってアンテナ上で並列であるコンデンサを制御
することは実際不可能である。事実、この電子回路は整
流手段の下流で供給され、一方発振回路のコンデンサは
この整流回路の上流に配置される。この課題は、トラン
スポンダの発振回路を横切って抽出される電圧の全波整
流に対して特に深刻であり、遠隔供給を最適化すること
が望ましい。
【0063】従って本発明は、等価容量を有する発振回
路の変型が単純な手段で行われるトランスポンダの他の
実施形態を提供する。特に本発明は、簡易なMOSトラ
ンジスタを使って、トランスポンダ側発振回路の容量変
調手段を制御できる方法を提供する。
路の変型が単純な手段で行われるトランスポンダの他の
実施形態を提供する。特に本発明は、簡易なMOSトラ
ンジスタを使って、トランスポンダ側発振回路の容量変
調手段を制御できる方法を提供する。
【0064】図5は、本発明によるトランスポンダ3
0′の第2の実施形態を示している。本実施形態によれ
ば、発振回路の端子11、12は、例えば図1のダイオ
ードD1からD4で形成されたブリッジ13のA.C.
入力端子に接続される。ブリッジ13の2つの整流され
た出力端子14、15は平滑コンデンサCaを介して電
子ブロック31を供給する電圧Vaを提供する。
0′の第2の実施形態を示している。本実施形態によれ
ば、発振回路の端子11、12は、例えば図1のダイオ
ードD1からD4で形成されたブリッジ13のA.C.
入力端子に接続される。ブリッジ13の2つの整流され
た出力端子14、15は平滑コンデンサCaを介して電
子ブロック31を供給する電圧Vaを提供する。
【0065】本実施形態によれば、2つのコンデンサC
3及びC4はそれぞれスイッチK1、K2(例えばMO
Sトランジスタ)と直列接続し、それぞれ端子11と端
子15の間及び端子12と端子15の間にある。従っ
て、コンデンサC3の第1の端子は端子11に接続し、
第2の端子はトランジスタK1を介し、端子15に接続
している。コンデンサC4の第1の端子は端子12に接
続し、一方他の端子はトランジスタK2を介して端子1
5に接続する。コンデンサC3及びC4はそれぞれアン
テナL2を横切る高周波数A.C.電圧V2の符号に結
合している。コンデンサC3及びC4は従って同じ電圧
である。トランジスタK1及びK2は、回路が遠隔供給
キャリア周波数に同調されなければならない時、好まし
くは同じ信号から、ブロック31によってオンになるよ
うに制御される。
3及びC4はそれぞれスイッチK1、K2(例えばMO
Sトランジスタ)と直列接続し、それぞれ端子11と端
子15の間及び端子12と端子15の間にある。従っ
て、コンデンサC3の第1の端子は端子11に接続し、
第2の端子はトランジスタK1を介し、端子15に接続
している。コンデンサC4の第1の端子は端子12に接
続し、一方他の端子はトランジスタK2を介して端子1
5に接続する。コンデンサC3及びC4はそれぞれアン
テナL2を横切る高周波数A.C.電圧V2の符号に結
合している。コンデンサC3及びC4は従って同じ電圧
である。トランジスタK1及びK2は、回路が遠隔供給
キャリア周波数に同調されなければならない時、好まし
くは同じ信号から、ブロック31によってオンになるよ
うに制御される。
【0066】コンデンサの倍加により基準ノード(線1
5)がスイッチK1及びK2の制御のために利用でき
る。従ってスイッチK1及びK2が、N−チャネルMO
Sトランジスタで形成される場合、ブロック31からの
論理信号によりこれらのスイッチを全か無かの法則で制
御することが可能である。それは、WO−A−98/2
9760で論じられた解決策では不可能である。
5)がスイッチK1及びK2の制御のために利用でき
る。従ってスイッチK1及びK2が、N−チャネルMO
Sトランジスタで形成される場合、ブロック31からの
論理信号によりこれらのスイッチを全か無かの法則で制
御することが可能である。それは、WO−A−98/2
9760で論じられた解決策では不可能である。
【0067】例えば、コンデンサC2′、C3及びC4
は各々、発振回路を読取り器のキャリア周波数に同調さ
せるのに必要な容量(図1のC2)の半分に相当する容
量を有する。
は各々、発振回路を読取り器のキャリア周波数に同調さ
せるのに必要な容量(図1のC2)の半分に相当する容
量を有する。
【0068】図6は本発明によるトランスポンダ30″
の第3の実施形態を示している。トランスポンダ30″
は基本的に図5と同じ部品を有する。
の第3の実施形態を示している。トランスポンダ30″
は基本的に図5と同じ部品を有する。
【0069】第3の実施形態の特徴は、インダクタンス
L2′を中間点に提供することである。この中間点はそ
の後トランスポンダの電子回路31のD.C.電圧供給
用の基準15として使用される。従って、巻線L2′の
第1の端子11は、整流ダイオードD1′の陽極に接続
し、ダイオードD1′の陰極はトランスポンダの正の局
部供給端子14を形成する。巻線L2′の第2の端子
は、第2の整流ダイオードD4′の陽極に接続し、ダイ
オードD4′の陰極は端子14に接続する。従来通り、
コンデンサCaは端子14と基準線15の間に接続され
電子回路31の供給電圧を平滑化する。各端子11、1
2と基準線15の間には本発明による切替えコンデンサ
が接続され、それは例えば図5のような、スイッチK
1、K2と直列のコンデンサC3、C4で形成される。
L2′を中間点に提供することである。この中間点はそ
の後トランスポンダの電子回路31のD.C.電圧供給
用の基準15として使用される。従って、巻線L2′の
第1の端子11は、整流ダイオードD1′の陽極に接続
し、ダイオードD1′の陰極はトランスポンダの正の局
部供給端子14を形成する。巻線L2′の第2の端子
は、第2の整流ダイオードD4′の陽極に接続し、ダイ
オードD4′の陰極は端子14に接続する。従来通り、
コンデンサCaは端子14と基準線15の間に接続され
電子回路31の供給電圧を平滑化する。各端子11、1
2と基準線15の間には本発明による切替えコンデンサ
が接続され、それは例えば図5のような、スイッチK
1、K2と直列のコンデンサC3、C4で形成される。
【0070】スイッチK1、K2の制御は、図6に示さ
れるようなブロック31から提供される同じ制御信号又
は別の制御信号(図5)によって行われることに留意す
べきである。
れるようなブロック31から提供される同じ制御信号又
は別の制御信号(図5)によって行われることに留意す
べきである。
【0071】図5及び図6の実施形態において、発振回
路が同調される時、トランジスタK1及びK2は、好ま
しくはオンになっている。特に図6の回路において、コ
ンデンサC3及びC4が各々コンデンサC2′の2倍の
値を有している場合、トランジスタK1及びK2がオフ
の時、共振周波数はおよそ2倍のキャリア周波数に押し
戻される。
路が同調される時、トランジスタK1及びK2は、好ま
しくはオンになっている。特に図6の回路において、コ
ンデンサC3及びC4が各々コンデンサC2′の2倍の
値を有している場合、トランジスタK1及びK2がオフ
の時、共振周波数はおよそ2倍のキャリア周波数に押し
戻される。
【0072】臨界結合に相当する距離に対するトランス
ポンダの位置を検出することは、本発明の好ましい実施
形態である。それは、その適用に堅固な結合動作を提供
するという利点によるものである。しかし、本発明はま
た、どんな距離スレッシュホールドに対してもトランス
ポンダの位置を検出するために実行され、その後距離ス
レッシュホールドがトランスポンダの電子回路内に記憶
される。
ポンダの位置を検出することは、本発明の好ましい実施
形態である。それは、その適用に堅固な結合動作を提供
するという利点によるものである。しかし、本発明はま
た、どんな距離スレッシュホールドに対してもトランス
ポンダの位置を検出するために実行され、その後距離ス
レッシュホールドがトランスポンダの電子回路内に記憶
される。
【0073】臨界結合に対する距離の測定において、本
発明は行われた距離測定又は領域検出(堅固な結合又は
緩い結合)が差動測定に近いという利点を有する。実
際、検出は装置及びその環境により左右される臨界結合
に対して行われる。回路が同調される時、臨界結合での
み、回収された電圧スレッシュホールドが最大となる。
従って、具体的な基準又は距離スレッシュホールドを提
供する必要はない。言い換えると、2つの同調及び離調
された動作モード間の距離スレッシュホールドはその後
自己適合する。
発明は行われた距離測定又は領域検出(堅固な結合又は
緩い結合)が差動測定に近いという利点を有する。実
際、検出は装置及びその環境により左右される臨界結合
に対して行われる。回路が同調される時、臨界結合での
み、回収された電圧スレッシュホールドが最大となる。
従って、具体的な基準又は距離スレッシュホールドを提
供する必要はない。言い換えると、2つの同調及び離調
された動作モード間の距離スレッシュホールドはその後
自己適合する。
【0074】本発明の適用の実施例は、トランスポンダ
と読取り器を隔てる距離に応じて、同調又は離調された
トランスポンダを動作させることである。こうしたトラ
ンスポンダと端末との間の情報交換のための離調は、ト
ランスポンダが読取り器の非常に近くにある時、特に有
利である。こうした場合に、もし発振回路が同調される
と、端末からトランスポンダへ伝送された電力は後者が
熱くなるようなものである。この熱効果はトランスポン
ダがクレジットカード型のプラスチックカードで形成さ
れる場合、特に妨害するものとなる。実際、この場合、
カードが端末に非常に近い時、熱効果はカードを歪曲さ
せる結果となる。
と読取り器を隔てる距離に応じて、同調又は離調された
トランスポンダを動作させることである。こうしたトラ
ンスポンダと端末との間の情報交換のための離調は、ト
ランスポンダが読取り器の非常に近くにある時、特に有
利である。こうした場合に、もし発振回路が同調される
と、端末からトランスポンダへ伝送された電力は後者が
熱くなるようなものである。この熱効果はトランスポン
ダがクレジットカード型のプラスチックカードで形成さ
れる場合、特に妨害するものとなる。実際、この場合、
カードが端末に非常に近い時、熱効果はカードを歪曲さ
せる結果となる。
【0075】本適用において、トランスポンダが読取り
器に非常に近い場合、本発明を実施することで、トラン
スポンダ動作を離調動作へ切替えることができる。こう
した離調を連続して行うことによって動作が変圧器の動
作に類似する、すなわちQが伴わなくなる。従来の同調
動作においては、出来るだけ高いQが望まれるが、それ
はトランスポンダ遠隔供給に関連する電力の伝達を最適
化するためである。従来の離調動作において、端末電
力、すなわちアンテナ(図1のL1)を通る電流は、充
分な電力をカードの電力供給に送る間に減少する。実際
には、トランスポンダが端末に非常に近いため、遠隔供
給領域の課題は解消される。
器に非常に近い場合、本発明を実施することで、トラン
スポンダ動作を離調動作へ切替えることができる。こう
した離調を連続して行うことによって動作が変圧器の動
作に類似する、すなわちQが伴わなくなる。従来の同調
動作においては、出来るだけ高いQが望まれるが、それ
はトランスポンダ遠隔供給に関連する電力の伝達を最適
化するためである。従来の離調動作において、端末電
力、すなわちアンテナ(図1のL1)を通る電流は、充
分な電力をカードの電力供給に送る間に減少する。実際
には、トランスポンダが端末に非常に近いため、遠隔供
給領域の課題は解消される。
【0076】端末アンテナに必要な電流の減少は、トラ
ンスポンダ側の熱効果を抑制する。その後必要な電力は
基本的にインダクタンスL1及びL2の伝送率(渦巻き
の数の比率)に左右される。
ンスポンダ側の熱効果を抑制する。その後必要な電力は
基本的にインダクタンスL1及びL2の伝送率(渦巻き
の数の比率)に左右される。
【0077】回路が離調されるので、帯域がより高くな
るということも注目すべき点である。実際、回路が同調
されると、端末側で再生された信号エンベロープ(図1
のRx)が各ビットごとの伝送可能時間を示す。この可
能な時間は、発振回路が同調されるという事実に正確に
起因する。こうした可能な時間はデータ伝送率に不利に
なる。
るということも注目すべき点である。実際、回路が同調
されると、端末側で再生された信号エンベロープ(図1
のRx)が各ビットごとの伝送可能時間を示す。この可
能な時間は、発振回路が同調されるという事実に正確に
起因する。こうした可能な時間はデータ伝送率に不利に
なる。
【0078】データ伝送のための発振回路の離調は、非
常に密な結合の時のみ望ましい。従って、本発明を実施
することにより、装置の2つの動作モードをトランスポ
ンダが読取り器に近いかどうかに応じて容易に分離する
ことができる。
常に密な結合の時のみ望ましい。従って、本発明を実施
することにより、装置の2つの動作モードをトランスポ
ンダが読取り器に近いかどうかに応じて容易に分離する
ことができる。
【0079】本発明のトランスポンダ30(図4)、3
0′(図5)又は30″(図6)はまた、抵抗性の戻し
変調回路を有し、それは好ましくはそれぞれ端子14及
び15の間にあるスイッチK3、K4と直列の2つの抵
抗器R3、R4で形成される。抵抗器R3及びR4は、
それぞれ高い値と低い値の異なる値を有する。抵抗器R
3及びR4の機能は、トランスポンダと読取り器の結合
が非常に緊密な時の動作に対する本発明の適用例に関連
し、よりよく理解される。
0′(図5)又は30″(図6)はまた、抵抗性の戻し
変調回路を有し、それは好ましくはそれぞれ端子14及
び15の間にあるスイッチK3、K4と直列の2つの抵
抗器R3、R4で形成される。抵抗器R3及びR4は、
それぞれ高い値と低い値の異なる値を有する。抵抗器R
3及びR4の機能は、トランスポンダと読取り器の結合
が非常に緊密な時の動作に対する本発明の適用例に関連
し、よりよく理解される。
【0080】臨界結合位置と端末の間について考える
と、高い値の抵抗器R3戻し変調を行うために使用さ
れ、トランジスタK1(又はトランジスタK1及びK
2)はオフになる。その後装置は変圧器動作に近い離調
動作を有する。
と、高い値の抵抗器R3戻し変調を行うために使用さ
れ、トランジスタK1(又はトランジスタK1及びK
2)はオフになる。その後装置は変圧器動作に近い離調
動作を有する。
【0081】臨界結合位置から離れ、一方でその位置よ
り端末からも離れている、すなわち緩い結合について考
えてみる。トランジスタK1(又はトランジスタK1及
びK2)はその後オンになり、抵抗性の戻し変調が小さ
い値を有する抵抗器R4を使って行われる。これは従来
の動作モードである。
り端末からも離れている、すなわち緩い結合について考
えてみる。トランジスタK1(又はトランジスタK1及
びK2)はその後オンになり、抵抗性の戻し変調が小さ
い値を有する抵抗器R4を使って行われる。これは従来
の動作モードである。
【0082】本発明が、端末から離れている時に小さい
値の抵抗器を使用することにより、装置領域を最適化す
ることに留意すべきである。抵抗器R3及びR4それぞ
れの値の比率は、例えば、4〜10の間(R3は0.4
〜5kΩで、R4は100〜500kΩ)に含まれ、好
ましくは6程度(例えば約1500と250Ω)であ
る。
値の抵抗器を使用することにより、装置領域を最適化す
ることに留意すべきである。抵抗器R3及びR4それぞ
れの値の比率は、例えば、4〜10の間(R3は0.4
〜5kΩで、R4は100〜500kΩ)に含まれ、好
ましくは6程度(例えば約1500と250Ω)であ
る。
【0083】代案として、抵抗器R3がスイッチ動作さ
れた時、高い値の抵抗器(R4)を(スイッチK4をオ
ンとすることにより)恒久的に回路に残される。この場
合、静的負荷が減少し、それによりQが減少し、従って
可能な伝送速度の最大値が上がる。この改良は、他の手
段(例えば第3の切替え抵抗器)によっても得られるこ
とに留意すべきである。
れた時、高い値の抵抗器(R4)を(スイッチK4をオ
ンとすることにより)恒久的に回路に残される。この場
合、静的負荷が減少し、それによりQが減少し、従って
可能な伝送速度の最大値が上がる。この改良は、他の手
段(例えば第3の切替え抵抗器)によっても得られるこ
とに留意すべきである。
【0084】本発明が、読取り器からトランスポンダへ
又はトランスポンダから読取り器への距離測定に関する
(変調)情報伝送を必要としないことにも注目すべきで
ある。従って本発明のトランスポンダは、読取り器の干
渉なしに自身の位置を検出する。その後トランスポンダ
は、例えば自身の位置に応じて異なるメッセージを戻し
変調で伝送し、このメッセージの性質は装置を1つの動
作モード又は別のものに配置する。
又はトランスポンダから読取り器への距離測定に関する
(変調)情報伝送を必要としないことにも注目すべきで
ある。従って本発明のトランスポンダは、読取り器の干
渉なしに自身の位置を検出する。その後トランスポンダ
は、例えば自身の位置に応じて異なるメッセージを戻し
変調で伝送し、このメッセージの性質は装置を1つの動
作モード又は別のものに配置する。
【0085】距離の測定は、好ましくは、通信中周期的
に行われることにも留意すべきである。これにより、例
えば、トランスポンダが通信中動作領域を変えないこと
をチェックしたり、装置が異なる通信モードを提供し、
同じ通信内でそれらを認める場合にこの変更を検出する
ことができる。
に行われることにも留意すべきである。これにより、例
えば、トランスポンダが通信中動作領域を変えないこと
をチェックしたり、装置が異なる通信モードを提供し、
同じ通信内でそれらを認める場合にこの変更を検出する
ことができる。
【0086】代案として、コンデンサC2′は除去さ
れ、コンデンサC3(図4)又は2つのコンデンサC3
及びC4(図5及び図6)が使用され、それぞれが同調
に必要な値に相当する容量を有する。この場合、スイッ
チK1(図4)又はスイッチK1及びK2(図5及び図
6)が切れている時、回路漂遊容量は、発振回路の補完
コンデンサとしてふるまう。
れ、コンデンサC3(図4)又は2つのコンデンサC3
及びC4(図5及び図6)が使用され、それぞれが同調
に必要な値に相当する容量を有する。この場合、スイッ
チK1(図4)又はスイッチK1及びK2(図5及び図
6)が切れている時、回路漂遊容量は、発振回路の補完
コンデンサとしてふるまう。
【0087】他の代案によれば、回路を離調させるため
に使用されるコンデンサは、戻し変調手段としても使用
される。この場合、切替え抵抗器R3、K3、及びR
4、K4は削除され、コンデンサC2′、C3(及び図
5と図6の実施形態のC4)が選択される。それにより
容量型変調の場合、離調の重要性が端末により検出され
る移相と両立する。容量型変調は端末のインダクタンス
L1を横切る電圧の位相に直接影響を与え、その振幅に
は作用しない。これは端末による位相検出を容易にす
る。この種の戻し変調は符号化を改変しない、すなわち
戻し変調スイッチのキャリア周波数の制御信号を改変し
ないということに留意すべきである。
に使用されるコンデンサは、戻し変調手段としても使用
される。この場合、切替え抵抗器R3、K3、及びR
4、K4は削除され、コンデンサC2′、C3(及び図
5と図6の実施形態のC4)が選択される。それにより
容量型変調の場合、離調の重要性が端末により検出され
る移相と両立する。容量型変調は端末のインダクタンス
L1を横切る電圧の位相に直接影響を与え、その振幅に
は作用しない。これは端末による位相検出を容易にす
る。この種の戻し変調は符号化を改変しない、すなわち
戻し変調スイッチのキャリア周波数の制御信号を改変し
ないということに留意すべきである。
【0088】もちろん、本発明は当業者が容易に思い浮
かぶ様々な代案、変型及び改良を有する。特に、適用及
び特に使用される周波数及び装置領域に対する、異なる
コンデンサ及び抵抗器のそれぞれの選別は当業者の能力
の範囲内である。発振回路コンデンサの選別において、
使用される整流手段及び平滑コンデンサCaの値を考慮
に入れる。実際、ダイオードブリッジ(図5)の導電期
間は一般に、遠隔供給キャリア期間と比較して、単一の
半波整流ダイオード(図4)の導電期間より短い。従っ
て、戻し変調手段を作用させる仕事率は、行われる整流
の型に応じて異なる。この仕事率は端末側において検出
される移相の値に影響を及ぼす。
かぶ様々な代案、変型及び改良を有する。特に、適用及
び特に使用される周波数及び装置領域に対する、異なる
コンデンサ及び抵抗器のそれぞれの選別は当業者の能力
の範囲内である。発振回路コンデンサの選別において、
使用される整流手段及び平滑コンデンサCaの値を考慮
に入れる。実際、ダイオードブリッジ(図5)の導電期
間は一般に、遠隔供給キャリア期間と比較して、単一の
半波整流ダイオード(図4)の導電期間より短い。従っ
て、戻し変調手段を作用させる仕事率は、行われる整流
の型に応じて異なる。この仕事率は端末側において検出
される移相の値に影響を及ぼす。
【0089】さらに本発明は、それぞれ同調及び離調さ
れた2つの動作モードを可能にする適用に関連して記述
されてきたが、本発明はまた、臨界結合位置(又は別の
距離位置)に対するトランスポンダの位置を検出するた
めに使用されることにも注目すべきである。これは、例
えば上記の具体的な適用に関連して記載された2つの動
作モードのうちの1つに認められるものである。
れた2つの動作モードを可能にする適用に関連して記述
されてきたが、本発明はまた、臨界結合位置(又は別の
距離位置)に対するトランスポンダの位置を検出するた
めに使用されることにも注目すべきである。これは、例
えば上記の具体的な適用に関連して記載された2つの動
作モードのうちの1つに認められるものである。
【0090】本発明は、とりわけ、非接触型のチップ・
カード(例えばアクセス制御のためのIDカード、電子
財布カード、カード保有者に関する情報を記憶するため
のカード、コンシューマ・フィデリティ・カード、加入
テレビジョン・カードなど)、およびこれらのカードの
読取りまたは読取り/書込みシステム(例えば、ポルチ
コ(portico)すなわちアクセス制御端末、自動
支払機、コンピュータ端末、電話端末、テレビジョンま
たはサテライト・デコーダなど)に適用可能である。
カード(例えばアクセス制御のためのIDカード、電子
財布カード、カード保有者に関する情報を記憶するため
のカード、コンシューマ・フィデリティ・カード、加入
テレビジョン・カードなど)、およびこれらのカードの
読取りまたは読取り/書込みシステム(例えば、ポルチ
コ(portico)すなわちアクセス制御端末、自動
支払機、コンピュータ端末、電話端末、テレビジョンま
たはサテライト・デコーダなど)に適用可能である。
【0091】こうした改変、変型及び改良は本発明の一
部であり、本発明の精神および範囲内にあることを意図
している。従って、前述の説明は例示的なものであっ
て、限定的に示すものではない。本発明は前述の特許請
求の範囲及びその均等範囲に定義されるもののみ限定さ
れる。
部であり、本発明の精神および範囲内にあることを意図
している。従って、前述の説明は例示的なものであっ
て、限定的に示すものではない。本発明は前述の特許請
求の範囲及びその均等範囲に定義されるもののみ限定さ
れる。
【図1】従来の技術及び解決すべき課題を示している。
【図2】従来の技術及び解決すべき課題を示している。
【図3】従来の技術及び解決すべき課題を示している。
【図4】本発明による電磁トランスポンダの第1の実施
形態を示している。
形態を示している。
【図5】本発明による電磁トランスポンダの第2の実施
形態を示している。
形態を示している。
【図6】本発明による電磁トランスポンダの第3の実施
形態を示している。
形態を示している。
1 端末 2m 端子 2p 出力端子 3 増幅器 4 変調器 5 水晶発振器 6 マイクロプロセッサ 7 復調器 8 復号器 9 電源回路 10 トランスポンダ 11、11′ 端子 12、12′ 端子 13 ブリッジ 14 端子 15、15′ 端子 16 電圧調整器 17 マイクロプロセッサ 18 復調器 19 変調器 20 クロック 30、30′、30″ トランスポンダ 31 ブロック Ca、C1、C1′、C2、C2′、C3、C4 コン
デンサ D1、D2、D3、D4、D1′、D4′ ダイオード K1、K2、K3、K4 トランジスタ L1、L2、L2′ インダクタンス R、R1、R3、R4 抵抗器 T トランジスタ Rx データ信号 Tx 高周波伝送信号 Va D.C.供給電圧
デンサ D1、D2、D3、D4、D1′、D4′ ダイオード K1、K2、K3、K4 トランジスタ L1、L2、L2′ インダクタンス R、R1、R3、R4 抵抗器 T トランジスタ Rx データ信号 Tx 高周波伝送信号 Va D.C.供給電圧
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI G06K 19/07 G06K 19/00 Q (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01S 7/00 - 7/42 G01S 13/00 - 13/95 G06K 7/08 G06K 17/00 G06K 19/00 B42D 15/10
Claims (10)
- 【請求項1】 電磁トランスポンダ(30;30′;3
0″)と、第1の発振回路(L1、C1)を使って磁界
を生み出す端末(1)を隔てる距離を測定する方法にお
いて、 前記トランスポンダが第2の発振回路(L2、C2)
を、D.C.電圧を供給するよう適合された整流手段
(D;13;D1′、D4′)の上流に有し、 第2の発振回路が定められた周波数に同調される時の、
D.C.電圧のレベルに対する第1の情報を記憶し、 第2の発振回路の周波数離調を引き起こした後の、D.
C.電圧のレベルに対する第2の情報を記憶し、 第1及び第2の情報を比較する行程を有することを特徴
とする方法。 - 【請求項2】 周期的に前記レベルを測定し、同じ同調
条件における2つの連続する測定値に対する記憶情報の
変動を比較する行程を有することを特徴とする、請求項
1に記載の方法。 - 【請求項3】 第1及び第2の情報がD.C.電圧のそ
れぞれの値を表すことを特徴とする、請求項1に記載の
方法。 - 【請求項4】 第1及び第2の情報の比較が、トランス
ポンダ(30)及び端末(1)のそれぞれの発振回路の
臨界結合位置に対するトランスポンダの位置を測定する
ために使用されることを特徴とする、請求項1に記載の
方法。 - 【請求項5】 定められた周波数が、トランスポンダ
(30)の遠隔電力供給用の、端末(1)の発振回路の
励振周波数に相当することを特徴とする、請求項1に記
載の方法。 - 【請求項6】 それぞれが堅固な結合状態又は緩い結合
状態に相当する2つのモード間で、トランスポンダの動
作モードを判定するように適応していることを特徴とす
る、請求項1に記載の方法。 - 【請求項7】 請求項1から請求項6のいずれかに記載
の方法を実施できるよう適合された電磁トランスポンダ
であって、少なくとも1つの切替コンデンサ(C3;C
3、C4)を有することを特徴とする電磁トランスポン
ダ。 - 【請求項8】 第2の発振回路の誘導要素(L2)と並
列で、かつ切替手段(K1)と直列であるコンデンサ
(C3)を有し、整流手段が一方向に導通する要素
(D)で形成されることを特徴とする、請求項7に記載
のトランスポンダ。 - 【請求項9】 第2の発振回路の誘導要素(L2;C
2′)の各端子(11、12)にそれぞれ接続するコン
デンサ(C3、C4)を有し、各コンデンサが切替手段
(K1、K2)と直列接続し、その基準端子が電子回路
の基準供給電圧(15)に接続し、それが整流手段(1
3;D1′、D4′)の下流にあることを特徴とする、
請求項7に記載のトランスポンダ。 - 【請求項10】 さらに2つの抵抗性変調手段(R3、
K3;R4、K4)を有し、整流手段(D;13;D
1′、D2′)により提供される整流電圧を平滑化する
ためのコンデンサ(Ca)と並列であることを特徴とす
る、請求項9に記載のトランスポンダ。
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