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JP3060591B2 - Semiconductor device mounting method, electronic optical device manufacturing method, and electronic printing device manufacturing method - Google Patents

Semiconductor device mounting method, electronic optical device manufacturing method, and electronic printing device manufacturing method

Info

Publication number
JP3060591B2
JP3060591B2 JP3111384A JP11138491A JP3060591B2 JP 3060591 B2 JP3060591 B2 JP 3060591B2 JP 3111384 A JP3111384 A JP 3111384A JP 11138491 A JP11138491 A JP 11138491A JP 3060591 B2 JP3060591 B2 JP 3060591B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
outer leads
solder
semiconductor device
circuit board
semiconductor devices
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP3111384A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH04338661A (en
Inventor
永至 村松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP3111384A priority Critical patent/JP3060591B2/en
Publication of JPH04338661A publication Critical patent/JPH04338661A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3060591B2 publication Critical patent/JP3060591B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/36Assembling printed circuits with other printed circuits
    • H05K3/361Assembling flexible printed circuits with other printed circuits
    • H05K3/363Assembling flexible printed circuits with other printed circuits by soldering

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、チップ・オン・フレキ
シブルプリンティッドサーキット構造の半導体装置を回
路基板に実装する方法と、その実装方法を用いた電子光
学装置および電子印字装置の製造方法に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of mounting a semiconductor device having a chip-on-flexible printed circuit structure on a circuit board, and a method of manufacturing an electro-optical device and an electronic printing device using the mounting method. It is.

【0002】従来のチップオンフレキシブルプリンティ
ッドサーキット構造の半導体装置を回路基板に実装した
構造例を図9に示す。
FIG. 9 shows an example of a structure in which a conventional semiconductor device having a chip-on-flexible printed circuit structure is mounted on a circuit board.

【0003】従来の半導体装置の実装方法は、チップオ
ンフレキシブルプリンティッドサーキット(以下COF
という)1のアウターリード2に事前の半田コーティン
グ11をせずに、そのCOF1のアウターリード2と回
路基板3の半田付けランド4を手作業により半田付けす
るか、または同様にCOF1のアウターリード2に事前
の半田コーティング11をせずに、そのCOF1のアウ
ターリード2と回路基板3の半田付けランド4を加熱ツ
ール等により熱圧着し半田付けしていた。従って従来の
テープキャリアの実装構造は、図9に示すようにCOF
1のアウターリード2の半田コーティング11に凹部
は、存在していなかった。
A conventional semiconductor device mounting method is a chip-on-flexible printed circuit (hereinafter referred to as COF).
The outer leads 2 of the COF 1 and the soldering lands 4 of the circuit board 3 are manually soldered without prior solder coating 11 on the outer leads 2 of the first COF 1. In this case, the outer leads 2 of the COF 1 and the soldering lands 4 of the circuit board 3 are thermocompression-bonded with a heating tool or the like without solder coating 11 in advance. Therefore, the mounting structure of the conventional tape carrier is COF as shown in FIG.
No concave portion was present in the solder coating 11 of the outer lead 2.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術は、手作業で半田付けするため非常に多くの加工
時間がかかり品質も安定しないか、または、加熱ツール
等を用いて自動半田付けを行ってもテープキャリアのア
ウターリードと回路基板の半田付けランドとの接続状態
の品質管理が困難でその接続強度が低く非常に信頼性が
低いという欠点を有していた。
However, in the above-mentioned prior art, the soldering is performed manually, so that a considerable amount of processing time is required and the quality is not stable, or automatic soldering is performed using a heating tool or the like. However, it is difficult to control the quality of the connection between the outer leads of the tape carrier and the solder lands of the circuit board, and the connection strength is low and the reliability is very low.

【0005】そこで、本発明は上記欠点を解決するため
に、複数の半導体装置がテープ状につながっているテー
プキャリアの状態でアウターリードに半田コーティング
した後に、半導体装置のアウターリードと回路基板の半
田付けランドを加熱ツール等で熱圧着して半田付けする
という半導体装置の実装方法を用いる。
In order to solve the above-mentioned drawbacks, the present invention provides a tape carrier in which a plurality of semiconductor devices are connected in a tape form, and then coats the outer leads with solder. A method of mounting a semiconductor device is used in which a mounting land is thermocompressed with a heating tool or the like and soldered.

【0006】その目的とするところは、安価で信頼性が
高い半導体装置の実装構造及びそれを用いた電子光学装
置及び電子印字装置を提供することである。
An object of the present invention is to provide an inexpensive and highly reliable semiconductor device mounting structure, and an electronic optical device and an electronic printing device using the same.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置の実
装方法は、アウターリードを有する半導体装置を回路基
板に実装する半導体装置の実装方法であって、複数の半
導体装置がテープ状につながっているテープキャリアの
状態で、前記複数の半導体装置の前記アウターリードを
半田およびフラックスに浸漬させることにより、前記半
導体装置の前記アウターリードに半田コーティングを施
す工程と、前記半田コーティングを施す工程の後、個々
の前記半導体装置の前記アウターリードと前記回路基板
に形成された半田付けランドとを熱圧着する工程と、を
有することを特徴とする。
A method for mounting a semiconductor device according to the present invention is a method for mounting a semiconductor device having outer leads on a circuit board, wherein a plurality of semiconductor devices are connected in a tape shape. In the state of the tape carrier, by immersing the outer leads of the plurality of semiconductor devices in solder and flux, a step of applying a solder coating to the outer leads of the semiconductor device, and after the step of applying the solder coating, Thermocompression bonding the outer leads of the individual semiconductor devices and the solder lands formed on the circuit board.

【0008】また、本発明の電子光学装置の製造方法
は、アウターリードを有する半導体装置と、回路基板と
を有する電子光学装置の製造方法であって、複数の前記
半導体装置がテープ状につながっているテープキャリア
の状態で、前記複数の半導体装置の前記アウターリード
を半田およびフラックスに浸漬させることにより、前記
半導体装置の前記アウターリードに半田コーティングを
施す工程と、前記個々の半導体装置の前記アウターリー
ドと前記回路基板に形成された半田付けランドとを熱圧
着する工程と、を有することを特徴とする。
Further, a method of manufacturing an electro-optical device according to the present invention is a method of manufacturing an electro-optical device having a semiconductor device having outer leads and a circuit board, wherein a plurality of the semiconductor devices are connected in a tape shape. Applying a solder coating to the outer leads of the semiconductor device by immersing the outer leads of the plurality of semiconductor devices in solder and flux in a state of the tape carrier in which the outer leads of the individual semiconductor devices are provided. And a step of thermocompression bonding the solder lands formed on the circuit board.

【0009】また、本発明の電子印字装置の製造方法
は、アウターリードを有する半導体装置、回路基板とを
有する電子印字装置の製造方法であって、複数の前記半
導体装置がテープ状につながっているテープキャリアの
状態で、前記複数の半導体装置の前記アウターリードを
半田およびフラックスに浸漬させることにより、前記半
導体装置の前記アウターリードに半田コーティングを施
す工程と、前記個々の半導体装置の前記アウターリード
と前記回路基板に形成された半田付けランドとを熱圧着
する工程と、を有することを特徴とする。
Further, a method of manufacturing an electronic printing apparatus according to the present invention is a method of manufacturing an electronic printing apparatus having a semiconductor device having outer leads and a circuit board, wherein a plurality of the semiconductor devices are connected in a tape shape. In the state of the tape carrier, by immersing the outer leads of the plurality of semiconductor devices in solder and flux, a step of applying a solder coating to the outer leads of the semiconductor device, and the outer leads of the individual semiconductor devices. And thermocompression bonding a solder land formed on the circuit board.

【0010】[0010]

【実施例】以下本発明について図に基づいて具体的に説
明する。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG.

【0011】[実施例1] 図1及び図2は、本発明の半導体装置の実装方法の一実
施例を示す図である。図1において液晶表示素子6の3
辺の端子には既にCOF1が異方性導電膜等で実装され
ている。ここでCOF1とはテープキャリア上に半導体
素子11を実装し、その半導体素子11を中心に機能上
必要な配線パターンを含んで単品に分離した1つの半導
体装置のことである。図1(a)において液晶表示素子
6の各端子にCOF1が実装されたもの(以下LCDユ
ニットという)は、マニピュレータ等の先端についた真
空吸着パッド等で保持された状態にあり、そのマニピュ
レータの動きにより自由に方向を変えることができる。
ここで、先ずLCDユニットの下辺部がフラックス7面
にほぼ平行になるように位置させる。次に該LCDユニ
ットを下降させてそのLCDユニットの下辺部にあるC
OF1のアウターリード2をフラックス7の中に浸漬し
て該フラックスを塗布し、LCDユニットを引き上げ
る。この動作をLCDユニットの各辺について行うこと
により、液晶表示素子6に実装された全てのCOF1の
アウターリード2にフラックス7が塗布される。次に図
1(b)に示すように、図1(a)と同様の動作で、L
CDユニットのCOF1のフラックス7の塗布されたア
ウターリード2を半田9の中に浸漬することにより、同
アウターリード2に半田コーティング11を施すことが
できる。ここでも各辺について同様の動作をすることに
よりLCDユニットの全てのCOF1のアウターリード
2に半田コーティング11を施すことができる。COF
1のアウターリード2のフラックス7及び半田9への浸
漬時間は、各々0.数秒から10数秒である。
Embodiment 1 FIGS. 1 and 2 show an embodiment of a method for mounting a semiconductor device according to the present invention. In FIG. 1, 3 of the liquid crystal display element 6
COF1 is already mounted on the side terminals with an anisotropic conductive film or the like. Here, the COF 1 is a single semiconductor device in which the semiconductor element 11 is mounted on a tape carrier, and the semiconductor element 11 is separated into single parts including a wiring pattern necessary for the function. In FIG. 1 (a), the liquid crystal display element 6 in which COF1 is mounted on each terminal (hereinafter referred to as an LCD unit) is held by a vacuum suction pad or the like attached to the tip of a manipulator or the like. Can change direction freely.
Here, the LCD unit is first positioned so that the lower side thereof is substantially parallel to the flux 7 surface. Next, the LCD unit is lowered, and C at the lower side of the LCD unit is
The outer lead 2 of the OF 1 is immersed in the flux 7 to apply the flux, and the LCD unit is pulled up. By performing this operation for each side of the LCD unit, the flux 7 is applied to all the outer leads 2 of the COF 1 mounted on the liquid crystal display element 6. Next, as shown in FIG. 1B, the same operation as in FIG.
By immersing the outer lead 2 coated with the flux 7 of the COF 1 of the CD unit in the solder 9, the outer lead 2 can be coated with the solder 11. Also in this case, by performing the same operation for each side, the solder coating 11 can be applied to the outer leads 2 of all the COFs 1 of the LCD unit. COF
The immersion time of the outer lead 2 in the flux 7 and the solder 9 was 0.1 mm each. It is several seconds to ten and several seconds.

【0012】図2は本発明の半導体装置の実装方法の一
実施例を示す断面図であり図1に続く工程を示してい
る。図2(a)において液晶表示素子6に実装されたC
OF1の、半田コーティング11の施されたアウターリ
ード2が、回路基板3の半田付けランド4上に位置合わ
せされて配置されており、そのアウターリード2上には
半田付けをする加熱ツール12が待機している。図2
(b)では、図2(a)で待機していた加熱ツール12
が下降しアウターリード2を半田付けランド4に押さえ
つけると同時に加熱して半田コーティング11の半田を
溶融し、該アウターリード2と半田付けランド4を半田
付けしている。この時の加熱ツール12の加熱方法はパ
ルス電流による瞬間加熱法を用いたが、レーザービー
ム、熱線等を利用した瞬間加熱法でも良いし、その他一
般的な常時加熱法でも良い。図2(c)では、図2
(b)でアウターリード2と半田付けランド4の半田付
けを終えた加熱ツール12が、半田付け部から離れて上
方に引き上げられている。その加熱ツール2が引き上げ
られた後のアウターリード2の半田コーティング11に
は加熱ツール12の痕である凹部13が残っている。ま
た本実施例で用いたCOF1、回路基板3、フラックス
7、半田9の仕様の一例は、次の通りである。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing one embodiment of a method for mounting a semiconductor device according to the present invention, and shows a step following FIG. In FIG. 2A, the C mounted on the liquid crystal display element 6
The outer lead 2 of the OF 1 on which the solder coating 11 is applied is aligned and disposed on the soldering land 4 of the circuit board 3, and a heating tool 12 for soldering is on standby on the outer lead 2. doing. FIG.
In FIG. 2B, the heating tool 12 waiting in FIG.
Then, the outer leads 2 are pressed against the soldering lands 4 and simultaneously heated to melt the solder of the solder coating 11, and the outer leads 2 and the soldering lands 4 are soldered. At this time, the heating method of the heating tool 12 is an instantaneous heating method using a pulse current, but may be an instantaneous heating method using a laser beam, a heating wire, or the like, or another general constant heating method. In FIG. 2C, FIG.
The heating tool 12 that has completed the soldering of the outer leads 2 and the solder lands 4 in (b) is lifted upward away from the soldering portion. After the heating tool 2 is lifted, the solder coating 11 of the outer lead 2 has a concave portion 13 which is a mark of the heating tool 12 left. Examples of specifications of the COF 1, the circuit board 3, the flux 7, and the solder 9 used in the present embodiment are as follows.

【0013】<COF1の仕様> ・ベースフィルム :25〜75μm厚の
ポリイミド樹脂、ポリエステル樹脂等。
<Specifications of COF1> Base film: 25 to 75 μm thick polyimide resin, polyester resin, etc.

【0014】・銅箔(アウターリード材質) :数〜5
0μm厚の電解銅箔等。
Copper foil (outer lead material): number to 5
0 μm thick electrolytic copper foil, etc.

【0015】・銅箔のメッキ :数μm
のSnメッキ、Auメッキ等。
・ Coating of copper foil: several μm
Sn plating, Au plating, etc.

【0016】<回路基板3の仕様> ・基板材質 :ガラスエポキシ樹
脂、エポキシ複合材、紙フェノール樹脂、ベークライト
等。
<Specifications of circuit board 3> Board material: glass epoxy resin, epoxy composite material, paper phenol resin, bakelite, etc.

【0017】・銅箔(半田付けランド4) :数〜5
0μm厚の電解銅箔等。
Copper foil (soldering land 4): number to 5
0 μm thick electrolytic copper foil, etc.

【0018】・銅箔のメッキ :数μm
〜数10程度の半田メッキ、Auメッキ等。
・ Coating of copper foil: several μm
~ Several tens of solder plating, Au plating, etc.

【0019】・表面 :絶縁剤
塗布等。
Surface: Insulating agent application and the like.

【0020】<フラックス7の仕様> ・規格 :日本アルミットのR
F−35M RMAフラックス等。
<Specifications of flux 7> Standard: R of Nippon Almit
F-35M RMA flux and the like.

【0021】<半田9> :Pb
/Sn比=60/40等の半田等。
<Solder 9>: Pb
/ Sn ratio = 60/40 solder etc.

【0022】[実施例2] 図3は本発明の半導体装置の実装方法の一実施例を示す
図であり、実施例1に対して、COF1のアウターリー
ド2へのフラックス7の塗布及び半田コーティング11
をLCDユニット状態ではなくテープキャリア5状態で
行っているのが特徴である。図3からテープキャリア5
をフラックス7及び半田9に一部浸漬させて移動させる
ことにより、そのテープキャリア上のCOF1のアウタ
ーリード2に半田コーティング11が施されることがわ
かる。
[Embodiment 2] FIG. 3 is a view showing one embodiment of a method of mounting a semiconductor device according to the present invention. As compared with Embodiment 1, application of flux 7 to outer leads 2 of COF 1 and solder coating are performed. 11
Is performed not in the LCD unit state but in the tape carrier 5 state. 3 shows the tape carrier 5
It can be seen that the solder coating 11 is applied to the outer lead 2 of the COF 1 on the tape carrier by partially immersing the outer lead 2 in the flux 7 and the solder 9 and moving it.

【0023】[実施例3] 図4は、本発明の半導体装置の実装構造の一実施例を示
す断面図であり、電子光学装置の一例として液晶表示装
置に用いた例である。本実施例は、実施例1のテープキ
ャリアの実装方法を用いて形成され、図4に示すよう
に、アウターリード2の半田コーティング11の中央部
に凹部13がある。この凹部13の外観を観察すること
により、アウターリード2及び回路基板3の半田付けラ
ンド4が確実に半田付けされているかを正確かつ容易に
良否判断することができる。
Embodiment 3 FIG. 4 is a sectional view showing an embodiment of a mounting structure of a semiconductor device according to the present invention, which is an example used for a liquid crystal display device as an example of an electro-optical device. This embodiment is formed by using the tape carrier mounting method of the first embodiment. As shown in FIG. 4, the outer lead 2 has a recess 13 at the center of the solder coating 11. By observing the appearance of the recess 13, it is possible to accurately and easily judge whether or not the outer leads 2 and the soldering lands 4 of the circuit board 3 are securely soldered.

【0024】[実施例4] 図5は、本発明の半導体装置の実装構造の一実施例を示
す断面図である。本実施例は、実施例3に対して液晶表
示素子6の表裏が反対であり、それに準じてCOF1の
向きも表裏反対になっており、半導体素子14が回路基
板3側に来るので、その回路基板3に半導体素子14の
外形を逃げるための、半導体素子逃げ穴15が設けられ
てあるのが特徴である。液晶表示素子6等の電子表示素
子や電子印字素子及びCOF1及び回路基板3の表裏の
向きの組合せは、多数あるがその実装構造を少し変更す
るだけで、実現させることは可能である。
Embodiment 4 FIG. 5 is a sectional view showing an embodiment of a mounting structure of a semiconductor device according to the present invention. In the present embodiment, the liquid crystal display element 6 is opposite to the front and rear sides of the liquid crystal display element 6 according to the third embodiment, and accordingly, the direction of the COF 1 is also opposite, and the semiconductor element 14 comes to the circuit board 3 side. A feature is that a semiconductor element escape hole 15 is provided in the substrate 3 to allow the outer shape of the semiconductor element 14 to escape. There are many combinations of the electronic display element such as the liquid crystal display element 6, the electronic printing element, the COF 1 and the front and back directions of the circuit board 3, but it can be realized by slightly changing the mounting structure.

【0025】[実施例5] 図6は、本発明の半導体装置の実装構造の一実施例を示
す断面図である。本実施例は、実施例3に対してCOF
1を90゜折り曲げてあるのが特徴である。図6ではC
OF1の折り曲げ部にリードスリット16を設けてある
が、そのリードスリット16はなくても良い。またCO
F1の曲げ角度は180゜まで曲げても良い。
Embodiment 5 FIG. 6 is a sectional view showing an embodiment of a mounting structure of a semiconductor device according to the present invention. This embodiment is different from the third embodiment in that COF
1 is bent 90 °. In FIG. 6, C
Although the lead slit 16 is provided in the bent portion of the OF1, the lead slit 16 may not be provided. Also CO
The bending angle of F1 may be bent up to 180 °.

【0026】[実施例6] 図7は、本発明の半導体装置の実装構造を電子光学装置
の一種類である液晶表示装置に用いた場合の一実施例を
示す断面図である。図7においてバックライト18上に
液晶表示素子6があり、その液晶表示素子6の端子にC
OF1が実装され、そのCOF1のアウターリード2に
半田コーティング11が施され加熱ツール12により熱
圧着されたことにより凹部13が形成されている。液晶
表示素子6は、フレーム19及び押えゴム20等により
バックライト18に固定されて液晶表示装置が構成され
ている。
[Embodiment 6] FIG. 7 is a sectional view showing an embodiment in which the semiconductor device mounting structure of the present invention is used in a liquid crystal display device which is a kind of an electro-optical device. In FIG. 7, the liquid crystal display element 6 is provided on the backlight 18, and the terminal of the liquid crystal display element 6 has C
The OF1 is mounted, and the outer lead 2 of the COF1 is coated with the solder coating 11 and is thermocompression-bonded by the heating tool 12, thereby forming the concave portion 13. The liquid crystal display element 6 is fixed to the backlight 18 by a frame 19, a pressing rubber 20, and the like, thereby forming a liquid crystal display device.

【0027】[実施例7] 図8は、本発明の半導体装置の実装構造をサーマルプリ
ンタのサーマルヘッド等の電子印字装置に用いた場合の
一実施例を示す断面図である。本実施例では、実施例3
の実装構造を電子印字装置に用いた。
Embodiment 7 FIG. 8 is a cross-sectional view showing an embodiment in which the semiconductor device mounting structure of the present invention is used in an electronic printing device such as a thermal head of a thermal printer. In this embodiment, the third embodiment
Was used for an electronic printing device.

【0028】[0028]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の半導体装
置の実装方法は、複数の半導体装置がテープ状につなが
ったテープキャリアの状態で、半導体装置に半田コーテ
ィングを施すことができるので、半田コーティングを効
率よく行うことができる。
As described above, according to the method of mounting a semiconductor device of the present invention, a semiconductor device can be coated with solder in a tape carrier in which a plurality of semiconductor devices are connected in a tape shape. Coating can be performed efficiently.

【0029】また、各半導体装置間の半田コーティング
のバラツキも小さく抑えることができるので、信頼性の
高い実装構造を得ることができる。
Further, since the variation in the solder coating between the respective semiconductor devices can be suppressed to be small, a highly reliable mounting structure can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing one embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施例を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing one embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施例を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing one embodiment of the present invention.

【図4】本発明の一実施例を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing one embodiment of the present invention.

【図5】本発明の一実施例を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing one embodiment of the present invention.

【図6】本発明の一実施例を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing one embodiment of the present invention.

【図7】本発明の一実施例を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing one embodiment of the present invention.

【図8】本発明の一実施例を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing one embodiment of the present invention.

【図9】従来の技術例を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing a conventional technology example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1.COF 2.アウターリード 3.回路基板 4.半田付けランド 5.テープキャリア 6.液晶表示素子(LCD) 7.フラックス 8.フラックス槽 9.半田 10.半田槽 11.半田コーティング 12.加熱ツール 13.凹部 14.半導体素子 15.半導体素子逃げ穴 16.リードスリット 17.電子印字素子 18.バックライト 19.フレーム 20.押えゴム 1. COF 2. Outer lead 3. Circuit board 4. Soldering land 5. Tape carrier 6. 6. Liquid crystal display device (LCD) Flux 8. Flux tank 9. Solder 10. Solder tank 11. Solder coating 12. Heating tool 13. Recess 14. Semiconductor device 15. Semiconductor element relief hole 16. Lead slit 17. Electronic printing element 18. Backlight 19. Frame 20. Presser rubber

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】アウターリードを有する半導体装置を回路
基板に実装する半導体装置の実装方法であって、 複数の半導体装置がテープ状につながっているテープキ
ャリアの状態で、前記複数の半導体装置の前記アウター
リードを半田およびフラックスに浸漬させることによ
り、前記半導体装置の前記アウターリードに半田コーテ
ィングを施す工程と、 前記半田コーティングを施す工程の後、個々の前記半導
体装置の前記アウターリードと前記回路基板に形成され
た半田付けランドとを熱圧着する工程と、を有すること
を特徴とする半導体装置の実装方法。
1. A method for mounting a semiconductor device having a semiconductor device having outer leads on a circuit board, the method comprising: mounting a plurality of semiconductor devices in a tape carrier in a tape shape. A step of applying a solder coating to the outer leads of the semiconductor device by immersing the outer leads in solder and flux; and, after the step of applying the solder coating, to the outer leads and the circuit board of each of the semiconductor devices. And a step of thermocompression bonding the formed soldering lands.
【請求項2】アウターリードを有する半導体装置と、回
路基板とを有する電子光学装置の製造方法であって、 複数の前記半導体装置がテープ状につながっているテー
プキャリアの状態で、前記複数の半導体装置の前記アウ
ターリードを半田およびフラックスに浸漬させることに
より、前記半導体装置の前記アウターリードに半田コー
ティングを施す工程と、 前記半田コーティングを施す工程の後、前記個々の半導
体装置の前記アウターリードと前記回路基板に形成され
た半田付けランドとを熱圧着する工程と、を有すること
を特徴とする電子光学装置の製造方法。
2. A method for manufacturing an electro-optical device having a semiconductor device having outer leads and a circuit board, wherein the plurality of semiconductor devices are arranged in a tape carrier in which the plurality of semiconductor devices are connected in a tape shape. A step of applying a solder coating to the outer leads of the semiconductor device by immersing the outer leads of the device in solder and flux, and after the step of applying the solder coating, the outer leads of the individual semiconductor devices and the And a step of thermocompression bonding a solder land formed on the circuit board.
【請求項3】アウターリードを有する半導体装置、回路
基板とを有する電子印字装置の製造方法であって、 複数の前記半導体装置がテープ状につながっているテー
プキャリアの状態で、前記複数の半導体装置の前記アウ
ターリードを半田およびフラックスに浸漬させることに
より、前記半導体装置の前記アウターリードに半田コー
ティングを施す工程と、 前記半田コーティングを施す工程の後、前記個々の半導
体装置の前記アウターリードと前記回路基板に形成され
た半田付けランドとを熱圧着する工程と、を有すること
を特徴とする電子印字装置の製造方法。
3. A method of manufacturing an electronic printing apparatus having a semiconductor device having outer leads and a circuit board, wherein the plurality of semiconductor devices are arranged in a tape carrier in which the plurality of semiconductor devices are connected in a tape shape. Dipping the outer leads in solder and flux to apply a solder coating to the outer leads of the semiconductor device; and, after the step of applying the solder coating, the outer leads and the circuit of the individual semiconductor devices. A method of thermocompression bonding soldering lands formed on a substrate to an electronic printing apparatus.
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