JP3136055B2 - 分析装置 - Google Patents
分析装置Info
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- JP3136055B2 JP3136055B2 JP06261240A JP26124094A JP3136055B2 JP 3136055 B2 JP3136055 B2 JP 3136055B2 JP 06261240 A JP06261240 A JP 06261240A JP 26124094 A JP26124094 A JP 26124094A JP 3136055 B2 JP3136055 B2 JP 3136055B2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 17
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000012217 deletion Methods 0.000 description 3
- 230000037430 deletion Effects 0.000 description 3
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 3
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 3
- 239000002612 dispersion medium Substances 0.000 description 2
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Landscapes
- Digital Computer Display Output (AREA)
- User Interface Of Digital Computer (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、例えば粒度分布測定
装置などのような分析装置に関する。
装置などのような分析装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】近時の分析装置、例えば粒度分布測定装
置などにおいては、コンピュータを用いてそのプログラ
ムにしたがって前処理や測定を行い、測定によって得ら
れたデータの処理を行っている。
置などにおいては、コンピュータを用いてそのプログラ
ムにしたがって前処理や測定を行い、測定によって得ら
れたデータの処理を行っている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、粒度分布測
定装置においては、自動湿式、乾式方法の如何を問わ
ず、その試料調整方法が粒子の偏析などの原因となり、
測定結果に影響が及ぼされる。そのため、試料ごとに測
定の前処理として決まった手順を行わなければならず、
操作者にとって甚だ不便であった。そして、測定後のデ
ータ処理についても、一般にこれらの処理は試料ごとに
異なることが多い。これらの手順を予め本体ソフトウエ
アによって実現しようとすると、試料ごとにこれらの手
順を記述したソフトウエアが必要であり、また、たとえ
測定やデータ処理のパラメータを設定するような逐次変
換型のソフトウエアをこのような分析装置に搭載して
も、現場の操作者にとっては理解しにくいといった欠点
があった。
定装置においては、自動湿式、乾式方法の如何を問わ
ず、その試料調整方法が粒子の偏析などの原因となり、
測定結果に影響が及ぼされる。そのため、試料ごとに測
定の前処理として決まった手順を行わなければならず、
操作者にとって甚だ不便であった。そして、測定後のデ
ータ処理についても、一般にこれらの処理は試料ごとに
異なることが多い。これらの手順を予め本体ソフトウエ
アによって実現しようとすると、試料ごとにこれらの手
順を記述したソフトウエアが必要であり、また、たとえ
測定やデータ処理のパラメータを設定するような逐次変
換型のソフトウエアをこのような分析装置に搭載して
も、現場の操作者にとっては理解しにくいといった欠点
があった。
【０００４】この発明は、上述の事柄に留意してなされ
たもので、粒度分布測定装置などの分析装置における測
定、データ処理などの一連の処理シーケンスをコンピュ
ータ内のソフトウエアを変更することなく簡単に作成す
ることができるようにした分析装置を提供することを目
的とする。
たもので、粒度分布測定装置などの分析装置における測
定、データ処理などの一連の処理シーケンスをコンピュ
ータ内のソフトウエアを変更することなく簡単に作成す
ることができるようにした分析装置を提供することを目
的とする。
【０００５】
【問題点を解決するための手段】上述の目的を達成する
ため、この発明は、コンピュータからの指令に基づいて
分析を行うように構成された分析装置において、分析装
置で行う各動作を、前記コンピュータと接続されている
グラフィックディスプレイの画面上に簡易言語で表記さ
れた命令ブロックとしてグラフィック表示し、このグラ
フィック表示された命令ブロックを、前記コンピュータ
と接続されている入力装置を用いてグラフィックディス
プレイの画面上において編集することにより所望の処理
シーケンスを作成するようにしている。
ため、この発明は、コンピュータからの指令に基づいて
分析を行うように構成された分析装置において、分析装
置で行う各動作を、前記コンピュータと接続されている
グラフィックディスプレイの画面上に簡易言語で表記さ
れた命令ブロックとしてグラフィック表示し、このグラ
フィック表示された命令ブロックを、前記コンピュータ
と接続されている入力装置を用いてグラフィックディス
プレイの画面上において編集することにより所望の処理
シーケンスを作成するようにしている。
【０００６】
【作用】上記分析装置においては、分析装置に行わせた
い動作を簡易言語で表記された命令ブロックとしてグラ
フィックディスプレイの画面上にグラフィック表示す
る。そして、前記画面上で命令ブロックを適宜結合した
り、挿入するなどして編集するだけで、コンピュータ内
のソフトウエアを変更することなく、所望の処理シーケ
ンスを簡単に作成することができる。この方法によれ
ば、ソフトウエアやプログラム言語などに関する知識が
なくても、所望の処理シーケンスを簡単に作成すること
ができる。
い動作を簡易言語で表記された命令ブロックとしてグラ
フィックディスプレイの画面上にグラフィック表示す
る。そして、前記画面上で命令ブロックを適宜結合した
り、挿入するなどして編集するだけで、コンピュータ内
のソフトウエアを変更することなく、所望の処理シーケ
ンスを簡単に作成することができる。この方法によれ
ば、ソフトウエアやプログラム言語などに関する知識が
なくても、所望の処理シーケンスを簡単に作成すること
ができる。
【０００７】
【実施例】図１は、この発明の一実施例に係る分析装置
としての粒度分布測定装置の構成を概略的構成を示す図
で、この図において、１は測定装置本体、２は自動希釈
ユニット、３はオートサンプラで、これらによって粒度
分布測定装置が構成される。４はコンピュータで、後述
する処理シーケンスにしたがって測定装置本体１、希釈
ユニット２、オートサンプラ３を制御したり、測定装置
本体１側から送られてくるデータなどを適宜処理するも
のである。このコンピュータ４は、変換および翻訳用の
プログラムによって動作するように構成されており、入
力装置としてのキーボード５Ａおよびマウス５Ｂや表示
装置としてのグラフィックディスプレイ６が接続されて
いる。
としての粒度分布測定装置の構成を概略的構成を示す図
で、この図において、１は測定装置本体、２は自動希釈
ユニット、３はオートサンプラで、これらによって粒度
分布測定装置が構成される。４はコンピュータで、後述
する処理シーケンスにしたがって測定装置本体１、希釈
ユニット２、オートサンプラ３を制御したり、測定装置
本体１側から送られてくるデータなどを適宜処理するも
のである。このコンピュータ４は、変換および翻訳用の
プログラムによって動作するように構成されており、入
力装置としてのキーボード５Ａおよびマウス５Ｂや表示
装置としてのグラフィックディスプレイ６が接続されて
いる。
【０００８】そして、図２は、前記コンピュータ４の内
部構成を概略的に示す図で、この図において、４１はＣ
ＰＵ、４２はディスクユニット、４３はメモリユニッ
ト、４４はグラフィックＩ／Ｆ、４５はシリアルＩ／Ｆ
で、ＣＰＵ４１と各部４２〜４５はＣＰＵバスラインで
接続されている。
部構成を概略的に示す図で、この図において、４１はＣ
ＰＵ、４２はディスクユニット、４３はメモリユニッ
ト、４４はグラフィックＩ／Ｆ、４５はシリアルＩ／Ｆ
で、ＣＰＵ４１と各部４２〜４５はＣＰＵバスラインで
接続されている。
【０００９】図３は、前記グラフィックディスプレイ６
に表示される編集画面の一例を示すもので、この図にお
いて、６０は画面で、その両側および下部にはスクロー
ルバー６１が設けられている。６２は分析装置で行わせ
るべき動作（機能）を簡易言語で表した命令ブロックａ
を集合的に表示する表示エリア、６３はＩＮＳ（挿
入）、ＤＥＬ（削除）、ＰＡＳＴＥ（削除復帰）、ＮＥ
ＸＴ（次頁）、ＢＡＣＫ（前頁）など各種のファンクシ
ョン表すキー、６４は編集内容を示すダイヤログボック
スの一例である。
に表示される編集画面の一例を示すもので、この図にお
いて、６０は画面で、その両側および下部にはスクロー
ルバー６１が設けられている。６２は分析装置で行わせ
るべき動作（機能）を簡易言語で表した命令ブロックａ
を集合的に表示する表示エリア、６３はＩＮＳ（挿
入）、ＤＥＬ（削除）、ＰＡＳＴＥ（削除復帰）、ＮＥ
ＸＴ（次頁）、ＢＡＣＫ（前頁）など各種のファンクシ
ョン表すキー、６４は編集内容を示すダイヤログボック
スの一例である。
【００１０】次に、上記構成の粒度分布測定装置の動作
について説明する。粒度分布測定を行う際、測定装置に
行わせる機能、例えばＣＩＲＣＵＬＡＴＩＯＮ（サンプ
ル循環）、ＡＧＩＴＡＴＩＯＮ（サンプル攪拌）、Ｗａ
ｉｔ（待機）、ＡＵＴＯＳＭＰ（オートサンプラ駆
動）、ＲＩＮＳＥ（洗浄）、Ｂｌａｎｋ（ブランク測
定）、Ｆｉｌｅ ＳＡＶＥ（ファイル収納）、Ｆｅｅｄ
（分散媒供給）など、簡易言語（簡単な文字またはシン
ボル絵など）で表記された命令ブロックａをマウス５Ａ
によって選択し、画面６０上に表示する。これらの命令
ブロックａは、通常のソフトウエアプログラムの動作と
同じであり、「順次」、「判定」、「繰り返し」が可能
である。
について説明する。粒度分布測定を行う際、測定装置に
行わせる機能、例えばＣＩＲＣＵＬＡＴＩＯＮ（サンプ
ル循環）、ＡＧＩＴＡＴＩＯＮ（サンプル攪拌）、Ｗａ
ｉｔ（待機）、ＡＵＴＯＳＭＰ（オートサンプラ駆
動）、ＲＩＮＳＥ（洗浄）、Ｂｌａｎｋ（ブランク測
定）、Ｆｉｌｅ ＳＡＶＥ（ファイル収納）、Ｆｅｅｄ
（分散媒供給）など、簡易言語（簡単な文字またはシン
ボル絵など）で表記された命令ブロックａをマウス５Ａ
によって選択し、画面６０上に表示する。これらの命令
ブロックａは、通常のソフトウエアプログラムの動作と
同じであり、「順次」、「判定」、「繰り返し」が可能
である。
【００１１】なお、上記簡易言語のほか、ＰＲＥ１（現
在の測定条件で規定量注入を行った後、攪拌、循環、超
音波分散を行い、超音波タイムアップ待ちとなる）、Ｐ
ＲＥ２（現在の測定条件で自動希釈を行う）、ＵＳＯＮ
（超音波ＯＮ／ＯＦＦと超音波動作時間の設定を行
う）、ＡＣＴＲＵＮ（測定条件の内容で、攪拌モータ、
循環モータ、超音波を動作させる）、ＵＳＷＡＩＴ（現
在動作中の超音波がタイムアップするまで待つ）、ＳＥ
ＴＣＯＮＣ（分散媒の適性濃度範囲のスレショールドレ
ベルを決定する。設定値は編集時にＬＯＷ＜ＨＩＧＨの
関係にあることをチェックする）、ＣＨＫＣＯＮＣ（測
定条件のデータ取込み回数分の散乱パターンを取込み、
濃度チェックを行う。ＳＥＴＣＯＮＣにて設定された濃
度範囲を超えたときには、値により設定されたＪＭＰラ
ベルにジャンプする）などといった簡易言語がある。
在の測定条件で規定量注入を行った後、攪拌、循環、超
音波分散を行い、超音波タイムアップ待ちとなる）、Ｐ
ＲＥ２（現在の測定条件で自動希釈を行う）、ＵＳＯＮ
（超音波ＯＮ／ＯＦＦと超音波動作時間の設定を行
う）、ＡＣＴＲＵＮ（測定条件の内容で、攪拌モータ、
循環モータ、超音波を動作させる）、ＵＳＷＡＩＴ（現
在動作中の超音波がタイムアップするまで待つ）、ＳＥ
ＴＣＯＮＣ（分散媒の適性濃度範囲のスレショールドレ
ベルを決定する。設定値は編集時にＬＯＷ＜ＨＩＧＨの
関係にあることをチェックする）、ＣＨＫＣＯＮＣ（測
定条件のデータ取込み回数分の散乱パターンを取込み、
濃度チェックを行う。ＳＥＴＣＯＮＣにて設定された濃
度範囲を超えたときには、値により設定されたＪＭＰラ
ベルにジャンプする）などといった簡易言語がある。
【００１２】そして、粒度分布測定装置においては、い
ろいろな条件設定が必要であり、かつ、これらの条件は
各サンプルごとに異なるため、各動作ごとに簡易言語を
設定し、これらを画面上で組み合わせ、編集するだけで
複雑な条件設定を簡易に視覚的に行うことができる。こ
のように、この発明は、粒度分布測定装置において格別
の効果を奏する。
ろいろな条件設定が必要であり、かつ、これらの条件は
各サンプルごとに異なるため、各動作ごとに簡易言語を
設定し、これらを画面上で組み合わせ、編集するだけで
複雑な条件設定を簡易に視覚的に行うことができる。こ
のように、この発明は、粒度分布測定装置において格別
の効果を奏する。
【００１３】そして、処理シーケンスの編集は、前記命
令ブロックａを並べたり、結び付けたり、削除するなど
して所望の処理シーケンスが作成される。このようにし
て作成された処理シーケンスは、コンピュータ４内のデ
ィスクユニット４２およびメモリユニット４３において
展開されることによって実行可能となり、ディスクユニ
ット４２内にシーケンスデータとして格納される。な
お、ディスクユニット４２は全ての処理シーケンスをセ
ーブして保管することができる。
令ブロックａを並べたり、結び付けたり、削除するなど
して所望の処理シーケンスが作成される。このようにし
て作成された処理シーケンスは、コンピュータ４内のデ
ィスクユニット４２およびメモリユニット４３において
展開されることによって実行可能となり、ディスクユニ
ット４２内にシーケンスデータとして格納される。な
お、ディスクユニット４２は全ての処理シーケンスをセ
ーブして保管することができる。
【００１４】上述のようにしてディスクユニット４２に
格納されたシーケンスデータは、メモリユニット４３に
おいて展開され、シーケンス駆動用のインタプリタ（逐
次翻訳形言語処理系）により解釈される。そして、キー
ボード５Ａまたはマウス５Ｂの入力装置あるいは予め設
定されたシステム時計をトリガとして開始され、解釈さ
れた各命令ブロックａは、シリアルインターフェース４
５を介して装置本体１側に送られる。これによって、装
置本体１側は、命令ブロックａ通りの動作を実行する。
このとき、グラフィックディスプレイ６には、グラフィ
ックインターフェース４４を介して前記命令ブロックａ
が送られ、装置本体１側において実行されている動作内
容が表示され、これによって、オペレータは、装置本体
１側においてどんな内容の動作が行われているかを把握
することができる。
格納されたシーケンスデータは、メモリユニット４３に
おいて展開され、シーケンス駆動用のインタプリタ（逐
次翻訳形言語処理系）により解釈される。そして、キー
ボード５Ａまたはマウス５Ｂの入力装置あるいは予め設
定されたシステム時計をトリガとして開始され、解釈さ
れた各命令ブロックａは、シリアルインターフェース４
５を介して装置本体１側に送られる。これによって、装
置本体１側は、命令ブロックａ通りの動作を実行する。
このとき、グラフィックディスプレイ６には、グラフィ
ックインターフェース４４を介して前記命令ブロックａ
が送られ、装置本体１側において実行されている動作内
容が表示され、これによって、オペレータは、装置本体
１側においてどんな内容の動作が行われているかを把握
することができる。
【００１５】上述の分析装置においては、測定やデータ
処理など分析装置で行う各動作を個々に簡単な命令ブロ
ックａとしてグラフィック表示するとともに、このグラ
フィック表示された命令ブロックａをキーボード５Ａや
マウス５Ｂを用いてドラッグ（ｄｒａｇ）することによ
り、動作の流れを容易に組み立て把握することができ
る。そして、測定など動作内容をグラフィック表示する
ことにより、作成したシーケンスの動作を容易に確認す
ることができ、測定データのバラツキや誤操作を最小に
することができ、省力化を促進できる。
処理など分析装置で行う各動作を個々に簡単な命令ブロ
ックａとしてグラフィック表示するとともに、このグラ
フィック表示された命令ブロックａをキーボード５Ａや
マウス５Ｂを用いてドラッグ（ｄｒａｇ）することによ
り、動作の流れを容易に組み立て把握することができ
る。そして、測定など動作内容をグラフィック表示する
ことにより、作成したシーケンスの動作を容易に確認す
ることができ、測定データのバラツキや誤操作を最小に
することができ、省力化を促進できる。
【００１６】この発明は、上述の実施例に限られるもの
ではなく、コンピュータからの指令に基づいて分析を行
うように構成された分析装置に広く適用することができ
る。
ではなく、コンピュータからの指令に基づいて分析を行
うように構成された分析装置に広く適用することができ
る。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したように、この発明において
は、画面上で簡易言語で表記された命令ブロックを適宜
結合したり、挿入するなどして編集するだけであり、コ
ンピュータ内のソフトウエアを変更する必要がない。し
かも、この編集操作は、ソフトウエアやプログラム言語
などに関する知識がなくても行うことができるので、所
望の処理シーケンスを簡単に作成することができる。
は、画面上で簡易言語で表記された命令ブロックを適宜
結合したり、挿入するなどして編集するだけであり、コ
ンピュータ内のソフトウエアを変更する必要がない。し
かも、この編集操作は、ソフトウエアやプログラム言語
などに関する知識がなくても行うことができるので、所
望の処理シーケンスを簡単に作成することができる。
【図１】この発明の一実施例に係る分析装置の概略構成
図である。
図である。
【図２】前記分析装置を制御するコンピュータの概略構
成図である。
成図である。
【図３】前記分析装置の動作説明図である。
４…コンピュータ、５Ａ，５Ｂ…入力装置、６…グラフ
ィックディスプレイ、６０…画面、ａ…命令ブロック。
ィックディスプレイ、６０…画面、ａ…命令ブロック。
Claims (1)
- 【請求項１】 コンピュータからの指令に基づいて分析
を行うように構成された分析装置において、分析装置で
行う各動作を、前記コンピュータと接続されているグラ
フィックディスプレイの画面上に簡易言語で表記された
命令ブロックとしてグラフィック表示し、このグラフィ
ック表示された命令ブロックを、前記コンピュータと接
続されている入力装置を用いてグラフィックディスプレ
イの画面上において編集することにより所望の処理シー
ケンスを作成するようにしたことを特徴とする分析装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06261240A JP3136055B2 (ja) | 1994-09-29 | 1994-09-29 | 分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06261240A JP3136055B2 (ja) | 1994-09-29 | 1994-09-29 | 分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08101115A JPH08101115A (ja) | 1996-04-16 |
| JP3136055B2 true JP3136055B2 (ja) | 2001-02-19 |
Family
ID=17359091
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP06261240A Expired - Lifetime JP3136055B2 (ja) | 1994-09-29 | 1994-09-29 | 分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3136055B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1171168A (ja) | 1997-06-26 | 1999-03-16 | Ngk Spark Plug Co Ltd | アルミナ基セラミックス焼結体及びその製造方法 |
| JP3504116B2 (ja) * | 1997-08-28 | 2004-03-08 | 株式会社日立製作所 | 分析装置 |
| JP4588390B2 (ja) * | 2004-08-31 | 2010-12-01 | 株式会社堀場製作所 | 粒径分布測定装置 |
| JP4578205B2 (ja) * | 2004-08-31 | 2010-11-10 | 株式会社堀場製作所 | 粒径分布測定装置 |
| JP5067382B2 (ja) * | 2009-02-24 | 2012-11-07 | 株式会社島津製作所 | 分析装置、及び、分析制御用プログラム |
| JP6601042B2 (ja) * | 2015-07-29 | 2019-11-06 | セイコーエプソン株式会社 | 電子機器、電子機器の制御プログラム |
-
1994
- 1994-09-29 JP JP06261240A patent/JP3136055B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08101115A (ja) | 1996-04-16 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121201 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141201 Year of fee payment: 14 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |